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JP2007011150A - Substrate laminating equipment - Google Patents

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Publication number
JP2007011150A
JP2007011150A JP2005194408A JP2005194408A JP2007011150A JP 2007011150 A JP2007011150 A JP 2007011150A JP 2005194408 A JP2005194408 A JP 2005194408A JP 2005194408 A JP2005194408 A JP 2005194408A JP 2007011150 A JP2007011150 A JP 2007011150A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
table unit
suction
processed
chuck
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005194408A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuyuki Terauchi
哲行 寺内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Corp
Original Assignee
Ishikawajima Harima Heavy Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ishikawajima Harima Heavy Industries Co Ltd filed Critical Ishikawajima Harima Heavy Industries Co Ltd
Priority to JP2005194408A priority Critical patent/JP2007011150A/en
Publication of JP2007011150A publication Critical patent/JP2007011150A/en
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Abstract

【課題】
機構が簡潔で而も基板の取扱い性のよい基板貼合せ装置を提供する。
【解決手段】
上被処理基板を吸着保持する上テーブルユニット19と、下被処理基板を吸着保持する下テーブルユニット14とを具備し、前記上テーブルユニットは吸着保持面が上下反転回転可能であると共に下向反転時に前記下テーブルユニットと正対可能に支持され、該下テーブルユニットは昇降可能である。
【選択図】 図1
【Task】
Provided is a substrate laminating apparatus that has a simple mechanism and is easy to handle.
[Solution]
An upper table unit 19 for sucking and holding the upper substrate to be processed and a lower table unit 14 for sucking and holding the lower substrate to be processed are provided. Sometimes, the lower table unit is supported so as to face the lower table unit, and the lower table unit can be raised and lowered.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は太陽電池、液晶パネル等に使用される基板を製造する場合のガラス基板等の基板貼合工程に使用される基板貼合せ装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate laminating apparatus used in a substrate laminating process for a glass substrate or the like when producing a substrate used for a solar cell, a liquid crystal panel or the like.

太陽電池、液晶パネルを製造する場合、ガラス基板等の薄板に薄膜を生成し、該薄膜を挾んで基板を貼合せる等して太陽電池、液晶パネル用の基板が製造されている。   When manufacturing a solar cell or a liquid crystal panel, a substrate for a solar cell or a liquid crystal panel is manufactured by forming a thin film on a thin plate such as a glass substrate and bonding the substrate while holding the thin film.

従来、基板の貼合せ装置としては、例えば特許文献1に示されるものがある。   Conventionally, as a substrate bonding apparatus, for example, there is one disclosed in Patent Document 1.

図23、図24に於いて従来の基板貼合せ装置について説明する。   A conventional substrate laminating apparatus will be described with reference to FIGS.

ベース1に上吸着盤2が水平移動可能に設けられ、該上吸着盤2は水平軸心を中心として水平回転可能に設けられると共に昇降可能となっており、前記上吸着盤2は貼合せる一方の上基板3を吸着可能となっている。   An upper suction plate 2 is provided on the base 1 so as to be horizontally movable. The upper suction plate 2 is provided so as to be horizontally rotatable about a horizontal axis and can be moved up and down, while the upper suction plate 2 is bonded. The upper substrate 3 can be adsorbed.

前記ベース1の一方の行程端には下吸着盤4が設けられ、該下吸着盤4は水平X−Yの2方向に移動可能であると共に垂直軸心を中心として垂直回転可能となっており、貼合せる他方の下基板5を吸着可能となっている。   A lower suction disk 4 is provided at one stroke end of the base 1, and the lower suction disk 4 is movable in two directions of horizontal XY and is vertically rotatable around a vertical axis. The other lower substrate 5 to be bonded can be adsorbed.

前記下吸着盤4の上方には位置合せ用のテレビカメラ6が設けられており、該テレビカメラ6によって、前記上基板3と前記下基板5とを重合せた状態での位置関係を撮像し、撮像画像はモニタ7に表示され、該モニタ7によって前記上基板3と前記下基板5との位置関係が観察できる様になっている。   A television camera 6 for alignment is provided above the lower suction plate 4, and the television camera 6 images the positional relationship in a state where the upper substrate 3 and the lower substrate 5 are overlapped. The captured image is displayed on the monitor 7, and the monitor 7 can observe the positional relationship between the upper substrate 3 and the lower substrate 5.

前記上基板3の水平移動、水平回転、上下移動、及び前記下吸着盤4のX−Y2方向の移動、垂直回転の操作は操作部8から操作可能となっている。   The horizontal movement, horizontal rotation, vertical movement of the upper substrate 3, movement of the lower suction plate 4 in the X-Y2 direction, and vertical rotation can be operated from the operation unit 8.

以下、貼合せ作業について略述する。   Hereinafter, the pasting work will be outlined.

前記上吸着盤2に上基板3が載置され、吸着保持される。前記操作部8からの操作により、前記上吸着盤2が180°水平回転され、前記上吸着盤2の上基板3が下側となる。前記上吸着盤2が前記下吸着盤4の直上となる様に図中右方に移動され、前記上基板3と前記下基板5との位置関係が前記テレビカメラ6、前記モニタ7によって観察され、位置ずれがあった場合は、前記下吸着盤4のX−Y2方向の移動調整、前記下吸着盤4の垂直回転による角度調整によって、前記上基板3と前記下基板5との位置合せが行われる。   The upper substrate 3 is placed on the upper suction disk 2 and is held by suction. By the operation from the operation unit 8, the upper suction plate 2 is horizontally rotated by 180 °, and the upper substrate 3 of the upper suction plate 2 becomes the lower side. The upper suction plate 2 is moved rightward in the figure so that it is directly above the lower suction plate 4, and the positional relationship between the upper substrate 3 and the lower substrate 5 is observed by the television camera 6 and the monitor 7. If there is a positional shift, the upper substrate 3 and the lower substrate 5 can be aligned by adjusting the movement of the lower suction plate 4 in the X-Y2 direction and adjusting the angle by rotating the lower suction plate 4 vertically. Done.

位置合せが完了すると、前記上吸着盤2が降下され、前記上基板3が前記下基板5に押圧され、貼合せが実行される。尚、貼合せの接着剤としては、例えば前記下基板5の周辺部に粘着性透明の接着剤が事前に塗布されている。   When the alignment is completed, the upper suction disk 2 is lowered, the upper substrate 3 is pressed against the lower substrate 5, and bonding is performed. In addition, as a bonding adhesive, for example, a sticky transparent adhesive is applied in advance to the peripheral portion of the lower substrate 5.

貼合せ後、前記上吸着盤2が上昇され、該上吸着盤2が図中左方に移動して前記下吸着盤4から一体となった上基板3、下基板5が取外される。   After the bonding, the upper suction plate 2 is raised, the upper suction plate 2 moves to the left in the figure, and the upper substrate 3 and the lower substrate 5 integrated from the lower suction plate 4 are removed.

上記した従来の基板貼合せ装置では、前記上吸着盤2は水平移動、水平回転、昇降の3軸の自由度が必要であり、又前記下吸着盤4はX−Y、垂直回転の3軸の自由度が必要であり、基板貼合せ装置全体としては6軸の自由度を必要とし、各軸毎に駆動機構を必要とするので、装置が複雑となり、又制御系も6軸制御となり複雑となる。   In the above-described conventional substrate laminating apparatus, the upper suction disk 2 needs three degrees of freedom of horizontal movement, horizontal rotation, and elevation, and the lower suction disk 4 is XY, vertical rotation three axes. The degree of freedom is required, and the substrate bonding apparatus as a whole requires 6 axes of freedom and requires a drive mechanism for each axis, so the apparatus becomes complicated and the control system becomes 6-axis control. It becomes.

更に、前記上吸着盤2、前記下吸着盤4に上基板3、下基板5を載置する場合に、搬送ロボットを使用する場合、作業者の人手で行う場合のいずれの場合も、基板が大型化すると、自重による基板の撓みが大きくなる。或は自重により損傷し易くなる等から取扱いが面倒になり、特に人手で行う場合、注意を要し、作業者に負担の大きい作業となっていた。   Further, when the upper substrate 3 and the lower substrate 5 are placed on the upper suction plate 2 and the lower suction plate 4, both in the case of using a transfer robot and in the case of manual operation by an operator, When the size is increased, the deflection of the substrate due to its own weight increases. Alternatively, handling is troublesome because it is easily damaged by its own weight, and particularly when it is performed manually, it requires caution and is a burdensome work for the operator.

実開平6−55729号公報Japanese Utility Model Publication No. 6-55729

本発明は斯かる実情に鑑み、機構が簡潔で剛性、貼合せ精度を向上でき、而も基板の取扱い性のよい基板貼合せ装置を提供するものである。   In view of such circumstances, the present invention provides a substrate laminating apparatus that has a simple mechanism, can improve rigidity and bonding accuracy, and has good substrate handling properties.

本発明は、上被処理基板を吸着保持する上テーブルユニットと、下被処理基板を吸着保持する下テーブルユニットとを具備し、前記上テーブルユニットは吸着保持面が上下反転回転可能であると共に下向反転時に前記下テーブルユニットと正対可能に支持され、該下テーブルユニットは昇降可能である基板貼合せ装置に係り、又前記下テーブルユニットの吸着保持面は面内2方向及び垂直軸心を中心とする回転方向に変位可能である基板貼合せ装置に係るものである。   The present invention includes an upper table unit that sucks and holds an upper substrate to be processed and a lower table unit that sucks and holds a lower substrate to be processed. The upper table unit has a suction holding surface that can be rotated upside down and rotated. The lower table unit is supported so as to be able to face the lower table unit when the direction is reversed, and the lower table unit can move up and down, and the suction holding surface of the lower table unit has two in-plane directions and a vertical axis. The present invention relates to a substrate laminating apparatus that can be displaced in the rotation direction as a center.

又本発明は、前記下テーブルユニットの側方に設けられた回転軸に前記上テーブルユニットの前記下テーブルユニット側の側端部が支持され、前記回転軸を中心に前記上テーブルユニットが回転可能である基板貼合せ装置に係るものである。   In the present invention, a side end portion of the upper table unit on the lower table unit side is supported on a rotation shaft provided on a side of the lower table unit, and the upper table unit can rotate around the rotation shaft. This relates to a substrate laminating apparatus.

又本発明は、前記下テーブルユニットの上方に前記上テーブルユニットが回転可能に支持された基板貼合せ装置に係るものである。   The present invention also relates to a substrate laminating apparatus in which the upper table unit is rotatably supported above the lower table unit.

又本発明は、前記下テーブルユニットはベースプレートの上方に支持され、該ベースプレートには上下被処理基板の位置合せ用のカメラユニットが取付けられ、該カメラユニットは被処理基板のサイズに対応して取付け位置を変更可能とした基板貼合せ装置に係るものである。   In the present invention, the lower table unit is supported above a base plate, and a camera unit for aligning the upper and lower processed substrates is attached to the base plate, and the camera unit is attached corresponding to the size of the processed substrate. The present invention relates to a substrate bonding apparatus whose position can be changed.

又本発明は、前記下テーブルユニット、上テーブルユニットは基板吸着用の基板吸着チャックを複数具備し、基板サイズに対応して前記基板吸着チャックが選択され使用される基板貼合せ装置に係るものである。   The present invention also relates to a substrate bonding apparatus in which the lower table unit and the upper table unit are provided with a plurality of substrate suction chucks for substrate suction, and the substrate suction chuck is selected and used in accordance with the substrate size. is there.

又本発明は、前記被処理基板は基板ホルダに保持された状態で前記下テーブルユニット、前記上テーブルユニットに吸着され、前記基板吸着チャックは前記基板ホルダを直接吸着し、該基板ホルダは前記基板吸着チャックの吸着部に連通する吸着孔を有し、前記被処理基板は前記吸着孔を介して前記基板ホルダに吸着される基板貼合せ装置に係るものである。   In the present invention, the substrate to be processed is held by the substrate holder and is sucked by the lower table unit and the upper table unit, the substrate suction chuck directly sucks the substrate holder, and the substrate holder is the substrate. It has a suction hole communicating with the suction part of the suction chuck, and the substrate to be processed relates to a substrate bonding apparatus that is sucked by the substrate holder through the suction hole.

又本発明は、前記被処理基板は基板ホルダに保持された状態で前記下テーブルユニット、前記上テーブルユニットに吸着され、前記上テーブルユニットは、被処理基板用の複数の基板吸着チャックと、基板ホルダ用の少なくとも1つの基板吸着チャックとを具備し、前記基板ホルダは前記被処理基板用基板吸着チャック吸着部に連通する吸着孔を有し、前記被処理基板は前記吸着孔を介して前記基板ホルダに吸着され、前記基板ホルダ用基板吸着チャックは前記基板ホルダを吸着し、前記被処理基板用基板吸着チャックと前記基板ホルダ用基板吸着チャックとは独立して吸着可能とした基板貼合せ装置に係るものである。   According to the present invention, the substrate to be processed is held by a substrate holder and is sucked by the lower table unit and the upper table unit. The upper table unit includes a plurality of substrate suction chucks for the substrate to be processed, and a substrate. At least one substrate suction chuck for a holder, wherein the substrate holder has a suction hole communicating with the substrate suction chuck suction portion for the substrate to be processed, and the substrate to be processed passes through the suction hole. The substrate adhering chuck that is adsorbed by a holder, adsorbs the substrate holder, and can adsorb the substrate adsorbing chuck for the substrate to be processed and the substrate adsorbing chuck for the substrate holder independently. It is concerned.

更に又本発明は、前記基板ホルダは基板サイズに対応した基板位置決め手段を具備し、前記被処理基板の搬送はクランプ手段により基板ホルダと被処理基板とが一体化された状態で行われる基板貼合せ装置に係るものである。   Furthermore, according to the present invention, the substrate holder includes substrate positioning means corresponding to the substrate size, and the substrate to be processed is transported in a state where the substrate holder and the substrate to be processed are integrated by the clamping means. This relates to the aligning device.

本発明によれば、上被処理基板を吸着保持する上テーブルユニットと、下被処理基板を吸着保持する下テーブルユニットとを具備し、前記上テーブルユニットは吸着保持面が上下反転回転可能であると共に下向反転時に前記下テーブルユニットと正対可能に支持され、前記下テーブルユニットは昇降可能であるので、前記上テーブルユニットが反転した状態とするだけで、該上テーブルユニットと前記下テーブルユニットとを高い平行度と相互位置精度で正対させることができ、又、上テーブルユニットの自由度を少なくでき、機構が簡単となる為、剛性、貼合せ精度が向上すると共に作業性が向上する。   According to the present invention, the upper table unit for sucking and holding the upper processing substrate and the lower table unit for sucking and holding the lower processing substrate are provided, and the suction holding surface of the upper table unit can be rotated upside down. The upper table unit and the lower table unit are supported by the lower table unit so that they can face each other at the time of downward reversal, and the lower table unit can be moved up and down. Can be aligned with high parallelism and mutual positional accuracy, and the degree of freedom of the upper table unit can be reduced, and the mechanism is simplified, improving rigidity and bonding accuracy and improving workability. .

又本発明によれば、前記下テーブルユニットの側方に設けられた回転軸に前記上テーブルユニットの前記下テーブルユニット側の側端部が支持され、前記回転軸を中心に前記上テーブルユニットが回転可能であるので、或は前記下テーブルユニットの上方に前記上テーブルユニットが回転可能に支持されたので、前記上テーブルユニットを反転することで直ちに高い平行度と相互位置精度で前記下テーブルユニットに正対させることができ、前記上テーブルユニットの自由度を少なくでき、機構が簡単となる為、剛性、貼合せ精度が向上すると共に両方のテーブルが上向きの状態で作業でき作業性が向上する。   According to the invention, a side end portion on the lower table unit side of the upper table unit is supported on a rotating shaft provided on a side of the lower table unit, and the upper table unit is centered on the rotating shaft. Since the upper table unit is rotatable, or the upper table unit is rotatably supported above the lower table unit, the lower table unit can be immediately reversed with high parallelism and mutual positional accuracy by reversing the upper table unit. Since the upper table unit can be reduced in degree of freedom and the mechanism is simple, rigidity and bonding accuracy are improved, and both tables can be operated in an upward state, thereby improving workability. .

又本発明によれば、前記下テーブルユニットはベースプレートの上方に支持され、該ベースプレートには上下被処理基板の位置合せ用のカメラユニットが取付けられ、該カメラユニットは被処理基板のサイズに対応して取付け位置を変更可能としたので、カメラユニットを複数の基板サイズに共用できコストが低減する。   According to the invention, the lower table unit is supported above the base plate, and a camera unit for aligning the upper and lower processed substrates is attached to the base plate, and the camera unit corresponds to the size of the processed substrate. Since the mounting position can be changed, the camera unit can be shared by multiple board sizes, reducing costs.

又本発明によれば、前記下テーブルユニット、上テーブルユニットは基板吸着用の基板吸着チャックを複数具備し、基板サイズに対応して前記基板吸着チャックが選択され使用されるので、基板サイズに合わせて複数の下テーブルユニット、上テーブルユニットを用意する必要がなく、コストの低減が図れる。   According to the present invention, the lower table unit and the upper table unit include a plurality of substrate suction chucks for substrate suction, and the substrate suction chuck is selected and used according to the substrate size. Thus, it is not necessary to prepare a plurality of lower table units and upper table units, and the cost can be reduced.

又本発明によれば、前記被処理基板は基板ホルダに保持された状態で前記下テーブルユニット、前記上テーブルユニットに吸着され、前記基板吸着チャックは前記基板ホルダを直接吸着し、該基板ホルダは前記基板吸着チャックの吸着部に連通する吸着孔を有し、前記被処理基板は前記吸着孔を介して前記基板ホルダに吸着されるので、剛性の小さい薄板大型の基板の扱いが容易となり、又被処理基板に吸着痕が残らず、又被処理基板に吸着による局部的な荷重が作用しないので被処理基板の負担が軽減される。   According to the invention, the substrate to be processed is held by the substrate holder and is sucked by the lower table unit and the upper table unit. The substrate suction chuck directly sucks the substrate holder, and the substrate holder An adsorption hole communicating with the adsorption portion of the substrate adsorption chuck is provided, and the substrate to be processed is adsorbed to the substrate holder through the adsorption hole, so that it is easy to handle a thin large-sized substrate with low rigidity. Since the suction mark does not remain on the substrate to be processed, and the local load due to the suction does not act on the substrate to be processed, the burden on the substrate to be processed is reduced.

又本発明によれば、前記被処理基板は基板ホルダに保持された状態で前記下テーブルユニット、前記上テーブルユニットに吸着され、前記上テーブルユニットは、被処理基板用の複数の基板吸着チャックと、基板ホルダ用の少なくとも1つの基板吸着チャックとを具備し、前記基板ホルダは前記被処理基板用基板吸着チャック吸着部に連通する吸着孔を有し、前記被処理基板は前記吸着孔を介して前記基板ホルダに吸着され、前記基板ホルダ用基板吸着チャックは前記基板ホルダを吸着し、前記被処理基板用基板吸着チャックと前記基板ホルダ用基板吸着チャックとは独立して吸着可能としたので、基板ホルダと被処理基板との切り離しが可能となり、被処理基板貼合せ後の取扱いが容易になる。   According to the invention, the substrate to be processed is held by a substrate holder and is sucked by the lower table unit and the upper table unit. The upper table unit includes a plurality of substrate suction chucks for the substrate to be processed. And at least one substrate suction chuck for the substrate holder, the substrate holder having a suction hole communicating with the substrate suction chuck suction portion for the substrate to be processed, and the substrate to be processed via the suction hole Since the substrate holder chuck is sucked by the substrate holder, the substrate holder chuck chuck chucks the substrate holder, and the substrate chuck chuck for the substrate to be processed and the substrate chuck chuck for the substrate holder can be sucked independently. The holder and the substrate to be processed can be separated from each other, and handling after the substrates to be processed can be easily performed.

更に又本発明によれば、前記基板ホルダは基板サイズに対応した基板位置決め手段を具備し、前記被処理基板の搬送はクランプ手段により基板ホルダと被処理基板とが一体化された状態で行われるので、基板サイズに変更があった場合も、基板ホルダを交換するだけで対応が可能となり、又搬送時の基板の取り扱いが容易になると共に搬送中の基板と基板ホルダとのズレが防止される等の優れた効果を発揮する。   Furthermore, according to the present invention, the substrate holder includes substrate positioning means corresponding to the substrate size, and the substrate to be processed is transported in a state where the substrate holder and the substrate to be processed are integrated by the clamping means. Therefore, even if there is a change in the substrate size, it is possible to cope with it simply by exchanging the substrate holder, and handling of the substrate during transportation is facilitated and displacement between the substrate being transported and the substrate holder is prevented. Exhibits excellent effects such as.

以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1〜図6は本発明に係る基板貼合せ装置を示している。   1 to 6 show a substrate bonding apparatus according to the present invention.

図中、11は架フレームを示し、該架フレーム11の上面にベースプレート12が取付けられ、該ベースプレート12の略中央には昇降駆動ユニット13が設けられ、該昇降駆動ユニット13の上端に下テーブルユニット14が支持されている。前記昇降駆動ユニット13の前後(図1中前は左斜め下)に配設された2組のカメラユニット15,15が前記ベースプレート12に取付けられ、前記昇降駆動ユニット13の左側(図1中左斜め上)には上テーブル支持台16が設けられている。   In the figure, reference numeral 11 denotes a rack frame. A base plate 12 is attached to the upper surface of the rack frame 11, a lifting drive unit 13 is provided at the approximate center of the base plate 12, and a lower table unit is placed at the upper end of the lifting drive unit 13. 14 is supported. Two sets of camera units 15, 15 disposed before and after the lifting drive unit 13 (the front left in FIG. 1 is diagonally lower left) are attached to the base plate 12, and the left side of the lifting drive unit 13 (left in FIG. 1). An upper table support 16 is provided obliquely above.

該上テーブル支持台16の上端には軸受ユニット17が設けられ、該軸受ユニット17に回転軸18を介して上テーブルユニット19が取付けられている。   A bearing unit 17 is provided at the upper end of the upper table support 16, and an upper table unit 19 is attached to the bearing unit 17 via a rotating shaft 18.

前記上テーブル支持台16の左側には上テーブル開時受部材21が立設され、前記昇降駆動ユニット13の右側には上テーブル閉時受部材22が立設され、前記上テーブル開時受部材21は前記上テーブルユニット19が開状態で該上テーブルユニット19を水平状態に支持し、前記上テーブル閉時受部材22は前記上テーブルユニット19が閉状態で該上テーブルユニット19を水平状態で支持する様になっている。   A receiving member 21 when the upper table is opened is erected on the left side of the upper table support 16, and a receiving member 22 is erected when the upper table is closed on the right side of the elevating drive unit 13. 21 indicates that the upper table unit 19 is horizontally supported when the upper table unit 19 is open, and the upper table closing receiving member 22 is configured so that the upper table unit 19 is closed while the upper table unit 19 is closed. It comes to support.

又、本装置は操作部20、モニタ24を具備しており、前記操作部20より基板の貼合せの操作を行うと共に前記モニタ24には前記カメラユニット15で撮像した映像が表示され、例えば基板の位置合せ状態を確認できる様になっている。   In addition, the present apparatus includes an operation unit 20 and a monitor 24. The operation unit 20 performs an operation for bonding substrates, and the monitor 24 displays an image captured by the camera unit 15, for example, a substrate. The alignment state of can be confirmed.

前記昇降駆動ユニット13について図7、図8を参照して説明する。   The lifting drive unit 13 will be described with reference to FIGS.

前記ベースプレート12の略中央には取付け孔25が穿設され、該取付け孔25に前記昇降駆動ユニット13が挿通され、前記ベースプレート12にユニットベース26を介して固着されている。   A mounting hole 25 is formed in the approximate center of the base plate 12, and the elevating drive unit 13 is inserted into the mounting hole 25 and fixed to the base plate 12 via a unit base 26.

該ユニットベース26には前記下テーブルユニット14を昇降させる為の昇降アクチュエータ、例えば電動シリンダ27が設けられ、該電動シリンダ27を挾んで2つのガイド28,28がそれぞれ垂直に取付けられ、前記電動シリンダ27からはロッド29が上方に延出し、前記ガイド28にはガイドロッド31が昇降自在に嵌合している。前記ロッド29、ガイドロッド31,31の上端には昇降プレート32が固着され、該昇降プレート32に位置調整ユニット33が取付けられている。尚、前記電動シリンダ27に代え、流体圧シリンダ、或はナットスクリュー式の昇降アクチュエータであってもよい。   The unit base 26 is provided with an elevating actuator for elevating the lower table unit 14, for example, an electric cylinder 27, and two guides 28, 28 are vertically attached with the electric cylinder 27 interposed therebetween. A rod 29 extends upward from 27, and a guide rod 31 is fitted to the guide 28 so as to be movable up and down. An elevating plate 32 is fixed to the upper ends of the rod 29 and guide rods 31, and a position adjusting unit 33 is attached to the elevating plate 32. Instead of the electric cylinder 27, a fluid pressure cylinder or a nut screw type lifting actuator may be used.

前記位置調整ユニット33は、XY軸調整テーブル34、θ軸調整テーブル35を具備し、該θ軸調整テーブル35に前記下テーブルユニット14が取付けられることで、該下テーブルユニット14がXYθ軸調整テーブルとして機能する。   The position adjustment unit 33 includes an XY axis adjustment table 34 and a θ axis adjustment table 35, and the lower table unit 14 is attached to the θ axis adjustment table 35 so that the lower table unit 14 becomes an XYθ axis adjustment table. Function as.

前記XY軸調整テーブル34にはY軸調整摘み36、X軸調整摘み37が連結され、該Y軸調整摘み36を回転することで前記XY軸調整テーブル34がY軸方向(図7に於いて紙面に対して垂直方向)に移動し、又、前記X軸調整摘み37を回転することで前記XY軸調整テーブル34がX軸方向(図7中紙面に対して左右方向)に移動する。又、前記θ軸調整テーブル35には、θ軸調整摘み38が連結され、該θ軸調整摘み38を回転することで、前記下テーブルユニット14が垂直軸心を中心に回転する様になっている。尚、図中40は、伸縮自在なカバーを示している。   A Y-axis adjustment knob 36 and an X-axis adjustment knob 37 are connected to the XY-axis adjustment table 34. By rotating the Y-axis adjustment knob 36, the XY-axis adjustment table 34 is moved in the Y-axis direction (in FIG. 7). The XY-axis adjustment table 34 moves in the X-axis direction (left-right direction with respect to the paper surface in FIG. 7) by rotating the X-axis adjustment knob 37. Further, a θ-axis adjustment knob 38 is connected to the θ-axis adjustment table 35, and by rotating the θ-axis adjustment knob 38, the lower table unit 14 rotates about the vertical axis. Yes. In the figure, reference numeral 40 denotes an extendable cover.

前記カメラユニット15について、図8、図9を参照して説明する。   The camera unit 15 will be described with reference to FIGS.

前記ベースプレート12の前部には前後に長い矩形のカメラユニット取付け孔39が穿設され、前記ベースプレート12の後部には逆T字状のカメラユニット取付け孔41が穿設され、前記カメラユニット取付け孔39の長辺に平行に第1ガイドスリット孔42が穿設され、前記取付け孔25に関して該第1ガイドスリット孔42と点対称の位置に(前記カメラユニット取付け孔41のT字の脚部と平行に)もう1つの第1ガイドスリット孔43が穿設されている。又、前記カメラユニット取付け孔41のT字の頭部の両側方に第2ガイドスリット孔44,44が穿設されている。   A rectangular camera unit mounting hole 39 that is long in the front-rear direction is formed in the front portion of the base plate 12, and an inverted T-shaped camera unit mounting hole 41 is formed in the rear portion of the base plate 12. A first guide slit hole 42 is bored in parallel with the long side of 39, and the first guide slit hole 42 is point-symmetric with respect to the mounting hole 25 (with the T-shaped leg portion of the camera unit mounting hole 41. Another first guide slit hole 43 is drilled (in parallel). Also, second guide slit holes 44 are formed on both sides of the T-shaped head of the camera unit mounting hole 41.

カメラ45はカメラ固定板46に取付けられ、該カメラ固定板46は垂直ガイド47に粗位置決めを目的として摺動自在に設けられると共に螺子等の固定手段により該垂直ガイド47に粗位置決め後に固定可能となっている。該垂直ガイド47はスライドブロック48に固定され、該スライドブロック48はL字形状のカメラ支持ブロック49の垂直面に前記カメラ45の光軸方向(垂直方向)に摺動可能に設けられ、ピント合せ螺子51を回転することで前記カメラ支持ブロック49に対して光軸方向にカメラ位置を微調節可能であり、又ロック螺子52によって固定される。   The camera 45 is attached to a camera fixing plate 46. The camera fixing plate 46 is slidably provided on the vertical guide 47 for the purpose of coarse positioning, and can be fixed to the vertical guide 47 after rough positioning by a fixing means such as a screw. It has become. The vertical guide 47 is fixed to a slide block 48, and the slide block 48 is provided on a vertical surface of an L-shaped camera support block 49 so as to be slidable in the optical axis direction (vertical direction) of the camera 45, and is focused. By rotating the screw 51, the camera position can be finely adjusted in the optical axis direction with respect to the camera support block 49, and is fixed by a lock screw 52.

前記カメラ支持ブロック49の底面には、ガイド突条53が突設され、該ガイド突条53は前記第1ガイドスリット孔42,43及び前記第2ガイドスリット孔44,44に摺動自在に嵌合可能であり、又螺子等の所要の固定手段により前記ベースプレート12に固定可能となっている。   A guide protrusion 53 protrudes from the bottom surface of the camera support block 49, and the guide protrusion 53 is slidably fitted into the first guide slit holes 42, 43 and the second guide slit holes 44, 44. The base plate 12 can be fixed by a required fixing means such as a screw.

貼合せに供される基板が大サイズの場合は、図8に示される様に前記カメラユニット15はカメラユニット取付け孔39の最端部又はその近傍に取付けられる。   When the substrate to be bonded is large in size, the camera unit 15 is attached to the end of the camera unit attachment hole 39 or in the vicinity thereof as shown in FIG.

図10により前記下テーブルユニット14を説明する。   The lower table unit 14 will be described with reference to FIG.

該下テーブルユニット14は上記した様に、前記Y軸調整摘み36、X軸調整摘み37の回転により、Y軸、X軸方向に変位可能であると共に前記θ軸調整摘み38の回転により回転変位が可能となっている。   As described above, the lower table unit 14 can be displaced in the Y-axis and X-axis directions by the rotation of the Y-axis adjustment knob 36 and the X-axis adjustment knob 37, and can be rotated by the rotation of the θ-axis adjustment knob 38. Is possible.

前記下テーブルユニット14は主に、下テーブル54及び下基板吸着チャック55によって構成され、該下基板吸着チャック55は前記ロッド29の中心を挾んで前後に設けられている。   The lower table unit 14 is mainly composed of a lower table 54 and a lower substrate suction chuck 55, and the lower substrate suction chuck 55 is provided at the front and rear with the center of the rod 29 interposed therebetween.

前記下テーブル54には前端部、後端部に光軸第1通過孔56,56が穿設され、該光軸第1通過孔56は前後に長い長円形をしており、前記カメラユニット15が前記カメラユニット取付け孔39の位置に取付けられた場合に光軸が通過し、前記カメラ支持ブロック49が前記第1ガイドスリット孔42,43に沿って移動した場合(図13参照)にも、前記カメラ45の光軸を遮らない様になっている。   The lower table 54 has first and second optical axis passage holes 56 formed at the front end portion and the rear end portion thereof, and the first optical axis passage hole 56 has a long oval shape in the front-rear direction. Is mounted at the position of the camera unit mounting hole 39, the optical axis passes, and when the camera support block 49 moves along the first guide slit holes 42 and 43 (see FIG. 13), The optical axis of the camera 45 is not blocked.

又、前記下テーブル54の図10中上側に位置する下基板吸着チャック55の両側近傍には光軸第2通過孔57,57が穿設され、前記カメラユニット15が前記カメラユニット取付け孔41のT字頭部の両端部に、即ち前記カメラ支持ブロック49が前記第2ガイドスリット孔44に嵌合して取付けられた場合(図14参照)に、前記光軸第2通過孔57を前記カメラ45の光軸が通過する様になっている。   Further, optical axis second passage holes 57 are formed in the vicinity of both sides of the lower substrate suction chuck 55 located on the upper side in FIG. 10 of the lower table 54, and the camera unit 15 is connected to the camera unit mounting hole 41. When the camera support block 49 is fitted into and attached to the second guide slit hole 44 at both ends of the T-shaped head (see FIG. 14), the optical axis second passage hole 57 is inserted into the camera. Forty-five optical axes pass.

図11、図12を参照して前記下基板吸着チャック55について説明する。   The lower substrate suction chuck 55 will be described with reference to FIGS.

該下基板吸着チャック55は先端部に弾力性を有する材料、例えばゴム、合成樹脂等材料から成る吸着盤59を有しており、該吸着盤59は図示しない真空ポンプ等の負圧源に連通している。   The lower substrate suction chuck 55 has a suction plate 59 made of a material having elasticity at its tip, for example, rubber, synthetic resin, etc., and the suction plate 59 communicates with a negative pressure source such as a vacuum pump (not shown). is doing.

前記下基板吸着チャック55はブリッジ形状のチャック取付け部材58によって前記下テーブルユニット14の裏面から取付けられる。前記チャック取付け部材58が取付けられる位置には、前記下テーブル54を貫通するチャック用逃げ孔60が穿設される。前記下基板吸着チャック55の固定部には螺子61が刻設され、該螺子61に螺合した上ナット62、下ナット63により前記チャック取付け部材58を挾持する様にして前記下基板吸着チャック55が前記チャック取付け部材58に取付けられる。   The lower substrate suction chuck 55 is mounted from the back surface of the lower table unit 14 by a bridge-shaped chuck mounting member 58. A chuck relief hole 60 that penetrates the lower table 54 is formed at a position where the chuck attachment member 58 is attached. A screw 61 is engraved in a fixed portion of the lower substrate suction chuck 55, and the lower substrate suction chuck 55 is held such that the chuck mounting member 58 is held by an upper nut 62 and a lower nut 63 screwed into the screw 61. Is attached to the chuck attachment member 58.

又、前記下基板吸着チャック55は前記チャック用逃げ孔60を貫通する様にチャック取付け部材58に取付けられ、前記下基板吸着チャック55の吸着盤59の上端部分が僅かに前記下テーブル54の上面(基板載置面)より突出する様に前記上ナット62、下ナット63によって取付け位置が調整される。   The lower substrate suction chuck 55 is attached to a chuck mounting member 58 so as to penetrate the chuck escape hole 60, and the upper end portion of the suction plate 59 of the lower substrate suction chuck 55 is slightly above the upper surface of the lower table 54. The mounting position is adjusted by the upper nut 62 and the lower nut 63 so as to protrude from the (substrate mounting surface).

下被処理基板64は剛性を有する合成樹脂製等の基板ホルダ65に載置保持され取扱われ、前記下テーブル54上にも前記基板ホルダ65を介して載置され、該基板ホルダ65と前記下テーブル54との位置合せは前記下テーブル54に植設された位置決めピン67(図1、図7参照)と基板ホルダ65に穿設された位置決め孔(後述)との嵌合によって行われる。   The lower substrate 64 is placed and held on a rigid substrate holder 65 made of synthetic resin or the like, and is also placed on the lower table 54 via the substrate holder 65. The alignment with the table 54 is performed by fitting a positioning pin 67 (see FIGS. 1 and 7) implanted in the lower table 54 and a positioning hole (described later) drilled in the substrate holder 65.

前記基板ホルダ65には前記下基板吸着チャック55と同心位置に吸着孔66が穿設されており、前記下基板吸着チャック55により吸引した場合に前記吸着孔66を介して前記下被処理基板64を吸着する様になっている。   The substrate holder 65 is provided with a suction hole 66 concentrically with the lower substrate suction chuck 55, and when sucked by the lower substrate suction chuck 55, the lower substrate 64 to be processed through the suction hole 66. Is supposed to be absorbed.

前記下基板吸着チャック55で吸引した場合、前記吸着盤59が変形して前記基板ホルダ65に密着し、密着することで前記吸着盤59の上端部が後退し、前記基板ホルダ65が前記下テーブル54に密着する。   When suction is performed by the lower substrate suction chuck 55, the suction plate 59 is deformed and closely contacts the substrate holder 65, whereby the upper end portion of the suction plate 59 is retracted, and the substrate holder 65 is moved to the lower table. 54.

図1〜図3を参照して前記軸受ユニット17について説明する。   The bearing unit 17 will be described with reference to FIGS.

両端に配置された軸支持ブロック68,68に前記回転軸18が回転自在に支持され、該回転軸18に前記上テーブルユニット19が固着され、該上テーブルユニット19と前記回転軸18とは一体に回転する様になっている。該回転軸18の一端部は前記軸支持ブロック68より突出しており、突出端部に軸ホルダ69が取付けられ、該軸ホルダ69に前記回転軸18と直交するカウンタウェイト軸71が取付けられ、該カウンタウェイト軸71の先端にはカウンタウェイト72が固着されている。   The rotary shaft 18 is rotatably supported by shaft support blocks 68 and 68 disposed at both ends, and the upper table unit 19 is fixed to the rotary shaft 18, and the upper table unit 19 and the rotary shaft 18 are integrated. It is designed to rotate. One end portion of the rotating shaft 18 protrudes from the shaft support block 68, a shaft holder 69 is attached to the protruding end portion, and a counterweight shaft 71 orthogonal to the rotating shaft 18 is attached to the shaft holder 69. A counterweight 72 is fixed to the tip of the counterweight shaft 71.

該軸ホルダ69はスリ割り構造を有し、前記カウンタウェイト軸71を挾持しており、該カウンタウェイト軸71は軸心方向に支持位置が調整できる様になっており、又前記軸ホルダ69は前記回転軸18に対して所要の回転位置で固定可能となっている。   The shaft holder 69 has a slot structure, and holds the counterweight shaft 71. The counterweight shaft 71 can be adjusted in the support position in the axial direction. The rotary shaft 18 can be fixed at a required rotational position.

而して、前記カウンタウェイト軸71の支持位置、即ち前記カウンタウェイト72迄の支持長さの調整、前記カウンタウェイト軸71の前記回転軸18に対する回転位置調整で前記上テーブルユニット19と前記カウンタウェイト軸71とのウェイトバランスを調整できる様になっている。   Thus, the upper table unit 19 and the counter weight can be adjusted by adjusting the support position of the counterweight shaft 71, that is, the support length up to the counterweight 72, and adjusting the rotational position of the counterweight shaft 71 with respect to the rotary shaft 18. The weight balance with the shaft 71 can be adjusted.

図1〜図3、図15を参照して前記上テーブルユニット19について説明する。   The upper table unit 19 will be described with reference to FIGS.

該上テーブルユニット19は上記した様に、前記軸受ユニット17に前記回転軸18を中心に回転自在に支持され、開かれた状態(図1の状態)では前記上テーブル開時受部材21に支持され水平となっており、閉じられた状態では前記下テーブルユニット14と正対し、前記上テーブル閉時受部材22に支持され水平となる(図3の状態)。   As described above, the upper table unit 19 is supported by the bearing unit 17 so as to be rotatable about the rotary shaft 18, and is supported by the receiving member 21 when the upper table is opened in the opened state (the state shown in FIG. 1). In the closed state, it faces the lower table unit 14 and is supported by the receiving member 22 when the upper table is closed to be horizontal (state shown in FIG. 3).

前記上テーブルユニット19は主に、上テーブル73及び基板ホルダ吸着チャック74、上基板吸着チャック75a,75b,75c、取手76によって構成されている。   The upper table unit 19 mainly includes an upper table 73, a substrate holder suction chuck 74, upper substrate suction chucks 75a, 75b, and 75c, and a handle 76.

前記上テーブル73は、閉状態で前記光軸第1通過孔56と対向する光軸第3通過孔77及び短冊形状の切込み78,79を有し、該短冊形状の切込み78,79、前記光軸第3通過孔77によって、閉状態で基板の有無を観察できる様になっている。   The upper table 73 has an optical axis third passage hole 77 facing the optical axis first passage hole 56 in the closed state and strip-shaped cuts 78, 79. The strip-shaped cuts 78, 79, the light The shaft third passage hole 77 allows the presence or absence of the substrate to be observed in the closed state.

図3に示される様に、前記基板ホルダ吸着チャック74は前記上テーブル73の略中央に設けられ、前記上基板吸着チャック75aは前記上テーブル73の略4隅に設けられ、前記上基板吸着チャック75bは前記基板ホルダ吸着チャック74の前後に、前記上基板吸着チャック75cは前記基板ホルダ吸着チャック74の左右に2個宛で設けられている。   As shown in FIG. 3, the substrate holder suction chuck 74 is provided at substantially the center of the upper table 73, and the upper substrate suction chuck 75 a is provided at substantially four corners of the upper table 73. 75 b is provided before and after the substrate holder suction chuck 74, and two upper substrate suction chucks 75 c are provided on the left and right sides of the substrate holder suction chuck 74.

前記上基板吸着チャック75a,75b,75cは同一構造であり、前記基板ホルダ吸着チャック74、前記上基板吸着チャック75cについて図15を参照して説明する。又前述した下基板吸着チャック55と同構造であるので同等のものには同符号を付しその説明を省略する。   The upper substrate suction chucks 75a, 75b, and 75c have the same structure, and the substrate holder suction chuck 74 and the upper substrate suction chuck 75c will be described with reference to FIG. Further, since it has the same structure as the lower substrate suction chuck 55 described above, the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

該基板ホルダ吸着チャック74は先端部に弾力性を有する材料、例えばゴム、合成樹脂等材料から成る吸着盤81を有しており、該吸着盤81は図示しない真空ポンプ等の負圧源に連通している。   The substrate holder suction chuck 74 has a suction plate 81 made of a material having elasticity, such as rubber or synthetic resin, at the tip, and the suction plate 81 communicates with a negative pressure source such as a vacuum pump (not shown). is doing.

前記基板ホルダ吸着チャック74はブリッジ形状のチャック取付け部材82によって前記上テーブル73の裏面から取付けられる。前記チャック取付け部材82が取付けられる位置には、前記上テーブル73を貫通するチャック用逃げ孔83が穿設される。前記基板ホルダ吸着チャック74の固定部には螺子84が刻設され、該螺子84に螺合した上ナット85、下ナット86により前記チャック取付け部材82を挾持する様にして前記基板ホルダ吸着チャック74が前記チャック取付け部材82に取付けられる。   The substrate holder suction chuck 74 is attached from the back surface of the upper table 73 by a bridge-shaped chuck attachment member 82. A chuck escape hole 83 that penetrates the upper table 73 is formed at a position where the chuck attachment member 82 is attached. A screw 84 is formed in a fixed portion of the substrate holder suction chuck 74, and the chuck holder 82 is clamped by an upper nut 85 and a lower nut 86 screwed to the screw 84 so that the substrate holder suction chuck 74 is held. Is attached to the chuck attachment member 82.

又、前記基板ホルダ吸着チャック74は、前記基板ホルダ吸着チャック74の吸着盤81の上端部分が僅かに前記上テーブル73の上面(基板載置面)より突出する様に前記上ナット85、下ナット86によって取付け位置が調整される。   The substrate holder suction chuck 74 includes the upper nut 85 and the lower nut so that the upper end portion of the suction plate 81 of the substrate holder suction chuck 74 slightly protrudes from the upper surface (substrate mounting surface) of the upper table 73. The mounting position is adjusted by 86.

上被処理基板87は剛性を有する合成樹脂製等の基板ホルダ65に載置保持され取扱われ、前記上テーブル73上にも前記基板ホルダ65を介して載置され、該基板ホルダ65と前記上テーブル73との位置合せは前記上テーブル73に植設された位置決めピン88(図1参照)と前記基板ホルダ65に穿設された位置決め孔(後述)との嵌合によって行われる。   The upper substrate 87 is placed and held on a rigid substrate holder 65 made of synthetic resin or the like, and is also placed on the upper table 73 via the substrate holder 65. The alignment with the table 73 is performed by fitting a positioning pin 88 (see FIG. 1) implanted in the upper table 73 and a positioning hole (described later) formed in the substrate holder 65.

前記基板ホルダ65には前記上基板吸着チャック75a,75b,75cと同心位置に吸着孔66が穿設されており、前記上基板吸着チャック75a,75b,75cにより吸引した場合に前記吸着孔66を介して前記上被処理基板87を吸着する様になっている。   The substrate holder 65 is formed with a suction hole 66 concentrically with the upper substrate suction chucks 75a, 75b, 75c, and when the suction is performed by the upper substrate suction chucks 75a, 75b, 75c, the suction hole 66 is opened. Thus, the upper substrate 87 is sucked.

前記基板ホルダ吸着チャック74、前記上基板吸着チャック75a,75b,75cで吸引した場合、前記吸着盤81、前記吸着盤59が変形して前記基板ホルダ65に密着し、又前記吸着盤81、前記吸着盤59が変形して前記基板ホルダ65が前記上テーブル73に密着する。   When suction is performed by the substrate holder suction chuck 74 and the upper substrate suction chucks 75a, 75b, and 75c, the suction plate 81 and the suction plate 59 are deformed to be in close contact with the substrate holder 65, and the suction plate 81, The suction plate 59 is deformed and the substrate holder 65 is brought into close contact with the upper table 73.

図16、図17により前記基板ホルダ65と下被処理基板64、上被処理基板87について説明する。   The substrate holder 65, the lower substrate 64, and the upper substrate 87 will be described with reference to FIGS.

該基板ホルダ65は下被処理基板64、上被処理基板87の双方に対応可能である。   The substrate holder 65 can correspond to both the lower substrate 64 and the upper substrate 87.

前記下基板吸着チャック55、前記上基板吸着チャック75bに対応してそれぞれ吸着孔66が穿設されている。又、両端部中心には前記光軸第1通過孔56に対応してカメラ通し孔89が穿設され、該カメラ通し孔89の近傍には前記位置決めピン67、前記位置決めピン88と嵌合可能な位置決め孔91が穿設されている。   Suction holes 66 are formed corresponding to the lower substrate suction chuck 55 and the upper substrate suction chuck 75b, respectively. A camera through hole 89 is formed in the center of both ends corresponding to the optical axis first passage hole 56, and the positioning pin 67 and the positioning pin 88 can be fitted in the vicinity of the camera through hole 89. A positioning hole 91 is formed.

前記基板ホルダ65の1つの長辺に沿って線状の肩当92が形成され、又1つの端片側には円曲面を有する肩当93が形成されている。尚、図16中の他の長辺側に形成された切欠94は、他方の基板ホルダ65に取付けられるクリップと干渉しない為の逃げとなっている。   A linear shoulder pad 92 is formed along one long side of the substrate holder 65, and a shoulder pad 93 having a circular curved surface is formed on one end piece side. Note that the notch 94 formed on the other long side in FIG. 16 serves as a relief so as not to interfere with the clip attached to the other substrate holder 65.

前記基板ホルダ65に、前記下被処理基板64、前記上被処理基板87をセットする場合は、前記肩当92、前記肩当93に前記下被処理基板64、前記上被処理基板87の長辺、短辺を押当てて前記基板ホルダ65に対する位置決めを行う。又、前記基板ホルダ65に前記下被処理基板64、上被処理基板87がセットされた場合、被処理基板の所定位置が前記カメラ通し孔89に掛かる様になっている。   When setting the lower substrate to be processed 64 and the upper substrate to be processed 87 to the substrate holder 65, the shoulder substrate 92, the shoulder substrate 93 to the lower substrate to be processed 64, the long side of the upper substrate to be processed 87, Positioning with respect to the substrate holder 65 is performed by pressing the short side. Further, when the lower substrate 64 and the upper substrate 87 are set on the substrate holder 65, a predetermined position of the substrate to be processed is put on the camera through-hole 89.

前記基板ホルダ65に対する被処理基板のセットは、基板貼合せを行う前に予め行われ、持運び、搬送は該基板ホルダ65と被処理基板とを一体として扱われる。又、搬送時に前記下被処理基板64、前記上被処理基板87と前記基板ホルダ65とはクリップ95で挾んでずれない様にする。   The substrate to be processed with respect to the substrate holder 65 is set in advance before bonding the substrates, and the substrate holder 65 and the substrate to be processed are handled as a single unit for carrying and carrying. Further, the substrate to be processed 64, the substrate to be processed 87 and the substrate holder 65 are held by the clip 95 so as not to be displaced during transportation.

以下、基板貼合せ作動について説明する。尚、下被処理基板64、上被処理基板87は中サイズのものが用いられる場合とする。   Hereinafter, the substrate bonding operation will be described. It is assumed that the medium substrate of the lower substrate 64 and the upper substrate 87 is used.

図1に示される前記上テーブルユニット19が開かれた状態で、予め前記下被処理基板64がセットされた前記基板ホルダ65を前記下テーブルユニット14に載置する。前記下テーブルユニット14に対する前記基板ホルダ65の位置合せは、前記位置決めピン67と前記基板ホルダ65の前記位置決め孔91との嵌合によって粗調整が完了する。同様に、前記上被処理基板87がセットされた前記基板ホルダ65が前記上テーブルユニット19に載置される。前記上テーブルユニット19に対する前記基板ホルダ65の位置合せは、前記位置決めピン88と前記基板ホルダ65の前記位置決め孔91によって粗調整が完了する(図2、図4参照)。   In the state where the upper table unit 19 shown in FIG. 1 is opened, the substrate holder 65 on which the lower substrate to be processed 64 is set in advance is placed on the lower table unit 14. Coarse adjustment of the substrate holder 65 with respect to the lower table unit 14 is completed by fitting the positioning pins 67 with the positioning holes 91 of the substrate holder 65. Similarly, the substrate holder 65 on which the upper substrate 87 is set is placed on the upper table unit 19. Coarse adjustment of the substrate holder 65 with respect to the upper table unit 19 is completed by the positioning pins 88 and the positioning holes 91 of the substrate holder 65 (see FIGS. 2 and 4).

前記下テーブルユニット14に対する被処理基板のセット、前記上テーブルユニット19に対する被処理基板のセットは共に上方からの作業となり、前記下テーブルユニット14、前記上テーブルユニット19共に上方が開放された状態であるので、作業性がよい。   Both the setting of the substrate to be processed on the lower table unit 14 and the setting of the substrate to be processed on the upper table unit 19 are performed from above, and both the lower table unit 14 and the upper table unit 19 are opened upward. Because there is, workability is good.

前記下基板吸着チャック55によって前記基板ホルダ65及び前記下被処理基板64が吸引され、前記下テーブル54に密着する。又、前記基板ホルダ吸着チャック74、前記上基板吸着チャック75bが吸引され、前記基板ホルダ65、前記上被処理基板87が吸引され、前記上テーブル73に密着する。   The substrate holder 65 and the lower substrate to be processed 64 are sucked by the lower substrate suction chuck 55 and are in close contact with the lower table 54. Further, the substrate holder suction chuck 74 and the upper substrate suction chuck 75 b are sucked, and the substrate holder 65 and the upper substrate 87 are sucked and are in close contact with the upper table 73.

次に、前記取手76を持って上テーブルユニット19を閉方向に回転させる。前記カウンタウェイト72は前記上テーブルユニット19を回転させる場合に必要とされる回転力を軽減する(図3、図5参照)。   Next, the upper table unit 19 is rotated in the closing direction by holding the handle 76. The counterweight 72 reduces the rotational force required when the upper table unit 19 is rotated (see FIGS. 3 and 5).

前記上テーブルユニット19の閉状態で、前記上テーブル73を前記上テーブル閉時受部材22に固定するかどうかは、前記下被処理基板64と上被処理基板87とを貼合せる場合の接合力によって適宜決定する。   Whether the upper table 73 is fixed to the receiving member 22 when the upper table is closed when the upper table unit 19 is closed depends on the bonding force when the lower substrate 64 and the upper substrate 87 are bonded. As appropriate.

閉状態で、前記カメラユニット15により前記下被処理基板64と前記上被処理基板87との位置関係を観察する。該下被処理基板64、上被処理基板87の貼合せの場合は、前記カメラユニット15は図13で示される様に、前記カメラユニット取付け孔39に設定される。   In the closed state, the camera unit 15 observes the positional relationship between the lower substrate to be processed 64 and the upper substrate to be processed 87. When the lower substrate 64 and the upper substrate 87 are bonded, the camera unit 15 is set in the camera unit mounting hole 39 as shown in FIG.

前記下テーブル54の前記光軸第1通過孔56、前記基板ホルダ65の前記カメラ通し孔89を通して、前記下被処理基板64、前記上被処理基板87の所定位置が合致しているかどうかが観察され、ずれている場合は、前記Y軸調整摘み36、前記X軸調整摘み37、前記θ軸調整摘み38を適宜回転させ、上下の被処理基板の位置合せを行う。上記した様に前記基板ホルダ65に対する下被処理基板64、上被処理基板87の位置合せ、前記基板ホルダ65と前記下テーブル54、前記基板ホルダ65と前記上テーブル73との位置合せは完了しているので、前記前記Y軸調整摘み36、前記X軸調整摘み37、前記θ軸調整摘み38による微調整は容易に行える。   Through the optical axis first passage hole 56 of the lower table 54 and the camera through hole 89 of the substrate holder 65, it is observed whether or not predetermined positions of the lower substrate 64 and the upper substrate 87 are matched. If they are displaced, the Y-axis adjustment knob 36, the X-axis adjustment knob 37, and the θ-axis adjustment knob 38 are appropriately rotated to align the upper and lower substrates to be processed. As described above, the alignment of the lower substrate 64 and the upper substrate 87 with respect to the substrate holder 65 and the alignment of the substrate holder 65 and the lower table 54 and the substrate holder 65 and the upper table 73 are completed. Therefore, fine adjustment by the Y-axis adjustment knob 36, the X-axis adjustment knob 37, and the θ-axis adjustment knob 38 can be easily performed.

上下の被処理基板の位置合せが完了すると、前記電動シリンダ27が駆動され、前記下テーブルユニット14が上昇して前記下被処理基板64と前記上被処理基板87が密着して基板が貼合せられる(図6参照)。   When the alignment of the upper and lower substrates to be processed is completed, the electric cylinder 27 is driven, the lower table unit 14 is raised, the lower substrate 64 and the upper substrate 87 are brought into close contact, and the substrates are bonded together. (See FIG. 6).

前記下被処理基板64と前記上被処理基板87との接着は、従来と同様、例えば前記下被処理基板64の周辺部に粘着性透明の接着剤が事前に塗布されている等である。   Adhesion between the lower substrate to be processed 64 and the upper substrate to be processed 87 is, for example, a sticky transparent adhesive is applied in advance to the peripheral portion of the lower substrate to be processed 64.

接着が完了すると、前記上テーブルユニット19の上基板吸着チャック75bの吸着を開放し、前記基板ホルダ吸着チャック74による吸着を維持する。   When the bonding is completed, the upper substrate suction chuck 75b is released from the suction of the upper table unit 19 and the suction by the substrate holder suction chuck 74 is maintained.

前記電動シリンダ27により前記下テーブルユニット14が降下されると、前記上被処理基板87のみが前記上テーブルユニット19から開放されて前記下テーブルユニット14に残り、前記基板ホルダ65は前記上テーブルユニット19に吸着されている。   When the lower table unit 14 is lowered by the electric cylinder 27, only the upper processing substrate 87 is released from the upper table unit 19 and remains on the lower table unit 14, and the substrate holder 65 is moved to the upper table unit. 19 is adsorbed.

前記取手76を持って前記上テーブルユニット19を開く。前記基板ホルダ吸着チャック74を開放することで、前記上テーブルユニット19から前記基板ホルダ65を取外すことが可能となる。又、前記下基板吸着チャック55を開放することで、前記下被処理基板64と前記上被処理基板87とが貼合された状態の基板(以下基板と称す)を前記基板ホルダ65と共に基板貼合せ装置から搬出可能となる。   The upper table unit 19 is opened with the handle 76. The substrate holder 65 can be detached from the upper table unit 19 by opening the substrate holder suction chuck 74. Further, by opening the lower substrate suction chuck 55, a substrate (hereinafter referred to as a substrate) in which the lower substrate 64 and the upper substrate 87 are bonded together with the substrate holder 65 is bonded to the substrate. It can be carried out from the aligning device.

次の基板貼合せ作業を行う場合は、上記手順を繰返して行う。   When the next substrate bonding operation is performed, the above procedure is repeated.

上記した基板貼合せ装置では、前記上テーブルユニット19を回転させるだけで、前記上被処理基板87と前記下被処理基板64とを正対させることができ、位置合せ作業が簡単になる。又、自由度も5軸でよく、機構が簡単になる。   In the above-described substrate laminating apparatus, the upper substrate 87 and the lower substrate 64 can be aligned with each other simply by rotating the upper table unit 19, and the alignment operation is simplified. Further, the degree of freedom may be five axes, and the mechanism is simple.

更に、基板の取扱いは剛性のある前記基板ホルダ65に保持して行うので、特に薄板大型の基板の搬送途中での取扱いが容易となり、破損損傷の事故が減少する。   Furthermore, since the substrate is handled by being held by the rigid substrate holder 65, the handling of the thin large-sized substrate is facilitated especially during the conveyance, and the damage damage accident is reduced.

又、前記下被処理基板64、前記上被処理基板87を吸着する場合、剛性のある前記基板ホルダ65を介して前記下テーブル54、前記上テーブル73に吸着させるので、前記吸着盤59、前記吸着盤81の跡が付かない。更に、前記下被処理基板64、前記上被処理基板87と前記基板ホルダ65とは広い面接触になるので、局部的な荷重の発生が防止され、基板への負担が軽減する。   Further, when the lower substrate 64 and the upper substrate 87 are sucked, the lower table 54 and the upper table 73 are sucked through the rigid substrate holder 65, so the suction plate 59, The mark of the suction board 81 is not attached. Furthermore, since the lower substrate to be processed 64, the upper substrate to be processed 87 and the substrate holder 65 are in wide surface contact, the generation of local load is prevented and the burden on the substrate is reduced.

本発明では、種々の基板サイズに対応が可能である。   The present invention can cope with various substrate sizes.

例えば、大サイズの基板の貼合せを行う場合は、図8に示される様に、前記カメラユニット15,15を前記第1ガイドスリット孔42,43に沿って外側に移動させ、前記カメラユニット15の光軸が被処理基板の所定位置に合致する様に設定する。又、前記基板ホルダ65は大サイズが使用され、大サイズの場合は、前記上テーブルユニット19に前記基板ホルダ65、前記上被処理基板87を吸着する場合は、前記基板ホルダ吸着チャック74、前記上基板吸着チャック75a,75c,75bが使用される。   For example, when laminating a large-sized substrate, as shown in FIG. 8, the camera units 15 and 15 are moved outward along the first guide slit holes 42 and 43, and the camera unit 15 The optical axis is set so as to coincide with a predetermined position of the substrate to be processed. The substrate holder 65 has a large size. In the case of a large size, when the substrate holder 65 and the upper substrate 87 are sucked to the upper table unit 19, the substrate holder chuck 74, Upper substrate suction chucks 75a, 75c, and 75b are used.

又小サイズの基板の貼合せを行う場合は、小サイズ用の基板ホルダ96が使用される(図18参照)。該基板ホルダ96には前記基板ホルダ65と同一の外形を有し、同一位置に位置決め孔91が穿設され、前記下テーブル54、前記上テーブル73にそれぞれ設置、位置決め可能となっている。   When a small size substrate is bonded, a small size substrate holder 96 is used (see FIG. 18). The substrate holder 96 has the same outer shape as the substrate holder 65 and has a positioning hole 91 formed at the same position, and can be installed and positioned in the lower table 54 and the upper table 73, respectively.

前記基板ホルダ96の後部には段差97が形成されると共に該段差97の近傍に円曲面を有する肩当98が形成される。小サイズの基板は前記段差97、肩当98によって位置決めされる。又、前記段差97に沿ってチャック用の吸着孔66が穿設され、該吸着孔66の位置は前記上テーブルユニット19の上基板吸着チャック75bに対応している。又、前記基板ホルダ96の両側からはカメラ観察用の切欠99が形成されている。尚、該切欠99はカメラユニット15の光軸上に位置するカメラ観察用の通し孔であってもよい。   A step 97 is formed at the rear of the substrate holder 96 and a shoulder pad 98 having a circular curved surface is formed in the vicinity of the step 97. The small-sized substrate is positioned by the step 97 and the shoulder pad 98. A chucking suction hole 66 is formed along the step 97, and the position of the suction hole 66 corresponds to the upper substrate suction chuck 75b of the upper table unit 19. Further, notches 99 for camera observation are formed from both sides of the substrate holder 96. The notch 99 may be a camera observation through hole located on the optical axis of the camera unit 15.

前記基板ホルダ96が使用される場合、前記カメラユニット15は図14に示される様に、前記カメラ支持ブロック49が前記カメラユニット取付け孔44に嵌合して設けられ、前記カメラユニット取付け孔41のT字の頭部両端に設置される。この状態での前記カメラユニット15の光軸は前記基板ホルダ96が前記下テーブルユニット14、上テーブルユニット19に設置された場合、前記切欠99を通過する。   When the substrate holder 96 is used, the camera unit 15 is provided with the camera support block 49 fitted in the camera unit mounting hole 44 as shown in FIG. Installed at both ends of the T-shaped head. The optical axis of the camera unit 15 in this state passes through the notch 99 when the substrate holder 96 is installed on the lower table unit 14 and the upper table unit 19.

小サイズの基板を貼合せる場合は、前記基板ホルダ96が使用され、前記上テーブルユニット19にセットする場合は、前記基板ホルダ吸着チャック74と前記上基板吸着チャック75bによって前記基板ホルダ96及び小サイズの基板が吸着される。   The substrate holder 96 is used when a small-sized substrate is bonded, and when the substrate holder 96 is set on the upper table unit 19, the substrate holder 96 and the small size are separated by the substrate holder suction chuck 74 and the upper substrate suction chuck 75 b. The substrate is adsorbed.

尚、被処理基板の貼合せ作業については、上記したと同様である。   In addition, about the bonding operation | work of a to-be-processed substrate, it is the same as that mentioned above.

図19(A)、図19(B)、図19(C)は本発明の他の実施の形態を示している。   19 (A), 19 (B), and 19 (C) show other embodiments of the present invention.

図19(A)、図19(B)、図19(C)に於いて、図1〜図3中で示したものと同等のものには同符号を付してある。   19A, 19B, and 19C, the same components as those shown in FIGS. 1 to 3 are denoted by the same reference numerals.

ベースプレート12から支柱101,101が対向して立設され、該支柱101,101の間に昇降駆動ユニット13が前記ベースプレート12に設けられ、前記昇降駆動ユニット13に下テーブルユニット14が設けられ、前記支柱101,101の上端部に上テーブルユニット19が回転可能に設けられている。   The support columns 101 and 101 are erected from the base plate 12 so as to face each other, and the elevating drive unit 13 is provided on the base plate 12 between the support columns 101 and 101, and the lower table unit 14 is provided on the elevating drive unit 13. An upper table unit 19 is rotatably provided at the upper ends of the columns 101 and 101.

尚、該上テーブルユニット19が基板ホルダ吸着チャック74、上基板吸着チャック75等を有し、前記下テーブルユニット14が下基板吸着チャック55等を有し、前記昇降駆動ユニット13が位置調整ユニット33を有す等は図1〜図3中で示した基板貼合せ装置と同様である。   The upper table unit 19 has a substrate holder suction chuck 74, an upper substrate suction chuck 75, etc., the lower table unit 14 has a lower substrate suction chuck 55, etc., and the elevation drive unit 13 is a position adjustment unit 33. And the like are the same as those of the substrate bonding apparatus shown in FIGS.

該他の実施の形態に於いて、前記下テーブルユニット14、上テーブルユニット19にそれぞれ被処理基板がセットされ、前記上テーブルユニット19が反転し、前記下テーブルユニット14が上昇して基板の貼合せが行われる。   In the other embodiment, the substrate to be processed is set on the lower table unit 14 and the upper table unit 19, respectively, the upper table unit 19 is inverted, and the lower table unit 14 is raised to attach the substrate. Matching is done.

該他の実施の形態では、前記上テーブルユニット19を回転させる場合の重量バランスが取り易いので、カウンタウェイトが不要となり、自動化が容易となる。又、基板貼合せ装置の設置スペースが小さくて済む等の利点がある。   In the other embodiment, since the weight balance when the upper table unit 19 is rotated can be easily obtained, the counter weight is not required, and automation is facilitated. Further, there is an advantage that the installation space for the substrate bonding apparatus can be reduced.

又、基板を基板ホルダ65にクランプする手段としては種々考えられ、例えば図20で示すものは、弾性板材をU字状に曲げ成形したクリップ102であり、一端部を長くして先端に基板を傷付けない様に合成樹脂等の圧接片103を取付け、前記基板ホルダ65には側面から溝104を形成し、被処理基板105を載置した状態で、前記溝104に前記クリップ102を差込むことで前記圧接片103を前記被処理基板105にクリップの弾性で押圧して保持する様にしたものである。   Various means for clamping the substrate to the substrate holder 65 are conceivable. For example, what is shown in FIG. 20 is a clip 102 formed by bending an elastic plate material into a U-shape, with one end lengthened and the substrate placed at the tip. A pressure contact piece 103 made of synthetic resin or the like is attached so as not to be damaged, a groove 104 is formed in the substrate holder 65 from the side surface, and the clip 102 is inserted into the groove 104 with the substrate to be processed 105 placed thereon. The pressure contact piece 103 is pressed and held on the substrate to be processed 105 by the elasticity of the clip.

又、図21はクランプ手段の他の例を示すものであり、磁石106に板バネ107を取付け、該板バネ107に圧接片103を固着する。一方基板ホルダ65を磁性金属製とするか、或は金属片を埋設しておき、前記磁石106を基板ホルダ65に吸着させることで前記板バネ107の弾性力で被処理基板105を先端の前記圧接片103で押圧する様にしたものである。   FIG. 21 shows another example of the clamping means. A plate spring 107 is attached to the magnet 106, and the pressure contact piece 103 is fixed to the plate spring 107. On the other hand, the substrate holder 65 is made of a magnetic metal, or a metal piece is embedded, and the magnet 106 is attracted to the substrate holder 65 so that the substrate 105 is processed by the elastic force of the leaf spring 107. The pressure contact piece 103 is used for pressing.

又、図22は更に他のクランプ手段を示しており、基板ホルダ65にピン108を立設すると共にローレット螺子109を螺着し、板バネ110に前記ピン108、ローレット螺子109が挿通する長孔111,112を穿設すると共に先端に圧接片103を固着し、前記板バネ110を被処理基板105に対して進退させることで、先端の前記圧接片103を前記被処理基板105の端縁に係合離脱可能とし、前記圧接片103が当接した状態での押圧力は前記ローレット螺子109をねじ込むことで発生させる様にしたものである。   FIG. 22 shows still another clamping means, in which a pin 108 is erected on the substrate holder 65 and a knurled screw 109 is screwed, and a long hole through which the pin 108 and knurled screw 109 are inserted into a leaf spring 110. The pressure contact piece 103 is fixed to the tip, and the leaf spring 110 is moved forward and backward with respect to the substrate to be processed 105, so that the pressure contact piece 103 at the tip is attached to the edge of the substrate to be processed 105. Engagement and disengagement are possible, and the pressing force in a state where the pressure contact piece 103 is in contact is generated by screwing the knurled screw 109.

尚、クランプ手段等は種々変更が可能であることは言う迄もない。   Needless to say, the clamping means and the like can be variously changed.

本発明の実施の形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows embodiment of this invention. 本発明の実施の形態を示す、上テーブルユニットが開かれ被処理基板がセットされた状態の斜視図である。It is a perspective view of the state where the upper table unit was opened and the to-be-processed substrate was set which shows embodiment of this invention. 本発明の実施の形態を示す、上テーブルユニットが閉じられた状態の斜視図である。It is a perspective view of the state where the upper table unit was closed showing an embodiment of the invention. 本発明の実施の形態を示す、上テーブルユニットが開かれ被処理基板がセットされた状態の正面図である。It is a front view of the state where the upper table unit was opened and the to-be-processed substrate was set which shows embodiment of this invention. 本発明の実施の形態を示す、上テーブルユニットが閉じられ、下テーブルユニットが降下状態の正面図である。FIG. 4 is a front view showing the embodiment of the present invention with the upper table unit closed and the lower table unit in a lowered state. 本発明の実施の形態を示す、上テーブルユニットが閉じられ、下テーブルユニットが上昇状態の正面図である。FIG. 4 is a front view showing the embodiment of the present invention, with the upper table unit closed and the lower table unit raised. 本実施の形態に使用される昇降駆動ユニット、下テーブルユニットを示す一部断面図である。It is a partial cross section figure which shows the raising / lowering drive unit and lower table unit which are used for this Embodiment. 本実施の形態に於いて、大サイズの被処理基板を処理する場合のベースプレートに対するカメラユニットの取付け状態を示す斜視図である。In this Embodiment, it is a perspective view which shows the attachment state of the camera unit with respect to the base plate in the case of processing a to-be-processed substrate of large size. 本実施の形態に使用されるカメラユニットの斜視図である。It is a perspective view of the camera unit used for this Embodiment. 本実施の形態に於ける下テーブルユニットの平面図である。It is a top view of the lower table unit in this Embodiment. 図10のB−B矢視図であり、吸着前の状態を示すものである。It is a BB arrow line view of Drawing 10, and shows the state before adsorption. 図10のB−B矢視図であり、吸着後の状態を示すものである。It is a BB arrow line view of Drawing 10, and shows the state after adsorption. 本実施の形態に於いて、中サイズの被処理基板を処理する場合のベースプレートに対するカメラユニットの取付け状態を示す斜視図である。In this Embodiment, it is a perspective view which shows the attachment state of the camera unit with respect to the baseplate in the case of processing the to-be-processed substrate of medium size. 本実施の形態に於いて、小サイズの被処理基板を処理する場合のベースプレートに対するカメラユニットの取付け状態を示す斜視図である。In this Embodiment, it is a perspective view which shows the attachment state of the camera unit with respect to the baseplate in the case of processing a to-be-processed substrate of a small size. 図3のA−A矢視図である。It is an AA arrow line view of FIG. 本実施の形態に使用される中サイズの被処理基板に対応する基板ホルダの斜視図である。It is a perspective view of the substrate holder corresponding to the medium size to-be-processed substrate used for this Embodiment. 本実施の形態に於いて、基板ホルダと被処理基板とをクランプした状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state which clamped the substrate holder and the to-be-processed substrate in this Embodiment. 本実施の形態に使用される小サイズの被処理基板に対応する基板ホルダの斜視図である。It is a perspective view of the substrate holder corresponding to the small-sized to-be-processed substrate used for this Embodiment. (A)(B)(C)は、本発明の他の実施の形態を示し、(A)は上テーブルユニットが開いた状態、(B)は上テーブルユニットが回転した状態、(C)は下テーブルユニットが上昇した状態をそれぞれ示す斜視図である。(A), (B) and (C) show other embodiments of the present invention, (A) is a state where the upper table unit is opened, (B) is a state where the upper table unit is rotated, and (C) is a state where It is a perspective view which shows the state which the lower table unit raised, respectively. (A)(B)は、本発明で使用可能なクランプ手段の他の例を示す説明図である。(A) (B) is explanatory drawing which shows the other example of the clamp means which can be used by this invention. 本発明で使用可能なクランプ手段の他の例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the other example of the clamp means which can be used by this invention. (A)(B)は、本発明で使用可能なクランプ手段の他の例を示す説明図である。(A) (B) is explanatory drawing which shows the other example of the clamp means which can be used by this invention. 従来の基板貼合せ装置を示す概略図である。It is the schematic which shows the conventional board | substrate bonding apparatus. 同前従来の基板貼合せ装置を示す概略図である。It is the schematic which shows the same conventional board | substrate bonding apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

12 ベースプレート
13 昇降駆動ユニット
14 下テーブルユニット
15 カメラユニット
16 上テーブル支持台
17 軸受ユニット
19 上テーブルユニット
27 電動シリンダ
33 位置調整ユニット
44 第2ガイドスリット孔
54 下テーブル
55 下基板吸着チャック
56 光軸第1通過孔
57 光軸第2通過孔
60 チャック用逃げ孔
64 下被処理基板
65 基板ホルダ
66 吸着孔
67 位置決めピン
69 軸ホルダ
72 カウンタウェイト
73 上テーブル
74 基板ホルダ吸着チャック
75 上基板吸着チャック
87 上被処理基板
88 位置決めピン
89 カメラ通し孔
91 位置決め孔
92 肩当
93 肩当
95 クリップ
96 基板ホルダ
97 段差
98 肩当
99 切欠
12 Base plate 13 Lifting drive unit 14 Lower table unit 15 Camera unit 16 Upper table support 17 Bearing unit 19 Upper table unit 27 Electric cylinder 33 Position adjustment unit 44 Second guide slit hole 54 Lower table 55 Lower substrate suction chuck 56 Optical axis first 1 passage hole 57 optical axis second passage hole 60 chuck escape hole 64 substrate to be processed 65 substrate holder 66 suction hole 67 positioning pin 69 axis holder 72 counter weight 73 upper table 74 substrate holder suction chuck 75 upper substrate suction chuck 87 upper Substrate to be processed 88 Positioning pin 89 Camera through hole 91 Positioning hole 92 Shoulder contact 93 Shoulder contact 95 Clip 96 Substrate holder 97 Step 98 Shoulder contact 99 Notch

Claims (9)

上被処理基板を吸着保持する上テーブルユニットと、下被処理基板を吸着保持する下テーブルユニットとを具備し、前記上テーブルユニットは吸着保持面が上下反転回転可能であると共に下向反転時に前記下テーブルユニットと正対可能に支持され、該下テーブルユニットは昇降可能であることを特徴とする基板貼合せ装置。   An upper table unit for sucking and holding the upper substrate to be processed; and a lower table unit for sucking and holding the lower substrate to be processed. A substrate laminating apparatus, which is supported so as to be able to face the lower table unit, and that the lower table unit can be raised and lowered. 前記下テーブルユニットの吸着保持面は面内2方向及び垂直軸心を中心とする回転方向に変位可能である請求項1の基板貼合せ装置。   The substrate bonding apparatus according to claim 1, wherein the suction holding surface of the lower table unit is displaceable in two in-plane directions and in a rotation direction about a vertical axis. 前記下テーブルユニットの側方に設けられた回転軸に前記上テーブルユニットの前記下テーブルユニット側の側端部が支持され、前記回転軸を中心に前記上テーブルユニットが回転可能である請求項1の基板貼合せ装置。   2. A side end portion on the lower table unit side of the upper table unit is supported by a rotation shaft provided on a side of the lower table unit, and the upper table unit is rotatable about the rotation shaft. Board bonding equipment. 前記下テーブルユニットの上方に前記上テーブルユニットが回転可能に支持された請求項1の基板貼合せ装置。   The board | substrate bonding apparatus of Claim 1 with which the said upper table unit was rotatably supported above the said lower table unit. 前記下テーブルユニットはベースプレートの上方に支持され、該ベースプレートには上下被処理基板の位置合せ用のカメラユニットが取付けられ、該カメラユニットは被処理基板のサイズに対応して取付け位置を変更可能とした請求項1の基板貼合せ装置。   The lower table unit is supported above the base plate, and a camera unit for positioning the upper and lower processed substrates is attached to the base plate, and the mounting position of the camera unit can be changed according to the size of the processed substrate. The substrate bonding apparatus according to claim 1. 前記下テーブルユニット、上テーブルユニットは基板吸着用の基板吸着チャックを複数具備し、基板サイズに対応して前記基板吸着チャックが選択され使用される請求項1〜請求項5のうちいずれかの基板貼合せ装置。   6. The substrate according to claim 1, wherein each of the lower table unit and the upper table unit includes a plurality of substrate suction chucks for substrate suction, and the substrate suction chuck is selected and used in accordance with a substrate size. Laminating device. 前記被処理基板は基板ホルダに保持された状態で前記下テーブルユニット、前記上テーブルユニットに吸着され、前記基板吸着チャックは前記基板ホルダを直接吸着し、該基板ホルダは前記基板吸着チャックの吸着部に連通する吸着孔を有し、前記被処理基板は前記吸着孔を介して前記基板ホルダに吸着される請求項1の基板貼合せ装置。   The substrate to be processed is held by a substrate holder and is sucked by the lower table unit and the upper table unit, the substrate suction chuck directly sucks the substrate holder, and the substrate holder is a suction portion of the substrate suction chuck. The substrate bonding apparatus according to claim 1, further comprising: a suction hole that communicates with the substrate holder, wherein the substrate to be processed is sucked to the substrate holder through the suction hole. 前記被処理基板は基板ホルダに保持された状態で前記下テーブルユニット、前記上テーブルユニットに吸着され、前記上テーブルユニットは、被処理基板用の複数の基板吸着チャックと、基板ホルダ用の少なくとも1つの基板吸着チャックとを具備し、前記基板ホルダは前記被処理基板用基板吸着チャック吸着部に連通する吸着孔を有し、前記被処理基板は前記吸着孔を介して前記基板ホルダに吸着され、前記基板ホルダ用基板吸着チャックは前記基板ホルダを吸着し、前記被処理基板用基板吸着チャックと前記基板ホルダ用基板吸着チャックとは独立して吸着可能とした請求項1の基板貼合せ装置。   The substrate to be processed is held by a substrate holder and is sucked by the lower table unit and the upper table unit. The upper table unit includes a plurality of substrate chucks for the substrate to be processed and at least one for the substrate holder. Two substrate suction chucks, the substrate holder has a suction hole communicating with the substrate suction chuck suction portion for the substrate to be processed, and the substrate to be processed is sucked by the substrate holder through the suction hole, The substrate bonding apparatus according to claim 1, wherein the substrate holder chuck chuck chucks the substrate holder, and the substrate chuck chuck for the substrate to be processed and the substrate chuck chuck for the substrate holder can be chucked independently. 前記基板ホルダは基板サイズに対応した基板位置決め手段を具備し、前記被処理基板の搬送はクランプ手段により基板ホルダと被処理基板とが一体化された状態で行われる請求項7又は請求項8の基板貼合せ装置。   The substrate holder includes substrate positioning means corresponding to a substrate size, and the substrate to be processed is transported in a state where the substrate holder and the substrate to be processed are integrated by a clamp unit. Substrate laminating equipment.
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