JP2006500573A - 絞り装置およびコンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
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Abstract
本発明は、X線ビームを通過させるための少なくとも1つのスリットを形成可能である少なくとも1つの吸収要素(30,31;51)を備え、X線ビームを制限する絞り装置(3)に関する。吸収要素(30,31;51)は、スリット(32;52〜58)がスリット長手方向(42)に変化するスリット幅(l)、特に一方のスリット端部または両方のスリット端部へ向かって増大するスリット幅(l)を有するように湾曲させられ、特にスリット側に湾曲させられている。互いに相対的に移動可能な吸収要素(30,31)が存在するか、または1つの吸収要素(51)が好ましくは単一部材からなる構造体として形成され、その構造体には互いに異なる平均スリット幅(l)を有する複数のスリット(52,53,54,55,56,57,58)が設けられている。本発明は本発明による絞り装置(3)を備えたコンピュータ断層撮影装置(1)に関する。
Description
本発明は、X線ビームを通過させるための少なくとも1つのスリットを形成可能である少なくとも1つの吸収要素を備え、X線ビームを制限する絞り装置に関する。更に、本発明は、システム軸線の周りを回転可能なX線放射器とX線検出器とX線放射器側の絞り装置とを備えたコンピュータ断層撮影装置に関する。
X線診断装置において検査対象つまり患者を検査する際に、検査対象がX線源から送出されたX線ビーム内に搬入され、検査対象により生じるX線減弱がX線検出器によって検出される。従って、検査対象はX線放射器とX線検出器との間のX線経路内に位置する。一般にX線放射器として使用されるX線管は、患者での検査に必要とされるよりも著しく大きな空間角度でX線を放射する。従って、患者の不必要なX線負担を避けるために、必要でないX線を除去する必要がある。このために従来のX線装置ではX線経路においてX線放射器の直後にX線放射器側の絞り装置を取付けることが知られており、この絞り装置は一次X線絞りとも呼ばれる。吸収要素として互いに逆方向に移動可能な絞り板を備えたこのような一次X線絞りは、例えば欧州特許出願公開第0187245号明細書から公知である。
複数行X線検出器を備えたコンピュータ断層撮影装置では、X線放射器と患者との間のX線経路に配置されているX線放射器側の絞り装置のほかにさらに、患者とX線検出器との間のX線経路に配置されている検出器側つまり検出器近くのX線絞りもしばしば使用される。それによって、存在する複数の検出器行から1つ又は複数の検出器行を遮蔽して残りの検出器行を活性の検出器行として設定することができる。コンピュータ断層撮影装置、特に第3世代のコンピュータ断層撮影装置では、X線検出器がX線放射器と共に、ガントリ(回転枠)上に固定されて患者の周りを回転するので、X線検出器は一般に方位角の方向に湾曲させられている。この形状への適合において、特に一定の相互距離を実現するために、独国特許第4226861号明細書に開示されたコンピュータ断層撮影装置用の検出器側絞りは弓形絞り板を用いて構成されている。
X線放射器側の絞りに関しては、この絞りが、X線検出器によって、特にその活性の検出器行によって実際にも検出可能であるX線だけを通過させるという目標設定が存在する。他のX線は不必要に患者を透過して、X線負担を不必要に高めるだけである。コンピュータ断層撮影装置における複数行のX線検出器アレイは一般に直交する行および列に配置された検出器要素を装備し、一次X線絞りに関しては正確に矩形のX線ビームに絞り込む目標設定が存在する。換言するならば、生じる断層輪郭に所望の形および半値幅をとらせようとするものである。従来の平面のまたは平坦な絞り板つまり吸収要素の場合、これは、それぞれX線放射器の焦点から絞り板への入射点まで測ったX線ビームの異なるX線距離のために、完全には不可能である。絞込み時に相応の不都合なエッジ効果を回避するために、米国特許第6396902号明細書には、担持体つまり基体に種々のしかしそれぞれ一定の幅の複数のスリットが設けられているX線コリメータが記載されている。担持体は絞込みスリットも曲がるように曲げられている。スリットの曲がりは、X線検出器上に絞り込まれるX線ビームの横断面が正確に矩形状となることを保証する。
種々の検査方法のために、種々の複数の活性検出器行に絞り込まれるかまたは患者軸線の方向に種々の幅に絞り込まれるX線ビームにより動作することができるようにするために、米国特許第6396902号明細書から公知のX線コリメータでは、X線吸収材料から作られた担持体全体が移動されなければならない。そこでの開示によれば、これは担持体の回転によって行なわれ、そのために担持体はなおも第2の軸線の周りにも曲げられている(皿形)。他の絞りスリットも再び通過位置に持ち込むことができるようにするために回転軸線はX線の焦点の高さになければならない。これは場合によっては非常に大きな機械的な費用を要する。
この代替としては回転させられる担持体が押し込み移動によって正しい位置へ再調整されなければならず、これも同様に非常に高価である。
更に、2つの軸線の周りに曲げられた担持体の製造も同様に高コストにつながり、しかも、これはX線吸収材料すなわち大きい原子番号を持つ材料から製造されなければならない。更に、米国特許第6396902号明細書から公知のX線コリメータにおいては、その大きな構成ボリュームが欠点である。
本発明の課題は、僅かな費用で製造することができ、僅かなスペースしか要求せず、それにもかかわらず、場合によっては付設されたX線検出器の形状に整合した絞込みを可能にする絞り装置を提供することにある。このためにコンピュータ断層撮影装置も提供しようとするものである。
最初に述べた課題は、冒頭に述べた絞り装置において、本発明によれば、吸収要素が、スリットがスリット長手方向に変化するスリット幅を有するように形成されていることによって解決される。
本発明による絞り装置は、例えば矩形状の絞込みを達成するために、1つまたは複数の吸収要素が例えばバナナ状に湾曲させられた形状を有する必要がない利点を有する。むしろスリットは1つの平面内にあり、同様に3番目の次元に向かって曲げられる必要がない。従って、1つまたは複数の吸収要素は平らまたはほぼ平ら、例えば板状もしくは棒状であると好ましい。従って、絞り装置は簡単にかつ省スペースで製造可能である。
有利な実施態様によれば、スリット長手方向に見て、スリット幅は、特に中央位置から出発して一方のスリット端部または両方のスリット端部に向かって増大する。これにより、矩形状の検出器形状に整合した絞り込みが特に良好に達成可能である。
吸収要素はスリット側に、湾曲した外側輪郭または湾曲を多角形に近似する外側輪郭を有すると好ましい。例えば、1つまたは複数の吸収要素のスリット側が凸状に形成されている。
絞り装置の特に簡単に製造可能な実施態様では、吸収要素は、スリットが一定のスリット幅の第1の範囲と、スリット長手方向に変化するスリット幅を持つ少なくとも1つの第2の範囲とを有するように形成されている。
スリット長手方向に見て、第1の範囲は中央部に配置され、その中央部に配置された第1の範囲の両側にスリット長手方向に変化するスリット幅を持つそれぞれ1つの第2の範囲が存在する。
第1の有利な変形例では、本発明による絞り装置において、既に述べた吸収要素のほかに少なくとも1つの他の吸収要素が存在する。他の吸収要素は、同様に、スリットがスリット長手方向に変化するスリット幅を有するように形成されているとよい。特に他の吸収要素は、既に述べた吸収要素と同様に、両者の外側が等しくなるように形成されている。従って全体として、この変形例では、少なくとも2つの互いに向かい合う吸収要素が存在する。吸収要素は、X線ビームを可変に制限可能であるように相互間隔を調整可能である。
形状の等しい吸収要素の場合、これらの吸収要素は鏡面対称に向かい合っていると好ましく、従って、吸収要素同士の互いにぴったり合った部分が、同一基準点に関して測って等しいスリット幅変化(「等しいスリット幅」)で互いに向かい合っている。
第1の有利な変形例に基づく絞り装置は、個々に製造可能な、場合によっては同一のまたは等しい吸収要素から特に簡単に製造可能であるので好ましい。
第1の有利な変形例において、吸収要素がスリット長手方向に対して垂直にまたは斜めに移動可能であるように吸収要素に作用する調整装置が設けられていると好ましい。これから、吸収要素間つまり絞り部材間のスリット幅が無段階または自由に選択可能であり、それによりこの絞り装置を装備したコンピュータ断層撮影装置に設定可能なスライス厚が不連続の値だけを取るのではないという特別な利点がもたらされる。幅広い検出器行も部分的にだけ照射可能であり、従って検出器要素の幅よりも薄いスライスも簡単に可能である。
更に、なおも、作動中にX線放射器の焦点サイズが変化した際には絞り設定の再調整が可能である。
移動は、特に絞り装置を装備したCT装置のシステム軸線に対して平行な方向に行なわれる。しかしながら、吸収要素の非常に省スペースの平行四辺形の移動も可能であり、吸収要素の平行整列が常に維持されながら、スリット長手方向に対して垂直な移動成分のほかに、スリット長手方向に対して平行な移動成分が生じる。このような平行四辺形の移動は、特に独国特許第4226861号明細書、特にその請求項1に記載されている。
第1の変形例の特に優れた実施態様によれば、吸収要素は互いに独立に移動可能である。それにより吸収要素を互いに逆方向に移動させることができるばかりでなく、同一方向に同時に移動させることも可能である。それによって、例えば、作動中にX線放射器の焦点位置が変化した際にも絞り再調節が可能である(焦点追跡)。これは、スライス全体がz方向に一定のスライス幅で移動可能であることを意味する。更に、それによりコリメート幅の動的な変化が可能であり、しかも、吸収要素の一方が走査開始時にまだ閉じられており、走査開始およびシステム軸線の方向に行なわれる患者並進移動の開始と共に初めて開かれることによって、スパイラル走査の開始時および終了時に願わしくない過剰放射を低減することができる。同じことが走査終了に対して逆に当てはまる。
調整装置は各吸収要素のために個別の調整手段を有し、調整手段は該当する吸収要素の直線移動のために構成されていると好ましい。この種の直線移動によって、吸収要素同士の“等しいスリット幅”を持つ互いにぴったり合った部分がシステム軸線の方向への相対移動後もなおも互いに向かい合っていることが保証されるので好ましい。
調整手段は、好ましくは1つの共通の直線ガイドと、吸収要素に作用するそれぞれ1つの駆動手段とを有すると特に有利である。
第2の有利な変形例によれば、本発明による絞り装置において、吸収要素が、好ましくは単一部材からなる構造体として形成され、この構造体には互いに異なる平均スリット幅を有する複数のスリットが設けられ、これらのスリットのうち少なくとも1つ、好ましくは全てが、スリット長手方向に変化するスリット幅を有する。平均スリット幅として、例えばスリット長手方向において異なるスリット幅の算術平均値が基礎になる。
スリットは、それらのスリット長手方向を好ましくは互いに平行に整列させられている。
構造体は、特に、絞り装置を装備したコンピュータ断層撮影装置のシステム軸線に対して特に平行であるスリット長手方向に対して垂直な方向に全体として移動可能であり、このために駆動手段および/または直線ガイドが存在するとよい。
省スペースのコンパクトな構造様式に関しては、吸収要素の構造体が平らに、特に板状または盤状に形成されていると特に有利である。このような板や盤は特に簡単に直線状に移動可能である。
装置に関する課題は、冒頭に述べたコンピュータ断層撮影装置において、本発明によれば、コンピュータ断層撮影装置の絞り装置が本発明による絞り装置に応じて形成されていることによって解決される。スリット長手方向は好ましくはシステム軸線すなわち回転軸線に対して垂直な方向である。
本発明によるコンピュータ断層撮影装置に対して、利点および有利な構成および変形例は本発明による絞り装置と同様に当てはまる。
コンピュータ断層撮影装置のX線検出器は、マトリックス状の検出器アレイ、例えば複数行検出器または平面状検出器である。
コンピュータ断層撮影装置の全く特別の構成によれば、スリット幅l=l(β)はファン角βのコサイン関数値に依存して変化し、ファン角βはX線ビームの中心から離れたX線と中心X線との間の角度である
その変化は次式によって表される。
l(β)=C/cosβ+D
但し、C,Dは当該スリットについての定数として製造時に選択可能である。
l(β)=C/cosβ+D
但し、C,Dは当該スリットについての定数として製造時に選択可能である。
以下において本発明を3つの実施例に基づいて且つ部分的に概略的に示された図1乃至図7により更に詳細に説明する。
図1は本発明による絞り装置を有するCT装置を一部に斜視図を含むブロック図で示す。
図2は絞り装置の機能を説明するために公知の絞り装置を斜視図で示す。
図3は他の公知の絞り装置を示す。
図4は図1によるCT装置の絞り装置の第1の実施例の概略図を示す。
図5は図1によるCT装置の絞り装置の第2の実施例の概略図を示す。
図6は図1によるCT装置の絞り装置の第3の実施例の概略図を示す。
図7は図4および図5の絞り装置を横断面図で示す。
図1は本発明による絞り装置を有するCT装置を一部に斜視図を含むブロック図で示す。
図2は絞り装置の機能を説明するために公知の絞り装置を斜視図で示す。
図3は他の公知の絞り装置を示す。
図4は図1によるCT装置の絞り装置の第1の実施例の概略図を示す。
図5は図1によるCT装置の絞り装置の第2の実施例の概略図を示す。
図6は図1によるCT装置の絞り装置の第3の実施例の概略図を示す。
図7は図4および図5の絞り装置を横断面図で示す。
図1には第3世代のCT装置1の重要部分が示されている。この測定装置はX線放射器2とX線検出器5とを有する。X線放射器2は、このX線放射器2の前に置かれたX線放射器側の絞り装置3を備えている。X線検出器5は、複数の行および列に並べられている図1に4で示された検出器要素の平面状アレイとして構成され、X線検出器5の前に置かれたX線検出器側の光学的な(明示されていない)X線絞りを備えている。図1では、図を見やすくするために、4行の検出器要素4しか示されていない。しかしながら、X線検出器5はそれ以上の行の検出器要素4を持っていてもよいし、異なる幅bを有する検出器要素4を選択的に持つこともできる。
一方では絞り装置3を備えたX線放射器2と、他方ではX線絞りを備えたX線検出器5とが、(明示されていない)回転枠(ガントリ)に、CT装置1の作動時にX線放射器2から出射して調整可能な絞り装置3によって絞られた縁部ビーム8を有するピラミッド状のX線ビームがX線検出器5に入射するように向かい合わせに取付けられている。絞り装置3により、および必要に応じて検出器側のX線絞りにより、X線検出器5においてX線ビームが直接的に入射することのできる範囲のみが開放されるように、X線ビームの横断面(より正確には半値幅)が調整される。これは、図1に示されている作動モードでは、活性行と呼ばれる4行の検出器要素4である。場合によって存在するそれ以上の行は検出器近くのX線絞りによって覆われ、従って活性でない。絞り装置3は、どうせ活性行に到達しないX線を検査対象、特に患者から遠ざけることによって、検査対象つまり患者の不必要なX線負担を回避するために特に重要である。
回転枠は、図示されていない駆動装置によりシステム軸線Zの周りを回転させることができる。システム軸線Zは、図1に示されている直交空間座標系のz軸に平行に延びている。
X線検出器5の列は同様にz軸の方向に延びているのに対して、z軸方向に測られる例えば1cmの幅bを有する行はシステム軸線Zもしくはz軸に対して直角方向に延びている。X線検出器5は、z軸に対して平行な軸線に対して湾曲させられているかもしくはアーチ形にされている。
検査対象、例えば患者をX線ビームのX線経路中に搬入することができるようにするために、システム軸線Zに対して平行につまりz軸方向に移動可能である寝台装置9が設けられ、しかも寝台装置9は、回転枠の回転運動と寝台装置9の並進運動との間に、回転速度と並進速度との比が一定となるような同期化が存在するように移動される。この比は回転枠の一回転当たりに寝台装置9の送りHの所望値が選択されることによって調整可能である。
従って、寝台装置9上に存在する検査対象のボリュームをボリューム走査の過程で検査することができ、ボリューム走査は、回転枠の回転と同時の寝台装置9の並進のもとに回転枠の一回転当たりに複数の投影が異なる投影方向からの撮影されるようにスパイラル走査の形で行なわれる。スパイラル走査ではX線放射器2の焦点Fが寝台装置9に対して相対的にスパイラル軌道S上を移動する。このスパイラル走査の代わりに順次走査も可能である。
スパイラル走査中にX線検出器5の各活性行の検出器要素4からパラレルに読出され個々の投影に対応する測定データが、データ処理ユニット10においてディジタル/アナログ変換を施され、シリアル化されて画像コンピュータ11に伝達される。画像コンピュータ11は画像再構成の結果を表示ユニット16、例えばビデオモニタに表示させる。
X線放射器2、例えばX線管は、(オプションとして同様に共に回転する)高電圧発生装置17によって必要な電圧および電流を供給される。これらをそれぞれ必要な値に調整できるようにするために、高電圧発生装置17には、必要な調整を行なうキーボード19を備えた制御ユニット18が付設されている。
CT装置1のその他の操作および制御も制御ユニット18およびキーボード19により行なわれ、これは、制御ユニット18が画像コンピュータ11に接続されていることによって示されている。
特に、検出器要素4の活性行の個数と、絞り装置3の位置およびオプションである検出器側のX線絞りの位置とが調整されるとよい。このために制御ユニット18は、絞り装置3およびオプションである検出器側のX線絞りに付設された調整ユニット20もしくは21に接続されている。更に、回転枠が全回転のために要する回転時間が調整可能であり、このことは回転枠に付設された駆動ユニット22が制御ユニット18に接続されていることによって示されている。
図2には、2つの別々の平らな吸収要素30A,31Aを備えた公知の絞り装置3Aにおいてどのような絞込みが生じるかが示されている。X線放射器2Aの焦点Fから出射する縁部X線8Aを有するX線ビームが示されている。X線ビームは複数のX線を有する。各X線についてファン角βが存在する。ファン角βは、絞り装置3Aを中央位置において垂直に通過する中央X線36Aに対して測定される。吸収要素30A,31Aからの中央X線36Aの距離はh0で示されている。
絞り装置3Aの平面は焦点Fから回転軸線Z(図1参照)への接続線に対して垂直な平面である。この接続線は図2では中央X線36Aと一致する。
図示の従来の絞り装置3Aは全てのファン角βについて等しい開き幅すなわちスリット幅lを有する。これから次の問題点が生じる。すなわち、図2において背面側の吸収要素30Aを通過する両縁部X線8Aは、焦点Fから出発して吸収要素30Aまでそれぞれ距離h(β)だけ進む。距離h(β)はファン角βに依存する。
h(β)=h0/cosβ>h0 [式1]
h(β)=h0/cosβ>h0 [式1]
これに対して、中央X線36Aの同様な距離h0は縁部X線8Aよりも僅かな値を有する。同じことがスリット32Aの向かい側における縁部X線に対しても当てはまる。この結果、個別の検出器要素4Aを有するX線検出器5A上に、横断面において矩形状でない外側輪郭34Aを有するX線ビームが絞り込まれる。ここで照射された検出器行の全ての検出器要素4Aをそれらの幅bに関して完全に照射するためには、縁部の幅d(β)が検出器行の幅bにほぼ一致するように外側輪郭34Aが調整されなければならない。異なる距離h(β)≠h0の結果、検出器行の中央部にX線ビームの外側輪郭34Aのより大きな幅d0が生じる。腹の形をしたこの範囲に射し込むX線ビーム成分は、ここでは誇張して表示されているがそれでもやはり線量に関して障害となり、結局は利用されない。
中央から離れたファン角βについての絞り幅d(β)に関してX線の定理から、
d(β)=x・l/h(β) [式2]
が生じ、これと式1とによって式(3)が生じる。
d(β)=x・l・cosβ/h0 [式3]
d(β)=x・l/h(β) [式2]
が生じ、これと式1とによって式(3)が生じる。
d(β)=x・l・cosβ/h0 [式3]
これらの式において、xは焦点−検出器間距離を表す。検出器5Aの湾曲(図1も参照)により、縁部X線8Aについてのxは中央X線36Aについてのxと同じ大きさである。h0は焦点−回転軸線間距離と絞り−回転軸線間距離との差であり、典型的には200mmである。
図3にはCT装置の公知の他の絞り装置3Aが概略斜視図で示されている。絞り装置3Aは湾曲した吸収要素51Aを有し、この吸収要素51Aにはスリット32Aが形成され、X線放射器2Aの焦点Fから出たX線がこのスリット32Aを通過する。吸収要素51Aは円弧状に湾曲させられ、円弧の中心点はX線放射器2Aの焦点Fにある。それによって、式1により示された問題点に関して、それぞれ焦点から吸収要素51Aまで測られた縁部X線8Aの距離も中央X線36Aの距離も等しい値hを有することが保証される。それによって、湾曲したX線検出器5A上に絞り込まれたX線ビームが横断面において矩形状の外側輪郭34Aを有し、その一定幅dを1つまたは複数の検出器行の幅bにぴったり合わせることができる。
図4には湾曲した検出器5を備えた図1のCT装置1に組み込まれているような本発明による絞り装置3の第1の実施例が概略図で示されている。ジオメトリ、特に焦点−検出器間距離xに関するジオメトリも、図2のジオメトリと大部分同じであり、このために使用された符号に関してはこの図に既に使用された符号が用いられる。
重金属、例えばタングステンまたは/およびタンタルから作られた両吸収要素30,31は、互いに独立に、特に同期してまたは逆方向に移動可能または搬送可能であり、これは図4に両方向矢印40,41によって示されている。吸収要素30,31はスリット側に、スリット32がスリット長手方向に変化しスリット端部へ向かって増大するスリット幅lを有するように湾曲させられた外側輪郭を有する。吸収要素30,31はスリットを形成する縁部が対応した輪郭を描いている。
本発明は、式1からもたらされる問題が、式3から出発して、絞り幅d(β)を一定としてすなわちd(β)≡dとし、その後式3がファン角βにともなって変化すると仮定されたスリット幅l=l(β)に基づいて解かれることによって解決されるという考えに基づいている。
l(β)=d・h0/(x・cosβ) [式4]
l(β)=d・h0/(x・cosβ) [式4]
従って、スリット幅l=l(β)は、一般にファン角βにともなって、
l(β)=C/cosβ+D=C・secβ+D [式5]
に従って変化する。但し、C,Dは、当該スリット32について、ファン角βに依存しない定数とみなされている。
l(β)=C/cosβ+D=C・secβ+D [式5]
に従って変化する。但し、C,Dは、当該スリット32について、ファン角βに依存しない定数とみなされている。
大きすぎない角度については、級数展開に基づいて近似された曲線経過が使用可能である。
l(β)=E+F・β2 [式6]
但し、E,Fは当該スリット32についての定数として選択可能である。
l(β)=E+F・β2 [式6]
但し、E,Fは当該スリット32についての定数として選択可能である。
図5には、図1のCT装置1に組み込むことができるような本発明による絞り装置3の第2の実施例が示されている。図4の実施例と違って、吸収要素30,31のスリットを形成する縁部43Aもしくは44Aは、湾曲させられているのではなく、複数の直線区間から合成されている。従って、吸収要素30,31は湾曲を多角形状に近似する外側輪郭を有する。中央における約50mmの長さの第1の範囲45において、スリット幅lは一定である。第1の範囲45の両側に隣接する第2の範囲46,47(長さ:約75mm)のそれぞれにおいて、スリット幅lは端部に向かって直線的に増大する。スリット幅lの増大分Δlは例えば0.4mmである。
図5による絞り装置3の構成は、調整装置が絞り開きの変更時に吸収要素30,31間に平行四辺形の相対的な移動を発生させる場合に特に有利である。というのは次のことが明らかになったからである。すなわち、平行四辺形の移動の際にとりわけx方向に起こり吸収要素30,31の中心の位置ずれを生じる移動は、絞り装置3が3つの範囲45,46,47により構成されている場合には特にほとんど現われず、特にこれに関する誤差は測定の開始時に行なわれた較正によって十分に修正される。
図6には、図1のCT装置1に同様に組み込むことができるような本発明による絞り装置3の第3の実施例が示されている。この実施例において、単一部材からなる板状または盤状の唯一の吸収要素51だけが存在し、この吸収要素51には互いに異なる平均スリット幅を有する複数のスリット42,53,54,55,56,57,58が設けられている。スリット42,53,54,55,56,57,58はスリット長手方向42において平行に整列させられ、すべてがスリット長手方向42に変化するスリット幅lを有する。吸収要素51のz方向に測った長さLは約70mmであり、x方向に測ったその幅Bは約200mmである。従って、吸収要素51は、図6では、輪郭を描かれた開口をよりよく表示するために、統一のとれた尺度で表示されていない。吸収要素51は、z方向に、つまりスリット長手方向に対して垂直な方向に直線的に移動可能であり、これは両方向矢印59で示されている。駆動手段60およびガイド要素61を含む相応の調整手段は概略的にのみ示されている。
図7には図4および図5の絞り装置3がz方向の横断面図でもう一度示されている。この図7から、絞り装置3の完全な閉鎖のために必要な吸収要素30,31の部分的な重なりを達成するために、出射したX線ビームの方向にほぼ対応する高さ方向yにおいて、吸収要素30,31が僅かに互いにずらされていることが明らかである。
更に、図7から、調整装置61として、一方の吸収要素30のために第1の駆動手段63が存在し、他方の吸収要素31のために別の第2の駆動手段67が存在することが明らかであり、これらの駆動手段は歯付きベルトおよび/または歯車装置を介して共通な直線ガイド65に沿って移動可能な吸収要素30,31に作用する。調整装置61はその代替として両吸収要素30,31を1つの共通のモータで駆動するようにしてもよい。
1 コンピュータ断層撮影装置
2 X線放射器
3 絞り装置
4 検出器要素
5 X線検出器
8 縁部X線
9 寝台装置
10 データ処理ユニット
11 画像コンピュータ
16 表示ユニット
17 高電圧発生装置
18 制御ユニット
19 キーボード
20 調整ユニット
21 調整ユニット
22 駆動ユニット
30,31 吸収要素
32 スリット
34 外側輪郭
36 中央X線
40,41 両方向矢印
42 スリット長手方向
43,44 縁部
43A,44A 縁部
45,46,47 範囲
51 吸収要素
52〜58 スリット
59 両方向矢印
60 駆動手段
61 ガイド要素
63 駆動手段
65 直線ガイド
67 駆動手段
F 焦点
S スパイラル軌道
Z システム軸線
x,y,z 直交空間座標軸
b 検出器行の幅
β ファン角
l 平均スリット幅
x 焦点−検出器間距離
2 X線放射器
3 絞り装置
4 検出器要素
5 X線検出器
8 縁部X線
9 寝台装置
10 データ処理ユニット
11 画像コンピュータ
16 表示ユニット
17 高電圧発生装置
18 制御ユニット
19 キーボード
20 調整ユニット
21 調整ユニット
22 駆動ユニット
30,31 吸収要素
32 スリット
34 外側輪郭
36 中央X線
40,41 両方向矢印
42 スリット長手方向
43,44 縁部
43A,44A 縁部
45,46,47 範囲
51 吸収要素
52〜58 スリット
59 両方向矢印
60 駆動手段
61 ガイド要素
63 駆動手段
65 直線ガイド
67 駆動手段
F 焦点
S スパイラル軌道
Z システム軸線
x,y,z 直交空間座標軸
b 検出器行の幅
β ファン角
l 平均スリット幅
x 焦点−検出器間距離
Claims (12)
- X線ビームを通過させるための少なくとも1つのスリットを形成可能である少なくとも1つの吸収要素(30,31;51)を備え、X線ビームを制限する絞り装置(3)において、吸収要素(30,31;51)は、スリット(32;52〜58)がスリット長手方向(42)に変化するスリット幅(l)を有するように形成されていることを特徴とする絞り装置(3)。
- スリット長手方向(42)に見て、スリット幅(l)は、特に中央位置から出発して一方のスリット端部または両方のスリット端部に向かって増大することを特徴とする請求項1記載の絞り装置(3)。
- 吸収要素(30,31;51)はスリット側に、湾曲した外側輪郭または湾曲を多角形に近似する外側輪郭を有することを特徴とする請求項1又は2記載の絞り装置(3)。
- 吸収要素(30,31;51)は、スリット(32)が一定のスリット幅(l)の第1の範囲(45)と、スリット長手方向(42)に変化するスリット幅(l)を持つ少なくとも1つの第2の範囲(46,47)とを有するように形成されていることを特徴とする請求項1又は2記載の絞り装置(3)。
- スリット長手方向(42)に見て、第1の範囲(45)は中央部に配置され、その中央部に配置された第1の範囲(45)の両側にスリット長手方向(42)に変化するスリット幅(l)を持つそれぞれ1つの第2の範囲(46,47)が存在することを特徴とする請求項4記載の絞り装置(3)。
- 互いに向かい合いかつX線ビームを可変に制限可能であるように相互間隔を調整可能である2つの吸収要素(30,31)が設けられていることを特徴とする請求項1乃至5の1つに記載の絞り装置(3)。
- 吸収要素(30,31)が好ましくは互いに独立してスリット長手方向(42)に対して垂直にまたは斜めに移動可能であるように吸収要素(30,31)に作用する調整装置(61)が設けられていることを特徴とする請求項6記載の絞り装置(3)。
- 吸収要素(51)は、好ましくは単一部材からなる構造体として形成され、この構造体には互いに異なる平均スリット幅を有する複数のスリット(52,53,54,55,56,57,58)が設けられ、これらのスリットのうち少なくとも1つ、好ましくは全てが、スリット長手方向(42)に変化するスリット幅(l)を有することを特徴とする請求項1乃至5の1つに記載の絞り装置(3)。
- 吸収要素(51)の構造体は平らに、特に板状または盤状に形成されていることを特徴とする請求項7又は8記載の絞り装置(3)。
- システム軸線(Z)の周りを回転可能なX線放射器(2)とX線検出器(5)とX線放射器側の絞り装置(3)とを備えたコンピュータ断層撮影装置(1)において、絞り装置(3)が請求項1乃至9の1つに基づいて構成されていることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置(1)。
- スリット幅(l)はファン角(β)のコサイン関数値に依存して変化し、ファン角(β)はX線ビームの中心から離れたX線と中心X線(36A)との間の角度であること特徴とする請求項10記載のコンピュータ断層撮影装置(1)。
- スリット幅(l)はl(β)=C/cosβ+D(但し、C,Dは当該スリット(32;52〜58)についての定数を表す)に従って変化することを特徴とする請求項10又は11記載のコンピュータ断層撮影装置(1)
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014104356A (ja) * | 2012-11-27 | 2014-06-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ctコリメータおよびctコリメータを備えるctシステム |
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JP2014147739A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ct撮影システムおよびctコリメータのスリットプロファイルを測定するための方法 |
WO2016181715A1 (ja) * | 2015-05-12 | 2016-11-17 | 株式会社島津製作所 | 放射線源およびそれを備えた放射線位相差撮影装置 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004055022A1 (de) | 2004-11-15 | 2006-05-24 | Siemens Ag | Befestigungsvorrichtung für eine Blende und Computertomographiegerät aufweisend eine derartige Befestigungsvorrichtung |
SE529215C2 (sv) * | 2006-03-28 | 2007-06-05 | Xcounter Ab | Metod för att tillverka en kollimator |
US7470907B2 (en) * | 2006-12-15 | 2008-12-30 | General Electric Company | Cross-slit collimator method and system |
JP5273957B2 (ja) * | 2007-07-03 | 2013-08-28 | キヤノン株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
DE102007058104A1 (de) * | 2007-12-03 | 2009-06-10 | Siemens Ag | Strahleinblendungseinheit, Strahlerzeugungseinrichtung und Tomografieeinrichtung |
DE102008049708B4 (de) * | 2008-09-30 | 2011-03-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Blende und Blendenvorrichtung zur gezielten Beeinflussung von Röntgenstrahlung |
CN102737748B (zh) * | 2011-03-31 | 2015-06-03 | 上海西门子医疗器械有限公司 | Z-准直器和包括z-准直器的x射线成像设备 |
US8976934B2 (en) * | 2012-06-19 | 2015-03-10 | General Electric Company | Radiation apertures for X-ray collimators |
CN103892850B (zh) | 2012-12-28 | 2019-10-01 | 通用电气公司 | 用于ct系统的限束器 |
DE102013215042B4 (de) * | 2013-07-31 | 2021-09-16 | Siemens Healthcare Gmbh | Röntgeneinheit mit Schlitzblenden |
DE102014202330B3 (de) | 2014-02-10 | 2015-06-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Single Source DualEnergy mit zwei Filtern zur Röntgenspektrumsdifferenzierung bei Strahlerblenden mit Schlitzplatte |
US10541061B2 (en) * | 2015-06-29 | 2020-01-21 | Koninklijke Philips N.V. | System for generating and collimating an X-ray beam |
CN105403580B (zh) | 2015-12-28 | 2018-10-09 | 清华大学 | 准直器和检查系统 |
CN108903963B (zh) * | 2018-05-17 | 2025-02-25 | 北京纳米维景科技有限公司 | 一种x射线遮挡组件及其前准直器 |
US10695011B2 (en) | 2018-08-08 | 2020-06-30 | General Electric Company | X-ray collimator for imaging system |
CN116027564B (zh) * | 2023-01-05 | 2024-03-19 | 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司 | 无级开缝准直器及ct扫描设备 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4057342A (en) * | 1976-05-27 | 1977-11-08 | Xerox Corporation | Illumination slit for a reproducing machine |
DE8436281U1 (de) | 1984-12-11 | 1986-04-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Primärstrahlenblende für Röntgenuntersuchungsgeräte |
US5257305A (en) * | 1988-06-22 | 1993-10-26 | 38 BV Optische "De Oude Delft | Slit radiography device provided with absorption elements, and procedure for producing absorption elements |
JPH04179100A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-25 | Toshiba Corp | X線絞り装置 |
DE4226861C2 (de) * | 1992-08-13 | 1996-05-02 | Siemens Ag | Einblendvorrichtung eines Strahlengerätes |
FR2717587B1 (fr) * | 1994-03-21 | 1996-04-19 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de localisation en temps réel de sources de rayonnement. |
US5644614A (en) * | 1995-12-21 | 1997-07-01 | General Electric Company | Collimator for reducing patient x-ray dose |
JP2001512359A (ja) * | 1997-12-16 | 2001-08-21 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | コンピュータ断層撮影装置 |
US6396902B2 (en) * | 2000-07-31 | 2002-05-28 | Analogic Corporation | X-ray collimator |
US6556657B1 (en) * | 2000-08-16 | 2003-04-29 | Analogic Corporation | X-ray collimator and method of manufacturing an x-ray collimator |
DE10154539C1 (de) * | 2001-11-07 | 2003-06-26 | Siemens Ag | Strahlenblende für ein Röntgengerät und Röntgengerät |
-
2002
- 2002-09-26 DE DE10244898A patent/DE10244898B4/de not_active Expired - Fee Related
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014104356A (ja) * | 2012-11-27 | 2014-06-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ctコリメータおよびctコリメータを備えるctシステム |
JP2014104355A (ja) * | 2012-11-27 | 2014-06-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | コリメータ、及び該コリメータを備えた計算機式断層写真法(ct)システム |
JP2014147739A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ct撮影システムおよびctコリメータのスリットプロファイルを測定するための方法 |
WO2016181715A1 (ja) * | 2015-05-12 | 2016-11-17 | 株式会社島津製作所 | 放射線源およびそれを備えた放射線位相差撮影装置 |
JPWO2016181715A1 (ja) * | 2015-05-12 | 2017-12-21 | 株式会社島津製作所 | 放射線源およびそれを備えた放射線位相差撮影装置 |
Also Published As
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