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JP2006305779A - Method for correcting position of substrate for multi-area subdividing and screen printing machine - Google Patents

Method for correcting position of substrate for multi-area subdividing and screen printing machine Download PDF

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JP2006305779A
JP2006305779A JP2005128362A JP2005128362A JP2006305779A JP 2006305779 A JP2006305779 A JP 2006305779A JP 2005128362 A JP2005128362 A JP 2005128362A JP 2005128362 A JP2005128362 A JP 2005128362A JP 2006305779 A JP2006305779 A JP 2006305779A
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substrate
screen
sub
board
reference mark
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JP2005128362A
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Japanese (ja)
Inventor
Manabu Mizuno
学 水野
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Fuji Corp
Original Assignee
Fuji Machine Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for correcting the position of a substrate for multi-area subdividing which can perform an operation rapidly and precisely with regard to subdivided substrates of the substrate for multi-area subdividing and avoid the complication of a configuration of working machines, and a screen printing machine. <P>SOLUTION: Each two reference marks 122 are put correspondingly to each of the subdivided substrates 120 constituting the substrate 30 for multi-area subdividing, and based on a photographed image, the mean value of each positional deviation level in the X axis direction and the Y axis direction of the reference mark 122 in such a state that the rotary positional deviation of the substratge 30 is removed, is calculated. Next, in such a case that there is at least one subdivided substrate 120, with the absolute value, of a difference between the positonal deviation level of the corresponding reference mark 122 and the average value of the positional deviation level, exceeding a tolerable range, the positional deviation correction level to a screen 40 for the substrate 30, is calculated in disregard of at least one reference mark 122 for the subdivided substrate 120 of them. After that, the position of the substrate 30 is registered with the screen 40 and thus the register precision is enhanced with regard to the subdivided substrates 120 other than the subdivided substrate 120 whose reference mark 122 is disregarded. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、多面取り基板位置補正方法およびスクリーン印刷機に関するものであり、特に、多面取り基板の位置ずれ補正精度の向上に関するものである。   The present invention relates to a method for correcting a position of a multi-sided board and a screen printing machine, and more particularly, to an improvement in the accuracy of correcting a misalignment of a multi-sided board.

従来から、複数の子基板が一体的に結合されて成る多面取り基板の複数の子基板の各々に所定の作業を行った後分離し、複数の基板を得ることが行われている。
例えば、基板の配線パターンに電子部品を装着し、電子回路を形成する場合、複数の子基板の各々についてスクリーン印刷機によりクリーム半田が印刷され、電子部品装着機により電子部品が装着される。また、下記の特許文献1に記載されているように、多面取りのガラス基板の複数の子基板の各々に別のガラス基板の接着等を行い、液晶表示装置を製造する場合、複数の子基板の各々にスクリーン印刷により接着剤が印刷され、印刷後、複数の子基板の各々に別のガラス基板が貼り合わされる。多面取り基板に対する被印刷剤のスクリーン印刷は、複数の子基板の全部について一度に行うことも、複数回に分けて行うことも可能であるが、それぞれ長所および短所がある。印刷を一度に行えば、印刷時間が短くて済むが、スクリーンが大形になって貫通穴の形成位置精度が低くなり、印刷精度を高くすることが困難であり、複数回に分けて行えば、印刷精度は高くし易いが、印刷に時間を要するのである。
特許文献1に記載のスクリーン印刷機においては、スクリーンが子基板1つ分のものとされ、複数の子基板について1つずつ接着剤の印刷が行われるようにされている。1つの子基板について印刷が終了する毎にスクリーンが次の子基板上へ移動させられ、その子基板についてスクリーン印刷が行われるのである。
また、下記の特許文献2および3には、スクリーンを用いて基板に被印刷剤を印刷する際、多面取り基板ではなく、通常の回路基板についてではあるが、スクリーンと回路基板とにそれぞれ基準マークを設け、それら基準マークの位置ずれを取得し、スクリーンと回路基板との位置ずれを補正することにより、印刷精度を向上させることが記載されている。
特開2000−171768公報 特開平11−245370号公報 特開平9−309198号公報
2. Description of the Related Art Conventionally, after performing a predetermined operation on each of a plurality of sub-substrates of a multi-sided substrate formed by integrally joining a plurality of sub-substrates, a plurality of substrates are obtained.
For example, when an electronic component is mounted on a wiring pattern of a substrate to form an electronic circuit, cream solder is printed on each of the plurality of sub-boards by a screen printer, and the electronic component is mounted by an electronic component mounting machine. In addition, as described in Patent Document 1 below, when a liquid crystal display device is manufactured by bonding another glass substrate to each of a plurality of sub-substrates of a multi-chamfer glass substrate, a plurality of sub-substrates are used. An adhesive is printed on each of the substrates by screen printing, and after printing, another glass substrate is bonded to each of the plurality of sub-substrates. Screen printing of a printing material on a multi-sided substrate can be performed on all of a plurality of sub-substrates at once or divided into a plurality of times, but each has advantages and disadvantages. If printing is performed at once, the printing time can be shortened, but the screen becomes large and the through hole formation position accuracy is low, and it is difficult to increase the printing accuracy. Although printing accuracy is easy to increase, printing takes time.
In the screen printing machine described in Patent Document 1, the screen is one child board, and the adhesive is printed one by one on the plurality of child boards. Every time printing for one child substrate is completed, the screen is moved onto the next child substrate, and screen printing is performed for the child substrate.
Further, in Patent Documents 2 and 3 below, when printing a printing material on a substrate using a screen, a reference mark is provided on each of the screen and the circuit board, although it is not a multi-sided board but a normal circuit board. Is provided, and the positional deviation between the reference marks is acquired, and the positional deviation between the screen and the circuit board is corrected to improve the printing accuracy.
JP 2000-171768 A JP-A-11-245370 JP-A-9-309198

本発明は、以上の事情を背景として為されたものであり、多面取り基板の子基板について作業を迅速にかつ精度良く行うことができるとともに、作業機の構成の複雑化を回避し得る多面取り基板位置補正方法およびスクリーン印刷機を得ることを課題とする。   The present invention has been made against the background of the above circumstances, and can perform operations on a sub-substrate of a multi-sided substrate quickly and accurately, and can avoid the complication of the construction of the work machine. It is an object to obtain a substrate position correcting method and a screen printing machine.

本発明は、上記の課題を解決するために、複数の子基板が一体的に結合されて成る多面取り基板の基準位置に対する位置ずれを補正する方法において、複数の子基板の各々に対応した基準マークを設け、それら複数の子基板のうち、対応する基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている少なくとも1つの子基板の基準マークは無視して、前記多面取り基板の位置ずれを補正することを要旨とするものである。
対応する基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている子基板についての基準マークの無視は、全ての多面取り基板について行ってもよく、位置ずれが予め設定された条件を満たす子基板が存在する場合にのみ行ってもよい。
In order to solve the above-described problem, the present invention provides a method for correcting a positional deviation of a multi-sided board formed by integrally joining a plurality of daughter boards with respect to a reference position, and a reference corresponding to each of the plurality of daughter boards. A mark is provided, and among the plurality of sub-boards, the reference mark of at least one sub-board where the corresponding reference mark is particularly greatly shifted from the reference mark of the other sub-board is ignored, and The gist is to correct the misalignment.
The ignoring of the reference marks for the sub-boards in which the corresponding reference marks are greatly deviated with respect to the reference marks of the other sub-boards may be performed for all the multi-sided boards, and the positional deviation is set in advance. It may be performed only when there is a child substrate to be filled.

多面取り基板において問題とすべき位置ずれは、本来、複数の子基板の各々について設定された作業領域,作業を施すべき個所の位置ずれであるが、複数の子基板は一体的に結合されているため、多面取り基板全体の位置の基準位置に対する相対的な位置ずれを補正することにより、子基板の位置ずれが補正される。複数の子基板の各位置ずれが共通の補正量によって補正されるのであり、多面取り基板の位置補正量は、複数の子基板の位置ずれに基づいて設定される。そのため、複数の子基板の各々の位置ずれが互いに影響し合う。例えば、全部の子基板について同様に位置ずれが生じ、互いの相対位置関係のずれが少ないのであれば、多面取り基板の位置補正により、全部の子基板について位置ずれを同様に補正することができる。しかし、例えば、複数の子基板のうちの1つが他の子基板に対して相対的に大きくずれており、他の子基板同士の間では相対位置のずれが小さい場合に、全部の子基板の位置ずれに基づいて多面取り基板の位置ずれ補正量を求めれば、上記他の子基板の位置補正が、上記1つの子基板の大きな位置ずれの影響を受けて、不適切となり、同時に、1つの子基板の位置補正も他の子基板の位置に拘束されて不十分となる。結局、いずれの子基板の位置ずれも十分には補正されず、全部の子基板の位置ずれが大きいままとなり、甚だしい場合には、全ての子基板が不良品になってしまう。
それに対し、本発明によれば、基準マークの他の子基板の基準マークに対するずれが特に大きい子基板の基準マークが無視されるため、それ以外の子基板の位置ずれが互いに近似し、それら子基板の基準マークの位置に基づいて位置ずれ補正量を求めれば、基準マークが無視される子基板を除く全部の子基板について十分に位置ずれを補正することができる。基準マークが無視される子基板以外については、多面取り基板に高い位置決め精度が得られるのであり、複数の子基板について一度に作業を行っても精度良く作業を行うことができる。基準マークが無視された子基板は位置ずれが大きくなり、不良基板になるが、全部の子基板の位置ずれが大きくなること、あるいは不良基板になることが回避される。このような特にずれが大きい基準マークの無視は演算により行うことができ、精度の高い作業を迅速にかつ簡単に行うことができる。
なお、前述のように、全ての多面取り基板について、対応する基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている子基板を無視する場合、基板材料の歩留まりが低下するが、位置合わせ精度をより向上させることができる。例えば、基板が、電子部品が装着される回路基板であり、電子部品の装着ピッチが特に狭い場合、回路基板の隣接する被印刷個所にそれぞれ塗布された被印刷剤により、半田付け後に短絡が発生する可能性を低下させるために、スクリーンと回路基板との位置合わせ精度を特に高くし、スクリーンの貫通穴と、回路基板の被印刷個所との位置を精度良く合わせることが必要であるが、その場合、ずれが特に大きい基準マークをすべて無条件に無視すれば、基準マークが無視される子基板以外の子基板についてはスクリーンとの位置を高精度で合わせることが可能になる。それにより、完成品の歩留まりを向上させることができる。完成品が不良品となった場合には、それまでに為された作業、および装着された多数の電子部品が無駄になるため、スクリーン印刷の段階で不良品とされる基板材料の損失を補って余りある場合があるのである。
The misalignment that should be a problem in the multi-sided board is originally the work area set for each of the plurality of sub-boards and the position of the location where the work is to be performed, but the plurality of sub-boards are combined together. Therefore, the positional deviation of the sub board is corrected by correcting the positional deviation relative to the reference position of the position of the entire multi-sided board. Each positional deviation of the plurality of sub boards is corrected by a common correction amount, and the position correction quantity of the multi-sided board is set based on the positional deviation of the plurality of sub boards. For this reason, the displacement of each of the plurality of sub-boards affects each other. For example, if all the sub-substrates are similarly misaligned and the relative positional relationship misalignment is small, the misalignment of all the sub-substrates can be similarly corrected by correcting the position of the multi-sided substrate. . However, for example, when one of the plurality of sub-substrates is largely displaced relative to the other sub-substrates, and the relative positional deviation is small between the other sub-substrates, all of the sub-substrates If the amount of misalignment correction of the multi-chip board is obtained based on the misalignment, the position correction of the other sub-board becomes inappropriate due to the large misalignment of the one sub-board, and at the same time, The correction of the position of the sub board is also insufficient due to the restriction of the positions of the other sub boards. Eventually, the positional deviation of any of the sub-boards is not sufficiently corrected, and the positional deviation of all the sub-boards remains large, and in a severe case, all the sub-boards become defective products.
On the other hand, according to the present invention, since the reference mark of the child board that has a particularly large deviation from the reference mark of the other child board is ignored, the position deviations of the other child boards are approximated to each other. If the amount of misalignment correction is obtained based on the position of the reference mark on the substrate, the misalignment can be sufficiently corrected for all the sub substrates except the sub substrate where the reference mark is ignored. Other than the sub-board where the reference mark is ignored, high positioning accuracy can be obtained for the multi-sided board, and even if a plurality of sub-boards are operated at once, the operation can be performed with high accuracy. The sub-board in which the reference mark is ignored has a large positional deviation and becomes a defective board, but it is avoided that the positional deviation of all the sub-boards becomes large or becomes a defective board. Such a reference mark having a particularly large deviation can be ignored by calculation, and a highly accurate operation can be performed quickly and easily.
Note that, as described above, for all multi-planar substrates, when the corresponding reference mark is ignored, particularly when the sub-substrate is largely deviated from the reference marks of the other sub-substrates, the yield of the substrate material is reduced. The alignment accuracy can be further improved. For example, if the board is a circuit board on which electronic components are to be mounted and the mounting pitch of the electronic components is particularly narrow, a short circuit occurs after soldering due to the printing agent applied to the adjacent printing locations on the circuit board. In order to reduce the possibility of performing the above, it is necessary to increase the alignment accuracy between the screen and the circuit board, and to precisely align the through holes of the screen and the printed portions of the circuit board. In this case, if all the reference marks having a particularly large deviation are unconditionally ignored, it is possible to align the positions of the sub-boards other than the sub-board where the reference marks are ignored with the screen with high accuracy. Thereby, the yield of finished products can be improved. If the finished product becomes defective, the work done so far and the large number of mounted electronic components will be wasted, making up for the loss of the substrate material that is considered defective at the screen printing stage. There may be too much.

発明の態様Aspects of the Invention

以下に、本願において特許請求が可能と認識されている発明(以下、「請求可能発明」という場合がある。請求可能発明は、少なくとも、請求の範囲に記載された発明である「本発明」ないし「本願発明」を含むが、本願発明の下位概念発明や、本願発明の上位概念あるいは別概念の発明を含むこともある。)の態様をいくつか例示し、それらについて説明する。各態様は請求項と同様に、項に区分し、各項に番号を付し、必要に応じて他の項の番号を引用する形式で記載する。これは、あくまでも請求可能発明の理解を容易にするためであり、請求可能発明を構成する構成要素の組み合わせを、以下の各項に記載されたものに限定する趣旨ではない。つまり、請求可能発明は、各項に付随する記載,実施例の記載等を参酌して解釈されるべきであり、その解釈に従う限りにおいて、各項の態様にさらに他の構成要素を付加した態様も、また、各項の態様から構成要素を削除した態様も、請求可能発明の一態様となり得るのである。   In the following, the invention that is claimed to be claimable in the present application (hereinafter referred to as “claimable invention”. The claimable invention is at least the “present invention” to the invention described in the claims. Some aspects of the present invention, including subordinate concept inventions of the present invention, superordinate concepts of the present invention, or inventions of different concepts) will be illustrated and described. As with the claims, each aspect is divided into sections, each section is numbered, and is described in a form that cites the numbers of other sections as necessary. This is for the purpose of facilitating the understanding of the claimable invention, and is not intended to limit the combinations of the constituent elements constituting the claimable invention to those described in the following sections. In other words, the claimable invention should be construed in consideration of the description accompanying each section, the description of the embodiments, etc., and as long as the interpretation is followed, another aspect is added to the form of each section. In addition, an aspect in which constituent elements are deleted from the aspect of each item can be an aspect of the claimable invention.

なお、以下の各項において、(1)項が請求項1に相当し、(2)項と(3)項とを合わせたものが請求項2に、(2)項と(4)項とを合わせたものが請求項3に、(8)項が請求項4に、(9)項と(10)項とを合わせたものが請求項5にそれぞれ相当する。   In each of the following paragraphs, paragraph (1) corresponds to claim 1, and the combination of paragraphs (2) and (3) is claim 2, and paragraphs (2) and (4) (8) corresponds to claim 4, and (9) and (10) correspond to claim 5, respectively.

(1)複数の子基板が一体的に結合されて成る多面取り基板の基準位置に対する位置ずれを補正する方法であって、
前記複数の子基板の各々に対応した基準マークを設け、それら複数の子基板のうち、対応する基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている少なくとも1つの子基板の基準マークは無視して、前記多面取り基板の位置ずれを補正する多面取り基板位置補正方法。
(2)前記多面取り基板に対してスクリーン印刷を行うためのスクリーンの位置を前記基準位置とする(1)項に記載の多面取り基板位置補正方法。
スクリーンと多面取り基板との相対位置ずれを補正する場合、スクリーンを移動させても、多面取り基板を移動させてもよい。
スクリーン印刷においては、多面取り基板の複数の子基板の全部にクリーム半田等の被印刷剤が一度に塗布されるが、対応する基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている子基板の基準マークは無視されて多面取り基板のスクリーンに対する位置ずれが補正されるため、基準マークが無視される子基板以外の子基板については、被印刷剤の被印刷個所とスクリーンに形成された貫通穴との位置合わせが精度良く為され、印刷が精度良く行われる。
(3)前記少なくとも1つの子基板の基準マークの無視を、前記複数の子基板の全基準マークの位置ずれが平均的に最も小さくなるように前記多面取り基板の位置補正を行ったとすれば、いずれかの子基板の基準マークに許容範囲を超える位置ずれが生じる場合に行う(1)項または(2)項に記載の多面取り基板位置補正方法。
複数の子基板のうちの任意の子基板の基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている場合であっても、許容範囲内の位置ずれであれば、基準マークが無視されることはなく、その位置ずれも含めて多面取り基板の位置ずれが補正される。そのため、例えば、基準マークが無視される子基板の数が少なくて済み、多面取り基板の位置決め精度を向上させつつ、材料の歩留まりの低下を抑制することができる。
(4)前記複数の子基板の全基準マークの位置ずれが平均的に最も小さくなるように前記多面取り基板の位置補正を行ったとした場合に、基準マークの位置ずれ量の絶対値が最も大きくなる子基板を、前記基準マークを無視すべき子基板に決定する(1)項ないし(3)項のいずれかに記載の多面取り基板位置補正方法。
このようにすれば、複数の子基板のうち、対応する基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている1つの子基板を容易に検出することができる。
複数の子基板の基準マークを無視する必要がある場合には、便法として、基準マークの位置ずれ量の絶対値が大きいものから順に、基準マークを無視すべき子基板に決定することも可能である。しかし、基準マークの位置ずれ量の絶対値が最も大きくなった子基板を除く残りの子基板の全基準マークの位置ずれが平均的に最も小さくなるように多面取り基板の位置補正を行ったとした場合に、基準マークの位置ずれ量の絶対値が最も大きくなる子基板を、次に基準マークを無視すべき子基板に決定することが望ましい。
本項が(3)項に従属する態様においては、基準マークの位置ずれが許容範囲を超える子基板が少なくとも1つある場合、そのうちの1つが、本項の基準マークの位置ずれ量の絶対値が最も大きい子基板となり、その子基板が基準マークを無視すべき子基板に決定される。無視すべき子基板の有無の判断と、無視すべき子基板の決定とを同じ計算に基づいて行うことができ、好都合である。
(5)前記複数の子基板のうちで互いに異なる1つ以上のものを順次除外し、その除外したもの以外の子基板の全ての基準マークの位置ずれが平均的に最も小さくなるように前記多面取り基板の位置ずれを補正したとした場合における補正後の位置ずれ量の絶対値の最大値が最も小さくなる場合の前記除外された1つ以上の子基板を前記基準マークを無視すべき子基板に決定する(1)項ないし(3)項のいずれかに記載の多面取り基板位置補正方法。
基準マークを無視すべき子基板の数,組み合わせにより、補正後の位置ずれ量の絶対値の最大値が変わる。したがって、本発明によれば、補正後の位置ずれ量の絶対値の最大値が最も小さくなる子基板の数,組み合わせを求めることができ、多面取り基板の基準位置に対する位置決め精度をより向上させることが可能である。
まず、1つずつの子基板を順次除外して、補正後の位置ずれ量の絶対値の最大値が最小である組合わせを探し、その最小値が十分に小さければ、基準マークを無視すべき子基板を1枚に決定し、最小値が十分に小さいとは言えない場合には、2枚ずつの子基板を除外して同様のことを行うことが望ましい。
本項の特徴は、例えば、X軸方向の位置ずれとY軸方向の位置ずれとが最大になる基準マークや子基板が異なる場合に有効である。
(6)前記複数の子基板が3つ以上である(1)項ないし(5)項のいずれかに記載の多面取り基板位置補正方法。
子基板が2枚の場合でも(1)項ないし(5)項の発明を適用することはできる。しかし、子基板の数が増えるほど、位置ずれのばらつきが大きくなり、いずれの子基板についても位置ずれを減少させることが難しくなるのが普通であるため、他の子基板の基準マークに対する位置ずれが特に大きい基準マークを無視することにより、一部でも子基板の位置決め精度の向上を図ることは、子基板が3つ以上である場合に特に有効である。
また、子基板が2つの場合、基準マークが無視されるのであれば、多面取り基板の半分が無駄になるが、子基板が3つ以上であれば、基準マークが無視される子基板があっても、全部の子基板の数の半分より少なくて済むことが多く、材料の歩留まりを低下させても一部の子基板について作業精度の向上を図る本発明の効果を有効に享受し得る場合が多い。
(7)前記多面取り基板が、前記複数の子基板が一列に並べて一体化されたものである(1)項ないし(6)項のいずれかに記載の多面取り基板位置補正方法。
複数の子基板が一列に並べて一体化される場合、多面取り基板は、複数の子基板の並び方向において長い長手形状を有するものとなり、その方向において位置ずれが大きくなり易く、このような多面取り基板の位置補正に本発明を適用することは有効である。
複数の子基板が一列に並べて一体化されることは不可欠ではなく、例えば、複数列、並べて一体化されてもよく、多面取り基板が任意の形状、例えば、正方形状となるように並べて一体化されてもよい。
(8)回路基板にスクリーンを通して被印刷剤を印刷するスクリーン印刷機であって、
複数の子基板が一体的に結合されて成る多面取り基板を支持する基板支持装置と、
前記スクリーンを支持するスクリーン支持装置と、
そのスクリーン支持装置と前記基板支持装置とを相対移動させることにより、スクリーン支持装置に支持されたスクリーンと基板支持装置に支持された多面取り基板とを接触,離間させる接触,離間装置と、
前記スクリーンが前記多面取り基板から離間した状態において、その多面取り基板の前記複数の子基板の各々に対応して設けられた複数の基準マークを撮像する撮像装置と、
その撮像装置により撮像された前記複数の基準マークの像に基づいて、それら複数の基準マークの各々の位置を演算する基準マーク位置演算部と、
その基準マーク位置演算部により演算された前記複数の子基板の各々に対応した複数の基準マークのうち、位置が他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている少なくとも1つの子基板の基準マークを無視して、前記多面取り基板の基準位置に対する位置ずれを補正する位置ずれ補正部と、
前記スクリーン上を移動し、そのスクリーンに設けられた多数の貫通穴から前記被印刷剤を前記多面取り基板の所定個所に塗布するスキージ装置と
を含むスクリーン印刷機。
スクリーンと多面取り基板とは、少なくとも、スキージがスクリーンを押して多面取り基板に被印刷剤を塗布する際に、スクリーンがスキージにより押される部分において多面取り基板に接触する状態になれば、接触,離間装置により接触させられたものとみなす。
基準位置は、予め設定された位置でもよく、スクリーンの位置でもよい。
前記 (3)項ないし(7)項の各々に記載の特徴は、本項のスクリーン印刷機にも適用可能である。
本項に記載のスクリーン印刷機においては、例えば、発明の効果あるいは(2)項に記載の作用および効果が得られる。
(9)前記位置ずれ補正部において無視された基準マークに対応する子基板である後続作業不要子基板を記憶する後続作業不要子基板記憶部を含む(8)項に記載のスクリーン印刷機。
基準マークが無視された子基板についても被印刷剤は印刷されるが、その子基板については位置ずれが補正されないため、被印刷個所と印刷された被印刷剤とのずれが大きく、後続の作業、例えば、電子部品の装着,装着状態の検査等を行っても無駄である。そのため、基準マークが無視された子基板を後続作業不要子基板記憶部に後続作業不要子基板として記憶させ、その情報を利用できるようにするのである。
なお、基準マークが無視された子基板が、一列に並んだ両端のいずれかのものであるなど、印刷が行われないようにすることが可能である場合には、印刷が行われないようにすることが望ましい。
(10)後続作業不要子基板記憶部に記憶された後続作業不要子基板の情報を後続作業機に供給する後続作業不要子基板情報供給部と、後続作業不要子基板に後続作業が不要であることを表す作業不要マークを付ける作業不要マーク付け装置との少なくとも一方を含む(9)項に記載のスクリーン印刷機。
後続作業不要子基板情報供給部は、後続作業不要子基板の情報のみを供給するものとすることも、後続作業不要子基板が属する多面取り基板の識別情報と共に供給するものとすることも可能である。
後続作業不要子基板記憶部に記憶された後続作業不要子基板の情報は、前記後続作業不要子基板情報供給部と作業不要マーク付け装置との前記少なくとも一方の作動後はクリアされるようにしてもよいが、多面取り基板の識別情報と対応付けて保存されるようにしてもよい。上記識別情報は、多面取り基板1枚ずつを識別可能な基板識別情報でもよく、多面取り基板の属する生産ロットを識別可能なロット識別情報でもよい。いずれにしても、多面取り基板の生産工程等の管理情報として有益である。
本項に記載のスクリーン印刷機が後続作業不要子基板情報供給部を含む場合には、情報供給により、スクリーン印刷機の後続の作業機において作業が不要な子基板がわかり、作業不要マーク付け装置を含む場合には、例えば、後続の作業機の作業不要マーク検出装置により、子基板に作業不要マークが付されているか否かが調べられ、不要な作業の実行が自動的に止められる。
後続作業不要子基板の情報は、スクリーン印刷後に行われる各種作業に利用するのに限らず、例えば、基準マークが無視されるほどの大きい位置ずれが生じた原因の解消に利用することもできる。例えば、基準マークが無視される子基板が同種の複数の多面取り基板について生じた場合、その子基板が多面取り基板中、同じ子基板であるか、あるいは異なる子基板であるかにより、位置ずれの原因を推定し、多面取り基板に配線パターンを形成するための原版を修正したり、あるいは多面取り基板に配線パターンを形成する際の多面取り基板の位置決め装置を改良する等、多面取り基板のスクリーンに対する位置決め精度の向上に利用することができる。
作業不要マーク付け装置は、例えば、作業不要マークを多面取り基板に描くマーク描画装置としたり、シール状の作業不要マークを多面取り基板に貼付するマーク貼付装置としたりすることができる。
(1) A method for correcting a positional deviation of a multi-surface substrate formed by integrally joining a plurality of sub-substrates with respect to a reference position,
A reference mark corresponding to each of the plurality of sub-substrates is provided, and among the plurality of sub-substrates, the reference mark corresponding to at least one sub-substrate is significantly shifted from the reference mark of the other sub-substrate. A method for correcting the position of a multi-sided substrate, wherein the position of the multi-sided substrate is corrected while ignoring the mark.
(2) The multi-chamfer substrate position correcting method according to (1), wherein a position of a screen for performing screen printing on the multi-chamfer substrate is set as the reference position.
When correcting the relative positional deviation between the screen and the multi-sided substrate, the screen may be moved or the multi-sided substrate may be moved.
In screen printing, a printing material such as cream solder is applied to all of the plurality of sub-substrates of the multi-sided substrate at a time, but the corresponding reference marks are particularly greatly shifted from the reference marks of the other sub-substrates. Since the reference marks of the sub-substrates are ignored and the misalignment of the multi-chamfered substrate with respect to the screen is corrected, the sub-substrates other than the sub-substrates where the reference marks are ignored are formed on the printing place and screen of the printing agent The alignment with the through hole made is performed with high accuracy, and printing is performed with high accuracy.
(3) If ignoring the reference marks of the at least one sub-substrate, and correcting the position of the multi-sided substrate so that the positional deviation of all the reference marks of the plurality of sub-substrates is minimized on average, The multi-planar substrate position correction method according to (1) or (2), which is performed when a positional deviation exceeding an allowable range occurs in a reference mark of any of the sub-substrates.
Even if the reference mark of any of the multiple sub-boards is significantly deviated from the reference mark of other sub-boards, the reference mark is ignored if it is within the allowable range. However, the misalignment of the multi-sided substrate including the misalignment is corrected. For this reason, for example, the number of sub-boards in which the reference marks are ignored is small, and it is possible to improve the positioning accuracy of the multi-sided board and suppress the decrease in the yield of the material.
(4) When the position correction of the multi-planar substrate is performed so that the position shifts of all the reference marks of the plurality of sub-boards are the smallest on average, the absolute value of the position shift amount of the reference marks is the largest. The multi-chip substrate position correcting method according to any one of (1) to (3), wherein the sub-board is determined as a sub-board that should ignore the reference mark.
In this way, it is possible to easily detect one of the plurality of sub-substrates whose corresponding reference mark is significantly deviated from the reference marks of the other sub-substrates.
When it is necessary to ignore the fiducial marks of multiple sub-boards, it is possible to determine the fiducial marks to be ignored in order from the largest absolute value of the reference mark position deviation as a convenience. It is. However, the position correction of the multi-chip board was performed so that the position deviation of all the reference marks of the remaining sub-boards excluding the sub-board where the absolute value of the position deviation amount of the reference mark was the largest was the smallest on average. In this case, it is desirable to determine the daughter board having the largest absolute value of the amount of positional deviation of the reference mark as the next daughter board that should ignore the reference mark.
In an embodiment in which this item is subordinate to item (3), if there is at least one sub-board whose reference mark displacement exceeds the allowable range, one of them is the absolute value of the displacement amount of the reference mark in this item. Becomes the largest sub-board, and the sub-board is determined as the sub-board that should ignore the reference mark. Conveniently, the determination of the presence or absence of a child board to be ignored and the determination of a child board to be ignored can be made based on the same calculation.
(5) One or more different ones of the plurality of sub-boards are sequentially excluded, and the plurality of reference marks on all the sub-boards other than the sub-boards are averagely minimized so as to be the smallest. In the case where the positional deviation of the chamfered substrate is corrected, the one or more excluded child substrates in the case where the maximum absolute value of the corrected positional deviation amount is minimized is the child substrate that should ignore the reference mark. The multi-chamfer substrate position correcting method according to any one of (1) to (3), wherein
Depending on the number and combination of sub-boards that should ignore the reference mark, the maximum absolute value of the positional deviation after correction varies. Therefore, according to the present invention, it is possible to obtain the number and combination of child boards that minimize the maximum absolute value of the positional deviation amount after correction, and to further improve the positioning accuracy of the multi-sided board with respect to the reference position. Is possible.
First, each sub-board is sequentially excluded, and a combination with the minimum absolute value of the positional deviation after correction is searched for. If the minimum value is sufficiently small, the reference mark should be ignored. When the number of sub-boards is determined to be one and the minimum value cannot be said to be sufficiently small, it is desirable to exclude the two sub-boards and perform the same thing.
The feature of this section is effective when, for example, the reference mark or the sub board that maximizes the positional deviation in the X-axis direction and the positional deviation in the Y-axis direction are different.
(6) The multi-sided substrate position correcting method according to any one of (1) to (5), wherein the plurality of sub-substrates is three or more.
Even when there are two sub-boards, the inventions of the items (1) to (5) can be applied. However, as the number of sub-boards increases, the variation in misalignment increases, and it is usually difficult to reduce misalignment for any of the sub-boards. By ignoring a reference mark having a particularly large size, it is particularly effective to improve the positioning accuracy of the sub board even if there are three or more sub boards.
If there are two child boards, half of the multi-sided board is wasted if the reference marks are ignored, but if there are three or more child boards, there are some child boards where the reference marks are ignored. However, it is often less than half of the number of all the sub-boards, and even when the yield of the material is reduced, the effect of the present invention for improving the working accuracy can be effectively enjoyed for some of the sub-boards. There are many.
(7) The multi-sided substrate position correcting method according to any one of (1) to (6), wherein the multi-sided substrate is obtained by integrating the plurality of child substrates in a line.
When a plurality of sub-boards are integrated in a row, the multi-sided board has a long longitudinal shape in the direction in which the plurality of sub-boards are arranged, and misalignment tends to increase in that direction. It is effective to apply the present invention to the substrate position correction.
It is not indispensable that a plurality of sub-boards are integrated in a row. For example, a plurality of sub-substrates may be integrated in a row, and a multi-sided substrate is integrated in a desired shape, for example, a square shape. May be.
(8) A screen printing machine for printing a printing material on a circuit board through a screen,
A substrate support device for supporting a multi-sided substrate formed by integrally bonding a plurality of sub-substrates;
A screen support device for supporting the screen;
A contact and separation device for contacting and separating the screen supported by the screen support device and the multi-sided substrate supported by the substrate support device by relatively moving the screen support device and the substrate support device;
An imaging device that images a plurality of reference marks provided corresponding to each of the plurality of sub-substrates of the multi-sided substrate in a state where the screen is separated from the multi-sided substrate;
A reference mark position calculation unit that calculates the position of each of the plurality of reference marks based on the images of the plurality of reference marks captured by the imaging device;
Of the plurality of reference marks corresponding to each of the plurality of child substrates calculated by the reference mark position calculation unit, the position of at least one child substrate whose position is particularly greatly shifted from the reference marks of the other child substrates A misregistration correction unit that ignores a fiducial mark and corrects a misregistration relative to a reference position of the multi-sided substrate;
A squeegee device that moves on the screen and applies the printing material to a predetermined portion of the multi-sided substrate from a plurality of through holes provided in the screen.
The screen and the multi-chamfer substrate are contacted and separated at least when the squeegee presses the screen to apply the printing agent onto the multi-chamfer substrate, and the screen comes into contact with the multi-chamfer substrate at the portion pressed by the squeegee. Considered contacted by the device.
The reference position may be a preset position or a screen position.
The features described in the items (3) to (7) can be applied to the screen printer of this item.
In the screen printing machine described in this section, for example, the effects of the invention or the operations and effects described in the section (2) can be obtained.
(9) The screen printer according to (8), further including a subsequent work unnecessary child board storage unit that stores a subsequent work unnecessary child board that is a child board corresponding to the reference mark ignored in the misalignment correction unit.
Although the printing material is printed even on the sub-board on which the reference mark is ignored, since the misregistration is not corrected for the sub-board, the deviation between the printing location and the printed printing material is large, and the subsequent work, For example, it is useless to perform mounting of electronic components, inspection of mounting state, and the like. For this reason, the child board in which the reference mark is ignored is stored in the subsequent work unnecessary child board storage unit as the subsequent work unnecessary child board so that the information can be used.
In addition, when it is possible to prevent printing, such as a child board where the reference mark is ignored is one of both ends arranged in a row, the printing is not performed. It is desirable to do.
(10) Subsequent work unnecessary child board information supply unit that supplies the subsequent work unnecessary child board information stored in the subsequent work unnecessary child board storage unit to the subsequent work machine, and the subsequent work unnecessary child board does not require subsequent work. The screen printing machine according to item (9), including at least one of a work unnecessary mark marking device for attaching a work unnecessary mark indicating that
The subsequent work unnecessary child board information supply unit can supply only the information of the subsequent work unnecessary child board, or it can be supplied together with the identification information of the multi-sided board to which the subsequent work unnecessary child board belongs. is there.
The information on the subsequent work unnecessary child board stored in the subsequent work unnecessary child board storage unit is cleared after the operation of at least one of the subsequent work unnecessary child board information supply unit and the work unnecessary marking device. However, it may be stored in association with the identification information of the multi-sided substrate. The identification information may be substrate identification information that can identify each single-sided substrate, or lot identification information that can identify a production lot to which the multiple-sided substrate belongs. In any case, it is useful as management information for the production process of a multi-sided substrate.
When the screen printing machine described in this section includes a subsequent work unnecessary child board information supply unit, the information supply can identify a child board that does not require work in the subsequent work machine of the screen printing machine, and the work unnecessary marking device. For example, the work unnecessary mark detection device of the subsequent work machine checks whether or not a work unnecessary mark is attached to the slave board, and the execution of the unnecessary work is automatically stopped.
The information on the sub-work unnecessary board is not limited to use in various operations performed after screen printing, and can be used, for example, to eliminate the cause of such a large displacement that the reference mark is ignored. For example, when a sub-board whose reference mark is ignored occurs for a plurality of multi-sided boards of the same type, the misalignment depends on whether the sub-board is the same sub-board or a different sub-board. Estimate the cause, modify the original plate for forming the wiring pattern on the multi-sided board, or improve the multi-sided board positioning device when forming the wiring pattern on the multi-sided board, etc. It can be used to improve the positioning accuracy with respect to.
The work-unnecessary marking device can be, for example, a mark drawing device that draws work-unnecessary marks on a multi-sided substrate, or a mark sticking device that sticks a seal-like work-unnecessary mark on a multi-sided substrate.

以下、請求可能発明の実施例を、図を参照しつつ詳しく説明する。なお、請求可能発明は、下記実施例の他、上記〔発明の態様〕の項に記載された態様を始めとして、当業者の知識に基づいて種々の変更を施した態様で実施することができる。   Hereinafter, embodiments of the claimable invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition to the following examples, the claimable invention can be practiced in various modifications based on the knowledge of those skilled in the art, including the aspects described in the above [Aspect of the Invention] section. .

図1に、請求可能発明の一実施例としてのスクリーン印刷機が図示されている。本スクリーン印刷機は、フレーム10,基板搬送装置12(図2参照),基板支持装置14,基板支持装置昇降装置16,スクリーン支持装置18,スキージ装置20,撮像装置22および制御装置24(図2参照)等を備えている。   FIG. 1 illustrates a screen printing machine as an embodiment of the claimable invention. The screen printing machine includes a frame 10, a substrate transport device 12 (see FIG. 2), a substrate support device 14, a substrate support device lifting device 16, a screen support device 18, a squeegee device 20, an imaging device 22, and a control device 24 (FIG. 2). Etc.).

基板搬送装置12は、例えば、基板搬送コンベヤを備え、回路基板30を図1においては左右方向であって、回路基板30の半田印刷面に平行な方向である水平方向に搬送し、基板支持装置14に搬入し、基板支持装置14から搬出する。基板搬送装置12はまた、回路基板30を、その長手方向が基板搬送方向と平行となる姿勢で搬送する。基板支持装置14は、本実施例では基板保持装置とされており、支持ピンおよび支持ピン支持部材を含み、回路基板30を下方から支持するとともに、基板クランプ装置を備え、1対のクランプ部材により、回路基板30を、その半田印刷面に平行で基板搬送方向に直角な方向から挟み、水平に保持する。   The substrate transfer device 12 includes, for example, a substrate transfer conveyor, and transfers the circuit board 30 in the horizontal direction in FIG. 1 in the horizontal direction, which is parallel to the solder printing surface of the circuit board 30. 14 and then unload from the substrate support device 14. The board transfer device 12 also transfers the circuit board 30 in a posture in which the longitudinal direction is parallel to the board transfer direction. The substrate support device 14 is a substrate holding device in this embodiment, and includes a support pin and a support pin support member. The substrate support device 14 supports the circuit board 30 from below and includes a substrate clamp device. The circuit board 30 is sandwiched from a direction parallel to the solder printing surface and perpendicular to the board conveying direction, and is held horizontally.

基板支持装置昇降装置16は、本実施例では、駆動源たる基板支持装置昇降用モータ34と、送りねじの一種であるボールねじおよびナットを含む送りねじ機構36(図2参照)とを備え、基板支持装置14を昇降させて、スクリーン支持装置18に接近,離間する向きに移動させ、基板支持装置14に支持された回路基板30を、スクリーン支持装置18に支持されたスクリーン40に接触させ、被印刷剤としてのクリーム半田が印刷される接触位置ないし印刷位置と、スクリーン40から離間させ、基板支持装置14による支持から解放されて基板搬送装置12による搬送が可能とされる離間位置ないし下降端位置とに昇降させる。基板支持装置14は基板支持装置昇降装置16に、位置ずれ補正装置44(図2参照)を介して設けられている。位置ずれ補正装置44は、基板支持装置14を、基板搬送方向に平行な方向(X軸方向とする)と、基板支持装置14に支持された回路基板30の半田印刷面に平行な面である水平面内においてX軸方向と直交する方向であるY軸方向とにそれぞれ移動させるとともに、半田印刷面に直角で鉛直なZ軸方向に平行な軸線まわりに回転させるものとされている。   In the present embodiment, the substrate support device lifting device 16 includes a substrate support device lifting motor 34 as a drive source, and a feed screw mechanism 36 (see FIG. 2) including a ball screw and a nut, which is a kind of feed screw. The substrate support device 14 is moved up and down to move toward and away from the screen support device 18 to bring the circuit board 30 supported by the substrate support device 14 into contact with the screen 40 supported by the screen support device 18. The contact position or the printing position where the cream solder as the printing material is printed is separated from the screen 40 and is released from the support by the substrate support device 14 and can be transported by the substrate transport device 12. Raise and lower to position. The substrate support device 14 is provided on the substrate support device lifting / lowering device 16 via a misalignment correction device 44 (see FIG. 2). The misalignment correcting device 44 is a surface parallel to the direction parallel to the substrate transport direction (X-axis direction) and the solder print surface of the circuit board 30 supported by the substrate support device 14. In the horizontal plane, they are moved in the Y-axis direction, which is a direction perpendicular to the X-axis direction, and rotated around an axis line perpendicular to the solder printing surface and perpendicular to the Z-axis direction.

スクリーン支持装置18は、フレーム10の、基板支持装置14の上方の位置に設けられている。スクリーン40は矩形のスクリーン枠48に保持され、そのスクリーン枠48においてスクリーン支持装置18により水平に支持されて、基板支持装置14に支持された回路基板30の真上に位置する。スクリーン40には、図示は省略するが、複数、本実施例においては2個の基準マークが対角線上に隔たった位置に設けられるとともに、被印刷剤としての高粘性流体の一種であるクリーム半田が充填される多数の貫通穴が、回路基板30に形成された配線パターンに対応して設けられている。   The screen support device 18 is provided on the frame 10 at a position above the substrate support device 14. The screen 40 is held by a rectangular screen frame 48, is horizontally supported by the screen support device 18 in the screen frame 48, and is positioned directly above the circuit board 30 supported by the substrate support device 14. Although not shown in the drawing, a plurality of, in this embodiment, two reference marks are provided on the screen 40 at positions diagonally separated from each other, and cream solder, which is a kind of highly viscous fluid as a printing material, is provided. A large number of through holes to be filled are provided corresponding to the wiring patterns formed on the circuit board 30.

スキージ装置20は、図1に示すように、フレーム10に設けられ、スクリーン支持装置18の上方に位置する。スキージ装置20は、本実施例では、解放型とされており、それぞれスキージ49を有する1対のスキージヘッド50(図1には1つのみ図示されている),それらスキージヘッド50をそれぞれ昇降させるスキージヘッド昇降装置52およびスキージヘッド50をスクリーン支持装置18に支持されたスクリーン40に平行な方向に移動させるスキージヘッド移動装置54を含む。スキージヘッド移動装置54は、移動部材56,駆動源たるスキージヘッド移動用モータ58,ボールねじおよびナットを含む送りねじ機構60を含み(図2参照)、移動部材56を、ガイドとしての1対のガイドレール62に案内させつつY軸方向に移動させ、移動部材56に搭載された1対のスキージヘッド50を移動させる。   As shown in FIG. 1, the squeegee device 20 is provided on the frame 10 and is located above the screen support device 18. In this embodiment, the squeegee device 20 is a release type, and each of the squeegee heads 50 has only one pair of squeegee heads 50 (only one is shown in FIG. 1). A squeegee head lifting device 52 and a squeegee head moving device 54 for moving the squeegee head 50 in a direction parallel to the screen 40 supported by the screen support device 18 are included. The squeegee head moving device 54 includes a moving member 56, a squeegee head moving motor 58 as a driving source, a feed screw mechanism 60 including a ball screw and a nut (see FIG. 2), and the moving member 56 is used as a pair of guides. The pair of squeegee heads 50 mounted on the moving member 56 are moved by moving them in the Y-axis direction while being guided by the guide rails 62.

撮像装置22は、本実施例では、CCDカメラ70を含み、撮像装置移動装置72により、基板支持装置14に支持された回路基板30の半田印刷面に平行な面である水平面に平行な任意の位置へ移動させられる。撮像装置移動装置72は、X軸方向移動装置74およびY軸方向移動装置76を含む。X軸方向移動装置74は、移動部材78,駆動源たるX軸方向移動用モータ80,ボールねじおよびナットを含む送りねじ機構82(図2参照)を含み、移動部材78を1対のガイドレール84に案内させつつ、X軸方向に移動させる。Y軸方向移動装置76は移動部材78上に設けられ、X軸方向移動装置74と同様に、移動部材86,Y軸方向移動用モータ88,送りねじ機構90(図2参照)を含み、移動部材86をガイドレール92に案内させつつY軸方向に移動させる。CCDカメラ70は移動部材86上に設けられ、下降端位置に位置する基板支持装置14に支持された回路基板30と、スクリーン支持装置18に支持されたスクリーン40との間の空間内の任意の位置へ移動させられる。撮像装置22は、例えば、特開2000−238233公報に記載の撮像装置と同様に構成され、回路基板30とスクリーン40とをそれぞれ撮像することができるものとされている。   In this embodiment, the image pickup device 22 includes a CCD camera 70 and is moved by an image pickup device moving device 72 to any arbitrary plane parallel to a horizontal plane that is parallel to the solder print surface of the circuit board 30 supported by the board support device 14. Moved to position. The imaging device moving device 72 includes an X-axis direction moving device 74 and a Y-axis direction moving device 76. The X-axis direction moving device 74 includes a moving member 78, an X-axis direction moving motor 80 as a driving source, a feed screw mechanism 82 (see FIG. 2) including a ball screw and a nut, and the moving member 78 is a pair of guide rails. It is moved in the X-axis direction while being guided by 84. The Y-axis direction moving device 76 is provided on the moving member 78, and similarly to the X-axis direction moving device 74, includes a moving member 86, a Y-axis direction moving motor 88, and a feed screw mechanism 90 (see FIG. 2). The member 86 is moved in the Y-axis direction while being guided by the guide rail 92. The CCD camera 70 is provided on the moving member 86, and an arbitrary space in the space between the circuit board 30 supported by the substrate support device 14 located at the lower end position and the screen 40 supported by the screen support device 18 is provided. Moved to position. The imaging device 22 is configured similarly to the imaging device described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-238233, and can capture the circuit board 30 and the screen 40, respectively.

前記制御装置24は、図2に示すように、制御コンピュータ100および入出力部102を含む制御部と、複数の駆動回路104とを含む。制御コンピュータ100は、CPU106,ROM108,RAM110およびそれらを接続するバスを含み、入出力部102には、画像処理コンピュータ112,入力装置114が入力側に接続され、基板搬送装置12,報知装置116等が入出力部102の出力側に駆動回路104を介して接続されている。報知装置116は、例えば、音声発生装置,画像表示装置等により構成され、情報等をオペレータに報知する装置とされる。入出力部102にはまた、本スクリーン印刷機の直後に回路基板30について作業を行う後続作業機であって、本スクリーン印刷機と共に電子回路生産ラインを構成する接着剤塗布機118が接続され、例えば通信により、データのやり取り等が行われる。本スクリーン印刷機を構成する装置の駆動源を構成するモータは、回転角度の正確な制御が可能な電動回転モータであり、エンコーダを備えたサーボモータにより構成されている。また、ROM108には、図示を省略するメインルーチン,図3にフローチャートで示す基準マーク無視子基板決定ルーチン,クリーム半田印刷ルーチン等、種々のプログラムおよびデータ等が記憶させられている。   As shown in FIG. 2, the control device 24 includes a control unit including a control computer 100 and an input / output unit 102, and a plurality of drive circuits 104. The control computer 100 includes a CPU 106, a ROM 108, a RAM 110, and a bus for connecting them. An image processing computer 112 and an input device 114 are connected to the input side of the input / output unit 102. The substrate transfer device 12, the notification device 116, and the like. Is connected to the output side of the input / output unit 102 via the drive circuit 104. The notification device 116 is constituted by, for example, a sound generation device, an image display device, or the like, and is a device that notifies an operator of information or the like. The input / output unit 102 is also connected to an adhesive applicator 118 that forms an electronic circuit production line together with the screen printing machine, which is a subsequent working machine that performs work on the circuit board 30 immediately after the screen printing machine. For example, data is exchanged by communication. The motor constituting the drive source of the apparatus constituting the screen printing machine is an electric rotary motor capable of accurately controlling the rotation angle, and is constituted by a servo motor provided with an encoder. The ROM 108 stores various programs and data such as a main routine (not shown), a reference mark ignore board determination routine and a cream solder printing routine shown in the flowchart of FIG.

本スクリーン印刷機において、印刷作業の対象となる回路基板30の一例を図4に示す。この回路基板30は、複数の子基板が一体的に結合されて成る多面取り基板であり、例えば、4つの子基板120が一列に並べて一体化され、4つの子基板120の各々に電子部品が装着され、電子回路が形成された後、4つの基板に分離される。以後、回路基板30を多面取り基板30と称する。   FIG. 4 shows an example of the circuit board 30 to be printed in the screen printing machine. The circuit board 30 is a multi-sided board in which a plurality of sub-boards are integrally coupled. For example, four sub-boards 120 are integrated in a row, and an electronic component is placed on each of the four sub-boards 120. After mounting and forming an electronic circuit, it is separated into four substrates. Hereinafter, the circuit board 30 is referred to as a multi-sided board 30.

4つの子基板120にはそれぞれ、図示は省略するが、配線パターンが形成されている。これら配線パターンは同じでもよく、互いに異なっていてもよい。また、4つの子基板120の各々に対応して複数、本実施例においては2個の基準マーク122が設けられている。これら2個ずつの基準マーク122はそれぞれ、子基板120の対角線上に隔たった位置に設けられ、本実施例では、平面視形状が円形を成すものとされている。多面取り基板30には更に、情報記録部としての二次元コード124が設けられている。二次元コード124には、例えば、多面取り基板30の生産ロット番号,多面取り基板30を1枚ずつ識別可能な基板識別情報としての基板ID等が記録されている。二次元コード124は、撮像装置22により撮像され、その撮像データに基づいて記録内容が読み取られる。   Although not shown, wiring patterns are formed on each of the four sub-boards 120. These wiring patterns may be the same or different from each other. A plurality of reference marks 122 are provided corresponding to each of the four sub-boards 120 in the present embodiment. Each of the two reference marks 122 is provided at a position separated on a diagonal line of the daughter board 120, and in this embodiment, the planar view shape is circular. The multi-sided substrate 30 is further provided with a two-dimensional code 124 as an information recording unit. In the two-dimensional code 124, for example, a production lot number of the multi-planar substrate 30 and a substrate ID as substrate identification information that can identify each multi-planar substrate 30 one by one are recorded. The two-dimensional code 124 is imaged by the imaging device 22 and the recorded content is read based on the imaging data.

多面取り基板30にクリーム半田を印刷するためのスクリーン40は、4つの子基板120の各々の配線パターンのランドに対応する位置に貫通穴が形成され、4つの子基板120に1度にクリーム半田を印刷することができるものとされている。スクリーン40には、貫通穴の集合である印刷パターンが4つ、一列に並んで設けられているのである。   The screen 40 for printing cream solder on the multi-sided board 30 has through holes formed at positions corresponding to the lands of the respective wiring patterns of the four child boards 120, and cream solder is once applied to the four child boards 120. Can be printed. The screen 40 is provided with four printing patterns, which are sets of through holes, arranged in a line.

多面取り基板30は、複数の子基板が一体化されて成るのではない回路基板と同様に基板支持装置14に支持され、スクリーン40に接触させられてスキージ装置20によりクリーム半田が印刷される。多面取り基板30は、基板搬送装置12によって基板支持装置14に搬入され、支持された後、基板支持装置14が下降端位置に位置し、スクリーン40が多面取り基板30から離間した状態において撮像装置22により、4つの子基板120の各基準マーク122の全部が撮像され、それら撮像データに基づいて、多面取り基板30のスクリーン40に対する位置ずれを補正するための位置ずれ補正量が求められる。本実施例では、複数の子基板120のうち、対応する基準マーク122が他の子基板120の基準マーク122に対して特に大きくずれている子基板120がある場合、その子基板120の基準マーク122は無視して位置ずれ補正量が求められる。   The multi-sided board 30 is supported by the board support device 14 in the same manner as a circuit board in which a plurality of sub-boards are not integrated, is brought into contact with the screen 40, and cream solder is printed by the squeegee device 20. After the multi-sided substrate 30 is carried into and supported by the substrate support device 14 by the substrate transport device 12, the imaging device is in a state where the substrate support device 14 is positioned at the lower end position and the screen 40 is separated from the multi-sided substrate 30. 22, all the reference marks 122 of the four sub-boards 120 are imaged, and based on the imaging data, a misalignment correction amount for correcting misalignment of the multi-sided board 30 with respect to the screen 40 is obtained. In the present embodiment, when there is a sub-board 120 in which the corresponding reference mark 122 among the plurality of sub-boards 120 is particularly greatly displaced from the reference mark 122 of the other sub-board 120, the reference mark 122 of the sub-board 120 is present. The amount of misalignment correction is obtained by ignoring.

多面取り基板30とスクリーン40との位置ずれの補正には、スクリーン40に設けられた基準マークの位置ずれも考慮される。スクリーン40は、例えば、スクリーン支持装置18により支持された直後、あるいは予め設定された条件(例えば、連続して設定枚数の多面取り基板30についてクリーム半田の印刷が行われたこと)の成立時、あるいは多面取り基板30へのクリーム半田の印刷毎に基準マークが撮像装置22により撮像され、その撮像データに基づいて基準マークの中心位置が算出されるとともに、スクリーン40の回転位置ずれおよび2個の基準マークの各目標位置に対するX軸,Y軸方向の各位置ずれ量の平均値であって、回転位置ずれが除去された状態での位置ずれ量の平均値が算出されてRAM110に記憶させられる。撮像装置22は、基準マークの目標位置データに基づいて移動させられて基準マークを撮像する。   In the correction of the positional deviation between the multi-planar substrate 30 and the screen 40, the positional deviation of the reference mark provided on the screen 40 is also taken into consideration. The screen 40 is, for example, immediately after being supported by the screen support device 18 or when a preset condition is satisfied (for example, cream solder printing has been continuously performed on a set number of multi-sided substrates 30), Alternatively, each time the cream solder is printed on the multi-sided substrate 30, the reference mark is imaged by the imaging device 22, the center position of the reference mark is calculated based on the imaging data, the rotational position shift of the screen 40 and the two The average value of the positional deviation amounts in the X-axis and Y-axis directions with respect to each target position of the reference mark, and the average value of the positional deviation amounts in a state where the rotational positional deviation is removed is calculated and stored in the RAM 110. . The imaging device 22 is moved based on the target position data of the reference mark and images the reference mark.

基準マーク122を無視すべき子基板120の決定を図3に示す基準マーク無視子基板決定ルーチンに基づいて説明する。なお、本実施例では、説明を単純にするために、スクリーン40は精度良く作られ、伸縮や歪はないものとする。
基準マーク無視子基板決定ルーチンは、基板支持装置14が多面取り基板30を支持し、下降端位置に位置する状態で実行され、まず、ステップ1(以後、S1と略記する。他のステップについても同じ。)において4つの子基板120の全部について、2個ずつの基準マーク122が撮像装置22により撮像される。撮像装置22は、基準マーク目標位置データに基づいて移動させられて基準マーク122を撮像する。基準マーク122の目標位置は、理想的な形状,寸法の多面取り基板30が基板支持装置14により位置ずれなく支持された状態において、8個の基準マーク122がそれぞれ位置することが予定された位置であり、基準マーク目標位置を規定するデータは、ROM108あるいはRAM110に記憶させられている。また、二次元コード124が撮像装置22により撮像され、基板ID等が取得される。
The determination of the child substrate 120 that should ignore the reference mark 122 will be described based on the reference mark ignorant child substrate determination routine shown in FIG. In the present embodiment, for the sake of simplicity, it is assumed that the screen 40 is made with high accuracy and has no expansion or contraction.
The reference mark ignorance substrate determination routine is executed in a state where the substrate support device 14 supports the multi-sided substrate 30 and is positioned at the lower end position. First, step 1 (hereinafter abbreviated as S1. Other steps are also described). In the same manner), two reference marks 122 are imaged by the imaging device 22 for all of the four sub-boards 120. The imaging device 22 is moved based on the reference mark target position data and images the reference mark 122. The target positions of the fiducial marks 122 are positions where the eight fiducial marks 122 are each supposed to be located in a state where the multi-planar substrate 30 having an ideal shape and dimensions is supported by the substrate support device 14 without positional deviation. The data defining the reference mark target position is stored in the ROM 108 or the RAM 110. In addition, the two-dimensional code 124 is imaged by the imaging device 22, and the board ID and the like are acquired.

全部の基準マーク122の撮像後、S2が実行され、画像処理コンピュータ112の画像処理により得られた基準マーク122の像データに基づいて全部の基準マーク122の各々の中心位置が算出された後、S3が実行され、多面取り基板30の回転位置ずれが演算により除去される。この回転位置ずれは、本実施例では、特開2003−209396公報に記載の方法と同様の方法により算出される。回転位置ずれの算出を概略的に説明すれば、基準マーク122の撮像に基づいて算出された全部の基準マーク122の各々の実際の中心位置からの距離の2乗が最小となる直線(実直線と称する)の勾配が式により求められるとともに、多面取り基板30の全部の基準マーク122の目標位置についても、同様の直線(目標直線と称する)の勾配が式により求められ、それら実直線と目標直線との各勾配の比較により多面取り基板30の回転位置ずれが算出される。そして、算出された回転位置ずれおよび撮像により得られた実際の基準マーク122の中心位置に基づいて、多面取り基板30が回転させられて回転位置ずれが除去された状態で基準マーク122の各中心位置(回転後実位置と称する)が算出される。目標直線の勾配は、同じ種類の多面取り基板30について1回求められればよく、例えば、回路基板30へのスクリーン印刷作業の開始前に予め算出されて、基準マーク122の目標位置と共にROM108あるいはRAM110に記憶させられ、S3の実行時に読み出されて回転位置ずれの除去に使用される。あるいは、スクリーン印刷作業の開始後、同じ種類の回路基板30への1回目の印刷作業が実行される際に算出されて目標位置と共にROM108あるいはRAM110に記憶させられ、2回目以降の印刷作業時には、その値がROM108あるいはRAM110から読み出されて使用されてもよい。   After imaging all the reference marks 122, S2 is executed, and after calculating the center positions of all the reference marks 122 based on the image data of the reference marks 122 obtained by the image processing of the image processing computer 112, S3 is executed, and the rotational position deviation of the multi-planar substrate 30 is removed by calculation. In this embodiment, the rotational position deviation is calculated by a method similar to the method described in Japanese Patent Laid-Open No. 2003-209396. If the calculation of the rotational position deviation is schematically described, a straight line (solid line) that minimizes the square of the distances from the actual center positions of all the reference marks 122 calculated based on the imaging of the reference marks 122. The slope of a straight line (referred to as a target straight line) is also obtained from the formula for the target positions of all the reference marks 122 of the multi-planar substrate 30, and the actual straight line and the target The rotational position shift of the multi-planar substrate 30 is calculated by comparing each gradient with the straight line. Then, based on the calculated rotational position deviation and the actual center position of the reference mark 122 obtained by imaging, each center of the reference mark 122 in a state where the multi-sided substrate 30 is rotated and the rotational position deviation is removed. A position (referred to as an actual position after rotation) is calculated. The gradient of the target straight line may be obtained once for the same type of multi-sided board 30. For example, the slope of the target straight line is calculated in advance before the start of the screen printing operation on the circuit board 30, and the ROM 108 or RAM 110 together with the target position of the reference mark 122. And is read out at the time of execution of S3 and used to remove rotational misalignment. Alternatively, after the start of the screen printing work, it is calculated when the first printing work on the circuit board 30 of the same type is executed and is stored in the ROM 108 or the RAM 110 together with the target position. The value may be read from the ROM 108 or the RAM 110 and used.

次いでS4が実行され、多面取り基板30の全部の基準マーク122の各々について、半田印刷面に平行な方向の誤差であるX軸方向およびY軸方向の各位置ずれ量Δx,Δyが算出される。この位置ずれ量は、S3において算出された全部の基準マーク122の回転後実位置と、それぞれに対応する目標位置との比較により算出され、正負の符号を含む。次いでS5において、全部の基準マーク122の各々のX軸方向の位置ずれ量の平均値ΔAxおよびY軸方向の位置ずれ量の平均値ΔAyが算出される。そして、S6において、全部の基準マーク122の各々について、X軸方向の位置ずれ量ΔxとY軸方向の位置ずれ量Δyとについてそれぞれ、位置ずれ量平均値ΔAx,ΔAyとの差の絶対値が算出された後、S7が実行され、S6で算出された差の絶対値のうち、許容範囲を超える差があるか否かの判定が行われる。全部の基準マーク122について、X軸,Y軸いずれの方向においても、位置ずれ量と、位置ずれ量平均値との差の絶対値が許容範囲を超えず、いずれの子基板120についても、基準マーク122に許容範囲を超える位置ずれがなく、対応する基準マーク122が他の子基板120の基準マーク122に対して特に大きくずれている子基板120がないのであれば、S7の判定結果はNOになってルーチンの実行は終了する。   Next, S4 is executed, and for each of all the reference marks 122 of the multi-sided board 30, the positional deviation amounts Δx and Δy in the X-axis direction and the Y-axis direction, which are errors in the direction parallel to the solder printing surface, are calculated. . This positional deviation amount is calculated by comparing the actual post-rotation positions of all the reference marks 122 calculated in S3 with the corresponding target positions, and includes positive and negative signs. Next, in S5, the average value ΔAx of the positional deviation amounts in the X-axis direction and the average value ΔAy of the positional deviation amounts in the Y-axis direction of all the reference marks 122 are calculated. Then, in S6, for each of all the reference marks 122, the absolute value of the difference between the positional deviation amount Δx in the X-axis direction and the positional deviation amount Δy in the Y-axis direction, respectively, is calculated. After the calculation, S7 is executed, and it is determined whether or not there is a difference exceeding the allowable range among the absolute values of the differences calculated in S6. For all the reference marks 122, the absolute value of the difference between the positional deviation amount and the average positional deviation amount does not exceed the allowable range in both the X-axis and Y-axis directions. If the mark 122 has no positional deviation exceeding the allowable range and the corresponding reference mark 122 is not significantly different from the reference mark 122 of the other child substrate 120, the determination result in S7 is NO. The routine execution ends.

8個の基準マーク122のうち、X軸方向とY軸方向との少なくとも一方について、位置ずれ量と、位置ずれ量平均値との差の絶対値が許容範囲を超え、位置ずれ量が許容範囲を超える基準マーク122があれば、S7の判定結果がYESになってS8が実行され、基準マーク122の位置ずれ量が許容範囲を超える子基板120が1つであるか否かが判定される。X軸方向とY軸方向とを合わせても、基準マーク122の許容範囲を超える位置ずれが1つの子基板120に生じているのであれば、S8の判定結果はYESになってS9が実行され、その位置ずれを生じている子基板120が基準マーク122を無視すべき子基板である無視子基板に決定されるとともに、後続作業不要子基板としてRAM110に設けられた後続作業不要子基板メモリに記憶される。S9においてはまた、S2において演算された基準マーク122の中心位置であって、無視子基板に決定された子基板120の基準マーク122を除く全部の基準マーク122の中心位置に基づいて、S3におけると同様に多面取り基板30の回転位置ずれが求められるとともに、その回転位置ずれが除去された後における各基準マーク122のX軸,Y軸方向の各位置ずれ量および基準マーク122のX軸,Y軸の各方向の位置ずれ量の平均値(回転位置ずれが除去された後における多面取り基板30全体のX軸,Y軸方向における各位置ずれ量)が算出され、後続作業不要子基板メモリに記憶させられる。   Of at least one of the eight reference marks 122 in the X-axis direction and the Y-axis direction, the absolute value of the difference between the positional deviation amount and the average positional deviation amount exceeds the allowable range, and the positional deviation amount is within the allowable range. If there is a reference mark 122 exceeding, the determination result in S7 is YES and S8 is executed, and it is determined whether or not there is one child substrate 120 whose positional deviation amount of the reference mark 122 exceeds the allowable range. . Even if the X-axis direction and the Y-axis direction are combined, if a positional deviation exceeding the allowable range of the reference mark 122 occurs in one child substrate 120, the determination result in S8 is YES and S9 is executed. The child board 120 that has caused the positional deviation is determined to be an ignorant child board that is a child board that should ignore the reference mark 122, and a subsequent work unnecessary child board memory provided in the RAM 110 as a subsequent work unnecessary child board. Remembered. Also in S9, based on the center positions of the reference marks 122 calculated in S2 and the center positions of all the reference marks 122 except for the reference marks 122 of the child board 120 determined as the neglected child boards, in S3. In the same manner as described above, the rotational misalignment of the multi-chamfer substrate 30 is obtained, and after the rotational misalignment is removed, the positional deviation amounts in the X-axis and Y-axis direction of each reference mark 122 and the X-axis of the reference mark 122, An average value of misalignment amounts in each direction of the Y-axis (each misalignment amount in the X-axis and Y-axis directions of the entire multi-sided substrate 30 after the rotational misalignment is removed) is calculated, and a subsequent work unnecessary child substrate memory is calculated. Is memorized.

後続作業不要子基板メモリには、多面取り基板30に対する印刷実行のためと、後続作業機への情報供給のためと、多面取り基板30の生産工程の改善等のために、種々の情報が記憶させられる。
当該多面取り基板30への印刷実行のための情報としては、上記のように無視子基板に決定された子基板120の基準マーク122を除いて演算された回転位置ずれと、基準マーク122のX軸,Y軸方向の各位置ずれ量の平均値(回転位置ずれが除去された後における多面取り基板30全体のX軸,Y軸方向における各位置ずれ量)とが記憶させられる。
また、後続作業機への情報供給と、多面取り基板30の生産工程の改善等とに共通の情報として、後続作業不要子基板を特定する情報(例えば、無視子基板に決定された子基板120が、多面取り基板30の送り方向において下流側から何番目の子基板120であるかの情報)が、多面取り基板30の識別情報、例えば、二次元コード124の読取りにより得られた多面取り基板30の基板IDおよび生産ロット番号と対応付けて後続作業不要子基板メモリに記憶させられる。
多面取り基板30の生産工程の改善等のための情報としては、上記後続作業不要子基板を特定する情報の他、全部の基準マーク122の各位置ずれ量とそれら位置ずれ量の平均値との差の情報や、それら差の絶対値や絶対値の最大値の情報が記憶させられる。位置ずれ量は、回転位置ずれが除去された状態での位置ずれ量であり、これら位置ずれ量等は、前記S4〜S6の実行に基づいて得られる。
S9の実行後、S12が実行され、後続作業不要子基板情報等が直後後続作業機である接着剤塗布機118に供給されてルーチンの実行が終了する。
The subsequent work unnecessary sub-board memory stores various types of information for printing on the multi-sided board 30, for supplying information to the subsequent working machine, and for improving the production process of the multi-sided board 30. Be made.
Information for executing printing on the multi-sided board 30 includes the rotational position shift calculated by excluding the reference mark 122 of the child board 120 determined as the neglected child board as described above, and the X of the reference mark 122. An average value of each positional deviation amount in the axial and Y-axis directions (each positional deviation amount in the X-axis and Y-axis directions of the entire multi-sided substrate 30 after the rotational positional deviation is removed) is stored.
Further, as information common to the supply of information to the subsequent work machine and the improvement of the production process of the multi-planar board 30, information for specifying the subsequent work unnecessary child board (for example, the child board 120 determined as the neglected child board). Is a multi-planar substrate obtained by reading the identification information of the multi-planar substrate 30, for example, the two-dimensional code 124. It is associated with the 30 substrate IDs and the production lot number and stored in the subsequent operation unnecessary child substrate memory.
As information for improving the production process of the multi-sided board 30, the positional deviation amount of all the reference marks 122 and the average value of the positional deviation amounts, in addition to the information specifying the subsequent work unnecessary child board, are included. Information on the difference, information on the absolute value of the difference, and information on the maximum value of the absolute value are stored. The positional deviation amount is a positional deviation amount in a state in which the rotational positional deviation is removed, and these positional deviation amounts and the like are obtained based on the execution of S4 to S6.
After execution of S9, S12 is executed, and subsequent work unnecessary child board information and the like are supplied immediately to the adhesive applicator 118 which is the subsequent work machine, and the execution of the routine ends.

X軸方向,Y軸方向を問わず、各基準マーク122の位置ずれ量と、位置ずれ量の平均値との差の絶対値が許容範囲を超える子基板120が2つ以上ある場合には、S8の判定結果がNOになってS10が実行され、基準マーク122の位置ずれ量が許容範囲を超える2つ以上の子基板120のうちから、予め設定された規則に従って無視子基板が決定されるとともに、S9におけると同様に、後続作業不要子基板として後続作業不要子基板メモリに記憶される。   Regardless of the X-axis direction or the Y-axis direction, when there are two or more child substrates 120 whose absolute value of the difference between the positional deviation amount of each reference mark 122 and the average value of the positional deviation amounts exceeds the allowable range, The determination result in S8 is NO and S10 is executed, and an ignorant child substrate is determined according to a preset rule from two or more child substrates 120 whose positional deviation amount of the reference mark 122 exceeds the allowable range. At the same time, as in S9, the subsequent operation unnecessary child substrate is stored in the subsequent operation unnecessary child substrate memory.

上記「予め設定された規則」は、本実施例においては、無視子基板を想定し、その想定無視子基板以外の子基板120の各基準マーク122の位置に基づいて、S3におけると同様に多面取り基板30の回転位置ずれが求められ、その回転位置ずれが除去された状態での各基準マーク122のX軸,Y軸の各方向における位置ずれ量およびそれら位置ずれ量のX軸,Y軸の各方向における平均値が算出されるとともに、位置ずれ量と、位置ずれ量の平均値との差の絶対値がすべて許容範囲内に収まるか否かを調べ、許容範囲内に収まるのであれば、想定無視子基板を無視子基板に決定するという規則である。基準マーク122の位置ずれが許容範囲内に収まる無視子基板が複数組、得られる場合には、X軸,Y軸の各方向合わせて上記差の絶対値の最大値が最も小さくなる場合の想定無視子基板が無視子基板に決定される。   In the present embodiment, the “pre-set rule” is assumed to be a neglected child substrate, and based on the position of each reference mark 122 of the child substrate 120 other than the assumed neglected child substrate, the same as in S3. The rotational misalignment of the chamfered substrate 30 is obtained, the misalignment amount of each reference mark 122 in each of the X-axis and Y-axis directions in a state where the rotational misalignment is removed, and the X-axis and Y-axis of these misalignment amounts. The average value in each direction is calculated, and it is checked whether the absolute value of the difference between the positional deviation amount and the average value of the positional deviation amounts is all within the allowable range. The rule is that an assumed neglected substrate is determined to be an ignored substrate. When a plurality of sets of neglector substrates in which the positional deviation of the reference mark 122 falls within an allowable range is obtained, it is assumed that the maximum absolute value of the difference is the smallest in the X-axis and Y-axis directions. The neglect substrate is determined to be the neglect substrate.

無視子基板は、まず、1つ想定される。S8の判定結果がNOになった際に基準マーク122の位置ずれ量と位置ずれ量平均値との差の絶対値が許容範囲を超えていた2つ以上の子基板120(位置ずれ量許容範囲超子基板120と称する)の各々が無視子基板に想定され、それぞれについて、想定無視子基板以外の全部の子基板120の各基準マーク122について、回転位置ずれが除去された状態での位置ずれ量と、それら位置ずれ量の平均値との差の絶対値がすべて許容範囲内に収まり、多面取り基板30全体としての位置ずれの補正が行われれば、基準マーク122の位置ずれ量が許容範囲内に収まるか否かが調べられる。無視子基板を1つ、想定することにより、無視子基板を除く全部の子基板120の各基準マーク122の位置ずれ量がいずれも許容範囲内に収まれば、その際の想定無視子基板が無視子基板に決定される。無視子基板が2つ以上、決定された場合には、それらのうち、基準マーク122の位置ずれ量と、位置ずれ量の平均値との差の絶対値の最大値が最小となる場合の想定無視子基板が無視子基板に決定される。   First, one neglector substrate is assumed. When the determination result of S8 is NO, two or more sub-boards 120 (the positional shift amount allowable range) in which the absolute value of the difference between the positional shift amount of the reference mark 122 and the average positional shift amount exceeds the allowable range Each of which is referred to as a super substrate 120), and each of the reference marks 122 of all the sub substrates 120 other than the assumed neglect substrate is misaligned in a state where the rotational misalignment is removed. If the absolute value of the difference between the amount and the average value of the positional deviation amounts is all within the allowable range, and the positional deviation of the multi-chip substrate 30 as a whole is corrected, the positional deviation amount of the reference mark 122 is within the allowable range. It is checked whether it fits within. By assuming one neglector board, if the amount of positional deviation of each reference mark 122 of all the child boards 120 excluding the neglector board falls within the allowable range, the assumed ignore board at that time is ignored. It is determined as a sub board. When two or more neglector substrates are determined, it is assumed that the maximum absolute value of the difference between the positional deviation amount of the reference mark 122 and the average value of the positional deviation amount is the smallest among them. The neglect substrate is determined to be the neglect substrate.

想定無視子基板を1つ設定しても、基準マーク122の位置ずれ量が許容範囲内に収まらない場合には、無視子基板が2つ想定される。位置ずれ量許容範囲超子基板120が3つ以上ある場合には、それら子基板120のうち2つの無視子基板の組み合わせが作られ、全部の組み合わせについてそれぞれ、基準マーク122の位置ずれ量が許容範囲内に収まるか否かが調べられる。   If the position shift amount of the reference mark 122 does not fall within the allowable range even if one assumed ignore child substrate is set, two ignore child substrates are assumed. When there are three or more super-substrates 120, the combination of two neglected substrates is made out of the sub-substrates 120, and the positional displacement amount of the reference mark 122 is allowed for all the combinations. It is checked whether it falls within the range.

このように位置ずれ量許容範囲超子基板120の数に応じて想定無視子基板の数が1つずつ増やされ、想定無視子基板の組み合わせが作られて基準マーク122の位置ずれが許容範囲内に収まるかどうかが調べられ、無視子基板が決定される。但し、本実施例では、無視子基板に決定される子基板120の数は、多面取り基板30が有する全部の子基板120の数の半数以下とされ、半数以下のうちで最大数の無視子基板を想定しても基準マーク122の位置ずれ量が許容範囲内に収まらない場合には、それ以上、無視子基板を増やすことなく、調べが終了される。   In this way, the number of assumed neglector substrates is increased by one in accordance with the number of superposition substrates 120 in the allowable amount of positional deviation, and a combination of assumed neglected substrates is created, so that the positional deviation of the reference mark 122 is within the acceptable range. Is checked to determine whether the ignorant substrate is included. However, in the present embodiment, the number of child boards 120 determined as the neglected child boards is less than half of the number of all the child boards 120 included in the multi-sided board 30, and the maximum number of neglected elements is less than half. If the positional deviation amount of the reference mark 122 does not fall within the allowable range even if the substrate is assumed, the examination is completed without increasing the number of neglector substrates.

S10において無視子基板が決定されれば、S9におけると同様に、多面取り基板30への印刷実行のための情報と、後続作業機への情報供給と多面取り基板30の生産工程の改善等とに共通の情報と、多面取り基板30の生産工程の改善等のための情報とが後続作業不要子基板メモリに記憶させられる。なお、S10では、多面取り基板30への印刷実行のための情報として、無視子基板に決定された子基板120が無視子基板に想定されて先に演算された回転位置ずれと、基準マーク122のX軸,Y軸方向の各位置ずれ量の平均値(回転位置ずれが除去された後における多面取り基板30全体のX軸,Y軸方向における各位置ずれ量)とが記憶させられる。   If the neglector board is determined in S10, as in S9, information for executing printing on the multi-sided board 30, supply of information to subsequent work machines, improvement of the production process of the multi-sided board 30 and the like The common information and the information for improving the production process of the multi-planar board 30 are stored in the subsequent work unnecessary board memory. In S10, as the information for executing printing on the multi-sided board 30, the rotation position deviation calculated previously when the child board 120 determined as the ignorant board is assumed to be the ignorant board and the reference mark 122 is obtained. The average value of each positional deviation amount in the X-axis and Y-axis directions (each positional deviation amount in the X-axis and Y-axis directions of the entire multi-sided substrate 30 after the rotational positional deviation is removed) is stored.

無視子基板120が決定されてもされなくても、調べが終了すれば、S11が実行され、無視子基板が決定されたか否かが判定される。S10の実行により、現に無視子基板の決定が行われている多面取り基板30について無視子基板が決定され、後続作業不要子基板メモリに情報が記憶されていれば、S11の判定結果がYESになってS12が実行された後、ルーチンの実行は終了する。無視子基板が決定されていなければ、S11の判定結果がNOになってS13が実行され、基準マーク122の位置ずれ量が許容範囲を超えているが、無視子基板が決定されるに至らなかったことが報知装置116により報知される。多面取り基板30の基板ID等も報知され、オペレータは、報知に基づいて、例えば、無視子基板が決定されなかった多面取り基板30を不良基板とし、クリーム半田の印刷を行うことなく排出したり、全部の位置ずれ量許容範囲超子基板120以外の子基板120について位置ずれ補正量を算出して印刷を行う等、適宜の処理を入力装置114により入力し、指示する。   Whether or not the neglector board 120 is determined, if the examination is completed, S11 is executed to determine whether or not the neglector board is determined. If the ignore board is determined for the multi-chip board 30 for which the ignore board is currently determined by the execution of S10 and the information is stored in the subsequent work unnecessary slave board memory, the determination result of S11 is YES. After S12 is executed, the execution of the routine ends. If the ignore substrate is not determined, the determination result of S11 is NO and S13 is executed, and the positional deviation amount of the reference mark 122 exceeds the allowable range, but the ignore substrate is not determined. This is notified by the notification device 116. The board ID and the like of the multi-sided board 30 are also notified, and based on the notification, for example, the operator can use the multi-sided board 30 for which the neglected board has not been determined as a defective board and discharge it without printing cream solder. An appropriate process is input and instructed by the input device 114, such as calculating and printing the misregistration correction amounts for all the sub-substrates 120 other than the allowable misalignment super substrate 120.

基準マーク無視子基板決定ルーチンの実行後、多面取り基板30へのクリーム半田の印刷が行われる。この際、現にクリーム半田が印刷される多面取り基板30において、いずれの子基板120についても基準マーク122に許容範囲を超える位置ずれがなく、S7の判定結果がNOになって無視子基板がないのであれば、S3において演算された多面取り基板30の回転位置ずれと、S5において算出された多面取り基板30のX軸,Y軸方向の各位置ずれ量の平均値と、スクリーン40の回転位置ずれと、スクリーン40の基準マークのX軸,Y軸方向の各位置ずれ量の平均値とに基づいて、多面取り基板30とスクリーン40との位置を合わせるためのX軸,Y軸方向およびZ軸線まわりの位置ずれ補正量が求められ、位置ずれ補正装置44により基板支持装置14が回転,移動させられて位置ずれが補正され、多面取り基板30のスクリーン40に対する位置が合わされる。S7の判定結果がNOになったことにより、また、現に印刷が行われる多面取り基板30について後続作業不要子基板メモリに後続作業不要子基板情報が記憶されておらず、無視子基板が決定されなかったことの報知も為されていないことから、無視子基板がないことがわかる。無視子基板がないことを表すデータが記憶されてもよい。   After execution of the reference mark ignorance board determination routine, cream solder is printed on the multi-sided board 30. At this time, in the multi-planar board 30 on which cream solder is actually printed, there is no positional deviation exceeding the allowable range in the reference mark 122 for any of the child boards 120, and the determination result of S7 is NO and there is no child board. If so, the rotational position shift of the multi-planar substrate 30 calculated in S3, the average value of each positional shift amount in the X-axis and Y-axis directions of the multi-planar substrate 30 calculated in S5, and the rotational position of the screen 40 Based on the deviation and the average value of the positional deviation amounts of the reference marks of the screen 40 in the X-axis and Y-axis directions, the X-axis, Y-axis directions, and Z for aligning the positions of the multi-sided substrate 30 and the screen 40. A misalignment correction amount around the axis is obtained, and the misalignment correction device 44 rotates and moves the substrate support device 14 to correct the misalignment. Position is combined for over emissions 40. When the determination result in S7 is NO, the subsequent work unnecessary child board information is not stored in the subsequent work unnecessary child board memory for the multi-sided board 30 to be actually printed, and the neglected child board is determined. Since there is no notification of the absence, it can be seen that there is no neglector board. Data indicating that there is no neglector board may be stored.

無視子基板が決定されている場合には、無視子基板を除いた多面取り基板30とスクリーン40との位置を合わせるための位置ずれ補正量が算出される。S9あるいはS10において算出され、後続作業不要子基板メモリに記憶されている多面取り基板30の回転位置ずれと、基準マーク122のX軸,Y軸方向の各位置ずれ量の平均値と、スクリーン40の回転位置ずれと、スクリーン40の2個の基準マークのX軸,Y軸方向の各位置ずれ量の平均値とに基づいて、X軸,Y軸方向およびZ軸線まわりの位置ずれ補正量が求められ、位置ずれ補正装置44により位置ずれが補正される。   When the neglector substrate has been determined, a misalignment correction amount for aligning the positions of the multi-sided substrate 30 excluding the neglector substrate and the screen 40 is calculated. The rotational position deviation of the multi-sided substrate 30 calculated in S9 or S10 and stored in the subsequent work unnecessary board memory, the average value of the positional deviation amounts of the reference mark 122 in the X-axis and Y-axis directions, and the screen 40 Displacement correction amounts around the X-axis, Y-axis direction, and Z-axis line are calculated based on the rotational position shift of each of the two reference marks on the screen 40 and the average value of the respective position shift amounts in the X-axis and Y-axis directions. The positional deviation is corrected by the positional deviation correction device 44.

無視子基板があってもなくても、多面取り基板30とスクリーン40との位置ずれが補正された後、基板支持装置14が上昇させられて多面取り基板30がスクリーン40に接触させられ、スキージ49がスクリーン40に接触させられた状態でスクリーン40上を移動させられ、スクリーン40上に載せられたクリーム半田を移動させつつ貫通穴に押し込むとともに、スクリーン40を多面取り基板30に押し付けてクリーム半田を多面取り基板30の所定個所に塗布する。印刷は、多面取り基板30の全面について1度に行われ、無視子基板にもクリーム半田が塗布される。塗布後、基板支持装置14が下降させられ、多面取り基板30がスクリーン40から離間させられるとともに、基板搬送装置12により搬出される。   Regardless of the presence or absence of the neglector substrate, after the positional deviation between the multi-planar substrate 30 and the screen 40 is corrected, the substrate support device 14 is raised so that the multi-planar substrate 30 is brought into contact with the screen 40 and the squeegee. 49 is moved on the screen 40 while being in contact with the screen 40, and the cream solder placed on the screen 40 is pushed into the through-hole while moving, and the screen 40 is pressed against the multi-sided substrate 30 to provide cream solder. Is applied to a predetermined portion of the multi-sided substrate 30. Printing is performed once on the entire surface of the multi-sided substrate 30, and cream solder is also applied to the neglected substrate. After the application, the substrate support device 14 is lowered, and the multi-sided substrate 30 is separated from the screen 40 and carried out by the substrate transport device 12.

このように複数の子基板120のうち、対応する基準マーク122が他の子基板120の基準マーク122に対して特に大きくずれている子基板120の基準マーク122を無視して多面取り基板30とスクリーン40との位置を合わせれば、全部の基準マーク122の位置に基づいて位置合わせを行う場合に比較して位置合わせ精度が向上する。例えば、1列に並べられた4つの子基板120のうち、一番端の子基板120の基準マーク122の他の子基板120の基準マーク122に対する位置ずれが特に大きい場合、全部の子基板120の各基準マーク122の位置ずれに基づいて多面取り基板30のスクリーン40に対する位置ずれ補正量が求められ、位置が補正されれば、図4に実線で示すように、基準マーク122の位置ずれが特に大きい子基板120(図4においては右端の子基板120)以外の3つの子基板120が、位置ずれが特に大きい子基板120の影響を受けて、二点鎖線で示す目標位置に対して大きくずれ、位置ずれが十分解消されない。それに対し、位置ずれが特に大きい基準マーク122を無視すれば、他の子基板120の基準マーク122については互いの位置ずれが小さいため、それらの位置に基づいて得られる位置ずれ補正量に基づいて位置合わせが行われれば、図5に示すように、基準マーク122が無視される一番端の子基板120を除く3つの子基板120は二点鎖線で示す目標位置にずれ少なく合わされ、不良基板となることが回避される。   In this way, among the plurality of sub-boards 120, the corresponding reference marks 122 are particularly greatly displaced from the reference marks 122 of the other sub-boards 120, ignoring the reference marks 122 of the sub-board 120 and the multi-planar board 30. By aligning the position with the screen 40, the alignment accuracy is improved as compared with the case where alignment is performed based on the positions of all the reference marks 122. For example, among the four sub-boards 120 arranged in a row, when the positional deviation of the reference mark 122 of the first sub-board 120 relative to the reference mark 122 of the other sub-board 120 is particularly large, all the sub-boards 120 Based on the positional deviation of each of the reference marks 122, the amount of positional deviation correction with respect to the screen 40 of the multi-planar substrate 30 is obtained, and if the position is corrected, as shown by the solid line in FIG. Three child substrates 120 other than the particularly large child substrate 120 (the rightmost child substrate 120 in FIG. 4) are greatly affected by the child substrate 120 having a particularly large positional deviation with respect to the target position indicated by the two-dot chain line. Misalignment and misalignment are not sufficiently resolved. On the other hand, if the reference marks 122 having a particularly large positional deviation are ignored, the positional deviations of the reference marks 122 of the other sub-substrates 120 are small, and therefore, based on the positional deviation correction amount obtained based on those positions. If the alignment is performed, as shown in FIG. 5, the three sub-substrates 120 except the end sub-substrate 120 where the reference mark 122 is ignored are aligned with the target position indicated by the two-dot chain line, and the defective substrate is aligned. Is avoided.

スクリーン印刷機においてクリーム半田が印刷された多面取り基板30は、次に接着剤塗布機118へ送られて接着剤が塗布される。この際、無視子基板があれば、その情報が接着剤塗布機118に供給されるため、接着剤塗布機118においては、塗布の開始に先立って無視子基板情報が供給されているか否かが調べられ、無視子基板については接着剤の塗布が行われないようにされる。それにより、クリーム半田は印刷されているが、被印刷個所とのずれが大きく、製品とし得ない子基板120に無駄に作業が行われることが回避される。無視子基板情報等はさらに、接着剤塗布機118からその後続の作業機、例えば、電子部品装着機に供給され、無視子基板に電子部品が装着されないようにされる。
なお、本実施例では、後続作業不要子基板メモリに記憶された情報は、後続作業不要子基板情報等が後続作業機に供給された後もクリアされず、保存され、例えば、多面取り基板30の生産に利用される。多面取り基板30への印刷実行のための情報は、供給後、クリアされてもよい。後続作業不要子基板情報等、後続作業不要子基板メモリに記憶させられた情報は、外部記憶装置に記憶させられてもよく、生産管理コンピュータに送られて記憶させられてもよく、バックアップされて残されてもよい。
The multi-chamfer substrate 30 on which the cream solder is printed in the screen printing machine is then sent to the adhesive applicator 118 where the adhesive is applied. At this time, if there is a neglected child substrate, the information is supplied to the adhesive applicator 118. Therefore, the adhesive applicator 118 determines whether or not the neglected child substrate information is supplied prior to the start of application. It is checked that the adhesive is not applied to the neglect substrate. As a result, although the cream solder is printed, the deviation from the printing location is large, and it is possible to avoid wasteful operations on the sub-board 120 that cannot be made into a product. The neglector board information and the like are further supplied from the adhesive applicator 118 to a subsequent work machine, for example, an electronic component placement machine, so that the electronic component is not placed on the ignore board.
In the present embodiment, the information stored in the subsequent work unnecessary child board memory is not cleared and stored even after the subsequent work unnecessary child board information or the like is supplied to the subsequent work machine, for example, the multi-chip board 30. Used for production. Information for printing on the multi-sided board 30 may be cleared after the supply. Information stored in the subsequent work unnecessary child board memory, such as subsequent work unnecessary child board information, may be stored in an external storage device, sent to a production management computer, stored, or backed up. May be left behind.

以上の説明から明らかなように、本実施例においては、制御コンピュータ100のS2を実行する部分が基準マーク位置演算部を構成している。また、制御コンピュータ100のS9,S10を実行する部分が基準マーク無視子基板決定部を構成し、無視子基板の基準マーク122を無視して多面取り基板30のスクリーン40に対する位置ずれ補正量を算出し、その位置ずれ補正量に基づいて位置ずれ補正装置44を制御し、多面取り基板30の位置ずれを補正する部分と共に位置ずれ補正部を構成し、S12を実行する部分が後続作業不要子基板情報供給部を構成している。また、基板支持装置昇降装置16が接触,離間装置を構成している。さらに、撮像装置22および制御コンピュータ100の二次元コード124の撮像データに基づいて記録内容を取得する部分が基板情報取得部を構成している。   As is apparent from the above description, in the present embodiment, the portion of the control computer 100 that executes S2 constitutes the reference mark position calculation unit. Further, the portion of the control computer 100 that executes S9 and S10 constitutes a reference mark ignorant substrate determination unit, and ignores the reference mark 122 of the ignorance substrate and calculates the amount of misalignment correction for the screen 40 of the multi-sided substrate 30. The misalignment correction device 44 is controlled based on the misalignment correction amount to form a misalignment correction unit together with a portion for correcting misalignment of the multi-chip board 30, and a portion for executing S12 is a sub-workless substrate. The information supply unit is configured. Further, the substrate support device lifting device 16 constitutes a contact / separation device. Furthermore, the part that acquires the recording content based on the imaging data of the two-dimensional code 124 of the imaging device 22 and the control computer 100 constitutes a board information acquisition unit.

なお、上記実施例においては、説明を単純にするために、スクリーンは精度良く作られ、伸縮や歪はないものとして説明したが、それらがある場合には、例えば、スクリーンの複数の子基板の各々に対応して形成された印刷パターン毎に複数の基準マークを設け、それら基準マークの位置ずれと、子基板の基準マークの位置ずれとに基づいて無視子基板を決定する。   In the above embodiment, for the sake of simplicity, the screen has been described as being made with high accuracy and without expansion or contraction. However, if there are any, for example, a plurality of sub-boards of the screen are used. A plurality of reference marks are provided for each of the print patterns formed corresponding to each, and the neglected child substrate is determined based on the positional deviation of the reference marks and the positional deviation of the reference marks of the child substrate.

また、位置ずれ量許容範囲超子基板が複数ある場合に無視子基板を決定する場合、位置ずれ量と位置ずれ量の平均値との差の絶対値の大きさを考慮して決定してもよい。その差の絶対値が大きい子基板から優先的に無視子基板に想定し、他の子基板の基準マークの位置ずれが許容範囲内に収まるか否かを調べ、収まるのであれば無視子基板に決定するのである。
位置ずれ量許容範囲を2段階あるいはそれ以上に設定することも有効である。例えば、本来の位置ずれ量許容範囲よりやや広い許容範囲(無視子基板決定用許容範囲)を設定し、その許容範囲に収まらない基準マークに対応する子基板を基準マーク無視子基板に決定するのである。また、無視子基板決定用許容範囲を複数段階に設定し、広い許容範囲に収まらないものから順に基準マーク無視子基板に決定し、それ以外の子基板の位置ずれ量が本来の位置ずれ量許容範囲に収まるか否かを調べ、収まれば基準マーク無視子基板の決定ステップを終了するが、収まらなければ2番目に広い無視子基板決定用許容範囲について同様のステップを実行させるのである。
もっと単純に、各基準マークの位置ずれ量と位置ずれ量の平均値との差の絶対値が許容範囲を外れている子基板は全て無視子基板に決定することも可能である。
Further, when determining the neglected substrate when there are a plurality of superposition substrates with a positional deviation amount tolerance range, it may be determined in consideration of the magnitude of the absolute value of the difference between the positional deviation amount and the average value of the positional deviation amounts. Good. A child board with a large absolute value of the difference is preferentially assumed to be an ignorant board, and whether or not the misalignment of the reference marks of other child boards is within an allowable range is checked. To decide.
It is also effective to set the positional deviation amount allowable range in two steps or more. For example, an allowable range (allowable range for determining neglected child substrate) that is slightly wider than the original allowable range of misalignment is set, and the child substrate corresponding to the reference mark that does not fall within the allowable range is determined as the reference mark ignored child substrate. is there. Also, the tolerance for determining the neglector board is set in multiple stages, and the reference mark neglector board is decided in order from the one that does not fall within the wide tolerance range, and the misregistration amount of the other child boards is the original misalignment tolerance. If it falls within the range, the determination step of the reference mark ignorant substrate is terminated. If not, the same step is executed for the second largest ignorant substrate determination allowable range.
More simply, all the child boards whose absolute value of the difference between the positional deviation amount of each reference mark and the average value of the positional deviations is out of the allowable range can be determined to be neglected child boards.

さらに、後続作業不要子基板情報供給部は、後続作業が不要な子基板を特定する情報のみを後続作業機に供給してもよい。この情報は、作業機において作業が終了し、次の作業機に多面取り基板を送り出す際に、その送り出される多面取り基板についての情報として供給される。
また、多面取り基板の識別情報は、例えば、連続してクリーム半田が印刷される同種の多面取り基板のうち、何番目にクリーム半田が印刷されるものであるかを表す印刷順情報でもよい。
Further, the subsequent work unnecessary sub-board information supply unit may supply only the information for specifying the sub board that does not require the subsequent work to the subsequent work machine. This information is supplied as information about the multi-planar substrate to be sent out when the multi-planar substrate is sent out to the next work unit after the work is finished in the work unit.
Further, the identification information of the multi-sided board may be, for example, printing order information indicating what number of the same type of multi-sided board on which the cream solder is printed is printed.

さらに、多面取り基板に、情報記録部としてタグチップを設けてもよい。その場合、無視子基板が決定された場合、後続作業不要子基板情報をタグチップのメモリに記憶させ、後に情報読出装置に読み出されて利用されるようにすることができる。   Furthermore, a tag chip may be provided on the multi-sided substrate as an information recording unit. In this case, when the neglected child board is determined, the subsequent work unnecessary child board information can be stored in the memory of the tag chip and can be read and used later by the information reading device.

また、基板搬送装置は、回路基板を、その長手方向が基板搬送方向と直角となる姿勢で搬送してもよく、その場合、後続作業不要子基板を特定する情報は、例えば、スキージ装置が、印刷時におけるスキージの移動方向が基板搬送方向と直角に設けられている場合、スキージ移動方向において上流側あるいは下流側から何番目の子基板であるかを含む情報とすることができる。   Further, the substrate transport device may transport the circuit board in a posture in which the longitudinal direction is perpendicular to the substrate transport direction.In this case, for example, the information for specifying the subsequent work unnecessary child substrate is the squeegee device, When the movement direction of the squeegee at the time of printing is provided at right angles to the substrate conveyance direction, it can be information including the number of child substrates from the upstream side or the downstream side in the squeegee movement direction.

さらに、後続作業不要子基板情報は、後続作業不要子基板が決定された作業機の直後の作業に供給されるのみならず、後続の全部の作業機の各々に供給されてもよい。   Further, the subsequent work unnecessary child board information may be supplied not only to the work immediately after the work machine on which the subsequent work unnecessary child board is determined, but also to each of all subsequent work machines.

また、請求可能発明は、スクリーン印刷機以外の作業機であって、多面取り基板の複数の子基板の全部について作業を一度に行う作業機における多面取り基板の位置補正に適用することができる。   The claimable invention is a working machine other than a screen printing machine, and can be applied to position correction of a multi-sided board in a working machine that performs work on all of a plurality of sub-boards of a multi-sided board at once.

請求可能発明の一実施例であるスクリーン印刷機を概略的に示す正面図である。It is a front view which shows schematically the screen printer which is one Example of claimable invention. 上記スクリーン印刷機の制御装置を概念的に示すブロック図である。It is a block diagram which shows notionally the control apparatus of the said screen printer. 上記制御装置の主体を成すコンピュータのROMに記憶された基準マーク無視子基板決定ルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the reference mark ignorance board | substrate determination routine memorize | stored in ROM of the computer which comprises the main body of the said control apparatus. 全部の子基板の各基準マークの位置に基づいて位置が補正された多面取り基板における子基板の位置と目標位置との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the position of a sub-board | substrate in the multi-surfaced board | substrate with which the position was correct | amended based on the position of each reference mark of all the sub-boards, and a target position. 上記基準マーク無視子基板決定ルーチンにより基準マーク無視子基板が決定されて位置補正が行われた場合における多面取り基板の子基板の位置と目標位置との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the position of the sub-board | substrate of a multi-sided board | substrate when a reference mark ignorant board | substrate determination routine is determined by the said reference mark ignorance board | substrate determination routine, and position correction is performed, and a target position.

符号の説明Explanation of symbols

14:基板支持装置 18:スクリーン支持装置 20:スキージ装置 22:撮像装置 24:制御装置 30:回路基板(多面取り基板) 40:スクリーン 100:制御コンピュータ 120:子基板 122:基準マーク   14: Substrate support device 18: Screen support device 20: Squeegee device 22: Imaging device 24: Control device 30: Circuit board (multi-sided board) 40: Screen 100: Control computer 120: Sub board 122: Reference mark

Claims (5)

複数の子基板が一体的に結合されて成る多面取り基板の基準位置に対する位置ずれを補正する方法であって、
前記複数の子基板の各々に対応した基準マークを設け、それら複数の子基板のうち、対応する基準マークが他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている少なくとも1つの子基板の基準マークは無視して、前記多面取り基板の位置ずれを補正することを特徴とする多面取り基板位置補正方法。
A method of correcting a positional deviation with respect to a reference position of a multi-sided board formed by integrally joining a plurality of sub-boards,
A reference mark corresponding to each of the plurality of sub-substrates is provided, and among the plurality of sub-substrates, the reference mark corresponding to at least one sub-substrate is significantly shifted from the reference mark of the other sub-substrate. A method for correcting the position of a multi-sided substrate, wherein the position of the multi-sided substrate is corrected while ignoring the mark.
当該基板位置補正方法が、前記多面取り基板の、その多面取り基板に対してスクリーン印刷を行うためのスクリーンの位置に対する位置ずれを補正する方法であり、前記少なくとも1つの子基板の基準マークの無視を、前記複数の子基板の全基準マークの、前記基準位置としてのスクリーンの位置に対する位置ずれが平均的に最も小さくなるように前記多面取り基板の位置補正を行ったとすれば、いずれかの子基板の基準マークに許容範囲を超える位置ずれが生じる場合に行うことを特徴とする請求項1に記載の多面取り基板位置補正方法。   The substrate position correcting method is a method of correcting a positional deviation of the multi-chamfered substrate with respect to a screen position for performing screen printing on the multi-chamfered substrate, and ignoring the reference mark of the at least one sub-substrate. If the position correction of the multi-sided substrate is performed so that the positional deviation of all the reference marks of the plurality of sub-substrates with respect to the position of the screen as the reference position becomes the smallest on average, 2. The method for correcting a position of a multi-chip substrate according to claim 1, wherein the correction is performed when a positional deviation exceeding an allowable range occurs in the reference mark. 当該基板位置補正方法が、前記多面取り基板の、その多面取り基板に対してスクリーン印刷を行うためのスクリーンの位置に対する位置ずれを補正する方法であり、前記複数の子基板の全基準マークの、前記基準位置としての前記スクリーンの位置に対する位置ずれが平均的に最も小さくなるように前記多面取り基板の位置補正を行ったとした場合に、基準マークの位置ずれ量の絶対値が最も大きくなる子基板の基準マークを無視して、前記多面取り基板の前記スクリーンに対する位置ずれを補正することを特徴とする請求項1または2に記載の多面取り基板位置補正方法。   The substrate position correcting method is a method of correcting the positional deviation of the multi-chamfered substrate with respect to the screen position for performing screen printing on the multi-chamfered substrate, of all the reference marks of the plurality of sub-substrates, A sub-board in which the absolute value of the position shift amount of the reference mark is the largest when the position correction of the multi-planar board is performed so that the position shift relative to the position of the screen as the reference position becomes the smallest on average. 3. The multi-chamfer substrate position correcting method according to claim 1, wherein a positional deviation of the multi-chamfer substrate with respect to the screen is corrected while ignoring the reference mark. 回路基板にスクリーンを通して被印刷剤を印刷するスクリーン印刷機であって、
複数の子基板が一体的に結合されて成る多面取り基板を支持する基板支持装置と、
前記スクリーンを支持するスクリーン支持装置と、
そのスクリーン支持装置と前記基板支持装置とを相対移動させることにより、スクリーン支持装置に支持されたスクリーンと基板支持装置に支持された多面取り基板とを接触,離間させる接触,離間装置と、
前記スクリーンが前記多面取り基板から離間した状態において、その多面取り基板の前記複数の子基板の各々に対応して設けられた複数の基準マークを撮像する撮像装置と、
その撮像装置により撮像された前記複数の基準マークの像に基づいて、それら複数の基準マークの各々の位置を演算する基準マーク位置演算部と、
その基準マーク位置演算部により演算された前記複数の子基板の各々に対応した複数の基準マークのうち、位置が他の子基板の基準マークに対して特に大きくずれている少なくとも1つの子基板の基準マークを無視して、前記多面取り基板の基準位置に対する位置ずれを補正する位置ずれ補正部と、
前記スクリーン上を移動し、そのスクリーンに設けられた多数の貫通穴から前記被印刷剤を前記多面取り基板の所定個所に塗布するスキージ装置と
を含むことを特徴とするスクリーン印刷機。
A screen printing machine for printing a printing material on a circuit board through a screen,
A substrate support device for supporting a multi-sided substrate formed by integrally bonding a plurality of sub-substrates;
A screen support device for supporting the screen;
A contact and separation device for contacting and separating the screen supported by the screen support device and the multi-sided substrate supported by the substrate support device by relatively moving the screen support device and the substrate support device;
An imaging device that images a plurality of reference marks provided corresponding to each of the plurality of sub-substrates of the multi-sided substrate in a state where the screen is separated from the multi-sided substrate;
A reference mark position calculation unit that calculates the position of each of the plurality of reference marks based on the images of the plurality of reference marks captured by the imaging device;
Of the plurality of reference marks corresponding to each of the plurality of child substrates calculated by the reference mark position calculation unit, the position of at least one child substrate whose position is particularly greatly shifted from the reference marks of the other child substrates A misregistration correction unit that ignores a fiducial mark and corrects a misregistration relative to a reference position of the multi-sided substrate;
A squeegee device that moves on the screen and applies the printing agent to a predetermined portion of the multi-sided substrate from a plurality of through holes provided in the screen.
前記位置ずれ補正部において無視された基準マークに対応する子基板である後続作業不要子基板を記憶する後続作業不要子基板記憶部と、
その後続作業不要子基板記憶部に記憶された後続作業不要子基板の情報を後続作業機に供給する後続作業不要子基板情報供給部と、後続作業不要子基板に後続作業が不要であることを表す作業不要マークを付ける作業不要マーク付け装置との少なくとも一方と
を含むことを特徴とする請求項4に記載のスクリーン印刷機。
A subsequent operation unnecessary child substrate storage unit for storing a subsequent operation unnecessary child substrate which is a child substrate corresponding to the reference mark ignored in the misalignment correction unit;
The subsequent work unnecessary child board information supply unit that supplies the subsequent work unnecessary child board information stored in the subsequent work unnecessary child board storage unit to the subsequent work machine and the subsequent work unnecessary child board that the subsequent work is unnecessary. The screen printing machine according to claim 4, further comprising at least one of a work-unnecessary marking device that places a work-unnecessary mark to be expressed.
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