JP2006237274A - Electronic component storage package and electronic device - Google Patents
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- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 72
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 26
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 25
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims description 7
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 14
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 9
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 8
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 4
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 4
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N [Fe].[Co].[Ni] Chemical compound [Fe].[Co].[Ni] KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NEIHULKJZQTQKJ-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Ag] Chemical compound [Cu].[Ag] NEIHULKJZQTQKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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Abstract
【課題】 蓋体を接合する際に、絶縁基体にクラックが発生する可能性を低減させた電子部品収納用パッケージおよび電子装置を提供すること。
【解決手段】 電子部品が収容される凹部104を有し、側面に切欠き部102を有する絶縁基体101と、絶縁基体101の上面に凹部104を取り囲むように形成されたメタライズ層105とを備えている。絶縁基体101の角部から切欠き部102にかけてメタライズ層105の表面に窪み部103が形成されている。
【選択図】 図1PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic component storage package and an electronic device in which the possibility of cracks occurring in an insulating substrate when bonding a lid is reduced.
An insulating substrate 101 having a recess 104 in which an electronic component is accommodated and having a notch 102 on a side surface, and a metallized layer 105 formed on the upper surface of the insulating substrate 101 so as to surround the recess 104 are provided. ing. A recess 103 is formed on the surface of the metallized layer 105 from the corner of the insulating substrate 101 to the notch 102.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、水晶振動子や半導体素子等の電子部品が収容される電子部品収納用パッケージおよび電子装置に関するものであり、特に、絶縁基体の側面に切欠き部が形成された電子部品収納用パッケージおよび電子装置に関するものである。 The present invention relates to an electronic component storage package and an electronic apparatus in which an electronic component such as a crystal resonator or a semiconductor element is stored, and more particularly, to an electronic component storage package in which a notch is formed on a side surface of an insulating substrate. And an electronic device.
水晶振動子や半導体素子等の電子部品が収容される従来の電子部品収納用パッケージとしては、例えば下記特許文献1に記載された構造のものがあった。すなわち、従来の電子部品収納用パッケージは、絶縁基体の上面に電子部品が収容される凹部が形成されており、また、絶縁基体の側面に切欠き部が形成されている。切欠き部の内面には、導体層が形成されており、外部接続用の配線導体若しくは電気特性の測定端子として用いられている。縁基体の上面には、凹部を取り囲むようにメタライズ層形成されている。なお、絶縁基体の上面には、蓋体がろう付けや溶接等の方法により接合される。
しかしながら、近年の電子装置の小型化および高機能化に伴って、電子部品が収容される凹部を取り囲む絶縁基体の枠部の厚みを薄くする必要がある。また、電子装置の高機能化に伴って、絶縁基体の凹部内に複数の電子部品を積層実装させ必要があり、絶縁基体の枠部の厚みに対してその深さを大きく形成することも要求されてきた。 However, with the recent miniaturization and higher functionality of electronic devices, it is necessary to reduce the thickness of the frame portion of the insulating base that surrounds the recesses in which electronic components are accommodated. In addition, as electronic devices become more sophisticated, it is necessary to stack and mount a plurality of electronic components in the recesses of the insulating base, and it is also required that the depth be larger than the thickness of the frame of the insulating base. It has been.
このように、絶縁基体の枠部の厚みが薄くされ、その厚みに対して凹部の深さが大きく形成されることにより、枠部の機械的な強度が低下して、絶縁基体の側面等にクラックが発生する可能性が高まってきた。特に、絶縁基体の側面に切欠き部を有する構造においては、その可能性がさらに高くなる。 As described above, the thickness of the frame portion of the insulating base is reduced, and the depth of the concave portion is formed larger than the thickness of the insulating base. The possibility of cracking has increased. In particular, the possibility is further increased in a structure having a notch on the side surface of the insulating substrate.
本発明は、かかる問題点に鑑み案出されたものであり、その目的は、蓋体を接合する際に生じる熱応力によるクラックの発生の可能性を低減させた電子部品収納用パッケージおよび電子装置を提供することにある。 The present invention has been devised in view of such problems, and an object of the present invention is to provide an electronic component storage package and an electronic device in which the possibility of occurrence of cracks due to thermal stress generated when the lid is joined is reduced. Is to provide.
本発明の電子部品収納用パッケージは、上面に電子部品が収容される凹部を有し、側面に切欠き部を有する絶縁基体と、前記絶縁基体の上面に前記凹部を取り囲むように形成されたメタライズ層とを備え、前記絶縁基体の角部から前記切欠き部にかけて前記メタライズ層の表面に窪み部が形成されていることを特徴とするものである。 An electronic component storage package according to the present invention includes an insulating base having a recess for storing an electronic component on an upper surface, a cutout portion on a side surface, and a metallization formed on the upper surface of the insulating base so as to surround the recess. And a recess is formed on the surface of the metallized layer from the corner to the notch of the insulating base.
また、本発明の電子部品収納用パッケージは、前記窪み部が、前記切欠き部側から前記凹部側に向かって漸次浅くなるように形成されていることを特徴とするものである。 The electronic component storage package of the present invention is characterized in that the recess is formed so as to gradually become shallower from the cutout side toward the recess.
また、本発明の電子部品収納用パッケージは、前記メタライズ層の外周縁が、前記絶縁基体の上面の外周縁より内側に位置しており、かつ、前記メタライズ層の内周側が、前記絶縁基体の凹部の内側面に延出されていることを特徴とするものである。 In the electronic component storage package according to the present invention, the outer peripheral edge of the metallized layer is located inside the outer peripheral edge of the upper surface of the insulating base, and the inner peripheral side of the metalized layer is the insulating base. It is characterized by extending to the inner surface of the recess.
また、本発明の電子部品収納用パッケージは、上面が長方形状である前記絶縁基体に形成された前記メタライズ層の上面に金属枠体が接合されており、前記絶縁基体の短辺側において、前記金属枠体の内周縁が前記凹部の内側に位置していることを特徴とするものである。 In the electronic component storage package of the present invention, a metal frame is bonded to the upper surface of the metallized layer formed on the insulating base having an upper surface that is rectangular, and on the short side of the insulating base, The inner periphery of the metal frame is located inside the recess.
本発明の電子装置は、本発明の電子部品収納用パッケージと、該電子部品収納用パッケージの前記凹部に収容された電子部品と、前記電子部品収納用パッケージの前記メタライズ層上にろう材を介して接合された蓋体とを備え、前記ろう材は、前記メタライズ層の前記窪み部において、前記メタライズ層の前記窪み部以外の部位より厚く設けられていることを特徴とするものである。 The electronic device of the present invention includes an electronic component storage package of the present invention, an electronic component stored in the recess of the electronic component storage package, and a brazing material on the metallized layer of the electronic component storage package. The brazing material is characterized in that the brazing material is provided thicker in the hollow portion of the metallized layer than in the portion other than the hollow portion of the metallized layer.
また、本発明の電子装置は、本発明の電子部品収納用パッケージと、該電子部品収納用パッケージの前記凹部に収容された電子部品と、電子部品収納用パッケージの前記金属枠体上に接合された蓋体とを備えていることを特徴とするものである。 The electronic device of the present invention is bonded to the electronic component storage package of the present invention, the electronic component stored in the recess of the electronic component storage package, and the metal frame of the electronic component storage package. And a lid.
本発明の電子部品収納用パッケージは、絶縁基体の角部から切欠き部にかけてメタライズ層の表面に窪み部が形成されていることにより、例えばろう材を介して絶縁基体に蓋体が接合される際に、熱応力が集中してクラックの起点となりやすい部位からクラックが進行する方向にかけて、その熱応力を窪み部にあるろう材の溜まりによって効果的に緩和させることができ、熱応力により絶縁基体にクラックが発生する可能性を低減させることができる。 In the electronic component storage package of the present invention, the recess is formed on the surface of the metallized layer from the corner portion to the notch portion of the insulating base, so that the lid is joined to the insulating base via, for example, a brazing material. In this case, the thermal stress can be effectively relieved by the accumulation of the brazing material in the recessed portion from the portion where the thermal stress is concentrated and tends to be the starting point of the crack to the direction in which the crack progresses. This can reduce the possibility of cracks.
また、本発明の電子部品収納用パッケージは、窪み部が、切欠き部側から凹部側に向かって漸次浅くなるように形成されていることにより、メタライズ層に蓋体が接合される際に、切欠き部の近傍に集中する熱応力を、切欠き部側から凹部側に向かって漸次浅くなるように形成されている窪み部に形成されるろう材の溜まりにより効果的に緩和させることができ、絶縁基体にクラックが発生する可能性をさらに低減させることが可能となる。 In addition, the electronic component storage package of the present invention is formed so that the recessed portion gradually becomes shallower from the notch portion side toward the recessed portion side, so that when the lid is bonded to the metallized layer, Thermal stress concentrated in the vicinity of the notch can be effectively mitigated by the accumulation of brazing material formed in the recess formed so as to gradually become shallower from the notch to the recess. Further, it is possible to further reduce the possibility of cracks occurring in the insulating substrate.
また、本発明の電子部品収納用パッケージは、メタライズ層の外周縁が、絶縁基体の上面の外周縁より内側に位置しており、かつ、メタライズ層の内周側が、絶縁基体の凹部の内側面に延出されていることにより、絶縁基体の表面にメタライズ層を強固に被着させることができるとともに、凹部の内側面に延出されているメタライズ層の内周側に形成されるろう材のフィレットにより、メタライズ層と金属枠体強固に接合させることができる。 In the electronic component storage package of the present invention, the outer peripheral edge of the metallized layer is located inside the outer peripheral edge of the upper surface of the insulating substrate, and the inner peripheral side of the metalized layer is the inner surface of the recess of the insulating substrate. The metallization layer can be firmly attached to the surface of the insulating base, and the brazing material formed on the inner peripheral side of the metallization layer that extends to the inner side surface of the recess. With the fillet, the metallized layer and the metal frame can be firmly bonded.
また、本発明の電子部品収納用パッケージは、上面が長方形状である絶縁基体に形成されたメタライズ層の上面に金属枠体が接合されており、絶縁基体の短辺側において、金属枠体の内周縁が凹部の内側に位置していることにより、金属枠体に蓋体をシーム溶接等の溶接法により接合させる際に、蓋体の長辺方向の長さを絶縁基体の長辺方向の長さと比較して短くし、蓋体の長辺方向の熱膨張収縮による膨張収縮幅を比較的小さくすることができ、蓋体の長辺方向における熱応力をより効果的に緩和して、気密封止性および信頼性をさらに向上させることができる。 In the electronic component storage package of the present invention, the metal frame is bonded to the upper surface of the metallized layer formed on the insulating base having a rectangular upper surface, and on the short side of the insulating base, When the inner peripheral edge is located inside the recess, when the lid is joined to the metal frame by a welding method such as seam welding, the length of the long side of the lid is set to the length of the insulating base. The expansion and contraction width due to the thermal expansion and contraction in the long side direction of the lid can be made relatively small compared to the length, and the thermal stress in the long side direction of the lid can be relaxed more effectively, The hermeticity and reliability can be further improved.
本発明の電子装置は、本発明の電子部品収納用パッケージと、電子部品収納用パッケージの凹部に収容された電子部品とを備えていることにより、信頼性の向上を図ることができる。 The electronic device of the present invention includes the electronic component storage package of the present invention and the electronic component stored in the recess of the electronic component storage package, thereby improving reliability.
本発明の電子部品収納用パッケージについて添付の図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明の電子部品収納用パッケージの構造を示す斜視図である。本発明の電子部品収納用パッケージは、絶縁基体101と、絶縁基体101の上面に形成されたメタライズ層103とを備えている。
The electronic component storage package of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view showing the structure of an electronic component storage package according to the present invention. The electronic component storage package of the present invention includes an
絶縁基体101の側面には、複数の切欠き部102(キャスタレーション)が形成されている。図1に示した電子部品収納用パッケージにおいて、切欠き部102は、上面が四角形状の絶縁基体101の長辺側の側面にそれぞれ2つ形成されている。切欠き部102は、絶縁基体101の側面の上端および下端に達するように設けられている。また、切欠き部102の内面には、接続パッド106と電気的に接続された導体層が被着されており、この導体層を介して電子部品の電極と外部回路基板の配線導体とが電気的に接続される。
A plurality of notches 102 (castellation) are formed on the side surface of the
また、導体層は、電子部品のメモリーに記憶された内容を書き換えるためのデータ書換え端子として用いられる場合もある。この場合、凹部104内に、半導体素子の上側または下側に水晶振動子を搭載することにより、水晶振動子の振動特性や電子装置の使用環境等に対応させて温度補償を行なう温度補償型の水晶発信器を実現することができる。
Further, the conductor layer may be used as a data rewrite terminal for rewriting the contents stored in the memory of the electronic component. In this case, a temperature-compensating type that performs temperature compensation in accordance with the vibration characteristics of the crystal resonator, the use environment of the electronic device, and the like by mounting a crystal resonator in the
また、絶縁基体101の上面には、部分的に窪み部103が形成されている。すなわち、絶縁基体101は、上面の高さ位置が部分的に異なるように形成されている。図1に示した電子部品収納用パッケージにおいては、絶縁基体101の上面の角部から切欠き部102にかけて、絶縁基体101の上面の他の部位に比べて高さ位置が低い部位(窪み部103)が形成されている。窪み部103は、切欠き部102にかかるように形成されている。
A
また、絶縁基体101には、上面側に開口された凹部104を有している。図1,2に示すように、凹部104には、電子部品が搭載される領域(搭載領域107)と、電子部品の電極が電気的に接続される接続パッド106とが形成されている。図2は、図1に示した電子部品収納用パッケージの平面図である。
Further, the
図1,2に示した例においては、搭載領域107を挟むようにして段差部108が形成されており、段差部108の上面に接続パッド106が形成されている。段差部108は、凹部104に搭載される電子部品の厚み程度の高さで形成されているとよい。接続パッド106は、タングステン、モリブデン、マンガン、銅、銀等の金属材料からなる。
In the example shown in FIGS. 1 and 2, a
このような構造において、電子部品の電極と接続パッド106とはボンディングワイヤを介して電気的に接続される。電子部品が表面実装型であれば、電子部品の電極と接続パッド106とは、半田等の接合部材を介して電気的に接続される。なお、凹部104に搭載される電子部品は、例えば、半導体集積回路素子や光半導体素子等の半導体素子、水晶振動子や弾性表面波素子等の圧電素子、容量素子等である。
In such a structure, the electrode of the electronic component and the
また、図3に示すように、絶縁基体101の上面には、金属層(メタライズ層)105が形成されている。ここで、図3は、図2に示した電子部品収納用パッケージのX−X’線における断面図である。メタライズ層105は、窪み部103上と窪み部103以外の領域上とに形成されている。なお、図1〜3に示した例では、メタライズ層105が均一な厚さで設けられており、メタライズ層105の表面は、絶縁基体101の角部から切欠き部102にかけて高さ位置が低くなっている。すなわち、メタライズ層105の表面において、絶縁基体101の角部から切欠き部102にかけて窪み部103が形成されている。メタライズ層103は、厚みが10〜30μm程度、各辺の幅が0.2〜0.5mm程度である。
Further, as shown in FIG. 3, a metal layer (metallized layer) 105 is formed on the upper surface of the
なお、絶縁基体101は、酸化アルミニウム質焼結体(アルミナセラミックス)、窒化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、ガラスセラミックス等のセラミックスや樹脂等から成り、例えば一辺の長さが3〜20mm程度で厚みが1〜5mm程度の直方体状である。
The insulating
切欠き部102の導体層、メタライズ層105および接続パッド106の露出表面には、酸化腐食を防止するとともに、ボンディング性を向上させるために、例えば1〜10μm程度の厚みのニッケルめっき層と0.1〜3μm程度の厚みの金めっき層とが順次被着されているとよい。
The exposed surfaces of the conductor layer of the
次に、本発明の電子部品収納用パッケージの製造方法について説明する。なお、ここでは、絶縁基体101が酸化アルミニウム質焼結体からなる場合について説明する。
Next, the manufacturing method of the electronic component storage package of this invention is demonstrated. Here, the case where the insulating
まず、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシウム、酸化カルシウム等の原料粉末に適当な有機バンイダ、溶剤、可塑剤等を添加混合して泥漿状となし、これをドクタブレード法やカレンダーロール法等によりシート状に成形して複数枚のセラミックグリーンシートを得る。 First, an appropriate organic binder, solvent, plasticizer, etc. are added to and mixed with raw material powders such as aluminum oxide, silicon oxide, magnesium oxide, and calcium oxide to form a slurry, which is formed by a doctor blade method or a calendar roll method. To obtain a plurality of ceramic green sheets.
そして、セラミックグリーンシートに打ち抜き加工を施す。また、金属粉末(例えば、タングステン粉末)に有機溶剤、バインダー等を添加および混練して準備された導電ペーストをセラミックグリーンシートの表面に所定パターン(メタライズ層105、接続パッド106のパターン)に印刷する。
Then, the ceramic green sheet is punched. Also, a conductive paste prepared by adding and kneading an organic solvent, a binder, etc. to metal powder (for example, tungsten powder) is printed in a predetermined pattern (pattern of metallized
次に、打ち抜き処理および印刷処理が施された複数のセラミックグリーンシートを積層して、上面に凹部104を有する積層体を作製する。また、切欠き部102の導体層となる導電ペーストを積層体の側面に印刷する。そして、この積層体を高温(約1600℃)で焼成する。
Next, a plurality of ceramic green sheets that have been subjected to the punching process and the printing process are stacked to produce a stacked body having a
なお、メタライズ層105、接続パッド106および切欠き部102の導体層の露出されている部位に、例えば1〜10μm程度の厚みのニッケルめっき層と0.1〜3μm程度の厚みの金めっき層とを順次被着しておくとよい。
It should be noted that, for example, a nickel plating layer having a thickness of about 1 to 10 μm and a gold plating layer having a thickness of about 0.1 to 3 μm are formed on the exposed portions of the conductor layer of the metallized
次に、本発明の電子装置の構造について説明する。図4は、本発明の電子装置の構造を示す斜視図であり、図5は、図4に示した電子装置の断面図である。本発明の電子装置は、絶縁基体101の凹部104に電子部品が収容され、絶縁基体101の上面に蓋体410が取着されている。蓋体410は、パッケージのメタライズ層105上にろう材411を介して接合されている。
Next, the structure of the electronic device of the present invention will be described. 4 is a perspective view showing the structure of the electronic device of the present invention, and FIG. 5 is a cross-sectional view of the electronic device shown in FIG. In the electronic device of the present invention, an electronic component is accommodated in the
ここで、本発明の電子装置において、ろう材411は、メタライズ層105の窪み部103において、メタライズ層105の窪み部103以外の部位より厚く設けられている。すなわち、本発明において、パッケージのメタライズ層105の表面が、絶縁基体101の角部から切欠き部にかけて高さ位置が低くなっていることにより、メタライズ層105と蓋体410との間に設けられるろう材411の量が、絶縁基体101の角部から切欠き部にかけて他の部位よりも多くなる。
Here, in the electronic device according to the present invention, the
なお、蓋体410は、鉄−ニッケル合金板や鉄−ニッケル−コバルト合金板等から成り、厚みが0.1〜0.3mm程度の平板である。蓋体410の下面には、ニッケルめっき層が10〜30μm程度の厚みに被着されている。
The
本発明の電子部品収納用パッケージは、絶縁基体101の角部から切欠き部102にかけてメタライズ層105の表面に窪み部103が形成されていることにより、メタライズ層105上にろう材を介して蓋体410を接合する際に、絶縁基体101にクラックが発生する可能性を低減させることができる。
In the electronic component storage package of the present invention, the
すなわち、本発明の電子部品収納用パッケージは、このような構造により、ろう材を介して蓋体410を絶縁基体101に接合する際に、熱応力が集中してクラックの起点となりやすい部位からクラックが進行する方向にかけて、その熱応力を窪み部105に設けられているろう材の溜まりによって効果的に緩和することができ、熱応力により絶縁基体101にクラックが発生する可能性を低減させることができる。そして、気密封止性に優れた電子部品収納用パッケージを提供することができる。
In other words, the electronic component storage package of the present invention has such a structure that when the
次に、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第2の実施の形態について説明する。図6は、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第2の実施の形態の構造を示す斜視図である。本実施の形態において、蓋体410は金属枠体620上に接合されている。他の構成については、図1〜5に示した電子部品収納用パッケージおよび電子装置と同様である。
Next, a second embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention will be described. FIG. 6 is a perspective view showing the structure of the second embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention. In the present embodiment,
ここで、金属枠体620は、鉄−ニッケル合金板や鉄−ニッケル−コバルト合金板等から成り、厚みが0.1〜0.3mm程度の枠板である。また、金属枠体620の下面の全面には、銀−銅共晶ろう等のろう材411が20〜40μm程度の厚みに被着されている。そして、絶縁基体101のメタライズ層105にろう材110を介して熱処理で接合されることにより絶縁基体101のメタライズ層103の上面に接合される。
Here, the
なお、このような金属枠体620を介した封止方法の場合、金属枠体620および金属からなる蓋体410の表面には、予めニッケルめっき層が被着されており、シーム溶接の熱によりニッケルめっき層の一部や蓋体410の下面に圧延されたろう材411等を溶融させることによって金属枠体620と蓋体410とが溶接される。
In the case of such a sealing method via the
本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、絶縁基体101に蓋体410をシーム溶接する際に、絶縁基体101にクラックが生じる可能性を低減させることができる。すなわち、金属製の蓋体410を金属枠体620にシーム溶接する際に、蓋体410の温度が低下して熱収縮を開始し、硬化したニッケルめっき層の溶接部分(金属枠体620の表面と蓋体410が接する外周部)からメタライズ層105を内側へ引っ張る熱応力が発生したとしても、この熱応力が窪み部103に設けられたろう材411の溜まりによって効果的に緩和される。
The electronic component storage package and the electronic device according to the present embodiment can reduce the possibility of cracks occurring in the insulating
次に、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第3の実施の形態について説明する。図7は、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第3の実施の形態の構造を示す断面図である。本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、メタライズ層105の窪み部103が、切欠き部102側から凹部104側に向かって漸次浅くなるように形成されている。その他の構成については、図1〜5に示した電子部品収納用パッケージおよび電子装置と同様である。
Next, a third embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention will be described. FIG. 7 is a cross-sectional view showing the structure of the third embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention. In the electronic component storage package and the electronic device according to the present embodiment, the
本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、このような構成により、蓋体410をメタライズ層105にシーム溶接する際に、切欠き部102の近傍に集中する傾向にある熱応力を、切欠き部102側から凹部104側に向かって漸次浅くなるように形成されている窪み部103に形成されたろう材411の溜まりにより効果的に緩和することができる。よって、絶縁基体101にクラックが発生する可能性をさらに低減させることができる。
With such a configuration, the electronic component storage package and the electronic device according to the present exemplary embodiment have a thermal stress that tends to concentrate in the vicinity of the
また、本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、このような構成により、熱応力の小さい凹部104側で蓋体410と絶縁基体101との間の隙間を漸次小さくして気密性を高めることができる。さらに、メタライズ層105の窪み部103に位置するろう材411が厚く形成されるため、シーム溶接時の熱を絶縁基体101に伝え難くすることができ、絶縁基体101に熱衝撃による割れやクラックが発生する可能性をさらに低減させることができる。
In addition, the electronic component storage package and the electronic device according to the present embodiment have an airtightness by gradually reducing the gap between the
ここで、メタライズ層105の窪み部103は、例えば、加圧後に絶縁基体101の表面が切欠き部102側から凹部104側に向かって漸次浅くなるように形成された加圧ヘッドにより絶縁基体101の表面を加圧する方法、若しくは、絶縁基体101の表面に、切欠き部102側から凹部104側に向かって漸次浅くなるようにセラミックペーストを印刷する方法等により形成することができる。
Here, the
次に、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第4の実施の形態について説明する。図8は、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第4の実施の形態の構造を示す断面図である。本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、メタライズ層105の外周縁が、絶縁基体101の上面の外周縁より内側に位置しており、かつ、メタライズ層105の内周側が、絶縁基体101の凹部104の内側面に延出されている。その他の構成については、図1〜5に示した電子部品収納用パッケージおよび電子装置と同様である。
Next, a fourth embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention will be described. FIG. 8 is a cross-sectional view showing the structure of a fourth embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention. In the electronic component storage package and the electronic device according to the present embodiment, the outer peripheral edge of the metallized
本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、このような構成により、絶縁基体101の表面にメタライズ層105を強固に被着させることができる。また、メタライズ層105上に金属枠体を設ける場合には、凹部104の内側面に延出されているメタライズ層105の内周側に形成されるろう材411のフィレットにより、メタライズ層105と金属枠体108とを広面積に接合させて、蓋体410をより強固に絶縁基体101に接合することができる。
With such a configuration, the electronic component storage package and the electronic device according to the present embodiment can firmly adhere the metallized
次に、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第5の実施の形態について説明する。図9は、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置の第5の実施の形態の構造を示す断面図である。本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、上面が長方形状である絶縁基体101に形成されたメタライズ層103の上面に金属枠体920が接合されており、絶縁基体101の短辺側において、金属枠体920の内周縁が凹部104の内側に位置しているように形成されている。その他の構成については、図1〜5に示した電子部品収納用パッケージおよび電子装置と同様である。
Next, a fifth embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention will be described. FIG. 9 is a cross-sectional view showing the structure of the fifth embodiment of the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention. In the electronic component storage package and the electronic device according to the present embodiment, the
本実施の形態における電子部品収納用パッケージおよび電子装置は、このような構成により、水晶振動子等の長方形状の電子部品が収容される場合に、金属製の蓋体410の長辺方向の長さを絶縁基体101の長辺方向の長さと比較して短くすることができ、蓋体410の長辺方向の熱膨張収縮による膨張収縮幅を比較的小さくすることができることから、蓋体410の長辺方向における熱応力をより効果的に緩和して、気密封止性および信頼性をさらに向上させることができる。
With this configuration, the electronic component storage package and the electronic device according to the present embodiment have a length in the long side direction of the
なお、本発明の電子部品収納用パッケージおよび電子装置において、窪み部103の深さは、窪み部103が形成されない他のメタライズ層105の部位よりも10〜20μm程度低く形成されていることが望ましい。メタライズ層105上にろう材411の厚みは、通常20〜40μm程度であり、このろう材411がメタライズ層105に広がって接合されるため、窪み部105はその深さが10〜20μm程度となるように形成されている。
In the electronic component storage package and the electronic device according to the present invention, it is desirable that the depth of the recessed
なお、窪み部103は、その深さが10μm未満であると、蓋体410をメタライズ層105上にシーム溶接する際に発生する熱応力が切欠き部102の周囲に集中することを抑制する効果が低下してしまい、メタライズ層105が絶縁基体101の上面から剥離したり、絶縁基体101の側面にクラックが発生したりする可能性が高くなる。
In addition, if the depth of the
また、窪み部105は、その深さが20μm以上であると、電子部品が収容されている凹部104内に余分なろう材411が流れ出してしまい、電気的短絡が発生する可能性が高くなる。
Further, when the depth of the
101・・・・・絶縁基体
102・・・・・切欠き部
103・・・・・窪み部
104・・・・・凹部
105・・・・・メタライズ層
106・・・・・接続パッド
DESCRIPTION OF
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JP2014049562A (en) * | 2012-08-30 | 2014-03-17 | Kyocera Corp | Package for housing electronic element, and electronic device |
JP2017045842A (en) * | 2015-08-26 | 2017-03-02 | 京セラ株式会社 | Package for housing semiconductor element and semiconductor device |
-
2005
- 2005-02-24 JP JP2005049807A patent/JP2006237274A/en active Pending
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