JP2006173562A - アンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子及びその画像生成装置並びに情報中継装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 下部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡と、上部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡との一対で構成される共振器と、その下部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡と上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡との間に配置された活性層とを備えた面発光レーザ素子において、活性層を、アンチモン系半導体を用いた量子ドットで構成する。電極の接続されたGaAs半導体基板に、下部GaAs半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡を積層し、活性層のアンチモン系半導体としては、InGaSbを用い、上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡としては、電極の接続されたAlAsまたはAlGaAsを用いてもよい。
【選択図】 図1
Description
それに対して、面発光レーザ素子(Vertical Cavity Surface Emitting Laser、Surface Emitting Laser)は、半導体基板に垂直に光を出射するので、劈開する工程が不要であり、シンプルな製作工程で得られる。
光共振器としては、2枚の反射鏡を向かい合わせたファブリ・ペロー共振器が一般的であるが、面発光レーザでは、分布ブラッグ反射鏡(Distributed Bragg Reflector)を用いることが多い。
分布ブラッグ反射鏡は、1/4波長の厚みをもつ屈折率の異なる層を積み重ねて構成される。薄膜材料を周期構造にすることによって光を干渉させ、ブラッグ反射により各層での反射波を強め合わせて、高い反射率を得るようにしている。
例えば、GaAs系では、GaAsとAlAsの材料などが用いられ、30対程度の層数が用いられる。
量子ドット構造は、直径が数ナノメートルから数十ナノメートル程度の人工的な微小半導体で構成される。ここに閉じ込められた電子は、量子ドットの大きさによって性質が変わるので、人工的に電子の特徴を制御することができる。レーザの発光部分に量子ドットを入れると、消費電力の省力化や発光波長の揺らぎの低減にもつながる利点がある。
また、レーザの直径を1ミクロン〜数ミクロンの大きさにできるので、ビームの広がりが小さく、他の光学デバイスとの結合性が良好で、2次元配列も容易であり、光伝送や光インターコネクションのアレイ光源としても期待されている。
近年、10Gbpsを超える光伝送速度を持つシステムとして、波長分割多重(WDM)通信が注目され研究開発が行われている。伝送速度10Gbpsのファーストギガビットイーサとして4波長のWDM通信が提案され、将来的には更に波長分割数を増やしたシステムが必要とされる。このような波長分割多重通信では、微少な波長間隔で発振波長を制御する必要があり、波長可変機構を有する面発光レーザも求められている。
しかし、光通信波長帯である1.3〜1.55ミクロンにおいては、依然として研究途上である。
電流注入の場合には、電極の接続されたGaAs半導体基板に、下部GaAs半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡を積層してもよい。
下部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡と上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡との間のキャビティの光学距離を、所望発振波長÷材料の屈折率の整数倍として、その所望波長で発振するようにしてもよい。
図1は、GaAs中に埋め込まれたInGaSb量子ドットのPL発光スペクトルであり、2つのInGaSb量子ドットの表面原子間力顕微鏡像を併せて示してある。図では、活性層の積層面の方位に相当する面を、InGaSb量子ドットの直交する[110]及び[1−10]方向に設定している。
面発光レーザの活性層の量子ドットにアンチモン系半導体化合物を用いた例として、InGaSb量子ドットをあげた。GaAs中に埋め込まれたInGaSb量子ドットは、図示のように、1.3から1.55ミクロン帯で発光することが示される。
なお、Siを照射することによって、量子ドットを高密度化できると共に、発光強度を上げることができる。
半導体基板の上に、下部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡、活性層、上部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡が順に積層され、半導体基板と上部半導体多層膜は、電極に接続される。
電流が導通されることによって、下部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡と、上部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡とは共振器として作用し、干渉によって得られたレーザ光が、上部半導体多層膜から垂直に出射される。
下部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡にもGaAsを用い、上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡にはAlGaAsを用いた。上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡はAlAsでもよい。
活性層のアンチモン系半導体としては、InGaSbが有用に利用できる。
これによって、従来利用されなかったアンチモンという材料が、面発光レーザの長波長化に有効であることが示された。
図4は、そのタイプの面発光レーザ素子を例示する断面説明図であり、図5は、その発光スペクトル図である。
活性層が、AlGaSbやAlGaAsSbなどのSb系III-V族半導体材料に埋め込まれ、格子歪の緩和を受けた量子ドットで構成されている。AlGaSbのAlとGaの組成を変化させることによって、発光波長を1.3から1.7ミクロンの間で変化させることができる。
InAsとGaAsの材料の格子定数(InAs:0.605nm, GaAs:0.565nm)が7%程度異なることにより、GaAs中に埋め込んだときにInAs量子ドットへ圧縮歪が印加されるため、発光波長が短波長化したことによると考えられている。アンチモン系化合物はGaAsの格子定数よりも大きいために、InAs量子ドットをアンチモン系半導体化合物で覆うことによって、量子ドットにかかる歪を緩和することできる。
つまり、量子ドットにアンチモン系化合物を用いた場合と、量子ドットの周囲にアンチモン系化合物を用いた場合は、ともに量子ドットからの通信波長1.3から1.55ミクロン帯の発光を実現することが可能である。ゆえに波長1.3から1.55ミクロン帯で動作する通信用面発光レーザ用の活性層材料として、これらのアンチモン材料と量子ドットの組み合わせは非常に有効である。
図6は、その光励起式の面発光レーザ素子の基本構造を示す断面説明図と、その光学配置を示す説明図である。
誘電体多層膜は、SiO2/TiO2をはじめとした屈折率の異なる誘電体材料の組みが利用できる。
量子ドットからの発光は、上部の誘電体多層膜反射鏡と下部の半導体多層膜反射鏡の間で閉じ込められる。
図7に、その発光特性を示す。励起光強度の増加にともない発光波長1.255ミクロンの発光強度は閾値をもつことがわかった。また、その閾値励起光強度で発光スペクトルの半値幅(FWHM)が減少することがわかり、光励起による面発光レーザの発振が観測された。
以上の結果より、反射鏡の一部を誘電体膜として、外部光照射による量子ドット活性層の励起によって、通信波長帯で動作する面発光レーザの実現性が確認された。
本実施例では、InGaSb量子ドット活性層を、SiO2/Ta2O5から成る誘電体多層膜で挟み、キャビティ長を所望発振波長1.55ミクロンの半分に調整した。1.55ミクロン帯のレーザはアイセーフな光として利用可能である。
これに対し、上部から励起光を量子ドット活性層に照射したところ、図9に示すように、1.55ミクロン帯での発振が確認された。そのレーザ発振は、直線偏光であり、偏光方向が量子ドットの[1−10]方向であった。
活性層の積層面における量子ドットの大きさはSiの照射によって漸減し、直交する[110]と[1−10]の方向のうち、[1−10]方向に長い略楕円状の形状となった。
このように、活性層の積層面における量子ドットの形状を非等方形状にして、その非等方的な方位に応じて、発振するレーザの偏光方向を制御してもよい。
例えば、キャビティ長を1.3ミクロン÷材料の屈折率の整数倍とすると、波長1.3ミクロンで発振する面発光レーザを作製できる。
図11は、キャビティ長λ0に合わせて、透過スペクトルに共鳴ディップが現れ、その共鳴波長でレーザ発振が起こることを示している。
その場合、素子のキャビティ長が異なれば、その複数のキャビティ長に応じて異なる波長で発振する多波長発振素子を形成できる。
例えば、InGaSb量子ドットの場合には、発光スペクトルが、図1に示したように非常にブロードである。InGaSb量子ドットをキャビティ内に組み込んだ活性層を用いることで、さまざまな発振波長を同時に出力する面発光レーザを作製することができる。
図12は、異なるキャビティ長(λ0,λ1,λ2)のそれぞれに応じて、異なる波長のレーザ発振が起こる様子を示す説明図である。
すると、その変調信号を2次元画像情報として生成する画像生成装置や、変調信号を2次元画像情報として情報を中継する情報中継装置を形成できる。例えば、ディスプレイの一部に、その2次元画像情報を窓表示して提示し、それを別のCCDカメラ等の画像入力装置で撮像するような構成にすることで、2次元画像情報が中継される。このとき中継される経路は光ファイバ中でも良いし、空間中でもよい。このように、本発明は、単なるレーザ発振装置以外にも、多様な用途に利用可能である。
これによると、電流もしくは光励起によって、量子ドット内に電子と正孔の対、つまり励起子を1つ形成することができる。この励起子が量子ドット内で再結合すると、1個の光子が放出される。
また、上下を反射鏡ではさまれた面発光レーザと同構造とすることで、面内への光の取り出し効率を向上させることができる。ゆえに、アンチモン材料と量子ドットを組み合わせた活性層、さらに面発光レーザと同様の素子構造により、通信波長用の単一光子源が得られる。
Claims (20)
- 下部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡と、上部半導体多層膜から成る分布ブラッグ反射鏡との一対で構成される共振器と、その下部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡と上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡との間に配置された活性層とを備え、光通信波長を発振する面発光レーザ素子において、
活性層を、アンチモン系半導体を用いた量子ドットで構成する
ことを特徴とするアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 活性層のアンチモン系半導体が、GaAs中に埋め込まれたInGaSbの量子ドットである
請求項1に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 活性層のアンチモン系半導体が、Sb系III-V族半導体材料中に埋め込まれ、格子歪の緩和を受けたInAs量子ドットである
請求項1に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 活性層の積層面における量子ドットの形状が非等方形状であり、その非等方的な方位に応じて、発振されるレーザの偏光方向が制御される
請求項1ないし3に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 活性層の積層面におけるアンチモン系量子ドットの形状が[1−10]方向に長い略楕円形状であり、その方位に偏向された直線偏光を発振する
請求項4に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 電極の接続されたGaAs半導体基板に、下部GaAs半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡を積層した
請求項1ないし5に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡が、電極の接続されたAlAsである
請求項1ないし6に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡が、電極の接続されたAlGaAsである
請求項1ないし6に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 下部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡と上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡の一方または両方が、誘電体多層膜であり、
多層膜分布ブラッグ反射鏡に、活性層を励起する外部光の照射手段が備わる
請求項1に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 誘電体多層膜が、屈折率の異なる誘電体材料の組みで構成される
請求項9に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 活性層が、量子ドットを1個から数個だけ含むピラー構造であり、
電流または光励起によって量子ドット内に生成する電子と正孔の対が、量子ドット内で再結合する際に生じる発光を、単一光子源として供する
請求項1ないし10に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 下部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡と上部半導体多層膜分布ブラッグ反射鏡との間のキャビティの光学距離を、所望発振波長÷材料の屈折率の整数倍として、その所望波長で発振する
請求項1ないし11に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 請求項1ないし12の光通信波長用面発光レーザ素子が、複数並列されて、素子構造体を形成する光通信波長用面発光レーザ素子。
- キャビティの光学距離が異なる素子を有して、多波長発振する
請求項13に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 素子の間隔が、互いに干渉しない間隔(発振波長の約1/4〜1/2程度)で密に配置された
請求項13または14に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 素子が2次元的に配置され、各素子を信号変調して出力する
請求項13ないし15に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - レーザ素子から出力される信号経路が光ファイバ内である
請求項1ないし16に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - レーザ素子から出力される信号経路が自由空間内である
請求項1ないし16に記載のアンチモン系材料を用いた光通信波長用面発光レーザ素子。 - 変調信号を2次元画像情報として生成する
請求項16ないし18に記載の光通信波長用面発光レーザ素子による画像生成装置。 - 変調信号を2次元画像情報として情報を中継する
請求項16ないし18に記載の光通信波長用面発光レーザ素子による情報中継装置。
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