JP2006170335A - Ctスキャナ装置用玉軸受及びctスキャナ装置 - Google Patents
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Abstract
【選択図】 図2
Description
従って、被検体の周囲を回転するCTスキャナ装置の回転部材を支持する転がり軸受についても、上述した高速化、低振動・低騒音化の他に、省スペース化、高剛性(特に高モーメント剛性)化及び低価格化が要求されている。
従来、CTスキャナ装置の回転部材を支持する転がり軸受としては、高速性や低振動・低騒音化及びがたつきをなくすこと等の要求に対して、標準の単列深溝玉軸受ではその機能を満足できないため、以下に示す2列組合せアンギュラ玉軸受(例えば特許文献1及び特許文献2参照)や4点接触玉軸受(例えば特許文献3及び特許文献4参照)が用いられている。
図25は、内輪7と外輪8との間に複数の玉9が転動可能に配設されたアンギュラ玉軸受等を2列に組合わせている。また、CTスキャナ装置用の転がり軸受として、軸受に発生するモーメント荷重を受けた時の軸受のがたつきを抑制するために組合せ方向は背面組合せ(接触角がハの字となり、モーメントの作用点間距離が長くなる組合せ)とし、高モーメント剛性化を図っている。更に、軸受に予圧をかけ、がたつきを無くしている。
しかし、2列組合わせ玉軸受の場合、単列軸受の2倍の軸方向スペースが必要となり、装置の大型化により検査時に人に圧迫感を与えてしまい、また、装置全体の高コスト化を招く。
4点接触玉軸受は、図27に示すように、内輪4と外輪5との間に多数の玉6が転動自在に配設されており、一つの軸受でラジアル荷重と両方向のアキシャル荷重、モーメント荷重を受けられ、また省スペース化が可能である。
4点接触玉軸受の場合、転動体が玉なので、純アキシャル荷重を受ける場合、又はラジアル荷重よりアキシャル荷重が優勢な場合、同寸法のアンギュラ玉軸受とトルクは略同等であるが、アキシャル荷重に対してラジアル荷重が優勢な場合、又は純ラジアル荷重を受ける場合、各玉6は軌道溝4a,5aと4点で接触するため玉6と各軌道溝4a,5aとのスピン滑りが大きく、その結果、トルクが大きくなり発熱や摩耗等の問題が発生する。また、アンギュラ玉軸受と同様に、高精度化と高剛性化を図るために軸受に予圧をかけることが多いが、この場合、玉6が常に内外輪軌道溝4a,5aと4点で接触するため、トルクがさらに増加し、高速化を妨げると共に発熱や摩耗の問題が顕著化する。
軸方向断面幅Bと半径方向断面高さHとの断面寸法比(B/H)が(B/H)<0.63であることを特徴とする。
前記回転部材を回転可能に支持する転がり軸受として、請求項1に記載したCTスキャナ装置用玉軸受を用いたことを特徴とする。
軸方向断面幅B2と半径方向断面高さH2との断面寸法比(B2/H2)が(B2/H2)<1.2であることを特徴とする。
前記回転部材を回転可能に支持する転がり軸受として、請求項3に記載したCTスキャナ装置用玉軸受を用いたことを特徴とする。
従って、本発明では、従来の極薄肉軸受で問題となる内外輪製作時の旋盤加工や研磨加工時の加工力による軸受変形を防止することができ、真円度や偏肉等の軸受精度を向上させることができる。
つまり、従来使用されている極薄肉玉軸受に比較して、極薄肉玉軸受の持つ省スペース化に加え、高精度化を両立させることが可能である。
したがって、これらの玉軸受の断面寸法比(B/H)の最大値1.17の約1/2倍、すなわち0.63未満に設定することで、従来の標準単列玉軸受で最も幅狭の玉軸受より幅狭で、且つ従来の標準単列玉軸受の軸方向スペース以内に、請求項1に係る玉軸受を2列組み合わせて配置することができる。
なお、単列玉軸受は、1列では、予圧をかけたりモーメント荷重を負荷することは困難であるが、2列以上の多列組合せとすることで、ラジアル荷重・アキシヤル荷重及びモーメント荷重を負荷することが可能となる。
さらに、幅寸法が従来の標準単列玉軸受の約半分となることで、玉径も従来の玉軸受の半分程度となるが、逆に1列あたりの玉数が増加し、軸受剛性は従来の玉軸受に対して増加する。また、CTスキャナ装置の回転部材の回転支持部に用いる場合においては、軸受サイズの割りには負荷荷重は比較的小さいので、玉径を小さくしたことにより軸受の負荷容量が低下しても転がり疲れ寿命時間が実用上で問題となることはない。
なお、本発明に係る幅狭玉軸受の適正な玉径は、シール等の装着有無により変化するが、剛性を増加させるため、極端に玉径を小さくすると、玉と内外輪の軌道溝との接触部間の面圧が増加し、耐圧痕性が低下するため、おおむね、軸受幅(B)又は(B2/2)の30%〜90%が望ましい。
さらに、荷重の方向や大きさに合わせて、必要に応じて、組合わせた各単列軸受の接触角、あるいは複列軸受の場合は各列間の接触角を変えても構わない。
さらには、内外輪軌道溝の曲率半径は、要求される剛性やトルク特性に応じて、51〜60%Da(Da:玉径)、好ましくは52〜56%Da、より好ましくは52〜54%Da程度とする。また、内外輪のそれぞれの軌道溝の曲率半径は同一でなくてもよいし、組み合される単列軸受間や複列軸受の各列間で異なってもよい。
回転部材13には、X線源としてのX線管球14と、該X線管球14から照射されたX線の透過線量を検出する高感度X線検出器15とが少なくとも一対互いに対向して設けられている。
本発明の第1の態様(請求項1に対応)の実施の形態の一例である単列玉軸受100は、図1に示すように、外輪101の軌道溝101aと内輪102の軌道溝102aとの間に多数の玉103が転動自在に配設され、被検体12の周囲を回転するCTスキャナ装置10の回転部材13の回転支持部に用いられる単列の総玉のアンギュラ玉軸受100において、軸方向断面幅Bと半径方向断面高さH(=(外輪外径D−内輪内径d)/2)との断面寸法比(B/H)を(B/H)<0.63としている。
ここで、この実施の形態では、図2に示すように、アンギュラ玉軸受100を2列背面組合せとし、78/900A(接触角30°)の2列組合せアンギュラ玉軸受と置き換える場合を例に採る。
なお、本実施形態では、玉103のピッチ円直径は次式(1)のとおりとしているが、軸受1列あたりの玉数を増やして更にモーメント剛性を増加させたい場合は、次式(2)を採用して、玉103のピッチ円直径を外輪側にずらして図3に示す構造としてもよいし、必要に応じて次式(3)を採用して逆に玉103のピツチ円直径を内輪102側にずらしてもよい(図示せず)。
玉のピッチ円直径=(内輪内径+外輪外径)/2 …(1)
玉のピッチ円直径>(内輪内径+外輪外径)/2 …(2)
玉のピッチ円直径<(内輪内径+外輪外径)/2 …(3)
軸方向の一方の端部に環状シール体104を装着したアンギュラ玉軸受100を2列組み合わせて機械等に取り付けた後(シール取り付け面を外側に向けて組み合わせる)は、軸受使用中に外部からの異物やごみ等の侵入及び封入グリースの外部への洩れを防止することが可能である。環状シール体104は、この実施の形態では、外輪101のシール溝104aに押し込んで挿入する非接触型(内輪102と非接触)で金属芯金105の補強タイプのゴムシール(例えばニトリルゴム・アクリルゴムやフッ素ゴム)106とし、組み合わせ端面と反対側のみ環状シール体104を装着して省スペース化を図っている。
軸方向の両端部に環状シール体104を装着したアンギュラ玉軸受100を機械等に取り付けた後は、軸受使用中に外部からの異物やごみ等の侵入を防止すると共に、軸受取扱い時や軸やハウジングヘの組込み時においても、異物やごみ等の侵入及び封入グリースの外部への洩れを防止することが可能となる。組み合わせについては、2列でモーメント剛性を増加させるためには、モーメントの作用点距離が大きくとれる背面組み合わせ(図2等で接触角がハの字の向きとなっている)を採用するのが望ましい。
また、本実施形態では、アンギュラ玉軸受としているが、深みぞ玉軸受等その他の玉軸受としてもよい。環状シール体は、図5及び図6で示した非接触型ではなく、接触型の金属芯金補強タイプのゴムシール(ゴム材質は、例えばニトリルゴム・アクリルゴムやフッ素ゴム)でもよいし、外輪101のシール溝に加締め加工する金属シールド板でもかまわない。また、環状シール体を内輪102側のシール溝に押し込んで挿入したり、又は加締め加工で取り付けるようにしてもよい(外輪と接触又は非接触する構造)。
図10は、軸方向の一方の端部(組合せ側端面と反対側の端部)に環状シール体104を装着し、且つ玉103を転動可能に保持する保持器110を備えたアンギュラ玉軸受100を2列背面組み合わせたものである。
保持器付きの軸受は、回転が1方向の連続回転や大きなモーメント荷重が加わる条件等、各玉の接触角の変化により、各玉の公転速度のばらつきが発生しやすい条件等で、総玉軸受を使用した場合の玉間の接触や玉つまりが生じやすい用途で低トルク、低発熱等の点で、より良い効果を発揮する。
保持器の形状は、本実施形態に限定されず、各玉103間に配置するセパレータタイプの保持器の他、いずれの方式でもよい。また、材料も合成樹脂材ではなく、金属材料でもかまわない。
また、図14(b)は図14(a)と基本構造は同様な冠形保持器であるが、円環部111の少なくとも円周方向の一箇所で互いに隣り合うポケット部113間を予め切断して、各切断面間に所定のすき間を持たせた構造としている。
この複列玉軸受200は、外輪201の複列軌道溝201a,201bと内輪202の複列軌道溝202a,202bとの間に多数の玉203が転動自在に配設され、被検体12の周囲を回転するCTスキャナ装置10の回転部材13の回転支持部に用いられる複列総玉アンギュラ玉軸受200であって、軸方向断面幅B2と半径方向断面高さH2(=(外輪外径D2−内輪内径d2)/2)との断面寸法比(B2/H2)が(B2/H2)<1.2とされており、玉ピッチ円直径が半径方向断面高さの中央に設定されている。
ここで、この実施の形態では、複列玉軸受200を78/900A(接触角30°)の2列組合せアンギュラ玉軸受に置き換えた場合を例に採る。
なお、図16は、モーメント剛性をあげるため、複列総玉アンギュラ玉軸受200で玉ピッチ円直径を外径側にずらした例であり、図17は、複列総玉アンギュラ玉軸受200で各列の玉径や玉ピッチ円直径を変えた例であり、図18は、軸方向の両端部に環状シール体104を装着した複列総玉アンギュラ玉軸受200で、モーメント剛性をあげるため、玉ピッチ円直径を外径側にずらした例である。
いずれの例の場合も、環状シール体、保持器等の構造や装着の有無の他、構造に関する適用例は、上記第1の態様の実施の形態で記載した単列玉軸受に準ずる。また、上記第1の態様の実施の形態と同様に、予圧及びすき間のいずれの条件で使用してもよい。
12 被検体
13 回転部材
14 X線管球(X線源)
15 X線検出器
100 単列玉軸受
101 外輪
101a 外輪軌道溝
102 内輪
102a 内輪軌道溝
103 玉
104 環状シール体
Claims (4)
- 外輪の軌道溝と内輪の軌道溝との間に多数の玉が転動自在に配設され、被検体の周囲を回転するCTスキャナ装置の回転部材の回転支持部に用いられる単列の玉軸受であって、 軸方向断面幅Bと半径方向断面高さHとの断面寸法比(B/H)が(B/H)<0.63であることを特徴とするCTスキャナ装置用玉軸受。
- 回転部材に取り付けられたX線源から発射されたX線の被検体透過線量をX線検出器で検出することにより、被検体の任意部位の断層を撮影するCTスキャナ装置であって、
前記回転部材を回転可能に支持する転がり軸受として、請求項1に記載したCTスキャナ装置用玉軸受を用いたことを特徴とするCTスキャナ装置。 - 外輪の複列軌道溝と内輪の複列軌道溝との間に多数の玉が転動自在に配設され、被検体の周囲を回転するCTスキャナ装置の回転部材の回転支持部に用いられる複列の玉軸受であって、
軸方向断面幅B2と半径方向断面高さH2との断面寸法比(B2/H2)が(B2/H2)<1.2であることを特徴とするCTスキャナ装置用玉軸受。 - 回転部材に取り付けられたX線源から発射されたX線の被検体透過線量をX線検出器で検出することにより、被検体の任意部位の断層を撮影するCTスキャナ装置であって、
前記回転部材を回転可能に支持する転がり軸受として、請求項3に記載したCTスキャナ装置用玉軸受を用いたことを特徴とするCTスキャナ装置。
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