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JP2006157780A - Amplifier circuit apparatus - Google Patents

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JP2006157780A
JP2006157780A JP2004348342A JP2004348342A JP2006157780A JP 2006157780 A JP2006157780 A JP 2006157780A JP 2004348342 A JP2004348342 A JP 2004348342A JP 2004348342 A JP2004348342 A JP 2004348342A JP 2006157780 A JP2006157780 A JP 2006157780A
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amplifier circuit
stage
nmos transistor
transistor
pmos transistor
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JP2004348342A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Hirabayashi
敦志 平林
Kenji Komori
健司 小森
Katsuyori Sato
克頼 佐藤
Yumiko Mito
由美子 水戸
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an amplifier circuit apparatus the gain of which is not varied due to variations in MOS transistors. <P>SOLUTION: Even number stages (k stages) of amplifier circuits 10, 20, ..., 40 each employing the MOS transistors are connected in series, an output terminal of the amplifier circuit 40 of the final stage is connected to an output terminal of the first stage amplifier circuit 10, an input terminal of the first stage amplifier circuit 10 is used for an input terminal 2 of the amplifier circuit apparatus 1, and an input terminal of the final stage amplifier circuit 40 (an output terminal of the amplifier circuit 30 at a stage just before the final stage) is used for an output terminal 3 of the amplifier circuit apparatus 1. In the case of k=2n=2, the input terminal of the final stage (second stage) amplifier circuit 40 becomes the output terminal of the first stage amplifier circuit 10. Let a voltage current conversion coefficient of the first stage amplifier circuit 10 be gm1 and a voltage current conversion coefficient of the final stage amplifier circuit 40 be gmk, then the whole gain G of the amplifier circuit apparatus 1 is determined only by a ratio of the grn1 to the grnk as expressed in an equation of G=-(gm1/gmk). <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は、MOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタを用いた増幅回路装置に関する。   The present invention relates to an amplifier circuit device using a MOS (Metal Oxide Semiconductor) transistor.

受信機における高周波信号の増幅用や、各種機器におけるアナログ信号の処理用の増幅回路としては、低消費電力化の観点や、簡単な構成で高利得が得られること、およびデジタル・アナログ混載のワンチップ化が容易であることなどから、CMOS(Complementary MOS)プロセスによるMOSトランジスタを用いた増幅回路が好適である。   As an amplifier circuit for amplifying high-frequency signals in receivers and processing analog signals in various devices, it is possible to obtain high gain with a low power consumption, simple configuration, and digital / analog mixed loading. An amplifier circuit using a MOS transistor by a CMOS (Complementary MOS) process is preferable because of easy chip formation.

このCMOS増幅回路は、従来一般に、図9に示すように、入力信号電圧Vinを、MOSトランジスタを用いた電圧電流変換器101によって出力信号電流iに変換し、負荷102の抵抗分(抵抗値)Rによって出力信号電圧Voutとして取り出す構成とされる。電圧源103は、出力バイアス用である。   In the conventional CMOS amplifier circuit, as shown in FIG. 9, an input signal voltage Vin is converted into an output signal current i by a voltage-current converter 101 using a MOS transistor, as shown in FIG. The output signal voltage Vout is extracted by R. The voltage source 103 is for output bias.

図9の構成では、電圧電流変換器101の電圧電流変換係数をgmとすると、出力信号電流iは、図10の式(21)で表されるものとなるので、出力信号電圧Voutは、図10の式(22)で表されるものとなり、増幅回路のゲインGは、図10の式(23)で表されるものとなる。   In the configuration of FIG. 9, when the voltage-current conversion coefficient of the voltage-current converter 101 is gm, the output signal current i is expressed by the equation (21) in FIG. 10 and the gain G of the amplifier circuit is expressed by the equation (23) in FIG.

したがって、電圧電流変換係数gmを制御することによって、ゲインGを制御することができ、可変利得増幅回路を実現することができる。   Therefore, the gain G can be controlled by controlling the voltage-current conversion coefficient gm, and a variable gain amplifier circuit can be realized.

さらに、MOSトランジスタを用いた可変利得増幅回路として、特許文献1(特開2003−168938号公報)には、図11に示すような、バイポーラトランジスタとMOSトランジスタを用いた増幅回路が示されている。   Furthermore, as a variable gain amplifier circuit using MOS transistors, Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2003-168938) discloses an amplifier circuit using bipolar transistors and MOS transistors as shown in FIG. .

図11の増幅回路では、NPNトランジスタ201および202のコレクタが、それぞれ抵抗203および204を介して電源219に接続され、NPNトランジスタ201および202のエミッタが、それぞれ抵抗205および206を介して接地され、NPNトランジスタ201および202のエミッタ間に、NMOSトランジスタ207のドレイン・ソースが接続され、制御電圧源208からの制御電圧Vagcが、抵抗209を介して、NMOSトランジスタ207のゲートに供給され、入力端子211および212からNPNトランジスタ201および202のベースに、差動入力信号Vin(+)およびVin(−)が供給され、NPNトランジスタ201および202のコレクタから出力端子213および214に、差動出力信号Vout(−)およびVout(+)が取り出される。   In the amplifier circuit of FIG. 11, the collectors of NPN transistors 201 and 202 are connected to a power supply 219 via resistors 203 and 204, respectively, and the emitters of NPN transistors 201 and 202 are grounded via resistors 205 and 206, respectively. The drain and source of the NMOS transistor 207 are connected between the emitters of the NPN transistors 201 and 202, and the control voltage Vagc from the control voltage source 208 is supplied to the gate of the NMOS transistor 207 via the resistor 209, and the input terminal 211 The differential input signals Vin (+) and Vin (−) are supplied from the NPN transistors 201 and 212 to the bases of the NPN transistors 201 and 202, and the differential outputs are output from the collectors of the NPN transistors 201 and 202 to the output terminals 213 and 214. No. Vout (-) and Vout (+) is taken out.

この増幅回路では、NMOSトランジスタ207の相互コンダクタンスをgm0、抵抗203,204の抵抗値をR1、抵抗205の抵抗値をR2、抵抗206の抵抗値をR3、抵抗209の抵抗値をR5とすると、ゲインGは、図12の式(31)で表されるものとなる。   In this amplifier circuit, when the mutual conductance of the NMOS transistor 207 is gm0, the resistance values of the resistors 203 and 204 are R1, the resistance value of the resistor 205 is R2, the resistance value of the resistor 206 is R3, and the resistance value of the resistor 209 is R5. The gain G is represented by the equation (31) in FIG.

したがって、制御電圧VagcによりNMOSトランジスタ207の相互コンダクタンスgm0を制御することによって、ゲインGを変化させることができる。   Therefore, the gain G can be changed by controlling the mutual conductance gm0 of the NMOS transistor 207 by the control voltage Vagc.

上に挙げた先行技術文献は、以下の通りである。
特開2003−168938号公報
The prior art documents listed above are as follows.
JP 2003-168938 A

上述したように、図9または図11に示した従来の増幅回路では、図10の式(23)または図12の式(31)で表されるように、ゲインGは、MOSトランジスタによる電圧電流変換係数gm、またはMOSトランジスタの相互コンダクタンスgm0の関数となり、gmまたはgm0によって、ゲインGを制御することができる。   As described above, in the conventional amplifier circuit shown in FIG. 9 or FIG. 11, the gain G is the voltage current generated by the MOS transistor as represented by the equation (23) in FIG. 10 or the equation (31) in FIG. It becomes a function of the conversion coefficient gm or the mutual conductance gm0 of the MOS transistor, and the gain G can be controlled by gm or gm0.

しかしながら、電圧電流変換係数gmおよび相互コンダクタンスgm0は、MOSトランジスタのばらつきによってばらつき、しかも、従来の増幅回路では、ゲインGが、このgmまたはgm0と、MOSトランジスタのばらつきとは無相関の抵抗分(抵抗値)とによって決定されるため、MOSトランジスタのばらつき、すなわちgmまたはgm0のばらつきが、そのままゲインGのばらつきとなり、増幅回路ごとにゲインGがばらついてしまう。   However, the voltage-current conversion coefficient gm and the mutual conductance gm0 vary depending on the variation of the MOS transistor, and in the conventional amplifier circuit, the gain G has a resistance component (correlation unrelated to the variation of the gm or gm0 and the MOS transistor) ( Therefore, the variation of the MOS transistor, that is, the variation of gm or gm0 becomes the variation of the gain G as it is, and the gain G varies for each amplifier circuit.

そこで、この発明は、MOSトランジスタのばらつきによってゲインがばらつくことがないようにしたものである。   In view of this, the present invention is designed so that the gain does not vary due to variations in MOS transistors.

この発明の増幅回路装置は、それぞれMOSトランジスタを用いた偶数段の増幅回路が直列に接続され、最終段の増幅回路の出力端が1段目の増幅回路の出力端に接続され、最終段の増幅回路の入力端から信号出力が取り出されるものである。   In the amplifier circuit device according to the present invention, even-numbered amplifier circuits each using MOS transistors are connected in series, and the output terminal of the final-stage amplifier circuit is connected to the output terminal of the first-stage amplifier circuit. A signal output is taken out from the input terminal of the amplifier circuit.

上記の構成の、この発明の増幅回路装置では、1段目の増幅回路の電圧電流変換係数をgm1、最終段の増幅回路の電圧電流変換係数をgmkとすると、増幅回路装置全体のゲインGは、G=−(gm1/gmk)で表されるように、gm1とgmkとの比のみによって決定される。   In the amplifier circuit device of the present invention having the above configuration, when the voltage-current conversion coefficient of the first-stage amplifier circuit is gm1, and the voltage-current conversion coefficient of the last-stage amplifier circuit is gmk, the gain G of the entire amplifier circuit apparatus is , G = − (gm1 / gmk), which is determined only by the ratio of gm1 and gmk.

そのため、1段目の増幅回路を構成するMOSトランジスタのばらつきと、最終段の増幅回路を構成するMOSトランジスタのばらつきが、互いに打ち消されて、ゲインGは、ばらつきのないものとなる。   Therefore, the variation in the MOS transistors constituting the first-stage amplifier circuit and the variation in the MOS transistors constituting the final-stage amplifier circuit are canceled each other, and the gain G becomes uniform.

しかも、温度変化などによる電圧電流変換係数gm1,gmkの変動も打ち消されるので、温度変化などによってもゲインGは変動せず、安定な動作が得られる。   In addition, fluctuations in the voltage-current conversion coefficients gm1 and gmk due to temperature changes and the like are canceled out, so that the gain G does not fluctuate due to temperature changes and the like, and a stable operation can be obtained.

以上のように、この発明の増幅回路装置では、MOSトランジスタのばらつきによってゲインがばらつくことがないとともに、温度変化などによってゲインが変動することもない。   As described above, in the amplifier circuit device according to the present invention, the gain does not vary due to variations in MOS transistors, and the gain does not vary due to a temperature change or the like.

[1.増幅回路装置の基本的構成:図1および図2]
図1は、この発明の増幅回路装置の基本的構成を示す。
[1. Basic Configuration of Amplifier Circuit Device: FIGS. 1 and 2]
FIG. 1 shows a basic configuration of an amplifier circuit device according to the present invention.

この発明の増幅回路装置1は、それぞれMOSトランジスタを用いた偶数段(k段)の増幅回路10,20‥‥40を直列に接続し、最終段の増幅回路40の出力端を、1段目の増幅回路10の出力端に接続し、1段目の増幅回路10の入力端を、増幅回路装置1の入力端2とし、最終段の増幅回路40の入力端(最終段の直前の段の増幅回路30の出力端)を、増幅回路装置1の出力端3とする。   In the amplifier circuit device 1 of the present invention, even-numbered (k-stage) amplifier circuits 10, 20... 40 each using MOS transistors are connected in series, and the output terminal of the final-stage amplifier circuit 40 is connected to the first stage. The input terminal of the first stage amplifier circuit 10 is the input terminal 2 of the amplifier circuit apparatus 1 and the input terminal of the final stage amplifier circuit 40 (the stage immediately before the last stage) The output terminal 3 of the amplifier circuit 30 is defined as the output terminal 3 of the amplifier circuit device 1.

k=2n,n≧1(n=1,2,3‥‥)であり、k=2n=2の場合には、図示する増幅回路20および30が無く、最終段(2段目)の増幅回路40の入力端は、1段目の増幅回路10の出力端となる。   When k = 2n, n ≧ 1 (n = 1, 2, 3...) and k = 2n = 2, there is no amplifier circuit 20 or 30 shown in the figure, and the final stage (second stage) amplification is performed. The input end of the circuit 40 is the output end of the first stage amplifier circuit 10.

この増幅回路装置1で、増幅回路装置1の入力信号電圧をVin、1段目の増幅回路10の電圧電流変換係数をgm1、増幅回路10の出力信号電流をI1、最終段の増幅回路40の電圧電流変換係数をgmk、増幅回路40の出力信号電流をIk、増幅回路装置1の出力信号電圧をVoutとすると、出力信号電流I1およびIkは、それぞれ図2の式(1)および式(2)で表されるとともに、図2の式(3)に示すように互いに絶対値が同じで方向が逆となるので、図2の式(4)が成立し、増幅回路装置1全体のゲインGは、図2の式(5)で表されるように、gm1とgmkとの比のみによって決定される。   In this amplifier circuit device 1, the input signal voltage of the amplifier circuit device 1 is Vin, the voltage-current conversion coefficient of the first-stage amplifier circuit 10 is gm1, the output signal current of the amplifier circuit 10 is I1, and the amplifier circuit 40 of the last stage is Assuming that the voltage-current conversion coefficient is gmk, the output signal current of the amplifier circuit 40 is Ik, and the output signal voltage of the amplifier circuit device 1 is Vout, the output signal currents I1 and Ik are respectively expressed by the equations (1) and (2) in FIG. 2), and the absolute values are the same and the directions are opposite to each other, as shown in the equation (3) in FIG. 2, the equation (4) in FIG. Is determined only by the ratio between gm1 and gmk, as represented by equation (5) in FIG.

したがって、1段目の増幅回路10を構成するMOSトランジスタのばらつきと、最終段の増幅回路40を構成するMOSトランジスタのばらつきが、互いに打ち消されて、ゲインGは、ばらつきのないものとなる。   Therefore, the variation of the MOS transistors constituting the first stage amplifier circuit 10 and the variation of the MOS transistors constituting the final stage amplifier circuit 40 are canceled each other, and the gain G becomes uniform.

しかも、温度変化などによる電圧電流変換係数gm1,gmkの変動も打ち消されるので、温度変化などによってもゲインGは変動せず、安定な動作が得られる。また、複数段(偶数段)の増幅回路を直列に接続するので、ループゲインが大きくなり、歪み特性が良くなる。   In addition, fluctuations in the voltage-current conversion coefficients gm1 and gmk due to temperature changes and the like are canceled out, so that the gain G does not fluctuate due to temperature changes and the like, and a stable operation can be obtained. In addition, since a plurality of stages (even stages) of amplifier circuits are connected in series, the loop gain is increased and the distortion characteristics are improved.

最小構成段数である2段の場合には、バイアスを合わせると、Vout=−Vinとなり、増幅回路装置1は、ゲイン1の反転増幅回路となる。   In the case of two stages, which is the minimum number of stages, Vout = −Vin when the bias is adjusted, and the amplifier circuit device 1 becomes an inverting amplifier circuit with a gain of 1.

さらに、図1のような構成で、少なくとも1段目の増幅回路10および最終段の増幅回路40を可変利得増幅回路とすることによって、増幅回路装置1を、増幅回路装置1全体のゲインGを変化させることができる可変利得増幅回路装置とすることができる。   Further, with the configuration as shown in FIG. 1, at least the first stage amplifier circuit 10 and the last stage amplifier circuit 40 are variable gain amplifier circuits, so that the gain G of the entire amplifier circuit apparatus 1 is increased. A variable gain amplifier circuit device that can be changed can be obtained.

[2.直流オフセットをキャンセルする場合の例:図3および図4]
図3に、k=2n=4として、4段の増幅回路10,20,30および40を直列に接続する例を示す。増幅回路10,20,30および40は、それぞれ反転増幅回路であり、電圧電流変換回路である。
[2. Example of canceling DC offset: FIGS. 3 and 4]
FIG. 3 shows an example in which four stages of amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 are connected in series with k = 2n = 4. Each of the amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 is an inverting amplifier circuit and a voltage-current converter circuit.

最終段(4段目)の増幅回路40の出力端を、1段目の増幅回路10の出力端に接続し、1段目の増幅回路10の入力端を、増幅回路装置1の入力端2とし、最終段(4段目)の増幅回路40の入力端(3段目の増幅回路30の出力端)を、増幅回路装置1の出力端3とする。   The output terminal of the final stage (fourth stage) amplifier circuit 40 is connected to the output terminal of the first stage amplifier circuit 10, and the input terminal of the first stage amplifier circuit 10 is connected to the input terminal 2 of the amplifier circuit device 1. The input terminal of the final stage (fourth stage) amplifier circuit 40 (the output terminal of the third stage amplifier circuit 30) is the output terminal 3 of the amplifier circuit device 1.

したがって、1段目の増幅回路10の電圧電流変換係数をgm1、最終段(4段目)の増幅回路40の電圧電流変換係数をgmkとすると、上記と同様に、増幅回路装置1のゲインGは、図2の式(5)で表されるように、gm1とgmkとの比のみによって決定されるものとなる。   Therefore, when the voltage-current conversion coefficient of the first stage amplifier circuit 10 is gm1, and the voltage-current conversion coefficient of the final stage (fourth stage) amplifier circuit 40 is gmk, the gain G of the amplifier circuit device 1 is the same as described above. Is determined only by the ratio between gm1 and gmk, as represented by equation (5) in FIG.

この場合、各段の増幅回路10,20,30および40の電圧電流変換回路に対しては、外部の電圧源4から、基準バイアス電圧Vrefを与える。しかし、実際には、最適なバイアス電圧に対して直流オフセットを生じるので、各段の増幅回路10,20,30および40に対しては、その直流オフセットを検出し、キャンセルする直流オフセット検出キャンセル回路50,60,70および80を接続する。これによって、次段の増幅回路との接続が容易となる。   In this case, the reference bias voltage Vref is applied from the external voltage source 4 to the voltage-current conversion circuits of the amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 in each stage. However, in practice, a DC offset is generated with respect to the optimum bias voltage. Therefore, the DC offset detection cancel circuit that detects and cancels the DC offset for the amplifier circuits 10, 20, 30, and 40 of each stage. 50, 60, 70 and 80 are connected. This facilitates connection to the next stage amplifier circuit.

図4に、図3のように構成する場合の各段の増幅回路(電圧電流変換回路)および直流オフセット検出キャンセル回路の具体例を示す。   FIG. 4 shows a specific example of each stage of the amplifier circuit (voltage-current converter circuit) and DC offset detection cancel circuit in the case of the configuration as shown in FIG.

この例では、増幅回路10は、電源電圧Vddが得られる電源5とグランドとの間に、PMOSトランジスタ11のソース・ドレイン、NMOSトランジスタ12のドレイン・ソース、およびNMOSトランジスタ13のドレイン・ソースが直列に接続される。   In this example, the amplifier circuit 10 includes a source / drain of the PMOS transistor 11, a drain / source of the NMOS transistor 12, and a drain / source of the NMOS transistor 13 in series between the power supply 5 from which the power supply voltage Vdd is obtained and the ground. Connected to.

PMOSトランジスタ11およびNMOSトランジスタ12は、CMOSインバータを形成するもので、それぞれのゲートが接続されて、増幅回路10の入力端、すなわち増幅回路装置1の入力端2とされ、それぞれのドレインが接続されて、増幅回路10の出力端とされる。NMOSトランジスタ13のゲートには、直流オフセット検出キャンセル回路50から補正電圧Vnが供給される。   The PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 12 form a CMOS inverter. The gates of the PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 12 are connected to the input terminal of the amplifier circuit 10, that is, the input terminal 2 of the amplifier circuit device 1, and the drains thereof are connected. Thus, the output terminal of the amplifier circuit 10 is used. The correction voltage Vn is supplied from the DC offset detection cancel circuit 50 to the gate of the NMOS transistor 13.

直流オフセット検出キャンセル回路50は、増幅回路10と同様に、電源5とグランドとの間に、PMOSトランジスタ51のソース・ドレイン、NMOSトランジスタ52のドレイン・ソース、およびNMOSトランジスタ53のドレイン・ソースが直列に接続される。   In the DC offset detection cancel circuit 50, the source / drain of the PMOS transistor 51, the drain / source of the NMOS transistor 52, and the drain / source of the NMOS transistor 53 are connected in series between the power supply 5 and the ground, like the amplifier circuit 10. Connected to.

PMOSトランジスタ51およびNMOSトランジスタ52は、CMOSインバータを形成するもので、それぞれのゲートが接続されて、その接続点に基準バイアス電圧Vgが供給され、それぞれのドレインが接続されて、その接続点に得られる電圧Vofが、演算増幅器54の非反転入力端に供給され、演算増幅器54の反転入力端に、上記の基準バイアス電圧Vgが供給され、演算増幅器54の出力電圧Vnが、NMOSトランジスタ53のゲート、および増幅回路10のNMOSトランジスタ13のゲートに供給される。   The PMOS transistor 51 and the NMOS transistor 52 form a CMOS inverter. The gates of the PMOS transistor 51 and the NMOS transistor 52 are connected, the reference bias voltage Vg is supplied to the connection point, the drains are connected, and the connection point is obtained. Voltage Vof is supplied to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 54, the reference bias voltage Vg is supplied to the inverting input terminal of the operational amplifier 54, and the output voltage Vn of the operational amplifier 54 is supplied to the gate of the NMOS transistor 53. , And the gate of the NMOS transistor 13 of the amplifier circuit 10.

この構成では、PMOSトランジスタ51およびNMOSトランジスタ52からなるCMOSインバータ、演算増幅器54、およびNMOSトランジスタ53および13からなる帰還ループによって、PMOSトランジスタ11およびNMOSトランジスタ12からなるCMOSインバータ、およびPMOSトランジスタ51およびNMOSトランジスタ52からなるCMOSインバータの、直流オフセットが検出され、キャンセルされる。   In this configuration, the CMOS inverter composed of the PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 12, the CMOS inverter composed of the PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 12, and the PMOS transistor 51 and the NMOS transistor by the feedback loop composed of the CMOS inverter composed of the PMOS transistor 51 and NMOS transistor 52, the operational amplifier 54, and the NMOS transistors 53 and 13. A DC offset of the CMOS inverter composed of the transistor 52 is detected and canceled.

具体的に、直流オフセット検出キャンセル回路50のCMOSインバータの出力電圧Vofが基準バイアス電圧Vgより高くなると、演算増幅器54の出力電圧Vnが高くなり、NMOSトランジスタ53のドレイン抵抗が小さくなって、出力電圧Vofが低くなり、逆に出力電圧Vofが基準バイアス電圧Vgより低くなると、演算増幅器54の出力電圧Vnが低くなり、NMOSトランジスタ53のドレイン抵抗が大きくなって、出力電圧Vofが高くなる。   Specifically, when the output voltage Vof of the CMOS inverter of the DC offset detection cancel circuit 50 becomes higher than the reference bias voltage Vg, the output voltage Vn of the operational amplifier 54 increases, the drain resistance of the NMOS transistor 53 decreases, and the output voltage When Vof becomes low and the output voltage Vof becomes lower than the reference bias voltage Vg, the output voltage Vn of the operational amplifier 54 becomes low, the drain resistance of the NMOS transistor 53 becomes large, and the output voltage Vof becomes high.

したがって、演算増幅器54の出力電圧Vnは、直流オフセット検出キャンセル回路50のCMOSインバータの出力電圧Vofを基準バイアス電圧Vgに等しくするような電圧値に収斂し、これによって、増幅回路10および直流オフセット検出キャンセル回路50のCMOSインバータの直流オフセットがキャンセルされ、例えば、各CMOSインバータの出力直流電圧がVdd/2とされる。   Accordingly, the output voltage Vn of the operational amplifier 54 is converged to a voltage value that makes the output voltage Vof of the CMOS inverter of the DC offset detection cancel circuit 50 equal to the reference bias voltage Vg, and thereby the amplifier circuit 10 and the DC offset detection. The DC offset of the CMOS inverter of the cancel circuit 50 is canceled, and for example, the output DC voltage of each CMOS inverter is set to Vdd / 2.

図4では省略したが、2段目の増幅回路20および直流オフセット検出キャンセル回路60、3段目の増幅回路30および直流オフセット検出キャンセル回路70、および最終段(4段目)の増幅回路40および直流オフセット検出キャンセル回路80も、同様に構成され、同様に直流オフセットがキャンセルされる。   Although omitted in FIG. 4, the second stage amplifier circuit 20 and the DC offset detection cancel circuit 60, the third stage amplifier circuit 30 and the DC offset detection cancel circuit 70, and the final stage (fourth stage) amplifier circuit 40 and The DC offset detection cancel circuit 80 is similarly configured, and the DC offset is similarly canceled.

なお、図4の例は、各段の増幅回路および直流オフセット検出キャンセル回路において、それぞれCMOSインバータのグランド側、すなわちNMOSトランジスタ12および52のソースに、補正用MOSトランジスタとしてNMOSトランジスタ13および53を接続する場合であるが、それぞれCMOSインバータの電源側、すなわちPMOSトランジスタ11および51のソースに、補正用MOSトランジスタとしてPMOSトランジスタを接続してもよい。   In the example of FIG. 4, NMOS transistors 13 and 53 are connected as correction MOS transistors to the ground side of the CMOS inverter, that is, the sources of the NMOS transistors 12 and 52, respectively, in the amplification circuit and the DC offset detection cancel circuit of each stage. In this case, a PMOS transistor may be connected as a correction MOS transistor to the power source side of the CMOS inverter, that is, to the sources of the PMOS transistors 11 and 51, respectively.

[3.各段の増幅回路を複合CMOS回路とする場合の例‥‥図5〜図8]
増幅回路装置としては、各段の増幅回路に外部から基準バイアス電圧を与える必要がなく、直流オフセットも生じないために直流オフセット検出キャンセル回路も不要な構成とすることもできる。
[3. Example in which the amplifier circuit at each stage is a composite CMOS circuit .... FIGS. 5 to 8]
As the amplifier circuit device, it is not necessary to apply a reference bias voltage from the outside to the amplifier circuits in each stage, and no DC offset is generated, so that a DC offset detection cancel circuit can be omitted.

図5に、その一例を示す。この例では、増幅回路10,20,30および40を、それぞれ複合CMOS回路(コンプリメンタリ型複合MOS回路)によって構成する。   An example is shown in FIG. In this example, the amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 are each composed of a composite CMOS circuit (complementary composite MOS circuit).

具体的に、1段目の増幅回路10は、NMOSトランジスタ14、PMOSトランジスタ15、NMOSトランジスタ16およびPMOSトランジスタ17を備えるものとし、すべてのMOSトランジスタは、バックゲートをソースに接続するとともに、NMOSトランジスタ14およびPMOSトランジスタ17は、それぞれゲートとドレインを接続する。   Specifically, the first-stage amplifier circuit 10 includes an NMOS transistor 14, a PMOS transistor 15, an NMOS transistor 16, and a PMOS transistor 17, and all the MOS transistors have a back gate connected to a source and an NMOS transistor. 14 and PMOS transistor 17 connect the gate and drain, respectively.

そして、NMOSトランジスタ14のソースとPMOSトランジスタ15のソースを接続して、NMOSトランジスタ14およびPMOSトランジスタ15により、一つのPMOSトランジスタとして動作する複合PMOSトランジスタを構成し、PMOSトランジスタ17のソースとNMOSトランジスタ16のソースを接続して、PMOSトランジスタ17およびNMOSトランジスタ16により、一つのNMOSトランジスタとして動作する複合NMOSトランジスタを構成する。   The source of the NMOS transistor 14 and the source of the PMOS transistor 15 are connected, and the NMOS transistor 14 and the PMOS transistor 15 constitute a composite PMOS transistor that operates as one PMOS transistor. The source of the PMOS transistor 17 and the NMOS transistor 16 The PMOS transistor 17 and the NMOS transistor 16 constitute a composite NMOS transistor that operates as one NMOS transistor.

このとき、PMOSトランジスタ15のゲートが複合PMOSトランジスタのゲートを形成し、PMOSトランジスタ15のドレインが複合PMOSトランジスタのドレインを形成し、NMOSトランジスタ14のゲートおよびドレインが複合PMOSトランジスタのソースを形成するとともに、NMOSトランジスタ16のゲートが複合NMOSトランジスタのゲートを形成し、NMOSトランジスタ16のドレインが複合NMOSトランジスタのドレインを形成し、PMOSトランジスタ17のゲートおよびドレインが複合NMOSトランジスタのソースを形成する。   At this time, the gate of the PMOS transistor 15 forms the gate of the composite PMOS transistor, the drain of the PMOS transistor 15 forms the drain of the composite PMOS transistor, and the gate and drain of the NMOS transistor 14 forms the source of the composite PMOS transistor. The gate of the NMOS transistor 16 forms the gate of the composite NMOS transistor, the drain of the NMOS transistor 16 forms the drain of the composite NMOS transistor, and the gate and drain of the PMOS transistor 17 forms the source of the composite NMOS transistor.

そして、複合PMOSトランジスタのソース(NMOSトランジスタ14のゲートおよびドレイン)を電源5に接続し、複合NMOSトランジスタのソース(PMOSトランジスタ17のゲートおよびドレイン)を接地し、複合PMOSトランジスタのゲート(PMOSトランジスタ15のゲート)と複合NMOSトランジスタのゲート(NMOSトランジスタ16のゲート)を接続して増幅回路10の入力端とし、複合PMOSトランジスタのドレイン(PMOSトランジスタ15のドレイン)と複合NMOSトランジスタのドレイン(NMOSトランジスタ16のドレイン)を接続して増幅回路10の出力端とする。   The source of the composite PMOS transistor (gate and drain of the NMOS transistor 14) is connected to the power supply 5, the source of the composite NMOS transistor (gate and drain of the PMOS transistor 17) is grounded, and the gate of the composite PMOS transistor (PMOS transistor 15). And the gate of the composite NMOS transistor (gate of the NMOS transistor 16) are connected to the input terminal of the amplifier circuit 10, and the drain of the composite PMOS transistor (drain of the PMOS transistor 15) and the drain of the composite NMOS transistor (NMOS transistor 16). To the output terminal of the amplifier circuit 10.

各MOSトランジスタにつき、10番台の参照符号に代えて、それぞれ20番台、30番台および40番台の参照符号を付して示すように、増幅回路20,30および40も同様に構成する。   For each MOS transistor, the amplifier circuits 20, 30 and 40 are configured in the same manner as indicated by reference numerals of the 20th, 30th and 40th series, respectively, instead of the 10th reference numeral.

この図5の例では、各段の増幅回路10,20,30および40の入出力バイアスが常に、電源電圧Vddの1/2のVdd/2に決まる。   In the example of FIG. 5, the input / output bias of each stage of the amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 is always determined to be Vdd / 2 which is ½ of the power supply voltage Vdd.

そのため、それぞれの増幅回路の出力電圧が等しくなり、次段との接続が容易になるとともに、外部から基準バイアス電圧を与える必要がなく、直流オフセットも生じないので直流オフセット検出キャンセル回路も不要となる。したがって、増幅回路装置1全体の回路構成が簡単になるとともに、低消費電力化を実現することができる。   For this reason, the output voltages of the respective amplifier circuits are equalized, the connection to the next stage is facilitated, the reference bias voltage does not need to be applied from the outside, and no DC offset is generated, so that no DC offset detection cancel circuit is required. . Therefore, the circuit configuration of the entire amplifier circuit device 1 is simplified, and low power consumption can be realized.

このように各段の増幅回路10,20,30および40を複合CMOS回路によって構成する場合にも、少なくとも1段目の増幅回路10および最終段(4段目)の増幅回路40を可変利得増幅回路とすることによって、増幅回路装置1全体のゲインGを変化させることができる。   As described above, even when the amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 in each stage are constituted by composite CMOS circuits, at least the amplifier circuit 10 in the first stage and the amplifier circuit 40 in the final stage (fourth stage) are variable gain amplified. By using a circuit, the gain G of the entire amplifier circuit device 1 can be changed.

図6に、その一例を示す。この例では、1段目の増幅回路10においては、複合PMOSトランジスタのソース(NMOSトランジスタ14のゲートおよびドレイン)を、負荷18aを介して電源5に接続し、複合NMOSトランジスタのソース(PMOSトランジスタ17のゲートおよびドレイン)を、負荷18bを介して接地し、複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタによって構成される複合CMOS回路と並列に、すなわち複合PMOSトランジスタのソース(NMOSトランジスタ14のゲートおよびドレイン)と複合NMOSトランジスタのソース(PMOSトランジスタ17のゲートおよびドレイン)との間に、可変電流源19を接続する。   An example is shown in FIG. In this example, in the first stage amplifier circuit 10, the source of the composite PMOS transistor (gate and drain of the NMOS transistor 14) is connected to the power supply 5 via the load 18a, and the source of the composite NMOS transistor (PMOS transistor 17). Of the composite PMOS transistor and the source of the composite PMOS transistor (gate and drain of the NMOS transistor 14) in parallel with the composite CMOS circuit constituted by the composite PMOS transistor and the composite NMOS transistor. A variable current source 19 is connected between the source of the NMOS transistor (the gate and drain of the PMOS transistor 17).

最終段(4段目)の増幅回路40においても、複合PMOSトランジスタのソース(NMOSトランジスタ44のゲートおよびドレイン)を、負荷48aを介して電源5に接続し、複合NMOSトランジスタのソース(PMOSトランジスタ47のゲートおよびドレイン)を、負荷48bを介して接地し、複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタによって構成される複合CMOS回路と並列に、すなわち複合PMOSトランジスタのソース(NMOSトランジスタ44のゲートおよびドレイン)と複合NMOSトランジスタのソース(PMOSトランジスタ47のゲートおよびドレイン)との間に、可変電流源49を接続する。   Also in the final stage (fourth stage) amplifier circuit 40, the source of the composite PMOS transistor (gate and drain of the NMOS transistor 44) is connected to the power source 5 via the load 48a, and the source of the composite NMOS transistor (PMOS transistor 47). Of the composite PMOS transistor and the source (gate and drain of the NMOS transistor 44) in parallel with the composite CMOS circuit constituted by the composite PMOS transistor and the composite NMOS transistor. A variable current source 49 is connected between the source of the NMOS transistor (the gate and drain of the PMOS transistor 47).

可変電流源19および49は、それぞれ、図7に示すように、NMOSトランジスタ91のドレイン91Dを複合PMOSトランジスタのソース(NMOSトランジスタ14または44のゲートおよびドレイン)に接続し、NMOSトランジスタ91のソース91Sを複合NMOSトランジスタのソース(PMOSトランジスタ17または47のゲートおよびドレイン)に接続し、NMOSトランジスタ91のゲートに利得制御用の可変電圧源92を接続して構成する。NMOSトランジスタ91も、バックゲートをソースに接続する。   As shown in FIG. 7, each of the variable current sources 19 and 49 connects the drain 91D of the NMOS transistor 91 to the source of the composite PMOS transistor (the gate and drain of the NMOS transistor 14 or 44), and the source 91S of the NMOS transistor 91. Is connected to the source of the composite NMOS transistor (the gate and drain of the PMOS transistor 17 or 47), and the variable voltage source 92 for gain control is connected to the gate of the NMOS transistor 91. The NMOS transistor 91 also has a back gate connected to the source.

図6および図7の例で、増幅回路10の負荷18aおよび18bを同一の抵抗値R1を有する抵抗とし、複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタによって構成される複合CMOS回路に流れる電流をId1、可変電流源19の電流をIc1、負荷18aおよび18bに流れる電流を(Id1+Ic1)とし、複合PMOSトランジスタのソース電圧(NMOSトランジスタ14のドレイン電圧)をVa1、複合NMOSトランジスタのソース電圧(PMOSトランジスタ17のドレイン電圧)をVb1とし、可変電流源19を構成する可変電圧源92の電圧をVc1とすると、電圧Va1およびVb1は、それぞれ図8の式(11)および式(12)で表されるので、図8の式(13)に示すように、電圧Va1と電圧Vb1の和はVddとなり、増幅回路10の入出力バイアスVg1は、図8の式(14)で表されるものとなる。   In the example of FIGS. 6 and 7, the loads 18a and 18b of the amplifier circuit 10 are resistors having the same resistance value R1, and the current flowing in the composite CMOS circuit constituted by the composite PMOS transistor and the composite NMOS transistor is Id1, the variable current The current of the source 19 is Ic1, the current flowing through the loads 18a and 18b is (Id1 + Ic1), the source voltage of the composite PMOS transistor (drain voltage of the NMOS transistor 14) is Va1, and the source voltage of the composite NMOS transistor (drain voltage of the PMOS transistor 17) ) Is Vb1, and the voltage of the variable voltage source 92 constituting the variable current source 19 is Vc1, the voltages Va1 and Vb1 are expressed by the equations (11) and (12) of FIG. As shown in Equation (13), the voltage Va1 and the voltage V 1 sums Vdd, and the output bias Vg1 of the amplifier circuit 10 is assumed to be represented by the equation in Figure 8 (14).

同様に、増幅回路40の負荷48aおよび48bを同一の抵抗値Rkを有する抵抗とし、複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタによって構成される複合CMOS回路に流れる電流をIdk、可変電流源49の電流をIck、負荷48aおよび48bに流れる電流を(Idk+Ick)とし、複合PMOSトランジスタのソース電圧(NMOSトランジスタ44のドレイン電圧)をVak、複合NMOSトランジスタのソース電圧(PMOSトランジスタ47のドレイン電圧)をVbkとし、可変電流源49を構成する可変電圧源92の電圧をVckとすると、増幅回路40の入出力バイアスVgkは、図8の式(15)で表されるものとなる。   Similarly, the loads 48a and 48b of the amplifier circuit 40 are resistors having the same resistance value Rk, the current flowing through the composite CMOS circuit constituted by the composite PMOS transistor and the composite NMOS transistor is Idk, and the current of the variable current source 49 is Ick. The current flowing through the loads 48a and 48b is (Idk + Ick), the source voltage of the composite PMOS transistor (drain voltage of the NMOS transistor 44) is Vak, the source voltage of the composite NMOS transistor (drain voltage of the PMOS transistor 47) is Vbk, and is variable. When the voltage of the variable voltage source 92 constituting the current source 49 is Vck, the input / output bias Vgk of the amplifier circuit 40 is represented by the equation (15) in FIG.

すなわち、図6および図7の例では、電圧Vc1を制御して可変電流源19の電流Ic1を制御することによって、負荷18aおよび18bに流れる電流(Id1+Ic1)が変化し、電圧Va1およびVb1が変化して、増幅回路10を構成する複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタの等価的なゲート・ソース間電圧が変化し、複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタに流れる電流Id1が変化して、増幅回路10のゲインを変えることができ、同様に、電圧Vc2を制御して可変電流源49の電流Ickを制御することによって、負荷48aおよび48bに流れる電流(Idk+Ick)が変化し、電圧VakおよびVbkが変化して、増幅回路40を構成する複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタの等価的なゲート・ソース間電圧が変化し、複合PMOSトランジスタおよび複合NMOSトランジスタに流れる電流Idkが変化して、増幅回路40のゲインを変えることができるとともに、これらゲインの制御と無関係に、増幅回路10,20,30および40の入出力バイアスを常に一定値Vdd/2に保持することができる。   That is, in the examples of FIGS. 6 and 7, by controlling the voltage Vc1 to control the current Ic1 of the variable current source 19, the current (Id1 + Ic1) flowing through the loads 18a and 18b changes, and the voltages Va1 and Vb1 change. As a result, the equivalent gate-source voltage of the composite PMOS transistor and composite NMOS transistor constituting the amplifier circuit 10 changes, and the current Id1 flowing through the composite PMOS transistor and composite NMOS transistor changes, and the gain of the amplifier circuit 10 changes. Similarly, by controlling the voltage Vc2 to control the current Ick of the variable current source 49, the current (Idk + Ick) flowing through the loads 48a and 48b changes, and the voltages Vak and Vbk change. A composite PMOS transistor constituting the amplifier circuit 40 and The equivalent gate-source voltage of the combined NMOS transistor changes, and the current Idk flowing through the composite PMOS transistor and the composite NMOS transistor changes, so that the gain of the amplifier circuit 40 can be changed and is independent of the control of these gains. In addition, the input / output biases of the amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 can always be held at a constant value Vdd / 2.

図6の例でも、このように、増幅回路装置1のゲインGの制御にかかわらず、各段の増幅回路10,20,30および40の入出力バイアスが常にVdd/2に決まるので、それぞれの増幅回路の出力電圧が等しくなり、次段との接続が容易になるとともに、外部から基準バイアス電圧を与える必要がなく、直流オフセットも生じないので直流オフセット検出キャンセル回路も不要となる。   In the example of FIG. 6 as well, the input / output bias of each stage of the amplifier circuits 10, 20, 30 and 40 is always determined to be Vdd / 2 regardless of the control of the gain G of the amplifier circuit device 1 in this way. The output voltages of the amplifier circuits are equalized, the connection to the next stage is facilitated, the reference bias voltage does not need to be externally applied, and no DC offset is generated, so that no DC offset detection cancel circuit is required.

なお、可変電流源19および49は、それぞれPMOSトランジスタと可変電圧源とによって構成することもできる。   Note that the variable current sources 19 and 49 can also be configured by PMOS transistors and variable voltage sources, respectively.

この発明の増幅回路装置の基本的構成を示す図である。It is a figure which shows the basic composition of the amplifier circuit apparatus of this invention. 図1の増幅回路装置の説明に供する式を示す図である。It is a figure which shows the type | formula used for description of the amplifier circuit apparatus of FIG. 各段の増幅回路に直流オフセット検出キャンセル回路を接続する例を示す図である。It is a figure which shows the example which connects a DC offset detection cancellation circuit to the amplifier circuit of each stage. 図3の増幅回路装置の増幅回路および直流オフセット検出キャンセル回路の具体例を示す図である。It is a figure which shows the specific example of the amplifier circuit and DC offset detection cancellation circuit of the amplifier circuit apparatus of FIG. 各段の増幅回路を複合CMOS回路とする場合の例を示す図である。It is a figure which shows the example in case the amplifier circuit of each stage is used as a composite CMOS circuit. 図5の増幅回路装置を可変利得増幅回路装置とする場合の例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example in which the amplifier circuit device of FIG. 5 is a variable gain amplifier circuit device. 図6の増幅回路装置中の可変電流源の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the variable current source in the amplifier circuit apparatus of FIG. 図6の増幅回路装置の説明に供する式を示す図である。It is a figure which shows the type | formula used for description of the amplifier circuit apparatus of FIG. MOSトランジスタを用いた従来の増幅回路の一般的な構成を示す図である。It is a figure which shows the general structure of the conventional amplifier circuit using a MOS transistor. 図9の増幅回路の説明に供する式を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating an equation for explaining the amplifier circuit of FIG. 9. 特許文献1に示された増幅回路を示す図である。It is a figure which shows the amplifier circuit shown by patent document 1. FIG. 図11の増幅回路の説明に供する式を示す図である。It is a figure which shows the type | formula used for description of the amplifier circuit of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

主要部については図中に全て記述したので、ここでは省略する。   Since all the main parts are described in the figure, they are omitted here.

Claims (7)

それぞれMOSトランジスタを用いた偶数段の増幅回路が直列に接続され、最終段の増幅回路の出力端が1段目の増幅回路の出力端に接続され、最終段の増幅回路の入力端から信号出力が取り出される増幅回路装置。   Even-numbered amplifier circuits each using MOS transistors are connected in series, the output terminal of the final-stage amplifier circuit is connected to the output terminal of the first-stage amplifier circuit, and the signal is output from the input terminal of the final-stage amplifier circuit Amplifying circuit device from which is taken out. 請求項1の増幅回路装置において、
少なくとも1段目および最終段の増幅回路が可変利得増幅回路とされたことを特徴とする増幅回路装置。
The amplifier circuit device according to claim 1,
An amplifier circuit device characterized in that at least the first-stage and final-stage amplifier circuits are variable gain amplifier circuits.
請求項1の増幅回路装置において、
各段の増幅回路に対して、それぞれ、その直流オフセットを検出し、キャンセルする直流オフセット検出キャンセル回路が接続されたことを特徴とする増幅回路装置。
The amplifier circuit device according to claim 1,
An amplifier circuit device, wherein a DC offset detection cancel circuit for detecting and canceling the DC offset is connected to each stage of the amplifier circuit.
請求項3の増幅回路装置において、
各段の直流オフセット検出キャンセル回路は、それぞれ、CMOSインバータ、このCMOSインバータのグランド側または電源側にドレインが接続された補正用MOSトランジスタ、および演算増幅器を有し、前記CMOSインバータの入力端、および前記演算増幅器の反転入力端に、基準バイアス電圧が供給され、前記CMOSインバータの出力電圧が、前記演算増幅器の非反転入力端に供給され、前記演算増幅器の出力電圧が、前記補正用MOSトランジスタのゲートに供給されるものであり、
各段の増幅回路は、それぞれ、CMOSインバータ、およびこのCMOSインバータのグランド側または電源側にドレインが接続された補正用MOSトランジスタを有し、その補正用MOSトランジスタのゲートに、同じ段の前記直流オフセット検出キャンセル回路の前記演算増幅器の出力電圧が供給されるものである、
ことを特徴とする増幅回路装置。
The amplifier circuit device according to claim 3,
Each stage DC offset detection cancel circuit includes a CMOS inverter, a correction MOS transistor having a drain connected to the ground side or power supply side of the CMOS inverter, and an operational amplifier, and an input terminal of the CMOS inverter, and A reference bias voltage is supplied to the inverting input terminal of the operational amplifier, the output voltage of the CMOS inverter is supplied to the non-inverting input terminal of the operational amplifier, and the output voltage of the operational amplifier is connected to the correction MOS transistor. Is supplied to the gate,
Each stage amplification circuit has a CMOS inverter and a correction MOS transistor having a drain connected to the ground side or power supply side of the CMOS inverter, and the DC of the same stage is connected to the gate of the correction MOS transistor. The output voltage of the operational amplifier of the offset detection cancel circuit is supplied.
An amplifier circuit device characterized by that.
請求項1の増幅回路装置において、各段の増幅回路は、それぞれ、
それぞれバックゲートがソースに接続された、第1のNMOSトランジスタおよびPMOSトランジスタ、および第2のNMOSトランジスタおよびPMOSトランジスタを有し、
前記第1のNMOSトランジスタおよびPMOSトランジスタは、第1のNMOSトランジスタのゲートとドレインが接続され、第1のNMOSトランジスタのソースと第1のPMOSトランジスタのソースが接続されて、一つのPMOSトランジスタとして動作する複合PMOSトランジスタを構成し、
前記第2のNMOSトランジスタおよびPMOSトランジスタは、第2のPMOSトランジスタのゲートとドレインが接続され、第2のPMOSトランジスタのソースと第2のNMOSトランジスタのソースが接続されて、一つのNMOSトランジスタとして動作する複合NMOSトランジスタを構成し、
前記第1のPMOSトランジスタのゲートと前記第2のNMOSトランジスタのゲートが接続されて入力端とされ、
前記第1のPMOSトランジスタのドレインと前記第2のNMOSトランジスタのドレインが接続されて出力端とされた、
複合CMOS回路として構成されたことを特徴とする増幅回路装置。
The amplifier circuit device according to claim 1, wherein each stage of the amplifier circuit includes:
A first NMOS transistor and a PMOS transistor, and a second NMOS transistor and a PMOS transistor, each having a back gate connected to the source;
The first NMOS transistor and the PMOS transistor operate as one PMOS transistor by connecting the gate and drain of the first NMOS transistor and connecting the source of the first NMOS transistor and the source of the first PMOS transistor. A composite PMOS transistor
The second NMOS transistor and the PMOS transistor operate as one NMOS transistor by connecting the gate and drain of the second PMOS transistor and connecting the source of the second PMOS transistor and the source of the second NMOS transistor. A composite NMOS transistor,
The gate of the first PMOS transistor and the gate of the second NMOS transistor are connected to serve as an input terminal,
The drain of the first PMOS transistor and the drain of the second NMOS transistor are connected to form an output terminal.
An amplifier circuit device configured as a composite CMOS circuit.
請求項5の増幅回路装置において、
少なくとも1段目および最終段の増幅回路は、それぞれ、
前記複合PMOSトランジスタのソースを形成する前記第1のNMOSトランジスタのドレインおよびゲートと、第1の電位点との間、および、前記複合NMOSトランジスタのソースを形成する前記第2のPMOSトランジスタのドレインおよびゲートと、前記第1の電位点より低い電位の第2の電位点との間に、それぞれ負荷が接続され、前記複合PMOSトランジスタおよび前記複合NMOSトランジスタからなる複合CMOS回路と並列に可変電流源が接続された可変利得増幅回路である、
ことを特徴とする増幅回路装置。
The amplifier circuit device according to claim 5, wherein
At least the first and last stage amplifier circuits are respectively
Between the drain and gate of the first NMOS transistor that forms the source of the composite PMOS transistor and a first potential point, and the drain and gate of the second PMOS transistor that forms the source of the composite NMOS transistor A load is connected between the gate and a second potential point lower than the first potential point, and a variable current source is connected in parallel with the composite CMOS circuit including the composite PMOS transistor and the composite NMOS transistor. A connected variable gain amplifier circuit;
An amplifier circuit device characterized by that.
請求項6の増幅回路装置において、
前記可変電流源は、ドレイン・ソースが前記複合CMOS回路と並列に接続されたMOSトランジスタと、このMOSトランジスタのゲートに制御電圧を印加する可変電圧源とからなる、
ことを特徴とする増幅回路装置。
The amplifier circuit device according to claim 6, wherein
The variable current source includes a MOS transistor whose drain and source are connected in parallel with the composite CMOS circuit, and a variable voltage source that applies a control voltage to the gate of the MOS transistor.
An amplifier circuit device characterized by that.
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