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JP2006106077A - 電気光学装置及び電子機器 - Google Patents

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JP2006106077A
JP2006106077A JP2004288681A JP2004288681A JP2006106077A JP 2006106077 A JP2006106077 A JP 2006106077A JP 2004288681 A JP2004288681 A JP 2004288681A JP 2004288681 A JP2004288681 A JP 2004288681A JP 2006106077 A JP2006106077 A JP 2006106077A
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広幸 小野寺
Yasuhito Ariga
泰人 有賀
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Seiko Epson Corp
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Abstract

【課題】
半導体装置のバンプと端子との接続抵抗の経時変化があっても、表示特性の劣化が極力抑制された電気光学装置及び電子機器を提供すること。
【解決手段】
基板20を有する電気光学パネル4と、基板20上に第1の方向(x方向)に沿って配置された複数の入力端子41と、各入力端子41と導電性有機部材を介して電気的に接続する複数の入力用バンプが配置された半導体装置3とを具備する電気光学装置1であって、第1の方向における半導体装置3のほぼ中央部に位置する入力用バンプと接続する入力端子41は、電源供給端子、電源供給コントロール端子、及びグランド端子の少なくとも1つである。
【選択図】 図2

Description

本発明は、基板上に導電性有機部材を介して実装された半導体装置を有する電気光学装置及び電子機器に関する。
電気光学装置、例えばCOG(Chip On Glass)方式の液晶装置は、一対のガラス基板間に液晶を封入した液晶パネルと、液晶パネルを挟み込むように設けられた一対の偏光板と、液晶パネルのガラス基板上に熱圧着方式を用いて実装された半導体装置と、液晶パネルの基板に電気的に接続するフレキシブル配線基板と、フレキシブル配線基板と電気的に接続する回路基板とを有している。液晶パネルの基板上の端子と半導体素子のバンプとは、導電性有機部材としてのACF(Anisotropic Conductive Film;異方性導電フィルム)を介して電気的に接続されている。回路基板上には、コントロール回路、電源制御用回路、昇圧回路などを構成する実装部品がハンダによって実装されている(特許文献1参照)。
近年、液晶装置を小型化するために、コントロール回路、電源制御用回路、昇圧回路などの一部の構成を、液晶パネルのガラス基板上に実装される半導体装置に組み込んでいる。
特開2001−156418号公報(段落[0036]〜[0045])
しかしながら、上述のようなCOG方式の液晶装置においては、ガラス基板と半導体装置との熱膨張係数が異なることにより、半導体装置実装の熱圧着工程時に半導体装置が反った形状で歪んで圧着される。このため、時間の経過とともに半導体装置の中央部分の外側に位置するACFが緩み、半導体装置の外側部分における、半導体装置のバンプと液晶パネル上の端子との接続抵抗が高くなり、液晶パネルの表示特性が劣化するという問題があった。
本発明は、上述の課題に鑑みてなされたもので、半導体装置のバンプと端子との接続抵抗の経時変化があっても、表示特性の劣化が極力抑制された電気光学装置及び電子機器を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の電気光学装置は、基板を有する電気光学パネルと、前記基板上に第1の方向に沿って配置された複数の入力端子と、各前記入力端子と導電性有機部材を介して電気的に接続する複数の入力用バンプが配置された半導体装置とを具備する電気光学装置であって、前記第1の方向における前記半導体装置のほぼ中央部に位置する前記入力用バンプと接続する前記入力端子は、他の入力端子よりも前記入力用バンプとの接続抵抗の許容値が相対的に小さいことを特徴とする。
本発明のこのような構成によれば、第1の方向における半導体装置のほぼ中央部に位置する入力用バンプと接続する入力端子として、他の入力端子よりも入力用バンプとの接続抵抗の許容値が相対的に小さい入力端子を設けることにより、例え経時変化により入力用バンプと入力端子との間の導電性有機部材が緩んでも、半導体装置の中央部における入力用バンプと入力端子との間の接続抵抗は、半導体装置の両端側の該接続抵抗よりも変化しにくい為、常に安定した動作特性の電気光学装置を得ることができる。すなわち、基板と半導体装置との熱膨張係数が異なると、半導体装置実装の熱圧着工程時に、半導体装置が反った形状で歪んで圧着される。このため、時間の経過とともに半導体装置の第1の方向における外側部の導電性有機部材が緩み、半導体装置の外側部における入力バンプと入力端子との接続抵抗が高くなってしまう。そこで、本発明においては、経時変化による導電性有機部材の緩みがあっても接続抵抗が変化しにくい半導体装置の中央部における入力用バンプに電気的に接続する入力端子を配置している。これにより、例え、経時変化によって導電性有機部材が緩んでも、半導体装置の中央部の入力用バンプとこれに対応する入力端子との接続抵抗は変化しにくいため、経時変化による電気光学装置の表示特性の劣化を抑制することができる。
また、前記第1の方向における前記半導体装置のほぼ中央部に位置する前記入力用バンプと接続する前記入力端子は、接続抵抗が小さいことを要求される例えば電源供給端子、電源供給コントロール端子、及びグランド端子の少なくとも1つであることを特徴とする。
このように、経時変化による導電性有機部材の緩みがあっても接続抵抗が変化しにくい半導体装置の中央部における入力用バンプに電気的に接続する入力端子として、低い接続抵抗が求められる電源供給端子、電源供給コントロール端子、及びグランド端子の少なくとも1つを配置している。これにより、例え、経時変化によって導電性有機部材が緩んでも、半導体装置の中央部の入力用バンプとこれに対応する入力端子との接続抵抗は変化しにくいため、経時変化による電気光学装置の表示特性の劣化を抑制することができる。
また、前記半導体装置と前記基板とは熱膨張係数が異なることを特徴とする。
このように、半導体装置と基板との熱膨張係数が異なると、半導体装置実装の熱圧着工程時に、半導体装置が反った形状で歪んで圧着される。このため、時間の経過とともに半導体装置の第1の方向における外側部の導電性有機部材が緩み、半導体装置の外側部における入力バンプと入力端子との接続抵抗が高くなってしまう。そこで、経時変化による導電性有機部材の緩みがあっても接続抵抗が変化しにくい半導体装置の中央部における入力用バンプに電気的に接続する入力端子として、低い接続抵抗が求められる電源供給端子、電源供給コントロール端子、及びグランド端子の少なくとも1つを配置している。これにより、例え、経時変化によって導電性有機部材が緩んでも、半導体装置の中央部の入力用バンプとこれに対応する入力端子との接続抵抗は変化しにくいため、経時変化による電気光学装置の表示特性の劣化を抑制することができる。
また、前記複数の入力用バンプは、該入力用バンプと前記入力用端子との接続抵抗の許容最大値が、前記第1の方向において外側から内側に向かって低くなるように配置されていることを特徴とする。
このように入力用バンプと入力用端子との接続抵抗の許容最大値が、外側から内側に向かって低くなるように、入力用バンプを設けることにより、より確実に経時変化による電気光学装置の表示特性の劣化を抑制することができる。
本発明の電子機器は、上述に記載のいずれかの電気光学装置を備えていることを特徴とする。
本発明のこのような構成によれば、半導体装置の入力用バンプと入力端子との接続抵抗の経時変化による表示特性の劣化がないため、表示特性が安定した表示画面を有する電子機器を得ることができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。なお、以下実施形態を説明するにあたっては、電気光学装置として液晶装置を例にあげる。具体的にはCOG(Chip On Glass)方式のTFD素子を用いたアクティブマトリクス型の液晶装置について説明するがこれに限られるものではない。また、以下の図面においては各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。
(電気光学装置)
<第1実施形態>
図1は本発明の実施形態に係る電気光学装置としての液晶装置の電気的な構成を示す概略ブロック図である。図2は、液晶装置の概略斜視図である。
図1及び図2に示すように、液晶装置1は、電気光学パネルとしての液晶パネル4と、液晶パネル4を挟み込むように設けられた一対の偏光板(図示せず)と、液晶パネル4に電気的に接続されたフレキシブル配線基板42と、液晶パネル4に実装された半導体装置としての駆動用IC3と、フレキシブル配線基板42に電気的に接続された回路基板(図示せず)とを具備している。
液晶パネル4は、ほぼ矩形状のシール材(図示せず)により接着された一対の矩形状のガラスからなる第1ガラス基板20と第2ガラス基板30を有している。一対の第1ガラス基板20及び第2ガラス基板30とシール材により囲まれた領域内には、電気光学物質として例えば90度捩じれTN(Twisted Nematic)液晶23が保持されている。
第1ガラス基板20上にはy方向に延在された複数(n本)のセグメント電極21が設けられ、第2ガラス基板30上にはx方向に延在された複数(m本)のコモン電極31が設けられている。第1ガラス基板20上には、セグメント電極21とコモン電極31との各交点に対応して二端子型スイッチング素子の一例である薄膜ダイオード(Thin Film Diode:以下、単にTFDと称する)22及び画素電極(図示せず)が設けられている。
第1ガラス基板20は第2ガラス基板30よりも張出した張出し部20aを有し、張出し部20aには半導体装置としての駆動用IC3が実装されている。張り出し部20aには、駆動用IC3の入力用バンプ(後述する符号33)と導電性有機部材としてのACF(Anisotropic Conductive Film;異方性導電フィルム、後述する符号43)を介して電気的に接続する入力端子41と、駆動用IC3の出力用バンプ(後述する符号34)とACFを介して電気的に接続するセグメント電極用出力端子25と、コモン電極用出力端子24とが設けられている。入力端子41は、第1の方向としてのx方向に沿って複数設けられている。セグメント電極用出力端子25はセグメント電極21が延在してなり、コモン電極用出力端子24はコモン電極31とシール材中に含有された導電性物質(図示せず)を介して電気的に接続されている。
駆動用IC3は、セグメント電極用ドライバ11、コモン電極用ドライバ13、駆動制御回路12、メモリ(表示データRAM)14、電源回路100を含む。
メモリ(表示データRAM)14は、液晶パネル4に表示させる画像の表示データを記録する。セグメント電極用ドライバ11は、メモリ14に記憶された表示データに基づいて、セグメント電極21の信号駆動を行う。コモン電極用ドライバ13は、コモン電極31を信号駆動する。
電源回路100は、外部から供給されるシステム電源電位VDDと設置電源電位VSSを用いて種々の電位を生成し、液晶装置1の各部に電位を供給する。より具体的には、電源回路100は、コモン電極用ドライバ13に対してコモン電極31の駆動に必要な電位を供給し、セグメント電極用ドライバ11に対してセグメント電極21の駆動に必要な電位を供給する。更に、電源回路100は、駆動制御回路12及びメモリ14に対して必要とされる電位を供給する。
本実施形態においては、コモン電極用ドライバ13に対してコモン電極31の駆動に必要な電位のうち、接地電源電位VSSの電位に対して正極性の電位を供給する。このため、本実施形態における液晶装置1は、更に電圧変換回路40を含む。電圧変換回路40は、電源回路100で生成された電位を用いて、接地電源電位VSSの電位に対して負極性の電位を生成し、コモン電極用ドライバ13に供給する。
次に駆動用IC3について図3〜図6を用いて説明する。
図3は、駆動用IC3の各バンプと、このバンプに接続する端子との関係を示す概略模式図である。図4〜図6は、駆動用IC3の各入力用バンプと電気的に接続する入力端子41の端子名称、この入力端子41と接続する入力用バンプの駆動用IC3における位置、入力用バンプと入力端子41との接続に求められる許容最大接続抵抗値を示す。図4〜図6に示す入力用バンプの位置は、図3に示す駆動用IC3の中心のx、y座標を(0,0)としたときのx座標値(単位μm)で示している。尚、図2で示したx、y方向と図4で示したx、y方向は対応しており、駆動用IC3の長手方向がx方向に相当する。図4〜図6において、aimRは、バンプと端子との目標接続抵抗値であり、この数値以下の接続抵抗となるよう駆動用IC3を設けることが動作特性上望まれる。言い換えると、aimRは接続抵抗の量産マージンを考慮した許容最大値といえる。
図3に示すように、駆動用IC3は、その幅aが1950μm、長さbが17500μmとなっている。駆動用IC3のバンプ面3aの一方の側には、複数(ここでは143)の入力用バンプ33がほぼ一列に並んで設けられ、他方の側には、複数(ここではn+m)の出力用バンプ34がほぼ一列に並んで設けられている。入力用バンプ33の大きさは約70μm×70μmであり、図4〜図6に示すx座標値は、入力用バンプ33の中心座標のx座標値である。各入力用バンプ33は、液晶パネル4に設けられている入力端子41(図3における端子No.1〜端子No.143に相当)とACFを介して電気的に接続され、各出力用バンプ34は、液晶パネル4に設けられているセグメント電極用出力端子25(図3に示すSEG1〜SEGnに相当)またはコモン電極用出力端子24(図3に示すCOM1〜COMmに相当)に電気的に接続されている。
図4〜図6において、端子No.1〜3のOS checkは、入力側オープンチェック端子である。端子No.4〜14のDUMMYは、ダミーパッドである。端子No.15のVSSOは、端子処理用VSSレベル出力端子である。端子No.16〜19のTESTは、TEST用入力端子である。端子No.20〜26のTEST Oは、TEST用出力端子である。端子No.27、28のVL OUTは、電源供給端子としての液晶駆動電圧出力端子(コモン電極オンレベル)であり、aimRの値は10Ωとなっている。端子No.29、30のVL INは、電源供給端子としての液晶駆動電圧入力端子(コモン電極オンレベル)であり、aimRの値は10Ωとなっている。端子No.29、30は、端子No.27、28とショートしている。端子No.31、32のVLCHP INは、電源供給コントロール端子としての昇圧電圧1入力端子であり、aimRの値は10Ωとなっている。端子No.33、34のVLCHP OUTは電源供給コントロール端子としての昇圧電圧1出力端子であり、aimRの値は10Ωとなっている。端子No.33、34は、端子No.31、32とショートしている。端子No.35〜40のC6P〜C4Pは、昇圧容量接続端子である。端子No.41のDUMMYは、ダミーパッドである。端子No.42、43のC3Pは、昇圧容量接続端子である。端子No.44のDUMMYは、ダミーパッドである。端子No.45〜48のC2P、C1Pは、昇圧容量接続端子である。端子No.49〜60のC1N〜C6Nは、昇圧容量接続端子である。端子No.61のDUMMYは、ダミーパッドである。端子No.62、63のVH INは、電源供給端子としての液晶駆動電圧入力端子(コモン電極オンレベル)であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.64、65のVH OUTは、電源供給端子としての液晶駆動電圧出力端子(コモン電極オンレベル)であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.64、65は、端子No.62、63とショートしている。端子No.66〜69のDUMMYは、ダミーパッドである。端子No.70、71のCNは昇圧容量接続端子である。端子No.72、73のDUMMYは、ダミーパッドである。端子No.74、75のCPは、昇圧容量接続端子である。端子No.76、77のVDDHX2 INは、電源供給コントロール端子としての昇圧電圧2入力端子であり、aimRの値は10Ωとなっている。端子No.78、79のVDDHX2 OUTは、電源供給コントロール端子としての昇圧電圧2出力端子であり、aimRの値は10Ωとなっている。端子No.76、77は、端子No.78、79とショートしている。端子No.80、81のC0Pは、15Ωである。端子No.82、83のC0Nは、15Ωである。端子No.84、85のVDDHは、電源供給端子としてのアナログ系電源端子であり、aimRの値は5Ωとなっている。端子No.86、87のVDDH2は、電源供給端子としての昇圧用電源端子であり、aimRの値は5Ωとなっている。端子No.88〜90のGNDH3は、グランド端子としての昇圧用グランド端子であり、aimRの値は5Ωとなっている。端子No.91〜93のGNDH2は、グランド端子としてのアナログ系グランド端子であり、aimRの値は5Ωとなっている。端子No.94〜96のGNDLは、グランド端子としてのMPUインターフェース、内部ロジック系グランド端子であり、aimRの値は5Ωとなっている。端子No.97〜99のVDDは、電源供給端子としてのMPUインターフェース、内部ロジック系電源端子であり、aimRの値は5Ωとなっている。端子No.100、101のVDCTは、極性反転用基準電圧出力端子である。端子No.102、103のVD OUTは、電源供給端子としての液晶駆動電圧出力端子(コモン電極オフレベル、セグメント電極オンレベル)であり、aimRの値は5Ωとなっている。端子No.104、105のVD INは、電源供給端子としての液晶駆動電圧入力端子(コモン電極オフレベル、セグメント電極オンレベル)であり、aimRの値は10Ωとなっている。端子No.102、103は、端子No.104、105とショートしている。端子No.106のA0は、コマンド/データ識別信号端子である。端子No.107のXRDは、反転リード信号である。端子No.108のXWRは、信号端子である。端子No.109のXCSは、MPUインターフェースチップセレクト端子である。端子No.110のXRESは、リセット入力端子である。端子No.111から118のD0〜D1は、MPUインターフェースデータ端子である。端子No.119のBCKは、EEPROM I/Fクロック端子である。端子No.120のBDATAは、EEPROM I/Fデータ端子である。端子No.121のBRSTは、EEPROM I/Fチップセレクト端子である。端子No.122のVSSOは、電源供給端子としての端子処理用VSSレベル出力端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.123のOSC1は、外部クロック入力端子である。端子No.124のVDDOは、電源供給端子としての端子処理用VDDレベル出力端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.125のOSSELは、表示用内蔵OSCクロックと外部入力クロックを切り替える端子である。端子No.126のVSSOは、電源供給端子としての端子処理用VSSレベル出力端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.127のINISELは、EEPROMの接続の有無を設定する端子である。端子No.128のVDDOは、電源供給端子としての端子処理用VDDレベル出力端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.129のRESSELは、リセット解除後の自動表示オフシーケンス動作の有無を設定する端子である。端子No.130のVSSOは、電源供給端子としての端子処理用VSSレベル出力端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.131のPSBは、インターファースモード切り替え端子である。端子No.132のVDDOは、電源供給端子としての端子処理用VDDレベル出力端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.133のC86は、インターフェース切り替え端子である。端子No.134のVSSOは、電源供給端子としての端子処理用VSSレベル出力端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.135、136のTESTは、テスト用入力端子である。端子No.137のTEは、tearning effect出力端子である。端子No.138のCR2は、低周波数用発信回路用抵抗接続用入力端子である。端子No.139のCR1は、低周波数用発信回路用抵抗接続出力端子である。端子No.140のOSCVDDは、電源供給端子としての発信回路用電源端子であり、aimRの値は15Ωとなっている。端子No.141〜143のOS checkは、出力側オープン/ショートチェック端子である。詳細については後述するが、本実施形態においては、このようなaimR値が低い、電源供給端子、電源供給コントロール端子、及びグランド端子のうち少なくとも1つを駆動用IC3の長手方向におけるほぼ中央部に配置している。すなわち、駆動用IC3のほぼ中央部に位置する入力用バンプ33と接続する端子は、他の端子よりも入力用バンプ33との接続抵抗の許容値が相対的に小さい。目標抵抗が5〜15Ωの端子は中央部に配置したい端子であり、更に望ましくは5〜10Ωの端子を中央部に配置することが好ましい。
電源回路100は、昇圧回路と電位調整回路を有しており、液晶表示に必要な駆動電圧を生成している。本実施形態では、昇圧回路としてチャージポンプ方式を採用している。また、電位調整回路は、演算増幅器と電圧調整用抵抗を有している。
以上のように、本実施形態においては、駆動用IC3の長手方向(x方向)に並ぶ入力用バンプ33のうちほぼ中央部(本実施形態においては、端子No.49〜端子No.105の部分にほぼ相当する)に位置する入力用バンプ33と接続する端子として、低い接続抵抗値aimRが求められる電源供給端子、電源供給コントロール端子及びグランド端子を設けることにより、例え経時変化により入力用バンプ33と入力端子41との間のACFが緩んでも、駆動用IC3の中央部における入力用バンプ33と入力端子41との間の接続抵抗は高くならず、常に安定した動作特性の液晶装置1を得ることができる。すなわち、第1ガラス基板20と駆動用IC3との熱膨張係数が異なることにより、駆動用IC実装の熱圧着工程時に、図7に示すように、駆動用IC3が反った形状で歪んで圧着される。このため、時間の経過とともに駆動用IC3の長手方向(x方向)における外側部3cのACF43が緩み、駆動用IC3の外側部3cにおける入力バンプ33と入力端子41との接続抵抗が高くなってしまう。そこで、本実施形態においては、経時変化によるACF43の緩みにより接続抵抗が高くなりやすい駆動用IC3の外側部3cにおける入力用バンプ41に電気的に接続する入力端子41として、aimRの値が50Ωというような高い端子を配置し、駆動用IC3の中央部3bにおける入力用バンプ41に電気的に接続する入力端子41として、aimRの値が5Ωというような低い端子を配置している。これにより、例え、経時変化によってACF43が緩み、駆動用IC3の外側部3bにおける入力用バンプ33とこれに対応する入力端子41との接続抵抗が高くなっても、接続抵抗の許容最大値がもともと高い入力端子41を外側部3bに配置しているので、液晶装置の表示特性が劣化することがない。また、駆動用IC3の中央部3bにおいては、経時変化によってACF43が緩みにくく、駆動用IC3の中央部3bの入力用バンプ33とこれに対応する入力端子41との接続抵抗が変化しにくい。そして、このような接続抵抗の変化が少ない駆動用IC3の中央部3bに対応する領域に、接続抵抗の許容最大値が低い電源供給端子、電源供給コントロール端子及びグランド端子の少なくともいずれか1つを設けることにより、経時変化による液晶装置の表示特性の劣化を抑制することができる。
<第2実施形態>
上述の第1実施形態では、昇圧回路としてチャージポンプ方式を用いた場合について説明したが、本実施形態では、昇圧回路としてチョッパー方式を用いた場合の半導体装置としての駆動用ICについて説明する。また、第1実施形態における駆動用IC3は電源回路、コモン電極用ドライバ、セグメント電極用ドライバを有していたが、本実施形態における駆動用IC103は、電源回路、コモン電極用ドライバを有している。
本実施形態における駆動用IC103について図8、9を用いて説明する。
図8は、駆動用IC103の各バンプと、これに接続する端子との関係を示す概略模式図である。図9は、駆動用IC103の各入力用バンプと電気的に接続する入力端子の端子名称、入力用バンプと入力端子との接続に求められる許容接続抵抗値を示す。図9において、aimRは、入力用バンプと入力端子との目標接続抵抗値であり、この数値以下の接続抵抗となるよう駆動用IC103を設けることが液晶装置の動作特性上望まれる。aimRは接続抵抗の許容最大値といえる。
図8に示すように、駆動用IC103のバンプ面103aの一方の側には、複数(ここでは98)の入力用バンプ133がほぼ一列に並んで設けられ、他方の側には、複数(ここではm)の出力用バンプ134がほぼ一列に並んで設けられている。各入力用バンプ133は、液晶パネルに設けられている入力端子(図8における端子No.1〜端子No.98に相当)とACFを介して電気的に接続され、各出力用バンプ134は、液晶パネルに設けられているコモン電極用出力端子(図8に示すCOM1〜COMmに相当)に電気的に接続されている。
図9において、端子No.1、2のDUMMYは、ダミーパッドである。端子No.3のPOSは、信号端子である。端子No.4のXRESは信号端子である。端子No.5のFRは、信号端子である。端子No.6のDY0は信号端子である。端子No.7のDY2は信号端子である。端子No.8のYSCLは信号端子である。端子No.9のXINHは信号端子である。端子No.10のNOSELは信号端子である。端子No.11のSHFは信号端子である。端子No.12のALTは信号端子である。端子No.13のXSETは信号端子である。端子No.14のOSC CLK INは信号端子である。端子No.15〜17のD GNDは、グラント端子としてのデジタル信号系のグランドである。端子No.18〜20のAGNDは、グランド端子としてのアナログ信号系のグランドであり、aimRは5Ωなっている。端子No.21〜23のVINYは、電源端子としての入力電源端子であり、aimRは15Ωとなっている。端子No.24〜26のVDYは、コモン電極用ドライバのVD入力端子であり、aimRは5Ωとなっている。端子No.27〜29のCVHDは、コモン電極ドライバ部チャージポンプ電圧(VH−VD)出力端子である。端子No.30〜32のVHYは、電源端子としてのコモン電極ドライバのVH入力端子であり、aimRは15Ωである(となっている。端子No.33〜35のCVHは、コモン電極ドライバ部のC/P回路の(VH−VD)系電圧用フライング・キャパシタ接続端子である。端子No.36〜38のCVDは、コモン電極ドライバ部C/P回路の(Vh−VD)、(VL+VD)系フライング・キャパシタ接続端子である。端子No.39〜41のCVLは、コモン電極ドライバ部C/P回路の(VL+VD)系電圧用フライング・キャパシタ接続端子である。端子No.42〜44のCVLDは、コモン電極ドライバ部チャージポンプ電圧(VL+VD)出力端子である。端子No.45〜47のVLYは、電源端子としてのコモン電極ドライバのVL入力端子であり、aimRは15Ωである(となっている)。端子No.48〜50のVLは、VL出力及び電圧検知端子である。端子No.51〜53のCFNは、VL系チャージポンプ用キャパシタ接続端子である。端子No.54〜56のCFPは、VL系チャージポンプ用キャパシタ接続端子である。端子No.57〜59のVHは、VH出力及び電圧検知端子である。端子No.60〜62のPGNDは、グランド端子としてのパワーグランド端子である。端子No.63〜65のLXは、VD/VH系インダクタ接続端子である。端子No.66のTESTは、信号端子である。端子No.67〜69のVINは、入力電源端子であり、aimRは5Ωである(となっている)。端子No.70〜72のVDは信号端子である。端子No.73〜75のAGNDはグランド端子としてのアナロググランド端子であり、aimRは5Ωである(となっている)。端子No.76〜78のVINCAPは、VINフィルタ用キャパシタ接続端子である。端子No.79のTSは、信号端子である。端子No.80のXPOFFは信号端子である。端子No.81のSCPENは信号端子である。端子No.82のWRTROMは信号端子である。端子No.83のRWENは信号端子である。端子No.84のOSC CLK OUTは信号端子である。端子No.85〜87のVROMは信号端子である。端子No.88〜90のDGNDはデジタル信号系のグランドである。端子No.91のBCKは信号端子である。端子No.92のBDATAは信号端子である。端子No.93のBLHは信号端子である。端子No.94のBRSTは信号端子である。端子No.95のTODIGは信号端子である。端子No.96のTOANAは信号端子である。端子No.97、98のDUMMYはダミーパッドである。5〜15Ωの端子が中央部に配置したい端子である。
本実施形態においても、駆動用IC103の長手方向(x方向)に並ぶ入力用バンプ133のうちほぼ中央部(本実施形態においては、端子No.30〜端子No.70の部分にほぼ相当する)に位置する入力用バンプ133と接続する端子として、低い接続抵抗値aimRが求められる電源供給端子、電源供給コントロール端子及びグランド端子を設けることにより、例え経時変化により入力用バンプ133と入力端子との間のACFが緩んでも、駆動用IC103の中央部における入力用バンプ133と入力端子との間の接続抵抗は高くならず、安定した動作特性の液晶装置を得ることができる。
<第3実施形態>
次に駆動用ICの変形例について説明する。図10は第3実施形態に係る駆動用ICのバンプに接続する端子の説明図である。
本実施形態は、駆動用ICの複数の入力用バンプは、入力用バンプと入力用端子との接続抵抗の許容最大値が、x方向において外側から内側に向かって低くなるように配置されている。具体的には、端子No.1のXRESのaimRは25Ω、端子No.2のXRDのaimRは25Ω、端子No.3のBRSTのaimRは20Ω、端子No.4のBDATAのaimRは20Ω、端子No.5のBCKのaimRは20Ω、であり、端子No.6のA0のaimRは20Ω、端子No.7のVDCTのaimRは15Ω、端子No.8のCPのaimRは15Ω、端子No.9のCNのaimRは15Ω、端子No.10のVH_INのaimRは15Ω、端子No.11のVH_OUTのaimRは15Ω、端子No.12のC6NのaimRは15Ω、端子No.13のC5NのaimRは15Ω、端子No.14のC4NのaimRは15Ω、端子No.15のC3NのaimRは15Ω、端子No.16のC2NのaimRは15Ω、端子No.17のC1NのaimRは15Ω、端子No.18のC1PのaimRは15Ω、端子No.19のC2PのaimRは15Ω、端子No.20のC3PのaimRは15Ω、端子No.21のC4PのaimRは15Ω、端子No.22のC5PのaimRは15Ω、端子No.23のC6PのaimRは15Ω、端子No.24のVL_OUTのaimRは15Ω、端子No.25のVL_INのaimRは15Ω、端子No.26のC0PのaimRは15Ω、端子No.27のC1NのaimRは15Ω、端子No.28のVD_INのaimRは10Ω、端子No.29のGNDLのaimRは5Ω、端子No.30のGNDHのaimRは5Ω、端子No.31のVD_OUTのaimRは10Ω、端子No.32のVDDのaimRは10Ω、端子No.33のVDDHX2_OUTのaimRは15Ω、端子No.34のVDDHX2_INのaimRは15Ω、端子No.35のVDDHX2_INのaimRは15Ω、端子No.36のLV_INのaimRは15Ω、端子No.37のVH_INのaimRは15Ω、端子No.38のVD_INのaimRは15Ω、端子No.39のGNDHのaimRは15Ω、端子No.40のGNDLのaimRは15Ω、端子No.41のVDDのaimRは15Ω、端子No.42のGNDH2のaimRは15Ω、端子No.43のGNDH3のaimRは15Ω、端子No.44のD7のaimRは20Ω、端子No.45のD6のaimRは20Ω、端子No.46のD5のaimRは20Ω、端子No.47のD4のaimRは20Ω、端子No.48のD3のaimRは20Ω、端子No.49のD2のaimRは20Ω、端子No.50のD1のaimRは20Ω、端子No.51のD0のaimRは20Ω、端子No.52のXWRのaimRは25Ω、端子No.53のXCSのaimRは25Ωに設定されている。
本実施形態においても、駆動用ICの長手方向(x方向)に並ぶ入力用バンプのうちほぼ中央部に位置する入力用バンプと接続する端子として、低い接続抵抗値aimRが求められる電源供給端子、電源供給コントロール端子及びグランド端子を設けることにより、例え経時変化により入力用バンプと端子との間のACFが緩んでも、駆動用ICの中央部における入力用バンプと端子との間の接続抵抗は高くならず、安定した動作特性の液晶装置を得ることができる。
(電子機器)
次に、上述した液晶装置1を備えた電子機器について説明する。
図11は本実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図である。
電子機器300は、表示制御系として例えば図11に示すように液晶パネル4及び表示制御回路390などを備え、その表示制御回路390は表示情報出力源391、表示情報処理回路392、電源回路393及びタイミングジェネレータ394などを有する。
また、液晶パネル10上は、その表示領域Gを駆動する駆動回路361を有する。駆動回路361は上述した液晶装置1の駆動用IC3、103に相当する。
表示情報出力源391は、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)などからなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスクなどからなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備えている。更に表示情報出力源391は、タイミングジェネレータ394によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号などの形で表示情報を表示情報処理回路392に供給するように構成されている。
また、表示情報処理回路392はシリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路などの周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号CLKと共に駆動回路361へ供給する。駆動回路361は、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路393は、上述した各構成要素に夫々所定の電圧を供給する。
このような電子機器300は、駆動用IC3、103の入力用バンプと入力端子との接続抵抗の経時変化による表示特性の劣化がないため、安定した表示特性を有する。
具体的な電子機器としては、携帯電話機やパーソナルコンピュータなどの他に液晶装置が搭載されたタッチパネル、プロジェクタ、液晶テレビやビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、上述した例えば液晶装置1が適用可能なのは言うまでもない。
なお、本発明の電気光学装置及び電子機器は、上述した例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更を加え得ることは勿論である。
例えば、上述の実施形態においては、TFD素子を用いた液晶装置を例にあげて説明したが、TFT素子を用いた液晶装置や単純マトリクス型液晶装置にも適用できる。また、本実施形態においては電気光学装置として液晶装置を例にあげたが、COG方式を採用する有機エレクトロルミネッセンス装置にも適用できる。
第1実施形態に係る液晶装置の電気的な構成を示す概略ブロック図。 第1実施形態に係る液晶装置の概略斜視図。 第1実施形態に係る駆動用ICのバンプと端子との関係を示す概略模式図。 第1実施形態に係る駆動用ICのバンプに接続する端子の説明図(その1)。 第1実施形態に係る駆動用ICのバンプに接続する端子の説明図(その2)。 第1実施形態に係る駆動用ICのバンプに接続する端子の説明図(その3)。 駆動用ICの実装状態を示す概略断面図。 第2実施形態に係る駆動用ICのバンプと端子との関係を示す概略模式図。 第2実施形態に係る駆動用ICのバンプに接続する端子の説明図。 第3実施形態に係る駆動用ICのバンプに接続する端子の説明図。 実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図。
符号の説明
1 液晶装置、 3、103 駆動用IC、 4 液晶パネル、 20 第1ガラス基板、 33 入力用バンプ、 41 入力端子、 43 ACF、 300 電子機器、 VL OUT 液晶駆動電圧出力端子(コモン電極オンレベル)、 VL IN 液晶駆動電圧入力端子(コモン電極オンレベル)、 VLCHP IN 昇圧電圧1入力端子、 VLCHP OUT 昇圧電圧1出力端子、 VDDHX2 IN 昇圧電圧2入力端子、 VDDHX2 OUT 昇圧電圧2出力端子、 VDDH アナログ系電源端子、 VDDH2 昇圧用電源端子、 GNDH3 昇圧用グランド端子、 GNDH2 アナログ系グランド端子、 GNDL MPUインターフェース、内部ロジック系グランド端子、 VDD MPUインターフェース、内部ロジック系電源端子、 VD OUT 液晶駆動電圧出力端子(コモン電極オフレベル、セグメント電極オンレベル)、 VD IN 液晶駆動電圧入力端子(コモン電極オフレベル、セグメント電極オンレベル)、 VSSO 端子処理用VSSレベル出力端子、 VDDO 端子処理用VDDレベル出力端子、 OSCVDD 発信回路用電源端子、 aimR 接続抵抗の許容最大値

Claims (5)

  1. 基板を有する電気光学パネルと、
    前記基板上に第1の方向に沿って配置された複数の入力端子と、
    各前記入力端子と導電性有機部材を介して電気的に接続する複数の入力用バンプが配置された半導体装置とを具備する電気光学装置であって、
    前記第1の方向における前記半導体装置のほぼ中央部に位置する前記入力用バンプと接続する前記入力端子は、他の入力端子よりも前記入力用バンプとの接続抵抗の許容値が相対的に小さいことを特徴とする電気光学装置。
  2. 前記第1の方向における前記半導体装置のほぼ中央部に位置する前記入力用バンプと接続する前記入力端子は、電源供給端子、電源供給コントロール端子、及びグランド端子の少なくとも1つであることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
  3. 前記半導体装置と前記基板とは熱膨張係数が異なることを特徴とする請求項1または2記載の電気光学装置。
  4. 前記複数の入力用バンプは、該入力用バンプと前記入力用端子との接続抵抗の許容最大値が、前記第1の方向において外側から内側に向かって低くなるように配置されていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のうちいずれか一項に記載の電気光学装置。
  5. 請求項1から請求項4のうちいずれか一項の記載の電気光学装置を備えた電子機器。
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