[go: up one dir, main page]

JP2005522157A - エネルギー回復による低電力ドライバ - Google Patents

エネルギー回復による低電力ドライバ Download PDF

Info

Publication number
JP2005522157A
JP2005522157A JP2003585266A JP2003585266A JP2005522157A JP 2005522157 A JP2005522157 A JP 2005522157A JP 2003585266 A JP2003585266 A JP 2003585266A JP 2003585266 A JP2003585266 A JP 2003585266A JP 2005522157 A JP2005522157 A JP 2005522157A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
constant
pull
clock signal
bit line
driver
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003585266A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4926375B2 (ja
Inventor
キム・ジューヒー
パパエフシーミオウ・マリオス・シー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Michigan Ann Arbor
Original Assignee
University of Michigan Ann Arbor
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by University of Michigan Ann Arbor filed Critical University of Michigan Ann Arbor
Publication of JP2005522157A publication Critical patent/JP2005522157A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4926375B2 publication Critical patent/JP4926375B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4094Bit-line management or control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/408Address circuits
    • G11C11/4085Word line control circuits, e.g. word line drivers, - boosters, - pull-up, - pull-down, - precharge
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/418Address circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419Read-write [R-W] circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/12Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Control Of Eletrric Generators (AREA)
  • Steering Control In Accordance With Driving Conditions (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Transmitters (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Devices For Checking Fares Or Tickets At Control Points (AREA)
  • Control Of Stepping Motors (AREA)

Abstract

本発明は一定のプル−アップ制御装置(22)、一定のプル−ダウン制御装置(24)および一定の伝達ゲート(26)を備えている一定のエネルギー回復ドライバ(20)を提供している。上記のプル−アップ制御装置(22)は一定のプル−アップ制御信号(ch)および一定のクロック信号(PC)に応じてそのクロック信号(PC)の所定の位置において伝達ゲート(26)をオンおよびオフにする。また、プル−ダウン制御装置(24)は一定のプル−ダウン制御信号(dch)およびクロック信号(PC)に応じてそのクロック信号(PC)の別の所定の位置において伝達ゲート(26)をオンおよびオフにする。さらに、伝達ゲート(26)は一定のオン条件にある時にクロック信号(PC)を伝達し、一定のオフ条件にある時にクロック信号(PC)を伝達しない。

Description

発明の内容の開示
発明の分野
本発明は一般に低電力ドライバに関連しており、特に、本発明はエネルギーの回復特性による一定の低電力ドライバに関連している。
発明の背景
従来のSRAMの構造は種々のキャッシェ・メモリーを伴う等のようなオン−チップ型の高速メモリー・アクセスのために用いられている。ビット線ドライバは種々のビット線を駆動し、ワード線ドライバはSRAMにおいて種々のセルに接続しているワード線を駆動してそのSRAMから書込み情報を読み取りそのSRAMのセルに記憶させる。このようなシステムにおいて一定の読み取りを実行する場合に、一定のワード線が活性化して上記のビット線がそれぞれの接続しているメモリー・セルに対してアクセスできるようになる。また、一対のビット線がワード線を活性化する前に予め充電される。これに続いて、この蓄積された値を示すその一対のビット線を跨ぐ一定の電圧が一定のセンス増幅器により読み取られてその読み取り動作が行なわれる。さらに、一定のラッチング回路がこの増幅された電圧を保持して種々の素子が読み取るためにその電圧を利用可能に維持する。その後、ワード線が再び充電されてそのアレイの中における所望のセルに対してアクセス可能になる。この場合に、1個のビット線が充電されが、その他のビット線は一定のセルに対する書込みを実行するために充電されない。
上記の構造において、処理電力の消失は一定の増大しつつある重要な目的となっている。この目的のために、一部の計算システムは電力消費を減少するために、それぞれのビット線ドライバおよびワード線ドライバを介して、それぞれのビット線およびワード線を跨いで送られるクロック信号パルスを再生利用するために回復用の断熱的なクロック回路を用い始めている。このことは確かにエネルギーの節約を行なうが、幾つかの欠陥がこの技法の現状において存在している。具体的に言えば、上記のようなシステムは一般的に複雑であり、一定の階段状のまたは方形の波形等のようなエネルギーの回復特性を与えないか、必要とされるスイッチング能力が与えないクロック信号の波形を生じる。本発明はこれらのおよびさらに別の欠陥に鑑みて開発されている。
発明の概要
本発明は一定のプル−アップ制御装置、一定のプル−ダウン制御装置および一定の伝達ゲートを含む一定のエネルギー回復ドライバを提供している。このプル−アップ制御装置は一定のプル−アップ制御信号および一定のクロック信号に応じてその周期的なクロック信号の所定の位置において伝達ゲートをオンまたはオフに(始動または停止)する。また、上記のプル−ダウン制御装置は一定のプル−ダウン制御信号および上記のクロック信号に応じてその周期的なクロック信号の別の所定の位置において伝達ゲートをオンおよびオフにする。さらに、上記の伝達ゲートは一定のオン条件にある時に上記クロック信号を伝達して、一定のオフ条件にある時に上記クロック信号を伝達しない。本発明の別の態様が上記の欠陥および以下の詳細な説明を調べることにより当該技術分野における熟練者において明らかになる。
発明の詳細な説明
本発明がその本質的な特性から逸脱することなく別の特定の形態において実施可能であることが当然に理解されると考える。すなわち、図示されていて説明されているそれぞれの実施形態は全ての点において例示的であり限定を目的としていないと見なすべきである。それゆえ、本発明の範囲は上記の説明によるのではなく添付の特許請求の範囲により指定されている。従って、この特許請求の範囲の意味および等価な範囲に該当する全ての変形が本発明の範囲に含まれると考えるべきである。
図1において、本発明による一定のSRAM構造10が図示および記載されている。このSRAM構造10は一般に複数のメモリー・セルを有するセル・アレイ12、複数のビット線を駆動するビット線ドライバ14、センス増幅器16、および複数のワード線を駆動するワード線ドライバ18を含む。このワード線ドライバ18はそれぞれのワード線の活性化によりセル・アレイ12における特定のメモリー・セルを活性化または不活性化して、ビット線ドライバ14がそれぞれのビット線を介してその内部におけるセルのいずれかに対してまたはそのいずれかからの読取りまたは書込みを実行できるようにする。さらに、センス増幅器16はそれぞれのビット線における読取り値を増幅して要求している種々の外部装置にその値を出力する。
次に、図2において、一定のエネルギー回復ドライバ20が図示および記載されている。このエネルギー回復ドライバ20は図1におけるビット線ドライバ14またはワード線ドライバ18のために使用できる。このエネルギー回復ドライバは上述したようなそれぞれの動作を実行するためにそれぞれのワード線またはビット線に沿って所望の波形を発生する。このような所望の特徴を達成するために、上記のエネルギー回復ドライバ20は一般にプル−アップ制御装置22、プル−ダウン制御装置24および伝達ゲート26を含む。このプル−アップ制御装置22はプル−アップ制御信号chおよびクロック信号PCを受信する。また、プル−ダウン制御装置24はプル−ダウン制御信号dchおよびクロック信号PCを受信する。また、伝達ゲート26は上記プル−アップ制御装置22の出力に接続している一定のPMOSトランジスタおよびプル−ダウン制御装置24に接続している一定のNMOSトランジスタを含む。もちろん、別の構成が本明細書において記載されている装置の他にも可能である。
上記のクロック信号PCは一定のクロック信号発生器から発生される一定の周期的な信号であり、好ましくは一定の正弦波状または傾斜波状の信号である。上記の各制御信号chおよびdchはそれぞれ上記のプル−アップ制御信号およびプル−ダウン制御信号を活性化して上記伝達ゲート26を上記クロック信号PCに関連してオンまたはオフに(始動または停止)する。すなわち、プル−アップ制御装置22は伝達ゲート26におけるPMOS部分に対して一定のゼロ電圧を出力してその伝達ゲート26をオンにしてクロック信号PCが励振負荷32に対して出力されることを可能にし、この負荷は上記セル・アレイ12におけるそれぞれのビット線BLT(真のビット線)(bit line true)、BLF(偽のビット線)(bit line false)またはワード線WLとすることができる。同様に、プルーダウン制御装置24は一定の正の電圧を伝達ゲート26におけるNMOSトランジスタ部分のゲートに対して発生してその伝達ゲート26をオンにすることによりクロック信号PCが励振負荷32に出力されることを可能にする。上記のプル−アップ制御装置22と同様に、プル−ダウン制御装置24はクロック信号PCおよびプル−ダウン制御信号dchに依存している。
次に、図3A乃至図3Cにおいて、上記負荷32に対する出力がさらに詳細に説明されている。図3Aは最大のエネルギー回復の状況を示している。この場合に、WLまたはBLT、BLFに伝達される正弦波は最大のエネルギー回復の特徴を提供している。このドライバの出力は、上記伝達ゲート26が電力クロック信号PCの全体にわたりオンである時に、その出力がその電力クロックの波形の漸進的な変化を追跡することを可能にする。この方法はそのドライバ出力が全体を通して滑らかに変化するので高いエネルギー効率を生じる。しかしながら、この方法はそのドライバ出力のピーク値におけるわずかな留まりにより最小の動作周波数を生じる。一方、図3Cにおいては、電力クロック信号PCの正および負のピークにおいてのみ伝達ゲート26の出力がオンになる。このことはそのクロックの周期の約半分にわたりドライバ出力がそのピーク値に留まるので、最大の速度を生じる。しかしながら、この方法はまた出力伝達の急な変化により最小のエネルギー効率も生じる。そこで、図3Bは本発明による一定の好ましい波形の実施例を示している。この図3Bにおいては、高効率および高速の両方を生じるために部分的な漸進的変化が用いられている。この出力波形の別の利点はこのドライバ出力がそれぞれの動作後にVssまで引き下げられる(pulled down)ことを必要としないことである。それゆえ、エネルギーが同一の種類の連続的な動作の間に消失しない。
次に図4Aおよび図4Bにおいて、上記プル−アップ制御装置22の一定の実施形態が記載されており、このプル−アップ制御装置22は後に説明されているプル−ダウン制御装置と共に図3Bの所望の波形を生じる。図4Aにおいて、このプル−アップ制御装置22はインバータ34aおよびインバータ34bを含む。それぞれのインバータ34aおよび34bは相補的なPMOSおよびNMOSのトランジスタ36aおよび36bをそれぞれ有している。動作において、これらのインバータ34aおよび34bはクロック信号PCが中間点38に到達する時にプル−アップ制御装置のアウトまたは出力30に到る制御信号chの流れを停止するように動作する(図3Bを参照されたい)。さらに、このゼロ電圧は伝達ゲート26のPMOSトランジスタに供給されてこの伝達ゲート26をオンにすることにより、クロック信号PCをそれぞれのビット線BLTまたはBLFまたはワード線WL等のような励振負荷32に対して供給することを可能にする。このことは出力30をその電流クロック値まで効果的に引き上げて一定の傾斜したクロック信号と共に継続する。さらに、クロック信号PCがピーク値40に到達すると、各インバータ34aおよび34bがプル−アップ制御信号のアウトまたは出力30に制御信号chが供給されることを可能にして伝達ゲート26におけるPMOSトランジスタをオフにする。このことは、さらに、クロック信号PCが出力の負荷32に対して供給されることを妨げる。上記のような各ビット線BLT、BLFまたはワード線WLにおける等のような、出力負荷における寄生キャパシタンスにより、そのドライバを用いる目的により、そのシステムの電圧は、以下においてさらに詳細に説明されているように、プル−ダウン制御装置24がオンになるまでそのピーク値に維持される。さらに、図4Bにおいて、上記のプル−アップ制御装置のアウトまたは出力30がクロック信号PCとの関連において示されている。この図から分かるように、このプル−アップ制御装置のアウトまたは出力30は中間点38に到達する時にオフになり、その後、ピーク値40に到達する時にオンに戻る。
次に図5Aおよび図5Bにおいて、上記プル−ダウン制御装置24がさらに詳細に記載されている。このプル−ダウン制御装置24はそれぞれ相補的なPMOSおよびNMOSのトランジスタ44Aおよび44Bを有しているインバータ42Aおよび42Bを含む。前述と同様に、これらのインバータ42Aおよび42Bは、図5Bにおいて示されているように、プル−ダウン制御装置のアウトまたは出力31がオンになりその制御信号dchがクロック信号PCの下降の中間点46に到達する時に伝達ゲート26におけるNMOSトランジスタのゲートに供給されることを可能にするようにそれぞれ動作する。同様に、これらのインバータ42Aおよび42Bはピークの最小値48に到達する時に制御信号dchがPMOSトランジスタ44Aを介してプル−ダウン制御装置のアウトまたは出力31に供給されないようにそれぞれ動作する。このようにして、上記の中間点46と48との間において、伝達ゲート26がオンになり、傾斜した電力クロック信号PCが出力負荷32に供給されることが可能になる。上記ピークの最小値48に到達すると、それぞれのインバータ42Aおよび42Bは制御信号dchをプル−ダウン制御信号のアウトまたは出力31に供給することを停止する。このようにして、このシステムにおける寄生キャパシタンスがそのシステムの電圧を上記のような最小のピーク値に維持する。
以下においてさらに述べられているように、上記のプル−アップ制御信号chおよびプル−ダウン制御信号dchは上記セル・アレイ12と共に行なわれる読取りまたは書込みの動作に応じて伝達ゲート26をオンおよびオフに選択的に動作するために上記のプル−アップ制御装置22およびプル−ダウン制御装置24にそれぞれ供給できる。
上記図4および図5の制御回路は遅い電力クロックの変化から鋭い伝送状態に復帰するシュミット・トリガーに類似している。すなわち、上記の電力クロックおよびパルス幅における変化点はCMOSシュミット・トリガーに類似している一定の様式において第1のインバータ34aおよび42Aおよび単独型のPMOS50またはNMOS52における各トランジスタの割合を決めることにより制御できる。この結果、上記の制御信号chおよびdchは上記制御回路がアイドル電力の消失を最少にすることを選択的に可能にする。このような構造は上記SRAM構造10の一定の広範囲な供給電圧および動作周波数にわたる動作を確実に修正する。
上記の供給電圧が変化するのに従って、それぞれの異なる経路を介する遅延が非線形的に変化して、それぞれの制御信号のタイミングに変化を生じる。上記伝達ゲート26のPMOSおよびNMOSのそれぞれの制御信号はその供給電圧の変化にかかわらずクロック信号PCに同期している状態に留まる必要があり、この制御信号は上記ドライバのそれぞれの制御信号のタイミングにおける変化を許容する必要がある。図6において示されているように、上記ドライバの動作を修正するための各ドライバ制御信号chおよびdchのタイミングがそれぞれ例示されている。図4Aおよび図5Aにおける回路の構成により、制御信号dchは理想的には点54Aと点54Bとの間に維持され、制御信号chは好ましくは点56Aと点56Bとの間に維持される。このことは上記のプル−アウト制御装置22およびプル−ダウン制御装置24の適正な動作に対応するそれぞれの制御信号を供給するための一定の広い許容度を可能にする。加えて、上記の制御信号dchおよびchはdchに対応する各点54Cおよび54Dおよびchに対応する各点56Cおよび56Dまでそれぞれ操作できる。
図7において、上記ビット線ドライバ14およびワード線ドライバ18としての各エネルギー回復ドライバ20の適用例およびその動作が記載されている。本発明によるSRAM構造において、そのクロック信号PCは好ましくは単一相のクロック信号である。また、書込み動作は従来の種々のSRAMと類似している一定の様式で生じる。すなわち、最初に、「0」を記憶しているビット線BLF0が引き下げられる(pulled down)。その後、「1」を記憶しているワード線WL0およびビット線BLT0が共に引き上げられて(pulled up)記憶しているデータをセル・アレイ12の中に記憶させる。
全てのメモリー・アクセスにおいて、1個の選択されたワード線だけが引き上げられて他の全てのワード線が引き下げられる。従来の種々のSRAMにおいては、選択されないワード線の引き下げはそのVssのレベルが常に利用可能であるために消散的でない。しかしながら、本発明によるSRAM構造10においては、この動作が電力を消散させる。すなわち、上記の引き下げはクロック信号PCがVssを超えた時に開始するので、それぞれのワード線はVssよりも高く引き上げられた後に引き下げられる。それゆえ、本発明によるエネルギー回復用のSRAMにおいては、その選択されたワード線はそれぞれのアクセスの後に明らかに引き下げられることが好ましい。
また、読取り動作においては、予備充電を一定のワード線の表明の前に行なう必要があるので、全てのビット線の対は単一周期内において読取りを行なうために低く予備充電されている必要がある。図7において、BLT0およびBLF0はWL0が高く設定されるまえに低く設定されている。さらに、予備充電の後に、ワード線WLは充電されて、セル・アレイ12内の一定のセルのセル結節点がそれぞれの対のビット線BLの間に一定の電圧差を生じる。このセルからビット線BLに供給される充電はビット線ドライバ14を介して回復できるので、本発明において低く予備充電することは高く充電することよりもエネルギー効率が高い。好ましくは、上記センス増幅器16はこの増幅器16をVddに対してVssに近い電圧差に対して比較的に感度が高くなるように改変されている。
図8において、Vddに対してVssに近い電圧差を感知するために高められた感度を示すセンス増幅器16が示されている。具体的に言えば、図8において、このセンス増幅器16は3個の積層型の増幅器60a、60bおよび60cを含んで示されている。この内の増幅器60aは好ましくは一定の交差連結型のセンス増幅器であるが、他の増幅器60bおよび60cは好ましくは電流鏡像型の増幅器である。もちろん、多くの異なる構成がこのセンス増幅器16において可能であり、本発明が本明細書において開示されている構成に限定されないことが理解されると考える。図8において、交差連結型のセンス増幅器60aは図7におけるビット線BLTおよびビット線BLFにそれぞれ接続しているゲートを有するPMOSトランジスタ62Aおよび62Bを含む。これらのBLTおよびBLFの読取り動作中においてVssに近づいているそれぞれの電圧はそれぞれのPMOSトランジスタを動作してそれぞれの増幅器60a、60bおよび60cがBLTとBLFとの間の電圧差を増幅することを可能にする。さらに、ラッチ回路63がこの増幅された電圧差を保持してその電圧差をそれぞれの読取り動作において出力する。
本発明の実施形態によるエネルギー回復ドライバ20は好ましくは一定のエネルギー回復用の電力クロックと共に用いられる。図12において、エネルギー回復用の電力クロック901がエネルギー回復ドライバ20および記憶装置903と共に示されている。この記憶装置は一定のSRAM、DRAM、NVMまたは表示装置とすることができる。このようなエネルギー回復用の電力クロック901は本発明の譲受人に譲渡されていて本明細書に参考文献として含まれる「クロック・シグナル・ジェネレイティング・サーキット(CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT)」を発明の名称とする同時係属の特許出願に従うことができる。また、上記の記憶装置は、信号が付加的なエネルギーを必要とする時点まで電力クロック901による補給を伴わずに、上記ドライバ20に対してクロック信号PCを供給する。また、制御信号wrは、電力クロック901に上記システムに対して付加的なエネルギーを補給すると共に種々の制御信号をドライバ20に供給するように命令するために、ch、dchまたはin、またはこれらの任意の組み合わせを含む本明細書において説明されている任意の制御信号とすることができる。
次に図9において、上記エネルギー回復ドライバの別の実施形態が図示および記載されている。この図9において、一定のエネルギー回復ドライバ20aが示されており、このドライバ20aは一般に上述の各実施形態において説明されているようなプル−アップ制御装置22、プル−ダウン制御装置24および伝達ゲート26を含む。上記と同様に、これらのプル−アップ制御装置22、プル−ダウン制御装置24および伝達ゲート26は図3Bにおいて示されているような一定のクロック波形を発生するように動作する。しかしながら、これらの構成要素に加えて、このエネルギー回復ドライバ20aはマルチプレクサ64aおよび64bならびにフィードバック・ライン66aおよび66bも含む。一定の本発明の実施形態において、そのエネルギー回復ドライバ20aは比較的に長時間の期間にわたりピーク値に留まっている一定の出力を発生し、このドライバ20aを高速のSRAMの適用において適するものにしている。さらに、上記のエネルギー回復ドライバ20aはその出力がそれぞれの動作の後に引き下げられることを必要としないので、同一種類の連続的な動作の間に不要にその負荷を切り替えない。具体的に言えば、エネルギー回復ドライバ20aの出力70が高く、プル−アップ制御装置22が伝達ゲート26をオンにするような一定の出力30を発生する場合に、そのマルチプレクサがフィードバック・ライン66aを介してフィードバック情報を受け取り、そのフィードバック情報に基づいて、そのマルチプレクサが出力30に伝達ゲート26をオンにさせないようにする。それゆえ、この伝達ゲートはクロック信号を出力に通過させない。同様に、出力70が低い場合には、伝達ライン66bがその値をマルチプレクサ64bに送る。このようにして、プル−ダウン制御装置24の出力31が伝達ゲート26をオンにするための一定の電圧を出力する場合に、上記のマルチプレクサ64bはその出力31に伝達ゲート26を通過させないようにする。
次に図10において、本発明による別のエネルギー回復ドライバが図示および記載されている。この図10において、そのエネルギー回復ドライバ20bは一対の低駆動通過トランジスタ90および92、2個の評価トランジスタ94および96、ドライバ出力からのフィードバックにより制御される2対のドライバ活性化ブロック(PMOSトランジスタ98、NMOSトランジスタ100、NMOSトランジスタ102、PMOSトランジスタ104)、および上記低駆動通過トランジスタ90および92をそれぞれ駆動する一対のインバータ106および108を含む。
上記のトランジスタ98,100,102および104を含む活性化ブロックはそのエネルギー回復ドライバ20bの出力が不要な切り替えを防ぎながらクロック信号PCを追跡することを可能にしている。このエネルギー回復ドライバ20bは一定の振動電力クロックにより電力供給されているので、このドライバの出力もそのドライバの入力が無変化の状態に維持されている場合でも振動する。このことは不要な切り替えを防ぐと共にドライバの効率を高める。
上記エネルギー回復ドライバ20bはこのエネルギー回復ドライバ20bの出力のレベルに応じて2種類の動作モードを有している。すなわち、その出力110およびクロック信号PCが低い場合には、トランジスタ90がオンになりそのドライバ出力110を充電する。この場合に、トランジスタ100はオフであり、トランジスタ98がオンであるので、仮定の入力INは低くなり、一定のプル−アップ経路がVddからX1まで形成される。これにより、インバータ106を介して、トランジスタ90がオンになり、一定のエネルギー回復の様式でその負荷を充電する。これにより、クロック信号PCおよび出力110が十分に高くなると、トランジスタ98がオフになり、トランジスタ100がオンになって、X1を接地状態(Gnd)に引き下げることによりトランジスタ90をオフにする。さらに、出力110が高いレベルにあると、トランジスタ90はINかかわらずオフの状態に維持されて、そのドライバ出力の不要な揺れを防ぐ。また、トランジスタ98がオフであり、トランジスタ100がオンであるので、X1は引き下げられてトランジスタ90がオフの状態に維持される。
さらに、ドライバ放電経路が上記のドライバ充電経路と二重になっていて、ドライバ出力110のレベルに応じて2種類の動作モードを有している。この出力110およびクロック信号PCが高ければ、トランジスタ92がオンになり、そのクロック信号PCおよび出力110がその最低のピーク値に到達して仮定のINが高くなるまでドライバ20bを放電する。また、出力110が低ければ、トランジスタ92はINにかかわらずオフの状態に維持されて、不要な消失を防ぐ。
上記のインバータ106および108にそれぞれ供給される付加的な電圧レベルと共に過励振式のトランジスタ90およびトランジスタ92により一般に制御されるそれぞれのドライバの出力は電力クロック波形PCのそれぞれのピーク値におけるこれら両方のトランジスタ90および92の十分な漸進的な揺動を行なうことにより比較的に高い効率の切り替えを達成している。
図11において、上記エネルギー回復ドライバ20bのタイミングが図示および記載されている。この図11において、トランジスタ90は点801においてオンになり、一定の正弦波のクロック信号PCに追随する一定の様式で出力110を引き上げる。同様に、トランジスタ92がオフになる。次に、点803において、出力110がそのピーク値に到達すると、トランジスタ90がオフになり、トランジスタ92がオンになる。このことにより、出力110がクロック信号PCと共に引き下げられる。その後、この出力110が点805においてその最小値に到達すると、トランジスタ92がオフになり、トランジスタ90がオンになって、上記の周期が繰り返される。
本発明において説明されているドライバが一定のSRAM装置における使用について説明されているが、DRAM、種々のバス、NVM(不揮発性メモリー)、フラット・パネル・ディスプレイ等のような表示装置、または一定のドライバを必要とする任意の他の装置において使用することも可能であることに注目する必要がある。
本発明が上記の好ましい代替的な種々の実施形態について特定的に図示および説明されているが、当該技術分野における熟練者により、本明細書において説明されている本発明の種々の実施形態の代替物が以下の特許請求の範囲において定められている本発明の趣旨および範囲から逸脱することなく本発明を実施する場合に採用可能であることが当然に理解されると考える。また、以下の特許請求の範囲が本発明の目的を定めること、およびこれらの特許請求の範囲の中に含まれる方法および装置およびこれらの等価物がその範囲により含まれることが考慮されている。また、上記の本発明の説明が本明細書において説明されている全ての構成要素の全ての新規なおよび明らかでない組み合わせを含むことが当然に理解され、その特許請求の範囲がこれらの構成要素のあらゆる新規なおよび明らかでない組み合わせに対する上記の適用またはその後の一定の適用に及ぶと考えられる。さらに、上記の各実施形態は例示的であり、いずれの単一の特徴またはそれぞれの構成要素も上記の適用またはその後の一定の適用において主張できる全ての可能な組み合わせに対して不可欠ではない。以下の特許請求の範囲がその等価物における「一定の(a)」または「第1の(a first)」構成要素を記載している場合に、その特許請求の範囲が1個以上のそのような構成要素の組み込みを含むが、2個以上のそのような構成要素を必ずしも必要としておらず、あるいは、除外していないと理解するべきである。
本発明は以下の添付図面に基づいて例示を目的として説明されている。
本発明による一定のSRAM構造の一例の態様の概略図である。 本発明の一定の態様による一定のエネルギー回復用ドライバの概略図である。 本発明の一定の態様による一定の波形のグラフ図である。 本発明の一定の態様による一定の波形のグラフ図である。 本発明による一定の波形のグラフ図である。 本発明による一定のプル−アップ制御装置の一定の態様の概略図である。 本発明による一定のプル−アップ制御装置の動作のグラフ図である。 本発明による一定のプル−ダウン制御装置の概略図である。 本発明による一定のプル−ダウン制御装置の動作のグラフ図である。 本発明による一定のエネルギー回復用ドライバの一定の出力のグラフ図である。 本発明による一定のSRAM構造の読取りおよび書込みの動作のグラフ図である。 本発明の一定の態様による一定のセンス増幅器の概略図である。 本発明による一定のエネルギー回復用ドライバの概略図である。 本発明による一定のエネルギー回復用ドライバの概略図である。 本発明による一定の波形のグラフ図である。 本発明による電力クロック発生器を伴う一定のエネルギー回復用メモリーの概略図である。

Claims (38)

  1. エネルギー回復ドライバにおいて、
    一定のプル−アップ制御信号および一定の正弦波クロック信号を受信する一定のプル−アップ制御装置、
    一定のプル−ダウン制御信号および前記正弦波クロック信号を受信する一定のプル−ダウン制御装置、および
    一定のオン条件にある時に前記正弦波クロック信号を伝達して、一定のオフ条件にある時に前記正弦波クロック信号を伝達しない一定の伝達ゲートを備えており、
    前記プル−アップ制御装置が前記プル−アップ制御信号および前記クロック信号に応じてそのクロック信号における第1のプル−アップ位置において前記伝達ゲートをオンにして、そのクロック信号における第2のプル−アップ位置において前記伝達ゲートをオフにし、
    前記プル−ダウン制御装置が前記プル−ダウン制御信号および前記クロック信号に応じてそのクロック信号における第1のプル−ダウン位置において前記伝達ゲートをオンにして、そのクロック信号における第2のプル−ダウン位置において前記伝達ゲートをオフにするエネルギー回復ドライバ。
  2. 前記クロック信号における第1のプル−アップ位置がそのクロック信号の上昇している傾斜部分におけるそのクロック信号の一定の中間点であり、
    前記クロック信号における第2のプル−アップ位置がそのクロック信号における一定の最大のピーク値に存在している請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  3. 前記クロック信号における第1のプル−ダウン位置がそのクロック信号の下降している傾斜部分におけるそのクロック信号の一定の中間点であり、
    前記クロック信号における第2のプル−ダウン位置がそのクロック信号における一定の最大値に存在している請求項2に記載のエネルギー回復ドライバ。
  4. 前記プル−アップ制御装置が
    一定の電圧供給源を接地している第1のPMOSトランジスタおよび第1のNMOSトランジスタを有している第1のインバータ、
    前記プル−アップ制御信号を接地している第2のPMOSトランジスタおよび第2のNMOSトランジスタを有している第2のインバータ、および
    一定の電圧供給源を前記第2のPMOSトランジスタおよび第2のNMOSトランジスタの各ゲートに接続している第3のPMOSトランジスタを含み、
    前記クロック信号が前記第1のPMOSトランジスタおよび第1のNMOSトランジスタの各ゲートを駆動し、
    前記第1のPMOSトランジスタのドレインおよび前記第1のNMOSトランジスタのソースの間の一定の接続点が前記第2のPMOSトランジスタおよび第2のNMOSトランジスタの各ゲートに接続しており、
    前記第2のPMOSトランジスタのドレインおよび前記第2のNMOSトランジスタのソースの間の一定の接続点が前記伝達ゲートにおける一定のPMOS部分を駆動し、さらに
    前記第2の接続点が前記第3のPMOSトランジスタのゲートに接続している請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  5. 前記第1のインバータおよび第2のインバータが前記第1のプル−アップ位置において前記伝達ゲートをオンにするように調整されていて、前記第2のプル−アップ位置において前記伝達ゲートをオフにするように調整されている請求項4に記載のエネルギー回復ドライバ。
  6. 前記プル−ダウン制御装置が
    前記プル−ダウン制御信号を接地している第1のPMOSトランジスタおよび第1のNMOSトランジスタを直列に有する第1のインバータ、
    前記プル−ダウン制御装置を接地している第2のPMOSトランジスタおよび第2のNMOSトランジスタを有する第2のインバータ、および
    前記第2のPMOSトランジスタおよび第2のNMOSトランジスタの各ゲートを接地している第3のNMOSトランジスタを含み、
    前記クロック信号が前記第1のPMOSトランジスタおよび第1のNMOSトランジスタの各ゲートを駆動し、
    前記第1のPMOSトランジスタのドレインおよび前記第1のNMOSトランジスタのソースの間の第1の接続点が前記第2のPMOSトランジスタおよび第2のNMOSトランジスタの各ゲートに接続しており、
    前記第2のPMOSトランジスタのドレインおよび前記第2のNMOSトランジスタのソースの間の第2の接続点が前記第3のNMOSトランジスタのゲートに接続しており、さらに
    前記第2の接続点が前記伝達ゲートにおける一定のNMOS部分のゲートを駆動する請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  7. 前記第1のインバータおよび第2のインバータが前記クロック信号の第1のプル−ダウン位置において前記伝達ゲートをオンにするように調整されていて、前記クロック信号の第2のプル−ダウン位置において前記伝達ゲートをオフにするように調整されている請求項6に記載のエネルギー回復ドライバ。
  8. 前記伝達ゲートの一定の出力が一定のSRAMメモリー構造における少なくとも1個のビット線または1個のワード線を駆動する請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  9. さらに、
    前記プル−アップ制御装置に接続している一定のプル−アップ・フィードバック・ループ、
    前記プル−ダウン制御装置に接続している一定のプル−ダウン・フィードバック・ループを備えており、
    前記プル−アップ・フィードバック・ループが、前記伝達ゲートの一定の出力が前記クロック信号の一定の電圧レベルにあるかこれよりも高い時に、前記プル−アップ制御装置がその伝達ゲートをオンにすることを妨げる請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  10. さらに、前記プル−ダウン・フィードバック・ループが前記伝達ゲートの出力を前記プル−ダウン制御装置に接続しており、
    前記プル−ダウン・フィードバック・ループが、前記伝達ゲートの出力が一定の電流クロック信号の値にあるかこれよりも高い時に、前記プル−ダウン制御装置がその伝達ゲートをオンにすることを妨げる請求項9に記載のエネルギー回復ドライバ。
  11. 前記第1のプル−アップ位置が前記クロック信号の一定の最小値であり、
    前記第2のプル−アップ位置が前記クロック信号の一定のピーク値である請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  12. 前記第1のプル−ダウン位置が前記クロック信号の一定のピーク値であり、
    前記第2のプル−ダウン位置が前記クロック信号の一定の最小値である請求項11に記載のエネルギー回復ドライバ。
  13. 前記伝達ゲートが
    前記クロック信号を一定の出力に接続する一定の伝送用PMOSトランジスタ、および
    前記出力を前記クロック信号に接続する一定の伝送用NMOSトランジスタを含み、
    前記伝送用PMOSトランジスタのゲートが前記プル−アップ制御装置に接続しており、さらに
    前記NMOSトランジスタのゲートが前記プル−ダウン制御装置に接続している請求項12に記載のエネルギー回復ドライバ。
  14. 前記プル−アップ制御装置が
    直列に配置されていて一定の電圧供給源を接地している第1のPMOSトランジスタ、第2のPMOSトランジスタおよび第3のNMOSトランジスタを含み、
    前記第2のPMOSトランジスタのドレインおよび第3のNMOSトランジスタのソースの間の一定の接続点が一定のインバータを介して前記伝送用PMOSトランジスタのゲートに接続しており、
    前記プル−アップ制御信号が前記第1のPMOSトランジスタのゲートに接続しており、
    前記出力が前記第2のPMOSトランジスタおよび第3のNMOSトランジスタの各ゲートに接続している請求項13に記載のエネルギー回復ドライバ。
  15. 前記プル−ダウン制御装置がさらに
    直列に配置されていて一定の電圧供給源を接地している第4のNMOSトランジスタ、第5のNMOSトランジスタ、および第6のトランジスタを含み、
    前記プル−アップ制御信号および前記プル−ダウン制御信号が一定の同一の信号であり、
    前記同一の信号が前記第4のNMOSトランジスタのゲートに接続しており、
    前記第5のNMOSトランジスタのソースおよび前記第6のPMOSトランジスタのドレインの間の接続点が一定のインバータを介して前記NMOS伝送用トランジスタのゲートに接続しており、
    前記出力が前記第5のNMOSトランジスタおよび第6のPMOSトランジスタの各ゲートに接続している請求項14に記載のエネルギー回復ドライバ。
  16. SRAM構造において、
    一定のセル・アレイ、
    前記セル・アレイに接続していて当該セル・アレイにおける各セルからデータを読み取りこれらのセルにデータを書き込むための一定のビット線ドライバを含み、このビット線ドライバが請求項1に記載の一定のエネルギー回復ドライバであり、さらに
    前記セル・アレイにおける各セルに接続していて前記ビット線ドライバが前記セル・アレイにおける各セルから読み取りこれらのセルに書き込むことを可能にする一定のワード線ドライバを含み、このワード線ドライバが請求項1に記載の一定のエネルギー回復ドライバであるSRAM構造。
  17. 前記ビット線ドライバおよびワード線ドライバが請求項2に従っている請求項16に記載のSRAM構造。
  18. さらに
    前記セル・アレイにおける少なくとも1個のセルを前記ビット線ドライバに接続している一定の真のビットライン、
    前記セル・アレイにおける少なくとも1個のセルを前記ビット線ドライバに接続している一定の偽のビットライン、および
    前記セルを前記ワード線ドライバに接続している一定のワード線を含み、
    前記センス増幅器が、前記ワード線が一定の高い電圧にあり前記真のビット線が一定の低い電圧にあり前記偽のビット線が一定の低い電圧にある時に、前記セルにおける一定の値を読み取ることに適合している請求項16に記載のSRAM構造。
  19. 前記センス増幅器がさらに
    一組の積層型の増幅器、および
    前記センス増幅器の積層体に接続していて前記真のビット線と偽のビット線との間における一定の値を保持するための一定のラッチ回路を含み、
    前記積層型の増幅器の内の少なくとも1個が前記真のビット線と偽のビット線との間の一定の差を増幅するために前記真のビット線に接続している第1のPMOSトランジスタおよび前記偽のビット線に接続している第2のPMOSトランジスタを含む請求項18に記載のSRAM構造。
  20. 一定のSRAM構造における一定のワード線または一定のビット線を駆動するための方法において、
    一定のエネルギー回復ドライバに一定の傾斜状または正弦波状のクロック信号を供給する工程、
    前記クロック信号が第1のプル−アップ位置に到達した時に前記傾斜状または正弦波状のクロック信号により前記ワード線またはビット線を駆動する工程、および
    前記クロック信号が第2のプル−アップ位置に到達した時にそのクロック信号により前記ワード線またはビット線を駆動することを停止する工程を含み、
    前記ワード線またはビット線における一定の寄生キャパシタンスが前記停止工程の後に前記第2のプル−アップ位置における前記ワード線またはビット線の一定の電圧を維持する方法。
  21. さらに、
    前記クロック信号が第1のプル−ダウン位置に到達した時にそのクロック信号により前記ワード線またはビット線を駆動する工程、および
    前記クロック信号が第2のプル−ダウン位置に到達した時にそのクロック信号により前記ワード線またはビット線を駆動する工程を含む請求項20に記載の方法。
  22. 前記第1のプル−アップ位置が前記クロック信号の一定の上昇している傾斜部分における一定の中間点において存在しており、
    前記第2のプル−アップ位置が前記クロック信号の一定のピーク値において存在しており、
    前記第1のプル−ダウン位置が前記クロック信号の一定の下降している傾斜部分における一定の中間点において存在しており、
    前記第2のプル−ダウン位置が前記クロック信号の一定の最小値において存在している請求項21に記載の方法。
  23. 前記第1のプル−アップ位置が前記クロック信号の一定の最小値において存在しており、
    前記第2のプル−アップ位置が前記クロック信号の一定のピーク値において存在しており、
    前記第1のプル−ダウン位置が前記クロック信号の一定のピーク値において存在しており、
    前記第2のプル−ダウン位置が前記クロック信号の一定の最小値において存在している請求項21に記載の方法。
  24. 前記ビット線が一定の真のビット線および一定の偽のビット線を含み、
    前記真のビット線および偽のビット線が一定の低い値に予備充電されており、さらに
    前記SRAM内の一定のセルにおける一定の論理状態を読み取るために前記真のビット線および偽のビット線を予備充電した後に前記ワード線を一定の高い値に充電する工程を含む請求項20に記載の方法。
  25. さらに、
    前記真のビット線および偽のビット線に接続している一定のセンス増幅器を含み、
    前記センス増幅器が前記真のビット線と偽のビット線との間の一定の電圧差を読み取り前記セルにおける論理状態を決定することに適合している請求項24に記載の方法。
  26. 前記センス増幅器がさらに
    前記真のビット線および偽のビット線にそれぞれ接続しているゲートを有する一組のPMOSトランジスタを含む請求項25に記載の方法。
  27. さらに、
    一定のエネルギー回復用の電力クロックを伴うクロック信号を発生する工程を含む請求項20に記載の方法。
  28. 前記エネルギー回復用の電力クロックが
    前記クロック信号が所定の点よりも低く降下した時にそのクロック信号にエネルギーを選択的に補給する一定の補給部分、および
    エネルギーを前記電力クロックとメモリーとの間において前後に伝達することにより前記クロック信号を維持する一定のエネルギー保存および振動用の部分を含む請求項27に記載の方法。
  29. 前記電力クロックが単一相のクロック信号を発生する請求項28に記載の方法。
  30. 前記電力クロックを選択的に補充するために一定の制御信号がその電力クロックに接続しており、
    前記制御信号が前記駆動工程を生じることに適合している請求項20に記載の方法。
  31. さらに、
    前記駆動工程を実行する一定のドライバに対して前記ワード線またはビット線から電圧情報をフィードバックする工程、および
    前記フィードバック工程に応答して前記ドライバが前記ワード線またはビット線を駆動することを選択的に可能にするか不可能にする工程を含む請求項20に記載の方法。
  32. 前記選択的に可能にするか不可能にする工程が、前記電圧情報が前記ワード線またはビット線の一定の電圧が前記電力クロックの一定の電流電圧よりも高いかこれに等しいことを示す時に、前記ドライバがそのワード線またはビット線を駆動することを不可能にする請求項31に記載の方法。
  33. 前記選択的に可能にするか不可能にする工程が、前記電圧情報が前記ワード線またはビット線の一定の電圧が前記電力クロックの一定の電流電圧よりも低いかこれに等しいことを示す時に、前記ドライバがそのワード線またはビット線を駆動することを可能にする請求項31に記載の方法。
  34. 前記ビット線が一定の真のビット線および一定の偽のビット線を含み、
    前記真のビット線および偽のビット線が一定の高い値に予備充電されており、
    前記SRAM内の一定のセルにおける一定の論理状態を読み取るために前記真のビット線および偽のビット線が予備充電された後に前記ワード線が一定の高い値に充電される請求項20に記載の方法。
  35. 前記プル−アップ制御信号および前記プル−ダウン制御信号が一定の同一の信号である請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  36. 前記プル−アップ制御信号および前記プル−ダウン制御信号が異なる信号である請求項1に記載のエネルギー回復ドライバ。
  37. 一定の装置を駆動するための方法において、
    一定のエネルギー回復ドライバに一定の傾斜状または正弦波状のクロック信号を供給する工程、
    前記クロック信号が第1のプル−アップ位置に到達した時に前記傾斜状または正弦波状のクロック信号により前記装置を駆動する工程、および
    前記クロック信号が第2のプル−アップ位置に到達した時にそのクロック信号により前記ドライバを駆動することを停止する工程を含み、
    前記装置における一定の寄生キャパシタンスが前記停止工程の後に前記第2のプル−アップ位置における前記ドライバの一定の電圧を維持する方法。
  38. 前記装置が一定のSRAM、DRAM、NVM、バスまたはフラット・パネル・ディスプレイである請求項37に記載の方法。
JP2003585266A 2002-04-04 2003-04-04 エネルギー回復による低電力ドライバ Expired - Fee Related JP4926375B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US37009102P 2002-04-04 2002-04-04
US60/370,091 2002-04-04
US10/406,367 US6879190B2 (en) 2002-04-04 2003-04-03 Low-power driver with energy recovery
US10/406,367 2003-04-03
PCT/US2003/010436 WO2003088459A2 (en) 2002-04-04 2003-04-04 Low-power driver with energy recovery

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005522157A true JP2005522157A (ja) 2005-07-21
JP4926375B2 JP4926375B2 (ja) 2012-05-09

Family

ID=29254398

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003585266A Expired - Fee Related JP4926375B2 (ja) 2002-04-04 2003-04-04 エネルギー回復による低電力ドライバ

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6879190B2 (ja)
EP (1) EP1490876B1 (ja)
JP (1) JP4926375B2 (ja)
KR (1) KR100976645B1 (ja)
AT (1) ATE479187T1 (ja)
AU (1) AU2003228443A1 (ja)
DE (1) DE60333909D1 (ja)
WO (1) WO2003088459A2 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100598094B1 (ko) * 2003-04-03 2006-07-07 삼성전자주식회사 데이타 전송 시스템
KR101034776B1 (ko) * 2004-01-19 2011-05-17 삼성전자주식회사 증폭기와, 이를 갖는 데이터 드라이버 및 표시 장치
KR100744640B1 (ko) * 2005-11-02 2007-08-01 주식회사 하이닉스반도체 클럭 드라이버
CN100431054C (zh) * 2006-07-06 2008-11-05 复旦大学 一种能量恢复结构的只读存储器存储单元电路
US7973565B2 (en) * 2007-05-23 2011-07-05 Cyclos Semiconductor, Inc. Resonant clock and interconnect architecture for digital devices with multiple clock networks
US7741873B2 (en) * 2008-04-21 2010-06-22 Micron Technology, Inc. Receiver circuitry for receiving reduced swing signals from a channel
US8159270B2 (en) 2008-10-28 2012-04-17 Micron Technology, Inc. Circuitry and methods minimizing output switching noise through split-level signaling and bus division enabled by a third power supply
US7948293B1 (en) * 2009-01-27 2011-05-24 Xilinx, Inc. Synchronizing transitions between voltage sources used to provide a supply voltage
WO2011046984A2 (en) * 2009-10-12 2011-04-21 Cyclos Semiconductor Inc. Architecture for single-stepping in resonant clock distribution networks
US9805681B2 (en) * 2015-03-10 2017-10-31 Apple Inc. Fast gate driver circuit
KR102637709B1 (ko) 2015-07-27 2024-02-19 파워 다운 세미컨덕터 아이엔씨 공진 구동 회로를 이용한 저전력 sram 비트셀
US9612614B2 (en) 2015-07-31 2017-04-04 International Business Machines Corporation Pulse-drive resonant clock with on-the-fly mode change
US9634654B2 (en) 2015-08-07 2017-04-25 International Business Machines Corporation Sequenced pulse-width adjustment in a resonant clocking circuit
US9568548B1 (en) 2015-10-14 2017-02-14 International Business Machines Corporation Measurement of signal delays in microprocessor integrated circuits with sub-picosecond accuracy using frequency stepping
US11212467B2 (en) * 2019-07-18 2021-12-28 Omnivision Technologies, Inc. Sample and hold switch driver circuitry with slope control
US11784648B2 (en) 2021-06-02 2023-10-10 Power Down Semiconductor, Inc. Low power interconnect using resonant drive circuitry

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4353025A (en) * 1980-12-08 1982-10-05 Hybrinetics, Inc. Phase controlled voltage reducing circuit having line voltage compensation
JPS6412615A (en) * 1987-07-06 1989-01-17 Nec Corp Holding circuit
US5506520A (en) * 1995-01-11 1996-04-09 International Business Machines Corporation Energy conserving clock pulse generating circuits
JPH10283784A (ja) * 1997-04-03 1998-10-23 Sharp Corp 半導体記憶装置
WO2000014708A2 (en) * 1998-09-03 2000-03-16 University Of Southern California Power-efficient, pulsed driving of liquid crystal display capacitive loads to controllable voltage levels
JP2000307415A (ja) * 1999-02-16 2000-11-02 Sharp Corp 論理回路及び画像表示装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR860001485B1 (ko) * 1982-09-13 1986-09-26 산요덴기 가부시기가이샤 애널로그스위치회로
US5111072A (en) * 1990-08-29 1992-05-05 Ncr Corporation Sample-and-hold switch with low on resistance and reduced charge injection
JPH0595266A (ja) * 1991-09-30 1993-04-16 Rohm Co Ltd 伝送ゲート
US5430408A (en) * 1993-03-08 1995-07-04 Texas Instruments Incorporated Transmission gate circuit
US5537067A (en) * 1994-03-11 1996-07-16 Texas Instruments Incorporated Signal driver circuit operable to control signal rise and fall times
US5489866A (en) * 1994-04-19 1996-02-06 Xilinx, Inc. High speed and low noise margin schmitt trigger with controllable trip point
US5473526A (en) 1994-04-22 1995-12-05 University Of Southern California System and method for power-efficient charging and discharging of a capacitive load from a single source
US5506528A (en) * 1994-10-31 1996-04-09 International Business Machines Corporation High speed off-chip CMOS receiver
US5517145A (en) 1994-10-31 1996-05-14 International Business Machines Corporation CMOS toggle flip-flop using adiabatic switching
US5526319A (en) 1995-01-31 1996-06-11 International Business Machines Corporation Memory with adiabatically switched bit lines
US5559478A (en) 1995-07-17 1996-09-24 University Of Southern California Highly efficient, complementary, resonant pulse generation
US5760620A (en) * 1996-04-22 1998-06-02 Quantum Effect Design, Inc. CMOS limited-voltage-swing clock driver for reduced power driving high-frequency clocks
JP3437719B2 (ja) * 1996-07-24 2003-08-18 株式会社東芝 アナログ・スイッチ回路
JP3579205B2 (ja) * 1996-08-06 2004-10-20 株式会社ルネサステクノロジ 半導体記憶装置、半導体装置、データ処理装置及びコンピュータシステム
US5896054A (en) * 1996-12-05 1999-04-20 Motorola, Inc. Clock driver
US5838203A (en) 1996-12-06 1998-11-17 Intel Corporation Method and apparatus for generating waveforms using adiabatic circuitry
JP3258930B2 (ja) * 1997-04-24 2002-02-18 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 トランスミッション・ゲート
US6052019A (en) * 1998-10-29 2000-04-18 Pericom Semiconductor Corp. Undershoot-isolating MOS bus switch
US6177819B1 (en) * 1999-04-01 2001-01-23 Xilinx, Inc. Integrated circuit driver with adjustable trip point
US6144610A (en) * 1999-04-20 2000-11-07 Winbond Electronics Corporation Distributed circuits to turn off word lines in a memory array
US6160422A (en) * 1999-05-03 2000-12-12 Silicon Integrated Systems Corp. Power saving clock buffer

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4353025A (en) * 1980-12-08 1982-10-05 Hybrinetics, Inc. Phase controlled voltage reducing circuit having line voltage compensation
JPS6412615A (en) * 1987-07-06 1989-01-17 Nec Corp Holding circuit
US5506520A (en) * 1995-01-11 1996-04-09 International Business Machines Corporation Energy conserving clock pulse generating circuits
JPH10283784A (ja) * 1997-04-03 1998-10-23 Sharp Corp 半導体記憶装置
WO2000014708A2 (en) * 1998-09-03 2000-03-16 University Of Southern California Power-efficient, pulsed driving of liquid crystal display capacitive loads to controllable voltage levels
JP2002524950A (ja) * 1998-09-03 2002-08-06 ユニヴァーシティー オブ サザン カリフォルニア 制御可能な電圧レベルでの容量性負荷の電力効率的パルス駆動
JP2000307415A (ja) * 1999-02-16 2000-11-02 Sharp Corp 論理回路及び画像表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4926375B2 (ja) 2012-05-09
EP1490876A4 (en) 2007-05-02
AU2003228443A8 (en) 2003-10-27
WO2003088459A3 (en) 2004-01-22
KR20050002928A (ko) 2005-01-10
ATE479187T1 (de) 2010-09-15
AU2003228443A1 (en) 2003-10-27
DE60333909D1 (de) 2010-10-07
KR100976645B1 (ko) 2010-08-18
US6879190B2 (en) 2005-04-12
EP1490876A2 (en) 2004-12-29
WO2003088459A2 (en) 2003-10-23
EP1490876B1 (en) 2010-08-25
US20030201803A1 (en) 2003-10-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3903674B2 (ja) 半導体メモリ装置
US5973972A (en) Precharge system for a semiconductor memory device
JP4926375B2 (ja) エネルギー回復による低電力ドライバ
US8213248B2 (en) Semiconductor memory device having improved local input/output line precharge scheme
KR100300079B1 (ko) 센스앰프 구동회로
US8222942B2 (en) Initialization circuit and bank active circuit using the same
US7450455B2 (en) Semiconductor memory device and driving method thereof
US7379378B2 (en) Over driving control signal generator in semiconductor memory device
US5555526A (en) Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function
KR100295041B1 (ko) 프리차지제어회로를구비하는반도체장치및프리차지방법
US7675798B2 (en) Sense amplifier control circuit and semiconductor device using the same
US7307901B2 (en) Apparatus and method for improving dynamic refresh in a memory device
US20020176302A1 (en) Cell data protection circuit in semiconductor memory device and method of driving refresh mode
USRE36532E (en) Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function
US6930952B2 (en) Method of reading memory device in page mode and row decoder control circuit using the same
US7130232B2 (en) Integrated circuit devices having multiple precharge circuits and methods of operating the same
EP0468463B1 (en) Semiconductor memory device
US20080225610A1 (en) Write driver of semiconductor memory device and driving method thereof
KR20030060640A (ko) 디램의 컬럼 인에이블 신호 발생 회로
KR100642395B1 (ko) 반도체 장치
KR100691017B1 (ko) 반도체 메모리 장치용 로컬입출력라인 프리차지 제어회로및 그 제어방법
JP2005092925A (ja) 半導体集積回路
KR100256902B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 제어회로
KR20070029449A (ko) 반도체 메모리 소자의 비트 라인 센스 앰프 회로

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060331

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20071127

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080821

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080909

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20080911

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20081209

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20081216

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090109

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090119

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090209

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090306

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090804

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091104

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091111

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091204

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091211

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100104

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100112

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100201

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100622

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120208

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150217

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees