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JP2005353723A - Dicing apparatus, and dicing method - Google Patents

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JP2005353723A
JP2005353723A JP2004170914A JP2004170914A JP2005353723A JP 2005353723 A JP2005353723 A JP 2005353723A JP 2004170914 A JP2004170914 A JP 2004170914A JP 2004170914 A JP2004170914 A JP 2004170914A JP 2005353723 A JP2005353723 A JP 2005353723A
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Japan
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workpiece
cutting
positioning
electronic circuit
circuit board
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JP2004170914A
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Japanese (ja)
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Shigeyuki Uchiyama
茂行 内山
Kazuhiko Kobayashi
一彦 小林
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Apic Yamada Corp
Original Assignee
Apic Yamada Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device dicing apparatus having a position sensing mechanism with its position sensing accuracy increased for improving the throughput of the dicing apparatus, small in size, and low in cost; and to provide a dicing method. <P>SOLUTION: The dicing apparatus comprises a supply section for supplying an electronic circuit board whereon a plurality of electronic circuits are arrayed as encapsulated in resin, a transport mechanism for lifting the electronic circuit board from the supply section and for transferring the same to a table, and a dicing section for separating the electronic circuit board on the table into individual electronic circuits. The transport mechanism has a positioning means for positioning the electronic circuit board. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、一般に切断装置、及び切断方法に係り、特に樹脂封止された電子回路基板から電子回路を切り出す切断装置、及びその切断方法に関する。本発明は、半導体装置等のマイクロデバイスの製造に好適である。   The present invention generally relates to a cutting apparatus and a cutting method, and more particularly to a cutting apparatus that cuts out an electronic circuit from a resin-sealed electronic circuit board and a cutting method thereof. The present invention is suitable for manufacturing a micro device such as a semiconductor device.

近年の電子機器の高性能化と普及に伴い、半導体製造装置は、かかる電子機器に使用される高品位な半導体装置をますます効率的かつ高速で製造しなければならなくなってきている。半導体製造プロセスの組立工程(後工程)では、ウエハ処理工程(前工程)が完了したワーク(例えば、ウエハやモールドした基板)を(チップなどの素子に相当する)多数の領域に区画する切断工程を施す。切断工程では、ワークを切断用テーブルと呼ばれる台に真空吸着して位置決め及び固定した上で、切断用テーブルを切断方向に移動しながら高速回転するブレードでワークを切断し、多数の領域に区画する(個片化)。切断用テーブルは回転可能に構成され、ワークの一方向の切断が終了すると、90度回転して直交する方向の切断を行う。このため、個片化された領域は通常は矩形形状となる。   With the recent high performance and widespread use of electronic devices, semiconductor manufacturing apparatuses have to manufacture high-quality semiconductor devices used in such electronic devices more efficiently and at higher speeds. In the assembly process (post-process) of the semiconductor manufacturing process, a cutting process in which a workpiece (for example, a wafer or a molded substrate) that has completed the wafer processing process (pre-process) is divided into a number of regions (corresponding to elements such as chips). Apply. In the cutting process, the workpiece is vacuum-sucked on a table called a cutting table, positioned and fixed, and then the workpiece is cut with a blade that rotates at high speed while moving the cutting table in the cutting direction, and is divided into a number of regions. (Separation). The cutting table is configured to be rotatable, and when the cutting of the workpiece in one direction is completed, the cutting table is rotated 90 degrees to cut in the orthogonal direction. For this reason, the divided | segmented area | region becomes a rectangular shape normally.

切断装置においてはワークの切断部位を正確に位置決めする必要があるため、切断装置は一般にアライメント機構(位置検出機構)を有している。図5(a)は従来の切断装置が有する位置検出機構の一例の概略構成を示す内部構成図である。この位置検出機構は、粗調整用の低倍率カメラ2と微調整用の高倍率カメラ4との2つのカメラを有している。これらのカメラ2,4には例えばCCDやCMOS等の撮像素子を用いたデジタルカメラが用いられる。ワーク6上に形成された基準マーク5(図5(b)を参照。)からの光がレンズ8、ハーフミラー10、ミラー12を用いて2つのカメラ2,4に導かれるように構成されている。2つのカメラ2,4の視野中心はワーク6上で一致している。   In the cutting apparatus, since it is necessary to accurately position the cutting site of the workpiece, the cutting apparatus generally has an alignment mechanism (position detection mechanism). FIG. 5A is an internal configuration diagram illustrating a schematic configuration of an example of a position detection mechanism included in a conventional cutting device. This position detection mechanism has two cameras, a low magnification camera 2 for coarse adjustment and a high magnification camera 4 for fine adjustment. For these cameras 2 and 4, for example, digital cameras using an image sensor such as a CCD or CMOS are used. The light from the reference mark 5 (see FIG. 5B) formed on the work 6 is guided to the two cameras 2 and 4 using the lens 8, the half mirror 10, and the mirror 12. Yes. The visual field centers of the two cameras 2 and 4 coincide on the workpiece 6.

低倍率カメラ2の光学倍率は高倍率カメラ4の光学倍率よりも低倍率となっているため、図5(b)に示すように低倍率カメラ2の視野S1は高倍率カメラ4の視野S2よりも大きい。したがって、低倍率カメラ2はより広い領域を視野とすることができ、高倍率カメラ4はより高分解能での位置検出が可能となっている。   Since the optical magnification of the low-magnification camera 2 is lower than the optical magnification of the high-magnification camera 4, the field of view S1 of the low-magnification camera 2 is larger than the field of view S2 of the high-magnification camera 4 as shown in FIG. Is also big. Therefore, the low-magnification camera 2 can view a wider area, and the high-magnification camera 4 can detect the position with higher resolution.

ワーク6を切断用テーブル上に載置し所定の位置に移動・停止すると、低倍率カメラ2の視野S1内に基準マーク5が入る(図5(b)の位置A)。低倍率カメラ2によってその基準マーク5を検出し、切断用テーブルを移動させて(粗調整)基準マーク5を低倍率カメラ2の視野S1の視野中心(図5(b)の位置B)に移動する。そうすると、基準マーク5は高倍率カメラ4の視野S2内に入るので、今度はカメラを切り替えて高倍率カメラ4によって基準マーク5を検出する。高倍率カメラ4は、基準マーク5と視野中心との位置ずれを低倍率カメラ2よりも高分解能で検出できる。高倍率カメラ4の検出結果に基づいて切断用テーブルを移動させ(微調整)、高精度に基準マーク5を視野中心に位置決めすることができる。その結果、ワーク6の位置決めを高精度に行うことができるようになっている。   When the workpiece 6 is placed on the cutting table and moved / stopped to a predetermined position, the reference mark 5 enters the field of view S1 of the low-magnification camera 2 (position A in FIG. 5B). The low-power camera 2 detects the reference mark 5 and moves the cutting table (coarse adjustment) to move the reference mark 5 to the center of the field of view S1 of the low-power camera 2 (position B in FIG. 5B). To do. Then, since the reference mark 5 enters the field of view S2 of the high-magnification camera 4, this time, the camera is switched and the reference mark 5 is detected by the high-magnification camera 4. The high magnification camera 4 can detect a positional shift between the reference mark 5 and the center of the visual field with higher resolution than the low magnification camera 2. Based on the detection result of the high-magnification camera 4, the cutting table is moved (fine adjustment), and the reference mark 5 can be positioned at the center of the visual field with high accuracy. As a result, the workpiece 6 can be positioned with high accuracy.

しかしながら、この従来の位置検出機構によれば、位置決めに必要な動作が多く、ワーク6の切断に時間がかかってしまう。ワーク6上の基準マーク5をより確実に捕捉すべく低倍率カメラ2で検出した後に、今度は基準マーク5をより高精度に検出すべく高倍率カメラ4で検出する必要があり、その度にカメラを切り替えなければならない。また、図6に示すように、位置決めは少なくともワーク6上の4角近傍の3点の基準マーク5a〜5c(又は4点の基準マーク5a〜5d)について行う必要がある。すなわち、基準マーク5a,5bに基づいてワーク6の長手方向についての面内回転角度ずれ(図6の紙面を含む面内での回転角度ずれ)を補正し、基準マーク5a,5cに基づいてワーク6の短手方向についての面内回転角度ずれを補正し、その後再び基準マーク5a,5bに基づいてワーク6の長手方向に沿った位置ずれを補正し、基準マーク5a,5cに基づいてワーク6の短手方向に沿った位置ずれを補正する必要がある。よって、位置検出及び補正に必要な手順と時間が多大なものとなっていた。そのため、ワーク6の切断のスループットが向上せず、半導体装置の製造効率が低いものとなっている。   However, according to this conventional position detection mechanism, many operations are required for positioning, and it takes time to cut the workpiece 6. After the reference mark 5 on the workpiece 6 is detected by the low-magnification camera 2 in order to more reliably capture, it is necessary to detect the reference mark 5 by the high-magnification camera 4 in order to detect the reference mark 5 with higher accuracy. You have to switch cameras. Further, as shown in FIG. 6, the positioning needs to be performed on at least three reference marks 5 a to 5 c (or four reference marks 5 a to 5 d) near the four corners on the workpiece 6. That is, the in-plane rotation angle deviation in the longitudinal direction of the workpiece 6 (rotation angle deviation in the plane including the paper surface of FIG. 6) is corrected based on the reference marks 5a and 5b, and the workpiece is determined based on the reference marks 5a and 5c. 6 is corrected based on the reference marks 5a and 5b, and the positional deviation along the longitudinal direction of the workpiece 6 is corrected again based on the reference marks 5a and 5b. It is necessary to correct the positional deviation along the short direction. Therefore, the procedure and time required for position detection and correction have become enormous. Therefore, the throughput of cutting the workpiece 6 is not improved, and the manufacturing efficiency of the semiconductor device is low.

さらに、基準マークからの光をハーフミラー10によって分岐して2つのカメラ2,4に入射しているので、各カメラ2,4で検出される光信号レベルが半減し、良好な信号検出を行うことが困難である。2つのカメラ2,4の視野中心は同一でなければならないが、現実には中心ずれが生じてしまう場合もある。さらに、低倍率カメラ2と高倍率カメラ4との2つのカメラを有しているので、位置検出機構が大型化してしまい、その上コストもかかってしまうという問題もある。   Furthermore, since the light from the reference mark is branched by the half mirror 10 and is incident on the two cameras 2 and 4, the optical signal level detected by each camera 2 and 4 is halved and good signal detection is performed. Is difficult. The center of the field of view of the two cameras 2 and 4 must be the same, but in reality, there may be a center shift. Furthermore, since the camera has two cameras, ie, the low-power camera 2 and the high-power camera 4, there is a problem that the position detection mechanism is increased in size and costs are increased.

本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、半導体装置の切断のスループットを向上させるとともに高精度に位置検出を行うことのできる小型かつ低コストな位置検出機構を有する切断装置、及び切断方法を提供することを例示的目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and a cutting apparatus having a small and low-cost position detection mechanism capable of improving the throughput of cutting a semiconductor device and performing position detection with high accuracy, and It is an exemplary object to provide a cutting method.

上記の目的を達成するために、本発明の例示的側面としての切断装置は、樹脂封止された複数の電子回路が配列された電子回路基板を供給する供給部と、電子回路基板を供給部より持ち上げて切断用テーブル上に転置する搬送機構と、切断用テーブル上に載置された電子回路基板を個々の電子回路に切断する切断部とを有する切断装置であって、搬送機構が、電子回路基板の位置決めを行う位置決め手段を有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, a cutting apparatus according to an exemplary aspect of the present invention includes a supply unit that supplies an electronic circuit board on which a plurality of resin-sealed electronic circuits are arranged, and a supply unit that supplies the electronic circuit board. A cutting apparatus having a transport mechanism that lifts and transfers the electronic circuit board placed on the cutting table, and a cutting unit that cuts the electronic circuit board placed on the cutting table into individual electronic circuits. It has a positioning means for positioning the circuit board.

この切断装置によれば、搬送機構が、電子回路基板の位置決めを行う位置決め手段を有しているので、高精度にかつ再現性高く位置決めしつつ電子回路部品を供給部より持ち上げることができる。したがって、切断用テーブル上に高精度にかつ再現性高く位置決めしつつ電子回路部品を載置することができる。ここで位置決め手段は、例えば位置決めピンや位置基準面を有する当接部材等により構成される。   According to this cutting apparatus, since the transport mechanism has positioning means for positioning the electronic circuit board, the electronic circuit component can be lifted from the supply unit while positioning with high accuracy and high reproducibility. Therefore, the electronic circuit component can be placed on the cutting table while positioning with high accuracy and high reproducibility. Here, the positioning means is constituted by, for example, a positioning pin or a contact member having a position reference surface.

切断用テーブル上に電子回路部品を高精度に位置決めしつつ載置しているので、切断部位を画定するための位置検出機構に低倍率カメラが必要なくなり、切断装置を小型、低コストとすることができる。さらに、位置検出においてカメラの切替え動作が必要なくなるので、位置検出の手順や時間を大幅に削減することができる。結果として、半導体装置の切断のスループットの向上に寄与することができ、半導体装置の製造効率が向上することとなる。   Since the electronic circuit components are placed on the cutting table while being positioned with high accuracy, the position detecting mechanism for demarcating the cutting site does not require a low-magnification camera, and the cutting apparatus is made small and low cost. Can do. Furthermore, since the camera switching operation is not required for position detection, the position detection procedure and time can be greatly reduced. As a result, it is possible to contribute to the improvement of the throughput of cutting the semiconductor device, and the manufacturing efficiency of the semiconductor device is improved.

カメラを複数用いないので、基準マークからの光信号を分岐する必要がなく、その光信号強度を劣化させることなく位置検出を行うことができる。したがって、良好な光信号に基づいて確実に位置検出を行うことができる。また、視野中心の不一致が発生することもない。   Since a plurality of cameras are not used, it is not necessary to branch the optical signal from the reference mark, and position detection can be performed without deteriorating the optical signal intensity. Therefore, position detection can be reliably performed based on a good optical signal. In addition, there is no occurrence of discrepancy between the visual field centers.

本発明の他の例示的側面としての切断方法は、樹脂封止された複数の電子回路が配列された電子回路基板を個々の電子回路に切断する切断方法であって、電子回路基板を供給するステップと、供給された電子回路基板を位置決めしつつ把持するステップと、把持された電子回路基板を持ち上げて切断用テーブル上に転置するステップと、切断用テーブル上に載置された電子回路基板を個々の電子回路に切断するステップとを有することを特徴とする。   A cutting method according to another exemplary aspect of the present invention is a cutting method for cutting an electronic circuit board on which a plurality of resin-sealed electronic circuits are arranged into individual electronic circuits, and supplying the electronic circuit board A step of positioning and gripping the supplied electronic circuit board, a step of lifting the gripped electronic circuit board and transferring it onto the cutting table, and an electronic circuit board placed on the cutting table. And a step of cutting into individual electronic circuits.

この切断方法によれば、電子回路基板を位置決めしつつ把持するので、高精度にかつ位置再現性高く電子回路部品を供給部より持ち上げることができる。したがって、切断用テーブル上に高精度にかつ再現性高く位置決めしつつ電子回路部品を載置することができる。ここで「位置決め」とは、例えば位置決めピンや位置基準面を有する当接部材等を用いた位置決めを意味する。   According to this cutting method, since the electronic circuit board is gripped while being positioned, the electronic circuit component can be lifted from the supply unit with high accuracy and high position reproducibility. Therefore, the electronic circuit component can be placed on the cutting table while positioning with high accuracy and high reproducibility. Here, “positioning” means positioning using, for example, a positioning pin or a contact member having a position reference surface.

切断用テーブル上に電子回路部品を高精度に位置決めしつつ載置しているので、切断部位を画定するための位置検出機構に低倍率カメラが必要なくなる。位置検出においてカメラの切替え動作が必要なくなるので、位置検出の手順や時間を大幅に削減することができる。結果として、半導体装置の切断のスループットの向上に寄与することができ、半導体装置の製造効率が向上することとなる。   Since the electronic circuit component is placed on the cutting table while being positioned with high accuracy, a low-magnification camera is not required for the position detection mechanism for defining the cutting site. Since the camera switching operation is not necessary for position detection, the position detection procedure and time can be greatly reduced. As a result, it is possible to contribute to the improvement of the throughput of cutting the semiconductor device, and the manufacturing efficiency of the semiconductor device is improved.

上記の転置ステップにおいて、電子回路基板を位置決めしつつ切断用テーブル上に転置することはさらに望ましい。それにより、電子回路基板をテーブル上にさらに高精度にかつ位置再現性高く載置することができる。それにより、電子回路基板を切断用テーブル上に載置する際の位置精度が電子回路基板の切断部位を画定するために必要な位置精度以上となる場合は、切断の際に位置検出を行う必要がなくなり、位置検出機構自体をなくすことも可能となる。   In the transposition step, it is more desirable to transpose the electronic circuit board on the cutting table while positioning the electronic circuit board. Thus, the electronic circuit board can be placed on the table with higher accuracy and higher position reproducibility. As a result, if the positional accuracy when the electronic circuit board is placed on the cutting table exceeds the positional accuracy necessary for defining the cutting site of the electronic circuit board, it is necessary to detect the position at the time of cutting. Thus, the position detection mechanism itself can be eliminated.

本発明の更なる目的又はその他の特徴は、以下添付図面を参照して説明される好ましい実施例によって明らかにされるであろう。   Further objects and other features of the present invention will become apparent from the preferred embodiments described below with reference to the accompanying drawings.

この発明によれば、位置検出のスループットを向上させることができ、ひいては半導体装置の切断のスループットの向上に寄与することができる。したがって、半導体装置の製造効率が向上することとなる。さらに、基準マークからの光信号強度を劣化させることなく位置検出を行うことができる。したがって、良好な光信号に基づいて確実に位置検出を行うことができる。また、撮像手段や光学倍率を複数用いないので、位置検出機構全体を小型化、低コスト化することができる。   According to the present invention, the position detection throughput can be improved, and as a result, the semiconductor device cutting throughput can be improved. Therefore, the manufacturing efficiency of the semiconductor device is improved. Furthermore, position detection can be performed without degrading the optical signal intensity from the reference mark. Therefore, position detection can be reliably performed based on a good optical signal. In addition, since a plurality of imaging means and optical magnifications are not used, the entire position detection mechanism can be reduced in size and cost.

[実施の形態1]
本発明の実施の形態1に係る切断装置について、図面を用いて説明する。図1は、本発明の実施の形態に係る切断装置1の概略構成を上部から見た平面図である。この切断装置1は、ワーク供給部(供給部)14、切断部16、検査部18、ワーク収納部20、制御部22を有して大略構成される。
[Embodiment 1]
A cutting apparatus according to Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view of a schematic configuration of a cutting device 1 according to an embodiment of the present invention as viewed from above. The cutting apparatus 1 is roughly configured to include a workpiece supply unit (supply unit) 14, a cutting unit 16, an inspection unit 18, a workpiece storage unit 20, and a control unit 22.

ワーク供給部14は、切断対象としてのワーク6を切断部16に向けて送り出すためのものである。本実施の形態においては、ワーク6は複数の電子回路が配列された電子回路基板を樹脂封止したものである。ワーク6の実装面側の端部には、基準位置としての基準マーク5a〜5cが形成されている。このマーク5a〜5cは、後述する位置検出機構32によってワーク6の位置を検出する際の基準となるもので、例えば略長方形状のワーク6の4角のうちの3カ所に形成された十字形のマークである(図6も参照。)。ただし基準位置としては、基準マーク5a〜5cに限られず、その形状や形成位置は適宜事情に応じて変更可能であるし、場合によってはわざわざ別途マークを形成することなく、ワーク6上の所定の位置を基準位置として用いてもよい。後述する位置決め孔6c(図2も参照。)を基準位置として検出してもよい。ワーク供給部14は、ワーク6を積層配列するためのスタッカ26、スタッカ26から1つのワーク6を送り出す送り出し機構、送り出されたワーク6を支持する供給テーブル15を有して大略構成される。   The workpiece supply unit 14 is for sending the workpiece 6 as a cutting target toward the cutting unit 16. In the present embodiment, the workpiece 6 is a resin-sealed electronic circuit board on which a plurality of electronic circuits are arranged. Reference marks 5 a to 5 c as reference positions are formed at the end of the work 6 on the mounting surface side. The marks 5a to 5c are used as a reference when detecting the position of the workpiece 6 by a position detection mechanism 32 described later. (See also FIG. 6). However, the reference position is not limited to the reference marks 5a to 5c, and the shape and position of the reference mark can be changed as appropriate according to circumstances. The position may be used as a reference position. A positioning hole 6c (see also FIG. 2) described later may be detected as the reference position. The workpiece supply unit 14 is generally configured to include a stacker 26 for stacking the workpieces 6, a delivery mechanism for delivering one workpiece 6 from the stacker 26, and a supply table 15 for supporting the delivered workpiece 6.

供給テーブル15上に載置されたワーク6は搬送機構24によって持ち上げられ、切断用テーブル28上に転置されるように構成されている。この搬送機構24は、例えば先端に把持部25を有してロボットアームやXYZ移動ステージにより構成されていて、把持部25にワーク6を把持して供給テーブル15から切断用テーブル28に移し替えることができる。   The workpiece 6 placed on the supply table 15 is lifted by the transport mechanism 24 and is transferred onto the cutting table 28. The transport mechanism 24 includes, for example, a gripping unit 25 at the tip and is configured by a robot arm or an XYZ moving stage. Can do.

図2は、把持部25の概略構成を示す断面図である。図2において、中心線より右側半分は把持部25の概略構成を示し、左側半分は後述するCCDカメラ36の概略構成示す内部構成図である。   FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of the grip portion 25. In FIG. 2, the right half of the center line shows a schematic configuration of the grip portion 25, and the left half is an internal configuration diagram showing a schematic configuration of a CCD camera 36 described later.

把持部25は、把持板25a、吸着板25c、位置決めピン(位置決め手段の一部)25d、スプリング25e、ストリッパー25fを有して構成されている。把持板25aはワーク6を把持するためのプレート又はブロックで例えばアルミニウム等の金属やポリカーボネート等のプラスチックによって形成されている。ワーク6は図示しないエア吸着手段によって把持板25aに吸着される。したがって、把持板25aにはエア孔25bが形成されている。   The grip portion 25 includes a grip plate 25a, a suction plate 25c, a positioning pin (a part of positioning means) 25d, a spring 25e, and a stripper 25f. The holding plate 25a is a plate or a block for holding the workpiece 6, and is formed of a metal such as aluminum or a plastic such as polycarbonate. The workpiece 6 is adsorbed to the holding plate 25a by air adsorption means (not shown). Therefore, air holes 25b are formed in the gripping plate 25a.

吸着板25cは、ワーク6の把持板25aへの吸着をより確実にするためのもので、大略吸盤状である。吸着板25cは、例えばゴム等の弾性部材により形成され、エア孔25bの周囲を取り囲むように設けられている。ワーク6は、樹脂封止部6aを下側に、実装面側6bを上側にして供給テーブル15や切断用テーブル28上の冶具板17上に載置されている。冶具板17には、図示しないエア吸着手段によってワーク6を切断用テーブル28に吸着するために切断用テーブル28のエア孔28aと連通するエア孔17a、位置決めピン25dとの衝突を避けるため、位置決めピン25dの先端が挿入される逃げ孔17bが形成されている。吸着板25cは、ワーク6の実装面側6bを吸着するようになっている。   The suction plate 25c is used to make the suction of the workpiece 6 to the gripping plate 25a more reliable, and has a generally sucker shape. The suction plate 25c is formed of an elastic member such as rubber and is provided so as to surround the air hole 25b. The workpiece 6 is placed on the jig plate 17 on the supply table 15 and the cutting table 28 with the resin sealing portion 6a on the lower side and the mounting surface side 6b on the upper side. The jig plate 17 is positioned in order to avoid collision with the air holes 17a communicating with the air holes 28a of the cutting table 28 and the positioning pins 25d in order to suck the work 6 to the cutting table 28 by air suction means (not shown). An escape hole 17b into which the tip of the pin 25d is inserted is formed. The suction plate 25 c is configured to suck the mounting surface side 6 b of the workpiece 6.

位置決めピン25dは、ワーク6を位置決めしつつ把持部25に把持するためのものである。把持板25aはワーク6の平面視長方形状(図6も参照。)に略対応する長方形状の把持面を有しており、位置決めピン25dはその長方形状の把持面の略4角に対応する位置に3乃至4カ所設けられている。ワーク6には位置決めピン25dと対応する位置に位置決め孔(位置決め手段の一部)6cが形成されている。位置決めピン25dは例えば直径が所定寸法に正確に加工された円形断面を有する棒状の部材である。また、位置決め孔6cは、直径が位置決めピン25dと略一致するように形成された丸孔である。   The positioning pin 25d is for gripping the workpiece 6 to the gripping portion 25 while positioning the workpiece 6. The gripping plate 25a has a rectangular gripping surface that substantially corresponds to the rectangular shape of the workpiece 6 in plan view (see also FIG. 6), and the positioning pins 25d correspond to approximately four corners of the rectangular gripping surface. There are 3 to 4 locations. A positioning hole (a part of positioning means) 6c is formed in the workpiece 6 at a position corresponding to the positioning pin 25d. The positioning pin 25d is, for example, a rod-shaped member having a circular cross section whose diameter is precisely processed to a predetermined dimension. The positioning hole 6c is a round hole formed so that the diameter thereof substantially matches the positioning pin 25d.

スプリング25eとストリッパー25fとは位置決めピン25dとワーク6との間に挟まれるように配置されている。これらは、ワーク6の把持板25aからの分離を容易にするためのものである。スプリング25eはストリッパー25fを介してワーク6を位置決めピン25dから引き抜く方向に付勢しており、把持板25aによるエア吸着を停止すると、ワーク6が位置決めピン25dから引き抜かれて把持板25aから分離する。エア吸着力はスプリング25eによる付勢力よりも強いので、エア吸着中はワーク6が把持板25aから分離してしまうことはない。   The spring 25e and the stripper 25f are arranged so as to be sandwiched between the positioning pin 25d and the workpiece 6. These are for facilitating separation of the workpiece 6 from the holding plate 25a. The spring 25e biases the workpiece 6 in the direction of pulling out the positioning pin 25d via the stripper 25f, and when the air suction by the gripping plate 25a is stopped, the workpiece 6 is pulled out of the positioning pin 25d and separated from the gripping plate 25a. . Since the air adsorption force is stronger than the urging force of the spring 25e, the workpiece 6 is not separated from the gripping plate 25a during the air adsorption.

切断部16は、切断用テーブル28に載置されたワーク6を位置検出しつつ所定の寸法に切断するためのものである。切断部16は、ブレード30、位置検出機構32、位置決めステージ(図示せず)、移動機構(図示せず)、洗浄部34a,34bを有して大略構成される。ブレード30は、ワーク6を所定寸法に切断するためのもので、例えば円盤状の回転砥石等が用いられる。ブレード30は、図示しない移動機構によってXZ軸方向に移動可能とされている。   The cutting unit 16 is for cutting the workpiece 6 placed on the cutting table 28 into a predetermined size while detecting the position. The cutting unit 16 has a blade 30, a position detection mechanism 32, a positioning stage (not shown), a moving mechanism (not shown), and cleaning units 34a and 34b. The blade 30 is for cutting the workpiece 6 into a predetermined dimension, and for example, a disk-shaped rotary grindstone or the like is used. The blade 30 is movable in the XZ axis direction by a moving mechanism (not shown).

位置検出機構32は、ワーク6の位置を正確に検出するためのもので、撮像手段としてのCCDカメラ36を1台有している。CCDカメラ36は、ワーク6上の基準位置としての基準マーク5a〜5cを検出し、そのマーク位置に基づいてワーク6の位置検出を行う。図2の中心線より左側半分にCCDカメラ36の概略構成を示す内部構成図を示す。CCDカメラ36は、CCD撮像素子38、レンズ44、ハーフミラー(図示せず)、同軸照明(図示せず)、リング照明(図示せず)等を有して大略構成されている。同軸照明及びリング照明によってワーク6を照明し、その反射光をレンズ44及びハーフミラーを通してCCD撮像素子38で検出する。もちろん撮像手段としては、検出された光信号を電気信号に変換しAD変換を行ってデジタル画像データとして出力可能なデジタル撮像手段であればよく、CCDカメラ以外にも例えばCMOSセンサを用いたカメラを適用することも可能である。CCDカメラ36の光学倍率としては固定のものが1つ用いられる。その倍率は、ワーク6を載置した切断用テーブル28を移動させる位置決めステージが所定位置に停止した際に、マーク5a〜5cがCCDカメラ36の視野内に存在するように設定されている。CCDカメラ36も移動ステージによってXZ方向に移動可能となっている。なお、位置検出機構32によって基準マーク5a〜5cを検出する代わりに、3乃至4カ所の位置決め孔6cを検出してももちろんよい。   The position detection mechanism 32 is for accurately detecting the position of the workpiece 6 and has one CCD camera 36 as an imaging means. The CCD camera 36 detects the reference marks 5a to 5c as reference positions on the workpiece 6, and detects the position of the workpiece 6 based on the mark positions. An internal configuration diagram showing a schematic configuration of the CCD camera 36 is shown on the left half of the center line of FIG. The CCD camera 36 includes a CCD imaging device 38, a lens 44, a half mirror (not shown), coaxial illumination (not shown), ring illumination (not shown), and the like, and is roughly configured. The workpiece 6 is illuminated by coaxial illumination and ring illumination, and the reflected light is detected by the CCD image sensor 38 through the lens 44 and the half mirror. Of course, the image pickup means may be any digital image pickup means that can convert the detected optical signal into an electrical signal, perform AD conversion, and output it as digital image data. In addition to the CCD camera, for example, a camera using a CMOS sensor may be used. It is also possible to apply. As the optical magnification of the CCD camera 36, one fixed one is used. The magnification is set so that the marks 5 a to 5 c are present in the field of view of the CCD camera 36 when the positioning stage for moving the cutting table 28 on which the workpiece 6 is placed stops at a predetermined position. The CCD camera 36 can also be moved in the XZ direction by a moving stage. Of course, three or four positioning holes 6c may be detected instead of detecting the reference marks 5a to 5c by the position detection mechanism 32.

位置決めステージは、切断用テーブル28をXY方向及びXY面内での回転方向に移動、停止させるものであり、例えば精密移動ステージ等が用いられる。この位置決めステージは、切断用テーブル28を所定の停止精度で停止させることができる。すなわち、切断用テーブル28にワーク6を載せた状態で位置決めステージを移動させ停止すると、ワーク6上の基準マーク5a〜5cのいずれかがCCDカメラ36の視野内に入るようになっている。CCDカメラ36の光学倍率は例えば1.0倍になっているが、本実施の形態においてはワーク6が切断用テーブル28上に高精度に位置決めされているので、基準マーク5a〜5cはCCDカメラ36の視野内に確実に入るようになっている。   The positioning stage moves and stops the cutting table 28 in the XY direction and the rotational direction in the XY plane. For example, a precision moving stage or the like is used. This positioning stage can stop the cutting table 28 with a predetermined stop accuracy. That is, when the positioning stage is moved and stopped with the workpiece 6 placed on the cutting table 28, any of the reference marks 5a to 5c on the workpiece 6 falls within the field of view of the CCD camera 36. The optical magnification of the CCD camera 36 is, for example, 1.0. However, in this embodiment, since the workpiece 6 is positioned on the cutting table 28 with high accuracy, the reference marks 5a to 5c are the CCD camera. It surely falls within 36 fields of view.

洗浄部34a,34bは、切断後のワーク24に高圧の水とエアを吹き付けることにより洗浄するためのものである。   The cleaning units 34a and 34b are for cleaning by blowing high-pressure water and air to the workpiece 24 after cutting.

検査部18は、切断後のワーク6の寸法その他の各種検査を行うものである。例えばワーク6が、樹脂封止された複数の電子回路が配列された電子回路基板の場合、切断後の個々の電子回路(例えば半導体装置)の導通検査等の検査をこの検査部18にて行う。   The inspection unit 18 performs various inspections such as the dimensions of the workpiece 6 after cutting. For example, when the workpiece 6 is an electronic circuit board on which a plurality of resin-sealed electronic circuits are arranged, the inspection unit 18 performs inspection such as continuity inspection of each individual electronic circuit (for example, a semiconductor device) after cutting. .

ワーク収納部20は、検査後のワーク6を収納するためのものである。制御部22は、この切断装置1全体の動作制御及びデータ処理を行うもので、演算処理装置、各種データを保存するメモリ、表示装置を有して大略構成される。   The workpiece storage unit 20 is for storing the workpiece 6 after inspection. The control unit 22 performs operation control and data processing of the entire cutting device 1, and is roughly configured to include an arithmetic processing device, a memory for storing various data, and a display device.

次に、この切断装置の動作について説明する。   Next, operation | movement of this cutting device is demonstrated.

まず送り出し機構が、スタッカ26に積層配列されたワーク6の中から1枚のワーク6を送り出す。送り出されたワーク6は供給テーブル15上の冶具板17上に載置される。搬送機構24の把持板25aにワーク6が吸着される。このとき、把持板25aに設けられた位置決めピン25dがワーク6の位置決め孔6cに挿入されて位置決めされつつ、エア吸着によってワーク6は把持板25aに吸着される。もちろんその他の吸着(例えば磁気吸着、静電吸着)を利用してもよいし、アーム先端に挟持手段を設け、それによってワーク6を挟持してもよい。位置決めピン25dが位置決め孔6cに挿入されているので、ワーク6の把持板25a上での位置は正確に位置決めされている。供給テーブル15上の冶具板17には逃げ孔17bが形成されているので、位置決めピン25dが冶具板17に衝突することはない。   First, the feeding mechanism feeds one workpiece 6 out of the workpieces 6 stacked and arranged on the stacker 26. The fed workpiece 6 is placed on a jig plate 17 on the supply table 15. The workpiece 6 is attracted to the grip plate 25a of the transport mechanism 24. At this time, the positioning pin 25d provided on the gripping plate 25a is inserted into the positioning hole 6c of the workpiece 6 and positioned, and the workpiece 6 is attracted to the gripping plate 25a by air suction. Of course, other adsorption (for example, magnetic adsorption or electrostatic adsorption) may be used, or clamping means may be provided at the tip of the arm so that the workpiece 6 may be clamped. Since the positioning pin 25d is inserted into the positioning hole 6c, the position of the workpiece 6 on the grip plate 25a is accurately positioned. Since the escape plate 17 b is formed in the jig plate 17 on the supply table 15, the positioning pin 25 d does not collide with the jig plate 17.

搬送機構24がワーク6を把持しつつ移動させ、切断用テーブル28上の冶具板17上にワーク6を移し替える(転置する)。このとき、把持部25側ではエア吸着を停止し、切断用テーブル28側でエア吸着を開始する。把持部25側でエア吸着を停止するので、スプリング25e及びストリッパー25fによりワーク6は把持板25aから容易に分離する。また、切断用テーブル28側でエア吸着を開始しているので、ワーク6はしっかりと切断用テーブル28に固定される。ワーク6は正確に位置決めされて把持板25aに吸着されているので、切断用テーブル28に対する把持板25aの位置決めを正確に行ってやれば、ワーク6は正確に位置決めされて切断用テーブル28上に載置されることとなる。   The transport mechanism 24 moves the workpiece 6 while holding the workpiece 6, and transfers (transfers) the workpiece 6 onto the jig plate 17 on the cutting table 28. At this time, air suction is stopped on the gripping portion 25 side, and air suction is started on the cutting table 28 side. Since air suction is stopped on the gripping portion 25 side, the workpiece 6 is easily separated from the gripping plate 25a by the spring 25e and the stripper 25f. Further, since air suction has started on the cutting table 28 side, the workpiece 6 is firmly fixed to the cutting table 28. Since the workpiece 6 is accurately positioned and attracted to the gripping plate 25a, if the gripping plate 25a is accurately positioned with respect to the cutting table 28, the workpiece 6 is accurately positioned on the cutting table 28. Will be placed.

続いて切断装置1は、XY面内でのワーク6の回転角度ずれの位置決め及び位置補正を行う。位置決めステージが、ワーク6を載せた切断用テーブル28を位置検出機構32付近の所定位置まで移動し、停止する。ワーク6が切断用テーブル28に正確に位置決めされているので、基準マーク5aは、CCDカメラ36の視野内で停止する。   Subsequently, the cutting device 1 performs positioning and position correction of the rotational angle deviation of the workpiece 6 in the XY plane. The positioning stage moves the cutting table 28 on which the workpiece 6 is placed to a predetermined position near the position detection mechanism 32 and stops. Since the workpiece 6 is accurately positioned on the cutting table 28, the reference mark 5a stops within the field of view of the CCD camera 36.

基準マーク5aをCCDカメラ36によって撮像、検出し、その位置Cを特定した後に、基準マーク5b,5cについても位置検出を行い、ワーク6の回転角度ずれの検出及び位置補正を完了する。   After the fiducial mark 5a is imaged and detected by the CCD camera 36 and its position C is specified, the fiducial marks 5b and 5c are also position-detected to complete the detection of the rotational angle deviation of the workpiece 6 and the position correction.

ワーク6のXY面内での回転角度ずれの検出が完了したら、引き続きワーク6のX方向、Y方向の座標位置検出を行う。再び基準マーク5aがCCDカメラ36の視野に入るように位置決めステージを移動させてワーク6を停止させる。基準マーク5aの座標のデータを取り込み、制御部22のメモリへと送る。   When the detection of the rotational angle deviation in the XY plane of the workpiece 6 is completed, the coordinate position of the workpiece 6 in the X direction and the Y direction is continuously detected. The workpiece 6 is stopped by moving the positioning stage so that the reference mark 5 a again enters the field of view of the CCD camera 36. The data of the coordinates of the reference mark 5a is taken and sent to the memory of the control unit 22.

次に、基準マーク5bがCCDカメラ36の視野に入るように位置決めステージを移動させてワーク6を停止させる。基準マーク5bの座標のデータを取り込み、制御部22のメモリへと送る。基準マーク5aの座標のデータと基準マーク5bの座標のデータとに基づいて、ワーク6のY方向の位置決めを行うことができる。   Next, the workpiece 6 is stopped by moving the positioning stage so that the reference mark 5b enters the field of view of the CCD camera 36. The data of the coordinates of the reference mark 5b is taken and sent to the memory of the control unit 22. The workpiece 6 can be positioned in the Y direction based on the coordinate data of the reference mark 5a and the coordinate data of the reference mark 5b.

続いて、再び基準マーク5aがCCDカメラ36の視野に入るように位置決めステージを移動させてワーク6を停止させる。基準マーク5aの座標のデータを取り込み、制御部22のメモリへと送る。   Subsequently, the workpiece 6 is stopped by moving the positioning stage so that the reference mark 5 a again enters the field of view of the CCD camera 36. The data of the coordinates of the reference mark 5a is taken and sent to the memory of the control unit 22.

次に、基準マーク5cがCCDカメラ36の視野に入るように位置決めステージを移動させてワーク6を停止させる。基準マーク5cの座標のデータを取り込み、制御部22のメモリへと送る。基準マーク5aの座標のデータと基準マーク5cの座標のデータとに基づいて、ワーク6のX方向の位置決めを行うことができる。   Next, the workpiece 6 is stopped by moving the positioning stage so that the reference mark 5c enters the field of view of the CCD camera 36. The data of the coordinates of the reference mark 5 c is taken and sent to the memory of the control unit 22. Based on the coordinate data of the reference mark 5a and the coordinate data of the reference mark 5c, the workpiece 6 can be positioned in the X direction.

ワーク6のXY方向、XY面内での回転方向の高精度位置決めが完了すると、その位置決めデータに基づいて位置決めステージ及び移動ステージを動作させながら、ブレード30によってワーク6を所定の寸法に切断する。例えばワーク6が数10個の電子回路が配列された電子回路基板の場合、その電子回路基板をX方向、Y方向に切断して個々の電子回路とする。ワーク6はエアによって切断用テーブル28に吸着されているので切断中も切断後も動いてしまったり切断用テーブル28から落下してしまったりすることはない。   When the high-precision positioning of the workpiece 6 in the XY direction and the rotational direction in the XY plane is completed, the workpiece 6 is cut into a predetermined dimension by the blade 30 while operating the positioning stage and the moving stage based on the positioning data. For example, when the work 6 is an electronic circuit board on which several tens of electronic circuits are arranged, the electronic circuit board is cut into X and Y directions to form individual electronic circuits. Since the workpiece 6 is adsorbed to the cutting table 28 by air, it does not move or drop from the cutting table 28 during or after cutting.

位置決めステージにより切断後のワーク6を洗浄部34a,34bまで移動し、水や洗浄剤を吹き付けて洗浄し、エアを吹き付けて乾燥させる。洗浄後のワーク6を検査部18へと移動し、切断された個々のワークの導通検査その他の検査を行う。その後、ワークはワーク収納部20へと収納される。   The workpiece 6 after being cut by the positioning stage is moved to the cleaning units 34a and 34b, cleaned by spraying water or a cleaning agent, and dried by spraying air. The cleaned workpiece 6 is moved to the inspection unit 18, and the continuity inspection and other inspections of the cut individual workpieces are performed. Thereafter, the work is stored in the work storage unit 20.

上記のように、本実施の形態に係る切断装置によれば、ワーク6が切断用テーブル28上に正確に位置決めされて載置されているので、従来に比較して少ない手順でワーク6のXY方向、XY面内での回転方向の高精度位置決めが可能となる。したがって、位置決めに必要な時間が短縮され、効率よくワーク6の切断を行うことができる。   As described above, according to the cutting device according to the present embodiment, since the workpiece 6 is accurately positioned and placed on the cutting table 28, the XY of the workpiece 6 can be performed with fewer procedures than in the past. And high-precision positioning in the direction of rotation in the XY plane. Therefore, the time required for positioning is shortened, and the workpiece 6 can be efficiently cut.

また、位置検出機構32が1つのCCDカメラ36を有し、そのCCDカメラ36は1つの固定光学倍率を有しているので、位置検出機構自体を小型化、低コスト化することも可能である。   Further, since the position detection mechanism 32 has one CCD camera 36 and the CCD camera 36 has one fixed optical magnification, the position detection mechanism itself can be reduced in size and cost. .

[実施の形態2]
図3は、本発明の実施の形態2に係る切断装置の搬送機構の把持部25近傍の概略構成を示す断面図である。なお、実施の形態1と同様の構成については、同様の符号を付し、その説明を省略することとする。
[Embodiment 2]
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a schematic configuration near the grip portion 25 of the transport mechanism of the cutting apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. In addition, about the structure similar to Embodiment 1, the same code | symbol is attached | subjected and the description shall be abbreviate | omitted.

この実施の形態においては、把持板25aにさらにガイドピン(位置決め手段の一部)27が設けられ、切断用テーブル28にガイド孔(位置決め手段の一部)28bが形成されている。このガイドピン27は、把持板25aと切断用テーブル28との位置決めをより正確なものとするためのもので、例えば直径が所定寸法とされた円形断面を有する棒状部材であり先端部は球面状となっているため、把持部25が搬送時に何らかの原因で位置ずれを生じた際でも、ガイド孔28bへの挿入が確実となる。ガイドピン27は、把持板25aの平面視長方形状の4角に対応する位置に3乃至4カ所設けられている。ガイド孔28bにまずガイドピン27が挿入され、第一段階の大まかな位置決めがなされることにより位置決めピン25dが誘導され、位置決め孔6cに正確に挿入されることになる。   In this embodiment, a guide pin (a part of positioning means) 27 is further provided on the holding plate 25a, and a guide hole (a part of positioning means) 28b is formed in the cutting table 28. This guide pin 27 is for making the positioning of the holding plate 25a and the cutting table 28 more accurate. For example, the guide pin 27 is a rod-shaped member having a circular cross section with a predetermined diameter, and the tip is spherical. Therefore, even when the grip portion 25 is displaced for some reason during conveyance, the insertion into the guide hole 28b is ensured. Three to four guide pins 27 are provided at positions corresponding to the four corners of the rectangular shape in plan view of the holding plate 25a. First, the guide pin 27 is inserted into the guide hole 28b, and the first stage rough positioning is performed, whereby the positioning pin 25d is guided and accurately inserted into the positioning hole 6c.

正確に位置決めされて把持板25aに吸着されたワーク6は、切断用テーブル28上の冶具板17上に転置される。その際、本実施の形態においてはガイドピン27及びガイド孔28bによって把持板25aと切断用テーブル28との位置決めが正確に行われるので、上記実施の形態1の場合よりもさらに正確にワーク6を切断用テーブル28上に載置することができる。   The workpiece 6 that is accurately positioned and attracted to the gripping plate 25 a is transferred onto the jig plate 17 on the cutting table 28. At this time, in the present embodiment, the positioning of the gripping plate 25a and the cutting table 28 is accurately performed by the guide pins 27 and the guide holes 28b, so that the workpiece 6 is more accurately positioned than in the case of the first embodiment. It can be placed on the cutting table 28.

[実施の形態3]
図4は、本発明の実施の形態3に係る切断装置の搬送機構の把持部25近傍の概略構成を示す断面図である。なお、実施の形態1と同様の構成については、同様の符号を付し、その説明を省略することとする。
[Embodiment 3]
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a schematic configuration in the vicinity of the grip portion 25 of the transport mechanism of the cutting apparatus according to Embodiment 3 of the present invention. In addition, about the structure similar to Embodiment 1, the same code | symbol is attached | subjected and the description is abbreviate | omitted.

この実施の形態においては、把持部25が2枚のワーク6を同時に吸着し、供給テーブル15から切断用テーブル28に転置できるようになっている。図示していないが、もちろん供給テーブル15にもスタッカ26から2枚のワーク6が同時に供給されるようになっている。   In this embodiment, the gripping part 25 can simultaneously suck two workpieces 6 and transfer them from the supply table 15 to the cutting table 28. Although not shown, of course, two workpieces 6 are simultaneously supplied from the stacker 26 to the supply table 15 as well.

このように把持部25が複数のワーク6を同時に把持して切断用テーブル28上に転置し、切断用テーブル28上に吸着された複数のワーク6を切断部16で同時に切断することによりさらに切断効率が向上するので、半導体装置の製造効率をさらに向上させることができる。   In this way, the gripping unit 25 grips the plurality of workpieces 6 at the same time and transfers them onto the cutting table 28, and further cuts the plurality of workpieces 6 adsorbed on the cutting table 28 by the cutting unit 16 at the same time. Since the efficiency is improved, the manufacturing efficiency of the semiconductor device can be further improved.

なお、上記の実施の形態1〜3において、ワーク6を切断用テーブル28に転置した後に位置検出機構32によって基準マーク5a〜5cの位置検出を行った際に、何らかの外部要因によって位置ずれが発生したものと判断した場合は再び把持部25をワーク6に近づけ、ワーク6の位置決め孔6cに位置決めピン25dを挿入することにより、位置補正を行う。   In the first to third embodiments, when the position of the reference marks 5a to 5c is detected by the position detection mechanism 32 after the workpiece 6 is transferred to the cutting table 28, a positional deviation occurs due to some external factor. If it is determined that the gripping portion 25 has been moved, the gripper 25 is brought close to the workpiece 6 again, and the positioning pin 25d is inserted into the positioning hole 6c of the workpiece 6, thereby correcting the position.

また、上記実施の形態1〜3においては、位置検出機構32によってワーク6の位置検出を行っているが、本発明に係る位置決め手段によりワーク6を切断する際に必要な位置決め精度が確保できれば、ワーク6の位置検出を行う必要がなくなり、位置検出機構32自体を省略することも可能である。それにより、切断装置1はさらに小型かつ低コストになる。   In the first to third embodiments, the position of the workpiece 6 is detected by the position detection mechanism 32. If the positioning accuracy necessary for cutting the workpiece 6 by the positioning means according to the present invention can be secured, It is not necessary to detect the position of the workpiece 6, and the position detection mechanism 32 itself can be omitted. Thereby, the cutting device 1 is further reduced in size and cost.

以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことは言うまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。例えば、以下に記載する実施の形態4のように本発明を構成することももちろん可能である。   As mentioned above, although preferable embodiment of this invention was described, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to these embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the range of the summary. For example, the present invention can of course be configured as in the fourth embodiment described below.

[実施の形態4]
実施の形態1においては、ワーク6の略4角に形成された位置決め孔6cに把持板25aに設けられた位置決めピン25dが挿入されるようになっている。しかしながら、図6にも示すように、長方形の把持板25aに設けられた3乃至4カ所の位置決めピン25dが、ワーク6の外周辺6dに当接してワーク6の位置決めを行うようになっていてもよい。
[Embodiment 4]
In the first embodiment, positioning pins 25d provided on the gripping plate 25a are inserted into positioning holes 6c formed in substantially four corners of the workpiece 6. However, as shown in FIG. 6, three to four positioning pins 25 d provided on the rectangular gripping plate 25 a come into contact with the outer periphery 6 d of the workpiece 6 to position the workpiece 6. Also good.

位置決めピン25dは、ワーク6の外形を略丁度包含するような間隔で配置されており、把持板25aがワーク6を吸着する際に高精度にワーク6の位置決めが行えるようになっている。このように構成することにより、ワーク6に位置決めピン25d挿入用の位置決め孔6cを形成する必要がなくなり、さらにコスト低減に寄与することができる。   The positioning pins 25d are arranged at intervals so as to substantially encompass the outer shape of the workpiece 6, and the workpiece 6 can be positioned with high accuracy when the gripping plate 25a adsorbs the workpiece 6. By configuring in this way, it is not necessary to form the positioning hole 6c for inserting the positioning pin 25d in the workpiece 6, which can further contribute to cost reduction.

本発明の実施の形態1に係る切断装置の概略構成を上部から見た平面図である。It is the top view which looked at schematic structure of the cutting device concerning Embodiment 1 of the present invention from the upper part. 中心線より右側半分は図1に示す切断装置に用いられる把持部の概略構成を示す断面図であり、左側半分はCCDカメラの概略構成を示す内部構成図である。The right half of the center line is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a gripping part used in the cutting apparatus shown in FIG. 1, and the left half is an internal configuration diagram showing a schematic configuration of a CCD camera. 本発明の実施の形態2に係る切断装置の搬送機構の把持部近傍の概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the holding part vicinity of the conveyance mechanism of the cutting device which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態3に係る切断装置の搬送機構の把持部近傍の概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the holding part vicinity of the conveyance mechanism of the cutting device which concerns on Embodiment 3 of this invention. (a)は従来の切断装置が有する位置検出機構の一例の概略構成を示す内部構成図であり、(b)はカメラの視野内にマークが存在する様子を示す説明図である。(A) is an internal block diagram which shows schematic structure of an example of the position detection mechanism which the conventional cutting device has, (b) is explanatory drawing which shows a mode that a mark exists in the visual field of a camera. ワークを上方から見た平面図である。It is the top view which looked at the work from the upper part.

符号の説明Explanation of symbols

1:切断装置
5,5a〜5c:基準マーク
6:ワーク(電子回路基板)
6c:位置決め孔(位置決め手段の一部)
14:ワーク供給部(供給部)
15:供給テーブル
24:搬送機構
25:把持部
25a:把持板
25d:位置決めピン(位置決め手段の一部)
27:ガイドピン(位置決め手段の一部)
28:切断用テーブル
28b:ガイド孔(位置決め手段の一部)
32:位置検出機構
36:撮像手段(CCDカメラ、デジタル撮像手段)
1: Cutting devices 5, 5a to 5c: Reference mark 6: Workpiece (electronic circuit board)
6c: positioning hole (part of positioning means)
14: Work supply part (supply part)
15: Supply table 24: Conveying mechanism 25: Grasping part 25a: Grasping plate 25d: Positioning pin (part of positioning means)
27: Guide pin (part of positioning means)
28: Cutting table 28b: Guide hole (part of positioning means)
32: Position detection mechanism 36: Imaging means (CCD camera, digital imaging means)

Claims (3)

樹脂封止された複数の電子回路が配列された電子回路基板を供給する供給部と、
前記電子回路基板を前記供給部より持ち上げて切断用テーブル上に転置する搬送機構と、
該切断用テーブル上に載置された前記電子回路基板を個々の電子回路に切断する切断部とを有する切断装置であって、
前記搬送機構が、前記電子回路基板の位置決めを行う位置決め手段を有することを特徴とする切断装置。
A supply unit for supplying an electronic circuit board on which a plurality of resin-sealed electronic circuits are arranged;
A transport mechanism for lifting the electronic circuit board from the supply unit and transposing it on a cutting table;
A cutting device having a cutting section for cutting the electronic circuit board placed on the cutting table into individual electronic circuits,
The cutting apparatus, wherein the transport mechanism has positioning means for positioning the electronic circuit board.
樹脂封止された複数の電子回路が配列された電子回路基板を個々の電子回路に切断する切断方法であって、
前記電子回路基板を供給するステップと、
供給された前記電子回路基板を位置決めしつつ把持するステップと、
把持された前記電子回路基板を持ち上げて切断用テーブル上に転置するステップと、
該切断用テーブル上に載置された前記電子回路基板を個々の電子回路に切断するステップとを有することを特徴とする切断方法。
A cutting method for cutting an electronic circuit board in which a plurality of resin-sealed electronic circuits are arranged into individual electronic circuits,
Supplying the electronic circuit board;
Gripping while positioning the supplied electronic circuit board;
Lifting the gripped electronic circuit board and transposing it on a cutting table;
Cutting the electronic circuit board placed on the cutting table into individual electronic circuits.
前記転置ステップにおいて、前記電子回路基板を位置決めしつつ前記切断用テーブル上に転置することを特徴とする請求項2に記載の切断方法。

The cutting method according to claim 2, wherein, in the transposing step, the electronic circuit board is transposed on the cutting table while positioning.

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011187481A (en) * 2010-03-04 2011-09-22 Disco Corp Processing device
CN104752298A (en) * 2013-12-28 2015-07-01 东和株式会社 Cutting apparatus and cutting method for manufacturing electronic component
JP2017084950A (en) * 2015-10-27 2017-05-18 株式会社ディスコ Transfer mechanism of processing device
KR20170110651A (en) 2015-02-05 2017-10-11 토와 가부시기가이샤 Cutting device and cutting method
WO2023209909A1 (en) * 2022-04-27 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 Dicing device, semiconductor chip manufacturing method, and semiconductor chip

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01103850A (en) * 1987-10-16 1989-04-20 Nitto Denko Corp Device for attracting frame for semiconductor wafer mount
JPH0576050U (en) * 1992-03-14 1993-10-15 太陽誘電株式会社 Board dividing device
JPH07239362A (en) * 1994-02-28 1995-09-12 Ando Electric Co Ltd Suction hand with floating mechanism and transferring/ touching mechanism
JP2000100757A (en) * 1998-09-18 2000-04-07 Towa Corp Method of cutting tapeless board, and cutter, and board supporter for dicing processing used for the method
JP2001077057A (en) * 1999-09-06 2001-03-23 Disco Abrasive Syst Ltd CSP board dividing device
JP2002057127A (en) * 2000-08-08 2002-02-22 Dainippon Printing Co Ltd Dicing apparatus
JP2003163180A (en) * 2001-11-26 2003-06-06 Apic Yamada Corp Work conveying apparatus and dicing apparatus
JP2004055860A (en) * 2002-07-22 2004-02-19 Renesas Technology Corp Semiconductor device fabricating process
JP2005347421A (en) * 2004-06-01 2005-12-15 Apic Yamada Corp Semiconductor device manufacturing method and apparatus thereof

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01103850A (en) * 1987-10-16 1989-04-20 Nitto Denko Corp Device for attracting frame for semiconductor wafer mount
JPH0576050U (en) * 1992-03-14 1993-10-15 太陽誘電株式会社 Board dividing device
JPH07239362A (en) * 1994-02-28 1995-09-12 Ando Electric Co Ltd Suction hand with floating mechanism and transferring/ touching mechanism
JP2000100757A (en) * 1998-09-18 2000-04-07 Towa Corp Method of cutting tapeless board, and cutter, and board supporter for dicing processing used for the method
JP2001077057A (en) * 1999-09-06 2001-03-23 Disco Abrasive Syst Ltd CSP board dividing device
JP2002057127A (en) * 2000-08-08 2002-02-22 Dainippon Printing Co Ltd Dicing apparatus
JP2003163180A (en) * 2001-11-26 2003-06-06 Apic Yamada Corp Work conveying apparatus and dicing apparatus
JP2004055860A (en) * 2002-07-22 2004-02-19 Renesas Technology Corp Semiconductor device fabricating process
JP2005347421A (en) * 2004-06-01 2005-12-15 Apic Yamada Corp Semiconductor device manufacturing method and apparatus thereof

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011187481A (en) * 2010-03-04 2011-09-22 Disco Corp Processing device
CN104752298A (en) * 2013-12-28 2015-07-01 东和株式会社 Cutting apparatus and cutting method for manufacturing electronic component
JP2015128122A (en) * 2013-12-28 2015-07-09 Towa株式会社 Cutting apparatus and method for manufacturing electronic parts
KR20170110651A (en) 2015-02-05 2017-10-11 토와 가부시기가이샤 Cutting device and cutting method
JP2017084950A (en) * 2015-10-27 2017-05-18 株式会社ディスコ Transfer mechanism of processing device
CN106956370A (en) * 2015-10-27 2017-07-18 株式会社迪思科 The transport mechanism of processing unit (plant)
TWI719055B (en) * 2015-10-27 2021-02-21 日商迪思科股份有限公司 Transport mechanism of processing device
WO2023209909A1 (en) * 2022-04-27 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 Dicing device, semiconductor chip manufacturing method, and semiconductor chip

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