JP2005265658A - 複数種のテスタに対応可能なプローブ装置 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 147
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 69
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 56
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 38
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 21
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】本発明のプローブ装置10は、複数種のテスタ専用のポゴリング15及びプローブカード17に対応可能なインサートリング14及びベースカードホルダ13を備え、プローブカード17専用のカードホルダ20より大径に形成されたベースカードホルダ13と、このベースカードホルダ13にプローブカード17を装着する際にそのカードホルダ20とベースカードホルダ13との接続を中継する変換リング16とを備えている。
【選択図】図1
Description
13 ベースカードホルダ
14 インサートリング
15 ポゴリング(接続リング)
16、116 変換リング
17 プローブカード
18、118 インナーリング
20、120 カードホルダ
20B、120C 張り出し部
21、121 ワンタッチ固定機構
21A、121A 押さえ部材
21B、121B 軸部材
21C、121C コイルスプリング
21D 突起部(位置決め手段)
21E、21F 第1凹部(位置決め手段)
123 第2位置決め機構(位置決め機構)
Claims (7)
- 複数種のテスタ専用の接続リング及びプローブカードに対応可能なインサートリング及びベースカードホルダを備えたプローブ装置であって、上記各プローブカード専用のカードホルダより大径に形成されたベースカードホルダと、このベースカードホルダに上記各プローブカードを装着する際にそれぞれのカードホルダと上記ベースカードホルダとの接続を中継する変換リングとを備えたことを特徴とするプローブ装置。
- 上記変換リングは、上記カードホルダ周囲に形成された複数の張り出し部を固定するワンタッチ固定機構を複数有することを特徴とする請求項1に記載のプローブ装置。
- 上記ワンタッチ固定機構は、上記張り出し部を押さえる押さえ部材と、この押さえ部材を回転自在に支持する軸部材と、を有することを特徴とする請求項2に記載のプローブ装置。
- 上記ワンタッチ固定機構は、上記押さえ部材を下方に付勢する弾性部材を有することを特徴とする請求項3に記載のプローブ装置。
- 上記ワンタッチ固定機構は、上記押さえ部材の固定位置を決める位置決め手段を有することを特徴とする請求項3または請求項4に記載のプローブ装置。
- 上記各テスタ専用の接続リングを上記インサートリングに装着するためのインナーリングを備えたことを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載のプローブ装置。
- 上記インナーリングは、上記各テスタ専用のプローブカードの上下方向の位置決めをする位置決め機構を有することを特徴とする請求項6に記載のプローブ装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004079510A JP2005265658A (ja) | 2004-03-19 | 2004-03-19 | 複数種のテスタに対応可能なプローブ装置 |
TW094106464A TW200533923A (en) | 2004-03-19 | 2005-03-03 | Probe device capable of being used for plural kinds of testers |
CNB2005800016070A CN100545666C (zh) | 2004-03-19 | 2005-03-16 | 能够对应多种测试器的探针装置 |
PCT/JP2005/004698 WO2005091006A1 (ja) | 2004-03-19 | 2005-03-16 | 複数種のテスタに対応可能なプローブ装置 |
EP05726695.9A EP1736787A4 (en) | 2004-03-19 | 2005-03-16 | TEST DEVICE SUITABLE FOR A VARIETY OF DIFFERENT TESTERS |
KR1020067019266A KR100845349B1 (ko) | 2004-03-19 | 2005-03-16 | 복수종의 테스터에 대응 가능한 프로브 장치 |
US11/522,984 US7323893B2 (en) | 2004-03-19 | 2006-09-19 | Probe device capable of being used for plural kinds of testers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004079510A JP2005265658A (ja) | 2004-03-19 | 2004-03-19 | 複数種のテスタに対応可能なプローブ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005265658A true JP2005265658A (ja) | 2005-09-29 |
Family
ID=34993841
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004079510A Pending JP2005265658A (ja) | 2004-03-19 | 2004-03-19 | 複数種のテスタに対応可能なプローブ装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7323893B2 (ja) |
EP (1) | EP1736787A4 (ja) |
JP (1) | JP2005265658A (ja) |
KR (1) | KR100845349B1 (ja) |
CN (1) | CN100545666C (ja) |
TW (1) | TW200533923A (ja) |
WO (1) | WO2005091006A1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008131047A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Suss Microtec Test Systems Gmbh | 標本支持台と標本支持台の使用の下で検査物質を検査する方法 |
JP2009200390A (ja) * | 2008-02-25 | 2009-09-03 | Kyodo:Kk | プローブカード移載装置 |
WO2011013231A1 (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-03 | 株式会社アドバンテスト | プローブカード保持装置及びプローバ |
JP2016524139A (ja) * | 2013-05-14 | 2016-08-12 | フォームファクター, インコーポレイテッド | 交換可能プローブヘッドの自動取り付け及び取り外し |
TWI583963B (zh) * | 2016-04-18 | 2017-05-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 探針卡 |
KR20200036744A (ko) * | 2018-09-28 | 2020-04-07 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 카드 지지장치 |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6408500B1 (en) * | 2000-09-15 | 2002-06-25 | James Orsillo | Method of retrofitting a probe station |
US7471078B2 (en) * | 2006-12-29 | 2008-12-30 | Formfactor, Inc. | Stiffener assembly for use with testing devices |
KR101101535B1 (ko) * | 2008-03-14 | 2012-01-02 | 송원호 | 프로브블록 |
US20110204913A1 (en) * | 2008-09-26 | 2011-08-25 | Satoshi Takeshita | Test section unit and test head |
CN101738575B (zh) * | 2008-11-11 | 2013-08-21 | 京元电子股份有限公司 | 可换用不同探针卡的ic测试机台 |
JP2011064659A (ja) * | 2009-09-21 | 2011-03-31 | Tokyo Electron Ltd | プローブカードのクランプ機構及び検査装置 |
JP2011089891A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Micronics Japan Co Ltd | 電気的接続装置及びこれを用いる試験装置 |
TWI415204B (zh) * | 2010-04-28 | 2013-11-11 | Wen Chyimr Chen | 測試板 |
KR101101559B1 (ko) * | 2010-10-06 | 2012-01-02 | 송원호 | 프로브블록의 실리콘전극기판 제조방법 |
JP5788767B2 (ja) * | 2011-11-07 | 2015-10-07 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブブロックとそれを備えるプローブカード並びにプローブ装置 |
CN103207290A (zh) * | 2012-01-12 | 2013-07-17 | 瑞统企业股份有限公司 | 改良的电路板的测试治具结构 |
JP2013246153A (ja) * | 2012-05-29 | 2013-12-09 | Micronics Japan Co Ltd | プローブカード |
KR101754175B1 (ko) * | 2014-12-27 | 2017-07-05 | 싱크-테크 시스템 코포레이션 | 업그레이드 기능을 구비한 테스트 기기 |
KR102566685B1 (ko) * | 2016-07-18 | 2023-08-14 | 삼성전자주식회사 | 프로브 카드용 클램핑 장치 및 이를 포함하는 프로브 카드 |
TWI620937B (zh) * | 2017-04-17 | 2018-04-11 | 中華精測科技股份有限公司 | 微米細針吸取裝置及其使用方法 |
US11379004B2 (en) * | 2018-08-08 | 2022-07-05 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Adjustment control mechanisms of pogo pins |
KR102689406B1 (ko) * | 2018-11-16 | 2024-07-29 | 주식회사 기가레인 | 프로브카드용 공간변환부 |
TWM580255U (zh) | 2019-01-25 | 2019-07-01 | 和碩聯合科技股份有限公司 | 旋鈕裝置 |
CN116774012B (zh) * | 2023-08-15 | 2023-10-20 | 深圳市微特精密科技股份有限公司 | 一种ict测试夹具及测试装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63299243A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-06 | Tokyo Electron Ltd | プロ−ブカ−ドアダプタ |
JP2000150596A (ja) * | 1998-11-10 | 2000-05-30 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | プローバ |
JP2000349128A (ja) * | 1999-06-04 | 2000-12-15 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | プローバ装置のプローバ側とテスタ側との接続方法及びその構造 |
JP2003344482A (ja) * | 2002-05-29 | 2003-12-03 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード搬送装置及びアダプタ |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0719817B2 (ja) * | 1987-05-01 | 1995-03-06 | 東京エレクトロン株式会社 | プロ−ブカ−ド自動交換方法 |
JPH0543244Y2 (ja) | 1987-09-30 | 1993-10-29 | ||
US5068601A (en) * | 1991-02-11 | 1991-11-26 | Credence Systems Corporation | Dual function cam-ring system for DUT board parallel electrical inter-connection and prober/handler docking |
TW273635B (ja) * | 1994-09-01 | 1996-04-01 | Aesop | |
US6118290A (en) * | 1997-06-07 | 2000-09-12 | Tokyo Electron Limited | Prober and method for cleaning probes provided therein |
US6114869A (en) * | 1998-05-21 | 2000-09-05 | Cerprobe Corporation | Method and apparatus for interfacing between automatic wafer probe machines, automatic testers, and probe cards |
US6166553A (en) * | 1998-06-29 | 2000-12-26 | Xandex, Inc. | Prober-tester electrical interface for semiconductor test |
US6340895B1 (en) * | 1999-07-14 | 2002-01-22 | Aehr Test Systems, Inc. | Wafer-level burn-in and test cartridge |
US6408500B1 (en) * | 2000-09-15 | 2002-06-25 | James Orsillo | Method of retrofitting a probe station |
-
2004
- 2004-03-19 JP JP2004079510A patent/JP2005265658A/ja active Pending
-
2005
- 2005-03-03 TW TW094106464A patent/TW200533923A/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-03-16 KR KR1020067019266A patent/KR100845349B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 2005-03-16 EP EP05726695.9A patent/EP1736787A4/en not_active Withdrawn
- 2005-03-16 WO PCT/JP2005/004698 patent/WO2005091006A1/ja not_active Application Discontinuation
- 2005-03-16 CN CNB2005800016070A patent/CN100545666C/zh not_active Expired - Lifetime
-
2006
- 2006-09-19 US US11/522,984 patent/US7323893B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63299243A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-06 | Tokyo Electron Ltd | プロ−ブカ−ドアダプタ |
JP2000150596A (ja) * | 1998-11-10 | 2000-05-30 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | プローバ |
JP2000349128A (ja) * | 1999-06-04 | 2000-12-15 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | プローバ装置のプローバ側とテスタ側との接続方法及びその構造 |
JP2003344482A (ja) * | 2002-05-29 | 2003-12-03 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード搬送装置及びアダプタ |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008131047A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Suss Microtec Test Systems Gmbh | 標本支持台と標本支持台の使用の下で検査物質を検査する方法 |
JP2009200390A (ja) * | 2008-02-25 | 2009-09-03 | Kyodo:Kk | プローブカード移載装置 |
WO2011013231A1 (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-03 | 株式会社アドバンテスト | プローブカード保持装置及びプローバ |
JPWO2011013231A1 (ja) * | 2009-07-30 | 2013-01-07 | 株式会社アドバンテスト | プローブカード保持装置及びプローバ |
JP2016524139A (ja) * | 2013-05-14 | 2016-08-12 | フォームファクター, インコーポレイテッド | 交換可能プローブヘッドの自動取り付け及び取り外し |
TWI583963B (zh) * | 2016-04-18 | 2017-05-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 探針卡 |
KR20200036744A (ko) * | 2018-09-28 | 2020-04-07 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 카드 지지장치 |
KR102129849B1 (ko) | 2018-09-28 | 2020-08-05 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 카드 지지장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2005091006A1 (ja) | 2005-09-29 |
TW200533923A (en) | 2005-10-16 |
US7323893B2 (en) | 2008-01-29 |
EP1736787A4 (en) | 2014-04-02 |
CN1906496A (zh) | 2007-01-31 |
EP1736787A1 (en) | 2006-12-27 |
KR100845349B1 (ko) | 2008-07-09 |
KR20060130660A (ko) | 2006-12-19 |
CN100545666C (zh) | 2009-09-30 |
US20070007979A1 (en) | 2007-01-11 |
TWI354794B (ja) | 2011-12-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070302 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
A02 | Decision of refusal |
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