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JP2005157268A - 撮像装置及びその制御方法及びプログラム及び記憶媒体 - Google Patents

撮像装置及びその制御方法及びプログラム及び記憶媒体 Download PDF

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JP2005157268A JP2004163743A JP2004163743A JP2005157268A JP 2005157268 A JP2005157268 A JP 2005157268A JP 2004163743 A JP2004163743 A JP 2004163743A JP 2004163743 A JP2004163743 A JP 2004163743A JP 2005157268 A JP2005157268 A JP 2005157268A
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一樹 小西
Kimita Terayama
公太 寺山
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Abstract

【課題】オートフォーカス動作の高精度化と高速化を図る。
【解決手段】被写体像を結像させるための撮影光学系であって、被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系３を備える撮影光学系３１と、撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子５と、焦点調節光学系により被写体像の結像位置を調整しながら、撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、被写体像が撮像素子上に結像するための焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出部１４と、被写体からの光束を受光する複数の受光部を有し、受光部の出力信号に基づいて被写体までの距離を測定する測距部３０と、合焦位置検出部及び測距部の検出結果に基づいて、測距部の測距結果を補正する演算部１５とを具備する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、自動焦点調整技術、詳しくは撮像光学系により結像される被写体像を光電変換する撮像素子により取得される画像信号を使用して、焦点調整を行う自動焦点調整技術に関するものである。
電子カメラでは低コストと高精度が特長の、フォーカスレンズを駆動しながら撮像素子に結像した被写体像の画像信号の高周波成分により焦点調節を行うコントラスト検出方式（スキャンＡＦ）の焦点調整装置が採用されることが多いが、高倍率、高画素化に伴いＡＦ精度とスピードの両立が困難になってきている。この問題に対し、パッシブ方式などの外部測距手段を備え、コントラスト検出方式と切換もしくは併用で測距を行う方式が提案されている。
このようなコントラスト検出方式と切換もしくは併用で測距を行う方式の従来技術としては、特開平５−１１９２５０号公報（特許文献１）、特開２０００−１１１７９２号公報（特許文献２）、特開２００３−１０７３３３号公報（特許文献３）に開示されているものが知られている。
特開平５−１１９２５０号公報には以下のような技術が開示されている。
コントラスト検出を用いたオートフォーカスと赤外光検出を用いたオートフォーカスを併用し、通常の撮影動作時にはコントラスト検出を用いたオートフォーカス手段を用いて焦点調整動作を行う一方で、このコントラスト検出を用いたオートフォーカス手段による焦点調整動作が困難となる撮影環境下においてのみ赤外光検出を用いたオートフォーカス手段に切換えて、所望の被写体に対する測距動作及びオートフォーカス動作を行う。従ってこれによれば被写体の明るさによらず適切なオートフォーカスを行うことができる。
特開２０００−１１１７９２号公報には以下のような技術が開示されている。
被写体を光電変換して画像信号を生成し生成された画像信号から所定の高周波成分を検出しそれにより焦点調節を行うコントラスト検出を用いたオートフォーカス手段と、赤外光を照射する発光手段（ＬＥＤ）と被写体からの反射光を受光し被写体距離に応じた出力信号を検出する赤外光検出を用いたオートフォーカス手段を併用し、環境温度を検出する温度検出手段の出力に応じて、コントラスト検出を用いたオートフォーカス手段と赤外光検出を用いたオートフォーカス手段のいずれか一方を選択し、オートフォーカス動作を行う。従ってこれによれば使用環境温度の変化によらず適切なオートフォーカスを行うことができる。
特開２００３−１０７３３３号公報には以下のような技術が開示されている。
その課題は、「応答性および精度の双方に優れた焦点調整装置および方法を提供する」ことであり、その解決手段は「撮像素子における焦点調整装置であって、被写体までの距離を検出する測距手段と、測距手段の結果に従って、撮像装置の撮影レンズを駆動するレンズ駆動手段と、撮像装置の撮像センサを用いて被写体の焦点を検出する焦点検出手段と、焦点検出手段の焦点検出結果に応じて、レンズ駆動手段に対して補正を行う補正手段と、補正手段の有効性を判断する判断手段と、を有する」ことである。
特開平５−１１９２５０号公報 特開２０００−１１１７９２号公報 特開２００３−１０７３３３号公報
しかしながら特開平５−１１９２５０号公報では、通常の撮影動作時にはコントラスト検出を用いたオートフォーカス手段を用いて焦点調整動作を行うため、通常の撮影動作時にオートフォーカスを高速化することができない。またコントラスト検出を用いたオートフォーカス手段による焦点調整動作が困難となる撮影環境下においてのみ赤外光検出を用いたオートフォーカス手段に切換えた場合には、十分なオートフォーカス動作の精度を得ることができない。
特開２０００−１１１７９２号公報では、使用環境温度の変化に応じてコントラスト検出を用いたオートフォーカス手段と赤外光検出を用いたオートフォーカス手段のいずれか一方を選択しているため、上記の特開平５−１１９２５０号公報と同様の問題点を有している。
特開２００３−１０７３３３号公報では、焦点検出手段の焦点検出結果に応じて、レンズ駆動手段に対して補正を行い、その有効性を判断する判断手段を有することが開示されているが、パララックスにより生じる測距手段と焦点検出手段の検出領域の不一致に対する解決方法や、測距手段と焦点検出手段の検出精度のアンバランスに対する解決方法が示されていない。
従って、本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、オートフォーカス動作の高精度化と高速化を図ることである。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係わる撮像装置は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、前記演算手段による補正の結果、前記合焦位置検出手段における更なる合焦位置を検出するための検出範囲を制御することを特徴とする。
また、この発明に係わる撮像装置において、前記演算手段による補正の結果に応じて、前記号焦位置検出手段における更なる合焦位置を検出するための検出範囲を狭めるよう制御することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、前記演算手段による補正の結果、前記合焦位置検出手段と前記測距手段の検出範囲が一致しているとみなせる被写体距離範囲を制御することを特徴とする。
また、この発明に係わる撮像装置において、前記測距手段の基線長方向が前記撮影光学系の光軸に直交する方向に一致するように、前記測距手段が配置されていることを特徴とする。
また、この発明に係わる撮像装置において、前記演算手段は、前記測距手段による測距動作が行なわれた時刻と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時刻との差が所定時間以内の場合に、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正することを特徴とする。
また、この発明に係わる撮像装置において、前記演算手段は、前記測距手段による測距動作が行なわれた時刻と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時刻との差が所定時間以内で、且つ、前記測距手段による測距動作が行なわれた時の温度と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時の温度との差が所定温度以内の場合に、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正することを特徴とする。
また、この発明に係わる撮像装置において、前記演算手段は、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果の補正を行なわない場合は、前記測距手段による測距動作が行なわれた時の温度と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時の温度とに基づいて、前記測距手段の測距結果を補正することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する複数の受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを備える撮像装置を制御するための撮像装置の制御方法であって、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、前記演算工程における補正の結果、前記合焦位置検出手段における更なる合焦位置を検出するための検出範囲を制御することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する複数の受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを備える撮像装置を制御するための撮像装置の制御方法であって、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、前記演算工程における補正の結果、前記合焦位置検出手段と前記測距手段の検出範囲が一致しているとみなせる被写体距離範囲を制御することを特徴とする。
また、本発明に係わるプログラムは、上記の撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させることを特徴とする。
また、本発明に係わる記憶媒体は、上記のプログラムをコンピュータ読み取り可能に記憶したことを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、前記測距手段による測距動作時の前記ズーム光学系のズーム位置が、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置よりも所定値以上望遠側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、前記測距手段による測距動作の直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置が所定値よりも広角側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系と、近接撮影を可能にするマクロ機能とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、前記測距手段による測距動作時と、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時とで、前記マクロ機能のマクロ／非マクロの設定が異なる場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを具備する撮像装置を制御する方法であって、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、前記測距手段による測距動作時の前記ズーム光学系のズーム位置が、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置よりも所定値以上望遠側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを具備する撮像装置を制御する方法であって、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、前記測距手段による測距動作の直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置が所定値よりも広角側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系と、近接撮影を可能にするマクロ機能とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを具備する撮像装置を制御する方法であって、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、前記測距手段による測距動作時と、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時とで、前記マクロ機能のマクロ／非マクロの設定が異なる場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする。
また、本発明に係わるプログラムは、上記の撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させることを特徴とする。
また、本発明に係わる記憶媒体は、上記のプログラムをコンピュータ読み取り可能に記憶したことを特徴とする。
本発明によれば、オートフォーカス動作の高精度化と高速化を図ることが可能となる。
以下、本発明の好適な実施形態について添付図面を参照して説明する。
（第１の実施形態）
図１は、本発明の一実施形態に係わる撮像装置の構成を示すブロック図である。
図１において、１は撮像装置、２はズームレンズ群、３はフォーカスレンズ群、４はズームレンズ群２とフォーカスレンズ群３等からなる撮影光学系を透過する光束の量を制御する光量調節手段であり露出手段である絞り、３１はズームレンズ群２とフォーカスレンズ群３と絞り４等を内蔵する撮影レンズ鏡筒、５は撮影光学系を透過した被写体像が結像し、これを光電変換するＣＣＤ等の固体撮像素子（以下ＣＣＤ）である。
６はＣＣＤ５によって光電変換された電気信号を受けて各種の画像処理を施すことにより所定の画像信号を生成する撮像回路、７はこの撮像回路６により生成されたアナログ画像信号をデジタル画像信号に変換するＡ／Ｄ変換回路、８はこのＡ／Ｄ変換回路７の出力を受けてこの画像信号を一時的に記憶するバッファメモリ等のメモリ（ＶＲＡＭ）、９はこのＶＲＡＭ８に記憶された画像信号を読み出してこれをアナログ信号に変換するとともに再生出力に適する形態の画像信号に変換するＤ／Ａ変換回路、１０はこの画像信号を表示する液晶表示装置（ＬＣＤ）等の画像表示装置（以下ＬＣＤ）、１２は半導体メモリ等からなる画像データを記憶する記憶用メモリ、１１はＶＲＡＭ８に一時記憶された画像信号を読み出して記憶用メモリ１２に対する記憶に適した形態にするために画像データの圧縮処理や符号化処理を施す圧縮回路及び記憶用メモリ１２に記憶された画像データを再生表示等するのに最適な形態とするための復号化処理や伸長処理等を施す伸長回路とからなる圧縮伸長回路である。
１３はＡ／Ｄ変換回路７からの出力を受けて自動露出（ＡＥ）処理を行うＡＥ処理回路、１４はＡ／Ｄ変換回路７からの出力を受けて自動焦点調節（ＡＦ）処理を行うスキャンＡＦ処理回路、１５は撮像装置の制御を行う演算用のメモリを内蔵したＣＰＵ、１６は所定のタイミング信号を発生するタイミングジェネレータ（以下ＴＧ）、１７はＣＣＤドライバーである。
２１は絞り４を駆動する絞り駆動モータ、１８は絞り駆動モータ２１を駆動制御する第１モータ駆動回路、２２はフォーカスレンズ群３を駆動するフォーカス駆動モータ、１９はフォーカス駆動モータ２２を駆動制御する第２モーター駆動回路、２３はズームスレンズ群２を駆動するズーム駆動モータ、２０はズーム駆動モータ２３を駆動制御する第３モータ駆動回路である。
２４は各種のスイッチ群からなる操作スイッチ、２５は各種制御等を行うプログラムや各種動作を行わせるために使用するデータ等が予め記憶されている電気的に書き換え可能な読み出し専用メモリであるＥＥＰＲＯＭ、２６は電池、２８はストロボ発光部、２７はストロボ発光部２８の閃光発光を制御するスイッチング回路、３０は被写体からの複数の光束を受光する複数の受光部を有するパッシブ方式の外部測距手段（以下、パッシブＡＦ手段）、３２は赤外光を遮断するｉＲカットフィルターである。
なおパッシブＡＦ手段３０の受光部からの出力から被写体までの距離を求める演算は本実施形態ではＣＰＵ１５が行う。すなわちハード構成を示した図面上では、被写体からの光束を受光する受光レンズ、その像を電気信号に変換するＣＣＤなどの撮像センサー、センサーを駆動するためのドライバーなどをパッシブＡＦ手段として表示しているが、実際の動作においては図１に記載したパッシブＡＦ手段３０及びＡ／Ｄ変換端子を有するＣＰＵ１５によってパッシブＡＦ手段は構成される。なお、パッシブＡＦ手段の基線長方向が撮影レンズ鏡筒３１に内蔵された撮影光学系の光軸に直交する方向に一致するように、パッシブＡＦ手段が配置されている。
以下の実施形態の説明においても、パッシブＡＦ手段はこのＣＰＵを含む構成のものとなる。また、画像データ等の記憶媒体である記憶用メモリは、フラッシュメモリ等の固定型の半導体メモリや、カード形状やスティック形状からなり装置に対して着脱自在に構成されるカード型フラッシュメモリ等の半導体メモリの他、ハードディスクやフロッピー（登録商標）ディスク等の磁気記憶媒体等、様々な形態のものが適用される。
また、操作スイッチ２４としては、本撮像装置１を起動させ電源供給を行うための主電源スイッチや撮影動作（記憶動作）等を開始させるシャッターボタン、再生動作を開始させる再生スイッチ、撮影光学系のズームレンズ群２を移動させズームを行わせるズームスイッチ等がある。
そしてシャッターボタンは撮影動作に先立って行われるＡＥ処理、ＡＦ処理を開始させる指示信号を発生する第１ストロークと、実際の露光動作を開始させる指示信号を発生する第２ストロークとを有する二段スイッチにより構成される。
このように構成された本実施形態の撮像装置の動作を以下に説明する。
まず、撮像装置１の撮影レンズ鏡筒３１を透過した被写体光束は絞り部４によってその光量が調整された後、ＣＣＤ５の受光面に結像される。この被写体像は、ＣＣＤ５による光電変換処理により電気的な信号に変換され撮像回路６に出力される。撮像回路６では、入力された信号に対して各種の信号処理を施し、所定の画像信号が生成される。この画像信号はＡ／Ｄ変換回路７に出力されデジタル信号（画像データ）に変換された後、ＶＲＡＭ８に一時的に格納される。
ＶＲＡＭ８に格納された画像データはＤ／Ａ変換回路９へ出力されアナログ信号に変換され表示するのに適した形態の画像信号に変換された後、ＬＣＤ１０に画像として表示される。一方ＶＲＡＭ８に格納された画像データは圧縮伸長回路１１にも出力される。この圧縮伸長回路１１における圧縮回路によって圧縮処理が行われた後、記憶に適した形態の画像データに変換され、記憶用メモリ１２に記憶される。
また、例えば操作スイッチ２４のうち不図示の再生スイッチが操作されオン状態になると再生動作が開始される。すると記憶用メモリ１２に圧縮された形で記憶された画像データは圧縮伸長回路１１に入力され、伸長回路において復号化処理や伸長処理等が施された後、ＶＲＡＭ８に入力され一時的に記憶される。更にこの画像データはＤ／Ａ変換回路９へ入力され、アナログ信号に変換され表示するのに適した形態の画像信号に変換された後、ＬＣＤ１０に画像として表示される。
他方、Ａ／Ｄ変換回路７によってデジタル化された画像データは、上述のＶＲＡＭ８とは別にＡＥ処理回路１３及びスキャンＡＦ処理回路１４に対しても出力される。まずＡＥ処理回路１３においては、入力されたデジタル画像信号を受けて、一画面分の画像データの輝度値に対して累積加算等の演算処理が行われる。これにより、被写体の明るさに応じたＡＥ評価値が算出される。このＡＥ評価値はＣＰＵ１５に出力される。
またスキャンＡＦ処理回路１４においては、入力されたデジタル画像信号を受けて画面のＡＦ枠に相当する部分の画像データの高周波成分がハイパスフィルター（ＨＰＦ）等を介して抽出され、更に累積加算等の演算処理が行われる。これにより、高域側の輪郭成分量等に対応するＡＦ評価値が算出される。このようにスキャンＡＦ処理回路１４は、ＡＦ処理を行う過程において、ＣＣＤ５によって生成された画像信号から所定の高周波成分を検出する高周波成分検出手段の役割を担っている。
一方、ＴＧ１６からは所定のタイミング信号がＣＰＵ１５、撮像回路６、ＣＣＤドライバー１７へ出力されており、ＣＰＵ１５はこのタイミング信号に同期させて各種の制御を行う。また撮像回路６は、ＴＧ１６からのタイミング信号を受け、これに同期させて色信号の分離等の各種画像処理を行う。さらにＣＣＤドライバー１７は、ＴＧ１６のタイミング信号を受けこれに同期してＣＣＤ５を駆動する。
またＣＰＵ１５は、第１モータ駆動回路１８、第２モータ駆動回路１９、第３モータ駆動回路２０をそれぞれ制御することにより、絞り駆動モータ２１、フォーカス駆動モータ２２、ズーム駆動モータ２３を介して、絞り４、フォーカスレンズ群３、ズームスレンズ群２を駆動制御する。すなわちＣＰＵ１５はＡＥ処理回路１３において算出されたＡＥ評価値等に基づき第１モータ駆動回路１８を制御して絞り駆動モータ２１を駆動し、絞り４の絞り量を適正になるように調整するＡＥ制御を行う。またＣＰＵ１５はスキャンＡＦ処理回路１４において算出されるＡＦ評価値や、後述するパッシブＡＦ手段によって得られた出力に基づき第２モータ駆動回路１９を制御してフォーカス駆動モータ２２を駆動し、フォーカスレンズ群３を合焦位置に移動させるＡＦ制御を行う。また操作スイッチ２４のうち不図示のズームスイッチが操作された場合は、これを受けてＣＰＵ１５は、第３モータ駆動回路２０を制御してズームモータ２３を駆動制御することによりズームレンズ群２を移動させ、撮影光学系の変倍動作（ズーム動作）を行う。
次に本撮像装置の実際の撮影動作を図２に示すフローチャートを用いて説明する。
本撮像装置１の主電源スイッチがオン状態であり、かつ撮像装置の動作モードが撮影（録画）モードにあるときは、撮影処理シーケンスが実行される。
まず初めにＣＰＵ１５は、撮影レンズ鏡筒３１を透過しＣＣＤ５上に結像した像を、ＬＣＤ１０に画像として表示する。次いでステップＳ１において、シャッターボタンの状態を確認する。撮影者によってシャッターボタンが操作されるなどして、撮影動作に先立ち行われるＡＥ処理、ＡＦ処理を開始させる指示信号をＣＰＵ１５が認識すると、次のステップＳ２に進み、通常のＡＥ処理が実行される。
続いてステップＳ３においてパッシブＡＦ処理が行われる。ＣＰＵ１５は、パッシブＡＦ手段３０を制御し、受光された被写体から二つの光束によりパッシブＡＦ手段３０のセンサー上に形成された画像を読み出す。読み出された二つの画像信号はＡ／Ｄ変換された後、ＣＰＵ１５に入力される。ＣＰＵ１５では二つの画像信号からその像ずれ量、更に被写体までの距離が計算される。
ここで簡単に被写体までの距離の計算方法を説明する。
図３に示すように。左右のセンサーに結像する二像の像ずれ量がｘのとき被写体までの距離Ｌは三角測量の原理から
Ｌ＝Ｂ・ｆ／ｘ …（式１）
と求められる。但し、ｆは受光レンズの焦点距離、Ｂは基線長（二つの受光レンズの間隔）である。以後Ｂ・ｆをＢｆと記述しＢｆ積と称する。
像ずれ量の計算は左右どちらかの像を基準画像、他方を参照画像とした場合、参照画像の読み出し開始画素を変位させ、基準画像と参照画像の相関値を計算する。そしてその相関値が最小になる位置を見つける。この相関値が最小になる位置が左右の像の像ずれ量となる。実際の演算はセンサーの画素未満のずれ量を補間演算によって求めるため以下の様に行われる。
図３に示すように左側のセンサー列から出力される画像を基準画像、右側のセンサー列から出力される画像を参照画像とする。参照画像側は基準画像側より多くの画素数を読み出す必要がある。左右のセンサーのそれぞれの画素数をＮ、基準画像（左）の読み出し画素数はＮＬｅｆｔ、参照画像（右）の読み出し画素数はＮＲｉｇｈｔ（ＮＬｅｆｔ＜ＮＲｉｇｈｔ）とする。ＮＬｅｆｔとＮＲｉｇｈｔの差はずれ量の最大値をどこまで見込むかによる。すなわち近側の測距をどこまで行うかによって決まることになる。例えば、Ｂｆ積が３２．６ｍｍ2、近側の測距距離を２０ｃｍ、センサーのピッチを７μｍとするとＮＲｉｇｈｔ−ＮＬｅｆｔ＝２３．３画素となり、それ以上の差を持つことが必要となる。相関演算において十分な精度を得るためには基準画像側の画素として最低でも４０画素程度は必要になる。よって、例えばＮ＝１００のセンサー列を二つ持つパッシブＡＦ手段の場合、ＮＬｅｆｔ＝５０画素、ＮＲｉｇｈｔ＝８０画素と設定すればよい。 また二像の相関量は以下の様に求める。参照画像の信号をｋｂｉｔシフトしたときの相関量を、Ｕｋとすると、
Ｕｋ＝Σｍｉｎ（ａj+1,bj+k）−Σｍｉｎ（ａj,bj+k+1） …（式２）
である。但し、ｍｉｎ（ｘ,ｙ）はｘ、ｙのうち小さい方を選択する演算、ａjは基準画像の信号、ｂjは参照画像である。またｋ、ｊの範囲は以下のとおりである。
上述のように、左右のセンサーの総画素数をＮ、基準画像（左）の読み出し画素数はＮＬｅｆｔ、参照画像（右）の読み出し画素数はＮＲｉｇｈｔとすると基準画像の読み出し開始画素ＭＬｏ、参照画像の読み出し開始画素ＭＲｏはそれぞれ
ＭＬｏ＝（Ｎ−ＮＬｅｆｔ）／２
ＭＲｏ＝（Ｎ−ＮＲｉｇｈｔ）／２−ΔＮ
となる。但しΔＮはＮの２０分の１程度の定数であるが、基線長、受光レンズの焦点距離、センサーピッチなどのパッシブＡＦ手段の仕様によりその値は異なる。すなわち、基準画像はセンサー中央のＮＬｅｆｔ画素を、参照画像は基準画像を含む外側がより広い範囲のＮＲｉｇｈｔ画素を読み込む。例えばＮ＝１００、ＮＬｅｆｔ＝５０画素、ＮＲｉｇｈｔ＝８０画素の場合は、ＭＬｏ＝２５画素、ＭＲｏ＝１０画素に設定すればよい。
このようにセンサーからの読み出しが行われた場合の（式２）におけるｋ、ｊの範囲は、
ｋ＝−ΔＮ 〜 ＮＲｉｇｈｔ−ＮＬｅｆｔ−ΔＮ
ｊ＝１ 〜 ＮＬｅｆｔ
である。
以上のようにしてＵｋを計算し、上記のｋの範囲でＵｋの符号が逆転するｋを求める。ｋ＝ｐとｋ＝ｐ＋１の間で符号が逆転したならば像ずれ量δは、
δ＝｜Ｕｐ｜／（｜Ｕｐ｜＋｜Ｕｐ＋１｜）＋ｐ …（式３）
となる。
この像ずれ量から三角測量の原理に基づき距離Ｌを求めるわけであるが、（式１）におけるｘは無限遠の被写体の像ずれ量との差を表しているので、実際には
Ｌ＝Ｂｆ／（δ−δ∞） …（式１’）
より距離Ｌを求める。ここでδ∞は無限遠の被写体の像ずれ量である。また、このδ∞とＢｆはパッシブＡＦ手段の個体によって異なるので、設計値ではなく工程等で測定された値を用いる。
以上のようにして被写体までの距離Ｌを求めることができる。
パッシブＡＦ手段による測距結果を求めたならば、ＣＰＵ１５はこのパッシブＡＦ手段によって求められた距離に相当するフォーカスレンズ群３の位置を示す設定値を求め、それをパッシブＡＦの合焦位置Ｇ１とする。
ステップＳ４において露光指示（シャッターボタンの第２ストローク）の確認を行う。
露光が指示されたならば、ステップＳ５に進み、ステップＳ３のパッシブＡＦ処理で求められた合焦位置Ｇ１にフォーカスレンズ群３を駆動する。そしてステップＳ６でＣＰＵ１５は第１モータ駆動回路１８を制御することにより、絞り駆動モータ２１を介して絞り４を小絞り側へ駆動制御する。これにより被写界深度を深くし、パッシブＡＦの持つ合焦位置の誤差を吸収する。そして絞り４を絞ることにより露光量が不足しないようにステップＳ２で設定されたＣＣＤ６の蓄積時間を絞り４を絞った分だけ伸ばす。蓄積時間を伸ばすことによって手振れ等が生じ、画質に悪影響を及ぼす懸念がある場合は、蓄積時間を伸ばさずＣＣＤ６の感度をアップする。感度アップはノイズの増加につながるので、蓄積時間を手振れの生じない値まで伸ばした後に感度アップを行う。
その後ステップＳ１１に進み、ステップＳ６での設定に従って実際の露光処理を実行する。
露光が指示されない場合は、ステップＳ７のスキャンＡＦを実行するステップＳ７に進む。
スキャンＡＦを行う場合は、パッシブＡＦ処理は、所望の被写体に対するおおまかな被写体距離（フォーカスレンズ群３の合焦位置）を検出するための粗調整のためのＡＦ処理として扱われる。そしてスキャンＡＦ処理は、その後正確な合焦位置を検出する微調整のための処理となる。
すなわちＣＰＵ１５は、ステップＳ３のパッシブＡＦ処理の測距結果で求められた合焦位置付近までフォーカスレンズ群３を移動する。その後ステップＳ８で、正確な合焦位置を検出する微調整のためのスキャンＡＦ処理を行う。これはフォーカスレンズ群３を微小に駆動しながらスキャンＡＦ処理回路の出力をモニターし、ＣＣＤ５によって生成された画像信号から出力される高周波成分が最も多くなるフォーカスレンズ群３の位置を求めることにより行われる。
そしてステップＳ８において、その合焦位置にフォーカスレンズ群３を駆動する。
このようにして所定のＡＦ処理が終了したならば、もう一度ＡＥ処理が実行される。その後ＣＰＵ１５はステップＳ１０において、露光指示（シャッターボタンの第２ストローク）の確認を行い、露光が指示されたならば、ステップＳ１１に進み、実際の露光処理を実行する。
なお、スキャンＡＦ処理の途中で露光が指示された場合は、スキャンＡＦ処理（ステップＳ７、Ｓ８）の終了後、ステップＳ１１に進み実際の露光処理を実行する。
またステップＳ１０で露光指示がなされない場合はステップＳ１２に進み、再びパッシブＡＦ処理を行う。このパッシブＡＦ処理においては直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する。
その詳細に関して述べる。
まず補正を行う理由に関して述べる。その理由は、温度変動などが生じても外部測距手段（パッシブＡＦ手段）の測距精度を高めることで、外部測距手段と撮影光学系の間のパララックスにより生じる外部測距手段の測距結果を有効と判断することの出来る距離範囲を拡大することである。
周知のように外部測距手段を用いる場合には外部測距手段と撮影光学系の間にパララックスが生じる。これは本実施形態においても例外ではない。
スキャンＡＦはＣＣＤ５によって生成された画像信号の一部分を用いて行われる。その範囲は画面の中央部分に設定される。この範囲をスキャンＡＦ枠と称する、スキャンＡＦ枠と外部測距手段の測距範囲は合致させた範囲を除いては一致しない。またその一致しているとみなせる範囲は撮影レンズの焦点距離により異なる。本実施形態では、パッシブＡＦ手段の測距範囲の中心がスキャンＡＦ枠の範囲内の時に両者の測距範囲が合致しているとみなしている。
この測距範囲が合致している場合は両者の測距する物が同一であるので、パッシブＡＦ処理で、所望の被写体に対するおおまかな被写体距離を検出するための粗調整のためのＡＦ処理を行い、スキャンＡＦ処理でその後正確な合焦位置を検出する微調整のための処理を行うことができる。しかし両者の測距範囲が一致していない場合は、違う被写体を測距している可能性があるため、上記のようにパッシブＡＦ処理で粗調整のためのＡＦ処理を行い、スキャンＡＦ処理で微調整のためのＡＦ処理を行うことが出来ない。この場合はパッシブＡＦ処理とスキャンＡＦ処理を併用することによるオートフォーカス動作の高速化を行うことが出来ない。
撮影レンズの焦点距離（ｆT）、撮影レンズ光軸とパッシブＡＦ手段の取り付け位置の差（ｄｙ）、スキャンＡＦ枠のＣＣＤ５面上の大きさ（ＷSAF）、撮影レンズ光軸とパッシブＡＦ手段の受光レンズの光軸が交差する距離（Ｌo）より、両者の測距範囲が一致しているとみなせる距離範囲の近点Ｌnear、遠点Ｌfarは、
Ｌnear、Ｌfar＝Ｌo／｛１±ＷSAF／（ｄｙ・ｆT）｝ …（式１１）
と求められる。この両者の測距範囲が一致しているとみなせる距離範囲を、パッシブＡＦ測距結果有効範囲と称することとする。
このパッシブＡＦ測距結果有効範囲内にパッシブＡＦ手段の測距結果が入っていれば、両者の測距範囲が一致しているとみなせるわけであるが、パッシブＡＦ手段の測距結果は誤差を持っている。その要因としては、温度など環境変化、外部測距手段及び合焦位置検出手段の調整・組立誤差などが考えられる。
よってその誤差を考慮して（式１１）より狭い範囲に設定される。誤差を考慮した近点Ｌnear、遠点Ｌfarは、
Ｌnear、Ｌfar＝Ｌo／[｛１±ＷSAF／（ｄｙ・ｆT）｝・｛１±Ｂf／Δerr｝]
…（式１２）
但し、ＢｆはパッシブＡＦ手段のＢｆ積、Δerrは誤差要因に起因する修正項で、具体的には、
Δerr＝√｛温度による測距誤差2＋調整誤差による測距誤差2＋
組立誤差による測距誤差2｝
と計算される。
このようにパッシブＡＦ手段の測距誤差が生じるとパッシブＡＦ測距結果有効範囲が狭くなり、オートフォーカス動作の高速化出来る範囲が狭くなる。そこでパッシブＡＦ処理においては、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正することで、パッシブＡＦ測距結果有効範囲を拡大する。
以下に具体的な補正方法を説明する。直前のスキャンＡＦの結果でパッシブＡＦの結果を補正する条件を図４に示す。
まず直前に行われたスキャンＡＦの結果、合焦したか否かを調べる。非合焦の場合は当然直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いた補正は行わず、後述するパッシブＡＦ手段の近くに配置された温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。
ついで直前のＡＦ（パッシブＡＦ並びにスキャンＡＦの双方）が行われた時刻Ｔｉｍｅｐｒｅと現在の時刻Ｔｉｍｅｎｏｗを比較し、その差が所定値Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ１以下であったならば、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する処理に進む。この場合は温度計の読みが大きく動いていても短時間なので部材の膨張収縮は無視できるからである。
またこの時刻の差が所定値Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ２より大きい場合は、温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。この場合は温度計の読みの変化が小さくとも、状況が変化し、部材の膨張伸縮は無視できない場合があるからである。
時刻の差Ｔｉｍｅｎｏｗ−Ｔｉｍｅｐｒｅが、
Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ１＜Ｔｉｍｅｎｏｗ−Ｔｉｍｅｐｒｅ≦Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ２
のときは、前回ＡＦ時の温度Ｔｐｒｅと現在の温度Ｔｎｏｗを比較し、その差Ｔｎｏｗ−Ｔｐｒｅが所定値Ｔｃｏｎｓｔ１以下のときは直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する処理に進む。温度計の読みの変化が小さければ、部材の膨張収縮は無視できるからである。
Ｔｎｏｗ−ＴｐｒｅがＴｃｏｎｓｔ１より大きい場合は、温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。温度計の読みの変化が大きい場合は、部材の膨張収縮は無視できないからである。
ここで、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する処理について説明する。
直前のスキャンＡＦ時と今回のパッシブＡＦ時に温度の変動が無い（無視できる）と判断できる場合の処理である。スキャンＡＦによる合焦位置の情報を用いてパッシブＡＦの結果を補正する。直前のパッシブＡＦ結果と今回のパッシブＡＦ結果の差分を利用して補正を行う。
温度計の読みによる補正を行わないパッシブＡＦ結果（プレディクション値）をｘｃａｌ、直前のパッシブＡＦの結果（プレディクション値）をｘｐｒｅ、直前のスキャンＡＦの結果（合焦位置）を距離に換算した値をＬｐｒｅＴｖとすると直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて補正された測距結果Ｌは、
Ｌ＝Ｂｆ／ (ｘｃａｌ＋Ｂｆ／ＬｐｒｅＴｖ −ｘｐｒｅ)
となる。Ｂｆは前述のＢｆ積である。
この補正により、温度など環境変化、外部測距手段及び合焦位置検出手段の調整・組立誤差などによる誤差が吸収できるので、パッシブＡＦ手段とスキャンＡＦ手段の測距範囲が一致しているとみなせる距離範囲の近点Ｌnear、遠点Ｌfarは、
Ｌnear、Ｌfar＝Ｌo／｛１±ＷSAF／（ｄｙ・ｆT）｝ …（式１１）
と求められる。このように、パッシブＡＦ結果の有効範囲も広くなる。
またこの補正により、パッシブＡＦ手段の測距精度も温度など環境変化の影響が除去でき高くなるので、スキャンＡＦ処理における正確な合焦位置を検出する微調整のための検出範囲を狭め、処理を高速化する効果もある。
ここで、温度計によって計測された温度を用いてパッシブＡＦ手段の測距結果を補正する処理について説明する。
温度計の読みによる補正を行わないパッシブＡＦ結果（プレディクション値）をｘｃａｌとすると、温度計の読みによる補正後の外測ＡＦ結果ｘｃｏｒｅｃｔは、
ｘｃｏｒｅｃｔ＝ｘｃａｌ＋（Ｔｇ−Ｔａｄｊ）＊ΔｘＴ
また距離Ｌは、
Ｌ＝Ｂｆ／ｘｃｏｒｅｃｔ
となる。ＴｇはパッシブＡＦ実行時の温度計の読み値、Ｔａｄｊは工程等でＢｆを測定した時の温度計の読み値、ΔｘＴはプレディクション値の温度補正係数、Ｂｆは前述のＢｆ積である。
この場合、温度など環境変化の影響でパッシブＡＦ手段の測距精度は低下するので、パッシブＡＦ手段とスキャンＡＦ手段の測距範囲が一致しているとみなせる距離範囲の近点Ｌnear、遠点Ｌfarは、
Ｌnear、Ｌfar＝Ｌo／[｛１±ＷSAF／（ｄｙ・ｆT）｝・｛１±Ｂf／Δerr｝]
となる。
次いで、図２のステップＳ７にて実行されるスキャンＡＦの詳細について説明する。
図５にスキャンＡＦのシーケンスのフローチャートを示す。また図６にスキャンＡＦが実行される際の高周波成分量とフォーカスレンズ位置の関係を示す。
図５のステップＳ５１において、ＣＰＵ１５はスキャンＡＦ処理による焦点位置の検出動作を行うためにフォーカスレンズ群３を駆動させる開始位置及び停止位置を、パッシブＡＦ処理演算結果から設定する。ここで設定される開始位置の設定値は、パッシブＡＦ合焦位置（パッシブＡＦ処理演算結果の被写体距離に相当するフォーカスレンズ群３の位置を示す設定値）Ｇ１から変数Ｇｓを減じた値となる。また停止位置の設定値は、パッシブＡＦ合焦位置（パッシブＡＦ処理演算結果の被写体距離に相当するフォーカスレンズ群３の位置を示す設定値）Ｇ１に変数Ｇｓを加えた値となる。すなわち、スキャンＡＦを実行する範囲は、パッシブＡＦ処理演算結果による被写体距離を中心とする所定の範囲となる。
なおこの変数Ｇｓは、撮影レンズの焦点距離、パッシブＡＦ処理演算結果（被写体距離）、パッシブＡＦ処理において想定される測距誤差等を考慮して決定される。
また、Ｇ１から変数Ｇｓを減じた値、Ｇ１に変数Ｇｓを加えた値が、フォーカスレンズ群３の駆動範囲を超えた場合は、駆動範囲で規制を行う。
一般的に撮像装置における焦点調節動作は、撮影光学系によって集光された所望の被写体からの光束を撮像素子（ＣＣＤなど）の撮像面（受光面）上に合焦状態で結像させるための動作である。そのために撮影光学系の一部であるフォーカスレンズ群を光軸方向に動かし合焦状態を得る。この光軸方向の移動量は被写体が近づくほど多くなる傾向にある。また撮影レンズの焦点距離が長くなるほど多くなる傾向にある。
測距誤差としては撮像装置の製造時の調整誤差、撮影レンズ鏡筒３１の環境温度変化によって生じる歪などの温度誤差、パッシブＡＦ手段を構成する各部材の機械的誤差に起因する測距誤差、フォーカスレンズ群３の移動誤差などが考えられる。
従って、パッシブＡＦ処理演算結果から得られる被写体までの距離及び撮影レンズの焦点距離から求められた値に、測距誤差を考慮して変数Ｇｓを設定する。
ついでステップＳ５２において、ＣＰＵ１５は第２モータ駆動回路１９を介してフォーカスモータ２２を駆動させ、フォーカスレンズ群３をステップＳ５１において設定された開始位置に移動させる。そして開始位置を起点として所定の移動量でフォーカスレンズ群３を移動させながら合焦位置を探すスキャンＡＦ処理を実行する。
ステップＳ５３においてＣＰＵ１５は、フォーカスレンズ群３がステップＳ５１において設定された終了位置に到達したか否かを判定する。ここでフォーカスレンズ群３が終了位置に到達していない場合は、ＣＰＵ１５は撮像手段等を制御して、その時点におけるフォーカスレンズ群３の位置に対応する画像データを取得する。この画像データは撮像回路６及びＡ／Ｄ変換回路７を介してスキャンＡＦ処理回路１４に入力され、ステップＳ５４に示すようにＡＦ評価値が算出される。このＡＦ評価値はＣＰＵ１５に入力され、ＣＰＵ１５に内蔵された演算用メモリに記憶される。次のステップＳ５５においてＣＰＵ１５は所定の移動量だけフォーカスレンズ群３を移動させる。その後ステップＳ５３に戻り、フォーカスレンズ群３が設定された終了位置に到達するまで同様の処理を繰り返す。
そしてステップＳ５３においてフォ−カスレンズ群３が終了位置に到達したと判定されたならば、ステップＳ５６に進む。ステップＳ５６において、ＣＰＵ１５はステップＳ５５において算出されたＡＦ評価値に基づいて合焦位置の演算を行う。そしてこの演算結果に基づいてＣＰＵ１５は、ステップＳ５７において第２モータ駆動回路１９を介してフォーカスモータ２２を駆動させ、フォーカスレンズ群３を合焦位置に移動させ、この位置に停止させて一連のシーケンスを終了する。その後、図２のステップＳ９に進む。
図６を用いてこの一連の動作を説明すると以下のようになる。
例えば、フォーカスレンズ群３が図６のＡで示す位置にある状態において、フォーカスレンズ群３はまずＡの位置から、開始位置であるパッシブＡＦの測距結果からＧｓを減じた位置Ｂまで移動する（スッテプＳ５２）。この開始位置を起点としフォーカスレンズ群３が、終了位置であるパッシブＡＦの測距結果にＧｓを加えた位置Ｃに達するまで、スキャンＡＦ処理が実行される（ステップＳ５２〜Ｓ５５）。そしてこれにより取得されたＡＦ評価に基づいてＣＰＵ１５は合焦位置の演算を行う（ステップＳ５６）。この演算により図６のＤの位置、即ち高周波成分のピーク値に対応するフォーカスレンズ群３の位置が合焦位置として求められる。その後ＣＰＵ１５はその位置へフォーカスレンズ群３を駆動する（ステップＳ５７）。
このように本実施形態においては 、撮影光学系により結像される被写体像を光電変換して電気的な画像信号を得る撮像手段と、撮像手段に形成される被写体像の焦点を調整する焦点調節手段を有し、焦点調整手段を駆動しながら撮像手段によって生成された画像信号から合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、撮像手段とは別個に設けられた被写体からの光束を受光する複数の受光手段からなり、この受光手段の出力に基づいて被写体までの距離を求める外部測距手段とを有する自動焦点調整装置において、スキャンＡＦによる合焦位置および直前のパッシブＡＦ結果の情報を用いて、パッシブＡＦ結果の補正を行うことにより、温度など環境変化、外部測距手段及び合焦位置検出手段の調整・組立誤差などによる誤差が吸収され、パッシブＡＦ手段とスキャンＡＦ手段の測距範囲が一致しているとみなせる距離範囲（有効範囲）を広くするとともに、パッシブＡＦ手段の測距精度も温度など環境変化の影響が除去でき高くなるので、スキャンＡＦ処理における正確な合焦位置を検出する微調整のための検出範囲を狭め、処理を高速化することも可能にした。
（第２の実施形態）
第２の実施形態の基本的構成や基本的な動作手順は第１の実施形態と同様である。図１に本実施形態の撮像装置のブロック図を、図２に動作手順を示す。
本実施形態においては、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する際にも、温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う点が第１の実施形態と異なる。これにより、より正確に補正を行うことができる。
ここで、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する処理について説明する。
直前のスキャンＡＦ時と今回のパッシブＡＦ時に温度の変動が無い（無視できる）と判断できる場合の処理である。スキャンＡＦによる合焦位置の情報を用いてパッシブＡＦの結果を補正する。直前のパッシブＡＦ結果と今回のパッシブＡＦ結果の差分を利用して補正を行う。
温度計の読みによる補正を行わないパッシブＡＦ結果（プレディクション値）をｘｃａｌ、直前のパッシブＡＦの結果（プレディクション値）をｘｐｒｅ、直前のスキャンＡＦの結果（合焦位置）を距離に換算した値をＬｐｒｅＴｖとすると直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて補正された測距結果Ｌは、
Ｌ＝Ｂｆ／｛ｘｃａｌ＋（Ｔｇ−Ｔａｄｊ）＊ΔｘＴ／２＋Ｂｆ／ＬｐｒｅＴｖ − ｘｐｒｅ｝
となる。ＴｇはパッシブＡＦ実行時の温度計の読み値、Ｔａｄｊは工程等でＢｆを測定した時の温度計の読み値、ΔｘＴはプレディクション値の温度補正係数、Ｂｆは前述のＢｆ積である。
この補正により、温度など環境変化、外部測距手段及び合焦位置検出手段の調整・組立誤差などによる誤差が吸収できるので、パッシブＡＦ手段とスキャンＡＦ手段の測距範囲が一致しているとみなせる距離範囲の近点Ｌnear、遠点Ｌfarは、
Ｌnear、Ｌfar＝Ｌo／｛１±ＷSAF／（ｄｙ・ｆT）｝ …（式１１）
と求められる。このように、パッシブＡＦ結果の有効範囲も広くなる。
またこの補正により、パッシブＡＦ手段の測距精度も温度など環境変化の影響が除去でき高くなるので、スキャンＡＦ処理における正確な合焦位置を検出する微調整のための検出範囲を狭め、処理を高速化する効果もある。
このように本実施形態においては 、撮影光学系により結像される被写体像を光電変換して電気的な画像信号を得る撮像手段と、撮像手段に形成される被写体像の焦点を調整する焦点調節手段を有し、焦点調整手段を駆動しながら撮像手段によって生成された画像信号から合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、撮像手段とは別個に設けられた被写体からの光束を受光する複数の受光手段からなり、この受光手段の出力に基づいて被写体までの距離を求める外部測距手段とを有する自動焦点調整装置において、スキャンＡＦによる合焦位置および直前のパッシブＡＦ結果の情報を用いて、パッシブＡＦ結果の補正を行うことにより、温度など環境変化、外部測距手段及び合焦位置検出手段の調整・組立誤差などによる誤差が吸収され、パッシブＡＦ手段とスキャンＡＦ手段の測距範囲が一致しているとみなせる距離範囲（有効範囲）を広くするとともに、パッシブＡＦ手段の測距精度も温度など環境変化の影響が除去でき高くなるので、スキャンＡＦ処理における正確な合焦位置を検出する微調整のための検出範囲を狭め、処理を高速化することも可能にした。
（第３の実施形態）
この第３の実施形態は、直前のスキャンＡＦの結果でパッシブＡＦの結果を補正する場合に、補正の精度が確保できない場合に補正を禁止するものである。
第３の実施形態の撮像装置の基本的ブロック構成は、図１に示した第１の実施形態と同様である。
以下、第３の実施形態の撮像装置の動作について図７に示すフローチャートを用いて説明する。
本撮像装置１の主電源スイッチがオン状態であり、かつ撮像装置の動作モードが撮影（録画）モードにあるときは、撮影処理シーケンスが実行される。
まず初めにＣＰＵ１５は、撮影レンズ鏡筒３１を透過しＣＣＤ５上に結像した像を、ＬＣＤ１０に画像として表示する。
ステップＳ１０１ではズーム動作を行う。操作スイッチ２４のズームスイッチが操作されてないか調べる。Ｔｅｌｅ側に操作されていればズーム位置がＴｅｌｅ端に到達するか、あるいはズームスイッチの操作が終わるまでズーム位置をＴｅｌｅ側へ動かし、またＷｉｄｅ側に操作されていればズーム位置がＷｉｄｅ端に到達するか、あるいはズームスイッチの操作が終わるまでズーム位置をＷｉｄｅ側へ動かす。ズーム端に到達するかズームスイッチの操作が終われば、現在のズーム位置をＣＰＵ１５に内蔵される演算用メモリに記憶する
次いでステップＳ１０２において、シャッターボタンの状態を確認する。撮影者によってシャッターボタンが操作されるなどして、撮影動作に先立ち行われるＡＥ処理、ＡＦ処理を開始させる指示信号をＣＰＵ１５が認識すると、次のステップＳ１０３に進み、通常のＡＥ処理が実行される。
続いてステップＳ１０４においてパッシブＡＦ処理が行われる。ＣＰＵ１５は、パッシブＡＦ手段３０を制御し、二つの光束によりパッシブＡＦ手段３０のセンサー上に形成された画像を読み出す。読み出された二つの画像信号はＡ／Ｄ変換された後、ＣＰＵ１５に入力される。ＣＰＵ１５では二つの画像信号からその像ずれ量、更に被写体までの距離が計算される。
ステップＳ１０４においてパッシブＡＦ手段による測距結果を求めたならば、ＣＰＵ１５はこのパッシブＡＦ手段によって求められた距離に相当するフォーカスレンズ群３の位置を示す設定値を求め、それをパッシブＡＦの合焦位置Ｇ１とする。
ステップＳ１０５において露光指示（シャッターボタンの第２ストローク）の確認を行う。
露光が指示されたならば、ステップＳ１０６に進み、ステップＳ１０４のパッシブＡＦ処理で求められたの合焦位置Ｇ１にフォーカスレンズ群３を駆動する。そしてステップＳ１０７でＣＰＵ１５は第１モータ駆動回路１８を制御することにより、絞り駆動モータ２１を介して絞り４を小絞り側へ駆動制御する。これにより被写界深度を深くし、パッシブＡＦの持つ合焦位置の誤差を吸収する。そして絞り４を絞ることにより露光量が不足しないようにステップＳ１０３で設定されたＣＣＤ６の蓄積時間を絞り４を絞った分だけ伸ばす。蓄積時間を伸ばすことによって手振れ等が生じ、画質に悪影響を及ぼす懸念がある場合は、蓄積時間を伸ばさずＣＣＤ６の感度をアップする。感度アップはノイズの増加につながるので、蓄積時間を手振れの生じない値まで伸ばした後に感度アップを行う。
その後ステップＳ１１２に進み、ステップＳ１０７での設定に従って実際の露光処理を実行する。
露光が指示されない場合は、ステップＳ１０８に進み、スキャンＡＦを実行する。スキャンＡＦを行う場合は、パッシブＡＦ処理は、所望の被写体に対するおおまかな被写体距離（フォーカスレンズ群３の合焦位置）を検出するための粗調整のためのＡＦ処理として扱われる。そしてスキャンＡＦ処理は、その後正確な合焦位置を検出する微調整のための処理となる。
すなわちＣＰＵ１５は、ステップＳ１０４のパッシブＡＦ処理で求められた合焦位置付近までにフォーカスレンズ群３を移動する。その後ステップＳ１０８で、正確な合焦位置を検出する微調整のためのスキャンＡＦ処理を行う。これはフォーカスレンズ群３を微小に駆動しながらスキャンＡＦ処理回路の出力をモニターし、ＣＣＤ５によって生成された画像信号から出力される高周波成分が最も多くなるフォーカスレンズ群３の位置を求めることにより行われる。
そしてステップＳ１０９において、その合焦位置にフォーカスレンズ群３を駆動する。
このようにして所定のＡＦ処理が終了したならば、ステップＳ１１０においてもう一度ＡＥ処理が実行される。その後ＣＰＵ１５はステップＳ１１１において、露光指示（シャッターボタンの第２ストローク）の確認を行い、露光が指示されたならば、ステップＳ１１２に進み、実際の露光処理を実行する。
なお、スキャンＡＦ処理の途中で露光が指示された場合は、スキャンＡＦ処理（ステップＳ１０８、Ｓ１０９）の終了後、ステップＳ１１２に進み実際の露光処理を実行する。
またステップＳ１１１で露光指示がなされない場合はステップＳ１１３に進み、操作スイッチ２４のズームスイッチが操作されてないか調べ、ステップＳ１０１と同様にズーム動作を行う。
ステップＳ１１４では、再びパッシブＡＦ処理を行う。このパッシブＡＦ処理においては直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する。
その詳細に関して述べる。
以下に具体的な補正方法を説明する。
直前のスキャンＡＦの結果でパッシブＡＦの結果を補正する条件を図４の左側のグラフ及び図８に示す。
まず直前に行われたスキャンＡＦの結果、合焦したか否かを調べる。非合焦の場合は当然直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いた補正は行わず、後述するパッシブＡＦ手段の近くに配置された温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。
次に直前に行われたスキャンＡＦ時のズーム位置（ＺＰpre_scan）とパッシブＡＦ処理を行った時のズーム位置（ＺＰnow_passive）を調べる。
パッシブＡＦ処理時のズーム位置が、直前のスキャンＡＦ時のズーム位置よりも所定値以上望遠側であれば、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いた補正は行わず、後述するパッシブＡＦ手段の近くに配置された温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。
また、直前に行われたスキャンＡＦ時のズーム位置が所定値（ＺＰconst２）よりも広角側である時にも、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いた補正は行わず、後述するパッシブＡＦ手段の近くに配置された温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。
このようにズーム位置によって直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いた補正を行わない理由は、広角なズーム位置におけるスキャンＡＦの結果は、被写界深度の深さのために被写体距離に対する精度が低く、パッシブＡＦ手段の補正に用いると補正精度が低下するため、所望の目的を成し得ないためである。
また、直前のスキャンＡＦ時とパッシブＡＦ処理時においてマクロ／非マクロ設定が異なる時には、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いた補正は行わず、後述するパッシブＡＦ手段の近くに配置された温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。
これはマクロ／非マクロ設定が異なり被写体の距離が大きく異なるような場合に、パッシブＡＦ手段の補正精度低下を防ぐためである。
ついで直前のＡＦ（パッシブＡＦ並びにスキャンＡＦの双方）が行われた時刻Ｔｉｍｅｐｒｅと現在の時刻Ｔｉｍｅｎｏｗを比較し、その差が所定値Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ１以下であったならば、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する処理に進む。この場合は温度計の読みが大きく動いていても短時間なので部材の膨張収縮は無視できるからである。
またこの時刻の差が所定値Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ２より大きい場合は、温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。この場合は温度計の読みの変化が小さくとも、状況が変化し、部材の膨張伸縮は無視できない場合があるからである。
さらに時刻の差Ｔｉｍｅｎｏｗ−Ｔｉｍｅｐｒｅが、
Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ１＜Ｔｉｍｅｎｏｗ−Ｔｉｍｅｐｒｅ≦Ｔｉｍｅｃｏｎｓｔ２
のときについては、前回ＡＦ時の温度Ｔｐｒｅと現在の温度Ｔｎｏｗを比較し、その差Ｔｎｏｗ−ＴｐｒｅがＴｃｏｎｓｔ１以下のときは直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いて測距結果を補正する処理に進む。温度計の読みの変化が小さければ、部材の膨張収縮は無視できるからである。一方、Ｔｃｏｎｓｔ１より大きい場合は、温度計によって計測された温度を用いたパッシブＡＦ手段の測距結果の補正を行う。温度計の読みの変化が大きい場合は、部材の膨張収縮は無視できないからである。
なお、直前に行われたスキャンＡＦの結果を用いてパッシブＡＦ手段の測距結果を補正する処理、温度計によって計測された温度を用いてパッシブＡＦ手段の測距結果を補正する処理は、第１の実施形態と同様に行なわれる。また、図７のステップＳ１０８で実行されるスキャンＡＦの動作も、第１の実施形態の図２のステップＳ７で実行されるスキャンＡＦの動作（図５及び図６を用いて詳細に説明されている）と同様に行なわれる。
以上説明したように、本実施形態によれば、合焦位置検出手段の合焦位置および測距手段の測距結果を用いて測距手段の測距結果の補正を行う際に、広角なズーム位置における被写界深度の深さのために合焦位置検出手段の被写体距離に対する精度が低く、測距結果の補正精度が低下することを防ぐことが可能となる。また、マクロ／非マクロ設定が異なり被写体の距離が大きく異なるような場合に測距結果の補正精度低下を防ぐことが可能となる。
（他の実施形態）
また、各実施形態の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明したフローチャートに対応するプログラムコードが格納されることになる。
本発明の第１の実施形態に係わる撮像装置の構成を示すブロック図である。 第１の実施形態の撮像装置の撮影動作を示すフローチャートである。 パッシブＡＦの原理説明図である。 直前のスキャンＡＦの結果でパッシブＡＦの結果を補正する条件の説明図である。 スキャンＡＦの動作を示すフローチャートである。 スキャンＡＦが実行される際の高周波成分量とフォーカスレンズ位置の関係を示す図である。 第３の実施形態の撮像装置の撮影動作を示すフローチャートである。 直前のスキャンＡＦの結果でパッシブＡＦの結果を補正する条件の説明図である。
符号の説明
１ 撮像装置
２ ズームレンズ群
３ フォーカスレンズ群
４ 絞り
３１ 撮影レンズ鏡筒
５ 固体撮像素子
６ 撮像回路
７ Ａ／Ｄ変換回路
８ メモリ（ＶＲＡＭ）
９ Ｄ／Ａ変換回路
１０ 画像表示装置
１２ 画像データを記憶する記憶用メモリ
１１ 圧縮伸長回路
１３ ＡＥ処理回路
１４ スキャンＡＦ処理回路
１５ ＣＰＵ
１６ タイミングジェネレータ
１７ ＣＣＤドライバー
２１ 絞り駆動モータ
１８ 第１モータ駆動回路
２２ フォーカス駆動モータ
１９ 第２モーター駆動回路
２３ ズーム駆動モータ
２０ 第３モータ駆動回路
２４ 操作スイッチ
２５ ＥＥＰＲＯＭ
２６ 電池
２８ ストロボ発光部
２７ スイッチング回路
３０ パッシブＡＦ手段
３２ ｉＲカットフィルター

Claims (19)

  1. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、
    該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、
    前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、
    被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、
    前記演算手段による補正の結果、前記合焦位置検出手段における更なる合焦位置を検出するための検出範囲を制御することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記演算手段による補正の結果に応じて、前記号焦位置検出手段における更なる合焦位置を検出するための検出範囲を狭めるよう制御することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
  3. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、
    該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、
    前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、
    被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、
    前記演算手段による補正の結果、前記合焦位置検出手段と前記測距手段の検出範囲が一致しているとみなせる被写体距離範囲を制御することを特徴とする撮像装置。
  4. 前記測距手段の基線長方向が前記撮影光学系の光軸に直交する方向に一致するように、前記測距手段が配置されていることを特徴とする請求項１または３に記載の撮像装置。
  5. 前記演算手段は、前記測距手段による測距動作が行なわれた時刻と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時刻との差が所定時間以内の場合に、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正することを特徴とする請求項１または３に記載の撮像装置。
  6. 前記演算手段は、前記測距手段による測距動作が行なわれた時刻と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時刻との差が所定時間以内で、且つ、前記測距手段による測距動作が行なわれた時の温度と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時の温度との差が所定温度以内の場合に、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正することを特徴とする請求項１または３に記載の撮像装置。
  7. 前記演算手段は、前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果の補正を行なわない場合は、前記測距手段による測距動作が行なわれた時の温度と、その直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時の温度とに基づいて、前記測距手段の測距結果を補正することを特徴とする請求項１または３に記載の撮像装置。
  8. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する複数の受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを備える撮像装置を制御するための撮像装置の制御方法であって、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、
    前記演算工程における補正の結果、前記合焦位置検出手段における更なる合焦位置を検出するための検出範囲を制御することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  9. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系を備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する複数の受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを備える撮像装置を制御するための撮像装置の制御方法であって、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、
    前記演算工程における補正の結果、前記合焦位置検出手段と前記測距手段の検出範囲が一致しているとみなせる被写体距離範囲を制御することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  10. 請求項８または９に記載の撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
  11. 請求項１０に記載のプログラムをコンピュータ読み取り可能に記憶したことを特徴とする記憶媒体。
  12. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、
    該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、
    前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、
    被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、
    前記測距手段による測距動作時の前記ズーム光学系のズーム位置が、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置よりも所定値以上望遠側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする撮像装置。
  13. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、
    該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、
    前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、
    被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、
    前記測距手段による測距動作の直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置が所定値よりも広角側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする撮像装置。
  14. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系と、近接撮影を可能にするマクロ機能とを備える撮影光学系と、
    該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、
    前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、
    被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段と、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算手段とを具備し、
    前記測距手段による測距動作時と、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時とで、前記マクロ機能のマクロ／非マクロの設定が異なる場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする撮像装置。
  15. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを具備する撮像装置を制御する方法であって、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、
    前記測距手段による測距動作時の前記ズーム光学系のズーム位置が、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置よりも所定値以上望遠側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  16. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを具備する撮像装置を制御する方法であって、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、
    前記測距手段による測距動作の直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時のズーム位置が所定値よりも広角側である場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  17. 被写体像を結像させるための撮影光学系であって、前記被写体像の結像位置を調整するための焦点調節光学系と、撮影画面の画角を変更するズーム光学系と、近接撮影を可能にするマクロ機能とを備える撮影光学系と、該撮影光学系により結像される被写体象を光電変換して電気的な画像信号を生成する撮像素子と、前記焦点調節光学系により前記被写体像の結像位置を調整しながら、前記撮像素子によって生成される画像信号に基づいて、前記被写体像が前記撮像素子上に結像するための前記焦点調節光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、被写体からの光束を受光する受光手段を有し、該受光手段の出力信号に基づいて前記被写体までの距離を測定する測距手段とを具備する撮像装置を制御する方法であって、
    前記合焦位置検出手段及び前記測距手段の検出結果に基づいて、前記測距手段の測距結果を補正する演算工程を具備し、
    前記測距手段による測距動作時と、直前の前記合焦位置検出手段による合焦位置検出が行なわれた時とで、前記マクロ機能のマクロ／非マクロの設定が異なる場合には、前記測距手段の測距結果の補正を禁止することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  18. 請求項１５乃至１７のいずれか１項に記載の撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
  19. 請求項１８に記載のプログラムをコンピュータ読み取り可能に記憶したことを特徴とする記憶媒体。
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