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JP2005091819A - Liquid crystal display - Google Patents

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JP2005091819A
JP2005091819A JP2003325727A JP2003325727A JP2005091819A JP 2005091819 A JP2005091819 A JP 2005091819A JP 2003325727 A JP2003325727 A JP 2003325727A JP 2003325727 A JP2003325727 A JP 2003325727A JP 2005091819 A JP2005091819 A JP 2005091819A
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JP
Japan
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wiring
light shielding
shielding layer
substrate
liquid crystal
Prior art date
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Pending
Application number
JP2003325727A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keisuke Yoshida
圭介 吉田
Ichiro Shiraki
一郎 白木
Keiichi Ina
恵一 伊奈
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2003325727A priority Critical patent/JP2005091819A/en
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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a parasitic capacitance between a pixel electrode and a wiring and to reliably shield a region in the vicinity of an outer peripheral part of the pixel electrode from light. <P>SOLUTION: A light shielding layer 120 blocking light made incident from a lower part is provided on a substrate 10 in an electrically floating state so as to overlap a source wiring 103. The source wiring 103 is provided with a narrow width part 113 formed at at least a part of a part overlapping with the light shielding layer 120 or a gate wiring 101 and having a comparatively narrow width and a wide width part 111 formed at a part which does no overlap with at least the light shielding layer and the gate wiring and having a comparatively wide width. The wide width part 111 and the light shielding layer 120 overlap with an outer peripheral part of the pixel electrode 106. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、透過表示を行う液晶表示装置に関し、特に、画素電極の外周部近傍における液晶分子の配向乱れ領域を遮光するため構造に係るものである。   The present invention relates to a liquid crystal display device that performs transmissive display, and more particularly to a structure for shielding an alignment disorder region of liquid crystal molecules in the vicinity of the outer peripheral portion of a pixel electrode.

情報インフラは日々発展し、携帯電話、PDA、デジタルカメラ、ビデオカメラ、及びカーナビゲーション等の機器は人々の生活に深く浸透している。これらの機器の大部分には、液晶表示装置が採用されている。液晶表示装置は、本体が扱う情報量の増加に伴い、限られた表示画面により多くの情報を鮮明に表示することが望まれており、高輝度化、高コントラスト化、多色化、及び高精細化に対する市場の要求は、日々高まっている。特に、表示の高精細化に対する市場の要求は、近年非常に高くなっており、各画素の狭ピッチ化に注目が集まっている。   Information infrastructure develops day by day, and devices such as mobile phones, PDAs, digital cameras, video cameras, and car navigation systems penetrate deeply into people's lives. Most of these devices employ liquid crystal display devices. With the increase in the amount of information handled by the main body, liquid crystal display devices are desired to display a large amount of information clearly on a limited display screen. High brightness, high contrast, multiple colors, and high Market demand for refinement is increasing day by day. In particular, the market demand for higher definition of display has become very high in recent years, and attention is focused on narrowing the pitch of each pixel.

ところで、各画素に設けられている画素電極の外周部近傍では、斜め電界に起因して液晶分子の配向乱れが発生する。この配向乱れは、表示の乱れを引き起すため、画質の低下を招くという問題がある。これに対し、画素電極が設けられている配線基板に対向する対向基板にブラックマトリクスを設け、上記ブラックマトリクスによって、画素電極の周りで配向乱れが生じている領域を遮光することが、一般に知られている。   By the way, in the vicinity of the outer periphery of the pixel electrode provided in each pixel, alignment disorder of liquid crystal molecules occurs due to an oblique electric field. This disturbance in orientation causes a disturbance in display, resulting in a problem that image quality is deteriorated. On the other hand, it is generally known that a black matrix is provided on a counter substrate facing a wiring substrate on which pixel electrodes are provided, and the region where the alignment disorder is generated around the pixel electrodes is shielded by the black matrix. ing.

しかし、配線基板と対向基板との貼り合わせ精度は、約5μm以上であって比較的低いため、上記領域を確実に遮光するためには、貼り合わせのマージンを見込んでブラックマトリクス自体を幅広く設定する必要があった。その結果、開口率が著しく低下するため、開口率を確保しつつ各画素の狭ピッチ化を図ることは、極めて困難となる。   However, since the bonding accuracy between the wiring substrate and the counter substrate is about 5 μm or more and relatively low, the black matrix itself is set widely in view of the bonding margin in order to reliably shield the region. There was a need. As a result, the aperture ratio is significantly reduced, and it is extremely difficult to reduce the pitch of each pixel while ensuring the aperture ratio.

そこで、従来より、画素電極の外周部を、ゲート配線やソース配線等の配線にオーバーラップするように形成することが知られている(例えば、特許文献1参照)。このことにより、画素電極の外周部近傍の配向乱れ領域を配線により遮光でき、ブラックマトリクスが不要となるため、開口率を向上できると共に狭ピッチ化を図ることができる。   Therefore, conventionally, it is known that the outer peripheral portion of the pixel electrode is formed so as to overlap with a wiring such as a gate wiring or a source wiring (for example, see Patent Document 1). As a result, the disordered alignment region in the vicinity of the outer peripheral portion of the pixel electrode can be shielded by the wiring, and a black matrix is not required, so that the aperture ratio can be improved and the pitch can be reduced.

ここで、上記配線による遮光構造について、図面を参照して説明する。   Here, the light shielding structure by the wiring will be described with reference to the drawings.

図10は、従来の液晶表示装置の画素を拡大して示す概略平面図である。図10に示すように、基板上には、複数のゲート配線201及びソース配線203が、互いに交差して格子状に形成されている。さらに、容量配線であるCs配線202が、ゲート配線201に沿って形成され、ソース配線203と交差するように形成されている。ゲート配線201とソース配線203との各交差部近傍には、TFT204がそれぞれ設けられている。TFT204は、ドレイン電極205を介して画素電極206に接続されている。画素電極206は、絶縁層(図示省略)を介して基板の上層に設けられ、コンタクトホール(図示省略)を介してドレイン電極205に接続されている。そして、上記画素電極206の外周部分は、その全周に亘って、ゲート配線201、Cs配線202、又はソース配線203とオーバーラップするように形成されている。   FIG. 10 is a schematic plan view showing an enlarged pixel of a conventional liquid crystal display device. As shown in FIG. 10, a plurality of gate lines 201 and source lines 203 are formed on the substrate in a lattice pattern so as to cross each other. Further, a Cs wiring 202 that is a capacitor wiring is formed along the gate wiring 201 so as to intersect the source wiring 203. A TFT 204 is provided in the vicinity of each intersection between the gate wiring 201 and the source wiring 203. The TFT 204 is connected to the pixel electrode 206 through the drain electrode 205. The pixel electrode 206 is provided in an upper layer of the substrate via an insulating layer (not shown), and is connected to the drain electrode 205 via a contact hole (not shown). The outer peripheral portion of the pixel electrode 206 is formed so as to overlap the gate wiring 201, the Cs wiring 202, or the source wiring 203 over the entire periphery.

ところが、画素電極と配線とをオーバーラップさせると、配向乱れによる画質の低下を抑制できるものの、画素電極と配線との間の寄生容量が増加するために、クロストークの発生等の不具合が生じ易くなってしまう。   However, when the pixel electrode and the wiring overlap, the deterioration of the image quality due to the disorder of orientation can be suppressed, but the parasitic capacitance between the pixel electrode and the wiring increases, so that problems such as the occurrence of crosstalk are likely to occur. turn into.

この問題に対し、上記画素電極の外周部近傍の領域を遮光する遮光層を、電気的に浮いた状態で、上記配線に重ねて設けることが知られている(例えば、特許文献2参照)。すなわち、遮光層の一部は、画素電極の外周部にオーバーラップしている。このことにより、配向乱れによる画質の低下を抑制すると共に、画素電極と配線との間の寄生容量を低減して、クロストークを防止することができる。
特開平9−152625号公報 特開平9−33951号公報
In order to solve this problem, it is known to provide a light-shielding layer that shields a region in the vicinity of the outer periphery of the pixel electrode so as to overlap the wiring in an electrically floating state (see, for example, Patent Document 2). That is, a part of the light shielding layer overlaps with the outer periphery of the pixel electrode. As a result, it is possible to prevent deterioration in image quality due to orientation disturbance and reduce parasitic capacitance between the pixel electrode and the wiring to prevent crosstalk.
JP 9-152625 A JP-A-9-33951

しかし、上記従来の構造では、遮光層と配線との電気接続を避けるために、配線基板の法線方向から見て、遮光層と配線との間に所定の隙間が設けられている。その結果、上記遮光層により上記画素電極の外周部近傍の領域を遮光しようとしても、上記隙間から光が漏れてしまうため、上記画素電極の外周部近傍の領域を、完全に遮光することはできない。つまり、上記従来の構成では、コントラストや、表示品位が損なわれるという問題がある。   However, in the above conventional structure, in order to avoid electrical connection between the light shielding layer and the wiring, a predetermined gap is provided between the light shielding layer and the wiring as viewed from the normal direction of the wiring board. As a result, even if an attempt is made to shield the area near the outer periphery of the pixel electrode by the light shielding layer, light leaks from the gap, and thus the area near the outer periphery of the pixel electrode cannot be completely shielded. . In other words, the conventional configuration has a problem that the contrast and display quality are impaired.

本発明は、斯かる諸点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、画素電極と配線との間の寄生容量を低減し、且つ画素電極の外周部近傍の領域を確実に遮光することにより、各画素の狭ピッチ化を図ると共に、コントラストや表示品位を向上させることにある。   The present invention has been made in view of such various points, and an object of the present invention is to reduce the parasitic capacitance between the pixel electrode and the wiring and to reliably shield the area near the outer periphery of the pixel electrode. Thus, the pitch of each pixel is narrowed and the contrast and display quality are improved.

上記の目的を達成するために、この発明では、画素電極の外周部分を、電気的に浮いた状態で設けられた遮光層と、ソース配線又はゲート配線の幅広部との双方に重ねるようにした。   In order to achieve the above object, in the present invention, the outer peripheral portion of the pixel electrode is overlapped with both the light shielding layer provided in an electrically floating state and the wide portion of the source wiring or the gate wiring. .

具体的に、本発明に係る液晶表示装置は、基板の上にマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で互いに平行に延びる複数のゲート配線と、上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で上記ゲート配線に直交して延びる複数のソース配線と、上記ゲート配線及びソース配線により囲まれた領域に形成され、透過表示を行うための透過領域と、上記透過領域における基板の上に絶縁層を介して設けられ、上記各スイッチング素子にそれぞれ接続された複数の透明な画素電極とを備える液晶表示装置であって、上記透過領域は、少なくとも一辺が上記ソース配線により区画され、上記基板の上には、下方から入射する光を遮蔽する遮光層が、電気的に浮いた状態で、上記ソース配線に重なるように設けられ、上記ソース配線は、上記遮光層又はゲート配線と重なっている部分の少なくとも一部に形成された幅の比較的狭い幅狭部と、少なくとも上記遮光層及びゲート配線と重ならない部分に形成された幅の比較的広い幅広部とを備え、上記幅広部及び遮光層は、上記画素電極の外周部分に重なっている。   Specifically, a liquid crystal display device according to the present invention includes a plurality of switching elements arranged in a matrix on a substrate, and a plurality of gate wirings connected to the switching elements and extending in parallel with each other on the substrate. A plurality of source wirings connected to the switching element and extending perpendicularly to the gate wiring on the substrate, and a transmissive region for transmissive display formed in a region surrounded by the gate wiring and the source wiring And a plurality of transparent pixel electrodes provided on the substrate in the transmissive region via an insulating layer and connected to the switching elements, respectively, wherein the transmissive region has at least one side Is partitioned by the source wiring, and a light shielding layer that shields light incident from below is electrically floated on the substrate in a state of being electrically floating. The source wiring is provided so as to overlap a line, and the source wiring includes a relatively narrow narrow portion formed in at least part of a portion overlapping the light shielding layer or the gate wiring, and at least the light shielding layer and the gate wiring. A wide portion having a relatively wide width formed in a non-overlapping portion, and the wide portion and the light shielding layer overlap an outer peripheral portion of the pixel electrode.

また、本発明に係る液晶表示装置は、基板の上にマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で互いに平行に延びる複数のゲート配線と、上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で上記ゲート配線に直交して延びる複数のソース配線と、上記ゲート配線及びソース配線により囲まれた領域に形成され、透過表示を行うための透過領域と、上記透過領域における基板の上に絶縁層を介して設けられ、上記各スイッチング素子にそれぞれ接続された複数の透明な画素電極とを備える液晶表示装置であって、上記透過領域は、少なくとも一辺が上記ゲート配線により区画され、上記基板の上には、下方から入射する光を遮蔽する遮光層が、電気的に浮いた状態で、上記ゲート配線に重なるように設けられ、上記ゲート配線は、上記遮光層又はソース配線と重なっている部分の少なくとも一部に形成された幅の比較的狭い幅狭部と、少なくとも上記遮光層及びソース配線と重ならない部分に形成された幅の比較的広い幅広部とを備え、上記幅広部及び遮光層は、上記画素電極の外周部分に重なっている。   The liquid crystal display device according to the present invention includes a plurality of switching elements arranged in a matrix on a substrate, a plurality of gate wirings connected to the switching elements and extending in parallel with each other on the substrate, A plurality of source lines connected to the switching element and extending perpendicularly to the gate lines on the substrate; and a transmissive region for performing transmissive display formed in a region surrounded by the gate lines and the source lines; A liquid crystal display device comprising a plurality of transparent pixel electrodes provided on a substrate in the transmissive region via an insulating layer and connected to each of the switching elements, wherein at least one side of the transmissive region is the side The gate wiring is partitioned by the gate wiring, and a light shielding layer that shields light incident from below is electrically floated on the substrate. The gate wiring is provided so as to overlap, and the relatively narrow narrow portion formed in at least a part of the portion overlapping with the light shielding layer or the source wiring, and at least does not overlap with the light shielding layer and the source wiring. A wide portion having a relatively wide width formed in the portion, and the wide portion and the light shielding layer overlap an outer peripheral portion of the pixel electrode.

上記遮光層は、ソース配線に沿って延びていてもよい。   The light shielding layer may extend along the source wiring.

上記遮光層は、ゲート配線に沿って延びていてもよい。   The light shielding layer may extend along the gate wiring.

上記遮光層の側端は、該遮光層に重なっている幅狭部の側端に対し、幅方向に2μm以上且つ5μm以下の長さで突出していることが好ましい。   It is preferable that the side edge of the light shielding layer protrudes with a length of 2 μm or more and 5 μm or less in the width direction with respect to the side edge of the narrow portion overlapping the light shielding layer.

上記遮光層の側端は、該遮光層に重なっている幅広部の側端に対し、幅方向に±1μm以内の距離に設けられていることが好ましい。   The side edge of the light shielding layer is preferably provided at a distance within ± 1 μm in the width direction with respect to the side edge of the wide portion overlapping the light shielding layer.

上記基板の上には、ゲート配線に沿って延びる容量配線が設けられ、ソース配線は、上記容量配線と重なっている部分の少なくとも一部の幅が、比較的狭くなるように形成されていていてもよい。   A capacitor wiring extending along the gate wiring is provided on the substrate, and the source wiring is formed so that the width of at least a part of the portion overlapping the capacitor wiring is relatively narrow. Also good.

上記基板の上には、ソース配線に沿って延びる容量配線が設けられ、ゲート配線は、上記容量配線と重なっている部分の少なくとも一部の幅が、比較的狭くなるように形成されていてもよい。   A capacitor wiring extending along the source wiring is provided on the substrate, and the gate wiring is formed so that the width of at least a part of the portion overlapping the capacitor wiring is relatively narrow. Good.

本発明によれば、配線を幅狭部と幅広部とにより構成し、幅広部と遮光層との双方を、画素電極の外周部に重ねることにより、遮光層の端部と配線との間に隙間が生じていても、その隙間を幅広部に重ねることができるため、画素電極の外周部近傍で液晶分子の配向が乱れている領域を確実に遮光して隠すことができる。   According to the present invention, the wiring is constituted by the narrow portion and the wide portion, and both the wide portion and the light shielding layer are overlapped on the outer peripheral portion of the pixel electrode, so that the gap between the end portion of the light shielding layer and the wiring is obtained. Even if there is a gap, the gap can be overlapped with the wide portion, so that the region where the orientation of the liquid crystal molecules is disturbed in the vicinity of the outer peripheral portion of the pixel electrode can be reliably shielded and hidden.

そのことに加え、遮光層が電気的に浮いた状態で設けられているため、遮光層と画素電極との間の寄生容量の発生を抑制することができる。さらに、配線の幅狭部と画素電極との重なり部分の面積が小さくなるため、配線と画素電極との間の寄生容量を好適に低減できる。その結果、寄生容量を低減してクロストークを防止できると共に、液晶分子の配向乱れによる画質の低下を防止できるため、コントラストや表示品位を向上させることができる。そのことに加え、ブラックマトリクスが不要となるため、開口率を向上させると共に各画素間を狭ピッチ化でき、表示の高詳細化を図ることができる。   In addition, since the light shielding layer is provided in an electrically floating state, generation of parasitic capacitance between the light shielding layer and the pixel electrode can be suppressed. Furthermore, since the area of the overlapping portion between the narrow portion of the wiring and the pixel electrode is reduced, the parasitic capacitance between the wiring and the pixel electrode can be suitably reduced. As a result, parasitic capacitance can be reduced to prevent crosstalk, and deterioration of image quality due to disorder of alignment of liquid crystal molecules can be prevented, so that contrast and display quality can be improved. In addition, since a black matrix is not required, the aperture ratio can be improved and the pitch between pixels can be narrowed, so that the display can be highly detailed.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。尚、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。また、図1で紙面手前方向を「上方向」とし、紙面奥方向を「下方向」とする。また、図2及び図3で上下方向を「上下方向」とする。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the following embodiment. Further, in FIG. 1, the front side of the paper surface is “upward”, and the back side of the paper surface is “downward”. Further, the vertical direction in FIGS. 2 and 3 is referred to as “vertical direction”.

《発明の実施形態1》
図1〜図4は、本発明に係る液晶表示装置の実施形態1を示している。この液晶表示装置1は、光源であるバックライト(図示省略)の光を透過して表示を行う透過型の液晶表示装置である。
Embodiment 1 of the Invention
1 to 4 show Embodiment 1 of a liquid crystal display device according to the present invention. The liquid crystal display device 1 is a transmissive liquid crystal display device that performs display by transmitting light from a backlight (not shown) that is a light source.

図1は、本実施形態の液晶表示装置Sを拡大して示す平面図である。また、図2は、図1におけるII−II線断面図であり、図3は、図1におけるIII−III線断面図である。液晶表示装置Sは、スイッチング素子であるTFT104を備える第1基板1と、第1基板1の上に対向して設けられた第2基板(図示省略)と、第1基板1及び第2基板の間に封入された液晶層(図示省略)とにより構成されている。   FIG. 1 is an enlarged plan view showing the liquid crystal display device S of the present embodiment. 2 is a cross-sectional view taken along line II-II in FIG. 1, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line III-III in FIG. The liquid crystal display device S includes a first substrate 1 including a TFT 104 serving as a switching element, a second substrate (not shown) provided opposite to the first substrate 1, and the first substrate 1 and the second substrate. It is comprised by the liquid crystal layer (illustration omitted) enclosed between.

上記液晶層は、アンチパラレル配向ECBモードで、ラビング方向は、後述のソース配線103と平行になっている。この場合、液晶分子の配向状態は左右対称であり、ドメインも左右対称に形成される。したがって、遮光すべき領域の幅も左右対称となる。また、上記第2基板は、カラー表示用のRGBのカラーフィルタ(図示省略)や、ITO等により形成された透明電極(図示省略)等を有している。   The liquid crystal layer is in an anti-parallel alignment ECB mode, and the rubbing direction is parallel to the source wiring 103 described later. In this case, the alignment state of the liquid crystal molecules is symmetrical, and the domains are also formed symmetrically. Therefore, the width of the area to be shielded is also symmetrical. The second substrate includes RGB color filters for color display (not shown), transparent electrodes (not shown) formed of ITO, and the like.

上記第1基板1は、ガラス等の透明な絶縁性の基板10と、基板10の上にマトリクス状に配置された複数のTFT104と、基板10の上に設けられたゲート配線101及びソース配線103と、上記各TFT104にそれぞれ接続された複数の画素電極106とを備えている。   The first substrate 1 includes a transparent insulating substrate 10 such as glass, a plurality of TFTs 104 arranged in a matrix on the substrate 10, and a gate wiring 101 and a source wiring 103 provided on the substrate 10. And a plurality of pixel electrodes 106 connected to the TFTs 104, respectively.

上記TFT104は、図1に示すように、信号電圧が供給されるソース電極107と、画素電極106に信号電圧を供給するためのドレイン電極105と、上記ソース電極107からドレイン電極105への通電状態を切り換えるためのゲート電極108とを備えている。   As shown in FIG. 1, the TFT 104 includes a source electrode 107 to which a signal voltage is supplied, a drain electrode 105 for supplying a signal voltage to the pixel electrode 106, and an energization state from the source electrode 107 to the drain electrode 105. And a gate electrode 108 for switching between the two.

上記ゲート配線101は、基板10の上に複数設けられ、互いに平行に延びるように形成されている。各ゲート配線101は、上記TFT104のゲート電極108に接続されている。一方、上記ソース配線107は、基板10の上に複数設けられ、上記ゲート配線101に直交して延びるように形成されている。各ソース配線103は、上記TFT104のソース電極107に接続されている。すなわち、ゲート配線101及びソース配線103は、基板10の上で全体として格子状に形成されている。ゲート配線101及びソース配線103は、例えばチタン及びアルミニウムにより構成されている。さらに、基板10の上には、容量配線であるCs配線102が複数設けられている。各Cs配線102は、ゲート配線101に沿って延びるように形成されている。   A plurality of the gate wirings 101 are provided on the substrate 10 so as to extend in parallel with each other. Each gate wiring 101 is connected to the gate electrode 108 of the TFT 104. On the other hand, a plurality of the source lines 107 are provided on the substrate 10 and are formed so as to extend perpendicular to the gate lines 101. Each source wiring 103 is connected to the source electrode 107 of the TFT 104. That is, the gate wiring 101 and the source wiring 103 are formed in a lattice shape as a whole on the substrate 10. The gate wiring 101 and the source wiring 103 are made of, for example, titanium and aluminum. Further, a plurality of Cs wirings 102 that are capacitive wirings are provided on the substrate 10. Each Cs wiring 102 is formed to extend along the gate wiring 101.

各ゲート配線101及びソース配線103により囲まれた領域には、画素がそれぞれ形成されている。つまり、上記各画素は、基板10の上にマトリクス状に並んで設けられている。上記各画素には、透過表示を行うための透過領域Tが形成されると共に、画素電極106が設けられている。透過領域Tは、図1に示すように、ゲート配線101及びソース配線103により区画されている。   Pixels are formed in regions surrounded by the gate lines 101 and the source lines 103, respectively. That is, the pixels are provided in a matrix on the substrate 10. Each pixel is provided with a transmissive region T for transmissive display and a pixel electrode 106. The transmissive region T is partitioned by a gate wiring 101 and a source wiring 103 as shown in FIG.

尚、透過領域Tは、必ずしも、ゲート配線101及びソース配線103の双方により区画される必要はなく、本実施形態では、透過領域Tの少なくとも一辺がソース配線103により区画されていればよい。   Note that the transmission region T is not necessarily defined by both the gate wiring 101 and the source wiring 103, and at least one side of the transmission region T only needs to be partitioned by the source wiring 103 in this embodiment.

上記画素電極106は、ITO等の透明電極により構成され、ゲート配線101、ソース配線103、及びCs配線102の上方に、絶縁層110を介して設けられている。画素電極106は、Cs配線102に上下方向に重なることにより、画素容量を補助するための補助容量を構成している。また、画素電極106の外周部は、図1に示すように、ゲート配線101及びソース配線103の一部に対し、上下方向に重なっている。画素電極106は、絶縁層110に形成されたコンタクトホール(図示省略)を介してTFT104のドレイン電極105に接続されている。   The pixel electrode 106 is made of a transparent electrode such as ITO, and is provided above the gate wiring 101, the source wiring 103, and the Cs wiring 102 via an insulating layer 110. The pixel electrode 106 constitutes an auxiliary capacity for assisting the pixel capacity by overlapping the Cs wiring 102 in the vertical direction. Further, as shown in FIG. 1, the outer peripheral portion of the pixel electrode 106 overlaps a part of the gate wiring 101 and the source wiring 103 in the vertical direction. The pixel electrode 106 is connected to the drain electrode 105 of the TFT 104 through a contact hole (not shown) formed in the insulating layer 110.

上記基板10の上には、下方から入射する光を遮蔽する遮光層120が、電気的に浮いた状態で、上記ソース配線103に重なるように設けられている。つまり、遮光層120は、他の導電性部材(例えば、ゲート配線101等)に対し、電気的に絶縁された状態で基板10上に設けられている。   A light shielding layer 120 that shields light incident from below is provided on the substrate 10 so as to overlap the source wiring 103 in an electrically floating state. That is, the light shielding layer 120 is provided on the substrate 10 in a state of being electrically insulated from other conductive members (for example, the gate wiring 101).

遮光層120は、例えばタングステン及び窒化タンタルにより形成されている。そして、図1に示すように、基板10の上において、Cs配線102とゲート配線101との間で、ソース配線103に沿って延びるようにパターン形成されている。遮光層120とゲート配線101との間には、上方から見て、所定の隙間が設けられている。また、遮光層120とCs配線102との間にも、同様に所定の隙間が設けられている。   The light shielding layer 120 is made of, for example, tungsten and tantalum nitride. As shown in FIG. 1, a pattern is formed on the substrate 10 so as to extend along the source wiring 103 between the Cs wiring 102 and the gate wiring 101. A predetermined gap is provided between the light shielding layer 120 and the gate wiring 101 when viewed from above. Similarly, a predetermined gap is provided between the light shielding layer 120 and the Cs wiring 102.

ここで、図2及び図3を参照して、第1基板1の積層構造について詳細に説明する。   Here, with reference to FIG.2 and FIG.3, the laminated structure of the 1st board | substrate 1 is demonstrated in detail.

基板10の上には、図2に示すように、遮光層120が例えば0.5μmの厚さで積層されている。遮光層120が積層された基板10の上には、二酸化ケイ素等により構成された層間絶縁膜109が、例えば1μmの厚さで積層されている。   As shown in FIG. 2, a light shielding layer 120 is laminated on the substrate 10 to a thickness of 0.5 μm, for example. On the substrate 10 on which the light shielding layer 120 is laminated, an interlayer insulating film 109 made of silicon dioxide or the like is laminated with a thickness of 1 μm, for example.

層間絶縁膜109の上には、ソース配線103が上記遮光層120に重なるように形成されている。ソース配線103は、遮光層120における左右中央位置に配置されている。言い換えれば、ソース配線103の軸線と、遮光層120の軸線とは、上下に重なって一致している。ソース配線103は、例えば0.5μmの厚さに形成されている。   A source wiring 103 is formed on the interlayer insulating film 109 so as to overlap the light shielding layer 120. The source wiring 103 is disposed at the left and right center position in the light shielding layer 120. In other words, the axis line of the source wiring 103 and the axis line of the light shielding layer 120 are overlapped and coincide with each other. The source wiring 103 is formed with a thickness of 0.5 μm, for example.

さらに、ソース配線103が形成された層間絶縁膜109の上には、透明樹脂材料により構成された絶縁膜110が積層されている。絶縁膜110の上部は、平面に形成されている。すなわち、絶縁膜110の厚みは、遮光層120が設けられていない位置で、例えば2.8μmであり、遮光層120が設けられている位置で2.3μmであり、遮光層120及びソース配線103が設けられている位置で1.8μmになっている。   Further, an insulating film 110 made of a transparent resin material is stacked on the interlayer insulating film 109 on which the source wiring 103 is formed. The upper part of the insulating film 110 is formed in a plane. That is, the thickness of the insulating film 110 is, for example, 2.8 μm at a position where the light shielding layer 120 is not provided, and 2.3 μm at a position where the light shielding layer 120 is provided. It is 1.8 μm at the position where is provided.

上記絶縁膜110の上には、画素電極106が形成されている。隣接する画素電極106同士の間隔は、例えば3μmに規定されている。   A pixel electrode 106 is formed on the insulating film 110. An interval between adjacent pixel electrodes 106 is defined to be 3 μm, for example.

そして、本発明の特徴として、図1に示すように、上記ソース配線103は、幅の比較的狭い幅狭部113,114,115と、幅の比較的広い幅広部111,112とを備えている。これに対し、従来のソース配線は、幅広部のみにより構成されていた。   As a feature of the present invention, as shown in FIG. 1, the source wiring 103 includes narrow portions 113, 114, 115 having relatively narrow widths and wide portions 111, 112 having relatively wide widths. Yes. On the other hand, the conventional source wiring is composed only of the wide portion.

上記幅狭部113,114,115は、遮光層120、ゲート配線101、又はCs配線102と重なっている部分の少なくとも一部に形成されている。すなわち、幅狭部113,114,115は、ソース配線103及び遮光層120の重なり部分に形成された第1幅狭部113と、ソース配線103及びゲート配線101の重なり部分に形成された第2幅狭部114と、ソース配線103及びCs配線102の重なり部分に形成された第3幅狭部115とにより構成されている。   The narrow portions 113, 114, 115 are formed in at least a part of a portion overlapping the light shielding layer 120, the gate wiring 101, or the Cs wiring 102. That is, the narrow portions 113, 114, and 115 are the first narrow portion 113 formed in the overlapping portion of the source wiring 103 and the light shielding layer 120 and the second narrow portion formed in the overlapping portion of the source wiring 103 and the gate wiring 101. A narrow portion 114 and a third narrow portion 115 formed in the overlapping portion of the source wiring 103 and the Cs wiring 102 are configured.

一方、上記幅広部111,112は、少なくとも遮光層120及びゲート配線101と重ならない部分に形成されている。すなわち、幅広部111,112は、遮光膜120とゲート配線101又はCs配線102との隙間に対応して形成された第1幅広部111と、ゲート配線101とCs配線102との隙間に対応して形成された第2幅広部112とにより構成されている。   On the other hand, the wide portions 111 and 112 are formed at least in portions that do not overlap the light shielding layer 120 and the gate wiring 101. That is, the wide portions 111 and 112 correspond to the first wide portion 111 formed corresponding to the gap between the light shielding film 120 and the gate wiring 101 or the Cs wiring 102, and the gap between the gate wiring 101 and the Cs wiring 102. The second wide portion 112 is formed.

そして、上記各幅広部111,112及び遮光層120は、上記画素電極106の外周部分に重なるように形成されている。さらに、各幅狭部113,114,115の一部も、画素電極106に重なっている。   The wide portions 111 and 112 and the light shielding layer 120 are formed so as to overlap the outer peripheral portion of the pixel electrode 106. Further, part of each narrow portion 113, 114, 115 also overlaps the pixel electrode 106.

次に、幅広部111,112及び幅狭部113,114,115と、画素電極106との関係について、図1の部分拡大図である図4を参照して説明する。   Next, the relationship between the wide portions 111, 112 and the narrow portions 113, 114, 115 and the pixel electrode 106 will be described with reference to FIG. 4 which is a partially enlarged view of FIG.

図4に示すように、隣接する2枚の画素電極106は、ソース配線103の上方位置で所定の隙間をあけて設けられている。これら2枚の画素電極106の外周部による液晶分子の配向乱れは、破線で示す領域Aにおいて生じる。つまり、配向乱れは、画素電極106のエッジ(端部)から一定の距離までの間で生じる。   As shown in FIG. 4, two adjacent pixel electrodes 106 are provided above the source wiring 103 with a predetermined gap. The alignment disorder of the liquid crystal molecules due to the outer peripheral portions of these two pixel electrodes 106 occurs in a region A indicated by a broken line. That is, the alignment disorder occurs from the edge (end) of the pixel electrode 106 to a certain distance.

従来は、この配向乱れを遮光して隠すために、ソース配線は、配線として機能するために必要な幅よりも広い幅に形成されていた。これに対し、本発明によると、幅狭部113,114,115の幅aを、配線抵抗及び配線容量が許容される限り狭くすることができる。   Conventionally, in order to conceal this alignment disorder by shielding it, the source wiring is formed to have a width wider than that necessary to function as the wiring. On the other hand, according to the present invention, the width a of the narrow portions 113, 114, 115 can be reduced as long as the wiring resistance and the wiring capacitance are allowed.

上記幅狭部113,114,115の幅aに対し、配向乱れ領域を遮光して隠すために、幅広部111,112は、左右両側に幅dだけそれぞれ延出するように形成されると共に、遮光層120は、左右両側に幅cだけそれぞれ延出するように形成されている。このとき、幅d及び幅cは、それぞれ1μm以上且つ10μm以下であることが好ましい。最適な隠し幅は、配向乱れ領域Aの大きさにより決定されるが、この領域Aは、表示モード、セル厚、液晶材料、及び配向膜の材料等により変化するため、一様には決まらない。   The wide portions 111 and 112 are formed so as to extend on both the left and right sides by a width d in order to shield the alignment disorder region from light with respect to the width a of the narrow portions 113, 114, and 115. The light shielding layer 120 is formed to extend by a width c on both the left and right sides. At this time, the width d and the width c are preferably 1 μm or more and 10 μm or less, respectively. The optimum hidden width is determined by the size of the alignment disorder region A, but this region A varies depending on the display mode, the cell thickness, the liquid crystal material, the material of the alignment film, etc., and is not determined uniformly. .

尚、幅d及び幅cが仮に1μm未満である場合には、配向乱れを確実に隠すことができない。一方、幅d及び幅cが仮に10μmを越えて大きい場合には、開口率の低下が著しくなってしまう。   If the width d and the width c are less than 1 μm, the alignment disorder cannot be reliably hidden. On the other hand, if the width d and the width c are larger than 10 μm, the aperture ratio is significantly reduced.

特に、本実施形態では、幅cが2μm以上且つ5μm以下に規定されている。言い換えれば、遮光層120の側端は、遮光層120に重なっている幅狭部113の側端に対し、幅方向に2μm以上且つ5μm以下の長さで突出している。   In particular, in the present embodiment, the width c is specified to be 2 μm or more and 5 μm or less. In other words, the side edge of the light shielding layer 120 protrudes from the side edge of the narrow portion 113 overlapping the light shielding layer 120 with a length of 2 μm or more and 5 μm or less in the width direction.

また、上述のように、配向乱れは、画素電極106のエッジから一定の距離までの間で生じるため、これを遮光して隠すための遮光層120及び幅広部111,112は、互いに同一であればよい。そのため、両者の延出長さの差である幅eは、0であることが望ましい。プロセス上のマージンを考慮しても、幅eは、1μm以下であることが好ましい。言い換えれば、遮光層120の側端は、遮光層120に重なっている幅広部111の側端に対し、幅方向に±1μm以内の距離に設けられている。   Further, as described above, the alignment disturbance occurs between the edge of the pixel electrode 106 and a certain distance, so that the light shielding layer 120 and the wide portions 111 and 112 for shielding and concealing this are the same as each other. That's fine. Therefore, it is desirable that the width e, which is the difference between the extended lengths of the two, be 0. Considering the process margin, the width e is preferably 1 μm or less. In other words, the side edge of the light shielding layer 120 is provided at a distance within ± 1 μm in the width direction with respect to the side edge of the wide portion 111 overlapping the light shielding layer 120.

尚、図1及び図4では、遮光層120の幅を、幅広部111,112よりも広くなるように形成しているが、逆に、幅広部111,112の幅を、遮光層120よりも広くなるように形成してもよい。   1 and 4, the width of the light shielding layer 120 is formed so as to be wider than the wide portions 111 and 112. Conversely, the width of the wide portions 111 and 112 is larger than that of the light shielding layer 120. You may form so that it may become large.

次に、液晶層に所定の電圧を印加したときの透過率の変化について、シミュレーションした結果について説明する。   Next, a simulation result of a change in transmittance when a predetermined voltage is applied to the liquid crystal layer will be described.

透過率のシミュレーションは、シンテック社製の液晶シミュレータである LCDmaster を用いて行った。その結果を、図5のグラフに示す。図5において、横軸は、原点を対称の中心とした距離を示し、縦軸は、偏光板込みの透過率を示している。   The transmittance was simulated using LCDmaster, a liquid crystal simulator manufactured by Shintech. The result is shown in the graph of FIG. In FIG. 5, the horizontal axis indicates the distance with the origin as the center of symmetry, and the vertical axis indicates the transmittance including the polarizing plate.

シミュレーションに用いた液晶は、カイラル剤を含まないネマチック液晶であって、Δn=0.065であり、Δε=7.9である。印加電圧は、左右に隣接する画素のうち、左側の画素に対して0Vから±3.7Vまで変化させ、右側の画素に対して±3.7Vとすることにより、ドット反転駆動を行った。   The liquid crystal used for the simulation is a nematic liquid crystal containing no chiral agent, and Δn = 0.065 and Δε = 7.9. The applied voltage was changed from 0 V to ± 3.7 V for the left pixel among the pixels adjacent to the left and right, and ± 3.7 V for the right pixel, thereby performing dot inversion driving.

その結果、図5に示すように、中心から±3.5μmの範囲にピークを有する光抜けが発生した。これがドメインの残像の原因となるため、遮光を行う必要がある。このシミュレーションに用いた液晶層と駆動方法とを本実施形態の液晶表示装置に適用した場合、中心から左右5μmの幅ずつ遮光すれば、上記ドメインを遮光できる。さらに、プロセス上のアライメントマージンを考慮して、ソース配線103又は遮光層120で遮光する場合には、左右方向に6.5μmの幅ずつ遮光すればよいことがわかった。ただし、この数値は、液晶材料、セルギャップ、駆動方法によって異なる。   As a result, as shown in FIG. 5, light leakage having a peak in a range of ± 3.5 μm from the center occurred. Since this causes the afterimage of the domain, it is necessary to shield the light. When the liquid crystal layer and the driving method used in this simulation are applied to the liquid crystal display device of this embodiment, the domain can be shielded by shielding light by a width of 5 μm on the left and right sides from the center. Further, it has been found that in consideration of the process alignment margin, when the light is shielded by the source wiring 103 or the light shielding layer 120, the light may be shielded by 6.5 μm in the left-right direction. However, this value varies depending on the liquid crystal material, the cell gap, and the driving method.

次に、遮光層120が設けられている部分の単位長さ当たりの容量を、autronic-melchers社製の液晶シミュレータである DIMOS でシミュレーションした結果について説明する。   Next, the result of simulating the capacity per unit length of the portion where the light shielding layer 120 is provided with DIMOS, a liquid crystal simulator manufactured by autronic-melchers, will be described.

図2に示すように、シミュレーションに用いた遮光層120の幅をbとし、ソース配線103の幅狭部113の幅をa、幅広部111の幅を13μmとする。層間絶縁膜109及び絶縁膜110の誘電率は、共に3.5である。この場合のシミュレーションの結果を、表1に示す。   As shown in FIG. 2, the width of the light shielding layer 120 used in the simulation is b, the width of the narrow portion 113 of the source wiring 103 is a, and the width of the wide portion 111 is 13 μm. The dielectric constants of the interlayer insulating film 109 and the insulating film 110 are both 3.5. The simulation results in this case are shown in Table 1.

(表1)
a(μm) 13 9 7 5 3 3
b(μm) − 13 13 13 13 15
容量(pF/m) 130.6 130.9 118.2 103.2 83.3 88.8
(b−a)/2 − 2 3 4 5 6

表1に示すように、幅aが9μmであり且つ幅bが13μmであるときには、単位長さ当たりの容量は、遮光層120が設けられていない場合と等しくなる。そのため、幅aが大きくなると容量も増大するため、有効な効果が得られない。したがって、遮光層120の幅bと、幅狭部113の幅aとの差の1/2(つまり、遮光層120の左右方向への延出長さ(b−a)/2である。以降、片側遮光幅cと称する)が、2μm以上必要であることがわかった。
(Table 1)
a (μm) 13 9 7 5 3 3
b (μm) − 13 13 13 13 15
Capacity (pF / m) 130.6 130.9 118.2 103.2 83.3 88.8
(ba) / 2-2 3 4 5 6

As shown in Table 1, when the width a is 9 μm and the width b is 13 μm, the capacity per unit length is equal to the case where the light shielding layer 120 is not provided. For this reason, when the width a is increased, the capacity is increased, so that an effective effect cannot be obtained. Therefore, it is ½ of the difference between the width b of the light shielding layer 120 and the width a of the narrow portion 113 (that is, the length (ba) / 2 of the light shielding layer 120 extending in the left-right direction). The one-side light-shielding width c) is 2 μm or more.

また、この場合、ソース配線103の幅aの下限値は3μmであり、この値よりも小さい場合には、配線抵抗が大きくなるため、表示に悪影響を及ぼしてしまう。幅aが3μmであるとき、片側遮光幅cは、5μmである。この片側遮光幅cが6μm以上である場合には、有効な効果が得られない。したがって、容量を低減する観点から、遮光層120及び幅狭部111の差の1/2である片側遮光幅cは、2μm以上且つ5μm以下が望ましいことがわかった。   In this case, the lower limit value of the width “a” of the source wiring 103 is 3 μm, and if it is smaller than this value, the wiring resistance increases, which adversely affects the display. When the width a is 3 μm, the one-side light-shielding width c is 5 μm. When this one-side light shielding width c is 6 μm or more, an effective effect cannot be obtained. Therefore, it was found that the one-side light-shielding width c, which is ½ of the difference between the light-shielding layer 120 and the narrow portion 111, is preferably 2 μm or more and 5 μm or less from the viewpoint of reducing the capacity.

ただし、上記の結果は、遮光層の幅bが13μmの場合のものであり、遮光層の幅bがさらに広い場合には、上記片側遮光幅cは、6μm以上であっても効果が得られる。   However, the above results are obtained when the width b of the light shielding layer is 13 μm. When the width b of the light shielding layer is wider, the effect can be obtained even if the one-side light shielding width c is 6 μm or more. .

ところで、この液晶表示装置Sの画素ピッチは、縦方向(図1の縦方向、図2及び図3の紙面手前奥方向)が200μmであり、縦方向の画素電極106同士の間隔は、3μmである。すなわち、画素電極106の縦方向長さは、197μmである。このうち、遮光層120が設けられている長さは、160μmである。また、遮光層120の縦方向両側20μmは、遮光層120が配置できないため、ソース配線103の幅広部111が設けられている。残る17μmの長さ部分は、ソース配線103と、ゲート配線101またはCs配線102とが交差する部分である。   By the way, the pixel pitch of the liquid crystal display device S is 200 μm in the vertical direction (the vertical direction in FIG. 1 and the front and back direction in FIG. 2 and FIG. 3), and the interval between the pixel electrodes 106 in the vertical direction is 3 μm. is there. That is, the vertical length of the pixel electrode 106 is 197 μm. Among these, the length in which the light shielding layer 120 is provided is 160 μm. Further, the wide portion 111 of the source wiring 103 is provided on the both sides 20 μm in the vertical direction of the light shielding layer 120 because the light shielding layer 120 cannot be disposed. The remaining 17 μm length is a portion where the source wiring 103 and the gate wiring 101 or the Cs wiring 102 intersect.

したがって、この画素1つ当たりの容量(画素電極とソース配線との間の寄生容量)は、130.6pF/m × 20μm + 83.3pF/m × 167μm = 16.52fFとなる。一方、従来のものでは、130.6pF/m × 197μm = 25.73
fFとなり、本実施形態のものは、寄生容量を従来よりも約2/3に低減できることがわかる。
Therefore, the capacitance per pixel (parasitic capacitance between the pixel electrode and the source wiring) is 130.6 pF / m × 20 μm + 83.3 pF / m × 167 μm = 16.52 fF. On the other hand, in the conventional one, 130.6 pF / m × 197 μm = 25.73
It can be seen that fF can reduce the parasitic capacitance to about 2/3 that of the prior art.

−実施形態1の効果−
したがって、この実施形態1によると、ソース配線103を幅狭部113,114,115と幅広部111,112とにより構成し、幅広部111,112と遮光層120との双方を、画素電極106の外周部に重ねるようにしたので、遮光層120とゲート配線101及びCs配線102との間に隙間が生じていても、画素電極106の外周部近傍で液晶分子の配向が乱れている領域Aを確実に遮光して隠すことができる。
-Effect of Embodiment 1-
Therefore, according to the first embodiment, the source wiring 103 is configured by the narrow portions 113, 114, 115 and the wide portions 111, 112, and both the wide portions 111, 112 and the light shielding layer 120 are connected to the pixel electrode 106. Since it is overlapped with the outer peripheral portion, even if there is a gap between the light shielding layer 120 and the gate wiring 101 and the Cs wiring 102, the region A in which the alignment of liquid crystal molecules is disturbed in the vicinity of the outer peripheral portion of the pixel electrode 106 is formed. It can be reliably shielded from light.

さらに、ソース配線103の幅広部111,112と画素電極106との重なり部分の面積を大きくできるため、配向乱れ領域Aを好適に遮光できる。また、遮光層120が電気的に浮いた状態で設けられているため、遮光層120と画素電極106との間の寄生容量の発生を抑制することができる。さらに、ソース配線103の幅狭部113,114,115と画素電極106との重なり部分の面積が小さくなるため、ソース配線103と画素電極106との間の寄生容量を好適に低減できる。その結果、寄生容量を低減してクロストークを防止できると共に、液晶分子の配向乱れによる画質の低下を防止できるため、コントラストや表示品位を向上させることができる。そのことに加え、ブラックマトリクスが不要となるため、開口率を向上させると共に各画素間を狭ピッチ化でき、表示の高詳細化を図ることができる。   Furthermore, since the area of the overlapping portion between the wide portions 111 and 112 of the source wiring 103 and the pixel electrode 106 can be increased, the disordered alignment region A can be shielded suitably. In addition, since the light shielding layer 120 is provided in an electrically floating state, generation of parasitic capacitance between the light shielding layer 120 and the pixel electrode 106 can be suppressed. Furthermore, since the area of the overlapping portion between the narrow portions 113, 114, 115 of the source wiring 103 and the pixel electrode 106 is reduced, the parasitic capacitance between the source wiring 103 and the pixel electrode 106 can be suitably reduced. As a result, parasitic capacitance can be reduced to prevent crosstalk, and deterioration of image quality due to disorder of alignment of liquid crystal molecules can be prevented, so that contrast and display quality can be improved. In addition, since a black matrix is not required, the aperture ratio can be improved and the pitch between pixels can be narrowed, so that the display can be highly detailed.

《発明の実施形態2》
図6は、本発明に係る液晶表示装置の実施形態2を示し、液晶表示装置Sの背面図である。なお、以下の各実施形態では、図1〜図4と同じ部分については同じ符号を付してその詳細な説明を省略する。
<< Embodiment 2 of the Invention >>
FIG. 6 is a rear view of the liquid crystal display device S according to the second embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention. In the following embodiments, the same portions as those in FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

上記実施形態1では、遮光層120をソース配線103に重ねて設けたのに対し、この実施形態2は、遮光層120をゲート配線101に重ねて設けるようにしたものである。   In the first embodiment, the light shielding layer 120 is provided so as to overlap the source wiring 103, whereas in the second embodiment, the light shielding layer 120 is provided so as to overlap the gate wiring 101.

すなわち、図6に示すように、各画素において、透過領域Tは、少なくとも一辺がゲート配線101により区画されている。そして、基板10の上には、遮光層120が、電気的に浮いた状態で、ゲート配線101に重なると共に、ゲート配線101に沿って延びるように設けられている。また、基板10の上には、容量配線であるCs配線102が、ソース配線103に沿って延びるように、複数設けられている。   That is, as shown in FIG. 6, in each pixel, at least one side of the transmissive region T is partitioned by the gate wiring 101. On the substrate 10, a light shielding layer 120 is provided so as to overlap the gate wiring 101 and extend along the gate wiring 101 in an electrically floating state. A plurality of Cs wirings 102 that are capacitive wirings are provided on the substrate 10 so as to extend along the source wirings 103.

そして、ゲート配線101は、上記実施形態1におけるソース配線103と同様に、幅狭部113,114,115と、幅広部111,112とを備えている。上記幅狭部113,114,115は、ゲート配線101及び遮光層120の重なり部分に形成された第1幅狭部113と、ソース配線103及びゲート配線101の重なり部分に形成された第2幅狭部114と、ゲート配線101及びCs配線102の重なり部分に形成された第3幅狭部115とにより構成されている。   The gate wiring 101 includes narrow portions 113, 114, 115 and wide portions 111, 112, similar to the source wiring 103 in the first embodiment. The narrow portions 113, 114, 115 are the first narrow portion 113 formed in the overlapping portion of the gate wiring 101 and the light shielding layer 120, and the second width formed in the overlapping portion of the source wiring 103 and the gate wiring 101. The narrow portion 114 and the third narrow portion 115 formed in the overlapping portion of the gate wiring 101 and the Cs wiring 102 are configured.

一方、上記幅広部111,112は、遮光膜120とソース配線103又はCs配線102との隙間に対応して形成された第1幅広部111と、ソース配線103とCs配線102との隙間に対応して形成された第2幅広部112とにより構成されている。   On the other hand, the wide portions 111 and 112 correspond to the first wide portion 111 formed corresponding to the gap between the light shielding film 120 and the source wiring 103 or the Cs wiring 102, and the gap between the source wiring 103 and the Cs wiring 102. The second wide portion 112 formed in this manner.

そして、上記各幅広部111,112及び遮光層120は、上記画素電極106の外周部分に重なるように形成されている。さらに、各幅狭部113,114,115の一部も、画素電極106に重なっている。   The wide portions 111 and 112 and the light shielding layer 120 are formed so as to overlap the outer peripheral portion of the pixel electrode 106. Further, part of each narrow portion 113, 114, 115 also overlaps the pixel electrode 106.

したがって、この実施形態2によっても、上記実施形態1と同様の効果を得ることができる。尚、上記各実施形態では、透過領域Tを、ゲート配線101及びソース配線103の双方により区画して形成したが、透過領域Tの少なくとも一辺がゲート配線101により区画されていればよい。   Therefore, the same effects as those of the first embodiment can be obtained by the second embodiment. In each of the above embodiments, the transmissive region T is defined by both the gate wiring 101 and the source wiring 103, but it is sufficient that at least one side of the transmissive region T is defined by the gate wiring 101.

《発明の実施形態3》
図7は、本発明に係る液晶表示装置の実施形態3を示している。上記実施形態1では、透過表示を行う透過型の液晶表示装置であったのに対し、この実施形態3は、反透過型(透過反射型)の液晶表示装置である。
<< Embodiment 3 of the Invention >>
FIG. 7 shows Embodiment 3 of the liquid crystal display device according to the present invention. The first embodiment is a transmissive liquid crystal display device that performs transmissive display, while the third embodiment is an anti-transmissive (transmissive reflective type) liquid crystal display device.

図7に示すように、液晶表示装置Sは、透過領域Tに加えて反射領域Hを備えている。透過領域には、上記実施形態1と同様の画素電極106が設けられている一方、反射領域Hには、外光を反射する反射電極125が設けられている。   As shown in FIG. 7, the liquid crystal display device S includes a reflective region H in addition to the transmissive region T. The transmissive region is provided with the same pixel electrode 106 as in the first embodiment, while the reflective region H is provided with a reflective electrode 125 that reflects external light.

透過領域Tでは、画素電極106の外周部と、遮光層120及びソース配線103の幅広部111とが重なるように設けられている。したがって、この実施形態3でも、上記実施形態1と同様の効果を得ることができる。   In the transmissive region T, the outer peripheral portion of the pixel electrode 106 is provided so as to overlap the light shielding layer 120 and the wide portion 111 of the source wiring 103. Therefore, the same effects as those of the first embodiment can be obtained in the third embodiment.

《発明の実施形態4》
上記各実施形態では、遮光層120をソース配線103又はゲート配線101の下方位置に配置するようにしたが、図2相当図である図8、及び図3相当図である図9に示すように、遮光層120をソース配線103又はゲート配線101の上方位置に配置するようにしてもよい。
<< Embodiment 4 of the Invention >>
In each of the above embodiments, the light shielding layer 120 is disposed below the source wiring 103 or the gate wiring 101, but as shown in FIG. 8 corresponding to FIG. 2 and FIG. 9 corresponding to FIG. The light shielding layer 120 may be disposed above the source wiring 103 or the gate wiring 101.

すなわち、この実施形態4は、上記実施形態1において、ソース配線103の上方に遮光層120を形成するようにしたものである。   That is, in the fourth embodiment, the light shielding layer 120 is formed above the source wiring 103 in the first embodiment.

基板10の上には、図8に示すように、ソース配線103例えば0.5μmの厚さで積層されている。ソース配線103が積層された基板10の上には、二酸化ケイ素等により構成された層間絶縁膜109が、例えば1μmの厚さで積層されている。層間絶縁膜109の上には、遮光層120が上記ソース配線103に重なるように形成されている。図8では、ソース配線103における幅bの幅狭部113に対し、幅aの遮光層120が重なっている(a>b)。遮光層120が設けられていない領域では、図9に示すように、ソース配線103の幅広部111が、例えば幅13μmに形成されている。   On the substrate 10, as shown in FIG. 8, the source wiring 103 is laminated with a thickness of 0.5 μm, for example. On the substrate 10 on which the source wiring 103 is laminated, an interlayer insulating film 109 made of silicon dioxide or the like is laminated with a thickness of 1 μm, for example. A light shielding layer 120 is formed on the interlayer insulating film 109 so as to overlap the source wiring 103. In FIG. 8, a light shielding layer 120 having a width a overlaps a narrow portion 113 having a width b in the source wiring 103 (a> b). In the region where the light shielding layer 120 is not provided, as shown in FIG. 9, the wide portion 111 of the source wiring 103 is formed with a width of 13 μm, for example.

さらに、遮光層120が形成された層間絶縁膜109の上には、透明樹脂材料により構成された絶縁膜110が積層されている。絶縁膜110の上部は、平面に形成されており、絶縁膜110の厚みは、遮光層120が設けられていない位置で、例えば2.8μmになっている。絶縁膜110の上には、画素電極106が形成されている。隣接する画素電極106同士の間隔は、例えば3μmに規定されている。   Further, an insulating film 110 made of a transparent resin material is laminated on the interlayer insulating film 109 on which the light shielding layer 120 is formed. The upper part of the insulating film 110 is formed in a plane, and the thickness of the insulating film 110 is, for example, 2.8 μm at a position where the light shielding layer 120 is not provided. A pixel electrode 106 is formed on the insulating film 110. An interval between adjacent pixel electrodes 106 is defined to be 3 μm, for example.

次に、本実施形態の液晶表示装置Sに対し、上記実施形態1と同様に、遮光層120が設けられている部分の単位長さ当たりの容量を、autronic-melchers社製の液晶シミュレータである DIMOS でシミュレーションした結果について説明する。ここで、遮光層120の幅をa、ゲート配線101の幅狭部113の幅をbとした時の結果を、表2に示す。   Next, in the liquid crystal display device S of the present embodiment, the capacity per unit length of the portion where the light shielding layer 120 is provided is a liquid crystal simulator manufactured by autronic-melchers, similar to the first embodiment. The results of simulation with DIMOS are explained. Here, the results when the width of the light shielding layer 120 is a and the width of the narrow portion 113 of the gate wiring 101 is b are shown in Table 2.

(表2)
a(μm) − 13 13 13 13 15
b(μm) 13 9 7 5 3 3
容量(pF/m) 103.3 121.7 114.8 105.6 92.9 98.5
(b−a)/2 − 2 3 4 5 6

表2に示すように、ゲート配線101の幅狭部113の幅bと、遮光層120の幅aとの差の1/2(つまり、片側遮光幅c=(b−a)/2)が、4μm以上且つ5μm以下であるときに、寄生容量を低減する効果が得られることがわかった。すなわち、片側遮光幅cが4μm未満であると、遮光層120を設けない場合に比べて容量が増加してしまう。一方、片側遮光幅cが5μmを越えて大きいときには、寄生容量が増加してしまうと共に、開口率も低減してしまうこととなる。
(Table 2)
a (μm) − 13 13 13 13 15
b (μm) 13 9 7 5 3 3
Capacity (pF / m) 103.3 121.7 114.8 105.6 92.9 98.5
(ba) / 2-2 3 4 5 6

As shown in Table 2, ½ of the difference between the width b of the narrow portion 113 of the gate wiring 101 and the width a of the light shielding layer 120 (that is, one-side light shielding width c = (ba) / 2) is obtained. It was found that the effect of reducing parasitic capacitance can be obtained when the thickness is 4 μm or more and 5 μm or less. That is, when the one-side light-shielding width c is less than 4 μm, the capacity increases as compared with the case where the light-shielding layer 120 is not provided. On the other hand, when the one-side light-shielding width c exceeds 5 μm, the parasitic capacitance increases and the aperture ratio also decreases.

《その他の実施形態》
上記実施形態1では、ソース配線103の幅広部111、幅狭部113、及び遮光部120が、画素電極106の外周部に重なるように構成したが、本発明はこれに限らず、幅広部111及び遮光層120が、画素電極106の外周部分に重なっているように構成してもよい。
<< Other Embodiments >>
In the first embodiment, the wide portion 111, the narrow portion 113, and the light shielding portion 120 of the source wiring 103 are configured to overlap the outer peripheral portion of the pixel electrode 106. However, the present invention is not limited thereto, and the wide portion 111 is not limited thereto. In addition, the light shielding layer 120 may be configured to overlap the outer peripheral portion of the pixel electrode 106.

以上説明したように、本発明は、透過表示を行う液晶表示装置について有用であり、特に、画素電極の外周部近傍における液晶分子の配向乱れ領域を遮光すると共に、表示品位を向上させる場合に適している。   As described above, the present invention is useful for a liquid crystal display device that performs transmissive display, and is particularly suitable for shielding the alignment disorder region of liquid crystal molecules in the vicinity of the outer periphery of the pixel electrode and improving the display quality. ing.

実施形態1の液晶表示装置を拡大して示す平面図である。2 is an enlarged plan view showing the liquid crystal display device of Embodiment 1. FIG. 図1におけるII−II線断面図である。It is the II-II sectional view taken on the line in FIG. 図1におけるIII−III線断面図である。It is the III-III sectional view taken on the line in FIG. 図1の部分拡大図であるIt is the elements on larger scale of FIG. 液晶層の透過率の変化を示すグラフ図である。It is a graph which shows the change of the transmittance | permeability of a liquid crystal layer. 実施形態2の液晶表示装置を拡大して示す背面図である。It is a rear view which expands and shows the liquid crystal display device of Embodiment 2. 実施形態3の液晶表示装置を拡大して示す平面図である。It is a top view which expands and shows the liquid crystal display device of Embodiment 3. 実施形態4の液晶表示装置の断面を拡大して示す断面図である。It is sectional drawing which expands and shows the cross section of the liquid crystal display device of Embodiment 4. 実施形態4の液晶表示装置の断面を拡大して示す断面図である。It is sectional drawing which expands and shows the cross section of the liquid crystal display device of Embodiment 4. 従来の液晶表示装置を示す平面図である。It is a top view which shows the conventional liquid crystal display device.

符号の説明Explanation of symbols

S 液晶表示装置
T 透過領域
10 基板
101 ゲート配線
102 Cs配線(容量配線)
103 ソース配線
104 TFT(スイッチング素子)
106 画素電極
110 絶縁膜(絶縁層)
111 第1幅広部
112 第2幅広部
113 第1幅狭部
114 第2幅狭部
115 第3幅狭部
120 遮光層
S Liquid crystal display device T Transmission region 10 Substrate 101 Gate wiring 102 Cs wiring (capacitive wiring)
103 Source wiring 104 TFT (switching element)
106 Pixel electrode 110 Insulating film (insulating layer)
111 1st wide part 112 2nd wide part 113 1st narrow part 114 2nd narrow part 115 3rd narrow part 120 Light shielding layer

Claims (8)

基板の上にマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、
上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で互いに平行に延びる複数のゲート配線と、
上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で上記ゲート配線に直交して延びる複数のソース配線と、
上記ゲート配線及びソース配線により囲まれた領域に形成され、透過表示を行うための透過領域と、
上記透過領域における基板の上に絶縁層を介して設けられ、上記各スイッチング素子にそれぞれ接続された複数の透明な画素電極とを備える液晶表示装置であって、
上記透過領域は、少なくとも一辺が上記ソース配線により区画され、
上記基板の上には、下方から入射する光を遮蔽する遮光層が、電気的に浮いた状態で、上記ソース配線に重なるように設けられ、
上記ソース配線は、上記遮光層又はゲート配線と重なっている部分の少なくとも一部に形成された幅の比較的狭い幅狭部と、少なくとも上記遮光層及びゲート配線と重ならない部分に形成された幅の比較的広い幅広部とを備え、
上記幅広部及び遮光層は、上記画素電極の外周部分に重なっている
ことを特徴とする液晶表示装置。
A plurality of switching elements arranged in a matrix on the substrate;
A plurality of gate wirings connected to the switching element and extending parallel to each other on the substrate;
A plurality of source lines connected to the switching element and extending perpendicularly to the gate lines on the substrate;
A transmissive region for transmissive display formed in a region surrounded by the gate wiring and the source wiring;
A liquid crystal display device comprising a plurality of transparent pixel electrodes provided on an insulating layer on a substrate in the transmissive region and connected to each of the switching elements,
The transmission region is at least one side partitioned by the source wiring,
On the substrate, a light shielding layer that shields light incident from below is provided so as to overlap the source wiring in an electrically floating state.
The source wiring has a relatively narrow narrow portion formed in at least part of a portion overlapping with the light shielding layer or gate wiring, and a width formed in at least a portion not overlapping with the light shielding layer and gate wiring. With a relatively wide wide part,
The liquid crystal display device, wherein the wide portion and the light shielding layer overlap an outer peripheral portion of the pixel electrode.
基板の上にマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、
上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で互いに平行に延びる複数のゲート配線と、
上記スイッチング素子に接続され、上記基板の上で上記ゲート配線に直交して延びる複数のソース配線と、
上記ゲート配線及びソース配線により囲まれた領域に形成され、透過表示を行うための透過領域と、
上記透過領域における基板の上に絶縁層を介して設けられ、上記各スイッチング素子にそれぞれ接続された複数の透明な画素電極とを備える液晶表示装置であって、
上記透過領域は、少なくとも一辺が上記ゲート配線により区画され、
上記基板の上には、下方から入射する光を遮蔽する遮光層が、電気的に浮いた状態で、上記ゲート配線に重なるように設けられ、
上記ゲート配線は、上記遮光層又はソース配線と重なっている部分の少なくとも一部に形成された幅の比較的狭い幅狭部と、少なくとも上記遮光層及びソース配線と重ならない部分に形成された幅の比較的広い幅広部とを備え、
上記幅広部及び遮光層は、上記画素電極の外周部分に重なっている
ことを特徴とする液晶表示装置。
A plurality of switching elements arranged in a matrix on the substrate;
A plurality of gate wirings connected to the switching element and extending parallel to each other on the substrate;
A plurality of source lines connected to the switching element and extending perpendicularly to the gate lines on the substrate;
A transmissive region for transmissive display formed in a region surrounded by the gate wiring and the source wiring;
A liquid crystal display device comprising a plurality of transparent pixel electrodes provided on an insulating layer on a substrate in the transmissive region and connected to each of the switching elements,
The transmission region is at least one side partitioned by the gate wiring,
On the substrate, a light shielding layer that shields light incident from below is provided so as to overlap the gate wiring in an electrically floating state.
The gate wiring is formed in at least a part of a portion that overlaps the light shielding layer or the source wiring and has a relatively narrow width, and at least a width formed in a portion that does not overlap the light shielding layer and the source wiring. With a relatively wide wide part,
The liquid crystal display device, wherein the wide portion and the light shielding layer overlap an outer peripheral portion of the pixel electrode.
請求項1において、
上記遮光層は、ソース配線に沿って延びている
ことを特徴とする液晶表示装置。
In claim 1,
The liquid crystal display device, wherein the light shielding layer extends along a source wiring.
請求項2において、
上記遮光層は、ゲート配線に沿って延びている
ことを特徴とする液晶表示装置。
In claim 2,
The liquid crystal display device, wherein the light shielding layer extends along a gate wiring.
請求項3又は4において、
上記遮光層の側端は、該遮光層に重なっている幅狭部の側端に対し、幅方向に2μm以上且つ5μm以下の長さで突出している
ことを特徴とする液晶表示装置。
In claim 3 or 4,
The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the side edge of the light shielding layer protrudes with a length of 2 μm or more and 5 μm or less in the width direction with respect to the side edge of the narrow portion overlapping the light shielding layer.
請求項3又は4において、
上記遮光層の側端は、該遮光層に重なっている幅広部の側端に対し、幅方向に±1μm以内の距離に設けられている
ことを特徴とする液晶表示装置。
In claim 3 or 4,
The liquid crystal display device, wherein the side edge of the light shielding layer is provided at a distance within ± 1 μm in the width direction with respect to the side edge of the wide portion overlapping the light shielding layer.
請求項1において、
上記基板の上には、ゲート配線に沿って延びる容量配線が設けられ、
ソース配線は、上記容量配線と重なっている部分の少なくとも一部の幅が、比較的狭くなるように形成されている
ことを特徴とする液晶表示装置。
In claim 1,
On the substrate, a capacitor wiring extending along the gate wiring is provided,
The liquid crystal display device, wherein the source wiring is formed so that a width of at least a part of a portion overlapping with the capacitor wiring is relatively narrow.
請求項2において、
上記基板の上には、ソース配線に沿って延びる容量配線が設けられ、
ゲート配線は、上記容量配線と重なっている部分の少なくとも一部の幅が、比較的狭くなるように形成されている
ことを特徴とする液晶表示装置。
In claim 2,
On the substrate, a capacitor wiring extending along the source wiring is provided,
The liquid crystal display device, wherein the gate wiring is formed so that a width of at least a part of a portion overlapping with the capacitor wiring is relatively narrow.
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