JP2005024431A - 外観検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】搬送方向Fに複数のワーク(検査対象物)Wを搬送する搬送部5と、搬送されているワークWを回転させる回転部6と、回転しているワークWの表面を撮像する撮像部2と、この撮像部2からの撮像画像を用いてワークWの外観検査を行う処理装置(処理部)4とを設ける。そして、処理装置4が、ワークWについてN個(Nは2以上の整数)の検査領域に分けるとともに、各検査領域において撮像部2によりワークWを撮像させる。
【選択図】 図1
Description
【技術分野】
本発明は、検査対象物の表面走査を行ってその対象物の外観を検査するための外観検査装置に関する。
【0002】
【背景技術】
外観検査装置としては、円柱状の検査対象物を所定の撮像位置で回転させながら外周面をカメラで撮像し、撮像した画像を処理して検査対象物の傷を検査するものがある(例えば、特許文献1参照。)。
具体的にいえば、この従来装置では、上記撮像位置が同一方向に回転する2つのドラムの間に設定されており、検査対象物が同位置で自転することで当該位置上方に配置されたカメラが対象物の外周面全周にわたって撮像するようになっていた。また、各ドラムには、外周面の一部に形成された凹部が設けられており、検査対象物は一方のドラム凹部内に挿入された状態で撮像位置まで送られ撮影された後、他方のドラム凹部内に挿入されて同位置から離れるよう移送されていた。
【0003】
【特許文献1】
特開2001−335150号公報(第3頁、第1図)
【0004】
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような従来装置では、ドラム凹部内に検査対象物を挿入して運んでいたので、寸法が異なる検査対象物、ことに凹部のドラム軸方向寸法よりも長尺の検査対象物の外観検査を行うときにはドラムを変更する必要が生じた。また、この従来装置では、カメラの視野寸法が凹部の上記ドラム軸方向寸法にほぼ一致しており、カメラ視野を越える長尺の対象物を検査するときにはカメラ設置数を増やしたり、視野の大きいカメラに交換したりすることも要求された。さらに、この従来装置では、ドラム間の所定位置で検査対象物を撮像していたので、当該対象物はドラムの搬送途中で停止された状態で撮像されることとなり、検査処理の短縮化を図ることが難しかった。
【0005】
上記のような従来の問題点に鑑み、本発明は、カメラ視野を越える検査対象物の外観検査を行うときでも、その検査処理を容易にかつ高速に行うことができるコスト安価な外観検査装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、検査対象物の外観を検査するための外観検査装置であって、
複数の前記検査対象物を所定の搬送方向に搬送する搬送部と、搬送されている前記検査対象物を回転させる回転部と、回転している前記検査対象物の表面を撮像する撮像部と、前記撮像部からの前記検査対象物の撮像画像を用いて当該対象物の外観検査を行う処理部とを備え、
前記処理部は、一つの前記検査対象物についてN個(Nは2以上の整数)の検査領域に分けるとともに、各検査領域において前記撮像部により当該対象物を撮像させることを特徴とするものである。
【0007】
上記のように構成された外観検査装置では、上記搬送部及び回転部により、回転されつつ、搬送されてくる一つの検査対象物に対して、処理部がその検査領域をN個(複数)に分割し、かつ検査領域毎に撮像部により撮像させて当該対象物の撮像画像を得て外観検査を行っている。すなわち、処理部は、撮像部によって一つの検査対象物を複数回撮像しているので、撮像部のカメラ視野を越える長尺の検査対象物の外観検査を行うときでも、上記長尺の対象物についての外観検査を容易に行うことができる。また、搬送途中で検査対象物を停止させて撮像していた上記従来例と異なり、搬送部によって搬送される複数の検査対象物を連続的に処理することから、検査対象物の外観検査の高速化を簡単に行うことができる。
【0008】
また、上記外観検査装置において、前記処理部は、検査対象物についての前記N個の検査領域のうち、隣接する2つの検査領域が一部重複するように当該N個の検査領域を設定することが好ましい。
この場合、検査対象物についての前後2回の撮像動作で得られる撮像画像が常に一部重複することから、処理部は撮像漏れを確実に防いだ状態で当該対象物を撮像させて画像処理することができ、上記長尺の検査対象物の外観検査を行うときでも、その検査精度の低下をより確実に防止することができる。
【0009】
また、上記外観検査装置において、前記検査対象物側の特徴点が所定位置を通過したことを検出して、信号を出力するセンサ部を備え、
前記処理部は、前記センサ部からの出力信号に基づいて、前記撮像部により前記検査対象物を撮像させてもよい。
この場合、処理部がセンサ部からの出力信号を用いることにより、検査対象物の移動状況を正確に把握して、当該対象物の各検査領域が撮像部のカメラ視野(撮像範囲)に達したか否かについて判別することができ、上記各検査領域での撮像画像を適切なタイミングで取り込むことができる。
【0010】
また、上記外観検査装置において、前記検査対象物についての1番目及び2番目の検査領域が、前記撮像部による撮像範囲に到達したことをそれぞれ前記処理部に通知するための信号を出力する2つの前記センサ部を少なくとも備えることが好ましい。
この場合、処理部が上記2つのセンサ部からの信号の入力間隔を検出することにより、処理部は検査対象物の実際の移動(送り)速度をより正確に把握することができ、搬送部及び回転部による検査対象物の送り速度が変動したときでも、処理部はその送り速度の変動に応じて撮像部を駆動して各検査領域での撮像画像を得ることができる。
【0011】
また、上記外観検査装置において、前記検査対象物についての1番目及び2番目の検査領域が、前記撮像部による撮像範囲に到達したことをそれぞれ前記処理部に通知するための信号を出力する2つの前記センサ部を設けるとともに、
前記処理部は、前記2つの各センサ部の出力信号が入力された時点からの経過時間をカウントして、当該対象物についての3番目以降の検査領域に対する前記撮像部による撮像動作を行わせることが好ましい。
この場合、処理部は、上記2つのセンサ部からの信号の入力間隔と上記経過時間のカウント値とを用いることにより、センサ部の設置数を減らしつつ、処理部が検査対象物のより正確な送り速度を把握することが可能となって、コンパクトでさらにコスト安価な検査装置を構成することができる。
【0012】
また、上記外観検査装置において、前記センサ部は、前記特徴点として前記搬送部によって互いに隣接するように搬送される2つの前記検査対象物の端部間を検出することが好ましい。
この場合、特徴点を検査対象物に別途設けることなく、その対象物の外観検査をさらに容易に行うことができる。
【0013】
また、上記外観検査装置において、前記処理部は、前記検査対象物についての1番目の検査領域での撮像画像の始端部がその対象物の前記搬送方向における前端部と一致するように前記撮像部により当該対象物を撮像させてもよい。
この場合、複数の検査対象物の外観検査を連続的に行うときに、処理部で逐次得られる撮像画像のデータが各検査対象物での上記前端部で自動的に区切られることとなり、処理部は検査対象物毎の画像処理を容易に行うことができる。
【0014】
また、上記外観検査装置において、前記処理部は、前記検査対象物についてのN番目の検査領域での撮像画像の終端部がその対象物の前記搬送方向における後端部と一致するように前記撮像部により当該対象物を撮像させることが好ましい。
この場合、複数の検査対象物の外観検査を連続的に行うときに、処理部で逐次得られる撮像画像のデータが複数の検査対象物毎に自動的に区切られることとなり、処理部は検査対象物毎の画像処理をさらに容易に行うことができる。
【0015】
【発明を実施するための最良の形態】
以下、本発明の外観検査装置の好ましい実施形態について図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る外観検査装置の要部構成を模式的に示す図である。図において、本実施形態の外観検査装置1は、ローラ等の円柱状の検査対象物(以下、「ワーク」という)Wを撮像する撮像部2と、この撮像部2による撮像範囲におけるワークWへ光を照射する照明部3と、上記撮像部2によって取り込まれたワークWの画像情報を用いて所定の検査処理を行う処理部としての処理装置4とを備えている。また、外観検査装置1には、複数の上記ワークWを一列に整列させた状態で、所定の搬送方向Fに搬送する搬送部5と、この搬送部5の下流側に連続するよう設置され、搬送部5からのワークWを回転させる回転部6とが設けられており、この回転部6の上方に配置された上記撮像部2の下方を、図に例示するようにワークWの軸心方向Xに並べた5個のワークW0,W1,W2,W3,W4が順次通り抜けるスルーフィード方式となっている。
【0016】
上記搬送部5には、ワークWに当接して支持するようワーク下側に配置されたワーク搬送ベルト8と、このベルト8とでワークWを挟んだ状態でワーク上側に接して搬送方向FにワークWを押し出すワーク押出ローラ9とが設けられており、これらベルト8及びローラ9の回転によってワークWは撮像部2による撮像範囲へ向けて送り出される。
また、搬送部5は、ワークWを止めることなくほぼ一定の速度で連続的に送るようになっており、ワークWが撮像部2の撮像範囲に来ても、ワークWは停止せず、常時移動して撮像範囲を通り抜ける。このため、ワークWは撮像範囲を次々に通過して効率よく検査をすることができる。
【0017】
上記回転部6は、搬送部5から送られてきたワークWをその軸心回りに回転させるものであり、軸心がワークWの軸心方向Xと同方向に向けられた一対のワーク回転ローラ10,10を備えている。一対の回転ローラ10,10は、水平方向に並置されており、同方向に回転駆動される。ワークWは、搬送部5によって一対の回転ローラ10,10上に押し出され、回転ローラ10,10の回転によって所定方向に回転する。また、回転ローラ10,10上に押し出されたワークWは、後方のワークWによって搬送方向Fに押されることで、回転ローラ10,10を搬送方向Fに向いて移動する。すなわち、ワークWは、回転部6において、軸心回りに回転しながら搬送方向Fに移動し、かつ撮像部2下方の上記撮像範囲を通過する。
【0018】
上記撮像部2は、例えば2048個の撮像素子(CCD)を一列に並べたラインセンサカメラを用いて構成されたものであり、そのCCDの配列方向が上記搬送方向Fと平行になるよう一対の回転ローラ10,10間に設定された撮像位置上方に配置されている。この撮像部2では、そのカメラ視野(つまり、上記撮像範囲)が80mm程度となるように回転部6での上記撮像位置にあるワークWからの高さ寸法などが選択されており、撮像部2が所望の解像度でワーク表面を撮影可能となっている。また、この撮像部2では、その一列のCCDが搬送方向Fの上流側から下流側に向かう方向で上記軸心方向Xに沿って、照明部3の照明光にて所定の明るさで照らされたワークWの外周面を順次走査する主走査を行うようになっている。また、この主走査を行うことにより、撮像部2では、各CCDがワーク外周面での濃淡の程度を例えば256階調に段階分けした8ビットの画像データを上記処理装置4に出力しており、1回の主走査に応じた線状画像が処理装置4に逐次入力される。
【0019】
また、撮像部2では、上記主走査を繰り返し行うようになっており、ワークWの回転に伴い、ワークWの周方向に異なる位置を走査する副走査が行われる。この副走査を行うことにより、ワークWが1回転するとワークW外周面を展開した2次元画像(展開外周面の撮像画像)が得られる。具体的にいえば、ワークWが1回転したときの1周相当分以上の展開外周面の撮像画像は、L回の主走査を実施することで取得されるL個の上記線状画像によって構成されるようになっている。また、この主走査の実施回数Lは、ワークWの外周(検査)寸法と所望の走査間隔に基づいて決定され、搬送部5及び回転部6による回転速度とワークWに対する搬送方向F方向での送り速度などはそれが実現されるべく調整されている。尚、ワークWが回転とともに搬送方向Fへ移動しているために取得した展開外周面の画像はF方向へ傾いたものとなっているが、上記処理装置4が画像の座標変換などで必要に応じて傾きを補正すればよい。
【0020】
また、外観検査装置1では、上記処理装置4はワークW0〜W4毎に、つまり一つのワークWについて上記L回の主走査による撮像動作によって撮像される検査領域を例えば4個設定するとともに、これらの4個の検査領域において各々連続する2個の検査領域が一部重複するよう当該4個の検査領域を定め、一つのワークWに対し撮像部2による上記撮像動作を4回実施させて、上記4個の検査領域でワークW全体(全外周面)をカバーするようにしている。尚、これら4個の検査領域では、同一の主走査回数Lが割り当てられているので、各検査領域でのワーク外周面の検査(撮像)面積は互いに等しい面積に設定されている。
また、外観検査装置1では、搬送されているワークWの上方に配置されて、ワークW側の特徴点が搬送路上の所定位置X1,X2,X3,及びX4をそれぞれ通過するのを検出して処理装置4に信号(画像取込開始のトリガ信号)を出力する4つのセンサ部12−1,12−2,12−3,及び12−4(以下、“12”で総称する)が設けられている。そして、処理装置4が、これらセンサ部12からの各出力信号を用いることにより、処理装置4は、上記4個の各検査領域に対する撮像部2での撮像動作の開始を正確に決定して、当該撮像部2からの撮像画像の取込処理を適切なタイミングで行えるようになっている。これにより、外観検査装置1では、後に詳述するように、撮像部2のカメラ視野を越える長尺のワークWに対しても、その正確な外観検査を容易に行うことができる。
【0021】
上記センサ部12−1〜12−4では、その設置数は一つのワークWに対する検査領域の設定数と同じ数が選択されており、センサ部12−1〜12−4は上記搬送方向Fに沿って一列に並べられている。また、各センサ部12は、上記特徴点として搬送方向Fで隣接する2つのワークWの端部間を検出するようになっており、この端部間が対応する検出位置X1〜X4を通過したことを検出したときに処理装置4に信号を出力する。
詳細にいえば、各センサ部12には、光等の検出波をワークWに向かって照射し、その反射波を入力することで、上記特徴点の通過を検出可能な光電管などのセンサが使用されている。また、上記各ワークWにはその軸心方向Xの両端部に0.5R程度の面取部(角落とし部)が設けられており、各センサ部12はこの面取部と搬送方向F両側の面取部間に存在するワーク外周面での平坦な部分との微細な距離変化を検知することにより、搬送路上で撮像対象のワークW1に続けて搬送される撮像部2の撮像範囲外の2つのワークW2,W3の端部間を検出して上記トリガ信号を出力する。
【0022】
また、上記4つのセンサ部12−1〜12−4は、一つのワークWを均等に分割した上記4個の検査領域に応じて互いに等間隔に配置されたものであり、センサ部12−1〜12−4は、撮像部2によって撮像されるワークW1に後続するワークW2とW3との端部間が対応する検出位置X1〜X4を通過するのを検出している。また、センサ部12−1〜12−4の各間隔寸法は、ワークWの上記送り速度などに基づきワークWが1回転したときの上記1周相当分の展開外周面の撮像画像が取得されるように決定されている。これにより、上記処理装置4では、上記ワークW1の1〜4番目の検査領域が撮像部2の撮像範囲(カメラ視野)に到達したことを判別できるとともに、各検査領域で1周相当分の撮像画像を確実に取得できるようになっている(詳細は後述)。
尚、各センサ部12−1〜12−4は、図示を省略した支持部材によって搬送方向Fに移動可能で着脱自在に支持されており、検査領域の設定数などを変えることが要求されるワークの変更などの際に、対応する検出位置X1〜X4の調整や設置数の増減を容易に行えるようになっている。
【0023】
上記処理装置4は、図2を参照して、汎用的なパーソナルコンピュータを用いて構成されたものであり、CPUやこのCPUに接続される画像処理ボートを含んで構成された演算部4aと、ワークWの外観検査、例えばワーク外周面での傷等の有無を判別する欠陥検出処理を行うためのプログラム等を記憶するHDDやフラッシュメモリディスクなどの記憶装置4bと、上記演算部4aの指示に従って情報(撮像部2からの撮像画像を含む。)の表示を行う表示部4cとを備えている。また、この処理装置4には、外部との間で信号やプログラムなどのデータを入出力するデータ入出力部4d、及び撮像部2から逐次送られてくる画像データを漸次記憶するバッファメモリとしての2つの画像メモリ4e,4fが設けられており、後に詳述するように、演算部4aは撮像部2からの撮像画像のデータ取込処理と欠陥検出処理などの画像処理とを並列的に行えるようになっている。
【0024】
ここで、図3及び図4も参照して、上記のように構成された外観検査装置1の動作について具体的に説明する。
図3(a)に示すように、時点T1においては、撮像部2の撮像範囲には、ワークW1の前端部に設定された1番目の検査領域A1が到達している。また、この時点T1では、上記ワークW1の次のワークW2はその後続のワークW3との端部間がセンサ部12−1の下方に設定された検出位置X1に達しており、当該センサ部12−1は検査領域A1が撮像範囲内に入ったことを知らせる通知信号としてのトリガ1信号を処理装置4に出力する。そして、処理装置4では、検査領域A1に対する撮像部2での上記L回の主走査を含んだ1回目の撮像動作に応じて、その領域A1の撮像画像が撮像部2から当該処理装置4に送られる。
また、上記検査領域A1に対する撮像動作中も搬送路上の全ワークW0〜W4は搬送方向Fに移動されているので、時点T2においては、図3(b)に示すように、撮像部2の撮像範囲には、前端部が検査領域A1の後端部と重複した検査領域A2が到達している。このとき、ワークW2とW3との端部間はセンサ部12−2の下方に設定された検出位置X2に達しており、当該センサ部12−2は検査領域A2が撮像範囲内に入ったことを知らせる通知信号としてのトリガ2信号を処理装置4に出力する。そして、処理装置4では、検査領域A2に対する撮像部2での2回目の撮像動作に応じて、その領域A2の撮像画像が撮像部2から当該処理装置4に送られる。
【0025】
続いて、図3(c)に示すように、時点T3においては、撮像部2の撮像範囲には、前端部が検査領域A2の後端部と重複した検査領域A3が到達している。このとき、ワークW2とW3との端部間はセンサ部12−3の下方に設定された検出位置X3に達しており、当該センサ部12−3は検査領域A3が撮像範囲内に入ったことを知らせる通知信号としてのトリガ3信号を処理装置4に出力する。そして、処理装置4では、検査領域A3に対する撮像部2での3回目の撮像動作に応じて、その領域A3の撮像画像が撮像部2から当該処理装置4に送られる。
そして、図3(d)に示すように、時点T4においては、撮像部2の撮像範囲には、前端部が検査領域A3の後端部と重複した検査領域A4が到達している。このとき、ワークW2とW3との端部間はセンサ部12−4の下方に設定された検出位置X4に達しており、当該センサ部12−4は検査領域A4が撮像範囲内に入ったことを知らせる通知信号としてのトリガ4信号を処理装置4に出力する。そして、処理装置4では、検査領域A4に対する撮像部2での4回目の撮像動作に応じて、その領域A4の撮像画像が撮像部2から当該処理装置4に送られて、ワークW1の全外周面の画像データが漏れなく取得される。
その後、図3(e)及び(f)に示すように、時点T5及びT6において、ワークW2に対する1回目及び2回目の撮像動作が、上記時点T1及びT2でのワークW1の場合と同様に、センサ部12−1及び12−2からの出力信号に従って順次行われて、処理装置4でのワークW2の外観検査が連続的に行われる。
【0026】
また、図4に示すように、処理装置4では、上記トリガ1〜4信号に応じた撮像部2からの撮像画像の画像取込処理1〜4と、演算部4aでの欠陥検出処理1〜4とが並列的に実施されている。詳細には、トリガ1信号が時点T1でセンサ部12−1から演算部4aに出力されると、ワークW1に対する1回目の画像取込処理1が行われて、検査領域A1の画像データが撮像部2からデータ入出力部4dを介して一方の画像メモリ4eに順次格納される。その後、センサ部12−2から演算部4aに時点T2でトリガ2信号が入力されると、当該演算部4aは上記メモリ4e内の画像データを用いた欠陥検出処理1を記憶装置4b内のプログラムに従って実行する。この欠陥検出処理1では、検査領域A1での上記256階調の各画像データを画質改善処理後所定の階調(閾値)との比較を行うことによって画素単位に“0”または“1”の2値化データを求めている。そして、演算部4aは、“0”または“1”のデータ数、データの固まりの大きさや形状などに基づいて、傷等の有無が検査領域A1に存在するか否かについて判定する判定処理1を行う。尚、この説明以外に、例えばメモリ4e内の画像データを予め記憶装置4bに格納した良品画像の画像データと画素単位に比較(パターンマッチング)することにより、欠陥の有無を検出してもよい。
【0027】
また、トリガ2信号が時点T2で演算部4aに出力されているので、他方の画像メモリ4fには、ワークW1に対する2回目の撮像動作で得られた検査領域A2の画像データが撮像部2からデータ入出力部4dを介して順次記憶されて、画像取込処理2が上記欠陥検出処理1と並列的に行われる。
続いて、センサ部12−3から演算部4aに時点T3でトリガ3信号が入力されると、当該演算部4aは上記メモリ4f内の画像データに対して、上記検出処理1及び判定処理1と同一の欠陥検出処理2及び判定処理2を行い、検査領域A2の画像データを処理して、当該領域A2での欠陥の有無等を判定する。また、欠陥検出処理2の開始とともに、画像メモリ4eには、ワークW1に対する3回目の撮像動作で得られた検査領域A3の画像データが撮像部2からデータ入出力部4dを介して順次送られ、当該メモリ4e内で検査領域A1の画像データを上書きする画像取込処理3が上記検出処理2と並列的に行われる。
【0028】
次に、センサ部12−4から演算部4aに時点T4でトリガ4信号が入力されると、当該演算部4aは上記メモリ4e内の画像データに対して、上記検出処理1及び判定処理1と同一の欠陥検出処理3及び判定処理3を行い、検査領域A3の画像データを処理して、当該領域A3での欠陥の有無等を判定する。また、欠陥検出処理3の開始とともに、画像メモリ4fには、ワークW1に対する4回目の撮像動作で得られた検査領域A4の画像データが撮像部2からデータ入出力部4dを介して順次送られ、当該メモリ4f内で検査領域A2の画像データを上書きする画像取込処理4が上記検出処理2と並列的に行われる。
その後、ワークW2に対するトリガ1信号が時点T5で演算部4aに入力されると、当該演算部4aは上記メモリ4f内の画像データに対して、上記検出処理1及び判定処理1と同一の欠陥検出処理4及び判定処理4を行い、検査領域A4の画像データを処理して、当該領域A4での欠陥の有無等を判定する。さらに、演算部4aは、上記判定処理1〜4の結果に基づきワークW1に対する総合的な判定処理を行う。より具体的には、演算部4aは判定処理1〜4のいずれか一つの結果が外観不良と判定しているときにはワークW1を不良品と判断し、それ以外の場合には当該ワークW1を良品と判断する。
【0029】
また、上記欠陥検出処理4の開始とともに、画像メモリ4eには、ワークW2に対する1回目の撮像動作で得られた検査領域A1の画像データが撮像部2からデータ入出力部4dを介して順次送られ、当該メモリ4e内でワークW1の画像データを上書きする画像取込処理1が上記検出処理4と並列的に行われる。以降、同様な並列的な画像処理が、ワークW2,W3・・に対して実施され、各ワークWの外観検査が連続して実行される。
【0030】
以上のように構成された本実施形態では、撮像部2のカメラ視野を越える長尺のワーク(検査対象物)Wに対して、処理装置(処理部)4が4個に分けた検査領域A1〜A4を設定して、検査領域A1〜A4毎に、撮像部2による上記撮像動作を行わせている。また、処理装置4は一列に整列させた複数の各ワークWを搬送部5及び回転部6にて搬送させつつ回転させることにより、各ワークWの外周面全面の撮像画像を取得している。この結果、搬送途中で検査対象物を停止させ撮像していた上記従来例と異なり、上記のような長尺のワークWの外観検査を行うときでも、撮像部2でのカメラ設置数を増加したり、カメラ視野を大きくしたりすることなく、当該ワークWについての外観検査の高速化を簡単に行うことができる。
【0031】
また、本実施形態では、処理装置4は検査領域A1とA2、A2とA3、A3とA4が各々一部重複するよう定めて、検査領域A1〜A4毎に、撮像部2による上記撮像動作を行わせている。従って、ワークWの連続的な撮像画像が常に一部重複しており、長尺のワークWについての外観検査を行うときでも、撮像漏れに起因する検査ミスの発生を確実に防いで当該ワークWについての正確な外観検査を容易に行うことができる。
【0032】
尚、上記の説明では、ワークWを4個の検査領域A1〜A4に分けて撮像する構成について説明したが、本発明は複数のワーク(検査対象物)を搬送部によって搬送しつつ、回転部により回転させた検査対象物を撮像部により撮像させるとともに、一つの検査対象物についてその検査領域をN個(Nは2以上の整数)に分けて、各検査領域において撮像部により当該対象物を撮像させるものであればよく、検査領域の設定数などは上記のものに何等限定されない。
【0033】
また、上記の説明では、各検査領域が同一となるようワークWの検査面を均等に分割した場合について説明したが、大きさが異なる検査領域や後続のワークWに跨るような検査領域を設定する構成でもよい。但し、図3に示したように、上記検査領域A1での撮像画像の始端部がワークW1の搬送方向における前端部と一致するように撮像部2によるワーク撮像を行わせることにより、処理装置4で逐次得られる撮像画像のデータを上記前端部で自動的に区切ることができ、当該処理装置4での画像処理の負荷軽減を行える点で好ましい。さらに好ましくは、同図に示したように、上記検査領域A4での撮像画像の終端部がワークW1の搬送方向における後端部と一致するように撮像部2によるワーク撮像を行わせることにより、撮像画像のデータはワークW毎に自動的に区切られて、処理装置4での処理負荷をさらに軽減して容易に行うことができる。
【0034】
また、上記の説明では、ワークWについての検査領域の設置数と同数のセンサ部12を用いた構成について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば処理装置4の演算部4aが、上記センサ部12−1及び12−2の各出力信号が入力された時点からの経過時間をカウントする構成でもよい。このように上記入力時点からの経過時間をカウントする場合には、上記4回の撮像動作のうち、1回目及び2回目の撮像動作をセンサ部12−1及び12−2の出力信号を基に行わせるとともに、上記経過時間のカウント値に従って演算部4aが上記2つの出力信号の入力間隔を算出し、この入力間隔に応じて、3回目及び4回目の撮像動作を行わせることが可能となる。これにより、上記センサ部12−3及び12−4の設置を省略することができ、かつ処理装置4は上記入力間隔を基にワークWの正確な送り速度を把握することが可能となって、コンパクトでさらにコスト安価な外観検査装置を構成することができる(図5参照)。さらに、一定の送り速度にて上記搬送方向FにワークWを常に回転・搬送できる場合には、センサ部を設けることなくワークWに対する外観検査を実施することも可能である。
【0035】
また、上記の説明では、搬送部5と回転部6とを別々の機構によって構成した場合について説明したが、ワークWの搬送機能と回転機能とを一体化した単一の機構によって構成してもよい。また、上記ワーク搬送ベルト8及びワーク押出ローラ9を有する搬送部5に代えて、搬送部5は、左右からワークWを挟み込んで回転することによりワークWを送り出す一対のローラを備えたものでもよい。また、共に回転する一対の回転ローラ10,10を備えた回転部6について説明したが、回転部6はワークWを強制的に回転させるものであればよく、一方のローラのみが回転することにより、ワークWを回転させるものでよい。
また、撮像部2に関しては、ラインセンサカメラ以外のものであってもよく、例えば2次元画像が得られるカメラであってもよい。
【0036】
また、上記の説明では、搬送部5上方のセンサ部12が撮像部2により撮像されるワークW1に後続するワークW2とW3との端部間を検出して信号を出力する構成について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、センサ部が例えば端部に形成された溝や穴、刻印等のワーク本来的な構造、あるいは塗料等のワークWに施された所定のマーキングを検出する構成でもよい。また、回転部6により回転させられているワーク側の特徴点を検出してもよい。但し、ワークWにマーキングを施す場合に比べて上記端部間を特徴点として検出する場合の方が、特徴点をワークWに別途設けることなく、そのワークWの外観検査をさらに容易に行える点で好ましい。
【0037】
【発明の効果】
本発明によれば、カメラ視野を越える長尺の検査対象物に対しても、その搬送の停止を行うことなく当該対象物についての複数の検査画像を取得して画像処理することができるので、カメラ数の増加などを行うこなく上記長尺の検査対象物についての外観検査を容易にかつ高速に行うことができ、コスト安価な外観検査装置を構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る外観検査装置の要部構成を模式的に示す図である。
【図2】図1に示した処理装置の具体的な構成例を示すブロック図である。
【図3】(a)〜(f)は、上記外観検査装置での画像取込処理の動作例を時系列的に示した図である。
【図4】上記外観検査装置での画像取込処理及び欠陥検出処理の並列タイムチャートである。
【図5】(a)〜(f)は、別の実施形態に係る外観検査装置での画像取込処理の動作例を時系列的に示した図である。
【符号の説明】
1 外観検査装置
2 撮像部
4 処理装置(処理部)
5 搬送部
6 回転部
12−1〜12−4 センサ部
W0〜W4 ワーク(検査対象物)
Claims (8)
- 検査対象物の外観を検査するための外観検査装置であって、
複数の前記検査対象物を所定の搬送方向に搬送する搬送部と、
搬送されている前記検査対象物を回転させる回転部と、
回転している前記検査対象物の表面を撮像する撮像部と、
前記撮像部からの前記検査対象物の撮像画像を用いて当該対象物の外観検査を行う処理部とを備え、
前記処理部は、一つの前記検査対象物についてN個(Nは2以上の整数)の検査領域に分けるとともに、各検査領域において前記撮像部により当該対象物を撮像させることを特徴とする外観検査装置。 - 前記処理部は、検査対象物についての前記N個の検査領域のうち、隣接する2つの検査領域が一部重複するように当該N個の検査領域を設定することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
- 前記検査対象物側の特徴点が所定位置を通過したことを検出して、信号を出力するセンサ部を備え、
前記処理部は、前記センサ部からの出力信号に基づいて、前記撮像部により前記検査対象物を撮像させることを特徴とする請求項1または2に記載の外観検査装置。 - 前記検査対象物についての1番目及び2番目の検査領域が、前記撮像部による撮像範囲に到達したことをそれぞれ前記処理部に通知するための信号を出力する2つの前記センサ部を少なくとも備えることを特徴とする請求項3に記載の外観検査装置。
- 前記検査対象物についての1番目及び2番目の検査領域が、前記撮像部による撮像範囲に到達したことをそれぞれ前記処理部に通知するための信号を出力する2つの前記センサ部を設けるとともに、
前記処理部は、前記2つの各センサ部の出力信号が入力された時点からの経過時間をカウントして、当該対象物についての3番目以降の検査領域に対する前記撮像部による撮像動作を行わせることを特徴とする請求項3または4に記載の外観検査装置。 - 前記センサ部は、前記特徴点として前記搬送部によって互いに隣接するように搬送される2つの前記検査対象物の端部間を検出することを特徴とする請求項3〜5のいずれかに記載の外観検査装置。
- 前記処理部は、前記検査対象物についての1番目の検査領域での撮像画像の始端部がその対象物の前記搬送方向における前端部と一致するように前記撮像部により当該対象物を撮像させることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の外観検査装置。
- 前記処理部は、前記検査対象物についてのN番目の検査領域での撮像画像の終端部がその対象物の前記搬送方向における後端部と一致するように前記撮像部により当該対象物を撮像させることを特徴とする請求項7に記載の外観検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003191274A JP4252381B2 (ja) | 2003-07-03 | 2003-07-03 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003191274A JP4252381B2 (ja) | 2003-07-03 | 2003-07-03 | 外観検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005024431A true JP2005024431A (ja) | 2005-01-27 |
JP4252381B2 JP4252381B2 (ja) | 2009-04-08 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4252381B2 (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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