JP2004354282A - Magnetic flux leakage flaw detection apparatus - Google Patents
Magnetic flux leakage flaw detection apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004354282A JP2004354282A JP2003153956A JP2003153956A JP2004354282A JP 2004354282 A JP2004354282 A JP 2004354282A JP 2003153956 A JP2003153956 A JP 2003153956A JP 2003153956 A JP2003153956 A JP 2003153956A JP 2004354282 A JP2004354282 A JP 2004354282A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic flux
- magnetic
- sensor
- flaw detection
- flux leakage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁性材、特に薄鋼板(薄板)を製造するラインに設置して被探傷材の内部欠陥、表面欠陥を探傷する漏洩磁束探傷装置に関し、特に、漏洩磁束を検出する磁気センサの感度校正を簡便かつ高精度に行うことを可能とする。
薄板の探傷に用いる磁気センサは、一般に、複数の磁気センサを連続して配置して、薄板を磁気センサに対して相対的に移動させながら広い面積の探傷を可能とするように構成される。本発明は、この複数個の磁気センサ(検出素子)を容易に感度校正することを可能とする。
【0002】
【従来の技術】
ブリキ、亜鉛鉄板、表面処理鋼板等の薄板を製造するラインにおいては、漏洩磁束式の探傷装置の導入が進みつつある(特許文献1等参照)。
漏洩磁束探傷の原理を図7に基づいて説明する。
図7に示すように、被探傷材である薄板1に直流励磁を掛けて薄板1内の内部欠陥3からの磁束7を飽和状態にし、当該欠陥による磁束7の乱れ(この乱れは、主に磁気抵抗の違いによって発生するものであることが知られている。)から漏れ出てくる磁束7を、磁気感知面11a を薄板に対向させて配置した磁気電気変換素子、すなわち、磁気センサ11にて電気信号に変換して検出する(特許文献1、特許文献2等参照)。
【0003】
次に、薄板に適用される漏洩磁束探傷装置の代表的な例を、図8に基づいて説明する。
図8において、被探傷材である薄板1が、非磁性ロール2に巻回して搬送されている。
非磁性ロール2上には、励磁コイル5を具備する磁化ヨーク6が配置され、搬送されている薄板1を励磁し、漏洩磁束を発生させる。そして、この漏洩磁束を磁気センサ11で検出し、薄板の欠陥検出を行う。なお、磁気センサ11は、図8の紙面に鉛直方向(すなわち、薄板の幅方向)に多数配置されており、薄板1の全面の探傷をカバーしている。例えば、幅500mm 程度の冷延鋼板ラインに設置する漏洩磁束探傷装置の場合、幅方向に300 個を超える磁気センサが配置される。なお、励磁コイル5を具備する磁化ヨーク6と磁気センサ11を一体化して磁気センサヘッド10が構成されている。
【0004】
磁気センサ11で検出した信号の出力である検出信号は、アンプ12で増幅されてさらに検査信号として出力され、その検査信号を入力として欠陥判定手段13において欠陥判定がなされる。
ところで、多数の磁気センサを備えた漏洩磁束探傷装置を使用するにあたっては、定期的に各センサの感度の変化を確認し調整する校正作業が必要になる。この感度校正には、検出対象の実際の欠陥サンプルを用いるか、もしくは、同等な検査出力となるような模擬サンプル、もしくは模擬的な磁気入力が用いられ、これらの模擬的な入力に基づいて、各センサの感度確認とゲイン調整を実施する。従来の感度調整方法や、感度調整機能を具備する装置には以下に示すものがあり、それぞれ既に実用化されている。
(1)検出素子(磁気センサ)の非磁気感知面11b 側に、一定交流磁界を発生するコイルと交流電源を配置し、そのコイルの磁界によって得られる検査出力が一定となる感度に調整する(特許文献3参照)。
(2)検出素子(磁気センサ)に磁界を発生する校正コイル(銅線)を巻き、そのコイルの磁界によって得られる検査出力が一定となる感度に調整する(特許文献4参照)。
(3)磁気センサの磁気感知面11a 側近傍に検査対象と同等な漏洩磁束を発生する疵サンプルを検査速度と同じ速度で移動、もしくは回転させるオフラインの感度校正装置を配置し、その疵サンプルによって得られる検査出力が一定となるように感度調整する(特許文献5参照)。なお、疵サンプルは、自然欠陥や同等の検査出力となる人工欠陥、例えば、ドリル穴や凹疵を用いる。また、人口疵に替えて磁性金属線を用いる検定方法も実用化されている(特許文献6参照)。
(4)感度校正用の校正ロールの表面に校正磁気発生装置を埋め込み、当該ロールを回転させながら模擬磁界を発生させ、装置のゲインを調整する(特許文献7参照)。
【0005】
【特許文献1】
特開昭56−61645号公報
【特許文献2】
特開2002−195984 号公報
【特許文献3】
特開平3 −134555号公報
【特許文献4】
特開平5 −10926 号公報
【特許文献5】
特開平11−108899 号公報
【特許文献6】
特開昭58−135954号公報
【特許文献7】
特開平11−211698号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記(1)のように検出素子(磁気センサ)の磁気感知面11a 側に校正用のコイルを配するためには、探傷装置をオフライン側に移動する必要がある。
上記(2)では、一列に配置した多数の検出素子(磁気センサ)のそれぞれに校正コイル(銅線)を巻くことから、構造が複雑になり、また、校正コイルの分だけ個々の磁気センサを離間させる必要があり、不感帯が生じて検出能が低下する恐れがある。
【0007】
上記(3)と(4)では、探傷装置をオフライン側に移動し、かつ、校正のための大がかりなオフライン設備を用意しておく必要がある。
また、探傷装置は、できるだけ短時間に校正を行い、操業に復帰させる必要があることから、装置の移動や脱着、あるいは、校正に要する作業時間を短縮する必要がある。
【0008】
本発明は、探傷装置をオフライン側に移動させることなく、オンライン位置で短時間に感度校正を行うことを可能とする漏洩磁束探傷装置を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明は、磁性材に適用する漏洩磁束探傷装置であって、磁気センサの非磁気感知面側に、磁性材からの漏洩磁束を模した磁束を発生することのできる導線を具備してなることを特徴とする漏洩磁束探傷装置によって上記課題を解決した。
また、本発明は、上記の漏洩磁束探傷装置において、前記導線が、電流方向が互いに異なる導線対であることを好適とするものである。
【0010】
【発明の実施の形態】
本発明の感度校正機能を具備してなる漏洩磁束探傷装置の好適な実施の形態を図1に基づいて説明する。なお、図9において説明した従来の漏洩磁束探傷装置と同一の部材には同一の番号を付し、再度の説明を省略する。また、図1では、薄板1を巻きつけてなる非磁性ロール2の記載を省略しているが、非磁性ロール2は本発明に必須のものではない。
【0011】
本発明の図1に示す実施形態では、磁性材(薄板1)の幅方向に多数配設してなる磁気センサ11の非磁気感知面11b に、感度校正用として磁性材からの漏洩磁束を模した磁束を発生する導線15を具備してなることを特徴とする。非磁気感知面11b 側に校正装置の要部を構成する感度校正用の導線を配置することにより、磁気感知面11a 側にある、薄板1や非磁性ロール2との干渉をさけるために探傷装置をオフライン側に退避することなく校正ができるようになる。
【0012】
この導線15は、磁気センサ11の非磁気感知面11b 側に並行し、電流方向が互いに異なる導線対であることを好適とする。特に、磁気センサ11が、薄板1の幅方向に一列に並設されてなり、導線15が、一列に並設された当該磁気センサ11に並行してなる1対の平行導線である1ターンコイルであることを好適とする。
このように、1ターンコイルの平行導線としてなる導線15を配することで図2に示す磁束20が生じ、その磁束20が磁気センサ11を垂直に横切ることになる。そして、磁気センサ11を横切る磁束20は、導線15に流す電流を調整することで、欠陥に起因して発生する漏洩磁束を検知する磁気感知面11a 側での感知レベルと同等のレベルに調整することは容易である。
【0013】
なお、導線15を2ターン以上のコイルとして配置してもよいことは言うまでもないが、構造が複雑となる。
すでに説明したように、漏洩磁束探傷装置を冷延鋼板ラインに設置する場合、磁気センサ11のチャネル数は幅方向に300 を超えることになる。そのため、通常は、図3あるいは図5に示すように20個程度のセンサを1つのセンサブロック17に集約し、そのセンサブロック17をセンサホルダ18に装着する工夫がなされている。ここで、センサブロック17には、磁気センサ11に接続した接続ピン17a を設けておき、その接続ピン17a をセンサホルダ18の接続孔18a に挿入する。なお、接続孔18a はアンプ12に接続されている。
【0014】
なお、図4に示すようように、センサブロック17内の磁気センサ11の磁気感知面11a と反対側の裏面近傍に導線15を埋め込んでおくと、導線15と薄板1等との干渉による、導線の変形等に起因する故障を避けることができる。ただし、この場合、センサブロック17間で導線15を互いに接続することが必要となる。
また、磁気センサ11の非磁気感知面11b 側に導線15を図5に示すように引き回しても、個々の磁気センサに対しては、すでに説明した実施形態と同等の1ターンコイルとして機能する。さらに、各磁気センサに対して個別に、非磁気感知面11b 側に校正用の導線を個別に配置してもよいことは明らかである。
【0015】
本発明において、導線15に入力する模擬信号は、実際の欠陥がオンラインで通過するときの時間/信号強度プロファイルを入力するとよい。また、入力電圧(あるいは電流)の波高値を任意に選択することで種々の欠陥を模することができる。
一例として、入力する模擬信号を図6(a)に示す。図は100msec ごとに2msecの欠陥に相当する信号が入力する場合を模している。信号強度は、1Aである。模擬信号の波形は、再現が容易でかつ発生させやすい矩形波(図6(a))や半波の正弦波とすることを好適とする。図6(b)は、磁気センサから信号強度2Vの検出信号を得る様子を示す。そして、この検出信号を目標の検査信号の強度に合わせる様にアンプのゲインを調整することで容易に高精度に感度の校正をおこなうことができる。
【0016】
【発明の効果】
本発明によって、探傷装置をオフラインに引き出す必要もなくなった。また、300 個を超える多数の磁気センサの感度校正をほぼ同時に実施することができ、感度校正に要する時間を大幅に短縮することができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の感度校正機能を具備した漏洩磁束探傷装置の構成を示す模式図(a)と、そのA−A視図(b)である。
【図2】本発明の感度校正機能を適用した場合の磁束分布を示す模式図である。
【図3】漏洩磁束探傷装置における感度校正用導線の配置例を示す模式図である。
【図4】感度校正用導線をセンサホルダに組み込んで配置した一例を示す模式図である。
【図5】センサホルダに組み込んだ感度校正用導線の別の配置例を示す模式図である。
【図6】感度校正用導線に入力する模擬信号の好適例(a)と、その場合のセンサからの検出信号(b)を示す時間/信号強度プロファイルの模式図である。
【図7】漏洩磁束探傷の原理説明図である。
【図8】漏洩磁束探傷装置の代表的な例を示す模式図である。
【符号の説明】
1 薄鋼板(薄板)
2 非磁性ロール
3 内部欠陥
5 励磁コイル
6 磁化ヨーク
7 漏洩磁束
10 磁気センサヘッド
11 磁気センサ
11a 磁気感知面
11b 非磁気感知面
12 アンプ(増幅器)
13 欠陥判定手段
15 コイル導線
17 センサブロック
17a 接続ピン
18 センサホルダ
18a 接続孔
20 磁束[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a leakage magnetic flux inspection apparatus that is installed in a line for manufacturing a magnetic material, particularly a thin steel plate (thin plate), and detects an internal defect and a surface defect of a material to be detected, and in particular, a sensitivity of a magnetic sensor for detecting leakage magnetic flux. Calibration can be performed easily and with high accuracy.
In general, a magnetic sensor used for flaw detection on a thin plate is configured such that a plurality of magnetic sensors are continuously arranged so that flaw detection over a wide area is possible while moving the thin plate relative to the magnetic sensor. The present invention makes it possible to easily calibrate the sensitivity of the plurality of magnetic sensors (detecting elements).
[0002]
[Prior art]
In a line for producing a thin plate such as a tin plate, a galvanized iron plate, a surface-treated steel plate, etc., introduction of a leakage magnetic flux type flaw detection apparatus is proceeding (see Patent Document 1).
The principle of leakage magnetic flux flaw detection will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 7, direct current excitation is applied to the
[0003]
Next, a typical example of a leakage magnetic flux flaw detector applied to a thin plate will be described with reference to FIG.
In FIG. 8, a
A
[0004]
A detection signal which is an output of the signal detected by the
By the way, when using a leakage magnetic flux flaw detector having a large number of magnetic sensors, it is necessary to perform a calibration work for periodically checking and adjusting changes in sensitivity of each sensor. For this sensitivity calibration, an actual defect sample to be detected is used, or a simulated sample or a simulated magnetic input that provides an equivalent inspection output is used. Based on these simulated inputs, Check the sensitivity of each sensor and adjust the gain. Conventional sensitivity adjustment methods and apparatuses having a sensitivity adjustment function include the following, which have already been put into practical use.
(1) A coil that generates a constant AC magnetic field and an AC power source are arranged on the
(2) A calibration coil (copper wire) that generates a magnetic field is wound around the detection element (magnetic sensor), and the inspection output obtained by the magnetic field of the coil is adjusted to a constant sensitivity (see Patent Document 4).
(3) An off-line sensitivity calibration device is arranged in the vicinity of the
(4) A calibration magnetism generator is embedded on the surface of a calibration roll for sensitivity calibration, a simulated magnetic field is generated while rotating the roll, and the gain of the apparatus is adjusted (see Patent Document 7).
[0005]
[Patent Document 1]
JP-A-56-61645 [Patent Document 2]
JP 2002-195984 A [Patent Document 3]
JP-A-3-134555 [Patent Document 4]
JP-A-5-10926 [Patent Document 5]
JP-A-11-108899 [Patent Document 6]
JP-A-58-135954 [Patent Document 7]
Japanese Patent Laid-Open No. 11-2111698 [0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, in order to arrange the calibration coil on the
In the above (2), the calibration coil (copper wire) is wound around each of a large number of detection elements (magnetic sensors) arranged in a row, so that the structure becomes complicated. It is necessary to separate them from each other, and there is a possibility that a dead zone occurs and the detection ability is lowered.
[0007]
In the above (3) and (4), it is necessary to move the flaw detection apparatus to the off-line side and prepare a large off-line facility for calibration.
In addition, since the flaw detection apparatus needs to be calibrated in as short a time as possible and returned to operation, it is necessary to reduce the work time required for the movement and detachment of the apparatus or for calibration.
[0008]
The present invention provides a leakage magnetic flux flaw detector capable of performing sensitivity calibration in a short time at an online position without moving the flaw detector to the offline side.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The present invention is a leakage magnetic flux flaw detection apparatus applied to a magnetic material, and is provided with a conducting wire capable of generating a magnetic flux imitating the leakage magnetic flux from the magnetic material on the non-magnetic sensing surface side of the magnetic sensor. The above-mentioned problem has been solved by a leakage magnetic flux flaw detector characterized by the following.
Further, the present invention is preferably the above-described leakage magnetic flux flaw detector, wherein the conducting wires are conducting wire pairs having different current directions.
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
A preferred embodiment of a leakage magnetic flux flaw detector having a sensitivity calibration function of the present invention will be described with reference to FIG. In addition, the same number is attached | subjected to the same member as the conventional leakage magnetic flux flaw detector described in FIG. Moreover, in FIG. 1, although description of the nonmagnetic roll 2 formed by winding the
[0011]
In the embodiment shown in FIG. 1 of the present invention, the leakage magnetic flux from the magnetic material is simulated for sensitivity calibration on the
[0012]
The
In this way, by arranging the
[0013]
Needless to say, the
As already described, when the leakage magnetic flux flaw detector is installed in the cold-rolled steel plate line, the number of channels of the
[0014]
As shown in FIG. 4, if the
Further, even if the
[0015]
In the present invention, the simulation signal input to the
As an example, an input simulation signal is shown in FIG. In the figure, a signal corresponding to a defect of 2 msec is input every 100 msec. The signal strength is 1A. The waveform of the simulation signal is preferably a rectangular wave (FIG. 6A) that is easy to reproduce and easy to generate, or a half-wave sine wave. FIG. 6B shows how a detection signal having a signal intensity of 2 V is obtained from the magnetic sensor. The sensitivity can be easily calibrated with high accuracy by adjusting the gain of the amplifier so that the detection signal matches the intensity of the target inspection signal.
[0016]
【The invention's effect】
The present invention also eliminates the need to pull the flaw detection device off-line. In addition, sensitivity calibration of a large number of magnetic sensors exceeding 300 can be performed almost simultaneously, and the time required for sensitivity calibration can be greatly reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram (a) showing a configuration of a leakage magnetic flux flaw detector having a sensitivity calibration function of the present invention, and an AA view (b) thereof.
FIG. 2 is a schematic diagram showing a magnetic flux distribution when the sensitivity calibration function of the present invention is applied.
FIG. 3 is a schematic diagram showing an example of arrangement of sensitivity calibration lead wires in a leakage magnetic flux flaw detector.
FIG. 4 is a schematic view showing an example in which a sensitivity calibration lead is incorporated and arranged in a sensor holder.
FIG. 5 is a schematic view showing another arrangement example of the sensitivity calibration lead wire incorporated in the sensor holder.
FIG. 6 is a schematic diagram of a time / signal intensity profile showing a suitable example (a) of a simulated signal input to a sensitivity calibration lead and a detection signal (b) from the sensor in that case.
FIG. 7 is a diagram for explaining the principle of leakage magnetic flux flaw detection.
FIG. 8 is a schematic diagram showing a typical example of a leakage magnetic flux flaw detector.
[Explanation of symbols]
1 Thin steel plate (thin plate)
2
13 Defect determining means 15
Claims (2)
磁気センサの非磁気感知面側に、磁性材からの漏洩磁束を模した磁束を発生することのできる導線を具備してなることを特徴とする漏洩磁束探傷装置。A leakage magnetic flux flaw detector applied to a magnetic material,
A leakage magnetic flux flaw detector characterized by comprising a conducting wire capable of generating magnetic flux imitating leakage magnetic flux from a magnetic material on the non-magnetic sensing surface side of a magnetic sensor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003153956A JP4175181B2 (en) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | Magnetic flux leakage flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003153956A JP4175181B2 (en) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | Magnetic flux leakage flaw detector |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004354282A true JP2004354282A (en) | 2004-12-16 |
JP4175181B2 JP4175181B2 (en) | 2008-11-05 |
Family
ID=34048741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003153956A Expired - Fee Related JP4175181B2 (en) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | Magnetic flux leakage flaw detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4175181B2 (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007064907A (en) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Jfe Steel Kk | Magnetic flux leakage flaw detection apparatus |
CN100432665C (en) * | 2005-08-05 | 2008-11-12 | 营口市北方检测设备有限公司 | Online detecting device and method for two-field leakage magnetic flux of defects on steel products surface |
CN101832969A (en) * | 2008-06-04 | 2010-09-15 | 株式会社东芝 | Array-type magnetic sensor substrate |
KR101169383B1 (en) * | 2009-03-09 | 2012-07-30 | 가부시끼가이샤 도시바 | Array type magnetic sensor substrate |
CN104519730A (en) * | 2013-10-03 | 2015-04-15 | 重机自动化系统有限公司 | Installation system and calibration method |
JP2016180684A (en) * | 2015-03-24 | 2016-10-13 | Jfeスチール株式会社 | Sensitivity correction method and sensitivity correction apparatus for eddy current flaw detector |
JP2018054301A (en) * | 2016-09-26 | 2018-04-05 | Jfeスチール株式会社 | Magnetic leakage flux flaw detector |
WO2022004613A1 (en) * | 2020-07-03 | 2022-01-06 | Jfeスチール株式会社 | Sensitivity calibration method, inspection device, and magnetic sensor group |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08327603A (en) * | 1995-06-02 | 1996-12-13 | Nippon Steel Corp | Steel strip defect detector |
JPH09229905A (en) * | 1996-02-20 | 1997-09-05 | Nkk Corp | Calibration method for magnetic sensor array |
JPH10239093A (en) * | 1997-02-27 | 1998-09-11 | Nkk Corp | Method and device for array sensor sensitivity correction |
-
2003
- 2003-05-30 JP JP2003153956A patent/JP4175181B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08327603A (en) * | 1995-06-02 | 1996-12-13 | Nippon Steel Corp | Steel strip defect detector |
JPH09229905A (en) * | 1996-02-20 | 1997-09-05 | Nkk Corp | Calibration method for magnetic sensor array |
JPH10239093A (en) * | 1997-02-27 | 1998-09-11 | Nkk Corp | Method and device for array sensor sensitivity correction |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100432665C (en) * | 2005-08-05 | 2008-11-12 | 营口市北方检测设备有限公司 | Online detecting device and method for two-field leakage magnetic flux of defects on steel products surface |
JP2007064907A (en) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Jfe Steel Kk | Magnetic flux leakage flaw detection apparatus |
JP4742757B2 (en) * | 2005-09-02 | 2011-08-10 | Jfeスチール株式会社 | Magnetic flux leakage inspection device |
CN101832969A (en) * | 2008-06-04 | 2010-09-15 | 株式会社东芝 | Array-type magnetic sensor substrate |
KR101169383B1 (en) * | 2009-03-09 | 2012-07-30 | 가부시끼가이샤 도시바 | Array type magnetic sensor substrate |
JP2015073026A (en) * | 2013-10-03 | 2015-04-16 | Jukiオートメーションシステムズ株式会社 | Mounting system, calibration method, and program |
CN104519730A (en) * | 2013-10-03 | 2015-04-15 | 重机自动化系统有限公司 | Installation system and calibration method |
CN104519730B (en) * | 2013-10-03 | 2019-02-01 | 重机自动化系统有限公司 | Installation system and calibration method |
JP2016180684A (en) * | 2015-03-24 | 2016-10-13 | Jfeスチール株式会社 | Sensitivity correction method and sensitivity correction apparatus for eddy current flaw detector |
JP2018054301A (en) * | 2016-09-26 | 2018-04-05 | Jfeスチール株式会社 | Magnetic leakage flux flaw detector |
WO2022004613A1 (en) * | 2020-07-03 | 2022-01-06 | Jfeスチール株式会社 | Sensitivity calibration method, inspection device, and magnetic sensor group |
JPWO2022004613A1 (en) * | 2020-07-03 | 2022-01-06 | ||
JP7359220B2 (en) | 2020-07-03 | 2023-10-11 | Jfeスチール株式会社 | Sensitivity calibration method, inspection equipment, and magnetic sensor group |
EP4160200A4 (en) * | 2020-07-03 | 2023-12-06 | JFE Steel Corporation | Sensitivity calibration method, inspection device, and magnetic sensor group |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4175181B2 (en) | 2008-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7696747B2 (en) | Electromagnetic induction type inspection device and method | |
EP2084524B1 (en) | Magnetic sensor apparatus for detecting defects | |
CA2357233C (en) | Sensor head for acfm based crack detection | |
JP5522699B2 (en) | Nondestructive inspection apparatus and nondestructive inspection method using pulse magnetism | |
KR100218653B1 (en) | Electromagnetic Induction Tester | |
JP2008032575A (en) | Eddy current measuring probe and flaw detector using the same | |
JP4175181B2 (en) | Magnetic flux leakage flaw detector | |
KR20190089028A (en) | Damage evaluation method and damage evaluation device of magnetic cord | |
JP4742757B2 (en) | Magnetic flux leakage inspection device | |
RU2566416C1 (en) | Device for eddy-current magnetic examination of ferromagnetic objects | |
JPH06281625A (en) | Sensitivity calibration device for magnetic leakage inspection equipment | |
JPH04221757A (en) | Defect detecting device | |
JP3303650B2 (en) | Calibration method of magnetic sensor array | |
KR20120015566A (en) | Conductor thickness flaw detector using double core | |
JP2005031014A (en) | Magnetic sensor | |
JP2004294341A (en) | Flaw detection method using pulse remote field eddy current and flaw detection apparatus | |
KR100946285B1 (en) | Wire rope inspection device using eddy current | |
Pelkner et al. | MR-based eddy current probe design for hidden defects | |
JPH05142204A (en) | Electromagnetic-induction type inspecting apparatus | |
JP2617605B2 (en) | Magnetic measuring device and diagnostic method for magnetic flaw detector | |
JPS63311165A (en) | Method and apparatus for finding flaw with magnetism | |
JP2007163263A (en) | Eddy current flaw detection sensor | |
JPH11211698A (en) | Method and apparatus for calibration of sensitivity of magnetic testing device as well as calibration | |
JP6565849B2 (en) | Magnetic flux leakage inspection device | |
JP3223991U (en) | Nondestructive inspection equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060427 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080425 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080507 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080704 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080729 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080811 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110829 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4175181 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120829 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120829 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130829 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |