JP2004318640A - Terminal-positioning device and method - Google Patents
Terminal-positioning device and method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004318640A JP2004318640A JP2003113711A JP2003113711A JP2004318640A JP 2004318640 A JP2004318640 A JP 2004318640A JP 2003113711 A JP2003113711 A JP 2003113711A JP 2003113711 A JP2003113711 A JP 2003113711A JP 2004318640 A JP2004318640 A JP 2004318640A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- terminals
- output
- semiconductor package
- pins
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置装置および端子配置方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体集積回路装置には、論理回路が搭載されたダイと呼ばれる半導体チップと、その半導体チップが覆われてなる半導体パッケージとが備えられている。半導体パッケージとしては、電子機器に組み込まれる回路基板への高密度実装が容易なBGA(Ball Grid Array)パッケージやPGA(Pin Grid Array)パッケージが広く用いられている。このような半導体パッケージには、電子機器の回路基板に接続するための端子(外部端子と称する)と、半導体チップに搭載された論理回路の外部接続ピンであるパッドにワイヤボンディングされた内部端子と、それら外部端子と内部端子が接続されてなる配線パターンとが備えられている。一方、半導体チップには、複数の出力バッファセルが備えられており、これら複数の出力バッファセルは、上記パッド,ボンディングワイヤ,内部端子を介して、半導体パッケージに備えられた複数の外部端子に接続されている。
【0003】
ここで、複数の出力バッファセルが同時にオフ状態からオン状態に変化すると、それら複数の出力バッファセルに対応して備えられた複数の外部端子の信号も同時に‘H’レベルから‘L’レベルに変化する。同様に、複数の出力バッファセルが同時にオン状態からオフ状態に変化すると、上記複数の外部端子の信号も同時に‘L’レベルから‘H’レベルに変化する。これに伴い、複数の外部端子側が有する負荷容量に応じた充放電電流が電源ラインやグラウンドラインに同時に瞬時に流れる。すると、電源ラインやグラウンドラインにノイズが発生する。
【0004】
そこで、半導体パッケージの設計にあたり、同時に動作可能な出力バッファセル数に制限を設け、この制限を考慮しながら電源端子およびグラウンド端子を含めた外部端子の配置を行なう端子配置装置が提案されている。例えば、半導体チップのパッド番号を表示するとともに編集作業を行なう第1端子情報編集部と、半導体パッケージの外部端子番号を表示するとともに編集作業を行なう第2端子情報編集部とを備え、これら第1端子情報編集部,第2端子情報編集部を連動させて外部端子の配置を視覚的に行なう端子配置装置が提案されている(特許文献1参照)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
半導体集積回路装置の設計にあたっては、必要な電源端子数やグラウンド端子数がチェックされ、その結果によっては半導体パッケージや半導体チップのサイズ変更が発生する場合がある。このため、外部端子の配置は、半導体チップに搭載される論理回路の設計の初期段階で実施することが好ましい。
【0006】
しかし、上記特許文献1に提案された端子配置装置は、半導体パッケージの外部端子番号と半導体チップのパッド番号との対応が既に割り付けられた、論理回路の設計がほぼ完了している時点における外部端子配置を行なうものであるため、論理回路の設計初期段階における外部端子の配置情報の入力は困難である。従って、複数の出力バッファセルの同時動作に伴う複数の外部端子側の負荷容量に応じた充放電電流に起因して発生するノイズを考慮した外部端子配置に欠ける点がある。
【0007】
また、上記特許文献1に提案された端子配置装置は、同時に動作する複数の出力バッファセルに対応する複数の外部端子情報を、テストパターン印加によるシミュレーションの結果から抽出するものであり、このため正確な情報を得るには相当数のテストパターンが必要とされる。しかし、近年の大規模集積回路ではこのようなシミュレーション自体が困難であり、従って現実的ではないという問題もある。
【0008】
さらに、論理回路の設計がほぼ完了しているため、同時に動作する複数の出力バッファセルに対応する複数の外部端子を同じグループ(同時動作グループ)に割り付ける制御は、上記シミュレーションの結果から行なうのみであり、ある同時動作グループの出力バッファセルに対応する外部端子を、別の同時動作グループに割り付けて同時動作させるというような試行を行なうことは困難である。従って、半導体パッケージ上の端子に、半導体チップのパッドである論理回路の外部接続ピンを対応づけるにあたり、複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した端子配置に欠けるという問題がある。
【0009】
本発明は、上記事情に鑑み、複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した端子配置を行なうことができる端子配置装置および端子配置方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明の端子配置装置は、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置装置において、
半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけ機能と、
半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうチェック機能と、
半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分け機能と、
前記グループ分け機能により分けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定するグループ指定機能とを備え、
前記チェック機能は、前記グループ指定機能で指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、上記チェックを行なうものであることを特徴とする。尚、ここでいう外部出力ピンには、双方向性機能を有する外部入出力ピンも含まれる。
【0011】
本発明の端子配置装置は、半導体パッケージ上の端子と論理回路仕様の外部接続ピンを対応づけるとともに、その対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうものであるため、回路設計の初期段階から回路情報との整合性をチェックしながら半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。従って、電源端子やグラウンド端子の配置、および複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した適切な端子配置を行なうことができる。
【0012】
このようにすると、同時に動作する外部出力ピンのグループの組み合わせをチェックすることができる。
【0013】
また、上記対応づけ機能は、上記端子と、電源ピン、グラウンドピン、および上記外部接続ピンとを対応づけるとともに、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに、さらに、駆動能力の情報を持つ出力バッファセルを対応づけるものであり、
上記チェック機能は、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに対してさらに対応づけられた出力バッファセルの駆動能力の情報と、上記端子と上記電源ピンおよび上記グラウンドピンとの対応づけとに基づいて、上記チェックを行なうものであることも好ましい態様である。
【0014】
このようにすると、出力バッファセルの駆動能力に応じて半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。
【0015】
さらに、上記対応づけ機能により上記端子に対応づけられた外部接続ピンと、上記回路仕様に基づいて設計された論理回路上の外部接続ピンとの間で名称と入出力属性が一致しているか否かをチェックする確認機能を有するものであってもよい。
【0016】
このような確認機能を有すると、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを確実に対応づけることができる。
【0017】
また、上記目的を達成する本発明の端子配置方法は、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置方法において、
半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけステップと、
半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうチェックステップと、
半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分けステップと、
上記グループ分けステップにより分けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定するグループ指定ステップとを有し、
上記チェックステップは、上記グループ指定ステップで指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、上記チェックを行なうものであることを特徴とする。
【0018】
本発明の端子配置方法は、回路設計の初期段階から回路情報との整合性をチェックしながら半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。従って、電源端子やグラウンド端子の配置、および複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した適切な端子配置を行なうことができる。
【0019】
このようにすると、同時に動作する外部出力ピンのグループの組み合わせをチェックすることができる。
【0020】
また、上記対応づけステップは、上記端子と、電源ピン、グラウンドピン、および上記外部接続ピンとを対応づけるとともに、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに、さらに、駆動能力の情報を持つ出力バッファセルを対応づけるステップであり、
上記チェックステップは、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに対してさらに対応づけられた出力バッファセルの駆動能力の情報と、上記端子と上記電源ピンおよび上記グラウンドピンとの対応づけとに基づいて、上記チェックを行なうステップであることも好ましい態様である。
【0021】
このようにすると、出力バッファセルの駆動能力に応じて半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。
【0022】
さらに、上記対応づけステップにより上記端子に対応づけられた外部接続ピンと、上記回路仕様に基づいて設計された論理回路上の外部接続ピンとの間で名称と入出力属性が一致しているか否かをチェックする確認ステップを有するものであってもよい。
【0023】
このような確認ステップを有すると、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを確実に対応づけることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について説明する。
【0025】
図1は、本発明の一実施形態の端子配置装置のブロック図である。
【0026】
図1に示す端子配置装置10は、本発明の一実施形態の端子配置方法が適用されてなる装置であり、この端子配置装置10には、テンプレートシート生成部11と、端子配置シート編集部12と、出力同時動作グループ名組み合わせ生成部13と、出力同時動作端子数制約チェック部14と、回路ポート情報抽出部15と、回路情報比較部16とが備えられている。
【0027】
テンプレートシート生成部11は、パッケージライブラリファイル21からの情報に基づいてテンプレートシートを生成する。生成されたテンプレートシートに対して操作者が所望のデータを入力することにより端子配置シート22が生成される。以下、図2、図3、図4を参照して詳細に説明する。
【0028】
図2は、パッケージライブラリファイルの構成を示す図である。
【0029】
図2に示すパッケージライブラリファイル21は、論理回路の外部接続ピンである半導体チップのパッド番号(PAD)と、半導体パッケージの端子の番号(PIN)と、電源もしくはグラウンド(power/ground)の名称とから構成されている。ここでは、番号(PAD)1〜14と、それら番号(PAD)1〜14に対応する端子番号A1〜A14と、端子番号A1,A10,A14で表わされる端子が電源端子である旨を示す名称OVDDとが示されている。このように、半導体パッケージの端子のうちの電源端子の端子配置はあらかじめ定められている。
【0030】
図3は、2つのフィールドとテンプレートシートを示す図である。
【0031】
図3には、第1フィールド26と、第2フィールド27と、テンプレートシート28とが示されている。尚、これら第1フィールド26,第2フィールド27,テンプレートシート28は、端子配置装置10の表示部(図示せず)に表示される。最初の時点では、第1フィールド26,第2フィールド27のみ表示される。
【0032】
第1フィールド26は、テンプレートボタン(Template)26_1と、グループボタン(Group)26_2と、チェックボタン(Check)26_3とから構成されている。
【0033】
テンプレートボタン26_1は、テンプレート28を生成するためのボタンであり、このテンプレートボタン26_1が操作者により操作されると、前述した図2に示すパッケージライブラリファイル21からの情報に基づいてテンプレートシート28が生成される。
【0034】
グループボタン26_2は、半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分け機能の役割を担うボタンである。
【0035】
チェックボタン26_3は、半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを、後述する出力同時動作端子数制約チェック部14に対して行なわせるためのボタンである。
【0036】
第2フィールド27は、パッド部(PAD)27_1と、端子部(PIN)27_2と、信号部(SIGNAL)27_3と、セル部(CELL)27_4と、入出力部(IN/OUT)27_5と、グループ部(GROUP)27_6と、電源係数部(OVDD)27_7と、グラウンド係数部(OVSS)27_8と、メッセージ部(Message)27_9とから構成されている。
【0037】
パッド部27_1および端子部27_2は、前述した図2に示すパッケージライブラリファイル21を構成するパッド番号(PAD)および端子番号(PIN)を表示するための部分である。また、信号部27_3は、半導体パッケージの端子の信号名を表示するための部分である。
【0038】
テンプレートボタン26_1が操作されると、テンプレートシート28が生成される。ここでは、テンプレートシート28の、パッド部27_1,端子部27_2,信号部27_3に、図2に示すパッケージライブラリファイル21の内容が表示されている。
【0039】
セル部27_4は、半導体チップのパッドに接続されたIOセル名を表示するための部分である。
【0040】
入出力部27_5は、信号部27_3に表示される信号の入出力属性を表示するための部分である。
【0041】
グループ部27_6は、同時動作する出力バッファセルのグループ名を表示するための部分である。
【0042】
電源係数部27_7は、出力バッファセルの、電源側のドライブ係数の累積値(本発明にいう駆動能力の情報の一例に相当)を表示するための部分である。
【0043】
グラウンド係数部27_8は、出力バッファセルの、グラウンド側のドライブ係数の累積値(本発明にいう駆動能力の情報の他の一例に相当)を表示するための部分である。これらのドライブ係数の累積値については後述する。
【0044】
メッセージ部27_9は、同時動作する出力バッファセルの動作チェック結果(OK/NG)を表示するための部分である。再び図1を参照して説明を続ける。
【0045】
図1に示す端子配置装置1を構成する端子配置シート編集部12は、本発明にいう、半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけ機能の役割を担う部分であり、この端子配置シート編集部12は、端子番号(もしくは半導体チップのパッド番号)に対応して、図3に示すテンプレートシート28の、信号部27_3,セル部27_4,入出力部27_5の部分に、信号名,IOセル名,入出力属性を割り付ける。これにより、雛形であるテンプレートシート28が編集されて端子配置シート22が生成される。
【0046】
図4は、端子配置シート編集部で編集されて生成された端子配置シートを示す図である。
【0047】
図4に示す端子配置シート22には、端子番号A2〜A9,A11〜A13に対応して割り付けられた信号名N1〜N8,N9〜N11が表示されている。また、端子番号A2〜A5,A6〜A8,A11〜12,A13に対応して割り付けられたIOセル名OBT1,OBT2,OBT3,OBT4が表示されている。さらに、端子番号A2〜A9,A11〜A13に対応して割り付けられた入出力属性OUTが表示されている。
【0048】
ここで、操作者によりグループボタン26_2の操作が行なわれる。すると、同時動作する出力バッファセルのグループ名が割り付けられる。換言すれば、同時動作する出力バッファセルに対応する端子から出力される出力信号および双方向信号に対して、それら出力バッファセルのグループ名が定義される。
【0049】
図5は、図4に示す端子配置シートに、グループボタンが操作されて同時動作する出力バッファセルのグループ名が割り付けられた状態を示す図である。
【0050】
図5に示す端子配置シート22のグループ部27_6の部分には、同時動作する4つの出力バッファセルOBT1に対してグループ名A,同時動作する3つの出力バッファセルOBT2に対してグループ名B,同時動作する1つの出力バッファセルOBT2と2つの出力バッファセルOBT3と1つの出力バッファセルOBT4とに対してグループ名Cが割り付けられてなる状態が表示されている。
【0051】
また、図1に示す出力同時動作グループ名組み合わせ生成部13は、本発明にいうグループ指定機能の役割を担うものであり、グループボタン26_2が操作されて割り付けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定する。ここでは、3つのグループの全ての組み合わせ(A,B,C,AB,BC,AC,ABC)を指定する。
【0052】
さらに、図1に示す出力同時動作端子数制約チェック部14は、本発明にいうチェック機能の役割を担うものであり、この出力同時動作端子数制約チェック部14は、半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なう。さらに詳細には、この出力同時動作端子数制約チェック部14は、出力同時動作グループ名組み合わせ生成部13で指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、チェックを行なう。
【0053】
また、前述した端子配置シート編集部12は、端子と、電源ピン、グラウンドピン、および外部接続ピンとを対応づけるとともに、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに、さらに、ドライブ係数の累積値を持つ出力バッファセルを対応づける役割を担うものであり、出力同時動作端子数制約チェック部14は、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに対してさらに対応づけられた出力バッファセルのドライブ係数の累積値と、上記端子と上記電源ピンおよび上記グラウンドピンとの対応づけとに基づいて、上記チェックを行なう。以下、図6を参照して説明する。
【0054】
図6は、図5に示す端子配置シートに、ドライブ係数の累積値が表示された状態を示す図である。
【0055】
出力バッファセルOBT1,OBT2,OBT3,OBT4のドライブ係数は、図1に示す出力同時動作ルールファイル23で定義されており、それぞれ、3,2,3,4となっている。図6に示す端子配置シート22の電源係数部27_7における端子番号A1と端子番号A10との間には、各出力バッファセルOBT1,OBT2の、電源側のドライブ係数の累積値(3、6、9、12、14、16、18、20)が表示されている。また、電源係数部27_7における端子番号A10と端子番号A14との間には、各出力バッファセルOBT3,OBT4の、電源側のドライブ係数の累積値(3、6、10)が表示されている。
【0056】
ここで、出力同時動作端子数制約チェック部14は、全ての出力同時動作グループの組み合わせについてチェック(計算)を行ない、以下の場合にエラー表示(NG)を行なう。
【0057】
OVDD(OVSS)の許容ドライブ係数<ΣOVDD(OVSS)間の出力バッファセルのドライブ係数/2
但し、OVDD/OVSSは、出力バッファセルの電源/グラウンドを示す。
【0058】
尚、ここでは、計算対象の出力バッファセルの両側にOVDD(OVSS)が存在するため、加算した結果(累積値)を2で割る。
【0059】
上記許容ドライブ係数および出力バッファセルのドライブ係数は、出力同時動作ルールファイル23で定義されている。
【0060】
図7は、出力同時動作端子数制約チェック部による計算を説明するための端子配置シートを示す図である。
【0061】
図7に示す端子配置シート22には、全ての出力同時動作グループの組み合わせ(A,B,C,AB,BC,AC,ABC)が表示されている。
【0062】
ここで、出力同時動作グループ名=ABCを対象としたときの、PAD=10のメッセージ部(Message)27_9の欄にはNG(出力同時動作端子数エラー)が表示されている。この出力同時動作端子数エラーは、以下のようにして算出される。
【0063】
計算対象としては、半導体チップにおけるPAD=10の電源の両側に配置される出力バッファセルの中で、出力同時動作グループ名がAまたはBまたはCが定義されてなる、PAD=2〜9、PAD=11〜13に割り付けられる出力バッファセルである。
【0064】
ここで、OVDDの許容ドライブ係数(図7に示すspec)は8(出力同時動作ルールファイル23より)である。
【0065】
また、PAD1とPAD10と間における出力バッファセルのドライブ係数ΣOVDD(図7に示すval)は、
ΣOVDD=(OBT1のドライブ係数×OBT1の個数+OBT2のドライブ係数×OBT2の個数)/2+(OBT3のドライブ係数×OBT3の個数+OBT4のドライブ係数×OBT4の個数)/2=10である。
【0066】
従って、メッセージ部27_9の、PAD10に対応する部分にNG(spec=8,val=10)が表示される。尚、PAD10とPAD14と間における出力バッファセルのドライブ係数ΣOVDDは、10/2=5であるため、メッセージ部27_9の、PAD14に対応する部分にOKが表示される。さらに、PAD14とPAD1と間における出力バッファセルのドライブ係数ΣOVDDは0であり、このためメッセージ部27_9の、PAD1に対応する部分にOKが表示される。また、NGが表示された場合(エラーが発生した場合)は、電源/グラウンドの追加、端子配置の変更を実施し、エラーがなくなるまで上記計算を繰り返し行なう。
【0067】
その後、図1に示す回路ポート情報抽出部15で、回路データ24から外部接続ピンに接続する回路ポート情報25を抽出する。
【0068】
さらに、回路情報比較部16において、回路ポート情報25と端子配置シート22の端子割り付け情報が一致しているかおよびそれらファイルの信号数の過不足チェックと、同一信号に対してIOセル名が一致しているかおよび入出力属性が一致しているのかのチェックが行なわれる。
【0069】
このように、本実施形態の端子配置装置10は、半導体パッケージ上の端子と論理回路仕様の外部接続ピンを対応づけるとともに、その対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうものであるため、回路設計の初期段階から回路情報との整合性をチェックしながら半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。従って、電源端子やグラウンド端子の配置、および複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した適切な端子配置を行なうことができる。
【0070】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の端子配置装置および端子配置方法によれば、複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した端子配置を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の端子配置装置のブロック図である。
【図2】パッケージライブラリファイルの構成を示す図である。
【図3】2つのフィールドとテンプレートシートを示す図である。
【図4】端子配置シート編集部で編集されて生成された端子配置シートを示す図である。
【図5】図4に示す端子配置シートに、グループボタンが操作されて同時動作する出力バッファセルのグループ名が割り付けられた状態を示す図である。
【図6】図5に示す端子配置シートに、ドライブ係数の累積値が表示された状態を示す図である。
【図7】出力同時動作端子数制約チェック部による計算を説明するための端子配置シートを示す図である。
【符号の説明】
10 端子配置装置
11 テンプレートシート生成部
12 端子配置シート編集部
13 出力同時動作グループ名組み合わせ生成部
14 出力同時動作端子数制約チェック部
15 回路ポート情報抽出部
16 回路情報比較部
21 パッケージライブラリファイル
22 端子配置シート
23 出力同時動作ルールファイル
24 回路データ
25 回路ポート情報
26 第1フィールド
26_1 テンプレートボタン(Template)
26_2 グループボタン(Group)
26_3 チェックボタン(Check)
27 第2フィールド
27_1 パッド部(PAD)
27_2 端子部(PIN)
27_3 信号部(SIGNAL)
27_4 セル部(CELL)
27_5 入出力部(IN/OUT)
27_6 グループ部(GROUP)
27_7 電源係数部(OVDD)
27_8 グラウンド係数部(OVSS)
27_9 メッセージ部(Message)
28 テンプレートシート[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a terminal arrangement device and a terminal arrangement method for associating terminals on a semiconductor package with external connection pins of a logic circuit.
[0002]
[Prior art]
A semiconductor integrated circuit device includes a semiconductor chip called a die on which a logic circuit is mounted, and a semiconductor package that covers the semiconductor chip. As a semiconductor package, a BGA (Ball Grid Array) package or a PGA (Pin Grid Array) package that can be easily mounted at high density on a circuit board incorporated in an electronic device is widely used. Such a semiconductor package includes a terminal (referred to as an external terminal) for connecting to a circuit board of an electronic device, and an internal terminal wire-bonded to a pad which is an external connection pin of a logic circuit mounted on a semiconductor chip. And a wiring pattern formed by connecting the external terminals and the internal terminals. On the other hand, the semiconductor chip is provided with a plurality of output buffer cells, and these plurality of output buffer cells are connected to a plurality of external terminals provided in the semiconductor package via the pads, bonding wires, and internal terminals. Have been.
[0003]
Here, when the plurality of output buffer cells simultaneously change from the OFF state to the ON state, the signals of the plurality of external terminals provided corresponding to the plurality of output buffer cells also simultaneously change from the “H” level to the “L” level. Change. Similarly, when the plurality of output buffer cells simultaneously change from the on state to the off state, the signals of the plurality of external terminals simultaneously change from the “L” level to the “H” level. Accordingly, charge / discharge currents corresponding to the load capacities of the plurality of external terminals simultaneously and instantaneously flow through the power supply line and the ground line. Then, noise occurs in the power supply line and the ground line.
[0004]
Therefore, in designing a semiconductor package, there has been proposed a terminal arrangement device which places a limit on the number of output buffer cells that can be operated simultaneously and arranges external terminals including a power supply terminal and a ground terminal in consideration of the limitation. For example, a first terminal information editing unit for displaying a pad number of a semiconductor chip and performing an editing operation and a second terminal information editing unit for displaying an external terminal number of a semiconductor package and performing an editing operation are provided. A terminal arrangement device that visually arranges external terminals by interlocking a terminal information editing unit and a second terminal information editing unit has been proposed (see Patent Document 1).
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In designing a semiconductor integrated circuit device, the required number of power supply terminals and ground terminals are checked, and depending on the result, the size of a semiconductor package or a semiconductor chip may be changed. Therefore, it is preferable to arrange the external terminals at an early stage of designing a logic circuit mounted on the semiconductor chip.
[0006]
However, the terminal arranging device proposed in the above-mentioned
[0007]
In addition, the terminal arrangement device proposed in
[0008]
Further, since the design of the logic circuit is almost completed, the control of allocating a plurality of external terminals corresponding to a plurality of output buffer cells operating simultaneously to the same group (simultaneous operation group) is performed only based on the result of the simulation. In some cases, it is difficult to perform a trial in which an external terminal corresponding to an output buffer cell of a certain simultaneous operation group is assigned to another simultaneous operation group and operated simultaneously. Therefore, when associating terminals on a semiconductor package with external connection pins of a logic circuit, which are pads of a semiconductor chip, there is a problem that a terminal arrangement lacking in consideration of noise generated due to simultaneous operation of a plurality of output buffer cells is lacking. There is.
[0009]
In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a terminal arrangement device and a terminal arrangement method capable of performing terminal arrangement in consideration of noise generated due to simultaneous operation of a plurality of output buffer cells.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
A terminal placement device of the present invention that achieves the above object is a terminal placement device that associates external connection pins of a logic circuit with terminals on a semiconductor package,
A function for associating terminals on the semiconductor package with power supply pins, ground pins, and external connection pins of circuit specifications,
A check function for checking whether the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin is a correspondence that matches predetermined output terminal simultaneous operation restrictions,
A grouping function for dividing external output pins of the external connection pins of the logic circuit corresponding to the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to an operation;
A group designation function for designating one or more groups among the groups divided by the grouping function according to an operation;
The check function performs the above-described check on the assumption that external output pins belonging to one or more groups specified by the group specification function operate simultaneously. The external output pins referred to here include external input / output pins having a bidirectional function.
[0011]
The terminal arrangement apparatus of the present invention associates a terminal on a semiconductor package with an external connection pin of a logic circuit specification, and checks whether the association is a correspondence that matches predetermined output terminal simultaneous operation restrictions. Therefore, the external connection pins of the logic circuit can be associated with the terminals on the semiconductor package while checking the consistency with the circuit information from the initial stage of circuit design. Therefore, an appropriate terminal arrangement can be performed in consideration of the arrangement of the power supply terminal and the ground terminal and the noise generated due to the simultaneous operation of the plurality of output buffer cells.
[0012]
By doing so, it is possible to check a combination of groups of external output pins that operate simultaneously.
[0013]
Further, the associating function associates the terminal with a power supply pin, a ground pin, and the external connection pin, and further associates the terminal with the external output pin, and further includes an output buffer having drive capability information. It associates cells,
The check function is based on information on the driving capability of the output buffer cell further associated with the association between the terminal and the external output pin, and on the association between the terminal, the power supply pin, and the ground pin. Performing the above check is also a preferred embodiment.
[0014]
With this configuration, the external connection pins of the logic circuit can be associated with the terminals on the semiconductor package according to the driving capability of the output buffer cell.
[0015]
Furthermore, it is determined whether or not the names and input / output attributes of the external connection pins associated with the terminals by the association function and the external connection pins on the logic circuit designed based on the circuit specifications match. It may have a confirmation function for checking.
[0016]
With such a confirmation function, the external connection pins of the logic circuit can be reliably associated with the terminals on the semiconductor package.
[0017]
Further, a terminal arrangement method of the present invention for achieving the above object is a terminal arrangement method for associating external connection pins of a logic circuit with terminals on a semiconductor package,
Associating a power supply pin, a ground pin, and an external connection pin of a circuit specification with a terminal on the semiconductor package;
A check step of checking whether or not the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin is a correspondence that matches predetermined output terminal simultaneous operation constraints;
A grouping step of grouping external output pins of the external connection pins of the logic circuit corresponding to the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to an operation;
A group designation step of designating at least one of the groups divided by the grouping step according to an operation;
The checking step is characterized in that the checking is performed by assuming that the external output pins belonging to one or more groups specified in the group specifying step operate simultaneously.
[0018]
According to the terminal arrangement method of the present invention, an external connection pin of a logic circuit can be associated with a terminal on a semiconductor package while checking consistency with circuit information from an initial stage of circuit design. Therefore, an appropriate terminal arrangement can be performed in consideration of the arrangement of the power supply terminal and the ground terminal and the noise generated due to the simultaneous operation of the plurality of output buffer cells.
[0019]
By doing so, it is possible to check a combination of groups of external output pins that operate simultaneously.
[0020]
The associating step associates the terminal with a power supply pin, a ground pin, and the external connection pin, and further associates the terminal with the external output pin, and further includes an output buffer having drive capability information. The step of associating cells
The checking step is based on information on the driving capability of the output buffer cell further associated with the association between the terminal and the external output pin, and on the association between the terminal, the power supply pin, and the ground pin. In a preferred embodiment, the above-mentioned check is performed.
[0021]
With this configuration, the external connection pins of the logic circuit can be associated with the terminals on the semiconductor package according to the driving capability of the output buffer cell.
[0022]
Further, it is determined whether or not the name and the input / output attribute match between the external connection pin associated with the terminal in the association step and the external connection pin on the logic circuit designed based on the circuit specification. It may have a confirmation step of checking.
[0023]
With such a checking step, the external connection pins of the logic circuit can be reliably associated with the terminals on the semiconductor package.
[0024]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
[0025]
FIG. 1 is a block diagram of a terminal arrangement device according to an embodiment of the present invention.
[0026]
A
[0027]
The template
[0028]
FIG. 2 is a diagram showing the structure of the package library file.
[0029]
The
[0030]
FIG. 3 is a diagram showing two fields and a template sheet.
[0031]
FIG. 3 shows a
[0032]
The
[0033]
The template button 26_1 is a button for generating the
[0034]
The group button 26_2 has a role of a grouping function that divides the external output pins of the external connection pins of the logic circuit corresponding to the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to an operation. Button.
[0035]
The check button 26_3 is used to check whether or not the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin matches the predetermined output terminal simultaneous operation constraint. This is a button for performing the operation on 14.
[0036]
The
[0037]
The pad portion 27_1 and the terminal portion 27_2 are portions for displaying a pad number (PAD) and a terminal number (PIN) of the
[0038]
When the template button 26_1 is operated, a
[0039]
The cell part 27_4 is a part for displaying the name of the IO cell connected to the pad of the semiconductor chip.
[0040]
The input / output unit 27_5 is a unit for displaying the input / output attribute of the signal displayed on the signal unit 27_3.
[0041]
The group section 27_6 is a section for displaying a group name of output buffer cells that operate simultaneously.
[0042]
The power supply coefficient unit 27_7 is a part for displaying the accumulated value of the drive coefficient on the power supply side of the output buffer cell (corresponding to an example of the driving capability information according to the present invention).
[0043]
The ground coefficient section 27_8 is a section for displaying the accumulated value of the drive coefficient on the ground side of the output buffer cell (corresponding to another example of the driving capability information according to the present invention). The accumulated values of these drive coefficients will be described later.
[0044]
The message part 27_9 is a part for displaying the operation check result (OK / NG) of the output buffer cells operating simultaneously. The description will be continued with reference to FIG. 1 again.
[0045]
The terminal arrangement
[0046]
FIG. 4 is a diagram showing a terminal arrangement sheet edited and generated by the terminal arrangement sheet editing unit.
[0047]
The signal names N1 to N8 and N9 to N11 assigned to the terminal numbers A2 to A9 and A11 to A13 are displayed on the
[0048]
Here, the operator operates the group button 26_2. Then, a group name of output buffer cells that operate simultaneously is assigned. In other words, for output signals and bidirectional signals output from terminals corresponding to simultaneously operating output buffer cells, the group names of the output buffer cells are defined.
[0049]
FIG. 5 is a diagram showing a state in which a group name of output buffer cells which operate simultaneously by operating a group button is assigned to the terminal arrangement sheet shown in FIG.
[0050]
The group part 27_6 of the
[0051]
The output simultaneous operation group name
[0052]
Further, the output simultaneous operation terminal number
[0053]
Further, the above-described terminal arrangement
[0054]
FIG. 6 is a diagram showing a state in which the accumulated values of the drive coefficients are displayed on the terminal arrangement sheet shown in FIG.
[0055]
The drive coefficients of the output buffer cells OBT1, OBT2, OBT3, and OBT4 are defined in the output simultaneous operation rule file 23 shown in FIG. 1, and are 3, 2, 3, and 4, respectively. Between the terminal number A1 and the terminal number A10 in the power supply coefficient section 27_7 of the
[0056]
Here, the output simultaneous operation terminal number
[0057]
OVDD (OVSS) allowable drive coefficient <Σdrive coefficient of output buffer cell between OVDD (OVSS) / 2
However, OVDD / OVSS indicates the power / ground of the output buffer cell.
[0058]
Here, since OVDD (OVSS) exists on both sides of the output buffer cell to be calculated, the result of addition (accumulated value) is divided by two.
[0059]
The allowable drive coefficient and the drive coefficient of the output buffer cell are defined in the output simultaneous operation rule file 23.
[0060]
FIG. 7 is a diagram showing a terminal arrangement sheet for explaining the calculation by the output simultaneous operation terminal number constraint check unit.
[0061]
The combinations (A, B, C, AB, BC, AC, ABC) of all output simultaneous operation groups are displayed on the
[0062]
Here, when the output simultaneous operation group name = ABC is targeted, NG (output simultaneous operation terminal number error) is displayed in the column of the message part (Message) 27_9 of PAD = 10. This output simultaneous operation terminal number error is calculated as follows.
[0063]
As a calculation target, PAD = 2 to 9, PAD where output simultaneous operation group names A, B, or C are defined in output buffer cells arranged on both sides of a power supply of PAD = 10 in the semiconductor chip. = Output buffer cells assigned to 11-13.
[0064]
Here, the allowable drive coefficient of OVDD (spec shown in FIG. 7) is 8 (from the output simultaneous operation rule file 23).
[0065]
The drive coefficient ΣOVDD (val shown in FIG. 7) of the output buffer cell between PAD1 and PAD10 is
VOVDD = (drive coefficient of OBT1 × number of OBT1 + drive coefficient of OBT2 × number of OBT2) / 2 + (drive coefficient of OBT3 × number of OBT3 + drive coefficient of OBT4 × number of OBT4) / 2 = 10.
[0066]
Therefore, NG (spec = 8, val = 10) is displayed in a portion corresponding to the
[0067]
Then, the circuit port information extraction unit 15 shown in FIG. 1 extracts
[0068]
Further, the circuit
[0069]
As described above, the
[0070]
【The invention's effect】
As described above, according to the terminal arrangement device and the terminal arrangement method of the present invention, terminal arrangement can be performed in consideration of noise generated due to simultaneous operation of a plurality of output buffer cells.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram of a terminal arrangement device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a package library file.
FIG. 3 is a diagram showing two fields and a template sheet.
FIG. 4 is a diagram illustrating a terminal arrangement sheet edited and generated by a terminal arrangement sheet editing unit.
5 is a diagram showing a state in which a group name of output buffer cells that operate simultaneously by operating a group button is assigned to the terminal arrangement sheet shown in FIG. 4;
FIG. 6 is a diagram showing a state where accumulated values of drive coefficients are displayed on the terminal arrangement sheet shown in FIG. 5;
FIG. 7 is a diagram showing a terminal arrangement sheet for explaining calculation by a simultaneous output operation terminal number constraint check unit;
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
26_2 Group Button
26_3 Check button (Check)
27 Second field 27_1 Pad section (PAD)
27_2 Terminal (PIN)
27_3 Signal part (SIGNAL)
27_4 Cell part (CELL)
27_5 Input / output unit (IN / OUT)
27_6 Group (GROUP)
27_7 Power supply coefficient section (OVDD)
27_8 Ground coefficient part (OVSS)
27_9 Message part (Message)
28 Template sheet
Claims (2)
半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけ機能と、
半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうチェック機能と、
半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分け機能と、
前記グループ分け機能により分けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定するグループ指定機能とを備え、
前記チェック機能は、前記グループ指定機能で指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、前記チェックを行なうものであることを特徴とする端子配置装置。In a terminal arrangement device which associates external connection pins of a logic circuit with terminals on a semiconductor package,
A function for associating terminals on the semiconductor package with power supply pins, ground pins, and external connection pins of circuit specifications,
A check function for checking whether the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin is a correspondence that matches predetermined output terminal simultaneous operation restrictions,
A grouping function for dividing external output pins of the external connection pins of the logic circuit corresponding to the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to an operation;
A group designation function for designating one or more groups among the groups divided by the grouping function according to an operation;
The terminal arrangement device, wherein the check function performs the check by assuming that external output pins belonging to one or more groups specified by the group specification function operate simultaneously. .
半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけステップと、
半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうチェックステップと、
半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分けステップと、
前記グループ分けステップにより分けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定するグループ指定ステップとを有し、
前記チェックステップは、前記グループ指定ステップで指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、前記チェックを行なうものであることを特徴とする端子配置方法。In a terminal arrangement method for associating external connection pins of a logic circuit with terminals on a semiconductor package,
Associating a power supply pin, a ground pin, and an external connection pin of a circuit specification with a terminal on the semiconductor package;
A check step of checking whether or not the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin is a correspondence that matches predetermined output terminal simultaneous operation constraints;
A grouping step of grouping external output pins of the external connection pins of the logic circuit corresponding to the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to an operation;
A group designation step of designating one or more groups among the groups divided by the grouping step according to an operation;
The terminal arrangement method according to claim 1, wherein the checking step performs the check, assuming that external output pins belonging to one or more groups specified in the group specifying step operate simultaneously. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003113711A JP4256712B2 (en) | 2003-04-18 | 2003-04-18 | Terminal arrangement apparatus and terminal arrangement method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003113711A JP4256712B2 (en) | 2003-04-18 | 2003-04-18 | Terminal arrangement apparatus and terminal arrangement method |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004318640A true JP2004318640A (en) | 2004-11-11 |
JP2004318640A5 JP2004318640A5 (en) | 2006-05-25 |
JP4256712B2 JP4256712B2 (en) | 2009-04-22 |
Family
ID=33473527
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003113711A Expired - Fee Related JP4256712B2 (en) | 2003-04-18 | 2003-04-18 | Terminal arrangement apparatus and terminal arrangement method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4256712B2 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007128339A (en) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor device package design method, layout design tool for implementing the method, and semiconductor prosecution manufacturing method using the same |
JP2007323330A (en) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Fujitsu Ltd | LSI analysis program, recording medium storing the program, LSI analysis apparatus, and LSI analysis method |
JP2009140225A (en) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Toshiba Corp | Method and apparatus for supporting design of semiconductor integrated circuit |
JP2015184860A (en) * | 2014-03-24 | 2015-10-22 | 株式会社メガチップス | Terminal arrangement apparatus and terminal arrangement method |
JP2017085399A (en) * | 2015-10-29 | 2017-05-18 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | Output circuit, output unit and programmable controller |
-
2003
- 2003-04-18 JP JP2003113711A patent/JP4256712B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007128339A (en) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor device package design method, layout design tool for implementing the method, and semiconductor prosecution manufacturing method using the same |
JP2007323330A (en) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Fujitsu Ltd | LSI analysis program, recording medium storing the program, LSI analysis apparatus, and LSI analysis method |
JP2009140225A (en) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Toshiba Corp | Method and apparatus for supporting design of semiconductor integrated circuit |
JP2015184860A (en) * | 2014-03-24 | 2015-10-22 | 株式会社メガチップス | Terminal arrangement apparatus and terminal arrangement method |
JP2017085399A (en) * | 2015-10-29 | 2017-05-18 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | Output circuit, output unit and programmable controller |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4256712B2 (en) | 2009-04-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI312929B (en) | Method for integrally checking chip and package substrate layouts for errors | |
JP3535804B2 (en) | Method for designing flip-chip type semiconductor device | |
US8510698B2 (en) | CAD apparatus and check support apparatus | |
JP2002334933A (en) | Integrated circuit having tap cells and method for placing tap cells in an integrated circuit | |
JPH02115979A (en) | Compaction method for mask pattern of semiconductor integrated circuit device | |
TWI472941B (en) | Method for input/output design of chip | |
JP4256712B2 (en) | Terminal arrangement apparatus and terminal arrangement method | |
US5877942A (en) | Circuit card assembly footprint providing reworkable interconnection paths for use with a surface mount device | |
JP3544356B2 (en) | Layout method and design system for semiconductor integrated circuit | |
JP2006155524A (en) | Verification method, verification device and verification program for semiconductor integrated circuit | |
JP3119631B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device and design method thereof | |
JP3090120B2 (en) | Terminal arrangement device for integrated circuits | |
JP2009140225A (en) | Method and apparatus for supporting design of semiconductor integrated circuit | |
JP3481187B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JP2822675B2 (en) | LSI chip design system | |
JP2910734B2 (en) | Layout method | |
JPH07152811A (en) | Lsi design support system | |
JP3782211B2 (en) | Electronic circuit equipment | |
JPH0575019A (en) | Semiconductor integrated circuit and method of designing the same | |
Darnauer et al. | A silicon-on-silicon field programmable multichip module (FPMCM) integrating FPGA and MCM technologies | |
JP2007115819A (en) | Layout method of integrated circuit, layout apparatus and semiconductor device | |
JP3130891B2 (en) | Wiring method | |
JPH02306650A (en) | semiconductor equipment | |
JP4134598B2 (en) | Semiconductor device and layout method thereof | |
JP2002134621A (en) | Mask data synthesis method, mask data verification method, and semiconductor integrated device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060405 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060405 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080908 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080916 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081114 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090127 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090130 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4256712 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140206 Year of fee payment: 5 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |