JP2004228922A - Optical communication device - Google Patents
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Abstract
【課題】簡単な構成で高性能化を実現した光通信装置を提供する。
【解決手段】参照信号を基準に複数系統のシリアル入力データ間のタイミングずれの調整をデスキュー回路で行い、マルチプレクサにより上記タイミング調整された上記複数系統に対応した複数の入力データをパラレルに受けて光電送線路につたえられるべきシリアル信号に変換するとともに、これらデスキュー回路とマルチプレクサとを一つの封止体にされた半導体装置として構成する。
【選択図】 図1Provided is an optical communication device that achieves high performance with a simple configuration.
A deskew circuit adjusts a timing shift between serial input data of a plurality of systems based on a reference signal, and receives a plurality of input data corresponding to the plurality of systems, the timing of which is adjusted by a multiplexer, in parallel. The signal is converted into a serial signal to be transmitted to the transmission line, and the deskew circuit and the multiplexer are configured as a single sealed semiconductor device.
[Selection diagram] Fig. 1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光通信装置に関し、光通信に用いられる電気的回路技術に利用して有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光通信の高速化に伴い、電気的に信号処理を行うLSIと光モジュール間のデータ転送レートの向上も求められている。電気による伝送部は光よりも遅い為、高速シリアル信号をパラレルで転送する方式のものとして、特開平2002−208896公報がある。また、電子回路でのパラレル転送方式を定めた規格としてSerdes Framer Interface Level−5 (SFI−5)が提案されている。
【0003】
【特許文献1】
特開平2002−208896
【非特許文献1】
Serdes Framer Interface Level−5 (SFI−5 )
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
高速シリアル信号をパラレルに転送する際の問題点として、伝送路の特性の違い等に起因する各信号間の位相ずれが生じる。前記特開平2002−208896公報のように信号間の位相ずれを許容しないものでは、光モジュール間のデータ転送レートが上記電子回路側での位相ずれを許容しない信号電送速度によって制限されてしまう。これに対して、上記SFI−5規格では位相ずれを許容してそれを補正する為に、光モジュール間のデータ転送レートが上記電子回路側の信号電送速度に制限されないのでデータ転送レートの向上が可能になる。
【0006】
上記のようなSFI−5規格では位相ずれを補正する為に、信号用のパラレルデータに加えて各パラレルデータの一部から抽出された信号から成るデスキュー信号を規定しており、デスキュー信号と各パラレルデータの位相差を検知する事により位相差を補正する。本願発明者においては、上記のような位相ずれを補正する回路(以下、デスキュー回路という)は、シフトレジスタやバレルシフタといった比較的大きな回路規模を必要とするので、主要部をCMOS回路で構成した低速回路とし、光伝送線路に伝えられる高速シリアル信号を形成する回路をバイポーラ型トランジスタ等の高速素子を用いた高速回路とし、これらの低速回路と高速回路とを別々のICにより形成してそれを接続することを考えた。
【0007】
しかしながら、上記低速回路と高速回路とを別々のICで構成し、それを実装基板上において接続すると、低速回路において位相ずれが補正された信号が上記実装基板上の信号伝達経路を通して高速回路に伝えられることにより、このIC間の接続経路において再び位相ずれを引き起こす可能性があるという問題に気が付いた。このため、上記低速回路の出力回路としては、タイミングのずれが生じないような高速回路を使用することになるので消費電流が増大し、上記実装基板としては上記出力信号を高品質で伝達する高性能の配線手段を備えた高価なものが必要となる。
【0008】
この発明の目的は、簡単な構成で高性能化を実現した光通信装置を提供することにある。この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下記の通りである。参照信号を基準に複数系統のシリアル入力データ間のタイミングずれの調整をデスキュー回路で行い、マルチプレクサにより上記タイミング調整された上記複数系統に対応した複数の入力データをパラレルに受けて光電送伝送線路につたえられるべきシリアル信号に変換するとともに、これらデスキュー回路とマルチプレクサとを一つの封止体の半導体装置とする。
【0010】
【発明の実施の形態】
図13には、この発明が適用される高速光伝送システムの一実施例の概略図が示されている。受信側の信号処理受信LSIでは、光伝送路を通して転送レートA(例A=40)Gbpsの光信号が受信側の光モジュールに入力される。光モジュルーでは、転送レートをA/K(例k=16のときには2.5)GbpsのK本のパラレルデータに分割される。この光モジュールでは、パラレルデータR0〜Rkの他に各パラレルデータの一部を抽出したデータから成るデスキュー信号RDが出力されて上記受信側の信号処理LSIに入力される。なお、送信側での信号処理LSI→光モジュール間のデータ転送は、上記と同様である。送信側の光モジュールでは、上記受信側とは逆に逆にデスキュー信号RDとR0〜Rkをシリアルデータにした上で光信号の形態で光伝送路に送信する。
【0011】
図1には、この発明に係る光通信装置に用いられる送信側の信号処理装置の一実施例の構成図が示されている。送信側の信号処理装置は、SFI−5アダプタとマルチプレクサMUXとが1つのモジュールとして一体的封止された形態とされる。その内部のSFI−5アダプタは、入出力回路とデスキュー回路からなり、それにマルチプレクサMUXが組み合わされる。つまり、SFI−5アダプタのデスキュー回路は、前記信号処理LSIや、そこから光モジュールに至る信号経路での位相ずれをデスキュー信号RDを用いて補正し、マルチプレクサMUXで光信号に変換されるk倍(16倍)もの高速シリアルデータとされる。
【0012】
図2には、この発明に係る光通信装置に用いられる受信側の信号処理装置の一実施例の構成図が示されている。受信側の信号処理装置でも、SFI−5アダプタとデマルチプレクサDMUXとが1つのモジュールとして一体的封止された形態とされる。その内部のデマルチプレクサDMUXは,上記送信側とは逆に光信号に対応された高速シリアルデータを1/k(1/16)の比較的遅い信号に変換し、SFI−5アダプタは、上記16個のパラレルデータを受け、それにデスキュー信号RDを生成して信号経路での位相ずれを補正しないで上記16のパサラレルデータに付加して全部で17個のパラレルデータを出力する。
【0013】
特に制限されないが、この実施例ではSFI−5アダプタは、上記位相補正を行うデスキュー回路と上記デスキュー信号RDを形成するデスキュー信号生成回路(DSC−G)とを持ち、送信又は受信回路側に使用されるときには上記デスキュー回路又はデスキュー信号生成回路のいずれかが選択的に動作状態にされる。マルチプレクサMUXとデマルチプレクサDMUXは、その信号伝達方向により1:16のマルチプレクサ動作又は16:1のデマルチプレクサ動作を行うようにされる。それ故、SFI−5アダプタ及びマルチプレクサMUX(デマルチプレクサDMUX)のそれぞれの入力側と出力側には、インターフェイスとしての入出力回路が設けられている。
【0014】
上記図1及び図2のSFI−5アダプタは比較的低速である反面、回路規模が大きくなるのでCMOS回路を主要回路とする半導体チップで構成できるのに対して、マルチプレクサMUX(デマルチプレクサDMUX)では、上記図13の例では、そのk倍もの超高速信号に変換するので高速バイポーラトランジスタを用いることが必要である。このため、素子構造の大きく異なる回路素子をそれぞれ使用する2つの回路を1つの半導体基板上に形成することは、現在の技術下では難しい。したがって、これらを図15、図16のように2つの半導体装置で構成し、それを実装基板に搭載して回路を構成することを本願発明に先立って検討した。
【0015】
電子システムでは、QFP(Quad Flat Package) やCSP(Chip Size Package又は Chip Scale Package),BGA(Ball Grid Array) といった通常パッケージ技術によってそれぞれパッケージされた複数の半導体装置を用い、それら複数の半導体装置をプリント基板のような実装基板上に実装して構成される。この場合には、半導体チップ間の距離及びその配線距離を小さくすることが難しくなり、配線による信号遅延が大きく、装置の高速化・小型化の上での制約が生じてしまう。
【0016】
図15においては、デスキュー回路において正しく位相補正しても、その出力信号が上記のような実装基板上での半導体チップ間での比較的長い距離及びその出力回路素子や負荷のばらつき等で再び位相ずれを生じること虞れがある。図16においては、デマルチプレクサDMUXからデスキュー回路に至る経路での比較的長い距離及びその出力回路素子や負荷のばらつき等により位相ずれが生じると、その補正を行う手だてはなく、位相ずれのままデスキュー信号RDが付加されてしまう。
【0017】
これに対して、マルチチップモジュール(Multi Chip Module)技術においては、いわゆるベアチップと称されるような著しく小型の形態にされた複数の半導体チップを一つのパッケージの形態での半導体装置とするため、各チップ間の配線距離を短くすることができ、半導体装置の特性を向上させることができる。また、複数のチップを一つのパッケージとすることによって、半導体装置を小型化でき、かつその実装面積を減少させて半導体装置を小型化できる。
【0018】
したがって、図1と図15及び図2と図16との対比において、両者は回路機能的には同じ入出力回路を用いているが、マルチチップモジュールにおいては、チップ間の信号伝達距離及び負荷が大幅に軽減できるので、前記のような位相ずれ問題を実質的に解決することができる。また、上記のようなマルチチップモジュールを前提とした場合には、上記入出力回路の電流駆動能力も小さくでき、低消費電力化も合わせて実現することができる。この実施例では、互いに密接に関連したSFI−5アダプタとマルチプレクサ(デマルチプレクサ)を選んでマルチチップモジュールとしているので、マルチチップモジュールの特徴を充分に生かすことができるようになる。
【0019】
図3には、前記図1の送信側の信号処理装置に対応した半導体チップの一実施例の構成図が示されている。SFI−5アダプタは、SFI−5バスインターフェイス、デスキュー回路DSK(Deskew)と出力回路から構成され、それにクロックを生成するPLL回路、テスト回路TESTが内蔵される。上記SFI−5バスインターフェイス、デスキュー回路DSK(Deskew)及びPLL回路とテスト回路TESTは、CMOS回路により構成される。これに対して、出力回路は、ECL/CMOSコンバータ(converter)から構成される。つまり、出力回路では、CMOS−バイポーラ複合回路から構成される。
【0020】
マルチプレクサMUXは、それにテスト回路TESTとクロック生成回路CMUが付加される。特にマルチプレクサMUXは、前記のような光信号に対応した高速シリアルデータを扱うので、上記テスト回路やクロック生成回路CMUとともに、シリコン−ガリウムゲルマニウム(Si−GaGe)をトランジスタ等により構成され、上記テスト回路やクロック生成回路CMUは、一般的なシリコン−用いたバイポーラトランジスタが用いられにより構成される。
【0021】
図4には、前記図2の受信側の信号処理装置に対応した半導体チップの一実施例の構成図が示されている。SFI−5アダプタは、SFI−5バスインターフェイス、デスキュー回路DSK(DSCgenerate)と入力回路から構成され、それにクロックを生成するPLL回路、テスト回路TESTが内蔵される。上記SFI−5バスインターフェイス、デスキュー回路(DSCgenerate)及びPLL回路とテスト回路TESTは、CMOS回路により構成される。これに対して、出力回路は、ECL/CMOSコンバータ(converter)から構成される。つまり、入力回路では、CMOS−バイポーラ複合回路から構成される。デマルチプレクサDMUXは、それにテスト回路TESTとクロック生成回路CMUが付加され、デマルチプレクサDMUX、上記テスト回路やクロック生成回路CMUは、シリコン−ガリウムゲルマニウム(Si−GaGe)を用いたトランジスタ等でバイポーラトランジスタにより構成される。、上記テスト回路やクロック生成回路CMUは、一般的なシリコンバイポーラトランジスタが用いられる。
【0022】
図5には、前記図3の送信側の信号処理装置の一実施例の外観図が示されている。通信用モジュールは、前記SFI−5アダプタを構成するICチップと、マルチプレクサを構成するICチップとが1つのICモジュールとして一体的に封止されたものである。つまり、前記のようにいわゆるベアチップと称されるような著しく小型の形態にされたSFI−5アダプタとマルチプレクサとが一つのパッケージ形態とされ、2つのICチップ間の接続は、搭載基板に形成された短い配線により接続される。SFI−5バス及びマルチプレクサの出力端子は、モジュール裏面の半田バンプを通して他の装置の信号のやり取りが行われる。コネクタは、VCOで形成されたクロックの入力用と、40−43Gb/sのような光信号に対応した40Gb/sのような高速信号出力用とが設けられている。
【0023】
図6には、前記図4の受信側の信号処理装置の一実施例の外観図が示されている。通信用モジュールは、前記図5の実施例と同様にデマルチプレクサDMUXを構成するICチップと、前記SFI−5アダプタを構成するICチップとが1つのICモジュールとして一体的に封止されたものである。そして、2つのICチップ間の接続は、搭載基板に形成された短い配線により接続される。SFI−5バス及びデマルチプレクサの入力端子は、モジュール裏面の半田バンプを通して他の装置と接続される。コネクタは、VCOで形成されたクロックの入力用と、40−43Gb/sのような光信号に対応した高速信号入力用とが設けらている。
【0024】
図7には、前記図1の送信側の信号処理装置の他の一実施例のブロック図が示されている。この実施例では、SFI−5アダプタとマルチプレクサMUXとが1チップで構成される。これらのSFIF−5アダプタとマルチプレクサMUXを構成する回路素子が形成できる共通の基板としては、例えば人工サファイヤ基板、人工ダイヤモンド基板を利用することができる。そして、この実施例では、VCOも合わせて搭載し、高速出力信号も半導体集積回路装置の裏面に設けられたバンプ電極を用いる。これにより、前記図5に示したようなコネクタが不要となり、装置の小型化が可能になる。
【0025】
図8には、前記図2の受信側の信号処理装置の他の一実施例のブロック図が示されている。この実施例でも、前記図7と同様にSFI−5アダプタとデマルチプレクサDMUXとが1チップで構成される。この実施例では、VCOも合わせて搭載し、高速入力信号も半導体集積回路装置の裏面に設けられたバンプ電極を用いる。これにより、前記図6に示したようなコネクタが不要となり、装置の小型化が可能になる。
【0026】
図9には、この発明に係る送信側の信号処理装置の一例の動作説明図が示されている。前記図1の信号処理LSIから送られた各パラレル信号00〜0F(00〜15)は、出力回路や伝送線の特性の違い等によりデスキュー信号RDに対してΔT以内の位相ずれが生じている。デスキュー信号RDは、各パラレルデータ信号00〜0Fのmビットを抽出した信号とデータの先頭に付加されたヘッダコードから成る。SFI−5アダプタは、デスキュー信号RDを基準にして各データ00〜0Fの位相ずれを補正してマルチプレクサMUXに伝える。マルチプレクサMUXでは、それを00〜15(0F)の順にシリアルに並べて高速データを生成する。
【0027】
このため、マルチプレクサMUXの入力部に伝えられるSFI−5アダプタからのパラレルデータ00〜0Fに位相ずれが生じると、上記のような補正動作が無駄になり、正しいデータを送信することができなくなる。このような理由によってSFI−5アダプタとマルチプレクサMUXとの間での位相ずれは許されないのである。この実施例では、前記のようなモジュール化あるいは1チップ化によって、この問題を解決することができるものとなる。
【0028】
図10には、この発明に係る受信側の信号処理装置の一例の動作説明図が示されている。前記図13の光モジュールから送られた高速シリアルデータ00〜15(0F)は、デマルチプレクサDMUXによって00〜0F(1:16)からなる16ビットのパラレルデータに展開される。これがSFI−5アダプタに伝えられて、デスキュー信号RDの生成されて17ビットのパラレルデータとして受信側の信号処理LSIに伝えられる。SFI−5アダプタと信号処理LSIとの間では、位相ずれが生じていてもデスキュー信号RDを用いることにより、各データ00〜0Fの位相ずれを補正することができる。
【0029】
しかし、デマルチプレクサDMUXとSFI−5アダプタとの間での位相ずれは補正の手だてがなく、正しいデータの受信がができなくなる。このような理由によってデマルチプレクサDMUXとSFI−5アダプタとの間での位相ずれは許されないのである。この実施例では、前記のようなモジュール化あるいは1チップ化によって、この問題を解決することができるものとなる。
【0030】
図11には、図1のデスキュー回路の一実施例のブロック図が示されている。この実施例では、パラレル展開後に位相調整(ビットずれ補正)を行う場合の概略が示されている。シフトレジスタAはヘッダコード認識用のレジスタである。S/P(シリアル/パラレル)回路でnビットにパラレル展開した後に、各ビットのデータを比較する為にシフトレジスタBでデータを保持する。デスキュー信号RDとシリアルデータ信号R0〜Rk(kは例えば15)間の位相ずれを比較回路で比較し、比較結果を基にバレルシフタでビットをずらして位相(ビット)ずれを補正する。
【0031】
図12には、図1のデスキュー回路の他の一実施例のブロック図が示されている。この実施例では、シリアル−パレラル変換動作での各データ間の位相ずれの調整において、その回路規模を縮小し、レイテンシも短くするために元々S/P回路内にあるシリアルデータ保持用のシフトレジスタAに保持されているデータが利用される。つまり、上記レジスタAに保持されているデスキュー信号RDと各パラレルデータ信号R0〜Rk(kは例えば15)間で各ビットの比較を行い位相差を検知する。比較回路の出力結果に従い、位相調整回路で位相差(ビットずれ)を補正する。この実施例では、S/P回路内に設けられるデマルチプレクサ(De−Multiplexer(DEMUX))に入力する前に位相差が0になっており、S/P変換後もトータルAGbpsの正しい並びのデータとなる。
【0032】
上記位相調整回路は、比較回路の出力結果に基づきシリアルデータをシフトさせるフリップフロップ回路FFの数を調整する事でデスキュー信号RDとの位相差(ビットずれ)を補正する。位相調整はシステム動作開始時に一回だけ調整を行って、その後は位相を固定するか、あるいは位相がずれたら再度位相調整を行うかのいずれかを選択するようにしてもよい。
【0033】
この実施例では、位相差の検知と補正をパラレル展開後ではなく、シリアルデータそのものに対して行うものである。デスキュー信号とシリアルデータ間の位相差を検知して位相差分の補正を行い、パラレル展開する前には各シリアルデータ間の位相差を0にする。元々シリアルデータをパラレルデータに変換するS/P回路には、シリアルデータ列を保持するレジスタを内蔵している。その為、位相差を検知する為のレジスタを追加する必要が無く、レジスタが保持しているデータを比較する比較回路と位相(ビット)ずれを補正する回路のみで実現する事が出来る。
【0034】
図14には、この発明に先立って検討された光通信装置に用いられる信号処理装置のブロック図が示されている。図14(A)は、送信用のSFI−5アダプタと受信用のSFI−5アダプタとがそれぞれ1つの半導体装置とされ、マルチプレクサMUXとデマルチプレクサDMUXとが1つのモジュールで構成される。この構成は、マルチプレクサMUXとデマルチプレクサDMUXの一体化よって、マルチプレクサMUXの出力をデマルチプレクサDMUXの入力に帰還させることにより自身でのテストが可能になるという利点はあるものの、高速動作部が同じモジュール内に設けられており、信号の干渉によってノイズマージンが低下してしまうことの他、消費電流の大きなマルチプレクサMUXの出力をおよびデマルチプレクサDMUXでの発熱が大きくなり放熱対策のためのコストが高くなる。また、上記3つの半導体装置を接続する実装基板での信号配線数が多数となる。
【0035】
図14(B)は、送信用のSFI−5アダプタと受信用のSFI−5アダプタがモジュール化され、マルチプレクサMUXとデマルチプレクサDMUXとがそれぞれ1つの半導体装置により構成される。この構成は、実装基板での配線数が多数となることや、接続用のIOでの消費電力が増大する。
【0036】
図14(C)は、送信用のSFI−5アダプタと受信用のSFI−5アダプタ及びマルチプレクサMUXとデマルチプレクサDMUXとがそれぞれ1つのモジュールで構成される。この例では、前記のようなノイズマージンや発熱の問題に加えて、実装基板での配線数が多数となることや、接続用のIOでの消費電力が増大する。また、SFI−5アダプタのSFI−5busのI/O回路は面積が大きく、これにチップの面積や形状が依存するため、仮に送信用と受信用のSFI−5アダプタを1チップにすると、面積の増大などにより、コストの増大や歩留まりの低下を引き起こす。
【0037】
そして、なによりも図14(A)〜(C)の構成の大きな問題は、本願発明との対比において、SFIIF−5アダプタとマルチプレクサMUXとの間でのパラレル信号の位相ずれ、デマルチプレクサDMUXとSFIIF−5アダプタとの間でのパラレル信号の位相ずれが、上記半導体装置間を接続する実装基板上での信号経路や出力回路のばらつきの影響を受けやすく、その対策のためのコストが増大する。また、本願発明では、高速動作部を送信側と受信側とで別々のモジュールに設けられており、信号の干渉が抑制されて対ノイズマージンを増加させることができるという利点が生じる。
【0038】
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、デスキュー回路の具体的構成は、種々の実施形態を採ることができる。この発明は、前記説明したようなSFI−5に限らず、そのような高速シリアルデータをパラレル展開し、あるいはパラレルデータを高速シリアル展開してデータを処理し、かつ前記のような位相ずれの補正機能を備えた信号処理装置に広く適用可能である。
【0039】
【発明の効果】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである。参照信号を基準に複数系統のシリアル入力データ間のタイミングずれの調整をデスキュー回路で行い、マルチプレクサにより上記タイミング調整された上記複数系統に対応した複数の入力データをパラレルに受けて光電送線路につたえられるべきシリアル信号に変換するとともに、これらデスキュー回路とマルチプレクサとを一つの封止体の半導体装置とすることにより、簡単な構成で高性能化を実現したな光通信装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る光通信装置に用いられる送信側の信号処理装置の一実施例を示す構成図である。
【図2】この発明に係る光通信装置に用いられる受信側の信号処理装置の一実施例を示す構成図である。
【図3】図1の送信側の信号処理装置に対応した半導体チップの一実施例を示す構成図である。
【図4】図2の受信側の信号処理装置に対応した半導体チップの一実施例を示す構成図である。
【図5】図3の送信側の信号処理装置の一実施例を示す外観図である。
【図6】図4の受信側の信号処理装置の一実施例を示す外観図である。
【図7】図1の送信側の信号処理装置の他の一実施例を示すブロック図である。
【図8】図2の受信側の信号処理装置の他の一実施例を示すブロック図である。
【図9】この発明に係る送信側の信号処理装置の一例を示す動作説明図である。
【図10】この発明に係る受信側の信号処理装置の一例を示す動作説明図である。
【図11】図1のデスキュー回路の一実施例を示すブロック図である。
【図12】図1のデスキュー回路の他の一実施例を示すブロック図である。
【図13】この発明が適用される高速光伝送システムの一実施例を示す概略図である。
【図14】この発明に先立って検討された光通信装置に用いられる信号処理装置のブロック図である。
【図15】この発明に先立って検討された光通信装置に用いられる信号処理装置のブロック図である。
【図16】この発明に先立って検討された光通信装置に用いられる信号処理装置のブロック図である。
【符号の説明】
MUX…マルチプレクサ、DMUX…デマルチプレクサ、DSK…デスキュー回路、PLL…位相同期化回路、CMU…クロック生成回路、TEST…テスト回路、S/P…シリアル−パラレル変換回路。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical communication device, and relates to a technology that is effective when used in an electrical circuit technology used for optical communication.
[0002]
[Prior art]
With an increase in the speed of optical communication, an improvement in the data transfer rate between an LSI that performs electrical signal processing and an optical module is also required. Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-208896 discloses a method of transferring a high-speed serial signal in parallel because an electric transmission unit is slower than light. Also, Serdes Framer Interface Level-5 (SFI-5) has been proposed as a standard that defines a parallel transfer method in an electronic circuit.
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-2002-208896
[Non-patent document 1]
Serdes Framer Interface Level-5 (SFI-5)
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
[0005]
As a problem when transferring a high-speed serial signal in parallel, a phase shift occurs between the signals due to a difference in characteristics of a transmission path or the like. In a device that does not allow a phase shift between signals as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-208896, the data transfer rate between optical modules is limited by a signal transmission speed that does not allow a phase shift on the electronic circuit side. On the other hand, in the SFI-5 standard, the data transfer rate between the optical modules is not limited by the signal transmission speed on the electronic circuit side in order to allow and correct the phase shift, so that the data transfer rate is improved. Will be possible.
[0006]
In the SFI-5 standard as described above, in order to correct a phase shift, a deskew signal including a signal extracted from a part of each parallel data is defined in addition to signal parallel data. The phase difference is corrected by detecting the phase difference of the parallel data. The inventor of the present application requires a relatively large circuit scale such as a shift register and a barrel shifter for a circuit for correcting the above-described phase shift (hereinafter, referred to as a deskew circuit). A circuit that forms a high-speed serial signal transmitted to the optical transmission line is a high-speed circuit using high-speed elements such as bipolar transistors. These low-speed circuits and high-speed circuits are formed by separate ICs and connected. Thought about doing.
[0007]
However, when the low-speed circuit and the high-speed circuit are configured as separate ICs and connected on a mounting board, a signal whose phase shift has been corrected in the low-speed circuit is transmitted to the high-speed circuit through a signal transmission path on the mounting board. As a result, a problem has been noticed that a phase shift may be caused again in the connection path between the ICs. Therefore, as the output circuit of the low-speed circuit, a high-speed circuit that does not cause a timing shift is used, so that the current consumption increases, and the mounting board transmits the output signal with high quality. Expensive equipment with high performance wiring means is required.
[0008]
An object of the present invention is to provide an optical communication device that has achieved high performance with a simple configuration. The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The outline of a representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows. The timing shift between serial input data of a plurality of systems is adjusted by a deskew circuit on the basis of a reference signal, and a plurality of input data corresponding to the plurality of systems, the timing of which is adjusted by a multiplexer, is received in parallel to a photoelectric transmission line. The signal is converted into a serial signal to be provided, and the deskew circuit and the multiplexer are used as one sealed semiconductor device.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 13 is a schematic diagram showing one embodiment of a high-speed optical transmission system to which the present invention is applied. In the signal processing receiving LSI on the receiving side, an optical signal having a transfer rate A (eg, A = 40) Gbps is input to the optical module on the receiving side through an optical transmission line. In the optical module, the transfer rate is divided into K parallel data of A / K (eg, 2.5 when k = 16) Gbps. In this optical module, a deskew signal RD including data obtained by extracting a part of each parallel data in addition to the parallel data R0 to Rk is output and input to the signal processing LSI on the receiving side. The data transfer between the signal processing LSI and the optical module on the transmission side is the same as described above. In the optical module on the transmitting side, the deskew signal RD and R0 to Rk are converted into serial data and transmitted to the optical transmission line in the form of an optical signal, contrary to the receiving side.
[0011]
FIG. 1 shows a configuration diagram of an embodiment of a signal processing device on the transmission side used in an optical communication device according to the present invention. The signal processing device on the transmission side is configured such that the SFI-5 adapter and the multiplexer MUX are integrally sealed as one module. The internal SFI-5 adapter includes an input / output circuit and a deskew circuit, and is combined with a multiplexer MUX. That is, the deskew circuit of the SFI-5 adapter corrects a phase shift in the signal processing LSI and a signal path from the signal processing LSI to the optical module using the deskew signal RD, and converts the phase shift into a k-fold signal which is converted into an optical signal by the multiplexer MUX. (16 times) high-speed serial data.
[0012]
FIG. 2 shows a configuration diagram of an embodiment of a signal processing device on the receiving side used in the optical communication device according to the present invention. The signal processing device on the receiving side also has a form in which the SFI-5 adapter and the demultiplexer DMUX are integrally sealed as one module. The internal demultiplexer DMUX converts high-speed serial data corresponding to the optical signal into a relatively slow signal of 1 / k (1/16), contrary to the transmitting side. The parallel data is received, a deskew signal RD is generated therefrom, and a total of 17 parallel data are output in addition to the above 16 parallel data without correcting the phase shift in the signal path .
[0013]
Although not particularly limited, in this embodiment, the SFI-5 adapter has a deskew circuit for performing the phase correction and a deskew signal generation circuit (DSC-G) for forming the deskew signal RD, and is used on the transmission or reception circuit side. When this is done, either the deskew circuit or the deskew signal generation circuit is selectively activated. The multiplexer MUX and the demultiplexer DMUX perform a 1:16 multiplexer operation or a 16: 1 demultiplexer operation depending on the signal transmission direction. Therefore, an input / output circuit as an interface is provided on each input side and output side of the SFI-5 adapter and the multiplexer MUX (demultiplexer DMUX).
[0014]
Although the SFI-5 adapter shown in FIGS. 1 and 2 is relatively slow, it has a large circuit scale and can be constituted by a semiconductor chip having a CMOS circuit as a main circuit, whereas the multiplexer MUX (demultiplexer DMUX) In the example shown in FIG. 13, the signal is converted into a k-times ultra-high-speed signal, so that a high-speed bipolar transistor must be used. Therefore, it is difficult to form two circuits using circuit elements having greatly different element structures on a single semiconductor substrate using current technology. Therefore, prior to the present invention, a study was made on forming these circuits with two semiconductor devices as shown in FIGS. 15 and 16 and mounting them on a mounting substrate to form a circuit.
[0015]
In an electronic system, a plurality of semiconductor devices packaged by a normal package technology such as a QFP (Quad Flat Package), a CSP (Chip Size Package or Chip Scale Package), and a BGA (Ball Grid Array) are used. It is configured by being mounted on a mounting board such as a printed board. In this case, it is difficult to reduce the distance between the semiconductor chips and the wiring distance thereof, and the signal delay due to the wiring is large, which imposes restrictions on speeding up and miniaturizing the device.
[0016]
In FIG. 15, even if the phase is correctly corrected in the deskew circuit, the output signal is re-phased due to the relatively long distance between the semiconductor chips on the mounting board and the variation of the output circuit elements and the load as described above. There is a possibility that a shift may occur. In FIG. 16, when a phase shift occurs due to a relatively long distance in the path from the demultiplexer DMUX to the deskew circuit and variations in its output circuit elements and loads, there is no way to correct the phase shift and the deskew is performed without the phase shift. The signal RD is added.
[0017]
On the other hand, in a multi-chip module (Multi Chip Module) technology, a plurality of extremely small semiconductor chips called so-called bare chips are used as a semiconductor device in the form of one package. The wiring distance between the chips can be reduced, and the characteristics of the semiconductor device can be improved. In addition, by forming a plurality of chips into one package, the size of the semiconductor device can be reduced, and the mounting area can be reduced, so that the size of the semiconductor device can be reduced.
[0018]
Therefore, in comparison between FIGS. 1 and 15 and FIGS. 2 and 16, both use the same input / output circuit in terms of circuit function, but in the multichip module, the signal transmission distance between chips and the load Since this can be greatly reduced, the above-described phase shift problem can be substantially solved. In addition, when the above-described multi-chip module is premised, the current driving capability of the input / output circuit can be reduced, and low power consumption can be realized. In this embodiment, the SFI-5 adapter and the multiplexer (demultiplexer) which are closely related to each other are selected to form a multi-chip module, so that the features of the multi-chip module can be fully utilized.
[0019]
FIG. 3 shows a configuration diagram of an embodiment of a semiconductor chip corresponding to the signal processing device on the transmission side in FIG. The SFI-5 adapter includes an SFI-5 bus interface, a deskew circuit DSK (Deskew) and an output circuit, and includes a PLL circuit for generating a clock and a test circuit TEST. The SFI-5 bus interface, the deskew circuit DSK (Deskew), the PLL circuit and the test circuit TEST are constituted by CMOS circuits. On the other hand, the output circuit includes an ECL / CMOS converter. That is, the output circuit is constituted by a CMOS-bipolar composite circuit.
[0020]
The test circuit TEST and the clock generation circuit CMU are added to the multiplexer MUX. In particular, the multiplexer MUX handles high-speed serial data corresponding to the optical signal as described above. Therefore, the multiplexer MUX is composed of silicon-gallium germanium (Si-GaGe) together with the test circuit and the clock generation circuit CMU using transistors and the like. And the clock generation circuit CMU are configured by using general silicon-based bipolar transistors.
[0021]
FIG. 4 shows a configuration diagram of an embodiment of a semiconductor chip corresponding to the signal processing device on the receiving side in FIG. The SFI-5 adapter includes an SFI-5 bus interface, a deskew circuit DSK (DSC generate), and an input circuit, and includes a PLL circuit for generating a clock and a test circuit TEST. The SFI-5 bus interface, the deskew circuit (DSC generate), the PLL circuit and the test circuit TEST are constituted by CMOS circuits. On the other hand, the output circuit includes an ECL / CMOS converter. That is, the input circuit is constituted by a CMOS-bipolar composite circuit. The demultiplexer DMUX has a test circuit TEST and a clock generation circuit CMU added thereto. The demultiplexer DMUX, the test circuit and the clock generation circuit CMU are bipolar transistors such as silicon-gallium germanium (Si-GaGe) transistors. Be composed. A general silicon bipolar transistor is used for the test circuit and the clock generation circuit CMU.
[0022]
FIG. 5 is an external view of an embodiment of the signal processing device on the transmitting side in FIG. In the communication module, an IC chip forming the SFI-5 adapter and an IC chip forming the multiplexer are integrally sealed as one IC module. That is, as described above, the SFI-5 adapter and the multiplexer, which are formed in a remarkably small form such as a so-called bare chip, are formed into one package, and the connection between the two IC chips is formed on the mounting substrate. Connected by short wiring. The SFI-5 bus and the output terminal of the multiplexer exchange signals with other devices through solder bumps on the back surface of the module. The connector is provided for inputting a clock formed by a VCO and for outputting a high-speed signal such as 40 Gb / s corresponding to an optical signal such as 40-43 Gb / s.
[0023]
FIG. 6 is an external view of one embodiment of the signal processing device on the receiving side in FIG. The communication module is a module in which an IC chip constituting the demultiplexer DMUX and an IC chip constituting the SFI-5 adapter are integrally sealed as one IC module as in the embodiment of FIG. is there. Then, the connection between the two IC chips is connected by a short wiring formed on the mounting substrate. The input terminals of the SFI-5 bus and the demultiplexer are connected to other devices through solder bumps on the back surface of the module. The connectors are provided for inputting a clock formed by a VCO and for inputting a high-speed signal corresponding to an optical signal such as 40-43 Gb / s.
[0024]
FIG. 7 is a block diagram showing another embodiment of the signal processing device on the transmitting side in FIG. In this embodiment, the SFI-5 adapter and the multiplexer MUX are constituted by one chip. As a common substrate on which circuit elements constituting the SFIF-5 adapter and the multiplexer MUX can be formed, for example, an artificial sapphire substrate or an artificial diamond substrate can be used. In this embodiment, a VCO is also mounted, and a bump electrode provided on the back surface of the semiconductor integrated circuit device is used for a high-speed output signal. Thus, the connector as shown in FIG. 5 is not required, and the device can be downsized.
[0025]
FIG. 8 is a block diagram showing another embodiment of the signal processing device on the receiving side shown in FIG. Also in this embodiment, the SFI-5 adapter and the demultiplexer DMUX are constituted by one chip as in FIG. In this embodiment, a VCO is also mounted, and a high-speed input signal also uses a bump electrode provided on the back surface of the semiconductor integrated circuit device. Thus, the connector as shown in FIG. 6 is not required, and the device can be downsized.
[0026]
FIG. 9 is an operation explanatory diagram of an example of the signal processing device on the transmission side according to the present invention. Each of the
[0027]
Therefore, if a phase shift occurs in the
[0028]
FIG. 10 is an operation explanatory diagram of an example of the signal processing device on the receiving side according to the present invention. The high-speed
[0029]
However, a phase shift between the demultiplexer DMUX and the SFI-5 adapter cannot be corrected, and correct data cannot be received. For this reason, a phase shift between the demultiplexer DMUX and the SFI-5 adapter is not allowed. In this embodiment, this problem can be solved by modularization or one chip as described above.
[0030]
FIG. 11 is a block diagram showing one embodiment of the deskew circuit of FIG. In this embodiment, an outline of a case in which phase adjustment (bit shift correction) is performed after parallel development is shown. The shift register A is a register for recognizing a header code. After the data is developed into n bits in parallel by an S / P (serial / parallel) circuit, the data is held in a shift register B in order to compare the data of each bit. A phase shift between the deskew signal RD and the serial data signals R0 to Rk (k is, for example, 15) is compared by a comparison circuit, and a bit is shifted by a barrel shifter based on the comparison result to correct the phase (bit) shift.
[0031]
FIG. 12 is a block diagram showing another embodiment of the deskew circuit of FIG. In this embodiment, in adjusting the phase shift between data in the serial-to-parallel conversion operation, a shift register for holding serial data originally in the S / P circuit to reduce the circuit scale and shorten the latency. The data held in A is used. That is, each bit is compared between the deskew signal RD held in the register A and each of the parallel data signals R0 to Rk (k is, for example, 15) to detect a phase difference. The phase difference (bit shift) is corrected by the phase adjustment circuit according to the output result of the comparison circuit. In this embodiment, the phase difference is 0 before being input to the demultiplexer (De-Multiplexer (DEMUX)) provided in the S / P circuit, and the data of the correct sequence of the total AGbps is maintained after the S / P conversion. It becomes.
[0032]
The phase adjustment circuit corrects the phase difference (bit shift) from the deskew signal RD by adjusting the number of flip-flop circuits FF that shift serial data based on the output result of the comparison circuit. The phase adjustment may be performed only once at the start of the system operation, and thereafter, either the phase may be fixed or the phase may be adjusted again if the phase is shifted.
[0033]
In this embodiment, the detection and correction of the phase difference are performed not on the parallel data but on the serial data itself. The phase difference between the deskew signal and the serial data is detected to correct the phase difference, and the phase difference between the serial data is set to 0 before parallel development. Originally, an S / P circuit that converts serial data into parallel data has a built-in register that holds a serial data string. Therefore, there is no need to add a register for detecting a phase difference, and the circuit can be realized only with a comparison circuit for comparing data held in the register and a circuit for correcting a phase (bit) shift.
[0034]
FIG. 14 is a block diagram of a signal processing device used in an optical communication device studied prior to the present invention. In FIG. 14A, the SFI-5 adapter for transmission and the SFI-5 adapter for reception are each configured as one semiconductor device, and the multiplexer MUX and the demultiplexer DMUX are configured as one module. This configuration has the advantage that the multiplexer MUX and the demultiplexer DMUX are integrated, so that the output of the multiplexer MUX can be fed back to the input of the demultiplexer DMUX, so that the test can be performed by itself. In addition to the fact that the noise margin is reduced due to signal interference, the output of the multiplexer MUX and the demultiplexer DMUX, which consume large current, increase the heat generation in the demultiplexer DMUX, thereby increasing the cost for heat dissipation measures. . Further, the number of signal wirings on the mounting board for connecting the three semiconductor devices increases.
[0035]
In FIG. 14B, the SFI-5 adapter for transmission and the SFI-5 adapter for reception are modularized, and the multiplexer MUX and the demultiplexer DMUX are each configured by one semiconductor device. In this configuration, the number of wirings on the mounting board becomes large, and the power consumption of the connection IO increases.
[0036]
In FIG. 14C, the SFI-5 adapter for transmission, the SFI-5 adapter for reception, the multiplexer MUX, and the demultiplexer DMUX are each configured by one module. In this example, in addition to the problems of the noise margin and heat generation as described above, the number of wirings on the mounting board becomes large, and the power consumption of the connection IO increases. Further, the SFI-5bus I / O circuit of the SFI-5 adapter has a large area, and the area and shape of the chip depend on the area. Therefore, if the SFI-5 adapter for transmission and reception is made into one chip, the area becomes large. This causes an increase in cost and a decrease in yield.
[0037]
14 (A) to 14 (C) are, in comparison with the present invention, the phase shift of the parallel signal between the SFIIF-5 adapter and the multiplexer MUX, and the demultiplexer DMUX. The phase shift of the parallel signal between the SFIIF-5 adapter and the SFIIF-5 adapter is likely to be affected by variations in signal paths and output circuits on a mounting board for connecting the semiconductor devices, thereby increasing the cost for countermeasures. . Further, according to the present invention, the high-speed operation unit is provided in separate modules on the transmission side and the reception side, and there is an advantage that signal interference is suppressed and a noise margin can be increased.
[0038]
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes can be made without departing from the spirit of the invention. Nor. For example, the specific configuration of the deskew circuit can employ various embodiments. The present invention is not limited to the above-described SFI-5, but also processes such high-speed serial data in parallel or parallel data in high-speed serial processing, and corrects the phase shift as described above. It can be widely applied to signal processing devices having functions.
[0039]
【The invention's effect】
The following is a brief description of an effect obtained by a representative one of the inventions disclosed in the present application. The timing shift between serial input data of a plurality of systems is adjusted by a deskew circuit on the basis of a reference signal, and a plurality of input data corresponding to the plurality of systems, the timings of which are adjusted by a multiplexer, are received in parallel and sent to an optical transmission line. By converting these signals into serial signals to be performed and using the deskew circuit and the multiplexer as a single encapsulated semiconductor device, it is possible to realize an optical communication device with a simple configuration and high performance.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a signal processing device on a transmission side used in an optical communication device according to the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram showing an embodiment of a signal processing device on the receiving side used in the optical communication device according to the present invention.
FIG. 3 is a configuration diagram showing one embodiment of a semiconductor chip corresponding to the signal processing device on the transmission side in FIG. 1;
4 is a configuration diagram showing one embodiment of a semiconductor chip corresponding to the signal processing device on the receiving side in FIG. 2;
FIG. 5 is an external view showing an embodiment of the signal processing device on the transmission side in FIG. 3;
FIG. 6 is an external view showing an embodiment of the signal processing device on the receiving side in FIG. 4;
FIG. 7 is a block diagram showing another embodiment of the signal processing device on the transmission side in FIG. 1;
FIG. 8 is a block diagram showing another embodiment of the signal processing device on the receiving side of FIG. 2;
FIG. 9 is an operation explanatory diagram showing one example of a signal processing device on the transmission side according to the present invention.
FIG. 10 is an operation explanatory diagram showing an example of a signal processing device on the receiving side according to the present invention.
FIG. 11 is a block diagram showing one embodiment of a deskew circuit of FIG. 1;
FIG. 12 is a block diagram showing another embodiment of the deskew circuit of FIG. 1;
FIG. 13 is a schematic diagram showing one embodiment of a high-speed optical transmission system to which the present invention is applied.
FIG. 14 is a block diagram of a signal processing device used in an optical communication device studied prior to the present invention.
FIG. 15 is a block diagram of a signal processing device used in an optical communication device studied prior to the present invention.
FIG. 16 is a block diagram of a signal processing device used in an optical communication device studied prior to the present invention.
[Explanation of symbols]
MUX: multiplexer, DMUX: demultiplexer, DSK: deskew circuit, PLL: phase synchronization circuit, CMU: clock generation circuit, TEST: test circuit, S / P: serial-parallel conversion circuit.
Claims (5)
上記デスキュー回路よりタイミング調整された上記複数系統に対応した複数の入力データをパラレルに受け、光電送伝送線路に伝えられるべきシリアル信号に変換するマルチプレクサとを含み、
上記デスキュー回路とマルチプレクサは、一つの封止体に収納されてなることを特徴とする光通信装置。A deskew circuit that performs timing adjustment based on a reference signal with respect to a timing deviation between serial input data of a plurality of systems;
A multiplexer that receives a plurality of input data corresponding to the plurality of systems, the timing of which is adjusted from the deskew circuit, in parallel, and converts the input data into a serial signal to be transmitted to a photoelectric transmission line;
An optical communication device, wherein the deskew circuit and the multiplexer are housed in one sealing body.
上記複数系統に対応したパラレル信号を受け、複数系統からなるシリアル信号と、かかる複数系統のシリアル信号間のタイミングずれの参照信号として用いられる基準タイミング信号を形成する信号生成回路とを含み、
上記デマルチプレクサと上記信号生成回路とは、一つの封止体に収納されてなることを特徴とする光通信装置。Receiving a serial signal transmitted through an optical electrical transmission transmission line, a demultiplexer for converting the parallel signals corresponding to multiple systems,
Receiving the parallel signal corresponding to the plurality of systems, including a serial signal of a plurality of systems, a signal generation circuit for forming a reference timing signal used as a reference signal of the timing shift between the serial signals of the plurality of systems,
The optical communication device, wherein the demultiplexer and the signal generation circuit are housed in one sealing body.
上記デスキュー回路は、パラレル信号を受けて複数系統からなるシリアル信号と、かかる複数系統のシリアル信号間のタイミングずれの参照信号に用いられる基準タイミング信号を形成する信号生成回路とを含み、信号送信側と信号受信側の双方に用いられることを特徴とする光通信装置。In claim 1,
The deskew circuit includes: a serial signal including a plurality of systems receiving a parallel signal; and a signal generation circuit forming a reference timing signal used as a reference signal for a timing shift between the plurality of serial signals. An optical communication device, which is used for both a signal receiving side and a signal receiving side.
上記デスキュー回路とマルチプレクサ又はデマルチプレクサとは、それぞれが1つの半導体チップにより構成されて、モジュール基板に搭載されて一体封止されてなることを特徴とする光通信装置。In any one of claims 1 to 3,
An optical communication device, wherein the deskew circuit and the multiplexer or the demultiplexer are each formed of one semiconductor chip, mounted on a module substrate, and integrally sealed.
上記デスキュー回路は、SFI−5規格を準拠するSFI−5アダプタであることを特徴とする光通信装置。In claim 4,
The optical communication device, wherein the deskew circuit is an SFI-5 adapter conforming to the SFI-5 standard.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003014171A JP2004228922A (en) | 2003-01-23 | 2003-01-23 | Optical communication device |
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JP2003014171A JP2004228922A (en) | 2003-01-23 | 2003-01-23 | Optical communication device |
Publications (1)
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JP2003014171A Pending JP2004228922A (en) | 2003-01-23 | 2003-01-23 | Optical communication device |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8270526B2 (en) | 2008-01-30 | 2012-09-18 | Fujitsu Limited | Communication system |
-
2003
- 2003-01-23 JP JP2003014171A patent/JP2004228922A/en active Pending
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US8270526B2 (en) | 2008-01-30 | 2012-09-18 | Fujitsu Limited | Communication system |
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