JP2004186842A - Differential amplifier circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体集積回路を含む電子回路に関し、特に抵抗とインダクタを負荷インピーダンスとして用いた差動増幅回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、一般的に広く利用されている差動増幅回路の構成例として電解効果トランジスタを用いた差動増幅回路の構成例を図11に示す。
【0003】
作動増幅回路は、ソースを共通接続し、ゲートを信号入力端子5a,5bにそれぞれ接続した電解効果トランジスタ対1a,1bと、トランジスタ対1a,1bのドレインに一端をそれぞれ接続し、他端を正電源端子7に接続した負荷抵抗2a,2bと、トランジスタ対1a,1bの両ソースの接続点と負電源端子8との間に接続された定電流源4と、トランジスタ対1a,1bのドレインにそれぞれ接続された信号出力端子6a,6bによって構成されている。
【0004】
図12は、図11に示した差動増幅回路の一方のゲート回路における等価回路であり、例としてトランジスタ1aにおける等価回路を示している。この図12の中で、容量CLは配線など回路の浮遊容量を全て含むものとする。なお、図12の等価回路は、トランジスタ1aの一方について示しているが、トランジスタ1bについても同じ等価回路となることは言うまでもなく、説明は割愛する。
【0005】
図12に示した等価回路において、トランジスタ1aの負荷インピーダンスZLは、負荷抵抗2aの抵抗値をR、容量CLの容量値をCとすれば、次式で表される。
【0006】
【数1】
(1)式に示されるように、図12の等価回路における負荷インピーダンスZLは、低周波領域においてはRとなり、高周波領域においては容量CLの存在により小さくなる。したがって、高周波領域における利得が低下し、図11の一般的な差動増幅回路は、ある遮断周波数を有する。
【0007】
一方、図11に示す差動増幅回路を改善し、より高い遮断周波数を実現した差動増幅回路の従来例として、特開平2−261218号公報「ディジタル集積回路」に記載の技術を図13に示す。
【0008】
この従来技術はトランジスタ対1a、1bの負荷抵抗2a、2bに直列にインダクタ3a,3bが挿入されたことを特徴としている。
【0009】
図14は、図13に示した差動増幅回路の一方のゲート回路における等価回路を示したものであり、例としてトランジスタ1aにおける等価回路を挙げている。図14の中で、容量CLは配線など回路の浮遊容量を全て含むものとする。なお、図14の等価回路についても、トランジスタ1aの一方について示しているが、容量CLに対してインダクタ3aが並列に挿入されているため、並列共振回路が構成される。図14に示した等価回路において、トランジスタ1aの負荷インピーダンスZLは、負荷抵抗2aの抵抗値をR、容量CLの容量値をC、インダクタ3aのインダクタンス値をLとすれば、次式で表される。
【0010】
【数2】
(2)式に表されるよう、差動対の負荷インピーダンスZLは、低周波領域ではRとなり、図11に示した一般的な差動増幅回路と変わらないが、高周波領域においては容量CLにより低下する項とインダクタ3aにより増加する項が存在するため、インダクタ3aのインダクタンス値Lを適切な値とすることにより、回路の遮断周波数領域において回路利得を上昇させることが可能となる。
【0011】
図14に示した等価回路における周波数特性を図15に示す。図15はインダクタ3aのインダクタンス値Lを変化させたときの、それぞれの周波数特性を示している。
【0012】
図15の特性図から、インダクタンス値Lが小さいときには遮断周波数が低く、インダクタンス値Lが大きくなるに従い遮断周波数が高くなっていることがわかる。しかし、インダクタンス値Lがある値以上になると、ピーキングが生じて帯域内利得の平坦性が損なわれていることが見て取れる。このピーキングが生じる直前のインダクタンス値、すなわち帯域内の平坦性が保たれ、かつ遮断周波数が最も高く高くなるときのインダクタンス値を、最適なインダクタンス値Lbとすると、この値は、負荷抵抗2aの抵抗値をR、容量CLの容量値をCとすると、次式により近似的に表すことができる。
【0013】
【数3】
式(3)にて表されるように、インダクタ3aの最適なインダクタンス値Lbは、負荷抵抗2aの抵抗値Rの自乗と、容量CLの容量値Cに比例する。
【0014】
ここで、図11及び図13に示した従来技術の差動増幅回路における周波数特性を図16に示す。
【0015】
図16は、図11及び図13の回路構成において、トランジスタ1a,1b及び負荷抵抗2a,2bがそれぞれ同じ特性であった場合の周波数特性を示しており、点線aはインダクタがない場合の回路の周波数特性を、実線bは最適なインダクタンス値を有するインダクタとした場合の回路の周波数特性をそれぞれ示している。
【0016】
図11及び図13の回路におけるトランジスタ1a、1b及び負荷抵抗2a,2bがそれぞれ同じ特性であった場合、低周波数領域での利得は一致する。
【0017】
高周波数領域において、図11の回路は(1)式で表したように容量CLによって利得が低下し、ある遮断周波数を有する。一方、図13の回路は(2)式で示したように容量CLとインダクタ3aまたは3bとの並列共振によって利得が上昇するため、図11の回路と比較するとより高い遮断周波数を有することがわかる。
【0018】
しかし、図13に示した従来技術の差動増幅回路では、素子値の変動、特に負荷抵抗2a,2bの抵抗値の変動により、遮断周波数が大きく変化してしまうという欠点を有する。これは(3)式に示すように、最適なインダクタンス値が負荷抵抗の抵抗値の自乗に比例してしまうためである。図13の差動増幅回路において、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が増減した場合の周波数特性を図17に示す。
【0019】
図17には3つの周波数特性が示されており、実線aは抵抗値の変動がなくインダクタンス値が最適な値に設定された場合の周波数特性であり、点線bは抵抗値が増減した場合の周波数特性を、一点鎖線cは抵抗値が増加した場合の周波数特性を示している。点線bに示したように、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が減少すると、低周波領域における回路利得が低下し、また(3)式により求まる最適なインダクタンス値より、インダクタ3a,3bのインダクタンス値が大きくなるため、遮断周波数は高くなるが、ピーキングが生じて利得の平坦性が損なわれる。
【0020】
逆に一点鎖線cに着目すれば、負荷抵抗2a、2bの抵抗値が増加すると低周波領域における回路利得が上昇し、また(3)式により求まる最適なインダクタンス値より、インダクタ3a,3bのインダクタンス値が小さくなり、インダクタ3a,3bと容量CLとの並列共振による帯域改善効果が少なくなり、遮断周波数は低くなる。
【0021】
以上のように、図13に示した従来技術の差動増幅回路では、負荷抵抗の抵抗値が変動した場合、その抵抗と直列に挿入されるインダクタの最適なインダクタンス値が変化するため、回路の遮断周波数が大きく変化してしまう。特に図13の回路を半導体集積回路として用いる場合は、抵抗値の製造ばらつきが比較的大きいこと、インダクタ等の素子の入れ替えが困難なことから、必要とする遮断周波数が得られない、帯域内における利得の平坦性が得られないなどの問題が生じる。
【0022】
また、図11に示した一般的な差動増幅回路と比較し、より高い遮断周波数を実現した例として、特許第3147096号公報に示される技術について図18を用いて説明する。
【0023】
この公報記載の従来技術においては、インダクタ3a,3bを互いに逆位相で誘導結合させたことを特徴としており、その他の構成は図13に示す従来技術と同じである。この回路例は、インダクタ3a,3bが誘導結合によって相互に補われるため、図13のようにインダクタ3aおよび3bをそれぞれ独立に設けた場合と比較して、インダクタンス値を小さく、すなわちインダクタの面積を小さくすることができることを特徴とする回路例である。差動増幅回路の一方のゲート回路における等価回路は図14と同じとなるため、動作としては図13の回路例と同一となる。つまり負荷抵抗2a,2bの抵抗値の変動による周波数特性の変化も図13に示した従来技術の差動増幅回路と同じとなるので、動作の詳細説明は割愛する。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】
従来技術による抵抗とインダクタを負荷インピーダンスとして有する差動増幅回路においては、負荷抵抗の抵抗値が変動した場合、その抵抗と直列に挿入されたインダクタの最適インダクタンス値が変動するため、負荷抵抗の抵抗値が減少する場合にはピーキングを生じて遮断周波数が高くなり、また負荷抵抗の抵抗値が増加した場合には、回路の遮断周波数が大きく変化してしまうという課題を生じていた。
【0025】
本発明の目的は、抵抗とインダクタを負荷インピーダンスとして用いた差動増幅回路において、抵抗値の変動により生じる遮断周波数、及び帯域内利得の変化を抑制することにある。
【0026】
【特許文献1】
特開平2−261218号公報
【特許文献2】
特許第3147096号公報
【0027】
【課題を解決するための手段】
これらの課題を鑑み、本発明の差動増幅回路は、ソースを共通接続し、ゲートを信号入力端子にそれぞれ接続した一対のトランジスタと、前記一対のトランジスタのドレインに一端をそれぞれ接続され、他端はそれぞれインダクタを介して正電源端子に接続された第一の負荷抵抗と、前記一対のトランジスタのソース共通接続点と負電源端子との間に接続される定電流源と、前記一対のトランジスタのドレインにそれぞれ接続される信号出力端子と、前記負荷抵抗と前記インダクタのそれぞれの接続点との間に接続される抵抗性インピーダンスとによって構成されることを特徴としている。
【0028】
また本発明の別構成例では、上述の構成における前記第一の負荷抵抗が、一端が前記一対のトランジスタの両ドレインにそれぞれ接続され、他端が前記インダクタと抵抗性インピーダンスをそれぞれ介して正電源端子に接続されていることを特徴としている。
【0029】
さらに本発明の差動増幅回路の別構成例では、前記抵抗性インピーダンスが第二の負荷抵抗で構成されることを特徴としている。
【0030】
本発明のさらに他の構成例では、前記抵抗性インピーダンスが、可変抵抗および該可変抵抗の抵抗値を制御する可変抵抗制御手段により構成されることを特徴としている。
【0031】
本発明の他の構成例では、前記抵抗性インピーダンスが、Pchパストランジスタおよび該Pchパストランジスタのゲート電位を制御するPchパストランジスタ制御手段により構成されることを特徴としている。
【0032】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【0033】
図1に示す本発明の差動増幅回路は、ソースを共通接続し、ゲートを信号入力端子5a,5bにそれぞれ接続したトランジスタ対1a,1bと、トランジスタ対1a,1bのドレインに一端をそれぞれ接続し、他端をインダクタ3a,3bをそれぞれ介して正電源端子7に接続した負荷抵抗2a,2bと、トランジスタ対1a,2aのソース共通接続点と負電源端子8との間に接続された定電流源4と、トランジスタ対1a,1bのドレインにそれぞれ接続された信号出力端子6a,6bと、負荷抵抗2aとインダクタ3aの接続点と負荷抵抗2bとインダクタ3bの接続点の間に接続された抵抗性インピーダンス9により構成される。
【0034】
続いて、本発明の動作について、図1、図2および図3を参照して詳細に説明する
まず、図1においてトランジスタ1a,1bにより構成される差動対の負荷インピーダンスにつき、図2を用いて説明する。
【0035】
図2は、図1に示した差動増幅回路の一方のゲート回路における等価回路であり、トランジスタ1aにおける等価回路を例として示している。
【0036】
ただし差動回路であるため、一対の中間に仮想の接地点があるものとすると、図2に示した抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値は図1における抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値の半値である。また図2において、容量CLは配線など回路の浮遊容量を全て含む。
【0037】
なお、図2の等価回路は、トランジスタ1aの一方について示しているが、トランジスタ1bについても同じ等価回路となるため、説明は割愛する。
【0038】
図2の等価回路においては、容量CLと、インダクタ3a、および抵抗性インピーダンス9とが並列に挿入されているため、並列共振回路が構成される。
【0039】
このときトランジスタ1aの負荷インピーダンスZLは、負荷抵抗2aの抵抗値をR、容量CLの容量値をC、インダクタ3aのインダクタンス値をL、抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値をZrとすれば、次式で表される。
【0040】
【数4】
ここで、Zlrはインダクタ3aと抵抗性インピーダンス9の合成インピーダンスであり、次式で表される。
【0041】
【数5】
(4)式および(5)式に表されるように、差動対の負荷インピーダンスZLは、低周波領域ではRとなり、高周波領域においては容量CLにより低下する項と、インダクタ3aと抵抗性インピーダンス9の合成インピーダンスにより増加する項とが存在する。そのため、インダクタ3aのインダクタンス値Lと抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値Zrを適切な値とすることにより、回路の遮断周波数領域において回路利得を上昇させることが可能となる。
【0042】
ここで、図2に示した等価回路における周波数特性を図3に示す。図3には抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値Zrを変化させたときの周波数特性を示しており、図3中の実線aはインピーダンス値Zrが最適なインピーダンス値のときの周波数特性を、一点鎖線bはインピーダンス値Zrが小さいときの周波数特性を、点線cはインピーダンス値Zrが大きいときの周波数特性を示している。
【0043】
インピーダンス値Zrが十分小さく、ほぼ零に等しいときには、(5)式に示した合成インピーダンスZlrがほぼ零となるため、(4)式より、高周波領域における負荷インピーダンスが容量CLによって低下し、遮断周波数が低くなる。逆にインピーダンス値Zrが十分大きく、ほぼ無視できるときには、(5)式に示した合成インピーダンスZlrがほぼjωLとなるため、容量CLとの並列共振によって遮断周波数が高くなり、ピーキングが生じる。
【0044】
このように、抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値が小さくなると、インダクタ3a,3bの影響が小さくなり、抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値が大きくなると、インダクタ3a,3bの影響が大きくなる。したがって、負荷抵抗2a,2bの抵抗値の変動に合わせて、抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値が変化する。すなわち負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなったときに、抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値が小さくなり、逆に負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなったときに、抵抗性インピーダンス9のインピーダンス値が大きくなれば、抵抗性インピーダンス9がない従来技術の差動増幅回路と比較して、抵抗変動によって生じる遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を抑制することが可能となる。
【0045】
また、図1に示した本発明の実施の形態は、素子数が最小となるように、差動増幅回路の負荷抵抗2a,2bとインダクタ3a,3bのそれぞれの接続点の間に抵抗性インピーダンス9を設けたが、図4に示すように、抵抗性インピーダンス9を、差動増幅回路の負荷抵抗2a,2bとインダクタ3a,3bのそれぞれの接続点と正電源端子7との間に独立して構成しても同じ効果が得られる。その理由は、図4に示した差動増幅回路の一方のゲート回路における等価回路は、図2に示すものと同じになるからである。ただし、図4の抵抗性インピーダンス9a,9bは、それぞれ独立して構成されているので、図2に示す抵抗性インピーダンスのインピーダンス値は、図4の抵抗性インピーダンス9aまたは9bのインピーダンス値と同じ値となる。
【0046】
したがって、図4のように抵抗性インピーダンス9a,9bを独立して設けた場合においても、負荷抵抗2a,2bの抵抗値の変動に合わせ抵抗性インピーダンス9a,9bのインピーダンス値が変化する。すなわち負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなったときは、抵抗性インピーダンス9a,9bのインピーダンス値が小さくなり、逆に負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなったときは、抵抗性インピーダンス9a,9bのインピーダンス値が大きくなるので、抵抗性インピーダンス9a,9bを持たない従来技術の差動増幅回路と比較して、抵抗変動によって生じる遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を抑制することが可能となる。
【0047】
【実施例】
以下、本発明の第1実施例について図5を参照して詳細に説明する。
本発明の第1実施例の差動増幅回路は、ソースを共通接続し、ゲートを信号入力端子5a,5bにそれぞれ接続したトランジスタ対1a,1bと、このトランジスタ対1a,1bのドレインに一端をそれぞれ接続し、他端をインダクタ3a,3bをそれぞれ介して正電源端子7に接続した負荷抵抗2a,2bと、前記トランジスタ対1a,1bのソース共通接続点と負電源端子8との間に接続された定電流源4と、前記トランジスタ対1a,1bのドレインにそれぞれ接続された信号出力端子6a,6bと、前記負荷抵抗2aと前記インダクタ3aの接続点と、前記負荷抵抗2bと前記インダクタ3bの接続点とを結んで接続された抵抗10により構成されている。
【0048】
続いて本実施例の動作について、同じく図5を用いて説明する。
【0049】
まず、トランジスタ対1a,1bにより構成される差動対の負荷インピーダンスについて説明する。
【0050】
差動対を構成するトランジスタ1aの負荷インピーダンスZLaは、負荷抵抗2aの抵抗値をRr、インダクタ3aのインダクタンス値をL、抵抗10の抵抗値を2*Rlとすれば、次式で表される。
【0051】
【数6】
ここで、Cは配線などトランジスタ1aのドレインノードの全浮遊容量合計値、Zlrはインダクタ3aと抵抗10の半値との合成インピーダンスであり、これは次式で表される。
【0052】
【数7】
また、トランジスタ1bの負荷インピーダンスZLbは、負荷抵抗2bの抵抗値を負荷抵抗2aと同じRr、インダクタ3bのインダクタンス値を3aと同じLとすれば、同一の式で表せるため説明は割愛する。
【0053】
上述の(6)式および(7)式に表されるように、トランジスタ1a,1bの負荷インピーダンスZLa,ZLbは低周波数領域ではRとなり、高周波数領域においては容量Cにより低下する項とインダクタ3aと抵抗10のインピーダンス値2*Rlにより増加する項の両方が存在するため、インダクタ3aのインダクタンス値Lと抵抗10のインピーダンス値2*Rlを適切な値にすることにより、回路の遮断周波数領域における回路利得を上昇させることが可能となる。
【0054】
ここで、抵抗10の抵抗値Rが十分に小さくほぼ零に等しい際には、(7)式に示された合成インピーダンスZlrがほぼ零となり、(6)式より高周波数領域における負荷インピーダンスは低下し、遮断周波数が低くなる。逆に、抵抗10の抵抗値Rが十分大きく、ほぼ無視できるときには、(7)式に示された合成インピーダンスZlrはほぼjωLとなり、容量Cとの並列共振によって遮断周波数が高くなり、ピーキングを生ずる。このように、抵抗10の抵抗値が小さくなるとインダクタ3a,3bの影響が小さくなり、抵抗値が大きくなるとインダクタ3a,3bの影響が大きくなる。
【0055】
このように、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなり、最適なインダクタンス値よりインダクタ3aの値が大きくなったとき、抵抗10の抵抗値が負荷抵抗2a,2bと同様に小さくなれば、実効的なインダクタンス値が小さくなり、周波数特性の変化を抑制することができる。逆に負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなり、最適なインダクタンス値よりインダクタ3a,3bの値が小さくなったとき、抵抗10の抵抗値が負荷抵抗2a,2bと同様に大きくなれば、実効的なインダクタンス値は大きくなるため、抵抗10を持たない従来技術の差動増幅回路と比較して、抵抗変動によって生じる遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を抑制することが可能となる。
【0056】
次に、本発明の第2実施例について図面を参照して詳細に説明する。
図6に示すとおり、本発明の第2実施例における差動増幅回路は、ソースを共通接続し、ゲートを信号入力端子5a,5bにそれぞれ接続したトランジスタ対1a,1bと、前記トランジスタ対1a,1bのドレインに一端をそれぞれ接続し、他端をインダクタ3a,3bをそれぞれ介して正電源端子7に接続した負荷抵抗2a,2bと、前記トランジスタ対1a,1bのソース共通接続点と負電源端子8との間に接続された定電流源4と、前記トランジスタ対1a,1bのドレインにそれぞれ接続された信号出力端子6a,6bと、前記負荷抵抗2aと前記インダクタ3aの接続点と、前記負荷抵抗2bと前記インダクタ3bの接続点との間に接続される抵抗性可変インピーダンス11と、前記抵抗性可変インピーダンス11のインピーダンス値を制御する制御電圧入力端子により構成されている。本実施例を一言で言えば、図1に示す抵抗性インピーダンス9が抵抗性可変インピーダンス11に置き換わり、抵抗性可変インピーダンス11のインピーダンス値を制御電圧入力端子12に印可する制御電圧の電位により制御する構成としたことを特徴としており、その他の構成は図1と同様である。
【0057】
続いてこの第2実施例の動作について説明する。図1に示した本発明の第1の実施形態と同様に、抵抗性可変インピーダンス11のインピーダンス値が十分に小さく、ほぼ零に等しいときには、インダクタ3a,3bの影響がほとんどなくなり、回路の周波数特性における遮断周波数は低くなる。逆に、抵抗性可変インピーダンス11のインピーダンス値が十分に大きく、ほぼ無視できるときには、回路の周波数特性における遮断周波数は高くなり、ピーキングを生ずることとなる。
【0058】
このような場合において、負荷抵抗2a、2bの抵抗値の変動に応じ、抵抗性可変インピーダンス11のインピーダンス値を、制御電圧入力端子12に印可する制御電圧の電位により適宜変化させることにより、抵抗変動によって生ずる遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を補正する。
【0059】
次に本発明の第3実施例について図面を参照して詳細に説明する。図7に示すとおり、本発明の差動増幅回路の第3実施例は、ソースを共通接続し、ゲートを信号入力端子5a,5bにそれぞれ接続したトランジスタ対1a,1bと、前記トランジスタ対1a,1bのドレインに一端をそれぞれ接続し、他端をインダクタ3a,3bをそれぞれ介して正電源端子7に接続した負荷抵抗2a,2bと、前記トランジスタ対1a,1bのソース共通接続点と負電源端子8との間に接続された定電流源4と、前記トランジスタ対1a,1bのドレインにそれぞれ接続された信号出力端子6a,6bと、前記負荷抵抗2aと前記インダクタ3aの接続点と、前記負荷抵抗2bと前記インダクタ3bの接続点との間に接続された可変抵抗13と、前記可変抵抗13の抵抗値を制御する制御電圧入力端子12により構成されている。
【0060】
続いて、本発明の第3実施例の動作について、図7、図8および図9を参照して説明する。
【0061】
図7に示す本発明の第3実施例の構成は、図5に示した本発明の第1実施例の構成において、負荷抵抗2a,2bとインダクタ3a,3bそれぞれの接続点間の抵抗10を可変抵抗13に置き換え、可変抵抗13の抵抗値を制御電圧入力端子12より印可される制御電圧の電位により制御する構成となっているが、その他の構成は第1実施例と同様である。
【0062】
つまり、第1実施例と同様に可変抵抗13の抵抗値が十分小さく、ほぼ零に等しいときは、負荷抵抗2a,2bとインダクタ3a,3bの影響がなくなり、回路の周波数特性における遮断周波数が低くなる。
【0063】
したがって、図7に示した本発明の第3実施例において、負荷抵抗2a,2bの抵抗値の変動に応じて、可変抵抗13の抵抗値を、制御電圧入力端子12に印可する制御電圧の電位により変化させる。すなわち負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなったときは、可変抵抗13の抵抗値が小さくなるように制御電圧の電位を調整し、逆に負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなったときは、可変抵抗13の抵抗値が大きくなるように制御電圧の電位を調整すれば、抵抗変動によって生じる遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を補正することが可能となる。
【0064】
ここで図7に示した本発明の第3実施例の回路における周波数特性を図8および図9に示す。図8には、負荷抵抗2a,2bの抵抗値に変動がなく、帯域内利得の平坦性が保たれ、かつ遮断周波数が最も高くなるように、制御電圧入力端子12に入力される制御電圧の電位が調整された場合の周波数特性(実線A)と、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなり、かつ制御電圧の電位を調整していない場合の周波数特性(点線B)と、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなり、かつ制御電圧の電位を可変抵抗13の抵抗値が小さくなるように調整した場合の周波数特性(実線B‘)を各々示している。点線Bの場合、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなり、制御電圧入力端子12に入力する制御電圧を調整していない場合には、図13に示した従来技術の差動増幅回路と同様に、遮断周波数は高くなるが、帯域内利得の平坦性が損なわれる。
【0065】
一方、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなり、制御電圧入力端子12に入力する制御電圧を、可抵抗13の抵抗値が小さくなるように調整した場合は、インダクタ3a,3bの影響が小さくなり、遮断周波数を下げ、抵抗変動がない実線Aの周波数と同じ遮断周波数を有し、かつ帯域内利得の平坦性を保つことができる。
【0066】
また図9には、負荷抵抗2a,2bの抵抗値に変動がなく、帯域内利得の平坦性が保たれ、かつ遮断周波数が最も高くなるように、制御電圧入力端子12に入力する制御電圧の電位が調整された場合の周波数特性(実線A)と、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなり、かつ制御電圧の電位を調整していない場合の周波数特性(点線C)と、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなり、かつ制御電圧の電位を可変抵抗13の抵抗値が大きくなるように調整した場合の周波数特性(実線C‘)を示している。
【0067】
図9中の点線Cに示すように、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなり、制御電圧入力端子12に入力する制御電圧の電位を調整していない場合には、図13に示した従来技術の差動増幅回路と同様に、遮断周波数が低くなり、場合によっては必要とする遮断周波数が得られなくなる。一方、負荷抵抗2a,2bの抵抗値が大きくなり、制御電圧入力端子12に入力する制御電圧を、可変抵抗13の抵抗値が大きくなるように調整した場合は、インダクタ3a,3bの影響が大きくなり、遮断周波数を上げ、抵抗変動がない図9中の実線Aの周波数特性と同じ遮断周波数を得ることが可能となる。
【0068】
以上説明してきたように、本発明の第3実施例においては、負荷抵抗2a,2bの抵抗値の変動に応じて、可変抵抗13の抵抗値を制御電圧入力端子12に印可する制御電圧の電位によって変化させることによって、抵抗変動によって生ずる遮断周波数および帯域内利得の平坦性の変化を補正することが可能となる。したがって、可変抵抗13の抵抗値は、制御電圧入力端子12に印可する電位によって独立に制御できるため、負荷抵抗2a,2bの抵抗値と可変抵抗13の抵抗値は、同等の変動でなくとも、遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を補正することが可能となる。
【0069】
さらに、図10を参照して本発明の第4実施例につき詳細に説明する。
【0070】
この第4実施例の差動増幅回路は、ソースを共通接続し、ゲートを信号入力端子5a,5bにそれぞれ接続したトランジスタ対1a,1bと、前記トランジスタ対1a,1bのドレインに一端をそれぞれ接続し、他端をインダクタ3a,3bをそれぞれ介して正電源端子7に接続した負荷抵抗2a,2bと、前記トランジスタ対1a,1bのソース共通接続点と負電源端子8との間に接続された定電流源4と、前記トランジスタ対(1a,1b)のドレインにそれぞれ接続された信号出力端子6a,6bと、前記負荷抵抗2aと前記インダクタンス3aの接続点と、前記負荷抵抗2bと前記インダクタンス3bの接続点との間に接続されたPchパストランジスタ14と、前記Pchパストランジスタ14のゲート電位を制御する制御電圧入力端子12により構成されている。
【0071】
続いてこの第4実施例の動作について説明する。
【0072】
図10に示す本実施例の構成は、図7に示した本発明の第3実施例における可変抵抗13をPchパストランジスタ14に変更し、Pchパストランジスタ14のゲート電位を制御電圧入力端子12に印可する制御電圧の電位によって制御する構成となっており、その他の構成は第3実施例と同じである。
【0073】
ここで、Pchパストランジスタ14について説明する。制御電圧入力端子12に入力される制御電圧の電位が高く、Pchパストランジスタ14のゲート〜ソース間電圧が、しきい電圧:VTより小さい場合、Pchパストランジスタ14はオフ状態となり、ソース〜ドレイン間抵抗は大きくなる。逆に制御電圧入力端子12に入力される制御電圧の電位が低く、Pchパストランジスタ14のゲート〜ソース間電圧が、しきい電圧:VTより大きい場合、Pchパストランジスタ14はオン状態となり、ソース〜ドレイン間抵抗は小さくなる。
【0074】
このように、Pchパストランジスタ14のソース〜ドレイン間抵抗は、制御電圧入力端子12に入力される電位によって変化するため、可変抵抗としての役割を果たす。したがって、図7に示した本発明の第3実施例と同様に、負荷抵抗2a,2bの抵抗値の変動に応じて、Pchパストランジスタ14のソース〜ドレイン間抵抗を、制御電圧入力端子12に印可する制御電圧の電位によって変化させる。すなわち負荷抵抗2a,2bの抵抗値が小さくなったときに、Pchパストランジスタ14のソース〜ドレイン間抵抗が大きくなるように制御電圧の電位を調整すれば、抵抗変動によって生じる遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を補正することが可能となる。
【0075】
【発明の効果】
以上説明してきたように本発明の差動増幅回路は、負荷インピーダンスを構成するインダクタと並列に抵抗性インピーダンスが接続されているため、この値を変化させることによりインダクタと配線などの浮遊要領との並列共振における共振周波数、および回路利得のピーキング量を任意に変化させることができる。よって、抵抗変動による周波数特性の遮断周波数、および帯域内利得の平坦性の変化を抑制という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の差動増幅回路の実施形態を示す構成図である。
【図2】図1の差動増幅回路の一方のゲート回路における等価回路を示す回路図である。
【図3】図2の等価回路の周波数特性を示す特性図である。
【図4】本発明の他の実施形態を示す構成図である。
【図5】本発明の第1実施例を示す回路図である。
【図6】本発明の第2実施例を示す回路図である。
【図7】本発明の第3実施例を示す回路図である。
【図8】図7に示す回路において、負荷抵抗が小さくなったときの周波数特性を示す特性図である。
【図9】図7に示す回路において、負荷抵抗が大きくなったときの周波数特性を示す特性図である。
【図10】本発明の第4実施例を示す図である。
【図11】一般的な差動増幅回路を示す回路図である。
【図12】図11に示す回路の一方のゲート回路における等価回路を示す回路図である。
【図13】従来技術の差動増幅回路を示す回路図である。
【図14】図13に示す回路の一方のゲート回路における等価回路を示す図である。
【図15】図14に示す等価回路の周波数特性を示す特性図である。
【図16】図11および図13に示す回路の周波数特性を示す特性図である。
【図17】図13に示す回路において、負荷抵抗が変動した場合の周波数特性を示す特性図である。
【図18】従来技術の他の差動増幅回路を示す回路図である。
【符号の説明】
1a,1b トランジスタ
2a,2b 負荷抵抗
3a,3b インダクタ
4 定電流源
5a,5b 信号入力端子
6a,6b 信号出力端子
7 正電源端子
8 負電源端子
9 抵抗性インピーダンス
10 抵抗
11 抵抗性可変インピーダンス
12 制御電圧入力端子
13 可変抵抗
14 Pchパストランジスタ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an electronic circuit including a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a differential amplifier circuit using a resistor and an inductor as load impedance.
[0002]
[Prior art]
FIG. 11 shows a configuration example of a differential amplifier circuit using a field effect transistor as a configuration example of a differential amplifier circuit that is generally and widely used in the related art.
[0003]
The operational amplifier circuit has a source connected in common, a gate connected to the
[0004]
FIG. 12 is an equivalent circuit in one gate circuit of the differential amplifier circuit shown in FIG. 11, and shows an equivalent circuit in the
[0005]
In the equivalent circuit shown in FIG. 12, the load impedance ZL of the
[0006]
(Equation 1)
As shown in the equation (1), the load impedance ZL in the equivalent circuit of FIG. 12 is R in the low frequency region, and becomes smaller in the high frequency region due to the presence of the capacitor CL. Therefore, the gain in the high frequency region decreases, and the general differential amplifier circuit of FIG. 11 has a certain cutoff frequency.
[0007]
On the other hand, as a conventional example of a differential amplifier circuit in which a higher cut-off frequency is realized by improving the differential amplifier circuit shown in FIG. Show.
[0008]
This prior art is characterized in that
[0009]
FIG. 14 shows an equivalent circuit in one gate circuit of the differential amplifier circuit shown in FIG. 13, and shows an equivalent circuit in the
[0010]
(Equation 2)
As expressed by equation (2), the load impedance ZL of the differential pair becomes R in the low frequency region, which is the same as that of the general differential amplifier circuit shown in FIG. Since there is a term that decreases and a term that increases due to the
[0011]
FIG. 15 shows frequency characteristics in the equivalent circuit shown in FIG. FIG. 15 shows respective frequency characteristics when the inductance value L of the
[0012]
From the characteristic diagram of FIG. 15, it can be seen that when the inductance value L is small, the cutoff frequency is low, and as the inductance value L increases, the cutoff frequency increases. However, it can be seen that when the inductance value L exceeds a certain value, peaking occurs and the flatness of the in-band gain is impaired. Assuming that the inductance value immediately before the occurrence of the peaking, that is, the inductance value when the flatness in the band is maintained and the cutoff frequency is the highest, is the optimum inductance value Lb, this value is the resistance of the
[0013]
[Equation 3]
As represented by Expression (3), the optimum inductance value Lb of the
[0014]
Here, FIG. 16 shows the frequency characteristics of the conventional differential amplifier circuit shown in FIG. 11 and FIG.
[0015]
FIG. 16 shows frequency characteristics when the
[0016]
When the
[0017]
In the high frequency region, the circuit of FIG. 11 has a certain cut-off frequency in which the gain is reduced by the capacitance CL as expressed by equation (1). On the other hand, since the gain of the circuit of FIG. 13 is increased by the parallel resonance of the capacitor CL and the
[0018]
However, the differential amplifier circuit of the prior art shown in FIG. 13 has a drawback that the cutoff frequency greatly changes due to fluctuations in element values, particularly fluctuations in the resistance values of the
[0019]
FIG. 17 shows three frequency characteristics. The solid line a shows the frequency characteristics when the inductance value is set to an optimum value without a change in the resistance value, and the dotted line b shows the frequency characteristics when the resistance value increases and decreases. The dashed line c indicates the frequency characteristic when the resistance value increases. As shown by the dotted line b, when the resistance values of the
[0020]
Conversely, focusing on the dashed line c, if the resistance values of the
[0021]
As described above, in the conventional differential amplifier circuit shown in FIG. 13, when the resistance value of the load resistor fluctuates, the optimum inductance value of the inductor inserted in series with the resistance changes. The cutoff frequency changes greatly. In particular, when the circuit of FIG. 13 is used as a semiconductor integrated circuit, the required cut-off frequency cannot be obtained because the variation in resistance is relatively large and it is difficult to replace elements such as inductors. Problems such as the inability to obtain flatness of the gain occur.
[0022]
As an example of achieving a higher cutoff frequency than the general differential amplifier circuit shown in FIG. 11, a technique disclosed in Japanese Patent No. 3147096 will be described with reference to FIG.
[0023]
The prior art described in this publication is characterized in that
[0024]
[Problems to be solved by the invention]
In a conventional differential amplifier circuit having a resistor and an inductor as load impedances, when the resistance of the load resistor fluctuates, the optimum inductance value of the inductor inserted in series with the resistor fluctuates. When the value decreases, peaking occurs to increase the cutoff frequency, and when the resistance value of the load resistor increases, the cutoff frequency of the circuit greatly changes.
[0025]
An object of the present invention is to suppress a change in a cutoff frequency and a gain in a band caused by a change in a resistance value in a differential amplifier circuit using a resistor and an inductor as load impedance.
[0026]
[Patent Document 1]
JP-A-2-261218
[Patent Document 2]
Japanese Patent No. 3147096
[0027]
[Means for Solving the Problems]
In view of these problems, a differential amplifier circuit according to the present invention has a pair of transistors whose sources are commonly connected and whose gates are respectively connected to signal input terminals, and one end of each of which is connected to the drain of the pair of transistors, and the other end. A first load resistor connected to a positive power supply terminal via an inductor, a constant current source connected between a source common connection point of the pair of transistors and a negative power supply terminal, It is characterized by comprising a signal output terminal connected to each of the drains, and a resistive impedance connected between the load resistance and each connection point of the inductor.
[0028]
In another configuration example of the present invention, the first load resistance in the above-described configuration has one end connected to both drains of the pair of transistors, and the other end connected to a positive power supply via the inductor and the resistive impedance, respectively. It is characterized by being connected to a terminal.
[0029]
Further, another configuration example of the differential amplifier circuit according to the present invention is characterized in that the resistive impedance is constituted by a second load resistor.
[0030]
In still another configuration example of the present invention, the resistive impedance includes a variable resistor and a variable resistance control unit that controls a resistance value of the variable resistor.
[0031]
In another configuration example of the present invention, the resistive impedance is configured by a Pch pass transistor and a Pch pass transistor control unit that controls a gate potential of the Pch pass transistor.
[0032]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0033]
In the differential amplifier circuit of the present invention shown in FIG. 1, the sources are connected in common, and the gates are connected to the
[0034]
Subsequently, the operation of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 1, FIG. 2 and FIG.
First, the load impedance of the differential pair constituted by the
[0035]
FIG. 2 is an equivalent circuit in one gate circuit of the differential amplifier circuit shown in FIG. 1, and shows an equivalent circuit in the
[0036]
However, assuming that there is a virtual ground point in the middle of the pair, the impedance value of the resistive impedance 9 shown in FIG. 2 is a half value of the impedance value of the resistive impedance 9 in FIG. Further, in FIG. 2, the capacitance CL includes all stray capacitances of a circuit such as a wiring.
[0037]
Note that although the equivalent circuit in FIG. 2 illustrates only one of the
[0038]
In the equivalent circuit of FIG. 2, since the capacitance CL, the
[0039]
At this time, the load impedance ZL of the
[0040]
(Equation 4)
Here, Zlr is a combined impedance of the
[0041]
(Equation 5)
As represented by the equations (4) and (5), the load impedance ZL of the differential pair is R in the low frequency region, and is reduced by the capacitance CL in the high frequency region, and the
[0042]
Here, FIG. 3 shows frequency characteristics in the equivalent circuit shown in FIG. FIG. 3 shows frequency characteristics when the impedance value Zr of the resistive impedance 9 is changed. A solid line a in FIG. 3 shows a frequency characteristic when the impedance value Zr is an optimum impedance value, and a dashed line b Indicates the frequency characteristic when the impedance value Zr is small, and the dotted line c indicates the frequency characteristic when the impedance value Zr is large.
[0043]
When the impedance value Zr is sufficiently small and substantially equal to zero, the combined impedance Zlr shown in the equation (5) becomes substantially zero. Therefore, according to the equation (4), the load impedance in the high frequency region is reduced by the capacitance CL, and the cutoff frequency Becomes lower. Conversely, when the impedance value Zr is sufficiently large and can be almost ignored, the combined impedance Zlr shown in the equation (5) becomes substantially jωL, so that the cutoff frequency increases due to parallel resonance with the capacitor CL, and peaking occurs.
[0044]
Thus, when the impedance value of the resistive impedance 9 decreases, the effect of the
[0045]
In the embodiment of the present invention shown in FIG. 1, the resistive impedance is set between the connection points of the
[0046]
Therefore, even when the
[0047]
【Example】
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG.
In the differential amplifier circuit according to the first embodiment of the present invention, a pair of
[0048]
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG.
[0049]
First, the load impedance of the differential pair constituted by the transistor pairs 1a and 1b will be described.
[0050]
The load impedance ZLa of the
[0051]
(Equation 6)
Here, C is the total stray capacitance of the drain node of the
[0052]
(Equation 7)
The load impedance ZLb of the
[0053]
As expressed by the above equations (6) and (7), the load impedances ZLa and ZLb of the
[0054]
Here, when the resistance value R of the
[0055]
As described above, when the resistance values of the
[0056]
Next, a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
As shown in FIG. 6, the differential amplifier circuit according to the second embodiment of the present invention includes a
[0057]
Next, the operation of the second embodiment will be described. As in the first embodiment of the present invention shown in FIG. 1, when the impedance value of the resistive
[0058]
In such a case, the impedance value of the resistive
[0059]
Next, a third embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. As shown in FIG. 7, in a third embodiment of the differential amplifier circuit according to the present invention, a
[0060]
Next, the operation of the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7, 8, and 9. FIG.
[0061]
The configuration of the third embodiment of the present invention shown in FIG. 7 is different from the configuration of the first embodiment of the present invention shown in FIG. 5 in that the
[0062]
That is, similarly to the first embodiment, when the resistance value of the
[0063]
Accordingly, in the third embodiment of the present invention shown in FIG. 7, the resistance value of the
[0064]
FIGS. 8 and 9 show frequency characteristics of the circuit according to the third embodiment of the present invention shown in FIG. FIG. 8 shows the control voltage input to the control
[0065]
On the other hand, when the resistance values of the
[0066]
Further, FIG. 9 shows the control voltage input to the control
[0067]
As shown by the dotted line C in FIG. 9, when the resistance values of the
[0068]
As described above, in the third embodiment of the present invention, the potential of the control voltage for applying the resistance value of the
[0069]
Further, a fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG.
[0070]
In the differential amplifier circuit according to the fourth embodiment, a pair of
[0071]
Next, the operation of the fourth embodiment will be described.
[0072]
The configuration of the present embodiment shown in FIG. 10 is different from the third embodiment of the present invention shown in FIG. 7 in that the
[0073]
Here, the
[0074]
As described above, the resistance between the source and the drain of the
[0075]
【The invention's effect】
As described above, in the differential amplifier circuit of the present invention, since the resistive impedance is connected in parallel with the inductor constituting the load impedance, changing this value allows the inductor and the floating point such as wiring to be connected. The resonance frequency in the parallel resonance and the peaking amount of the circuit gain can be arbitrarily changed. Therefore, an effect of suppressing a change in the cutoff frequency of the frequency characteristic and a change in flatness of the in-band gain due to the resistance variation is achieved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a differential amplifier circuit of the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram showing an equivalent circuit in one gate circuit of the differential amplifier circuit of FIG.
FIG. 3 is a characteristic diagram showing frequency characteristics of the equivalent circuit of FIG.
FIG. 4 is a configuration diagram showing another embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a circuit diagram showing a third embodiment of the present invention.
8 is a characteristic diagram showing frequency characteristics when the load resistance is reduced in the circuit shown in FIG. 7;
9 is a characteristic diagram showing frequency characteristics when the load resistance increases in the circuit shown in FIG. 7;
FIG. 10 is a diagram showing a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 11 is a circuit diagram showing a general differential amplifier circuit.
FIG. 12 is a circuit diagram showing an equivalent circuit in one gate circuit of the circuit shown in FIG. 11;
FIG. 13 is a circuit diagram showing a conventional differential amplifier circuit.
14 is a diagram showing an equivalent circuit in one gate circuit of the circuit shown in FIG.
15 is a characteristic diagram showing frequency characteristics of the equivalent circuit shown in FIG.
FIG. 16 is a characteristic diagram showing frequency characteristics of the circuits shown in FIGS. 11 and 13;
FIG. 17 is a characteristic diagram showing frequency characteristics when the load resistance fluctuates in the circuit shown in FIG. 13;
FIG. 18 is a circuit diagram showing another conventional differential amplifier circuit.
[Explanation of symbols]
1a, 1b transistor
2a, 2b Load resistance
3a, 3b inductor
4 Constant current source
5a, 5b signal input terminal
6a, 6b signal output terminal
7 Positive power supply terminal
8 Negative power supply terminal
9 Resistive impedance
10 Resistance
11 Resistive variable impedance
12 Control voltage input terminal
13 Variable resistor
14 Pch pass transistor
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