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JP2004153160A - Chip resistor and method for manufacturing the same - Google Patents

Chip resistor and method for manufacturing the same Download PDF

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JP2004153160A
JP2004153160A JP2002318648A JP2002318648A JP2004153160A JP 2004153160 A JP2004153160 A JP 2004153160A JP 2002318648 A JP2002318648 A JP 2002318648A JP 2002318648 A JP2002318648 A JP 2002318648A JP 2004153160 A JP2004153160 A JP 2004153160A
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resistor
electrodes
chip resistor
insulating layer
chip
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JP2002318648A
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Japanese (ja)
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Torayuki Tsukada
虎之 塚田
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Publication date
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Priority to PCT/JP2003/013964 priority patent/WO2004040592A1/en
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chip resistor capable of preventing or suppressing any failure being the generation of large fluctuation in a resistance value due to how solder is brought into contact with an electrode. <P>SOLUTION: This chip resistor A is provided with a chip-shaped resistor 1 and at least a pair of electrodes 3 arranged on one face of the resistor 1 so as to be isolated from each other. The pair of electrodes 3 are isolated from a terminal edge 1a of the resistor 1 in a direction where those electrodes 3 are lined up. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本願発明は、チップ抵抗器およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のチップ抵抗器の一例としては、図9に示すようなものがある(特許文献1参照)。図示されたチップ抵抗器Bは、金属製のチップ状の抵抗体90の下面に、一対の電極91が設けられた構成を有している。一対の電極91は、空隙部93を介して離間しており、抵抗体90の下面のうち、空隙部93を除く全域にわたって比較的広い面積で形成されている。各電極91の下面には、実装時のハンダ付け性を良くするための手段として、ハンダ層92が形成されている。
【0003】
このチップ抵抗器Bは、図10に示すような方法により製造される。まず、同図(a)に示すように、抵抗体90および電極91のそれぞれの材料として、2枚の金属板90’, 91’を準備し、同図(b)に示すように、金属板90’の下面に金属板91’を重ね合わせて接合する。次いで、同図(c)に示すように、金属板91’の一部を機械加工によって切削し、空隙部93を形成する。その後は、同図(d)に示すように、金属板91’の下面にハンダ層92’を形成してから、同図(e)に示すように、金属板90’, 91’を切断する。このことにより、チップ抵抗器Bが製造される。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−57009号公報(図1)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記したチップ抵抗器Bは、一対の電極91が並ぶ方向において各電極91の幅Saが大きなものとなっている。したがって、一対の電極91に測定プローブを接触させて抵抗値を測定する場合において、測定プローブを一対の電極91のそれぞれの内側縁部91aに接触させた場合の抵抗値Raと、外側縁部91bに接触させた場合の抵抗値Rbとの差も大きくなっていた。このように測定プローブを各電極91のどの部分に接触させるかによって抵抗値が大きく相違したのでは、チップ抵抗器Bを使用する場合に、その使用の仕方により抵抗値に大きなばらつきが発生することとなり、好ましいものではない。
【0006】
より具体的には、たとえばハンダを利用してチップ抵抗器Bを所望箇所に面実装する場合に、上記ハンダが各電極91の下面全域に対して密着するのではなく、たとえば各電極91の内側縁部91a寄り部分のみに偏って接触する場合がある。これとは反対に、上記ハンダが各電極91の下面の外側縁部91b寄り部分のみに偏って接触する場合もある。従来においては、このような状態で実装がなされると、抵抗値に大きなばらつきが発生し、チップ抵抗器Bを利用して構成される電気回路の仕様に狂いを生じる虞れがあった。チップ抵抗器Bをたとえば10mΩ以下の低抵抗のものとする場合には、上記した抵抗値Raと抵抗値Rbとの差が小さいとしても、チップ抵抗器Bの全体の抵抗値と比較すると、その差の割合は非常に大きくなる。したがって、チップ抵抗器Bの低抵抗化が図られるほど、上記したような不具合は深刻となる。
【0007】
上記不具合を抑制する手段としては、たとえば各電極91の厚みを大きくし、各電極91自体の電気抵抗を小さくする手段が考えられる。ところが、このような手段によれば、チップ抵抗器Bの全体の厚みが大きくなるのに加え、空隙部93を形成するときの金属板91’の切削量が多くなり、チップ抵抗器Bの製造コストが高価になるといった不具合を招いてしまう。
【0008】
また、上記従来技術においては、チップ抵抗器Bの製造作業が煩雑であり、その生産性が悪いという不具合もあった。より具体的には、従来においては、空隙部93の形成は、機械加工により行なっている。また、その加工は、一対の電極91間の寸法を精度良く仕上げなければならず、かつ金属板90’の表面が凹状に切削されないように注意する必要もある。このため、上記加工はかなり慎重に行なう必要があり、チップ抵抗器Bの生産性が悪くなっていた。さらに、上記従来技術においては、切削加工を経てチップ抵抗器Bが製造されるために、その切削加工精度に起因する電極間抵抗値の誤差も発生していた。
【0009】
本願発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、電極に対するハンダの接触の仕方によって抵抗値に大きなばらつきが発生するといった不具合を解消しまたは抑制することが可能なチップ抵抗器を提供することをその課題としている。また、本願発明は、そのようなチップ抵抗器を効率良く、かつ適切に製造することが可能なチップ抵抗器の製造方法を提供することを他の課題としている。
【0010】
【発明の開示】
上記課題を解決するため、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
【0011】
すなわち、本願発明の第1の側面によって提供されるチップ抵抗器は、チップ状の抵抗体と、この抵抗体の片面に設けられ、かつ互いに離間して並んだ少なくとも一対の電極と、を備えているチップ抵抗器であって、上記一対の電極は、これらが並ぶ方向において上記抵抗体の端縁から離間していることを特徴としている。
【0012】
このような構成によれば、上記一対の電極は、これらが並ぶ方向において上記抵抗体の端縁から離間しているため、その分だけ上記方向における幅が小さいものとなる。したがって、上記一対の電極のそれぞれの内側縁部間の抵抗値と、外側縁部間の抵抗値との差も、小さくなる。その結果、チップ抵抗器を実装する場合に、ハンダが各電極の内側縁部寄りに偏って接触したり、あるいは各電極の外側縁部寄りに偏って接触するといった状態になったとしても、上記従来技術とは異なり、抵抗値に大きなばらつきが発生しないようにし、チップ抵抗器を利用して構成される電気回路の仕様に大きな狂いが生じないようにすることが可能となる。
【0013】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記抵抗体の上記片面に設けられた絶縁層を備えており、かつ上記一対の電極は、上記絶縁層の全体または一部を挟んで離間している。このような構成によれば、上記一対の電極の間隔を上記絶縁層によって規定することができる。より具体的には、上記絶縁層のうち、一対の電極によって挟まれている部分の幅を所定の寸法にすると、一対の電極の間隔を上記所定の寸法に正確に規定することができる。その一方、上記絶縁層をたとえば後述する厚膜印刷などの手法を用いて形成すれば、その幅を所望の幅に高い寸法精度で仕上げることができる。したがって、上記一対の電極の間隔を高い寸法精度で所望の寸法に設定することが可能となる。チップ抵抗器の定格抵抗値を所望の目標抵抗値にするには、一対の電極の間隔を所定の正確な寸法に規定することが1つの条件であるが、上記構成によれば、そのような条件を満たすのに好適となる。
【0014】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記抵抗体の上記片面のうち、上記各電極と上記抵抗体の上記端縁との間の領域は、上記絶縁層によって覆われている。このような構成によれば、上記絶縁層によって上記各電極の幅を正確な寸法に規定することも可能となる。また、上記抵抗体の上記片面のうち、上記各電極の形成箇所以外の部分を上記絶縁層によって覆うことにより、上記抵抗体の上記片面にハンダなどが直接触れないようにすることもできる。
【0015】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記絶縁層は、厚膜印刷により形成されたものである。このような構成によれば、上記絶縁層が複雑な形状を有する場合であっても、この絶縁層を寸法精度良く、かつ容易に形成することが可能である。
【0016】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記抵抗体の上記片面とは反対の面には、電気絶縁性を有するオーバコート層が設けられている。このような構成によれば、上記抵抗体を上記オーバコート層によって保護し、たとえば上記抵抗体が他の電気部品類などに直接接触してこれらの間に不当な電流が流れるといったことを生じないようにすることができる。
【0017】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記オーバコート層と上記絶縁層とは、同一の材質とされている。このような構成によれば、上記オーバコート層と上記絶縁層との材料の共通化により、生産コストの低減化を図るのに好適となる。
【0018】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記各電極の厚みは、上記絶縁層の厚みよりも大きくされている。このような構成によれば、ハンダを用いてチップ抵抗器を所望箇所へ実装するときに上記電極の先端面全体に上記ハンダが付け易くなる。
【0019】
本願発明の第2の側面によって提供されるチップ抵抗器の製造方法は、抵抗体の材料となるプレートの片面に、絶縁層をパターン形成する工程と、上記プレートの上記片面のうち、上記絶縁層が形成されていない領域に、導電層を形成する工程と、上記プレートをチップ状の複数の抵抗体に分割する工程とを有し、上記プレートの分割は、上記各抵抗体の片面において上記導電層の一部が上記絶縁層の一部を挟んで互いに離間する一対の電極として形成され、かつこれら一対の電極はこれらが並ぶ方向において上記抵抗体の端縁から離間するように行なうことを特徴としている。
【0020】
このような構成によれば、本願発明の第1の側面によって提供されるチップ抵抗器を効率良く、かつ適切に製造することができる。
【0021】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記プレートの分割は、打ち抜きにより行なう。打ち抜き(ブランキング:blanking) によれば、打ち抜かれた製品と打ち抜き用の型との寸法差が小さく、製品の寸法誤差を小さくすることが可能である。したがって、上記構成によれば、上記抵抗体を高い寸法精度で所望のサイズに仕上げるのに好適となる。また、打ち抜きは、作業性良く行なうことが可能であり、チップ抵抗器の生産性を高めるのにより好ましい。
【0022】
本願発明のその他の特徴および利点については、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明らかになるであろう。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本願発明の好ましい実施の形態について、図面を参照して具体的に説明する。
【0024】
図1〜図3は、本願発明に係るチップ抵抗器の一例を示している。図1および図2によく表われているように、本実施形態のチップ抵抗器Aは、抵抗体1、オーバコート層2、一対の電極3、および絶縁層4を具備している。
【0025】
抵抗体1は、各部の厚みが一定の矩形チップ状であり、金属製である。その具体的な材質としては、Cu−Mn系合金、Ni−Cu系合金、Ni−Cr系合金などが挙げられるが、これらに限定されるものではなく、チップ抵抗器Aのサイズや目標抵抗値に見合った抵抗率をもつものを適宜選択すればよい。あまり現実的ではないが、抵抗体1を非金属製とすることも可能である。
【0026】
オーバコート層2は、抵抗体1の表面10aの全体を覆うように設けられており、電気絶縁性を有している。このオーバコート層2は、厚膜印刷により形成されたものであり、たとえばエポキシ樹脂系の樹脂膜である。
【0027】
絶縁層4は、抵抗体1の裏面10bに計3箇所形成されており、抵抗体1の幅方向(図1および図2の左右の幅方向)中間部に形成された第1の領域4aと、抵抗体1の幅方向両端部に形成された一対の第2の領域4bとがある。この絶縁層4は、オーバコート層2と同一の材質であり、またオーバコート層2と同様に厚膜印刷により形成された樹脂製の膜である。
【0028】
一対の電極3は、抵抗体1の裏面10bに設けられており、後述するように、たとえば抵抗体1に銅メッキを施すことにより形成されたものである。これら一対の電極3は、絶縁層4の第1の領域4aを挟んで抵抗体1の上記幅方向において互いに離間しているとともに、第1および第2の領域4a,4b間に挟まれている。したがって、各電極3は、抵抗体1の上記幅方向において抵抗体1の端縁1aから第2の領域4bの幅s1だけ離間しており、その分だけ各電極3の幅s2の縮小化が図られた構造となっている。
【0029】
各電極3は、絶縁層4の第1の領域4aの幅方向の端面40aとの間に隙間が生じないように端面40aに接している。このことにより、一対の電極3間の寸法s3は、絶縁層4によって正確に規定されている。すなわち、一対の電極3間の寸法s3は、第1の領域4aの幅と同一の寸法となっている。各電極3の下面には、ハンダ付け性を良好にするためのハンダ層39が形成されている。
【0030】
図1および図2においては、電極3やハンダ層39の端部を概略的に示しているが、これら電極3やハンダ層39はメッキにより形成されているために、実際には、図3に示すように、それらの一部分は絶縁層4上にオーバラップしている。ただし、このオーバラップしている部分自体は、抵抗体1の裏面10bに直接接触している訳ではないため、抵抗体1の電極間抵抗値に誤差を生じさせる要因にはならない。したがって、上記オーバラップの幅は比較的大きくなっていてもかまわない。また、電極3は絶縁層4の第2の領域4bの端面40bに対しても隙間が生じないように接している。したがって、電極3の幅s2も絶縁層4によって正確に規定された構成となっている。
【0031】
各電極3と各ハンダ層39とをトータルした厚みt1は、絶縁層4の厚みt2よりも大きくされており、各ハンダ層39は、絶縁層4の下面よりも下方に突出した構造となっている。本実施形態においては、各電極3の単独の厚みt3についても、絶縁層4の厚みt2よりも大きくされている。
【0032】
上記各部の厚みの一例を挙げると、オーバコート層2および絶縁層4がそれぞれ20μm程度、各電極3が30μm程度、各ハンダ層39が5μm程度である。抵抗体1については、その厚みが0.1mm〜1mm程度、縦および横の寸法はそれぞれ2mm〜7mm程度である。ただし、この抵抗体1のサイズについては、目標抵抗値の大きさに応じて種々に変更されることは言うまでもない。また、このチップ抵抗器Aは、0.5mΩ〜50mΩ程度の低抵抗のものとして構成されている。
【0033】
次に、上記したチップ抵抗器Aの製造方法の一例について、図4〜図6を参照して説明する。
【0034】
まず、図4(a)に示すように、抵抗体1の材料となる金属製のプレート1Aを準備する。このプレート1Aは、抵抗体1を複数個取り可能な縦横のサイズを有するものであり、全体にわたって厚みの均一化が図られたものである。同図(b)に示すように、このプレート1Aの上向きの片面10aの全体または略全体には、オーバコート層2Aを形成する。このオーバコート層2Aは、このオーバコート層2Aの材料となる樹脂をベタ塗り状に厚膜印刷することによって形成する。このオーバコート層2Aの形成後には、このオーバコート層2Aに標印を施す工程を行なってもかまわない。
【0035】
次いで、同図(c)に示すように、プレート1Aを表裏反転させてから、プレート1Aの上向きとなった面10bに、複数の絶縁層4Aをストライプ状に並べるように形成する。これら複数の絶縁層4Aの形成は、オーバコート層2の形成に用いたのと同一の樹脂および装置を用いて厚膜印刷により行なう。このようにすれば、複数種類の材料や装置を用いる場合と比較すると、チップ抵抗器Aの製造コストを削減するのに好ましい。上記厚膜印刷の手法によれば、各絶縁層4Aの幅などを所定の寸法に正確に仕上げることができる。
【0036】
プレート1Aの面10bのうち、複数の絶縁層4Aどうしの間の領域には、図5(d)に示すように、導電層3Aおよびハンダ層39Aを順次形成する。導電層3Aの形成は、たとえば銅をメッキすることにより行なう。このメッキ処理によれば、導電層3Aと絶縁層4Aとの間に隙間を生じさせないようにして、隣り合う絶縁層4A間の領域に導電層3Aを均一に形成することが可能である。ハンダ層39Aの形成もメッキ処理によって行なう。
【0037】
その後は、図5(e)に示すように、プレート1Aに打ち抜き加工(ブランキング)を繰り返して施し、プレート1Aを複数のチップ状の抵抗体1に分割していく(同図において、クロスハッチングを入れた部分は、絶縁層4,4Aに相当する部分である。以降の図面についても同様である)。このような打ち抜き作業を繰り返して行う場合、好ましくは1つの打ち抜き用型(図示略)を繰り返して使用する。
【0038】
上記打ち抜き作業においては、互いに隣り合う2つの導電層3Aおよびハンダ層39Aのそれぞれの一部と、これらの間に挟まれた1つの絶縁層4Aの一部と、これらの両脇に位置する2つの絶縁層4Aのそれぞれの一部とが、抵抗体1の片面上に残存するようにプレート1Aを打ち抜く。この打ち抜きにより、2つの導電層3Aのそれぞれの一部は、図1および図2に示したチップ抵抗器Aにおける一対の電極3となり、絶縁層4Aの一部分は、絶縁層4の第1および第2の領域4a,4bとなる。このようなことにより、プレート1Aから複数のチップ抵抗器Aを適切に複数個取りすることができる。図5(e)においては、打ち抜き領域を仮想線で示しているが、同図のように、プレート1Aの打ち抜きは、複数の打ち抜き領域が適当な間隔s4を隔ててマトリクス状に並んでいくように進めればよい。
【0039】
上記したように、プレート1Aを複数の抵抗体1に分割する手段として打ち抜き手段を採用すれば、抵抗体1の縦横の寸法を殆ど誤差の無い正確な寸法に仕上げることができる。また、上記打ち抜き作業を1つの打ち抜き用型を繰り返して用いて行なえば、複数の打ち抜き用型を交互に用いる場合とは異なり、複数の打ち抜き用型の寸法のバラツキに起因する複数のチップ抵抗器間に寸法のバラツキが生じることも無い。
【0040】
本実施形態のチップ抵抗器Aは、所望の実装対象物に対し、たとえばハンダリフローの手法を用いて面実装される。ハンダ層39は、絶縁層4の下面よりも下方に突出しているために、面実装時のハンダ付けを適切に行なうことができる。とくに、各電極3の厚みt3が絶縁層4の厚みt2よりも大きくされており、各電極3自体が絶縁層4よりも下方に突出しているために、各電極3へのハンダ付けをより適切に行なわせることができる。抵抗体1の上面全体はオーバコート層2によって覆われているために、この抵抗体1と他の部材や機器との間に不当な電気導通が生じることも防止される。
【0041】
各電極3は、既述したとおり、抵抗体1の上記幅方向において抵抗体1の端縁1aから適当な寸法s1だけ離間しており、各電極3の幅s2は、たとえば各電極3を抵抗体1の端縁1aまで延びるように形成した場合よりも狭くなる。このように各電極3の幅s2を狭くすると、一対の電極3のそれぞれの内側縁部間の抵抗値R1と、外側縁部間の抵抗値R2との差は小さくなる(図2参照)。その結果、このチップ抵抗器Aを所望箇所に面実装した場合に、たとえばハンダが一対の電極3の内側縁部寄りの部分に偏って接触したり、あるいはそれとは反対に一対の電極3の外側縁部寄りの部分に偏って接触するような事態が発生しても、抵抗値に大きな差が生じないようにすることができる。本実施形態によれば、上記した抵抗値R1,R2の差を小さくする手段として、各電極3の厚みを大きくしてその電気抵抗を下げる必要はない。したがって、そのような観点から各電極3の厚みを大きくする必要が無い分だけ、チップ抵抗器A全体の薄型化を図るのにも好ましいものとなる。
【0042】
電極3の幅に起因する抵抗値の誤差を考えないとすると、チップ抵抗器Aの電極間抵抗は、抵抗体1の抵抗率、一対の電極3間の寸法s3、および抵抗体1のサイズにより決定される。一方、このチップ抵抗器Aにおいては、既述したように、抵抗体1の縦横の寸法は、打ち抜き加工によって所望の寸法に高い精度に仕上げることが可能であるとともに、抵抗体1の厚みについては、プレート1Aの段階から正確に仕上げることができる。一対の電極3間の寸法s3は、絶縁層4の第1の領域4aの幅と一致しているが、この第1の領域4aの幅は厚膜印刷によってかなり高い寸法精度で形成することが可能であるから、上記寸法s3も高い精度で所望の値に仕上げられる。このように、抵抗体1のサイズおよび一対の電極3間の寸法s1が所望の値に高い精度に仕上げられると、目標抵抗値に対するチップ抵抗器Aの実際の電極間抵抗の誤差が非常に小さくなる。その結果、このチップ抵抗器Aにおいては、その製造後に抵抗値調整用のトリミングを行なう必要を無くすことも可能となる。
【0043】
図6〜図8は、本願発明に係るチップ抵抗器の他の実施形態を示している。これらの図において、上記実施形態と同一または類似の要素には、同一の符号を付している。
【0044】
図6(a),(b)に示すチップ抵抗器Aaは、抵抗体1の裏面に4つの電極3(3a,3b)が形成されている。これらのうち、2つの電極3aは対をなしており、これらが並ぶ方向(同図左右方向)において抵抗体1の端縁1aから適当な距離s5だけ離間している。同様に、2つの電極3bも対をなしており、端縁1aから適当な距離だけ離間している。このチップ抵抗器Aaを製造するには、プレート1Aの片面に形成する絶縁層4Aを、同図(c)に示すような形状とし、同図の仮想線で示す箇所においてプレート1Aを切断すればよい。プレート1Aをチップ状の複数の抵抗体1に分断する手段としては、打ち抜きに代えて、たとえばシャー(せん断機)やロータリ式カッターを用いるなどの切断手段を用いることもできる。
【0045】
このようなチップ抵抗器Aaにおいては、4つの電極3を有しているために、たとえば次のような使用が可能となる。すなわち、4つの電極3(3a,3b)のうち、一対の電極3aを電流用電極として用いるとともに、他の一対の電極3bを電圧用電極として用いる。電気回路の電流検出を行なう場合、一対の電流用電極3aについては上記電気回路の電流が流れるように上記電気回路との電気接続を図る。一対の電圧用電極3bには、電圧計を接続する。チップ抵抗器Aaの抵抗値は既知であるため、このチップ抵抗器Aaの抵抗体1における電圧降下を上記電圧計を利用して測定し、かつこの測定値をオームの式にあてはめることにより、抵抗体1に流れる電流の値を正確に知ることができる。4つの電極3(3a,3b)の配置は対称であるから、チップ抵抗器Aaを180°回転させて実装しても不具合は無く、便利である。むろん、各電極3は、抵抗体1の端縁1aから離間していることによりその幅s6が小さくされているために、実装の仕方により抵抗値に大きなばらつきが生じないようにすることができる。
【0046】
図7および図8に示すチップ抵抗器Ab,Acは、4つの電極を設ける場合の他の例である。これらのチップ抵抗器Ab,Acは、いずれも2つの電極3cどうし、および2つの電極3dどうしがそれぞれ対をなしており、かつ電極3cと電極3dとは、互いに形状およびサイスが相違したものとなっている。また、電極3cは、抵抗体1の端縁1aから適当な寸法s7だけ離間しているのに対し、電極3dは、端縁1aから離間していない構成とされている。これらのチップ抵抗器Ab,Acを製造するには、プレート1A上に形成する絶縁層4Aを、たとえば図7(c)および図8(c)に示すような形状とし、かつそれらの図の仮想線で示す箇所においてプレート1Aを切断すればよい。
【0047】
これらのチップ抵抗器Ab,Acにおいては、細幅とされている一対の電極3cを電圧用電極として用い、かつそれらよりも幅広な一対の電極3dを電流用電極として用いる。電圧用電極は、電圧降下量を正確に測定するのに利用されるものであるから、細幅とされた一対の電極3cを電圧用電極とすれば、正確な電圧降下量を求めることが可能となる。このように、本願発明においては、4つの電極を設けた場合に、それらのうちの一対の電極のみが抵抗体の端縁から離間した構成とされていてもかまわない。
【0048】
本願発明は、上述した実施形態の内容に限定されない。本願発明に係るチップ抵抗器の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。同様に、本願発明に係るチップ抵抗器の製造方法の各工程の具体的な構成も、種々に変更自在である。
【0049】
本願発明に係るチップ抵抗器は、一対または二対の電極を設けたものに限らず、三対あるいはそれ以上の数の電極を設けた構成とすることもできる。これらの電極のうち、少なくとも一対の電極がそれらの並ぶ方向において抵抗体の端縁から離間した構成とされていれば、本願発明の技術的範囲に包摂される。上記端縁から電極までの具体的な寸法は限定されない。電極の数を多くした場合、たとえばそれらの一部をダミー電極とする使用法も可能である。
【0050】
電極については、メッキ処理によって形成することが簡易であるが、やはり本願発明はこれに限定されず、他の方法を用いてもかまわない。抵抗体の片面に絶縁層を形成する手段としては、転写などの手段を採用することもできる。本願発明に係るチップ抵抗器は、本願発明に係るチップ抵抗器の製造方法とは異なる製造方法、たとえば図10を参照して説明した従来技術と同様な方法によって製造してもかまわないことは言うまでもない。本願発明は、チップ抵抗器を低抵抗にする場合に好適であるが、その具体的な抵抗値も限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明に係るチップ抵抗器の一例を示す斜視図である。
【図2】図1のII−II 断面図である。
【図3】図2の要部拡大図である。
【図4】(a)〜(c)は、図1に示すチップ抵抗器の製造工程の一部を示す斜視図である。
【図5】(d)は、図1に示すチップ抵抗器の製造工程の一部を示す斜視図であり、(e)は、図1に示すチップ抵抗器の製造工程の一部を示す平面図である。
【図6】(a)は、本願発明に係るチップ抵抗器の他の例を示す正面図であり、(b)は、(a)の底面図であり、(c)は、(a)に示すチップ抵抗器を製造する工程例を示す要部平面図である。
【図7】(a)は、本願発明に係るチップ抵抗器の他の例を示す正面図であり、(b)は、(a)の底面図であり、(c)は、(a)に示すチップ抵抗器を製造する工程例を示す要部平面図である。
【図8】(a)は、本願発明に係るチップ抵抗器の他の例を示す正面図であり、(b)は、(a)の底面図であり、(c)は、(a)に示すチップ抵抗器を製造する工程例を示す要部平面図である。
【図9】従来のチップ抵抗器の一例を示す斜視図である。
【図10】(a)〜(e)は、従来のチップ抵抗器の製造方法の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
A チップ抵抗器
1 抵抗体
1a 端縁(抵抗体の)
1A プレート
2 オーバコート層
3 電極
4 絶縁層
39 ハンダ層
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a chip resistor and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
FIG. 9 shows an example of a conventional chip resistor (see Patent Document 1). The illustrated chip resistor B has a configuration in which a pair of electrodes 91 are provided on the lower surface of a metal chip-shaped resistor 90. The pair of electrodes 91 are separated from each other via the gap 93, and have a relatively large area over the entire lower surface of the resistor 90 except for the gap 93. On the lower surface of each electrode 91, a solder layer 92 is formed as means for improving solderability during mounting.
[0003]
This chip resistor B is manufactured by a method as shown in FIG. First, as shown in FIG. 3A, two metal plates 90 'and 91' are prepared as respective materials of the resistor 90 and the electrode 91, and as shown in FIG. A metal plate 91 'is overlapped and joined to the lower surface of 90'. Next, as shown in FIG. 9C, a part of the metal plate 91 ′ is cut by machining to form a gap 93. Thereafter, as shown in FIG. 5D, a solder layer 92 'is formed on the lower surface of the metal plate 91', and then the metal plates 90 'and 91' are cut as shown in FIG. . Thereby, the chip resistor B is manufactured.
[0004]
[Patent Document 1]
JP-A-2002-57009 (FIG. 1)
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In the above-described chip resistor B, the width Sa of each electrode 91 is large in the direction in which the pair of electrodes 91 are arranged. Therefore, when the resistance value is measured by bringing the measurement probe into contact with the pair of electrodes 91, the resistance value Ra when the measurement probe is brought into contact with the respective inner edge portions 91a of the pair of electrodes 91, and the outer edge portion 91b , The difference from the resistance value Rb when contact was made large. Since the resistance value greatly differs depending on which part of each electrode 91 the measurement probe contacts, when the chip resistor B is used, a large variation occurs in the resistance value depending on how the chip resistor B is used. Which is not preferable.
[0006]
More specifically, for example, when the chip resistor B is surface-mounted at a desired location by using solder, the solder does not adhere to the entire lower surface of each electrode 91 but, for example, the inside of each electrode 91. There is a case where only the portion near the edge portion 91a comes into contact in a biased manner. Conversely, the solder may come into contact with only a portion of the lower surface of each electrode 91 near the outer edge 91b. Conventionally, if the mounting is performed in such a state, a large variation occurs in the resistance value, and there is a possibility that the specification of an electric circuit configured using the chip resistor B may be out of order. When the chip resistor B has a low resistance of, for example, 10 mΩ or less, even if the difference between the above-described resistance value Ra and the resistance value Rb is small, when compared with the overall resistance value of the chip resistor B, The percentage of difference is very large. Therefore, the lower the resistance of the chip resistor B is, the more serious the above-mentioned problem is.
[0007]
As means for suppressing the above problem, for example, means for increasing the thickness of each electrode 91 and reducing the electric resistance of each electrode 91 itself can be considered. However, according to such means, in addition to increasing the overall thickness of the chip resistor B, the amount of cutting of the metal plate 91 ′ when forming the gap 93 increases, and the production of the chip resistor B is increased. This causes a problem that the cost is high.
[0008]
Further, in the above-mentioned prior art, there is a problem that the manufacturing operation of the chip resistor B is complicated and its productivity is poor. More specifically, conventionally, the formation of the gap 93 is performed by machining. In the processing, it is necessary to finish the dimension between the pair of electrodes 91 with high accuracy, and it is necessary to take care that the surface of the metal plate 90 'is not cut into a concave shape. For this reason, the above processing must be performed very carefully, and the productivity of the chip resistor B has deteriorated. Further, in the above-described conventional technique, since the chip resistor B is manufactured through the cutting process, an error in the inter-electrode resistance value due to the cutting accuracy has also occurred.
[0009]
The present invention has been conceived in view of the above circumstances, and has a chip resistor capable of eliminating or suppressing a problem that a large variation occurs in a resistance value depending on how a solder contacts an electrode. The task is to provide equipment. Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a chip resistor capable of efficiently and appropriately manufacturing such a chip resistor.
[0010]
DISCLOSURE OF THE INVENTION
In order to solve the above problems, the present invention employs the following technical means.
[0011]
That is, the chip resistor provided by the first aspect of the present invention includes a chip-shaped resistor, and at least one pair of electrodes provided on one surface of the resistor and spaced apart from each other. Wherein the pair of electrodes are separated from an edge of the resistor in a direction in which the electrodes are arranged.
[0012]
According to such a configuration, since the pair of electrodes are separated from the edge of the resistor in the direction in which they are arranged, the width in the direction is reduced by that much. Therefore, the difference between the resistance between the inner edges of the pair of electrodes and the resistance between the outer edges is also reduced. As a result, when mounting the chip resistor, even if the solder is biased toward the inner edge of each electrode or contacts the bias toward the outer edge of each electrode, Unlike the prior art, it is possible to prevent a large variation in the resistance value from occurring, and to prevent a large deviation from occurring in the specification of the electric circuit formed by using the chip resistor.
[0013]
In a preferred embodiment of the present invention, the resistor includes an insulating layer provided on one surface of the resistor, and the pair of electrodes are separated from each other across all or part of the insulating layer. According to such a configuration, the interval between the pair of electrodes can be defined by the insulating layer. More specifically, when the width of the portion of the insulating layer sandwiched between the pair of electrodes is set to a predetermined dimension, the distance between the pair of electrodes can be accurately defined to the predetermined dimension. On the other hand, if the insulating layer is formed by using a method such as thick film printing described later, the width can be finished to a desired width with high dimensional accuracy. Therefore, the distance between the pair of electrodes can be set to a desired size with high dimensional accuracy. In order to set the rated resistance value of the chip resistor to a desired target resistance value, it is one condition that the interval between the pair of electrodes is specified to a predetermined accurate dimension. This is suitable for satisfying the conditions.
[0014]
In a preferred embodiment of the present invention, of the one surface of the resistor, a region between each of the electrodes and the edge of the resistor is covered with the insulating layer. According to such a configuration, the width of each of the electrodes can be regulated to an accurate dimension by the insulating layer. In addition, by covering a portion of the one surface of the resistor other than a portion where each of the electrodes is formed with the insulating layer, it is possible to prevent solder or the like from directly touching the one surface of the resistor.
[0015]
In a preferred embodiment of the present invention, the insulating layer is formed by thick-film printing. According to such a configuration, even when the insulating layer has a complicated shape, the insulating layer can be easily formed with high dimensional accuracy.
[0016]
In a preferred embodiment of the present invention, an overcoat layer having electrical insulation is provided on a surface of the resistor opposite to the one surface. According to such a configuration, the resistor is protected by the overcoat layer, and, for example, the resistor does not directly contact other electrical components or the like, and an unreasonable current flows between them. You can do so.
[0017]
In a preferred embodiment of the present invention, the overcoat layer and the insulating layer are made of the same material. According to such a configuration, the use of the same material for the overcoat layer and the insulating layer is suitable for reducing the production cost.
[0018]
In a preferred embodiment of the present invention, the thickness of each of the electrodes is greater than the thickness of the insulating layer. According to such a configuration, when the chip resistor is mounted at a desired position by using solder, the solder can be easily attached to the entire distal end surface of the electrode.
[0019]
A method for manufacturing a chip resistor provided by a second aspect of the present invention includes a step of patterning an insulating layer on one surface of a plate serving as a material of a resistor, and the step of forming the insulating layer on the one surface of the plate. Forming a conductive layer in a region where no is formed, and a step of dividing the plate into a plurality of chip-shaped resistors. A part of the layer is formed as a pair of electrodes separated from each other across a part of the insulating layer, and the pair of electrodes is formed so as to be separated from an edge of the resistor in a direction in which the electrodes are arranged. And
[0020]
According to such a configuration, the chip resistor provided by the first aspect of the present invention can be efficiently and appropriately manufactured.
[0021]
In a preferred embodiment of the present invention, the division of the plate is performed by punching. According to blanking, a dimensional difference between a punched product and a die for punching is small, and a dimensional error of the product can be reduced. Therefore, the above configuration is suitable for finishing the resistor to a desired size with high dimensional accuracy. In addition, punching can be performed with good workability, and is more preferable for increasing the productivity of the chip resistor.
[0022]
Other features and advantages of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments of the present invention.
[0023]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.
[0024]
1 to 3 show an example of a chip resistor according to the present invention. 1 and 2, the chip resistor A of the present embodiment includes a resistor 1, an overcoat layer 2, a pair of electrodes 3, and an insulating layer 4.
[0025]
The resistor 1 has a rectangular chip shape with a constant thickness at each part, and is made of metal. Specific examples of the material include a Cu—Mn-based alloy, a Ni—Cu-based alloy, and a Ni—Cr-based alloy, but are not limited thereto. What is necessary is just to select suitably what has a resistivity suitable for. Although not very realistic, the resistor 1 can be made of non-metal.
[0026]
The overcoat layer 2 is provided so as to cover the entire surface 10a of the resistor 1, and has electrical insulation. The overcoat layer 2 is formed by thick-film printing, and is, for example, an epoxy resin-based resin film.
[0027]
The insulating layer 4 is formed at a total of three places on the back surface 10 b of the resistor 1, and includes a first region 4 a formed in a middle portion of the resistor 1 in the width direction (left and right width directions in FIGS. 1 and 2). And a pair of second regions 4b formed at both ends in the width direction of the resistor 1. The insulating layer 4 is made of the same material as the overcoat layer 2, and is a resin film formed by thick film printing similarly to the overcoat layer 2.
[0028]
The pair of electrodes 3 are provided on the back surface 10 b of the resistor 1, and are formed, for example, by plating the resistor 1 with copper, as described later. The pair of electrodes 3 are separated from each other in the width direction of the resistor 1 with the first region 4a of the insulating layer 4 interposed therebetween, and are also sandwiched between the first and second regions 4a and 4b. . Therefore, each electrode 3 is separated from the edge 1a of the resistor 1 by the width s1 of the second region 4b in the width direction of the resistor 1, and the width s2 of each electrode 3 can be reduced accordingly. The structure is as planned.
[0029]
Each electrode 3 is in contact with the end face 40a so that no gap is formed between the electrode 3 and the end face 40a in the width direction of the first region 4a of the insulating layer 4. Thus, the dimension s3 between the pair of electrodes 3 is accurately defined by the insulating layer 4. That is, the dimension s3 between the pair of electrodes 3 is the same as the width of the first region 4a. On the lower surface of each electrode 3, a solder layer 39 for improving the solderability is formed.
[0030]
1 and 2, the ends of the electrode 3 and the solder layer 39 are schematically shown. However, since the electrode 3 and the solder layer 39 are formed by plating, the electrodes 3 and the solder layer 39 are actually shown in FIG. As shown, some of them overlap on the insulating layer 4. However, since the overlapping portion itself does not directly contact the back surface 10b of the resistor 1, it does not cause an error in the resistance value between the electrodes of the resistor 1. Therefore, the width of the overlap may be relatively large. Further, the electrode 3 is in contact with the end surface 40b of the second region 4b of the insulating layer 4 so that no gap is generated. Therefore, the width s2 of the electrode 3 is also precisely defined by the insulating layer 4.
[0031]
The total thickness t1 of each electrode 3 and each solder layer 39 is greater than the thickness t2 of the insulating layer 4, and each solder layer 39 has a structure projecting below the lower surface of the insulating layer 4. I have. In the present embodiment, the single thickness t3 of each electrode 3 is also larger than the thickness t2 of the insulating layer 4.
[0032]
As an example of the thickness of each part, the overcoat layer 2 and the insulating layer 4 are each about 20 μm, each electrode 3 is about 30 μm, and each solder layer 39 is about 5 μm. The resistor 1 has a thickness of about 0.1 mm to 1 mm, and the vertical and horizontal dimensions are about 2 mm to 7 mm, respectively. However, it goes without saying that the size of the resistor 1 is variously changed according to the magnitude of the target resistance value. The chip resistor A is configured as a low resistor having a resistance of about 0.5 mΩ to 50 mΩ.
[0033]
Next, an example of a method of manufacturing the above-described chip resistor A will be described with reference to FIGS.
[0034]
First, as shown in FIG. 4A, a metal plate 1A serving as a material of the resistor 1 is prepared. The plate 1A has a vertical and horizontal size in which a plurality of resistors 1 can be formed, and has a uniform thickness throughout. As shown in FIG. 1B, an overcoat layer 2A is formed on the entire or substantially entire upper surface 10a of the plate 1A. The overcoat layer 2A is formed by printing a resin, which is a material of the overcoat layer 2A, in a solid-like thick film. After the formation of the overcoat layer 2A, a step of marking the overcoat layer 2A may be performed.
[0035]
Next, as shown in FIG. 3C, the plate 1A is turned upside down, and then a plurality of insulating layers 4A are formed in a stripe pattern on the upwardly facing surface 10b of the plate 1A. The formation of the plurality of insulating layers 4A is performed by thick film printing using the same resin and apparatus as used for forming the overcoat layer 2. This is preferable for reducing the manufacturing cost of the chip resistor A as compared with the case where a plurality of types of materials and devices are used. According to the method of thick film printing, the width and the like of each insulating layer 4A can be accurately finished to predetermined dimensions.
[0036]
In a region between the plurality of insulating layers 4A on the surface 10b of the plate 1A, as shown in FIG. 5D, a conductive layer 3A and a solder layer 39A are sequentially formed. The conductive layer 3A is formed by plating copper, for example. According to this plating process, it is possible to uniformly form the conductive layer 3A in a region between the adjacent insulating layers 4A without causing a gap between the conductive layer 3A and the insulating layer 4A. The formation of the solder layer 39A is also performed by plating.
[0037]
After that, as shown in FIG. 5E, the plate 1A is repeatedly subjected to punching (blanking) to divide the plate 1A into a plurality of chip-shaped resistors 1 (in FIG. 5C, cross-hatching). Are the portions corresponding to the insulating layers 4 and 4A. The same applies to the following drawings). When such a punching operation is repeatedly performed, preferably, one punching die (not shown) is repeatedly used.
[0038]
In the punching operation, a part of each of the two conductive layers 3A and the part of the solder layer 39A adjacent to each other, a part of one insulating layer 4A interposed therebetween, and two parts located on both sides thereof The plate 1A is punched so that a part of each of the two insulating layers 4A remains on one surface of the resistor 1. Due to this punching, a part of each of the two conductive layers 3A becomes a pair of electrodes 3 in the chip resistor A shown in FIGS. 1 and 2, and a part of the insulating layer 4A becomes the first and third electrodes of the insulating layer 4. 2 areas 4a and 4b. In this way, a plurality of chip resistors A can be appropriately taken from the plate 1A. In FIG. 5E, the punched regions are indicated by imaginary lines, but as shown in FIG. 5A, in the punching of the plate 1A, a plurality of punched regions are arranged in a matrix at an appropriate interval s4. You can proceed to
[0039]
As described above, if the punching means is adopted as a means for dividing the plate 1A into the plurality of resistors 1, the vertical and horizontal dimensions of the resistor 1 can be finished to an accurate size with almost no error. Further, if the punching operation is performed by repeatedly using one punching die, unlike a case where a plurality of punching dies are used alternately, a plurality of chip resistors caused by a variation in the dimensions of the plurality of punching dies are obtained. There is no dimensional variation between them.
[0040]
The chip resistor A of the present embodiment is surface-mounted on a desired mounting object by using, for example, a solder reflow technique. Since the solder layer 39 protrudes below the lower surface of the insulating layer 4, it is possible to appropriately perform soldering during surface mounting. In particular, since the thickness t3 of each electrode 3 is greater than the thickness t2 of the insulating layer 4 and each electrode 3 itself protrudes below the insulating layer 4, soldering to each electrode 3 is more appropriate. Can be performed. Since the entire upper surface of the resistor 1 is covered with the overcoat layer 2, the occurrence of improper electrical conduction between the resistor 1 and other members or devices is also prevented.
[0041]
As described above, each electrode 3 is separated from the edge 1a of the resistor 1 by an appropriate dimension s1 in the width direction of the resistor 1, and the width s2 of each electrode 3 is, for example, a It becomes narrower than when it is formed to extend to the edge 1a of the body 1. As described above, when the width s2 of each electrode 3 is reduced, the difference between the resistance value R1 between the inner edges of the pair of electrodes 3 and the resistance value R2 between the outer edges is reduced (see FIG. 2). As a result, when the chip resistor A is surface-mounted at a desired location, for example, the solder may come into contact with a portion near the inner edge of the pair of electrodes 3 or, on the contrary, the outside of the pair of electrodes 3 Even if a situation occurs in which a portion near the edge is unevenly contacted, a large difference in resistance value can be prevented. According to the present embodiment, it is not necessary to increase the thickness of each electrode 3 and reduce its electrical resistance as means for reducing the difference between the resistance values R1 and R2. Therefore, from such a viewpoint, the thickness of each electrode 3 does not need to be increased, so that it is preferable to reduce the thickness of the entire chip resistor A.
[0042]
If the error of the resistance value caused by the width of the electrode 3 is not considered, the resistance between the electrodes of the chip resistor A is determined by the resistivity of the resistor 1, the dimension s3 between the pair of electrodes 3, and the size of the resistor 1. It is determined. On the other hand, in the chip resistor A, as described above, the vertical and horizontal dimensions of the resistor 1 can be finished to a desired size with high accuracy by punching, and the thickness of the resistor 1 can be reduced. , From the stage of the plate 1A. The dimension s3 between the pair of electrodes 3 is equal to the width of the first region 4a of the insulating layer 4. However, the width of the first region 4a can be formed with considerably high dimensional accuracy by thick film printing. Since it is possible, the dimension s3 can be finished to a desired value with high accuracy. As described above, when the size of the resistor 1 and the dimension s1 between the pair of electrodes 3 are finished to a desired value with high accuracy, the error of the actual interelectrode resistance of the chip resistor A with respect to the target resistance value is very small. Become. As a result, in the chip resistor A, it is possible to eliminate the necessity of performing trimming for adjusting the resistance value after the manufacture.
[0043]
6 to 8 show other embodiments of the chip resistor according to the present invention. In these drawings, the same or similar elements as those in the above embodiment are denoted by the same reference numerals.
[0044]
In the chip resistor Aa shown in FIGS. 6A and 6B, four electrodes 3 (3 a, 3 b) are formed on the back surface of the resistor 1. Of these, the two electrodes 3a form a pair, and are separated from the edge 1a of the resistor 1 by an appropriate distance s5 in the direction in which they are arranged (the horizontal direction in the figure). Similarly, the two electrodes 3b are also paired and are separated from the edge 1a by an appropriate distance. In order to manufacture the chip resistor Aa, the insulating layer 4A formed on one surface of the plate 1A is shaped as shown in FIG. 3C, and the plate 1A is cut at a location indicated by a virtual line in FIG. Good. As a means for dividing the plate 1A into a plurality of chip-shaped resistors 1, a cutting means such as using a shear (shearing machine) or a rotary cutter may be used instead of punching.
[0045]
Since such a chip resistor Aa has four electrodes 3, it can be used, for example, as follows. That is, of the four electrodes 3 (3a, 3b), one pair of electrodes 3a is used as a current electrode, and the other pair of electrodes 3b is used as a voltage electrode. When the current of the electric circuit is detected, the pair of current electrodes 3a is electrically connected to the electric circuit so that the electric current of the electric circuit flows. A voltmeter is connected to the pair of voltage electrodes 3b. Since the resistance value of the chip resistor Aa is known, the voltage drop in the resistor 1 of the chip resistor Aa is measured using the voltmeter, and the measured value is applied to the Ohm formula to obtain the resistance. The value of the current flowing through the body 1 can be accurately known. Since the arrangement of the four electrodes 3 (3a, 3b) is symmetric, even if the chip resistor Aa is rotated by 180 ° and mounted, there is no problem and it is convenient. Of course, since each electrode 3 is separated from the edge 1a of the resistor 1 and has a small width s6, it is possible to prevent a large variation in resistance value depending on the mounting method. .
[0046]
The chip resistors Ab and Ac shown in FIGS. 7 and 8 are another example in which four electrodes are provided. Each of these chip resistors Ab and Ac has a pair of two electrodes 3c and a pair of two electrodes 3d, and the electrodes 3c and 3d have different shapes and sizes from each other. Has become. The electrode 3c is separated from the edge 1a of the resistor 1 by an appropriate dimension s7, while the electrode 3d is not separated from the edge 1a. In order to manufacture these chip resistors Ab and Ac, the insulating layer 4A formed on the plate 1A is shaped as shown in FIGS. 7 (c) and 8 (c), for example. The plate 1A may be cut at the location indicated by the line.
[0047]
In these chip resistors Ab and Ac, a pair of narrow electrodes 3c is used as a voltage electrode, and a pair of electrodes 3d wider than them are used as current electrodes. Since the voltage electrode is used for accurately measuring the voltage drop amount, an accurate voltage drop amount can be obtained by using a pair of narrow electrodes 3c as the voltage electrode. It becomes. Thus, in the present invention, when four electrodes are provided, only a pair of the electrodes may be configured to be separated from the edge of the resistor.
[0048]
The present invention is not limited to the contents of the above-described embodiment. The specific configuration of each part of the chip resistor according to the present invention can be variously changed in design. Similarly, the specific configuration of each step of the method for manufacturing a chip resistor according to the present invention can be variously changed.
[0049]
The chip resistor according to the present invention is not limited to one provided with one or two pairs of electrodes, but may be provided with three or more electrodes. As long as at least one pair of these electrodes is separated from the edge of the resistor in the direction in which they are arranged, the technical scope of the present invention is included. The specific dimensions from the edge to the electrode are not limited. When the number of electrodes is increased, for example, a method of using some of them as dummy electrodes is also possible.
[0050]
It is easy to form the electrodes by plating, but the present invention is not limited to this, and another method may be used. As a means for forming the insulating layer on one side of the resistor, a means such as transfer can be adopted. Needless to say, the chip resistor according to the present invention may be manufactured by a manufacturing method different from the manufacturing method of the chip resistor according to the present invention, for example, the same method as the prior art described with reference to FIG. No. The present invention is suitable for a case where the chip resistor has a low resistance, but the specific resistance value is not limited.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a chip resistor according to the present invention.
FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG.
FIG. 3 is an enlarged view of a main part of FIG. 2;
FIGS. 4A to 4C are perspective views showing a part of a manufacturing process of the chip resistor shown in FIG. 1;
5D is a perspective view showing a part of the manufacturing process of the chip resistor shown in FIG. 1, and FIG. 5E is a plan view showing a part of the manufacturing process of the chip resistor shown in FIG. FIG.
6 (a) is a front view showing another example of the chip resistor according to the present invention, FIG. 6 (b) is a bottom view of FIG. 6 (a), and FIG. It is a principal part top view which shows the example of a process of manufacturing the shown chip resistor.
7 (a) is a front view showing another example of the chip resistor according to the present invention, FIG. 7 (b) is a bottom view of FIG. 7 (a), and FIG. It is a principal part top view which shows the example of a process of manufacturing the shown chip resistor.
8A is a front view showing another example of the chip resistor according to the present invention, FIG. 8B is a bottom view of FIG. 8A, and FIG. It is a principal part top view which shows the example of a process of manufacturing the shown chip resistor.
FIG. 9 is a perspective view showing an example of a conventional chip resistor.
FIGS. 10A to 10E are explanatory views showing an example of a conventional method for manufacturing a chip resistor.
[Explanation of symbols]
A Chip resistor 1 Resistor 1a Edge (of resistor)
1A plate 2 overcoat layer 3 electrode 4 insulating layer 39 solder layer

Claims (8)

チップ状の抵抗体と、この抵抗体の片面に設けられ、かつ互いに離間して並んだ少なくとも一対の電極と、を備えているチップ抵抗器であって、
上記一対の電極は、これらが並ぶ方向において上記抵抗体の端縁から離間していることを特徴とする、チップ抵抗器。
A chip resistor comprising a chip-shaped resistor and at least one pair of electrodes provided on one surface of the resistor and arranged apart from each other,
A chip resistor, wherein the pair of electrodes are separated from an edge of the resistor in a direction in which the electrodes are arranged.
上記抵抗体の上記片面に設けられた絶縁層を備えており、かつ上記一対の電極は、上記絶縁層の全体または一部を挟んで離間している、請求項1に記載のチップ抵抗器。2. The chip resistor according to claim 1, further comprising an insulating layer provided on one surface of the resistor, and wherein the pair of electrodes are separated from each other with the whole or a part of the insulating layer interposed therebetween. 3. 上記抵抗体の上記片面のうち、上記各電極と上記抵抗体の上記端縁との間の領域は、上記絶縁層によって覆われている、請求項2に記載のチップ抵抗器。3. The chip resistor according to claim 2, wherein a region between each of the electrodes and the edge of the resistor on the one surface of the resistor is covered with the insulating layer. 4. 上記絶縁層は、厚膜印刷により形成されたものである、請求項2または3に記載のチップ抵抗器。The chip resistor according to claim 2, wherein the insulating layer is formed by thick-film printing. 上記抵抗体の上記片面とは反対の面には、電気絶縁性を有するオーバコート層が設けられている、請求項1ないし4のいずれかに記載のチップ抵抗器。5. The chip resistor according to claim 1, wherein an overcoat layer having electrical insulation is provided on a surface of said resistor opposite to said one surface. 上記オーバコート層と上記絶縁層とは、同一の材質とされている、請求項5に記載のチップ抵抗器。The chip resistor according to claim 5, wherein the overcoat layer and the insulating layer are made of the same material. 上記各電極の厚みは、上記絶縁層の厚みよりも大きくされている、請求項2ないし6のいずれかに記載のチップ抵抗器。7. The chip resistor according to claim 2, wherein the thickness of each of the electrodes is greater than the thickness of the insulating layer. 抵抗体の材料となるプレートの片面に、絶縁層をパターン形成する工程と、
上記プレートの上記片面のうち、上記絶縁層が形成されていない領域に、導電層を形成する工程と、
上記プレートをチップ状の複数の抵抗体に分割する工程とを有し、
上記プレートの分割は、上記各抵抗体の片面において上記導電層の一部が上記絶縁層の一部を挟んで互いに離間する一対の電極として形成され、かつこれら一対の電極はこれらが並ぶ方向において上記抵抗体の端縁から離間するように行なうことを特徴とする、チップ抵抗器の製造方法。
A step of patterning an insulating layer on one side of a plate serving as a material of the resistor,
A step of forming a conductive layer in a region of the one surface of the plate where the insulating layer is not formed,
Dividing the plate into a plurality of chip-shaped resistors,
In the division of the plate, a part of the conductive layer is formed as a pair of electrodes separated from each other across a part of the insulating layer on one surface of each of the resistors, and the pair of electrodes are arranged in a direction in which these are arranged. A method of manufacturing a chip resistor, wherein the method is performed so as to be separated from an edge of the resistor.
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