JP2003526794A - オプトエレクトロニクス伝送ラインのpmdを検出する装置 - Google Patents
オプトエレクトロニクス伝送ラインのpmdを検出する装置Info
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
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- H04B10/2507—Arrangements specific to fibre transmission for the reduction or elimination of distortion or dispersion
- H04B10/2569—Arrangements specific to fibre transmission for the reduction or elimination of distortion or dispersion due to polarisation mode dispersion [PMD]
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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Abstract
(57)【要約】
本発明は、オプトエレクトロニクス伝送ラインのPMDを検出する装置に関する。本発明の装置は、その照度が被分析伝送ラインの照度と重畳される狭帯域の同調可能なレーザと、この重畳された信号を受信するオプトエレクトロニクス・ヘテロダイン受信器とを具えていることを特徴とする。
Description
【0001】
技術分野
本発明は、オプトエレクトロニクス伝送リンクの偏光モード分散(以下、PM
Dという)を検出する装置に関する。
Dという)を検出する装置に関する。
【0002】
従来の技術
ファイバ・ラインの如き光通信リンクにおける偏光モード分散(PMD)、又
は、かかるリンクの伝送品質での影響により生じる歪を決定する既知の方法は、
夫々、ビット・エラー・レートを測定することである。この方法は、PMDの影
響に関するステートメントを提供するが、PMD自体の大きさに関するステート
メントを提供しない。
は、かかるリンクの伝送品質での影響により生じる歪を決定する既知の方法は、
夫々、ビット・エラー・レートを測定することである。この方法は、PMDの影
響に関するステートメントを提供するが、PMD自体の大きさに関するステート
メントを提供しない。
【0003】
PMDを決定する他の既知の方法は、有用な信号のオプトエレクトロニクス検
出の後に、1組の高周波数フィルタを用いて、選択した側周波数の位相シフトを
決定する。この点で、この影響は、有用な信号の変調帯域幅に依存する。デジタ
ル伝送における異なるビット・レートは、異なるフィルタ組合せを必要とする。
通常は、わずか約3〜4個のフィルタが適している。PMDの決定は、信号変調
に関連しており、各1個の有用信号に対して可能となるのみである。
出の後に、1組の高周波数フィルタを用いて、選択した側周波数の位相シフトを
決定する。この点で、この影響は、有用な信号の変調帯域幅に依存する。デジタ
ル伝送における異なるビット・レートは、異なるフィルタ組合せを必要とする。
通常は、わずか約3〜4個のフィルタが適している。PMDの決定は、信号変調
に関連しており、各1個の有用信号に対して可能となるのみである。
【0004】
一方、例えば、適切な補償手段による補償を可能とするために、PMDの決定
に、商業的に大いなる関心がある。
に、商業的に大いなる関心がある。
【0005】
発明の開示
本発明は、PMDを決定するアセンブリを提供する目的に基づいており、短時
間の測定で、PMDの変動に対する判定を可能にしているので、例えば、特に、
PMD補償手段の構成要素として利用できる。
間の測定で、PMDの変動に対する判定を可能にしているので、例えば、特に、
PMD補償手段の構成要素として利用できる。
【0006】
本発明によるこの目的の解決法は、請求項1に記載されている。本発明の更な
る展開は、従属請求項の主題である。
る展開は、従属請求項の主題である。
【0007】
本発明は、光通信リンクにおける偏光モード分散を測定するための方法及びア
センブリに関する。
センブリに関する。
【0008】
デジタル光データ信号のスペクトルは、ビット・レートに依存する限定された
スペクトル幅を有する。ビット・レートが高くなるほど、関連したスペクトルが
広くなる。
スペクトル幅を有する。ビット・レートが高くなるほど、関連したスペクトルが
広くなる。
【0009】
異なるスペクトル部分が伝送リンクの光ガイド・ファイバ内で異なる偏光状態
となり、各スペクトル部分の異なる伝搬速度により、充分な伝送長の後に信号歪
が生じる。これにより、デジタル情報の再生が困難となるか、又は、少なくとも
信号品質に悪影響を及ぼす。
となり、各スペクトル部分の異なる伝搬速度により、充分な伝送長の後に信号歪
が生じる。これにより、デジタル情報の再生が困難となるか、又は、少なくとも
信号品質に悪影響を及ぼす。
【0010】
帯域幅が信号スペクトルの一部分であるオプトエレクトロニクス・ヘテロダイ
ン受信器により、このスペクトルをスペクトル的分解で測定する。次に、測定値
を求めて、受信信号のパワー密度スペクトルに反映させる。
ン受信器により、このスペクトルをスペクトル的分解で測定する。次に、測定値
を求めて、受信信号のパワー密度スペクトルに反映させる。
【0011】
この光重畳により、電気的重ね合わせ信号の利用可能な振幅は、これら2つの
信号のパワーに依存するが、到来する信号及び局部的な重ね合わせレーザの偏光
方向にも直接的に依存する。
信号のパワーに依存するが、到来する信号及び局部的な重ね合わせレーザの偏光
方向にも直接的に依存する。
【0012】
入力スペクトルの偏光依存パワー密度を決定するために、局部レーザの、例え
ば、2つの直交偏光状態(SOP:偏光状態)をオプトエレクトロニクスの重ね
合わせように用いる。例えば、これらは、ベクトルを有する水平及び垂直偏光で
もよい。 (S1, S2, S3) = (1, 0, 0); (-1, 0, 0) SOPH = (1, 0, 0) 水平 SOPV = (-1, 0, 0) 垂直
ば、2つの直交偏光状態(SOP:偏光状態)をオプトエレクトロニクスの重ね
合わせように用いる。例えば、これらは、ベクトルを有する水平及び垂直偏光で
もよい。 (S1, S2, S3) = (1, 0, 0); (-1, 0, 0) SOPH = (1, 0, 0) 水平 SOPV = (-1, 0, 0) 垂直
【0013】
これら2つの直交偏光状態を用いて、総合信号パワーのスペクトル分布が決ま
る。 PUges(λ) = (PUH(λ) + PUV(λ)) / 2
る。 PUges(λ) = (PUH(λ) + PUV(λ)) / 2
【0014】
スペクトル的に分解した受信スペクトル内で、異なる偏光状態を測定できるよ
うにするために、偏光方向が更に必要になる。この点で、例えば、45度の偏光
、及び右旋又は左旋円偏光を用いるのが都合よい。 SOP+45 = (0, 1, 0) 線形、+45度の斜め SOPR = (0, 0, 1) 右旋円
うにするために、偏光方向が更に必要になる。この点で、例えば、45度の偏光
、及び右旋又は左旋円偏光を用いるのが都合よい。 SOP+45 = (0, 1, 0) 線形、+45度の斜め SOPR = (0, 0, 1) 右旋円
【0015】
さて、入力スペクトルは、局部レーザの提案された偏光状態に重畳される。
(S1, S2, S3)
SOPH = (1, 0, 0) 水平
SOPV = (-1, 0, 0) 垂直
SOP+45 = (0, 1, 0) 線形、+45度の斜め
SOPR = (0, 0, 1) 右旋円
【0016】
各混合結果のパワーは、入力パワー及び局部レーザ・パワーの積と、両方の偏
光の対応を記述した係数kとに比例する。 Pu = k * PE * PL * a(ΔSOP) k 定数 PE 入力パワー PL 局部レーザ・パワー a(ΔSOP) 偏光一致係数
光の対応を記述した係数kとに比例する。 Pu = k * PE * PL * a(ΔSOP) k 定数 PE 入力パワー PL 局部レーザ・パワー a(ΔSOP) 偏光一致係数
【0017】
ここでは、偏光一致係数a(ΔSOP)は、ポアンカレ球でのSOPの相対距離に依存
する。 a(ΔSOP) = cos2(α/2) α ポアンカレ球でのSOPE及びSOPLの間の角度
する。 a(ΔSOP) = cos2(α/2) α ポアンカレ球でのSOPE及びSOPLの間の角度
【0018】
係数a(ΔSOP)の大きさは、同一の偏光(α=0度)にて最大1であり、直交偏
光(α=180度)にて0である。
光(α=180度)にて0である。
【0019】
3つの偏光により、
(S1, S2, S3) = (1, 0, 0); (0, 1, 0); (0, 0, 1)
は、ストークス・ベクトルS1, S2, S3を表す。ここから、受信信号の波長依存正
規化スートクス・パラメータS1(λ),S2(λ)及びS3(λ)が次のように決まる。 S1(λ) = PUH(λ) / PUtot(λ) S2(λ) = Pu+45(λ) / PUtot(λ) S3(λ) = PUV(λ) / PUtot(λ)
規化スートクス・パラメータS1(λ),S2(λ)及びS3(λ)が次のように決まる。 S1(λ) = PUH(λ) / PUtot(λ) S2(λ) = Pu+45(λ) / PUtot(λ) S3(λ) = PUV(λ) / PUtot(λ)
【0020】
よって、入力スペクトルの各波長において、ろ波したスペクトル部分の偏光方
向が決まる。 SOPE(λ) = [S1(λ), S2(λ), S3(λ)]
向が決まる。 SOPE(λ) = [S1(λ), S2(λ), S3(λ)]
【0021】
伝送リンクの入力における偏光の主状態{PSPin}に対応する2つのパワー
成分にデータ源の放射が分割されるという効果をPMDが示す。これら2つのパ
ワー成分の間で、通常、異なる大きさ、相対時間遅延、所謂、差群遅延{DGD
}が生じる。これら2つのパワー成分は、偏光方向がPSPoutに対応して本発
明に応じて設計されたPMDモニタに到達する。
成分にデータ源の放射が分割されるという効果をPMDが示す。これら2つのパ
ワー成分の間で、通常、異なる大きさ、相対時間遅延、所謂、差群遅延{DGD
}が生じる。これら2つのパワー成分は、偏光方向がPSPoutに対応して本発
明に応じて設計されたPMDモニタに到達する。
【0022】
DGDが0に等しいか、又は、入力放射の偏光が伝送リンクのPSPinと同一
ならば、データ信号は、PMDによる如何なる歪も被らない。両方の場合におい
て、たとえ波長がわずかに変化しても、伝送リンクの端部における出力偏光は一
定のままである。 SOPE(λ) = 一定
ならば、データ信号は、PMDによる如何なる歪も被らない。両方の場合におい
て、たとえ波長がわずかに変化しても、伝送リンクの端部における出力偏光は一
定のままである。 SOPE(λ) = 一定
【0023】
信号の異なるスペクトル部分は、同じ偏光を有し、このスペクトルにわたる累
積された偏光変動は、0に等しい。
積された偏光変動は、0に等しい。
【0024】
しかし、DGDが大きくなり、2つのPSPinのパワー分割比が値1:1に近
づけば、より多くの入力信号が歪む。 SOPE(λ) = 可変
づけば、より多くの入力信号が歪む。 SOPE(λ) = 可変
【0025】
測定データSOPE(λ)は、以前の計算から適切な波長レンジに対して存在する。
これらデータは、ポアンカレ(弧角度)方法に応じてPMDの決定を実行するの
に充分である。ここで、グラフの各点において、SOPE(λ) - SOPE(λ+δλ)から
差比率をポアンカレ球及び関連した波長部分δλに形成する。計算技術上の理由
により、ここでは、個別ステップへの転換が有利である。 Δτ(λ1) = ΔΩ * λ0 2/2π * C * Δλ ΔΩ = arc(SOPE(λi), SOPE(λi+1)) λ0 = (λi +λi+1) / 2 Δ =λi+1 -λi Δτ ps内のDGD ΔΩ ポアンカレ球上の弧
これらデータは、ポアンカレ(弧角度)方法に応じてPMDの決定を実行するの
に充分である。ここで、グラフの各点において、SOPE(λ) - SOPE(λ+δλ)から
差比率をポアンカレ球及び関連した波長部分δλに形成する。計算技術上の理由
により、ここでは、個別ステップへの転換が有利である。 Δτ(λ1) = ΔΩ * λ0 2/2π * C * Δλ ΔΩ = arc(SOPE(λi), SOPE(λi+1)) λ0 = (λi +λi+1) / 2 Δ =λi+1 -λi Δτ ps内のDGD ΔΩ ポアンカレ球上の弧
【0026】
現在の個別の値Δτ(λ1)は、PMD歪の確かな測定単位である平方自乗平均
値と通常組み合わされる。
値と通常組み合わされる。
【数1】
【0027】
従来のPMD測定装置の既知の解決法は、干渉方法又はジョーンズ・マトリクス
方法のいずれかで動作し、1つ測定に対して数十秒から数分かかり、非常にかさ
ばり、測定期間中の動作に移動する要素があるる。この既知の解決法に対して、
本発明による解決法は、例えば、ファイバ・ラインのPMDの実質的に実時間の
変動を検出するという利点がある。本発明によるアセンブリは、更に、波長依存
ストークス・パラメータの計算ができる。迅速で随意の同調可能な局部レーザを
用いることにより、また、迅速に応答する偏光制御器を用いることにより、PM
Dモニタの組み立てが可能であり、異なる分解能で、全体の波長レンジ内の随意
に選択可能なサブレンジにて動作する。さらに、本発明の解決法は、構造の大き
さが小形であると共に、動く要素がない解決法なので、特に長寿命の実時間PM
Dモニタ・システムを実現できる。
方法のいずれかで動作し、1つ測定に対して数十秒から数分かかり、非常にかさ
ばり、測定期間中の動作に移動する要素があるる。この既知の解決法に対して、
本発明による解決法は、例えば、ファイバ・ラインのPMDの実質的に実時間の
変動を検出するという利点がある。本発明によるアセンブリは、更に、波長依存
ストークス・パラメータの計算ができる。迅速で随意の同調可能な局部レーザを
用いることにより、また、迅速に応答する偏光制御器を用いることにより、PM
Dモニタの組み立てが可能であり、異なる分解能で、全体の波長レンジ内の随意
に選択可能なサブレンジにて動作する。さらに、本発明の解決法は、構造の大き
さが小形であると共に、動く要素がない解決法なので、特に長寿命の実時間PM
Dモニタ・システムを実現できる。
【0028】
図面を参照し、実施例に基づいて、以下に本発明を詳細に説明する。
【0029】
実施例の説明
図1は、PMDを測定する本発明による装置の第1実施例を図的に示す。なお
、以下、PMDを測定する装置をPMDモニタという。局部の同調可能なレーザ
2は、電子的に同調可能な分散ブラッグ反射レーザ(DBRレーザ)、又は、電
子的に同調可能な分散帰還型レーザ(DFBレーザ)が都合よく、制御ユニット
3により同調されて、同調の波長レンジが、被分析伝送リンクの信号1のスペク
トルを掃引する。局部レーザ2の偏光は、偏光制御器4によりPMDを決定する
のに必要な4つの異なる偏光状態に設定される。3dBカプラーが都合よいオプ
ティカル・カプラー5において、被分析信号1を局部レーザ2の放射に加える。
、以下、PMDを測定する装置をPMDモニタという。局部の同調可能なレーザ
2は、電子的に同調可能な分散ブラッグ反射レーザ(DBRレーザ)、又は、電
子的に同調可能な分散帰還型レーザ(DFBレーザ)が都合よく、制御ユニット
3により同調されて、同調の波長レンジが、被分析伝送リンクの信号1のスペク
トルを掃引する。局部レーザ2の偏光は、偏光制御器4によりPMDを決定する
のに必要な4つの異なる偏光状態に設定される。3dBカプラーが都合よいオプ
ティカル・カプラー5において、被分析信号1を局部レーザ2の放射に加える。
【0030】
フォトダイオードが都合よい後続のオプトエレクトロニクス受信器6において
、電気的重ね合わせ信号が発生する。HFフィルタ及び評価ユニット7は、重ね
合わせ信号の帯域幅を制限し、望ましくないベースバンド信号をろ波し、後段の
制御及び計算ユニット3が測定信号を利用できるようにする。これは、局部レー
ザ2の種々の偏光及び波長における測定量の性質を分析する。これら計算の結果
、制御信号8が発生する。この制御信号8は、被分析入力信号1のPMD歪に比
例し、PMD補償ユニットの制御に適する。電子的に同調可能な半導体レーザを
有するこのアセンブリの利点は、第1に、異なる周波数への同調を非常な迅速で
達成できることであり、第2に、同調スロープが選択可能であるので、情報密度
の増加した領域を高い分解能で扱えることである。これは、高性能のモニタにと
って望ましいことである。
、電気的重ね合わせ信号が発生する。HFフィルタ及び評価ユニット7は、重ね
合わせ信号の帯域幅を制限し、望ましくないベースバンド信号をろ波し、後段の
制御及び計算ユニット3が測定信号を利用できるようにする。これは、局部レー
ザ2の種々の偏光及び波長における測定量の性質を分析する。これら計算の結果
、制御信号8が発生する。この制御信号8は、被分析入力信号1のPMD歪に比
例し、PMD補償ユニットの制御に適する。電子的に同調可能な半導体レーザを
有するこのアセンブリの利点は、第1に、異なる周波数への同調を非常な迅速で
達成できることであり、第2に、同調スロープが選択可能であるので、情報密度
の増加した領域を高い分解能で扱えることである。これは、高性能のモニタにと
って望ましいことである。
【0031】
図2の構成において、オプトエレクトロニクス受信器をオプトエレクトロニク
ス平衡受信器9と置き換えており、光信号のベースバンド部分が広く抑圧されて
いる。この構成の特徴は、高いダイナミック・レンジである。
ス平衡受信器9と置き換えており、光信号のベースバンド部分が広く抑圧されて
いる。この構成の特徴は、高いダイナミック・レンジである。
【0032】
図3の第3構成において、局部レーザ2の分岐ではなく、入力信号1の分岐に
偏光制御器4を配置することにより、オプトエレクトロニクスの重ね合わせのた
めに必要な異なる偏光状態を提供できる。
偏光制御器4を配置することにより、オプトエレクトロニクスの重ね合わせのた
めに必要な異なる偏光状態を提供できる。
【0033】
例として、図4の構成においては、偏光フィルタ特性のビーム・スプリッタ1
0、11を含む偏光ダイバーシチ受信器12を用いることにより、偏光状態の切
替を避けている。
0、11を含む偏光ダイバーシチ受信器12を用いることにより、偏光状態の切
替を避けている。
【0034】
図5aは、代表的な入力信号のスペクトルPEtot(λ)を図的に示している。
【0035】
図5bは、PMDのない場合と、PMDが完全に補償された場合とにおける関
連した波長レンジにわたる偏光の一定状態を示している。
連した波長レンジにわたる偏光の一定状態を示している。
【0036】
図5cにおいて、高いPMDの場合におけるスペクトル部分の異なる偏光の特
性を示している。
性を示している。
【0037】
図6において、PMDモニタでの偏光制御器4の構成が図的に示されており、
ファイバ・スクイーザの構造に圧電要素を有する。45度だけ相互に回転して配
置された2個の圧電ファイバ・スクイーザ13及び14により、局部レーザ2の
光を任意の開始偏光に持ってくることができる。ファイバ・カプラー15は、出
力21における総合パワーの主要部分を提供し、偏光制御用の小さな部分を抽出
する。別のファイバ圧電スクイーザ16は、信号発生器17により変調される。
偏光子18は、圧電ファイバ・スクイーザ16に対して45度だけ回転して設け
られる。その偏光方向に変調された光は、偏光子18による振幅変調を受け、光
受信器19により分析される。変調振幅を反映した被測定信号が、評価及び制御
ユニット20に入力する。
ファイバ・スクイーザの構造に圧電要素を有する。45度だけ相互に回転して配
置された2個の圧電ファイバ・スクイーザ13及び14により、局部レーザ2の
光を任意の開始偏光に持ってくることができる。ファイバ・カプラー15は、出
力21における総合パワーの主要部分を提供し、偏光制御用の小さな部分を抽出
する。別のファイバ圧電スクイーザ16は、信号発生器17により変調される。
偏光子18は、圧電ファイバ・スクイーザ16に対して45度だけ回転して設け
られる。その偏光方向に変調された光は、偏光子18による振幅変調を受け、光
受信器19により分析される。変調振幅を反映した被測定信号が、評価及び制御
ユニット20に入力する。
【0038】
2個の圧電ファイバ・スクイーザ13及び14を駆動して、受信器19におけ
る変調振幅をゼロにする。これは、圧電ファイバ・スクイーザ16における偏光
が、正確に水平又は垂直(複屈折ファイバ要素の固有モード)に設定された場合
である。接続ファイバ及びカプラー15に固有の複屈折のため、アセンブリの出
力21に2つの変化した偏光が生じる。しかし、これら偏光は、互いに直角にお
いては変化しない。
る変調振幅をゼロにする。これは、圧電ファイバ・スクイーザ16における偏光
が、正確に水平又は垂直(複屈折ファイバ要素の固有モード)に設定された場合
である。接続ファイバ及びカプラー15に固有の複屈折のため、アセンブリの出
力21に2つの変化した偏光が生じる。しかし、これら偏光は、互いに直角にお
いては変化しない。
【0039】
圧電ファイバ・スクイーザ16にて、水平偏光(1,0,0)又は垂直偏光(-1,0,
0)を夫々達成するために、圧電ファイバ・スクイーザ13及び14に対して、
2つの特定の制御電圧が各々必要となる。これら電圧が既知ならば、数学的導出
により、45度斜めの偏光(0,1,0)及び右旋円(0,0,1)に必要な制御電圧を計
算できる。
0)を夫々達成するために、圧電ファイバ・スクイーザ13及び14に対して、
2つの特定の制御電圧が各々必要となる。これら電圧が既知ならば、数学的導出
により、45度斜めの偏光(0,1,0)及び右旋円(0,0,1)に必要な制御電圧を計
算できる。
【0040】
図1のモニタの実施例のためには、評価及び制御ユニット20は、圧電ファイ
バ・スクイーザ13及び14用に夫々4つの制御電圧を連続的に駆動し、4つの
必要な偏光を発生して、上述の方法によるストークス・パラメータを決定する。
バ・スクイーザ13及び14用に夫々4つの制御電圧を連続的に駆動し、4つの
必要な偏光を発生して、上述の方法によるストークス・パラメータを決定する。
【0041】
例として、図7は、高速データ・レート用の光伝送システムにおけるPMD補
償器の中心的構成要素としてのPMDモニタのアプローチを示している。この例
では、データ信号源22により変調された伝送レーザ23の信号は、伝送リンク
24を介して、ストークス・パラメータを決定すべき場所に達する。この例では
、これが受信場所である。復調器の前段に配置されたPMD補償ユニット25は
、制御ユニット29からの駆動により、伝送ファイバ24のPMDに対する補償
を行う。このために、PMDモニタ28にて分析される利用可能信号が復調器2
7に達する前に、この信号の小さな部分をカプラー26によって抽出する。PM
Dモニタ28の出力信号は、制御ユニット29を介してPMD補償器を制御する
。
償器の中心的構成要素としてのPMDモニタのアプローチを示している。この例
では、データ信号源22により変調された伝送レーザ23の信号は、伝送リンク
24を介して、ストークス・パラメータを決定すべき場所に達する。この例では
、これが受信場所である。復調器の前段に配置されたPMD補償ユニット25は
、制御ユニット29からの駆動により、伝送ファイバ24のPMDに対する補償
を行う。このために、PMDモニタ28にて分析される利用可能信号が復調器2
7に達する前に、この信号の小さな部分をカプラー26によって抽出する。PM
Dモニタ28の出力信号は、制御ユニット29を介してPMD補償器を制御する
。
【図1】
PMDを測定する本発明による装置の実施例の図である。
【図2】
図1に示した実施例の変形であり、平衡ミキサを有する。
【図3】
図2に示した実施例の変形であり、偏光制御器を有する。
【図4】
偏光ダイバーシチ受信器及び平衡ミキサを有する実施例である。
【図5a】
データ信号のスペクトル・パワー分布を表す図である。
【図5b】
PMD歪がない信号に対する偏光状態の波形依存を示す。
【図5c】
高いPMD歪が存在する場合における偏光状態の波形依存を示す。
【図6】
PMDモニタの圧電偏光制御器の実施例である。
【図7】
PMD補償器の中心的構成要素としての、本発明によるPMDモニタである。
Claims (10)
- 【請求項1】 その放射が被分析伝送リンクの放射と重畳される狭帯域の同
調可能レーザと、重畳した信号を受信するオプトエレクトロニクス・ヘテロダイ
ン受信器とを設けたことを特徴とするオプトエレクトロニクス伝送リンクのPM
Dを検出する装置。 - 【請求項2】 上記レーザは、電子的に同調可能なDBRレーザ又はDFB
レーザであることを特徴とする請求項1の装置。 - 【請求項3】 偏光制御器を設け、被分析放射の偏光方向に対して上記レー
ザの偏光方向を設定することを特徴とする請求項1又は2の装置。 - 【請求項4】 上記偏光制御器は、圧電制御器であることを特徴とする請求
項3の装置。 - 【請求項5】 信号の分岐内又はレーザの分岐内のいずれかに上記偏光制御
器を配置したことを特徴とする請求項3又は4の装置。 - 【請求項6】 上記ヘテロダイン受信器は、非線形オプトエレクトロニクス
受信器であり、特に、フォトダイオードであることを特徴とする請求項1〜5の
いずれかの装置。 - 【請求項7】 上記受信器は、平衡受信器であることを特徴とする請求項1
〜6のいずれかの装置。 - 【請求項8】 上記受信器は、偏光ダイバーシチ受信器であることを特徴と
する請求項1〜7のいずれかの装置。 - 【請求項9】 制御及び評価ユニットを設け、波長に応じて互いに異なる放
射偏光を混合した結果の検出輝度の性質から、偏光モード分散(PMD)の測定
値を計算することを特徴とする請求項1〜8のいずれかの装置。 - 【請求項10】 PMD補償用アセンブリに用いることを特徴とする請求項
1〜9のいずれかの装置。
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KR20020026875A (ko) | 1999-06-10 | 2002-04-12 | 파이버스페이스, 인코퍼레이티드 | 광학전송의 주어진 대역 선택을 위한 rf/마이크로파 및광학 믹싱 기술 이용 방법 및 장치 |
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