JP2003318264A - 出力特性可変型半導体集積回路装置 - Google Patents
出力特性可変型半導体集積回路装置Info
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
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Abstract
を入力することで、使用者側の要求に合った特性の出力
を得ることが可能な半導体集積回路装置を提供する。 【解決手段】 基準電圧Vrefが増幅器A1の一方の
入力端子(+)に接続され、出力側の電圧VOが複数の
抵抗R0〜R16で分圧されて該増幅器A1の他方の入
力端子(−)に負帰還されることにより出力電圧が制御
される。この時、半導体集積回路装置に入力されるコー
ドに応じて、対応するスイッチ素子Q11〜Q25をO
N/OFFして抵抗の接続を可変とし、分圧比を制御す
ることにより入力されるコードに対応した出力電圧に設
定することができる。
Description
に応じて出力特性を可変とする半導体集積回路に関す
る。
い、従来の少品種多量生産から多品種少量生産へと変化
が起こっている。また、激化する市場競争にあって、こ
のような要求にこたえるため、多くのメーカに短い納期
で多品種の半導体集積回路装置を供給する必要がある。
導体集積回路装置は開発・生産効率が著しく悪く、ま
た、コストアップの大きな要因にもなるが、上記の要求
にこたえるため、論理回路、とりわけゲートアレイを含
むASICの分野に於いては、商品メーカが商品の生産
時に回路の構成を一定の枠内であれば変更できるフィー
ルド・プログラマブル・ゲートアレイやプログラマブル
・ロジック(PLD)が使用されている。
なプログラマブル半導体集積回路は、論理回路で構成さ
れ、その論理構造を変更して使用しているため、例えば
増幅率や出力電圧のようなアナログ出力の特性を変更す
ることは困難である。そこで、特開平9-330135
のような動作特性補正装置が提案されており、制御レジ
スタの値に応じてアナログ出力を変更することが示され
ているが、この場合、誤った値が設定されたとしても、
そのことを認識するのが難しかったり、複数の利用者に
本半導体集積回路を異なる仕様のものとして提供するこ
とはできないという問題があった。
体集積回路装置に仕様別のコードを入力することで、使
用者側の要求に合った特性の出力を得ることが可能な半
導体集積回路装置を提供するとともに、このコードが正
しく入力されたか否かを判断可能にする出力端子を備え
た半導体集積回路装置を提供するものである。
め、基準電圧が増幅器の一方の入力端子に接続され、出
力側の電圧が複数の抵抗で分圧されて該増幅器の他方の
入力端子に負帰還されることにより出力電圧が制御され
る電源装置を有する半導体集積回路装置にあって、前記
半導体集積回路装置に入力されるコードに応じて、スイ
ッチ素子を制御して分圧比を変更することにより、前記
コードに対応した出力電圧に設定する。
子の接続を可変することにより、出力される電気的特性
を可変する半導体集積回路装置にあって、前記コードの
入力が所定の入力値でなかった場合に異常を報せる出力
端子を備えている。
装置で複数の特性を切換えて利用することができるた
め、それぞれ別の特性を必要とする複数の利用者に対し
て、それぞれの特性に対応するコードを与えて、一つの
半導体集積回路装置を供給することで足りる。そのた
め、半導体集積回路装置の開発や製造工程が簡素化で
き、コストも低減することができるという優れた効果を
発揮する。
のコードが正しく入力されたか否かを確認できるので、
所定回数続けて正しいコードが入力されなかった場合に
は、制御装置からシリアル送信を行わないようにするこ
とが容易にできるようになる。
たい場合も、必要な複数のコードを製造者より入手すれ
ばよく、複数の種類の半導体集積回路装置を使用する必
要はない。更に、利用者にはその利用者が必要とするコ
ードのみ与えられるため、コードの桁数などを増やせ
ば、他の利用者がその内容を知ることがより困難とな
り、セキュリティーの面に於いても向上を図ることが可
能となる
図面を参照して説明する。図1は本発明の基本的な構成
を説明するブロック図で、図2はアナログ出力回路に於
ける基本的な構成を説明するブロック図である。
るコード001001が図示しない制御装置から本発明
の半導体集積回路装置に入力されると、そのコードに対
応した特性が出力されることをブロック図で表してい
る。この場合、このコード001001はその特性を要
求した利用者に供給されるユーザコードと特性設定コー
ドからなるものであって、同じ特性を要求した他の利用
者や違う特性を要求した他の利用者には提供されること
はない。
積回路装置の内部にあるメモリーセルに入力され、出力
回路であるアナログ回路の構成や接続を変化させること
により、入力されたコードに応じたアナログ特性を出力
することを示している。
をON/OFFさせることにより変化させる回路構成を
示している。シリアルデータとして入力される入力コー
ドは本発明の半導体集積回路装置の利用者に与えられた
コードを示し、その利用者を特定するユーザコードと半
導体集積回路装置の特性を変更させる特性設定コードと
が組み合わされたものである。図示されているシリアル
インターフェースは半導体集積回路装置に備えられてお
り、例えばパソコンなどで使用されている方式でもよい
し、独自方式であってもよい。
ンターフェースを通して入力される入力コードに含まれ
るユーザコードをデコードするとともに、シリアル−パ
ラレル変換機能を有しており、入力コードに含まれる特
性設定コードをパラレルに変換する。Q1〜Q6はNM
OSトランジスタを表し、それぞれのドレインはアナロ
グ回路ブロックの図示しない素子に接続されている。
ードのユーザコード部分のみを最初にデコードし、その
結果が、利用しようとする半導体集積回路装置で予め設
定されている内容と一致しない場合、エラーフラッグを
たてて、出力をエラー出力回路のNMOSトランジスタ
のQ7のゲートに送る。トランジスタQ7は半導体集積
回路装置のエラー出力端子に接続されている。このエラ
ー出力端子に外部プルアップ抵抗を接続することによ
り、エラーフラッグによりQ7がONした場合、そのエ
ラー出力端子の電位はLレベルになり、入力されたユー
ザコードが誤りであることが知らされる。この場合、制
御回路はユーザコードに続いて入力される特性設定コー
ドのデコードは行わないため、特性設定コードによる半
導体集積回路装置の特性の変更は実施されない。
ーザコードが、利用しようとする半導体集積回路装置で
予め設定されている内容と一致した場合、制御回路はエ
ラーフラッグを立てないので、トランジスタQ7がON
することはない。その場合、制御回路は引き続き入力さ
れる特性設定コードを取り込んで、下記の動作を行な
う。
に与えられた特性設定コードが、例えば、001001
であるとする。この特性設定コードがシリアルインター
フェースを介して入力されると、制御回路はそのコード
をパラレルに変換して出力し、トランジスタQ1、Q
2、Q4、Q5のゲートには“0”(Lレベル)が、ト
ランジスタQ3とQ6のゲートには“1”(Hレベル)
が与えられる。“1”が入力されたトランジスタQ3と
Q6はONされて、アナログ回路ブロック内の図示しな
い素子をグランドに接続する。“0”が入力されたトラ
ンジスタはOFFの状態になり、アナログ回路ブロック
内の図示しない素子は、例えば電源電圧Vccのレベル
が与えられたりして、他のコードによる回路構成や特性
とは別のものになる。このようにアナログ回路ブロック
の素子の実質的な接続状態が変更されることにより、出
力される回路特性が変わってくる。
特性設定コードをそのままパラレルに変換した後、
“0”と“1”の信号を、各ビットに対応するトランジ
スタに出力する構成としたが、特性設定コードをデコー
ドして、例えば000001であればトランジスタQ1
を、000010であればトランジスタQ2を、000
011であればトランジスタQ3をそれぞれONする回
路構成にすることもできる。
定されたコードと、入力されるユーザコードが照合さ
れ、一致した場合のみ特性の変更が行われるので、別の
ユーザコードを持つ他のユーザやユーザコードを持たな
い不特定の利用者は、該当する半導体集積回路の特性設
定機能を利用することができず、セキュリティー機能も
同時に確立することが可能になる。
た例である。外部からの入力コードはシリアルインター
フェースを介して制御回路に入力される。この場合、入
力コードに含まれる利用者を特定するユーザコードの処
理に関しては、図3を参照して説明したように、制御回
路による照合が行われる。半導体集積回路装置で予め設
定されたユーザコードと一致しない場合、制御回路から
信号が出力されてエラー出力回路のNMOSトランジス
タQ7がONされると同時に、引き続き入力される特性
設定コードに基づく処理を行わない。
ンターフェースを介して引き続き入力される特性設定コ
ードを処理する。例えば、その特性設定コードが4桁の
2進数で0001の場合、制御回路でデコードされて、
10進数の1に対応するNMOSトランジスタQ11の
ゲートに信号を出力してQ11のみをONにする。00
10の場合、10進数の2に対応するNMOSトランジ
スタQ12のみONにするように構成されている。ま
た、本例では、基準電圧Vrefが非反転入力端子に接
続された増幅器A1において、その出力電圧VOは、出
力側に直列に接続された抵抗R0〜R16で分圧された
後、反転入力端子に帰還されている。更に、出力電圧を
分圧する分圧率は抵抗R0とその下端に接続されたR1
からR16により決定される。ONされたトランジスタ
は同じ番号をもつ抵抗の下端部をグランドに導くように
構成されている。
に与えられた特性設定コード、例えば、0001が、シ
リアルインターフェースを介して制御回路に入力される
と、デコードされて出力され、トランジスタQ11のゲ
ートには“1”(Hレベル)が、その他のトランジスタ
のゲートには“0”(Lレベル)が与えられる。そのた
め、トランジスタQ11はONされて、抵抗R1の下端
部をグランドに導く。このような回路構成に於いて、増
幅器A1の反転入力端子に帰還される電圧は、VO×
(R1+R2+…R16)/(R0+(R1+R2+…
R16))となるが、R1の下端部が接地されるため、
R2以降の抵抗値は0になり、VO×R1/(R0+R
1)になる。次の例として、トランジスタQ12のみが
ONされる場合、抵抗R2の下端部が接地されるため、
帰還される電圧は、VO×(R1+R2)/(R0+R
1+R2)となり、分圧率が変更される。
下の式で表せる出力電圧VOも変化することになる。 VO=Vref×(R0+R1+…R16)/(R1+
…R16)
に応じて出力電圧VOは変化するため、入力される特性
設定コードに応じた出力電圧を出力する電源回路として
も利用することもできるし、図4に示すように、この電
源回路を半導体集積回路装置内の他の回路の基準電圧に
することにより、入力される特性設定コードに応じて基
準電圧を切り換えることができ、そのため、様々な機能
を持つアナログ回路の特性を変えることも可能になる。
ードを4桁や6桁の2進数として説明したが、その他の
桁数で回路を構成してもよいし、回路に別のデコーダを
付加することにより10進数を入力してもよい。また、
スイッチ素子としてNMOSトランジスタを使って説明
したが、PMOSでもよいし、CMOSやバイポーラト
ランジスタで構成することもできる。
型半導体集積回路装置によれば、一つの半導体集積回路
装置で複数の特性を切換えて利用することができるた
め、それぞれ別の特性を必要とする複数の利用者に対し
て、それぞれの特性に対応するコードを与えて、一つの
半導体集積回路装置を供給することで足りる。そのた
め、半導体集積回路装置の開発や製造工程が簡素化で
き、コストも低減することができる。
のコードが正しく入力されたか否かを確認できるので、
所定回数続けて正しいコードが入力されなかった場合に
は、制御装置からシリアル送信を行わないようにするこ
とが容易にできるようになる。
たい場合も、必要な複数のコードを製造者より入手すれ
ばよく、複数の種類の半導体集積回路装置を使用する必
要はない。更に、利用者にはその利用者が必要とするコ
ードのみ与えられるため、コードの桁数などを増やせ
ば、他の利用者がその内容を知ることがより困難とな
り、セキュリティーの面に於いても向上を図ることが可
能となる。
である。
明するブロック図である。
とによりアナログ特性を変化させる回路構成図である。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 基準電圧が増幅器の一方の入力端子に接
続され、出力側の電圧が複数の抵抗で分圧されて該増幅
器の他方の入力端子に負帰還されることにより出力電圧
が制御される電源装置を有する半導体集積回路装置にあ
って、 前記半導体集積回路装置は前記半導体集積回路装置に入
力されるコードに応じて、スイッチ素子を制御して分圧
比を変更可能であり、前記コードに対応した出力電圧に
設定することを特徴とした半導体集積回路装置。 - 【請求項2】 入力されるコードに応じて内部の素子の
接続を可変することにより、出力される電気的特性を可
変する半導体集積回路装置にあって、前記コードの入力
が所定の入力値でなかった場合に異常を報せる出力端子
を備えていることを特徴とした半導体集積回路装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002117113A JP2003318264A (ja) | 2002-04-19 | 2002-04-19 | 出力特性可変型半導体集積回路装置 |
US10/417,106 US6703955B2 (en) | 2002-04-19 | 2003-04-17 | Variable-output-characteristic semiconductor integrated circuit device |
CNB031225357A CN1332507C (zh) | 2002-04-19 | 2003-04-18 | 输出特性可变型半导体集成电路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002117113A JP2003318264A (ja) | 2002-04-19 | 2002-04-19 | 出力特性可変型半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003318264A true JP2003318264A (ja) | 2003-11-07 |
Family
ID=29207811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002117113A Pending JP2003318264A (ja) | 2002-04-19 | 2002-04-19 | 出力特性可変型半導体集積回路装置 |
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Country | Link |
---|---|
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---|---|---|---|---|
JP2017126687A (ja) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 制御装置及び書込み装置 |
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-
2002
- 2002-04-19 JP JP2002117113A patent/JP2003318264A/ja active Pending
-
2003
- 2003-04-17 US US10/417,106 patent/US6703955B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-04-18 CN CNB031225357A patent/CN1332507C/zh not_active Expired - Fee Related
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JP2017126687A (ja) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 制御装置及び書込み装置 |
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---|---|
US20030197634A1 (en) | 2003-10-23 |
CN1452247A (zh) | 2003-10-29 |
US6703955B2 (en) | 2004-03-09 |
CN1332507C (zh) | 2007-08-15 |
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