[go: up one dir, main page]

JP2003315208A - 光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置 - Google Patents

光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置

Info

Publication number
JP2003315208A
JP2003315208A JP2000320497A JP2000320497A JP2003315208A JP 2003315208 A JP2003315208 A JP 2003315208A JP 2000320497 A JP2000320497 A JP 2000320497A JP 2000320497 A JP2000320497 A JP 2000320497A JP 2003315208 A JP2003315208 A JP 2003315208A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fiber preform
optical fiber
refractive index
image
knife edge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000320497A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumasa Sasaki
一正 佐々木
Fujio Kato
富士夫 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ADVANCED TECHNOLOGY KK
Original Assignee
ADVANCED TECHNOLOGY KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ADVANCED TECHNOLOGY KK filed Critical ADVANCED TECHNOLOGY KK
Priority to JP2000320497A priority Critical patent/JP2003315208A/ja
Priority to AU2001262744A priority patent/AU2001262744A1/en
Priority to PCT/JP2001/004951 priority patent/WO2002035201A1/ja
Priority to GB0214435A priority patent/GB2373047B/en
Priority to US10/149,413 priority patent/US6919954B2/en
Publication of JP2003315208A publication Critical patent/JP2003315208A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/412—Index profiling of optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08—Testing mechanical properties
    • G01M11/088—Testing mechanical properties of optical fibres; Mechanical features associated with the optical testing of optical fibres

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高精度な光ファイバ母材の内部屈折率測定方
法と装置。 【解決手段】 光線４が光ファイバ母材２を透過する際
のその光線４の屈曲状態から光ファイバ母材２内部の屈
折率分布を測定する方法であって、光線４の出発位置８
と検出位置９の関係から屈曲角を算出し、その屈曲角に
基づいて光ファイバ母材２の屈折率分布を求める方法に
おいて、検出した光線４の光源１での出発位置８を知る
ために、光源１の面においてナイフエッジ６を走査し、
光線４がナイフエッジ６によって遮断されるか、もしく
は、遮断が解除されるかによって、光線４の出発位置８
を判定する測定法。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバ母材の
内部屈折率測定法は、測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバは、ガラス棒状の母材と呼ば
れる中間生成物から先端を加熱軟化させて線引きして作
製される。このとき、光ファイバとして要求される内部
の屈折率構造は母材の段階で形成されており、この構造
の良否によって作製される光ファイバの性能が決定され
る。そこで重要となってくるのが、光ファイバ製造工程
での精密な屈折率分布形状の制御と、それを確認するた
めの測定である。この測定に使われる測定器の精度が悪
いと、光ファイバの製造歩留りが悪くなり、コストに影
響する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】光ファイバ母材の内部
構造は、I.Sasaki,D.N.Payne and M.J.Adams:"Measurem
ent of refractive index profiles in optical fiber
preforms by spatial filtering technique", Electron
ics Letters,16,6,pp.219-221.1980-03 でも使われてい
るように、内部を横切る光線の屈曲を利用して測定が行
われてきた。
【０００４】平行光線を用いる場合には、屈曲は母材を
横切った後で計測され、また、画像歪みを用いる方法
（特許第３０７２９８６号）では、屈曲は入射角から求
められてきた。後者の場合、前者に比較して広い母材の
タイプに対応できることが特徴である。
【０００５】この後者の方法は、円柱状で内部には不均
一な屈折率分布を持つ光ファイバ母材の背後に画像を配
置し、その画像として、画像のある一点から出発した光
線がその出発した画像内の位置の情報を持つ図柄を用
い、光ファイバ母材を通してその画像の像を撮影し、そ
の撮影された像の歪みを解析することにより偏向関数を
求め、その偏向関数に基づいて光ファイバ母材の屈折率
分布を求める方法である。
【０００６】しかし、実際の計測技術としては、斜めエ
ッジ画像を利用することが行われており、この場合、母
材の軸に対して垂直な面での屈折率分布を正確に計測す
ることは容易ではないという欠点があった。つまり、軸
方向に屈折率分布形状が変動するような母材に対しては
誤差が生じる問題がある。
【０００７】本発明は従来技術のこのような状況に鑑み
てなされたもので、その目的は、高精度な光ファイバ母
材の内部屈折率測定方法と装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の光ファイバ母材の内部屈折率測定法は、光線が光フ
ァイバ母材を透過する際のその光線の屈曲状態から光フ
ァイバ母材内部の屈折率分布を測定する方法であって、
光線の出発位置と検出位置の関係から屈曲角を算出し、
その屈曲角に基づいて光ファイバ母材の屈折率分布を求
める方法において、検出した光線の光源での出発位置を
知るために、光源面においてナイフエッジを走査し、光
線がナイフエッジによって遮断されるか、もしくは、遮
断が解除されるかによって、光線の出発位置を判定する
ことを特徴とする方法である。
【０００９】この場合、光ファイバ母材を透かして走査
するナイフエッジを撮影し、測定しようとする光ファイ
バ母材の特定の軸に垂直な断面位置に対応する撮影され
たナイフエッジの画像部分を抽出し、ナイフエッジ位置
の関数として、もしくは、ナイフエッジを一定速度で走
査するときは、時間の関数として、撮像された画像部分
を１つの画像に合成し、この合成画像を解析して光線の
出発位置と検出位置の幾何学的関係から光線の屈曲角を
求めるようにすることができる。
【００１０】これらの場合、光源として自家発光型の画
像表示装置を用い、この画面上にナイフエッジの形状を
表示して走査動画像となすことによって光線の出発位置
を決定することができる。なお、自家発光型の画像表示
装置としては、限定的ではないが、例えばＣＲＴもしく
はバックライト付き液晶表示装置を用いることができ
る。
【００１１】また、本発明の光ファイバ母材の内部屈折
率測定装置は、光線が光ファイバ母材を透過する際のそ
の光線の屈曲状態から光ファイバ母材内部の屈折率分布
を測定する装置であって、光線の出発位置と検出位置の
関係から屈曲角を算出し、その屈曲角に基づいて光ファ
イバ母材の屈折率分布を求める装置において、面光源
と、その面光源の前面において光ファイバ母材の軸に対
して垂直な方向に走査されるナイフエッジと、ナイフエ
ッジの前方に光ファイバ母材を支持する支持装置と、光
ファイバ母材を通して走査される面光源の像を撮影する
撮影装置と、ナイフエッジよって光線が遮断されるか、
もしくは、遮断が解除された位置とそれに対応する撮影
装置の撮像面上の位置とから屈曲角を算出し、その屈曲
角に基づいて光ファイバ母材の屈折率分布を求める演算
装置とを備えていることを特徴とするものである。
【００１２】本発明のもう１つの光ファイバ母材の内部
屈折率測定装置は、光線が光ファイバ母材を透過する際
のその光線の屈曲状態から光ファイバ母材内部の屈折率
分布を測定する装置であって、光線の出発位置と検出位
置の関係から屈曲角を算出し、その屈曲角に基づいて光
ファイバ母材の屈折率分布を求める装置において、ナイ
フエッジ形状の走査動画像を表示する自家発光型の画像
表示装置と、画像表示装置の前方に光ファイバ母材を支
持する支持装置と、光ファイバ母材を通してナイフエッ
ジ形状の走査動画像の像を撮影する撮影装置と、ナイフ
エッジよって光線が遮断されるか、もしくは、遮断が解
除された位置とそれに対応する撮影装置の撮像面上の位
置とから屈曲角を算出し、その屈曲角に基づいて光ファ
イバ母材の屈折率分布を求める演算装置とを備えている
ことを特徴とするものである。
【００１３】この場合、自家発光型の画像表示装置とし
ては、限定的ではないが、例えばＣＲＴもしくはバック
ライト付き液晶表示装置を用いることができる。
【００１４】本発明においては、検出した光線の光源で
の出発位置を知るために、光源面においてナイフエッジ
を走査し、光線がナイフエッジによって遮断されるか、
もしくは、遮断が解除されるかによって、光線の出発位
置を判定するので、軸方向に屈折率分布形状が変動する
ような光ファイバ母材であっても、その軸に対して垂直
な面での屈折率分布を正確に計測することが可能にな
る。
【００１５】
【発明の実施の形態】本発明では、従来の画像歪みを用
いる方法（特許第３０７２９８６号）の画像に代えて、
直線的なナイフエッジを置き、これを光線の曲がる方向
に走査するという方法を用いるものである。つまり、ナ
イフエッジを動かして光線を遮断するか、もしくは、遮
断を解除するかを検出し、その時点でのナイフエッジの
位置を記録して光線の位置を知るものである。これによ
って母材の軸に対して垂直な面で測定することが可能と
なり、前記の問題を解決することができるものである。
【００１６】この原理では、ナイフエッジの走査には機
械的な駆動機構が必要となる。しかし、機械的な駆動で
は走査に時間がかかり、そのため全体の測定が冗長とな
ってしまうので、必ずしも実用的でない。そこで、光源
としてＣＲＴ、バックライト付き２次元平面液晶表示装
置等の自家発光型の画像表示装置を用い、これをコンピ
ュータの表示部となして、この画面にナイフエッジ画像
を表示し、これを任意の方向に移動させる動画像とすれ
ば、ナイフエッジの機械的走査と同様の効果が得られ、
高速に走査が可能となる。
【００１７】以下、図面を参照にして、本発明の光ファ
イバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置の原理と実施
例を詳細に説明する。
【００１８】図１の原理図に示すように、平面な光源１
があり、この光源１により背面から照明された光ファイ
バ母材２をレンズ５を用いてＣＣＤ素子３上に投影して
撮影しているとする。ＣＣＤ素子３の撮像面上には母材
２の像が写っているが、この像面において、いま測定し
ようとする一点９が明るければ、光源面のある一点８か
ら光線４が出発し、母材２を横切って検出器のＣＣＤ素
子３上に入射していることを示している。なお、図中、
Ｓは光線４の見かけの出発位置、Ｓ’は光線４の実際の
出発位置（８）を示す。
【００１９】次に、光源１の面にナイフエッジ６を置
き、これを光源１の面に沿って（図１の矢印方向）移動
して光線を遮ったとする。このとき、これまで明るかっ
たＣＣＤ素子３上の点９が暗転する。この暗転する時の
ナイフエッジ６の位置がすなわち光線４の出発位置８を
表す。したがって、これを記録すれば光線の屈曲角が計
算できる。
【００２０】特許第３０７２９８６号公報に基づいて説
明すると、光線４の出発位置が判別できれば、特許第３
０７２９８６号公報の全ての式が計算可能となり、偏向
関数Φ（ｙ”）を決定することができ、これを周知の数
値処理（例えば、Electron.Lett.,13,pp.736-738(197
7);J.Lightwave Tech.,LT-3,pp.678-683(1985) ）によ
り変換すれば、屈折率分布が求められる。
【００２１】光源としてＣＲＴ（ブラウン管）を用いる
場合の原理を図２に示す。この場合は、原理的には図１
と同様であるが、効果は画期的である。すなわち、この
場合には、ＣＲＴ１０はコンピュータ１１の表示装置１
２であり、ＣＲＴ１０の画面上のナイフエッジ１３は、
コンピュータプログラム１４によりＣＲＴ１０の画面上
に描かせたものである。このナイフエッジ１３を動画像
と考えて移動させ、ＣＣＤ素子３上で測定しようとする
点１６が暗転もしくは明転すれば、そのときのこのナイ
フエッジ画像１３の位置１７から光線の出発位置１８が
同定できる訳である。
【００２２】この場合は、本発明の原理は純粋にソフト
ウエアにより実現できるため、高速に処理できる利点が
ある。
【００２３】図３に本発明に基づく光ファイバ母材の内
部屈折率測定装置の実施例の構成を示す。試験光ファイ
バ母材１０１は、屈折率整合液１０６に浸された状態
で、ＣＲＴ１０２を光源として照明されている。光源１
０２から出発した光線１０４は光ファイバ母材１０１を
透過してＣＣＤカメラ１０３のＣＣＤ素子に到達する。
なお、光ファイバ母材１０１は不図示の支持装置によっ
て安定に支持されている。
【００２４】ＣＲＴ１０２には、コンピュータ１０７に
より、ナイフエッジ画像１０８が描かれており、このナ
イフエッジ画像１０８はプログラム１１０を用いて移動
させることができるようになっている。ＣＣＤカメラ１
０３のＣＣＤ素子で得た画像信号１０５はコンピュータ
１０７へ伝送され、ナイフエッジ位置を移動させたこと
に伴う光線の遮断を検知するようになっている。なお、
図中、光線の出発位置は符号１０９で示してある。
【００２５】この装置の動作を図４のフローチャートに
基づいて説明する。
【００２６】まず、ステップＳＴ１で、ＣＣＤ面上にお
いて測定しようとする点（ｘ，ｙ）を決める。
【００２７】次に、ステップＳＴ２で、ＣＣＤ面上で指
定された点（ｘ，ｙ）での明度を計測する。
【００２８】さらに、ステップＳＴ３で、コンピュータ
ープログラムにより、ＣＲＴのナイフエッジ画像をｙ軸
方向（ｙ軸は光ファイバ母材の軸に垂直にとってい
る。) に僅か移動させる。このとき、ステップＳＴ４
で、光線の遮断による暗転、もしくは、その遮断が解除
されることによる明転が起こるかどうか調べる。もし、
それが起こらなければ、ステップＳＴ３の動作を繰り返
す。
【００２９】ステップＳＴ４で、光線の遮断による暗
転、もしくは、その遮断が解除されることによる明転が
起これば、ステップＳＴ５で、ナイフエッジの位置Ｓ’
を記録する。このナイフエッジの位置が光線の光源面に
おける出発点を意味する。
【００３０】次に、ステップＳＴ６で、暗転もしくは明
転の起きた時の光線の見かけの出発位置Ｓと実際の出発
位置Ｓ’の差ΔＳを計算により求め、ステップＳＴ７
で、幾何学的に光線の屈曲角Φを特許第３０７２９８６
号に従って計算する。
【００３１】そして、ステップＳＴ６で、求められた屈
曲角（偏向関数）Φから光ファイバ母材の屈折率分布ｎ
（ｒ）を計算する。屈曲角Φが求められると、屈折率分
布ｎ（ｒ）が計算できることは、特許第３０７２９８６
号に述べられている通りである。
【００３２】図５は、本発明に基づく別の実施例の光フ
ァイバ母材の内部屈折率測定方法を説明するための図で
ある。
【００３３】この実施例では、図５（ａ）に示すよう
に、平面液晶表示装置２０１を光源として用い、ナイフ
エッジ画像２０２をその表示装置２０１に表示し、これ
を矢印方向に走査しながら、光線２０３を遮断するよう
に動作させている。このとき、光線２０３は光ファイバ
母材２０４を横切り、ＣＣＤ撮像装置２０５へ達して画
像を得ている。
【００３４】ＣＣＤ撮像装置２０５に接続されたモニタ
２０６は、このときの画像を表示させるもので、ナイフ
エッジの影を持つ光ファイバ母材２０４の映像２０８が
映し出される。そこで、この画像をコンピュータ２０７
に取り込み、この画像から、測定しようとする母材断面
の位置の例えば図示した部分２０９を抽出し、図５
（ｂ）に示すように、画線２０９−１として記録する。
【００３５】次に、ナイフエッジ画像２０２を矢印方向
にわずかに移動した時点で、さらに画線２０９−２を記
録する。このように、ナイフエッジが光源面を連続的に
横切るまでの一連の画線群２０９−１、２０９−２、・
・・を記録する。
【００３６】次に、これらを１つの画像として合成すれ
ば、図５（ｃ）に示すように、画線画線の集合としての
画像２１０が得られる。この画像２１０は、縦軸がナイ
フエッジの位置の関数となっており、濃淡の境界は、ナ
イフエッジが光源から出発する光線２０３を遮断した位
置を示しているから、この境界をトレースすれば、光線
の出発位置を表す関数が得られる。そこで、これを特許
第３０７２９８６号で扱われて画像と同様の方法で処理
すれば、図５（ｄ）に示すような光線の偏向関数１１
（Φ）が得られる。
【００３７】また、光源としては、ＴＦＴ（ｔｈｉｎ
ｆｉｌｍ ｔｒａｓｉｓｔｏｒ）液晶を用いた自発光型
表示装置２０１を用いることにより、画像の走査線のわ
ずかな同期ずれによって起こる干渉ちらつきを防止する
ことができる。
【００３８】以上、本発明の光ファイバ母材の内部屈折
率測定法及び測定装置をその原理と実施例に基づいて説
明してきたが、本発明はこれら実施例等に限定されず種
々の変形が可能である。
【００３９】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置によ
ると、検出した光線の光源での出発位置を知るために、
光源面においてナイフエッジを走査し、光線がナイフエ
ッジによって遮断されるか、もしくは、遮断が解除され
るかによって、光線の出発位置を判定するので、軸方向
に屈折率分布形状が変動するような光ファイバ母材であ
っても、その軸に対して垂直な面での屈折率分布を正確
に計測することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ファイバ母材の内部屈折率測定法及
び測定装置の原理を説明するための図である。
【図２】光源としてＣＲＴを用いる場合の原理を説明す
るための図である。
【図３】本発明に基づく光ファイバ母材の内部屈折率測
定装置の１実施例の構成を示す図である。
【図４】図３の装置の動作を示すフローチャートであ
る。
【図５】本発明に基づく別の実施例の光ファイバ母材の
内部屈折率測定方法を説明するための図である。
【符号の説明】
１…平面光源 ２…光ファイバ母材 ３…ＣＣＤ素子 ４…光線 ５…レンズ ６…ナイフエッジ ８…光線の出発点 ９…光線の到着点 １０…ＣＲＴ １１…コンピュータ １２…表示装置 １３…ナイフエッジ １４…コンピュータプログラム １６…光線の到着点 １７…ナイフエッジの位置 １８…光線の出発点 １０１…光ファイバ母材 １０２…ＣＲＴ １０３…ＣＣＤカメラ １０４…光線 １０５…画像信号 １０６…屈折率整合液 １０７…コンピュータ １０８…ナイフエッジ画像 １０９…光線の出発位置 １１０…プログラム ２０１…平面液晶表示装置 ２０２…ナイフエッジ画像 ２０３…光線 ２０４…光ファイバ母材 ２０５…ＣＣＤ撮像装置 ２０６…モニタ ２０７…コンピュータ ２０８…光ファイバ母材 ２０９…切り出した像 ２０９−１、２０９−２、・・・…画線 ２１０…合成画像 ２１１…偏向関数（Φ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加藤 富士夫 北海道札幌市手稲区前田２条11丁目５ ア ークハイツ101号室 Ｆターム(参考） 2G059 AA02 AA05 BB15 CC20 DD12 EE04 FF01 GG10 HH02 JJ11 JJ30 KK04 MM01 MM05 MM09 NN05

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光線が光ファイバ母材を透過する際のそ
    の光線の屈曲状態から光ファイバ母材内部の屈折率分布
    を測定する方法であって、光線の出発位置と検出位置の
    関係から屈曲角を算出し、その屈曲角に基づいて光ファ
    イバ母材の屈折率分布を求める方法において、検出した
    光線の光源での出発位置を知るために、光源面において
    ナイフエッジを走査し、光線がナイフエッジによって遮
    断されるか、もしくは、遮断が解除されるかによって、
    光線の出発位置を判定することを特徴とする光ファイバ
    母材の内部屈折率測定法。
  2. 【請求項２】 請求項１において、光ファイバ母材を透
    かして走査するナイフエッジを撮影し、測定しようとす
    る光ファイバ母材の特定の軸に垂直な断面位置に対応す
    る撮影されたナイフエッジの画像部分を抽出し、ナイフ
    エッジ位置の関数として、もしくは、ナイフエッジを一
    定速度で走査するときは、時間の関数として、撮像され
    た画像部分を１つの画像に合成し、この合成画像を解析
    して光線の出発位置と検出位置の幾何学的関係から光線
    の屈曲角を求めることを特徴とする光ファイバ母材の内
    部屈折率測定法。
  3. 【請求項３】 光源として自家発光型の画像表示装置を
    用い、この画面上にナイフエッジの形状を表示して走査
    動画像となすことによって光線の出発位置を決定するこ
    とを特徴とする請求項１又は２記載の光ファイバ母材の
    内部屈折率測定法。
  4. 【請求項４】 自家発光型の画像表示装置としてＣＲＴ
    もしくはバックライト付き液晶表示装置を用いることを
    特徴とする請求項３記載の光ファイバ母材の内部屈折率
    測定法。
  5. 【請求項５】 光線が光ファイバ母材を透過する際のそ
    の光線の屈曲状態から光ファイバ母材内部の屈折率分布
    を測定する装置であって、光線の出発位置と検出位置の
    関係から屈曲角を算出し、その屈曲角に基づいて光ファ
    イバ母材の屈折率分布を求める装置において、面光源
    と、その面光源の前面において光ファイバ母材の軸に対
    して垂直な方向に走査されるナイフエッジと、ナイフエ
    ッジの前方に光ファイバ母材を支持する支持装置と、光
    ファイバ母材を通して走査される面光源の像を撮影する
    撮影装置と、ナイフエッジよって光線が遮断されるか、
    もしくは、遮断が解除された位置とそれに対応する撮影
    装置の撮像面上の位置とから屈曲角を算出し、その屈曲
    角に基づいて光ファイバ母材の屈折率分布を求める演算
    装置とを備えていることを特徴とする光ファイバ母材の
    内部屈折率分布測定装置。
  6. 【請求項６】 光線が光ファイバ母材を透過する際のそ
    の光線の屈曲状態から光ファイバ母材内部の屈折率分布
    を測定する装置であって、光線の出発位置と検出位置の
    関係から屈曲角を算出し、その屈曲角に基づいて光ファ
    イバ母材の屈折率分布を求める装置において、ナイフエ
    ッジ形状の走査動画像を表示する自家発光型の画像表示
    装置と、画像表示装置の前方に光ファイバ母材を支持す
    る支持装置と、光ファイバ母材を通してナイフエッジ形
    状の走査動画像の像を撮影する撮影装置と、ナイフエッ
    ジよって光線が遮断されるか、もしくは、遮断が解除さ
    れた位置とそれに対応する撮影装置の撮像面上の位置と
    から屈曲角を算出し、その屈曲角に基づいて光ファイバ
    母材の屈折率分布を求める演算装置とを備えていること
    を特徴とする光ファイバ母材の内部屈折率分布測定装
    置。
  7. 【請求項７】 自家発光型の画像表示装置としてＣＲＴ
    もしくはバックライト付き液晶表示装置を用いることを
    特徴とする請求項５記載の光ファイバ母材の内部屈折率
    分布測定装置。
JP2000320497A 2000-10-20 2000-10-20 光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置 Pending JP2003315208A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000320497A JP2003315208A (ja) 2000-10-20 2000-10-20 光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置
AU2001262744A AU2001262744A1 (en) 2000-10-20 2001-06-12 Method and apparatus for measuring internal index of refraction of preform of optical fiber
PCT/JP2001/004951 WO2002035201A1 (fr) 2000-10-20 2001-06-12 Procede et appareil permettant de mesurer l'indice de refraction interne d'une preforme de fibre optique
GB0214435A GB2373047B (en) 2000-10-20 2001-06-12 Method and system for measuring the internal refractive index of optical fiber preforms
US10/149,413 US6919954B2 (en) 2000-10-20 2001-06-12 Method and apparatus for measuring internal index of refraction of preform of optical fiber

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000320497A JP2003315208A (ja) 2000-10-20 2000-10-20 光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003315208A true JP2003315208A (ja) 2003-11-06

Family

ID=18798775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000320497A Pending JP2003315208A (ja) 2000-10-20 2000-10-20 光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6919954B2 (ja)
JP (1) JP2003315208A (ja)
AU (1) AU2001262744A1 (ja)
GB (1) GB2373047B (ja)
WO (1) WO2002035201A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008501960A (ja) * 2004-06-09 2008-01-24 オートメーション アンド ロボティクス 透明又は反射部品を制御するための装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4115313B2 (ja) * 2003-03-27 2008-07-09 ダイセル化学工業株式会社 マイクロカプセルの壁膜の厚み算出装置
CN106796159B (zh) * 2014-08-08 2020-02-07 赫罗伊斯·坦尼沃有限公司 用于确定光纤预制件的几何性质的方法和装置
EP3315948B1 (de) * 2016-10-26 2019-09-04 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Verfahren zur ermittlung des brechzahlprofils eines zylinderförmigen optischen gegenstandes
US11788927B2 (en) 2021-02-26 2023-10-17 Heraeus Quartz North America Llc Evaluation of preforms with non-step-index refractive-index-profile (RIP)

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4181433A (en) * 1978-04-14 1980-01-01 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method for determining the refractive index profile of optical fibers and optical fiber preforms
US4227806A (en) * 1978-10-16 1980-10-14 Western Electric Company, Inc. Methods for non-destructively determining parameters of an optical fiber preform
EP0047272B1 (en) * 1980-03-11 1984-11-07 National Research Development Corporation Measurement of refractive index profile
JPS5742835A (en) * 1980-08-28 1982-03-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Device and method for measuring refractive index distribution of preform
US4776667A (en) * 1981-06-20 1988-10-11 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Image transmission line
US4519704A (en) * 1982-03-18 1985-05-28 National Research Development Corporation Measurement of optical refractive index profiles
JPS6170436A (ja) * 1984-09-14 1986-04-11 Univ Kyoto 円柱内屈折率分布測定方法
JPH01311245A (ja) * 1988-06-08 1989-12-15 Fujikura Ltd 光フアイバ母材の屈折率分布測定方法
US5365329A (en) * 1988-11-15 1994-11-15 York Technology Limited Apparatus and method for measuring refractive index
US5078488A (en) * 1989-04-17 1992-01-07 Rikagaku Kenkyusho Method and apparatus for determining refractive index distribution
JPH0495848A (ja) * 1990-08-11 1992-03-27 Fujikura Ltd 光フアイバ母材の屈折率分布測定方法
GB2283566B (en) * 1993-11-08 1997-09-17 David Alan Svendsen Apparatus for measuring refractive index
US5396323A (en) * 1994-02-07 1995-03-07 Corning Incorporated Method and apparatus for analyzing optical waveguide cane
JP3072986B2 (ja) * 1998-10-12 2000-08-07 佐々木 一正 光ファイバ母材の内部屈折率分布測定法と測定装置
US6538755B1 (en) * 2000-10-17 2003-03-25 Alcatel System and method of detecting the interface between mediums with dissimilar indices of refraction

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008501960A (ja) * 2004-06-09 2008-01-24 オートメーション アンド ロボティクス 透明又は反射部品を制御するための装置

Also Published As

Publication number Publication date
GB2373047A (en) 2002-09-11
AU2001262744A1 (en) 2002-05-06
US6919954B2 (en) 2005-07-19
GB0214435D0 (en) 2002-07-31
WO2002035201A1 (fr) 2002-05-02
GB2373047B (en) 2005-02-02
US20020180958A1 (en) 2002-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6027673B2 (ja) 鏡面反射面の形状測定
US6920249B2 (en) Method and measuring instrument for determining the position of an edge of a pattern element on a substrate
JP2928548B2 (ja) 立体形状検出方法及びその装置
JPH0695075B2 (ja) 表面性状検出方法
JP2960684B2 (ja) 立体形状検出方法及びその装置
JP4939304B2 (ja) 透明膜の膜厚測定方法およびその装置
EP1152210B1 (en) Method and apparatus to measure amount of movement using granular speck pattern generated by reflecting laser beam
JP2003315208A (ja) 光ファイバ母材の内部屈折率測定法及び測定装置
JP2009079915A (ja) 微小寸法測定方法および測定装置
JP2922250B2 (ja) 形状測定装置
JP4401126B2 (ja) 寸法測定装置の所定部位登録方法
JPH0233089B2 (ja)
JP2000346745A (ja) ２次元配列レンズアレイのｍｔｆ測定方法及び測定装置
JP5325481B2 (ja) 光学素子の測定方法及び光学素子の製造方法
JPH05118831A (ja) 光コネクタの端面検査装置
JP2001183309A (ja) 透明板の均質性評価装置および評価方法
JP3712662B2 (ja) 光ファイバ母材の内部屈折率分布測定法及び測定装置
JPH08233545A (ja) 穴形状測定方法および測定装置
JP2009037985A (ja) ライン・スペース判定方法およびライン・スペース判定装置
JPH03262903A (ja) 画像計測用モニタヘッド
JP2000031233A (ja) 欠陥位置を呼び出す方法およびそれを適用した装置
JP2520365B2 (ja) 光学式測長装置におけるワ―ク測定位置設定法
JP2661477B2 (ja) 被検出材の表面プロフィール検出方法及び装置
JPH1068675A (ja) レンズの測定装置及び測定方法
JPH0829129A (ja) 長さ測定装置