JP2003271959A - 試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方法 - Google Patents
試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方法Info
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V40/00—Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
- G06V40/10—Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
- G06V40/12—Fingerprints or palmprints
- G06V40/1365—Matching; Classification
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Collating Specific Patterns (AREA)
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 テストおよび基準画像から特徴を抽出して、
テストおよび参照レコードを作成する。 【解決手段】 各特徴は位置および方位を有し、さら
に、参照レコードの特徴は関連づけられた重みも有す
る。試験レコードの特徴を、参照レコードの特徴とほぼ
整列させる。そして、参照レコードの特徴の位置および
方位と試験レコードの特徴の位置および方位との相違を
測定し、試験レコードの特徴と比較したときに、所定の
相違未満である参照レコードの全ての特徴の重みを合計
して、試験レコードが参照レコードに整合する類似性ス
コアを求める。
テストおよび参照レコードを作成する。 【解決手段】 各特徴は位置および方位を有し、さら
に、参照レコードの特徴は関連づけられた重みも有す
る。試験レコードの特徴を、参照レコードの特徴とほぼ
整列させる。そして、参照レコードの特徴の位置および
方位と試験レコードの特徴の位置および方位との相違を
測定し、試験レコードの特徴と比較したときに、所定の
相違未満である参照レコードの全ての特徴の重みを合計
して、試験レコードが参照レコードに整合する類似性ス
コアを求める。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、一般的に画像か
ら抽出された特徴を比較する方法に関し、特に、未知の
指紋を既知の指紋と比較する方法に関するものである。
ら抽出された特徴を比較する方法に関し、特に、未知の
指紋を既知の指紋と比較する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】個人を識別するために、指紋の画像が日
常的に用いられている。人の指紋はそれぞれ一意である
ので、未知の指紋の画像をデータベースに記憶された既
知の指紋の画像と比較することができる。たとえば、F
BI公文書館の指紋のデータベースは、3000万を超
えるテンプリント(ten-print)「カード」を有してい
る。データベースにおいて整合する指紋のセットが発見
されると、人の身元を検証することができる。人の指紋
を、氏名、別名、誕生日、身長、体重、髪の色、目の
色、人種などの付加的情報と共に記録し記憶するため
に、標準的な画像形式が採用されている。
常的に用いられている。人の指紋はそれぞれ一意である
ので、未知の指紋の画像をデータベースに記憶された既
知の指紋の画像と比較することができる。たとえば、F
BI公文書館の指紋のデータベースは、3000万を超
えるテンプリント(ten-print)「カード」を有してい
る。データベースにおいて整合する指紋のセットが発見
されると、人の身元を検証することができる。人の指紋
を、氏名、別名、誕生日、身長、体重、髪の色、目の
色、人種などの付加的情報と共に記録し記憶するため
に、標準的な画像形式が採用されている。
【0003】先行技術の指紋検証システムは通常、模様
の種類、隆線の形および方向などの、指紋の主要な特徴
を発見し、区分し、識別する技術を含む。隆線の形は、
人の指における隆線の流れの分岐と終端によって定めら
れる。これらの詳細は、コア、デルタ、渦状紋、ルー
プ、アーチ、テント状アーチなどを含む。詳細データ
は、それらの位置の(x,y)座標と配向度(q)とを
含めることができる。
の種類、隆線の形および方向などの、指紋の主要な特徴
を発見し、区分し、識別する技術を含む。隆線の形は、
人の指における隆線の流れの分岐と終端によって定めら
れる。これらの詳細は、コア、デルタ、渦状紋、ルー
プ、アーチ、テント状アーチなどを含む。詳細データ
は、それらの位置の(x,y)座標と配向度(q)とを
含めることができる。
【0004】よく知られたヘンリーシステムは、指紋識
別のために法施行当局によって用いられる、有力なマニ
ュアルシステムである。しかし、ヘンリーシステムは、
比較的少数の分類特性しか用いていない。そのため、識
別子コードの総数は、総合的データベースにおける数百
万の指紋を一意に説明するには小さすぎる。
別のために法施行当局によって用いられる、有力なマニ
ュアルシステムである。しかし、ヘンリーシステムは、
比較的少数の分類特性しか用いていない。そのため、識
別子コードの総数は、総合的データベースにおける数百
万の指紋を一意に説明するには小さすぎる。
【0005】一般的に、指紋データベースを検索するた
めには、3種類の自動化された比較方法が用いられる。
第1の方法は、各指およびその方位が分かっている場合
の、テンプリント対テンプリント比較を用いる。この場
合に、指紋のセットは完全であり、画像の質はよい。通
常、第1の方法の結果は決定的である。第2の方法は、
潜在指紋対テンプリント比較を用いる。潜在指紋は、多
用な既知の技術を通してある任意の表面から「持ち上げ
る(lifted)」ことができる。テンプリント方法とは対
照的に、通常、潜在指紋は部分的であって質が悪い。ど
の指かも分からず、指の方位も分からないことが多い。
第3の方法は、潜在指紋対潜在指紋比較を用いて、2つ
の別々に採取された指紋が同一人に帰属するかどうかを
判断するが、人の正確な身元は分からない場合がある。
めには、3種類の自動化された比較方法が用いられる。
第1の方法は、各指およびその方位が分かっている場合
の、テンプリント対テンプリント比較を用いる。この場
合に、指紋のセットは完全であり、画像の質はよい。通
常、第1の方法の結果は決定的である。第2の方法は、
潜在指紋対テンプリント比較を用いる。潜在指紋は、多
用な既知の技術を通してある任意の表面から「持ち上げ
る(lifted)」ことができる。テンプリント方法とは対
照的に、通常、潜在指紋は部分的であって質が悪い。ど
の指かも分からず、指の方位も分からないことが多い。
第3の方法は、潜在指紋対潜在指紋比較を用いて、2つ
の別々に採取された指紋が同一人に帰属するかどうかを
判断するが、人の正確な身元は分からない場合がある。
【0006】一般的に、自動化された比較は、まず未知
の「テスト」指紋を既知または「基準」指紋と整列させ
ることにより行われる。そして、2つの指紋における比
較可能な詳細の、相対的な空間位置および角度位置が重
ね合わされ、評価され、2つの指紋に共通の詳細の数に
応じて採点される。この方法は、未知の指紋が全ての厳
密に整合する既知の指紋と比較されたときに完了する。
高いスコアは、共通の詳細が多いことと整合の見込みが
あることを示す。通常、整合するマニューシャが一対あ
る毎に、スコアは1だけ増加する。いくつかの典型的な
先行技術の照合方法が、米国商務省標準局(NBS)Te
chnical Notes 538 and 878およびNBS Special Pub
lication 500-89に記載されている。
の「テスト」指紋を既知または「基準」指紋と整列させ
ることにより行われる。そして、2つの指紋における比
較可能な詳細の、相対的な空間位置および角度位置が重
ね合わされ、評価され、2つの指紋に共通の詳細の数に
応じて採点される。この方法は、未知の指紋が全ての厳
密に整合する既知の指紋と比較されたときに完了する。
高いスコアは、共通の詳細が多いことと整合の見込みが
あることを示す。通常、整合するマニューシャが一対あ
る毎に、スコアは1だけ増加する。いくつかの典型的な
先行技術の照合方法が、米国商務省標準局(NBS)Te
chnical Notes 538 and 878およびNBS Special Pub
lication 500-89に記載されている。
【0007】先行技術の指紋比較システムは、テンプリ
ントセットの均一で高品質な画像のみで良好に動作す
る。しかし、潜在指紋の画像は部分的でありコントラス
トが低いことが多く、このシステムを信頼性も一貫性も
ないものにしてしまう。また、切り傷、擦り傷、擦過傷
や傷跡などの指紋のアーチファクトは、裂け目、アイラ
ンド(指紋の線の隙間)、短い枝分かれ、レークおよび
接合などの、「誤った」詳細につながり得る。誤った詳
細は、識別の失敗を引き起こし、オペレータの介入を余
儀なくして、コストを上昇させスループットを減少させ
る。
ントセットの均一で高品質な画像のみで良好に動作す
る。しかし、潜在指紋の画像は部分的でありコントラス
トが低いことが多く、このシステムを信頼性も一貫性も
ないものにしてしまう。また、切り傷、擦り傷、擦過傷
や傷跡などの指紋のアーチファクトは、裂け目、アイラ
ンド(指紋の線の隙間)、短い枝分かれ、レークおよび
接合などの、「誤った」詳細につながり得る。誤った詳
細は、識別の失敗を引き起こし、オペレータの介入を余
儀なくして、コストを上昇させスループットを減少させ
る。
【0008】Sasakawaらは、「Personal Verification
System with High Tolerance of Poor Quality Image
s」 SPIE Vol. 1386, Machine Vision Systems, pp. 26
5-272,1990において、指向性空間フィルタおよび局所的
閾値化などの画像強調技術を用いて詳細データを抽出す
る、指紋検証システム(FVS)を説明している。同氏
らは、詳細データ用に粗いマッチングと密なマッチング
の両方を用いる。2001年5月8日にSasakawaらに発
行された、米国特許第6,229,922号「Method a
nd Apparatus for Comparing Incoming Data with Regi
stered Data」も参照されたい。同氏らの類似性スコア
は、整合する詳細の数の正規化された整数カウントに基
づいている。同氏らの方法は、整合する全ての詳細を同
等に採点する。これは、特に、類似する詳細が互いに近
いところに置かれているときに、誤った容認および誤っ
た拒絶につながり得る。
System with High Tolerance of Poor Quality Image
s」 SPIE Vol. 1386, Machine Vision Systems, pp. 26
5-272,1990において、指向性空間フィルタおよび局所的
閾値化などの画像強調技術を用いて詳細データを抽出す
る、指紋検証システム(FVS)を説明している。同氏
らは、詳細データ用に粗いマッチングと密なマッチング
の両方を用いる。2001年5月8日にSasakawaらに発
行された、米国特許第6,229,922号「Method a
nd Apparatus for Comparing Incoming Data with Regi
stered Data」も参照されたい。同氏らの類似性スコア
は、整合する詳細の数の正規化された整数カウントに基
づいている。同氏らの方法は、整合する全ての詳細を同
等に採点する。これは、特に、類似する詳細が互いに近
いところに置かれているときに、誤った容認および誤っ
た拒絶につながり得る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】したがって、画像中の
特徴をより良好に識別することができる指紋比較方法に
対する必要性がある。
特徴をより良好に識別することができる指紋比較方法に
対する必要性がある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の方法によれば、
特徴をテストおよび基準画像から抽出して、テストおよ
び参照レコードを生成する。本発明の1つの応用におい
て、画像は指紋の画像であり、特徴は指紋の詳細であ
る。特徴の抽出前に、画像を強調することができる。多
数の参照レコードを指紋識別用のデータベースに記憶す
ることができる。この場合に、試験レコードを参照レコ
ードのそれぞれと比較する。
特徴をテストおよび基準画像から抽出して、テストおよ
び参照レコードを生成する。本発明の1つの応用におい
て、画像は指紋の画像であり、特徴は指紋の詳細であ
る。特徴の抽出前に、画像を強調することができる。多
数の参照レコードを指紋識別用のデータベースに記憶す
ることができる。この場合に、試験レコードを参照レコ
ードのそれぞれと比較する。
【0011】各特徴は位置および方位を有し、さらに、
参照レコードの特徴は、予め計算された、関連づけられ
た重みも有する。まず、試験レコードの特徴を参照レコ
ードの特徴とほぼ整列させる。整列は、大域XY平行移
動および回転を用いた剛体変換とすることができる。
参照レコードの特徴は、予め計算された、関連づけられ
た重みも有する。まず、試験レコードの特徴を参照レコ
ードの特徴とほぼ整列させる。整列は、大域XY平行移
動および回転を用いた剛体変換とすることができる。
【0012】そして、参照レコードの特徴の位置および
方位と試験レコードの特徴の位置および方位との相違を
測定する。試験レコードの特徴と比較したときに、所定
の相違よりも小さい参照レコードの全ての特徴の重みを
合計して、試験レコードが参照レコードに整合する類似
性スコアを求める。
方位と試験レコードの特徴の位置および方位との相違を
測定する。試験レコードの特徴と比較したときに、所定
の相違よりも小さい参照レコードの全ての特徴の重みを
合計して、試験レコードが参照レコードに整合する類似
性スコアを求める。
【0013】本発明の一態様において、特徴は確率密度
関数を用いて表し、座標変換は大域平行移動のみを用い
てレコードをほぼ整列させる。
関数を用いて表し、座標変換は大域平行移動のみを用い
てレコードをほぼ整列させる。
【0014】
【発明の実施の形態】方法の概要およびデータ構造
【0015】図1は、試験レコード101の特徴を、デ
ータベース150に記憶された参照レコード102と比
較する方法100を示している。特に、試験レコード1
01は未知の指紋の詳細データを含み、参照レコード1
02は既知の指紋の詳細データを含む。
ータベース150に記憶された参照レコード102と比
較する方法100を示している。特に、試験レコード1
01は未知の指紋の詳細データを含み、参照レコード1
02は既知の指紋の詳細データを含む。
【0016】実用的な用途において、方法100の目的
は、未知の指紋が既知の指紋の何れにどの程度類似して
いるかを判断することである。図1に示したように、本
発明による方法100は3つの基本的ステップである、
特徴整列110、相違測定120および重みづけ130
を含み、試験レコード101に整合する可能性が最も高
い、採点された候補参照レコードのリスト103を作成
する。本発明は、前処理ステップにおいて参照レコード
の特徴について重み131も決定する140。
は、未知の指紋が既知の指紋の何れにどの程度類似して
いるかを判断することである。図1に示したように、本
発明による方法100は3つの基本的ステップである、
特徴整列110、相違測定120および重みづけ130
を含み、試験レコード101に整合する可能性が最も高
い、採点された候補参照レコードのリスト103を作成
する。本発明は、前処理ステップにおいて参照レコード
の特徴について重み131も決定する140。
【0017】図2に示すように、試験レコード(T)1
01は、未知の指紋の特徴(詳細)200をM個のベク
トル{xj,yj,qj}M j=1として表す。たとえ
ば、j番目の特徴201はその位置の座標xおよびy2
02とその方位の方向q203とを有し、ここでMはレ
コード中における抽出された特徴の数であり、この例で
は29である。同様に、データベース150に記憶され
た各参照レコード(R)102の特徴は、N個のベクト
ル{xi,yi,qi}M i=1によって表される。試
験レコードおよび参照レコードにおける特徴の数は、同
一である必要はないことに留意されたい。
01は、未知の指紋の特徴(詳細)200をM個のベク
トル{xj,yj,qj}M j=1として表す。たとえ
ば、j番目の特徴201はその位置の座標xおよびy2
02とその方位の方向q203とを有し、ここでMはレ
コード中における抽出された特徴の数であり、この例で
は29である。同様に、データベース150に記憶され
た各参照レコード(R)102の特徴は、N個のベクト
ル{xi,yi,qi}M i=1によって表される。試
験レコードおよび参照レコードにおける特徴の数は、同
一である必要はないことに留意されたい。
【0018】以下でさらに詳細に説明するように、参照
レコードの特徴は予め計算された、関連づけられた重み
を有し、全ての特徴は確率的密度モデルによって表すこ
とができる。
レコードの特徴は予め計算された、関連づけられた重み
を有し、全ての特徴は確率的密度モデルによって表すこ
とができる。
【0019】特徴200は、従来の技術を用いて、実際
の指紋の画像または潜在指紋から抽出することができ
る。たとえば、共に参照することにより本明細書に一体
化した、Sasakawaらの「Personal Verification System
with High Tolerance of PoorQuality Images」 SPIE
Vol. 1386, Machine Vision Systems, pp. 265-272, 19
90および、2000年5月8日に笹川氏らに発行され
た、米国特許第6,229,922号「Method and App
aratus for Comparing Incoming Data with Registered
Data」を参照されたい。
の指紋の画像または潜在指紋から抽出することができ
る。たとえば、共に参照することにより本明細書に一体
化した、Sasakawaらの「Personal Verification System
with High Tolerance of PoorQuality Images」 SPIE
Vol. 1386, Machine Vision Systems, pp. 265-272, 19
90および、2000年5月8日に笹川氏らに発行され
た、米国特許第6,229,922号「Method and App
aratus for Comparing Incoming Data with Registered
Data」を参照されたい。
【0020】操作方法
【0021】方法100の操作中に、試験レコード10
1を参照レコード102のそれぞれと比較して、可能性
の高い候補参照レコードのリスト103を作成する。ま
ず、試験レコードを各参照レコードと整列させる11
0。整列は、大域XY平行移動および回転を含めること
ができる、剛体変換である。指紋画像は一般的に標準的
な大きさであるので、通常、スケーリングは必要ではな
い。
1を参照レコード102のそれぞれと比較して、可能性
の高い候補参照レコードのリスト103を作成する。ま
ず、試験レコードを各参照レコードと整列させる11
0。整列は、大域XY平行移動および回転を含めること
ができる、剛体変換である。指紋画像は一般的に標準的
な大きさであるので、通常、スケーリングは必要ではな
い。
【0022】整列110は、上記で参照したSasakawaの
隆線方向変位(dX,dY)を用いて、試験レコード1
01の特徴の(x,y)成分を、各参照レコード102
の特徴と近似的に整列させることができる。
隆線方向変位(dX,dY)を用いて、試験レコード1
01の特徴の(x,y)成分を、各参照レコード102
の特徴と近似的に整列させることができる。
【0023】そして、参照レコードRにおける特徴の何
れかに整合する試験レコードTにおけるM個の特徴の類
似性スコアSを、総平均によって次のように求める。 S(T,R)=2/(N+M)(整合の数)w これは、Rについて展開すると次の式になる。
れかに整合する試験レコードTにおけるM個の特徴の類
似性スコアSを、総平均によって次のように求める。 S(T,R)=2/(N+M)(整合の数)w これは、Rについて展開すると次の式になる。
【0024】
【数3】
【0025】ここで、wは重みであり、fは試験レコー
ドの特徴および参照レコードの特徴のx、yおよびq成
分の間の相違を測定する関数である。関数f(・)は、
整合がないことまたは整合があることを示す値{0,
1}を備えた離散的な階段関数、または整合の確率に基
づく範囲[0.1]における連続的な滑らかな関数とす
ることができる。
ドの特徴および参照レコードの特徴のx、yおよびq成
分の間の相違を測定する関数である。関数f(・)は、
整合がないことまたは整合があることを示す値{0,
1}を備えた離散的な階段関数、または整合の確率に基
づく範囲[0.1]における連続的な滑らかな関数とす
ることができる。
【0026】特定の特徴の対について相違の全てが所定
の閾値未満である場合には、特徴は整合するとみなされ
る。たとえば、|xj−xi|≦TX、かつ|yj−y
i|≦TY、かつ|qj−qi|≦TQである。整合す
る特徴の数が多ければ、たとえば、類似性スコアS≧T
MAXであれば、試験レコードは参照レコードに整合す
る可能性が高い。整合する特徴の対に関する検索空間
は、x、yおよびqの値により近似的に整列される特徴
の対のみに制限することができることに留意されたい。
の閾値未満である場合には、特徴は整合するとみなされ
る。たとえば、|xj−xi|≦TX、かつ|yj−y
i|≦TY、かつ|qj−qi|≦TQである。整合す
る特徴の数が多ければ、たとえば、類似性スコアS≧T
MAXであれば、試験レコードは参照レコードに整合す
る可能性が高い。整合する特徴の対に関する検索空間
は、x、yおよびqの値により近似的に整列される特徴
の対のみに制限することができることに留意されたい。
【0027】関連性の重み
【0028】識別を改善するために、各参照レコード1
02について関連性の重みwi131のセットを設け
る。先行技術とは異なり、特定のセットにおける重みは
必ずしも等しくはない。これは、類似性スコアに寄与す
るときに、全ての特徴が同等に採点されるわけではない
という仮定に基づく。
02について関連性の重みwi131のセットを設け
る。先行技術とは異なり、特定のセットにおける重みは
必ずしも等しくはない。これは、類似性スコアに寄与す
るときに、全ての特徴が同等に採点されるわけではない
という仮定に基づく。
【0029】この考えを説明するために、図3Aおよび
図3Bに示した特徴1〜29を検討する。図3Aにおい
て、試験レコード301からの5個の容認可能な整合
(16、19、22、24、26)は開いた円で示され
ており、他の全ての特徴は閉じた円で示されている。同
様に、図3Bは、やはりちょうど5個の整合(1、2、
4、6、21)があるが、ここでは参照レコード302
における異なった特徴に対する整合である場合を示して
いる。問題は、これら2つの整合が共に同一の類似性ス
コア値5を有しているとすると、これらの何れがより信
頼性があるか、またはより重要であるかということであ
る。
図3Bに示した特徴1〜29を検討する。図3Aにおい
て、試験レコード301からの5個の容認可能な整合
(16、19、22、24、26)は開いた円で示され
ており、他の全ての特徴は閉じた円で示されている。同
様に、図3Bは、やはりちょうど5個の整合(1、2、
4、6、21)があるが、ここでは参照レコード302
における異なった特徴に対する整合である場合を示して
いる。問題は、これら2つの整合が共に同一の類似性ス
コア値5を有しているとすると、これらの何れがより信
頼性があるか、またはより重要であるかということであ
る。
【0030】図3Aにおける整合は、類似の方位を有す
る特徴が密に集められた領域310からのものである。
これは、これらの領域における整合が、数個の隣接する
特徴からの「支持(support)」を有していることを意
味し、これらの全てが試験レコードにおける観察された
データを部分的に「説明(explain)」するので、それ
らの持ち分を類似性スコアに提供することができる。
る特徴が密に集められた領域310からのものである。
これは、これらの領域における整合が、数個の隣接する
特徴からの「支持(support)」を有していることを意
味し、これらの全てが試験レコードにおける観察された
データを部分的に「説明(explain)」するので、それ
らの持ち分を類似性スコアに提供することができる。
【0031】一方、図3Bにおいて、特徴1および2の
整合は、偶発的な整列の可能性が低い比較的「孤立した
(isolated)」領域320にある。同様に、特徴6に対
する整合は、その最も近い隣接する特徴4が完全に逆の
方位を有しているので、可能性が低い。同様に、特徴2
1は逆の方位の特徴によって囲まれており、そのためや
はり「孤立している」。
整合は、偶発的な整列の可能性が低い比較的「孤立した
(isolated)」領域320にある。同様に、特徴6に対
する整合は、その最も近い隣接する特徴4が完全に逆の
方位を有しているので、可能性が低い。同様に、特徴2
1は逆の方位の特徴によって囲まれており、そのためや
はり「孤立している」。
【0032】したがって、一意のまたは「孤立した」特
徴の対は整合することがより困難であり、孤立した特徴
の対について容認可能な整合が発見されたときは常に、
部分的に重なる多数の周囲の特徴によって整合が「説
明」できるときよりも、類似性スコアは多くカウントさ
れるべきであると断定できる。これにより、本発明は、
特徴の重みwiを、その最も近い隣接する特徴に対する
その一意性または距離に比例させる。
徴の対は整合することがより困難であり、孤立した特徴
の対について容認可能な整合が発見されたときは常に、
部分的に重なる多数の周囲の特徴によって整合が「説
明」できるときよりも、類似性スコアは多くカウントさ
れるべきであると断定できる。これにより、本発明は、
特徴の重みwiを、その最も近い隣接する特徴に対する
その一意性または距離に比例させる。
【0033】したがって、本発明は、局所的近傍のk個
の最も近い隣接する特徴を識別し、これらk個の距離の
関数に比例する重みを次のように設定する。
の最も近い隣接する特徴を識別し、これらk個の距離の
関数に比例する重みを次のように設定する。
【0034】
【数4】
【0035】ここで、dn iは特徴iのn番目の距離で
ある。これらの重みは合計してNになるように正規化さ
れることに留意されたい。
ある。これらの重みは合計してNになるように正規化さ
れることに留意されたい。
【0036】相加平均
【0037】
【数5】
【0038】相乗平均
【0039】
【数6】
【0040】および単にdkである最大値D2を含む、
任意の数の距離関数Dを用いて、特定の特徴からその隣
接する特徴までの距離を測定することができる。
任意の数の距離関数Dを用いて、特定の特徴からその隣
接する特徴までの距離を測定することができる。
【0041】3つ全ての場合において、各参照レコード
における各特徴のx、yおよびq成分について距離を求
めて、対応する重みwi131のセットを導く。重みの
セットは、おそらくオフライン前処理ステップにおい
て、各参照レコードに対して1回判断する140必要が
あるだけである。完全な形にすると、参照レコード
(R)は、ベクトル{xi,yi,qI,wi}N i=
1によって表せるであろう。特定の参照レコードにおけ
る重みwiは、合計して1になるように正規化すること
ができる。したがって、2つの特徴の間に整合があると
きに、重みづけされた類似性スコアS132は、先行技
術における1の代わりに、対応する重みだけ増大され
る。
における各特徴のx、yおよびq成分について距離を求
めて、対応する重みwi131のセットを導く。重みの
セットは、おそらくオフライン前処理ステップにおい
て、各参照レコードに対して1回判断する140必要が
あるだけである。完全な形にすると、参照レコード
(R)は、ベクトル{xi,yi,qI,wi}N i=
1によって表せるであろう。特定の参照レコードにおけ
る重みwiは、合計して1になるように正規化すること
ができる。したがって、2つの特徴の間に整合があると
きに、重みづけされた類似性スコアS132は、先行技
術における1の代わりに、対応する重みだけ増大され
る。
【0042】確率的特徴のマッチング
【0043】上記のように、整列ステップ110は平行
移動的または回転的な剛体変換を行う。しかし、以下で
さらに詳細に説明するように、確率的モデルを用いるこ
とにより、整列はあまり正確でなくてもよくなり、回転
変換ステップをなくして、計算の数を減らすことができ
る。
移動的または回転的な剛体変換を行う。しかし、以下で
さらに詳細に説明するように、確率的モデルを用いるこ
とにより、整列はあまり正確でなくてもよくなり、回転
変換ステップをなくして、計算の数を減らすことができ
る。
【0044】本発明の中核密度モデル(kernel density
model)によれば、次のように動径ガウス関数を用いて
参照レコードを構築する。
model)によれば、次のように動径ガウス関数を用いて
参照レコードを構築する。
【0045】
【数7】
【0046】ここで、
【0047】
【数8】
【0048】関数f(0;σ2)は、分散σ2を有する
標準的なゼロ平均ガウス関数である。たとえば、
標準的なゼロ平均ガウス関数である。たとえば、
【0049】
【数9】
【0050】qからqiを控除する際に、0°および3
60°での境界条件は適切に扱われ、たとえば、5°と
355°とは10度離れているものとみなされるという
点を除いて、関数fq(0;σ2)もガウス関数であ
る。
60°での境界条件は適切に扱われ、たとえば、5°と
355°とは10度離れているものとみなされるという
点を除いて、関数fq(0;σ2)もガウス関数であ
る。
【0051】ここで、類似性スコアSは次の式によって
求められる。
求められる。
【0052】
【数10】
【0053】これは、PRについて展開すると次の式に
なり、
なり、
【0054】
【数11】
【0055】距離は、(x,y,q)に関する個々のσ
項に基づいて、対数確率に類似の方法で求める。換言す
れば、特徴iとjとの間の相互距離は、正規化された
(均衡された)Lpノルムによって次のように与えられ
る。
項に基づいて、対数確率に類似の方法で求める。換言す
れば、特徴iとjとの間の相互距離は、正規化された
(均衡された)Lpノルムによって次のように与えられ
る。
【0056】
【数12】
【0057】ここで、ユークリッド計量について、p=
2である。
2である。
【0058】方位qを減算する際に、境界条件および0
および360度での「ラップアラウンド(wrap-aroun
d)」は、やはり、PRにおける変形ガウス関数fqを
求める場合のように、適切に扱わなければならない。
(x,y,q)における分散σwは、距離の独立した重
みづけを説明し、(x,y)とqとの間の範囲の差を説
明するために必要とされる。
および360度での「ラップアラウンド(wrap-aroun
d)」は、やはり、PRにおける変形ガウス関数fqを
求める場合のように、適切に扱わなければならない。
(x,y,q)における分散σwは、距離の独立した重
みづけを説明し、(x,y)とqとの間の範囲の差を説
明するために必要とされる。
【0059】図4Aおよび図4Bは、2つの異なる条件
または「関連性」の仮定の下での「関連性」の重みづけ
を示している。図4Aは、(x,y)は等しく重みづけ
されているが、方位の類似性の影響を無効にするために
σwqを意図的に大きく設定した場合について、これら
の重みを垂直線として示している。これによって、特徴
の空間的形状、すなわち、(x,y)k近傍構造のみを
考慮した重みのセットが得られる。たとえば、図4Aに
おいて、特徴1および2は、それらの空間的孤立のため
に最大の重みを有し、特徴4および6は、それらの近接
性を所与とすると、比較的低い重みを有する。対照的に
図4Bは、方位の相違も包含しているσ w値のより均衡
したセットを示している。これをよく理解するために図
3Aおよび図3Bを参照されたい。
または「関連性」の仮定の下での「関連性」の重みづけ
を示している。図4Aは、(x,y)は等しく重みづけ
されているが、方位の類似性の影響を無効にするために
σwqを意図的に大きく設定した場合について、これら
の重みを垂直線として示している。これによって、特徴
の空間的形状、すなわち、(x,y)k近傍構造のみを
考慮した重みのセットが得られる。たとえば、図4Aに
おいて、特徴1および2は、それらの空間的孤立のため
に最大の重みを有し、特徴4および6は、それらの近接
性を所与とすると、比較的低い重みを有する。対照的に
図4Bは、方位の相違も包含しているσ w値のより均衡
したセットを示している。これをよく理解するために図
3Aおよび図3Bを参照されたい。
【0060】図4Bにおいては、特徴1および2はもは
や最大限の重みを有しておらず、その代わりに特徴6
が、その近接性において類似の方位の詳細がないという
事実により、最大の重みを有することに注目されたい。
これを、特徴6および4が共に、単にそれらのXY近接
性のために重視されていない、図4AにおけるXYのみ
の重みづけスキームと比較されたい。パフォーマンスを
最適化する相対的なσw値は、σwqの中間値との妥協
である。本発明による方法のパフォーマンスを最適化し
た、上記全てのパラメータの適切な値を以下に示す。
や最大限の重みを有しておらず、その代わりに特徴6
が、その近接性において類似の方位の詳細がないという
事実により、最大の重みを有することに注目されたい。
これを、特徴6および4が共に、単にそれらのXY近接
性のために重視されていない、図4AにおけるXYのみ
の重みづけスキームと比較されたい。パフォーマンスを
最適化する相対的なσw値は、σwqの中間値との妥協
である。本発明による方法のパフォーマンスを最適化し
た、上記全てのパラメータの適切な値を以下に示す。
【0061】調整および結果
【0062】最高のパフォーマンスのために、特定の用
途についていくつかのパラメータを「微調整」すること
ができる。展開PRに用いられる中核パラメータ、主に
x、y、qおよびwの分散が第1に挙げられる。そし
て、誤り率の点から、ガウス混合についての最高のパフ
ォーマンスの中核パラメータおよび、空間(XYのみ)
重みづけと結合された空間対方位の重みづけとの間の最
善の妥協点を選択できる。
途についていくつかのパラメータを「微調整」すること
ができる。展開PRに用いられる中核パラメータ、主に
x、y、qおよびwの分散が第1に挙げられる。そし
て、誤り率の点から、ガウス混合についての最高のパフ
ォーマンスの中核パラメータおよび、空間(XYのみ)
重みづけと結合された空間対方位の重みづけとの間の最
善の妥協点を選択できる。
【0063】大域XY平行移動のみを用いた確率的照合
技術は、先行技術のSasakawaらの方法によって行われる
ような、コストがかかる密な整列検索が省かれているの
で、非常に少ない計算で、同じ誤った拒絶率について、
誤った容認誤り率を6分の1まで低減することができ
る。
技術は、先行技術のSasakawaらの方法によって行われる
ような、コストがかかる密な整列検索が省かれているの
で、非常に少ない計算で、同じ誤った拒絶率について、
誤った容認誤り率を6分の1まで低減することができ
る。
【0064】本発明を好適な実施形態の例を示すことに
より説明してきたが、本発明の趣旨および範囲内で、他
の様々な適合や変更を行えることが理解されるであろ
う。したがって、本発明の真の趣旨および範囲内に入る
ような、全てのかかる変形や変更を包含することが、併
記特許請求の範囲の目的である。
より説明してきたが、本発明の趣旨および範囲内で、他
の様々な適合や変更を行えることが理解されるであろ
う。したがって、本発明の真の趣旨および範囲内に入る
ような、全てのかかる変形や変更を包含することが、併
記特許請求の範囲の目的である。
【図1】 本発明による、画像の特徴を比較する方法の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】 抽出された特徴の位置および方位を示す図で
ある。
ある。
【図3A】 整列された特徴の図である。
【図3B】 整列された特徴の図である。
【図4A】 本発明による重みづけされた特徴の図であ
る。
る。
【図4B】 本発明による重みづけされた特徴の図であ
る。
る。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 ババック・モグハッダム
アメリカ合衆国、マサチューセッツ州、ケ
ンブリッジ、ビゲロー・ストリート 15、
ナンバー 5
Fターム(参考) 5B043 BA02 GA02
5B075 ND06 QM05
5L096 BA15 HA07 JA11
Claims (14)
- 【請求項1】 試験レコードの特徴を参照レコードの特
徴と比較する方法であって、各特徴は位置と方位とを有
しており、 前記参照レコードの各特徴について重みを決定するステ
ップと、 前記試験レコードの前記特徴を前記参照レコードの前記
特徴と整列させるステップと、 前記参照レコードの前記特徴の位置および方位と前記試
験レコードの前記特徴の位置および方位との間の相違を
測定するステップと、 前記試験レコードの前記特徴と比較したときに、所定の
相違よりも小さい前記参照レコードの全ての特徴の重み
を合計して、前記参照レコードの類似性スコアを求める
ステップとを含む試験レコードの特徴を参照レコードの
特徴と比較する方法。 - 【請求項2】 前記試験レコードの前記特徴を複数の参
照レコードと比較して、複数の類似性スコアを求めるス
テップと、 対応する類似性スコアが最大閾値よりも大きい場合に、
特定の参照レコードを候補参照レコードとして選択する
ステップとをさらに含む請求項1記載の試験レコードの
特徴を参照レコードの特徴と比較する方法。 - 【請求項3】 指紋の画像から特徴を抽出するステップ
をさらに含む請求項1記載の試験レコードの特徴を参照
レコードの特徴と比較する方法。 - 【請求項4】 前記整列させるステップは、大域的な平
行移動および回転を含む剛体変換である請求項1記載の
試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方
法。 - 【請求項5】 前記整列させるステップは、大域的な平
行移動のみを含み、前記試験レコードの前記特徴を前記
参照レコードの前記特徴とほぼ整列させる剛体変換であ
る請求項1記載の試験レコードの特徴を参照レコードの
特徴と比較する方法。 - 【請求項6】 整合する特徴の確率は、ゼロ平均ガウス
関数f(0;σ2)によって表され、σ2は前記ゼロ平
均ガウス関数の分散である請求項5記載の試験レコード
の特徴を参照レコードの特徴と比較する方法。 - 【請求項7】 ほぼ整列された特徴の対の間のみにおけ
る相違を測定するステップをさらに含む請求項1記載の
試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方
法。 - 【請求項8】 前記決定するステップは、 前記参照レコードにおける各特徴について、局所近傍の
特徴を識別するステップと、 各特徴と前記局所近傍の特徴との間の距離の関数に比例
する各特徴の重みを設定するステップとを含む請求項1
記載の試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較
する方法。 - 【請求項9】 前記局所近傍における重みwiおよびk
個の特徴に関する距離関数は、 【数1】 であり、ここで、dn iは特徴iのn番目の距離である
請求項8記載の試験レコードの特徴を参照レコードの特
徴と比較する方法。 - 【請求項10】 前記距離関数は、相加平均である請求
項8記載の試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と
比較する方法。 - 【請求項11】 前記距離関数は、相乗平均である請求
項8記載の試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と
比較する方法。 - 【請求項12】 前記距離関数は、最大距離である請求
項8記載の試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と
比較する方法。 - 【請求項13】 前記参照レコードの前記特徴の重みの
合計は、1に正規化される請求項1記載の試験レコード
の特徴を参照レコードの特徴と比較する方法。 - 【請求項14】 M個の特徴の試験レコードTおよびN
個の特徴の参照レコードRに関する類似性スコアSは、 【数2】 によって求められ、ここで、xおよびyは特徴の位置を
表し、qは特徴の方位を表し、wは特徴の重みを表し、
fは差分関数である請求項6記載の試験レコードの特徴
を参照レコードの特徴と比較する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/087409 | 2001-10-19 | ||
US10/087,409 US7986820B2 (en) | 2001-10-19 | 2001-10-19 | Method for comparing features extracted from images of fingerprints |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003271959A true JP2003271959A (ja) | 2003-09-26 |
Family
ID=22205006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002304873A Pending JP2003271959A (ja) | 2001-10-19 | 2002-10-18 | 試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方法 |
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Country | Link |
---|---|
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JP (1) | JP2003271959A (ja) |
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---|---|---|---|---|
JP2008502070A (ja) * | 2004-06-09 | 2008-01-24 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 特徴位置に基づくバイオメトリック・テンプレート類似性 |
KR20190136587A (ko) * | 2018-05-31 | 2019-12-10 | 연세대학교 산학협력단 | 정규화된 지역구조에 의한 지문 영상의 이진화 벡터 변환 방법 및 이를 이용한 두 지문 영상간 동일여부를 판별하는 방법 |
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JP4758594B2 (ja) * | 2002-09-24 | 2011-08-31 | セイコーエプソン株式会社 | 入力装置、情報装置及び制御情報生成方法 |
EP1597699A2 (en) * | 2003-02-20 | 2005-11-23 | Intelligent Mechatronic Systems, Inc. | Adaptive visual occupant detection and classification system |
JP4257250B2 (ja) * | 2004-03-30 | 2009-04-22 | 富士通株式会社 | 生体情報照合装置並びに生体特徴情報絞込み装置,生体特徴情報絞込みプログラムおよび同プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体 |
JP2009503721A (ja) * | 2005-08-03 | 2009-01-29 | プリサイス バイオメトリクス アクチボラゲット | 指紋のアライニング方法および装置 |
GB0616293D0 (en) | 2006-08-16 | 2006-09-27 | Imp Innovations Ltd | Method of image processing |
US8958609B2 (en) * | 2009-04-22 | 2015-02-17 | Nec Corporation | Method and device for computing degree of similarly between data sets |
WO2013099030A1 (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-04 | 富士通株式会社 | 絞込データ生成方法及び絞込データ生成装置 |
KR101373295B1 (ko) * | 2012-07-09 | 2014-03-11 | 인텔렉추얼디스커버리 주식회사 | 보안정보 처리방법 및 장치 |
CN106575355A (zh) * | 2014-07-25 | 2017-04-19 | 高通股份有限公司 | 移动装置上的注册及验证 |
JP6794766B2 (ja) * | 2016-10-19 | 2020-12-02 | 日本電気株式会社 | 指紋処理装置、指紋処理方法、プログラム、指紋処理回路 |
CN113191300B (zh) * | 2020-10-14 | 2024-01-26 | 神盾股份有限公司 | 用于指纹图像识别的方法、设备及计算机可读介质 |
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US5659626A (en) | 1994-10-20 | 1997-08-19 | Calspan Corporation | Fingerprint identification system |
US6173068B1 (en) * | 1996-07-29 | 2001-01-09 | Mikos, Ltd. | Method and apparatus for recognizing and classifying individuals based on minutiae |
JP2815045B2 (ja) | 1996-12-16 | 1998-10-27 | 日本電気株式会社 | 画像特徴抽出装置,画像特徴解析装置,および画像照合システム |
US6263091B1 (en) | 1997-08-22 | 2001-07-17 | International Business Machines Corporation | System and method for identifying foreground and background portions of digitized images |
JP3053607B2 (ja) * | 1998-04-08 | 2000-06-19 | 三菱電機株式会社 | データ照合方法およびその装置 |
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AU7586800A (en) * | 1999-09-16 | 2001-04-17 | Applied Science Fiction, Inc. | Method and system for altering defects in a digital image |
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-
2001
- 2001-10-19 US US10/087,409 patent/US7986820B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-10-18 JP JP2002304873A patent/JP2003271959A/ja active Pending
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KR20190136587A (ko) * | 2018-05-31 | 2019-12-10 | 연세대학교 산학협력단 | 정규화된 지역구조에 의한 지문 영상의 이진화 벡터 변환 방법 및 이를 이용한 두 지문 영상간 동일여부를 판별하는 방법 |
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---|---|
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---|---|---|---|
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A02 | Decision of refusal |
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