JP2003258618A - 論理エミュレーション装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 過大な電流が流れることを回避して、外部装
置及び論理エミュレーション装置の破損を防止し、検証
対象回路の検証作業を円滑に実行できる論理エミュレー
ション装置を提供する。 【解決手段】 出力制御回路２７は、温度検出ユニット
１０、１１が検出した可変論理素子２０、２１の温度デ
ータを取得し、可変論理素子２０、２１に過大な電流が
流れて、その温度が過剰に上昇した場合、その可変論理
素子２０、２１の出力を、ハイインピーダンス状態にす
る。このため、可変論理素子２０と可変論理素子２１と
の間の信号の衝突、及び、各可変論理素子２０、２１と
外部装置１との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理素子２０、２１及び外部装置１に過大な電流が流れ続
けることを防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、検証対象回路の検
証を行う論理エミュレーション装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、大規模ＬＳＩ（ｌａｒｇｅ ｓｃ
ａｌｅ ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ）の開
発において、その大規模ＬＳＩ（検証対象回路）の動作
を検証する為の装置として、論理エミュレーション装置
が使用されている。

【０００３】論理エミュレーション装置は、一般に、検
証対象回路を分割して、複数の可変論理素子に割り当
て、実際に動作させる事により高速に検証できるように
した装置である。

【０００４】図１２は、従来の論理エミュレーション装
置の第１の例のブロック図である。図１２に示すよう
に、この従来の論理エミュレーション装置５０１は、可
変論理素子５０２〜５０５、可変配線素子５０７、及
び、電源５０６、を具備する。

【０００５】次に、接続関係を説明する。

【０００６】可変論理素子５０２と可変配線素子５０７
とは、配線６０２により接続される。可変論理素子５０
３と可変配線素子５０７とは、配線６０３により接続さ
れる。可変論理素子５０４と可変配線素子５０７とは、
配線６０４により接続される。可変論理素子５０５と可
変配線素子５０７とは、配線６０５により接続される。
なお、各配線６０２〜６０５は、複数の信号線からな
る。

【０００７】可変論理素子５０２〜５０５には、電源５
０６から、電源線５１２により、電源電圧が供給され
る。

【０００８】また、可変論理素子５０２〜５０５には、
検証対象回路を分割した回路（検証対象分割回路）５０
８〜５１１が割り当てられる。

【０００９】また、可変論理素子５０２は、配線６００
により、外部装置５００と接続される。可変論理素子５
０３は、配線６０１により、外部装置５００と接続され
る。なお、各配線６００、６０１は、複数の信号線から
なる。

【００１０】次に、各構成の機能・動作を説明する。

【００１１】外部装置５００の１つの例を説明する。外
部装置５００には、論理エミュレーション装置５０１の
各可変論理素子５０２〜５０５に分割して割り当てられ
る検証対象回路と実際に組み合わせて使用されるＬＳＩ
などの様々な回路や部品が実装される。

【００１２】そして、この外部装置５００は、論理エミ
ュレーション装置５０１を接続することによって、検証
対象回路を実際の使用状態に近い状態で検証できるよう
にする。

【００１３】外部装置５００の他の例を説明する。外部
装置５００は、論理エミュレーション装置５０１の各可
変論理素子５０２〜５０５に割り当てられる検証対象分
割回路５０８〜５１１の入力に対して検証用のテストパ
ターンを与える。

【００１４】そして、この外部装置５００は、検証対象
分割回路５０８〜５１１の出力を観測する。

【００１５】さて、論理エミュレーション装置５０１の
可変論理素子５０２〜５０５は、内部で実現する論理を
変更できる素子であって、設定された論理に基づく機能
を実現する。

【００１６】可変配線素子５０７は、各可変論理素子５
０２〜５０５間の接続を実現する。

【００１７】図１３は、従来の論理エミュレーション装
置の第２の例のブロック図である。なお、図１３におい
て、図１２と同様の部分については、同一の符号を付し
て説明を適宜省略する。

【００１８】図１３に示すように、この従来の論理エミ
ュレーション装置７０１は、可変論理素子５０２〜５０
５、及び、電源５０６、を具備する。

【００１９】各可変論理素子５０２〜５０５間は、配線
６０６〜６１１により接続される。

【００２０】可変論理素子５０２〜５０５及び外部装置
５００の機能・動作は、図１２の可変論理素子５０２〜
５０５及び外部装置５００の機能・動作と同様である。

【００２１】

【発明が解決しようとする課題】まず、第１の問題点に
ついて説明する。上記した従来の論理エミュレーション
装置５０１、７０１では、検証対象回路が開発途中で動
作が不完全なこと、外部装置５００の不具合、又は、外
部装置５００と論理エミュレーション装置５０１、７０
１との接続部分の信号の割り当てのミス、などが原因と
なって、論理エミュレーション装置５０１、７０１と外
部装置５００との接続部において信号が衝突を起こすこ
とがある。

【００２２】このため、論理エミュレーション装置５０
１、７０１の可変論理素子５０２〜５０５と外部装置５
００との接続部の部品に過大な電流が流れてしまう。

【００２３】その結果、論理エミュレーション装置５０
１、７０１の可変論理素子５０２〜５０５、及び、外部
装置５００の部品、が破損し、検証対象回路の検証作業
に支障をきたす問題が生じる。

【００２４】次に、第２の問題点について説明する。上
記した従来の論理エミュレーション装置５０１、７０１
の内部でも次のような信号の衝突が起こる場合がある。

【００２５】即ち、検証対象回路が開発途中で動作が不
完全なこと、又は、検証対象回路を分割して各可変論理
素子５０２〜５０５に割り当てるツールのバグ、などを
原因として、各可変論理素子５０２〜５０５の間、又
は、可変論理素子５０２〜５０５と可変配線素子５０７
との間、において信号が衝突することがある。

【００２６】このため、可変論理素子５０２〜５０５、
及び、可変配線素子５０７、に過大な電流が流れてしま
う。

【００２７】その結果、論理エミュレーション装置５０
１、７０１の可変論理素子５０２〜５０５、及び、可変
配線素子５０７、が破損し、検証対象回路の検証作業に
支障をきたす問題が生じる。

【００２８】次に、第３の問題点について説明する。従
来の論理エミュレーション装置の中には、論理エミュレ
ーション装置自身の消費電流が過大であることを検出可
能なものもある。

【００２９】この従来の論理エミュレーション装置で
は、個々の可変論理素子、及び、個々の可変配線素子、
の消費電流を監視しているわけではなく、論理エミュレ
ーション装置全体の消費電流を監視している。

【００３０】しかし、論理エミュレーション装置全体と
しては消費電流が過大ではないが、個々の可変論理素
子、又は、個々の可変配線素子、にとっては、消費電流
が過大である場合もある。

【００３１】従って、従来の論理エミュレーション装置
では、個々の可変論理素子、又は、個々の可変配線素
子、の消費電流が過大になったことを検出できない。

【００３２】その結果、個々の可変論理素子、又は、個
々の可変配線素子にとって、過大な消費電流が流れたこ
とが原因となって、論理エミュレーション装置の可変論
理素子、又は、可変配線素子、が破損し、検証対象回路
の検証作業に支障をきたす問題が生じる。

【００３３】次に、第４の問題点について説明する。上
記した従来の論理エミュレーション装置５０１、７０１
の電源５０６、あるいは、外部装置５００の電源（図示
せず）、のどちらか一方がオンで他方がオフの場合、論
理エミュレーション装置５０１、７０１の可変論理素子
５０２〜５０５と外部装置との接続部の部品に過大な電
流が流れることがある。

【００３４】その結果、論理エミュレーション装置５０
１、７０１の可変論理素子５０２〜５０５、及び、外部
装置５００の部品、が破損し、検証対象回路の検証作業
に支障をきたす問題が生じる。

【００３５】そこで、本発明は、過大な電流が流れ続け
ることを防止して、論理エミュレーション装置及び外部
装置の破損を回避し、検証対象回路の検証作業を円滑に
実行できる論理エミュレーション装置を提供することを
目的とする。

【００３６】また、本発明は、過大な電流が流れること
を防止して、論理エミュレーション装置及び外部装置の
破損を回避し、検証対象回路の検証作業を円滑に実行で
きる論理エミュレーション装置を提供することを目的と
する。

【００３７】

【課題を解決するための手段】本発明に係る論理エミュ
レーション装置では、外部装置と接続して、検証対象回
路の検証を行う論理エミュレーション装置であって、検
証対象回路が分割して割り当てられ、各々が、内部で実
現する論理を変更できる複数の可変論理手段と、複数の
可変論理手段に対応して設けられ、各々が、対応する可
変論理手段の温度を検出し、温度に応じた電気量に変換
する複数の温度検出手段と、温度に応じた電気量のレベ
ルが所定値に達したとき、その温度が検出された可変論
理手段の出力をハイインピーダンス状態にする出力制御
手段と、を備える。

【００３８】この構成により、可変論理手段の温度が過
剰に上昇したときに、その可変論理手段の出力がハイイ
ンピーダンス状態になるように、所定値を設定しておく
ことで、可変論理手段に過大な電流が流れて、その温度
が過剰に上昇した場合、その可変論理手段の出力が、ハ
イインピーダンス状態にされる。

【００３９】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れ続けることを防止できる。

【００４０】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００４１】また、本発明に係る論理エミュレーション
装置では、外部装置と接続して、検証対象回路の検証を
行う論理エミュレーション装置であって、検証対象回路
が分割して割り当てられ、各々が、内部で実現する論理
を変更できる複数の可変論理手段と、可変論理手段ごと
に、その消費電流に応じた電気量を検出し、検出した電
気量が所定値に達したとき、その電気量が検出された可
変論理手段の出力をハイインピーダンス状態にする出力
制御手段と、を備える。

【００４２】この構成により、可変論理手段に過大な電
流が流れたときに、その可変論理手段の出力がハイイン
ピーダンス状態になるように、所定値を設定しておくこ
とで、可変論理手段に過大な電流が流れた場合、その可
変論理手段の出力が、ハイインピーダンス状態にされ
る。

【００４３】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【００４４】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００４５】また、可変論理手段の出力をハイインピー
ダンス状態にする際の判断要素として、可変論理手段の
温度ではなく、消費電流を用いている。

【００４６】その結果、可変論理手段に流れる電流が過
大となり、可変論理手段の温度が上昇するまでのタイム
ラグ無しで、可変論理手段に流れる電流が過大であるこ
とを検出できる。

【００４７】また、本発明に係る論理エミュレーション
装置では、外部装置と接続して、検証対象回路の検証を
行う論理エミュレーション装置であって、検証対象回路
が分割して割り当てられ、各々が、内部で実現する論理
を変更できる複数の可変論理手段と、外部装置の電源の
オン／オフ状態、及び、可変論理手段の電源のオン／オ
フ状態を検出する電源オン／オフ検出手段と、外部装置
の電源、及び、可変論理手段の電源、の双方がオン状態
のときにのみ、可変論理手段と外部装置と、を接続する
スイッチング手段と、を備える。

【００４８】この構成により、外部装置の電源、及び、
可変論理手段の電源、の一方がオフで、他方がオンのと
きは、可変論理手段と外部装置と、は接続されない。

【００４９】このため、外部装置の電源、及び、可変論
理手段の電源、の一方がオフで、他方がオンのときに、
電源がオンされた方からオフされた方へ、可変論理手段
と外部装置とを接続した配線を介して過大な電流が流れ
ることを防止できる。

【００５０】その結果、各可変論理手段及び外部装置の
破損を回避できて、検証対象回路の検証作業を円滑に実
行できる。

【００５１】

【発明の実施の形態】請求項１記載の論理エミュレーシ
ョン装置では、外部装置と接続して、検証対象回路の検
証を行う論理エミュレーション装置であって、検証対象
回路が分割して割り当てられ、各々が、内部で実現する
論理を変更できる複数の可変論理手段と、複数の可変論
理手段に対応して設けられ、各々が、対応する可変論理
手段の温度を検出し、温度に応じた電気量に変換する複
数の温度検出手段と、温度に応じた電気量のレベルが所
定値に達したとき、その温度が検出された可変論理手段
の出力をハイインピーダンス状態にする出力制御手段
と、を備える。

【００５２】この構成により、可変論理手段の温度が過
剰に上昇したときに、その可変論理手段の出力がハイイ
ンピーダンス状態になるように、所定値を設定しておく
ことで、可変論理手段に過大な電流が流れて、その温度
が過剰に上昇した場合、その可変論理手段の出力が、ハ
イインピーダンス状態にされる。

【００５３】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れ続けることを防止できる。

【００５４】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００５５】請求項２記載の論理エミュレーション装置
では、出力制御手段は、いずれか１つの可変論理手段の
温度に応じた電気量が所定値に達したとき、全ての可変
論理手段の出力をハイインピーダンス状態にする。

【００５６】この構成により、可変論理手段の温度が過
剰に上昇したときに、可変論理手段の出力がハイインピ
ーダンス状態になるように、所定値を設定しておくこと
で、可変論理手段に過大な電流が流れて、その温度が過
剰に上昇した場合、全ての可変論理手段の出力が、ハイ
インピーダンス状態にされる。

【００５７】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れ続けることを防止できる。

【００５８】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００５９】請求項３記載の論理エミュレーション装置
では、所定値を任意の値に設定する所定値設定手段、を
さらに備える。

【００６０】この構成により、検証対象回路を分割して
各可変論理手段に割り当てられた回路（検証対象分割回
路）、及び、検証環境、に応じた所定値の設定が可能と
なる。

【００６１】請求項４記載の論理エミュレーション装置
では、所定値設定手段は、可変論理手段ごとの動作温度
の予測値に応じて、可変論理手段ごとに所定値を設定す
る。

【００６２】この構成により、可変論理手段ごとの動作
温度の予測値に応じた適切な所定値と、対応する可変論
理手段から検出した温度に応じた電気量と、が比較され
ることになる。

【００６３】このため、可変論理手段に過大な電流が流
れ、その温度が過剰に上昇したことを、より的確に検知
できる。

【００６４】従って、可変論理手段同士の信号の衝突、
可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及び、可
変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可変配線
手段との間の信号の衝突、をより確実に回避できて、可
変論理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な
電流が流れ続けることをより確実に防止できる。

【００６５】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損をより確実に回避できて、検証対象回路
の検証作業をより円滑に実行できる。

【００６６】請求項５記載の論理エミュレーション装置
では、所定値設定手段は、設置場所の気温に応じて、所
定値を変更する。

【００６７】この構成により、外気温に応じた適切な所
定値と、可変論理手段から検出した温度に応じた電気量
と、が比較されることになる。

【００６８】このため、可変論理手段に過大な電流が流
れ、その温度が過剰に上昇したことを、より的確に検知
できる。

【００６９】従って、可変論理手段同士の信号の衝突、
可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及び、可
変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可変配線
手段との間の信号の衝突、をより確実に回避できて、可
変論理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な
電流が流れ続けることをより確実に防止できる。

【００７０】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損をより確実に回避できて、検証対象回路
の検証作業をより円滑に実行できる。

【００７１】請求項６記載の論理エミュレーション装置
では、外部装置と接続して、検証対象回路の検証を行う
論理エミュレーション装置であって、検証対象回路が分
割して割り当てられ、各々が、内部で実現する論理を変
更できる複数の可変論理手段と、可変論理手段ごとに、
その消費電流に応じた電気量を検出し、検出した電気量
が所定値に達したとき、その電気量が検出された可変論
理手段の出力をハイインピーダンス状態にする出力制御
手段と、を備える。

【００７２】この構成により、可変論理手段に過大な電
流が流れたときに、その可変論理手段の出力がハイイン
ピーダンス状態になるように、所定値を設定しておくこ
とで、可変論理手段に過大な電流が流れた場合、その可
変論理手段の出力が、ハイインピーダンス状態にされ
る。

【００７３】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【００７４】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００７５】また、可変論理手段の出力をハイインピー
ダンス状態にする際の判断要素として、可変論理手段の
温度ではなく、消費電流を用いている。

【００７６】その結果、可変論理手段に流れる電流が過
大となり、可変論理手段の温度が上昇するまでのタイム
ラグ無しで、可変論理手段に流れる電流が過大であるこ
とを検出できる。

【００７７】請求項７記載の論理エミュレーション装置
では、出力制御手段は、いずれか１つの可変論理手段の
消費電流に応じた電気量が所定値に達したとき、全ての
可変論理手段の出力をハイインピーダンス状態にする。

【００７８】この構成により、可変論理手段に過大な電
流が流れたときに、可変論理手段の出力がハイインピー
ダンス状態になるように、所定値を設定しておくこと
で、可変論理手段に過大な電流が流れた場合、全ての可
変論理手段の出力が、ハイインピーダンス状態にされ
る。

【００７９】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【００８０】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００８１】請求項８記載の論理エミュレーション装置
では、出力制御手段は、所定値を任意の値に設定する所
定値設定手段、を含む。

【００８２】この構成により、検証対象回路を分割して
各可変論理手段に割り当てられた回路（検証対象分割回
路）、及び、検証環境、に応じた所定値の設定が可能と
なる。

【００８３】請求項９記載の論理エミュレーション装置
では、所定値設定手段は、可変論理手段ごとの消費電流
の予測値に応じて、可変論理手段ごとに所定値を設定す
る。

【００８４】この構成により、可変論理手段ごとの消費
電流の予測値に応じた適切な所定値と、対応する可変論
理手段から検出した消費電流に応じた電気量と、が比較
されることになる。

【００８５】このため、可変論理手段に過大な電流が流
れたことを、より的確に検知できる。

【００８６】従って、可変論理手段同士の信号の衝突、
可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及び、可
変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可変配線
手段との間の信号の衝突、をより確実に回避できて、可
変論理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な
電流が流れることをより確実に防止できる。

【００８７】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損をより確実に回避できて、検証対象回路
の検証作業をより円滑に実行できる。

【００８８】請求項１０記載の論理エミュレーション装
置では、出力制御手段は、複数の可変論理手段に対応し
て設けられる複数の過電流検出手段、を含み、過電流検
出手段の各々は、対応する可変論理手段の消費電流に応
じた電気量を検出し、対応する可変論理手段の消費電流
に応じた電気量が所定値に達したときに、対応する可変
論理手段の出力をハイインピーダンス状態にする。

【００８９】この構成により、可変論理手段に過大な電
流が流れたときに、対応する過電流検出手段が、その可
変論理手段の出力をハイインピーダンス状態にするよう
に、所定値を設定しておくことで、可変論理手段に過大
な電流が流れた場合、その可変論理手段の出力が、ハイ
インピーダンス状態にされる。

【００９０】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【００９１】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００９２】請求項１１記載の論理エミュレーション装
置では、可変論理手段の各々は、外部との間の入出力イ
ンタフェースである入出力手段と、設定された論理に基
づく機能を実現する論理実現手段と、を含み、入出力手
段は、論理実現手段に電源電圧を供給する電源とは異な
る電源から電源電圧の供給を受け、出力制御手段は、入
出力手段ごとに、その消費電流に応じた電気量を検出
し、検出した電気量が所定値に達したとき、その電気量
が検出された入出力手段の出力をハイインピーダンス状
態にする。

【００９３】この構成により、可変論理手段に含まれ
る、入出力手段と論理実現手段とが、異なる電源から電
源電圧が供給される場合において、入出力手段に過大な
電流が流れたときに、その入出力手段の出力がハイイン
ピーダンス状態になるように、所定値を設定しておくこ
とで、入出力手段に過大な電流が流れた場合、その入出
力手段の出力が、ハイインピーダンス状態にされる。

【００９４】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【００９５】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【００９６】請求項１２記載の論理エミュレーション装
置では、外部装置と接続して、検証対象回路の検証を行
う論理エミュレーション装置であって、検証対象回路が
分割して割り当てられ、各々が、内部で実現する論理を
変更できる複数の可変論理手段と、外部装置の電源のオ
ン／オフ状態、及び、可変論理手段の電源のオン／オフ
状態を検出する電源オン／オフ検出手段と、外部装置の
電源、及び、可変論理手段の電源、の双方がオン状態の
ときにのみ、可変論理手段と外部装置と、を接続するス
イッチング手段と、を備える。

【００９７】この構成により、外部装置の電源、及び、
可変論理手段の電源、の一方がオフで、他方がオンのと
きは、可変論理手段と外部装置と、は接続されない。

【００９８】このため、外部装置の電源、及び、可変論
理手段の電源、の一方がオフで、他方がオンのときに、
電源がオンされた方からオフされた方へ、可変論理手段
と外部装置とを接続した配線を介して過大な電流が流れ
ることを防止できる。

【００９９】その結果、各可変論理手段及び外部装置の
破損を回避できて、検証対象回路の検証作業を円滑に実
行できる。

【０１００】以下、図面を参照して本発明の実施の形態
を説明する。

【０１０１】（実施の形態１）

【０１０２】図１は、本発明の実施の形態１における論
理エミュレーション装置のブロック図である。

【０１０３】図１に示すように、この論理エミュレーシ
ョン装置２は、可変論理素子２０、２１、温度検出ユニ
ット１０、１１、Ａ／Ｄコンバータ２６、及び、出力制
御回路２７、を具備する。

【０１０４】温度検出ユニット１０は、温度センサ２４
及びプローブ２２を含む。このプローブ２２は、可変論
理素子２０のパッケージに取り付けられる。

【０１０５】温度検出ユニット１１は、温度センサ２５
及びプローブ２３を含む。このプローブ２３は、可変論
理素子２１のパッケージに取り付けられる。

【０１０６】可変論理素子２０、２１の各々には、論理
エミュレーション装置２による検証の対象となる回路
（以下、実施の形態では、「検証対象回路」と呼ぶ。）
が分割して割り当てられる。

【０１０７】具体的には、可変論理素子２０には、検証
対象回路を分割した回路（以下、実施の形態では、「検
証対象分割回路」と呼ぶ。）Ａが割り当てられる。可変
論理素子２１には、検証対象分割回路Ｂが割り当てられ
る。

【０１０８】なお、検証対象回路の一例として、大規模
ＬＳＩなどがある。実施の形態では、検証対象回路とし
て、ＬＳＩを例にとる。

【０１０９】次に、接続関係について説明する。

【０１１０】温度センサ２４は、配線２８により、Ａ／
Ｄコンバータ２６に接続され、温度センサ２４の出力信
号はＡ／Ｄコンバータ２６に与えられる。

【０１１１】温度センサ２５は、配線２９により、Ａ／
Ｄコンバータ２６に接続され、温度センサ２５の出力信
号はＡ／Ｄコンバータ２６に与えられる。

【０１１２】出力制御回路２７は、配線３０により、可
変論理素子２０、２１のアウトプットイネーブル端子
（以下、「ＯＥ端子」と呼ぶ。）３１、３２に接続さ
れ、出力制御回路２７が生成した制御信号はＯＥ端子３
１、３２に与えられる。配線３０は、複数の信号線を含
む。

【０１１３】可変論理素子２０と可変論理素子２１と
は、配線１０２により接続される。この配線１０２は、
複数の信号線を含む。

【０１１４】可変論理素子２０と外部装置１とは、配線
１００により接続される。この配線１００は、複数の信
号線を含む。

【０１１５】可変論理素子２１と外部装置１とは、配線
１０１により接続される。この配線１０１は、複数の信
号線を含む。

【０１１６】次に、各構成の機能・動作を説明する。ま
ず、外部装置１について説明する。

【０１１７】外部装置１の１つの例を説明する。外部装
置１には、論理エミュレーション装置２の各可変論理素
子２０、２１に分割して割り当てられる検証対象回路と
実際に組み合わせて使用されるＬＳＩなどの様々な回路
や部品が実装される。

【０１１８】そして、この外部装置１は、論理エミュレ
ーション装置２を接続することによって、検証対象回路
を実際の使用状態に近い状態で検証できるようにする。

【０１１９】外部装置１の他の例を説明する。外部装置
１は、論理エミュレーション装置２の各可変論理素子２
０、２１に割り当てられる検証対象分割回路Ａ、Ｂの入
力に対して検証用のテストパターンを与える。そして、
この外部装置１は、検証対象分割回路Ａ、Ｂの出力を観
測する。

【０１２０】次に、論理エミュレーション装置２につい
て説明する。可変論理素子２０、２１は、内部で実現す
る論理を変更できる素子であって、設定された論理に基
づく機能を実現する。

【０１２１】具体的には、可変論理素子２０、２１は、
機能をプログラムできる回路（論理セル）、結線状態を
プログラムできる信号線（プログラム配線）、及び、プ
ログラムできる入出力回路（プログラムＩ／Ｏ）、を組
み合わせたものである。

【０１２２】例えば、可変論理素子２０、２１は、ＦＰ
ＧＡ（ｆｉｅｌｄ ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ｇａｔ
ｅ ａｒｒａｙ）である。

【０１２３】温度センサ２４、２５は、検知した可変論
理素子２０、２１の温度を、その温度に比例した電圧に
変換し、Ａ／Ｄコンバータ２６に与える。

【０１２４】なお、温度センサ２４、２５は、温度測定
の対象である可変論理素子２０、２１に取り付けたプロ
ーブ２２、２３により、可変論理素子２０、２１の温度
を検知する。

【０１２５】Ａ／Ｄコンバータ２６は、アナログ信号を
デジタル信号に変換し、そのデジタル信号を出力制御回
路２７に与える。

【０１２６】具体的には、Ａ／Ｄコンバータ２６は、温
度センサ２４、２５が入力した温度に比例した電圧（ア
ナログ信号）をデジタル信号（以下、「温度データ」と
呼ぶ。）に変換し、出力制御回路２７に与える。

【０１２７】出力制御回路２７は、Ａ／Ｄコンバータ２
６から読み込んだ各可変論理素子２０、２１の温度デー
タを監視する。

【０１２８】そして、出力制御回路２７は、監視してい
る温度データのレベルが、所定の閾値を超えたときは、
所定の閾値を超えた温度データが検出された可変論理素
子のＯＥ端子に対して、配線３０を介して当該可変論理
素子の出力をハイインピーダンス状態にする制御信号を
与える。当該可変論理素子は、この制御信号に従って、
出力をハイインピーダンス状態にする。

【０１２９】なお、出力制御手段２７は、可変論理素子
２０、２１のうちのいずれか１つから検出した温度デー
タのレベルが、所定の閾値を超えたときに、全ての可変
論理素子２０、２１の出力をハイインピーダンス状態と
することもできる。

【０１３０】ここで、所定の閾値は、次の観点から定め
られる。可変論理素子２０と可変論理素子２１との間、
又は、各可変論理素子２０、２１と外部装置１との間、
において信号が衝突すると、可変論理素子２０、２１に
流れる電流が過大になる。

【０１３１】そうすると、その可変論理素子２０、２１
の温度が上昇する。つまり、可変論理素子２０、２１の
温度を監視することで、可変論理素子２０、２１に過大
な電流が流れたことを検知できる。本実施の形態では、
このことを利用している。

【０１３２】可変論理素子２０、２１の温度が、通常の
動作状態での温度より高くなった場合、可変論理素子２
０、２１に過大な電流が流れていることが推測できる。
通常の動作状態とは、可変論理素子２０、２１に過大な
電流が流れていないときの適正な動作状態である。

【０１３３】そこで、所定の閾値を、可変論理素子２
０、２１の通常の動作状態での温度に応じた値に設定す
る。

【０１３４】こうすることで、可変論理素子２０、２１
に過大な電流が流れて、その温度が、通常の動作状態で
の温度を超えた場合、その可変論理素子２０、２１の出
力が、ハイインピーダンス状態にされる。

【０１３５】このため、可変論理素子２０と可変論理素
子２１との間の信号の衝突、及び、各可変論理素子２
０、２１と外部装置１との間の信号の衝突、を回避でき
て、可変論理素子２０、２１及び外部装置１に過大な電
流が流れ続けることを防止できる。

【０１３６】その結果、論理エミュレーション装置２及
び外部装置１の破損を回避できて、検証対象回路の検証
作業を円滑に実行できる。

【０１３７】ここで、例えば、所定の閾値は、経験に基
づき決定することができる。また、所定の閾値は、可変
論理素子２０、２１ごとに定めることもできるし、ま
た、可変論理素子２０、２１に共通した所定の閾値を定
めることもできる。

【０１３８】さて、一方、出力制御回路２７は、監視し
ている温度データのレベルが、所定の閾値を超えていな
いときは、可変論理素子２０、２１のＯＥ端子３１、３
２に対して、配線３０を介して、検証作業を実行できる
状態（通常の状態）にする制御信号を与える。この制御
信号を受けた可変論理素子は、通常の状態となる。

【０１３９】以上のような出力制御回路２７は、例え
ば、マイクロコンピュータで構成できる。この場合、上
記した出力制御回路２７による処理は、マイクロコンピ
ュータ上のプログラムにより実行される。

【０１４０】さて、以上のように、本実施の形態では、
出力制御回路２７は、可変論理素子２０、２１から検出
した温度データ（温度に応じた電気量）のレベルが所定
の閾値を超えたとき、その温度が検出された可変論理素
子２０、２１の出力をハイインピーダンス状態にする。

【０１４１】これにより、可変論理素子２０、２１の温
度が過剰に上昇したときに、その可変論理素子２０、２
１の出力がハイインピーダンス状態になるように、所定
の閾値を設定しておくことで、可変論理素子２０、２１
に過大な電流が流れて、その温度が過剰に上昇した場
合、その可変論理素子２０、２１の出力が、ハイインピ
ーダンス状態にされる。

【０１４２】このため、可変論理素子２０と可変論理素
子２１との間の信号の衝突、及び、各可変論理素子２
０、２１と外部装置１との間の信号の衝突、を回避でき
て、可変論理素子２０、２１及び外部装置１に過大な電
流が流れ続けることを防止できる。

【０１４３】その結果、論理エミュレーション装置２及
び外部装置１の破損を回避できて、検証対象回路の検証
作業を円滑に実行できる。

【０１４４】この効果は、可変論理素子２０、２１のう
ちのいずれか１つから検出した温度データ（温度に応じ
た電気量）のレベルが、所定の閾値を超えたときに、全
ての可変論理素子２０、２１の出力をハイインピーダン
ス状態とする場合でも、同様に発揮される。

【０１４５】（実施の形態２）

【０１４６】図２は、本発明の実施の形態２における論
理エミュレーション装置のブロック図である。なお、図
２において、図１と同様の部分については、同一の符号
を付して説明を適宜省略する。

【０１４７】図２に示すように、実施の形態２における
論理エミュレーション装置３は、図１の論理エミュレー
ション装置２の構成に、閾値設定ユニット３３を加えた
ものである。

【０１４８】そして、出力制御回路２７と閾値設定ユニ
ット３３と、は配線３４により接続される。

【０１４９】次に、論理エミュレーション装置３の機能
・動作を説明する。本実施の形態では、論理エミュレー
ション装置３のユーザは、閾値設定ユニット３３によ
り、出力制御回路２７が監視している温度データに対す
る所定の閾値を変更できる。なお、この温度データは、
可変論理素子２０、２１の温度データである。

【０１５０】具体的には、ユーザが、閾値設定ユニット
３３に、新たな所定の閾値を入力すると、閾値設定ユニ
ット３３は、入力された新たな所定の閾値を表すデータ
を、配線３４により出力制御回路２７に与える。

【０１５１】すると、出力制御回路２７は、現在の所定
の閾値を、新たな所定の閾値に変更し、以後、変更後の
所定の閾値を用いて、監視している温度データとの比較
を実行する。

【０１５２】ここで、所定の閾値は、実施の形態１と同
様に、可変論理素子２０、２１の通常の動作状態での温
度に応じた値に設定する。

【０１５３】しかし、論理エミュレーション装置は、様
々な種類の検証対象回路を検証するため、所定の閾値を
一定値に固定した場合は、必ずしも、あらゆる種類の検
証対象回路に適切な所定の閾値とならない場合もある。
また、同じ種類の検証対象回路を検証する場合でも、検
証環境（例えば、論理エミュレーション装置の設置場所
など）により、適切な所定の閾値が変わる場合もある。

【０１５４】そこで、本実施の形態では、閾値設定ユニ
ット３３により、所定の閾値を任意の値に設定できるよ
うにしている。

【０１５５】こうすることで、様々な種類の検証対象回
路に適切な所定の閾値を設定できるし、検証環境も考慮
できる。

【０１５６】なお、所定の閾値は、可変論理素子２０、
２１ごとに定めることもできるし、また、可変論理素子
２０、２１に共通した所定の閾値を定めることもでき
る。

【０１５７】所定の閾値を、可変論理素子２０、２１ご
とに定める場合は、各可変論理素子２０、２１に割り当
てられる検証対象分割回路Ａ、Ｂに応じて、所定の閾値
を定めることができるので、より適切な所定の閾値を用
いることができる。

【０１５８】ここで、１つの例として、上記した出力制
御回路２７は、マイクロコンピュータで構成でき、閾値
設定ユニット３３はワークステーションで構成できる。
この場合は、出力制御回路２７の処理は、マイクロコン
ピュータ上のプログラムにより実行され、閾値設定ユニ
ット３３による処理は、ワークステーション上のプログ
ラムにより実行される。

【０１５９】この例によると、マイクロコンピュータ２
７のシリアルポートとワークステーション３３のシリア
ルポートと、を配線３４により接続する。

【０１６０】そして、ユーザが入力した新たな所定の閾
値を、ワークステーション３３が、マイクロコンピュー
タ２７へ伝達すると、マイクロコンピュータ２７は、そ
のプログラムにより、現在の所定の閾値を、新たな所定
の閾値に変更し、以後、変更後の所定の閾値を用いて、
監視している温度データとの比較を実行する。

【０１６１】さて、以上のように、本実施の形態では、
出力制御回路２７は、可変論理素子２０、２１から検出
した温度データ（温度に応じた電気量）のレベルが所定
の閾値を超えたとき、その温度が検出された可変論理素
子２０、２１の出力をハイインピーダンス状態にする。

【０１６２】さらに、本実施の形態では、ユーザの指示
により、所定の閾値を任意の値に設定する閾値設定ユニ
ット３３を設けている。

【０１６３】このため、検証対象分割回路Ａ、Ｂ、及
び、検証環境、に応じた所定の閾値の設定が可能とな
る。

【０１６４】これにより、検証対象分割回路Ａ、Ｂ、及
び、検証環境、に応じた適切な所定の閾値と、可変論理
素子２０、２１から検出した温度データ（温度に応じた
電気量）と、を比較できる。

【０１６５】このため、可変論理素子２０、２１に過大
な電流が流れ、その温度が過剰に上昇したことを、より
的確に検知できる。

【０１６６】従って、可変論理素子２０と可変論理素子
２１との間の信号の衝突、及び、各可変論理素子２０、
２１と外部装置１との間の信号の衝突、をより確実に回
避できて、可変論理素子２０、２１及び外部装置１に過
大な電流が流れ続けることをより確実に防止できる。

【０１６７】その結果、論理エミュレーション装置３及
び外部装置１の破損をより確実に回避できて、検証対象
回路の検証作業をより円滑に実行できる。

【０１６８】次に、本実施の形態における論理エミュレ
ーション装置の変形例を説明する。

【０１６９】この変形例では、閾値変更ユニット３３
が、個々の可変論理素子２０、２１に割り当てられる検
証対象分割回路Ａ、Ｂの情報を基に、個々の可変論理素
子２０、２１の動作温度を予測する。

【０１７０】可変論理素子２０、２１の動作温度は、例
えば、検証対象分割回路Ａ、Ｂの回路規模、及び、検証
対象分割回路Ａ，Ｂの動作周波数、から予測する。

【０１７１】そして、閾値変更ユニット３３は、可変論
理素子２０、２１ごとに、予測した動作温度に応じた所
定の閾値を算出し、その所定の閾値を表すデータを、出
力制御回路２７に与える。

【０１７２】すると、出力制御回路２７は、可変論理素
子２０、２１ごとの現在の所定の閾値を、可変論理素子
２０、２１ごとの新たな所定の閾値に変更し、以後、変
更後の所定の閾値を用いて、監視している温度データと
の比較を実行する。

【０１７３】ここで、１つの例として、上記した変形例
における出力制御回路２７は、マイクロコンピュータで
構成でき、変形例における閾値設定ユニット３３はワー
クステーションで構成できる。この場合は、出力制御回
路２７の処理は、マイクロコンピュータ上のプログラム
により実行され、閾値設定ユニット３３による処理は、
ワークステーション上のプログラムにより実行される。

【０１７４】この例によると、ワークステーション３３
において、プログラムにより、個々の可変論理素子２
０、２１に割り当てられる検証対象分割回路Ａ、Ｂの情
報を基に、個々の可変論理素子２０、２１の動作温度を
予測する。

【０１７５】そして、ワークステーション３３は、可変
論理素子２０、２１ごとに、予測した動作温度に応じた
所定の閾値を算出し、その所定の閾値を表すデータを、
マイクロコンピュータ２７に与える。

【０１７６】すると、マイクロコンピュータ２７は、可
変論理素子２０、２１ごとの現在の所定の閾値を、可変
論理素子２０、２１ごとの新たな所定の閾値に変更し、
以後、変更後の所定の閾値を用いて、監視している温度
データとの比較を実行する。

【０１７７】さて、以上のように、この変形例では、閾
値設定ユニット３３は、可変論理素子２０、２１ごとの
動作温度の予測値に応じて、可変論理素子２０、２１ご
とに所定の閾値を設定する。

【０１７８】これにより、可変論理素子２０、２１ごと
の動作温度の予測値に応じた適切な所定の閾値と、対応
する可変論理素子２０、２１から検出した温度データ
（温度に応じた電気量）と、が比較されることになる。

【０１７９】このため、可変論理素子２０、２１に過大
な電流が流れ、その温度が過剰に上昇したことを、より
的確に検知できる。

【０１８０】従って、可変論理素子２０と可変論理素子
２１との間の信号の衝突、及び、各可変論理素子２０、
２１と外部装置１との間の信号の衝突、をより確実に回
避できて、可変論理素子２０、２１及び外部装置１に過
大な電流が流れ続けることをより確実に防止できる。

【０１８１】その結果、論理エミュレーション装置３及
び外部装置１の破損をより確実に回避できて、検証対象
回路の検証作業をより円滑に実行できる。

【０１８２】また、この変形例では、閾値設定ユニット
３３が、可変論理素子２０、２１の動作温度を予測す
る。このため、論理エミュレーション装置３のユーザの
手間を極力抑制できる。

【０１８３】（実施の形態３）

【０１８４】図３は、本発明の実施の形態３における論
理エミュレーション装置のブロック図である。なお、図
３において、図１と同様の部分については、同一の符号
を付して、説明を適宜省略する。

【０１８５】図３に示すように、実施の形態３における
論理エミュレーション装置４は、図１の論理エミュレー
ション装置２の構成に、閾値設定ユニット３５及び温度
センサ４０を加えたものである。

【０１８６】そして、出力制御回路２７と閾値設定ユニ
ット３５と、は配線３４により接続される。

【０１８７】次に、本実施の形態における論理エミュレ
ーション装置４の機能・動作を説明する。

【０１８８】閾値設定ユニット３５は、温度センサ４０
により得られる外気温度のデータに基づいて、出力制御
回路２７が監視している温度データに対する所定の閾値
を補正する。なお、この温度データは、可変論理素子２
０、２１の温度データである。

【０１８９】そして、閾値設定ユニット３５は、補正し
た所定の閾値を出力制御回路２７に与える。

【０１９０】すると、出力制御回路２７は、補正後の所
定の閾値を用いて、監視している温度データとの比較を
実行する。

【０１９１】なお、補正の対象となる所定の閾値は、可
変論理素子２０、２１ごとに定めてあってもよいし、ま
た、可変論理素子２０、２１に共通した所定の閾値が定
めてあってもよい。いずれにしても、外気温度に応じ
て、所定の閾値が補正される。

【０１９２】また、補正の対象となる所定の閾値は、実
施の形態１と同様に、可変論理素子２０、２１の通常の
動作状態での温度に応じた値に設定されたものである。

【０１９３】ここで、１つの例として、上記した出力制
御回路２７は、マイクロコンピュータで構成でき、閾値
設定ユニット３５はワークステーションで構成できる。
この場合は、出力制御回路２７の処理は、マイクロコン
ピュータ上のプログラムにより実行され、閾値設定ユニ
ット３５による処理は、ワークステーション上のプログ
ラムにより実行される。

【０１９４】この例によると、ワークステーション３５
において、プログラムにより、温度センサ４０により得
られる外気温度のデータに基づいて、マイクロコンピュ
ータ２７が監視している温度データに対する所定の閾値
を補正する。

【０１９５】そして、ワークステーション３５は、補正
した所定の閾値をマイクロコンピュータ２７に伝達す
る。

【０１９６】すると、マイクロコンピュータ２７は、補
正後の所定の閾値を用いて、監視している温度データと
の比較を実行する。

【０１９７】なお、この例では、マイクロコンピュータ
２７のシリアルポートとワークステーション３５のシリ
アルポートと、が配線３４により接続される。

【０１９８】さて、以上のように、本実施の形態では、
出力制御回路２７は、可変論理素子２０、２１から検出
した温度データ（温度に応じた電気量）のレベルが所定
の閾値を超えたとき、その温度が検出された可変論理素
子２０、２１の出力をハイインピーダンス状態にする。

【０１９９】さらに、本実施の形態では、閾値設定ユニ
ット３５は、論理エミュレーション装置４の設置場所の
気温に応じて、所定の閾値を補正し、出力制御回路２７
に対して、所定の閾値を、補正後の所定の閾値に変更さ
せる。

【０２００】これにより、外気温に応じた適切な所定の
閾値と、可変論理素子２０、２１から検出した温度デー
タ（温度に応じた電気量）と、が比較されることにな
る。

【０２０１】このため、可変論理素子２０、２１に過大
な電流が流れ、その温度が過剰に上昇したことを、より
的確に検知できる。

【０２０２】従って、可変論理素子２０と可変論理素子
２１との間の信号の衝突、及び、各可変論理素子２０、
２１と外部装置１との間の信号の衝突、をより確実に回
避できて、可変論理素子２０、２１及び外部装置１に過
大な電流が流れ続けることをより確実に防止できる。

【０２０３】その結果、論理エミュレーション装置４及
び外部装置１の破損をより確実に回避できて、検証対象
回路の検証作業をより円滑に実行できる。

【０２０４】なお、可変論理素子の数は、２つに限られ
るものではなく、任意の数であっても、実施の形態１〜
３、及び、実施の形態２の変形例、を適用できる。

【０２０５】また、全ての可変論理素子が、外部装置と
接続されていない場合であっても、実施の形態１〜３、
及び、実施の形態２の変形例、を適用できる。

【０２０６】また、各可変論理素子間の接続を、専用の
可変配線素子を用いて実現した場合であっても、実施の
形態１〜３、及び、実施の形態２の変形例、を適用でき
る。可変配線素子は、例えば、ＦＰＩＤ（ｆｉｅｌｄ
ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅｉｎｔｅｒｃｏｎｎｅｃｔ
ｄｅｖｉｃｅ）である。

【０２０７】また、実施の形態１〜３、及び、実施の形
態２の変形例では、信号の衝突を原因として、可変論理
素子の温度が上昇する場合を例に挙げたが、温度上昇の
原因が、信号の衝突以外であっても、同様に動作し、同
様の効果を発揮できることは言うまでもない。

【０２０８】（実施の形態４）

【０２０９】図４は、本発明の実施の形態４における論
理エミュレーション装置のブロック図である。なお、図
４において、図１と同様の部分については、同一の符号
を付して、説明を適宜省略する。

【０２１０】図４に示すように、この論理エミュレーシ
ョン装置５は、可変論理素子５０〜５３、電源７６、可
変配線素子７４、及び、過電流検出回路５４〜５７、を
具備する。この４つの過電流検出回路５４〜５７は、４
つの可変論理素子５０〜５３に対応して設けられる。

【０２１１】ここで、過電流検出回路５４〜５７の全体
は、出力制御回路を構成する。

【０２１２】可変論理素子５０〜５３の各々には、論理
エミュレーション装置５による検証の対象となる検証対
象回路が分割して割り当てられる。

【０２１３】具体的には、可変論理素子５０には、検証
対象分割回路Ａが割り当てられる。可変論理素子５１に
は、検証対象分割回路Ｂが割り当てられる。可変論理素
子５２には、検証対象分割回路Ｃが割り当てられる。可
変論理素子５３には、検証対象分割回路Ｄが割り当てら
れる。

【０２１４】次に、接続関係について説明する。

【０２１５】過電流検出回路５４〜５７は、配線６６〜
６９により、対応する可変論理素子５０〜５３のアウト
プットイネーブル端子（以下「ＯＥ端子」と呼ぶ。）５
８〜６１に接続され、過電流検出回路５４〜５７が生成
した制御信号は、対応するＯＥ端子５８〜６１に与えら
れる。

【０２１６】過電流検出回路５４〜５７と電源７６と
は、電源線７５により接続される。そして、電源７６が
電源線７５により供給する電源電圧は、過電流検出回路
５４〜５７及び電源線７０〜７３を介して、可変論理素
子５０〜５３の電源端子６２〜６５に与えられる。この
ようにして、可変論理素子５０〜５３は、電源電圧の供
給を受ける。

【０２１７】可変論理素子５０と可変配線素子７４とは
配線１０７により接続される。可変論理素子５１と可変
配線素子７４とは配線１０８により接続される。可変論
理素子５２と可変配線素子７４とは配線１１０により接
続される。可変論理素子５３と可変配線素子７４とは配
線１０９により接続される。

【０２１８】可変配線素子７４は、各可変論理素子５０
〜５３間の配線を実現するものであり、各可変論理素子
５０〜５３間は、可変配線素子７４によって接続され
る。例えば、可変配線素子７４は、ＦＰＩＤである。な
お、各配線１０７〜１１０は、複数の信号線を含む。

【０２１９】可変論理素子５０と外部装置１とは、配線
１０３により接続される。この配線１０３は、複数の信
号線を含む。

【０２２０】可変論理素子５１と外部装置１とは、配線
１０４により接続される。この配線１０４は、複数の信
号線を含む。

【０２２１】次に、各構成の機能・動作を説明する。論
理エミュレーション装置５について説明する。

【０２２２】可変論理素子５０〜５３は、内部で実現す
る論理を変更できる素子であって、設定された論理に基
づく機能を実現する。

【０２２３】即ち、この可変論理素子５０〜５３は、図
１の可変論理素子２０、２１と同様のものである。

【０２２４】過電流検出回路５４〜５７は、対応する可
変論理素子５０〜５３の消費電流を監視し、対応する可
変論理素子５０〜５３の消費電流のレベルが所定の閾値
を超えたときに、対応する可変論理素子５０〜５３のＯ
Ｅ端子５８〜６１に対して、対応する可変論理素子５０
〜５３の出力をハイインピーダンス状態にする制御信号
を与える。この制御信号を受けた可変論理素子は、出力
をハイインピーダンス状態にする。

【０２２５】一方、過電流検出回路５４〜５７は、対応
する可変論理素子５０〜５３の消費電流のレベルが所定
の閾値を超えていないときは、対応する可変論理素子５
０〜５３のＯＥ端子５８〜６１に対して、検証作業を実
行できる状態（通常の状態）にする制御信号を与える。
この制御信号を受けた可変論理素子は、通常の状態とな
る。

【０２２６】以下、以上の点を詳細に説明する。

【０２２７】図５は、図４の過電流検出回路５４の例示
図である。なお、図５において、図４と同一の部分につ
いては同一の符号を付している。

【０２２８】図５に示すように、過電流検出回路５４
は、抵抗器５４０、増幅器５４１、基準電圧発生回路５
４２、及び、比較器５４３、を含む。

【０２２９】次に、接続関係を説明する。

【０２３０】抵抗器５４０の一端は、電源線７５により
電源７６に接続され、他端は、電源線７０により可変論
理素子５０の電源端子６２に接続される。

【０２３１】増幅器５４１の一方入力は、抵抗器５４０
の一端に接続され、他方入力は、抵抗器５４０の他端に
接続される。増幅器５４１の出力は、比較器５４３の一
方入力に接続される。

【０２３２】比較器５４３の他方入力は、基準電圧発生
回路５４２に接続される。比較器５４３の出力は、配線
６６により可変論理素子５０のＯＥ端子５８に接続され
る。

【０２３３】次に、機能・動作を説明する。

【０２３４】抵抗器５４０は、その両端の電位差から、
可変論理素子５０に流れる電流の大きさを知るためのも
のである。つまり、抵抗器５４０の両端の電位差は、可
変論理素子５０の消費電流に対応した電圧である。

【０２３５】この抵抗器５４０の抵抗値は、可変論理素
子５０の通常の動作状態での消費電流による電圧降下に
よって、可変論理素子５０の動作に影響を与えない様に
十分小さな値とする。通常の動作状態とは、可変論理素
子５０に過大な電流が流れていないときの適正な動作状
態である。

【０２３６】増幅器５４１は、抵抗器５４０の両端の電
位差を増幅する。比較器５４３は、増幅器５４１で増幅
された抵抗器５４０の両端の電位差と、基準電圧発生回
路５４２が発生する基準電圧（以下、「所定の閾値電
圧」と呼ぶ。）と、を比較する。

【０２３７】そして、比較器５４３は、増幅器５４１で
増幅された抵抗器５４０の両端の電位差のレベルが、所
定の閾値電圧のレベルを超えたとき、可変論理素子５０
の出力をハイインピーダンス状態とする制御信号を、可
変論理素子５０のＯＥ端子５８に与える。

【０２３８】このように、比較器５４３は、可変論理素
子５０の消費電流に対応した電圧を増幅した電圧のレベ
ルが、所定の閾値電圧のレベルを超えたとき、可変論理
素子５０の出力をハイインピーダンス状態とする。

【０２３９】ここで、所定の閾値は、次の観点から定め
られる。可変論理素子５０と可変配線素子７４との間、
又は、可変論理素子５０と外部装置１との間、において
信号が衝突すると、可変論理素子５０に流れる電流が、
通常の動作状態で流れる電流より大きくなる。

【０２４０】そうすると、抵抗器５４０の両端の電位差
が、通常の動作状態のときより大きくなる。つまり、抵
抗器５４０の両端の電位差を監視することで、可変論理
素子５０に過大な電流が流れたことを検知できる。本実
施の形態では、このことを利用している。

【０２４１】なお、通常の動作状態とは、可変論理素子
５０に過大な電流が流れていないときの適正な動作状態
である。

【０２４２】そこで、所定の閾値電圧を、可変論理素子
５０が通常の動作状態のときの、抵抗器５４０の両端の
電位差に応じた電圧に設定する。

【０２４３】つまり、所定の閾値電圧を、通常の動作状
態での可変論理素子５０の消費電流に応じた電圧に設定
する。

【０２４４】こうすることで、可変論理素子５０に、通
常の動作状態より大きな電流が流れた場合、可変論理素
子５０の出力が、ハイインピーダンス状態にされる。

【０２４５】このため、可変論理素子５０と可変配線素
子７４との間の信号の衝突、及び、可変論理素子５０と
外部装置１との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理素子５０、可変配線素子７４、及び、外部装置１、に
過大な電流が流れることを防止できる。

【０２４６】その結果、論理エミュレーション装置５及
び外部装置１の破損を回避できて、検証対象回路の検証
作業を円滑に実行できる。

【０２４７】ここで、例えば、所定の閾値電圧は、経験
に基づき決定することができる。

【０２４８】一方、比較器５４３は、増幅器５４１で増
幅された抵抗器５４０の両端の電位差のレベルが、所定
の閾値電圧のレベルを超えていないときは、可変論理素
子５０を検証作業を実行できる状態（通常の状態）にす
る制御信号を、可変論理素子５０のＯＥ端子５８に与え
る。

【０２４９】なお、過電流検出回路５５〜５７の各々の
構成及び動作は、図５の過電流検出回路５４の構成及び
動作と同様である。また、過電流検出回路５５〜５７に
おける所定の閾値の設定は、図５の過電流検出回路５４
における所定の閾値の設定と同様である

【０２５０】さて、次に、図５の基準電圧発生回路５４
２の詳細を説明する。

【０２５１】図６は、図５の基準電圧発生回路５４２の
例示図である。なお、図６において、図５と同一の部分
については、同一の符号を付している。

【０２５２】図６に示すように、この基準電圧発生回路
５４２は、抵抗器５４４、５４５を含む。

【０２５３】抵抗器５４４の一端は、電源線７５に接続
され、他端は、比較器５４３の一方入力及び抵抗器５４
５の一端に接続される。抵抗器５４５の他端は、接地さ
れる。

【０２５４】このようにして、抵抗器５４４と抵抗器５
４５とで、電源電圧を所定の大きさに分圧し、所定の閾
値電圧を生成して、比較器５４３の一方入力に与える。

【０２５５】図７は、図５の基準電圧発生回路５４２の
他の例示図である。なお、図７において、図５と同一の
部分については、同一の符号を付している。

【０２５６】図７に示すように、この基準電圧発生回路
５４２は、抵抗器５４４、及び、可変抵抗器５４６を含
む。

【０２５７】抵抗器５４４の一端は、電源線７５に接続
され、他端は、比較器５４３の一方入力及び可変抵抗器
５４６の一端に接続される。可変抵抗器５４６の他端
は、接地される。

【０２５８】このようにして、抵抗器５４４と可変抵抗
器５４６とで、電源電圧を所定の大きさに分圧し、所定
の閾値電圧を生成して、比較器５４３の一方入力に与え
る。

【０２５９】図７では、図６の抵抗器５４５に代えて、
可変抵抗器５７６を設けているため、その抵抗値を変え
ることで、所定の閾値電圧を任意の値に設定できる。

【０２６０】このため、検証対象分割回路Ａ〜Ｄ、及
び、検証環境、に応じた所定の閾値電圧の設定が可能と
なる。

【０２６１】これにより、検証対象分割回路Ａ〜Ｄ、及
び、検証環境、に応じた適切な所定の閾値電圧と、可変
論理素子５０〜５３の消費電流に応じた電圧と、を比較
できる。

【０２６２】さて、以上のように、本実施の形態では、
出力制御回路は、可変論理素子５０〜５３ごとに、その
消費電流に応じた電圧（電気量）を検出し、検出した電
圧（電気量）のレベルが所定の閾値電圧のレベルを超え
たとき、その電圧（電気量）が検出された可変論理素子
５０〜５３の出力をハイインピーダンス状態にする。

【０２６３】より具体的には、この出力制御回路は、４
つの可変論理素子５０〜５３に対応して設けられる４つ
の過電流検出回路５４〜５７からなる。

【０２６４】そして、過電流検出回路５４〜５７の各々
は、対応する可変論理素子５０〜５３の消費電流に応じ
た電圧（電気量）を検出し、対応する可変論理素子５０
〜５３の消費電流に応じた電圧（電気量）のレベルが所
定の閾値電圧のレベルを超えたときに、対応する可変論
理素子５０〜５３の出力をハイインピーダンス状態にす
る。

【０２６５】これにより、可変論理素子５０〜５３に過
大な電流が流れたときに、対応する過電流検出回路５４
〜５７が、その可変論理素子５０〜５３の出力をハイイ
ンピーダンス状態にするように、所定の閾値電圧を設定
しておくことで、可変論理素子５０〜５３に過大な電流
が流れた場合、その可変論理素子５０〜５３の出力が、
ハイインピーダンス状態にされる。

【０２６６】このため、可変論理素子５０〜５３と可変
配線素子７４との間の信号の衝突、及び、可変論理素子
５０〜５３と外部装置１との間の信号の衝突、を回避で
きて、可変論理素子５０〜５３、可変配線素子７４、及
び、外部装置１、に過大な電流が流れることを防止でき
る。

【０２６７】その結果、論理エミュレーション装置５及
び外部装置１の破損を回避できて、検証対象回路の検証
作業を円滑に実行できる。

【０２６８】なお、本実施の形態では、各可変論理素子
間を接続する手段として可変接続素子を用いているが、
各可変論理素子間を直接接続した場合であっても、本実
施の形態を適用できる。

【０２６９】また、可変配線素子による接続と直接接続
とを組み合わせた場合であっても、本実施の形態を適用
できる。

【０２７０】また、可変論理素子の数は、４つに限られ
るものではなく、任意の数であっても、本実施の形態を
適用できる。

【０２７１】また、全ての可変論理素子が、外部装置と
接続されていない場合であっても、本実施の形態を適用
できる。

【０２７２】また、上記では、信号の衝突を原因とし
て、可変論理素子に過大な電流が流れる例を挙げたが、
信号の衝突以外の原因で過大な電流が流れた場合でも、
同様に動作し、同様の効果を発揮できることは言うまで
もない。

【０２７３】（実施の形態５）

【０２７４】図８は、本発明の実施の形態５における論
理エミュレーション装置のブロック図である。なお、図
８において、図１と同様の部分については、同一の符号
を付して、説明を適宜省略する。

【０２７５】図８に示すように、この論理エミュレーシ
ョン装置８は、可変論理素子１３、１４、電流−電圧変
換回路８０、８１、電源８２、８３、出力制御ユニット
８４、及び、閾値設定ユニット７９、を具備する。

【０２７６】次に、接続関係について説明する。

【０２７７】可変論理素子１３と可変論理素子１４と
は、配線１０２により接続される。外部装置１と可変論
理素子１３とは、配線１００により接続される。外部装
置１と可変論理素子１４とは、配線１０１により接続さ
れる。なお、配線１０２は、複数の信号線を含み、配線
１００、１０１の各々は、複数の信号線を含む。

【０２７８】可変論理素子１３、１４の各々には、検証
対象回路が分割して割り当てられる。具体的には、可変
論理素子１３には、検証対象分割回路Ａが割り当てられ
る。可変論理素子１４には、検証対象分割回路Ｂが割り
当てられる。

【０２７９】電源８３と、可変論理素子１３、１４の電
源端子８５、８６と、は電源線９４により接続される。
この電源８３により、電源線８３及び電源端子８５、８
６を介して、後述する、可変論理素子１３、１４の論理
実現回路に電源電圧が供給される。

【０２８０】電源８２と電流−電圧変換回路８０、８１
とは、電源線９５により接続される。そして、電源８２
が電源線９５により供給する電源電圧は、電流−電圧変
換回路８０、８１及び電源線９６、９７を介して、可変
論理素子１３、１４の電源端子８７、８８に与えられ
る。

【０２８１】この電源８２により、電源線９５、電流−
電圧変換回路８０、８１、及び、電源端子８７、８８を
介して、後述する、可変論理素子１３、１４の入出力回
路（Ｉ／Ｏ回路）に電源電圧が供給される。

【０２８２】電流−電圧変換回路８０、８１と、出力制
御ユニット８４と、は配線９３、９２により接続され
る。出力制御ユニット８４と、可変論理素子１３、１４
のアウトプットイネーブル端子（以下、「ＯＥ端子」と
呼ぶ。）８９、９０と、は配線９１により接続される。

【０２８３】次に、可変論理素子１３の詳細を説明す
る。

【０２８４】図９は、図８の可変論理素子１３のブロッ
ク図である。なお、図９において、図８と同一の部分に
ついては、同一の符号を付して、説明を適宜省略する。

【０２８５】図９に示すように、この可変論理素子１３
は、入出力回路（以下、「Ｉ／Ｏ回路」と呼ぶ。）９８
及び論理実現回路９９、を含む。この論理実現回路９９
に検証対象分割回路Ａが割り当てられる。

【０２８６】論理実現回路９９とＩ／Ｏ回路９８とは、
配線１５により接続される。Ｉ／Ｏ回路９８と図８の外
部装置１とは、配線１００により接続される。Ｉ／Ｏ回
路９８と図８の可変論理素子１４とは、配線１０２によ
り接続される。なお、配線１５は、複数の信号線を含
み、この複数の信号線は、配線１００の複数の信号線に
対応する複数の信号線と、配線１０２の複数の信号線に
対応する複数の信号線と、からなる。

【０２８７】Ｉ／Ｏ回路９８には、図８の電源８２か
ら、電流−電圧変換回路８０、電源線９６、及び、電源
端子８７、を介して、電源電圧が供給される。

【０２８８】一方、論理実現回路９９には、電源８３か
ら、電源線９４、及び、電源端子８５、を介して、電源
電圧が供給される。

【０２８９】このように、Ｉ／Ｏ回路９８と論理実現回
路９９とは、異なる電源８２、８３から、異なる電源電
圧が供給される。

【０２９０】また、論理実現回路９９には、図８の出力
制御ユニット８４から、配線９１及びＯＥ端子８９を介
して、制御信号が与えられる。

【０２９１】この可変論理素子１３は、内部で実現する
論理を変更できる素子であって、設定された論理に基づ
く機能を実現する。つまり、この可変論理素子１３は、
図１の可変論理素子２０、２１と同様のものである。

【０２９２】具体的には、可変論理素子１３は、機能を
プログラムできる回路（論理セル）、結線状態をプログ
ラムできる信号線（プログラム配線）、及び、プログラ
ムできる入出力回路（プログラムＩ／Ｏ）、を組み合わ
せたものである。

【０２９３】Ｉ／Ｏ回路９８は、プログラムＩ／Ｏに相
当し、論理実現回路９９は、論理セル及びプログラム配
線に相当する。

【０２９４】なお、図８の可変論理素子１４の構成及び
動作は、図９の可変論理素子１３の構成及び動作と同様
である。従って、以下では、可変論理素子１４のＩ／Ｏ
回路及び論理実現回路には、可変論理素子１３のＩ／Ｏ
回路９８及び論理実現回路９９と同一の符号を付して説
明する。

【０２９５】さて、次に、図８及び図９を参照して、各
構成の機能・動作を説明する。

【０２９６】電流−電圧変換回路８０は、可変論理素子
１３のＩ／Ｏ回路９８の消費電流を、それに対応する電
圧（以下、「消費電流データ」と呼ぶ。）に変換する。
電流−電圧変換回路８１は、可変論理素子１４のＩ／Ｏ
回路９８の消費電流を、それに対応する電圧に変換す
る。

【０２９７】この消費電流データは、配線９３、９２に
より、出力制御ユニット８４に与えられる。

【０２９８】出力制御ユニット８４は、可変論理素子１
３のＩ／Ｏ回路９８の消費電流の予測値に対応した所定
の閾値と、可変論理素子１４のＩ／Ｏ回路９８の消費電
流の予測値に対応した所定の閾値と、を有している。

【０２９９】そして、出力制御ユニット８４は、可変論
理素子１３、１４ごとに、消費電流データと所定の閾値
と、を比較し、消費電流データのレベルが所定の閾値を
超えたときは、所定の閾値を超えた消費電流データが検
出された可変論理素子のＯＥ端子に対して、その可変論
理素子のＩ／Ｏ回路９８の出力をハイインピーダンス状
態とする制御信号を与える。この制御信号を受けた可変
論理素子は、そのＩ／Ｏ回路９８の出力をハイインピー
ダンス状態にする。

【０３００】より具体的には、出力制御ユニット８４
は、所定の閾値を超えた消費電流データが検出された可
変論理素子のＯＥ端子に対して、制御信号を与え、その
可変論理素子のＩ／Ｏ回路９８の出力がハイインピーダ
ンス状態になるように、その可変論理素子の論理実現回
路９９の出力を制御する。

【０３０１】なお、出力制御ユニット８４は、可変論理
素子１３、１４のうちのいずれか１つから検出した消費
電流データのレベルが、所定の閾値を超えたときに、全
ての可変論理素子１３、１４のＯＥ端子８９、９０に対
して、制御信号を与え、全ての可変論理素子１３、１４
のＩ／Ｏ回路９８の出力をハイインピーダンス状態とす
ることもできる。

【０３０２】一方、出力制御ユニット８４は、消費電流
データのレベルが、所定の閾値を超えていないときは、
可変論理素子１３、１４のＯＥ端子８９、９０に対し
て、検証作業を実行できる状態（通常の状態）にする制
御信号を与える。この制御信号を受けた可変論理素子
は、通常の状態となる。

【０３０３】ここで、出力制御ユニット８４が用いる上
記した所定の閾値は、閾値設定ユニット７９によって与
えられる。

【０３０４】閾値設定ユニット７９は、可変論理素子１
３、１４のＩ／Ｏ回路９８の消費電流の予測値を次のよ
うにして求める。

【０３０５】即ち、事前に、各可変論理素子１３、１４
間の配線、及び、各可変論理素子１３、１４と外部装置
１との配線、を一定周期、例えば、１ＭＨzで、Ｈ（ハ
イ）→Ｌ（ロー）→Ｈ（ハイ）→Ｌ（ロー）と駆動する
場合の信号線１本あたりの消費電流を実験又は計算によ
り求める。

【０３０６】そして、閾値設定ユニット７９にて、可変
論理素子１３、１４ごとに割り当てられる検証対象分割
回路Ａ、Ｂの情報を基に、各可変論理素子１３、１４の
出力端子数と、最大動作可能周波数と、を求め、次式に
より、可変論理素子１３、１４ごとに、可変論理素子１
３、１４のＩ／Ｏ回路９８の消費電流の予測値を算出す
る。

【数１】 閾値設定ユニット７９は、（数１）により求めた消費電
流の予測値を基に、その予測値に対応する所定の閾値を
算出する。

【０３０７】ここで、１つの例として、上記した出力制
御ユニット８４及び閾値設定ユニット７９は、ワークス
テーションで構成でき、そうすると、出力制御ユニット
８４及び閾値設定ユニット７９による処理は、ワークス
テーション上のプログラムにより実行される。

【０３０８】この場合は、電流−電圧変換回路８０、８
１が出力する消費電流データ（アナログ信号）は、配線
９３、９２により、ワークステーションの拡張スロット
（図示せず）に挿入されたＡ／Ｄ変換基板（図示せず）
に与えられ、デジタル信号に変換される。

【０３０９】そして、ワークステーションは、Ａ／Ｄ変
換基板から可変論理素子１３、１４のＩ／Ｏ回路９８の
消費電流データを読み込み、そのレベルが、消費電流の
予測値に対応した所定の閾値を超えたときは、ワークス
テーションの拡張スロット（図示せず）に挿入されたデ
ジタルＩ/Ｏボード（図示せず）から、配線９１及びＯ
Ｅ端子８９、９０を介して、所定の閾値を超えた消費電
流データが検出された可変論理素子に制御信号を与え、
その可変論理素子のＩ／Ｏ回路９８の出力がハイインピ
ーダンス状態となるように制御する。

【０３１０】さて、以上のように、本実施の形態では、
出力制御ユニット８４は、可変論理素子１３、１４ごと
に、その消費電流データ（消費電流に応じた電気量）を
検出し、検出した消費電流データのレベルが所定の閾値
を超えたとき、その消費電流データが検出された可変論
理素子１３、１４の出力をハイインピーダンス状態にす
る。

【０３１１】より具体的には、出力制御ユニット８４
は、可変論理素子１３、１４のＩ／Ｏ回路９８ごとに、
その消費電流データを検出し、検出した消費電流データ
のレベルが所定の閾値を超えたとき、その消費電流デー
タが検出されたＩ／Ｏ回路９８の出力をハイインピーダ
ンス状態にする。

【０３１２】これにより、可変論理素子１３、１４に含
まれる、Ｉ／Ｏ回路９８と論理実現回路９９とが、異な
る電源から電源電圧が供給される場合において、Ｉ／Ｏ
回路９８に過大な電流が流れたときに、そのＩ／Ｏ回路
９８の出力がハイインピーダンス状態になるように、所
定の閾値を設定しておくことで、Ｉ／Ｏ回路９８に過大
な電流が流れた場合、そのＩ／Ｏ回路９８の出力が、ハ
イインピーダンス状態にされる。

【０３１３】このため、可変論理素子１３、１４と外部
装置１との間の信号の衝突、及び、可変論理素子１３と
可変論理素子１４との間の信号の衝突、を回避できて、
可変論理素子１３、１４及び外部装置１に過大な電流が
流れることを防止できる。

【０３１４】その結果、論理エミュレーション装置８及
び外部装置１の破損を回避できて、検証対象回路の検証
作業を円滑に実行できる。

【０３１５】さらに、本実施の形態では、閾値設定ユニ
ット７９は、可変論理素子１３、１４ごとの消費電流の
予測値に応じて、可変論理素子１３、１４ごとに所定の
閾値を設定する。

【０３１６】これにより、可変論理素子１３、１４ごと
の消費電流の予測値に応じた適切な所定の閾値と、対応
する可変論理素子１３、１４から検出した消費電流デー
タと、が比較されることになる。

【０３１７】このため、可変論理素子１３、１４に過大
な電流が流れたことを、より的確に検知できる。

【０３１８】従って、可変論理素子１３と可変論理素子
１４との間の信号の衝突、及び、可変論理素子１３、１
４と外部装置１との間の信号の衝突、をより確実に回避
できて、可変論理素子１３、１４及び外部装置１に過大
な電流が流れることをより確実に防止できる。

【０３１９】その結果、論理エミュレーション装置８及
び外部装置１の破損をより確実に回避できて、検証対象
回路の検証作業をより円滑に実行できる。

【０３２０】また、閾値設定ユニット７９が、可変論理
素子１３、１４の消費電流を予測する。このため、論理
エミュレーション装置８のユーザの手間を極力抑制でき
る。

【０３２１】なお、可変論理素子の数は、２つに限られ
るものではなく、任意の数であっても、本実施の形態を
適用できる。

【０３２２】また、全ての可変論理素子が、外部装置と
接続されていない場合であっても、本実施の形態を適用
できる。

【０３２３】また、各可変論理素子間の接続を、専用の
可変配線素子を用いて実現した場合であっても、本実施
の形態を適用できる。可変配線素子は、例えば、ＦＰＩ
Ｄである。

【０３２４】また、上記では、信号の衝突を原因とし
て、可変論理素子に過大な電流が流れる例を挙げたが、
信号の衝突以外の原因で過大な電流が流れた場合でも、
同様に動作し、同様の効果を発揮できることは言うまで
もない。

【０３２５】（実施の形態６）

【０３２６】図１０は、本発明の実施の形態６における
論理エミュレーション装置のブロック図である。なお、
図１０において、図１と同様の部分については、同一の
符号を付して、説明を適宜省略する。

【０３２７】図１０に示すように、この論理エミュレー
ション装置２００は、電源オン／オフ検出回路２１９、
電源２０１、スイッチング回路２３０、及び、可変論理
素子２０、２１、を具備する。

【０３２８】電源オン／オフ検出回路２１９は、ダイオ
ード２０６、２０７、抵抗器２０８、及び、リレー２０
９、２１０、を含む。

【０３２９】リレー２０９は、接点２１３及びコイル２
１１を含む。リレー２１０は、接点２１４及びコイル２
１２を含む。

【０３３０】スイッチング回路２３０は、バススイッチ
２０２、２０３を含む。このバススイッチ２０２、２０
３は、可変論理素子２０、２１に対応して設けられる。

【０３３１】次に接続関係を説明する。

【０３３２】ダイオード２０７のアノード端子及びコイ
ル２１１の一端は、電源線２１８に接続され、電源２０
１から電源電圧が与えられる。コイル２１１の他端は、
グラウンドに接続される。

【０３３３】ダイオード２０６、２０７のカソード端子
は、抵抗器２０８の一端に接続される。抵抗器２０８の
他端は、接点２１３の一端に接続されるとともに、配線
２１５により、バススイッチ２０２、２０３のアウトプ
ットイネーブル端子（以下、「ＯＥ端子」と呼ぶ。）２
０４、２０５に接続される。

【０３３４】接点２１３の他端は、接点２１４の一端に
接続される。接点２１４の他端は、グラウンドに接続さ
れる。

【０３３５】ダイオード２０６のアノード端子は、配線
２１６により、外部装置１の電源３００に接続されると
ともに、コイル２１２の一端に接続される。コイル２１
２の他端は、グラウンドに接続される。

【０３３６】外部装置１のグラウンドは、配線２１７に
より、論理エミュレーション装置２００のグラウンドに
接続される。

【０３３７】可変論理素子２０と可変論理素子２１と
は、配線１０２により接続される。なお、配線１０２
は、複数の信号線を含む。

【０３３８】可変論理素子２０と外部装置１とは、配線
１０５、バススイッチ２０２、及び、配線１００、を介
して接続される。配線１０５は、複数の信号線を含み、
この複数の信号線に対応して、配線１００は、複数の信
号線を含む。

【０３３９】可変論理素子２１と外部装置１とは、配線
１０６、バススイッチ２０３、及び、配線１０１、を介
して接続される。配線１０６は、複数の信号線を含み、
この複数の信号線に対応して、配線１０１は、複数の信
号線を含む。

【０３４０】上記した構成の基本的な動作を説明する。

【０３４１】リレー２０９では、論理エミュレーション
装置２００の電源２０１がオン状態になったら、接点２
１３がオンし、論理エミュレーション装置２００の電源
２０１がオフ状態になったら、接点２１３がオフする。

【０３４２】リレー２１０では、外部装置１の電源３０
０がオン状態になったら、接点２１４がオンし、外部装
置１の電源３００がオフ状態になったら、接点２１４が
オフする。

【０３４３】なお、電源２０１は、可変論理素子２０、
２１に、電源電圧を供給する。

【０３４４】次に、バススイッチ２０２の詳細を説明す
る。

【０３４５】図１１は、図１０のバススイッチ２０２の
例示図である。なお、図１１において、図１０と同一の
部分については、同一の符号を付している。

【０３４６】図１１に示すように、このバススイッチ２
０２は、インバータ２２０、及び、複数のＮＭＯＳトラ
ンジスタＭ１〜Ｍｎ（ｎは自然数）、を含む。

【０３４７】インバータ２２０の入力は、ＯＥ端子２０
４に接続され、インバータ２２０の出力は、ＮＭＯＳト
ランジスタＭ１〜Ｍｎのゲートに接続される。

【０３４８】ＮＭＯＳトランジスタＭ１〜Ｍｎの一方電
極は、配線１００の対応する信号線に接続され、他方電
極は、配線１０５の対応する信号線に接続される。

【０３４９】ＯＥ端子２０４への入力が、Ｌレベル（ロ
ーレベル）のときに、ＮＭＯＳトランジスタＭ１〜Ｍｎ
がオンとなり、配線１００の信号線が、配線１０５の対
応する信号線に接続される。

【０３５０】一方、ＯＥ端子２０４への入力が、Ｈレベ
ル（ハイレベル）のときに、ＮＭＯＳトランジスタＭ１
〜Ｍｎがオフとなり、配線１００と配線１０５と、が未
接続となる。

【０３５１】なお、バススイッチ２０３の構成及び動作
は、図１１のバススイッチ２０２の構成及び動作と同様
である。

【０３５２】さて、次に、図１０及び図１１を参照し
て、全体的な動作を説明する。

【０３５３】まず、外部装置１の電源３００がオンで、
かつ、論理エミュレーション装置２００の電源２０１が
オフの場合、の動作を説明する。

【０３５４】この場合、リレー２１０のコイル２１２に
電流が流れ、接点２１４がオンするが、リレー２０９の
接点２１３はオフのままである。

【０３５５】従って、外部装置１の電源電圧が、配線２
１６、ダイオード２０６、抵抗器２０８、及び、配線２
１５の経路で、バススイッチ２０２、２０３のＯＥ端子
２０４、２０５に伝達される。

【０３５６】これにより、配線２１５の電位がＨレベル
に固定され、バススイッチ２０２、２０３のＯＥ端子２
０４、２０５への入力がＨレベルに固定される。

【０３５７】そうすると、バススイッチ２０２、２０３
はオフの状態となり、論理エミュレーション装置２００
の可変論理素子２０、２１と、外部装置１と、は接続さ
れない。

【０３５８】次に、外部装置１の電源３００がオフで、
かつ、論理エミュレーション装置２００の電源２０１が
オンの場合、について説明する。

【０３５９】この場合、リレー２０９のコイル２１１に
電流が流れ、接点２１３がオンするが、リレー２１０の
接点２１４はオフのままである。

【０３６０】従って、論理エミュレーション装置２００
の電源電圧が、電源線２１８、ダイオード２０７、抵抗
器２０８、及び、配線２１５の経路で、バススイッチ２
０２、２０３のＯＥ端子２０４、２０５に伝達される。

【０３６１】これにより、配線２１５の電位がＨレベル
に固定され、バススイッチ２０２、２０３のＯＥ端子２
０４、２０５への入力がＨレベルに固定される。

【０３６２】そうすると、バススイッチ２０２、２０３
はオフの状態となり、論理エミュレーション装置２００
の可変論理素子２０、２１と、外部装置１と、は接続さ
れない。

【０３６３】次に、外部装置１の電源３００がオフで、
かつ、論理エミュレーション装置２００の電源２０１が
オフの場合、について説明する。

【０３６４】この場合、リレー２０９の接点２１３、及
び、リレー２１０の接点２１４、はオフする。

【０３６５】次に、外部装置１の電源３００がオンで、
かつ、論理エミュレーション装置２００の電源２０１が
オンの場合、について説明する。

【０３６６】この場合、リレー２０９のコイル２１１に
電流が流れ、接点２１３がオンし、かつ、リレー２１０
のコイル２１２に電流が流れ、接点２１４がオンする。

【０３６７】従って、配線２１５の電位は、Ｌレベルに
固定され、バススイッチ２０２、２０３のＯＥ端子２０
４、２０５への入力は、Ｌレベルに固定される。

【０３６８】そうすると、バススイッチ２０２、２０３
はオンの状態となり、論理エミュレーション装置２００
の可変論理素子２０、２１と外部装置１と、は接続され
る。

【０３６９】このように、本実施の形態では、スイッチ
ング回路２３０（バススイッチ２０２、２０３）は、外
部装置１の電源３００、及び、可変論理素子２０、２１
の電源２０１、の双方がオン状態のときにのみ、可変論
理素子２０、２１と外部装置１と、を接続する。

【０３７０】そして、外部装置１の電源３００、及び、
可変論理素子２０、２１の電源２０１、の一方がオフ
で、他方がオンのときは、可変論理素子２０、２１と外
部装置１と、は接続されない。

【０３７１】このため、外部装置１の電源３００、及
び、可変論理素子２０、２１の電源２０１、の一方がオ
フで、他方がオンのときに、電源がオンされた方からオ
フされた方へ、可変論理素子２０、２１と外部装置１と
を接続した配線１００、１０１を介して過大な電流が流
れることを防止できる。

【０３７２】その結果、可変論理素子２０、２１及び外
部装置１の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【０３７３】なお、可変論理素子の数は、２つに限られ
るものではなく、任意の数であっても、本実施の形態を
適用できる。

【０３７４】また、一部の可変論理素子が、外部装置と
接続関係になり得ない場合であっても、本実施の形態を
適用できる。

【０３７５】また、各可変論理素子間の接続を、専用の
可変配線素子を用いて実現した場合であっても、本実施
の形態を適用できる。可変配線素子は、例えば、ＦＰＩ
Ｄである。

【０３７６】

【発明の効果】請求項１記載の論理エミュレーション装
置では、可変論理手段の温度が過剰に上昇したときに、
その可変論理手段の出力がハイインピーダンス状態にな
るように、所定値を設定しておくことで、可変論理手段
に過大な電流が流れて、その温度が過剰に上昇した場
合、その可変論理手段の出力が、ハイインピーダンス状
態にされる。

【０３７７】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れ続けることを防止できる。

【０３７８】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【０３７９】請求項２記載の論理エミュレーション装置
では、可変論理手段の温度が過剰に上昇したときに、可
変論理手段の出力がハイインピーダンス状態になるよう
に、所定値を設定しておくことで、可変論理手段に過大
な電流が流れて、その温度が過剰に上昇した場合、全て
の可変論理手段の出力が、ハイインピーダンス状態にさ
れる。

【０３８０】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れ続けることを防止できる。

【０３８１】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【０３８２】請求項３記載の論理エミュレーション装置
では、検証対象回路を分割して各可変論理手段に割り当
てられた回路（検証対象分割回路）、及び、検証環境、
に応じた所定値の設定が可能となる。

【０３８３】請求項４記載の論理エミュレーション装置
では、可変論理手段ごとの動作温度の予測値に応じた適
切な所定値と、対応する可変論理手段から検出した温度
に応じた電気量と、が比較されることになる。

【０３８４】このため、可変論理手段に過大な電流が流
れ、その温度が過剰に上昇したことを、より的確に検知
できる。

【０３８５】従って、可変論理手段同士の信号の衝突、
可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及び、可
変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可変配線
手段との間の信号の衝突、をより確実に回避できて、可
変論理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な
電流が流れ続けることをより確実に防止できる。

【０３８６】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損をより確実に回避できて、検証対象回路
の検証作業をより円滑に実行できる。

【０３８７】請求項５記載の論理エミュレーション装置
では、外気温に応じた適切な所定値と、可変論理手段か
ら検出した温度に応じた電気量と、が比較されることに
なる。

【０３８８】このため、可変論理手段に過大な電流が流
れ、その温度が過剰に上昇したことを、より的確に検知
できる。

【０３８９】従って、可変論理手段同士の信号の衝突、
可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及び、可
変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可変配線
手段との間の信号の衝突、をより確実に回避できて、可
変論理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な
電流が流れ続けることをより確実に防止できる。

【０３９０】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損をより確実に回避できて、検証対象回路
の検証作業をより円滑に実行できる。

【０３９１】請求項６記載の論理エミュレーション装置
では、可変論理手段に過大な電流が流れたときに、その
可変論理手段の出力がハイインピーダンス状態になるよ
うに、所定値を設定しておくことで、可変論理手段に過
大な電流が流れた場合、その可変論理手段の出力が、ハ
イインピーダンス状態にされる。

【０３９２】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【０３９３】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【０３９４】また、可変論理手段の出力をハイインピー
ダンス状態にする際の判断要素として、可変論理手段の
温度ではなく、消費電流を用いている。

【０３９５】その結果、可変論理手段に流れる電流が過
大となり、可変論理手段の温度が上昇するまでのタイム
ラグ無しで、可変論理手段に流れる電流が過大であるこ
とを検出できる。

【０３９６】請求項７記載の論理エミュレーション装置
では、可変論理手段に過大な電流が流れたときに、可変
論理手段の出力がハイインピーダンス状態になるよう
に、所定値を設定しておくことで、可変論理手段に過大
な電流が流れた場合、全ての可変論理手段の出力が、ハ
イインピーダンス状態にされる。

【０３９７】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【０３９８】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【０３９９】請求項８記載の論理エミュレーション装置
では、検証対象回路を分割して各可変論理手段に割り当
てられた回路（検証対象分割回路）、及び、検証環境、
に応じた所定値の設定が可能となる。

【０４００】請求項９記載の論理エミュレーション装置
では、可変論理手段ごとの消費電流の予測値に応じた適
切な所定値と、対応する可変論理手段から検出した消費
電流に応じた電気量と、が比較されることになる。

【０４０１】このため、可変論理手段に過大な電流が流
れたことを、より的確に検知できる。

【０４０２】従って、可変論理手段同士の信号の衝突、
可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及び、可
変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可変配線
手段との間の信号の衝突、をより確実に回避できて、可
変論理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な
電流が流れることをより確実に防止できる。

【０４０３】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損をより確実に回避できて、検証対象回路
の検証作業をより円滑に実行できる。

【０４０４】請求項１０記載の論理エミュレーション装
置では、可変論理手段に過大な電流が流れたときに、対
応する過電流検出手段が、その可変論理手段の出力をハ
イインピーダンス状態にするように、所定値を設定して
おくことで、可変論理手段に過大な電流が流れた場合、
その可変論理手段の出力が、ハイインピーダンス状態に
される。

【０４０５】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【０４０６】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【０４０７】請求項１１記載の論理エミュレーション装
置では、可変論理手段に含まれる、入出力手段と論理実
現手段とが、異なる電源から電源電圧が供給される場合
において、入出力手段に過大な電流が流れたときに、そ
の入出力手段の出力がハイインピーダンス状態になるよ
うに、所定値を設定しておくことで、入出力手段に過大
な電流が流れた場合、その入出力手段の出力が、ハイイ
ンピーダンス状態にされる。

【０４０８】このため、可変論理手段同士の信号の衝
突、可変論理手段と外部装置との間の信号の衝突、及
び、可変配線手段が存在するときは、可変論理手段と可
変配線手段との間の信号の衝突、を回避できて、可変論
理手段、外部装置、及び、可変配線手段、に過大な電流
が流れることを防止できる。

【０４０９】その結果、論理エミュレーション装置及び
外部装置の破損を回避できて、検証対象回路の検証作業
を円滑に実行できる。

【０４１０】請求項１２記載の論理エミュレーション装
置では、外部装置の電源、及び、可変論理手段の電源、
の一方がオフで、他方がオンのときは、可変論理手段と
外部装置と、は接続されない。

【０４１１】このため、外部装置の電源、及び、可変論
理手段の電源、の一方がオフで、他方がオンのときに、
電源がオンされた方からオフされた方へ、可変論理手段
と外部装置とを接続した配線を介して過大な電流が流れ
ることを防止できる。

【０４１２】その結果、各可変論理手段及び外部装置の
破損を回避できて、検証対象回路の検証作業を円滑に実
行できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１における論理エミュレー
ション装置のブロック図

【図２】本発明の実施の形態２における論理エミュレー
ション装置のブロック図

【図３】本発明の実施の形態３における論理エミュレー
ション装置のブロック図

【図４】本発明の実施の形態４における論理エミュレー
ション装置のブロック図

【図５】図４の過電流検出回路の例示図

【図６】図６の基準電圧発生回路の例示図

【図７】図６の基準電圧発生回路の他の例示図

【図８】本発明の実施の形態５における論理エミュレー
ション装置のブロック図

【図９】図８の可変論理素子のブロック図

【図１０】本発明の実施の形態６における論理エミュレ
ーション装置のブロック図

【図１１】図１０のバススイッチの例示図

【図１２】従来の論理エミュレーション装置の例示図

【図１３】従来の論理エミュレーション装置の他の例示
図

【符号の説明】

１、５００ 外部装置 ２、３、４、５、８、２００、５０１、７０１ 論理エ
ミュレーション装置 １０、１１ 温度検出ユニット １３、１４、２０、２１、５０〜５３、５０２〜５０５
可変論理素子 １５、２８〜３０、３４、６６〜６９、９１〜９３、１
００〜１１０、２１５〜２１７、６００〜６１１ 配線 ２２、２３ プローブ ２４、２５、４０ 温度センサ ２６ Ａ／Ｄコンバータ ２７ 出力制御回路 ３１、３２、５８〜６１、８９、９０、２０４、２０５
アウトプットイネーブル端子（ＯＥ端子） ３３、３５、７９ 閾値設定ユニット ５４〜５７ 過電流検出回路 ６２〜６５、８５〜８８ 電源端子 ７０〜７３、７５、９４〜９７、２１８、５１２ 電源
線 ７４、５０７ 可変配線素子 ７６、８２、８３、２０１、３００、５０６ 電源 ８０、８１ 電流−電圧変換回路 ８４ 出力制御ユニット ９８ 入出力回路（Ｉ／Ｏ回路） ９９ 論理実現回路 ２０２、２０３ バススイッチ ２０６、２０７ ダイオード ２０８、５４０、５４４、５４５ 抵抗器 ２０９、２１０ リレー ２１１、２１２ コイル ２１３、２１４ 接点 ２１９ 電源オン／オフ検出回路 ２２０ インバータ ２３０ スイッチング回路 ５０８〜５１１ Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ 検証対象分割回路 ５４１ 増幅器 ５４２ 基準電圧発生回路 ５４３ 比較器 ５４６ 可変抵抗器 Ｍ１〜Ｍｎ ＮＭＯＳトランジスタ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木村 智生 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5J056 AA03 BB42 CC00 CC04 CC09 CC10

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】外部装置と接続して、検証対象回路の検証
   を行う論理エミュレーション装置であって、 前記検証対象回路が分割して割り当てられ、各々が、内
   部で実現する論理を変更できる複数の可変論理手段と、 前記複数の可変論理手段に対応して設けられ、各々が、
   対応する前記可変論理手段の温度を検出し、温度に応じ
   た電気量に変換する複数の温度検出手段と、 温度に応じた電気量のレベルが所定値に達したとき、そ
   の温度が検出された前記可変論理手段の出力をハイイン
   ピーダンス状態にする出力制御手段と、を備えることを
   特徴とする論理エミュレーション装置。
2. 【請求項２】前記出力制御手段は、いずれか１つの前記
   可変論理手段の温度に応じた電気量が前記所定値に達し
   たとき、全ての前記可変論理手段の出力をハイインピー
   ダンス状態にする、ことを特徴とする請求項１記載の論
   理エミュレーション装置。
3. 【請求項３】前記所定値を任意の値に設定する所定値設
   定手段、をさらに備えることを特徴とする請求項１又は
   ２記載の論理エミュレーション装置。
4. 【請求項４】前記所定値設定手段は、前記可変論理手段
   ごとの動作温度の予測値に応じて、前記可変論理手段ご
   とに前記所定値を設定する、ことを特徴とする請求項３
   記載の論理エミュレーション装置。
5. 【請求項５】前記所定値設定手段は、設置場所の気温に
   応じて、前記所定値を変更する、ことを特徴とする請求
   項３又は４記載の論理エミュレーション装置。
6. 【請求項６】外部装置と接続して、検証対象回路の検証
   を行う論理エミュレーション装置であって、 前記検証対象回路が分割して割り当てられ、各々が、内
   部で実現する論理を変更できる複数の可変論理手段と、 前記可変論理手段ごとに、その消費電流に応じた電気量
   を検出し、検出した電気量が所定値に達したとき、その
   電気量が検出された前記可変論理手段の出力をハイイン
   ピーダンス状態にする出力制御手段と、を備えることを
   特徴とする論理エミュレーション装置。
7. 【請求項７】前記出力制御手段は、いずれか１つの前記
   可変論理手段の消費電流に応じた電気量が前記所定値に
   達したとき、全ての前記可変論理手段の出力をハイイン
   ピーダンス状態にする、ことを特徴とする請求項６記載
   の論理エミュレーション装置。
8. 【請求項８】前記出力制御手段は、前記所定値を任意の
   値に設定する所定値設定手段、を含むことを特徴とする
   請求項６又は７記載の論理エミュレーション装置。
9. 【請求項９】前記所定値設定手段は、前記可変論理手段
   ごとの消費電流の予測値に応じて、前記可変論理手段ご
   とに前記所定値を設定する、ことを特徴とする請求項８
   記載の論理エミュレーション装置。
10. 【請求項１０】前記出力制御手段は、前記複数の可変論
    理手段に対応して設けられる複数の過電流検出手段、を
    含み、 前記過電流検出手段の各々は、対応する前記可変論理手
    段の消費電流に応じた電気量を検出し、対応する前記可
    変論理手段の消費電流に応じた電気量が前記所定値に達
    したときに、対応する前記可変論理手段の出力をハイイ
    ンピーダンス状態にする、ことを特徴とする請求項６、
    ８又は９記載の論理エミュレーション装置。
11. 【請求項１１】前記可変論理手段の各々は、 外部との間の入出力インタフェースである入出力手段
    と、 設定された論理に基づく機能を実現する論理実現手段
    と、を含み、 前記入出力手段は、前記論理実現手段に電源電圧を供給
    する電源とは異なる電源から電源電圧の供給を受け、 前記出力制御手段は、前記入出力手段ごとに、その消費
    電流に応じた電気量を検出し、検出した電気量が所定値
    に達したとき、その電気量が検出された前記入出力手段
    の出力をハイインピーダンス状態にする、ことを特徴と
    する請求項６から９記載の論理エミュレーション装置。
12. 【請求項１２】外部装置と接続して、検証対象回路の検
    証を行う論理エミュレーション装置であって、 前記検証対象回路が分割して割り当てられ、各々が、内
    部で実現する論理を変更できる複数の可変論理手段と、 前記外部装置の電源のオン／オフ状態、及び、前記可変
    論理手段の電源のオン／オフ状態を検出する電源オン／
    オフ検出手段と、 前記外部装置の電源、及び、前記可変論理手段の電源、
    の双方がオン状態のときにのみ、前記可変論理手段と前
    記外部装置と、を接続するスイッチング手段と、を備え
    ることを特徴とする論理エミュレーション装置。