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JP2003240709A - 特定成分の濃度測定方法及びそれに用いる濃度測定用接触子 - Google Patents

特定成分の濃度測定方法及びそれに用いる濃度測定用接触子

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JP2003240709A
JP2003240709A JP2002044634A JP2002044634A JP2003240709A JP 2003240709 A JP2003240709 A JP 2003240709A JP 2002044634 A JP2002044634 A JP 2002044634A JP 2002044634 A JP2002044634 A JP 2002044634A JP 2003240709 A JP2003240709 A JP 2003240709A
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Japan
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light
contact
concentration
contact portion
measuring
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JP2002044634A
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Shinji Uchida
真司 内田
Kiyoko Oshima
希代子 大嶋
Masahiko Shioi
正彦 塩井
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Priority to CNB038013983A priority patent/CN1300569C/zh
Priority to EP03705252A priority patent/EP1429136A1/en
Priority to US10/489,175 priority patent/US7262836B2/en
Priority to PCT/JP2003/001677 priority patent/WO2003071254A1/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3577Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing liquids, e.g. polluted water

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型の光学素子で大きな計測信号を得ること
ができる、特定成分の濃度測定方法及びそれに用いる濃
度測定用接触子を提供する。 【解決手段】 屈折率ncの測定対象物に屈折率nfの
接触部を密着させる工程A、接触部に波長λの光を角度
θで入射させる工程B、対象物内にしみ出し、伝播した
後帰還した光の強度を計測する工程C、計測結果に基づ
き対象物中の特定成分濃度を求める工程Dを含み、工程
Bで、下記式(数1)で算出した対象物内へのしみ出し
深さzが10ミクロン以上となるように角度θを設定す
る方法。 【数1】

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、グルコ−ス、コレ
ステロ−ル、エタノ−ル等の濃度を測定する、特定成分
の濃度測定方法及びそれに用いる濃度測定用接触子に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、減衰全反射(以降ATRと記述す
る)測定装置を用いて被検体、とりわけ生体や溶液の特
定成分を測定する方法が種々提案されている。
【0003】例えば、特開平9−113439号公報に
は、図4に示すように、平行に向かい合った一対の反射
面を備えた透明なATR素子41に上下の口唇42を密
着させて血糖値を測定する方法が提案されている。この
方法によると、ATR素子41を口にくわえて上下から
押さえつけた後、ATR素子41に光を入射させ、図4
の破線で示すようにATR素子41の反射面と口唇42
の境界で全反射を繰り返してATR素子41の外部にし
み出した光を分析する。
【0004】また、BME、Vol.5、No.8(日
本エムイー学会、1991)には、ZnSe光学結晶等
からなるATR素子を口唇の粘膜に密着させたのち、こ
のATR素子に波長9〜11ミクロンのレ−ザ光を進入
させてATR素子の内部で多重的に反射させ、その吸収
光、散乱反射光を分析することにより血糖値や血中エタ
ノ−ル濃度を測定する方法が提案されている。この方法
によると、リアルタイムに、かつ非侵襲的にグルコ−ス
濃度やエタノ−ル濃度、コレステロ−ル濃度等の特定成
分の濃度を測定することができる。この方法は、エバネ
ッセント光(いわゆる浸みだし光)を定量分析に応用し
たものである。ATR素子を進行する光はわずかに口唇
に浸入し、そこに存在する体液中の各成分の影響を受け
る。例えば、グルコ−スには光の波数が1080cm-1
において光吸収ピ−クが存在するため、この波数の光を
生体に照射した場合、生体中のグルコ−ス濃度の変化に
応じて、吸収量が異なってくる。従って、この光の生体
からの帰還光を測定することにより、体液の各種成分の
濃度変化にともなう吸収量の変化を検出することがで
き、すなわち、各成分の濃度を得ることが可能になる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来のATR測定装置は、以下のような問題点を
有していた。
【0006】一般に、ATR測定装置は物質の表面分析
に用いられることが多く、入射角度も45度がほとんど
であった。そのため、エバネッセント波の浸入する深さ
は、波長オ−ダであり、僅かな距離しか光が生体中を通
過しない。したがって、体液中を通過する光の光路長が
非常に短いために、体液によって吸収される光の吸収量
が非常に小さいので、1回の全反射では十分な信号強度
を得ることができなかった。
【0007】そこで、繰り返し全反射をさせて信号強度
を増加させることも試みられているが、何回も反射させ
るために素子が大型化し、光学素子のコストが高くなる
という問題点があった。また、素子が大きくなった結
果、測定範囲も広範囲にわたってしまい、測定したい場
所からの信号を得ることができなかった。
【0008】本発明は、上記の問題点に鑑み、小型の光
学素子で大きな計測信号を得ることができる、特定成分
の濃度測定方法及びそれに用いる濃度測定用接触子を提
供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記従来の課題を解決す
るために、本発明の濃度測定方法は、屈折率がncの測
定対象物に、屈折率がnfの物質からなる接触部を密着
させる工程A、前記接触部に入射角度θで光を入射させ
る工程B、前記接触部より前記測定対象物内にしみ出
し、前記測定対象物内を伝播した後前記接触部に帰還し
た前記光の強度を計測する工程C、前記工程Cにおいて
計測された前記光の強度に基づいて、前記測定対象物に
含まれる特定成分の濃度を算出する工程Dを含む特定成
分の濃度測定方法であって、前記工程Bにおいて、下記
式(数2)により算出した、前記接触部から前記測定対
象物内への前記光のしみ出し深さzが10ミクロン以上
となるように前記入射角度θを設定することを特徴とす
る。
【0010】
【数2】
【0011】ただし、zは前記しみ出し深さ(単位ミク
ロン)、λは前記接触部に入射する光の波長(単位ミク
ロン)、nfは前記接触部の屈折率、θは前記接触部に
入射する光の入射角度、ncは前記測定対象物の屈折率
をあらわす。
【0012】また、本発明の濃度測定用接触子は、測定
対象物に密着させる接触部と、前記接触部に照射する光
を入射するための光入力部と、前記光入力部より前記接
触部に照射され、前記接触部よりしみ出して前記測定対
象物内を伝播した後前記接触部に帰還した光を出射する
ための光出力部とを備えた濃度測定用接触子であって、
前記測定対象物内を伝播した後前記接触部に帰還した光
が、再び前記接触部に照射することなく前記光出力部よ
り出射することを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。
【0014】本発明の濃度測定方法は、屈折率がncの
測定対象物に、屈折率がnfの物質からなる接触部を密
着させる工程A、前記接触部に入射角度θで光を入射さ
せる工程B、前記接触部より前記測定対象物内にしみ出
し、前記測定対象物内を伝播した後前記接触部に帰還し
た前記光の強度を計測する工程C、前記工程Cにおいて
計測された前記光の強度に基づいて、前記測定対象物に
含まれる特定成分の濃度を算出する工程Dを含む特定成
分の濃度測定方法であって、前記工程Bにおいて、上記
式(数2)により算出した、前記接触部から前記測定対
象物内への前記光のしみ出し深さzが10ミクロン以上
となるように前記入射角度θを設定することを特徴とす
る。
【0015】ただし、zは前記しみ出し深さ(単位ミク
ロン)、λは前記接触部に入射する光の波長(単位ミク
ロン)、nfは前記接触部の屈折率、θは前記接触部に
入射する光の入射角度、ncは前記測定対象物の屈折率
をあらわす。
【0016】ここで、測定対象物が生体組織であり、特
定成分がグルコースであることが好ましい。また、接触
部に入射する光の波長λが1.1ミクロン〜10ミクロ
ンであることが好ましい。
【0017】また、工程Cにおいて、測定対象物内を伝
播した後接触部に帰還した光を、再び前記接触部に照射
することなく、前記光の強度を計測することが好まし
い。
【0018】また、本発明の濃度測定用接触子は、測定
対象物に密着させる接触部と、前記接触部に照射する光
を入射するための光入力部と、前記光入力部より前記接
触部に照射され、前記接触部よりしみ出して前記測定対
象物内を伝播した後前記接触部に帰還した光を出射する
ための光出力部とを備えた濃度測定用接触子であって、
前記測定対象物内を伝播した後前記接触部に帰還した光
が、再び前記接触部に照射することなく前記光出力部よ
り出射することを特徴とする。
【0019】ここで、接触部に入射する光の入射角度を
所定範囲に制限する光束遮断手段をさらに備えることが
好ましい。光束遮断手段としては、切り欠き部、光遮断
膜等が挙げられる。また、光束遮断手段がさらに光吸収
体を備えることが好ましい。
【0020】以下、本発明の実施の形態について、図面
を用いてさらに詳しく説明する。
【0021】(実施の形態1)本発明の実施の形態1に
ついて図1を用いて説明する。図1は本発明の実施の形
態1における特定成分の濃度測定方法及び濃度測定用接
触子を示す概略図である。
【0022】本実施の形態では、一例として、測定対象
物である生体組織に濃度測定用接触子を接触させて、特
定成分であるグルコースの濃度を計測する例について説
明する。
【0023】光源1には、例えば中赤外光を発生する光
源を用いる。例えばタングステンやSiC光源が好まし
い。特に、グルコ−スのような吸収波数が約1080c
-1や1033cm-1にあるような物質の濃度を測定す
るような場合、これらの光源を用いることが好ましい。
【0024】濃度測定用接触子2の材料としては、中赤
外光を透過し、化学的に安定で、機械的強度に優れてい
るものが好ましく、例えば、ゲルマニウムやシリコンを
用いる。
【0025】濃度測定用接触子2の材料としてシリコン
を用いる場合には、例えば、波長1.1〜10ミクロン
で透明なシリコン単結晶基板を用いる。特にホウ素やリ
ン等の不純物含有量が小さく、抵抗率も100Ωcm以
上のものが好ましい。さらには、抵抗率が1500Ωc
m以上のものが好ましい。これら高抵抗率のシリコン
は、約9〜10ミクロンの赤外波長で透過率が高く、こ
れらの波長帯に吸収領域を有するグルコ−ス等の物質を
測定する場合に好ましい。
【0026】光入力部3の表面には反射防止膜を設ける
ことが好ましい。反射防止膜の材料としては、例えばダ
イヤモンドライクカーボン(DLC)やZnSeを用い
る。膜厚としては約1.1から1.3ミクロンが好まし
く、更には1.2ミクロン程度が好ましい。
【0027】生体と密着させる接触部4は、例えば、そ
の生体と密着する部分の面積が2cm2以下であること
が好ましい。面積を2cm2以下にすることにより、生
体への食い込みが大きくなり、密着性がよくなって安定
に計測することができる。
【0028】接触部4の形状は特に限定するものではな
いが、略円形状であると、測定対象物が生体の場合は、
測定時の痛みが少ないため好ましい。更に外周部に面取
り部分、もしくは丸み部分を設けることにより、更に痛
みが低減化できるため好ましい。
【0029】光出力部5には、光入力部3と同様に反射
防止膜を設けることが好ましい。
【0030】このように本実施の形態の濃度測定用接触
子2は、光入力部3と接触部4と光出力部5とが一体化
されており、接触部4から帰還した光が再度接触部4に
照射されることなく直接、光出力部5より出射する構造
を有している。
【0031】次に、接触部4に入射させる光の入射角度
θについて説明する。入射角度θは上記式(数2)より
求める。ただし、zは前記しみ出し深さ(単位ミクロ
ン)、λは前記接触部に入射する光の波長(単位ミクロ
ン)、nfは前記接触部の屈折率、θは前記接触部に入
射する光の入射角度、ncは前記測定対象物の屈折率を
あらわす。
【0032】例えば、測定対象物として生体を用いる場
合、生体の屈折率をnc=1.3とし、接触部に屈折率
がnf=4のゲルマニウムを用い、しみ出し深さz=1
0ミクロン、グルコースの吸収波長を約9.6ミクロン
とした場合、上記式(数2)より、入射角度θは約21
度となる。
【0033】そこで、入射角度を21度、20度、また
は19度に設定して、口唇粘膜に本実施の形態の濃度測
定用接触子2を接触させて、分光スペクトルを計測した
結果を図2に示す。図からわかるように、入射角度が2
1度の場合、グルコースの吸収波長で吸収ピークが観察
された。入射角度が20度の場合も、1080cm-1
吸収ピークがあらわれ、入射角度が21度の場合よりも
S/Nが改善された。さらに入射角度が19度の場合
は、入射角度が20度の場合よりも飛躍的に吸光度が大
きく観察されていることがわかる。これは上記式(数
2)からわかるように、しみ出し深さzが約78ミクロ
ンに増大した結果、吸光度が増大したものである。した
がって、入射角度を約21度以下、すなわちしみ出し深
さを10ミクロン以上になるように設定することで、良
好なグルコース濃度の計測をすることができた。
【0034】(実施の形態2)本発明の実施の形態2に
ついて図3を用いて説明する。図3は、本実施の形態の
濃度測定用接触子の概略断面図である。
【0035】光源31から出射した光32は全方位に放
射されるが、これらの光を曲面ミラーやレンズ(図示し
ない)を用いてできるだけ集光させるとともに、平行光
線にして濃度測定用接触子33の光入力部40に入射さ
せることが好ましい。
【0036】しかし、光源31が点光源でないことか
ら、光32を完全な平行光にすることは困難なため、接
触部34に入射する光の入射角度θは一定とならない。
そのため、図に示したような入射角度がθ1となる光が
存在し、この光が光出力部35を介して、光検出器36
に入射することにより計測値に大きな影響を与える。こ
れは、接触部34に入射する光の入射角度が変われば、
生体内部を伝播する光の経路が変化するからである。
【0037】従って、入射角度をある特定の角度に限定
することが好ましく、そのため濃度測定用接触子33の
一部を切り欠き、第1の切り欠き部37及び第2の切り
欠き部38を形成する。これにより、特定の角度以外の
不要光線を多く遮断することができ、不要光線が光検出
器36に到達しなくなるため有用である。本実施の形態
のように、2ヶ所以上に切り欠き部を設けることで、光
検出器36に到達する光を、更に限定でき、接触部34
に入射する光の特定入射角度成分を多く検出できるので
特に好ましい。また、第1の切り欠き部37または/及
び第2の切り欠き部38に光吸収体を設けることが好ま
しい。
【0038】また、光入力部40または光出力部35に
光遮断膜39を設け、不要光が光検出器36に入射しな
いようにすることが好ましい。光遮断膜39の材料とし
ては、光を遮断するものであればよく、アルミニウム、
銀、金、タングステン、タングステンシリサイド等が挙
げられる。更には、光遮断膜39として光吸収体を用い
れば、光遮断膜39から反射して、濃度測定用接触子3
3の内部を繰り返し反射して、再び光検出器36に入射
する光の量を低減することができるので好ましい。
【0039】光吸収体の材料としては、2酸化チタン、
2酸化ケイ素、酸化タンタル、酸化ジルコニウムが、特
にグルコースの吸収波長の光を多く吸収することができ
るため好ましい。この中でも、2酸化ケイ素は、吸収も
大きくコストも安いため特に好ましい。
【0040】光検出器36は、特に限定するものではな
いが、例えば焦電センサやMCT検出器を用いる。
【0041】また、図示しないが、例えば光源31と濃
度測定用接触子33との間に分光手段を設けると、特定
成分の波長分光特性が計測できるので、種々の波長での
吸収特性を得ることができるため好ましい。特に干渉計
を用いた分光法FT−IR法は高感度な計測ができるた
め好ましい。
【0042】
【発明の効果】本発明によれば、小型の光学素子で大き
な計測信号を得ることができる、特定成分の濃度測定方
法及びそれに用いる濃度測定用接触子を提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における特定成分の濃度
測定方法及び濃度測定用接触子を示す概略図
【図2】同実施の形態における濃度測定用接触子を用い
て口唇粘膜の吸光度を測定した結果を示す特性図
【図3】本発明の他の実施の形態における濃度測定用接
触子を示す概略断面図
【図4】従来のATR素子を用いた濃度測定方法を示す
概略図
【符号の説明】
1,31 光源 2,33 濃度測定用接触子 3,40 光入力部 4,34 接触部 5,35 光出力部 6,36 光検出器 32 光 37 第1の切り欠き部 38 第2の切り欠き部 39 光遮断膜 41 ATR素子 42 口唇
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 塩井 正彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 2G059 AA01 BB04 BB12 CC16 EE02 EE10 EE12 GG10 HH01 HH06 JJ01 JJ11 JJ14 KK01 4C038 KK10 KL05 KL07 KM00 KX02 KY03 KY04 KY11

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 屈折率がncの測定対象物に、屈折率が
    nfの物質からなる接触部を密着させる工程A、前記接
    触部に入射角度θで光を入射させる工程B、前記接触部
    より前記測定対象物内にしみ出し、前記測定対象物内を
    伝播した後前記接触部に帰還した前記光の強度を計測す
    る工程C、前記工程Cにおいて計測された前記光の強度
    に基づいて、前記測定対象物に含まれる特定成分の濃度
    を算出する工程Dを含む特定成分の濃度測定方法であっ
    て、前記工程Bにおいて、下記式(数1)により算出し
    た、前記接触部から前記測定対象物内への前記光のしみ
    出し深さzが10ミクロン以上となるように前記入射角
    度θを設定することを特徴とする特定成分の濃度測定方
    法。 【数1】 ただし、zは前記しみ出し深さ(単位ミクロン)、λは
    前記接触部に入射する光の波長(単位ミクロン)、nf
    は前記接触部の屈折率、θは前記接触部に入射する光の
    入射角度、ncは前記測定対象物の屈折率をあらわす。
  2. 【請求項2】 測定対象物が生体組織であり、特定成分
    がグルコースであることを特徴とする、請求項1記載の
    特定成分の濃度測定方法。
  3. 【請求項3】 接触部に入射する光の波長λが1.1ミ
    クロン〜10ミクロンであることを特徴とする、請求項
    2記載の特定成分の濃度測定方法。
  4. 【請求項4】 工程Cにおいて、測定対象物内を伝播し
    た後接触部に帰還した光を、再び前記接触部に照射する
    ことなく、前記光の強度を計測することを特徴とする、
    請求項1記載の特定成分の濃度測定方法。
  5. 【請求項5】 測定対象物に密着させる接触部と、前記
    接触部に照射する光を入射するための光入力部と、前記
    光入力部より前記接触部に照射され、前記接触部よりし
    み出して前記測定対象物内を伝播した後前記接触部に帰
    還した光を出射するための光出力部とを備えた濃度測定
    用接触子であって、前記測定対象物内を伝播した後前記
    接触部に帰還した光が、再び前記接触部に照射すること
    なく前記光出力部より出射することを特徴とする濃度測
    定用接触子。
  6. 【請求項6】 接触部がゲルマニウムまたはシリコンで
    あることを特徴とする、請求項5記載の濃度測定用接触
    子。
  7. 【請求項7】 接触部の測定対象物と密着する部分の面
    積が2cm2以下であることを特徴とする、請求項5記
    載の濃度測定用接触子。
  8. 【請求項8】 接触部の外周形状が略円形状であること
    を特徴とする、請求項5記載の濃度測定用接触子。
  9. 【請求項9】 接触部の外周部に面取りまたは丸み部分
    を設けたことを特徴とする、請求項5記載の濃度測定用
    接触子。
  10. 【請求項10】 接触部に入射する光の入射角度を所定
    範囲に制限する光束遮断手段をさらに備えたことを特徴
    とする、請求項5記載の濃度測定用接触子。
  11. 【請求項11】 光束遮断手段が切り欠き部であること
    を特徴とする、請求項10記載の濃度測定用接触子。
  12. 【請求項12】 切り欠き部が、光入力部と接触部との
    間に設けた第1の切り欠き部と、前記接触部と光出力部
    との間に設けた第2の切り欠き部とからなることを特徴
    とする、請求項11記載の濃度測定用接触子。
  13. 【請求項13】 光束遮断手段が、少なくとも光入力部
    または光出力部に設けた光遮断膜であることを特徴とす
    る、請求項10記載の濃度測定用接触子。
  14. 【請求項14】 光束遮断手段がさらに光吸収体を備え
    たことを特徴とする、請求項10記載の濃度測定用接触
    子。
  15. 【請求項15】 光吸収体が酸化物であることを特徴と
    する、請求項14記載の濃度測定用接触子。
  16. 【請求項16】 酸化物が二酸化ケイ素であることを特
    徴とする、請求項15記載の濃度測定用接触子。
JP2002044634A 2002-02-21 2002-02-21 特定成分の濃度測定方法及びそれに用いる濃度測定用接触子 Withdrawn JP2003240709A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005323799A (ja) * 2004-05-14 2005-11-24 Jasco Corp 血糖値測定装置
WO2005115244A1 (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 生体情報測定用光学素子およびそれを用いた生体情報測定装置
JP2015200656A (ja) * 2014-04-09 2015-11-12 アントン パール ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAnton Paar GmbH 偏光プリズム、及び、測定装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005323799A (ja) * 2004-05-14 2005-11-24 Jasco Corp 血糖値測定装置
JP4563075B2 (ja) * 2004-05-14 2010-10-13 日本分光株式会社 血糖値測定装置
WO2005115244A1 (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 生体情報測定用光学素子およびそれを用いた生体情報測定装置
JP2015200656A (ja) * 2014-04-09 2015-11-12 アントン パール ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAnton Paar GmbH 偏光プリズム、及び、測定装置

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