JP2003231759A - プロテクトフィルム用ポリエチレンの製造方法およびそれを用いたプロテクトフィルム - Google Patents
プロテクトフィルム用ポリエチレンの製造方法およびそれを用いたプロテクトフィルムInfo
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Abstract
レジストのプロテクトフィルムとしての適性に優れるポ
リエチレンを長期に連続して安定に製造する技術を提供
する。 【解決手段】 超高圧圧縮機におけるエチレンの温度を
最高でも95℃以下に保った上でエチレンをラジカル重
合開始剤の存在下、反応温度190℃〜300℃、反応
圧力167MPa以上で重合することにより得られるポ
リエチレンをプロテクトフィルムとして用いる。
Description
および該フィルム用ポリエチレンの製造方法に関する。
より詳しくはフィルムレジストに直接積層されてこれを
保護するプロテクトフィルムおよび該フィルム用ポリエ
チレンの製造方法に関する。プロテクトフィルムは、保
護フィルム、マスキングフィルムまたはカバーフィルム
ともいうことがある。
フレームやプリント配線板の製造時にエッチングレジス
トとして用いられる感光層を形成するためのフィルムレ
ジスト(ドライフィルムレジストともいう)は、一般に
支持フィルム(ポリエステル等からなるフィルムが多
い)の上ポジ型またはネガ型の感光性組成物が形成さ
れ、さらにその上に保護のためのプロテクトフィルムが
積層されて構成される。感光性組成物としては、未露光
部(ネガ型)または露光部(ポジ型)がアルカリ水溶液
で除かれるアルカリ現像型と、有機溶剤により除かれる
溶剤現像型が知られている。感光性組成物は固体状では
あるが、形状が変化しない硬質な固体ではなく一定の寸
法変形度合を有するものである。
ストを用いてメタルエッチング法によりプリント回路配
線板やリードフレームを製造する方法を以下に示す。ま
ず、フィルムレジストに直接積層されているプロテクト
フィルムを剥離し、圧着ロールにより銅張り積層板等の
金属基板にフィルムレジストが接する様にラミネート
(積層)する。次に、所望のパターンが描画されたマス
クを通して露光により金属基板上のフィルムレジストに
パターンを焼き付ける。弱アルカリ水で現像処理し、金
属基板上にレジストパターンを形成する。このレジスト
パターンをマスクにして金属基板をエッチングした後、
レジストパターンを強アルカリ水で剥離・除去すれば、
プリント回路配線板やリードフレームが製造される。
後、金属基板と積層するラミネート工程においては、特
開平11−153861号公報が指摘するように、金属
基板とフィルムレジストの界面にエアーボイドが発生
し、このエアーボイドの存在のためにレジストパターン
形成の際にパターン欠損を生じたり、金属基板のエッチ
ングの際に回路線部欠損部が生じるなどの恐れがある。
このため、上記特開平11−153861号公報では、
直径80μm以上のフィッシュアイの少ないフィルムを
提案する。
る高密度化に対応し要求される回路の線幅はさらに狭い
ものとなっているのは周知の事実であるところ、上記公
報提案より先を行く直径80μmよりも微小なフィッシ
ュアイの生成原因を探究するのは、それが微小であるた
め困難である。それ故、このような微小フィッシュアイ
の少ないフィルム製造も容易ではない。例えば、本発明
者らの研究によると、80μmよりも微小な30μm程
度のフィッシュアイは、その測定自体が困難なほか、た
とえそれを克服し測定可能としてもそれが少ないフィル
ムは一応は製造可能ではあるが、実際上は連続した長期
間の製造が難しく、それゆえ工業的な製造としては製造
可能といえるものではない。しかも現象が突発的、偶発
的のゆえ、さらにその解明が困難である。
課題を解決することにある。特に高度の保護機能が要求
されるドライフィルムレジストのプロテクトフィルムと
しての適性に優れるポリエチレンの長期連続製造方法を
確立することを通して、新規プロテクトフィルム、その
製造方法およびそれを用いる積層体の製造方法を提供す
ることにある。
を解決すべく高圧法低密度ポリエチレンの製造方法およ
びそれから得られたポリエチレンフィルムにつき鋭意検
討を続けた結果、超高圧圧縮機でのエチレン温度を最高
でも95℃を越えない温度とすることにより上記課題を
解決し、長期連続製造時における品質の安定性向上に寄
与するという知見を得て、ドライフィルムレジストにお
けるプロテクトフィルムとしての適性を更に向上させる
ことに成功した。
によりエチレンを昇圧し、ついでラジカル重合開始剤の
存在下、反応温度190℃〜300℃、反応圧力167
MPa以上でエチレンを重合すると共に、その際の超高
圧圧縮機におけるエチレンの温度を95℃を越えない温
度に保つことにより得られるポリエチレンからなること
を特徴とするプロテクトフィルムに関する。
るエチレンに対する濃度が5〜1000重量ppmとな
る割合のラジカル重合禁止剤を反応系内に共存させるこ
とによりえられるポリエチレンからなることを特徴とす
る上記第1記載のプロテクトフィルムに関する。
系またはキノン系化合物である上記第2記載のプロテク
トフィルムに関する。
攪拌槽型反応器を用い、反応器内平均滞留時間が5〜3
0秒となる条件を用いる上記第1ないし第3のいずれか
に記載のプロテクトフィルムに関する。
(g/10分)、密度:0.913〜0.930(g/
cm3 )であり、30μm厚みのフィルムとして、ヘー
ズが1〜50(%)、フィルム中に存在する長径30μ
m以上0.20mm未満のフィッシュアイ存在密度が2
0個/10cm2 以下、長径0.20mm以上のフィッ
シュアイ存在密度が0.6個/1.0m2 以下であるこ
とを特徴とするポリエチレンフィルムからなる上記第1
ないし第4のいずれかに記載のプロテクトフィルムに関
する。
ずれかに記載のプロテクトフィルムがフィルムレジスト
に直接積層されてなる積層体に関する。
レンを昇圧し、ついでラジカル重合開始剤の存在下、反
応温度190℃〜300℃、反応圧力167MPa以上
でエチレンを重合すると共に、その際の超高圧圧縮機に
おけるエチレンの温度を95℃を越えない温度に保つこ
とを特徴とするプロテクトフィルム用ポリエチレンの製
造方法に関する。
るエチレンに対する濃度が5〜1000重量ppmとな
る割合のラジカル重合禁止剤を反応系内に共存させるこ
とを特徴とする上記第7記載の方法に関する。
系またはキノン系化合物である上記第8記載の方法に関
する。
に攪拌槽型反応器を用い、反応器内平均滞留時間が5〜
30秒となる条件を用いる上記第7ないし第9のいずれ
かに記載の方法に関する。
が、MFR:0.3〜30(g/10分)、密度:0.
913〜0.930(g/cm3 )であり、30μm厚
みのフィルムとして、ヘーズが1〜50(%)、フィル
ム中に存在する長径30μm以上0.20mm未満のフ
ィッシュアイ存在密度が20個/10cm2 以下、長径
0.20mm以上のフィッシュアイ存在密度が0.6個
/1.0m2 以下であることを特徴とする上記第7ない
し第10のいずれかに記載の方法に関する。
チレンを昇圧し、ついでラジカル重合開始剤の存在下、
反応温度190℃〜300℃、反応圧力167MPa以
上で重合すると共に、その際の超高圧圧縮機におけるエ
チレンの温度を95℃を越えない温度に保ってポリエチ
レンを製造し、得られたポリエチレンを製膜して、MF
R:0.3〜30(g/10分)、密度:0.913〜
0.930(g/cm 3 )、30μm厚みのフィルムと
して、ヘーズが1〜50(%)、フィルム中に存在する
長径30μm以上0.20mm未満のフィッシュアイ存
在密度が20個/10cm2 以下、長径0.20mm以
上のフィッシュアイ存在密度が0.6個/1.0m2 以
下であるポリエチレンフィルムとし、このポリエチレン
フィルムをプロテクトフィルムとしてフィルムレジスト
に直接積層することを特徴とする積層体の製造方法に関
する。
に超高圧圧縮機出口におけるエチレンに対する濃度が5
〜1000重量ppmとなる割合のラジカル重合禁止剤
を反応系内に共存させることを特徴とする上記第12記
載の方法に関する。
る。本発明のプロテクトフィルムに用いられるポリエチ
レンは、有機過酸化物、酸素等をラジカル重合開始剤と
して使用するエチレンの高圧ラジカル重合法により製造
される。
圧圧縮機により昇圧させた後、管状反応器または攪拌槽
型反応器に導入してラジカル重合開始剤の存在下にエチ
レンを重合させ、その後適宜に脱圧してポリエチレンを
製造する方法である。
化合物であり、酸素やt−ブチルパーオキシピバレー
ト、t−ブチルパーオキシオクトエート、t−ブチルパ
ーオキシアセテート、t−ブチルパーオキシベンゾエー
ト等の有機過酸化物が挙げられる。ラジカル重合開始剤
は、常法により反応器内へ注入される。
圧圧縮機の二段階の圧縮で達成される。エチレンを約1
0〜40MPaまで昇圧するのが高圧圧縮機で、そこか
ら更に反応圧力、例えば167MPa以上まで昇圧させ
るのが超高圧圧縮機である。超高圧圧縮機から出たエチ
レンは反応器内に導入されそこで別途供給されるラジカ
ル重合開始剤によってラジカル重合する。超高圧圧縮機
は前記のように高圧圧縮機で圧縮されたエチレンを反応
圧力まで圧縮するのであるが、通常多段で圧縮する構造
を採用する。
レンの温度が最高でも95℃以下、好ましくは93℃以
下とするものである。最も温度が高くなる部位の最高温
度の下限値は特に制限されず、反応器への影響を考慮し
て定めることができるが、通常は70℃以上が好まし
い。圧縮によりエチレン温度は上昇するが適宜のクーラ
ー等を用いて冷却し、エチレンの温度が圧縮工程におい
て最高でも95℃以下の範囲に保つ。特に圧縮機内部に
設けるインタークーラー入口付近での温度が最も高くな
ることが多いので、圧縮機へ入るエチレンの冷却等に十
分配慮し上記温度範囲とすることが肝要である。また圧
縮後にさらに冷却するために適宜にアフタークーラーも
設けることができる。
由は不明であるが前記した30μ程度の微小なフィッシ
ュアイの偶発的生成に関連があり、上記温度規制を採用
したエチレンを重合することにより、かかる微小フィッ
シュアイの偶発的、断続的な生成が劇的に消滅すること
が判明したのである。本発明の反応器としては、前記の
管状反応器または攪拌槽型反応器のいずれも採用するこ
とができるが、管状反応器は反応器内壁にフィッシュア
イの核となりうる重合体が付着しやすいため攪拌槽型反
応器の方が好ましい。
けるエチレン温度を管理・制御することが肝要であっ
て、反応器に直接供給されるエチレンの温度としては特
に限定されるものではない。従って、例えば超高圧圧縮
機を出た後におけるエチレンを熱交換器により適宜に加
熱または冷却し、これを反応器に供給することができ
る。それ故場合によってはかなり高温に予熱されたエチ
レンが直接反応器に導入されることもある。しかしなが
ら、通常は本発明においては超高圧圧縮機を出た後のエ
チレンはアフタークーラーで更に冷却したエチレンとす
ることが好ましい。たとえば、そのエチレンの温度(反
応器入口のエチレン温度)としては80℃以下、更に好
ましくは70℃以下にまで冷却したエチレンを反応器に
導入する。その下限値は臨界温度以上であればよく、例
えば20℃以上、好ましくは30℃以上とすることがで
きる。
0℃、好ましくは200〜280℃、さらに好ましくは
210〜265℃である。反応温度が上記範囲を外れた
場合、何れも重合体同士の架橋反応が促進されフィッシ
ュアイの存在密度が増加する。ここで、重合の反応温度
の下限値は、反応器内でエチレンガスと重合開始剤が最
初に接触する部位より下流で、重合が進行し比較的はっ
きり温度上昇している部分の温度を表し、上限値は反応
器内の最高温度を表す。
阻害しない限り、適宜の種類と量の極性モノマー、たと
えば酢酸ビニル、(メタ)アクリル酸エステル等をエチ
レンに共重合させることもできる。
ここで、反応圧力とは反応器内の最低圧力を意味し、具
体的には167MPa以上、好ましくは190MPa以
上である。反応圧力が、167MPaより低いと反応器
内で一部エチレンとポリエチレン濃厚相との相分離が起
こる領域が発生し、それにより形成されたポリエチレン
濃厚相においてポリエチレン同士の接触確率が高まりポ
リエチレンの架橋反応が起りやすくなる。そのため、1
67MPa未満の圧力では微小フィッシュアイを減少さ
せることが難しい。反応圧力が167MPa以上である
ならば反応器内の相は均一であり、それだけ架橋反応が
起りがたい。重合圧力は高圧であるほど好ましいが、プ
ロセス内各機器の耐圧に制限があるので、実質的に反応
圧力の上限は、393MPa程度である。
相型反応器の場合、5〜30秒、好ましくは8〜25
秒、さらに好ましくは10〜18秒となるように反応原
料の供給速度等を操作する。平均滞留時間が5秒より短
いと未反応のラジカル重合開始剤が反応器より下流へ流
出することになり、攪拌状態の悪い配管内や分離器内で
反応を開始させることとなる。分散不良の状態で開始剤
が分離すると重合体が局部架橋してフィッシュアイを生
成するとともに、異常反応につながる懸念がある。ま
た、30秒より長いと生成した重合体が遊離基の存在す
る環境に長時間晒されるため、架橋が促進される。ここ
で、反応器内平均滞留時間とは反応器内容積(m3 )を
反応器に入る全エチレンガスの容積流量速度(m3 /
秒)で割った値を表す。
応系内に重合禁止剤を共存させることが好ましい。この
手段を併用することで相乗的にフィッシュアイ、特に微
小フィッシュアイの減少を達成することができる。
レンに対して5〜1000重量ppmである。好ましく
は50〜500重量ppm、さらに好ましくは100〜
300重量ppmである。上記範囲を超える重合禁止剤
の使用量では、エチレン等モノマー自体の重合を阻害す
る可能性があるほか、低分子量成分の増加によるフィル
ムのすべり性が低下する等のプロテクトフィルムとして
の性能に悪影響を与えるので実際的ではない。用いる重
合禁止剤の種類によって異なるが、下限未満ではフィッ
シュアイの低減効果が不充分であるので実際的でない。
なお、後記するように通常未反応エチレンは循環・再使
用されるため、超高圧圧縮機出口においてその流量が最
大となる。重合禁止剤は、当該出口個所において上記濃
度になるような割合で反応系に共存させる。
た反応系内に共存する限り、適宜に任意の個所にこれを
注入・添加することができる。重合禁止剤の種類によっ
ては、循環使用されるエチレン中に一部溶存するものも
あるので、超高圧圧縮機出口より後の個所で添加する方
法も可能であるが、未反応エチレン回収系でのロスが多
く、超高圧圧縮機系での濃度を充分とすることが困難で
あるため、注入・添加位置としては超高圧圧縮機より前
で添加するのが好ましい。具体的には、高圧圧縮機入口
より前、または高圧圧縮機出口より下流で超高圧圧縮機
入口より上流である。また、重合禁止剤は、単独で添加
してもいいし、エチレン、分子量調節剤等と予め混合し
て反応系に添加してもよい。
チレンのラジカル重合禁止剤であるならばいずれのもの
も使用することができる。具体的には、フェノール系化
合物、キノン系化合物が例示される。具体的には、ハイ
ドロキノン、モノメチルエーテルハイドロキノン、2,
6−ジt−ブチル−4−メチルフェノール、2,6−ジ
t−ブチル−4−エチルフェノール、3,5−ビス
(1,1−ジメチルエチル)−4−ヒドロキシベンゼン
プロピオン酸オクタデシルエステル、チオビスフェノー
ル、キノン、4−t−ブチルピロカテコール等を挙げる
ことができる。この中でも、比較的低分子量で極性が大
きすぎずエチレン中への分散性が良いモノメチルエーテ
ルハイドロキノン、2,6−ジt−ブチル−4−メチル
フェノール、2,6−ジt−ブチル−4−エチルフェノ
ール等が好ましい。これらの中でも重合反応自体を過度
に抑制しない2,6−ジt−ブチル−4−メチルフェノ
ール、2,6−ジt−ブチル−4−エチルフェノール等
がさらに好ましい。これら重合禁止剤は、単独または2
種以上組合わせて用いてもよい。また、重合禁止剤は溶
媒に溶解した溶液として反応系に添加することができ
る。ここで用いる溶媒としては、例えば炭素数6〜14
程度の飽和炭化水素が挙げられる。場合によってはこれ
らの溶媒を2種以上組合わせて用いてもよい。この溶媒
は重合禁止剤の良溶媒であり、かつ重合系に悪影響を与
えないものが望ましい。また、沸点やポリマーとの分離
効率を考慮し、重合体中に残存する量ができるだけ小さ
くなるものを選ぶことが好ましい。
に使用することができ、これには種々の連鎖移動剤を使
用することが可能である。具体的な連鎖移動剤として
は、プロピレン、ブテン、ヘキセン等のオレフィン系化
合物、エタン、プロパン、ブタン等のパラフィン類、ト
ルエン、キシレン、エチルベンゼン等の芳香族炭化水素
類等を挙げることができる。
リエチレン、たとえば、MFR(JIS K 6760
(温度190℃、荷重2.16kg))が0.3〜30
(g/10分)、密度(JIS K 6760)が0.
913〜0.930(g/cm3 )のポリエチレンが得
られる。脱圧時回収される未反応エチレンは、適宜に再
度昇圧し循環・再使用することができる。得られるポリ
エチレンのMFRは0.3〜30であればよく、1〜1
0が好ましく、2〜5が特に好ましい。MFRがこの範
囲外である場合、安定したフィルム成形が困難になる。
密度は、0.913〜0.930であればよく、0.9
18〜0.930が好ましく、0.920〜0.928
が特に好ましい。密度が0.913未満ではフィルムの
剛性が低下し、作業性が悪くなりすぎる恐れがあり、
0.930を超える場合にはフィルムの柔軟性が低下
し、プロテクトフィルムとして使用した場合フィルムの
密着性に問題が生じる恐れがある。
方法としては、公知のフィルム成形方法を採用すること
ができる。たとえば、フィルム成形に当たっては、イン
フレーション法(空冷法、水冷法)、Tダイ法等何れの
フィルム成形方法によることも可能で、場合により一軸
延伸、二軸延伸処理等の延伸処理を加えることもでき
る。フィルム成形における成形温度、引取り速度に特に
制限はないが、一般には成形温度130〜230℃、引
取り速度5〜40m/min程度が好適である。フィル
ム厚みは適宜に選択されるが、プロテクトフィルムとし
ては一般的には10〜100μm程度が好ましく、さら
に好ましくは5〜30μmの厚みである。なお、本発明
のプロテクトフィルムを構成するポリエチレンには、本
発明のフィッシュアイ等の規定に悪影響を与えない範囲
で、直鎖状低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、
エチレン−プロピレン共重合体、エチレン−ブテン共重
合体等のポリオレフィン系樹脂をブレンドしてもよい。
また、必要に応じて通常ポリオレフィンで使用される添
加剤、具体的には酸化防止剤、ブロッキング防止剤、滑
剤、帯電防止剤、紫外線吸収剤等を添加してもよい。
共存させてポリエチレンを製造する場合、反応系内に存
在させたラジカル重合禁止剤は一定量が製品中に残存す
る。この残存ラジカル重合禁止剤が酸化防止能をも有
し、かつその濃度が充分な場合などには、製品ポリエチ
レン中には特に酸化防止剤を加えないとすることもでき
る。
ことにより得られる本発明のプロテクトフィルムは、3
0μm厚みのフィルムで測定した際、ヘーズ(JIS
K7105で測定)が1〜50(%)、フィルム中に存
在する長径30μm以上0.20mm未満のフィッシュ
アイ存在密度が20個/10cm2 以下、長径0.20
mm以上のフィッシュアイ存在密度が0.6個/1.0
cm2 以下を満たすものである。
光から観察される光学的不均一領域を意味するものであ
る。大径のフィッシュアイ、たとえば80μm程度のも
のは異物であることが多い。しかし微小径のフィッシュ
アイ、たとえば30μm程度のものは、微小径であるた
めにそれ自身の解明が不充分なこともあり、その成因は
不明であって解決策も不充分である。まして透過光で観
察される光学的不均一領域としての微小径フィッシュア
イが、前記エアーボイド発生に直接相関するとは予想さ
れ得ない。
(大フィッシュアイ)は、酸化劣化樹脂等が主な要因で
ある。これらはフィルム平滑性に重大な影響を与えるた
め可能な限り存在しないのが好ましく、具体的には0.
6個/1.0m2 以下、好ましくは0.3個/1.0m
2 以下である。また、大フィッシュアイの長径の上限
は、重大な外観不良・密着不良を防止する観点から、
1.5mm程度にとどめるべきである。
アイは、長径30μm以上0.20mm未満のフィッシ
ュアイ(小フィッシュアイ)の個数が20個/10cm
2 以下、好ましくは10個/10cm2 以下、更に好ま
しくは2個/10cm2 以下とする。小フィッシュアイ
の個数の下限は、当該フィルムの製造条件管理上等か
ら、通常小フィッシュアイが0.05個/10cm2 で
ある。上記小フィッシュアイの個数範囲は、直径が80
μm以上のフィッシュアイの個数としては5個/m2 以
下の個数のものに略相当する。フィッシュアイの個数は
その径が減少するにつれて個数が累進的に増加すること
が認められ、それ故たとえ80μmのフィッシュアイの
個数が0(ゼロ)であっても、30μm程度のフィッシ
ュアイはかなりの個数が存在するのが通常である(30
μmの微小フィッシュアイはその測定法が難しいことを
考慮しても存在すると考えられる)。
ュアイの存在密度は、簡易クリーンルーム(清浄度:F
ederal Standard 209Dのクラス1
0000)内で、空冷式インフレーションフィルム成形
機(モダンマシナリー社製、押出機バレル径45mm、
ダイ径80mm)を用い、押出機の温度設定をシリンダ
ー部130〜150℃、アダプター・ダイ部150℃、
引取り速度20m/min、ブローアップ比2.0の条
件で成形した、厚さ30μmのフィルムから求めるもの
である。
のとおりである。長径0.20mm以上の大フィッシュ
アイは、フィルム成形機に取り付けたレーザーカウンタ
ー又はCCDカメラによるインライン測定によるもので
あり、長径30μm以上0.20mm未満の小フィッシ
ュアイの測定は、解像度1600dpiのCCDスキャ
ナを使用し透過モードでの画像をオフライン解析する方
法を基準とする。測定面積は、長径30μm以上0.2
0mm未満の小フィッシュアイ測定の場合100cm2
以上、長径0.20mm以上の大フィッシュアイ測定の
場合100m2 以上とし、それぞれの実測カウント数を
所定の単位面積あたりに換算する。
を例示する。既に説明したように、ドライフィルムレジ
ストは、ポリエチレンテレフタレート等からなるベース
フィルム上に、感光性樹脂層のレジスト層が形成され、
さらにその上面に、レジスト層を直接接するプロテクト
フィルムとしてのポリエチレンフィルムが積層された構
成となっている。用いるレジストとしては、ドライフィ
ルムレジストとして使用できるものならば従来公知のい
ずれのものも用いることができる。フィルムレジスト層
の厚みは、薄いほど解像度が向上するので好ましい。特
に解像度の点から近年はより厚みの薄いレジスト層が要
求されている。本発明のプロテクトフィルムは、特に3
0μm以下、好ましくは25μm以下の厚みのレジスト
層に好適に積層して用いることができる。厚みの下限値
は、特に限定されないが、通常は0.1μm以上、好ま
しくは1μm以上である。
成した後、ポリエチレンフィルムを積層する方法は、従
来公知の方法によることができる。かくして得られるフ
ィルムレジストとポリエチレンフィルムとの積層体、具
体的にはプロテクトフィルム/フィルムレジスト/ベー
スフィルムの構成の積層体を用いるレジストプロセスの
概略について次に述べる。
は、従来公知のいずれのフィルムレジストも採用するこ
とができる。たとえば、前記した特開平11−5386
1号公報で例示されているような、(a)アクリル酸ま
たはメタクリル酸及びこれらのアルキルエステルを構成
モノマーとして共重合してなるバインダーポリマー、
(b)分子内に少なくとも一つの光重合可能なエチレン
性不飽和基を有するモノマー及び(c)光重合開始剤を
含有してなる感光性組成物からなるフィルムレジストで
あることができる。これらは適宜に市販品を利用するこ
とができる。また、ベースフィルム(支持フィルム)
は、ポリエステルフィルム、たとえばポリエチレンテレ
フタレートからなるフィルムを用いることができる。そ
の厚みは、特に限定されないが、通常は1〜30μmの
範囲から選択される。ベースフィルムもまた適宜に市販
品を利用することができる。
ト/ベースフィルムの構成の積層体を、そのプロテクト
フィルムを剥離しながら、レジスト層を金属基板の一面
にベースフィルムが最上層となるようにしながら金属面
にレジスト層を貼着する。すなわち、プロテクトフィル
ムを剥離したレジスト面が金属基板面に接するように貼
着する。なお、金属基板面は予め適宜に研磨される。貼
着には適宜に圧着ロールを用いることができる。なお、
剥離したプロテクトフィルムは適宜に廃棄またはリサイ
クルして使用することができる。また、高圧ラジカル重
合法によるポリエチレンはレジスト面に密着するが、レ
ジストへの接着性は高くないので剥離性は良好である。
従って、剥離の際にはレジストがプロテクトフィルム上
に残ることも少ない。
クを介して上記フィルムレジストに紫外線、その外の活
性線を照射し、パターンに対応してレジスト層の一部を
光硬化または光分解させ、残部のレジスト層を未変化状
態のままとする。この後、有機溶剤、アルカリ水溶液な
どの現像液を用い、ポジ型レジストでは未硬化部分のレ
ジスト層を溶解除去するとともに、光硬化されたレジス
ト層の部分を残す。こうして基板上に所望のパターンの
硬化レジスト層を形成することができる。その後必要に
応じてエッチングすることにより、金属基板上に回路等
を形成する。
るフィルムレジスト面に対して物理的、化学的影響を及
ぼすことはなく、前記エアーボイドの発生が少なく、そ
の結果としてパターン形成の際にパターン欠損のある硬
化レジスト層を生じることが少ない。そのため、レジス
トフィルムに直接接する構成のプロテクトフィルムとし
て好適である。また、前記公報が示すように、レジスト
厚みが薄い方がかかるパターン欠損等の欠陥が生じ易い
ところ、本発明のプロテクトフィルムによれば、30μ
m以下、0.1μm以上、好ましくは1〜25μmとい
う薄い厚みのドライフィルムレジストに積層されて用い
る場合でも前記エアーボイドの発生が少なく、その結果
としてパターン形成の際にパターン欠損のある硬化レジ
スト層を生じることが少ない。
備を用い、ラジカル重合開始剤の存在下、反応温度最低
部210℃〜最高部265℃、反応圧力196MPa、
反応器内平均滞留時間17秒、高圧圧縮機出口より下流
で超高圧圧縮機入口より上流の部位から2,6−ジt−
ブチル−4−メチルフェノールのイソパラフィン溶液
(濃度150g/l)を注入し超高圧圧縮機出口におけ
る2,6−ジt−ブチル−4−メチルフェノールのエチ
レン中濃度が170重量ppmとなる条件、超高圧圧縮
機系内のエチレンの最高温度を93℃として、72時間
連続でポリエチレンを製造した。
2時間前に超高圧圧縮機系内のエチレンの最高温度を9
3℃以下にして、MFR、密度がほぼ同一な類似製品を
少なくとも8時間以上生産し、プロセス系内の充分な置
換・安定化を行った。また、樹脂ペレット化後から袋詰
めの間に通過する工程個所については、分子量の異なる
残留ポリエチレンが混入しないよう充分な清掃を実施
し、袋詰め時も空気中の塵埃混入を防止すべくできる限
りの防塵上の配慮を行った。この結果、ポリエチレンと
して約45Tのロットを5ロット生産した。各ロット内
ではドライブレンドによる均一化操作が行われるので、
物性、品質は一定である。
物の事前清掃等に留意しつつ、清浄度クラス10000
(Federal Standard 209D)の簡
易クリーンルーム内で、空冷式インフレーションフィル
ム成形機(モダンマシナリー社製、押出機バレル径45
mm、フルフライトスクリュー、装着フィルター120
メッシュ、ダイ径80mm)を用い、押出機の温度設定
をシリンダー部130〜150℃、アダプター・ダイ部
150℃、引取り速度20m/min、ブローアップ比
2.0の条件で、厚さ30μmのフィルムを製膜した。
の存在密度は、成形中にインラインでレーザーフィッシ
ュアイカウンター(安川電機製Laser Eye;T
PLS−J04T型)にて個数を計測し、単位面積あた
りに換算した。1回の測定あたり320m2 の面積につ
いて行い、この測定を各製品ロットにつき3回行い平均
値を計算した。
ィッシュアイの存在密度は、得られたフィルムをA4サ
イズ程度にカットし、CCDスキャナ(EPSON E
S−2000)を用いて任意の部位を解像度1600d
piの透過モードで走査し、得られた画像を解析して決
定した。一回の測定あたり100cm2 の面積について
行い、フィルムサンプルを替えて計3回測定し平均値を
計算した後、単位面積あたりに換算した。各製品ロット
のフィッシュアイ存在密度の測定結果を表1に示す。大
フィッシュアイ、小フィッシュアイともに5ロット全て
が安定して低い数値を示した。
テクトフィルムに適用したところ、5ロット全てで最小
線幅20μmの描画パターンに充分対応可能であった。
なお、上記描画パターンの形成とその判定は以下のよう
にして行った(以下の実施例、比較例もこの方法に準じ
て行った)。
タレートフィルム(支持フィルム)/市販フィルムレジ
スト(20μm)のレジストの上に、上記ポリエチレン
フィルム(厚み30μm)をプロテクトフィルムとして
積層した。この3層構造の積層フィルムからプロテクト
フィルムを剥離しながら、銅張り積層板にラミネートし
た。その後、最小線幅20μmの線画パターンマスクで
常法により露光、現象、エッチングをして、銅板上に線
画を形成させた。形成した線画を顕微鏡観察することに
より線画による描画パターンへの対応性を判定した。
した以外は、実施例1に準じ、ポリエチレン製造(約4
5T×5ロット)、フィルム成形、フィッシュアイ測定
を行った。各製品ロットのフィッシュアイ存在密度の測
定結果を表1に示す。第1,第2,第4ロットの値は小
さく良好であったが、第3,第5ロットでは大フィッシ
ュアイ,小フィッシュアイともに高めの数値を示した。
このものをドライフィルムレジストのプロテクトフィル
ムに適用したところ、第1,第2,第4ロットでは最小
線幅20μmの描画パターンに充分対応可能であった。
しかし、第3ロットでは最小線幅20μm,第5ロット
では最小線幅30μmの描画パターンにおいて一部パタ
ーン欠損を生じた。
ラフィン溶液を系内に注入しない以外は実施例1に同じ
条件・方法でポリエチレンを製造(約45T×5ロッ
ト)し、フィルム成形・測定を行った。各製品ロットの
フィッシュアイ存在密度の測定結果を表1に示す。大フ
ィッシュアイは実施例1と同レベルであった。小フィッ
シュアイは実施例1に比較してやや高めの数値となった
が5ロット全てが安定した値を示した。このものをドラ
イフィルムレジストのプロテクトフィルムに適用したと
ころ、5ロット全てで最小線幅20μmの描画パターン
に対応可能であった。
した以外は、実施例2に準じ、ポリエチレン製造(約4
5T×5ロット)、フィルム成形、フィッシュアイ測定
を行った。各製品ロットのフィッシュアイ存在密度の測
定結果を表1に示す。実施例2に比べ大小のフィッシュ
アイともに数値変動幅が大きくなっており、小フィッシ
ュアイは5ロット全てで実施例2より悪化傾向が認めら
れた。このものをドライフィルムレジストのプロテクト
フィルムに適用したところ、5ロット全てで最小線幅2
0μmの描画パターン対応に一部パターン欠損を生じ
た。また、5ロット中2ロットが最小線幅30μmの描
画パターンにおいて一部パターン欠損を生じた。
ラフィン溶液を系内に注入せず、反応圧力を173MP
aとした以外は実施例1に同じ条件・方法で原料ポリエ
チレンを製造(約45T×5ロット)し、フィルム成形
・測定を行った。各製品ロットのフィッシュアイ存在密
度の測定結果を表1に示す。大フィッシュアイは実施例
1と同レベルであった。小フィッシュアイは実施例1,
2に比較して更に高い値となったが5ロット全てが安定
した値を示した。このものをドライフィルムレジストの
プロテクトフィルムに適用したところ、最小線幅50μ
mの線画による描画パターンに十分対応可能であった。
しかし、最小線幅30μmでは5ロット全てで一部パタ
ーン欠損が認められた。
した以外は、実施例3に準じ、ポリエチレン製造(約4
5T×5ロット)、フィルム成形、フィッシュアイ測定
を行った。各製品ロットのフィッシュアイ存在密度の測
定結果を表1に示す。実施例3に比べ大小のフィッシュ
アイともに数値変動幅が大きくなっており、平均値も大
きい。このものをドライフィルムレジストのプロテクト
フィルムに適用したところ、最小線幅50μmでは5ロ
ット中2ロットで一部パターン欠損が認められた。
ッシュアイの存在やその個数は、フィルムの成形方法や
その成形条件等により変えることは難しく、ポリエチレ
ンそのものの本質的な性質から変える必要がある。これ
は、微小フィッシュアイの生成原因が未だ解明されてい
ないものの、本発明においては、超高圧圧縮機系内のエ
チレン温度が微小フィッシュアイの断続的生成に関連あ
ることを見出し、その結果当該温度を95℃以下とする
ことによりプロテクトフィルム用の優れたポリエチレン
を長時間安定的に製造することができることとなった。
圧力下でエチレンを重合させ、しかもその際、重合禁止
剤を共存させるという重合方法を併用することにより、
薄いレジスト層厚みであっても有効なプロテクトフィル
ム用の優れたポリエチレンを長時間安定的に製造するこ
とができる。従って、本発明のポリエチレンフィルムは
プロテクトフィルムとして好適である。
Claims (13)
- 【請求項1】 超高圧圧縮機によりエチレンを昇圧し、
ついでラジカル重合開始剤の存在下、反応温度190℃
〜300℃、反応圧力167MPa以上でエチレンを重
合すると共に、その際の超高圧圧縮機におけるエチレン
の温度を95℃を越えない温度に保つことにより得られ
るポリエチレンからなることを特徴とするプロテクトフ
ィルム。 - 【請求項2】 超高圧圧縮機出口におけるエチレンに対
する濃度が5〜1000重量ppmとなる割合のラジカ
ル重合禁止剤を反応系内に共存させることによりえられ
るポリエチレンからなることを特徴とする請求項1記載
のプロテクトフィルム。 - 【請求項3】 重合禁止剤がフェノール系またはキノン
系化合物である請求項2記載のプロテクトフィルム。 - 【請求項4】 エチレンを重合する際に攪拌槽型反応器
を用い、反応器内平均滞留時間が5〜30秒となる条件
を用いる請求項1ないし3のいずれか1項に記載のプロ
テクトフィルム。 - 【請求項5】 MFR:0.3〜30(g/10分)、
密度:0.913〜0.930(g/cm3 )であり、
30μm厚みのフィルムとして、ヘーズが1〜50
(%)、フィルム中に存在する長径30μm以上0.2
0mm未満のフィッシュアイ存在密度が20個/10c
m2 以下、長径0.20mm以上のフィッシュアイ存在
密度が0.6個/1.0m2 以下であることを特徴とす
るポリエチレンフィルムからなる請求項1ないし4のい
ずれか1項に記載のプロテクトフィルム。 - 【請求項6】 請求項1ないし5のいずれか1項に記載
のプロテクトフィルムがフィルムレジストに直接積層さ
れてなる積層体。 - 【請求項7】 超高圧圧縮機によりエチレンを昇圧し、
ついでラジカル重合開始剤の存在下、反応温度190℃
〜300℃、反応圧力167MPa以上でエチレンを重
合すると共に、その際の超高圧圧縮機におけるエチレン
の温度を95℃を越えない温度に保つことを特徴とする
プロテクトフィルム用ポリエチレンの製造方法。 - 【請求項8】 超高圧圧縮機出口におけるエチレンに対
する濃度が5〜1000重量ppmとなる割合のラジカ
ル重合禁止剤を反応系内に共存させることを特徴とする
請求項7記載の方法。 - 【請求項9】 重合禁止剤がフェノール系またはキノン
系化合物である請求項8記載の方法。 - 【請求項10】 エチレンを重合する際に攪拌槽型反応
器を用い、反応器内平均滞留時間が5〜30秒となる条
件を用いる請求項7ないし9のいずれか1項に記載の方
法。 - 【請求項11】 得られるポリエチレンが、MFR:
0.3〜30(g/10分)、密度:0.913〜0.
930(g/cm3 )であり、30μm厚みのフィルム
として、ヘーズが1〜50(%)、フィルム中に存在す
る長径30μm以上0.20mm未満のフィッシュアイ
存在密度が20個/10cm2 以下、長径0.20mm
以上のフィッシュアイ存在密度が0.6個/1.0m2
以下であることを特徴とする請求項7ないし10のいず
れか1項に記載の方法。 - 【請求項12】 超高圧圧縮機によりエチレンを昇圧
し、ついでラジカル重合開始剤の存在下、反応温度19
0℃〜300℃、反応圧力167MPa以上で重合する
と共に、その際の超高圧圧縮機におけるエチレンの温度
を95℃を越えない温度に保ってポリエチレンを製造
し、得られたポリエチレンを製膜して、MFR:0.3
〜30(g/10分)、密度:0.913〜0.930
(g/cm 3 )、30μm厚みのフィルムとして、ヘー
ズが1〜50(%)、フィルム中に存在する長径30μ
m以上0.20mm未満のフィッシュアイ存在密度が2
0個/10cm2 以下、長径0.20mm以上のフィッ
シュアイ存在密度が0.6個/1.0m2 以下であるポ
リエチレンフィルムとし、このポリエチレンフィルムを
プロテクトフィルムとしてフィルムレジストに直接積層
することを特徴とする積層体の製造方法。 - 【請求項13】 ポリエチレンの製造時に超高圧圧縮機
出口におけるエチレンに対する濃度が5〜1000重量
ppmとなる割合のラジカル重合禁止剤を反応系内に共
存させることを特徴とする請求項12記載の方法。
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JP2002034994A JP2003231759A (ja) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | プロテクトフィルム用ポリエチレンの製造方法およびそれを用いたプロテクトフィルム |
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006028060A1 (ja) * | 2004-09-06 | 2006-03-16 | Fujifilm Corporation | パターン形成材料、並びにパターン形成装置及びパターン形成方法 |
JP2008129431A (ja) * | 2006-11-22 | 2008-06-05 | Fujifilm Corp | 感光性転写材料、カラーフィルタ及び表示装置 |
JP2009520836A (ja) * | 2005-11-01 | 2009-05-28 | ユニベーション・テクノロジーズ・エルエルシー | ポリオレフィンにおいてゲルを減少させる方法 |
WO2010123005A1 (ja) * | 2009-04-20 | 2010-10-28 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂積層体 |
KR101052765B1 (ko) | 2004-05-06 | 2011-07-29 | 코오롱인더스트리 주식회사 | 드라이필름포토레지스트 |
JP2012088388A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂積層体 |
JP2012088387A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂積層体 |
JP2012088386A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂積層体 |
WO2020255194A1 (ja) * | 2019-06-17 | 2020-12-24 | タマポリ株式会社 | ポリエチレンフィルム及びドライフィルムレジスト |
US11161921B2 (en) | 2017-10-19 | 2021-11-02 | Lg Chem, Ltd. | Method for producing polyethylene resin |
-
2002
- 2002-02-13 JP JP2002034994A patent/JP2003231759A/ja active Pending
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101052765B1 (ko) | 2004-05-06 | 2011-07-29 | 코오롱인더스트리 주식회사 | 드라이필름포토레지스트 |
US7662540B2 (en) | 2004-09-06 | 2010-02-16 | Fujifilm Corporation | Pattern forming material, pattern forming apparatus and pattern forming process |
WO2006028060A1 (ja) * | 2004-09-06 | 2006-03-16 | Fujifilm Corporation | パターン形成材料、並びにパターン形成装置及びパターン形成方法 |
JP2009520836A (ja) * | 2005-11-01 | 2009-05-28 | ユニベーション・テクノロジーズ・エルエルシー | ポリオレフィンにおいてゲルを減少させる方法 |
JP2008129431A (ja) * | 2006-11-22 | 2008-06-05 | Fujifilm Corp | 感光性転写材料、カラーフィルタ及び表示装置 |
KR101617507B1 (ko) | 2009-04-20 | 2016-05-02 | 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 | 감광성 수지 적층체 |
CN102405441B (zh) * | 2009-04-20 | 2013-07-24 | 旭化成电子材料株式会社 | 感光性树脂层压体、抗蚀图案形成方法和导体图案制造方法 |
CN102405441A (zh) * | 2009-04-20 | 2012-04-04 | 旭化成电子材料株式会社 | 感光性树脂层压体 |
WO2010123005A1 (ja) * | 2009-04-20 | 2010-10-28 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂積層体 |
JP2010271709A (ja) * | 2009-04-20 | 2010-12-02 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂積層体 |
JP2012088387A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂積層体 |
JP2012088386A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂積層体 |
JP2012088388A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂積層体 |
US11161921B2 (en) | 2017-10-19 | 2021-11-02 | Lg Chem, Ltd. | Method for producing polyethylene resin |
WO2020255194A1 (ja) * | 2019-06-17 | 2020-12-24 | タマポリ株式会社 | ポリエチレンフィルム及びドライフィルムレジスト |
CN112888738A (zh) * | 2019-06-17 | 2021-06-01 | 塔玛波里股份有限公司 | 聚乙烯膜及干膜抗蚀剂 |
JPWO2020255194A1 (ja) * | 2019-06-17 | 2021-09-13 | タマポリ株式会社 | ポリエチレンフィルム及びドライフィルムレジスト |
CN112888738B (zh) * | 2019-06-17 | 2023-07-21 | 塔玛波里股份有限公司 | 聚乙烯膜及干膜抗蚀剂 |
US11914297B2 (en) | 2019-06-17 | 2024-02-27 | Tamapoly Co., Ltd. | Polyethylene film and dry film resist |
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