JP2003225858A - ポリッシングパッド工具およびそれを用いたnc研削盤 - Google Patents
ポリッシングパッド工具およびそれを用いたnc研削盤Info
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- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 次工程であるポリッシング加工を研削盤に取
り込み、品質の向上と工程の集約によりコスト低減がで
きるように、ポリッシングパッド工具およびそれを用い
た研削盤を提供することを課題とする。 【解決手段】 ポリッシングパッド工具は、ポリッシン
グパッド5を保持するパッドホルダ2と、主軸テーパ穴
16に嵌合するテーパシャンク部3bとATC装置のア
ームが把持する把持部3aとを有する工具ホルダ3と、
主軸24内に引っ張り上げて結合する際の係合部である
プルスタッド4から構成され、パッドホルダ2は、円板
状またはドーナツ状を形成したパッド5をホルダに一体
に配置したことを特徴とする。
り込み、品質の向上と工程の集約によりコスト低減がで
きるように、ポリッシングパッド工具およびそれを用い
た研削盤を提供することを課題とする。 【解決手段】 ポリッシングパッド工具は、ポリッシン
グパッド5を保持するパッドホルダ2と、主軸テーパ穴
16に嵌合するテーパシャンク部3bとATC装置のア
ームが把持する把持部3aとを有する工具ホルダ3と、
主軸24内に引っ張り上げて結合する際の係合部である
プルスタッド4から構成され、パッドホルダ2は、円板
状またはドーナツ状を形成したパッド5をホルダに一体
に配置したことを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェーハ、
アルミハードディスク、ガラスハードディスク等の電子
部品、光学部品を高品位に、超精密に表面仕上げをする
ポリッシング工具に関するものである。
アルミハードディスク、ガラスハードディスク等の電子
部品、光学部品を高品位に、超精密に表面仕上げをする
ポリッシング工具に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品、光学部品の表面加工は、ポリ
ッシング加工が行われている。ポリッシング加工には、
平面度、平行度、面粗度等の高度な形状精度が求められ
る。ポリッシング加工は、超砥粒が使用され、より平坦
状に成形された定盤を有するポリッシング加工機が使用
される。
ッシング加工が行われている。ポリッシング加工には、
平面度、平行度、面粗度等の高度な形状精度が求められ
る。ポリッシング加工は、超砥粒が使用され、より平坦
状に成形された定盤を有するポリッシング加工機が使用
される。
【0003】ポリッシング加工機を説明する前に、前処
理加工を担当するATC装置付NC研削盤30を簡単に
説明する。図6は、従来の自動工具交換(以下、ATC
という)装置付NC研削盤の左側面を示す模式図であ
る。図6に示すように、ATC装置付NC研削盤30
は、主軸台20と、ベッド11に載置された回転テーブ
ル装置40と、自動工具交換装置50と、工具ストッカ
60から構成されている。主軸台20は、ベッド11の
上部にフレーム12が固定されている。主軸台20は、
昇降用モータ21の駆動により主軸台20を上下に移動
させるためのZ1軸の主軸台昇降機構が備えられ、同様
に、主軸台20を前後(図6では右左)方向に移動させ
るためのX1軸の移動機構が備えられている。また、主
軸ヘッド26には、荒引き砥石工具23等の自動工具交
換用の工具を固定するクランプ機構が内蔵されており、
工具を回転させるための主軸24と、ビルトインモータ
25等の回転機構が設けられている。主軸24の下端面
には、仕上げ用砥石工具22が直付けにて固定されてい
る。
理加工を担当するATC装置付NC研削盤30を簡単に
説明する。図6は、従来の自動工具交換(以下、ATC
という)装置付NC研削盤の左側面を示す模式図であ
る。図6に示すように、ATC装置付NC研削盤30
は、主軸台20と、ベッド11に載置された回転テーブ
ル装置40と、自動工具交換装置50と、工具ストッカ
60から構成されている。主軸台20は、ベッド11の
上部にフレーム12が固定されている。主軸台20は、
昇降用モータ21の駆動により主軸台20を上下に移動
させるためのZ1軸の主軸台昇降機構が備えられ、同様
に、主軸台20を前後(図6では右左)方向に移動させ
るためのX1軸の移動機構が備えられている。また、主
軸ヘッド26には、荒引き砥石工具23等の自動工具交
換用の工具を固定するクランプ機構が内蔵されており、
工具を回転させるための主軸24と、ビルトインモータ
25等の回転機構が設けられている。主軸24の下端面
には、仕上げ用砥石工具22が直付けにて固定されてい
る。
【0004】回転テーブル装置40は、ベッド11上
に、例えば、電子部品の1つである半導体ウェーハWH
(ワークWともいう)を固定し、回転させるための装置
が設けられている。回転テーブル41のテーブル上面
は、多孔質の吸着パッドが備えられた吸着面となってお
り、加工中の浮き上がりを防止して均一な厚みに加工す
ることができるように、微細な穴から空気を抜き取る真
空チャックとなっている。
に、例えば、電子部品の1つである半導体ウェーハWH
(ワークWともいう)を固定し、回転させるための装置
が設けられている。回転テーブル41のテーブル上面
は、多孔質の吸着パッドが備えられた吸着面となってお
り、加工中の浮き上がりを防止して均一な厚みに加工す
ることができるように、微細な穴から空気を抜き取る真
空チャックとなっている。
【0005】自動工具交換装置50(以下、ATC装置
という)は、回転テーブル41の後部(図6では左側)
に設けられており、昇降用モータの駆動よりATC装置
50のアーム51、52を上下(Z2軸)に移動させる
ためのATC装置昇降機構と、また、ATC装置50を
任意の角度に割り出された旋回可能な旋回装置と、主軸
位置の工具、例えば、荒引き砥石工具23と工具ストッ
カ60までエアーシリンダの駆動により伸縮可能なX2
軸方向に移動可能とする移動機構が備えられている。
という)は、回転テーブル41の後部(図6では左側)
に設けられており、昇降用モータの駆動よりATC装置
50のアーム51、52を上下(Z2軸)に移動させる
ためのATC装置昇降機構と、また、ATC装置50を
任意の角度に割り出された旋回可能な旋回装置と、主軸
位置の工具、例えば、荒引き砥石工具23と工具ストッ
カ60までエアーシリンダの駆動により伸縮可能なX2
軸方向に移動可能とする移動機構が備えられている。
【0006】さらに、工具ストッカ60は、ATC装置
50の後部(図6では左側)に設けられている。工具ス
トッカ60はATC装置50の旋回中心であるZ2軸を
中心とする円弧状に形成された工具ストッカ65からな
り、複数個の工具の貯蔵が可能である。
50の後部(図6では左側)に設けられている。工具ス
トッカ60はATC装置50の旋回中心であるZ2軸を
中心とする円弧状に形成された工具ストッカ65からな
り、複数個の工具の貯蔵が可能である。
【0007】このようなATC装置付研削盤30での荒
引き用砥石工具23にて半導体ウェーハWHの荒引き加
工が終了すると、荒引き用砥石工具23とカバー部材1
4とが交換される。図7は、カバー部材14のカバー本
体部14aのみが装着された主軸24を示す断面図であ
る。この場合のカバー部材14は、特別にテーパシャン
ク形状をしたカバー本体部14aとATC用のカバーホ
ルダ部14bとが2ピースになっており、カバー本体部
14aが主軸テーパ穴16に嵌合してクランプされる
と、カバーホルダ部14bは分離し、外される。そし
て、主軸24に直付けにされた仕上げ用砥石工具22の
仕上げ用砥石22aにて半導体ウェーハWHの最終の仕
上げ加工が行われ、所定の形状精度に仕上げられると、
半導体ウェーハWHは真空チャックから外され、次工程
のポリッシング加工機に搬送される。
引き用砥石工具23にて半導体ウェーハWHの荒引き加
工が終了すると、荒引き用砥石工具23とカバー部材1
4とが交換される。図7は、カバー部材14のカバー本
体部14aのみが装着された主軸24を示す断面図であ
る。この場合のカバー部材14は、特別にテーパシャン
ク形状をしたカバー本体部14aとATC用のカバーホ
ルダ部14bとが2ピースになっており、カバー本体部
14aが主軸テーパ穴16に嵌合してクランプされる
と、カバーホルダ部14bは分離し、外される。そし
て、主軸24に直付けにされた仕上げ用砥石工具22の
仕上げ用砥石22aにて半導体ウェーハWHの最終の仕
上げ加工が行われ、所定の形状精度に仕上げられると、
半導体ウェーハWHは真空チャックから外され、次工程
のポリッシング加工機に搬送される。
【0008】ポリッシング加工機(図示せず)でのポリ
ッシング加工は、ラップ加工よりも高精度に仕上げる精
密級の表面加工であり、前工程の仕上げ面をさらに平坦
な鏡面の形状精度に仕上げる研磨法である。研磨剤はミ
クロン、サブミクロンの超微細粒子がクリーム状または
液状にしたポリッシング液が使用される。半導体ウェー
ハWHは、所定のポリッシング圧力が与えられて遊星歯
車機構により自転しながら公転を繰り返し、定盤上を摺
動する。量産機では、ダイヤモンドポリッシング加工や
ケミカル・メカニカル・ポリッシング加工(CMP)が
行われている。
ッシング加工は、ラップ加工よりも高精度に仕上げる精
密級の表面加工であり、前工程の仕上げ面をさらに平坦
な鏡面の形状精度に仕上げる研磨法である。研磨剤はミ
クロン、サブミクロンの超微細粒子がクリーム状または
液状にしたポリッシング液が使用される。半導体ウェー
ハWHは、所定のポリッシング圧力が与えられて遊星歯
車機構により自転しながら公転を繰り返し、定盤上を摺
動する。量産機では、ダイヤモンドポリッシング加工や
ケミカル・メカニカル・ポリッシング加工(CMP)が
行われている。
【0009】しかしながら、次工程であるポリッシング
加工機によるポリッシング加工を研削工程に取り込み、
品質の向上と工程の集約によりコスト低減等ができない
かという要望が出されていた。
加工機によるポリッシング加工を研削工程に取り込み、
品質の向上と工程の集約によりコスト低減等ができない
かという要望が出されていた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は、次
工程であるポリッシング加工を研削盤に取り込み、品質
の向上と工程の集約によりコスト低減ができるように、
ポリッシングパッド工具およびそれを用いた研削盤を提
供することを課題とする。
工程であるポリッシング加工を研削盤に取り込み、品質
の向上と工程の集約によりコスト低減ができるように、
ポリッシングパッド工具およびそれを用いた研削盤を提
供することを課題とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決した本発
明のうちの請求項1に係る発明は、シリコンウェーハ、
アルミハードディスク、ガラスハードディスク等の電
子、光学部品の表面を超精密に表面仕上げするポリッシ
ングパッド工具であって、前記ポリッシングパッド工具
は、ポリッシングパッドを保持するパッドホルダと、主
軸テーパ穴に嵌合するテーパ部とATC装置のアームが
把持する把持溝とを有する工具ホルダと、主軸内に引っ
張り上げて結合する際の係合部であるプルスタッドから
構成され、前記パッドホルダは、円板状またはドーナツ
状を形成したパッドをホルダに一体に配置したことを特
徴とする。
明のうちの請求項1に係る発明は、シリコンウェーハ、
アルミハードディスク、ガラスハードディスク等の電
子、光学部品の表面を超精密に表面仕上げするポリッシ
ングパッド工具であって、前記ポリッシングパッド工具
は、ポリッシングパッドを保持するパッドホルダと、主
軸テーパ穴に嵌合するテーパ部とATC装置のアームが
把持する把持溝とを有する工具ホルダと、主軸内に引っ
張り上げて結合する際の係合部であるプルスタッドから
構成され、前記パッドホルダは、円板状またはドーナツ
状を形成したパッドをホルダに一体に配置したことを特
徴とする。
【0012】請求項1に係る発明によれば、仕上げ用砥
石による仕上げ加工が終わった後、ポリッシングパッド
工具を装着することにより、研削盤によるポリッシング
加工ができる。また、半導体ウェーハWHの仕上げ研削
加工後、そのままの段取りにより、引き続いて、ポリッ
シング加工ができるため、ワークWの着脱が不要であ
り、1回のチャッキングによりできるため、品質の向上
ができる他、工程の集約による仕掛り期間の短縮とワー
クの取り付け、取り外し、運搬作業等が不要になること
によってコストの低減ができる。
石による仕上げ加工が終わった後、ポリッシングパッド
工具を装着することにより、研削盤によるポリッシング
加工ができる。また、半導体ウェーハWHの仕上げ研削
加工後、そのままの段取りにより、引き続いて、ポリッ
シング加工ができるため、ワークWの着脱が不要であ
り、1回のチャッキングによりできるため、品質の向上
ができる他、工程の集約による仕掛り期間の短縮とワー
クの取り付け、取り外し、運搬作業等が不要になること
によってコストの低減ができる。
【0013】請求項2に係るポリッシングパッド工具の
発明は、前記パッドホルダの下面には、ポリッシングパ
ッドを分散して配置し、ポリッシングパッド間にそれぞ
れスクレーパを配置したことを特徴とする。これは、ワ
ーク上面に付着したごみや切屑等が落下した後にポリッ
シングパッドが摺動すると、ワーク上面にその切屑によ
って深い傷を付けてしまい、再研削になることがあった
ことによるものである。
発明は、前記パッドホルダの下面には、ポリッシングパ
ッドを分散して配置し、ポリッシングパッド間にそれぞ
れスクレーパを配置したことを特徴とする。これは、ワ
ーク上面に付着したごみや切屑等が落下した後にポリッ
シングパッドが摺動すると、ワーク上面にその切屑によ
って深い傷を付けてしまい、再研削になることがあった
ことによるものである。
【0014】請求項2に係る発明によれば、パッドとパ
ッドとの間にスクレーパを複数個配置したことにより、
ワーク上面に付着したごみや落下した切屑等をポリッシ
ングパッドが摺動する前に、スクレーパが掃き、ワーク
外に排出することができるため、深い傷の発生を未然に
防止して、トラブルのないポリッシング加工で仕上げる
ことができる。
ッドとの間にスクレーパを複数個配置したことにより、
ワーク上面に付着したごみや落下した切屑等をポリッシ
ングパッドが摺動する前に、スクレーパが掃き、ワーク
外に排出することができるため、深い傷の発生を未然に
防止して、トラブルのないポリッシング加工で仕上げる
ことができる。
【0015】請求項3に係るポリッシングパッド工具の
発明は、前記パッドホルダの外周面には、スカート形ス
クレーパを配置したことを特徴とする。請求項3に係る
発明によれば、円板状またはドーナツ状を形成するパッ
ドの外周面にスカート形状のスクレーパを配置したこと
により、ワーク上面に付着したごみや落下した切屑をポ
リッシング加工に入る前に除去できるため、深い傷の発
生がなく、最短の時間で仕上げることができる。
発明は、前記パッドホルダの外周面には、スカート形ス
クレーパを配置したことを特徴とする。請求項3に係る
発明によれば、円板状またはドーナツ状を形成するパッ
ドの外周面にスカート形状のスクレーパを配置したこと
により、ワーク上面に付着したごみや落下した切屑をポ
リッシング加工に入る前に除去できるため、深い傷の発
生がなく、最短の時間で仕上げることができる。
【0016】請求項4に係る発明は、前記ポリッシング
パッド工具は、自動工具交換装置により自動工具交換が
なされることを特徴とする。
パッド工具は、自動工具交換装置により自動工具交換が
なされることを特徴とする。
【0017】請求項4に係る発明によれば、ポリッシン
グパッド工具は、主軸テーパに嵌合するテーパ部と自動
工具交換(ATC)装置のアームが把持する把持溝とを
有する工具ホルダと、主軸内に引っ張り上げて結合する
際の係合部であるプルスタッドを有し、自動工具交換が
できるように構成されたことにより、ATC付NC研削
盤にて研削加工が終了した後、引き続きポリッシングパ
ッド工具とATC装置によって自動工具交換が行われ、
ポリッシング加工ができる。
グパッド工具は、主軸テーパに嵌合するテーパ部と自動
工具交換(ATC)装置のアームが把持する把持溝とを
有する工具ホルダと、主軸内に引っ張り上げて結合する
際の係合部であるプルスタッドを有し、自動工具交換が
できるように構成されたことにより、ATC付NC研削
盤にて研削加工が終了した後、引き続きポリッシングパ
ッド工具とATC装置によって自動工具交換が行われ、
ポリッシング加工ができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照しながら、詳細に説明する。 (第1実施の形態)図1(a)は、第1実施の形態であ
るポリッシングパッド工具1を示す縦断面図であり、半
導体ウェーハWHの回転テーブル装置40の縦断面図で
ある。図1(a)に示すように、ポリッシングパッド工
具1は、ポリッシングパッド5を保持するパッドホルダ
2と、主軸テーパ穴16に嵌合するテーパシャンク部3
aとATC装置のアームが把持する把持部3bと、主軸
24への装着時、主軸24の端面に当接する拘束面3c
とを有する工具ホルダ3と、主軸24内にクランプ機構
のボール18、18…を介して引っ張り上げる際の係合
部であるプルスタッド4から構成されており、パッドホ
ルダ2は、円板状に成形され、中心に形成された穴2d
に工具ホルダ3のボス3dが嵌合されて、ボルト6,6
…にて一体に固着されている。
面を参照しながら、詳細に説明する。 (第1実施の形態)図1(a)は、第1実施の形態であ
るポリッシングパッド工具1を示す縦断面図であり、半
導体ウェーハWHの回転テーブル装置40の縦断面図で
ある。図1(a)に示すように、ポリッシングパッド工
具1は、ポリッシングパッド5を保持するパッドホルダ
2と、主軸テーパ穴16に嵌合するテーパシャンク部3
aとATC装置のアームが把持する把持部3bと、主軸
24への装着時、主軸24の端面に当接する拘束面3c
とを有する工具ホルダ3と、主軸24内にクランプ機構
のボール18、18…を介して引っ張り上げる際の係合
部であるプルスタッド4から構成されており、パッドホ
ルダ2は、円板状に成形され、中心に形成された穴2d
に工具ホルダ3のボス3dが嵌合されて、ボルト6,6
…にて一体に固着されている。
【0019】また、図1(a)の左図は、半導体ウェー
ハWHの回転テーブル装置40の断面図である。回転テ
ーブル41の中心には、スピンドル42が固着され、ス
ピンドル42は、上下のベアリング44を介してベッド
に対して鉛直軸回りを回転可能に支承されている。図1
(b)は、ポリッシングパッド工具1のA矢視に示す下
面図である。図1(b)に示すように、パッドホルダ2
の下面には、ドーナツ状に形成されたポリッシングパッ
ド5が貼付されている。ポリッシングパッド5の厚みは
2〜3mmであり、容易に成形することができる。この
厚みの中に、ポリッシング加工用のミクロン、サブミク
ロンの超微細粒子が配置されており、加工物の表面を擦
ることによりポリッシング加工が行われ、鏡面加工仕上
げができる。
ハWHの回転テーブル装置40の断面図である。回転テ
ーブル41の中心には、スピンドル42が固着され、ス
ピンドル42は、上下のベアリング44を介してベッド
に対して鉛直軸回りを回転可能に支承されている。図1
(b)は、ポリッシングパッド工具1のA矢視に示す下
面図である。図1(b)に示すように、パッドホルダ2
の下面には、ドーナツ状に形成されたポリッシングパッ
ド5が貼付されている。ポリッシングパッド5の厚みは
2〜3mmであり、容易に成形することができる。この
厚みの中に、ポリッシング加工用のミクロン、サブミク
ロンの超微細粒子が配置されており、加工物の表面を擦
ることによりポリッシング加工が行われ、鏡面加工仕上
げができる。
【0020】(第2実施の形態)図2(a)は、ポリッ
シングパッド工具11の正面図であり、図2(b)は、
その下面図である。パッドホルダ2の下面には、パッド
5、5…が一定間隔にて散在し、各パッド間にはスクレ
ーパ7、7…が所定の角度、例えば、取付角度αが20
度とする勾配を有して形成された溝に挿入されて配置さ
れている。図2(b)に示すように、スクレーパ7の固
定方法は、外周部より設けられた小ネジ7a、7aによ
って固定されている。スクレーパ7はパッド5の上面よ
り、2〜3mm突出しており、また、外周方向にも5〜
10mm程度突出させることにより、ポリッシングパッ
ド5がワークWに接触する前に、スクレーパ7により表
面の清掃をすることができるため、都合がよい。
シングパッド工具11の正面図であり、図2(b)は、
その下面図である。パッドホルダ2の下面には、パッド
5、5…が一定間隔にて散在し、各パッド間にはスクレ
ーパ7、7…が所定の角度、例えば、取付角度αが20
度とする勾配を有して形成された溝に挿入されて配置さ
れている。図2(b)に示すように、スクレーパ7の固
定方法は、外周部より設けられた小ネジ7a、7aによ
って固定されている。スクレーパ7はパッド5の上面よ
り、2〜3mm突出しており、また、外周方向にも5〜
10mm程度突出させることにより、ポリッシングパッ
ド5がワークWに接触する前に、スクレーパ7により表
面の清掃をすることができるため、都合がよい。
【0021】(第3実施の形態)図3(a)は、ポリッ
シングパッド工具13の正面図であり、図3(b)は、
その下面図である。図3(a)に示すように、パッドホ
ルダ2の外周にねじ部2aを形成し、ナット状のクラン
パ2bにて、スカート状スクレーパ8を固定する。スカ
ート状スクレーパ8は、ねじ部2aのねじ逃がし部2c
の形状に成形されており、一端に突起を設けることによ
り位置決めができると共に、装着時、加工時の抜け止め
となっている。また、バッド5の下面より寸法bだけ突
出させると、スカート状スクレーパ8により表面の清掃
をすることができるため、都合がよい。スカート状スク
レーパ8の材質は、ニトリルゴム、バイトンゴム等の合
成ゴム又はブラシからなり、帯状に成形したものを外周
面に巻き付けてもよいし、リング状に成形したものを装
着してもよい。スカート形状のスクレーパを配置したこ
とにより、ワーク上面に付着したごみや落下した切屑を
ポリッシング加工に入る前に除去できるため、深い傷の
発生がなく、鏡面に仕上げることができる。
シングパッド工具13の正面図であり、図3(b)は、
その下面図である。図3(a)に示すように、パッドホ
ルダ2の外周にねじ部2aを形成し、ナット状のクラン
パ2bにて、スカート状スクレーパ8を固定する。スカ
ート状スクレーパ8は、ねじ部2aのねじ逃がし部2c
の形状に成形されており、一端に突起を設けることによ
り位置決めができると共に、装着時、加工時の抜け止め
となっている。また、バッド5の下面より寸法bだけ突
出させると、スカート状スクレーパ8により表面の清掃
をすることができるため、都合がよい。スカート状スク
レーパ8の材質は、ニトリルゴム、バイトンゴム等の合
成ゴム又はブラシからなり、帯状に成形したものを外周
面に巻き付けてもよいし、リング状に成形したものを装
着してもよい。スカート形状のスクレーパを配置したこ
とにより、ワーク上面に付着したごみや落下した切屑を
ポリッシング加工に入る前に除去できるため、深い傷の
発生がなく、鏡面に仕上げることができる。
【0022】(第4実施の形態)図4は、ポリッシング
パッド工具13をNC研削盤のATC装置によって自動
的に主軸に装着する様子を示す模式図である。後述する
動作説明にあるように、ATC装置付NC研削盤に対し
て、第1〜3実施の形態に示すポリッシングパッド工具
を用いたことにより、次工程であるポリッシング加工を
プログラム上に取り込み、同じ研削盤にて仕上げること
により、さらなる品質の向上と、工程の集約によりコス
ト低減ができる。
パッド工具13をNC研削盤のATC装置によって自動
的に主軸に装着する様子を示す模式図である。後述する
動作説明にあるように、ATC装置付NC研削盤に対し
て、第1〜3実施の形態に示すポリッシングパッド工具
を用いたことにより、次工程であるポリッシング加工を
プログラム上に取り込み、同じ研削盤にて仕上げること
により、さらなる品質の向上と、工程の集約によりコス
ト低減ができる。
【0023】続いて、動作について説明する。図4は、
ATC装置付NC研削盤10の例えば、ポリッシングパ
ッド工具13をATC装置50によってNC研削盤10
の主軸24に装着する様子を示す模式図である。図4
は、前記した図6とは工具を除いて同様であるため、重
複する説明は同じ符号を付して省略する。回転テーブル
41の多孔質の吸着パッド43(図1参照)からなるテ
ーブル上面に、ワークWである半導体ウェーハWHを載
置してワーククランプ釦を押す。すると、図示しない真
空ポンプの負圧源に接続された真空チャックにより、半
導体ウェーハWHを回転テーブル41に固定される。
ATC装置付NC研削盤10の例えば、ポリッシングパ
ッド工具13をATC装置50によってNC研削盤10
の主軸24に装着する様子を示す模式図である。図4
は、前記した図6とは工具を除いて同様であるため、重
複する説明は同じ符号を付して省略する。回転テーブル
41の多孔質の吸着パッド43(図1参照)からなるテ
ーブル上面に、ワークWである半導体ウェーハWHを載
置してワーククランプ釦を押す。すると、図示しない真
空ポンプの負圧源に接続された真空チャックにより、半
導体ウェーハWHを回転テーブル41に固定される。
【0024】続いて、ドア80を閉め、起動釦を押す。
事前にNCプログラムが入力されたプログラムの手順に
したがって、各ユニットが稼動する。つまり、ATC装
置50のアーム51は、工具ストッカ65に格納されて
いるポリッシングパッド工具13を把持し、一方のアー
ム52には、カバー部材14を構成するカバーホルダ部
14bが把持されている。そして、カバー本体部14a
の下面に設けられた複数の凹部14cに、カバーホルダ
部14bの複数の凸部14dが装着され(図7参照)、一
体と結合すると主軸24内のクランプ機構が解除され、
一体となったカバー部材14が主軸テーパ穴16から抜
き取られる。
事前にNCプログラムが入力されたプログラムの手順に
したがって、各ユニットが稼動する。つまり、ATC装
置50のアーム51は、工具ストッカ65に格納されて
いるポリッシングパッド工具13を把持し、一方のアー
ム52には、カバー部材14を構成するカバーホルダ部
14bが把持されている。そして、カバー本体部14a
の下面に設けられた複数の凹部14cに、カバーホルダ
部14bの複数の凸部14dが装着され(図7参照)、一
体と結合すると主軸24内のクランプ機構が解除され、
一体となったカバー部材14が主軸テーパ穴16から抜
き取られる。
【0025】図5は、ポリッシングパッド工具13をA
TC装置50によってNC研削盤10の主軸24に装着
した様子を示す模式図である。つぎに、アーム51、5
2が180度旋回してアーム51とアーム52とが入れ
替わり、アーム51が把持しているポリッシングパッド
工具13は、主軸24に挿入され、主軸24内のクラン
プ機構により主軸24に装着される。一方のアーム52
のカバー部材14は、工具ストッカ60に格納される。
TC装置50によってNC研削盤10の主軸24に装着
した様子を示す模式図である。つぎに、アーム51、5
2が180度旋回してアーム51とアーム52とが入れ
替わり、アーム51が把持しているポリッシングパッド
工具13は、主軸24に挿入され、主軸24内のクラン
プ機構により主軸24に装着される。一方のアーム52
のカバー部材14は、工具ストッカ60に格納される。
【0026】続いて、主軸24が回転し、主軸台昇降機
構の昇降用モータ21の駆動により、主軸台20が下方
に移動する。
構の昇降用モータ21の駆動により、主軸台20が下方
に移動する。
【0027】そして、図3(b)に示すように、ポリッ
シングパッド工具13によるポリッシング加工の送り駆
動に入ると、スカート状スクレーパ8が、まず、最初
に、ワークWに接近して接触し、表面の清掃をする。そ
して、少し遅れてポリッシングパッド5によるポリッシ
ング加工が行われる。ポリッシングパッド5が接触し、
摩滅しながらポリッシング加工を行い、超精密級の鏡面
仕上げ面を得る。これにより、ポリッシング加工機を不
要とすることができる。
シングパッド工具13によるポリッシング加工の送り駆
動に入ると、スカート状スクレーパ8が、まず、最初
に、ワークWに接近して接触し、表面の清掃をする。そ
して、少し遅れてポリッシングパッド5によるポリッシ
ング加工が行われる。ポリッシングパッド5が接触し、
摩滅しながらポリッシング加工を行い、超精密級の鏡面
仕上げ面を得る。これにより、ポリッシング加工機を不
要とすることができる。
【0028】
【発明の効果】以上のとおり、請求項1に係る発明によ
れば、仕上げ砥石による仕上げ加工が終わった後、ポリ
ッシングパッド工具を装着することにより、研削盤によ
るポリッシング加工ができる。また、半導体ウェーハW
Hの仕上げ研削加工後、そのままの段取りにより、引き
続いて、ポリッシング加工ができるため、1回のチャッ
キングにより品質の向上ができる他、工程の集約による
仕掛り期間の短縮とワークの取り付け、取り外し、運搬
作業等が不要になることによってコストの低減ができ
る。
れば、仕上げ砥石による仕上げ加工が終わった後、ポリ
ッシングパッド工具を装着することにより、研削盤によ
るポリッシング加工ができる。また、半導体ウェーハW
Hの仕上げ研削加工後、そのままの段取りにより、引き
続いて、ポリッシング加工ができるため、1回のチャッ
キングにより品質の向上ができる他、工程の集約による
仕掛り期間の短縮とワークの取り付け、取り外し、運搬
作業等が不要になることによってコストの低減ができ
る。
【0029】請求項2に係る発明によれば、パッドとパ
ッドとの間にスクレーパを複数個配置したことにより、
ワーク上面に付着したごみや落下した切屑等をポリッシ
ングパッドが摺動する前に、スクレーパが掃き、ワーク
外に排出することができるため、深い傷の発生を未然に
防止して、トラブルのないポリッシング加工で仕上げる
ことができる。
ッドとの間にスクレーパを複数個配置したことにより、
ワーク上面に付着したごみや落下した切屑等をポリッシ
ングパッドが摺動する前に、スクレーパが掃き、ワーク
外に排出することができるため、深い傷の発生を未然に
防止して、トラブルのないポリッシング加工で仕上げる
ことができる。
【0030】請求項3に係る発明によれば、円板状また
はドーナツ状を形成するパッドの外周面にスカート状ス
クレーパを配置したことにより、ワーク上面に付着した
ごみや落下した切屑をポリッシング加工に入る前に除去
できるため、深い傷の発生がなく、最短の時間で仕上げ
ることができる。
はドーナツ状を形成するパッドの外周面にスカート状ス
クレーパを配置したことにより、ワーク上面に付着した
ごみや落下した切屑をポリッシング加工に入る前に除去
できるため、深い傷の発生がなく、最短の時間で仕上げ
ることができる。
【0031】請求項4に係る発明によれば、ポリッシン
グパッド工具は、主軸テーパに嵌合するテーパ部とAT
C装置のアームが把持する把持溝とを有する工具ホルダ
と、主軸内に引っ張り上げて結合する際の係合部である
プルスタッドとを有し、自動工具交換ができるように構
成されたことにより、ATC付NC研削盤にて研削加工
が終了した後、引き続き、ポリッシングパッド工具をA
TC装置によって自動工具交換を行うことにより、ポリ
ッシング加工ができる。
グパッド工具は、主軸テーパに嵌合するテーパ部とAT
C装置のアームが把持する把持溝とを有する工具ホルダ
と、主軸内に引っ張り上げて結合する際の係合部である
プルスタッドとを有し、自動工具交換ができるように構
成されたことにより、ATC付NC研削盤にて研削加工
が終了した後、引き続き、ポリッシングパッド工具をA
TC装置によって自動工具交換を行うことにより、ポリ
ッシング加工ができる。
【図1】(a)は、本発明の第1実施の形態であるポリ
ッシングパッド工具を示す主軸の縦断面図であり、半導
体ウェーハWHの回転テーブル装置の縦断面図である。
(b)は、A矢視に示す下面図である。
ッシングパッド工具を示す主軸の縦断面図であり、半導
体ウェーハWHの回転テーブル装置の縦断面図である。
(b)は、A矢視に示す下面図である。
【図2】(a)は、ポリッシングパッド工具の正面図で
あり、(b)は、その下面図である。
あり、(b)は、その下面図である。
【図3】(a)は、ポリッシングパッド工具の正面図で
あり、(b)は、その下面図である。
あり、(b)は、その下面図である。
【図4】ポリッシングパッド工具をATC装置によって
NC研削盤の主軸に装着する様子を示す模式図である。
NC研削盤の主軸に装着する様子を示す模式図である。
【図5】ポリッシングパッド工具をATC装置によって
NC研削盤の主軸に装着した様子を示す模式図である。
NC研削盤の主軸に装着した様子を示す模式図である。
【図6】従来の自動工具交換装置(ATC)付研削盤の
左側面を示す模式図である。
左側面を示す模式図である。
【図7】主軸テーパ穴にカバー部材のカバー本体部が装
着された主軸を示す断面図である。
着された主軸を示す断面図である。
1、11、13 ポリッシングパッド工具
2 パッドホルダ
2a ねじ部
2b ナット状クランパ
2c ねじ逃がし部
2d 穴
3 工具ホルダ
3a テーパシャンク部
3b 把持部
3d ボス
4 プルスタッド
5 ポリッシングパッド
6 ボルト
7 スクレーパ
7a 小ネジ
8 スカート状スクレーパ
10 ATC装置付NC研削盤
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
H01L 21/304 622 H01L 21/304 622F
(72)発明者 村井 史朗
神奈川県横須賀市神明町1番地 株式会社
日平トヤマ技術センター内
(72)発明者 斎田 国広
神奈川県横須賀市神明町1番地 株式会社
日平トヤマ技術センター内
Fターム(参考) 3C034 AA07 BB56 BB66 DD10
3C043 BA11 CC07 CC13
3C058 AA07 AA09 CB05 DA12 DA17
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体ウェーハ、アルミハードディス
ク、ガラスハードディスク等の電子、光学部品の表面を
超精密に表面仕上げするポリッシングパッド工具であっ
て、 前記ポリッシングパッド工具は、ポリッシングパッドを
保持するパッドホルダと、主軸テーパ穴に嵌合するテー
パ部とATC装置のアームが把持する把持溝とを有する
工具ホルダと、主軸内に引っ張り上げて結合する際の係
合部であるプルスタッドから構成され、 前記パッドホルダは、円板状またはドーナツ状を形成し
たパッドをホルダに一体に配置したことを特徴とするポ
リッシングパッド工具。 - 【請求項2】 前記パッドホルダの下面には、ポリッシ
ングパッドを分散して配置し、ポリッシングパッド間に
それぞれスクレーパを配置したことを特徴とする請求項
1に記載のポリッシングパッド工具。 - 【請求項3】 前記パッドホルダの外周面には、スカー
ト形スクレーパを配置したことを特徴とする請求項1に
記載のポリッシングパッド工具。 - 【請求項4】 前記ポリッシングパッド工具は、自動工
具交換装置により自動工具交換がなされることを特徴と
する請求項1〜3のいずれか1項に記載のポリッシング
パッド工具を用いたNC研削盤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002027903A JP2003225858A (ja) | 2002-02-05 | 2002-02-05 | ポリッシングパッド工具およびそれを用いたnc研削盤 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002027903A JP2003225858A (ja) | 2002-02-05 | 2002-02-05 | ポリッシングパッド工具およびそれを用いたnc研削盤 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003225858A true JP2003225858A (ja) | 2003-08-12 |
Family
ID=27749292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002027903A Pending JP2003225858A (ja) | 2002-02-05 | 2002-02-05 | ポリッシングパッド工具およびそれを用いたnc研削盤 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003225858A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008114349A (ja) * | 2006-11-07 | 2008-05-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの研削方法および研削装置 |
KR101392149B1 (ko) | 2012-07-26 | 2014-05-08 | 허재민 | 폴리싱 헤드 |
USD708497S1 (en) * | 2013-06-20 | 2014-07-08 | Kwh Mirka Ltd | Abrasive holder |
-
2002
- 2002-02-05 JP JP2002027903A patent/JP2003225858A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008114349A (ja) * | 2006-11-07 | 2008-05-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの研削方法および研削装置 |
KR101392149B1 (ko) | 2012-07-26 | 2014-05-08 | 허재민 | 폴리싱 헤드 |
USD708497S1 (en) * | 2013-06-20 | 2014-07-08 | Kwh Mirka Ltd | Abrasive holder |
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