JP2003209230A - 固体撮像装置およびその製造方法 - Google Patents
固体撮像装置およびその製造方法Info
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- JP2003209230A JP2003209230A JP2002004239A JP2002004239A JP2003209230A JP 2003209230 A JP2003209230 A JP 2003209230A JP 2002004239 A JP2002004239 A JP 2002004239A JP 2002004239 A JP2002004239 A JP 2002004239A JP 2003209230 A JP2003209230 A JP 2003209230A
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/806—Optical elements or arrangements associated with the image sensors
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- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】集光率を向上させて感度の向上を図ることがで
きる固体撮像装置およびその製造方法を提供する。 【解決手段】第1マイクロレンズ51上に、当該第1マ
イクロレンズ51に比して屈折率の大きい第2マイクロ
レンズ52を形成することで、最上層の第2マイクロレ
ンズ52は、第1マイクロレンズ51への集光の機能を
持たせるだけで良いため、焦点距離の短いレンズ、すな
わち、曲率半径の小さいマイクロレンズとすることがで
き、斜め入射光L2についても効率良くフォトセンサ2
に導くことが可能であることから、カメラレンズのF値
の変化に対する集光の変化を小さく出来る。
きる固体撮像装置およびその製造方法を提供する。 【解決手段】第1マイクロレンズ51上に、当該第1マ
イクロレンズ51に比して屈折率の大きい第2マイクロ
レンズ52を形成することで、最上層の第2マイクロレ
ンズ52は、第1マイクロレンズ51への集光の機能を
持たせるだけで良いため、焦点距離の短いレンズ、すな
わち、曲率半径の小さいマイクロレンズとすることがで
き、斜め入射光L2についても効率良くフォトセンサ2
に導くことが可能であることから、カメラレンズのF値
の変化に対する集光の変化を小さく出来る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、集光効率
の向上のためのオンチップマイクロレンズを有する固体
撮像装置およびその製造方法に関する。
の向上のためのオンチップマイクロレンズを有する固体
撮像装置およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の携帯型のパーソナルコンピュータ
や小型ビデオカメラの進展に伴い、ますます低消費電力
の固体撮像素子が必須となってきている。特に、画像処
理を扱う装置は、CCD固体撮像素子が主流で用いられ
ているが、その動作特性上から低消費電力化は非常に困
難である。CCD固体撮像素子を駆動させるためには、
少なくとも5V以上の電圧が必要である。携帯装置のデ
ジタルLSIは、近年、1.5V化の研究開発が主流で
あるが、これら携帯装置の低消費電力化において、CC
D固体撮像素子を用いると、電力消費が甚だしく、大き
な問題を有している。
や小型ビデオカメラの進展に伴い、ますます低消費電力
の固体撮像素子が必須となってきている。特に、画像処
理を扱う装置は、CCD固体撮像素子が主流で用いられ
ているが、その動作特性上から低消費電力化は非常に困
難である。CCD固体撮像素子を駆動させるためには、
少なくとも5V以上の電圧が必要である。携帯装置のデ
ジタルLSIは、近年、1.5V化の研究開発が主流で
あるが、これら携帯装置の低消費電力化において、CC
D固体撮像素子を用いると、電力消費が甚だしく、大き
な問題を有している。
【0003】そこで、近年、画像入力素子としてCMO
S型の固体撮像素子(CMOSイメージセンサ)が注目
されている。この固体撮像素子はCMOS技術を用いる
ため、低電圧の駆動が可能となり、特に近年の携帯端末
との組み合わせには低消費電力化の観点で非常に有効な
固体撮像素子と考えられる。
S型の固体撮像素子(CMOSイメージセンサ)が注目
されている。この固体撮像素子はCMOS技術を用いる
ため、低電圧の駆動が可能となり、特に近年の携帯端末
との組み合わせには低消費電力化の観点で非常に有効な
固体撮像素子と考えられる。
【0004】図13は、CMOSイメージセンサの断面
の一例を示す図である。図13に示すCMOSイメージ
センサでは、基板10にフォトセンサ20を形成し、絶
縁膜に埋め込むようにして配線131,132,133
を形成し、最終配線工程後にPSG膜や窒化シリコン膜
を形成して、CMPなどにより平坦化することにより平
坦化膜140を形成している。その平坦化膜140の上
層には、CCDイメージセンサの製造方法において良く
知られた方法によりカラーフィルタ150、オンチップ
マイクロレンズ151が形成されている。
の一例を示す図である。図13に示すCMOSイメージ
センサでは、基板10にフォトセンサ20を形成し、絶
縁膜に埋め込むようにして配線131,132,133
を形成し、最終配線工程後にPSG膜や窒化シリコン膜
を形成して、CMPなどにより平坦化することにより平
坦化膜140を形成している。その平坦化膜140の上
層には、CCDイメージセンサの製造方法において良く
知られた方法によりカラーフィルタ150、オンチップ
マイクロレンズ151が形成されている。
【0005】図14を参照して、従来技術における平坦
化膜形成後の製造工程について説明する。ここでは、平
坦化膜140の下に形成されている配線等は図示しな
い。初めに、図14(a)に示すように、平坦化膜14
0上に、例えば感光性を有する着色樹脂をリソグラフィ
ーの手法によりカラーフィルタパターンにすることで、
カラーフィルタ150を形成する。具体的には、感光性
を有し顔料を分散させた着色樹脂を塗布し、90℃から
100℃の温度のホットプレートにて90秒から120
秒の間でベーク後、i線ステッパーを用いて露光を行
い、TMAH(テトラメチルジシラザン)水溶液などの
アルカリ現像液にて現像後、100℃から120℃の温
度のホットプレートにて90秒から120秒の間で硬化
を行うことを必要回数繰り返して形成される。例えば原
色タイプのイメージセンサであれば、赤、青、緑の3回
繰り返し、補色タイプのイメージセンサであれば、シア
ン、マゼンタ、イエロー、緑の4回繰り返す。
化膜形成後の製造工程について説明する。ここでは、平
坦化膜140の下に形成されている配線等は図示しな
い。初めに、図14(a)に示すように、平坦化膜14
0上に、例えば感光性を有する着色樹脂をリソグラフィ
ーの手法によりカラーフィルタパターンにすることで、
カラーフィルタ150を形成する。具体的には、感光性
を有し顔料を分散させた着色樹脂を塗布し、90℃から
100℃の温度のホットプレートにて90秒から120
秒の間でベーク後、i線ステッパーを用いて露光を行
い、TMAH(テトラメチルジシラザン)水溶液などの
アルカリ現像液にて現像後、100℃から120℃の温
度のホットプレートにて90秒から120秒の間で硬化
を行うことを必要回数繰り返して形成される。例えば原
色タイプのイメージセンサであれば、赤、青、緑の3回
繰り返し、補色タイプのイメージセンサであれば、シア
ン、マゼンタ、イエロー、緑の4回繰り返す。
【0006】次に、図14(b)に示すように、例えば
ポリスチレン系樹脂を用いた透明な感光性樹脂を塗布し
透明有機系膜151’を形成する。この透明有機系膜1
51’はレンズ材となる。
ポリスチレン系樹脂を用いた透明な感光性樹脂を塗布し
透明有機系膜151’を形成する。この透明有機系膜1
51’はレンズ材となる。
【0007】次に、図14(c)に示すように、感光性
樹脂を塗布後、フォトリソグラフィーの手法及び熱リフ
ローによりマイクロレンズ形状の感光性樹脂Rを形成す
る。熱リフローは、最適なレンズ形状を得るために、例
えば150℃から180℃の温度により120秒から2
40秒の間で行われる。
樹脂を塗布後、フォトリソグラフィーの手法及び熱リフ
ローによりマイクロレンズ形状の感光性樹脂Rを形成す
る。熱リフローは、最適なレンズ形状を得るために、例
えば150℃から180℃の温度により120秒から2
40秒の間で行われる。
【0008】最後に、酸素プラズマを用いた異方性プラ
ズマドライエッチングにより、図14(c)で形成した
感光性樹脂Rのマイクロレンズ形状をレンズ材である透
明有機系膜151’に転写をすることで、オンチップマ
イクロレンズ151を形成し、図14(d)の構造を得
る。
ズマドライエッチングにより、図14(c)で形成した
感光性樹脂Rのマイクロレンズ形状をレンズ材である透
明有機系膜151’に転写をすることで、オンチップマ
イクロレンズ151を形成し、図14(d)の構造を得
る。
【0009】図13に示した従来例においては、カラー
フィルタ150の下端、平坦化膜140の上面からオン
チップマイクロレンズ151下端までの距離L1は2.
5μmから3μmある。この距離L1は、CMOSイメ
ージセンサとCCDイメージセンサとでほとんど差がな
い。
フィルタ150の下端、平坦化膜140の上面からオン
チップマイクロレンズ151下端までの距離L1は2.
5μmから3μmある。この距離L1は、CMOSイメ
ージセンサとCCDイメージセンサとでほとんど差がな
い。
【0010】しかしながら、CMOSイメージセンサは
一つのフォトセンサに対し数個のトランジスタを有して
おり、そのために多層の配線131,132,133を
フォトセンサ20上に形成する必要があり、フォトセン
サ20からカラーフィルタ150の下端、平坦化膜14
0上面までの距離L2が長くなってしまう。
一つのフォトセンサに対し数個のトランジスタを有して
おり、そのために多層の配線131,132,133を
フォトセンサ20上に形成する必要があり、フォトセン
サ20からカラーフィルタ150の下端、平坦化膜14
0上面までの距離L2が長くなってしまう。
【0011】CCDイメージセンサでは、その距離L2
は2.3μmであるが、CMOSイメージセンサでは5
μm以上になる。結果として、フォトセンサ20からオ
ンチップマイクロレンズ151までの距離、いわゆる層
厚L3が厚くなってしまう。CMOSイメージセンサも
CCDイメージセンサと同様に、今後画素サイズの縮小
が進むことは容易に予想されるが、MOSメモリプロセ
スを流用して製造されるCMOSイメージセンサは、プ
ロセスが進むほど配線構造が複雑になることもあり、こ
の層厚L3を薄くすることは容易でない。
は2.3μmであるが、CMOSイメージセンサでは5
μm以上になる。結果として、フォトセンサ20からオ
ンチップマイクロレンズ151までの距離、いわゆる層
厚L3が厚くなってしまう。CMOSイメージセンサも
CCDイメージセンサと同様に、今後画素サイズの縮小
が進むことは容易に予想されるが、MOSメモリプロセ
スを流用して製造されるCMOSイメージセンサは、プ
ロセスが進むほど配線構造が複雑になることもあり、こ
の層厚L3を薄くすることは容易でない。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従って、画素サイズと
層厚とのアスペクト比は大きくなるばかりである。その
結果、カメラレンズのF値が小さいときのようにイメー
ジセンサへの斜め入射光L2が増加した場合に、図15
に示すようにフォトセンサ20に光が集光しない状況が
発生してくる。
層厚とのアスペクト比は大きくなるばかりである。その
結果、カメラレンズのF値が小さいときのようにイメー
ジセンサへの斜め入射光L2が増加した場合に、図15
に示すようにフォトセンサ20に光が集光しない状況が
発生してくる。
【0013】また、CMOSイメージセンサはユニット
セル面積に対するフォトセンサ20の開口率も低い上
に、図13に示されるように最上層まで配線が開口Cの
ぎりぎりに迫っている場合が多く、オンチップマイクロ
レンズ151により集光された入射光L1が配線133
により遮られてしまう。
セル面積に対するフォトセンサ20の開口率も低い上
に、図13に示されるように最上層まで配線が開口Cの
ぎりぎりに迫っている場合が多く、オンチップマイクロ
レンズ151により集光された入射光L1が配線133
により遮られてしまう。
【0014】このとき集光された光が配線により遮られ
なくするために、図16のようにフォトセンサ20から
更に離れた位置にオンチップマイクロレンズ151aを
形成することも考えられるが、この場合、先ほど述べた
場合と同様に画素サイズと層厚とのアスペクト比が更に
大きくなり、カメラレンズのF値が小さいときのように
イメージセンサへの斜め入射光L2が増加した場合にフ
ォトセンサ20に光が集光しない状況が発生する。
なくするために、図16のようにフォトセンサ20から
更に離れた位置にオンチップマイクロレンズ151aを
形成することも考えられるが、この場合、先ほど述べた
場合と同様に画素サイズと層厚とのアスペクト比が更に
大きくなり、カメラレンズのF値が小さいときのように
イメージセンサへの斜め入射光L2が増加した場合にフ
ォトセンサ20に光が集光しない状況が発生する。
【0015】カメラレンズのF値によらず入射光をフォ
トセンサ20へ集光させるためには、オンチップマイク
ロレンズ151の曲率半径は小さいほうが良く、そのた
めには、フォトセンサ20からオンチップマイクロレン
ズ151までの距離は短くする必要がある。しかしなが
ら、CMOSイメージセンサにおいては、フォトセンサ
20の周辺の上層に形成される多層配線の存在により、
入射光が配線により遮られることなくフォトセンサ20
に集光する状態を保ちながらオンチップマイクロレンズ
151の位置を下げることには限界がある。
トセンサ20へ集光させるためには、オンチップマイク
ロレンズ151の曲率半径は小さいほうが良く、そのた
めには、フォトセンサ20からオンチップマイクロレン
ズ151までの距離は短くする必要がある。しかしなが
ら、CMOSイメージセンサにおいては、フォトセンサ
20の周辺の上層に形成される多層配線の存在により、
入射光が配線により遮られることなくフォトセンサ20
に集光する状態を保ちながらオンチップマイクロレンズ
151の位置を下げることには限界がある。
【0016】このように、CMOSイメージセンサにお
いては、全ての入射光をフォトセンサに集光させること
が困難であり、結果的にデバイス感度の低下を招いてい
る。そこで、入射光を効率良くフォトセンサに導くよう
なデバイス構造とその製造方法が望まれている。
いては、全ての入射光をフォトセンサに集光させること
が困難であり、結果的にデバイス感度の低下を招いてい
る。そこで、入射光を効率良くフォトセンサに導くよう
なデバイス構造とその製造方法が望まれている。
【0017】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、集光率を向上させて感度の向上を
図ることができる固体撮像装置およびその製造方法を提
供することにある。
であり、その目的は、集光率を向上させて感度の向上を
図ることができる固体撮像装置およびその製造方法を提
供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の固体撮像装置は、基板に形成され、入射光
量に応じた電荷を生成する受光部と、前記受光部の上層
に形成され、第1の屈折率をもち入射した光を前記受光
部へ集光し得るように光の入射側に曲面をもつ第1のレ
ンズと、前記第1のレンズ上に形成され、前記第1の屈
折率より大きい第2の屈折率をもち、入射した光を前記
第1のレンズへ集光する第2のレンズとを有する。
め、本発明の固体撮像装置は、基板に形成され、入射光
量に応じた電荷を生成する受光部と、前記受光部の上層
に形成され、第1の屈折率をもち入射した光を前記受光
部へ集光し得るように光の入射側に曲面をもつ第1のレ
ンズと、前記第1のレンズ上に形成され、前記第1の屈
折率より大きい第2の屈折率をもち、入射した光を前記
第1のレンズへ集光する第2のレンズとを有する。
【0019】前記第2のレンズは、入射した光を前記第
1のレンズへ集光する曲率に形成されている。
1のレンズへ集光する曲率に形成されている。
【0020】前記第2のレンズは、所定の波長領域の光
を透過するフィルタ機能を有する。あるいは、前記第1
のレンズは、所定の波長領域の光を透過するフィルタ機
能を有する。あるいは、前記第1のレンズの下層に形成
され、所定の波長領域の光を透過するカラーフィルタを
有する。
を透過するフィルタ機能を有する。あるいは、前記第1
のレンズは、所定の波長領域の光を透過するフィルタ機
能を有する。あるいは、前記第1のレンズの下層に形成
され、所定の波長領域の光を透過するカラーフィルタを
有する。
【0021】上記の本発明の固体撮像装置では、第2の
レンズに入射光が入射すると、当該入射光は第1のレン
ズに集光される。第1のレンズは、第2のレンズに比し
て屈折率が小さいことから、第1のレンズの曲面、すな
わち、第2のレンズとの界面において、第2のレンズに
より集光された入射光は、その焦点距離が長くなる方へ
屈折して受光部へ集光するように入射光路が変えられる
ことで、入射光が受光部へ集光される。このように、第
2のレンズにより第1のレンズへ入射光を集光し、第1
のレンズにより受光部へ入射光を集光するようにするこ
とで、第2のレンズは、第1のレンズへの集光の機能を
持たせるだけで良いため、焦点距離の短いレンズ、すな
わち、曲率半径の小さいレンズで形成される。
レンズに入射光が入射すると、当該入射光は第1のレン
ズに集光される。第1のレンズは、第2のレンズに比し
て屈折率が小さいことから、第1のレンズの曲面、すな
わち、第2のレンズとの界面において、第2のレンズに
より集光された入射光は、その焦点距離が長くなる方へ
屈折して受光部へ集光するように入射光路が変えられる
ことで、入射光が受光部へ集光される。このように、第
2のレンズにより第1のレンズへ入射光を集光し、第1
のレンズにより受光部へ入射光を集光するようにするこ
とで、第2のレンズは、第1のレンズへの集光の機能を
持たせるだけで良いため、焦点距離の短いレンズ、すな
わち、曲率半径の小さいレンズで形成される。
【0022】さらに、上記の目的を達成するため、本発
明の固体撮像装置の製造方法は、基板に受光部を形成す
る工程と、前記受光部の上層に、第1の屈折率をもち入
射した光を前記受光部へ集光し得るように光の入射側に
曲面をもつ第1のレンズを形成する工程と、前記第1の
レンズ上に、前記第1の屈折率より大きい第2の屈折率
をもち、入射した光を前記第1のレンズへ集光し得る第
2のレンズを形成する工程とを有する。
明の固体撮像装置の製造方法は、基板に受光部を形成す
る工程と、前記受光部の上層に、第1の屈折率をもち入
射した光を前記受光部へ集光し得るように光の入射側に
曲面をもつ第1のレンズを形成する工程と、前記第1の
レンズ上に、前記第1の屈折率より大きい第2の屈折率
をもち、入射した光を前記第1のレンズへ集光し得る第
2のレンズを形成する工程とを有する。
【0023】前記第2のレンズを形成する工程におい
て、顔料を分散させた着色樹脂をレンズ形状にパターニ
ングして形成する。あるいは、前記第1のレンズを形成
する工程において、顔料を分散させた着色樹脂をレンズ
形状にパターニングして形成する。あるいは、前記受光
部を形成する工程の後、前記第1のレンズを形成する工
程の前に、所定の波長領域の光を透過するカラーフィル
タを形成する工程をさらに有する。
て、顔料を分散させた着色樹脂をレンズ形状にパターニ
ングして形成する。あるいは、前記第1のレンズを形成
する工程において、顔料を分散させた着色樹脂をレンズ
形状にパターニングして形成する。あるいは、前記受光
部を形成する工程の後、前記第1のレンズを形成する工
程の前に、所定の波長領域の光を透過するカラーフィル
タを形成する工程をさらに有する。
【0024】上記の本発明の固体撮像装置の製造方法で
は、受光部の上層に、第1の屈折率をもち入射した光を
受光部へ集光し得るように光の入射側に曲面をもつ第1
のレンズを形成し、第1のレンズ上に、第1の屈折率よ
り大きい第2の屈折率をもち、入射した光を前記第1の
レンズへ集光し得る第2のレンズを形成することで、上
述した作用を有する固体撮像装置が製造され、焦点距離
の短い、すなわち、曲率半径の小さい第2のレンズが形
成される。
は、受光部の上層に、第1の屈折率をもち入射した光を
受光部へ集光し得るように光の入射側に曲面をもつ第1
のレンズを形成し、第1のレンズ上に、第1の屈折率よ
り大きい第2の屈折率をもち、入射した光を前記第1の
レンズへ集光し得る第2のレンズを形成することで、上
述した作用を有する固体撮像装置が製造され、焦点距離
の短い、すなわち、曲率半径の小さい第2のレンズが形
成される。
【0025】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の固体撮像装置お
よびその製造方法の実施の形態について、図面を参照し
て説明する。
よびその製造方法の実施の形態について、図面を参照し
て説明する。
【0026】第1実施形態
図1に、本実施形態に係るCMOS型の固体撮像装置の
構成の一例を示す。図1に示す固体撮像装置1は、光電
変換を行うフォトダイオード(即ち、pn接合型のフォ
トセンサ)2と、画素を選択する例えばMOSトランジ
スタからなる垂直選択用スイッチ素子4と、例えばMO
Sトランジスタからなる読み出し用スイッチ素子3とに
よって構成された単位画素5が、マトリックス状に複数
配列されてなる撮像領域と、各行毎に垂直選択用スイッ
チ素子4の制御電極(ゲート電極)が共通に接続された
垂直選択線SVLに垂直走査パルスφV(φV1,・・
・φVm,・・・φVm+k,・・・)を出力する垂直
走査回路6と、各列毎に読み出し用スイッチ素子3の主
電極が共通に接続された垂直信号線VLと、各列毎に垂
直選択用スイッチ素子4の主電極に接続された読み出し
パルス線RLと、垂直信号線VLと水平信号線HLに主
電極が接続された例えばMOSトランジスタからなる水
平スイッチ素子7と、水平スイッチ素子7の制御電極と
読み出しパルス線RLに接続された水平走査回路8と、
水平信号線HLに接続されたアンプ9により構成されて
いる。
構成の一例を示す。図1に示す固体撮像装置1は、光電
変換を行うフォトダイオード(即ち、pn接合型のフォ
トセンサ)2と、画素を選択する例えばMOSトランジ
スタからなる垂直選択用スイッチ素子4と、例えばMO
Sトランジスタからなる読み出し用スイッチ素子3とに
よって構成された単位画素5が、マトリックス状に複数
配列されてなる撮像領域と、各行毎に垂直選択用スイッ
チ素子4の制御電極(ゲート電極)が共通に接続された
垂直選択線SVLに垂直走査パルスφV(φV1,・・
・φVm,・・・φVm+k,・・・)を出力する垂直
走査回路6と、各列毎に読み出し用スイッチ素子3の主
電極が共通に接続された垂直信号線VLと、各列毎に垂
直選択用スイッチ素子4の主電極に接続された読み出し
パルス線RLと、垂直信号線VLと水平信号線HLに主
電極が接続された例えばMOSトランジスタからなる水
平スイッチ素子7と、水平スイッチ素子7の制御電極と
読み出しパルス線RLに接続された水平走査回路8と、
水平信号線HLに接続されたアンプ9により構成されて
いる。
【0027】各単位画素5では、読み出し用スイッチ素
子3の一方の主電極が、フォトセンサ2に接続され、他
方の主電極が垂直信号線VLに接続されている。また、
垂直選択用スイッチ素子4の一方の主電極が、読み出し
用スイッチ素子3の制御電極に接続され、その他方の主
電極が読み出しパルス線RLに接続され、その制御電極
が垂直選択線SVLに接続されている。
子3の一方の主電極が、フォトセンサ2に接続され、他
方の主電極が垂直信号線VLに接続されている。また、
垂直選択用スイッチ素子4の一方の主電極が、読み出し
用スイッチ素子3の制御電極に接続され、その他方の主
電極が読み出しパルス線RLに接続され、その制御電極
が垂直選択線SVLに接続されている。
【0028】水平走査回路8から各水平スイッチ素子7
の制御電極に水平走査パルスφH(φH1,・・・φH
n,・・・φHn+1,・・・)が供給されるととも
に、各読み出しパルス線RLに水平読み出しパルスφH
R (φHR 1,・・・φHR n,・・・φHR n+1,
・・・)が供給される。
の制御電極に水平走査パルスφH(φH1,・・・φH
n,・・・φHn+1,・・・)が供給されるととも
に、各読み出しパルス線RLに水平読み出しパルスφH
R (φHR 1,・・・φHR n,・・・φHR n+1,
・・・)が供給される。
【0029】この固体撮像装置1の基本動作は、次のよ
うになる。垂直走査回路6からの垂直走査パルスφVm
と、水平走査回路8からの読み出しパルスφHR nを受
けた垂直選択用スイッチ素子4が、それらのパルスφV
m,φHR nの積のパルスを作り、この積のパルスで読
み出し用スイッチ素子3の制御電極を制御して、フォト
センサ2で光電変換された信号電荷を垂直信号線VLに
読み出す。この信号電荷は、水平映像期間中に、水平走
査回路8からの水平走査パルスφHにより制御された水
平スイッチ素子7を通して水平信号線HLに出力され、
これに接続されたアンプ9により信号電圧に変換されて
出力される。
うになる。垂直走査回路6からの垂直走査パルスφVm
と、水平走査回路8からの読み出しパルスφHR nを受
けた垂直選択用スイッチ素子4が、それらのパルスφV
m,φHR nの積のパルスを作り、この積のパルスで読
み出し用スイッチ素子3の制御電極を制御して、フォト
センサ2で光電変換された信号電荷を垂直信号線VLに
読み出す。この信号電荷は、水平映像期間中に、水平走
査回路8からの水平走査パルスφHにより制御された水
平スイッチ素子7を通して水平信号線HLに出力され、
これに接続されたアンプ9により信号電圧に変換されて
出力される。
【0030】尚、上記の例では、単位画素内に2つのト
ランジスタを有する例について説明したが、これに限ら
れず、単位画素内に5つのトランジスタを有するもの
等、様々なタイプのものが存在する。
ランジスタを有する例について説明したが、これに限ら
れず、単位画素内に5つのトランジスタを有するもの
等、様々なタイプのものが存在する。
【0031】図2に、上記のフォトセンサ2およびその
上層構成を示す断面図を示す。図2に示すように、例え
ば、酸化シリコン等からなる素子分離絶縁膜11により
画素分離されたp型の半導体基板10の活性領域に、n
型不純物を含有するn型半導体領域12が形成され、当
該n型半導体領域12とp型の半導体基板10との間で
pn接合を形成してなるフォトセンサ2が構成されてい
る。
上層構成を示す断面図を示す。図2に示すように、例え
ば、酸化シリコン等からなる素子分離絶縁膜11により
画素分離されたp型の半導体基板10の活性領域に、n
型不純物を含有するn型半導体領域12が形成され、当
該n型半導体領域12とp型の半導体基板10との間で
pn接合を形成してなるフォトセンサ2が構成されてい
る。
【0032】画素分離された半導体基板10の他の部分
において、フォトセンサ2のn型半導体領域12と同時
に形成されたn型半導体領域12’が形成されており、
当該n型半導体領域12,12’間における半導体基板
10上には、酸化シリコン等からなるゲート絶縁膜とポ
リシリコン等からなるゲート電極が積層形成されて構成
されるnMOSトランジスタからなる読み出し用スイッ
チ素子3が形成されている。なお、図示しない領域にお
いて、他のトランジスタ等が形成されている。
において、フォトセンサ2のn型半導体領域12と同時
に形成されたn型半導体領域12’が形成されており、
当該n型半導体領域12,12’間における半導体基板
10上には、酸化シリコン等からなるゲート絶縁膜とポ
リシリコン等からなるゲート電極が積層形成されて構成
されるnMOSトランジスタからなる読み出し用スイッ
チ素子3が形成されている。なお、図示しない領域にお
いて、他のトランジスタ等が形成されている。
【0033】フォトセンサ2および読み出し用スイッチ
素子3を被覆して、酸化シリコン等からなる絶縁膜13
が形成され、当該絶縁膜13上には、フォトセンサ2上
方に開口を有するチタン等からなる遮光膜14が形成さ
れている。遮光膜14および絶縁膜13を被覆して、酸
化シリコン等からなる第1の層間絶縁膜21が形成さ
れ、さらに同様にして、酸化シリコン等からなる第2の
層間絶縁膜22が形成されている。
素子3を被覆して、酸化シリコン等からなる絶縁膜13
が形成され、当該絶縁膜13上には、フォトセンサ2上
方に開口を有するチタン等からなる遮光膜14が形成さ
れている。遮光膜14および絶縁膜13を被覆して、酸
化シリコン等からなる第1の層間絶縁膜21が形成さ
れ、さらに同様にして、酸化シリコン等からなる第2の
層間絶縁膜22が形成されている。
【0034】第2の層間絶縁膜22上には、チタンある
いは窒化チタン等からなるバリアメタル31bに挟まれ
た銅やシリコンを含有するアルミニウム配線31a等か
らなる第1の配線31が形成されている。
いは窒化チタン等からなるバリアメタル31bに挟まれ
た銅やシリコンを含有するアルミニウム配線31a等か
らなる第1の配線31が形成されている。
【0035】第2の層間絶縁膜22および第1の配線3
1を被覆して全面に、酸化シリコン等からなる第3の層
間絶縁膜23および第4の層間絶縁膜24が形成されて
おり、当該第4の層間絶縁膜24上には、チタンあるい
は窒化チタン等からなるバリアメタル32bに挟まれた
銅やシリコンを含有するアルミニウム配線32a等から
なる第2の配線32が形成されている。
1を被覆して全面に、酸化シリコン等からなる第3の層
間絶縁膜23および第4の層間絶縁膜24が形成されて
おり、当該第4の層間絶縁膜24上には、チタンあるい
は窒化チタン等からなるバリアメタル32bに挟まれた
銅やシリコンを含有するアルミニウム配線32a等から
なる第2の配線32が形成されている。
【0036】第4の層間絶縁膜24および第2の配線3
2を被覆して全面に、酸化シリコン等からなる第5の層
間絶縁膜25および第6の層間絶縁膜26が形成されて
おり、当該第6の層間絶縁膜26上には、チタンあるい
は窒化チタン等からなるバリアメタル33bに挟まれた
銅やシリコンを含有するアルミニウム配線33a等から
なる第3の配線33が形成されている。
2を被覆して全面に、酸化シリコン等からなる第5の層
間絶縁膜25および第6の層間絶縁膜26が形成されて
おり、当該第6の層間絶縁膜26上には、チタンあるい
は窒化チタン等からなるバリアメタル33bに挟まれた
銅やシリコンを含有するアルミニウム配線33a等から
なる第3の配線33が形成されている。
【0037】このようにして、半導体基板10に形成さ
れたフォトセンサ2や読み出し用スイッチ素子3および
その他のトランジスタの上層には、多層配線が形成され
ている。なお、必要に応じて、層間絶縁膜に形成された
コンタクトホールを通じて、各配線31,32,33間
は、電気的に接続されている。本実施形態では、一例と
して、第1の配線31、第2の配線32、第3の配線3
3の3層配線の例を示してあるが、これに限定されるも
のではない。
れたフォトセンサ2や読み出し用スイッチ素子3および
その他のトランジスタの上層には、多層配線が形成され
ている。なお、必要に応じて、層間絶縁膜に形成された
コンタクトホールを通じて、各配線31,32,33間
は、電気的に接続されている。本実施形態では、一例と
して、第1の配線31、第2の配線32、第3の配線3
3の3層配線の例を示してあるが、これに限定されるも
のではない。
【0038】第3の配線33および第6の層間絶縁膜2
6を被覆して全面に、酸化シリコン等からなる第7の層
間絶縁膜27が形成されており、当該第7の層間絶縁膜
27を被覆して、表面が平坦化されたPSG(Phosphosi
licate glass) 膜や窒化シリコン膜等からなる平坦化膜
40が形成されている。
6を被覆して全面に、酸化シリコン等からなる第7の層
間絶縁膜27が形成されており、当該第7の層間絶縁膜
27を被覆して、表面が平坦化されたPSG(Phosphosi
licate glass) 膜や窒化シリコン膜等からなる平坦化膜
40が形成されている。
【0039】平坦化膜40上には、第1マイクロレンズ
51が形成され、当該第1マイクロレンズ51上には、
第2マイクロレンズ52が形成されている。第1マイク
ロレンズ51は、第2マイクロレンズ52より低い屈折
率を有する材料により構成され、例えば屈折率が1.5
程度のBPSG(Borophosphosilicate glass)膜で形成
されている。第2マイクロレンズ52は、比較的屈折率
の高い有機材料、例えばポリイミド樹脂で形成され、こ
のポリイミド樹脂の光に対する屈折率データは図3に示
すようなものであり、当該屈折率は通常のレンズ材とし
て用いられる有機材料の約1.6よりも高く1.8程度
ある。また、第2マイクロレンズ52は、顔料が分散さ
れて着色されており、カラーフィルタの機能も持つ。
51が形成され、当該第1マイクロレンズ51上には、
第2マイクロレンズ52が形成されている。第1マイク
ロレンズ51は、第2マイクロレンズ52より低い屈折
率を有する材料により構成され、例えば屈折率が1.5
程度のBPSG(Borophosphosilicate glass)膜で形成
されている。第2マイクロレンズ52は、比較的屈折率
の高い有機材料、例えばポリイミド樹脂で形成され、こ
のポリイミド樹脂の光に対する屈折率データは図3に示
すようなものであり、当該屈折率は通常のレンズ材とし
て用いられる有機材料の約1.6よりも高く1.8程度
ある。また、第2マイクロレンズ52は、顔料が分散さ
れて着色されており、カラーフィルタの機能も持つ。
【0040】次に、上記の本実施形態に係る固体撮像装
置の製造方法について、図4から図7を用いて説明す
る。ここで説明する例は、原色タイプのCMOSイメー
ジセンサで赤、緑、青の3色のカラーフィルタを必要と
する場合である。
置の製造方法について、図4から図7を用いて説明す
る。ここで説明する例は、原色タイプのCMOSイメー
ジセンサで赤、緑、青の3色のカラーフィルタを必要と
する場合である。
【0041】まず、一般的なCMOSイメージセンサの
形成と同様に、CMOS技術を用いて、半導体基板10
にフォトセンサ2を構成するn型半導体領域12や他の
トランジスタのソース・ドレイン領域等の各種半導体領
域を形成し、半導体基板10上にゲート絶縁膜およびゲ
ート電極を形成することで、半導体基板に複数のトラン
ジスタを形成した後、層間絶縁膜の堆積工程および配線
形成工程を繰り返すことにより、層間絶縁膜21〜27
内に配線31,32,33を形成する。
形成と同様に、CMOS技術を用いて、半導体基板10
にフォトセンサ2を構成するn型半導体領域12や他の
トランジスタのソース・ドレイン領域等の各種半導体領
域を形成し、半導体基板10上にゲート絶縁膜およびゲ
ート電極を形成することで、半導体基板に複数のトラン
ジスタを形成した後、層間絶縁膜の堆積工程および配線
形成工程を繰り返すことにより、層間絶縁膜21〜27
内に配線31,32,33を形成する。
【0042】そして、図4(a)に示すように、最上層
の第7の層間絶縁膜27を形成後、窒化シリコン等を堆
積させてCMPなどにより平坦化することで平坦化膜4
0を形成する。但し、ここでは平坦化膜40の下に形成
されている配線等は図示していない。その平坦化膜40
上に屈折率が1.5程度の例えばBPSG膜等をCVD
法により1から2μm程度堆積させて、第1マイクロレ
ンズ用層510を形成する。
の第7の層間絶縁膜27を形成後、窒化シリコン等を堆
積させてCMPなどにより平坦化することで平坦化膜4
0を形成する。但し、ここでは平坦化膜40の下に形成
されている配線等は図示していない。その平坦化膜40
上に屈折率が1.5程度の例えばBPSG膜等をCVD
法により1から2μm程度堆積させて、第1マイクロレ
ンズ用層510を形成する。
【0043】次に、図4(b)に示すように、第1マイ
クロレンズ用層510上に感光性樹脂を塗布後、フォト
リソグラフィーの手法及び熱リフローによりマイクロレ
ンズ形状の感光性樹脂R1を形成する。熱リフローは、
最適なレンズ形状を得るために、例えば150℃から1
80℃の温度により120秒から240秒の間で行われ
る。
クロレンズ用層510上に感光性樹脂を塗布後、フォト
リソグラフィーの手法及び熱リフローによりマイクロレ
ンズ形状の感光性樹脂R1を形成する。熱リフローは、
最適なレンズ形状を得るために、例えば150℃から1
80℃の温度により120秒から240秒の間で行われ
る。
【0044】次に、図4(c)に示すように、異方性プ
ラズマドライエッチングにより図4(b)で形成した感
光性樹脂R1のマイクロレンズ形状を第1マイクロレン
ズレンズ用層510に転写し、第1マイクロレンズ51
を形成する。
ラズマドライエッチングにより図4(b)で形成した感
光性樹脂R1のマイクロレンズ形状を第1マイクロレン
ズレンズ用層510に転写し、第1マイクロレンズ51
を形成する。
【0045】次に、図5(d)に示すように、例えば緑
の顔料を分散させたポリイミド樹脂を塗布して第1カラ
ーフィルタ兼レンズ層521を形成する。ポリイミド樹
脂は、例えば1.8程度の比較的高い屈折率を有する。
図3にポリイミド樹脂の波長に対する屈折率データの一
例を示したが、屈折率は材料の組成を変更することによ
り調整が可能である。
の顔料を分散させたポリイミド樹脂を塗布して第1カラ
ーフィルタ兼レンズ層521を形成する。ポリイミド樹
脂は、例えば1.8程度の比較的高い屈折率を有する。
図3にポリイミド樹脂の波長に対する屈折率データの一
例を示したが、屈折率は材料の組成を変更することによ
り調整が可能である。
【0046】次に、図5(e)に示すように、緑のカラ
ーフィルタを必要とする画素の第1カラーフィルタ兼レ
ンズ層521上にプラズマドライエッチング耐性の高い
ポジ型フォトレジストR2をフォトリソグラフィーの手
法を用いてパターニングした後に、当該フォトレジスト
R2をマスクとして異方性プラズマドライエッチングを
行うことにより、第1カラーフィルタ兼レンズ層521
をパターニング形成する。
ーフィルタを必要とする画素の第1カラーフィルタ兼レ
ンズ層521上にプラズマドライエッチング耐性の高い
ポジ型フォトレジストR2をフォトリソグラフィーの手
法を用いてパターニングした後に、当該フォトレジスト
R2をマスクとして異方性プラズマドライエッチングを
行うことにより、第1カラーフィルタ兼レンズ層521
をパターニング形成する。
【0047】次に、図5(f)に示すように、エッチン
グマスクとして用いたポジ型フォトレジストR2をMM
P(メチルメトキシプロピオネート)などの溶剤により
除去する。
グマスクとして用いたポジ型フォトレジストR2をMM
P(メチルメトキシプロピオネート)などの溶剤により
除去する。
【0048】次に、図6(g)に示すように、図5
(d)から5(f)と同様の手法で、例えば赤の顔料を
分散させたポリイミド樹脂を塗布して第2カラーフィル
タ兼レンズ層522を形成し、1色目の緑と2色目の赤
のカラーフィルタ以外のカラーフィルタを必要とする画
素の第2カラーフィルタ兼レンズ層522を除去する。
(d)から5(f)と同様の手法で、例えば赤の顔料を
分散させたポリイミド樹脂を塗布して第2カラーフィル
タ兼レンズ層522を形成し、1色目の緑と2色目の赤
のカラーフィルタ以外のカラーフィルタを必要とする画
素の第2カラーフィルタ兼レンズ層522を除去する。
【0049】次に、図6(h)に示すように、3色目の
青の顔料を分散させたポリイミド樹脂を塗布して第3カ
ラーフィルタ兼レンズ層523を形成する。ここで、4
色のカラーフィルタが必要な場合は、図5(d)から
(f)と同様の手法で1、2、3色目以外のカラーフィ
ルタを必要とする画素のポリイミド樹脂を除去をした後
に4色目のポリイミド樹脂を塗布する。
青の顔料を分散させたポリイミド樹脂を塗布して第3カ
ラーフィルタ兼レンズ層523を形成する。ここで、4
色のカラーフィルタが必要な場合は、図5(d)から
(f)と同様の手法で1、2、3色目以外のカラーフィ
ルタを必要とする画素のポリイミド樹脂を除去をした後
に4色目のポリイミド樹脂を塗布する。
【0050】次に、図7(i)に示すように、感光性樹
脂を塗布後、フォトリソグラフィーの手法及び熱リフロ
ーによりマイクロレンズ形状の感光性樹脂R3を形成す
る。熱リフローは、最適なレンズ形状を得るために、例
えば150℃から180℃の温度により120秒から2
40秒の間で行われる。
脂を塗布後、フォトリソグラフィーの手法及び熱リフロ
ーによりマイクロレンズ形状の感光性樹脂R3を形成す
る。熱リフローは、最適なレンズ形状を得るために、例
えば150℃から180℃の温度により120秒から2
40秒の間で行われる。
【0051】次に、図7(j)に示すように、異方性プ
ラズマドライエッチングにより図7(i)で形成した感
光性樹脂R3のマイクロレンズ形状をカラーフィルタ兼
レンズ層521,522,523に転写し、第2マイク
ロレンズ52を形成する。このときの異方性プラズマド
ライエッチングは、感光性樹脂R3とカラーフィルタ兼
レンズ層521,522,523のエッチング速度が等
しくなるようにガス流量などの条件を調整する。以上に
より、図2に示すような本実施形態に係る固体撮像装置
が製造される。
ラズマドライエッチングにより図7(i)で形成した感
光性樹脂R3のマイクロレンズ形状をカラーフィルタ兼
レンズ層521,522,523に転写し、第2マイク
ロレンズ52を形成する。このときの異方性プラズマド
ライエッチングは、感光性樹脂R3とカラーフィルタ兼
レンズ層521,522,523のエッチング速度が等
しくなるようにガス流量などの条件を調整する。以上に
より、図2に示すような本実施形態に係る固体撮像装置
が製造される。
【0052】上記の本実施形態に係る固体撮像装置で
は、カラーフィルタの機能を持つ第2マイクロレンズ5
2に入射光L1が入射すると、当該入射光L1は第1マ
イクロレンズ51に集光される。このとき、当該第2マ
イクロレンズ52のカラーフィルタ機能により、入射光
L1の所望の波長領域のみが透過することとなる。第1
マイクロレンズ51は、第2マイクロレンズ52に比し
て屈折率が小さいことから、第2マイクロレンズ52に
より集光されてきた入射光L1は、その焦点距離が長く
なる方へ屈折し、フォトセンサ2へ集光するように入射
光路が変えられることで、入射光L1がフォトセンサ2
へ集光されることとなる。
は、カラーフィルタの機能を持つ第2マイクロレンズ5
2に入射光L1が入射すると、当該入射光L1は第1マ
イクロレンズ51に集光される。このとき、当該第2マ
イクロレンズ52のカラーフィルタ機能により、入射光
L1の所望の波長領域のみが透過することとなる。第1
マイクロレンズ51は、第2マイクロレンズ52に比し
て屈折率が小さいことから、第2マイクロレンズ52に
より集光されてきた入射光L1は、その焦点距離が長く
なる方へ屈折し、フォトセンサ2へ集光するように入射
光路が変えられることで、入射光L1がフォトセンサ2
へ集光されることとなる。
【0053】ここで、第1マイクロレンズ51の大きさ
について言及しておくと、本実施形態の構造では、第1
マイクロレンズ51には第2マイクロレンズ52からの
入射光が十分に集光されてきているので、第1マイクロ
レンズ51は、図2に示されるように画素の大きさとほ
ぼ同等に形成する必要は無い。最上層配線により決定さ
れるフォトセンサ2上層の開口Cとほぼ同等、またはそ
れ以上の大きさがあれば十分である。
について言及しておくと、本実施形態の構造では、第1
マイクロレンズ51には第2マイクロレンズ52からの
入射光が十分に集光されてきているので、第1マイクロ
レンズ51は、図2に示されるように画素の大きさとほ
ぼ同等に形成する必要は無い。最上層配線により決定さ
れるフォトセンサ2上層の開口Cとほぼ同等、またはそ
れ以上の大きさがあれば十分である。
【0054】以上のような集光作用を有する本実施形態
に係る固体撮像装置によれば、最上層の第2マイクロレ
ンズ52は、第1マイクロレンズ51への集光の機能を
持たせるだけで良いため、焦点距離の短いレンズ、すな
わち、曲率半径の小さいマイクロレンズとすることがで
き、斜め入射光L2についても効率良くフォトセンサ2
に導くことが可能であることから、カメラレンズのF値
の変化に対する集光の変化を小さく出来る。また、第2
マイクロレンズ52は屈折率が比較的高いため、入射光
L1はより大きく屈折されて、第1マイクロレンズ51
へと集光され、レンズの曲率半径を更に小さくすること
と同等の効果が得られる。
に係る固体撮像装置によれば、最上層の第2マイクロレ
ンズ52は、第1マイクロレンズ51への集光の機能を
持たせるだけで良いため、焦点距離の短いレンズ、すな
わち、曲率半径の小さいマイクロレンズとすることがで
き、斜め入射光L2についても効率良くフォトセンサ2
に導くことが可能であることから、カメラレンズのF値
の変化に対する集光の変化を小さく出来る。また、第2
マイクロレンズ52は屈折率が比較的高いため、入射光
L1はより大きく屈折されて、第1マイクロレンズ51
へと集光され、レンズの曲率半径を更に小さくすること
と同等の効果が得られる。
【0055】更に、第2マイクロレンズ52に顔料を分
散させた着色樹脂を用いることで、以下の効果を有す
る。すなわち、従来において、オンチップマイクロレン
ズ材として使用されたポリスチレン系樹脂は屈折率が約
1.6であるが、一般的に使用されているカラーフィル
タ材料は、屈折率1.6から1.7と必ずしもオンチッ
プマイクロレンズとカラーフィルタの屈折率は同じには
ならず、少なからずその界面での反射、屈折が起こる。
また、オンチップマイクロレンズとカラーフィルタの界
面は必ずしも平面とはならない。このことは、入射光を
効率良く集光させるためのオンチップマイクロレンズの
設計において制御を困難にする要因として働き、入射光
の光路に対してバラツキを与えることとなる。結果とし
て、入射光がフォトセンサに完全に集光しない状態が発
生する。それに比して、本実施形態では、第2マイクロ
レンズ52がカラーフィルタ機能を備えることで、上記
のようなマイクロレンズからの入射光が屈折率の異なる
カラーフィルタにて光路が変化することによる集光効率
の低下を防止できる。
散させた着色樹脂を用いることで、以下の効果を有す
る。すなわち、従来において、オンチップマイクロレン
ズ材として使用されたポリスチレン系樹脂は屈折率が約
1.6であるが、一般的に使用されているカラーフィル
タ材料は、屈折率1.6から1.7と必ずしもオンチッ
プマイクロレンズとカラーフィルタの屈折率は同じには
ならず、少なからずその界面での反射、屈折が起こる。
また、オンチップマイクロレンズとカラーフィルタの界
面は必ずしも平面とはならない。このことは、入射光を
効率良く集光させるためのオンチップマイクロレンズの
設計において制御を困難にする要因として働き、入射光
の光路に対してバラツキを与えることとなる。結果とし
て、入射光がフォトセンサに完全に集光しない状態が発
生する。それに比して、本実施形態では、第2マイクロ
レンズ52がカラーフィルタ機能を備えることで、上記
のようなマイクロレンズからの入射光が屈折率の異なる
カラーフィルタにて光路が変化することによる集光効率
の低下を防止できる。
【0056】以上のように、CMOS型の固体撮像装置
において、入射光L1を効率良くフォトセンサ2に導く
ことが可能となり、また、カメラレンズのF値による集
光の変化が少ないため、斜め入射光L2についても効率
良くフォトセンサ2に集光することが可能である。
において、入射光L1を効率良くフォトセンサ2に導く
ことが可能となり、また、カメラレンズのF値による集
光の変化が少ないため、斜め入射光L2についても効率
良くフォトセンサ2に集光することが可能である。
【0057】第2実施形態
第1実施形態では、最上層の第2マイクロレンズ52に
色素を含有するポリイミド樹脂を採用して、カラーフィ
ルタの機能を兼用する例について説明したが、本実施形
態では、第1マイクロレンズ51に顔料を分散させた着
色樹脂を用いてカラーフィルタの機能を兼用する。
色素を含有するポリイミド樹脂を採用して、カラーフィ
ルタの機能を兼用する例について説明したが、本実施形
態では、第1マイクロレンズ51に顔料を分散させた着
色樹脂を用いてカラーフィルタの機能を兼用する。
【0058】そのため、本実施形態においては、第1マ
イクロレンズは、例えば屈折率が1.6程度のノボラッ
ク系樹脂やアクリル系樹脂に顔料を分散させた着色樹脂
を使用する。なお、平坦化膜40より下層の構成につい
ては第1実施形態と同様である。
イクロレンズは、例えば屈折率が1.6程度のノボラッ
ク系樹脂やアクリル系樹脂に顔料を分散させた着色樹脂
を使用する。なお、平坦化膜40より下層の構成につい
ては第1実施形態と同様である。
【0059】上記の本実施形態に係る固体撮像装置の製
造方法について、図8から図11を用いて説明する。こ
こでも説明する例は、第1実施形態と同様、原色タイプ
のCMOSイメージセンサで、赤、緑、青の3色のカラ
ーフィルタを必要とする場合である。
造方法について、図8から図11を用いて説明する。こ
こでも説明する例は、第1実施形態と同様、原色タイプ
のCMOSイメージセンサで、赤、緑、青の3色のカラ
ーフィルタを必要とする場合である。
【0060】まず、第1実施形態と同様、一般的なCM
OSイメージセンサの形成と同様に、CMOS技術を用
いて、半導体基板10にフォトセンサ2を構成するn型
半導体領域12や他のトランジスタのソース・ドレイン
領域等の各種半導体領域を形成し、半導体基板10上に
ゲート絶縁膜およびゲート電極を形成することで、半導
体基板に複数のトランジスタを形成した後、層間絶縁膜
の堆積工程および配線形成工程を繰り返すことにより、
層間絶縁膜21〜27内に配線31,32,33を形成
する。
OSイメージセンサの形成と同様に、CMOS技術を用
いて、半導体基板10にフォトセンサ2を構成するn型
半導体領域12や他のトランジスタのソース・ドレイン
領域等の各種半導体領域を形成し、半導体基板10上に
ゲート絶縁膜およびゲート電極を形成することで、半導
体基板に複数のトランジスタを形成した後、層間絶縁膜
の堆積工程および配線形成工程を繰り返すことにより、
層間絶縁膜21〜27内に配線31,32,33を形成
する。
【0061】そして、図8(a)に示すように、最上層
の層間絶縁膜27を形成後、窒化シリコン等を堆積させ
てCMPなどにより平坦化することで平坦化膜40を形
成する。但し、第1実施形態と同様、平坦化膜40の下
に形成されている配線等は図示していない。続いて、平
坦化膜40上に、例えば緑の顔料を分散させたノボラッ
ク系樹脂を塗布して第1カラーフィルタ兼レンズ層51
1を形成する。
の層間絶縁膜27を形成後、窒化シリコン等を堆積させ
てCMPなどにより平坦化することで平坦化膜40を形
成する。但し、第1実施形態と同様、平坦化膜40の下
に形成されている配線等は図示していない。続いて、平
坦化膜40上に、例えば緑の顔料を分散させたノボラッ
ク系樹脂を塗布して第1カラーフィルタ兼レンズ層51
1を形成する。
【0062】次に、図8(b)に示すように、緑のカラ
ーフィルタを必要とする画素の第1カラーフィルタ兼レ
ンズ層511上にプラズマドライエッチング耐性の高い
ポジ型フォトレジストR11をフォトリソグラフィーの
手法を用いてパターニングした後に、当該フォトレジス
トR11をマスクとして異方性プラズマドライエッチン
グを行うことにより、第1カラーフィルタ兼レンズ層5
11をパターニングする。
ーフィルタを必要とする画素の第1カラーフィルタ兼レ
ンズ層511上にプラズマドライエッチング耐性の高い
ポジ型フォトレジストR11をフォトリソグラフィーの
手法を用いてパターニングした後に、当該フォトレジス
トR11をマスクとして異方性プラズマドライエッチン
グを行うことにより、第1カラーフィルタ兼レンズ層5
11をパターニングする。
【0063】次に、図8(c)に示すように、エッチン
グマスクとして用いたポジ型フォトレジストR11をM
MP(メチルメトキシプロピオネート)などの溶剤によ
り除去する。
グマスクとして用いたポジ型フォトレジストR11をM
MP(メチルメトキシプロピオネート)などの溶剤によ
り除去する。
【0064】次に、図9(d)に示すように、図8
(a)から8(c)と同様の手法で、例えば赤の顔料を
分散させたノボラック系樹脂を塗布して第2カラーフィ
ルタ兼レンズ層512を形成し、1色目の緑と2色目の
赤のカラーフィルタ以外のカラーフィルタを必要とする
画素の第2カラーフィルタ兼レンズ層512を除去す
る。
(a)から8(c)と同様の手法で、例えば赤の顔料を
分散させたノボラック系樹脂を塗布して第2カラーフィ
ルタ兼レンズ層512を形成し、1色目の緑と2色目の
赤のカラーフィルタ以外のカラーフィルタを必要とする
画素の第2カラーフィルタ兼レンズ層512を除去す
る。
【0065】次に、図9(e)に示すように、3色目の
青の顔料を分散させたノボラック系樹脂を塗布して第3
カラーフィルタ兼レンズ層513を形成する。ここで、
4色のカラーフィルタが必要な場合は、図8(a)から
(c)と同様の手法で1、2、3色目以外のカラーフィ
ルタを必要とする画素のカラーフィルタ兼レンズ層を除
去をした後に4色目のカラーフィルタ兼レンズ層を形成
する。
青の顔料を分散させたノボラック系樹脂を塗布して第3
カラーフィルタ兼レンズ層513を形成する。ここで、
4色のカラーフィルタが必要な場合は、図8(a)から
(c)と同様の手法で1、2、3色目以外のカラーフィ
ルタを必要とする画素のカラーフィルタ兼レンズ層を除
去をした後に4色目のカラーフィルタ兼レンズ層を形成
する。
【0066】次に、図10(f)に示すように、感光性
樹脂を塗布後、フォトリソグラフィーの手法及び熱リフ
ローによりマイクロレンズ形状の感光性樹脂R12を形
成する。熱リフローは、最適なレンズ形状を得るため
に、例えば150℃から180℃の温度により120秒
から240秒の間で行われる。
樹脂を塗布後、フォトリソグラフィーの手法及び熱リフ
ローによりマイクロレンズ形状の感光性樹脂R12を形
成する。熱リフローは、最適なレンズ形状を得るため
に、例えば150℃から180℃の温度により120秒
から240秒の間で行われる。
【0067】次に、図10(g)に示すように、異方性
プラズマドライエッチングにより図10(f)で形成し
た感光性樹脂R12のマイクロレンズ形状をカラーフィ
ルタ兼レンズ層511,512,513に転写し、第1
マイクロレンズ51aを形成する。このときの異方性プ
ラズマドライエッチングは、感光性樹脂R12とカラー
フィルタ兼レンズ層511,512,513のエッチン
グ速度が等しくなるようにガス流量などの条件を調整す
る。
プラズマドライエッチングにより図10(f)で形成し
た感光性樹脂R12のマイクロレンズ形状をカラーフィ
ルタ兼レンズ層511,512,513に転写し、第1
マイクロレンズ51aを形成する。このときの異方性プ
ラズマドライエッチングは、感光性樹脂R12とカラー
フィルタ兼レンズ層511,512,513のエッチン
グ速度が等しくなるようにガス流量などの条件を調整す
る。
【0068】次に、図10(h)に示すように、第1マ
イクロレンズ51a上に、屈折率が1.8程度の無色透
明なポリイミド樹脂を1から2μm程度塗布して、第2
マイクロレンズ用層520を形成する。
イクロレンズ51a上に、屈折率が1.8程度の無色透
明なポリイミド樹脂を1から2μm程度塗布して、第2
マイクロレンズ用層520を形成する。
【0069】次に、図11(i)に示すように、第2マ
イクロレンズ用層520上に感光性樹脂を塗布後、フォ
トリソグラフィーの手法及び熱リフローによりマイクロ
レンズ形状の感光性樹脂R13を形成する。熱リフロー
は、最適なレンズ形状を得るために、例えば150℃か
ら180℃の温度により120秒から240秒の間で行
われる。
イクロレンズ用層520上に感光性樹脂を塗布後、フォ
トリソグラフィーの手法及び熱リフローによりマイクロ
レンズ形状の感光性樹脂R13を形成する。熱リフロー
は、最適なレンズ形状を得るために、例えば150℃か
ら180℃の温度により120秒から240秒の間で行
われる。
【0070】次に、図12(j)に示すように、異方性
プラズマドライエッチングにより図12(i)で形成し
た感光性樹脂R13のマイクロレンズ形状を第2マイク
ロレンズ用層520に転写し、第2マイクロレンズ52
aを形成する。以上により、本実施形態に係る固体撮像
装置が製造される。
プラズマドライエッチングにより図12(i)で形成し
た感光性樹脂R13のマイクロレンズ形状を第2マイク
ロレンズ用層520に転写し、第2マイクロレンズ52
aを形成する。以上により、本実施形態に係る固体撮像
装置が製造される。
【0071】上記の本実施形態に係る固体撮像装置で
は、第1マイクロレンズ51aがカラーフィルタ機能を
有する点以外においては、第1実施形態と同様の作用を
有し、第2マイクロレンズ52aに入射した入射光は、
第1マイクロレンズ51aに集光され、第1マイクロレ
ンズ51aは、第2マイクロレンズ52aに比して屈折
率が小さいことから、第2マイクロレンズ52aにより
集光されてきた入射光L1は、その焦点距離が長くなる
方へ屈折し、フォトセンサ2へ集光するように入射光路
が変えられることで、入射光L1がフォトセンサ2へ集
光されることとなる。
は、第1マイクロレンズ51aがカラーフィルタ機能を
有する点以外においては、第1実施形態と同様の作用を
有し、第2マイクロレンズ52aに入射した入射光は、
第1マイクロレンズ51aに集光され、第1マイクロレ
ンズ51aは、第2マイクロレンズ52aに比して屈折
率が小さいことから、第2マイクロレンズ52aにより
集光されてきた入射光L1は、その焦点距離が長くなる
方へ屈折し、フォトセンサ2へ集光するように入射光路
が変えられることで、入射光L1がフォトセンサ2へ集
光されることとなる。
【0072】従って、本実施形態に係る固体撮像装置に
おいても、第1実施形態と同様の理由から、最上層の第
2マイクロレンズ52aは、第1マイクロレンズ51a
への集光の機能を持たせるだけで良いため、焦点距離の
短い、すなわち、曲率半径の小さいマイクロレンズとす
ることができ、斜め入射光L2についても効率良くフォ
トセンサ2に導くことが可能であることから、カメラレ
ンズのF値の変化に対する集光の変化を小さく出来る。
また、第2マイクロレンズ52aは屈折率が比較的高い
ため、入射光はより大きく屈折されて、第1マイクロレ
ンズ51aへと集光され、レンズの曲率半径を更に小さ
くすることと同等の効果が得られる。
おいても、第1実施形態と同様の理由から、最上層の第
2マイクロレンズ52aは、第1マイクロレンズ51a
への集光の機能を持たせるだけで良いため、焦点距離の
短い、すなわち、曲率半径の小さいマイクロレンズとす
ることができ、斜め入射光L2についても効率良くフォ
トセンサ2に導くことが可能であることから、カメラレ
ンズのF値の変化に対する集光の変化を小さく出来る。
また、第2マイクロレンズ52aは屈折率が比較的高い
ため、入射光はより大きく屈折されて、第1マイクロレ
ンズ51aへと集光され、レンズの曲率半径を更に小さ
くすることと同等の効果が得られる。
【0073】更に、第1実施形態と同様に、第1マイク
ロレンズ51aに着色樹脂を用いることで、マイクロレ
ンズからの入射光が屈折率の違うカラーフィルターにて
光路が変化することによる集光効率の低下を防止でき
る。
ロレンズ51aに着色樹脂を用いることで、マイクロレ
ンズからの入射光が屈折率の違うカラーフィルターにて
光路が変化することによる集光効率の低下を防止でき
る。
【0074】以上のようにして、本実施形態において
も、第1実施形態と同様にして、CMOS型の固体撮像
装置において、入射光を効率良くフォトセンサ2に導く
ことが可能となり、また、カメラレンズのF値による集
光の変化が少ないため、斜め入射光についても効率良く
フォトセンサ2に集光することが可能である。
も、第1実施形態と同様にして、CMOS型の固体撮像
装置において、入射光を効率良くフォトセンサ2に導く
ことが可能となり、また、カメラレンズのF値による集
光の変化が少ないため、斜め入射光についても効率良く
フォトセンサ2に集光することが可能である。
【0075】第3実施形態
図12に、本実施形態に係るフォトセンサ2およびその
上層構成を示す断面図を示す。第1実施形態および第2
実施形態においては、第1マイクロレンズあるいは第2
マイクロレンズのいずれかが、カラーフィルタ機能を兼
用する構造の例について説明したが、本実施形態では、
マイクロレンズの下層に従来と同様のカラーフィルタ5
0を有する。
上層構成を示す断面図を示す。第1実施形態および第2
実施形態においては、第1マイクロレンズあるいは第2
マイクロレンズのいずれかが、カラーフィルタ機能を兼
用する構造の例について説明したが、本実施形態では、
マイクロレンズの下層に従来と同様のカラーフィルタ5
0を有する。
【0076】すなわち、本実施形態では、平坦化膜40
上に、例えば感光性を有する着色樹脂をリソグラフィー
の手法によりカラーフィルタパターンに形成されたカラ
ーフィルタ50を有する。
上に、例えば感光性を有する着色樹脂をリソグラフィー
の手法によりカラーフィルタパターンに形成されたカラ
ーフィルタ50を有する。
【0077】また、カラーフィルタ50上には、第1マ
イクロレンズ51bが形成され、当該第1マイクロレン
ズ51b上には、第2マイクロレンズ52bが形成され
ている。第1マイクロレンズ51bは、第2マイクロレ
ンズ52bより低い屈折率を有する材料により構成さ
れ、例えば屈折率が1.6程度のノボラック系樹脂で形
成されている。第2マイクロレンズ52bは、比較的屈
折率の高い有機材料、例えば屈折率が1.8程度のポリ
イミド樹脂で形成される。なお、平坦化膜40より下層
の構成については第1実施形態と同様である。
イクロレンズ51bが形成され、当該第1マイクロレン
ズ51b上には、第2マイクロレンズ52bが形成され
ている。第1マイクロレンズ51bは、第2マイクロレ
ンズ52bより低い屈折率を有する材料により構成さ
れ、例えば屈折率が1.6程度のノボラック系樹脂で形
成されている。第2マイクロレンズ52bは、比較的屈
折率の高い有機材料、例えば屈折率が1.8程度のポリ
イミド樹脂で形成される。なお、平坦化膜40より下層
の構成については第1実施形態と同様である。
【0078】上記構成の固体撮像装置の製造において
は、平坦化膜40を形成後に、従来と同様にして、感光
性を有し顔料を分散させた着色樹脂を塗布し、90℃か
ら100℃の温度のホットプレートにて90秒から12
0秒の間でベーク後、i線ステッパーを用いて露光を行
い、TMAH(テトラメチルジシラザン)水溶液などの
アルカリ現像液にて現像後、100℃から120℃の温
度のホットプレートにて90秒から120秒の間で硬化
を行うことを必要回数繰り返すことで、カラーフィルタ
50が形成される。例えば原色タイプのイメージセンサ
であれば、赤、青、緑の3回繰り返し、補色タイプのイ
メージセンサであればシアン、マゼンタ、イエロー、緑
の4回繰り返す。
は、平坦化膜40を形成後に、従来と同様にして、感光
性を有し顔料を分散させた着色樹脂を塗布し、90℃か
ら100℃の温度のホットプレートにて90秒から12
0秒の間でベーク後、i線ステッパーを用いて露光を行
い、TMAH(テトラメチルジシラザン)水溶液などの
アルカリ現像液にて現像後、100℃から120℃の温
度のホットプレートにて90秒から120秒の間で硬化
を行うことを必要回数繰り返すことで、カラーフィルタ
50が形成される。例えば原色タイプのイメージセンサ
であれば、赤、青、緑の3回繰り返し、補色タイプのイ
メージセンサであればシアン、マゼンタ、イエロー、緑
の4回繰り返す。
【0079】続いて、第2実施形態と同様にして、カラ
ーフィルタ50上に屈折率が1.6程度の例えばノボラ
ック系樹脂からなる第1マイクロレンズ51bを形成
し、第1マイクロレンズ51bを形成後に、例えばポリ
イミド樹脂からなる第2マイクロレンズ52bを形成す
ることで、図12に示す本実施形態に係る固体撮像装置
が製造される。
ーフィルタ50上に屈折率が1.6程度の例えばノボラ
ック系樹脂からなる第1マイクロレンズ51bを形成
し、第1マイクロレンズ51bを形成後に、例えばポリ
イミド樹脂からなる第2マイクロレンズ52bを形成す
ることで、図12に示す本実施形態に係る固体撮像装置
が製造される。
【0080】上記の本実施形態に係る固体撮像装置で
は、第1および第2実施形態と同様の作用を有し、第2
マイクロレンズ52bに入射した入射光L1は、第1マ
イクロレンズ51bに集光され、第1マイクロレンズ5
1bは、第2マイクロレンズ52bに比して屈折率が小
さいことから、第2マイクロレンズ52bにより集光さ
れてきた入射光L1は、その焦点距離が長くなる方へ屈
折し、フォトセンサ2へ集光するように入射光路が変え
られる。そして、カラーフィルタ50を通過すること
で、入射光L1の所望の波長領域のみがフォトセンサ2
へ集光されることとなる。
は、第1および第2実施形態と同様の作用を有し、第2
マイクロレンズ52bに入射した入射光L1は、第1マ
イクロレンズ51bに集光され、第1マイクロレンズ5
1bは、第2マイクロレンズ52bに比して屈折率が小
さいことから、第2マイクロレンズ52bにより集光さ
れてきた入射光L1は、その焦点距離が長くなる方へ屈
折し、フォトセンサ2へ集光するように入射光路が変え
られる。そして、カラーフィルタ50を通過すること
で、入射光L1の所望の波長領域のみがフォトセンサ2
へ集光されることとなる。
【0081】従って、本実施形態に係る固体撮像装置に
おいても、第1実施形態と同様の理由から、最上層の第
2マイクロレンズ52bは、第1マイクロレンズ51b
への集光の機能を持たせるだけで良いため、焦点距離の
短い、すなわち、曲率半径の小さいマイクロレンズとす
ることができ、斜め入射光L2についても効率良くフォ
トセンサ2に導くことが可能であることから、カメラレ
ンズのF値の変化に対する集光の変化を小さく出来る。
また、第2マイクロレンズ52bは屈折率が比較的高い
ため、入射光L1はより大きく屈折され、第1マイクロ
レンズ51bへと集光されて、レンズの曲率半径を更に
小さくすることと同等の効果が得られる。
おいても、第1実施形態と同様の理由から、最上層の第
2マイクロレンズ52bは、第1マイクロレンズ51b
への集光の機能を持たせるだけで良いため、焦点距離の
短い、すなわち、曲率半径の小さいマイクロレンズとす
ることができ、斜め入射光L2についても効率良くフォ
トセンサ2に導くことが可能であることから、カメラレ
ンズのF値の変化に対する集光の変化を小さく出来る。
また、第2マイクロレンズ52bは屈折率が比較的高い
ため、入射光L1はより大きく屈折され、第1マイクロ
レンズ51bへと集光されて、レンズの曲率半径を更に
小さくすることと同等の効果が得られる。
【0082】以上のようにして、本実施形態において
も、CMOS型の固体撮像装置において、入射光を効率
良くフォトセンサ2に導くことが可能となり、また、カ
メラレンズのF値による集光の変化が少ないため、斜め
入射光についても効率良くフォトセンサ2に集光するこ
とが可能である。
も、CMOS型の固体撮像装置において、入射光を効率
良くフォトセンサ2に導くことが可能となり、また、カ
メラレンズのF値による集光の変化が少ないため、斜め
入射光についても効率良くフォトセンサ2に集光するこ
とが可能である。
【0083】本発明は、上記の実施形態の説明に限定さ
れない。本実施形態では、カラーフィルタを必要とする
単板カラー用のCMOSイメージセンサについて説明し
たが、本発明は、カラーフィルタを必要としない白黒C
MOSイメージセンサにおいても適用可能である。例え
ば、第1実施形態について説明すると、第2マイクロレ
ンズ52の形成において、着色されていない無色透明な
ポリイミド樹脂を用いることで可能であり、製造方法に
おいては、ポリイミド樹脂のパターニングをすることな
く、無色透明なポリイミド樹脂を塗布した後に図7
(i)から(j)の工程を行えば良い。同様にして、第
2実施形態について適用することも可能である。
れない。本実施形態では、カラーフィルタを必要とする
単板カラー用のCMOSイメージセンサについて説明し
たが、本発明は、カラーフィルタを必要としない白黒C
MOSイメージセンサにおいても適用可能である。例え
ば、第1実施形態について説明すると、第2マイクロレ
ンズ52の形成において、着色されていない無色透明な
ポリイミド樹脂を用いることで可能であり、製造方法に
おいては、ポリイミド樹脂のパターニングをすることな
く、無色透明なポリイミド樹脂を塗布した後に図7
(i)から(j)の工程を行えば良い。同様にして、第
2実施形態について適用することも可能である。
【0084】また、実施例ではCMOSイメージセンサ
への適用について述べてきたが、本発明は、もちろんC
CDイメージセンサやその他のイメージセンサへも同様
の適用が可能であり、その用途を制限するものではな
い。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の
変更が可能である。
への適用について述べてきたが、本発明は、もちろんC
CDイメージセンサやその他のイメージセンサへも同様
の適用が可能であり、その用途を制限するものではな
い。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の
変更が可能である。
【0085】
【発明の効果】本発明によれば、集光率を向上させて感
度の向上を図ることができる。
度の向上を図ることができる。
【図1】第1から第3実施形態に係るCMOS型の固体
撮像装置の構成の一例を示す図である。
撮像装置の構成の一例を示す図である。
【図2】第1実施形態に係る固体撮像装置のフォトセン
サおよびその上層構成を示す断面図である。
サおよびその上層構成を示す断面図である。
【図3】ポリイミド樹脂の波長に対する屈折率データの
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図4】第1実施形態に係る固体撮像装置の製造におい
て、第1マイクロレンズ形成後の断面図である。
て、第1マイクロレンズ形成後の断面図である。
【図5】第1実施形態に係る固体撮像装置の製造におい
て、第1カラーフィルタ兼レンズ層のパターニング後の
断面図である。
て、第1カラーフィルタ兼レンズ層のパターニング後の
断面図である。
【図6】第1実施形態に係る固体撮像装置の製造におい
て、第3カラーフィルタ兼レンズ層の形成後の断面図で
ある。
て、第3カラーフィルタ兼レンズ層の形成後の断面図で
ある。
【図7】第1実施形態に係る固体撮像装置の製造におい
て、第2マイクロレンズ形成後の断面図である。
て、第2マイクロレンズ形成後の断面図である。
【図8】第2実施形態に係る固体撮像装置の製造におい
て、第1カラーフィルタ兼レンズ層のパターニング後の
断面図である。
て、第1カラーフィルタ兼レンズ層のパターニング後の
断面図である。
【図9】第2実施形態に係る固体撮像装置の製造におい
て、第3カラーフィルタ兼レンズ層の形成後の断面図で
ある。
て、第3カラーフィルタ兼レンズ層の形成後の断面図で
ある。
【図10】第2実施形態に係る固体撮像装置の製造にお
いて、第1マイクロレンズ形成後の断面図である。
いて、第1マイクロレンズ形成後の断面図である。
【図11】第2実施形態に係る固体撮像装置の製造にお
いて、第2マイクロレンズ形成後の断面図である。
いて、第2マイクロレンズ形成後の断面図である。
【図12】第3実施形態に係る固体撮像装置のフォトセ
ンサおよびその上層構成を示す断面図である。
ンサおよびその上層構成を示す断面図である。
【図13】従来例の固体撮像装置のフォトセンサおよび
その上層構成を示す断面図である。
その上層構成を示す断面図である。
【図14】従来例の固体撮像装置のカラーフィルタおよ
びオンチップマイクロレンズの形成工程を示す図であ
る。
びオンチップマイクロレンズの形成工程を示す図であ
る。
【図15】従来例の固体撮像装置による問題点を説明す
るための図である。
るための図である。
【図16】従来例の固体撮像装置による他の問題点を説
明するための図である。
明するための図である。
1…固体撮像装置、2,20…フォトセンサ、3…読み
出し用スイッチ素子、4…垂直選択用スイッチ素子、5
…単位画素、6…垂直走査回路、7…水平スイッチ素
子、8…水平走査回路、9…アンプ、10…半導体基
板、11…素子分離絶縁膜、12,12’…n型半導体
領域、13…絶縁膜、14…遮光膜、21…第1の層間
絶縁膜、22…第2の層間絶縁膜、23…第3の層間絶
縁膜、24…第4の層間絶縁膜、25…第5の層間絶縁
膜、26…第6の層間絶縁膜、27…第7の層間絶縁
膜、31…第1の配線、31a…アルミニウム配線、3
1b…バリアメタル、32…第2の配線、32a…アル
ミニウム配線、32b…バリアメタル、33…第3の配
線、33a…アルミニウム配線、33b…バリアメタ
ル、40…平坦化膜、50…カラーフィルタ、51,5
1a,51b…第1マイクロレンズ、52,52a,5
2b…第2マイクロレンズ、131,132,133…
配線、140…平坦化膜、150…カラーフィルタ、1
51…オンチップマイクロレンズ、510…第1マイク
ロレンズ用層、511…第1カラーフィルタ兼レンズ
層、512…第2カラーフィルタ兼レンズ層、513…
第3カラーフィルタ兼レンズ層、520…第2マイクロ
レンズ用層、521…第1カラーフィルタ兼レンズ層、
522…第2カラーフィルタ兼レンズ層、523…第3
カラーフィルタ兼レンズ層、SVL…垂直選択線、VL
…垂直信号線、RL…読み出しパルス線、HL…水平信
号線。
出し用スイッチ素子、4…垂直選択用スイッチ素子、5
…単位画素、6…垂直走査回路、7…水平スイッチ素
子、8…水平走査回路、9…アンプ、10…半導体基
板、11…素子分離絶縁膜、12,12’…n型半導体
領域、13…絶縁膜、14…遮光膜、21…第1の層間
絶縁膜、22…第2の層間絶縁膜、23…第3の層間絶
縁膜、24…第4の層間絶縁膜、25…第5の層間絶縁
膜、26…第6の層間絶縁膜、27…第7の層間絶縁
膜、31…第1の配線、31a…アルミニウム配線、3
1b…バリアメタル、32…第2の配線、32a…アル
ミニウム配線、32b…バリアメタル、33…第3の配
線、33a…アルミニウム配線、33b…バリアメタ
ル、40…平坦化膜、50…カラーフィルタ、51,5
1a,51b…第1マイクロレンズ、52,52a,5
2b…第2マイクロレンズ、131,132,133…
配線、140…平坦化膜、150…カラーフィルタ、1
51…オンチップマイクロレンズ、510…第1マイク
ロレンズ用層、511…第1カラーフィルタ兼レンズ
層、512…第2カラーフィルタ兼レンズ層、513…
第3カラーフィルタ兼レンズ層、520…第2マイクロ
レンズ用層、521…第1カラーフィルタ兼レンズ層、
522…第2カラーフィルタ兼レンズ層、523…第3
カラーフィルタ兼レンズ層、SVL…垂直選択線、VL
…垂直信号線、RL…読み出しパルス線、HL…水平信
号線。
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
H04N 5/335 H01L 31/10 A
Fターム(参考) 4M118 AA04 AA10 AB01 BA10 BA14
CA01 CA03 CA40 CB14 FA06
GB11 GC08 GC09 GD04
5C022 AC42 AC54 AC55
5C024 AX01 CX41 CY47 EX24 EX43
EX52 GZ34
5F049 MA02 NA20 NB03 NB05 RA08
TA12
Claims (9)
- 【請求項1】基板に形成され、入射光量に応じた電荷を
生成する受光部と、 前記受光部の上層に形成され、第1の屈折率をもち入射
した光を前記受光部へ集光し得るように光の入射側に曲
面をもつ第1のレンズと、 前記第1のレンズ上に形成され、前記第1の屈折率より
大きい第2の屈折率をもち、入射した光を前記第1のレ
ンズへ集光する第2のレンズとを有する固体撮像装置。 - 【請求項2】前記第2のレンズは、入射した光を前記第
1のレンズへ集光する曲率に形成されている請求項1記
載の固体撮像装置。 - 【請求項3】前記第2のレンズは、所定の波長領域の光
を透過するフィルタ機能を有する請求項1記載の固体撮
像装置。 - 【請求項4】前記第1のレンズは、所定の波長領域の光
を透過するフィルタ機能を有する請求項1記載の固体撮
像装置。 - 【請求項5】前記第1のレンズの下層に形成され、所定
の波長領域の光を透過するカラーフィルタを有する請求
項1記載の固体撮像装置。 - 【請求項6】基板に受光部を形成する工程と、 前記受光部の上層に、第1の屈折率をもち入射した光を
前記受光部へ集光し得るように光の入射側に曲面をもつ
第1のレンズを形成する工程と、 前記第1のレンズ上に、前記第1の屈折率より大きい第
2の屈折率をもち、入射した光を前記第1のレンズへ集
光し得る第2のレンズを形成する工程とを有する固体撮
像装置の製造方法。 - 【請求項7】前記第2のレンズを形成する工程におい
て、顔料を分散させた着色樹脂をレンズ形状にパターニ
ングして形成する請求項6記載の固体撮像装置の製造方
法。 - 【請求項8】前記第1のレンズを形成する工程におい
て、顔料を分散させた着色樹脂をレンズ形状にパターニ
ングして形成する請求項6記載の固体撮像装置の製造方
法。 - 【請求項9】前記受光部を形成する工程の後、前記第1
のレンズを形成する工程の前に、 所定の波長領域の光を透過するカラーフィルタを形成す
る工程をさらに有する請求項6記載の固体撮像装置の製
造方法。
Priority Applications (1)
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