[go: up one dir, main page]

JP2003172748A - Conductive contact - Google Patents

Conductive contact

Info

Publication number
JP2003172748A
JP2003172748A JP2001376313A JP2001376313A JP2003172748A JP 2003172748 A JP2003172748 A JP 2003172748A JP 2001376313 A JP2001376313 A JP 2001376313A JP 2001376313 A JP2001376313 A JP 2001376313A JP 2003172748 A JP2003172748 A JP 2003172748A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive
movable body
conductive movable
contact
conductive contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001376313A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshio Kazama
俊男 風間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Priority to JP2001376313A priority Critical patent/JP2003172748A/en
Publication of JP2003172748A publication Critical patent/JP2003172748A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高周波信号の減衰を防止し、形成容易である
と共に、検査精度および耐久性の向上を可能とするこ
と。 【解決手段】 コイルばね2により付勢された一対の導
電性可動体3,4は、ホルダ12の支持孔13に収容さ
れると共に、導電性可動体3が、検査時に被検査体14
に当接するように取り付けられており、導電性可動体4
が、配線プレート15に電気的に接続して取り付けられ
ており、導電性可動体3に固定されると共に、導電性可
動体4に向かって延設されている密着巻きコイル体16
が、コイルばね2内に配設されており、導電性可動体4
の軸部17が、密着巻きコイル体16に対して摺動可能
に電気的に接続されている。検査時の電気信号の導通経
路L1は、密着巻きコイル体16を介して最小長さに形
成される。
(57) [Problem] To prevent attenuation of a high-frequency signal, facilitate formation, and improve inspection accuracy and durability. A pair of conductive movable bodies (3, 4) urged by a coil spring (2) are accommodated in a support hole (13) of a holder (12), and the conductive movable body (3) is inspected during inspection.
Is mounted so as to abut the conductive movable body 4
Are closely connected to the wiring plate 15, are fixed to the conductive movable body 3, and are tightly wound coil bodies 16 extending toward the conductive movable body 4.
Are disposed in the coil spring 2 and the conductive movable body 4
Is electrically connected slidably to the tightly wound coil body 16. The conduction path L1 of the electric signal at the time of inspection is formed to have a minimum length via the closely wound coil body 16.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、導電性可動体の突
出端を被検査体(半導体チップ、液晶ディスプレイ用基
板、TAB、あるいはパッケージ基板(PKG)等)に
接触させることにより取り出した電気信号を外部回路に
伝送するための信号伝送線を有する導電性接触子に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric signal extracted by bringing a protruding end of a conductive movable body into contact with an object to be inspected (semiconductor chip, liquid crystal display substrate, TAB, package substrate (PKG), etc.). The present invention relates to a conductive contact having a signal transmission line for transmitting an electric field to an external circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、プリント配線板の導体パターンや
電子素子などの電気的検査を行うためのコンタクトプロ
ーブに用いられる導電性接触子は、コイルばねにより相
反する方向に付勢された一対の導電性可動体が、絶縁体
からなるホルダに設けられた支持孔に往復動を許容して
収容されると共に、一の導電性可動体が、検査時に被検
査体に当接するように取り付けられており、かつ他の導
電性可動体が、前記ホルダに積層される配線プレートに
電気的に接続して取り付けられて構成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a conductive contact used in a contact probe for electrically inspecting a conductor pattern of a printed wiring board or an electronic element has a pair of conductive members biased in opposite directions by a coil spring. The flexible movable body is accommodated in a support hole provided in a holder made of an insulating material while allowing reciprocal movement, and one conductive movable body is attached so as to abut the inspection object at the time of inspection. The other conductive movable body is electrically connected to and attached to the wiring plate laminated on the holder.

【0003】そして、この導電性接触子においては、ば
ねの動作寿命の低下を伴うことなく、高周波信号の減衰
を避けるために、一対の導電性可動体の各先端間距離と
なる電気的接続長さを最小にする必要がある。
In this conductive contact, in order to avoid attenuation of high frequency signals without shortening the operating life of the spring, the electrical connection length which is the distance between the tips of the pair of conductive movable bodies. Size must be minimized.

【0004】この考え方に基づいて開発された導電性接
触子は、日本国特許第3210645号公報に開示され
ている。
A conductive contact developed based on this idea is disclosed in Japanese Patent No. 3210645.

【0005】図6は、この導電性接触子100で、ホル
ダへ組付前の自由状態を示す。導電性接触子100は、
コイルばね2と、このコイルばね2により相反する方向
に付勢される一対の導電性可動体3、4から構成されて
いる。一の導電性可動体3が、検査時に被検査体に当接
するように取り付けられ、他の導電性可動体4が、ホル
ダに積層される配線プレート(図示せず)に電気的に接
続して取り付けられる。
FIG. 6 shows the conductive contact 100 in a free state before being assembled to a holder. The conductive contact 100 is
It is composed of a coil spring 2 and a pair of conductive movable bodies 3 and 4 which are biased by the coil spring 2 in opposite directions. One conductive movable body 3 is attached so as to come into contact with an object to be inspected at the time of inspection, and another conductive movable body 4 is electrically connected to a wiring plate (not shown) laminated on the holder. It is attached.

【0006】導電性可動体3は、フランジ部5と、フラ
ンジ部5の一端側に形成され被検査体に当接する検査先
端部6と、フランジ部5の他端側に形成される軸部7と
を有して一体に形成されている。軸部7は、先端に幾分
大径の摺動接点部8を有して形成されている。
The electrically conductive movable body 3 has a flange portion 5, an inspection tip portion 6 formed on one end side of the flange portion 5 and in contact with an object to be inspected, and a shaft portion 7 formed on the other end side of the flange portion 5. And are integrally formed. The shaft portion 7 is formed with a sliding contact portion 8 having a slightly larger diameter at its tip.

【0007】導電性可動体4は、フランジ部9と、フラ
ンジ部9の一端側に形成され配線プレートの電極に当接
する電極先端部10と、フランジ部9の他端側に形成さ
れる筒部11とを有して一体に形成されている。筒部1
1は、摺動接点部8よりも幾分大径の内径を有して形成
されており、かつ開口先端部に内径を縮小するカシメ部
11aが形成されている。
The electrically conductive movable member 4 has a flange portion 9, an electrode tip portion 10 formed on one end side of the flange portion 9 and in contact with an electrode of a wiring plate, and a tubular portion formed on the other end side of the flange portion 9. 11 and 11 are integrally formed. Tube 1
1 has an inner diameter slightly larger than that of the sliding contact portion 8, and a crimp portion 11a is formed at the tip of the opening to reduce the inner diameter.

【0008】また、導電性可動体3、4は、摺動接点部
8を筒部11内に配置すると共にカシメ部11aで抜け
止めされて、相互に摺動可能に連結されており、かつ筒
部11の外側に位置しフランジ部5、9間に配置された
コイルばね2により相互に離反方向に付勢されて連結さ
れている。
The conductive movable bodies 3 and 4 are slidably connected to each other by disposing the sliding contact portion 8 in the cylindrical portion 11 and preventing the sliding contact portion 8 from coming off by the caulking portion 11a. The coil springs 2 located outside the portion 11 and arranged between the flange portions 5 and 9 are urged and connected in a direction away from each other to be connected.

【0009】そして、導電性接触子100は、この連結
された導電性可動体3、4を適宜のホルダの支持孔に収
容することにより構成される。
The conductive contact 100 is constructed by accommodating the connected conductive movable bodies 3 and 4 in the support holes of an appropriate holder.

【0010】このように構成された導電性接触子100
によれば、導電性可動体4の電極先端部10をホルダに
積層される配線プレート(図示せず)のリード線に弾接
させて電気的に接続した状態で、導電性可動体3の検査
先端部6を被検査体(図示せず)に弾発的に接触させて
使用される。この検査時の電気信号の導通経路は、被検
査体から導電性可動体3を通り、その軸部7の摺動接点
部8から筒部11を介して導電性可動体4の電極先端部
10に伝達され、配線プレートのリード線に至る。これ
により被検査体のショートや断線の有無を検査すること
ができる。
The conductive contact 100 constructed in this way
According to the method, the conductive movable body 3 is inspected in a state in which the electrode tip portion 10 of the conductive movable body 4 is elastically connected to and electrically connected to the lead wire of the wiring plate (not shown) laminated on the holder. The tip portion 6 is used by elastically contacting a device under test (not shown). The conduction path of the electric signal at the time of this inspection passes from the object to be inspected to the conductive movable body 3, and from the sliding contact portion 8 of the shaft portion 7 thereof to the electrode tip portion 10 of the conductive movable body 4 via the tubular portion 11. Is transmitted to the lead wire of the wiring plate. As a result, it is possible to inspect the object to be inspected for a short circuit or disconnection.

【0011】この導電性接触子100によれば、大径で
所定の長さのコイルばね2を用いているので、ばねの動
作寿命の低下を招くことなく、かつコイルばね2よりも
充分短い筒部11を介して信号の導通経路を形成したの
で高周波信号の減衰を避けることができる。
According to the conductive contact 100, since the coil spring 2 having a large diameter and a predetermined length is used, the operating life of the spring is not shortened and the cylinder spring is sufficiently shorter than the coil spring 2. Since the signal conduction path is formed through the portion 11, it is possible to avoid the attenuation of the high frequency signal.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この導
電性接触子100によれば、次のような種種の課題を有
している。
However, the conductive contact 100 has the following various problems.

【0013】まず、筒部11は、極細(例えば、外径
0.1〜0.3mm)の金属棒状体を削り加工により形
成しなければならないので、形成が非常に難しい、とい
う課題を有している。
First, since the cylindrical portion 11 must be formed by shaving a metal rod-shaped body having an extremely small diameter (for example, an outer diameter of 0.1 to 0.3 mm), it has a problem that it is very difficult to form the cylindrical portion. ing.

【0014】また、筒部11は、その内面をメッキする
ことが難しく、そのためメッキ斑が生じ易く、このメッ
キ斑に起因して抵抗値のばらつきが大きくなって検査精
度の低下を招く、という課題を有している。
Further, it is difficult to plate the inner surface of the tubular portion 11, so that plating unevenness is likely to occur, and the unevenness of the resistance value becomes large due to the plating unevenness, resulting in a decrease in inspection accuracy. have.

【0015】また、検査時は、軸部7の摺動接点部8が
筒部11内を摺動することになるので、剛体同士の接触
となって摺動抵抗が大きくなり、このためこじりやメッ
キ剥離が生じ易く、ひいては検査精度および耐久性の低
下を招く、という課題をも有している。
Further, at the time of inspection, the sliding contact portion 8 of the shaft portion 7 slides in the cylindrical portion 11, so that the rigid bodies come into contact with each other and the sliding resistance increases, which results in prying and twisting. There is also a problem that the plating is liable to be peeled off, resulting in deterioration of inspection accuracy and durability.

【0016】そこで、この発明は、ばねの動作寿命の低
下および高周波信号の減衰を従来通り防止することがで
き、かつ形成容易であると共に、安定したメッキ層およ
び検査時の小さい摺動抵抗に起因する検査精度および耐
久性の向上を可能とした導電性接触子を提供することに
ある。
Therefore, according to the present invention, it is possible to prevent the reduction of the operating life of the spring and the attenuation of the high frequency signal as usual, and the formation is easy, and the stable plating layer and the small sliding resistance at the time of inspection are used. The object of the present invention is to provide a conductive contact capable of improving inspection accuracy and durability.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】前記した目的を達成する
ために、請求項1の発明は、コイルばねにより相反する
方向に付勢された一対の導電性可動体は、絶縁体からな
るホルダに設けられた支持孔に往復動を許容して収容さ
れると共に、一の導電性可動体が、検査時に被検査体に
当接するように取り付けられており、かつ他の導電性可
動体が、前記ホルダに積層される配線プレートに電気的
に接続して取り付けられて構成される導電性接触子にお
いて、前記一対の導電性可動体のいずれか一方の導電性
可動体に一端部が固定されると共に、他方の導電性可動
体に向かって他端部が延設されている密着巻きコイル体
が、前記コイルばねよりも短く形成されると共に前記コ
イルばね内に配設されており、前記他方の導電性可動体
が、前記密着巻きコイル体に対して摺動可能に電気的に
接続されていることを特徴とする。
In order to achieve the above-mentioned object, the invention of claim 1 is such that a pair of conductive movable members biased in opposite directions by a coil spring is a holder made of an insulator. It is accommodated in a provided support hole while allowing reciprocal movement, one conductive movable body is attached so as to abut on the object to be inspected at the time of inspection, and the other conductive movable body is In a conductive contact constituted by being electrically connected to and attached to a wiring plate laminated on a holder, one end of the conductive contact is fixed to one of the pair of conductive movable bodies. A close-wound coil body having the other end extending toward the other conductive movable body is formed shorter than the coil spring and is disposed in the coil spring, The flexible movable body is closely wound. Characterized in that it is slidably electrically connected to yl body.

【0018】このため、請求項1の発明では、検査時の
電気信号の導通経路は、被検査体から一の導電性可動体
を通り、密着巻きコイル体を介して他の導電性可動体に
伝達され、配線プレートに至るように構成されるもので
あり、密着巻きコイル体を介して最小長さに形成され
る。
Therefore, according to the first aspect of the invention, the conduction path of the electric signal at the time of inspection passes from the object to be inspected to one conductive movable body and to the other conductive movable body via the closely wound coil body. It is configured to be transmitted and reach the wiring plate, and is formed to have a minimum length via a tightly wound coil body.

【0019】また、コイルばねは、最外部に配置される
ものであるから、大径で所定の長さに形成することがで
きる。
Since the coil spring is arranged at the outermost part, it can be formed to have a large diameter and a predetermined length.

【0020】また、密着巻きコイル体は、メッキした線
材をコイリングすることにより、安定したメッキ層を備
えて容易に形成することができる。
The closely wound coil body can be easily formed with a stable plating layer by coiling the plated wire.

【0021】また、検査時は、他方の導電性可動体と密
着巻きコイル体が相互に摺動することになるので、剛体
(他方の導電性可動体)と可撓体(密着巻きコイル体)
との接触となって摺動抵抗が小さくなる。
During the inspection, the other conductive movable body and the closely wound coil body slide on each other, so that the rigid body (the other electrically conductive movable body) and the flexible body (close wound coil body).
It comes into contact with and the sliding resistance decreases.

【0022】また、請求項2の発明は、請求項1に記載
の導電性接触子であって、前記他方の導電性可動体が、
前記密着巻きコイル体の内面に当接する軸部を有して形
成されていることを特徴とする。
The invention of claim 2 is the conductive contact according to claim 1, wherein the other conductive movable body is
It is characterized in that it is formed to have a shaft portion that comes into contact with the inner surface of the closely wound coil body.

【0023】このため、請求項2の発明では、検査時
は、他方の導電性可動体の軸部と密着巻きコイル体が、
相互に摺動することになるので、剛体(軸部)と可撓体
(密着巻きコイル体)との接触となって摺動抵抗が小さ
くなる。密着巻きコイル体は、その可撓性により径方向
の横荷重の発生によって、他方の導電性可動体の軸部に
適度の接触圧で接することになる。この接触圧により、
軸部と密着巻きコイル体とが当接し、安定した摺動接点
部を形成することができる。
Therefore, in the invention of claim 2, at the time of inspection, the shaft portion of the other conductive movable body and the closely wound coil body are
Since they slide on each other, the rigid body (shaft portion) and the flexible body (contact winding coil body) come into contact with each other, and the sliding resistance is reduced. Due to its flexibility, the close-wound coil body comes into contact with the shaft portion of the other conductive movable body at an appropriate contact pressure due to the generation of a lateral load in the radial direction. By this contact pressure,
The shaft portion and the closely wound coil body come into contact with each other, so that a stable sliding contact portion can be formed.

【0024】また、請求項3の発明は、請求項1または
2に記載の導電性接触子であって、前記一対の導電性可
動体は、前記コイルばねの両端にそれぞれ固定されてサ
ブアッシされていることを特徴とする。
The invention according to claim 3 is the conductive contact according to claim 1 or 2, wherein the pair of conductive movable bodies are fixed to both ends of the coil spring and sub-assembled. It is characterized by being

【0025】このため、請求項3の発明では、一対の導
電性可動体、密着巻きコイル体、およびコイルばねは、
一物品として取り扱うことができる。
Therefore, in the third aspect of the invention, the pair of conductive movable bodies, the closely wound coil body, and the coil spring are
It can be handled as one article.

【0026】また、請求項4の発明は、請求項1〜3の
いずれか1項に記載の導電性接触子であって、前記支持
孔は、前記一の導電性可動体の先端が外方へ突出すると
共に抜け止めされるように一端側に段部を設け、他端側
を前記配線プレート側の開口径と同一の孔径で形成され
ていることを特徴とする。
The invention according to claim 4 is the conductive contact according to any one of claims 1 to 3, wherein the support hole is such that the tip of the one conductive movable body is outward. A step portion is provided on one end side so as to be projected and prevented from coming off, and the other end side is formed with the same hole diameter as the opening diameter on the wiring plate side.

【0027】このため、請求項4の発明では、一対の導
電性可動体、密着巻きコイル体、およびコイルばねの支
持孔に対する収容および離脱は、支持孔の配線プレート
側の開口部を介して容易に行うことができる。
Therefore, in the invention of claim 4, the pair of conductive movable bodies, the closely wound coil body, and the coil spring can be easily accommodated in and removed from the support hole through the opening of the support hole on the wiring plate side. Can be done.

【0028】また、請求項5の発明は、請求項1〜4の
いずれか1項に記載の導電性接触子であって、前記一方
の導電性可動体は、密着巻きコイル体の一端部が圧入固
定される結合凹部を有して形成されていることを特徴と
する。
Further, the invention of claim 5 is the conductive contact according to any one of claims 1 to 4, wherein the one conductive movable body is such that one end of the closely wound coil body is It is characterized in that it is formed with a coupling concave portion that is press-fitted and fixed.

【0029】このため、請求項5の発明では、密着巻き
コイル体の内部を摺動する他方の導電性可動体のストロ
ークを、結合凹部の深さ分稼ぐことができ、その分検査
時の電気信号の導通経路を短くすることができる。
Therefore, in the fifth aspect of the invention, the stroke of the other conductive movable body that slides inside the closely wound coil body can be earned by the depth of the coupling recessed portion, and the electric power at the time of inspection can be obtained accordingly. The signal conduction path can be shortened.

【0030】また、請求項6の発明は、請求項1〜5の
いずれか1項に記載の導電性接触子であって、前記密着
巻きコイル体は、構成線材の平坦面同士の密接でコイル
体の密着部分を構成していることを特徴とする。
The invention according to claim 6 is the conductive contact according to any one of claims 1 to 5, wherein the closely wound coil body is formed by closely contacting flat surfaces of constituent wires with each other. It is characterized in that it constitutes the close contact part of the body.

【0031】このため、請求項6の発明では、密着巻き
コイル体の密着部分の接触面積が大きくなり、これによ
り検査時の電気信号の導通経路が安定して、抵抗値のば
らつきを小さくすることができる。
Therefore, in the invention of claim 6, the contact area of the contact portion of the contact winding coil body is increased, whereby the conduction path of the electric signal at the time of inspection is stabilized and the variation of the resistance value is reduced. You can

【0032】また、請求項7の発明は、請求項1〜6の
いずれか1項に記載の導電性接触子であって、前記コイ
ルばねは、矩形断面の線材をコイリングして形成されて
いることを特徴とする。
The invention according to claim 7 is the conductive contact according to any one of claims 1 to 6, wherein the coil spring is formed by coiling a wire having a rectangular cross section. It is characterized by

【0033】このため、請求項7の発明では、コイルば
ねのばね荷重を増大させることができる。コイルばね
は、同じ外径であれば、円形断面よりも矩形断面の線材
を用いて構成した方がばね定数が大きくなり、その結果
ばね荷重を増大させることができる。
Therefore, in the invention of claim 7, the spring load of the coil spring can be increased. If the coil spring has the same outer diameter, it is possible to increase the spring constant by using a wire having a rectangular cross section rather than a circular cross section, and as a result, the spring load can be increased.

【0034】[0034]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づき説明する。なお、図6に示すものと同一部材
および同一機能を奏する部材は、同一符号を付してあ
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The same members and members having the same functions as those shown in FIG. 6 are designated by the same reference numerals.

【0035】図1は、本発明の第1実施形態としての導
電性接触子1を示す。図1において、(a)および
(b)は、それぞれ待機状態および検査状態を示す。な
お、本発明が適用されるコンタクトプローブは、複数の
導電性接触子1が所定のピッチにて縦横に並列に配設さ
れて構成される。
FIG. 1 shows a conductive contact 1 as a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, (a) and (b) show a standby state and an inspection state, respectively. The contact probe to which the present invention is applied is configured by arranging a plurality of conductive contacts 1 vertically and horizontally in parallel at a predetermined pitch.

【0036】この導電性接触子1は、コイルばね2によ
り相反する方向に付勢された一対の導電性可動体3,4
が、絶縁体からなるホルダ12に設けられた支持孔13
に往復動を許容して収容されると共に、一の導電性可動
体3が、検査時に被検査体14に当接するように取り付
けられており、かつ他の導電性可動体4が、ホルダ12
に積層される配線プレート15に電気的に接続して取り
付けられて構成されている。
The conductive contact 1 is composed of a pair of conductive movable members 3, 4 which are biased in opposite directions by a coil spring 2.
Is a support hole 13 provided in a holder 12 made of an insulator.
Is accommodated so as to allow reciprocating movement, one conductive movable body 3 is attached so as to abut the inspected body 14 at the time of inspection, and the other conductive movable body 4 is attached to the holder 12.
It is configured to be electrically connected to and attached to the wiring plate 15 laminated on.

【0037】さらに、導電性接触子1は、一対の導電性
可動体3,4の内、導電性可動体3に一端部が固定され
ると共に、他方の導電性可動体4に向かって他端部が延
設されている密着巻きコイル体16が、コイルばね2よ
りも短く形成されると共にコイルばね2内に配設されて
おり、かつ導電性可動体4が、密着巻きコイル体16に
対して摺動可能に電気的に接続されて構成されている。
Further, the conductive contact 1 has one end fixed to the conductive movable body 3 of the pair of conductive movable bodies 3 and 4, and the other end facing the other conductive movable body 4. The close-wound coil body 16 of which the portion is extended is formed shorter than the coil spring 2 and is disposed inside the coil spring 2, and the conductive movable body 4 is provided with respect to the close-wound coil body 16. And is slidably electrically connected.

【0038】そして好ましくは、導電性接触子1は、導
電性可動体4が、密着巻きコイル体16の内面に当接す
る軸部17を有して形成される。
Preferably, the conductive contactor 1 is formed so that the conductive movable body 4 has a shaft portion 17 that comes into contact with the inner surface of the closely wound coil body 16.

【0039】具体的には、導電性可動体3は、フランジ
部3aを有し、フランジ部3aの一側に針状頭部3bを
形成すると共に、フランジ部3aの他側にボス部3cを
介して固定突部18を一体的に形成して構成されてい
る。導電性可動体4は、フランジ部4aを有し、フラン
ジ部4aの一側に針状頭部4bを形成すると共に、フラ
ンジ部4aの他側にボス部4cを介して長軸の軸部17
を一体的に形成して構成されている。この軸部17は、
図1(a)に示す待機状態(導電性可動体3を検査対象
14に当接させていない状態)にあるとき、先端が密着
巻きコイル体16の他端部に到達できる長さを有し、か
つボス部4cより小径に形成されている。
Specifically, the conductive movable body 3 has a flange portion 3a, a needle-shaped head portion 3b is formed on one side of the flange portion 3a, and a boss portion 3c is formed on the other side of the flange portion 3a. The fixed protrusion 18 is integrally formed via the interposition. The conductive movable body 4 has a flange portion 4a, forms a needle-shaped head portion 4b on one side of the flange portion 4a, and has a long shaft portion 17 on the other side of the flange portion 4a via a boss portion 4c.
Are integrally formed. This shaft portion 17 is
In the standby state (state in which the conductive movable body 3 is not in contact with the inspection object 14) shown in FIG. 1A, the tip has a length that allows it to reach the other end of the closely wound coil body 16. The diameter is smaller than that of the boss portion 4c.

【0040】また、コイルばね2は、ピッチ巻の圧縮コ
イルばねとして形成されており、導電性可動体3,4の
フランジ部3a,4a間に装着されている。このコイル
ばね2は、例えば、金メッキしたピアノ線(SWP)を
コイリングして形成される。密着巻きコイル体16は、
線材間を密接させた密着コイルばねとして形成されてお
り、その一端部を導電性可動体3の固定突部18の外側
に圧入して装着されている。この密着巻きコイル体16
は、例えば、金メッキしたベリリウム銅(BeCu)線
をコイリングして形成される。
The coil spring 2 is formed as a pitch-wound compression coil spring, and is mounted between the flange portions 3a and 4a of the conductive movable bodies 3 and 4. The coil spring 2 is formed by, for example, coiling a gold-plated piano wire (SWP). The closely wound coil body 16 is
The wire rod is formed as a close contact coil spring in which the wire rods are in close contact with each other, and one end of the wire rod is press-fitted and attached to the outside of the fixed protrusion 18 of the conductive movable body 3. This closely wound coil body 16
Is formed by coiling a beryllium copper (BeCu) wire plated with gold, for example.

【0041】また、ホルダ12は、積層体19,20を
積層した二層構造で構成されており、支持孔13は、各
積層体19,20にそれぞれ形成された貫通孔を連通さ
せて構成されている。支持孔13には、その両端に内方
に突出する段部19a,20aが形成されている。
The holder 12 has a two-layer structure in which laminated bodies 19 and 20 are laminated, and the support hole 13 is formed by communicating through holes formed in the laminated bodies 19 and 20, respectively. ing. The support hole 13 has stepped portions 19a and 20a formed at both ends thereof so as to project inward.

【0042】また、一対の導電性可動体3,4、コイル
ばね2、および密着巻きコイル体16の組付体は、支持
孔13内に位置させて、ホルダ12に組み付けられる。
この組み付け状態では、導電性可動体3,4は、各針状
頭部3bおよび4bの先端部分をホルダ12から外方へ
突出させると共に、支持孔13に往復動を許容して収容
されており、かつコイルばね2のばね力にも拘わらず各
フランジ部3aおよび4aをそれぞれ各段部20aおよ
び19aに突き当てて抜け止めされている。
The assembly of the pair of electrically conductive movable bodies 3 and 4, the coil spring 2, and the closely wound coil body 16 is positioned in the support hole 13 and assembled to the holder 12.
In this assembled state, the conductive movable bodies 3 and 4 are accommodated in the support hole 13 while allowing the reciprocating motion while allowing the tip portions of the needle-shaped heads 3b and 4b to project outward from the holder 12. Further, despite the spring force of the coil spring 2, the flange portions 3a and 4a are abutted against the stepped portions 20a and 19a, respectively, and are prevented from coming off.

【0043】そして、導電性接触子1は、配線プレート
15をホルダ12(詳しくは積層体19)の上面にさら
に積層することにより構成される。この積層により、導
電性可動体4がコイルばね2のばね力に抗して支持孔1
3内に没入すると共に、その針状頭部4bの先端が配線
プレート15のリード線21のパッド部21aに弾接し
て電気的接続が図られる。
The conductive contact 1 is constructed by further stacking the wiring plate 15 on the upper surface of the holder 12 (specifically, the stack 19). Due to this stacking, the conductive movable body 4 resists the spring force of the coil spring 2 and supports the support hole 1
As the needle head 4b is sunk into the pad 3, the tip of the needle-shaped head portion 4b elastically contacts the pad portion 21a of the lead wire 21 of the wiring plate 15 for electrical connection.

【0044】このように構成された導電性接触子1は、
その導電性可動体3の針状頭部3bの先端を、被検査体
14の導電部22に弾接させて検査を行うことができる
(図1(b)参照)。この検査時の電気信号の導通経路
L1は、図1(b)の実線の矢印で示すように導電部2
2から導電性可動体3を通り、その固定突部18から密
着巻きコイル体16、密着巻きコイル体16と軸部17
との摺動接点部A、および軸部17を介して導電性可動
体4に伝達され、導電性可動体4を通ってリード線21
(パッド部21a)に至る。これにより、被検査体14
の導電部22のショートや断線の有無を検査することが
できる。
The conductive contact 1 thus constructed has
The tip of the needle-shaped head 3b of the conductive movable body 3 can be elastically contacted with the conductive portion 22 of the object 14 to be inspected (see FIG. 1B). The conduction path L1 of the electric signal at the time of this inspection is the conductive portion 2 as shown by the solid line arrow in FIG.
2 through the electrically conductive movable body 3, and from its fixed projection 18 to the closely wound coil body 16, the closely wound coil body 16 and the shaft portion 17.
Is transmitted to the conductive movable body 4 via the sliding contact portion A with the shaft 17 and the conductive movable body 4 and the lead wire 21.
(Pad part 21a). As a result, the inspection object 14
It is possible to inspect whether or not there is a short circuit or a break in the conductive portion 22.

【0045】このように導電性接触子1によれば、検査
時の電気信号の導通経路L1が、密着巻きコイル体16
を介して最小長さに形成されるので、高周波信号の減衰
を防止することができる。
As described above, according to the conductive contact 1, the conduction path L1 of the electric signal at the time of the inspection is determined by the close-wound coil body 16.
Since it is formed to have the minimum length through the, it is possible to prevent the attenuation of the high frequency signal.

【0046】また、コイルばね2は、最外部に配置され
るものであるから、大径で所定の長さに形成することが
できるので、所望のばね荷重を備えたばねとして設計す
ることができ、これによりばねの動作寿命の低下を防止
することができる。
Since the coil spring 2 is arranged at the outermost part, it can be formed to have a large diameter and a predetermined length, so that it can be designed as a spring having a desired spring load. This can prevent the operating life of the spring from being shortened.

【0047】また、密着巻きコイル体16は、メッキし
た線材をコイリングすることにより、安定したメッキ層
を備えて容易に形成することができるので、形成容易で
あることは勿論のこと、加えて密着巻きコイル体16と
軸部17との摺動接点部Aがメッキ層により安定して得
られ、ひいては抵抗値のばらつきを小さく抑制すること
ができる。
Further, the close-wound coil body 16 can be easily formed by coiling a plated wire material so as to have a stable plating layer. The sliding contact portion A between the wound coil body 16 and the shaft portion 17 can be stably obtained by the plating layer, and consequently the variation in the resistance value can be suppressed to be small.

【0048】また、検査時は、導電性可動体4の軸部1
7と密着巻きコイル体16が相互に摺動することになる
ので、剛体(軸部17)と可撓体(密着巻きコイル体1
6)との接触となって摺動抵抗が小さくなり、これによ
り抵抗値のばらつきを小さく抑制することができる。
At the time of inspection, the shaft portion 1 of the conductive movable body 4 is also included.
7 and the tightly wound coil body 16 slide on each other, so that the rigid body (the shaft portion 17) and the flexible body (the tightly wound coil body 1).
6) and the sliding resistance becomes small, which makes it possible to suppress variations in resistance value.

【0049】さらに、密着巻きコイル体16は、その可
撓性により径方向の横荷重の発生によって、導電性可動
体4の軸部17に適度の接触圧で接することになる。こ
の接触圧により、軸部17と密着巻きコイル体16とが
当接し、安定した摺動接点部Aを形成することができ、
これによっても抵抗値のばらつきを小さく抑制すること
ができる。
Further, the close-wound coil body 16 comes into contact with the shaft portion 17 of the conductive movable body 4 with an appropriate contact pressure due to the lateral load generated in the radial direction due to its flexibility. Due to this contact pressure, the shaft portion 17 and the closely wound coil body 16 come into contact with each other, and a stable sliding contact portion A can be formed.
This also makes it possible to suppress variations in resistance value.

【0050】また、導電性接触子1において、好ましく
は、一対の導電性可動体3,4は、コイルばね2の両端
にそれぞれ固定されてサブアッシされて構成される。す
なわち、コイルばね2の両端に形成された密着巻き部2
a,2bを、それぞれボス部3c,4cに圧入すること
によって、内部に密着巻きコイル体16を配置した状態
で一対の導電性可動体3,4をコイルばね2に固定する
ことができる。
In the conductive contact 1, preferably, the pair of conductive movable bodies 3 and 4 are fixed to both ends of the coil spring 2 and sub-assembled. That is, the closely wound portions 2 formed at both ends of the coil spring 2
By pressing a and 2b into the boss portions 3c and 4c, respectively, the pair of conductive movable bodies 3 and 4 can be fixed to the coil spring 2 with the closely wound coil body 16 arranged inside.

【0051】この構成によれば、一対の導電性可動体
3,4、密着巻きコイル体16、およびコイルばね2
は、一物品として取り扱うことができ、これにより部品
管理の簡略化、組み付けの容易化、および交換時の離脱
容易化を図ることができる。
According to this structure, the pair of conductive movable bodies 3 and 4, the closely wound coil body 16, and the coil spring 2 are provided.
Can be handled as one article, which simplifies part management, facilitates assembly, and facilitates removal during replacement.

【0052】図2は、この発明の第2実施形態としての
導電性接触子30を示す。この導電性接触子30は、導
電性可動体4および支持孔13の形状が異なるのみで、
他の構成は導電性接触子1と同様に構成されている。
FIG. 2 shows a conductive contact 30 as a second embodiment of the present invention. The conductive contact 30 is different only in the shapes of the conductive movable body 4 and the support hole 13,
Other configurations are the same as those of the conductive contact 1.

【0053】すなわち、この導電性接触子30において
は、支持孔13は、導電性可動体3の針状頭部3bが外
方へ突出すると共に抜け止めされるように一端側に段部
20aを設け、他端側を配線プレート15側の開口径と
同一の孔径で形成されている。この支持孔13は、一体
物として形成されるホルダ12に貫通形成されている。
導電性可動体4は、前述したフランジ部4aが不要で、
針状頭部4b、ボス部4c、および軸部17を一体的に
設けて構成されている。
That is, in the conductive contact 30, the support hole 13 has the stepped portion 20a at one end so that the needle-shaped head 3b of the conductive movable body 3 projects outward and is prevented from coming off. It is provided, and the other end side is formed with the same hole diameter as the opening diameter on the wiring plate 15 side. The support hole 13 is formed so as to penetrate the holder 12 formed as an integral body.
The conductive movable body 4 does not require the flange portion 4a described above,
The needle-shaped head portion 4b, the boss portion 4c, and the shaft portion 17 are integrally provided and configured.

【0054】この導電性接触子30によれば、一対の導
電性可動体3,4、密着巻きコイル体16、およびコイ
ルばね2の支持孔13に対する収容および離脱は、支持
孔13の配線プレート15側の開口部を介して容易に行
うことができ、これにより組み付けおよび離脱作業の簡
略化を図ることができる。
According to the conductive contact 30, the pair of conductive movable bodies 3, 4, the closely wound coil body 16 and the coil spring 2 are accommodated in and removed from the support hole 13 by the wiring plate 15 in the support hole 13. It can be easily performed through the opening on the side, whereby the assembling and dismounting work can be simplified.

【0055】図3は、この発明の第3実施形態としての
導電性接触子40を示す。図3において、(a)は配線
プレート15の積層前の状態、(b)は配線プレート1
5の積層後の状態、および(c)は検査状態をそれぞれ
示している。この導電性接触子40は、導電性可動体3
およびホルダ12が異なるだけで、他の構成は前述した
導電性接触子1と同様に構成されている。このため同一
の構成要素は、同一の符号を付してその説明を省略す
る。
FIG. 3 shows a conductive contact 40 as a third embodiment of the present invention. In FIG. 3, (a) is a state before the wiring plates 15 are stacked, and (b) is the wiring plate 1.
5 shows the state after stacking, and (c) shows the inspection state. This conductive contact 40 is used for the conductive movable body 3
Further, only the holder 12 is different, and other configurations are the same as those of the conductive contact 1 described above. Therefore, the same components are given the same reference numerals and the description thereof is omitted.

【0056】導電性接触子40においては、導電性可動
体3は、前述した針状頭部3bが不要で、フランジ部3
a、ボス部3c、および固定突部18を一体的に設け、
かつフランジ部3aの同一面内に、被検査体14の導電
部22に当接する円錐状の凹部3dを設けて全体構成さ
れている。
In the conductive contactor 40, the conductive movable body 3 does not require the above-mentioned needle-shaped head 3b, and the flange 3
a, the boss 3c, and the fixed protrusion 18 are integrally provided,
In addition, a conical concave portion 3d that abuts the conductive portion 22 of the device under test 14 is provided in the same plane of the flange portion 3a, and the entire structure is provided.

【0057】また、ホルダ12は、一対の導電性可動体
3,4の組付体を収容する支持孔13を備えた積層体2
3と、被検査体14の導電部22を案内するガイド孔2
5を備えた積層体24とを積層して構成されている。支
持孔13とガイド孔25は、前記積層により相互に連通
する。ガイド孔25は、支持孔13よりも小径に形成さ
れており、このためその境界部位には前記積層により段
部26が形成される。導電性可動体3は、フランジ部3
aを段部26に当接させて抜け止めされている。
Further, the holder 12 has a laminated body 2 having a support hole 13 for accommodating an assembly of a pair of conductive movable bodies 3 and 4.
3 and a guide hole 2 for guiding the conductive portion 22 of the device under test 14
5 and a laminated body 24 including 5 are laminated. The support hole 13 and the guide hole 25 communicate with each other due to the stacking. The guide hole 25 has a diameter smaller than that of the support hole 13. Therefore, a stepped portion 26 is formed at the boundary portion by the above-mentioned lamination. The conductive movable body 3 has a flange portion 3
The a is brought into contact with the stepped portion 26 to prevent it from coming off.

【0058】この導電性接触子40は、検査時の電気信
号の導通経路L3を構成することができ、前述した導電
性接触子1と同様の作用効果を奏することができる。
This conductive contact 40 can form a conduction path L3 for an electric signal at the time of inspection, and can achieve the same effect as the conductive contact 1 described above.

【0059】図4は、他の実施形態としての導電性可動
体3を示す。この導電性可動体3は、密着巻きコイル体
16の一端部が圧入固定される結合凹部27を有して形
成されている。本実施形態では、結合凹部27は、導電
性可動体3のボス部3cに一体に形成される筒部3eの
内側部分として形成されている。
FIG. 4 shows a conductive movable body 3 as another embodiment. The conductive movable body 3 is formed to have a coupling recess 27 into which one end of the tightly wound coil body 16 is press-fitted and fixed. In the present embodiment, the coupling concave portion 27 is formed as an inner portion of the cylindrical portion 3e integrally formed with the boss portion 3c of the conductive movable body 3.

【0060】この導電性可動体3には、他の導電性可動
体3にある固定突部18が無いので、図4に示すよう
に、密着巻きコイル体16を結合凹部27内に入り込ま
せることができ、その分密着巻きコイル体16と軸部1
7との接触点を、結合凹部27の深さ分導電性可動体3
側に下げることができ、これによりホルダ12の厚さを
薄くできると共に、検査時の電気信号の導通経路を短く
することができ、ひいては検査時の高周波信号の減衰を
一層確実に防止することができる。
Since this conductive movable body 3 does not have the fixed projection 18 of the other conductive movable body 3, the closely wound coil body 16 is inserted into the coupling recess 27 as shown in FIG. The coil coil body 16 and the shaft portion 1 are closely wound by that amount.
The contact point with 7 corresponds to the depth of the coupling recess 27 and the conductive movable body 3
It is possible to lower the thickness of the holder 12, thereby making it possible to reduce the thickness of the holder 12 and to shorten the conduction path of the electric signal at the time of inspection, and thus to more surely prevent the attenuation of the high frequency signal at the time of inspection. it can.

【0061】図5は、この発明の第4実施形態としての
導電性接触子50を示す。図5(a)は、配線プレート
15の積層前の状態を示す。この導電性接触子50は、
コイルばね2および密着巻きコイル体16を角線を用い
て構成した点が異なるだけで、他の構成は前述した導電
性接触子40と同様に構成されている。
FIG. 5 shows a conductive contact 50 as a fourth embodiment of the present invention. FIG. 5A shows a state before the wiring plates 15 are stacked. The conductive contact 50 is
The other configuration is the same as that of the conductive contact 40 described above, except that the coil spring 2 and the close-wound coil body 16 are configured by using a square wire.

【0062】この導電性接触子50においては、コイル
ばね2は必ずしも矩形断面の角線で構成する必要はな
く、他の実施形態と同様に丸線で形成しても良い。コイ
ルばね2は、矩形断面の角線で構成した場合は、ばね荷
重を増大させることができ、高荷重のばねが設計可能で
ある。
In this conductive contact 50, the coil spring 2 does not necessarily have to be formed by a rectangular wire having a rectangular cross section, and may be formed by a round wire as in the other embodiments. When the coil spring 2 is configured by a rectangular cross-section rectangular wire, the spring load can be increased, and a high-load spring can be designed.

【0063】密着巻きコイル体16は、図5(b)に示
すように、その密着部分Sが、構成線材の平坦面同士の
密接で構成されている。このときの構成線材としては、
正方形、径方向に長い矩形、あるいは楕円形等の平行部
分を有する断面形状の線材が用いられる。
As shown in FIG. 5 (b), the close-wound coil body 16 has a close-contact portion S in which flat surfaces of the constituent wire members are in close contact with each other. As the constituent wire rods at this time,
A wire having a cross-sectional shape having parallel portions such as a square, a rectangle long in the radial direction, or an ellipse is used.

【0064】この構成によれば、密着巻きコイル体16
の密着部分Sの接触面積が大きくなり、これにより検査
時の電気信号の導通経路が安定して、抵抗値のばらつき
を小さくすることができる。
According to this structure, the tightly wound coil body 16
The contact area of the close contact portion S becomes large, which stabilizes the conduction path of the electric signal at the time of inspection, and can reduce the variation in resistance value.

【0065】[0065]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば次の効果を奏することができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

【0066】すなわち、請求項1の発明によれば、コイ
ルばねを大径で所定の長さに形成することができるの
で、ばねの動作寿命の低下防止することができると共
に、検査時の電気信号の導通経路を密着巻きコイル体を
介して最小長さに形成することができるので、高周波信
号の減衰を防止することができる。
That is, according to the first aspect of the present invention, since the coil spring can be formed to have a large diameter and a predetermined length, it is possible to prevent the operating life of the spring from being shortened, and at the same time, to provide an electrical signal for inspection. Since the conduction path can be formed to have the minimum length through the tightly wound coil body, it is possible to prevent the high frequency signal from being attenuated.

【0067】また、密着巻きコイル体は、メッキした線
材をコイリングすることにより、安定したメッキ層を備
えて容易に形成することができるので形成容易である。
Further, the closely wound coil body can be easily formed by coiling the plated wire and can be easily formed with a stable plating layer.

【0068】また、コイルばねおよび密着巻きコイル体
は、別体に構成するようにしたので、それぞれの機能に
合わせた仕様(材質、線径、メッキ)で構成することが
できると共に、両者とも方向性(向き)が無いため、自
動組立性が良好である。
Further, since the coil spring and the closely wound coil body are constructed as separate bodies, they can be constructed with specifications (material, wire diameter, plating) according to their respective functions, and both can be oriented. Since it has no property (orientation), it is easy to assemble automatically.

【0069】また、検査時は、他方の導電性可動体と密
着巻きコイル体が相互に摺動することになるので、剛体
(他方の導電性可動体)と可撓体(密着巻きコイル体)
との接触となることと、前記した安定したメッキ層とが
相俟って摺動抵抗が小さくなり、これにより検査精度お
よび耐久性の向上を図ることができる。
During inspection, the other conductive movable body and the closely wound coil body slide on each other, so that the rigid body (the other electrically conductive movable body) and the flexible body (close wound coil body).
The contact resistance with the stable plating layer reduces the sliding resistance, which improves the inspection accuracy and durability.

【0070】また、請求項2の発明によれば、密着巻き
コイル体は、その可撓性により径方向の横荷重の発生に
よって、他方の導電性可動体の軸部と安定した摺動接点
部を形成することができ、これにより抵抗値のばらつき
を抑制して検査精度の向上を図ることができる。
According to the second aspect of the present invention, the close-wound coil body has a sliding contact portion which is stable with the shaft portion of the other conductive movable body due to the lateral load generated in the radial direction due to its flexibility. It is possible to suppress the variation of the resistance value and improve the inspection accuracy.

【0071】また、請求項3の発明によれば、一対の導
電性可動体、密着巻きコイル体、およびコイルばねは、
一物品として取り扱うことができるので、部品管理、組
付作業、および交換作業の簡略化を図ることができる。
According to the third aspect of the invention, the pair of conductive movable bodies, the closely wound coil body, and the coil spring are
Since it can be handled as one article, simplification of parts management, assembly work, and replacement work can be achieved.

【0072】また、請求項4の発明によれば、一対の導
電性可動体、密着巻きコイル体、およびコイルばねの支
持孔に対する収容および離脱は、支持孔の配線プレート
側の開口部を介して容易に行うことができ、これにより
作業の簡略化を図ることができる。
According to the invention of claim 4, the pair of conductive movable bodies, the closely wound coil body, and the coil spring are accommodated in and removed from the support holes through the openings of the support holes on the wiring plate side. This can be performed easily, and the work can be simplified.

【0073】また、請求項5の発明によれば、密着巻き
コイル体の内部を摺動する他方の導電性可動体のストロ
ークを、結合凹部の深さ分稼ぐことができ、その分検査
時の電気信号の導通経路を短くすることができるので、
高周波信号の減衰を一層確実に防止することができる。
According to the fifth aspect of the invention, the stroke of the other conductive movable body that slides inside the tightly wound coil body can be earned by the depth of the coupling concave portion, and the stroke can be increased by that amount during inspection. Because the electrical signal conduction path can be shortened,
It is possible to more reliably prevent the attenuation of the high frequency signal.

【0074】また、請求項6の発明によれば、密着巻き
コイル体の密着部分の接触面積が大きくなり、これによ
り検査時の電気信号の導通経路が安定して、抵抗値のば
らつきを小さくすることができ、これにより検査精度の
向上を図ることができる。
Further, according to the invention of claim 6, the contact area of the close contact portion of the close winding coil body is increased, whereby the conduction path of the electric signal at the time of inspection is stabilized and the variation of the resistance value is reduced. Therefore, the inspection accuracy can be improved.

【0075】また、請求項7の発明によれば、コイルば
ねのばね荷重を増大させることができるので、所望のば
ね荷重を備えたコイルばねを容易に設計することができ
る。
Further, according to the invention of claim 7, since the spring load of the coil spring can be increased, a coil spring having a desired spring load can be easily designed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施形態としての導電性接触子の
縦断面図で、(a)は待機状態、(b)は検査状態をそ
れぞれ示す。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a conductive contact according to a first embodiment of the present invention, in which (a) shows a standby state and (b) shows an inspection state.

【図2】本発明の第2実施形態としての導電性接触子の
縦断面図である。
FIG. 2 is a vertical cross-sectional view of a conductive contact according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3実施形態としての導電性接触子の
縦断面図で、(a)は配線プレートの積層前の状態、
(b)は配線プレートの積層後の状態、(c)は検査状
態をそれぞれ示す。
FIG. 3 is a vertical sectional view of a conductive contact according to a third embodiment of the present invention, in which (a) is a state before the wiring plates are laminated,
(B) shows a state after the wiring plates are laminated, and (c) shows an inspection state.

【図4】本発明の他の実施形態としての導電性可動体の
断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a conductive movable body according to another embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第4実施形態としての導電性接触子
で、(a)は縦断面図、(b)は一部省略した要部拡大
断面図である。
5A and 5B show a conductive contact according to a fourth embodiment of the present invention, wherein FIG. 5A is a vertical sectional view and FIG.

【図6】従来の導電性接触子の縦断面図である。FIG. 6 is a vertical cross-sectional view of a conventional conductive contact.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,30,40,50 導電性接触子 2 コイルばね 3,4 導電性可動体 12 ホルダ 13 支持孔 14 被検査体 15 配線プレート 16 密着巻きコイル体 17 軸部 20a 段部 27 結合凹部 L1 導通経路 S 密着部分(密着巻きコイル体の) 1,30,40,50 Conductive contact 2 coil spring 3,4 conductive movable body 12 holder 13 Support holes 14 Inspected object 15 wiring plate 16 Closely wound coil body 17 Shaft 20a step 27 coupling recess L1 conduction path S Adhesion part (of the closely wound coil body)

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 コイルばねにより相反する方向に付勢さ
れた一対の導電性可動体は、絶縁体からなるホルダに設
けられた支持孔に往復動を許容して収容されると共に、
一の導電性可動体が、検査時に被検査体に当接するよう
に取り付けられており、かつ他の導電性可動体が、前記
ホルダに積層される配線プレートに電気的に接続して取
り付けられて構成される導電性接触子において、 前記一対の導電性可動体のいずれか一方の導電性可動体
に一端部が固定されると共に、他方の導電性可動体に向
かって他端部が延設されている密着巻きコイル体が、前
記コイルばねよりも短く形成されると共に前記コイルば
ね内に配設されており、前記他方の導電性可動体が、前
記密着巻きコイル体に対して摺動可能に電気的に接続さ
れていることを特徴とする導電性接触子。
1. A pair of conductive movable bodies biased in opposite directions by coil springs are accommodated in support holes provided in a holder made of an insulating material while allowing reciprocal movement.
One electrically conductive movable body is attached so as to abut the inspection object at the time of inspection, and the other electrically conductive movable body is electrically connected to the wiring plate laminated on the holder and attached. In the conductive contact configured, one end is fixed to one of the pair of conductive movable bodies and the other end is extended toward the other conductive movable body. The closely wound coil body is formed shorter than the coil spring and is disposed in the coil spring, and the other conductive movable body is slidable with respect to the closely wound coil body. A conductive contact characterized by being electrically connected.
【請求項2】 請求項1に記載の導電性接触子であっ
て、 前記他方の導電性可動体が、前記密着巻きコイル体の内
面に当接する軸部を有して形成されていることを特徴と
する導電性接触子。
2. The conductive contactor according to claim 1, wherein the other conductive movable body has a shaft portion that abuts an inner surface of the closely wound coil body. Characteristic conductive contact.
【請求項3】 請求項1または2に記載の導電性接触子
であって、 前記一対の導電性可動体は、前記コイルばねの両端にそ
れぞれ固定されてサブアッシされていることを特徴とす
る導電性接触子。
3. The conductive contact according to claim 1, wherein the pair of conductive movable bodies are fixed to both ends of the coil spring and sub-assembled, respectively. Sex contactor.
【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1項に記載の導
電性接触子であって、 前記支持孔は、前記一の導電性可動体の先端が外方へ突
出すると共に抜け止めされるように一端側に段部を設
け、他端側を前記配線プレート側の開口径と同一の孔径
で形成されていることを特徴とする導電性接触子。
4. The conductive contact according to any one of claims 1 to 3, wherein the support hole is retained while the tip of the one conductive movable body projects outward. As described above, the conductive contact is characterized in that a step portion is provided on one end side, and the other end side is formed with the same hole diameter as the opening diameter on the side of the wiring plate.
【請求項5】 請求項1〜4のいずれか1項に記載の導
電性接触子であって、 前記一方の導電性可動体は、密着巻きコイル体の一端部
が圧入固定される結合凹部を有して形成されていること
を特徴とする導電性接触子。
5. The conductive contact according to any one of claims 1 to 4, wherein the one conductive movable body has a coupling recess into which one end of the closely wound coil body is press-fitted and fixed. A conductive contact characterized by being formed.
【請求項6】 請求項1〜5のいずれか1項に記載の導
電性接触子であって、 前記密着巻きコイル体は、構成線材の平坦面同士の密接
でコイル体の密着部分を構成していることを特徴とする
導電性接触子。
6. The conductive contactor according to claim 1, wherein the close-wound coil body forms a close-contact portion of the coil body by closely contacting flat surfaces of constituent wire rods. A conductive contact characterized in that
【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1項に記載の導
電性接触子であって、 前記コイルばねは、矩形断面の線材をコイリングして形
成されていることを特徴とする導電性接触子。
7. The conductive contact according to claim 1, wherein the coil spring is formed by coiling a wire having a rectangular cross section. Contactor.
JP2001376313A 2001-12-10 2001-12-10 Conductive contact Pending JP2003172748A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001376313A JP2003172748A (en) 2001-12-10 2001-12-10 Conductive contact

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001376313A JP2003172748A (en) 2001-12-10 2001-12-10 Conductive contact

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003172748A true JP2003172748A (en) 2003-06-20

Family

ID=19184535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001376313A Pending JP2003172748A (en) 2001-12-10 2001-12-10 Conductive contact

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003172748A (en)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006098254A (en) * 2004-09-30 2006-04-13 Yokowo Co Ltd probe
JP2008070178A (en) * 2006-09-13 2008-03-27 Enplas Corp Electrical contact, and socket for electrical component
JP2009287921A (en) * 2008-03-06 2009-12-10 Japan Electronic Materials Corp Vertical coil spring probe
US7677901B1 (en) 2008-12-26 2010-03-16 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electric connecting apparatus for semiconductor devices and contact used therefor
JP2010096735A (en) * 2008-10-16 2010-04-30 Ucom:Kk Contact probe conductor
JP2010518662A (en) * 2007-02-08 2010-05-27 ヴェーデクス・アクティーセルスカプ Hearing aid inner ear receiver (RITE) component
WO2011078176A1 (en) * 2009-12-25 2011-06-30 日本発條株式会社 Connection terminal
CN103226155A (en) * 2012-01-26 2013-07-31 日本电产理德株式会社 Probe and fixture
CN108761150A (en) * 2018-04-23 2018-11-06 李树龙 A kind of needle-like insulation meter pen device and operating method
WO2020184684A1 (en) * 2019-03-13 2020-09-17 日本発條株式会社 Contact probe and signal transmission method
JP2020148626A (en) * 2019-03-13 2020-09-17 日本発條株式会社 Contact probe and method for transmitting signal
CN114088997A (en) * 2020-08-24 2022-02-25 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 Electrical contact structure of electrical contact and electrical connection device
CN116210061A (en) * 2020-08-03 2023-06-02 日立能源瑞士股份公司 Grounding structure, method of assembling a grounding structure, and gas insulated power transmission lines

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006098254A (en) * 2004-09-30 2006-04-13 Yokowo Co Ltd probe
JP2008070178A (en) * 2006-09-13 2008-03-27 Enplas Corp Electrical contact, and socket for electrical component
JP2010518662A (en) * 2007-02-08 2010-05-27 ヴェーデクス・アクティーセルスカプ Hearing aid inner ear receiver (RITE) component
JP2009287921A (en) * 2008-03-06 2009-12-10 Japan Electronic Materials Corp Vertical coil spring probe
JP2010096735A (en) * 2008-10-16 2010-04-30 Ucom:Kk Contact probe conductor
US7677901B1 (en) 2008-12-26 2010-03-16 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electric connecting apparatus for semiconductor devices and contact used therefor
WO2011078176A1 (en) * 2009-12-25 2011-06-30 日本発條株式会社 Connection terminal
US8690587B2 (en) 2009-12-25 2014-04-08 Nhk Spring Co., Ltd. Connection terminal
CN103226155A (en) * 2012-01-26 2013-07-31 日本电产理德株式会社 Probe and fixture
CN108761150A (en) * 2018-04-23 2018-11-06 李树龙 A kind of needle-like insulation meter pen device and operating method
WO2020184684A1 (en) * 2019-03-13 2020-09-17 日本発條株式会社 Contact probe and signal transmission method
JP2020148626A (en) * 2019-03-13 2020-09-17 日本発條株式会社 Contact probe and method for transmitting signal
JPWO2020184684A1 (en) * 2019-03-13 2021-03-18 日本発條株式会社 Contact probe and signal transmission method
KR20210123358A (en) * 2019-03-13 2021-10-13 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤 Contact probes and signal transmission methods
JP7134904B2 (en) 2019-03-13 2022-09-12 日本発條株式会社 Contact probe and signal transmission method
JP2022176200A (en) * 2019-03-13 2022-11-25 日本発條株式会社 Contact probe and signal transmission method
JP7404468B2 (en) 2019-03-13 2023-12-25 日本発條株式会社 Contact probe and signal transmission method
KR102623659B1 (en) 2019-03-13 2024-01-10 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤 Contact probes and signal transmission methods
US11940465B2 (en) 2019-03-13 2024-03-26 Nhk Spring Co., Ltd. Contact probe and signal transmission method
CN116210061A (en) * 2020-08-03 2023-06-02 日立能源瑞士股份公司 Grounding structure, method of assembling a grounding structure, and gas insulated power transmission lines
CN114088997A (en) * 2020-08-24 2022-02-25 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 Electrical contact structure of electrical contact and electrical connection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101974811B1 (en) Integrated pogo pin capable of sigle body housing
JP4889183B2 (en) Micro contactor probe and electrical probe unit
KR101012712B1 (en) Compliant Electrical Interconnect and Electrical Contact Probes
JP5426161B2 (en) Probe card
KR101930866B1 (en) Contacts for testing a semiconductor device, and socket device
US7626408B1 (en) Electrical spring probe
JP2008070146A (en) Socket for inspection
JPH09184852A (en) Conductive probe
JP2003172748A (en) Conductive contact
JP2008180689A (en) Inspection probe device, and socket for inspection using the same
JP2009085948A (en) Inspection socket
US8901920B2 (en) Connector, probe, and method of manufacturing probe
JP2006153723A (en) Vertical coil spring probe and probe unit using the same
JP2008026248A (en) Probe, probe unit using this probe, probe card using this probe unit, and method of manufacturing probe unit
US11162979B2 (en) Plate spring-type connecting pin
KR20150041591A (en) Inspecting zig, electrode portion, probe and manufacturing method of inspecting zig
JP4916719B2 (en) Contact probe and contact probe mounting structure
CN114088997A (en) Electrical contact structure of electrical contact and electrical connection device
JP2004138592A (en) Spring contact and spring probe
JP5567523B2 (en) Connection pin
JPH0883656A (en) Socket for measuring ball grid array semiconductor
CN111293448B (en) Integrated spring needle with pressure welding structure
JP4521106B2 (en) Conductive contact with movable guide plate
JP2004039564A (en) IC socket
JP2004085260A (en) Probe pin and contactor