JP2003087095A - 弾性表面波装置 - Google Patents
弾性表面波装置Info
- Publication number
- JP2003087095A JP2003087095A JP2002117398A JP2002117398A JP2003087095A JP 2003087095 A JP2003087095 A JP 2003087095A JP 2002117398 A JP2002117398 A JP 2002117398A JP 2002117398 A JP2002117398 A JP 2002117398A JP 2003087095 A JP2003087095 A JP 2003087095A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acoustic wave
- surface acoustic
- base substrate
- wave device
- comb
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 title claims abstract description 145
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 100
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims abstract description 63
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 60
- 230000006353 environmental stress Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000035882 stress Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 47
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 39
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 39
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 18
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 claims description 5
- 244000126211 Hericium coralloides Species 0.000 claims description 4
- JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-triazine Chemical compound C1=CN=NN=C1 JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 1-[4-[[4-(2,5-dioxopyrrol-1-yl)phenyl]methyl]phenyl]pyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C(C=C1)=CC=C1CC1=CC=C(N2C(C=CC2=O)=O)C=C1 XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 229920003192 poly(bis maleimide) Polymers 0.000 claims 3
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 20
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 14
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 6
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 5
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 5
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 229920000181 Ethylene propylene rubber Polymers 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 229920001955 polyphenylene ether Polymers 0.000 description 2
- 238000004382 potting Methods 0.000 description 2
- 238000005549 size reduction Methods 0.000 description 2
- 229920002725 thermoplastic elastomer Polymers 0.000 description 2
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001279686 Allium moly Species 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 239000010730 cutting oil Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- OEBRKCOSUFCWJD-UHFFFAOYSA-N dichlorvos Chemical compound COP(=O)(OC)OC=C(Cl)Cl OEBRKCOSUFCWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 239000006082 mold release agent Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920001230 polyarylate Polymers 0.000 description 1
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920006132 styrene block copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229920003051 synthetic elastomer Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ベース基板を薄膜化出来、高さ方向のパッケ
ージサイズを縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置を
提供する。 【解決手段】 櫛歯型電極14を有する弾性表面波素子
1と、この弾性表面波素子1の上に配置されたバンプ5
a〜5gと、このバンプ5a〜5gを介して電気的及び
機械的に弾性表面波素子1に接続された高分子系ベース
基板4と、弾性表面波素子1を機械的ストレス及び環境
ストレスから保護する為の封止部材2とを有する。
ージサイズを縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置を
提供する。 【解決手段】 櫛歯型電極14を有する弾性表面波素子
1と、この弾性表面波素子1の上に配置されたバンプ5
a〜5gと、このバンプ5a〜5gを介して電気的及び
機械的に弾性表面波素子1に接続された高分子系ベース
基板4と、弾性表面波素子1を機械的ストレス及び環境
ストレスから保護する為の封止部材2とを有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、弾性表面波装置に
係り、特に、高分子系ベース基板にフェイスダウンボン
ディング(以下において、「FDB」という。)する弾
性表面波素子の実装技術に関する。
係り、特に、高分子系ベース基板にフェイスダウンボン
ディング(以下において、「FDB」という。)する弾
性表面波素子の実装技術に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電波を使用する電子機器のフィル
タ、遅延線、発振器等の素子として、多くの弾性表面波
装置が用いられている。また、移動体通信等の分野にお
いて使用される電子機器は、その大きさの縮小と高信頼
性が要求されており、この縮小のために弾性表面波装置
の小型化も要求される。
タ、遅延線、発振器等の素子として、多くの弾性表面波
装置が用いられている。また、移動体通信等の分野にお
いて使用される電子機器は、その大きさの縮小と高信頼
性が要求されており、この縮小のために弾性表面波装置
の小型化も要求される。
【0003】従来の弾性表面波装置は一般に、FDB構
造を有する。FDBは「フリップチップボンディング」
とも呼ばれる。弾性表面波素子上に、バンプボンディン
グ装置を用いてバンプを形成する。そして、この弾性表
面波素子をフリップチップボンダ装置を用いて従来の筐
体状のセラミックス製ベース基板に接合する。その後、
筐体状のキャップをそのベース基板に接合して、弾性表
面波素子を封止し、筐体内部に収納する。このように構
成された弾性表面波装置は、安価で大量生産に富む。し
かし、キャップを接着する為の領域を確保するために、
素子面に水平な方向のサイズ縮小に限界がある。
造を有する。FDBは「フリップチップボンディング」
とも呼ばれる。弾性表面波素子上に、バンプボンディン
グ装置を用いてバンプを形成する。そして、この弾性表
面波素子をフリップチップボンダ装置を用いて従来の筐
体状のセラミックス製ベース基板に接合する。その後、
筐体状のキャップをそのベース基板に接合して、弾性表
面波素子を封止し、筐体内部に収納する。このように構
成された弾性表面波装置は、安価で大量生産に富む。し
かし、キャップを接着する為の領域を確保するために、
素子面に水平な方向のサイズ縮小に限界がある。
【0004】この問題点は、キャップの代わりに、熱硬
化性樹脂を用いて素子を封止することで解決される。上
記方法により、バンプを有する弾性表面波素子を、平板
状のセラミックス製ベース基板の表面に接合する。そし
て、弾性表面波素子を含むベース基板の表面を、流動性
のある樹脂材料で覆う。その後、この樹脂材料を熱硬化
させる。キャップの代わりに樹脂材料を用いることによ
り、水平方向のサイズが縮小できる。また同時に、キャ
ップが無い分、素子面に垂直な方向のサイズ縮小も実現
される。
化性樹脂を用いて素子を封止することで解決される。上
記方法により、バンプを有する弾性表面波素子を、平板
状のセラミックス製ベース基板の表面に接合する。そし
て、弾性表面波素子を含むベース基板の表面を、流動性
のある樹脂材料で覆う。その後、この樹脂材料を熱硬化
させる。キャップの代わりに樹脂材料を用いることによ
り、水平方向のサイズが縮小できる。また同時に、キャ
ップが無い分、素子面に垂直な方向のサイズ縮小も実現
される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のセラミ
ックス製ベース基板は、強度の面で技術的課題を抱え、
その薄厚化には限界がある。従って、弾性表面波装置に
おいて、更なる高さ方向のパッケージサイズの縮小、小
型化は困難であった。
ックス製ベース基板は、強度の面で技術的課題を抱え、
その薄厚化には限界がある。従って、弾性表面波装置に
おいて、更なる高さ方向のパッケージサイズの縮小、小
型化は困難であった。
【0006】本発明はこのような従来技術の問題点を解
決するために成されたものであり、その目的は、ベース
基板を薄膜化出来、高さ方向のパッケージサイズを縮小
出来、小型化出来る弾性表面波装置を提供することであ
る。
決するために成されたものであり、その目的は、ベース
基板を薄膜化出来、高さ方向のパッケージサイズを縮小
出来、小型化出来る弾性表面波装置を提供することであ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の特徴は、櫛歯型電極を有する弾性表面波素
子と、この弾性表面波素子の上に配置されたバンプと、
このバンプを介して電気的及び機械的に弾性表面波素子
に接続された高分子系ベース基板と、弾性表面波素子を
機械的ストレス及び環境ストレスから保護する為の封止
部材とを有する弾性表面波装置であることを要旨とす
る。
め、本発明の特徴は、櫛歯型電極を有する弾性表面波素
子と、この弾性表面波素子の上に配置されたバンプと、
このバンプを介して電気的及び機械的に弾性表面波素子
に接続された高分子系ベース基板と、弾性表面波素子を
機械的ストレス及び環境ストレスから保護する為の封止
部材とを有する弾性表面波装置であることを要旨とす
る。
【0008】本発明においては、ベース基板として高分
子系の材料を使用するため、従来使用されているセラミ
ックスに比較し割れ難い。従って、従来のセラミックス
製ベース基板は厚さ0.5乃至2.5mm程度であるの
に対し、高分子系ベース基板は厚さ0.025乃至0.
4mm程度のものが使用可能である。
子系の材料を使用するため、従来使用されているセラミ
ックスに比較し割れ難い。従って、従来のセラミックス
製ベース基板は厚さ0.5乃至2.5mm程度であるの
に対し、高分子系ベース基板は厚さ0.025乃至0.
4mm程度のものが使用可能である。
【0009】本発明の特徴によれば、高分子系ベース基
板を有することにより、従来のセラミックス製ベース基
板に比して割れ難いので、ベース基板の薄厚化が可能と
なる。従って、弾性表面波装置の高さ方向のパッケージ
サイズを縮小することができ、装置の小型化が可能とな
る。
板を有することにより、従来のセラミックス製ベース基
板に比して割れ難いので、ベース基板の薄厚化が可能と
なる。従って、弾性表面波装置の高さ方向のパッケージ
サイズを縮小することができ、装置の小型化が可能とな
る。
【0010】高分子系ベース基板の材料としては、ポリ
イミド、ビスマレイミド・トリアジン(BT)レジンや
ポリフェニレン・エーテル等が使用可能である。ここ
で、高分子系ベース基板は、厚さ0.05乃至0.1m
m程度のBTレジンから成ることが好ましい。厚さ0.
05乃至0.1mm程度のBTレジンフィルムを高分子
系ベース基板として用いることにより、更なる高さ方向
のパッケージサイズの縮小、装置の小型化が可能とな
る。また、このBTレジンは、ガラス転移温度が190
乃至330℃程度であることが好ましい。この範囲のガ
ラス転移温度により、フリップチップボンディングに対
して充分な耐性を有し、良好な電気的接続が得られる。
更に、このBTレジンの吸水率が0.1%以下であるこ
とが好ましい。この範囲の吸水率により、櫛歯型電極の
腐食の発生等の不良を防止できる。更には、BTレジン
の吸水率が0.08%以下であることが好ましい。この
ことにより、櫛歯型電極等の不良の発生を更に防止でき
る。
イミド、ビスマレイミド・トリアジン(BT)レジンや
ポリフェニレン・エーテル等が使用可能である。ここ
で、高分子系ベース基板は、厚さ0.05乃至0.1m
m程度のBTレジンから成ることが好ましい。厚さ0.
05乃至0.1mm程度のBTレジンフィルムを高分子
系ベース基板として用いることにより、更なる高さ方向
のパッケージサイズの縮小、装置の小型化が可能とな
る。また、このBTレジンは、ガラス転移温度が190
乃至330℃程度であることが好ましい。この範囲のガ
ラス転移温度により、フリップチップボンディングに対
して充分な耐性を有し、良好な電気的接続が得られる。
更に、このBTレジンの吸水率が0.1%以下であるこ
とが好ましい。この範囲の吸水率により、櫛歯型電極の
腐食の発生等の不良を防止できる。更には、BTレジン
の吸水率が0.08%以下であることが好ましい。この
ことにより、櫛歯型電極等の不良の発生を更に防止でき
る。
【0011】また、封止部材は、高分子系材料から成る
ことが好ましい。高分子系材料としては、エポキシ、ポ
リイミドやポリオレフィン等の樹脂が含まれる。
ことが好ましい。高分子系材料としては、エポキシ、ポ
リイミドやポリオレフィン等の樹脂が含まれる。
【0012】また、本発明の特徴において、高分子系ベ
ース基板と弾性表面波素子の櫛歯型電極との間に空隙部
を更に有することが望ましい。櫛歯型電極は、弾性表面
波素子の活性領域であり、封止樹脂等と接触状態にある
と、電気的に劣化を生じる惧れがある。この空隙部によ
り、櫛歯型電極と封止部材とを非接触状態に出来る。従
って、弾性表面波素子、即ち櫛歯状電極の所望の性能を
維持することができる。
ース基板と弾性表面波素子の櫛歯型電極との間に空隙部
を更に有することが望ましい。櫛歯型電極は、弾性表面
波素子の活性領域であり、封止樹脂等と接触状態にある
と、電気的に劣化を生じる惧れがある。この空隙部によ
り、櫛歯型電極と封止部材とを非接触状態に出来る。従
って、弾性表面波素子、即ち櫛歯状電極の所望の性能を
維持することができる。
【0013】この空隙部を設ける手段として、弾性表面
波素子とベース基板の間に櫛歯型電極の周囲を取り囲む
ように配置されたダムを更に有していても構わない。な
お、ダムの高さは、確保されるべき空隙部に硬化前の封
止樹脂等の封止部材が流入しない程度であれば良い。特
に、封止樹脂等の表面張力を利用して、封止樹脂等の流
入を防止できる高さであることが好ましい。このことに
より、ダムの高さを空隙部より低く出来、高分子系ベー
ス基板と弾性表面波素子とを接続しやすくなる。
波素子とベース基板の間に櫛歯型電極の周囲を取り囲む
ように配置されたダムを更に有していても構わない。な
お、ダムの高さは、確保されるべき空隙部に硬化前の封
止樹脂等の封止部材が流入しない程度であれば良い。特
に、封止樹脂等の表面張力を利用して、封止樹脂等の流
入を防止できる高さであることが好ましい。このことに
より、ダムの高さを空隙部より低く出来、高分子系ベー
ス基板と弾性表面波素子とを接続しやすくなる。
【0014】或いは、空隙部を設けるための手段とし
て、ダムの代わりに高分子材料と櫛歯型電極の間に配置
された油剤を更に有していても構わない。硬化の際、油
剤がデバイス機能部から離型することにより、櫛歯型電
極の表面を覆う封止部材も共に、デバイス機能部の表面
から離型される。従って、櫛歯型電極の表面と封止樹脂
との間に空隙部を設けることが出来る。
て、ダムの代わりに高分子材料と櫛歯型電極の間に配置
された油剤を更に有していても構わない。硬化の際、油
剤がデバイス機能部から離型することにより、櫛歯型電
極の表面を覆う封止部材も共に、デバイス機能部の表面
から離型される。従って、櫛歯型電極の表面と封止樹脂
との間に空隙部を設けることが出来る。
【0015】また、封止部材は、高分子系材料等の封止
樹脂の代わりに、弾性表面波素子を気密封止する筐体状
のキャップであっても構わない。筐体状のキャップによ
り、ダム或いは油剤などを使用せずに、櫛歯型電極の周
囲に空隙部を設けることが出来る。つまり、キャップを
使用した場合、キャップは封止部材としての機能を有す
ると同時に、櫛歯型電極の表面上に空隙部を設ける機能
をも有する。
樹脂の代わりに、弾性表面波素子を気密封止する筐体状
のキャップであっても構わない。筐体状のキャップによ
り、ダム或いは油剤などを使用せずに、櫛歯型電極の周
囲に空隙部を設けることが出来る。つまり、キャップを
使用した場合、キャップは封止部材としての機能を有す
ると同時に、櫛歯型電極の表面上に空隙部を設ける機能
をも有する。
【0016】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、本発明の実
施の形態を説明する。図面の記載において同一あるいは
類似部分には同一あるいは類似な符号を付している。た
だし、図面は模式的なものであり、構成要素の厚みと幅
との関係、各構成要素の厚みの比率などは現実のものと
は異なることに留意すべきである。また、図面の相互間
においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含ま
れていることは勿論である。
施の形態を説明する。図面の記載において同一あるいは
類似部分には同一あるいは類似な符号を付している。た
だし、図面は模式的なものであり、構成要素の厚みと幅
との関係、各構成要素の厚みの比率などは現実のものと
は異なることに留意すべきである。また、図面の相互間
においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含ま
れていることは勿論である。
【0017】(第1の実施の形態)本発明の第1の実施
の形態に係る弾性表面波装置は、図1(a)に示すよう
に、櫛歯型電極14a,14bを有する弾性表面波素子
1と、弾性表面波素子1の上に配置されたバンプ5a〜
5gと、このバンプ5a〜5gを介して、電気的及び機
械的に弾性表面波素子1に接続された高分子系ベース基
板4と、弾性表面波素子1を機械的ストレス及び環境ス
トレスから保護する封止部材2とを少なくとも有する。
高分子系ベース基板4の各角部には、素子1から0.1
乃至0.3mm程度離間した位置に側面切り欠き部(ス
ルーホール)7a〜7dが設けられている。スルーホー
ル7a〜7dは、側面に沿ってリード線を配置する為の
ものである。
の形態に係る弾性表面波装置は、図1(a)に示すよう
に、櫛歯型電極14a,14bを有する弾性表面波素子
1と、弾性表面波素子1の上に配置されたバンプ5a〜
5gと、このバンプ5a〜5gを介して、電気的及び機
械的に弾性表面波素子1に接続された高分子系ベース基
板4と、弾性表面波素子1を機械的ストレス及び環境ス
トレスから保護する封止部材2とを少なくとも有する。
高分子系ベース基板4の各角部には、素子1から0.1
乃至0.3mm程度離間した位置に側面切り欠き部(ス
ルーホール)7a〜7dが設けられている。スルーホー
ル7a〜7dは、側面に沿ってリード線を配置する為の
ものである。
【0018】高分子系ベース基板4は、4角を円形に切
り欠いた方形状であり、厚さは0.025乃至0.4m
m程度である。ここで、高分子系ベース基板4は、厚さ
0.05乃至0.1mm程度のビスマレイミド・トリア
ジン(BT)レジンから成ることが好ましい。0.05
乃至0.1mm程度のBTレジンフィルムを高分子系ベ
ース基板4として使用することにより、ベース基板を更
に薄膜化出来る。また、このBTレジンのガラス転移温
度(Tg)が190乃至330℃程度であることが好ま
しい。FDBに際しては、弾性表面波素子1に超音波を
印加し、バンプ5a〜5gを溶融させることにより、高
分子系ベース基板4と弾性表面波素子1とを接合させ
る。その際の発熱により、高分子系ベース基板4は膨
張、或いは収縮する。この膨張或いは収縮が過度の値と
なると、接合が外れ、正常な電気的接続が得られなくな
る。BTレジンが190乃至330℃程度のガラス転移
温度を有することにより、ガラスエポキシ(Tg=13
0℃程度)等と比し耐熱性が高いので、FDB構造にお
いて、充分な耐性を有し良好な電気的接続が得られる。
更に、このBTレジンの吸水率が0.1%以下であるこ
とが好ましい。弾性表面波素子1の活性領域である櫛歯
型電極14a,14bの配置面は、高分子系ベース基板
4及び弾性表面波素子1の背面に被着された封止部材2
により封止されている。そのため、高分子系ベース基板
4からの水分の透過があると櫛歯型電極14a,14b
の腐食等が発生する恐れがある。特に、動作中心周波数
1GHz以上の弾性表面波素子においては、電極指幅も
微細となり、腐食の恐れが高い。吸水率が0.1%以下
であることにより、櫛歯型電極14a,14bの腐食等
の不良の発生を防止できる。更には、吸水率は0.08
%以下であることがより好ましい。この範囲の吸水率に
することで、不良の発生を更に防止できる。
り欠いた方形状であり、厚さは0.025乃至0.4m
m程度である。ここで、高分子系ベース基板4は、厚さ
0.05乃至0.1mm程度のビスマレイミド・トリア
ジン(BT)レジンから成ることが好ましい。0.05
乃至0.1mm程度のBTレジンフィルムを高分子系ベ
ース基板4として使用することにより、ベース基板を更
に薄膜化出来る。また、このBTレジンのガラス転移温
度(Tg)が190乃至330℃程度であることが好ま
しい。FDBに際しては、弾性表面波素子1に超音波を
印加し、バンプ5a〜5gを溶融させることにより、高
分子系ベース基板4と弾性表面波素子1とを接合させ
る。その際の発熱により、高分子系ベース基板4は膨
張、或いは収縮する。この膨張或いは収縮が過度の値と
なると、接合が外れ、正常な電気的接続が得られなくな
る。BTレジンが190乃至330℃程度のガラス転移
温度を有することにより、ガラスエポキシ(Tg=13
0℃程度)等と比し耐熱性が高いので、FDB構造にお
いて、充分な耐性を有し良好な電気的接続が得られる。
更に、このBTレジンの吸水率が0.1%以下であるこ
とが好ましい。弾性表面波素子1の活性領域である櫛歯
型電極14a,14bの配置面は、高分子系ベース基板
4及び弾性表面波素子1の背面に被着された封止部材2
により封止されている。そのため、高分子系ベース基板
4からの水分の透過があると櫛歯型電極14a,14b
の腐食等が発生する恐れがある。特に、動作中心周波数
1GHz以上の弾性表面波素子においては、電極指幅も
微細となり、腐食の恐れが高い。吸水率が0.1%以下
であることにより、櫛歯型電極14a,14bの腐食等
の不良の発生を防止できる。更には、吸水率は0.08
%以下であることがより好ましい。この範囲の吸水率に
することで、不良の発生を更に防止できる。
【0019】なお、吸水率の測定方法は、基板を温度2
0℃、湿度65%の恒温雰囲気中に96時間おく。その
後100℃の煮沸水中に2時間浸漬する。そして、処理
後の基板質量の増加分を、処理前の基板質量から差し引
いて吸水率を求める。
0℃、湿度65%の恒温雰囲気中に96時間おく。その
後100℃の煮沸水中に2時間浸漬する。そして、処理
後の基板質量の増加分を、処理前の基板質量から差し引
いて吸水率を求める。
【0020】なお、BTレジンフィルムには、東レ
(株)製のCCL−HL830、CCL−HL832等
がある。高分子系基板4の材料としては、BTレジンの
他にも、ポリイミドやポリフェニレン・エーテル等が使
用可能である。
(株)製のCCL−HL830、CCL−HL832等
がある。高分子系基板4の材料としては、BTレジンの
他にも、ポリイミドやポリフェニレン・エーテル等が使
用可能である。
【0021】バンプ5a〜5gは、金(Au)や銀(A
g)等から成る。また、バンプ5a〜5gの代わりにハ
ンダボールや導電性メッキ樹脂ボール等も使用可能であ
る。
g)等から成る。また、バンプ5a〜5gの代わりにハ
ンダボールや導電性メッキ樹脂ボール等も使用可能であ
る。
【0022】封止部材2は、弾性表面波素子1の表面保
護膜として機能し、弾性表面波素子1を環境ストレス及
び機械的ストレスから保護することが出来る。封止部材
2として、例えば、ポリイミド樹脂、PP/EPR系ポ
リマーアロイ(PP/EthylenePropylene Rubber Blen
d)、TEX(東燃化学株式会社製、ポリオレフィン系
TPE(Polyolefine Thermoplastic Elastomer))、
タフプレン(旭化成株式会社製、SBS(Styrene-Buta
diene-Styrene Block Copolymer))、マクスロイA
(日本合成ゴム株式会社製)、X−9(ユニチカ株式会
社製、PA/PAR(PA/Polyarylate))、テナック
(旭化成株式会社製、POM/TPU(POM/Thermoplas
tic Polyurethane))等の高分子系材料を使用すること
ができる。
護膜として機能し、弾性表面波素子1を環境ストレス及
び機械的ストレスから保護することが出来る。封止部材
2として、例えば、ポリイミド樹脂、PP/EPR系ポ
リマーアロイ(PP/EthylenePropylene Rubber Blen
d)、TEX(東燃化学株式会社製、ポリオレフィン系
TPE(Polyolefine Thermoplastic Elastomer))、
タフプレン(旭化成株式会社製、SBS(Styrene-Buta
diene-Styrene Block Copolymer))、マクスロイA
(日本合成ゴム株式会社製)、X−9(ユニチカ株式会
社製、PA/PAR(PA/Polyarylate))、テナック
(旭化成株式会社製、POM/TPU(POM/Thermoplas
tic Polyurethane))等の高分子系材料を使用すること
ができる。
【0023】弾性表面波素子1は、タンタル酸リチウム
(LiTaO3)やニオブ酸リチウム(LiNbO3)
等から成る圧電基板3と、圧電基板3の高分子系ベース
基板4に対向する一主面に配置された櫛歯型電極14
a,14bと、この櫛歯型電極14a,14bと同一面
に配置され、櫛歯型電極14a,14bと電気的に接続
されたボンディングパッド(図示省略)を具備してい
る。即ち、弾性表面波装置はFDB)構造を有する。ま
た、ボンディングパッドには、櫛歯型電極14a,14
bにベース基板側から信号等を供給する為のバンプ5a
〜5gが接続される。
(LiTaO3)やニオブ酸リチウム(LiNbO3)
等から成る圧電基板3と、圧電基板3の高分子系ベース
基板4に対向する一主面に配置された櫛歯型電極14
a,14bと、この櫛歯型電極14a,14bと同一面
に配置され、櫛歯型電極14a,14bと電気的に接続
されたボンディングパッド(図示省略)を具備してい
る。即ち、弾性表面波装置はFDB)構造を有する。ま
た、ボンディングパッドには、櫛歯型電極14a,14
bにベース基板側から信号等を供給する為のバンプ5a
〜5gが接続される。
【0024】本発明の第1の実施の形態に係る弾性表面
波装置によれば、高分子系ベース基板4を具備すること
により、セラミックス製ベース基板に比して、高さ方向
のパッケージサイズを縮小することができ、小型化出来
る。高分子系の材料はセラミックスに比較して割れ難い
ので、従来0.5乃至2.5mm程度であったセラミッ
クスやガラスから成るベース基板の厚さを、本発明の第
1の実施の形態に係る高分子系ベース基板4では0.0
25乃至0.4mm程度に薄厚化することが出来るから
である。
波装置によれば、高分子系ベース基板4を具備すること
により、セラミックス製ベース基板に比して、高さ方向
のパッケージサイズを縮小することができ、小型化出来
る。高分子系の材料はセラミックスに比較して割れ難い
ので、従来0.5乃至2.5mm程度であったセラミッ
クスやガラスから成るベース基板の厚さを、本発明の第
1の実施の形態に係る高分子系ベース基板4では0.0
25乃至0.4mm程度に薄厚化することが出来るから
である。
【0025】本発明の第1の実施の形態に係る弾性表面
波装置の駆動方法は、弾性表面波素子1の入力インター
デジタルトランスジューサ(例えば、櫛歯型電極14
a)に電気信号を印加させる。この電気信号を弾性表面
波に変換して圧電性基板3上を伝達させ、出力インター
デジタルトランスジューサ(例えば、櫛歯型電極14
b)に到達させる。そして、弾性表面波を再度電気信号
に変換して外部に取り出す。
波装置の駆動方法は、弾性表面波素子1の入力インター
デジタルトランスジューサ(例えば、櫛歯型電極14
a)に電気信号を印加させる。この電気信号を弾性表面
波に変換して圧電性基板3上を伝達させ、出力インター
デジタルトランスジューサ(例えば、櫛歯型電極14
b)に到達させる。そして、弾性表面波を再度電気信号
に変換して外部に取り出す。
【0026】本発明の第1の実施の形態に係る弾性表面
波装置の実装方法を以下に示す。
波装置の実装方法を以下に示す。
【0027】(イ) まず、図2(a)に示すように、
スパッタリングやリソグラフィ技術等を用いて、圧電基
板3上に櫛歯型電極14a,14b(14bは図示省
略)及び金属配線パターン(図示省略)を形成し、弾性
表面波素子1を構成する。
スパッタリングやリソグラフィ技術等を用いて、圧電基
板3上に櫛歯型電極14a,14b(14bは図示省
略)及び金属配線パターン(図示省略)を形成し、弾性
表面波素子1を構成する。
【0028】(ロ) 次に、スクリーン印刷法等によ
り、図2(b)に示すように、弾性表面波素子1のボン
ディングパッドの上にバンプ5a〜5g(5c〜5gは
図示省略)を形成する。
り、図2(b)に示すように、弾性表面波素子1のボン
ディングパッドの上にバンプ5a〜5g(5c〜5gは
図示省略)を形成する。
【0029】(ハ) 次に、圧電基板3をフリップチッ
プ配置にして、図2(c)に示すように、高分子系ベー
ス基板4の配線パターン上に、バンプ5a〜5gを接合
する。即ち、バンプ5a〜5gを介して、高分子系ベー
ス基板4と弾性表面波素子1とをFDBして電気的及び
機械的に接続する。
プ配置にして、図2(c)に示すように、高分子系ベー
ス基板4の配線パターン上に、バンプ5a〜5gを接合
する。即ち、バンプ5a〜5gを介して、高分子系ベー
ス基板4と弾性表面波素子1とをFDBして電気的及び
機械的に接続する。
【0030】(ニ) 最後に、トランスファー形成法、
中形法(ポッティング法)や滴下法等の封止方法によ
り、図2(d)に示すように、弾性表面波素子1を含む
高分子系ベース基板4の表面を封止部材2を用いてパッ
ケージングする。
中形法(ポッティング法)や滴下法等の封止方法によ
り、図2(d)に示すように、弾性表面波素子1を含む
高分子系ベース基板4の表面を封止部材2を用いてパッ
ケージングする。
【0031】本発明の第1の実施の形態に係る弾性表面
波装置の実装方法によれば、高さ方向のパッケージサイ
ズを縮小でき、小型化出来る弾性表面波装置が実現可能
である。
波装置の実装方法によれば、高さ方向のパッケージサイ
ズを縮小でき、小型化出来る弾性表面波装置が実現可能
である。
【0032】(第2の実施の形態)本発明の第2の実施
の形態に係る弾性表面波装置は、図3(a)乃至(c)
に示すように、弾性表面波素子1の櫛歯状電極14a,
14bと高分子系ベース基板4との間に空隙部13が設
けられている。また、封止部材2としての封止樹脂を用
いずに、セラミックス等から成る筐体状のキャップ6を
有している。キャップ6は、弾性表面波素子1と離間し
て、弾性表面波装置1を覆うように配置されている。こ
のキャップ6と平板状の高分子系ベース基板4により、
弾性表面波素子1が気密封止されている。キャップ6の
材料としては、セラミックスの他にも、プラスチック、
ポリイミド、ガラスや絶縁性基板等が使用可能であり、
特に限定されるものではない。他の構成は本発明の第1
の実施の形態と実質的に同様であるので、重複する説明
を省略する。
の形態に係る弾性表面波装置は、図3(a)乃至(c)
に示すように、弾性表面波素子1の櫛歯状電極14a,
14bと高分子系ベース基板4との間に空隙部13が設
けられている。また、封止部材2としての封止樹脂を用
いずに、セラミックス等から成る筐体状のキャップ6を
有している。キャップ6は、弾性表面波素子1と離間し
て、弾性表面波装置1を覆うように配置されている。こ
のキャップ6と平板状の高分子系ベース基板4により、
弾性表面波素子1が気密封止されている。キャップ6の
材料としては、セラミックスの他にも、プラスチック、
ポリイミド、ガラスや絶縁性基板等が使用可能であり、
特に限定されるものではない。他の構成は本発明の第1
の実施の形態と実質的に同様であるので、重複する説明
を省略する。
【0033】本発明の第2の実施の形態に係る弾性表面
波装置によれば、封止樹脂の代わりに筐体状のキャップ
6を用いて気密封止した場合においても、平面状の高分
子系ベース基板4を使用することにより、従来のベース
基板に比して割れ難いので、薄膜化が可能である。従っ
て、高さ方向のパッケージサイズを縮小でき、小型化出
来る。また、筐体状のベース基板を用いた弾性表面波装
置に比してパッケージ構造を簡易化出来、ローコスト化
が図られる。
波装置によれば、封止樹脂の代わりに筐体状のキャップ
6を用いて気密封止した場合においても、平面状の高分
子系ベース基板4を使用することにより、従来のベース
基板に比して割れ難いので、薄膜化が可能である。従っ
て、高さ方向のパッケージサイズを縮小でき、小型化出
来る。また、筐体状のベース基板を用いた弾性表面波装
置に比してパッケージ構造を簡易化出来、ローコスト化
が図られる。
【0034】また、筐体状のキャップ6を使用すること
により、弾性表面波素子1を中空的に気密封止すること
ができる。即ち、弾性表面波素子1の活性領域である櫛
歯型電極14a,14bの表面に空隙部13が設けられ
る。よって、櫛歯型電極14a,14bの表面と封止部
材2とを非接触状態に出来、弾性表面波素子1の所望の
性能を十分に発揮させることが出来る。
により、弾性表面波素子1を中空的に気密封止すること
ができる。即ち、弾性表面波素子1の活性領域である櫛
歯型電極14a,14bの表面に空隙部13が設けられ
る。よって、櫛歯型電極14a,14bの表面と封止部
材2とを非接触状態に出来、弾性表面波素子1の所望の
性能を十分に発揮させることが出来る。
【0035】本発明の第2の実施の形態に係る弾性表面
波装置の実装方法は、第1の実施の形態で示された封止
部材2を用いて封止する工程の代わりに、素子1を覆う
ように、高分子系ベース基板4と筐体状のキャップ6を
接合して気密封止する工程を含むことが異なる。
波装置の実装方法は、第1の実施の形態で示された封止
部材2を用いて封止する工程の代わりに、素子1を覆う
ように、高分子系ベース基板4と筐体状のキャップ6を
接合して気密封止する工程を含むことが異なる。
【0036】本発明の第2の実施の形態に係る弾性表面
波装置の実装方法の他の工程及びその奏する効果は、本
発明の第1の実施の形態で示された実装方法及びその奏
する効果と実質的に同様であるので、重複する説明は省
略する。
波装置の実装方法の他の工程及びその奏する効果は、本
発明の第1の実施の形態で示された実装方法及びその奏
する効果と実質的に同様であるので、重複する説明は省
略する。
【0037】(第3の実施の形態)本発明の第3の実施
の形態に係る弾性表面波装置は、図4に示すように、弾
性表面波素子1と、弾性表面波素子1の表面上に配置さ
れた櫛歯型電極14と、弾性表面波素子1の表面上に配
置されたバンプ5a,5bと、バンプ5a,5bを介し
て、弾性表面波素子1に電気的に接続された高分子系ベ
ース基板4と、高分子系ベース基板4上に、弾性表面波
素子1を覆うように配置された封止部材2と、弾性表面
波素子1と高分子系ベース基板4との間に、櫛歯型電極
14の周囲を取り囲むように、櫛歯型電極14と離間し
た位置に配置された第1のダム8と、高分子系ベース基
板4上に、弾性表面波素子1を取り囲むように配置され
た第2のダム9と、櫛歯型電極14と高分子系ベース基
板4との間に設けられた空隙部11とを少なくとも有す
る。
の形態に係る弾性表面波装置は、図4に示すように、弾
性表面波素子1と、弾性表面波素子1の表面上に配置さ
れた櫛歯型電極14と、弾性表面波素子1の表面上に配
置されたバンプ5a,5bと、バンプ5a,5bを介し
て、弾性表面波素子1に電気的に接続された高分子系ベ
ース基板4と、高分子系ベース基板4上に、弾性表面波
素子1を覆うように配置された封止部材2と、弾性表面
波素子1と高分子系ベース基板4との間に、櫛歯型電極
14の周囲を取り囲むように、櫛歯型電極14と離間し
た位置に配置された第1のダム8と、高分子系ベース基
板4上に、弾性表面波素子1を取り囲むように配置され
た第2のダム9と、櫛歯型電極14と高分子系ベース基
板4との間に設けられた空隙部11とを少なくとも有す
る。
【0038】第1のダム8及び第2のダム9は、感光性
ポリイミド樹脂等からなる。バンプ5a,5bは、詳し
くは弾性表面波素子1の表面上に配置されたボンディン
グパッド15a,15bと、高分子系ベース基板4の表
面上に配置された配線パターン16a,16bとを電気
的に接続している。
ポリイミド樹脂等からなる。バンプ5a,5bは、詳し
くは弾性表面波素子1の表面上に配置されたボンディン
グパッド15a,15bと、高分子系ベース基板4の表
面上に配置された配線パターン16a,16bとを電気
的に接続している。
【0039】本発明の第3の実施の形態に係る弾性表面
波装置によれば、高分子系ベース基板4を用いることに
より、従来のセラミックスから成る基板と比して割れ難
いので、ベース基板を薄膜化できる。従って、高さ方向
のパッケージサイズを縮小出来、小型化出来る。
波装置によれば、高分子系ベース基板4を用いることに
より、従来のセラミックスから成る基板と比して割れ難
いので、ベース基板を薄膜化できる。従って、高さ方向
のパッケージサイズを縮小出来、小型化出来る。
【0040】また、流動性のある封止部材2により弾性
表面波素子1の周囲全体を覆ってしまうと、弾性表面波
素子1の活性領域である櫛歯状電極14と封止部材2と
が接触する。弾性表面波素子1は、圧電基板3の活性表
面の特性(弾性的性質)を利用して機能させるので、弾
性表面素子1の性能を損なう惧れがある。本発明の第3
の実施の形態に係る弾性表面波装置によれば、空隙部1
1を有することにより、櫛歯状電極14の表面と封止部
材2の接触を回避でき、弾性表面波素子1の所望の性能
を十分に発揮させることが出来る。
表面波素子1の周囲全体を覆ってしまうと、弾性表面波
素子1の活性領域である櫛歯状電極14と封止部材2と
が接触する。弾性表面波素子1は、圧電基板3の活性表
面の特性(弾性的性質)を利用して機能させるので、弾
性表面素子1の性能を損なう惧れがある。本発明の第3
の実施の形態に係る弾性表面波装置によれば、空隙部1
1を有することにより、櫛歯状電極14の表面と封止部
材2の接触を回避でき、弾性表面波素子1の所望の性能
を十分に発揮させることが出来る。
【0041】以下に、本発明の第3の実施の形態に係る
弾性表面波装置の実装方法を説明する。
弾性表面波装置の実装方法を説明する。
【0042】(イ) 先ず、スパッタリング、リソグラ
フィ技術や反応性イオンエッチング(RIE)法等によ
り、圧電基板3上に櫛歯型電極14や電極端子15a,
15b等を形成し、弾性表面波素子1を構成する。
フィ技術や反応性イオンエッチング(RIE)法等によ
り、圧電基板3上に櫛歯型電極14や電極端子15a,
15b等を形成し、弾性表面波素子1を構成する。
【0043】(ロ) 次に、スクリーン印刷法等によ
り、弾性表面波素子1のボンディングパッド15a,1
5b上にバンプ5a,5bをそれぞれ形成する。
り、弾性表面波素子1のボンディングパッド15a,1
5b上にバンプ5a,5bをそれぞれ形成する。
【0044】(ハ) 次に、高分子系ベース基板4を用
意する。そして、スパッタリング、フォトリソグラフィ
技術やRIE法等を用いて、図5(a)に示すように、
高分子系ベース基板4の表面上に配線パターン16a,
16bを形成する。
意する。そして、スパッタリング、フォトリソグラフィ
技術やRIE法等を用いて、図5(a)に示すように、
高分子系ベース基板4の表面上に配線パターン16a,
16bを形成する。
【0045】(ニ) 次に、図5(b)に示すように、
フォトリソグラフィ技術等により、高分子系ベース基板
4上に実装する弾性表面波素子1の櫛歯型電極14の周
囲を取り囲むように、高分子系ベース基板4上及び配線
パターン16上に、第1のダム8を形成する。また、高
分子系ベース基板4上に実装する弾性表面波素子1の周
囲を取り囲むように、高分子系ベース基板4上及び配線
パターン16上に第2のダム9を形成する。
フォトリソグラフィ技術等により、高分子系ベース基板
4上に実装する弾性表面波素子1の櫛歯型電極14の周
囲を取り囲むように、高分子系ベース基板4上及び配線
パターン16上に、第1のダム8を形成する。また、高
分子系ベース基板4上に実装する弾性表面波素子1の周
囲を取り囲むように、高分子系ベース基板4上及び配線
パターン16上に第2のダム9を形成する。
【0046】(ホ) 次に、圧電基板3をフリップチッ
プ配置にして、図5(c)に示すように、高分子系ベー
ス基板4の配線パターン16a,16bにバンプ5a,
5bをそれぞれ接合する。即ち、バンプ5a,5bを介
して、高分子系ベース基板4と弾性表面波素子1とを電
気的に接続する。
プ配置にして、図5(c)に示すように、高分子系ベー
ス基板4の配線パターン16a,16bにバンプ5a,
5bをそれぞれ接合する。即ち、バンプ5a,5bを介
して、高分子系ベース基板4と弾性表面波素子1とを電
気的に接続する。
【0047】(ヘ) 最後に、トランスファー形成法、
中形法(ポッティング法)や滴下法等の周知の封止方法
により、図5(d)に示すように、弾性表面波素子1を
含む高分子系ベース基板4の表面を封止部材2を用いて
封止する。この際、第1のダム8により、封止部材2が
硬化するまでの間に空隙部11内に流動性のある封止部
材2が流入することを阻止できる。即ち、櫛歯型電極1
4と封止部材2とを非接触状態とすることが出来る。ま
た、第2のダム9により、高分子系ベース基板4の外側
への封止部材2の流出を阻止できる。
中形法(ポッティング法)や滴下法等の周知の封止方法
により、図5(d)に示すように、弾性表面波素子1を
含む高分子系ベース基板4の表面を封止部材2を用いて
封止する。この際、第1のダム8により、封止部材2が
硬化するまでの間に空隙部11内に流動性のある封止部
材2が流入することを阻止できる。即ち、櫛歯型電極1
4と封止部材2とを非接触状態とすることが出来る。ま
た、第2のダム9により、高分子系ベース基板4の外側
への封止部材2の流出を阻止できる。
【0048】本発明の第3の実施の形態に係る弾性表面
波装置の実装方法によれば、高さ方向のパッケージサイ
ズを縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置が実現可能
である。
波装置の実装方法によれば、高さ方向のパッケージサイ
ズを縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置が実現可能
である。
【0049】また、ダムを設ける工程により、櫛歯型電
極と高分子系材料等から成る封止部材を非接触状態とす
ることが出来る。従って、弾性表面波素子が十分に性能
を発揮することが出来る弾性表面波装置が実現可能であ
る。
極と高分子系材料等から成る封止部材を非接触状態とす
ることが出来る。従って、弾性表面波素子が十分に性能
を発揮することが出来る弾性表面波装置が実現可能であ
る。
【0050】なお、本発明の第3の実施の形態におい
て、第1のダム8の高さは、確保されるべき空隙部11
に硬化前の封止樹脂等の封止部材2が流入しない程度で
あれば良い。特に、封止部材2の表面張力を利用して、
封止部材2の流入を防止できる高さであることが好まし
い。このことにより、第1のダム8の高さを空隙部11
より低く出来、高分子系基板4と弾性表面波素子1とを
接続しやすくなる。
て、第1のダム8の高さは、確保されるべき空隙部11
に硬化前の封止樹脂等の封止部材2が流入しない程度で
あれば良い。特に、封止部材2の表面張力を利用して、
封止部材2の流入を防止できる高さであることが好まし
い。このことにより、第1のダム8の高さを空隙部11
より低く出来、高分子系基板4と弾性表面波素子1とを
接続しやすくなる。
【0051】また、配線パターン16a,16bは高分
子系基板4の上面から下面にわたり配置されているが、
実装方式の違いにより適宜選択出来る。例えば、高分子
系ベース基板4の上面及び下面に配線パターンを夫々配
置し、インナービア等を介して夫々の配線パターンを電
気的に接続していても構わない。
子系基板4の上面から下面にわたり配置されているが、
実装方式の違いにより適宜選択出来る。例えば、高分子
系ベース基板4の上面及び下面に配線パターンを夫々配
置し、インナービア等を介して夫々の配線パターンを電
気的に接続していても構わない。
【0052】(第4の実施の形態)本発明の第4の実施
の形態に係る弾性表面波装置は、図6に示すように、櫛
歯型電極14を有する弾性表面波素子1と、弾性表面波
素子1上に配置されたバンプ5a,5bと、バンプ5
a,5bを介して弾性表面波素子1に電気的に接続され
た高分子系ベース基板4と、高分子系ベース基板4上
に、弾性表面波素子1及び油剤層10を覆うように配置
された封止部材2と、弾性表面波素子1の表面上を覆う
ように、櫛歯型電極14と離間した位置に配置された油
剤層10と、高分子系ベース基板4と櫛歯状電極14と
の間に設けられた空隙部12とを少なくとも有する。弾
性表面波素子1のボンディングパッド15a,15b
は、バンプ5a,5bを介して高分子系ベース基板4上
の配線パターン16a,16bにそれぞれ接続されてい
る。
の形態に係る弾性表面波装置は、図6に示すように、櫛
歯型電極14を有する弾性表面波素子1と、弾性表面波
素子1上に配置されたバンプ5a,5bと、バンプ5
a,5bを介して弾性表面波素子1に電気的に接続され
た高分子系ベース基板4と、高分子系ベース基板4上
に、弾性表面波素子1及び油剤層10を覆うように配置
された封止部材2と、弾性表面波素子1の表面上を覆う
ように、櫛歯型電極14と離間した位置に配置された油
剤層10と、高分子系ベース基板4と櫛歯状電極14と
の間に設けられた空隙部12とを少なくとも有する。弾
性表面波素子1のボンディングパッド15a,15b
は、バンプ5a,5bを介して高分子系ベース基板4上
の配線パターン16a,16bにそれぞれ接続されてい
る。
【0053】空隙部12は、櫛歯状電極14付近の圧電
基板3、櫛歯上電極14及び油剤層10とで囲まれた空
間である。櫛歯型電極14と油剤層10とは互いに接触
していない。封止部材2は油剤層10の外周部を覆うよ
うに配置されているので、櫛歯状電極14と封止部材2
とは勿論非接触状態にある。この油剤層10は、CRC
防錆剤、金型離型剤、切削油、シリコングリース、ポリ
プリンググリース、モリブデングリース、モリコートH
Pグリース(ダウ コーニング株式会社製)、フッソグ
リース(ニチアス株式会社製)の内、何れかの材料から
構成されている。
基板3、櫛歯上電極14及び油剤層10とで囲まれた空
間である。櫛歯型電極14と油剤層10とは互いに接触
していない。封止部材2は油剤層10の外周部を覆うよ
うに配置されているので、櫛歯状電極14と封止部材2
とは勿論非接触状態にある。この油剤層10は、CRC
防錆剤、金型離型剤、切削油、シリコングリース、ポリ
プリンググリース、モリブデングリース、モリコートH
Pグリース(ダウ コーニング株式会社製)、フッソグ
リース(ニチアス株式会社製)の内、何れかの材料から
構成されている。
【0054】本発明の第4の実施の形態に係る弾性表面
波装置によれば、高分子系ベース基板4を備えることに
より、従来のセラミックス製ベース基板と比して割れ難
いので、薄膜化が可能である。従って、高さ方向のパッ
ケージサイズを縮小でき、装置の小型化が可能となる。
波装置によれば、高分子系ベース基板4を備えることに
より、従来のセラミックス製ベース基板と比して割れ難
いので、薄膜化が可能である。従って、高さ方向のパッ
ケージサイズを縮小でき、装置の小型化が可能となる。
【0055】また、空隙部12を有することにより、櫛
歯型電極14と封止樹脂2とを非接触状態に出来るの
で、櫛歯型電極14、即ち弾性表面波素子1の所望の性
能を十分に発揮させることが出来る。
歯型電極14と封止樹脂2とを非接触状態に出来るの
で、櫛歯型電極14、即ち弾性表面波素子1の所望の性
能を十分に発揮させることが出来る。
【0056】本発明の第4の実施の形態に係る弾性表面
波装置の実装方法を以下に示す。
波装置の実装方法を以下に示す。
【0057】(イ) 先ず、図7(a)に示すように、
圧電基板3上に、スパッタリング、リソグラフィ技術や
RIE法等により、櫛歯型電極14及びボンディングパ
ッド15a,15bを形成し、弾性表面波素子1を構成
する。
圧電基板3上に、スパッタリング、リソグラフィ技術や
RIE法等により、櫛歯型電極14及びボンディングパ
ッド15a,15bを形成し、弾性表面波素子1を構成
する。
【0058】(ロ) 次に、図7(b)に示すように、
弾性表面波素子1の表面上に油剤層10を薄くスピン塗
布する。
弾性表面波素子1の表面上に油剤層10を薄くスピン塗
布する。
【0059】(ハ) 次に、図7(c)に示すように、
スクリーン印刷法等により、弾性表面波素子1のボンデ
ィングパッド15a,15b上に複数のバンプ5a,5
bをそれぞれ形成する。この際、ボンディングパッド1
5a,15bとバンプ5a,5bとの間にある油剤層1
0は除去される。これは良好な導通が得られていること
で確認出来る。スクリーン印刷の際の熱等により油剤層
10が破壊したものと考えられる。
スクリーン印刷法等により、弾性表面波素子1のボンデ
ィングパッド15a,15b上に複数のバンプ5a,5
bをそれぞれ形成する。この際、ボンディングパッド1
5a,15bとバンプ5a,5bとの間にある油剤層1
0は除去される。これは良好な導通が得られていること
で確認出来る。スクリーン印刷の際の熱等により油剤層
10が破壊したものと考えられる。
【0060】(ニ) 次に、高分子系ベース基板4を用
意する。そして、スパッタリング、フォトリソグラフィ
技術やRIE法等を用いて、図8(a)に示すように、
高分子系ベース基板4上に配線パターン16c,16d
を形成する。
意する。そして、スパッタリング、フォトリソグラフィ
技術やRIE法等を用いて、図8(a)に示すように、
高分子系ベース基板4上に配線パターン16c,16d
を形成する。
【0061】(ホ) 次に、圧電基板3をフリップチッ
プ配置にして、図8(b)に示すように、高分子系ベー
ス基板4の配線パターン16c,16d上にバンプ5
a,5bをフェースダウンでそれぞれ接合し、高分子系
ベース基板4と弾性表面波素子1とを電気的及び機械的
に接続する。
プ配置にして、図8(b)に示すように、高分子系ベー
ス基板4の配線パターン16c,16d上にバンプ5
a,5bをフェースダウンでそれぞれ接合し、高分子系
ベース基板4と弾性表面波素子1とを電気的及び機械的
に接続する。
【0062】(ヘ) 次に、封止樹脂2を用いて、図8
(c)に示すように、弾性表面波素子1をパッケージン
グする。このとき、封止樹脂2は弾性表面波素子1と高
分子系ベース基板4との間にも流れ込み、弾性表面波素
子1の表裏面は油剤層10を介して封止樹脂2で覆われ
る。
(c)に示すように、弾性表面波素子1をパッケージン
グする。このとき、封止樹脂2は弾性表面波素子1と高
分子系ベース基板4との間にも流れ込み、弾性表面波素
子1の表裏面は油剤層10を介して封止樹脂2で覆われ
る。
【0063】(ト) 最後に、加熱により封止樹脂2を
硬化させる。この際、封止樹脂2は収縮し、櫛歯型電極
14と油剤層10との密着力が低いので、櫛歯型電極1
4の表面から油剤層10と共に封止樹脂2が剥離(離
型)する。このことにより、図7(d)に示すように、
櫛歯型電極14の表面上に空隙部12を形成出来る。な
お、油剤層10としては、封止樹脂2からも剥離するよ
うな油剤層10を用いても良い。
硬化させる。この際、封止樹脂2は収縮し、櫛歯型電極
14と油剤層10との密着力が低いので、櫛歯型電極1
4の表面から油剤層10と共に封止樹脂2が剥離(離
型)する。このことにより、図7(d)に示すように、
櫛歯型電極14の表面上に空隙部12を形成出来る。な
お、油剤層10としては、封止樹脂2からも剥離するよ
うな油剤層10を用いても良い。
【0064】本発明の第4の実施の形態に係る弾性表面
波装置の実装方法によれば、高さ方向のパッケージサイ
ズを縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置が実現可能
である。
波装置の実装方法によれば、高さ方向のパッケージサイ
ズを縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置が実現可能
である。
【0065】また、櫛歯型電極を覆うように油剤層を形
成する工程と、この油剤層により、前記櫛歯型電極から
封止部材を離型させる工程とにより、櫛歯型電極と高分
子系材料等から成る封止部材を非接触状態とすることが
出来る。従って、弾性表面波素子が十分に性能を発揮す
ることが出来る弾性表面波装置が実現可能である。
成する工程と、この油剤層により、前記櫛歯型電極から
封止部材を離型させる工程とにより、櫛歯型電極と高分
子系材料等から成る封止部材を非接触状態とすることが
出来る。従って、弾性表面波素子が十分に性能を発揮す
ることが出来る弾性表面波装置が実現可能である。
【0066】(その他の実施の形態)上記のように、本
発明は第1乃至第4の実施の形態によって記載したが、
この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定す
るものと理解すべきではない。この開示から当業者には
様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかと
なろう。
発明は第1乃至第4の実施の形態によって記載したが、
この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定す
るものと理解すべきではない。この開示から当業者には
様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかと
なろう。
【0067】既に述べた本発明の第1乃至第4の実施の
形態においては、FDBにより基板上に素子を実装した
弾性表面波装置及びその実装方法について示したが、実
装方法は特に限定されるものではない。FDBの他に、
例えば、TAB(Tape Automated Bonding)テープを用
いた実装などのチップサイズパッケージ(CSP)方式
のパッケージ構造を適用することも出来る。即ち、従来
のCSPパッケージ構造においても、高さ方向のサイズ
を更に縮小することが出来、装置の小型化が可能とな
る。
形態においては、FDBにより基板上に素子を実装した
弾性表面波装置及びその実装方法について示したが、実
装方法は特に限定されるものではない。FDBの他に、
例えば、TAB(Tape Automated Bonding)テープを用
いた実装などのチップサイズパッケージ(CSP)方式
のパッケージ構造を適用することも出来る。即ち、従来
のCSPパッケージ構造においても、高さ方向のサイズ
を更に縮小することが出来、装置の小型化が可能とな
る。
【0068】このように、本発明はここでは記載してい
ない様々な実施の形態などを含むことは勿論である。従
って、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許
請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められる
ものである。
ない様々な実施の形態などを含むことは勿論である。従
って、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許
請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められる
ものである。
【0069】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ベース基板を薄膜化出来、高さ方向のパッケージサイズ
を縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置を提供するこ
とができる。
ベース基板を薄膜化出来、高さ方向のパッケージサイズ
を縮小出来、小型化出来る弾性表面波装置を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)は、本発明の第1の実施の形態に係
る弾性表面波装置の構成を示す透過図である。図1
(b)は、図1(a)に示された弾性表面波装置のA−
A’切断面に沿った断面図である。
る弾性表面波装置の構成を示す透過図である。図1
(b)は、図1(a)に示された弾性表面波装置のA−
A’切断面に沿った断面図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態に係る弾性表面波装
置の実装方法を説明するための工程断面図である。
置の実装方法を説明するための工程断面図である。
【図3】図3(a)は、本発明の第2の実施の形態に係
る弾性表面波装置の構成を示す外観図である。図3
(b)は、図3(a)に示された弾性表面波装置のキャ
ップを外した状態を示す外観図である。図3(c)は、
図3(a)に示された弾性表面波装置のB−B’切断面
に沿った断面図である。
る弾性表面波装置の構成を示す外観図である。図3
(b)は、図3(a)に示された弾性表面波装置のキャ
ップを外した状態を示す外観図である。図3(c)は、
図3(a)に示された弾性表面波装置のB−B’切断面
に沿った断面図である。
【図4】本発明の第3の実施の形態に係る弾性表面波装
置の構成を示す断面図である。
置の構成を示す断面図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態に係る弾性表面波装
置の実装方法を説明する為の工程断面図である。
置の実装方法を説明する為の工程断面図である。
【図6】本発明の第4の実施の形態に係る弾性表面波装
置の一部分の構成を示す断面図である。
置の一部分の構成を示す断面図である。
【図7】本発明の第4の実施の形態に係る弾性表面波装
置の実装方法を説明する為の工程断面図である(その
1)。
置の実装方法を説明する為の工程断面図である(その
1)。
【図8】本発明の第4の実施の形態に係る弾性表面波装
置の実装方法を説明する為の工程断面図である(その
2)。
置の実装方法を説明する為の工程断面図である(その
2)。
1 弾性表面波素子
2 封止部材
3 圧電基板
4 高分子系ベース基板
5a〜5g バンプ
6 キャップ
7a〜7d スルーホール
8 第1のダム
9 第2のダム
10 油剤層
11,12,13 空隙部
14,14a,14b 櫛歯型電極
15a,15b ボンディングパッド
16a〜16d 配線パターン
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 先灘 薫
神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株
式会社東芝横浜事業所内
(72)発明者 林 保美
北海道旭川市南5条通23丁目1975番地 東
芝ホクト電子株式会社内
(72)発明者 上野 直昭
北海道旭川市南5条通23丁目1975番地 東
芝ホクト電子株式会社内
Fターム(参考) 5J097 AA24 AA29 FF01 HA03 HA04
HA09 JJ09 KK09 KK10
Claims (7)
- 【請求項1】 櫛歯型電極を有する弾性表面波素子と、 前記弾性表面波素子の上に形成されたバンプと、 前記バンプを介して、電気的及び機械的に前記弾性表面
波素子に接続された高分子系ベース基板と、 前記弾性表面波素子を機械的ストレス及び環境ストレス
から保護する為の封止部材とを有することを特徴とする
弾性表面波装置。 - 【請求項2】 前記高分子系ベース基板は、厚さ0.0
5乃至0.1mmのビスマレイミド・トリアジン・レジ
ンから成ることを特徴とする請求項1に記載の弾性表面
波装置。 - 【請求項3】 前記ビスマレイミド・トリアジン・レジ
ンは、ガラス転移温度が190乃至330℃であること
を特徴とする請求項2に記載の弾性表面波装置。 - 【請求項4】 前記ビスマレイミド・トリアジン・レジ
ンは、吸水率が0.1%以下であることを特徴とする請
求項2又は3に記載の弾性表面波装置。 - 【請求項5】 前記弾性表面波素子と前記高分子系ベー
ス基板との間に、前記櫛歯型電極の周囲を取り囲むよう
に、且つ前記櫛歯型電極と離間した位置に配置されたダ
ムを更に有することを特徴とする請求項1乃至4のいず
れか1項に記載の弾性表面波装置。 - 【請求項6】 前記弾性表面波素子の表面上を覆うよう
に、且つ前記櫛歯型電極とは離間した位置に配置された
油剤層を更に有することを特徴とする請求項1乃至4の
いずれか1項に記載の弾性表面波装置。 - 【請求項7】 前記封止部材は、前記弾性表面波素子を
気密封止する筐体状のキャップであることを特徴とする
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の弾性表面波装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002117398A JP2003087095A (ja) | 2001-07-02 | 2002-04-19 | 弾性表面波装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001200917 | 2001-07-02 | ||
JP2001-200917 | 2001-07-02 | ||
JP2002117398A JP2003087095A (ja) | 2001-07-02 | 2002-04-19 | 弾性表面波装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003087095A true JP2003087095A (ja) | 2003-03-20 |
Family
ID=26617987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002117398A Pending JP2003087095A (ja) | 2001-07-02 | 2002-04-19 | 弾性表面波装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003087095A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011000206A1 (de) | 2010-01-20 | 2011-07-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd., Kyoto-fu | Duplexer für elastische Wellen |
US8536958B2 (en) | 2010-01-20 | 2013-09-17 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Elastic wave duplexer having a sealing member including two dielectric materials |
FR3075972A1 (fr) * | 2017-12-26 | 2019-06-28 | Aer | Systeme de transmission et/ou de reception d'onde acoustique optimisant le transfert d'energie acoustique entre un emetteur et/ou un recepteur acoustique |
-
2002
- 2002-04-19 JP JP2002117398A patent/JP2003087095A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011000206A1 (de) | 2010-01-20 | 2011-07-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd., Kyoto-fu | Duplexer für elastische Wellen |
US8525615B2 (en) | 2010-01-20 | 2013-09-03 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Elastic wave duplexer having a sealing member that includes a recess |
US8536958B2 (en) | 2010-01-20 | 2013-09-17 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Elastic wave duplexer having a sealing member including two dielectric materials |
FR3075972A1 (fr) * | 2017-12-26 | 2019-06-28 | Aer | Systeme de transmission et/ou de reception d'onde acoustique optimisant le transfert d'energie acoustique entre un emetteur et/ou un recepteur acoustique |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3196693B2 (ja) | 表面弾性波装置およびその製造方法 | |
US6310421B2 (en) | Surface acoustic wave device and method for fabricating the same | |
JP3328102B2 (ja) | 弾性表面波装置及びその製造方法 | |
US8749114B2 (en) | Acoustic wave device | |
JP3514361B2 (ja) | チップ素子及びチップ素子の製造方法 | |
JP2002261582A (ja) | 弾性表面波デバイスおよびその製造方法ならびにそれを用いた回路モジュール | |
EP1143614A1 (en) | Surface acoustic wave device and method of producing the same | |
JP2000295069A (ja) | 電子部品 | |
JP2004153412A (ja) | 弾性表面波装置及びその製造方法 | |
JP2001345673A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP2003087095A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP3710560B2 (ja) | 表面弾性波デバイスの実装構造及び実装方法 | |
JP2001102905A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP2003264442A (ja) | 弾性表面波装置の製造方法及び多面取りベース基板 | |
CN110495098B (zh) | 电子部件及具备该电子部件的模块 | |
JP4646557B2 (ja) | 通信装置 | |
JPH10215142A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP4384443B2 (ja) | 電子部品装置 | |
JP4684343B2 (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP2001077658A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP2003168942A (ja) | 弾性表面波デバイスの製造方法 | |
JP3652067B2 (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP2002324864A (ja) | 電子部品装置 | |
CN115800942A (zh) | 滤波装置及滤波装置的形成方法 | |
JP3437836B2 (ja) | 弾性表面波装置、及び、弾性表面波装置の製造方法 |