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JP2003031465A - Light source apparatus and exposure system having the same - Google Patents

Light source apparatus and exposure system having the same

Info

Publication number
JP2003031465A
JP2003031465A JP2001213542A JP2001213542A JP2003031465A JP 2003031465 A JP2003031465 A JP 2003031465A JP 2001213542 A JP2001213542 A JP 2001213542A JP 2001213542 A JP2001213542 A JP 2001213542A JP 2003031465 A JP2003031465 A JP 2003031465A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
motor
shutter
light source
light
exposure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001213542A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobumichi Kawahara
信途 川原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2001213542A priority Critical patent/JP2003031465A/en
Publication of JP2003031465A publication Critical patent/JP2003031465A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a long-life and stable light source apparatus and an exposure system having the same by solving a problem of damage or control anomaly by the contamination in the shutter device of a light source unit in the light source apparatus integrated in the exposure system. SOLUTION: A driving motor for shutter blades of the shutter device in the light source unit and peripheries of the driving motor are isolated and are enclosed, and contaminants existing in the enclosed part are exhausted by using a cooling medium for cooling the motor, in the light source apparatus integrated in the exposure system.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光源装置及びそれを
有する露光装置に係わり、特にICやLSI等の半導体
素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等をフォトリソグ
ラフィ工程で製造する際に使用する露光装置において、
紫外線領域の放射光を発する光源からの光の遮光・投光
状態を制御するのに好適な露光シャッタを用いた光源装
置及びそれを有する露光装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light source device and an exposure apparatus having the same, and more particularly to an exposure used when manufacturing semiconductor elements such as IC and LSI, liquid crystal display elements, thin film magnetic heads and the like in a photolithography process. In the device,
The present invention relates to a light source device using an exposure shutter suitable for controlling the light blocking / projecting state of light from a light source that emits radiated light in the ultraviolet region, and an exposure apparatus having the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子、液晶表示素子および薄膜磁
気ヘッド等の製造はリソグラフィ技術を利用して行われ
る。リソグラフィ工程ではマスクないしはレチクルと呼
ばれる原板(以下、代表してマスクと呼ぶ)の表面に形
成されたパターンを、レジストと呼ばれる感光材を表面
に塗布したシリコンウェハやガラス基板等の感光基板
(以下、代表してウェハと呼ぶ)に投影露光装置を用い
て転写する。投影露光装置ではレジストを感光させる照
明光を前記原板に照射し、前記原板上のパターンを感光
基板上のレジストに露光転写する。
2. Description of the Related Art A semiconductor device, a liquid crystal display device, a thin film magnetic head, and the like are manufactured by utilizing a lithography technique. In a lithographic process, a pattern formed on the surface of an original plate called a mask or reticle (hereinafter, typically called a mask) is used as a photosensitive substrate such as a silicon wafer or a glass substrate (hereinafter, referred to as a resist) coated with a photosensitive material called a resist. (Typically called a wafer) by using a projection exposure apparatus. In the projection exposure apparatus, the original plate is irradiated with illumination light for exposing the resist, and the pattern on the original plate is exposed and transferred to the resist on the photosensitive substrate.

【0003】投影露光装置には原板と感光基板を密着な
いしは近接させて一括露光するプロキシミティ露光装
置、ミラー反射光学系を介して円弧状の露光光を原板と
感光基板上に走査して露光するミラープロジェクション
露光装置、縮小投影光学系の露光領域に感光基板上の各
露光領域を順次移動させながら原板の縮小像を逐次露光
していくステップ・アンド・リピート方式の縮小投影型
露光装置(ステッパー)等の種類がある。更に近年では
矩形形状あるいは円弧状あるいはスリット状の露光領域
を用いて、マスクとウェハとを同期させながら走査移動
して露光を行う、スリットスキャン露光方式またはステ
ップ・アンド・スキャン方式(以下、代表してスリット
スキャン方式と呼ぶ)の露光装置も用いられている。
The projection exposure apparatus exposes the original plate and the photosensitive substrate by scanning them with a proximity exposure apparatus for exposing the original plate and the photosensitive substrate in close contact or close proximity with each other and a mirror reflection optical system. Mirror projection exposure device, step-and-repeat reduction projection exposure device (stepper) that sequentially exposes the reduced image of the original plate while sequentially moving each exposure region on the photosensitive substrate to the exposure region of the reduction projection optical system And so on. Furthermore, in recent years, a slit scan exposure method or a step-and-scan method (hereinafter referred to as a representative method) in which an exposure area having a rectangular shape, an arc shape, or a slit shape is used to perform scanning movement while synchronizing the mask and the wafer (Also called slit scan method) is also used.

【0004】露光装置では、紫外線領域の波長を発生さ
せるレーザーないしは水銀ランプ(以下、ランプと呼
ぶ)等の光源からの照明光をマスク及びウェハに照射し
てパターンの転写を行う。露光が行われない時、光源か
ら発せられた照明光はシャッタ装置で遮られて遮光状態
となり、余分な露光が行われない状態になる。特に、ス
テッパーのような露光装置では、シャッタ装置によって
照明光を遮光していない時間、即ち、投光時間がマスク
及びウェハの露光時間となるため、シャッタ装置の開閉
時間制御は露光時間あるいは露光量制御精度の上での重
要な構成要素である。これまで露光時間あるいは露光量
をより精密に制御するため、シャッタの開閉速度の高速
化と、シャッタによって遮光される照明光の断面積の縮
小化が求められてきた。中でもシャッタを駆動するモー
タの駆動制御の信頼性は、露光量精度を左右する最も重
要な案件となっている。
In the exposure apparatus, the mask and the wafer are irradiated with illumination light from a light source such as a laser or a mercury lamp (hereinafter, referred to as a lamp) that generates a wavelength in the ultraviolet region to transfer the pattern. When no exposure is performed, the illumination light emitted from the light source is blocked by the shutter device to be in a light blocking state, and a state in which no extra exposure is performed is performed. Particularly, in an exposure apparatus such as a stepper, since the time during which the illumination light is not blocked by the shutter device, that is, the projection time is the exposure time of the mask and the wafer, the opening / closing time control of the shutter device is the exposure time or the exposure amount. It is an important component for control accuracy. Hitherto, in order to control the exposure time or the exposure amount more precisely, it has been required to increase the opening / closing speed of the shutter and reduce the cross-sectional area of the illumination light shielded by the shutter. Among them, the reliability of drive control of the motor that drives the shutter is the most important issue that affects the exposure amount accuracy.

【0005】近年、露光装置では単位時間当たりに処理
できるウェハ枚数(以下、スループットと呼ぶ)を向上
させるため、単位露光時間当たりの照射エネルギが増大
する傾向にあり、光源であるレーザーやランプの出力が
大きくなっている。光源の出力が増大すれば、光源から
発せられる光を遮る構造を取っているシャッタ装置は高
いエネルギ照射にさらされ、高いエネルギ耐力を求めら
れることになる。
In recent years, in order to improve the number of wafers that can be processed in an exposure apparatus per unit time (hereinafter referred to as throughput), the irradiation energy per unit exposure time tends to increase, and the output of a laser or a lamp that is a light source. Is getting bigger. If the output of the light source increases, the shutter device having a structure that blocks the light emitted from the light source is exposed to high energy irradiation, and high energy resistance is required.

【0006】従って、シャッタ装置にはシャッタ羽根を
高速で駆動するため、材料の軽量化・薄型化が要求され
るとともに、外形寸法の縮小化も要求されている。
Therefore, the shutter device drives the shutter blades at a high speed, so that it is required to reduce the weight and thickness of the material and to reduce the outer dimensions.

【0007】シャッタの小型化は必然的にシャッタ羽根
の表面に照射される照明光の集光度を高める。さらに光
源の発するエネルギも高くなっているため、シャッタの
単位面積当たりのエネルギ集中度が高くなり、シャッタ
材料も高耐力化が要求されるようになってきた。
The downsizing of the shutter inevitably increases the concentration of the illumination light emitted to the surface of the shutter blade. Further, since the energy emitted from the light source is also high, the degree of energy concentration per unit area of the shutter is high, and the shutter material is also required to have high yield strength.

【0008】図9は特開平9−27446号公報による
露光装置で用いられているシャッタ装置の構成を示すも
のである。同図において光源1は楕円集光ミラー2の第
1焦点近傍に配置されている。光源1から発せられた照
明光は楕円集光ミラー2によって反射され、楕円集光ミ
ラー2の第2焦点近傍にいったん集光した後に再び発散
して、不図示の照明光学系へ伝達される構成となってい
る。
FIG. 9 shows the structure of a shutter device used in the exposure apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 9-27446. In the figure, the light source 1 is arranged near the first focus of the elliptical focusing mirror 2. The illumination light emitted from the light source 1 is reflected by the elliptical focusing mirror 2, once condensed near the second focus of the elliptical focusing mirror 2, and then diverged again to be transmitted to an illumination optical system (not shown). Has become.

【0009】図7はシャッタ装置を示すものである。シ
ャッタ羽根4は厚さが1mm以下の金属板の表面を、高
い反射率が選られるように研磨加工を施した上で整形さ
れて作られ、モータ5で回転する構造となっている。シ
ャッタ羽根4は回転方向に遮光部分と投光部分が2〜4
分割されて配置された形状をしている。前記のシャッタ
羽根4を楕円集光ミラー2の第2焦点近傍に挿入し、モ
ータ5の動力で回転させれば、回転角度に連動して、照
明光の投光・遮光が繰り返される。
FIG. 7 shows a shutter device. The shutter blades 4 are formed by polishing the surface of a metal plate having a thickness of 1 mm or less and polishing it so that a high reflectance is selected, and are rotated by a motor 5. The shutter blade 4 has a light-shielding portion and a light-projecting portion 2 to 4 in the rotation direction.
The shape is divided and arranged. When the shutter blade 4 is inserted in the vicinity of the second focus of the elliptical focusing mirror 2 and rotated by the power of the motor 5, the illumination light is repeatedly projected and blocked in conjunction with the rotation angle.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら本発明者
らの実験によれば、従来のシャッタ装置では前記シャッ
タ羽根を駆動するモータ5に環境要因による制御異常が
発生する事例が確認された。本発明は新たに判明した該
環境要因による異常に対処した光源装置及びそれを用い
た露光装置の提供を目的としている。
However, according to the experiments conducted by the present inventors, it was confirmed that in the conventional shutter device, the motor 5 for driving the shutter blades has a control abnormality due to environmental factors. It is an object of the present invention to provide a light source device that copes with a newly discovered abnormality due to the environmental factor and an exposure apparatus using the same.

【0011】本発明の課題を明確にするため、シャッタ
羽根を駆動するモータについて説明する。図3はモータ
の制御異常のメカニズムの説明図である。発明者の分析
によると制御異常はモータ周辺またはモータ内部に存在
する珪素化合物等の汚染物質96がモータ内部の整流子
95の表面に析出し、整流子95とブラシ93との接触
不良を誘発し、モータの制御信号に異常を来すものであ
ることが判明した。
In order to clarify the problem of the present invention, a motor for driving the shutter blade will be described. FIG. 3 is an explanatory diagram of a mechanism of motor control abnormality. According to the analysis of the inventor, the control abnormality causes the contaminant 96 such as a silicon compound existing around the motor or inside the motor to be deposited on the surface of the commutator 95 inside the motor, thereby causing a contact failure between the commutator 95 and the brush 93. , It was found that the control signal of the motor is abnormal.

【0012】一方、前述のようにシャッタ羽根4は軽量
であることが重視される。シャッタ羽根の材質には例え
ば1mm以下の厚さのアルミニウム板が用いられ、該ア
ルミニウム板を研磨して表面の反射率を高め、さらに反
射率増加や酸化防止等の目的で保護膜が施される。しか
しながら表面反射率が100%に達することはないた
め、光源側のエネルギの一部は熱としてシャッタ羽根4
に貯えられる。従来は光源1側のエネルギの増大や、シ
ャッタ羽根4上での照明光の集光度合いによって、シャ
ッタ羽根4に変形が発生し、遂にはシャッタ羽根の一部
に溶融・破損が発生して、シャッタ装置としての機能を
果たさなくなる事故が発生するという欠点があった。
On the other hand, as described above, it is important that the shutter blade 4 is lightweight. The shutter blade is made of, for example, an aluminum plate having a thickness of 1 mm or less. The aluminum plate is polished to increase the reflectance of the surface, and a protective film is applied for the purpose of increasing reflectance and preventing oxidation. . However, since the surface reflectance does not reach 100%, a part of the energy on the light source side is converted into heat and the shutter blades 4
Stored in. Conventionally, the shutter blade 4 is deformed due to an increase in energy on the side of the light source 1 or the degree of converging illumination light on the shutter blade 4, and finally a part of the shutter blade is melted or damaged, There is a drawback that an accident occurs that the function as the shutter device is not fulfilled.

【0013】本発明者らの解析によれば、従来のシャッ
タ装置において、シャッタ羽根4が上記のごとき損傷に
至る代表的なプロセス(以下、損傷プロセスと呼ぶ)と
しては下記に示す内容が確認されている。図6の実線に
従って説明を行うと、 第1段階 a.シャッタ表面の光エネルギ吸収。
According to the analysis by the present inventors, the following contents are confirmed as a typical process (hereinafter referred to as a damage process) in which the shutter blades 4 are damaged in the conventional shutter device as described above. ing. The description will be given according to the solid line in FIG. Absorption of light energy on the shutter surface.

【0014】b.シャッタ周辺環境(周辺部の気体、シ
ャッタ駆動用モータ、シャッタ保持部品等)からの熱伝
達によるシャッタの熱エネルギ吸収。
B. Absorption of heat energy of the shutter by heat transfer from the environment around the shutter (gas in the peripheral area, motor for driving the shutter, shutter holding parts, etc.).

【0015】c.光源ランプからの直接的・間接的輻射
によるシャッタの熱エネルギ吸収。
C. Thermal energy absorption of the shutter by direct and indirect radiation from the light source lamp.

【0016】第2段階 d.上記a.〜c.によるシャッタ表面の温度上昇。Second stage d. Above a. ~ C. Temperature rise on the shutter surface due to.

【0017】第3段階 e.上記a.〜d.によるシャッタ表面の変質(シャッ
タ内部からの不純物の析出、外気との反応による酸化
等)。
Third stage e. Above a. ~ D. Deterioration of the shutter surface due to (deposition of impurities from inside the shutter, oxidation due to reaction with outside air, etc.).

【0018】第4段階 f.上記e.によるシャッタ表面(光照射側:鏡面)の
反射率低下。
Fourth stage f. The above e. As a result, the reflectance of the shutter surface (light irradiation side: mirror surface) decreases.

【0019】第5段階 g.上記f.によるシャッタ表面の光エネルギ吸収量の
増加。
Fifth stage g. The above f. Increased absorption of light energy on the shutter surface.

【0020】第6段階 h.上記g.によるシャッタ表面の局部的で急激な温度
上昇。
Sixth stage h. Above g. The temperature rises locally and suddenly on the shutter surface.

【0021】第7段階 i.上記h.によるシャッタ温度上昇部の変形・溶融・
破損。 というプロセスを踏んでいる。
Seventh stage i. Above h. Deformation / melting of the shutter temperature rise part due to
Corruption. Is going through the process.

【0022】もちろん従来も上記のモータ5およびシャ
ッタ羽根4の発熱・破損を防止する対策は種々講じられ
ている。例えば、先に説明した特開平9−27446号
公報による露光装置用のシャッタ装置では、上記d.に
記載したシャッタ表面の温度上昇を抑制するため、送風
機64によって温度制御された気体を吹き付けて冷却す
る構成が示されている。さらに、上記f.に記載した反
射率低下を抑制するため、前記の吹き付け気体は、不図
示のケミカルフィルタによってフィルタリングされた空
気を供給する配置となっており、空気中に存在するアン
モニウムイオン(NH4 +)、硫酸イオン(SO4 2-)等
(以下、汚染物質と呼ぶ)のシャッタ表面にクモリを発
生させる原因となる物質を除去して吹き付ける構成とな
っている。
Of course, conventionally, various measures have been taken to prevent the heat generation and damage of the motor 5 and the shutter blade 4 described above. For example, in the shutter device for the exposure device according to Japanese Patent Laid-Open No. 9-27446 described above, the d. In order to suppress the temperature rise of the shutter surface described in (1), a configuration is shown in which a gas whose temperature is controlled by the blower 64 is blown to cool. Further, the above f. In order to suppress the decrease in reflectance described in ( 1 ), the blowing gas is arranged to supply air filtered by a chemical filter (not shown), and ammonium ions (NH 4 + ) and sulfuric acid present in the air are added. The structure is such that ions (SO 4 2− ) and the like (hereinafter, referred to as pollutants) are removed and sprayed on the shutter surface, which cause the generation of cloud.

【0023】しかし、特開平9−27446号公報の場
合はあくまで、冷却風をケミカルクリーンな状態にして
いるだけであって、たとえば、シャッタ羽根の駆動モー
タ5および駆動機構部から排出される汚染物質に関する
汚染防止の効果は期待できない。
However, in the case of Japanese Unexamined Patent Publication No. 9-27446, the cooling air is merely kept in a chemically clean state, and for example, contaminants discharged from the shutter blade drive motor 5 and the drive mechanism portion. The effect of pollution prevention cannot be expected.

【0024】本発明は係る従来技術に付随する不都合点
に鑑みてなされたものである。まず第1の発明は、シャ
ッタ羽根4の駆動モータ5を冷却するための冷却媒体に
よって汚染物質をモータ5の周辺から排除してモータの
誤作動を防止することができる光源装置及びそれを有す
る露光装置の提供を目的としている。
The present invention has been made in view of the disadvantages associated with the related art. First, a first invention is a light source device capable of removing contaminants from the periphery of the motor 5 by a cooling medium for cooling the drive motor 5 of the shutter blades 4 to prevent malfunction of the motor, and an exposure apparatus including the same. The purpose is to provide the device.

【0025】さらに第2の発明はモータ5および駆動機
構部から発生する汚染物質が、シャッタ羽根4側に拡散
するのを防止してシャッタ羽根4の寿命を伸ばし、長時
間の使用に耐えうる光源装置及びそれを有する露光装置
の提供を目的としている。
Further, the second invention is a light source capable of preventing contaminants generated from the motor 5 and the drive mechanism from diffusing to the shutter blade 4 side, extending the life of the shutter blade 4 and enduring long-term use. An object of the present invention is to provide an apparatus and an exposure apparatus having the apparatus.

【0026】[0026]

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、本出願に係る第1の発明は図1示すようにシャッタ
駆動用のモータ5および駆動軸85を、それぞれモータ
遮光カバーモータ遮光カバー83およびモータ軸カバー
84で包含することによって周囲の環境から隔離し、光
源1から発した照明光がモータ5に照射されることを防
止すると共に、前記モータ遮光カバー83およびモータ
軸カバー84に対して、導入管81および接続管82を
カバー外部から接続して、ケミカルクリーンな冷却風1
02をカバー内部へ導入してモータ5およびモータ軸8
5周辺を常にケミカルクリーンな状態に保持しているこ
とを特徴としており、冷却風102は単にモータ5を冷
却するだけではなくモータ周辺に存在する汚染物質およ
び、モータ5やモータ軸85の駆動によって発生する汚
染物質をカバー外へ押し出す効果を得ることができると
共に、カバー外部から汚染物質が侵入することを防止す
る効果を得ることができる。
In order to solve the above-mentioned problems, the first invention according to the present application, as shown in FIG. 1, includes a motor 5 for driving a shutter and a drive shaft 85, a motor light shielding cover and a motor light shielding cover, respectively. 83 and the motor shaft cover 84 isolates the motor 5 from the surrounding environment and prevents the illumination light emitted from the light source 1 from irradiating the motor 5 with respect to the motor light-shielding cover 83 and the motor shaft cover 84. Then, the introduction pipe 81 and the connection pipe 82 are connected from the outside of the cover to provide a chemically clean cooling air 1.
02 is introduced into the cover to insert the motor 5 and the motor shaft 8
It is characterized in that the periphery of the motor 5 is always kept in a chemically clean state. The cooling air 102 not only cools the motor 5, but also pollutants existing around the motor and the drive of the motor 5 and the motor shaft 85. It is possible to obtain the effect of pushing out the generated pollutant to the outside of the cover and the effect of preventing the contaminant from entering from the outside of the cover.

【0027】したがって、モータ5周辺は常にケミカル
クリーンな状態を保持することが可能となり、汚染物質
が、モータ5内部に析出して、制御異常を発生させるこ
とを防止できる。一方、前記第1の発明では、図1に示
すようにモータ軸85周辺に供給された冷却風102は
モータ軸85とモータ軸カバー84との隙間からシャッタ
羽根4周辺へと排出される構成となっているが、本出願
にかかる第2の発明では、モータ5周辺およびモータ軸
85周辺の冷却風102はいずれも排気管106および
接続管82によって外部に排出される経路が形成されて
いることが特徴となっており、モータ5周辺部からの排
気をシャッタ羽根4の周辺に吐き出すことなく、外部へ
排出するため、排気に含まれる汚染物質によってシャッ
タ羽根4が二次的に汚染されて、所謂「くもり」を発生
させることを防止することが可能となる。
Therefore, the periphery of the motor 5 can always be kept in a chemically clean state, and it is possible to prevent contaminants from depositing inside the motor 5 and causing a control abnormality. On the other hand, in the first aspect of the invention, as shown in FIG. 1, the cooling air 102 supplied to the periphery of the motor shaft 85 is discharged to the periphery of the shutter blades 4 through the gap between the motor shaft 85 and the motor shaft cover 84. However, in the second invention according to the present application, the cooling air 102 around the motor 5 and around the motor shaft 85 is formed with a path through which the exhaust pipe 106 and the connecting pipe 82 discharge the air to the outside. Since the exhaust gas from the periphery of the motor 5 is discharged to the outside without being discharged to the periphery of the shutter blade 4, the shutter blade 4 is secondarily contaminated by the pollutants contained in the exhaust gas. It is possible to prevent the occurrence of so-called "cloudy weather".

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態1につき
図面を参照して説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0029】図5は本発明に係る露光シャッタ部及び該
シャッタ部を含む光源装置を搭載したスリットスキャン
方式の投影露光装置の構成を示したものである。同図に
おいて光源であるランプ1から放射状に拡散する照明光
(露光光)は内表面が楕円面の一部を切り取った形状の
反射面を有する集光ミラー2へと照射される。楕円ミラ
ー2の第1焦点から放射状に出射した光は内面で反射す
ると第2焦点に集光する特性がある。従って、ランプ1
の輝点(発光点)を集光ミラー2の第1焦点に一致させ
て配置すると、ランプ1から放射状に拡散した照明光は
第2焦点に集光される。
FIG. 5 shows the configuration of a slit scan type projection exposure apparatus equipped with an exposure shutter section and a light source device including the shutter section according to the present invention. In the figure, illumination light (exposure light) diffused radially from a lamp 1 which is a light source is applied to a condenser mirror 2 having a reflecting surface whose inner surface is a part of an elliptical surface. Light emitted radially from the first focal point of the elliptical mirror 2 has a characteristic of being condensed at the second focal point when reflected on the inner surface. Therefore, lamp 1
When the bright spots (light emitting points) are arranged so as to coincide with the first focal point of the condenser mirror 2, the illumination light radially diffused from the lamp 1 is condensed at the second focal point.

【0030】ランプ1は不図示のランプステージ上に固
定されており、集光ミラー2に対して相対的な移動が可
能となっている。ランプステージ内に設置された不図示
のランプ識別手段はランプの種類を特定し、特定した種
類に応じて露光量制御系44が電源43からランプ1に
供給する電力の調整を行う。
The lamp 1 is fixed on a lamp stage (not shown) and can move relative to the condenser mirror 2. A lamp identification means (not shown) installed in the lamp stage identifies the type of the lamp, and the exposure amount control system 44 adjusts the power supplied from the power supply 43 to the lamp 1 according to the identified type.

【0031】集光ミラー2によって当該ミラーの第2焦
点位置に集光された照明光に対しては前記集光点近傍
に、シャッタ駆動機構5によって開閉されるシャッタ羽
根4を配置して照明光の通過を制御する。シャッタ羽根
4が開放状態にある場合、照明光は光路変更ミラー3及
びコリメータレンズ6を介しておおむね平行な光束に変
換される。変換された光はバンドパスフィルタ48によ
って露光波長のみが選択的に透過した後、視野絞り7を
通過し、第1リレーレンズ8を経てオプティカルインテ
グレータ9に入射する。オプティカルインテグレータ9
から出射した照明光は、光量絞り10、第2リレーレン
ズ12、オプティカルインテグレータ14a、14bを
経て、照明系開口絞り16を通過して、ハーフミラー3
7で光路が分岐される。
For the illumination light condensed by the condenser mirror 2 at the second focal position of the mirror, the shutter blade 4 which is opened and closed by the shutter drive mechanism 5 is arranged in the vicinity of the condensing point. Control the passage of. When the shutter blades 4 are open, the illumination light is converted into a substantially parallel light flux via the optical path changing mirror 3 and the collimator lens 6. Only the exposure wavelength of the converted light is selectively transmitted by the bandpass filter 48, passes through the field stop 7, and then enters the optical integrator 9 through the first relay lens 8. Optical integrator 9
The illumination light emitted from the light source passes through the light amount diaphragm 10, the second relay lens 12, the optical integrators 14a and 14b, the illumination system aperture diaphragm 16, and the half mirror 3.
The optical path is branched at 7.

【0032】ハーフミラー37には95%以上の透過率
を有する半透過膜がコーティングされている。照明光の
ほとんどは透過するが、一部の光は反射されてレンズ4
0を介し、投光量検知センサ41上に集光し、光源1の
出力状態が測定される。センサー41で検出された光源
1の出力は露光量制御系44に送信され、光源1に電力
を供給している電源43の出力を制御して照明光の強度
が目的の値で安定するよう調整がなされる。
The half mirror 37 is coated with a semi-transmissive film having a transmittance of 95% or more. Most of the illumination light is transmitted, but some light is reflected and the lens 4
Through 0, the light is condensed on the projection amount detection sensor 41, and the output state of the light source 1 is measured. The output of the light source 1 detected by the sensor 41 is transmitted to the exposure amount control system 44, and the output of the power supply 43 that supplies power to the light source 1 is controlled to adjust the intensity of the illumination light to a desired value. Is done.

【0033】ハーフミラー37を透過した照明光は第3
リレーレンズ42を経て、オティチカル・インテグレー
タ14のフーリエ変換面に配置されたマスキング・ブラ
インド34により照明領域の形状が調整される。また、
マスキング・ブラインド34の近傍に配置された露光ム
ラ調整ブラインド32は照明光の照度ムラを調整し、第
4リレーレンズ35、コリメータレンズ36及び反射ミ
ラー11を介して照明光をマスク23上に投影する。マ
スク23を透過した照明光は投影レンズ22を通過して
ウェハ25上に到達する。上記の手順によりマスク23
上にクロム等によって形成されたパターンがウェハ25
上に結像転写される。
The illumination light transmitted through the half mirror 37 is the third
After passing through the relay lens 42, the shape of the illumination area is adjusted by the masking blind 34 arranged on the Fourier transform plane of the optical integrator 14. Also,
An exposure unevenness adjusting blind 32 arranged near the masking blind 34 adjusts the illuminance unevenness of the illumination light and projects the illumination light onto the mask 23 via the fourth relay lens 35, the collimator lens 36 and the reflection mirror 11. . The illumination light transmitted through the mask 23 passes through the projection lens 22 and reaches the wafer 25. According to the above procedure, the mask 23
The pattern formed by chrome on the wafer 25
The image is transferred onto the image.

【0034】ウェハ25はステージ26上におかれてい
るのでマスク23の結像面内で移動することが可能とな
っている。なお、ウェハ25と同一平面上には像面照度
計27が設置され、投影レンズ22の露光範囲内におけ
る照明光の強度分布の計測が可能となっている。
Since the wafer 25 is placed on the stage 26, it can be moved within the image plane of the mask 23. An image illuminance meter 27 is installed on the same plane as the wafer 25, and the intensity distribution of the illumination light within the exposure range of the projection lens 22 can be measured.

【0035】以上の構成においてウェハ25上、即ちマ
スク23上に供給される露光光の光量は、シャッタ羽根
4の開閉時間によって決定されるため、ウェハ25上に
塗布された感光剤の感光状態は前記シャッタ羽根4の駆
動制御精度で大きく左右される。
In the above structure, the light amount of the exposure light supplied onto the wafer 25, that is, the mask 23 is determined by the opening / closing time of the shutter blade 4, so that the photosensitive state of the photosensitive agent applied on the wafer 25 is The drive control accuracy of the shutter blades 4 is greatly influenced.

【0036】図4はシャッタ羽根4の駆動制御の状態を
示したものである。シャッタ羽根の開閉制御は、例え
ば、特開平06−120103号公報等に詳しく説明さ
れている。詳述は省略するが、図4−(A)は横軸を時
間にとってシャッタ羽根4の開口面積の変化を示したも
ので、ウェハ25に露光される露光量は同図の斜線部の
面積で表される。この時のシャッタ羽根4を駆動するモ
ータ5の通電状態が図4−(B)の波形91で示されて
いる。しかしながら、図3に示すようにモータ内部の整
流子95の表面に本発明で見出した析出物96が析出す
ると、整流子95とブラシ93との間に通電できない時
間が発生する。通電できない異常が発生すると、図4−
(C)に示すように波形91が谷間92を含んだまま読
み取られるため、モータの回転状態と出力信号との間に
誤差が生じ、正しいシャッター制御が不能となってしま
う。
FIG. 4 shows the drive control state of the shutter blades 4. The opening / closing control of the shutter blades is described in detail, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 06-120103. Although detailed description is omitted, FIG. 4- (A) shows changes in the opening area of the shutter blades 4 with respect to time on the horizontal axis. The exposure amount on the wafer 25 is the area of the shaded area in the figure. expressed. The energization state of the motor 5 that drives the shutter blades 4 at this time is shown by a waveform 91 in FIG. However, as shown in FIG. 3, when the deposit 96 found in the present invention is deposited on the surface of the commutator 95 inside the motor, a time period during which the commutator 95 and the brush 93 cannot be energized occurs. Fig. 4-
As shown in (C), since the waveform 91 is read while including the valley 92, an error occurs between the rotation state of the motor and the output signal, and correct shutter control becomes impossible.

【0037】発明者が分析を行ったところ、整流子95
上の析出物96の成分には整流子95およびブラシ93
の組成物質のほかに珪素化合物を主とする物質が存在す
ることが判明した。即ち、シャッタ周辺の環境および、
モータ周辺の環境に存在する珪素化合物がモータ内部の
整流子95上に析出していることになる。前記珪素化合
物はシーリング剤、潤滑剤等の材料として、露光装置周
辺、およびモータ内部にも標準的に存在する物質である
ため、強制的な排気手段によってモータ5周辺より排除
する必要がある。モータ自身、及びモータ周辺が汚染源
であることは本発明による新しい知見である。
As a result of analysis by the inventor, the commutator 95
A commutator 95 and a brush 93 are included in the components of the upper deposit 96.
It was found that, in addition to the compositional substances described in 1 above, there are substances mainly containing silicon compounds. That is, the environment around the shutter and
The silicon compound existing in the environment around the motor is deposited on the commutator 95 inside the motor. Since the silicon compound is a substance that normally exists as a material such as a sealing agent and a lubricant in the periphery of the exposure apparatus and inside the motor, it is necessary to remove the silicon compound from the periphery of the motor 5 by a forced exhaust means. The fact that the motor itself and the periphery of the motor are pollution sources is a new finding according to the present invention.

【0038】本発明による光源装置は図1に示すように
モータ周辺を遮光性を有するモータ遮光カバー83によ
って覆い、モータ遮光カバー83の外部より導入管81
によってモータ冷却風102を取り込むことを特徴とし
ている。また本発明では、モータ冷却風102として、
例えば、クリーンドライエアーやN2ガス等の不活性ガ
スをケミカルクリーンな冷却媒体として加圧して吹き付
け、さらに前記のモータ遮光カバー83の内部を陽圧陽
圧にしてモータ5周辺に存在する汚染物質を押し出すこ
とを特徴としている。
As shown in FIG. 1, the light source device according to the present invention covers the periphery of the motor with a motor light-shielding cover 83 having a light-shielding property, and introduces the introduction pipe 81 from the outside of the motor light-shielding cover 83.
It is characterized in that the motor cooling air 102 is taken in by. Further, in the present invention, as the motor cooling air 102,
For example, clean dry air or an inert gas such as N 2 gas is pressurized and blown as a chemically clean cooling medium, and the inside of the motor light-shielding cover 83 is made to have a positive pressure and a positive pressure so that contaminants existing around the motor 5 are present. It is characterized by pushing out.

【0039】さらに、図1ではモータ5とシャッタ羽根
4とを連結するモータ軸85の周辺もモータ軸カバー8
4によって覆い、接続管82により上記モータ部と同様
に外部からケミカルクリーンな冷却媒体を導入すること
によって、モータ軸85の周辺の汚染物質も外部へ吐き
出す構造となっている。また、同様にモータ軸カバー8
4の内部を陽圧にしてシャッタ羽根4周辺に存在する汚
染物質を押し出すことも可能となっている。
Further, in FIG. 1, the periphery of the motor shaft 85 connecting the motor 5 and the shutter blades 4 is also covered with the motor shaft cover 8.
4 and the connection pipe 82 introduces a chemically clean cooling medium from the outside similarly to the above-mentioned motor portion, so that contaminants around the motor shaft 85 are also discharged to the outside. Also, similarly, the motor shaft cover 8
It is also possible to push out the contaminants existing around the shutter blades 4 by making the inside of 4 a positive pressure.

【0040】前記冷却媒体はもともとモータ5の発熱部
を冷却する目的を持っているので、冷却媒体の種類に関
わらず温度制御がなされており、モータの出力に応じて
十分に冷却能力を持った流量となっていることは言うま
でもない。
Since the cooling medium originally has the purpose of cooling the heat generating portion of the motor 5, the temperature control is performed regardless of the type of the cooling medium, and the cooling medium has a sufficient cooling capacity according to the output of the motor. It goes without saying that the flow rate is set.

【0041】また、一般にシャッタ羽根4およびモータ
5は図9の従来例で示したように光路中に配置されてい
る。従って、シャッタ羽根4が閉じているとき、シャッ
タ羽根4によって反射された照明光の散乱光がモータ5
やモータ軸85に当たると、輻射熱でモータ5の温度が
更に上昇する。本発明による光源装置では、モータ5の
周辺を遮光性を有するモータ遮光カバー83で覆ってい
るため、前記散乱光によるモータ5の直接の温度上昇を
避けることが可能である。さらに、モータ5とモータ遮
光カバー83との間には冷却風102による断熱層も形
成されているため、たとえモータ遮光カバー83が輻射
によって温度上昇しても、モータ5に伝導する熱を小さ
く押さえることができる。
Further, generally, the shutter blades 4 and the motor 5 are arranged in the optical path as shown in the conventional example of FIG. Therefore, when the shutter blades 4 are closed, the scattered light of the illumination light reflected by the shutter blades 4 is transferred to the motor 5
When it hits the motor shaft 85 or the radiant heat, the temperature of the motor 5 further rises. In the light source device according to the present invention, since the periphery of the motor 5 is covered with the motor light shielding cover 83 having a light shielding property, it is possible to avoid a direct temperature rise of the motor 5 due to the scattered light. Further, since a heat insulating layer by the cooling air 102 is also formed between the motor 5 and the motor light shielding cover 83, even if the temperature of the motor light shielding cover 83 rises due to radiation, the heat conducted to the motor 5 is suppressed to a small level. be able to.

【0042】以上説明したように、実施形態1はシャッ
タ駆動用のモータ5に隣接する外側部をモータ遮光カバ
ー83によって覆い、該覆った部分に外部より導入管8
1で冷却風102を引き込んでモータ5周辺の汚染物質
を前記モータ遮光カバー83外部へ押し出して、モータ
5内部への汚染物質析出を防止することを特徴としてい
る。さらに実施形態1はシャッタ駆動を行うモータ軸8
5も遮光性を有するモータ軸カバー84で包含して周囲
の環境から隔離すると共に、該モータ軸カバー84に対
し接続管82をカバー外部から接続してケミカルクリー
ンな冷却風102をカバー内部へ導入し、モータ軸85
周辺を常にケミカルクリーンな状態に保持することを特
徴としている。
As described above, in the first embodiment, the outer portion adjacent to the motor 5 for driving the shutter is covered by the motor light-shielding cover 83, and the covered portion is introduced from the outside with the introduction pipe 8
1, the cooling air 102 is drawn in to push out contaminants around the motor 5 to the outside of the motor light-shielding cover 83, and prevent contaminants from being deposited inside the motor 5. Further, in the first embodiment, the motor shaft 8 that drives the shutter
5 is also included in the motor shaft cover 84 having a light-shielding property to be isolated from the surrounding environment, and the connecting pipe 82 is connected to the motor shaft cover 84 from outside the cover to introduce the chemically clean cooling air 102 into the cover. Motor shaft 85
The feature is that the periphery is always kept in a chemically clean state.

【0043】冷却風102は単にモータ5を冷却するだ
けではなく、モータ周辺に存在する汚染物質およびモー
タ5やモータ軸85の駆動によって発生する汚染物質を
カバー外へ押し出す効果と、カバー外部から汚染物質の
侵入を防止する効果を合わせ持っている。したがって、
モータ5周辺を常にケミカルクリーンな状態に保持する
ことが可能となり、汚染物質がモータ5内部へ析出して
発生する制御異常の発生を防止することができる。
The cooling air 102 not only cools the motor 5, but also has the effect of pushing out the contaminants existing around the motor and the contaminants generated by the driving of the motor 5 and the motor shaft 85 to the outside of the cover and the contamination from the outside of the cover. It also has the effect of preventing the entry of substances. Therefore,
It is possible to keep the area around the motor 5 in a chemical clean state at all times, and it is possible to prevent the occurrence of control abnormality that occurs when contaminants are deposited inside the motor 5.

【0044】図2は本発明の実施形態2を示したもの
で、冷却風に導入経路だけでなく、さらに排気経路10
5を設けたものである。
FIG. 2 shows a second embodiment of the present invention, in which not only the introduction path to the cooling air but also the exhaust path 10 is provided.
5 is provided.

【0045】実施形態1ではモータ内部の汚染物質の析
出に着目し、その防止について説明を行ったが、実際に
はモータ5だけでなくシャッタ羽根4の表面に所謂「く
もり」が発生し、遂にはシャッタ羽根4の溶融破壊を発
生する事故も発生している。実施形態2は、モータ5周
辺およびモータ軸85周辺の冷却風102に対し排気管
106および接続管82を設けて外部に排出される経路
を形成し、強制排気する構成が特徴となっている。
In the first embodiment, the deposition of the pollutants inside the motor was focused on and its prevention was explained, but in reality, so-called "cloudy weather" occurs not only on the motor 5 but also on the surface of the shutter blades 4, and finally There is also an accident in which the shutter blade 4 is melted and destroyed. The second embodiment is characterized in that the cooling air 102 around the motor 5 and the motor shaft 85 is provided with an exhaust pipe 106 and a connecting pipe 82 to form a path for being discharged to the outside, and forcibly exhausted.

【0046】シャッタ羽根の溶融破壊事故に関しては既
に様々な提案がなされており、特開平09−02744
6号公報、特開平11−197343号公報等に先行技
術を見ることができる。
Various proposals have already been made regarding the melting and destruction accident of the shutter blades, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 09-02744 discloses the same.
The prior art can be found in Japanese Patent Laid-Open No. 6 and Japanese Patent Laid-Open No. 11-197343.

【0047】特開平09−027446号公報ではシャ
ッタ羽根4とモータ5を一括してケミカルクリーンな冷
却媒体で包含している。しかしながら、モータ5の駆動
部および駆動伝達部には潤滑材などの汚染物質源を含む
場合が多く、さらに、駆動部自身からの発塵も存在す
る。従って、シャッタ部まで考慮に入れると、露光装置
に用いられる光源装置ではシャッタ羽根4およびモータ
5の双方が汚染物質から隔離された配置となっているこ
とが望ましい。シャッタ羽根4とモータ5とをモータ軸
カバー84によって別個の空間に隔離し、それぞれに冷
却媒体の吸・排気経路を確保して、互いに汚染しあうこ
との無いような構造とすることにより、更に良好な光源
装置が実現できる。
In Japanese Unexamined Patent Publication No. 09-027446, the shutter blades 4 and the motor 5 are collectively included in a chemically clean cooling medium. However, the drive unit and the drive transmission unit of the motor 5 often include a contaminant source such as a lubricant, and dust is also generated from the drive unit itself. Therefore, taking the shutter unit into consideration, it is desirable that both the shutter blades 4 and the motor 5 are arranged to be isolated from contaminants in the light source device used in the exposure apparatus. By further separating the shutter blades 4 and the motor 5 into separate spaces by the motor shaft cover 84 and ensuring a suction / exhaust path for the cooling medium in each space so as not to contaminate each other, A good light source device can be realized.

【0048】実施形態1では図1に示すようにモータ軸
85周辺に供給された冷却風102はモータ軸85とモ
ータ軸カバー84との隙間からシャッタ羽根4周辺へも
排出される構成となっている。これに対し、実施形態2
はモータ5周辺およびモータ軸85周辺の冷却風102
についてそれぞれ排気管106および接続管82が設け
られ、外部に排出する経路が形成されていることが特徴
である。モータ5周辺部からの排気がシャッタ羽根4の
周辺に吐き出されることなく外部へ排出されるため、排
気に含まれる汚染物質によってシャッタ羽根4が二次的
に汚染されて発生する、所謂「くもり」を防止すること
ができる。また、モータ5の温度上昇を防ぐために、カ
バーに遮光性を持たせることは実施例1と同様である。
In the first embodiment, as shown in FIG. 1, the cooling air 102 supplied to the periphery of the motor shaft 85 is also discharged to the periphery of the shutter blades 4 through the gap between the motor shaft 85 and the motor shaft cover 84. There is. On the other hand, the second embodiment
Is the cooling air 102 around the motor 5 and around the motor shaft 85.
Is characterized in that an exhaust pipe 106 and a connection pipe 82 are provided respectively, and a path for discharging to the outside is formed. Since the exhaust gas from the peripheral part of the motor 5 is discharged to the outside without being discharged to the periphery of the shutter blade 4, the shutter blade 4 is secondarily contaminated by contaminants contained in the exhaust gas, so-called "cloudy". Can be prevented. Further, in order to prevent the temperature of the motor 5 from rising, the cover is made to have a light shielding property as in the first embodiment.

【0049】図8は本発明の実施形態3を示す図でシャ
ッタ羽根とシャッタ羽根の駆動手段とを隔離壁によって
空間的に分離し、前記駆動手段に対し強制冷却を行うた
め、駆動用のモータ5をシャッタ羽根4の存在する空間
から外部に配置した上で、モータ5を個別に冷却する構
成を示した図である。図中、モータ5とシャッタ羽根4
の領域はそれぞれ隔離壁によって完全に分離されてお
り、両者は個別にケミカルクリーンな冷却媒体によって
冷却される。また図8の構成ではシャッタ羽根4を光の
入射側から直接冷却することが可能で、くもりの発生を
より効果的に抑えることができる。隔離壁を露光光に対
し遮光性とすることにより、モータの温度上昇を抑える
ことができることも前実施形態と同一である。
FIG. 8 shows the third embodiment of the present invention, in which the shutter blades and the driving means for the shutter blades are spatially separated by a partition wall, and the driving means is forcibly cooled. FIG. 5 is a diagram showing a configuration in which the motor 5 is individually cooled after the shutter 5 is arranged outside the space where the shutter blades 4 exist. In the figure, a motor 5 and a shutter blade 4
The regions are completely separated by a partition wall, and both are individually cooled by a chemically clean cooling medium. Further, in the configuration shown in FIG. 8, the shutter blade 4 can be directly cooled from the light incident side, and the occurrence of clouding can be suppressed more effectively. It is also the same as the previous embodiment that the temperature rise of the motor can be suppressed by making the partition wall light-shielding against the exposure light.

【0050】以上の説明文および説明図ではモータ5の
外側面に冷却風102を吹き付ける様に説明を行ってき
たが、一般にモータ5には図3に示す整流子95および
ブラシ93の周りに隔離壁となる不図示のカバー部材が
存在する。本発明に関するモータ遮光カバー83は該カ
バー部材による代用も可能で、特別なカバーの使用を必
然とするものではない。
In the above description and illustration, the cooling air 102 is blown to the outer surface of the motor 5, but generally the motor 5 is isolated around the commutator 95 and the brush 93 shown in FIG. There is a cover member (not shown) that serves as a wall. The motor light-shielding cover 83 according to the present invention can be replaced by the cover member, and a special cover is not necessarily used.

【0051】なお、本発明の露光装置として説明ではス
リットスキャン方式を例に取ったが、本発明は他の露光
方式、例えばステッパ−やミラープロジェクション方式
等の露光装置にも適用することが可能である。
In the description of the exposure apparatus of the present invention, the slit scan method is taken as an example, but the present invention can be applied to other exposure methods such as a stepper and a mirror projection method. is there.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光源装置
では該光源装置内のシャッタ装置部の汚染に伴う破損あ
るいは制御異常問題を解決するため、シャッタ羽根4の
駆動モータ5を冷却する冷却媒体を用いてモータ5周辺
から汚染物質を排除することでモータの誤作動の防止を
可能とした。またモータ自身の駆動部、あるいはモータ
駆動の伝達部からの汚染物質がモータ及びシャッタ羽根
部に到達しないような構成にすることによって、信頼性
を大幅に改善することができた。
As described above, in the light source device of the present invention, the cooling for cooling the drive motor 5 of the shutter blades 4 is carried out in order to solve the damage or the control abnormality problem due to the contamination of the shutter device portion in the light source device. It is possible to prevent malfunction of the motor by removing contaminants from the periphery of the motor 5 by using the medium. Further, the reliability can be significantly improved by adopting a configuration in which contaminants from the drive section of the motor itself or the transmission section of the motor drive do not reach the motor and the shutter blade section.

【0053】さらに本発明ではシャッタ羽根4をモータ
5と空間的に独立分離してクリーンな冷却を行うことに
より、モータ5および駆動機構部から発生する汚染物質
が、シャッタ羽根4側に拡散するのを防止できるため、
シャッタ羽根4の長寿命化を達成し、長時間の使用に耐
える光源装置を供給することを可能とした。
Further, according to the present invention, the shutter blade 4 is spatially independently separated from the motor 5 to perform clean cooling, so that the contaminants generated from the motor 5 and the drive mechanism portion are diffused to the shutter blade 4 side. Can be prevented,
The service life of the shutter blades 4 is extended, and it is possible to supply a light source device that can withstand long-term use.

【0054】また本発明の光源装置を露光装置に適用す
ることによって、信頼性の高い、安定した露光装置を提
供することが可能となり、生産性の向上を図ることが可
能となった。
By applying the light source device of the present invention to an exposure apparatus, it is possible to provide a highly reliable and stable exposure apparatus, and it is possible to improve productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施形態1に係る光源装置のシャッ
タ部構造の説明図、
FIG. 1 is an explanatory diagram of a shutter portion structure of a light source device according to a first embodiment of the present invention,

【図2】 本発明の実施形態2に係る光源装置のシャッ
タ部構造の説明図、
FIG. 2 is an explanatory diagram of a shutter portion structure of the light source device according to the second embodiment of the invention,

【図3】 シャッタ駆動用モータの構造の説明図、FIG. 3 is an explanatory diagram of a structure of a shutter drive motor,

【図4】 モータの制御信号の説明図、FIG. 4 is an explanatory diagram of a motor control signal,

【図5】 本発明の実施形態を適用する露光装置の構造
の説明図、
FIG. 5 is an explanatory diagram of a structure of an exposure apparatus to which an embodiment of the present invention is applied,

【図6】 シャッタ羽根の経時変化の説明図、FIG. 6 is an explanatory diagram of changes over time of shutter blades,

【図7】 シャッタ羽根形状の説明図、FIG. 7 is an explanatory diagram of a shutter blade shape,

【図8】 本発明の実施形態3の光源装置の説明図、FIG. 8 is an explanatory diagram of a light source device according to a third embodiment of the present invention,

【図9】 従来の露光シャッタの構成の説明図。FIG. 9 is an explanatory diagram of a configuration of a conventional exposure shutter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 楕円ミラー 4 シャッタ羽根 5 シャッタ駆動用モータ 81 導入管 82 接続管 83 モータ遮光カバー 84 モータ軸カバー 85 モータ軸 93 ブラシ 95 整流子 96 析出物 101 シャッタ羽根冷却風 102 冷却風 105 排気 106 排気管 1 light source 2 elliptical mirror 4 shutter blades 5 Shutter drive motor 81 Introduction tube 82 Connection pipe 83 Motor light shield cover 84 Motor shaft cover 85 motor shaft 93 brush 95 commutator 96 precipitate 101 shutter blade cooling air 102 cooling air 105 exhaust 106 Exhaust pipe

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源から発せられた照明光の光路中に、
シャッタ羽根を挿入・退避することによって照明光の遮
光・投光の制御を行う光源装置であって、前記シャッタ
羽根の駆動手段を遮光手段によって取り囲み、前記照明
光が前記駆動手段に照射されることを防止すると共に、
前記遮光手段によって形成された空間の内部にケミカル
クリーンな冷媒を導入する導入手段を更に具備すること
を特徴とする光源装置。
1. An optical path of illumination light emitted from a light source,
A light source device for controlling illumination light blocking / projecting by inserting / retracting shutter blades, wherein the shutter blade driving means is surrounded by a light blocking means, and the illumination light is applied to the driving means. To prevent
The light source device further comprising introduction means for introducing a chemically clean refrigerant into the space formed by the light shielding means.
【請求項2】 前記隔離壁内部から排出される排気を収
集する排気手段を、さらに設けたことを特徴とする請求
項1記載の光源装置。
2. The light source device according to claim 1, further comprising exhaust means for collecting exhaust gas discharged from the inside of the isolation wall.
【請求項3】 前記遮光手段形成された空間の内部は周
囲より陽圧であることを特徴とする請求項1に記載の光
源装置。
3. The light source device according to claim 1, wherein the inside of the space in which the light shielding means is formed has a positive pressure more than the surroundings.
【請求項4】 請求項1から3のいずれかの光源装置を
使用していることを特徴とする露光装置。
4. An exposure apparatus using the light source device according to claim 1.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010016376A (en) * 2008-07-02 2010-01-21 Nikon Corp Light shielding unit, variable slit apparatus, and exposure apparatus

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