JP2002319208A - 光磁気再生方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 再生信号に対して波形ずれが生じると、エッ
ジ部で検出される位相誤差が生じ、誤った値が生成され
てしまう。 【解決手段】 再生信号からパターンを検出して、パタ
ーンに依存して生じる波形ずれの補正量を所定の式から
算出する。算出した補正量を基に再生信号を補正する。
補正の方法としては振幅に対してオフセットを加減算す
るものと、時間軸方向の補間によるものがある。また、
補正式に含まれる係数を既知の信号パターンを再生して
得られる位相誤差信号を基に生成するジッタ量から適応
的に設定することも可能である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気効果を利用
して情報を再生する光磁気再生方法及び装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】従来より光磁気ディスク等による記録・
再生系においては、媒体の特性により記録信号や再生信
号に波形ずれが生じることが知られている。波形ずれの
概要を図１６に基づいて説明する。図１６において、
（Ａ）は再生波形、（Ｂ）はクロックである。ここで
は、再生系においてクロックの立ち上がりエッジで再生
波形をサンプリングするものとする。（Ａ）の×印はサ
ンプリング信号である。媒体の特性により波形ずれが生
ずると、（Ａ）の時刻ｋ１において“Ｈ”レベルから
“Ｌ”レベルに変化する際に波線で示すような波形ずれ
により立ち上がり位置が微小に変動する。波形ずれを生
じた再生波形をサンプリングすると、後段のＰＬＬルー
プ及び復号部の性能劣化の要因となる。

【０００３】これに対し、例えば、特開平１０−５００
００号公報においては、“Ｈ”レベルから“Ｌ”レベル
へ移行する変化点で再生データに所定の正のオフセット
値を加算した後、データ検出判定を行う方法が開示され
ている。また、特開平０５−１９７９５７号公報におい
ては、情報記録時に記録パルス幅等を計測し、立ち上が
り位置を制御することにより、波形ずれを記録の際に補
償する方法が開示されている。

【０００４】ところで、再生信号のサンプル値を基にし
たＰＬＬループ（データＰＬＬ）においては、波形ずれ
により位相誤差信号に誤検出が発生する。図１７はデー
タＰＬＬにおける位相誤差検出の概略を示す。データＰ
ＬＬにおいては再生信号のエッジ部のサンプル値を基に
位相誤差を得ている。図１７において、９２０は再生信
号で、●及び○はクロックによるサンプル値である。

【０００５】（Ａ）は再生信号に対してクロックの位相
が遅れている場合で位相誤差は正の値を出力する。
（Ｂ）はクロックの位相が合っている場合で位相誤差は
ゼロとなる。（Ｃ）はクロックの位相が進んでいる場合
で位相誤差は負の値となる。ＰＬＬループはこの位相誤
差信号を基に制御を行う。しかしながら、（Ｄ）に示す
ように再生信号９２０に対して波形ずれ９３０が生じる
と、エッジ部で検出される位相誤差は■となり、誤った
値が生成されてしまう。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記特
開平１０−５００００号公報においてはレベルの変化点
にのみ言及されており、例えば、変化点に至る波形パタ
ーンに依存して波形ずれ量が変化する場合には対応でき
ない。ここで、再生信号の“Ｈ”レベルの区間をマー
ク、“Ｌ”レベルの区間をスペースとすると、マークと
スペースの間隔等に依存して波形ずれ量が変動する場合
は、マークあるいはスペースの間隔（記録マーク長）に
応じて適応的に波形ずれの補正量を設定しなければ、所
望の効果を得ることはできない。

【０００７】更に、特開平０５−１９７９５７号公報に
記載されているような記録時に波形ずれの補償を行う方
法では、高密度化のために最短マーク長を短くした場
合、最短マーク長以下の記録パルスによる補償の影響
で、ビット欠落等を発生する可能性が大きくなる。ま
た、データＰＬＬにおいては再生信号のエッジ部を用い
ているため、記録マーク長を適切に補正することが所望
の性能を達成する上で必要不可欠となる。従って、上記
特開平１０−５００００号公報に記載されているような
レベルの変化点で固定の補正量により補正するのみでは
再生信号の波形ずれに対応できなかった。

【０００８】本発明は、上記従来の課題に鑑みなされた
もので、その目的は、媒体及び記録再生系の特性等によ
り発生する波形ずれを補正し、正確に記録情報を再生で
きる光磁気再生方法及び装置を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、記録媒
体上に形成された記録マークを検出し、再生信号を生成
する情報再生方法において、再生された信号に基づいて
各記録マークのマーク長を検出し、検出されたマーク長
に応じた補正量で前記再生信号を補正することを特徴と
する光磁気再生方法によって達成される。

【００１０】また、記録媒体上に形成された記録マーク
を検出し、再生信号を生成する光磁気再生装置におい
て、再生された信号に基づいて記録マークのマーク長を
検出する手段と、検出されたマーク長に応じた補正量で
前記再生信号を補正する手段とを備えたことを特徴とす
る光磁気再生装置によって達成される。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。なお、以下の全ての実施形
態においては、信号のマーク部分とスペース部分を総称
して記録マークという。

【００１２】（第１の実施形態）図１は本発明の光磁気
再生装置の第１の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。図１において、１０１は情報記録媒体であるところ
の光磁気ディスク、１０２は光磁気ディスク１０１を所
定速度で回転させるためのスピンドルモータである。光
磁気ディスク１０１の上面には記録信号に応じて変調さ
れた磁界を発生するための磁気ヘッド１０３が配設さ
れ、その下面には磁気ヘッド１０３に対向して光ヘッド
１０４が配置されている。

【００１３】光ヘッド１０４は記録用光ビームを照射し
て情報の記録を行い、あるいは再生用光ビームを照射
し、その媒体からの反射光を検出して記録情報の再生を
行うものである。この際、光ヘッド１０４内には記録再
生用光源である半導体レーザ（図示せず）や媒体からの
反射光を検出する光センサ（図示せず）が設けられてい
る。半導体レーザはレーザ駆動回路１０８で駆動され、
半導体レーザの光ビームを記録用と再生用に制御するこ
とによって情報の記録や再生を行う。また、光磁気ディ
スク１０１としては、磁壁移動型光磁気媒体が用いら
れ、磁壁移動による情報再生を行う。この磁壁移動型光
磁気媒体を用いた再生方法については詳しい説明を省略
する。

【００１４】情報の記録の際には、光磁気ディスク１０
１をスピンドルモータ１０２の駆動により所定の速度で
回転させ、この状態で記録データがプリエンコーダ１０
７に供給される。プリエンコーダ１０７においては、例
えば、ＮＲＺＩ系列のデータの変調を行う。プリエンコ
ーダ１０７より出力された変調信号は磁気ヘッドドライ
バー１０６に供給され、磁気ヘッドドライバー１０６で
は変調信号に応じて外部磁界発生用の磁気ヘッド１０３
を駆動する。これにより、磁気ヘッド１０３は変調信号
に応じた磁界を発生し、光磁気ディスク１０１に印加す
る。同時に、レーザ駆動回路１０８からの駆動信号によ
り光学ヘッド１０４から記録用光ビームを光磁気ディス
ク１０１に照射することにより光磁気ディスク１０１上
にデータが記録される。

【００１５】一方、情報の再生の際には、同様に光磁気
ディスク１０１は所定の速度で回転するように制御さ
れ、光学ヘッド１０４から再生用光ビームが光磁気ディ
スク１０１に照射される。光磁気ディスク１０１からの
反射光は光学ヘッド１０４の光センサで検出され、ＲＦ
信号が生成される。このＲＦ信号はプリアンプ１０５を
通してＡＧＣ回路１０９に供給され、ＡＧＣ回路１０９
においてはＲＦ信号に応じて利得制御を行い、所定振幅
のＲＦ信号が生成される。

【００１６】ＡＧＣ回路１０９で処理された再生ＲＦ信
号はＡ／Ｄ変換器１１０でデジタル信号に変換される。
デジタル信号に変換されたＲＦデジタル信号は波形補正
回路１１１と再生補償回路１１４に供給される。再生補
償回路１１４はパターン検出回路１１５と補正量生成回
路１１６から成っていて、ＲＦデジタル信号からデータ
の記録マーク長を検出し、各記録マーク長に対応した波
形ずれ補正信号を生成する。波形補正回路１１１は再生
補償回路１１４から供給された波形ずれ補正信号に基づ
いてＲＦデジタル信号を補正する。

【００１７】補正されたＲＦデジタル信号は復号回路１
１２に出力され、復号回路１１２においては差分検出す
ることにより復号データが出力される。なお、ここでは
差分検出により復号データを生成しているが、ＰＲＭ
Ｌ、ビットバイビット等の公知の復号方式を用いてもよ
い。

【００１８】次に、本実施形態の特徴である波形ずれの
再生補償の動作について説明する。再生補償回路１１４
はパターン検出回路１１５と補正量生成回路１１６から
構成されている。パターン検出回路１１５の構成を図２
に示す。図２において、２０１は差分回路でＲＦデジタ
ル信号の差分値を出力する。２０２はパターン計測回路
でマーク及びスペースの間隔を記録マーク長として計測
する。図１６を参照しながらその動作について説明す
る。

【００１９】まず、再生波形は、例えば、図１６（Ａ）
に示すような信号とする。これは、不図示のＰＬＬ回路
により生成されるクロックによってサンプリングされ、
離散的なデジタル信号として、Ａ／Ｄ変換器１１０から
供給される。図１６（Ａ）の×印は先にも説明したよう
にサンプリング信号を示している。差分回路２０１はＡ
／Ｄ変換器１１０から供給されたＲＦデジタル信号から
差分信号を生成する。この差分信号は、現在サンプリン
グされた信号値から１つ前にサンプリングされた信号値
を減算することにより得られ、生成された差分信号は図
１６（Ｃ）に示すような信号波形となる。

【００２０】差分回路２０１で生成された差分信号はパ
ターン計測回路２０２に供給され、パターン計測回路２
０２においては差分信号に対して３値判定を行う。具体
的には、図３に示すように差分信号ｄ（ｋ）に対して正
及び負のしきい値Ｔ１及びＴ２を設定し、以下の方法に
より判定する。

【００２１】ｄ（ｋ）≧Ｔ１ →“１” ｄ（ｋ）≦Ｔ２ →“−１” 上記以外 →“０” パターン計測回路２０２では上記方法により差分信号の
３値判定を行い、判定結果が“０”の区間はクロック
（ＰＬＬループにより生成されるクロック）に同期して
内部のカウンタのカウンタ値をインクリメントする。判
定結果が“１”又は“−１”から“０”に変化した場合
には、再生信号の立ち上がり又は立ち下がりが検出され
た時であるのでその時のカウンタ値を出力する。記録マ
ーク長Ｐは出力したカウンタ値に＋１加算した値とな
る。パターン計測回路２０２ではこのようにして記録マ
ーク長の計測を行い、記録マーク長を出力後にカウンタ
をリセットして次の記録マーク長の計測を行う。

【００２２】また、パターン検出回路１１５では、立ち
上がり及び立ち下がりの変化の方向を表わす信号Ｆとし
て、上記判定結果が“１”→“０”に変化した場合に
は、立ち上がり部として“Ｆ＝１”とし、判定結果が
“−１”→“０”に変化した場合には、立ち下がり部と
して“Ｆ＝０”を補正量生成回路１１６に出力する。こ
こで、例えば、図４（Ａ）に示すように差分信号の時刻
ｋ２からｋ３の区間に対してパターン検出回路１１５に
よりパターン検出を行うと、図４（Ｂ）に示すようなパ
ターン間隔（記録マーク長）Ｐを得ることができる。ま
た、図４（Ｃ）は変化の方向Ｆを示している。

【００２３】補正量生成回路１１６においてはパターン
検出回路１１５から供給される信号に基づいて以下の式
（１）により補正量を生成する。

【００２４】 Ｙ（ｉ）＝−Ａ・Ｐ（ｉ−１）＋Ｂ・Ｐ（ｉ） …（１） Ａ及びＢは予め設定された所定の補正係数、Ｐ（ｉ）は
現時点での記録マーク長、Ｐ（ｉ−１）は一つ前の記録
マーク長を表わす。即ち、現在の記録マーク長、１つ前
の記録マーク長にそれぞれ所定の補正係数を掛けて、そ
の値を加算することによって補正量を算出する。

【００２５】ここで、光磁気記録において記録時にレー
ザ光の照射により光磁気記録媒体のレーザ光照射部位の
温度はキュリー点まで達し磁化が消失する。しかし、キ
ュリー点まで温度が上昇していない周辺部位では磁化が
存在し、磁化を起因とする浮遊磁界が存在する。記録マ
ーク端である磁壁は光ビーム進行方向後端で形成される
が、記録マーク端である磁壁形成時にそれら浮遊磁界は
磁壁形成のための外部から磁気ヘッドにより印加される
変調磁界に重畳される形で作用する。この浮遊磁界の大
きさは直前に形成された磁壁と次に形成しようとする磁
壁との間隔、即ち、形成しようとする記録マーク長、更
にその前に位置するマーク長により変化する。従って、
磁壁形成部位に作用する浮遊磁界強度は記録しようとす
るマーク長、（或いはマーク長列）によって異なる。

【００２６】また、磁壁の形成位置は温度と磁界強度と
の関係において決定される。ここでレーザ光強度、磁気
ヘッドからの印加磁界強度は定常状態に保たれており、
記録マーク長或いは記録マーク長列が異なる場合には重
畳される浮遊磁界強度が異なってくるため、磁区形成位
置に印加される磁界強度は磁気ヘッドからの磁界強度＋
浮遊磁界強度となり、実質的に磁区形成部に印加される
磁界強度は形成する記録マーク長、或いは記録マーク長
列により異なる。その結果、磁壁形成位置が記録マーク
長により異なる現象が現われる。

【００２７】本実施形態では、このような現象に基づい
て記録マーク長に依存して生じる波形ずれを補正するも
のである。即ち、式（１）で示すように情報再生時に１
つ前の記録マーク長と現在の記録マーク長にそれぞれ所
定の補正係数をかけて、その加算値を補正量として算出
し、この補正量をもとに再生信号の波形ずれを補正する
ものである。なお、式（１）において補正係数Ａ、Ｂは
実験により予め求めておくことが望ましく、記録媒体の
出荷時にディスクのコントロールトラックに事前に記録
しておいてそれを読み出すようにしてもよいし、装置の
ＲＯＭに書き込んでおいてそれを読み出すようにしても
よい。

【００２８】波形補正回路１１１においてはＡ／Ｄ変換
器１１０から供給されるＲＦデジタル信号を遅延し、補
正量生成回路１１６から得られる補正量Ｙと変化の方向
を表わす信号Ｆに基づいてＲＦデジタル信号を補正す
る。図５は補正の概略を示す。図５（Ａ）は再生信号の
波形であり、●はサンプリング点を示す。また、図５
（Ａ）の波線は補正後の波形で＊は補正後のサンプリン
グ点を示す。図５（Ｂ）は補正前の差分信号、図５
（Ｃ）は補正後の差分信号である。

【００２９】波形補正回路１１１では補正量Ｙを基に信
号振幅のオフセット量Ｓを算出し、変化の方向Ｆが
“１”の場合は（再生信号が立ち下がる時）、変化点近
傍でオフセット量Ｓを減算し、変化の方向Ｆが“０”の
場合は（再生信号が立ち上がり時）、変化点近傍でオフ
セット量Ｓを加算する。オフセット量Ｓは、Ｓ＝Ｋ・Ｙ
（ｉ）で得られる。なお、Ｋは係数である。補正された
ＲＦデジタル信号は復号回路１１２に供給される。ここ
では、復号回路１１２では差分検出により復号処理を行
う。

【００３０】図６（Ａ）は補正されたＲＦデジタル信号
に対する差分信号、図６（Ｂ）は復号データである。差
分検出では差分信号が正のしきい値Ｔ１以上の場合
“１”、負のしきい値Ｔ２以下の場合“０”、それ以外
の場合は、一つ前の復号データと同じ値を出力する。こ
のような補正を行うことにより波形ずれによる復号エラ
ーを低減することができる。

【００３１】次に、本実施形態の具体的な再生動作を図
７に基づいて説明する。図７（Ａ）はＲＦデジタル信
号、図７（Ｂ）はクロック、図７（Ｃ）は差分信号、図
７（Ｄ）はパターン間隔、図７（Ｅ）は変化の方向、図
７（Ｆ）は補正区間を設定するゲート、図７（Ｇ）は補
正オフセット量、図７（Ｈ）は補正後のデジタル信号で
ある。ここで、光学ヘッド１０４から回転している光磁
気ディスク１０１に再生用光ビームが照射されると、光
学ヘッド１０４で光磁気ディスク１０１からの反射光を
検出して再生信号が生成され、プリアンプ１０５、ＡＧ
Ｃ回路１０９を介してＡ／Ｄ変換器１１０に供給され
る。Ａ／Ｄ変換器１１０では図７（Ａ）に示すようにＲ
Ｆデジタル信号を図７（Ｂ）のクロックに同期して出力
し、パターン検出回路１１５に供給する。

【００３２】パターン検出回路１１５においては、図７
（Ｃ）に示すような差分信号が生成され、同時に記録マ
ーク長Ｐが図７（Ｂ）のクロックに同期したカウンタ値
を基に算出される。更に、パターン検出回路１１５では
図７（Ｃ）の差分信号の値から立ち上がり・立ち下がり
の変化の方向が検出され、図７（Ｅ）に示すように差分
信号の１→０に対しては変化の方向は０→１、差分信号
の−１→０に対しては変化の方向は１→０が出力され
る。

【００３３】補正量生成回路１１６では、図７（Ｄ）の
記録マーク長Ｐを基に式（１）により補正量が算出さ
れ、更に振幅のオフセット量Ｓに変換して、図７（Ｇ）
に示すようなオフセット量Ｓが出力される。波形補正回
路１１１においては、Ａ／Ｄ変換器１１０から得られた
ＲＦデジタル信号に対して所定の遅延を施し、図７
（Ｆ）に示すように補正量生成回路１１６からの信号を
基にＲＦデジタル信号を補正する区間を制御する補正ゲ
ートを内部で生成し、この補正ゲート区間のＲＦデジタ
ル信号の振幅に対してオフセットを加減算する。即ち、
ＲＦデジタル信号のエッジ部に対応して図７（Ｆ）の補
正ゲート信号を作成し、この補正ゲート信号の“１”の
区間内でオフセットの加減算を行う。以上により、図７
（Ｈ）に示すように破線の再生信号が実線で示す再生信
号に補正され、波形ずれを補正することができる。

【００３４】（第２の実施形態）次に、本発明の第２の
実施形態について説明する。第２の実施形態は前述の補
正係数を再生信号から適応的に生成するものであり、媒
体の個体差による補正係数の変動に柔軟に対応するもの
である。また、波形補正も第１の実施形態と異なる方法
によるものである。図８は本発明の第２の実施形態の構
成を示すブロック図である。なお、図１と同一部分は同
一符号を付して同一の構成及び動作をするものとして説
明を省略する。

【００３５】図８において、補正係数生成回路１５２は
式（１）の補正係数Ａ及びＢを適応的に生成するもので
ある。また、再生補償回路１５０はパターン検出回路１
１５により生成された記録マーク長を基に補正量Ｙを生
成し、波形補正回路１５３に供給する。ここで、補正量
生成回路１５１は補正係数生成回路１５２において生成
された補正係数Ａ及びＢを用いて補正量を生成する。波
形補正回路１５３は補正量生成回路１５１から供給され
る補正量Ｙを基にエッジ部近傍のサンプル値を補正して
出力する。

【００３６】次に、上記各部の構成及び動作について説
明する。図９は補正係数生成回路１５２の構成を示すブ
ロック図である。図９において、９０１はリファレンス
エリア検出部であり、補正係数を生成するための所定の
記録マーク列が記録されている領域を検出して補正係数
の生成のためのシーケンスを開始するものである。記録
マーク列は予め設定された所定の領域に記録されている
ものとする。

【００３７】補正係数を生成する際には、不図示のＣＰ
Ｕ等により所定のアドレスの信号を再生するように制御
され、再生されたＲＦデジタル信号がＡ／Ｄ変換器１１
０を介してリファレンスエリア検出部９０１に供給され
る。リファレンスエリア検出部９０１はＲＦデジタル信
号から所定の記録マーク列を検出すると、補正係数の生
成処理を開始する。記録マーク列の検出は前述の差分検
出、ＰＲＭＬ等の公知の方式を用いることができる。

【００３８】ジッタ検出部９０２においては所定の記録
マーク列を再生することによりジッタを算出し、これを
基に補正係数を生成する。ジッタ検出部９０２の動作に
ついて図１０により説明する。図１０において、●点及
び○点は再生信号９１０をＰＬＬクロックによりサンプ
リングしたものである。ジッタ検出部９０２ではリファ
レンスエリア検出部９０１の信号を基に位相誤差信号と
してエッジ部のサンプル値を取得し、このサンプル値を
基にジッタを検出する。

【００３９】次に、図１１に基づいてジッタ検出動作に
ついて説明する。図１１（Ａ）はジッタ検出のための再
生信号（信号パターン）、図１１（Ｂ）はＰＬＬクロッ
ク、図１１（Ｃ）は再生信号の差分信号、図１１（Ｄ）
は図１０に示す○点のサンプル値より得られる位相誤差
信号である。ジッタ検出部９０２は図１１（Ａ）に示す
信号パターンの立ち上がり及び立ち下がりエッジを図１
１（Ｃ）の差分信号により検出し、差分信号を基に生成
されたゲート区間から図１０に示すように位相誤差信号
（Ｄ）を生成する。

【００４０】次いで、ジッタ検出部９０２では生成され
た位相誤差信号の中から、更に特定の記録マーク列の組
み合わせにより得られる位相誤差信号を選択してジッタ
信号を生成する。例えば、図１１（Ａ）に示すような８
Ｔ−２Ｔ−２Ｔ−８Ｔの所定の記録マーク列において８
Ｔ後の２Ｔパターンのエッジ部において得られる位相誤
差信号Ｊ３及びＪ４を選択する。信号パターンの検出は
前述のリファレンスエリア検出部９０１において実行し
ているので、その検出結果から８Ｔ−２Ｔパターンを得
ることができる。

【００４１】ジッタ検出は図１２に示すように２Ｔパタ
ーンの立ち下がり及び立ち上がり部の位相誤差信号Ｊ３
とＪ４の加算から得ることができる。波形ずれが無い場
合はＪ３とＪ４の加算値は“０”となるが、波形ずれに
より２Ｔパターンの長さが変動している場合には、プラ
ス及びマイナス側に変動する。ジッタ検出部９０２にお
いては上記例に示すように所定の記録マーク列から特定
のパターンにおいてジッタ信号を生成し、その平均値を
算出する。

【００４２】補正係数算出部９０３においては生成され
たジッタ信号から式（１）の補正係数を算出する。ここ
では、媒体等の特性により予め得られる（ジッタ信号）
−（補正係数）の関係を表わす関数Ｋにより式（２）に
より補正係数Ａ、Ｂを得るものとする。

【００４３】 補正係数Ａ＝Ｋ_A （Ｊｔ）、Ｂ＝Ｋ_B （Ｊｔ） …（２） Ｊｔはジッタ検出部９０２において得られるジッタ信号
である。なお、式（１）において補正係数Ａ＝Ｂとして
も同程度の効果を得ることができる場合があり、その際
には式（２）において補正係数Ａのみ算出して処理の負
荷を低減することも可能である。生成された補正係数は
再生補償回路１５０の補正量生成回路１５１に供給され
る。

【００４４】図１３は第２の実施形態の波形補正の概略
を示す。本実施形態の波形の補正は信号の補間により実
現している。図１３は再生信号のエッジ近傍の信号を示
したものである。破線は再生信号波形、●はＰＬＬクロ
ックによりサンプリングしたデジタル信号で、媒体特性
等により波形ずれを生じている。補正量生成回路１５１
では補正係数生成回路１５２により得られた補正係数を
基に補正量Ｙを算出する。なお、補正量Ｙは式（１）に
より得ることができるが、式（１）のＡ＝０として簡易
的に式（３）で代用することもできる。

【００４５】Ｙ（ｉ）＝Ｂ・Ｐ（ｉ） …（３） ここでは、式（３）により補正量Ｙを算出し、これを基
に図１３に示すような補間係数Ｇを生成する。式（３）
を用いると隣接する２つの記録マーク長Ｐ（ｉ）及びＰ
（ｉ−１）を保持しておくメモリ等が必要なくなり、演
算の負荷も低減することができる。波形補正回路１５３
においてはエッジ部のサンプル値Ｅ１〜Ｅ３及び補間係
数Ｇから線形補間により補正したサンプル値Ｅ２′及び
Ｅ３′を算出する（■で示す）。例えば、Ｅ２′は以下
の式（４）により得ることができる。

【００４６】 Ｅ２′＝（Ｇ／Ｔ）・Ｅ１＋（（Ｔ−Ｇ）／Ｔ）・Ｅ２ …（４） Ｔはサンプリングクロックの間隔を示す。なお、ここで
は線形補間の場合を示すが他の公知の補間方式により代
用することも可能である。これにより、波形ずれによる
エッジシフトを低減することができるので、復号エラー
の要因を排除し、記録密度の向上を図ることが可能とな
る。

【００４７】なお、ここでの波形補正は再生したデジタ
ル信号に対して施しているが、差分検出により復号する
場合は、差分信号を補正することにより同様の効果を得
ることができる。また、ＰＲＭＬにより復号する場合
は、ＰＲ等化波形に対して補正することも可能であるこ
とは言うまでもない。

【００４８】（第３の実施形態）次に、本発明の第３の
実施形態について説明する。本実施形態では、図１の補
正量生成回路１１６における補正量Ｙの算出式として以
下を用いている。

【００４９】 Ｙ（ｉ）＝−Ａ・（Ｐ（ｉ−１）−Ｒ）＋Ｂ・（Ｐ（ｉ）−Ｒ） …（５） ここで、Ｒは基準となるマーク長を表わす。式（５）に
より補正量を生成することにより補正量の絶対値を減ら
すことができる。例えば、式（５）においてＲ＝２とす
ることにより記録マーク長が２Ｔの場合には補正量が
“０”となる。これにより、補正による信号の変動をプ
ラス側とマイナス側に振り分けられるので、元の再生信
号からの変化を抑えることが出来る。

【００５０】（第４の実施形態）次に、本発明の第４の
実施形態について説明する。図１４は本発明の第４の実
施形態の構成を示すブロック図である。図１４は図１に
対してデータＰＬＬ１５４が追加されている。その他は
図１と同様である。データＰＬＬ１５４は第１の実施形
態と同様の方法により波形補正回路１１１で波形ずれが
補正された再生信号を基にクロック信号を生成する。

【００５１】図１５はデータＰＬＬ１５４の構成を示す
ブロック図である。図中３０１は位相誤差検出部であ
り、再生信号の立ち上がりエッジ部のサンプル値を基に
位相誤差を検出する。３０２はループフィルタで、位相
誤差信号の不要なノイズの除去及び低減補償を施すもの
である。３０３はＶＣＯで、制御電圧に対応した周波数
のクロック信号を生成する。データＰＬＬは補正された
再生信号のエッジ部から位相誤差を検出し、検出した信
号をフィルタ処理後にＶＣＯの制御信号として供給す
る。これをループとすることにより再生信号に同期した
クロックを得ることが出来る。

【００５２】本実施形態の装置では、波形ずれを補正し
た再生信号により位相誤差を検出するので、図１７
（Ｄ）に示すような誤検出の影響を低減することがで
き、適正な再生信号を得ることが出来る。尚、位相誤差
の検出方法は上記に限らず他の公知の技術を用いること
ができる。

【００５３】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、記
録媒体に記録された記録マーク長を検出し、記録マーク
長に応じた補正量で再生信号を補正することにより、再
生信号の波形ずれを補正でき、エッジシフトを相殺でき
るので、記録信号を正確に再生することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態を示す構成図である。

【図２】図１のパターン検出回路を示すブロック図であ
る。

【図３】差分信号に対する３値判定を説明するための図
である。

【図４】パターン検出の動作を説明するための図であ
る。

【図５】図１の波形補正回路の補正処理を説明するため
の図である。

【図６】図１の復号方法を説明するための図である。

【図７】第１の実施形態の動作を説明するタイミングチ
ャートである。

【図８】本発明の第２の実施形態を示すブロック図であ
る。

【図９】図８の補正係数生成回路を示すブロック図であ
る。

【図１０】図８の位相誤差検出を説明するための図であ
る。

【図１１】図８の補正係数生成回路の動作を説明する図
である。

【図１２】図８のジッタ検出の概略を説明する図であ
る。

【図１３】図８の波形補正回路の補正処理を説明する図
である。

【図１４】本発明の第４の実施形態を示すブロック図で
ある。

【図１５】図１４のデータＰＬＬの構成図である。

【図１６】従来の再生信号の波形ずれを説明するための
図である。

【図１７】データＰＬＬにおける位相誤差検出を説明す
る図である。

【符号の説明】

１０１ 光磁気ディスク １０２ スピンドルモータ １０３ 磁気ヘッド １０４ 光学ヘッド １０５ プリアンプ １０６ 磁気ヘッドドライバ １０７ プリエンコーダ １０８ レーザ駆動回路 １０９ ＡＧＣ回路 １１０ Ａ／Ｄ変換器 １１１ 波形補正回路 １１２ 復号回路 １１４ 再生補償回路 １１５ パターン検出回路 １１６ 補正量生成回路 １５０ 再生補償回路 １５１ 補正量生成回路 １５２ 補正係数生成回路 １５３ 波形補正回路 １５４ データＰＬＬ ２０１ 差分回路 ２０２ パターン計測回路 ３０１ 位相誤差検出部 ３０２ ループフィルタ ３０３ ＶＣＯ ９０１ リファレンスエリア検出部 ９０２ ジッタ検出部 ９０３ 補正係数算出部

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録媒体上に形成された記録マークを検
   出し、再生信号を生成する情報再生方法において、再生
   された信号に基づいて各記録マークのマーク長を検出
   し、検出されたマーク長に応じた補正量で前記再生信号
   を補正することを特徴とする光磁気再生方法。
2. 【請求項２】 前記補正量は、浮遊磁界による記録マー
   クエッジの変動を補償する量であることを特徴とする請
   求項１に記載の光磁気再生方法。
3. 【請求項３】 前記補正量Ｙは、Ｙ＝−Ａ×Ｐ（ｉ−
   １）＋Ｂ×Ｐ（ｉ）（Ａ，Ｂ：定数、Ｐ（ｉ−１）；一
   つ前の記録マークのマーク長、Ｐ（ｉ）：現時点の記録
   マークのマーク長）を満足することを特徴とする請求項
   ２に記載の光磁気再生方法。
4. 【請求項４】 前記補正量Ｙにおいて、Ａ＝Ｂであるこ
   とを特徴とする請求項３に記載の光磁気再生方法。
5. 【請求項５】 前記補正量Ｙにおいて、Ａ＝０であるこ
   とを特徴とする請求項３に記載の光磁気再生方法。
6. 【請求項６】 前記補正量Ｙは、Ｙ＝−Ａ×（Ｐ（ｉ−
   １）−Ｒ）＋Ｂ×（Ｐ（ｉ）−Ｒ） （Ａ，Ｂ：定数、
   Ｐ（ｉ−１）；一つ前の記録マークのマーク長、Ｐ
   （ｉ）：現時点の記録マークのマーク長）、Ｒ；基準と
   なるマーク長）を満足することを特徴とする請求項２に
   記載の光磁気再生方法。
7. 【請求項７】 前記補正は、前記補正量に応じたオフセ
   ットを前記再生信号に加減算することにより行うことを
   特徴とする請求項１に記載の光磁気再生方法。
8. 【請求項８】 前記補正は、前記補正量に応じた補間係
   数で前記再生信号を補間することにより行うことを特徴
   とする請求項１に記載の光磁気再生方法。
9. 【請求項９】 前記定数は、所定の記録マーク列を再生
   した際に得られた再生信号のジッタを計測し、その計測
   値に基づいて算出されることを特徴とする請求項２に記
   載の光磁気再生方法。
10. 【請求項１０】 前記記録媒体は、磁壁移動型光磁気記
    録媒体であることを特徴とする請求項１に記載の光磁気
    再生方法。
11. 【請求項１１】 記録媒体上に形成された記録マークを
    検出し、再生信号を生成する情報再生装置において、再
    生された信号に基づいて記録マークのマーク長を検出す
    る手段と、検出されたマーク長に応じた補正量で前記再
    生信号を補正する手段とを備えたことを特徴とする光磁
    気再生装置。
12. 【請求項１２】 前記補正量は、浮遊磁界による記録マ
    ークエッジの変動を補償する量であることを特徴とする
    請求項１１に記載の光磁気再生装置。