JP2002260216A - Glass substrate for information recording disk and information recording disk using the glass substrate - Google Patents
Glass substrate for information recording disk and information recording disk using the glass substrateInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 品質を向上した情報記録ディスク用ガラス基
板を提供する。
【解決手段】 重量百分率で、50%以上70%以下の
SiO2と、10%以上25%以下のAl2O3と、1%
以上8%以下のLn2O3(LnはPr、Nd、Smまた
はEuを表す)と、5%以上15%以下のB2O3と、1
0%以上13%以下のR2O(Rはアルカリ金属元素を
表す)とを含む構成とする。これにより、ガラス基板の
視認性を向上してガラス基板の加工時などに生じる傷や
かけなどの不良の発生を低減し、また、品質検査などに
おけるガラス基板の不良の発見を容易にできる。さら
に、磁気ディスクや光磁気ディスクに加工された場合の
磁化特性に与えるガラス基板の影響を低減できる。加え
て、ガラス基板の表面に形成した層や膜の剥離を抑制で
きる。すなわち、ガラス基板の品質を向上できる。
(57) [Summary] [Problem] To provide a glass substrate for an information recording disk with improved quality. SOLUTION: By weight percentage, 50% or more and 70% or less of SiO 2 , 10% or more and 25% or less of Al 2 O 3 , 1%
Ln 2 O 3 (Ln represents Pr, Nd, Sm or Eu) of not less than 8% and B 2 O 3 of not less than 5% and not more than 15%;
0% to 13% of R 2 O (R represents an alkali metal element). As a result, the visibility of the glass substrate is improved, and the occurrence of defects such as scratches and chips generated during processing of the glass substrate is reduced, and the defect of the glass substrate can be easily found in quality inspection and the like. Further, the influence of the glass substrate on the magnetization characteristics when processed into a magnetic disk or a magneto-optical disk can be reduced. In addition, separation of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate can be suppressed. That is, the quality of the glass substrate can be improved.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、情報記録ディスク
用のガラス基板に係り、特に、磁性ディスクなどに好適
なガラス基板に関する。The present invention relates to a glass substrate for an information recording disk, and more particularly to a glass substrate suitable for a magnetic disk and the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】現在、汎用大型コンピュータやパーソナ
ルコンピュータ用の情報記録媒体として、さらにはデジ
タル信号で配信される映像を一時的に保管する家庭用の
サーバーとして磁気ディスク装置や、携帯性のある情報
記録媒体として光磁気ディスクや光ディスクなどが用い
られている。2. Description of the Related Art At present, magnetic disk devices and portable information are used as information recording media for general-purpose large-sized computers and personal computers, and as home servers for temporarily storing images distributed by digital signals. Magneto-optical disks and optical disks are used as recording media.
【0003】例えば、磁気ディスク装置では、従来、基
板として汎用向けやデスクトップ型のパーソナルコンピ
ューター用途には3.5インチサイズのアルミニウム基
板が、また持ち運び可能なノート型のパーソナルコンピ
ューター用には主に2.5インチサイズのガラス基板が
用いられてきた。このガラス基板は、アルミニウム基板
に比べ硬くて変形し難く、かつ表面平滑度が優れてい
る。このため、汎用型の3.5インチサイズや3インチ
サイズの基板にもアルミニウム基板に代えてガラス基板
が適用されるようになってきている。また、1.8イン
チサイズや1インチサイズといった小型携帯端末用の情
報記録装置にもガラス基板が適用されようとしている。For example, in a magnetic disk drive, a 3.5-inch aluminum substrate has conventionally been used as a substrate for general-purpose or desktop personal computers, and mainly a portable notebook-type personal computer has been mainly used. A glass substrate with a size of 0.5 inches has been used. This glass substrate is harder and harder to deform than the aluminum substrate, and has excellent surface smoothness. For this reason, glass substrates have come to be applied to general-purpose 3.5-inch and 3-inch substrates instead of aluminum substrates. Also, glass substrates are being applied to information recording devices for small portable terminals such as 1.8-inch size and 1-inch size.
【0004】さらに、情報記録装置や情報記録媒体に対
する大容量化の要請が強まっており、近年では年率10
0%の割合でその記憶容量が増大している。このような
記憶容量の増大に対応するには、ディスクに記録する情
報の高密度化に伴い記録部のヘッドの浮上量をより低く
する必要がある。したがって、ディスクの記録面がより
平滑な情報記録ディスクの開発が必要であることから
も、情報記録ディスクの基板へのガラス基板の適用が拡
大している。[0004] Further, demands for increasing the capacity of information recording devices and information recording media have been increasing, and in recent years, the annual rate of 10
The storage capacity is increasing at a rate of 0%. In order to cope with such an increase in the storage capacity, it is necessary to lower the flying height of the head of the recording unit with the increase in the density of information recorded on the disk. Therefore, the application of a glass substrate to the substrate of the information recording disk is expanding because the development of an information recording disk having a smoother recording surface is required.
【0005】このようなガラス基板は、ガラス本来の性
質である割れ易さ、かけ易さ、そしてクラックの入り易
さなどの問題を有している。このようなガラスの割れ易
さなどの問題を解決するため、従来のガラス基板では、
化学強化や、結晶化などを行っている。しかし、化学強
化された非晶質のガラス基板では、化学強化の工程にお
けるアルカリイオンの置換によってガラス基板の表面が
荒れてしまうため、平滑性が失われ、将来のヘッド浮上
量の低化に対応することが難しい。さらに、化学強化さ
れたガラス基板の表面は、置換されたイオン半径の大き
いアルカリイオンが化学的に不安定であるため、生産工
程中のガラス基板の洗浄工程や、ガラス基板表面への成
膜工程などにおける加熱処理などにおいてアルカリイオ
ンが基板表面に移動して析出し、ガラス基板表面などに
形成された膜または層の剥がれや粘着などの不良や、ガ
ラス基板表面などに形成された磁性膜などの磁気特性の
劣化などを生ずることが懸念される。加えて、情報記録
ディスクの長期間の使用や、高温多湿環境のもとでの保
存などにおいても、膜または層の剥がれや粘着などの不
良を生ずることや、アルカリイオンがガラス基板表面に
移動して析出し、磁性膜などの磁気特性が劣化すること
が懸念される。[0005] Such a glass substrate has problems such as easiness of breaking, easy breaking and cracking which are inherent properties of glass. In order to solve such problems as the easiness of breaking glass, in a conventional glass substrate,
Chemical strengthening and crystallization are performed. However, with the chemically strengthened amorphous glass substrate, the surface of the glass substrate is roughened by the replacement of alkali ions in the chemical strengthening process, so the smoothness is lost, and the head flying height will be reduced in the future Difficult to do. Further, on the surface of the chemically strengthened glass substrate, the substituted alkali ions having a large ionic radius are chemically unstable, so that the glass substrate cleaning process and the film forming process on the glass substrate surface during the production process are performed. Alkali ions move to the surface of the substrate and precipitate during heat treatment, etc., and defects such as peeling or adhesion of the film or layer formed on the surface of the glass substrate and magnetic films formed on the surface of the glass substrate etc. There is a concern that the magnetic properties may deteriorate. In addition, even when the information recording disk is used for a long time or stored in a high-temperature and high-humidity environment, defects such as peeling or adhesion of the film or layer may occur, and alkali ions may migrate to the glass substrate surface. It is feared that the magnetic properties of the magnetic film and the like are deteriorated.
【0006】一方、結晶化ガラス基板は、非晶質なガラ
スの中に結晶質の微粒子が生成している状態になってお
り、この非晶質部分と結晶部分との硬度差により研磨速
度が異なるため、情報記録ディスクに求められている高
密度化に対応できるような十分な平滑性を持った記録面
を作り難いという問題があった。On the other hand, the crystallized glass substrate is in a state in which crystalline fine particles are generated in amorphous glass, and the polishing rate is reduced by the difference in hardness between the amorphous portion and the crystalline portion. Due to the difference, there has been a problem that it is difficult to create a recording surface having sufficient smoothness so as to be able to cope with a high density required for an information recording disk.
【0007】このような化学強化や結晶化したガラス基
板の問題を解決するため、発明者らは、特開平10−0
83531号公報などに、ガラス基板に希土類イオンを
含有させることにより機械的強度を向上することを提案
している。これにより、化学強化や結晶化しなくても十
分な強度のガラス基板が得られるため、ガラス基板や、
このガラス基板を用いた情報記録ディスクの製造または
加工工程におけるガラス基板表面の荒れや、情報記録デ
ィスクの長時間の使用や保存などによるガラス基板表面
の荒れなどが起こらず、ガラス基板表面の十分な平滑性
を保つことができる。すなわち、情報記録ディスクに求
められている高密度化に対応できるような十分な平滑性
を持った記録面を有するガラス基板を作ることができ
る。[0007] In order to solve the problems of such chemically strengthened and crystallized glass substrates, the inventors disclosed in Japanese Patent Laid-Open No.
No. 83531 proposes improving the mechanical strength by incorporating rare earth ions into a glass substrate. As a result, a glass substrate with sufficient strength can be obtained without chemical strengthening or crystallization,
The glass substrate surface is not roughened during the manufacturing or processing process of the information recording disk using the glass substrate, and the glass substrate surface is not roughened due to prolonged use or storage of the information recording disk. Smoothness can be maintained. That is, it is possible to produce a glass substrate having a recording surface with sufficient smoothness so as to be able to cope with the high density required for information recording disks.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところで、ガラス基板
に希土類イオンを含有させることにより機械的強度が十
分に高く、十分な平滑性を有するガラス基板を作ること
ができる。しかし、ガラス基板や情報記録ディスクの生
産時における不良品発生の抑制、不良品の発見、さら
に、化学的耐久性や、磁気ディスク装置や光磁気ディス
クなどに加工した場合に必要な磁気特性などが十分に考
慮されているとは言い難く、これらの観点からの情報記
録ディスク用ガラス基板としての品質の向上が求められ
ている。By incorporating rare earth ions into a glass substrate, a glass substrate having sufficiently high mechanical strength and sufficient smoothness can be manufactured. However, in the production of glass substrates and information recording disks, the suppression of defective products, the detection of defective products, the chemical durability, and the magnetic characteristics required when processed into magnetic disk devices and magneto-optical disks, etc. It is hard to say that it is sufficiently considered, and improvement of the quality as a glass substrate for an information recording disk is required from these viewpoints.
【0009】本発明の課題は、情報記録ディスク用ガラ
ス基板の品質を向上することにある。An object of the present invention is to improve the quality of a glass substrate for an information recording disk.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明の情報記録ディス
ク用ガラス基板は、重量百分率で50%以上70%以下
のSiO2と、10%以上25%以下のAl2O3と、1
%以上8%以下のLn2O3(LnはPr、Nd、Smま
たはEuを表す)と、B2O3及びR2O(Rはアルカリ
金属元素を表す)の少なくとも1方とを含む構成とする
ことにより上記課題を解決する。According to the present invention, there is provided a glass substrate for an information recording disk comprising 50% to 70% by weight of SiO 2 , 10% to 25% of Al 2 O 3 , and 1% by weight.
% Or more and 8% or less of Ln 2 O 3 (Ln represents Pr, Nd, Sm or Eu), and at least one of B 2 O 3 and R 2 O (R represents an alkali metal element). Solves the above problem.
【0011】このような構成とすれば、1%以上8%以
下のLn2O3(LnはPr、Nd、SmまたはEuを表
す)を含むことにより、ガラス基板を適度に着色し、か
つ適度な透過率にできるため、ガラス基板中の気泡やそ
の他の混入物を目視により発見し易くなる。さらに、ガ
ラス基板の加工や洗浄工程、そして情報記録ディスクの
加工工程などにおいてガラス基板が視認し易いため、ガ
ラス基板に傷をつけるなどの加工不良などを抑制でき
る。加えて、ガラス基板を磁気ディスク装置や光磁気デ
ィスクなどに用いる場合には、ガラス基板の磁化量を低
減し、磁気特性のばらつきを低減することができる。す
なわち、ガラス基板や情報記録ディスクの生産時におけ
る不良の発生などを抑制でき、さらに磁気特性のばらつ
きを低減することができるため、情報記録ディスク用ガ
ラス基板の品質を向上できる。According to this structure, the glass substrate is appropriately colored by containing 1% or more and 8% or less of Ln 2 O 3 (Ln represents Pr, Nd, Sm or Eu). Since the transmittance can be set to a high value, bubbles and other contaminants in the glass substrate can be easily visually detected. Further, since the glass substrate is easily visible in the processing and cleaning steps of the glass substrate, the processing step of the information recording disk, and the like, processing defects such as damaging the glass substrate can be suppressed. In addition, when the glass substrate is used for a magnetic disk device, a magneto-optical disk, or the like, the amount of magnetization of the glass substrate can be reduced, and variations in magnetic characteristics can be reduced. That is, it is possible to suppress the occurrence of defects during the production of the glass substrate and the information recording disk, and further to reduce the variation in the magnetic characteristics, so that the quality of the glass substrate for the information recording disk can be improved.
【0012】また、Ln2O3を構成するLnがPrであ
る構成とすれば、情報記録ディスク用ガラス基板の品質
をさらに向上できるので好ましい。It is preferable that Ln constituting Ln 2 O 3 be Pr, because the quality of the glass substrate for an information recording disk can be further improved.
【0013】さらに、重量百分率で、50%以上70%
以下のSiO2と、 10%以上25%以下のAl2O
3と、 5%以上15%以下のB2O3と、 10%以上1
3%以下のR2O(Rはアルカリ金属元素を表す)とを
含む構成とする。Further, the weight percentage is 50% or more and 70% or more.
The following SiO 2 and 10% or more and 25% or less of Al 2 O
3 , B 2 O 3 of 5% or more and 15% or less, and 10% or more of 1
3% or less of R 2 O (R represents an alkali metal element).
【0014】また、重量百分率で、50%以上70%以
下のSiO2と、 10%以上25%以下のAl2O3と、
1%以上8%以下のLn2O3(LnはPr,Nd,S
m又はEuを表す)と、5%以上15%以下のB2O
3と、 10%以上13%以下のR2O(Rはアルカリ金
属元素を表す)とを含む構成とする。Further, in terms of weight percentage, 50% or more and 70% or less of SiO 2 , 10% or more and 25% or less of Al 2 O 3 ,
Ln 2 O 3 of 1% or more and 8% or less (Ln is Pr, Nd, S
m or Eu) and 5% to 15% of B 2 O
3 and 10% or more and 13% or less of R 2 O (R represents an alkali metal element).
【0015】このような構成とすれば、5%以上15%
以下のB2O3と、 10%以上13%以下のR2O(Rは
アルカリ金属元素を表す)とを含むことにより、脈理や
気泡などが少なく、さらに、十分に均質なガラス基板が
得られるうえ、アルカリ元素のガラス基板表面への析出
によるガラス基板の表面または記録面上に形成した膜ま
たは層の剥離を防ぐことができるため、情報記録ディス
ク用ガラス基板の品質を向上できる。With such a structure, 5% or more and 15%
By containing the following B 2 O 3 and 10% or more and 13% or less of R 2 O (R represents an alkali metal element), a striae and bubbles are reduced, and a sufficiently homogeneous glass substrate can be obtained. In addition, the film or layer formed on the surface of the glass substrate or on the recording surface due to precipitation of the alkali element on the surface of the glass substrate can be prevented from being separated, so that the quality of the glass substrate for an information recording disk can be improved.
【0016】さらに、R2O(Rはアルカリ金属元素を
表す)が、Li2O、Na2O、K2Oからなり、かつL
i2O/Na2Oの比が0.4以上0.6以下である構成
とすれば、ガラス基板の表面または記録面上に形成した
膜または層の剥離を確実に抑制する、つまり化学的安定
性をより向上できるため、情報記録ディスク用ガラス基
板の品質をより向上できるので好ましい。Further, R 2 O (R represents an alkali metal element) is composed of Li 2 O, Na 2 O, K 2 O and
When the ratio of i 2 O / Na 2 O is 0.4 or more and 0.6 or less, peeling of a film or a layer formed on the surface of the glass substrate or the recording surface is surely suppressed, that is, It is preferable because the stability can be further improved and the quality of the glass substrate for the information recording disk can be further improved.
【0017】さらに、波長300nm〜700nmの可
視光における透過率が50%以上85%以下であり、か
つ1kOeの磁界を印加したときの磁化が3×10−3
emu/cc以下である情報記録ディスク用ガラス基板
とすれば、ガラス基板中の気泡やその他の混入物を目視
により発見し易くなるうえ、ガラス基板の加工や洗浄工
程、そして情報記録ディスクの加工工程などにおいてガ
ラス基板が視認し易く、ガラス基板に傷をつけるなどの
加工不良などを抑制できる。加えて、ガラス基板を磁気
ディスク装置や光磁気ディスクなどに用いる場合には、
ガラス基板の磁化量を低減し、磁気特性のばらつきを低
減することができる。すなわち、ガラス基板や情報記録
ディスクの生産時における不良の発生などを抑制でき、
さらに磁気特性のばらつきを低減することができるた
め、情報記録ディスク用ガラス基板の品質を向上でき
る。Further, the transmittance of visible light having a wavelength of 300 nm to 700 nm is 50% or more and 85% or less, and the magnetization when applying a magnetic field of 1 kOe is 3 × 10 −3.
If the glass substrate for an information recording disk is not more than emu / cc, bubbles and other contaminants in the glass substrate can be easily found by visual inspection, and the glass substrate processing and cleaning steps, and the information recording disk processing steps In such cases, the glass substrate is easily visible, and processing defects such as scratching the glass substrate can be suppressed. In addition, when a glass substrate is used for a magnetic disk device or a magneto-optical disk,
The amount of magnetization of the glass substrate can be reduced, and variations in magnetic characteristics can be reduced. That is, it is possible to suppress the occurrence of defects during the production of glass substrates and information recording disks,
Further, since the variation in the magnetic characteristics can be reduced, the quality of the glass substrate for the information recording disk can be improved.
【0018】また、70℃の温水80ccに24時間浸
したときの温水へのアルカリ元素の溶出量が0.1mg
/l以下である情報記録ディスク用ガラス基板とすれ
ば、アルカリ元素のガラス基板表面への析出によるガラ
ス基板の表面または記録面上に形成した層の剥離を防ぐ
ことができ、十分な化学的安定性が得られるため、情報
記録ディスク用ガラス基板の品質を向上できる。The amount of the alkali element eluted into the hot water when immersed in 80 cc of 70 ° C. hot water for 24 hours is 0.1 mg.
/ L or less, a layer formed on the surface of the glass substrate or on the recording surface due to precipitation of an alkali element on the surface of the glass substrate can be prevented, and sufficient chemical stability can be obtained. Therefore, the quality of the glass substrate for an information recording disk can be improved.
【0019】上記のいずれかの情報記録ディスク用ガラ
ス基板と、このガラス基板の表面上に直接または他の層
を介して形成される情報記録層とを有する情報記録ディ
スクとすれば、情報記録ディスク用ガラス基板の品質が
向上することにより、情報記録ディスクとしての品質も
向上できる。If the information recording disk has any one of the above-mentioned glass substrates for an information recording disk and an information recording layer formed directly or via another layer on the surface of the glass substrate, the information recording disk By improving the quality of the glass substrate for use, the quality as an information recording disk can also be improved.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下、本発明を適用してなる情報
記録ディスク用ガラス基板の一実施形態について図1乃
至図3を参照して説明する。図1は、本発明を適用して
なる情報記録ディスク用ガラス基板の概略構成を示す平
面図である。図2は、本発明を適用してなるガラス基板
を用いた磁気ディスクの概略構成を示す断面図である。
図3は、本発明を適用してなるガラス基板を用いた磁気
ディスクを備えた磁気ディスク装置の概略構成を示す斜
視図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of a glass substrate for an information recording disk to which the present invention is applied will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a glass substrate for an information recording disk to which the present invention is applied. FIG. 2 is a sectional view showing a schematic configuration of a magnetic disk using a glass substrate to which the present invention is applied.
FIG. 3 is a perspective view showing a schematic configuration of a magnetic disk drive provided with a magnetic disk using a glass substrate to which the present invention is applied.
【0021】本実施形態の情報記録ディスク用ガラス基
板1は、図1に示すように、直径65mmφ、厚さ0.
635mmの2.5インチ型の円板状のディスクであ
り、中央部には、情報記録ディスクとして用いるときに
記録や、読み出しまたは再生などを行う装置のモーター
などに連結されたスピンドルなどにディスクを内周チャ
ックなどにより固定するための直径20mmφの円形の
貫通穴3が形成されている。また、この内周面及び外周
面の両縁角部は、削り取られて45度の面取りがなされ
ており、チャンファー部5となっている。As shown in FIG. 1, the glass substrate 1 for an information recording disk of this embodiment has a diameter of 65 mm and a thickness of 0.1 mm.
This is a 635-mm 2.5-inch disk-shaped disk. In the center, when used as an information recording disk, the disk is mounted on a spindle or the like connected to a motor of a device that performs recording, reading, or reproducing. A circular through hole 3 having a diameter of 20 mmφ for fixing by an inner peripheral chuck or the like is formed. The corners of the inner peripheral surface and the outer peripheral surface are cut off and chamfered at 45 degrees to form a chamfer portion 5.
【0022】このようなガラス基板1の作製は、以下の
ように行う。目的のガラス組成になるように定められた
量の原料粉末を秤量して混合し、白金製の坩堝に入れ
て、電気炉中で1600℃で溶解する。原料が十分に溶
解した後、攪拌羽を坩堝内のガラス融液に挿入し、約4
時間攪拌する。その後、攪拌羽を取り出し、30分間静
置した後、鋳型にガラス融液を流し込むことによって直
径約70mmφ、厚さ約1mmのガラスブロックを得
た。得られたガラスブロックは、このガラスのガラス転
移点付近まで再加熱され、徐冷されることで歪み取りが
行われる。The production of such a glass substrate 1 is performed as follows. A raw material powder in an amount determined to have a desired glass composition is weighed and mixed, put in a platinum crucible, and melted at 1600 ° C. in an electric furnace. After the raw materials are sufficiently dissolved, the stirring blade is inserted into the glass melt in the crucible, and the
Stir for hours. Thereafter, the stirring blade was taken out and allowed to stand for 30 minutes, and then a glass melt was poured into a mold to obtain a glass block having a diameter of about 70 mmφ and a thickness of about 1 mm. The obtained glass block is reheated to the vicinity of the glass transition point of the glass, and is gradually cooled to remove a strain.
【0023】歪み取りされたガラスブロックを内周と外
周とが同心円となるようにコアドリルを用いて切り出
す。さらに、内周面と外周面の両縁角部をダイヤモンド
砥石により面取り加工し、チャンファー部5を形成す
る。これにより、穴3を有するディスク状のガラス基板
1の概形が形成される。その後、ガラス基板1の両面
は、粗研磨され、次いでポリッシングが行われる。ポリ
ッシング後、ガラス基板1は、洗浄剤、純水で洗浄さ
れ、情報記録ディスク用ガラス基板1となる。以上のよ
うに本発明の情報記録ディスク用ガラス基板1では、化
学強化や結晶化処理のような強化処理を施していない。The glass block from which the distortion has been removed is cut out using a core drill so that the inner periphery and the outer periphery are concentric. Further, the chamfered portion 5 is formed by chamfering both corners of the inner peripheral surface and the outer peripheral surface with a diamond grindstone. As a result, a disk-shaped glass substrate 1 having the holes 3 is formed. Thereafter, both surfaces of the glass substrate 1 are roughly polished and then polished. After the polishing, the glass substrate 1 is washed with a cleaning agent and pure water to form the glass substrate 1 for an information recording disk. As described above, the glass substrate 1 for an information recording disk of the present invention has not been subjected to a strengthening process such as a chemical strengthening process or a crystallization process.
【0024】このような情報記録用ディスク用ガラス基
板1を用いて形成される情報記録ディスクの1例とし
て、磁気ディスクの作成について説明する。磁気ディス
ク7は、図2に示すように、本実施形態のガラス基板1
の表面つまり記録面上に順次形成された粒径制御層9、
配向制御層11、磁性膜13、保護膜15、そして潤滑
膜17などで構成されている。粒径制御層9は、磁性膜
13の粒径を制御し、配向制御層11は、磁性膜13の
配向を制御する。本例では、粒径制御層9は、NiAl
系の合金膜を20nmの膜厚で成膜している。配向制御層
11は、CrMo系の合金膜を10nmの膜厚で成膜して
いる。情報記録層となる磁性膜13は、CoCrPrB
系の磁性膜を20nmの膜厚で成膜している。保護膜15
は、Cを4nmの膜厚で成膜している。これらの層または
膜は、すべてスパッタリング法を用いて成膜した。また
潤滑膜17は、スパッタ終了後、塗布法によって形成し
た。The creation of a magnetic disk will be described as an example of an information recording disk formed using such a glass substrate 1 for an information recording disk. The magnetic disk 7 is, as shown in FIG.
A particle size control layer 9 sequentially formed on the surface of the
It is composed of an orientation control layer 11, a magnetic film 13, a protective film 15, a lubricating film 17, and the like. The grain size control layer 9 controls the grain size of the magnetic film 13, and the orientation control layer 11 controls the orientation of the magnetic film 13. In this example, the particle size control layer 9 is made of NiAl
A 20-nm thick alloy film is formed. The orientation control layer 11 is formed of a CrMo-based alloy film with a thickness of 10 nm. The magnetic film 13 serving as the information recording layer is made of CoCrPrB.
A system magnetic film is formed with a thickness of 20 nm. Protective film 15
Has a film thickness of C of 4 nm. All of these layers or films were formed by a sputtering method. The lubricating film 17 was formed by a coating method after the end of the sputtering.
【0025】このような方法により作製した様々な組成
の情報記録ディスク用ガラス基板1と、ガラス基板1に
磁性膜13などを形成した磁気ディスク7の特性、生産
性などを評価し、ガラス基板1の品質を向上するための
ガラス組成の検討を行った。The characteristics, productivity, etc. of the glass substrate 1 for information recording disks of various compositions produced by such a method and the magnetic disk 7 having the magnetic film 13 formed on the glass substrate 1 were evaluated. The glass composition for improving the quality of glass was studied.
【0026】まず、添加する希土類元素の種類に着目
し、色々な組成のガラスを作製した。表1に、ガラスの
組成と、それらのガラスの組成に対するガラス基板及び
磁気ディスクの特性を示す。First, attention was paid to the types of rare earth elements to be added, and glasses having various compositions were produced. Table 1 shows the glass compositions and the characteristics of the glass substrate and the magnetic disk with respect to those glass compositions.
【0027】[0027]
【表1】 表1において、希土類元素の種類以外は、同一組成で同
一量のアルミノホウケイ酸ガラスとした。含有させる希
土類酸化物の量はいずれも2.8重量%と一定にした。
ガラス基板の特性として、マイクロビッカース硬さ、可
視光の透過率、着色性、及びガラス基板の歩留まりを評
価した。マイクロビッカース硬さは、荷重500g、荷
重印加時間15秒の条件でガラス基板に荷重を印加し、
10点の平均値として求めた。可視光の透過率は、分光
光度計を用いて300nmから700nmまでの波長の
分光透過率曲線より透過率スペクトルを測定し、この波
長範囲の光の全透過率の積分値として求めた。着色性は
目視により着色の程度を評価し、無色のものは×、着色
しているものは○とした。歩留まりの評価は、ガラス基
板をレーザー光照射による散乱光により異物数を検査す
る装置により評価し、気泡、研磨傷、かけ、表面異物な
どの不良がディスク片面当たり20個以上のものを不良
としてカウントし、不良でないものの割合で評価した。[Table 1] In Table 1, aluminoborosilicate glass having the same composition and the same amount except for the type of the rare earth element was used. The amount of the rare earth oxide to be contained was kept constant at 2.8% by weight.
As characteristics of the glass substrate, micro Vickers hardness, transmittance of visible light, coloring property, and yield of the glass substrate were evaluated. The micro-Vickers hardness was applied to a glass substrate under the conditions of a load of 500 g and a load application time of 15 seconds,
An average value of 10 points was obtained. The transmittance of visible light was obtained by measuring a transmittance spectrum from a spectral transmittance curve of a wavelength from 300 nm to 700 nm using a spectrophotometer, and calculating the integrated value of the total transmittance of light in this wavelength range. The degree of coloring was visually evaluated to determine the degree of coloring. Colorless ones were evaluated as x, and colored ones were evaluated as ○. Yield is evaluated by using a device that inspects the glass substrate for the number of foreign substances using scattered light from laser light irradiation. Then, evaluation was made based on the ratio of non-defective products.
【0028】また、磁気ディスクの特性として磁化、磁
化の標準偏差、記録再生特性、及び磁気ディスクの歩留
まりを評価した。さらに、ガラス基板への加工前のガラ
スブロックの作製から磁気ディスクの作製に至るまでの
総合歩留まりを評価した。磁化及び磁化の標準偏差は、
B−H曲線を振動試料型磁力計(VSM)によって測定
し、磁性膜のヒステリシスループのバックグラウンド成
分をガラス基板からの磁性とし、そのバックグラウンド
成分の大きさを評価した。なお、磁化及び磁化の標準偏
差は、磁界として1kOe印加したときの磁化の大きさ
である。Further, as characteristics of the magnetic disk, magnetization, standard deviation of magnetization, recording / reproducing characteristics, and yield of the magnetic disk were evaluated. Further, the overall yield from the production of a glass block before processing to a glass substrate to the production of a magnetic disk was evaluated. The magnetization and the standard deviation of the magnetization are
The BH curve was measured by a vibrating sample magnetometer (VSM), and the background component of the hysteresis loop of the magnetic film was regarded as magnetism from the glass substrate, and the magnitude of the background component was evaluated. The magnetization and the standard deviation of the magnetization are the magnitude of the magnetization when 1 kOe is applied as a magnetic field.
【0029】加えて、磁気ディスクの記録再生特性を評
価した。記録再生特性評価に用いた磁気ディスク装置1
8は、図3に示すように、磁気ディスク7、スピンドル
19、図示していないスピンドルモーター、磁気ヘッド
21、磁気ヘッドのアーム23、ヘッドを駆動するため
のボイスコイルモーター25、筐体27などで構成され
ている。筐体27には、図示していないスピンドルモー
ターとボイスコイルモーター25などが固定されてい
る。図示していないスピンドルモーターには、スピンド
ル19が連結されており、スピンドル19には磁気ディ
スク7が固定されている。磁気ディスク7は、図示して
いないスピンドルモーターの駆動によるスピンドル19
の回転によって、全体が回転する。一方、ボイスコイル
モーター25には、アーム23が取りつけられており、
アーム23の先端部には、磁気ヘッド21が取りつけら
れている。磁気ヘッド21は、ボイスコイルモーター2
5の駆動によるアーム23の移動によって、所定の浮上
量で磁気ディスク7の記録面上を移動する。In addition, the recording and reproducing characteristics of the magnetic disk were evaluated. Magnetic disk drive 1 used for evaluation of recording and reproduction characteristics
Reference numeral 8 denotes a magnetic disk 7, a spindle 19, a spindle motor (not shown), a magnetic head 21, an arm 23 of the magnetic head, a voice coil motor 25 for driving the head, a housing 27, etc., as shown in FIG. It is configured. A spindle motor (not shown), a voice coil motor 25, and the like are fixed to the housing 27. A spindle 19 is connected to a spindle motor (not shown), and the magnetic disk 7 is fixed to the spindle 19. The magnetic disk 7 has a spindle 19 driven by a spindle motor (not shown).
By the rotation of, the whole is rotated. On the other hand, the arm 23 is attached to the voice coil motor 25,
The magnetic head 21 is attached to the tip of the arm 23. The magnetic head 21 is a voice coil motor 2
The arm 23 is moved by driving the magnetic disk 5 to move on the recording surface of the magnetic disk 7 by a predetermined flying height.
【0030】このような磁気ディスク装置18に、様々
な組成のガラス基板を用いて形成した磁気ディスクを搭
載し、20Gb/in2に相当する磁気信号を記録して
磁気記録再生特性を評価した。この評価を150枚の磁
気ディスクに対して行い、十分な記録再生特性が得られ
たものの割合を磁気ディスク歩留まりとした。さらに、
ガラス基板の歩留まりと磁気ディスクの歩留まりとから
総合歩留まりを評価した。総合での歩留まりが80%未
満のものを×、80%以上90%未満のものを○、90
%以上のものを◎とした。A magnetic disk formed using glass substrates of various compositions was mounted on such a magnetic disk device 18, and a magnetic signal corresponding to 20 Gb / in 2 was recorded to evaluate magnetic recording / reproducing characteristics. This evaluation was performed on 150 magnetic disks, and the ratio of magnetic disks having sufficient recording / reproducing characteristics was determined as the magnetic disk yield. further,
The overall yield was evaluated from the yield of the glass substrate and the yield of the magnetic disk. ×, if the overall yield is less than 80%, ○, 90 if the yield is 80% or more and less than 90%
% Or more was evaluated as ◎.
【0031】表1に示すように、ガラス基板の特性にお
いて、マイクロビッカース硬さは、いずれの希土類元素
を含むガラス基板でも約650以上が得られており、良
好であることが分かった。また、可視光の透過率は、い
ずれの希土類元素を含むガラス基板でも80%以上であ
った。希土類元素のうちNd、Pr、Sm、Eu、H
o、Erのいずれか1つを含むガラス基板は、可視光域
に希土類のf−f遷移に起因するシャープな吸収が見ら
れた。このため、他の希土類元素を含むガラス基板に比
べて透過率は、若干低い。しかし、Nd、Pr、Sm、
Eu、Ho、Erの鋭い吸収のため、希土類元素のうち
Nd、Pr、Sm、Eu、Ho、Erのいずれか1つを
含むガラス基板では、明確な着色が見られた。白熱灯下
での目視観察による評価では、Prは黄緑、Ndは紫
色、Sm、Euは非常に淡いがそれぞれ黄色と桃色に着
色しているのが見られた。また、Er、Hoも桃色に着
色していた。他の希土類元素を含むガラス基板は、無色
であり、着色は見られなかった。As shown in Table 1, in the characteristics of the glass substrate, the micro Vickers hardness was about 650 or more in any of the glass substrates containing a rare earth element, which proved to be good. The transmittance of visible light was 80% or more in any of the glass substrates containing a rare earth element. Nd, Pr, Sm, Eu, H among rare earth elements
In the glass substrate containing any one of o and Er, sharp absorption due to the ff transition of rare earth was observed in the visible light region. Therefore, the transmittance is slightly lower than that of a glass substrate containing another rare earth element. However, Nd, Pr, Sm,
Because of the sharp absorption of Eu, Ho, and Er, clear coloring was observed on the glass substrate containing any one of Nd, Pr, Sm, Eu, Ho, and Er among the rare earth elements. In the evaluation by visual observation under an incandescent lamp, it was found that Pr was yellowish-green, Nd was purple, and Sm and Eu were very pale but yellow and pink, respectively. Er and Ho were also colored pink. The glass substrate containing another rare earth element was colorless and no coloring was observed.
【0032】これらの基板に対するガラス基板の歩留ま
りを評価すると、明瞭な着色の見られたPr、Nd、H
o、Erでは加工や洗浄時などに起こる不良、つまり傷
などの損傷による不良が着色していないものに比べて少
なく、歩留まりが95%以上となった。これは、着色し
たガラス基板は、加工工程や洗浄工程などにおいて透明
なガラス基板よりも目視確認し易いため、取扱いが容易
なことからガラス基板に処理作業中に誤って傷をつける
などガラス基板の損傷の発生を抑制できることにより、
歩留まりが向上したと考えられる。When the yield of the glass substrate with respect to these substrates was evaluated, Pr, Nd, H
In the cases of o and Er, defects occurring during processing or cleaning, that is, defects due to damage such as scratches were smaller than those not colored, and the yield was 95% or more. This is because the colored glass substrate is easier to check visually than the transparent glass substrate in the processing step and the cleaning step, and is easy to handle. By suppressing the occurrence of damage,
It is considered that the yield has improved.
【0033】また、表には示していないが比較例として
Niを含有する着色性の高いガラス基板について評価し
たところ、このNiを含有する基板は、透過率が47%
と低く、ガラス中に存在する気泡、またはガラス基板の
原料の熔融時に坩堝を構成する成分つまり炉材のガラス
中への溶損などを発見することが難しく、ガラス基板の
表面に気泡や炉材などが残存することにより歩留まりが
低かった。Although not shown in the table, a glass substrate having a high coloring property containing Ni was evaluated as a comparative example. The Ni-containing substrate had a transmittance of 47%.
It is difficult to find bubbles existing in the glass, or the components that make up the crucible when melting the raw materials of the glass substrate, that is, erosion of the furnace material into the glass. Yield was low due to the remaining.
【0034】このように、透過率とガラス基板及び磁気
ディスクの歩留まりとの間に明瞭な相関関係が見られ
る。透過率が50%未満となると、ガラス基板中に残存
する気泡や炉材の混入が発見し難く、歩留まり低下の要
因となる。また、ガラス基板の透過率が85%を越える
と、ガラス基板が視認し難くなるため、加工や洗浄作業
においてガラス基板の取扱いが難しくなり、誤って傷を
付けてしまうなどの加工不良が増加する。したがって、
ガラス基板の透過率は、視認するのに十分に着色され、
かつガラス基板中に残存する気泡や炉材の混入を発見し
易い、つまり不良を発見しやすいガラス基板を得る上
で、50%以上85%以下とする必要がある。さらに、
このような光学的な特性を達成するためにガラス基板に
添加する希土類元素は、Pr、Nd、Sm、Eu、E
r、またはHoが好ましいことが分かった。このうち、
Pr、Nd、Er、またはHoであれば着色が顕著であ
るためより好ましい。Thus, a clear correlation is seen between the transmittance and the yield of the glass substrate and the magnetic disk. If the transmittance is less than 50%, bubbles remaining in the glass substrate and mixing of furnace materials are hard to be found, which causes a reduction in yield. Further, when the transmittance of the glass substrate exceeds 85%, the glass substrate becomes difficult to visually recognize, so that it is difficult to handle the glass substrate in processing and cleaning work, and processing defects such as accidental scratching increase. . Therefore,
The transmittance of the glass substrate is colored enough to be seen,
In addition, in order to obtain a glass substrate in which bubbles and furnace materials remaining in the glass substrate can be easily found, that is, defects can be easily found, the content needs to be 50% or more and 85% or less. further,
Rare earth elements added to the glass substrate to achieve such optical characteristics include Pr, Nd, Sm, Eu, and E.
r or Ho was found to be preferred. this house,
Pr, Nd, Er or Ho is more preferable because coloring is remarkable.
【0035】一方、表1に示すように、磁気ディスクの
特性において、磁化の特性は、希土類元素のうちSc、
Y、Laのいずれか1つを含むガラス基板を用いて形成
した磁気ディスクでは、ガラス基板の磁化の大きさが1
0−4emu/ccのオーダーであり、他の希土類元素
を含むガラス基板を用いて形成した磁気ディスクに比べ
て、極めて小さい磁化量であった。希土類元素としてS
mを含むガラス基板を用いて形成した磁気ディスクで
は、磁化は反磁性的な挙動を示しており、−4×10
−4emu/ccとなった。希土類元素としてPr、N
d、Euのいずれか1つを含むガラス基板を用いて形成
した磁気ディスクでは、1.0〜3.0×10 −3emu
/ccのオーダーであった。On the other hand, as shown in Table 1,
In the characteristics, the magnetization characteristics are Sc, of the rare earth elements,
Formed using a glass substrate containing any one of Y and La
In the magnetic disk, the magnitude of magnetization of the glass substrate is 1
0-4on the order of emu / cc and other rare earth elements
Compared to magnetic disks formed using glass substrates containing
Thus, the amount of magnetization was extremely small. S as rare earth element
With a magnetic disk formed using a glass substrate containing m
Indicates that the magnetization shows a diamagnetic behavior, and -4 × 10
-4emu / cc. Pr, N as rare earth elements
Formed using a glass substrate containing either d or Eu
1.0 to 3.0 × 10 -3emu
/ Cc.
【0036】希土類元素としてGd、Tb、Dy、H
o、Er、Tm、Ybのいずれか1つを含むガラス基板
を用いて形成した磁気ディスクでは、5×10−3〜2
×10 −2emu/ccと、磁化の値が他の希土類元素
を含む場合に比べて大きくなっていた。磁化の固体差を
示す磁化の標準偏差を評価したところ、磁化の大きさの
大きいものほど磁化の標準偏差が大きくなっていた。こ
れは、磁化の大きさの大きいものほどガラス基板による
磁化のばらつきが大きくなっていることを示す。特に、
磁化の大きさが3×10−3emu/ccを超えるG
d、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Ybのいずれか1
つを希土類元素として含むガラス基板を用いた磁気ディ
スクでは、磁化の標準偏差が1×10−3emu/cc
以上となり、ガラス基板による磁気特性のばらつきが大
きくなった。Gd, Tb, Dy, H as rare earth elements
Glass substrate containing any one of o, Er, Tm, and Yb
In a magnetic disk formed by using-3~ 2
× 10 -2emu / cc and the value of magnetization is other rare earth element
Was larger than the case where The difference in magnetization
When the standard deviation of the magnetization shown was evaluated, the magnitude of the magnetization
The larger the value, the larger the standard deviation of magnetization. This
This is because the larger the magnetization, the more the glass substrate
This indicates that the variation in magnetization is large. In particular,
Magnetization size is 3 × 10-3G exceeding emu / cc
Any one of d, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, and Yb
Magnetic disk using a glass substrate containing
In the disk, the standard deviation of magnetization is 1 × 10-3emu / cc
As described above, the variation in the magnetic characteristics due to the glass substrate is large.
I got it.
【0037】磁気記録再生特性による磁気ディスクの歩
留まりを見ると、磁化が3×10− 3emu/cc以下
で、磁化の標準偏差が1×10−3emu/cc未満の
磁気ディスクでは、十分な磁気特性の得られる磁気ディ
スクが90%以上と良好であった。しかし、磁化が3×
10−3emu/ccを超え、かつ磁化の標準偏差が1
×10−3emu/cc以上となる磁気ディスクでは、
歩留まりが80%以下と低下していることが分かった。
これは、ガラス基板に含有される希土類元素の僅かな固
体差によってガラス基板の磁気特性が変化し、これによ
り標準偏差が大きくなったため、一定の磁界で記録した
際の記録にばらつきが生じたものと考えられる。[0037] Looking at the yield of the magnetic disk by the magnetic recording and reproducing characteristics, the magnetization is 3 × 10 - below 3 emu / cc, the magnetic disk of a standard deviation of less than 1 × 10 -3 emu / cc in magnetization, sufficient The magnetic disk from which magnetic properties were obtained was as good as 90% or more. However, the magnetization is 3 ×
Exceeds 10 −3 emu / cc and the standard deviation of magnetization is 1
For a magnetic disk having a capacity of × 10 −3 emu / cc or more,
It was found that the yield was reduced to 80% or less.
This is because the magnetic properties of the glass substrate changed due to a slight solid-state difference of the rare earth element contained in the glass substrate, and the standard deviation became large, resulting in variations in recording when recording with a constant magnetic field. it is conceivable that.
【0038】このように、磁化の大きさが3×10−3
emu/cc以下であれば磁気記録再生のばらつきが比
較的小さい磁気ディスクが得られた。磁化の大きさが3
×10−3emu/ccを超えると磁気記録再生特性の
ガラス基板毎のばらつきが大きくなるため、好ましくな
い。したがって、ガラス基板が磁気ディスクの磁化に与
える影響を低減する上で、磁化の大きさが3×10−3
emu/cc以下にすることが必要である。さらに、こ
のような磁気特性を得る上で、希土類元素としてSc、
Y、La、Pr、Nd、Sm、Euのいずれか1つをガ
ラス基板に含有させることが好ましい。Thus, the magnitude of the magnetization is 3 × 10 −3.
If it is less than emu / cc, a magnetic disk having a relatively small variation in magnetic recording / reproduction was obtained. Magnitude of 3
If it exceeds × 10 −3 emu / cc, the dispersion of the magnetic recording / reproducing characteristics among the glass substrates increases, which is not preferable. Therefore, in order to reduce the influence of the glass substrate on the magnetization of the magnetic disk, the magnitude of the magnetization is 3 × 10 −3.
It is necessary to be less than emu / cc. Further, in order to obtain such magnetic characteristics, Sc, as a rare earth element,
It is preferable that any one of Y, La, Pr, Nd, Sm, and Eu is contained in the glass substrate.
【0039】ガラス基板の歩留まりに与える影響、及び
磁気特性が磁気ディスク装置の記録再生特性に及ぼす影
響を考慮して総合歩留まりを評価した。その結果、ガラ
ス基板の歩留まりに与える影響、及び磁気特性が記録再
生特性に及ぼす影響ともに十分な結果を示し、総合歩留
まりが80%以上となったPr、Nd、Sm、Euのう
ちのいずれか1つを希土類元素として含むガラス基板と
すれば、ガラス基板の品質を向上できる。さらに、総合
歩留まりが90%となるPrを希土類元素として含むガ
ラス基板とすれば、ガラス基板の品質をより向上するこ
とができる。The total yield was evaluated in consideration of the effect on the yield of the glass substrate and the effect of the magnetic characteristics on the recording / reproducing characteristics of the magnetic disk drive. As a result, both the effect on the yield of the glass substrate and the effect of the magnetic characteristics on the recording / reproducing characteristics showed satisfactory results, and any one of Pr, Nd, Sm, and Eu having an overall yield of 80% or more was obtained. If the glass substrate contains one as a rare earth element, the quality of the glass substrate can be improved. Furthermore, if a glass substrate containing Pr as a rare earth element that provides an overall yield of 90% is used, the quality of the glass substrate can be further improved.
【0040】さらに、希土類酸化物の種類と希土類酸化
物の添加量の関係について調べた。着色に関して、表1
で透明であった希土類元素を含むガラス基板では、希土
類元素の含有量を増減させてもガラス基板の透過率に変
化は見られなかった。このため、ガラス基板を着色させ
た希土類元素のうち、Pr、Er、Smについて、その
含有量を変化させたガラス基板を作製し、表1と同様の
検討を行った。表2に、その検討した結果を示す。Further, the relationship between the type of rare earth oxide and the amount of rare earth oxide added was examined. For coloring, Table 1
In the glass substrate containing a rare earth element which was transparent in the above, no change was observed in the transmittance of the glass substrate even when the content of the rare earth element was increased or decreased. For this reason, among the rare earth elements that colored the glass substrate, Pr, Er, and Sm were prepared with glass substrates having different contents, and the same examination as in Table 1 was performed. Table 2 shows the results of the study.
【0041】[0041]
【表2】 Prの含有量を変化させていったところ、試料No.1
7のPr2O3を0.7重量%含有するガラス基板で
は、マイクロビッカース硬さが低く、ガラスの機械的強
度が低いため、研磨傷やかけなどの不良が多く、ガラス
基板の歩留まりが82%と低かった。Pr2O3を1重
量%含有する試料No.16、及びPr2O3を1.5
〜7重量%含有する試料No.18〜21では、マイク
ロビッカース硬さは高い値を示しており、着色、磁気特
性ともに十分であった。この事から、試料No.16、
及び試料No.18〜21のガラス基板は、総合歩留ま
りも90%を超えており、良好な結果となった。[Table 2] When the content of Pr was changed, sample No. 1
The glass substrate containing 0.7% by weight of Pr 2 O 3 of No. 7 has low micro Vickers hardness and low mechanical strength of the glass, so there are many defects such as polishing scratches and spatters, and the yield of the glass substrate is 82. % Was low. Sample No. 1 containing 1% by weight of Pr 2 O 3 . 16, and Pr 2 O 3 at 1.5
No. 7% by weight. In Nos. 18 to 21, the micro Vickers hardness showed a high value, and both the coloring and the magnetic properties were sufficient. From this, the sample No. 16,
And sample no. For the glass substrates of Nos. 18 to 21, the total yield exceeded 90%, and good results were obtained.
【0042】一方、試料No.22のようにPr2O3
含有量が7重量%を超えるものでは、着色に関しては問
題無いものの、磁気ディスクの磁化が3×10−3em
u/ccを超える値となった。このため、磁化のばらつ
きが大きくなり、磁気ディスクの歩留まりが80%を下
回り十分な結果が得られなかった。さらに、試料No.
23のようにPr2O3含有量が10.5重量%のガラ
ス基板では、ガラス中の希土類元素が均一にガラス中に
溶解せず、不良品数が増大し、歩留まりが15%と低い
ため、ガラス基板としては好ましくなかった。On the other hand, as shown in sample No. 22, Pr 2 O 3
When the content exceeds 7% by weight, there is no problem with regard to coloring, but the magnetization of the magnetic disk is 3 × 10 −3 em.
The value exceeded u / cc. For this reason, the variation in magnetization became large, and the yield of the magnetic disk was less than 80%, and a sufficient result was not obtained. Further, the sample No.
In a glass substrate having a Pr 2 O 3 content of 10.5% by weight, such as 23, rare earth elements in the glass are not uniformly dissolved in the glass, the number of defective products increases, and the yield is as low as 15%. It was not preferable as a glass substrate.
【0043】希土類元素としてErを含有させたガラス
基板では、Er2O3含有量が0.5重量%の試料N
o.25では、マイクロビッカース硬さが小さいため、
十分な強度のガラス基板が得られず、ガラス基板の歩留
まりが悪かった。このとき、磁気ディスクの磁化の値が
3.1×10−3emu/ccと高く、磁気ディスクと
しての歩留まりも低下していた。Er2O3含有量を1
重量%から増加させていくと、マイクロビッカース硬さ
も高くなると共に、透過率が低くなるため、ガラス基板
の歩留まりは上昇するものの、磁化が依然として3×1
0−3emu/ccを超えるため、磁気ディスクの歩留
まりが悪かった。このように、希土類元素としてErを
用いた場合では、ガラス基板としての硬さや光学特性、
磁気ディスクとしての磁気特性の両方を同時に満たす組
成範囲が存在しないことが分かった。On the glass substrate containing Er as a rare earth element, the sample N having an Er 2 O 3 content of 0.5% by weight was used.
o. In 25, the micro Vickers hardness is small,
A glass substrate with sufficient strength could not be obtained, and the yield of the glass substrate was poor. At this time, the magnetization value of the magnetic disk was as high as 3.1 × 10 −3 emu / cc, and the yield as the magnetic disk was also low. Er 2 O 3 content of 1
When the weight percentage is increased, the micro Vickers hardness increases and the transmittance decreases, so that the yield of the glass substrate increases, but the magnetization is still 3 × 1.
Since more than 0 -3 emu / cc, yield of the magnetic disk was bad. As described above, when Er is used as the rare earth element, the hardness and optical characteristics of the glass substrate,
It has been found that there is no composition range that simultaneously satisfies both magnetic properties as a magnetic disk.
【0044】希土類元素としてSmを含有させたガラス
基板では、ガラス基板の光学的特性については、Sm2
O3含有量が2.5重量%以上であると透過率が85%
以下で適正な範囲となった。磁気ディスクとしての磁気
特性は、Sm2O3を10重量%含有させても適正であ
ったが、Sm2O3の含有量が10重量%を超えるとP
rの場合と同様にガラス中に残存原料が残るため好まし
くなかった。For a glass substrate containing Sm as a rare earth element, the optical characteristics of the glass substrate are as follows: Sm 2
When the O 3 content is 2.5% by weight or more, the transmittance is 85%.
Below is the appropriate range. Magnetic properties of a magnetic disk, which was also a fair the Sm 2 O 3 is contained 10% by weight, the content of Sm 2 O 3 exceeds 10 wt% P
As in the case of r, the residual raw material remains in the glass, which is not preferable.
【0045】同様に、希土類元素としてNd,Eu,H
oを含有させたガラス基板について検討を行ったとこ
ろ、Nd、Euについては、Smと同様の結果が得られ
たが、NdまたはEuの含有量が8重量%を越えると磁
気ディスクとしての磁気特性が低下し好ましくなかっ
た。Hoについては、希土類元素としてErを含むガラ
ス基板と同じく、ガラス基板の光学的特性と磁気ディス
クとしての磁気特性の両者を同時に満たす組成範囲が存
在しなかったたため、好ましい結果が得られなかった。Similarly, rare earth elements such as Nd, Eu, H
When a glass substrate containing o was examined, the same results were obtained for Nd and Eu as for Sm, but when the content of Nd or Eu exceeded 8% by weight, the magnetic properties as a magnetic disk were Decreased, which was not preferable. Regarding Ho, as in the case of the glass substrate containing Er as a rare earth element, there was no composition range that satisfied both the optical characteristics of the glass substrate and the magnetic characteristics of the magnetic disk at the same time, so that a favorable result was not obtained.
【0046】このように、希土類元素としてPr、N
d、Sm、Euを含有させ、含有させる希土類酸化物の
濃度を1重量%以上8重量%以下にすることにより、ガ
ラス基板の光学的特性において、ガラス基板の視認性を
向上してガラス基板の加工時などに生じる傷やかけなど
の不良の発生を低減し、また、品質検査などにおけるガ
ラス基板中の気泡、脈理、異物、傷、かけなどの不良の
発見を容易にできる。さらに、磁気ディスクや光磁気デ
ィスクとした場合の磁気特性において、ガラス基板の磁
化を低減できるため、磁気ディスクや光磁気ディスクに
加工された場合の磁化特性に与えるガラス基板の影響を
低減できる。したがって、ガラス基板の品質を向上でき
る。As described above, Pr and N are rare earth elements.
By containing d, Sm, and Eu, and making the concentration of the rare earth oxide contained 1% by weight or more and 8% by weight or less, the optical characteristics of the glass substrate improve the visibility of the glass substrate and improve the visibility of the glass substrate. It is possible to reduce the occurrence of defects such as scratches and chips generated during processing, and to easily find defects such as bubbles, striae, foreign matter, scratches and chips in the glass substrate in quality inspection and the like. Furthermore, since the magnetization of the glass substrate can be reduced in the magnetic characteristics of a magnetic disk or a magneto-optical disk, the influence of the glass substrate on the magnetic characteristics of the magnetic disk or magneto-optical disk can be reduced. Therefore, the quality of the glass substrate can be improved.
【0047】さらに、希土類元素としてPrを含ませ、
その希土類酸化物の濃度を1.5重量%以上5.2重量%
以下とすれば、総合歩留まりが90%以上となり、ガラ
ス基板の品質を一層向上できる。Further, Pr is contained as a rare earth element,
The concentration of the rare earth oxide is 1.5% by weight to 5.2% by weight.
If it is below, the total yield is 90% or more, and the quality of the glass substrate can be further improved.
【0048】また、希土類元素としてPr、Ndのいず
れか1つを含ませる場合以外の場合で、希土類元素とし
てSmを含ませる場合には、その希土類酸化物の濃度が
2.5重量%以上9重量%以下、希土類元素としてEu
を含ませる場合には、その希土類酸化物の濃度が2.5
重量%以上8重量%以下とすることもできる。In the case other than the case where one of Pr and Nd is contained as the rare earth element, and when the Sm is contained as the rare earth element, the concentration of the rare earth oxide is not less than 2.5% by weight and 9%. Wt% or less, Eu as a rare earth element
Is contained, the concentration of the rare earth oxide is 2.5.
It may be not less than 8% by weight and not more than 8% by weight.
【0049】なお、希土類元素であるPr、Nd、S
m、Euの含有量が1重量%よりも少ないと、ガラス基
板のマイクロビッカース硬さなどで示される機械的強度
が低下したり、透過率が高くなり過ぎ、ガラス基板の歩
留まりが低下する。すなわち、ガラス基板の傷やかけな
どによる不良が増大することとなり、ガラス基板の品質
の低下を招く結果となった。一方、希土類元素の含有量
が8重量%よりも多いと、ガラス基板の磁化の値が増大
し、磁気ディスクや光磁気ディスクに加工された場合に
磁気ディスクや光磁気ディスクの磁化特性のばらつきを
増大させてしまい、ガラス基板とこのガラス基板を用い
た磁気ディスクや光磁気ディスクの品質を低下させてし
まうため好ましくない。さらに、希土類元素の含有量が
8重量%よりも多いと、ガラス中に原料が残存するばあ
いがあるため、ガラス基板の品質が低下し好ましくな
い。The rare earth elements Pr, Nd, S
If the content of m and Eu is less than 1% by weight, the mechanical strength of the glass substrate, such as the micro-Vickers hardness, decreases, or the transmittance becomes too high, and the yield of the glass substrate decreases. That is, defects due to scratches, sprinkling, etc. of the glass substrate are increased, and the quality of the glass substrate is reduced. On the other hand, when the content of the rare earth element is more than 8% by weight, the magnetization value of the glass substrate increases, and when processed into a magnetic disk or a magneto-optical disk, the variation in the magnetization characteristics of the magnetic disk or the magneto-optical disk is reduced. This is not preferable because it increases the quality of the glass substrate and the quality of a magnetic disk or a magneto-optical disk using the glass substrate. Further, when the content of the rare earth element is more than 8% by weight, the quality of the glass substrate is deteriorated because the raw material may remain in the glass, which is not preferable.
【0050】次に、情報記録ディスク用ガラス基板とし
て適切なガラス組成について検討するため、ガラスの安
定性、ガラス基板のアルカリ溶出量、ガラス基板表面の
マイクロビッカース硬度、円環強度、高温高湿試験につ
いて検討した結果を表3に示す。表3に示す各試料にお
いて、添加する希土類元素としてPrを用いた。なお、
表3のガラス組成の中で、R2OとはLi2O、Na2
O、そしてK2Oを合わせた全アルカリ金属酸化物の含
有量を示す。Next, in order to examine a glass composition suitable for a glass substrate for an information recording disk, the stability of the glass, the amount of alkali elution from the glass substrate, the micro Vickers hardness of the glass substrate surface, the ring strength, the high-temperature high-humidity test Table 3 shows the results of the examination. In each sample shown in Table 3, Pr was used as a rare earth element to be added. In addition,
In the glass compositions in Table 3, R 2 O is Li 2 O, Na 2
The total alkali metal oxide content including O and K 2 O is shown.
【0051】[0051]
【表3】 ここで、ガラスの安定性では、ガラス溶解後に気泡、脈
理、異物などが顕著に見られたものは×とし、気泡、脈
理、異物などが見られず、清澄で均質なガラスが得られ
た場合は○とした。ガラス基板のアルカリ溶出量は、試
料となる各ガラス基板を70℃の純水80ml中に24
時間浸漬し、この純水中にガラス基板から溶出したアル
カリの成分量を水中の濃度で評価した。円環強度は、試
料となる2.5″のガラス基板の上面側に、外径22m
mφの円環状の部材を載せ、ガラス基板の下面側に内径
63mmφ、外径65mmφの円環状の部材を設置した
後、これらの円環状の部材に荷重をかけてガラス基板の
破壊強度を測定した。[Table 3] Here, with respect to the stability of the glass, those in which bubbles, striae, foreign matter, etc. were remarkably observed after melting the glass were evaluated as x, and clear, homogeneous glass was obtained without bubbles, striae, foreign matter, etc. When it was, it was marked as ○. The amount of alkali eluted from the glass substrate was determined by placing each glass substrate as a sample in 80 ml of 70 ° C. pure water.
After immersion in the pure water, the amount of alkali components eluted from the glass substrate in the pure water was evaluated based on the concentration in the water. The ring strength is 22 m in outer diameter on the upper surface side of a 2.5 ″ glass substrate as a sample.
After placing an annular member of mφ and placing an annular member having an inner diameter of 63 mmφ and an outer diameter of 65 mmφ on the lower surface side of the glass substrate, a load was applied to these annular members to measure the breaking strength of the glass substrate. .
【0052】高温高湿試験では、得られたガラス基板を
用いて前述と同様に磁気ディスクを作製し、作製した磁
気ディスクを図3に示すような磁気ディスク装置に搭載
して実施した。高温高湿試験によるエラーレートの上昇
などの問題が生じたドライブの割合が1%以上の場合は
×を、1%以下の場合は○を記した。高温高湿試験は、
温度60℃、湿度90%の環境に48時間置く条件で行
った。In the high-temperature and high-humidity test, a magnetic disk was manufactured using the obtained glass substrate in the same manner as described above, and the manufactured magnetic disk was mounted on a magnetic disk device as shown in FIG. When the percentage of drives in which a problem such as an increase in the error rate due to the high-temperature and high-humidity test occurred was 1% or more, X was marked, and when it was 1% or less, O was marked. High temperature and high humidity test
The test was performed under the conditions of a temperature of 60 ° C. and a humidity of 90% for 48 hours.
【0053】まず、Li2O、Na2O、K2Oを合わ
せた全アルカリ酸化物量(表中のR 2O)を変化させた
試料を表3のNo.42〜48に示す。試料No.4
2、43のようにアルカリ金属酸化物の含有量が少ない
と、ガラスの熔融温度が高くなりすぎ、1600℃の熔
融温度では脈理や気泡が多く見られと共に、原料の残存
が確認された。試料No.44のようにアルカリ金属酸
化物の含有量が10重量%では、脈理などは観察されな
い均質なガラスブロックが得られた。すなわち、アルカ
リ酸化物含有量は10重量%以上であれば均質なガラス
ブロックが得られる。First, Li2O, Na2O, K2Match O
Total alkali oxide amount (R in the table) 2O) changed
The sample was designated as No. 3 in Table 3. 42 to 48. Sample No. 4
Low content of alkali metal oxides as in 2, 43
The melting temperature of the glass becomes too high,
At the melting temperature, striae and bubbles are often seen, and the raw material remains
Was confirmed. Sample No. Alkali metal acid like 44
When the content of the compound is 10% by weight, striae are not observed.
A homogeneous glass block was obtained. That is, Arca
Homogeneous glass if the oxide content is 10% by weight or more
Blocks are obtained.
【0054】一方、R2Oの量を増加させていくと、ア
ルカリ溶出量が徐々に増加し、マイクロビッカース硬
さ、円環強度とも低下してく傾向が見られた。試料N
o.44、45のガラスでは、アルカリ溶出量が0.1m
g/l以下となり、このとき高温高湿試験においても良
好な結果が得られた。試料No.46〜48のR2Oの
含有量が13重量%を超えるガラス基板を用いた場合、
磁気ディスク装置の高温高湿試験においてエラーレート
が増大するものが若干生じた。これは、高温高湿状態に
ガラス基板を保持することによってガラス基板中からア
ルカリ元素がガラス基板の表面に析出し、ガラス基板か
ら磁性膜が剥離することでエラーが生じたものと考えら
れる。On the other hand, as the amount of R 2 O was increased, the amount of alkali elution gradually increased, and the micro Vickers hardness and the ring strength tended to decrease. Sample N
In the case of o.44 and 45 glasses, the alkali elution amount is 0.1 m.
g / l or less, and good results were obtained in the high-temperature and high-humidity test. Sample No. When a glass substrate having a content of R 2 O of 46 to 48 exceeding 13% by weight is used,
In the high-temperature and high-humidity test of the magnetic disk drive, some error rates increased. This is presumably because an alkali element precipitated from the glass substrate on the surface of the glass substrate by holding the glass substrate in a high-temperature and high-humidity state, and an error occurred because the magnetic film was separated from the glass substrate.
【0055】このようなアルカリ溶出量と高温高湿試験
の結果からわかるように、アルカリ溶出量が0.1mg
/l以下にすることで、ガラス基板表面でのアルカリの
析出によって磁性膜などのガラス基板への密着性を損な
うことがないため、エラーレートの増加を抑制すること
ができる。つまり、ガラス基板表面に形成した層または
膜などの剥離を抑制できるため、ガラス基板の品質を向
上できる。このとき、アルカリ溶出量を0.1mg/l
以下にするためには、アルカリ金属酸化物の含有量が1
0重量%以上13重量%以下にする。As can be seen from the alkali elution amount and the results of the high temperature and high humidity test, the alkali elution amount was 0.1 mg.
By setting the ratio to / l or less, adhesion of the magnetic film or the like to the glass substrate is not impaired by precipitation of alkali on the surface of the glass substrate, so that an increase in the error rate can be suppressed. That is, peeling of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate can be suppressed, so that the quality of the glass substrate can be improved. At this time, the alkali elution amount was 0.1 mg / l.
In order to make the content below, the content of the alkali metal oxide is 1
The content should be 0% by weight or more and 13% by weight or less.
【0056】B2O3の含有量について試料No.62
〜64などのガラス基板より検討した。B2O3の含有
量が15重量%を超えている試料No.62のガラス基
板では、ガラスが不安定となり脈理が顕著に生成し、均
質なガラス基板を得ることができなかった。B2O3の
含有量が15重量%の試料No.63のガラス基板で
は、安定性を有するガラスが得られ、気泡や脈理が少な
く均質なガラス基板が得られた。B2O3の含有量が4
重量%の試料No.65のガラス基板では、化学的安定
性が低下し、アルカリ溶出量が0.1mg/lを超える
ため、高温高湿試験で不良となるドライブが見られた。
一方、B2O3の含有量が5重量%の試料No.64の
ガラス基板では、アルカリ溶出量が0.1mg/l未満
であったため、高温高湿試験で不良となる磁気ディスク
装置の割合が比較的少なく、化学的に安定なガラス基板
を得ることができた。Regarding the content of B 2 O 3 , sample No. 62
It examined from glass substrates, such as -64. Samples B 2 O 3 content exceeds 15 wt% No. In the glass substrate of No. 62, the glass became unstable and striae were remarkably generated, and a homogeneous glass substrate could not be obtained. Sample No. B content of 15 wt% of B 2 O 3 With the glass substrate of No. 63, a glass having stability was obtained, and a uniform glass substrate with few bubbles and stria was obtained. B 2 O 3 content of 4
% Of the sample No. In the case of the glass substrate No. 65, the chemical stability was lowered, and the alkali elution amount exceeded 0.1 mg / l.
On the other hand, in sample No. having a B 2 O 3 content of 5% by weight. In the glass substrate No. 64, since the alkali elution amount was less than 0.1 mg / l, the ratio of magnetic disk devices that failed in the high-temperature high-humidity test was relatively small, and a chemically stable glass substrate could be obtained. Was.
【0057】このように、B2O3の含有量は5重量%
以上15重量%未満とすれば、アルカリ溶出量が0.1
mg/l以下となるため、ガラス基板の表面に形成した
層や膜の剥離を抑制し、かつ清澄で均質なガラス基板を
得ることができるため、ガラス基板の品質を向上でき
る。なお、B2O3の含有量が5重量%未満であると、
磁気ディスク装置にした場合の高温高湿試験において、
エラーレートの増大するものが散見された。B2O3の
含有量が15重量%を超えると、ガラス基板のガラス安
定性が低下し、気泡や脈理などにより均質なガラス基板
を得ることが難しかった。As described above, the content of B 2 O 3 is 5% by weight.
If it is less than 15% by weight, the alkali elution amount is 0.1%.
mg / l or less, peeling of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate can be suppressed, and a clear and uniform glass substrate can be obtained, so that the quality of the glass substrate can be improved. When the content of B 2 O 3 is less than 5% by weight,
In a high-temperature and high-humidity test using a magnetic disk drive,
Increased error rates were scattered. When the content of B 2 O 3 exceeds 15% by weight, the glass stability of the glass substrate is lowered, and it is difficult to obtain a uniform glass substrate due to bubbles and striae.
【0058】SiO2の含有量について試料No.49
〜54などのガラス基板により検討した。SiO2の含
有量が49.5重量%の試料No.49ガラス基板で
は、マイクロビッカース硬度、円環強度が十分でなく、
情報記録ディスク用ガラス基板として十分な品質ではな
かった。しかし、試料No.50に示すようにSiO2
の含有量が50重量%以上であれば、マイクロビッカー
ス硬さが650を超えるため、ガラス基板として適切で
あった。また、試料No.54のようにSiO2の含有
量が70重量%を超えると、ガラス溶解時に気泡などの
発生が顕著になるので好ましくなかった。一方、試料N
o.53のようにSiO2の含有量が70重量%では、
気泡、脈理などの発生がなく、十分な耐水性と機械的強
度を有するガラス基板が得られた。Regarding the content of SiO 2 , sample No. 49
It examined by the glass substrate, such as -54. Sample No. having a SiO 2 content of 49.5% by weight. With 49 glass substrate, micro Vickers hardness and ring strength are not enough,
The quality was not sufficient as a glass substrate for an information recording disk. However, the sample No. As shown in 50 SiO 2
Is 50% by weight or more, the micro Vickers hardness exceeds 650, so that the glass substrate was suitable. In addition, the sample No. If the content of SiO 2 exceeds 70% by weight as in 54, the generation of air bubbles and the like during glass melting becomes remarkable, which is not preferable. On the other hand, sample N
o. When the content of SiO 2 is 70% by weight as in 53,
A glass substrate free of bubbles, striae, and the like and having sufficient water resistance and mechanical strength was obtained.
【0059】このように、SiO2の含有量は50重量
%以上70重量%以下とすれば、情報記録ディスク用ガ
ラス基板として十分な耐水性と機械的強度を有するガラ
ス基板を得ることができる。なお、SiO2の含有量が
50重量%未満では、マイクロビッカース強度などの機
械的強度が低下するため好ましくない。また、SiO 2
の含有量が70重量%を超えると気泡、脈理などが発生
し、清澄で均質なガラスを得難いので好ましくない。As described above, the SiOTwoContent is 50 weight
% Or more and 70% by weight or less,
Glass with sufficient water resistance and mechanical strength as a glass substrate
Substrate can be obtained. Note that SiOTwoContent of
If it is less than 50% by weight, it may be difficult to use micro-Vickers strength
It is not preferable because mechanical strength is reduced. In addition, SiO Two
If the content exceeds 70% by weight, bubbles and striae are generated.
However, it is difficult to obtain a clear and homogeneous glass, which is not preferable.
【0060】Al2O3の含有量について試料No.5
9〜65などのガラス基板により検討した。試料No.
59のAl2O3の含有量が26重量%であるガラス基
板では、ガラスの熔融温度が高くなりすぎ、1600℃
の熔融ではガラスの原料が残存してしまうため好ましく
なかった。しかし、試料No.58のAl2O3の含有
量が25重量%のガラス基板では、清澄なガラスを得る
ことができた。このとき、マイクロビッカース硬度、円
環強度ともガラス基板として十分な値を示した。一方、
Al2O3の含有量が10重量%の試料No.60のガ
ラス基板でも、マイクロビッカース硬度、円環強度共に
ガラス基板として十分な値を示し、かつ清澄なガラス基
板が得られた。しかし、Al2O3の含有量が9重量%
のガラス基板では、ガラス中に脈理などの不均質が生
じ、清澄なガラスを得ることができなかった。With respect to the content of Al 2 O 3 , 5
The study was conducted using glass substrates such as 9 to 65. Sample No.
In a glass substrate having an Al 2 O 3 content of 26% by weight, the melting temperature of the glass was too high and 1600 ° C.
Is undesirable because the glass material remains. However, the sample No. With a glass substrate having an Al 2 O 3 content of 25% by weight, a clear glass could be obtained. At this time, both the micro Vickers hardness and the ring strength showed sufficient values for a glass substrate. on the other hand,
Sample No. 1 having a content of Al 2 O 3 of 10% by weight. Even with a glass substrate of 60, both micro Vickers hardness and ring strength showed sufficient values as a glass substrate, and a clear glass substrate was obtained. However, the content of Al 2 O 3 is 9% by weight.
In the case of the glass substrate, inhomogeneity such as striae occurred in the glass, and a clear glass could not be obtained.
【0061】このように、Al2O3の含有量が10重
量%以上25重量%以下とすれば、情報記録ディスク用
ガラス基板として十分な機械的強度を有し、かつ十分な
安定性を有するガラス基板、つまり清澄で均質なガラス
基板が得られた。なお、Al 2O3の含有量が10重量
%未満であると、清澄で均質なガラス基板が得られなか
った。一方、Al2O3の含有量が25重量%を超えた
ときも、ガラス中に原料成分が残存し、清澄なガラスを
得ることができなかった。As described above, AlTwoO3Content of 10
If the amount is from 25% by weight to 25% by weight,
Having sufficient mechanical strength as a glass substrate
A stable glass substrate, that is, a clear and homogeneous glass
A substrate was obtained. In addition, Al TwoO3Content of 10 weight
%, A clear and homogeneous glass substrate cannot be obtained
Was. On the other hand, AlTwoO3Content exceeded 25% by weight
Sometimes, raw materials remain in the glass and clear glass
I couldn't get it.
【0062】アルカリ金属酸化物のうちLi2Oの含有
量とNa2Oの含有量とに着目し、組成比について試料
No.66〜68などのガラス基板により検討した。表
3には、Li2O/Na2O比として記載している。L
i2O/Na2O比を0.62とした試料No.66の
ガラス基板では、Liが顕著にガラス基板から溶出した
ものと考えられ、アルカリ溶出量が0.1mg/lを大
きく越えていた。Li 2O/Na2O比を0.38とし
た試料No.68のガラス基板では、試料No.66の
ガラス基板とは逆に、Naがガラス基板から顕著に溶出
したものと考えられ、アルカリ溶出量が0.1mg/l
を大きく越えていた。すなわち、試料No.66、68
のガラス基板では、アルカリ溶出量が多いため十分な化
学的安定性が得られず、ガラス基板の表面に形成した層
や膜の剥離が生じ易い。一方、Li2O/Na2O比を
0.46とした試料No.67のガラス基板では、アル
カリ溶出量が0.1mg/lであるため、十分な化学的
安定性が得られた。さらに、Li2O/Na2O比を
0.57とした試料などでもアルカリ溶出量が0.1mg
/l以下となっている。Of the alkali metal oxides, Li2O content
Amount and Na2Focusing on the O content and the composition ratio
No. The study was performed using glass substrates such as 66 to 68. table
3 contains Li2O / Na2It is described as O ratio. L
i2O / Na2Sample No. with an O ratio of 0.62 66 of
On the glass substrate, Li eluted significantly from the glass substrate
And the alkaline elution amount is 0.1 mg / l
I was over it. Li 2O / Na2O ratio 0.38
Sample No. In the glass substrate No. 68, the sample No. 66 of
Na elutes significantly from glass substrate, contrary to glass substrate
And the alkali elution amount was 0.1 mg / l.
Was greatly exceeded. That is, the sample No. 66, 68
Glass substrates have a large amount of alkali
Layer formed on the surface of the glass substrate due to lack of chemical stability
Or peeling of the film is likely to occur. On the other hand, Li2O / Na2O ratio
Sample No. 0.46 For the 67 glass substrate,
Since the potash elution amount is 0.1 mg / l, sufficient chemical
Stability was obtained. Furthermore, Li2O / Na2O ratio
0.1 mg of alkali eluted even for samples with 0.57
/ L or less.
【0063】したがって、Li2O/Na2O比は0.
4以上0.6以下とすれば、ガラス基板の表面に形成し
た層や膜の剥離をさらに抑制し、ガラス基板の品質をさ
らに向上できる。Therefore, the ratio of Li 2 O / Na 2 O is 0.1.
When the number is 4 or more and 0.6 or less, peeling of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate can be further suppressed, and the quality of the glass substrate can be further improved.
【0064】このように、アルカリ溶出量が0.1mg
/l以下にすること、または、含有するアルカリ金属酸
化物が10重量%以上13重量%以下で、B2O3の含
有量は5重量%以上15重量%未満とすることにより、
ガラス基板の表面に形成した層や膜の剥離を抑制し、か
つ清澄で均質なガラス基板を得ることができるため、ガ
ラス基板の品質を向上できる。さらに、Li2O/Na
2O比は0.4以上0.6以下とすれば、ガラス基板の
表面に形成した層や膜の剥離を確実に抑制し、ガラス基
板の品質をさらに向上できる。As described above, the alkali elution amount was 0.1 mg.
/ L or less, or when the contained alkali metal oxide is 10% by weight or more and 13% by weight or less and the content of B 2 O 3 is 5% by weight or more and less than 15% by weight,
Since the separation of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate can be suppressed and a clear and uniform glass substrate can be obtained, the quality of the glass substrate can be improved. Further, Li 2 O / Na
When the 2O ratio is 0.4 or more and 0.6 or less, peeling of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate is reliably suppressed, and the quality of the glass substrate can be further improved.
【0065】以上説明したように、重量百分率で、50
%以上70%以下のSiO2と、10%以上25%以下
のAl2O3と、1%以上8%以下のLn2O3(LnはP
r、Nd、SmまたはEuを表す)と、B2O3及びR2
O(Rはアルカリ金属元素を表す)の少なくとも1方と
を含む構成のガラス基板とする。これにより、ガラス基
板の視認性を向上してガラス基板の加工時などに生じる
傷やかけなどの不良の発生を低減し、また、品質検査な
どにおけるガラス基板中の気泡、脈理、異物、傷、かけ
などの不良の発見を容易にできる。さらに、磁気ディス
クや光磁気ディスクに用いる場合には、ガラス基板の磁
化を低減できるため、磁気ディスクや光磁気ディスクに
加工された場合の磁化特性に与えるガラス基板の影響を
低減できる。したがって、ガラス基板の品質を向上する
ことができる。As described above, 50% by weight is used.
% To 70% of SiO 2 , 10% to 25% of Al 2 O 3 , and 1% to 8% of Ln 2 O 3 (Ln is P
r, Nd, Sm or Eu), B 2 O 3 and R 2
A glass substrate including at least one of O (R represents an alkali metal element) is used. As a result, the visibility of the glass substrate is improved, and the occurrence of defects such as scratches and sprinkles that occur during processing of the glass substrate is reduced. In addition, bubbles, striae, foreign matter, and scratches in the glass substrate during quality inspection and the like are reduced. It is easy to find a defect such as a hang. Further, when used for a magnetic disk or a magneto-optical disk, since the magnetization of the glass substrate can be reduced, the influence of the glass substrate on the magnetization characteristics when processed into a magnetic disk or a magneto-optical disk can be reduced. Therefore, the quality of the glass substrate can be improved.
【0066】また、Ln2O3を構成するLnがPrであ
れば、不良の発生をより低減でき、不良発見をより容易
化でき、さらに、磁気ディスクや光磁気ディスクに加工
された場合の磁化特性に与える影響をより低減できるこ
とから、ガラス基板の品質をより向上することができ
る。Further, if Ln constituting Ln 2 O 3 is Pr, the occurrence of defects can be further reduced, defects can be more easily found, and the magnetization when processed into a magnetic disk or a magneto-optical disk can be further improved. Since the influence on the characteristics can be further reduced, the quality of the glass substrate can be further improved.
【0067】さらに、波長300nm〜700nmの可
視光における透過率が50%以上85%以下であり、か
つ1kOeの磁界を印加したときの磁化が3×10−3
emu/cc以下とすることでも、不良の発生の低減、
不良発見の容易化、さらに、磁気ディスクや光磁気ディ
スクに加工された場合の磁化特性に与える影響の低減の
面から、ガラス基板の品質を向上することができる。Further, the transmittance of visible light having a wavelength of 300 nm to 700 nm is 50% or more and 85% or less, and the magnetization is 3 × 10 −3 when a magnetic field of 1 kOe is applied.
Emu / cc or less also reduces the occurrence of defects,
The quality of the glass substrate can be improved from the viewpoint of facilitating finding defects and reducing the influence on the magnetic properties when processed into a magnetic disk or a magneto-optical disk.
【0068】さらに、重量百分率で、50%以上70%
以下のSiO2と、10%以上25%以下のAl2O
3と、5%以上15%以下のB2O3と、10%以上13
%以下のR2O(Rはアルカリ金属元素を表す)とを含
む構成とすれば、ガラス基板の表面に形成した層や膜の
剥離を抑制し、かつ清澄で均質なガラス基板を得ること
ができるため、ガラス基板の品質を向上できる。Further, the weight percentage is 50% or more and 70% or more.
The following SiO 2 and 10% or more and 25% or less Al 2 O
3 , 5% to 15% B 2 O 3 , 10% to 13
% Or less of R 2 O (R represents an alkali metal element), a layer or a film formed on the surface of the glass substrate can be prevented from peeling off, and a clear and uniform glass substrate can be obtained. Therefore, the quality of the glass substrate can be improved.
【0069】また、R2O(Rはアルカリ金属元素を表
す)が、Li2O、Na2O、K2Oからなり、かつLi2
O/Na2Oの比が0.4以上0.6以下であれば、ガラ
ス基板の表面に形成した層や膜の剥離を確実に抑制し、
ガラス基板の品質をさらに向上できる。ただし、アルカ
リ金属元素として、Rb、Cs、Frを用いることもで
きるが、Fr放射性同位体であるため取り扱いに問題が
あり、また、Rb、Csは希元素であり、入手やコスト
の面で問題があるため、アルカリ金属元素としてLi、
Na、Kを用いるのが好ましい。[0069] Also, R 2 O (R represents an alkali metal element) is composed of Li 2 O, Na 2 O, K 2 O, and Li 2
When the ratio of O / Na 2 O is 0.4 or more and 0.6 or less, peeling of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate is surely suppressed,
The quality of the glass substrate can be further improved. However, Rb, Cs, and Fr can be used as the alkali metal element, but there is a problem in handling because of being a radioactive isotope of Fr. In addition, Rb and Cs are rare elements, and there are problems in terms of availability and cost. Therefore, Li as an alkali metal element,
It is preferable to use Na and K.
【0070】さらに、70℃の温水80ccに24時間
浸したときの温水へのアルカリ元素の溶出量が0.1m
g/l以下とすることでも、ガラス基板の表面に形成し
た層や膜の剥離を抑制する面から、ガラス基板の品質を
向上できる。Further, when immersed in 80 cc of hot water at 70 ° C. for 24 hours, the elution amount of the alkali element into the hot water is 0.1 m
Even when the amount is set to g / l or less, the quality of the glass substrate can be improved from the viewpoint of suppressing peeling of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate.
【0071】さらに、重量百分率で、50%以上70%
以下のSiO2と、10%以上25%以下のAl2O
3と、1%以上8%以下のLn2O3(LnはPr,N
d,Sm又はEuを表す)と、5%以上15%以下のB
2O3と、10%以上13%以下のR 2O(Rはアルカリ
金属元素を表す)とを含む構成のガラス基板とする。ま
た、波長300nm〜700nmの可視光における透過
率が50%以上85%以下であり、1kOeの磁界を印
加したときの磁化が3×10−3emu/cc以下であ
り、70℃の温水80ccに24時間浸したときの前記
温水へのアルカリ元素の溶出量が0.1mg/l以下の
ガラス基板とする。これにより、不良の発生の低減、不
良発見の容易化、さらに、磁気ディスクや光磁気ディス
クに加工された場合の磁化特性に与える影響の低減、そ
してガラス基板の表面に形成した層や膜の剥離の抑制と
いった全てにおいてガラス基板の品質を向上できる。Further, in weight percentage, 50% or more and 70%
The following SiOTwoAnd 10% or more and 25% or less of AlTwoO
ThreeAnd Ln of 1% or more and 8% or lessTwoOThree(Ln is Pr, N
d, Sm or Eu) and 5% or more and 15% or less of B
TwoOThreeAnd R of 10% or more and 13% or less TwoO (R is alkali
A metal element). Ma
Transmission of visible light with a wavelength of 300 nm to 700 nm
The rate is 50% or more and 85% or less, and a magnetic field of 1 kOe is marked.
Magnetization when applied is 3 × 10-3less than emu / cc
When immersed in 80 cc of hot water at 70 ° C. for 24 hours.
The amount of alkaline element eluted in warm water is 0.1 mg / l or less.
A glass substrate is used. This reduces the occurrence of defects and
Easier discovery, and furthermore, magnetic disks and magneto-optical disks
The effect on the magnetic properties when processed into
Of the layer and film formed on the surface of the glass substrate
In all cases, the quality of the glass substrate can be improved.
【0072】ただし、不良の発生の低減、不良発見の容
易化、さらに、磁気ディスクや光磁気ディスクに加工さ
れた場合の磁化特性に与える影響の低減の面においての
み品質の向上が必要な場合、また、ガラス基板の表面に
形成した層や膜の剥離の抑制の面でのみ品質の向上が必
要な場合は、前述のような、各々の面で必要な組成及び
濃度からなる構成とすることができる。さらに、不良の
発生の低減、不良発見の容易化、そして磁気ディスクや
光磁気ディスクに加工された場合の磁化特性に与える影
響の低減の面において品質の向上が必要な場合におい
て、B2O3とR2O(Rはアルカリ金属元素を表す)と
は、原料粉末の溶かし易さに影響するものであるので、
必要とされる溶かし易さの度合いに応じて、少なくとも
1方を含んでいればよい。さらに、ガラス基板の機械的
強度を化学強化や結晶化で得るガラス基板でガラス基板
の表面に形成した層や膜の剥離の抑制したい場合には、
ガラス基板に希土類元素を含有させない構成にできる。However, when it is necessary to improve the quality only in terms of reducing the occurrence of defects, facilitating the detection of defects, and reducing the influence on the magnetic characteristics when processed into a magnetic disk or a magneto-optical disk, In the case where the quality needs to be improved only in the aspect of suppressing the peeling of the layer or the film formed on the surface of the glass substrate, the composition having the necessary composition and concentration on each surface may be used as described above. it can. Further, when it is necessary to improve the quality in terms of reducing the occurrence of defects, facilitating the finding of defects, and reducing the influence on the magnetic characteristics when processed into a magnetic disk or a magneto-optical disk, B 2 O 3 And R 2 O (R represents an alkali metal element) affects the dissolution of the raw material powder,
It suffices to include at least one of them depending on the degree of required ease of melting. Furthermore, when it is desired to suppress the peeling of a layer or a film formed on the surface of the glass substrate with a glass substrate obtained by mechanically strengthening or crystallizing the mechanical strength of the glass substrate,
A structure in which a rare earth element is not contained in a glass substrate can be employed.
【0073】さらに、本発明を適用してなる情報記録デ
ィスク用ガラス基板を用いた情報記録ディスクでは、ガ
ラス基板の品質が向上することにより、情報記録ディス
クとしての品質や信頼性も向上できる。Further, in the information recording disk using the glass substrate for an information recording disk to which the present invention is applied, the quality and reliability of the information recording disk can be improved by improving the quality of the glass substrate.
【0074】[0074]
【発明の効果】本発明によれば、情報記録ディスク用ガ
ラス基板の品質を向上することができる。According to the present invention, the quality of a glass substrate for an information recording disk can be improved.
【図1】本発明を適用してなる情報記録ディスク用ガラ
ス基板の一実施形態の平面図である。FIG. 1 is a plan view of one embodiment of a glass substrate for an information recording disk to which the present invention is applied.
【図2】本発明を適用してなる情報記録ディスク用ガラ
ス基板の一実施形態の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of one embodiment of a glass substrate for an information recording disk to which the present invention is applied.
【図3】本発明を適用してなる情報記録ディスク用ガラ
ス基板を用いた磁気ディスクを備えた磁気ディスク装置
の概略構成を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a schematic configuration of a magnetic disk device provided with a magnetic disk using a glass substrate for an information recording disk to which the present invention is applied.
1 情報記録ディスク用ガラス基板 3 貫通穴 5 チャンファー部 Reference Signs List 1 glass substrate for information recording disk 3 through hole 5 chamfer part
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内藤 孝 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 本田 光利 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 Fターム(参考) 4G062 AA18 BB01 BB05 BB06 DA06 DB04 DC03 DC04 DD01 DE01 DF01 EA04 EB04 EC04 ED01 EE01 EF01 EG01 FA01 FA10 FB01 FC01 FD01 FE01 FF01 FG01 FH01 FJ01 FK01 FL01 GA01 GA10 GB01 GC01 GD01 GE01 HH01 HH03 HH05 HH07 HH09 HH11 HH13 HH15 HH17 HH20 JJ01 JJ03 JJ05 JJ07 JJ10 KK01 KK02 KK03 KK04 KK05 KK07 KK10 MM27 NN01 NN33 NN34 5D006 CB04 CB06 CB07 DA03 5D075 EE03 FG13 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Takashi Naito 7-1-1, Omikacho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture Within Hitachi Research Laboratory, Hitachi, Ltd. No. 1 F-term in Hitachi Research Laboratory, Hitachi, Ltd. F-term (reference) 4G062 AA18 BB01 BB05 BB06 DA06 DB04 DC03 DC04 DD01 DE01 DF01 EA04 EB04 EC04 ED01 EE01 EF01 EG01 FA01 FA10 FB01 FC01 FD01 FE01 FF01 GA01 F01 FL01 GB01 GC01 GD01 GE01 HH01 HH03 HH05 HH07 HH09 HH11 HH13 HH15 HH17 HH20 JJ01 JJ03 JJ05 JJ07 JJ10 KK01 KK02 KK03 KK04 KK05 KK07 KK10 MM27 NN01 NN33 NN34 5D006 CB04 CB06 CB04 CB06
Claims (9)
またはEuを表す)と、 B2O3及びR2O(Rはアルカリ金属元素を表す)の少
なくとも1方とを含む情報記録ディスク用ガラス基板。1. A weight percentage of 50% or more and 70% or less of SiO 2 , 10% or more and 25% or less of Al 2 O 3 , 1% or more and 8% or less of Ln 2 O 3 (Ln is Pr, Nd , Sm
Or a glass substrate for an information recording disk, comprising: B 2 O 3 and at least one of R 2 O (R represents an alkali metal element).
を表す)とを含む情報記録ディスク用ガラス基板。2. A weight percentage of 50% or more and 70% or less of SiO 2 , 10% or more and 25% or less of Al 2 O 3 , 5% or more and 15% or less of B 2 O 3 , and 10% or more of 13% or less. % Of R 2 O (R represents an alkali metal element) or less.
またはEuを表す)と、 5%以上15%以下のB2O3と、 10%以上13%以下のR2O(Rはアルカリ金属元素
を表す)とを含む情報記録ディスク用ガラス基板。In wherein weight percentages, and SiO 2 50% to 70%, 10% or more and 25% or less of Al 2 O 3, Ln 2 O 3 of 8% with 1% (Ln is Pr, Nd , Sm
Or a glass substrate for an information recording disk, comprising 5% to 15% of B 2 O 3 and 10% to 13% of R 2 O (R represents an alkali metal element).
ることを特徴とする請求項1または3に記載の情報記録
ディスク用ガラス基板。4. The glass substrate for an information recording disk according to claim 1, wherein Ln constituting said Ln 2 O 3 is Pr.
す)が、Li2O、Na2O、K2Oからなり、かつLi2
O/Na2Oの比が0.4以上0.6以下であることを特
徴とする請求項2または3に記載の情報記録ディスク用
ガラス基板。Wherein said R 2 O (R represents an alkali metal element) is composed of Li 2 O, Na 2 O, K 2 O, and Li 2
4. The glass substrate for an information recording disk according to claim 2, wherein a ratio of O / Na 2 O is 0.4 or more and 0.6 or less.
おける透過率が50%以上85%以下であり、かつ1k
Oeの磁界を印加したときの磁化が3×10 −3emu
/cc以下である情報記録ディスク用ガラス基板。6. A visible light having a wavelength of 300 nm to 700 nm.
Transmittance is 50% or more and 85% or less and 1k
The magnetization when an Oe magnetic field is applied is 3 × 10 -3emu
/ Cc or less for an information recording disk glass substrate.
ときの前記温水へのアルカリ元素の溶出量が0.1mg
/l以下である情報記録ディスク用ガラス基板。7. The amount of the alkali element eluted into the hot water when immersed in 80 cc of hot water at 70 ° C. for 24 hours is 0.1 mg.
/ L or less for an information recording disk glass substrate.
おける透過率が50%以上85%以下であり、1kOe
の磁界を印加したときの磁化が3×10−3emu/c
c以下であり、70℃の温水80ccに24時間浸した
ときの前記温水へのアルカリ元素の溶出量が0.1mg
/l以下である情報記録ディスク用ガラス基板。8. The transmittance of visible light having a wavelength of 300 nm to 700 nm is 50% or more and 85% or less, and 1 kOe.
Magnetization of 3 × 10 −3 emu / c when a magnetic field of
c or less, and the amount of alkali element eluted into the hot water when immersed in 80 cc of 70 ° C. water for 24 hours is 0.1 mg.
/ L or less for an information recording disk glass substrate.
情報記録ディスク用ガラス基板と、該ガラス基板の表面
上に直接または他の層を介して形成される情報記録層と
を有する情報記録ディスク。9. A glass substrate for an information recording disk according to any one of claims 1 to 8, and an information recording layer formed directly or via another layer on the surface of the glass substrate. Information recording disc.
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