JP2002231417A - スパークプラグの製造方法 - Google Patents
スパークプラグの製造方法Info
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Abstract
属チップを電極に溶接する工程での溶融金属の流出を防
止し、幅の均一な溶接部を得ることができるスパークプ
ラグの製造方法を提供する。 【解決手段】 中心電極3のチップ被固着面3sと貴金
属チップ31’とを重ね合わせた重ね合せ組立体70に
対し、貴金属チップ31’とチップ被固着面形成部位と
にまたがり、かつ各レーザー照射パルスP1〜P12に対
応する単位溶接部101〜112が順次重ね連なる全周
レーザー溶接部10を形成する場合において、その全周
レーザー溶接部10のうち、単位溶接部101〜112
の重なり数が増加することになる溶接部を形成する際に
用いる補正照射エネルギーEhを、その他の溶接部を形
成する際に用いる通常照射エネルギーEtよりも低く設
定して、エネルギー消費の無駄をなくすようにしてい
る。ここでは、重なり数が増加することになる溶接部と
して、先頭溶接部10tと末尾溶接部10eとの少なく
とも一方を選択する。
Description
造方法に関する。
プラグにおいては、近年、耐火花消耗性向上のために、
耐熱合金で構成された電極の先端にPtやIr等を主体
とする貴金属チップを溶接して貴金属発火部を形成した
タイプのものが使用されている。例えば接地電極と対向
して火花放電ギャップを形成することになる中心電極の
先端面に貴金属チップを接合する場合、その製造方法と
して、円板状の貴金属チップを中心電極の先端面(チッ
プ被固着面)に重ね合わせ、中心電極を回転させながら
貴金属チップの外周に沿ってレーザー光を照射すること
により、全周レーザー溶接部を形成する方法が提案され
ている(例えば、特開平6−45050号、特開平10
−112374号の各公報)。
プラグの製造方法において、貴金属チップの電極への溶
接については、YAGレーザー等によるパルス状レーザ
ー光を用いて行われることが多い。そしてこのパルス状
レーザー光については、貴金属チップと電極のチップ被
固着面形成部位とにまたがるレーザー溶接部を貴金属チ
ップの外周に沿って形成することができ、かつ溶接部の
内部にブロ−ホール等が形成されないように、1パルス
当りの照射エネルギー及びパルス幅といった条件を、貴
金属チップ及び電極の材質や外径等に関連付けて任意に
定め得るようにしている。
貴金属チップ31’との重ね合せ面の外周に沿って、中
心電極3の1回転につき12パルスで発振するレーザー
光LBを照射することによって12個の単位溶接部10
A〜10Lが順次重ね連なり、かつ中心電極3と貴金属
チップ31’とにまたがる全周レーザー溶接部10を形
成する場合について考察する。全周レーザー溶接部10
において、末尾部位の溶接部(以下、末尾溶接部とい
う)10eは、直前に形成された溶接部との重なりの他
に、先頭部位の溶接部(以下、先頭溶接部という)10
tとも重なり合うため、単位溶接部の重なり数がその他
の溶接部よりも増加する。一方、ピースタイムを短くし
て生産効率を高めるために、中心電極3の回転速度(回
転数)は所定値以上を維持する必要があるので、例え
ば、当初にレーザー照射され、先頭溶接部10tを形成
したときの入熱が、中心電極3を1周回転する間に十分
に熱引きされない場合がある。このような場合、末尾溶
接部10eを形成するためのレーザー光LBの照射時点
においても、先頭溶接部10tを形成したときの入熱の
一部が残留熱として存在する。
ち末尾溶接部10eにおいては、先頭溶接部10tとの
重なり部(図10(b)においては、第11番目の単位
溶接部10Kと第12番目の単位溶接部10Lとがこれ
に該当する)で、この残留熱が末尾溶接部10eを形成
するための所定の照射エネルギー(末尾溶接部10eの
ための新規入熱)に重畳される。その結果、末尾溶接部
10e(単位溶接部10K,10L)を形成することと
なる溶融部が大きくなり溶接部10の幅の不均一化を招
く(図10(c)参照)ばかりか、溶融金属が溶接部の
外側に流出する(ダレとも通称する)場合がある(図1
0(a)参照)。このような溶融金属の流出部Fは中心
電極側のみならず貴金属チップ側にも発生して外観を損
ね、製品歩留まりを低下させることになる。また、溶融
金属の流出部Fが貴金属チップの放電面に達すると、火
花放電ギャップが狭小となって着火不良を招くおそれが
ある。
融金属の流出部Fが溶接部10の幅の不均一化を招くの
みならず、発火部31が少し消耗しただけで、末尾溶接
部10e(の流出部F)が貴金属発火部31の放電面3
1aへ露出しやすくなる。一般に、溶接部10は貴金属
チップ材料と電極材料との合金により形成され、貴金属
チップ単体と比較すると耐火花消耗性に劣っているか
ら、露出した末尾溶接部10eにて消耗が進行すると、
比較的短時間で火花放電ギャップが拡大して着火ミス等
の不具合を生じることになる。
省くとともに、貴金属チップを電極に溶接する工程での
溶融金属の流出を防止し、幅の均一な溶接部を得ること
ができるスパークプラグの製造方法を提供することにあ
る。
係るスパークプラグの製造方法は、上記の課題を解決す
るために、中心電極と、その中心電極に対向するように
配置された接地電極とを備え、それら中心電極と接地電
極との少なくとも一方に貴金属チップを溶接すること
で、火花放電ギャップを形成する貴金属発火部を形成し
たスパークプラグの製造方法であって、前記中心電極及
び/又は前記接地電極のチップ被固着面に対して、前記
貴金属チップを重ね合わせて重ね合せ組立体を作り、そ
の重ね合せ組立体に対しレーザー照射ユニットの出射光
学部からパルス状レーザー光を照射することにより、前
記貴金属チップの周方向において、それら貴金属チップ
とチップ被固着面形成部位とにまたがり、かつ各レーザ
ー照射パルスに対応する単位溶接部が順次重ね連なる全
周レーザー溶接部を形成するとともに、前記全周レーザ
ー溶接部のうちで、前記単位溶接部の重なり数が増加す
ることになる先頭部位の溶接部(以下、先頭溶接部とい
う)と末尾部位の溶接部(以下、末尾溶接部という)と
の少なくとも一方を形成する際に用いる1パルス当りの
レーザー照射エネルギー(以下、補正照射エネルギーと
いう)を、その他の溶接部を形成する際に用いる1パル
ス当りのレーザー照射エネルギー(以下、通常照射エネ
ルギーという)よりも低く設定することを特徴とする。
チップ被固着面と貴金属チップとを重ね合わせた重ね合
せ組立体に対し、貴金属チップとチップ被固着面形成部
位とにまたがり、かつ各レーザー照射パルスに対応する
単位溶接部が順次重ね連なる全周レーザー溶接部を形成
する場合において、その全周レーザー溶接部のうち、単
位溶接部の重なり数が増加することになる溶接部を形成
する際に用いる補正照射エネルギーを、その他の溶接部
を形成する際に用いる通常照射エネルギーよりも低く設
定して、エネルギー消費の無駄をなくすようにしてい
る。具体的には、重なり数が増加することになる溶接部
は、先頭溶接部あるいは末尾溶接部に形成される場合が
多い。
末尾溶接部のための新規入熱に重畳されても、先頭溶接
部と末尾溶接部との少なくとも一方を形成する際に用い
る補正照射エネルギーが、その他の溶接部を形成する際
に用いる通常照射エネルギーよりも低く調整されるの
で、単位溶接部の重なり数が増加することになる溶接部
とその他の溶接部とにおけるトータルエネルギー(残留
熱と新規入熱とを合わせた全熱量)の均一化を図ること
ができる。これにより、末尾溶接部が形成される際に、
その他の溶接部よりも溶融部が大きくなって溶融金属が
溶接部の外側に流出することを回避できるので、外観不
良に伴う製品歩留まりの低下や、火花放電ギャップの狭
小化に伴う着火不良の発生等を未然に防止することがで
きる。
一化を図ることによって、末尾溶接部とその他の溶接部
との幅の略均一化を図ることにもなり、貴金属発火部の
消耗に伴う貴金属発火部の放電面への末尾溶接部の露出
が発生しにくくなる。したがって、火花放電ギャップの
拡大による着火ミス等の不具合も未然に防止することが
できる。
に位置する1個の単位溶接部のみの場合と、最先端を含
みそれに続く単位溶接部が加わる場合とがあり、同様
に、末尾溶接部には、最後尾に位置する1個の単位溶接
部のみの場合と、最後尾を含みその前の単位溶接部が加
わる場合とがある。つまり、先頭溶接部又は末尾溶接部
を構成する単位溶接部の数は、パルス発生周波数、重ね
合せ組立体と出射光学部との相対回転数等の溶接条件に
よって変動する。
照射エネルギーは、例えばレーザー溶接を行う前に予
め、レーザー発振部から発射されたレーザー光をカロリ
メータあるいはパワーメータ等のエネルギー検出器で受
けることにより、単位時間(例えば1秒間)当りの照射
エネルギーを計測し、その照射エネルギーを1秒間当り
のパルス数で除することにより算出した値を用いる。
部が、重ね合せ組立体と単一の出射光学部とを重ね合せ
組立体の中心軸線回りにおいて相対回転させつつ形成さ
れる場合には、先頭溶接部と末尾溶接部とのうち末尾溶
接部を形成する際に用いる補正照射エネルギーを、通常
照射エネルギーよりも低く設定することが望ましい。先
頭溶接部における熱引き量には電極の材質、周囲の温
度、貴金属チップの外径等変動要素が多く、残留熱を所
定値以下に抑えるための補正照射エネルギーの設定調節
が煩雑になるおそれがある。しかし、末尾溶接部におけ
る新規入熱においてはこのようなおそれは小さく、補正
照射エネルギーの設定調節が容易に行える。また、一般
的に、溶接部は未溶接の重ね合せ組立体に比して、表面
の凹凸等によりレーザー光の反射率が低く、レーザー照
射エネルギーを吸収しやすいといえる。したがって、相
対的に反射率が低い溶接部が既に殆ど形成されている末
尾溶接部を形成する際に用いる補正照射エネルギーを、
通常照射エネルギーよりも低く設定すれば、末尾溶接部
のための新規入熱を抑制する効果が顕著に表れることに
なる。
ザー照射パルスよりも前に到来する照射順位のレーザー
照射パルスから、1パルス当りのレーザー照射エネルギ
ーが低下するように設定するときは、末尾溶接部におけ
る単位溶接部の重なり数が徐々に増加するのに合わせて
1パルス当りのレーザー照射エネルギーを徐々に低下さ
せるように調整することができ、末尾溶接部とその他の
溶接部とにおけるトータルエネルギーの均一化を一層精
密に図ることができる。
に用いる補正照射エネルギーを通常照射エネルギーより
も低く設定する場合には、先頭溶接部を形成する際に用
いる1パルス当りのレーザー照射エネルギーを通常照射
エネルギーとほぼ等しく設定しておけばよく、調整操作
の単純化が図れる。
が、重ね合せ組立体と複数の出射光学部とを重ね合せ組
立体の中心軸線回りにおいて相対回転させつつ、複数の
出射光学部からパルス状レーザー光をほぼ同期させて照
射することにより、単位溶接部が順次重ね連なるととも
に、出射光学部の数に対応した複数の区間溶接部により
形成される場合には、区間溶接部のうちで、単位溶接部
の重なり数が増加することになる先頭溶接部と末尾溶接
部との少なくとも一方を形成する際に用いる補正照射エ
ネルギーを、その他の溶接部を形成する際に用いる通常
照射エネルギーよりも低く設定することになる。全周レ
ーザー溶接部は、パルス状レーザー光をほぼ同期させて
照射する複数の出射光学部に対応した区間溶接部により
分割形成されるので、区間溶接部の分割数に対応する形
で全周レーザー溶接時間が短縮される。
間溶接部により形成される場合においても、単一の溶接
部により形成される場合と同様の理由により、先頭溶接
部と末尾溶接部とのうち末尾溶接部を形成する際に用い
る補正照射エネルギーを、通常照射エネルギーよりも低
く設定することが望ましい。
ーザー出力を、レーザー照射ユニット毎にそれぞれほぼ
等しく設定することにより、各々の区間溶接部における
末尾溶接部とその他の溶接部とのトータルエネルギーの
均一化とともに、区間溶接部毎のトータルエネルギーの
均一化をも図ることができ、全周にわたり幅の均一な溶
接部を得ることができる。
手段は以上に述べた通りであるが、上記課題に関して、
次のような解決手段(以下、関連解決手段という)も想
到される。
と、その中心電極に対向するように配置された接地電極
とを備え、それら中心電極と接地電極との少なくとも一
方に貴金属チップを溶接することで、火花放電ギャップ
を形成する貴金属発火部を形成したスパークプラグの製
造方法であって、前記中心電極及び/又は前記接地電極
のチップ被固着面に対して、前記貴金属チップを重ね合
わせて重ね合せ組立体を作り、その重ね合せ組立体に対
しレーザー照射ユニットの出射光学部からパルス状レー
ザー光を照射することにより、前記貴金属チップの周方
向において、それら貴金属チップとチップ被固着面形成
部位とにまたがり、かつ各レーザー照射パルスに対応す
る単位溶接部が順次重ね連なる全周レーザー溶接部を形
成するとともに、前記全周レーザー溶接部のうちで、隣
り合う単位溶接部の中心点間距離が短くなる密接溶接部
が形成される際に用いる1パルス当りのレーザー照射エ
ネルギーを、その他の溶接部を形成する際に用いる1パ
ルス当りのレーザー照射エネルギーよりも低く設定する
ようになすことも可能である。
例えばレーザー溶接中に重ね合せ組立体と出射光学部と
の相対回転速度が変化する場合を挙げることができる。
このような場合には、回転速度変化が隣り合う単位溶接
部の中心点間距離の長短変化となって現れ、それに伴い
単位溶接部の重なり数が増して特定の単位溶接部では全
熱量が他のものより大きくなることがあるので、その中
心点間距離の変動に合わせて1パルス当りの照射エネル
ギーを調節することになる。このように、関連解決手段
を実施する際に、例えば上記のように相対回転速度が変
化する場合には、速度検出器による回転速度の監視をレ
ーザー溶接中に行い、これらの変動をレーザー照射ユニ
ットにフィードバックして1パルス当りの照射エネルギ
ーを調整(制御)するといったことで実現可能である。
従って、密接溶接部が形成される際に、その他の溶接部
よりも溶融部が大きくなって溶融金属が溶接部の外側に
流出することを回避でき、この場合にも外観不良に伴う
製品歩留まりの低下や、火花放電ギャップの狭小化に伴
う着火不良の発生等を未然に防止可能となる。
を用いて説明する。本発明方法により製造されたスパー
クプラグの一例を図1に示す。スパークプラグ100
は、筒状の主体金具1、先端部21が突出するようにそ
の主体金具1の内側に嵌め込まれた絶縁体2、先端に形
成された貴金属発火部(以下、単に発火部ともいう)3
1を突出させた状態で絶縁体2の内側に設けられた中心
電極3、及び主体金具1に一端が溶接等により結合され
るとともに他端側が側方に曲げ返されて、その側面が中
心電極3の先端部と対向するように配置された接地電極
4等を備えている。また、接地電極4には上記発火部3
1に対向する貴金属発火部(以下、単に発火部ともい
う)32が形成されており、それら発火部31と、対向
する発火部32との間の隙間が火花放電ギャップgとさ
れている。
された貴金属チップのうち、溶接による組成変動の影響
を受けていない部分(例えば、溶接により接地電極ない
し中心電極の材料と合金化した部分を除く残余の部分)
を指すものとする。
アルミニウム等のセラミック焼結体により構成され、そ
の内部には自身の軸方向に沿って中心電極3及び端子金
具8を嵌め込むための孔部6を有している。また、主体
金具1は、低炭素鋼等の金属により円筒状に形成されて
おり、スパークプラグ100のハウジングを構成すると
ともに、その外周面には、プラグ100を図示しないエ
ンジンブロックに取り付けるためのねじ部7が形成され
ている。
のいずれか一方を省略する構成としてもよい。この場合
には、発火部31と、発火部を有さない接地電極4の側
面との間、又は対向する発火部32と、発火部を有さな
い中心電極3の先端面との間で火花放電ギャップgが形
成されることとなる。
面形成部位に関し、この実施例では少なくともその表層
部がNi又はFeを主成分とする耐熱合金にて構成され
ている(なお、本明細書において「主成分」とは、最も
重量含有率の高い成分を意味し、必ずしも「50重量%
以上を占める成分」を意味するものではない)。
32は、Ir、Rh又はPtのいずれかを主成分とする
貴金属又は貴金属合金にて構成されている。これらの貴
金属の使用により、中心電極3及び/又は接地電極4の
温度が上昇しやすい環境下においても、発火部31,3
2の耐消耗性を良好なものとすることができる。また、
上記のような耐熱合金に対する溶接性も良好である。例
えばPtをベースにした貴金属を使用する場合には、P
t単体の他、Pt−Ni合金(例えばPt−1〜30重
量%Ni合金)、Pt−Ir合金(例えばPt−1〜2
0重量%Ir合金)、Pt−Ir−Ni合金等を好適に
使用できる。また、Irを主成分とするものとしては、
Ir−Ru合金(例えばIr−1〜30重量%Ru合
金)、Ir−Pt合金(例えばIr−1〜10重量%P
t合金)、Ir−Rh合金、Ir−Rh−Ni合金等を
使用できる。さらに、Rhを主成分とするものとして
は、Rh−Ir合金(例えば、Rh−3〜38重量%I
r合金)等を使用できる。
には、元素周期律表の3A族(いわゆる希土類元素)及
び4A族(Ti、Zr、Hf)に属する金属元素の酸化
物(複合酸化物を含む)を0.1〜15重量%の範囲内
で含有させることができる。これにより、Ir成分の酸
化・揮発を効果的に抑制でき、ひいては発火部の耐火花
消耗性を向上させることができる。上記酸化物としては
Y2O3が好適に使用されるが、このほかにもLa2O
3,ThO2,ZrO2等を好ましく使用することがで
きる。この場合、金属成分はIr合金のほか、Ir単体
を使用してもよい。
が円錐台状のテーパ面3tにより縮径されるとともに、
その先端面3sに上記発火部31を構成する合金組成か
らなる円板状の貴金属チップ31'を重ね合わせる。さ
らにその接合面外縁部に沿ってレーザー溶接により全周
レーザー溶接部10を形成して貴金属チップ31'を固
着することにより発火部31が形成される。また、対向
する発火部32は、図9に示すように、発火部31に対
応する位置において接地電極4に貴金属チップ32'を
位置合わせし、その外縁部に沿って同様にレーザー溶接
により全周溶接部11を形成してこれを固着することに
より形成される。これらチップ31’,32’は、所定
の組成となるように各合金成分を配合・溶解することに
より得られる溶解合金を熱間圧延により板状に加工し、
その板材を熱間打抜き加工により所定のチップ形状に打
ち抜いて形成したものや、上記溶解合金を熱間圧延又は
熱間鍛造により線状あるいはロッド状の素材に加工した
後、これを長さ方向に所定長に切断して形成したものを
使用できる。また、アトマイズ法等により球状に成形し
たものも使用できる。上記チップ31',32'は、例え
ば直径Dが0.4〜1.2mm、厚さHが0.5〜1.
5mmのものを使用する。
溶接方法は概ね同じであるので、以下、本発明に係る製
造方法の一実施例を、中心電極3側の発火部31を中心
に、以下に詳しく説明する。図2(a)に示すように、
中心電極3の先端面3sをチップ被固着面として、ここ
にチップ径D、チップ厚さHの貴金属チップ31'を重
ね合わせて重ね合せ組立体70を作り、その重ね合せ組
立体70に対し、図2(b)に示すように、貴金属チッ
プ31'とチップ被固着面とにまたがり、かつ貴金属チ
ップ31'の厚さ方向において放電面31aに到達しな
い全周レーザー溶接部10をチップ外周面周方向に沿っ
て形成する。
31'が円板状に形成されている場合、図2(b)に示
すように、該貴金属チップ31’と中心電極3との重ね
合せ組立体70を、レーザー照射ユニット150(図3
参照)の出射光学部50に対しチップ31’(中心電極
3)の中心軸線Oの周りにおいて相対的に回転させなが
ら、重ね合せ組立体70に向けて、パルス状レーザー光
LBのスポット内にチップ被固着面(この場合、中心電
極3の先端面)とチップ外周面との交差縁Qが入り、か
つチップ被固着面に対する照射角度θが−5゜〜+60
゜の範囲(水平より上方側を+とする;例えば+45
゜)となるようにパルス状レーザー光LBを照射する方
法が、上記のような全周レーザー溶接部10を均一に形
成する方法として合理的である。この場合、組立体70
又は出射光学部50の一方のみを回転させるようにして
もよいし、双方ともに(例えば互いに逆方向に)回転さ
せることも可能である。
整することが望ましい。まず、重ね合せ組立体70と出
射光学部50との相対回転速度は、図2のように出射光
学部50を1つのみ使用する場合には、10rpm以上
(望ましくは60rpm以上、より望ましくは120r
pm以上)とするのがよい。全周レーザー溶接部10を
形成するためには、重ね合せ組立体70と出射光学部5
0とを最低1周分は相対回転させなければならないが、
その相対回転速度が10rpm未満になると、1周分の
溶接時間ひいては1個のスパークプラグを製造するため
のピースタイムが長くなる場合がある。なお、上記相対
回転速度の上限値については、重ね合せ組立体70を回
転させる場合、溶接時に生ずる溶融金属の遠心力による
変形、飛散を防止するために、150rpm程度に留め
るのがよい。
について、図3を参照して説明する。レーザー照射ユニ
ット150は、パルス状レーザー光LBを照射するレー
ザー発振部40と、このパルス状レーザー光LBを重ね
合せ組立体70の外周面に向けて照射する出射光学部5
0と、パルス状レーザー光LBをレーザー発振部40か
ら出射光学部50へ伝送する光伝送経路60とを備えて
いる。レーザー発振部40において、イットリウム・ア
ルミニウム・ガーネットの単結晶からなるYAGロッド
41に励起ランプ42から所定のパルス間隔でキセノン
等の光を当てると、この光が全反射鏡43と出口側半透
明鏡44との間を往復して増幅され、レーザー光となっ
て出口側半透明鏡44から放出される。そして、パルス
発振されたパルス状レーザー光LBが、レーザー発振部
40出口側の反射鏡45で向きを変えられた後、光ファ
イバケーブル61で構成された光伝送経路60に入射さ
れる。そして、光ファイバケーブル61を伝送し、出射
されたパルス状レーザー光LBは、出射光学部50の球
面収差補正レンズ群51(なお、ここでは球面収差補正
レンズ群51を用いているが単レンズでも可)によって
集光され、重ね合せ組立体70の外周面に向けて照射さ
れる。
本発明の実施に必要なパルス状レーザー光LBを得るた
めに、レーザーコントローラ81、チャージコントロー
ラ82、高圧回路83、コンデンサC、放電回路84が
付設されている。なお、図3ではこれらのコントローラ
や回路については、ブロック図にて示している。本実施
例にて用いられる高圧回路83は、コンデンサCの両端
電圧VCを制御するためのチャージコントローラ82か
らの充電指令信号D1に基づき駆動されるものであり、
昇圧トランス、1又は複数の整流回路等(いずれも図示
せず)を備えており、放電回路84に接続されている。
放電回路84は、GTOやサイリスタ等からなるスイッ
チング素子(図示せず)等を少なくとも備えている。こ
のスイッチング素子はレーザーコントローラ81に接続
されており、このレーザーコントローラ81からの放電
信号Tgに基づきオン・オフ制御(通電・非通電制御)
される。
て、レーザーコントローラ81から充電許可信号D2、
及び当該レーザーコントローラ81にて設定される設定
充電電圧値に応じた充電電圧値信号Vgが入力される
と、チャージコントローラ82はコンデンサCへの両端
電圧VCが設定充電電圧値となるように充電指令信号D
1を高圧回路83に出力し、高圧回路83側の制御を行
う。すると、コンデンサCは、その充電指令信号D1の
出力中において高圧回路83を通じて充電されることに
なる。ついで、コンデンサCの両端に両端電圧VCの電
荷が充電されているときに、レーザーコントローラ81
から予め設定された一定のパルス間隔を有する放電信号
Tgが放電回路84のスイッチング素子に入力される
と、スイッチング素子がオン状態となる(換言すると、
放電回路84が駆動することになる)。すると、コンデ
ンサCが放電され、励起用ランプ42の放電電極間にパ
ルス放電が生じて(換言すると、励起用ランプ42が発
光して)パルス状レーザーLBが発振することになる。
150では、コンデンサCの両端電圧VCの値が、レー
ザーコントローラ81にて適宜設定される設定充電電圧
値の変更に合わせて制御(可変)可能な構成を有してい
る一方、コンデンサCを放電させるパルス間隔が予め一
定に設定されており、その結果パルス状レーザー光LB
の1パルス当たりのレーザー照射エネルギーについて
は、該コンデンサCの両端電圧VCの値に基づいて制御
されることになる。
ザー溶接部10において、単位溶接部がレーザー照射パ
ルスに対応して順次重ね連なる形で形成される過程を説
明する。重ね合せ組立体70が所定の溶接位置にセット
された後、レーザーコントローラ81からの充電許可信
号D2及び設定充電電圧信号Vgがチャージコントロー
ラ82に入力されると高圧回路83が駆動され、設定充
電圧値に対応するようにコンデンサCの両端に両端電圧
VCが充電されることになる。そして、レーザーコント
ローラ81から放電信号Tgに基づき放電回路84が駆
動すると、励起用ランプ42が発光してパルス状レーザ
ー光LBが発振し、光伝送経路60、出射光学部50を
経て、パルス状レーザー光LBは重ね合せ組立体70に
照射される。このとき、コンデンサCの両端電圧VCの
値に応じて、パルス状レーザー光LBのレーザー強度S
にもピーク値が現れる(図4(a)参照)。なお、レー
ザー強度Sのピーク値をSt(以下、通常レーザー強度
という)、パルス幅をtとしたとき、1パルス当たりの
レーザー照射エネルギーEt(以下、通常照射エネルギ
ーという)は、Et=St×tで与えられる。
線Oの回りに回転させつつ、位置固定された単一の出射
光学部50からパルス状レーザー光LBを照射する。そ
の結果、貴金属チップ31’の周方向において、貴金属
チップ31’とチップ固着面形成部位とにまたがり、か
つ各レーザー照射パルスP1、P2・・・・・・に対応する単位
溶接部101、102・・・・・・が順次重ね連なるようにし
て全周レーザー溶接部10が形成される(図4(a)〜
(d)参照)。
ス発生周波数f(即ち、レーザーコントローラ81から
出力される放電回路84のスイッチング素子をオン・オ
フ制御する周波数)が12パルス/秒(ppsとも表示
する;このときの周期τ=1000/12ミリ秒)、重
ね合せ組立体70の回転速度が60rpm(1rps)
とすると、重ね合せ組立体70の1回転につきちょうど
12パルス分のパルス状レーザー光LBが照射され、こ
れに対応する12個の単位溶接部101〜112が貴金
属チップ31’の周方向に順次重ね連なる形で形成され
る。これら12個の単位溶接部101〜112の周方向
における重なり状態は、一般的に図5のようになる。先
頭溶接部10t(図5では101〜103)と末尾溶接
部10e(図5では110〜112)とを除くその他の
溶接部では、単位溶接部が形成される際に既に形成され
た単位溶接部との重なり数(以下、既成単位溶接部との
重なり数という)は自身の直前に形成された3個である
(例えば、第4番目の単位溶接部104では、101〜
103の3個)。
接部との重なり数は4個以上に増加する。例えば、最後
尾の第12番目の単に溶接部112の場合、自身の直前
に形成された109〜111の3個の他、当初に形成さ
れた先頭溶接部10tの3個(101〜103とも重な
り合うことになるので、既成単位溶接部との重なり数は
合計6個となる。同様に、第11番目の単位溶接部11
1における既成単位溶接部との重なり数は5個、第10
番目の単位溶接部110における既成単位溶接部との重
なり数は4個となる。なお、先頭溶接部10t(101
〜103)の場合、既成単位溶接部との重なり数は0〜
2個であるが、上記の通り末尾溶接部10eが形成され
る際にこれと重なり合うことになる。
の入熱が、重ね合せ組立体70を1周回転する間に十分
に熱引きされない場合、末尾溶接部10eを形成するた
めのパルス状レーザー光LBの照射時点においても、先
頭溶接部10tを形成したときの入熱の一部が残留熱と
して存在する。そこで、本実施例では、末尾溶接部10
eを形成するためのレーザー照射エネルギー(末尾溶接
部10eのための新規入熱)にこの残留熱が重畳されて
も溶融金属が溶接部の外側へ流出しないように、末尾溶
接部10eを形成する際に用いる1パルス当たりのレー
ザー照射エネルギー(以下、補正照射エネルギーとい
う)Ehを、上記通常照射エネルギーEtよりも低く設
定してある(図4(a)参照)。これにより、各単位溶
接部を形成する際の新規入熱と残留熱とを合わせた全熱
量(トータルエネルギー)の均一化を図っている。
3において、コンデンサCの両端電圧VCを通常照射エ
ネルギーEtと補正照射エネルギーEhとにそれぞれ対
応させる形で変更調節している。つまり、図3における
レーザーコントローラ81にて、通常照射エネルギーE
tと補正照射エネルギーEhとに対応するようにコンデ
ンサCの設定充電電圧値を変更調整することによって、
コンデンサCの両端電圧VCを変化させているのであ
る。そして、通常照射エネルギーEtから補正照射エネ
ルギーEhへの切り換えタイミングは以下のようにして
決定される。レーザーコントローラ81により放電回路
84のスイッチング素子をオン・オフ制御するためのパ
ルス数は、図示しないパルスカウンタ回路でカウントさ
れてレーザーコントローラ81にフィードバックされる
ようになっており、重ね合せ組立体70へのレーザー溶
接が開始されてから所定のパルス数がカウントされて通
常照射エネルギーEtから補正照射エネルギーEhへ切
り換えるべきレーザー照射パルスの照射順位に達したと
きに、レーザーコントローラ81にて当初設定された設
定充電電圧値(すなわち第1設定充電電圧値)を、この
第1設定充電電圧値よりも低い第2設定充電電圧値に変
更調整するのである。これにより、コンデンサCの両端
電圧VCの値が変更調整され、その結果、通常照射エネ
ルギーEtから補正照射エネルギーEhへの切り換えが
行われる。
11番目の単位溶接部111に対応する第11番目のレ
ーザー照射パルスP11と、最後尾の第12番目の単位溶
接部112に対応する第12番目のレーザー照射パルス
P12とで1パルス分のレーザー照射エネルギーの低下調
節、即ちレーザー強度Sのピーク値の低下調節(通常レ
ーザー強度Stから補正レーザー強度Shへの調節)が
行われる。例えば通常照射エネルギーEtが1.25J
の場合、第11番目のレーザー照射パルスに対応する補
正照射エネルギーEh11は1J、最後尾の第12番目
のレーザー照射パルスP12に対応する補正照射エネル
ギーEh12は0.75Jとなっている。
る形の全周レーザー溶接部10を形成している途中に、
1パルス分のレーザー照射エネルギーを変更調整するに
あたり、1パルス分のレーザー照射エネルギーの低下に
タイムラグが発生する。それより、本実施例では、レー
ザーコントローラ81にて、通常照射エネルギーEtに
対応する第1設定充電電圧値と、補正照射エネルギーE
hに対応する第2設定充電電圧値とが設定されるととも
に、第1設定充電電圧値から第2設定充電電圧値への設
定変更タイミングは、以下のように制御されている。す
なわち、最後尾の単位溶接部を形成するための第12番
目のレーザー照射パルスP12よりも前に到来する照射順
位(例えば第8番目)のレーザー照射パルス(例えば、
P8)に対して第2設定充電電圧値への設定変更を行う
制御がなされる。つまり、第8番目のレーザー照射パル
スP8に対して第2設定充電電圧値に変更する設定充電
電圧信号が発せられても、タイムラグにより実際に1パ
ルス分のレーザー照射エネルギーが低くなるのは、例え
ば第11番目のレーザー照射パルスP11以降となる。そ
して、第11番目のレーザー照射パルスP11から第12
番目のレーザー照射パルスP12にかけて徐々に低下し、
第12番目のレーザー照射パルスP12が最終的にレーザ
ーコントローラ81にて設定される第2設定充電電圧値
に対応した形をとるのである。
が、最後尾の単位溶接部112を形成するためのレーザ
ー照射パルスP12よりも前に到来する照射順位(例えば
第7順位)のレーザー照射パルス(例えばP7)をパル
スカウンタ回路より認識すると、次のレーザー照射パル
ス(例えばP8)から、レーザーコントローラ81にて
設定される第1設定充電電圧値を第2設定充電電圧値に
切り換えるだけで、所定順位(例えば第11順位)のレ
ーザー照射パルス(例えばP11)より1パルス当たりの
レーザー照射エネルギーが徐々に低下するように設定し
たのと同様の作用効果を生むことになる。但し、単位溶
接部10が順次重ね連なる形の全周レーザー溶接部10
を形成している途中に、1パルス分のレーザー照射エネ
ルギーを変更調整するにあたり、1パルス分のレーザー
照射エネルギーの低下にタイムラグが生じないようにレ
ーザー照射ユニット150を構成した場合には、1パル
ス毎にレーザー照射エネルギーの変更調整が可能となる
ことから、補正照射エネルギーEhとすべきレーザー照
射パルスに対応して1パルス毎に適宜調整すればよい。
そして、上述したようなレーザー照射エネルギー制御を
取り込んだレーザー溶接を行うことによって、各単位溶
接部を形成する際の新規入熱と残留熱とを合わせた全熱
量(トータルエネルギー)の均一化が有効に図られ、幅
の略均一な溶接部10が形成されるのである(図4
(b)、(d)参照)。
レーザー強度Shとの調節(通常照射エネルギーEtと補
正照射エネルギーEhとの調節)を行う際の図4(a)
に代わる変更例を示す。このうち図6(a)では、第1
番目のレーザー照射パルスP1から第2番目のレーザー
照射パルスP2にかけて補正レーザー強度Shが徐々に増
加するように設定し、第3番目のレーザー照射パルスP
3以降最後尾の第12番目のレーザー照射パルスP12ま
で通常レーザー強度Stに設定している。この場合に
は、末尾溶接部10eにおいて全熱量が増大することを
見込んで、溶融金属が溶接部の外側へ流出しないように
予め先頭溶接部10tにおいて照射エネルギーを低く調
整しておくことになる。
(a)とを複合させた例を表わしている。すなわち、先
頭溶接部10t(図6(b)では第1番目の単位溶接部
101と第2番目の単位溶接部102)と末尾溶接部1
0e(図6(b)では第11番目の単位溶接部111と
第12番目の単位溶接部112)との両者に対して補正
レーザー強度Sh(補正照射エネルギーEh)が設定され
ている。この場合には、照射エネルギーの低下調整分が
先頭溶接部10tと末尾溶接部10eとに振り分けられ
るので、通常照射エネルギーEtと補正照射エネルギー
Ehとの間の変更調節がなだらかになる。
適用したときの、中心電極先端部の平面模式図を示し、
図4(c)の変更例に相当する。これらのように、重ね
合せ組立体70をその中心軸線Oの回りに回転させつ
つ、貴金属チップ31'の周方向に所定の間隔で配置固
定された複数の出射光学部からパルス状レーザー光LB
をほぼ同期させて照射して溶接を行えば、溶接時間の短
縮を図ることができる場合がある。例えば、図7(a)
のように、略180°間隔で配置した2つの出射光学部
50a及び50bにより溶接を行えば、各レーザー光源
50a及び50bが略半周分に対応する区間溶接部20
0,220を各々分担すればよい。また、図7(b)の
ように、略120°間隔で配置した3つの出射光学部5
0a〜50cにより溶接を行えば、各出射光学部50a
〜50cがそれぞれ略1/3周分に対応する区間溶接部
300,310,320を分担すればよい。なお、レー
ザー照射パルスのタイミングは区間溶接部毎に多少ずれ
ていても、同期さえなされていれば溶接時間の短縮を図
ることができる。
単位溶接部との重なり状態は全周レーザー溶接部10を
区間溶接部200,220又は300,310,320
に置き換えれば、図5がそのまま当てはまる。したがっ
て、通常レーザー強度Stと補正レーザー強度Shとの調
節(通常照射エネルギーEtと補正照射エネルギーEhと
の調節)についてのここまでの説明もまた、これらの実
施例にそのまま適用することができる。ただし、図7
(a)の実施例では重ね合せ組立体70の1/2回転に
つき24パルス分(つまり、各レーザー光源50a,5
0bから12パルス分)のパルス状レーザー光LBが照
射され、これに対応する24個の単位溶接部が貴金属チ
ップ31’の周方向に順次重ね連なる形で全周レーザー
溶接部20が形成されている。また、図7(b)の実施
例では重ね合せ組立体70の1/3回転につき24パル
ス分(つまり、各レーザー光源50a〜50cから8パ
ルス分)のパルス状レーザー光LBが照射され、これに
対応する24個の単位溶接部が貴金属チップ31’の周
方向に順次重ね連なる形で全周レーザー溶接部30が形
成されている。したがって、図7(a)では2つの区間
溶接部200,220に対応して単位溶接部201〜2
12,221〜232が形成され、図7(b)では3つ
の区間溶接部300,310,320に対応して単位溶
接部301〜308,311〜318,321〜328
が形成される。
は、各区間溶接部の形成に要する平均レーザー出力が、
レーザー照射ユニット毎にそれぞれほぼ等しく設定され
ることが望ましい。すなわち、複数の出射光学部(n
個:n≧2)を用いるにあっては、同時にレーザー光を
照射した際の貴金属チップ31'における温度上昇は大
きくなる。しかし、各出射光学部は前述したように貴金
属チップ31'に対してほぼ(1/n)周分に対応する
区間溶接部を分担すればよく、単一の出射光学部を使用
する場合と比較して(1/n)の時間で溶接が可能とな
る。そこで、平均レーザー出力をレーザー照射ユニット
毎にそれぞれほぼ等しく設定すれば、貴金属チップ3
1'に対する入熱時間が短縮されることとあいまって、
各区間溶接部の幅が均一化される。さらに、このように
複数の出射光学部を用いて同時にレーザー光を照射する
ことにより、溶接時間の短縮を図ることができ、生産効
率の向上にも寄与できる。
番目のレーザー照射パルスP1〜P12に対応する溶接部
(全周レーザー溶接部10又は区間溶接部200,22
0)の1秒間あたりの平均レーザー出力は、P=Et
(J/パルス)×10(パルス/秒)+Eh11(J/パ
ルス)×1(パルス/秒)+Eh12(J/パルス)×1
(パルス/秒)=1.25×10+1.0×1+0.7
5×1=14.25(W)となる。図10に示す従来例
の場合には、P=1.25(J/パルス)×12(パル
ス/秒)=15(W)であるから、スパークプラグ1個
につき0.75Wのエネルギーを節約することができ
る。
及び放電面32aの形成状態を示すもので、中心電極3
側と同様の全周レーザー溶接部11が形成されている。
図9(a)に示すように、接地電極4の火花放電ギャッ
プg(図1)に面することが予定された側面をチップ被
固着面として、ここに凹部4aを形成し、その凹部4a
に貴金属チップ32'を嵌め込み固定する。その状態
で、図3等と同様にレーザー照射ユニット150の出射
光学部50を用いて全周レーザー溶接部11の形成を行
う。
説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものでは
なく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用
できることはいうまでもない。例えば、通常レーザー強
度Stと補正レーザー強度Shとの調節(通常照射エネ
ルギーEtと補正照射エネルギーEhとの調節)を行う
にあたっては、図4(a)及び図6(a)、(b)に示
したパターンのものに限定されず、図4(a)を援用し
て説明した場合に、第10番目のレーザー照射パルスP
10から1パルス分のレーザー照射エネルギーの低下調整
を行うようにしてもよく、あるいは第11及び第12番
目のレーザー照射パルスP11及びP12の両者が、全体で
最も低いレーザー照射エネルギー(1パルス分)をとり
うるようにレーザー照射エネルギーの低下調整を行って
もよい。
部において、単位溶接部同士の重なる割合が比較的小さ
い場合には、1番最初の先頭溶接部(即ち最先端溶接
部)と1番最後の末尾溶接部(即ち最後尾溶接部)との
少なくともいずれかのみを形成する際に用いる1パルス
当りのレーザー照射エネルギーを、その他の単位溶接部
を形成する際に用いる1パルス当りのレーザー照射エネ
ルギーよりも低く設定するようにして、全周レーザー溶
接部を形成するようにしてもよい。
一例を示す縦断面図及びその要部拡大図。
プラグの中心電極側発火部の製造工程として表す説明
図。
中心電極先端部の拡大斜視図、平面模式図及び縦断面
図。
向に展開して示す説明図。
図。
電極先端部の平面模式図。
20t 先頭溶接部 10e,200e,220e,300e,310e,3
20e 末尾溶接部 101〜112,201〜212,221〜232,3
01〜308,311〜318,321〜328 単位
溶接部 31,32 貴金属発火部 31',32' 貴金属チップ 31a,32a 放電面 40 レーザー発振部 50 出射光学部 70 重ね合せ組立体 100 スパークプラグ 150 レーザー照射ユニット LB パルス状レーザー光
Claims (10)
- 【請求項1】 中心電極と、その中心電極に対向するよ
うに配置された接地電極とを備え、それら中心電極と接
地電極との少なくとも一方に貴金属チップを溶接するこ
とで、火花放電ギャップを形成する貴金属発火部を形成
したスパークプラグの製造方法であって、 前記中心電極及び/又は前記接地電極のチップ被固着面
に対して、前記貴金属チップを重ね合わせて重ね合せ組
立体を作り、その重ね合せ組立体に対しレーザー照射ユ
ニットの出射光学部からパルス状レーザー光を照射する
ことにより、前記貴金属チップの周方向において、それ
ら貴金属チップとチップ被固着面形成部位とにまたが
り、かつ各レーザー照射パルスに対応する単位溶接部が
順次重ね連なる全周レーザー溶接部を形成するととも
に、 前記全周レーザー溶接部のうちで、前記単位溶接部の重
なり数が増加することになる先頭部位の溶接部(以下、
先頭溶接部という)と末尾部位の溶接部(以下、末尾溶
接部という)との少なくとも一方を形成する際に用いる
1パルス当りのレーザー照射エネルギー(以下、補正照
射エネルギーという)を、その他の溶接部を形成する際
に用いる1パルス当りのレーザー照射エネルギー(以
下、通常照射エネルギーという)よりも低く設定するこ
とを特徴とするスパークプラグの製造方法。 - 【請求項2】 前記全周レーザー溶接部は、前記重ね合
せ組立体と単一の前記出射光学部とを当該重ね合せ組立
体の中心軸線回りにおいて相対回転させつつ、前記出射
光学部から前記パルス状レーザー光を照射することによ
り形成される請求項1記載のスパークプラグの製造方
法。 - 【請求項3】 前記全周レーザー溶接部のうちで、前記
単位溶接部の重なり数が増加することになる前記末尾溶
接部を形成する際に用いる前記補正照射エネルギーが、
前記通常照射エネルギーよりも低く設定される請求項1
又は2記載のスパークプラグの製造方法。 - 【請求項4】 前記末尾溶接部を形成するための前記
レーザー照射パルスよりも前に到来する照射順位の前記
レーザー照射パルスから、1パルス当りのレーザー照射
エネルギーが低下するように設定される請求項3記載の
スパークプラグの製造方法。 - 【請求項5】 前記全周レーザー溶接部のうちで、前記
先頭溶接部を形成する際に用いる1パルス当りのレーザ
ー照射エネルギーが、前記通常照射エネルギーとほぼ等
しく設定される請求項3又は4記載のスパークプラグの
製造方法。 - 【請求項6】 前記全周レーザー溶接部は、前記重ね合
せ組立体と複数の前記出射光学部とを当該重ね合せ組立
体の中心軸線回りにおいて相対回転させつつ、複数の前
記出射光学部から前記パルス状レーザー光をほぼ同期さ
せて照射することにより、前記単位溶接部が順次重ね連
なるとともに、前記出射光学部の数に対応した複数の区
間溶接部により形成され、 前記区間溶接部のうちで、前記単位溶接部の重なり数が
増加することになる前記先頭溶接部と前記末尾溶接部と
の少なくとも一方を形成する際に用いる前記補正照射エ
ネルギーを、その他の溶接部を形成する際に用いる前記
通常照射エネルギーよりも低く設定する請求項1記載の
スパークプラグの製造方法。 - 【請求項7】 前記区間溶接部のうちで、前記単位溶接
部の重なり数が増加することになる前記末尾溶接部を形
成する際に用いる前記補正照射エネルギーが、前記通常
照射エネルギーよりも低く設定される請求項6記載のス
パークプラグの製造方法。 - 【請求項8】 前記末尾溶接部を形成するための前記
レーザー照射パルスよりも前に到来する照射順位の前記
レーザー照射パルスから、1パルス当りのレーザー照射
エネルギーが低下するように設定される請求項7記載の
スパークプラグの製造方法。 - 【請求項9】 前記区間溶接部のうちで、前記先頭溶接
部を形成する際に用いる1パルス当りのレーザー照射エ
ネルギーが、前記通常照射エネルギーとほぼ等しく設定
される請求項7又は8記載のスパークプラグの製造方
法。 - 【請求項10】 前記区間溶接部の形成に要する平均レ
ーザー出力が、前記レーザー照射ユニット毎にそれぞれ
ほぼ等しく設定される請求項6ないし9のいずれかに記
載のスパークプラグの製造方法。
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