JP2002201070A - 炭化珪素質焼結体及びその製造方法 - Google Patents
炭化珪素質焼結体及びその製造方法Info
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Abstract
素焼結体の、生成膜や各種接着剤への濡れ性を改善す
る。 【解決手段】平均直径5〜40μmの気孔を有し、平均
結晶粒子径を5〜40μm、相対密度を90〜99.5
%とし、表面部の結晶粒界層を除去して微細な凹凸を生
成する。
Description
的若しくは物理的にコーティングを行う用途に用いる炭
化珪素質焼結体とその製造方法に関する。
によりサブミクロン粒径のβ−SiCに焼結助剤として
少量のホウ素と炭素を添加することにより緻密な焼結体
となることを発表して以来、炭化珪素焼結体は、高温、
高応力負荷条件を克服できる材料として広く一般に用い
られてきた。
硬度、熱伝導率等の機械的、熱的な材料特性が上がる
為、より緻密な炭化珪素焼結体を製造する方法が研究、
考案されてきた。本発明者も炭化珪素焼結体を緻密化さ
せることにより、熱伝導率で190W/mK以上の炭化
珪素焼結体を得るに至っている。
を向上させる目的で焼結助剤として酸化アルミニウム等
の焼結過程に於いて結晶粒界周囲に液層成分を生じる物
質を添加する炭化珪素も考案されてきた。
て用いる際に、摺動特性を向上させるため、気孔率の高
い多孔質炭化珪素も研究されてきた。
材料にCVD、PVD等の生成膜をコーティングするこ
とがある。また別に有機・無機等の各種接着剤等を使用
して他の物体を該セラミック製構造部材に接着すること
がある。
焼結体と生成膜・各種接着剤との濡れ性であるが、これ
を向上させるために、結晶粒界をガラス質のマトリック
スとして覆う形で存在するセラミック焼結体表面では化
学的な薬品処理等でエッチングして、表面に微細な凹凸
を生じさせ、濡れ性を向上させる手法がよく用いられる
(鈴木宏茂著 高温セラミック材料 日刊工業新聞社刊
参照)。
酸化アルミニウムを添加する炭化珪素焼結体は、結晶粒
界をガラス質のマトリックスとして覆う形で存在するた
め、化学的なエッチングを行うと、その結晶粒界のガラ
ス質のマトリックスが選択的にエッチングされるため、
結果的に焼結体表面に結晶粒径前後の微細な凹凸を生じ
やすく、生成膜や各種接着剤等が、その凹凸に入り込む
ことにより、入り込んだ生成膜や各種接着剤等がくさび
となり生成膜や各種接着剤等と焼結体との密着性が向上
するという、すなわちアンカー効果が生じる。
着剤の濡れ性が向上するというメカニズムによるもので
ある。
剤としてホウ素や炭素を添加する炭化珪素焼結体は、他
の焼結体と比べて生成膜や各種接着剤の濡れ性が悪いと
いう問題がある。
素や炭素を添加する炭化珪素焼結体は、その焼結過程で
液層成分を生じない固層焼結であり、焼結体の結晶粒界
周囲にガラス質のマトリックスを持たないため、化学的
エッチングを行っても、その効果が薄く、微細な凹凸を
あまり生じず、アンカー効果が十分ではなく、濡れ性の
向上があまり得られないのである。
未満の多孔質炭化珪素を使用する方法があるが、この焼
結体は表面に多くの気孔を有するため生成膜や接着剤の
濡れ性は良いが、緻密体で無いため、機械的特性や熱的
特性が、緻密体と比較して大きく劣るものであった。
であるラッププレートは、被研磨材であるシリコンウエ
ーハをワックスにて固定する。また付加的な性能を与え
るため、CVD、PVD等の方法により、表面に成膜を
行う場合がある。
導率、耐摩耗性等の観点から、焼結助剤としてホウ素、
炭素を添加する炭化珪素焼結体の利用が期待されている
が、上述した理由により、生成膜の密着強度が低くなる
ため、表面をコーティングする生成膜や、シリコンウエ
ーハを接着する為に用いるワックスが剥離し易いという
問題があった。
従来技術の問題点を鑑み、焼結助剤にホウ素や炭素を添
加する炭化珪素焼結体に於いて、比較的緻密度を高くし
て、エッチング等の化学的手段により、表面に微細な凹
凸を形成し、そのアンカー効果により接着剤や生成膜の
密着性が高い、炭化珪素質焼結体の製造方法を考案し
た。
μmの気孔を有し、平均結晶粒子径が5〜40μm、相
対密度が90〜99.5%であり、表面部に結晶粒界層
を除去した微細な凹凸を形成したことを特徴とする。ま
た、上記表面部の結晶粒界層は化学的手段で除去したこ
とを特徴とする。
とし、2.0重量%以下の炭素源、及び0.2〜0.4
重量%以下のホウ素源を含有する出発原料を所定形状に
成形し、室温から1500〜1950℃迄の昇温速度勾
配を1時間当たり20〜200℃、最高焼成温度を20
00〜2200℃として焼成した後、化学的な方法、例
えば硝酸カリウム及び水酸化ナトリウムの混合溶融塩を
用いて焼結体表面部の結晶粒界層を除去した。
密化しつつも、大きく成長した結晶粒の周囲に空隙を有
する為、エッチング処理を行なった後には、適度に分散
された微細な凹凸を有する焼結体母材表面を得ることが
出来る。
効果が高いため、生成膜や接着剤に対し非常に高い密着
性が得られる。
直径5〜40μmの気孔を有し、平均結晶粒子径が5〜
40μm、相対密度が90〜99.5%であり、表面の
粒界層を除去して凹凸を形成したものである。これによ
り、気孔の無い部分と気孔部の凹凸差によるくさび効果
が高まり、該焼結体表面に対する化学的若しくは物理的
方法によりコーティング膜を生成させる場合や、有機、
無機等の接着剤等を塗布する場合の濡れ性が高くなる。
m未満のときはくさび効果が低く、膜の密着性が低くな
る。また、逆に平均結晶粒径及び平均気孔径が40μm
を越えるときは相対密度90%未満の多孔質体となるた
め、緻密化が充分では無く、機械的特性、熱的特性が劣
る。また、相対密度が99.5%を越えるときはくさび
効果が低く、膜の密着性が低い。
密度90〜99.5%と比較的緻密な焼結体であり、か
つ表面の粒界層を化学的方法により除去して平均直径5
〜40μmと大きな気孔を存在させるようにしたもので
ある。
M(走査型電子顕微鏡)による表面写真の観察、若しく
はそのSEM写真を元にルーゼックスなどの画像解析に
より行う。
は、SEMによる表面写真の観察、若しくはそのSEM
写真の画像解析により、球で有るという仮定での換算値
を指す。
アルキメデス法により測定し、理論密度3.21g/c
m3で除することにより算出する。
ッチングなどの化学的手段を行うことが好ましい。
去に、硝酸カリウム及び水酸化ナトリウムの混合溶融塩
を用いる。
後の研削加工表面の写真を示し、エッチングにより焼結
後の表面の粒界層を除去した後の表面の写真を図3に示
す。これらの図において、黒い部分が凹み、即ち気孔を
示している。
の混合溶融塩等を用いたなエッチングにより、焼結体表
面部の結晶粒界に存在する粒界層を除去し、図3に示す
とおり、該表面部において直径5〜40μm程度の気孔
をより多く生成できる。例えば、直径5〜40μmの気
孔の数が、従来例である図1では5個程度、本発明によ
り得られた焼結体のエッチングなどの化学的手段を用い
ない場合の焼結後の研削加工表面を示す図2では3個程
度であるのに対し、本発明実施例である図3では40個
以上確認できる。
体は、図2にあるような焼結体と比較して、該焼結体表
面に対する化学的若しくは物理的方法によりコーティン
グ膜を生成させる場合や、有機、無機等の接着剤等を塗
布する場合の濡れ性を高くすることができる。
を説明する。
るホウ素や炭素の量を制御することで、その焼結過程に
於いて、結晶粒の成長は促進させるが、緻密化を若干抑
えるような配合とした。
素と炭素の役割はきわめて重要であるが、その添加量に
対してこれまで多くの研究が成されてきた。
研究が殆どであり、緻密化に最適なホウ素、炭素の添加
量は、かなり研究されて分かってきている。
持ってくれば、結晶粒の成長を抑えながら緻密化を促進
させることができる。本研究者も、ホウ素、炭素の添加
量を任意に変更してもっとも緻密化する配合量を実験に
て検証した。
せる前の段階で、結晶粒をある程度成長させておき、緻
密化の段階で、成長した結晶粒がそれ以上の緻密化を阻
害するため、ある程度の緻密化はするものの、焼結後も
大きく成長した結晶粒の周囲に気孔が存在するようにし
た。
〜0.4重量%とし、炭素の添加を最適量である2.0
重量%程度の炭素の添加量より減らすことで上述した作
用を成すことを見出した。炭素の添加を最適量である
2.0重量%程度よりも増やした場合は緩やかに緻密化
が抑制するのに対し、2.0重量%程度より減らした場
合は急激な減少となるのである。
5〜2.0重量%以下の炭素源、及び0.2〜0.4重
量%以下のホウ素源を有する出発原料として焼結体を焼
結させることにより、機械的、熱的特性は十分保ちつ
つ、過度の緻密化を抑え、粒成長は促進し、上述した本
発明の炭化珪素焼結体を製造することができる。
源が0.4重量%を越えるときは緻密化が抑えられる
が、炭化珪素粒子の表面拡散が抑制されすぎ、粒成長を
阻害する。そこで、炭素添加量として好ましくは0.5
〜2.0重量%以下、ホウ素添加量として好ましくは
0.2〜0.4重量%である。
含有%は、添加量の重量測定、及び原料粉末のX線回折
より求めた、炭素又はホウ素単体での換算量である。
セス中で焼結体が収縮挙動を示す前に、焼結体結晶の粒
成長を促進させておくことで、収縮挙動が始まった後に
も大きく成長した結晶に阻まれる形で緻密化を抑えるよ
うにした。
おける昇温時の温度勾配を、非常に緩やかに、好ましく
は階段状に途中で保温時間を設けながら焼成を行えば良
く、具体的には、焼結させる際には、室温から1500
〜1950℃迄の昇温速度勾配を1時間当たり20〜2
00℃、最高焼成温度を2000〜2200℃とする。
に、結晶の過度の成長を抑制しより緻密な焼結体を得る
為に、300から1500〜1800乃至1950℃迄
の昇温速度勾配を1時間当たり200℃以上とすること
で、粒成長を防止し、成長した結晶粒に阻まれることな
く緻密化させる方法が行われてきた。
に、室温から1500〜1950℃迄の昇温速度勾配を
1時間当たり20〜200℃と緩やかにする事で、体積
拡散による緻密化が急速に起こる前の温度域において充
分な焼結エネルギーを与えて粒成長を促進させ、成長し
た結晶粒に阻まれることで緻密化を有る程度抑えるよう
にした。
きは機械的、熱的特性が下がり、最高焼成温度が220
0℃を越えるときは、2次再結晶により、結晶粒子が成
長しすぎ、非常に大きな板状晶を生じ、その結晶の脱粒
により、焼結体表面の研削加工面が粗すぎるため、最高
焼成温度を2000〜2200℃とした。これによっ
て、機械的特性、熱的特性を大幅に損なうことなく、過
度の緻密化を抑え、粒成長は促進し、図3にあるよう
な、生成膜、接着剤等の濡れ性の良い炭化珪素焼結体を
製造することができる。
高温計を用いて行う。
の濡れ性の良い、本発明の炭化珪素焼結体は、半導体S
iウエハを製造する際に使用するラッププレートに用い
ることが出来る。このラッププレートに樹脂膜、PV
D、CVDによる金属・セラミック生成膜を成膜する場
合や、同じくラッププレートにSiウエハをワックスに
より固定する場合等に濡れ性を良好に出来る。あるい
は、半導体製造装置のエッチング工程で用いられるチャ
ンバー部材に本発明の炭化珪素焼結体を用いれば、内面
に付着する反応生成物の落下防止や、耐食性を高める目
的でチャンバー部材の内面に、PVD、CVDによるセ
ラミック生成膜を成膜する場合等にも効果を発揮する。
その他、金属とセラミックの接着による固定、セラミッ
クへの各種メタライズを施すような用途にも効果を発揮
することが期待される。
る。なお、本実施例は、一例であり、本発明はこれに限
定されるものではない。 (実験例1)ホウ素源として炭化ホウ素をホウ素単体の
換算での添加量が0.33重量%となるように添加し、
炭化ホウ素に含まれる炭素の量も含めて炭素の添加量を
0.5、1.0、2.0、4.0重量%までの範囲で変
えて、それぞれの添加量において、φ60×5tの成形
体を作成し、焼成最高温度を、それぞれ2000、20
25、2050、2100、2200℃と変化させて焼
成した。なお、焼成は炭化珪素の分解を防ぐため、Ar
雰囲気中で焼成し、炉内圧力は大気圧よりも若干正圧、
即ち0.5kgf/cm2とした。また、焼成の温度プ
ロファイルとしては、1500〜1950℃の昇温時の
温度勾配を時間当たり50°とし、50°毎に1時間の
保温時間を設けた。得られた焼結体の密度を測定した結
果、表1及び図4に示す通り、焼成最高温度の高低にか
かわらずどの最高焼成温度においても、炭素添加量2.
0重量%がもっとも緻密化した。
な焼結体であるため、アンカー効果が低く、該焼結体表
面に対する化学的若しくは物理的方法によるコーティン
グ膜や、有機、無機等の接着剤等の濡れ性が低い。
り減らすことによって急激に緻密化が抑制され、気孔の
大きな焼結体を得ることが出来る。
ら、炭素添加量は、0.5〜2.0重量%、好ましくは
1.0〜2.0重量%が望ましい。これは、表1及び図
4から分かる通り、炭素添加量が1.0〜2.0重量%
では、焼結体の密度が2.732g/cm3から3.1
85g/cm3であり、理論密度の85%から99%ま
でであり、炭化珪素緻密体として機械的、熱的特性を満
足するという理由からである。
プロファイルの効果、またエッチングでの結晶粒界層の
除去の有無による焼結体表面の気孔径の変化、及びアン
カー効果の変化を比較検証した。比較例として、図1に
示す従来製法による焼結体と、図2に示す、炭素添加量
が1.0%で最高焼成温度が2000℃×1時間の焼結
体でエッチングを行わないものとを用意し、本発明実施
例として、図3に示すように、エッチングを行ったもの
を用意した。これら3種類により、φ60×5tの成形
体の焼結体において、実際にCVDによりコーティング
膜を成膜して、その密着性を検証した。
に硝酸カリウム及び水酸化ナトリウムの混合溶融塩を用
いた。
0μmの気孔の数が、比較例である図1では5個程度、
エッチングを行わない図2では3個程度であるのに対
し、本発明実施例である図3では40個以上確認でき
る。
の焼結体では、焼結体表面の全面積において殆ど密着せ
ずに剥離し、図2に示すものでは、数カ所で剥離が見ら
れた。これに対し、図3に示す炭化珪素焼結体にエッチ
ングを施した本発明実施例ではコーティング膜が焼結体
表面の全面積において完全に密着していた。
気孔を有し、平均結晶粒子径が5〜40μm、相対密度
が90〜99.5%であり、表面部の結晶粒界層が除去
されて微細な凹凸を有する炭化珪素焼結体とし、エッチ
ングを施したことによって、気孔の無い部分と気孔部の
凹凸差によるアンカー効果が高まり、該焼結体表面に対
する化学的若しくは物理的方法によるコーティング膜
や、有機、無機等の接着剤等の濡れ性を高くすることが
できる。
して、2.0重量%以下の炭素源、及び0.4重量%以
下のホウ素源を有する出発原料とし、焼結させる際に、
室温から1500〜1950℃迄の昇温速度勾配を1時
間当たり20〜200℃、最高焼成温度を2000〜2
200℃とした後、硝酸カリウム及び水酸化ナトリウム
の混合溶融塩等による化学的なエッチングにより、焼結
体表面部の結晶粒界に存在する粒界層がを除去すること
により、機械的、熱的特性は十分保ちつつ、過度の緻密
化を抑え、粒成長は促進し、生成膜、接着剤等の濡れ性
の良い炭化珪素焼結体を製造することができる。
る。
M写真である。
たもののSEM写真である。
密度の関係を示すグラフである。
Claims (3)
- 【請求項1】平均直径5〜40μmの気孔を有し、平均
結晶粒子径が5〜40μm、相対密度が90〜99.5
%であり、表面部に結晶粒界層が除去された微細な凹凸
を有することを特徴とする炭化珪素質焼結体。 - 【請求項2】上記表面部の結晶粒界層が化学的手段で除
去されたことを特徴とする請求項1に記載の炭化珪素質
焼結体。 - 【請求項3】炭化珪素を主成分とし、2.0重量%以下
の炭素源、及び0.2乃至0.4重量%のホウ素源を含
有する出発原料を所定形状に成形し、室温から1500
〜1950℃迄の昇温速度勾配を1時間当たり20〜2
00℃、最高焼成温度を2000〜2200℃として焼
成した後、化学的な方法を用いて焼結体表面部の結晶粒
界層を除去することを特徴とする炭化珪素質焼結体の製
造方法。
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