JP2002162437A - オートハンドラ及びオートハンドラの結露防止方法 - Google Patents
オートハンドラ及びオートハンドラの結露防止方法Info
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Abstract
体供給管が接続される接続部周辺の結露を防止する。 【解決手段】 オートハンドラAは、内部が所定温度に
制御される恒温槽1と、恒温槽1に液体窒素を取り入れ
る液体窒素取入部5と、液体窒素取入部5から恒温槽1
の乾燥室4上部まで連続して延在する配管カバー20
と、配管カバー20に覆われるとともに恒温槽1内に供
給される液体窒素の流通管となる液体窒素外部配管30
とを備える。配管カバー20の乾燥室4の上方に至る部
分には、液体窒素を供給する液体窒素供給管を接続する
接続口継手23が設けられる。そして、温められた乾燥
室4の余熱が接続口継手23周辺まで伝わり、接続口継
手23周辺が温められるので、接続口継手23周辺の結
露を防止できる。
Description
びオートハンドラの恒温槽内に冷却媒体を供給する冷却
媒体供給管が接続される接続部周辺に結露が付着するの
を防止するオートハンドラの結露防止方法に関する。
ドラに備えられる恒温槽概略図を図4に示す。恒温槽1
の内部には、ICが収納されたキャリアを予め冷却する
プレクール部2と、プレクール部2で冷却されたICを
試験する測定部3と、試験終了後のキャリアを加熱する
乾燥室4との三部屋が隣接して配置される。
環境下で測定するため、−30℃〜+125℃の範囲で
温度制御が可能で、かつ、箱状構造を有する。低温環境
下でICを試験する場合に、キャリアBに収納されたI
Cはプレクール部2で制御された所定温度になるまで冷
却される。所定温度に冷却されたICはキャリアBとと
もに測定部3に搬送され、ICの電気的特性が測定され
る。さらに、測定が終了したICはキャリアBとともに
乾燥室4で加熱乾燥され、恒温槽1の外部に搬送され
る。
槽1の外部に搬送すると、冷却されたまま外気に触れる
ことになり、IC及びキャリアBに結露が付着する可能
性がある。そこで、結露を防ぐため、低温環境下から搬
送されたIC及びキャリアBは、乾燥室4内で熱風、ま
たは、ヒーター加熱により加熱乾燥され、その後、恒温
槽1の外部に搬送される。
入れる液体窒素取入部5を示す。液体窒素取入部5は外
部が二重のカバー6に覆われた箱状の構造を有し、恒温
槽1に隣接して配置される。液体窒素取入部5の二重の
カバー6の内部には、恒温槽1への液体窒素の供給量を
制御する三つの電磁弁(安全用電磁弁7・プレクール部
用電磁弁8・測定部用電磁弁9)が備えられる。
には液体窒素供給管(図示しない)が接続される接続口
継手23が設けられる。そして、液体窒素供給管を液体
窒素取入部5の接続口継手23に接続して液体窒素が液
体窒素取入部5内に取り入れられる。接続口継手23か
ら取り入れられた液体窒素は、二重のカバー6を貫通し
て液体窒素取入部5内に延在する金属配管11を通り、
安全用電磁弁7に流通される。安全用電磁弁7を介した
液体窒素はマニホールドで分岐され、一方はプレクール
部用電磁弁8を介して金属配管12によりプレクール部
2へ供給される。他方は測定部用電磁弁9を介して金属
配管13により測定部3へ供給される。
用電磁弁9にてプレクール部2・測定部3への液体窒素
の供給量を制御する。詳しくは、オートハンドラ装置本
体にてプレクール部2及び測定部3が温度制御されるの
で、プレクール部2及び測定部3が所定温度になるよう
に、各々の電磁弁8・9をオンオフ制御し、液体窒素の
供給量を制御する。仮に、プレクール部用電磁弁8また
は測定部用電磁弁9が故障した場合には、液体窒素の供
給量を制御できなくなり、恒温槽1内が霜に覆われてし
まうため、安全用電磁弁7をオフし、液体窒素の供給を
中止する。
窒素供給管が接続される接続部、すなわち接続口継手2
3周辺が直接外気に触れるため、液体窒素の供給が長時
間続くと接続口継手23周辺に結露が付着する。
する際、冷却媒体供給管が接続される接続部周辺に結露
が付着するのを防止することである。
め、請求項1記載の発明は、例えば図1及び図2に示す
ように、キャリアに収納された電子部品を予め冷却する
プレクール部と、該プレクール部で冷却された前記電子
部品を低温下で試験する測定部と、試験終了後の前記電
子部品及び前記キャリアを加熱する乾燥室(4)とを有
する恒温槽(1)を備えるオートハンドラ(A)であっ
て、前記恒温槽内を冷却する冷却媒体(例えば液体窒
素)を恒温槽内に取入れる際に、冷却媒体供給管が接続
される接続部(接続口継手23)を、前記乾燥室の近傍
に設けることを特徴とする。
燥室の近傍に設けられるので、接続部周辺には乾燥室の
余熱が伝わり、接続部周辺の結露を防止できる。つま
り、低温環境下におかれた電子部品(例えばIC等)へ
の結露付着を防止するため、乾燥室は所定温度に温めら
れている。そして、温められた状態の乾燥室の余熱が乾
燥室近傍の接続部に伝わり、接続部周辺で冷却媒体が流
通しても、接続部周辺は冷却されることがないので結露
を防止できる。
が、恒温槽のプレクール部及び測定部を所定温度まで低
下させられるもので、被測定物に悪影響を与えない冷却
流体ならよい。
2に示すように、請求項1記載のオートハンドラにおい
て、前記接続部から注入された冷却媒体を恒温槽内に取
入れる冷却媒体取入部(液体窒素取入部5)と、該冷却
媒体収入部と前記接続部とを繋ぐ冷却媒体外部配管(液
体窒素外部配管30)とを備え、前記冷却媒体取入部が
前記プレクール部及び測定部のうちの少なくとも一方に
隣接して配置され、前記恒温槽の外部で前記冷却媒体外
部配管が前記接続部から前記冷却媒体取入部まで延在す
ることを特徴とする。
部配管が恒温槽の外部に配置されるので、恒温槽の乾燥
室の余熱が冷却媒体外部配管に伝わりにくく、冷却媒体
の温度を急激に上昇させることはない。従って、恒温槽
のプレクール部及び測定部に冷却媒体を供給する際、冷
却媒体が急激に温められることはないので、プレクール
部及び測定部の温度制御・管理がしやすい。
2に示すように、請求項2記載のオートハンドラにおい
て、前記接続部が前記乾燥室上に設けられ、前記冷却媒
体取入部が前記プレクール部及び測定部のうちの少なく
とも一方の上に設けられ、前記接続部と前記冷却媒体取
入部とを繋ぐ前記冷却媒体外部配管を前記恒温槽上に設
けることを特徴とする。
燥室上に設けられるので、温められた状態の乾燥室の余
熱が接続部周辺に伝わり易く、接続部周辺の結露をより
確実に防止できる。すなわち、温められた状態の乾燥室
の余熱は外部に放熱される。そして、放熱された余熱に
より温められた空気(外気)は上昇するので、乾燥室上
に設けられる接続部周辺が温まり易く、接続部周辺への
結露をより確実に防止する。また、冷却媒体取入部及び
冷却媒体外部配管を恒温槽上に設けるので、オートハン
ドラの設置面積を増やすことなく、全体をコンパクトに
まとめることができる。
2に示すように、請求項2または3記載のオートハンド
ラにおいて、前記冷却媒体外部配管を、前記恒温槽から
離間して配置することを特徴とする。
部配管を恒温槽から離間して配置するので、乾燥室の余
熱は冷却媒体の温度を急激に上昇させるほど冷却媒体外
部配管には伝わらない。
ずれか一つに記載のオートハンドラを用いて前記接続部
部分の結露を防止するオートハンドラの結露防止方法で
あって、前記接続部を前記乾燥室近傍に設け、前記乾燥
室の余熱で前記接続部部分を温めることを特徴とする。
4のいずれか一つに記載のオートハンドラを用いるの
で、接続部周辺の温度が低下することはなく、接続部周
辺の結露を防止できる。
係る実施の形態について図面を参照して説明する。ま
ず、本発明のオートハンドラAの構成を説明する。
部が所定温度に制御される恒温槽1と、恒温槽1に液体
窒素(冷却媒体)を取り入れる液体窒素取入部5(以
下、液窒取入部と称する)と、液窒取入部5から恒温槽
1の乾燥室4上部まで連続して延在する配管カバー20
と、配管カバー20に覆われるとともに恒温槽1内に供
給される液体窒素の流通管となる液体窒素外部配管30
(冷却媒体外部配管,以下、外部配管と称する)とを備
える。
に、所定温度まで加熱制御して温められる乾燥室4を備
える。なお、恒温槽1は従来技術で説明したように、乾
燥室4以外にプレクール部・測定部の部屋を有するが、
各部屋の役割・機能等は従来技術と同様なので、各部屋
の詳細な説明は省略する。
われた箱状構造を有し、恒温槽1(プレクール部または
測定部のうちの少なくとも一方)の上部に設けられる。
液窒取入部5の内部には三つの電磁弁(安全用電磁弁7
・プレクール部用電磁弁8・測定部用電磁弁9)が備え
られる。恒温槽1内に供給される液体窒素は電磁弁7・
8・9を介して、金属配管12・13を通ってプレクー
ル部及び測定部(図示しない)に供給される。なお、三
つの電磁弁7・8・9は従来技術と同様のため、詳細な
説明は省略する。
配置されるとともに、恒温槽1の乾燥室4上部まで延在
する中空の直方体状の構造を有する。また、配管カバー
20の乾燥室4上部に配置された部分の側面側には、後
述する接続口継手23の先端が突出する接続孔21が設
けられる。
とともに液窒取入部5と接続孔21との間を繋ぐように
配置される。外部配管30の一方の端部は二重のカバー
6を貫通して液窒取入部5内の安全用電磁弁7に接続さ
れる。外部配管30の他方の端部には継手22を介して
接続口継手23(接続部)が取り付けられ、接続口継手
23の先端が接続孔21から配管カバー20の外部に突
出し接続口24が設けられる。この場合、外部配管30
は恒温槽1から離間して配置されるのは勿論のこと、配
管カバー20の内面側の壁面にも接することなく離間し
て配置される。
た際の作用、すなわち本発明のオートハンドラAの結露
防止方法を説明する。
23の接続口24に接続して恒温槽1内に液体窒素を供
給し、恒温槽1内のプレクール部及び測定部を制御され
た低温環境下にする。なお、液体窒素の供給に併せて乾
燥室4も試験終了後のIC及びキャリアの結露を防止す
るため、所定温度になるまで加熱される。この場合、接
続口継手23は配管カバー20の乾燥室4近傍に設けら
れているので、温められた乾燥室4の余熱が接続口継手
23周辺まで伝わり、接続口継手23周辺も温められ
る。従って、接続口継手23周辺を冷却媒体である液体
窒素が流通しても、接続口継手23周辺は急激に温度が
低下しないので、接続口継手23周辺の結露を防止でき
る。
接続口継手23の接続口24に接続され接続口継手23
から注入された液体窒素は、外部配管30を流通する。
この場合、外部配管30は配管カバー20の内壁面に接
することなく離間した状態で配置される。従って、乾燥
室4の余熱が配管カバー20の壁面に伝わっていても、
液体窒素の温度を急激に上昇させるほどには外部配管3
0は温められない。これにより、液体窒素を低温に維持
させたまま恒温槽1内へ供給できるので、プレクール部
及び測定部の温度制御・管理がしやすい。
入部5内の安全用電磁弁7へ流れ込む。安全用電磁弁7
を通過した液体窒素は、その後分岐してプレクール部用
電磁弁8・測定部用電磁弁9へ至り供給量がそれぞれ制
御される。そして、プレクール部用電磁弁8・測定部用
電磁弁9を介した液体窒素は、金属配管12・13を流
通して恒温槽1内のプレクール部及び測定部にそれぞれ
供給される。
クール部及び測定部に供給され続け、プレクール部及び
測定部は制御された所定温度の低温環境にされる。この
ような状況下において、配管カバー20の外部に露出す
る接続口継手23周辺は外気に触れるとともに液体窒素
が流通し冷却されるので、結露が付着しやすい状態にあ
る。しかし、接続口継手23は乾燥室4の近傍、すなわ
ち配管カバー20の壁面を介した乾燥室4の上方に設け
られているので、乾燥室4の余熱が接続口継手23周辺
に伝わり、接続口継手23周辺は温められ結露防止され
る。詳しくは、乾燥室4の余熱が乾燥室4の上部に隣接
して配置された配管カバー20の壁面に伝わる。そし
て、配管カバー20の壁面に伝えられた乾燥室4の余熱
は接続口継手23周辺に集まり、接続口継手23周辺の
結露付着を防止する。
気(外気)は上昇するので、乾燥室4の上方に設けられ
た接続口継手23周辺への結露防止の効果はさらに高ま
る。さらに、液窒取入部5及び外部配管30は恒温槽1
の上部に設けられているので、オートハンドラA自体の
設置面積は増えることなく、全体をコンパクトにまとめ
られる。
辺には乾燥室の余熱が伝わり、接続部周辺の結露を防止
できる。
温度を上昇させる程度には乾燥室の余熱が冷却媒体外部
配管へは伝わらない。従って、恒温槽のプレクール部及
び測定部に冷却媒体を供給する際、冷却媒体が急激に温
められることはなく、プレクール部及び測定部を温度制
御・管理しやすい。
方に上昇する温められた空気(外気)によって、接続部
周辺の結露をより確実に防止できる。また、冷却媒体取
入部及び冷却媒体外部配管を恒温槽上に設けるので、オ
ートハンドラ自体の設置面積を増やすことなく、全体を
コンパクトにまとめることができる。
部配管を流通する冷却媒体の温度が急激に上昇すること
はない。
の温度が急激に低下することはなく、接続部周辺に結露
が付着するのを防止できる。
面図である。
ある。
る。
る。
る。
る。
Claims (5)
- 【請求項1】 キャリアに収納された電子部品を予め冷
却するプレクール部と、該プレクール部で冷却された前
記電子部品を低温下で試験する測定部と、試験終了後の
前記電子部品及び前記キャリアを加熱する乾燥室とを有
する恒温槽を備えるオートハンドラであって、 前記恒温槽内を冷却する冷却媒体を恒温槽内に取入れる
際に、冷却媒体供給管が接続される接続部を、前記乾燥
室の近傍に設けることを特徴とするオートハンドラ。 - 【請求項2】 請求項1記載のオートハンドラにおい
て、 前記接続部から注入された冷却媒体を恒温槽内に取入れ
る冷却媒体取入部と、該冷却媒体収入部と前記接続部と
を繋ぐ冷却媒体外部配管とを備え、前記冷却媒体取入部
が前記プレクール部及び測定部のうちの少なくとも一方
に隣接して配置され、前記恒温槽の外部で前記冷却媒体
外部配管が前記接続部から前記冷却媒体取入部まで延在
することを特徴とするオートハンドラ。 - 【請求項3】 請求項2記載のオートハンドラにおい
て、 前記接続部が前記乾燥室上に設けられ、前記冷却媒体取
入部が前記プレクール部及び測定部のうちの少なくとも
一方の上に設けられ、前記接続部と前記冷却媒体取入部
とを繋ぐ前記冷却媒体外部配管を前記恒温槽上に設ける
ことを特徴とするオートハンドラ。 - 【請求項4】 請求項2または3記載のオートハンドラ
において、 前記冷却媒体外部配管を、前記恒温槽から離間して配置
することを特徴とするオートハンドラ。 - 【請求項5】 請求項1〜4のいずれか一つに記載のオ
ートハンドラを用いて前記接続部部分の結露を防止する
オートハンドラの結露防止方法であって、 前記接続部を前記乾燥室近傍に設け、前記乾燥室の余熱
で前記接続部部分を温めることを特徴とするオートハン
ドラの結露防止方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000358191A JP3861591B2 (ja) | 2000-11-24 | 2000-11-24 | オートハンドラ及びオートハンドラの結露防止方法 |
KR1020010073214A KR20020040624A (ko) | 2000-11-24 | 2001-11-23 | 오토 핸들러 및 오토 핸들러의 결로방지방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000358191A JP3861591B2 (ja) | 2000-11-24 | 2000-11-24 | オートハンドラ及びオートハンドラの結露防止方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002162437A true JP2002162437A (ja) | 2002-06-07 |
JP3861591B2 JP3861591B2 (ja) | 2006-12-20 |
Family
ID=18830137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000358191A Expired - Fee Related JP3861591B2 (ja) | 2000-11-24 | 2000-11-24 | オートハンドラ及びオートハンドラの結露防止方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3861591B2 (ja) |
KR (1) | KR20020040624A (ja) |
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2001
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3861591B2 (ja) | 2006-12-20 |
KR20020040624A (ko) | 2002-05-30 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060807 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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