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JP2002141676A - Electric equipment - Google Patents

Electric equipment

Info

Publication number
JP2002141676A
JP2002141676A JP2000331379A JP2000331379A JP2002141676A JP 2002141676 A JP2002141676 A JP 2002141676A JP 2000331379 A JP2000331379 A JP 2000331379A JP 2000331379 A JP2000331379 A JP 2000331379A JP 2002141676 A JP2002141676 A JP 2002141676A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
circuit board
electronic component
container
electric device
Prior art date
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Granted
Application number
JP2000331379A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3958927B2 (en
Inventor
Katsunobu Hamamoto
勝信 濱本
Kazuhiro Nishimoto
和弘 西本
Hiromitsu Mizukawa
宏光 水川
Norio Kanai
教郎 金井
Toshiichi Hongo
敏一 本郷
Masayoshi Yasuda
正吉 安田
Kazushige Ito
一茂 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Panasonic Life Solutions Ikeda Electric Co Ltd
Original Assignee
Ikeda Electric Co Ltd
Matsushita Electric Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ikeda Electric Co Ltd, Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Ikeda Electric Co Ltd
Priority to JP2000331379A priority Critical patent/JP3958927B2/en
Publication of JP2002141676A publication Critical patent/JP2002141676A/en
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  • Arrangement Of Elements, Cooling, Sealing, Or The Like Of Lighting Devices (AREA)
  • Casings For Electric Apparatus (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide electric equipment that can prevent the adverse influence of a resin through the equipment uses the resin between the lower surface of a circuit board and internal side face of a container to efficiently radiate the heat generated from heat generating parts. SOLUTION: The circuit board 1 mounted with electronic parts 4 is housed in a container 2. The electronic parts 4 are fixed by soldering on the lower surface of the board 1. Of the electronic parts 4, those generating large quantities of heat are surface-mounted on the lower surface of the board 1. The resin 3 is only packed in the space between the lower surface of the board 1 and the internal side face of the container 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板を収納す
る容器内に電子部品の放熱を促すように樹脂が充填され
た電気機器に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric apparatus in which a container for accommodating a circuit board is filled with resin so as to promote heat radiation of electronic components.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、放電灯点灯装置のように発熱部
品を有する電気機器では、発熱量を抑制するとともに熱
破壊を防止するために定格の大きい電子部品を使用して
いる。その結果、電子部品を実装する回路基板の基板面
積が大きくなり電気機器の大型化を招いている。また、
発熱部品には放熱を促すために放熱板を取り付けるのが
一般的であって、このことも電気機器の大型化の原因に
なっている。
2. Description of the Related Art In general, in an electric device having a heat-generating component such as a discharge lamp lighting device, a high-rated electronic component is used in order to suppress the amount of heat generation and prevent thermal destruction. As a result, the board area of the circuit board on which the electronic components are mounted is increased, and the size of the electric device is increased. Also,
In general, a heat radiating plate is attached to the heat generating component to promote heat radiation, which also causes an increase in the size of the electric device.

【0003】そこで、発熱部品の放熱対策を行いながら
も電気機器を小型するために、電子部品を実装した回路
基板を放熱用の樹脂で覆う技術が、特開平1−2208
89号公報などにおいて提案されている。この公報に記
載された技術は、図9に示すように、電子部品4を実装
した回路基板1を納装した容器2に樹脂3が充填されて
いるものであって、回路基板1が樹脂3に埋入する程度
に樹脂3を充填してある。
In order to reduce the size of electrical equipment while taking measures to dissipate heat from heat-generating components, Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-2208 discloses a technique in which a circuit board on which electronic components are mounted is covered with a resin for heat dissipation.
No. 89, for example. According to the technique described in this publication, as shown in FIG. 9, a container 2 in which a circuit board 1 on which electronic components 4 are mounted is filled with a resin 3, and the circuit board 1 is The resin 3 is filled to such an extent that the resin 3 is embedded.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
に回路基板1を樹脂3に埋入する構成とすると、樹脂3
を充填すると回路基板1と電子部品4との間に樹脂3が
回り込むから、温度変化による樹脂3の膨張・収縮によ
って、図10に示すように、回路基板1と電子部品4と
の間に力Fが作用することになる。この力Fは電子部品
4のリード5を通して回路基板1の表面に直交する方向
において半田6に伝達されるから半田6に剪断力が作用
して半田6が剥離するなどの問題が生じるおそれがあ
る。たとえば、低温時に樹脂3が収縮すると電子部品4
を回路基板1に近付ける向きに力が生じるから、半田6
に剪断応力が生じて半田6にクラックを生じることがあ
る。
By the way, if the circuit board 1 is embedded in the resin 3 as described above,
When the resin 3 is filled, the resin 3 wraps between the circuit board 1 and the electronic component 4, and the expansion and contraction of the resin 3 due to the temperature change causes the force between the circuit board 1 and the electronic component 4 as shown in FIG. F will work. Since this force F is transmitted to the solder 6 in a direction orthogonal to the surface of the circuit board 1 through the leads 5 of the electronic component 4, there is a possibility that a shear force acts on the solder 6 and the solder 6 peels off. . For example, when the resin 3 shrinks at low temperature, the electronic component 4
Is generated in such a direction as to bring the solder 6 close to the circuit board 1.
May generate a shear stress, and cracks may occur in the solder 6.

【0005】また、可変抵抗器や端子のように周囲に隙
間のある電子部品4では、樹脂3を容器2に充填する際
に硬化前の樹脂3が毛細管現象によって隙間から電子部
品4の内部に浸入することがあり、接触不良などを生じ
ることがある。たとえば、図11に示すような合成樹脂
成型品のハウジング11の中にコンタクトとなる金属部
品12が設けられた端子10では、ハウジング11と金
属部品12との間の隙間から充填用の樹脂3が浸入する
ことがある(浸入部位をXで示す)。このような問題を
回避するために可変抵抗器や端子のような電子部品4を
回路基板1から浮かせて配置することも考えられている
が、電子部品4の実装に手間がかかることになる。
In the case of an electronic component 4 having a gap around it, such as a variable resistor or a terminal, when the resin 3 is filled in the container 2, the resin 3 before curing enters the electronic component 4 from the gap due to a capillary phenomenon. Infiltration may occur and poor contact may occur. For example, in a terminal 10 in which a metal component 12 serving as a contact is provided in a housing 11 of a synthetic resin molded product as shown in FIG. 11, the filling resin 3 is filled through a gap between the housing 11 and the metal component 12. It may invade (the infiltration site is indicated by X). In order to avoid such a problem, it is considered that an electronic component 4 such as a variable resistor or a terminal is floated from the circuit board 1, but it takes time and effort to mount the electronic component 4.

【0006】本発明は上記事由に鑑みて為されたもので
あり、その目的は、発熱部品の放熱を効率よく行うため
の樹脂を充填しながらも、樹脂による上述のような悪影
響を防止した電気機器を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to fill a resin for efficiently dissipating heat from a heat-generating component while preventing the above-mentioned adverse effects of the resin from being caused. To provide equipment.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、電子
部品を実装した回路基板が収納された容器内に放熱用の
樹脂が充填された電気機器であって、回路基板の一面に
おいて電子部品が半田固定されるとともに発熱量の大き
い電子部品が前記一面に表面実装され、回路基板の前記
一面と容器の内側面との間にのみ樹脂が充填されている
ものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an electric apparatus in which a resin for radiating heat is filled in a container in which a circuit board on which electronic components are mounted is housed. The electronic component having a large calorific value is surface-mounted on the one surface and the resin is filled only between the one surface of the circuit board and the inner surface of the container.

【0008】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、前記樹脂がウレタン樹脂であることを特徴とする。
[0008] The invention of claim 2 is characterized in that, in the invention of claim 1, the resin is a urethane resin.

【0009】請求項3の発明は、請求項2の発明におい
て、前記樹脂についてJIS K−6253に規定され
たタイプAデュロメータ硬さ試験による硬さが使用温度
範囲の下限温度において88を超えないことを特徴とす
る。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the hardness of the resin in a type A durometer hardness test specified in JIS K-6253 does not exceed 88 at the lower limit temperature of the operating temperature range. It is characterized by.

【0010】請求項4の発明は、請求項2または請求項
3の発明において、前記回路基板の前記一面と前記容器
の内側面との間であって前記電子部品の放熱経路に影響
しない部位に前記樹脂が充填されない空洞部を設けたこ
とを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the second or third aspect of the invention, a portion between the one surface of the circuit board and the inner surface of the container and not affecting a heat radiation path of the electronic component is provided. A hollow portion not filled with the resin is provided.

【0011】請求項5の発明は、請求項4の発明におい
て、前記回路基板に前記空洞部と連通する貫通孔が形成
されていることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the fourth aspect of the present invention, a through hole communicating with the cavity is formed in the circuit board.

【0012】請求項6の発明は、請求項1の発明におい
て、前記樹脂がシリコン樹脂であることを特徴とする。
A sixth aspect of the present invention is characterized in that, in the first aspect of the present invention, the resin is a silicone resin.

【0013】請求項7の発明は、請求項6の発明におい
て、前記シリコン樹脂についてJIS K−6253に
規定されたタイプAデュロメータ硬さ試験による硬さと
熱線膨張率との積が0.0113を超えないことを特徴
とする。
According to a seventh aspect of the present invention, in the sixth aspect of the invention, the product of the hardness and the coefficient of linear thermal expansion of the silicone resin in a type A durometer hardness test specified in JIS K-6253 exceeds 0.0113. It is characterized by not having.

【0014】請求項8の発明は、請求項1ないし請求項
7の発明において、前記樹脂がチキソトロピを呈し構造
粘性比が1.5を下回らないことを特徴とする。
The invention of claim 8 is characterized in that, in the invention of claims 1 to 7, the resin exhibits thixotropy and the structural viscosity ratio does not fall below 1.5.

【0015】請求項9の発明は、請求項1ないし請求項
8の発明において、前記樹脂のゾル状態での粘度が10
0Pa・sを下回らないことを特徴とする。
According to a ninth aspect of the present invention, in the first to eighth aspects, the viscosity of the resin in a sol state is 10%.
It does not fall below 0 Pa · s.

【0016】請求項10の発明は、請求項1ないし請求
項9の発明において、前記回路基板には放電灯を点灯さ
せる点灯回路が実装されていることを特徴とする。
According to a tenth aspect of the present invention, in the first to ninth aspects, a lighting circuit for lighting a discharge lamp is mounted on the circuit board.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)本実施形態
における電気機器は、図1に示すように、プリント基板
からなる回路基板1に電子部品4が実装され、この回路
基板1が合成樹脂成形品である一面(図1の上面)が開
放された容器2に納装されるとともに、容器2の一部に
放熱用の樹脂3が充填されたものであって、回路基板2
において電子部品4を半田固定している面と容器2の内
側面との間にのみ樹脂3を充填したものである。本実施
形態では回路基板1に放電灯を点灯させる放電灯点灯回
路が実装される。この種の回路はスイッチング素子のよ
うな発熱量の大きい電子部品4を含む。樹脂3にはウレ
タン樹脂を用いる。この構成を採用することによって、
回路基板1と電子部品4との間に回り込んだ樹脂3の膨
張・収縮によって半田にクラックが生じたりするのを防
止することができる。なお、容器2は放熱効率を高める
ために金属製としてもよい。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) As shown in FIG. 1, in an electric apparatus according to the present embodiment, an electronic component 4 is mounted on a circuit board 1 composed of a printed circuit board. The circuit board 2 is a synthetic resin molded product which is housed in a container 2 having one side (the upper surface in FIG. 1) open and in which a part of the container 2 is filled with a resin 3 for heat radiation.
In this embodiment, the resin 3 is filled only between the surface on which the electronic component 4 is fixed by soldering and the inner surface of the container 2. In this embodiment, a discharge lamp lighting circuit for lighting a discharge lamp is mounted on the circuit board 1. This type of circuit includes an electronic component 4 that generates a large amount of heat, such as a switching element. A urethane resin is used for the resin 3. By adopting this configuration,
It is possible to prevent cracks from occurring in the solder due to expansion and contraction of the resin 3 that has flowed between the circuit board 1 and the electronic component 4. In addition, the container 2 may be made of metal in order to increase heat radiation efficiency.

【0018】ところで、図1のように、回路基板1と容
器2の内周面との間にのみ樹脂3を充填するために、本
実施形態では以下の手順を採用している。まず、図2
(a)のように上面が開放された容器2の底面に中央部
を周部よりも高くした形で樹脂3を盛り上げておき、そ
の後、図2(b)のように電子部品4を実装した回路基
板1で樹脂3を押し広げる。ここで、回路基板1として
は片面に導電パターンを有する片面基板を用いており、
電子部品4は主として回路基板1の一面側に配置され、
電子部品4のリードを他面側に引き出して半田固定して
ある。また、一部の電子部品(とくに発熱量の大きい電
子部品)4は回路基板1の他面側に表面実装される。こ
のような回路基板1を用いて電子部品4を半田固定して
いる面を樹脂3に接触させて樹脂3を押し広げる。こう
して、図2(c)のように、容器2の内周面と回路基板
1との間に樹脂3をほぼ均一に広げて充填する。上述の
手順で回路基板1に実装した電子部品4に樹脂3を密着
させることができ、樹脂3を通して放熱することが可能
になる。
By the way, as shown in FIG. 1, in order to fill the resin 3 only between the circuit board 1 and the inner peripheral surface of the container 2, the following procedure is employed in this embodiment. First, FIG.
As shown in FIG. 2A, the resin 3 was raised on the bottom surface of the container 2 having an open upper surface, with the central portion being higher than the peripheral portion, and then the electronic component 4 was mounted as shown in FIG. 2B. The resin 3 is spread on the circuit board 1. Here, a single-sided board having a conductive pattern on one side is used as the circuit board 1,
The electronic component 4 is mainly arranged on one surface side of the circuit board 1,
The leads of the electronic component 4 are drawn out to the other surface side and fixed by soldering. Further, some of the electronic components (particularly, electronic components having a large heat value) 4 are surface-mounted on the other surface side of the circuit board 1. Using such a circuit board 1, the surface on which the electronic component 4 is fixed by soldering is brought into contact with the resin 3 to spread the resin 3. In this way, as shown in FIG. 2C, the resin 3 is substantially uniformly spread and filled between the inner peripheral surface of the container 2 and the circuit board 1. The resin 3 can be brought into close contact with the electronic component 4 mounted on the circuit board 1 in the above-described procedure, and heat can be radiated through the resin 3.

【0019】図2(a)のように樹脂の中央部を盛り上
げるために、本実施形態ではチキソトロピを呈する樹脂
3を用いる。チキソトロピは、継続ないし繰り返して力
が加えられると粘度が低下してゲルからゾルに変わって
流動性が増し、力を取り去るとゾルからゲルに戻る性質
ないし現象を意味している。チキソトロピの特性は構造
粘性比を用いて表される。本実施形態では構造粘性比が
1.5を下回らない樹脂3を選択してあり、このような
樹脂3を用いることによって、図2に示した工程を実現
することができる。ここに、構造粘性比とは、回転粘度
計により2rmsで測定した粘度と20rmsで測定し
た粘度との比を意味する。
In order to raise the center of the resin as shown in FIG. 2A, the present embodiment uses the resin 3 exhibiting thixotropic. The thixotropic means a property or a phenomenon in which, when force is continuously or repeatedly applied, the viscosity decreases and the fluidity increases from a gel to a sol, and when the force is removed, the sol returns to a gel. The properties of thixotropic are expressed using the structural viscosity ratio. In the present embodiment, the resin 3 whose structural viscosity ratio does not fall below 1.5 is selected. By using such a resin 3, the process shown in FIG. 2 can be realized. Here, the structural viscosity ratio means the ratio of the viscosity measured at 2 rms by a rotational viscometer to the viscosity measured at 20 rms.

【0020】ちなみに、樹脂の構造粘性比を1.0〜
3.0の範囲で増加させ、50℃に加熱した30gの樹
脂を平板上に垂らしたときの樹脂の高さを確認したとこ
ろ、表1の結果が得られた。
Incidentally, the structural viscosity ratio of the resin is 1.0 to
When the height of the resin was increased in the range of 3.0 and 30 g of the resin heated to 50 ° C. was dropped on a flat plate, and the height of the resin was confirmed, the results shown in Table 1 were obtained.

【0021】[0021]

【表1】 [Table 1]

【0022】構造粘性比の選択は容器2の大きさや容器
2の内周面(底面)と回路基板1との距離にもよるが、
本実施形態では容器2の底面と回路基板1との距離を4
mm以上とし、1mmの余裕を持たせて樹脂3の高さが
5mm以上であれば使用可能と判断した。この条件は構
造粘性比が1.5を下回らなければ満足される。
The selection of the structural viscosity ratio depends on the size of the container 2 and the distance between the inner peripheral surface (bottom surface) of the container 2 and the circuit board 1.
In the present embodiment, the distance between the bottom surface of the container 2 and the circuit board 1 is 4
If the height of the resin 3 is 5 mm or more, it is determined that the resin 3 can be used. This condition is satisfied if the structural viscosity ratio does not fall below 1.5.

【0023】上述の構成によって、回路基板1の上面に
配置されている電子部品4と回路基板1との間には樹脂
3が入り込まないから、樹脂3の膨張・収縮によって電
子部品4を実装している半田にクラックが生じるのを防
止することができる。
With the above configuration, the resin 3 does not enter between the electronic component 4 disposed on the upper surface of the circuit board 1 and the circuit board 1, and the electronic component 4 is mounted by expansion and contraction of the resin 3. Cracks can be prevented from occurring in the solder that is being used.

【0024】一方、可変抵抗器や端子のような電子部品
4に形成された隙間から樹脂3が浸入するのを防止する
ために、本実施形態では粘度が100Pa・sを下回ら
ない樹脂3を選択している。
On the other hand, in order to prevent the resin 3 from entering through gaps formed in the electronic component 4 such as a variable resistor and a terminal, in the present embodiment, a resin 3 whose viscosity does not fall below 100 Pa · s is selected. are doing.

【0025】ちなみに、実際に端子を実装した回路基板
1を容器2に納装するとともに樹脂3を充填した後、端
子の断面を見ることができるように端子を切断して樹脂
3の浸入の有無を確認したところ、表2の結果が得られ
た。ここに、樹脂3として粘度が10〜500Pa・s
の範囲のものを用いた。なお、表2において、○は樹脂
3の浸入が認められなかったもの、×は樹脂3の浸入が
あったものを意味する。
Incidentally, after the circuit board 1 on which the terminals are actually mounted is placed in the container 2 and filled with the resin 3, the terminals are cut so that the cross section of the terminals can be seen, and the presence or absence of penetration of the resin 3 is checked. Was confirmed, the results shown in Table 2 were obtained. Here, the viscosity of the resin 3 is 10 to 500 Pa · s.
The range was used. In Table 2, ○ means that no intrusion of the resin 3 was observed, and X means that there was intrusion of the resin 3.

【0026】[0026]

【表2】 [Table 2]

【0027】表2から明らかなように、粘度が100P
a・sを下回らない樹脂3を用いると電子部品としての
端子への樹脂の浸入を防止することができた。これは、
粘度が大きい樹脂3は分子間の結合力が強く流動性が小
さくなるからであると考えられる。いま単純なモデルと
して、図3に示すように、樹脂3の液面に直交するよう
に壁13を配置した場合を考える。従来用いていた粘度
の小さい樹脂3では図3(a)のように壁13に対して
上向きに力f1が作用して樹脂3と壁13との接触部位
は樹脂3の液面Sよりも高くなり、逆に粘度の大きい樹
脂3では図3(b)のように壁13に対して下向きに力
f2が作用して樹脂3と壁13との接触部位は樹脂3の
液面Sよりも低くなる。つまり、本実施形態のように比
較的高い粘度を有する樹脂3を用いることで電子部品4
への浸入を防止することが可能になる。
As is clear from Table 2, the viscosity is 100 P
When resin 3 not less than a · s was used, it was possible to prevent the resin from penetrating into terminals as electronic components. this is,
It is considered that the resin 3 having a large viscosity has a strong bonding force between molecules and a low fluidity. Now, as a simple model, consider a case where the wall 13 is arranged so as to be orthogonal to the liquid surface of the resin 3 as shown in FIG. In the conventionally used resin 3 having a small viscosity, a force f1 acts upward on the wall 13 as shown in FIG. 3A, so that the contact portion between the resin 3 and the wall 13 is higher than the liquid level S of the resin 3. On the contrary, in the case of the resin 3 having a large viscosity, a force f2 acts downward on the wall 13 as shown in FIG. 3B, and the contact portion between the resin 3 and the wall 13 is lower than the liquid level S of the resin 3. Become. That is, by using the resin 3 having a relatively high viscosity as in the present embodiment, the electronic component 4
It is possible to prevent infiltration into the air.

【0028】以上説明したように、容器2に充填する樹
脂3としては、粘度が100Pa・sを超えるとともに
構造粘性比が1.5を超える樹脂を選定すれば、電子部
品4への樹脂3の浸入が防止され、かつ樹脂3の膨張・
収縮により半田にクラックが生じることが防止される。
ところで、樹脂3は放熱を目的としているのであるか
ら、樹脂3として熱伝導率の比較的高い材料を用いるこ
とが必要である。そこで、樹脂3にはフィラ(充填剤)
を添加することによって樹脂3の熱伝導率を高めている
のであるが、フィラが添加されていることによって樹脂
3の硬さが増すことになる。ここにおいて、低温時に
は、回路基板1が収縮するとともに樹脂3も収縮するの
であって、樹脂3の収縮率は一般に回路基板1よりも大
きいから、回路基板1に密着した樹脂3の収縮によって
回路基板1には表面に沿う方向の外力が作用し、回路基
板1において電子部品4を半田固定している面に面に沿
った応力が生じて半田が剪断される可能性がある(この
場合には半田にリングクラックと称するクラックが生じ
る)。とくに、樹脂3の硬さが増すと回路基板1との収
縮率の差が大きくなることが知られており、樹脂3の膨
張・収縮によって半田が剪断される可能性が高くなる。
As described above, if a resin having a viscosity exceeding 100 Pa · s and a structural viscosity ratio exceeding 1.5 is selected as the resin 3 to be filled in the container 2, the resin 3 can be applied to the electronic component 4. Infiltration is prevented, and expansion and
Cracking of the solder due to shrinkage is prevented.
By the way, since the resin 3 is intended to dissipate heat, it is necessary to use a material having a relatively high thermal conductivity as the resin 3. Therefore, filler (filler) is used for resin 3.
Is added to increase the thermal conductivity of the resin 3, but the addition of the filler increases the hardness of the resin 3. Here, at a low temperature, the circuit board 1 shrinks and the resin 3 also shrinks. Since the shrinkage of the resin 3 is generally larger than that of the circuit board 1, the shrinkage of the resin 3 adhered to the circuit board 1 causes the circuit board to shrink. 1, an external force acts in the direction along the surface, and a stress is generated along the surface of the circuit board 1 on which the electronic component 4 is fixed by soldering. A crack called a ring crack occurs in the solder). In particular, it is known that when the hardness of the resin 3 increases, the difference in the shrinkage ratio with the circuit board 1 increases, and the possibility that the solder is sheared due to expansion and contraction of the resin 3 increases.

【0029】上述の説明から明らかなように、樹脂3に
フィラを添加することによって生じる半田の剪断を防止
するには、樹脂3の硬さを制限すればよいと言える。そ
こで、本実施形態では樹脂3の硬さの評価方法として、
JIS K−6253に規定されたタイプAデュロメー
タ硬さ試験を適用し、硬さに上限値を設定した。すなわ
ち、以下に示す評価試験の結果に基づいて、本実施形態
において用いる電気機器の使用温度範囲の下限温度(−
40℃)で硬さが88を超えないように設定した。
As is apparent from the above description, it can be said that the hardness of the resin 3 should be limited in order to prevent the shearing of the solder caused by adding the filler to the resin 3. Therefore, in this embodiment, as a method of evaluating the hardness of the resin 3,
A type A durometer hardness test specified in JIS K-6253 was applied, and an upper limit value was set for the hardness. That is, based on the results of the evaluation tests described below, the lower limit temperature (−
(40 ° C.) so that the hardness does not exceed 88.

【0030】評価試験として樹脂3の硬さを60〜10
5の範囲で変化させ、試験温度を−40℃と80℃とし
て放置時間が各30分、500サイクルである温度変化
試験を行った。その結果、表3に示すように、硬さが1
05では半田にクラックが生じたが、硬さが88を超え
ない範囲では半田にクラックが生じないという結果が得
られた。そこで、本実施形態では硬さが88を超えない
ようにフィラを添加した樹脂を用い、これによって樹脂
3の膨張・収縮による半田の剪断を防止することができ
た。なお、表3において「クラック有」はリングクラッ
クの発生を意味する。ここに、樹脂3は回路基板1の下
面(半田固定した面)と容器2の内周面との間にのみ充
填し、弾性率と硬さとは−40℃において測定した。表
3における「JIS A」は、JIS K−6253に
規定されたタイプAデュロメータ硬さ試験による硬さ測
定を意味する。
As an evaluation test, the hardness of the resin 3 was set to 60 to 10
The temperature was changed in the range of 5 and the test temperature was set to −40 ° C. and 80 ° C., and the temperature change test was performed for 30 minutes each and 500 cycles. As a result, as shown in Table 3, the hardness was 1
In the case of No. 05, cracks occurred in the solder, but the result was obtained that no crack occurred in the solder in the range where the hardness did not exceed 88. Therefore, in the present embodiment, a resin to which a filler is added is used so that the hardness does not exceed 88, and thereby, the shearing of the solder due to the expansion and contraction of the resin 3 can be prevented. In Table 3, “with cracks” means occurrence of ring cracks. Here, the resin 3 was filled only between the lower surface of the circuit board 1 (the surface on which the solder was fixed) and the inner peripheral surface of the container 2, and the elastic modulus and hardness were measured at −40 ° C. “JIS A” in Table 3 means hardness measurement by a type A durometer hardness test specified in JIS K-6253.

【0031】[0031]

【表3】 [Table 3]

【0032】硬さを制限することによって温度変化で半
田にクラックが生じるのを防止することができる理由に
ついて説明する。いま、温度がT1からT2(<T1に
変化したときに樹脂の長さがl1からl2(<l1)に
変化したとする。この変形を樹脂の応力との関係で表せ
ば以下のように考えることができる。すなわち、一般に
物体は変形が充分に小さい範囲ではフックの法則が成立
するから、樹脂の変形もフックの法則に従うものとみな
す。この場合、物質ごとに決まる定数である弾性率は、
元の長さに対する伸縮量と、物質に生じた単位断面積当
たりの応力と比例関係を表すから、弾性率=(単位断面
積当たりの応力)/(元の長さに対する伸縮量)の関係
になる。すなわち、温度T2における弾性率をE、断面
積Aの熱応力をF/Aと表すれば、次式が成立する。 F/A=E(Δl/l1) …(1) 一方、樹脂の変形を温度変化による変形として考え、熱
線膨張係数をαとすれば、次式が成立する。 Δl/l1=α(T1−T2)=α・ΔT …(2) (1)式に(2)式を代入すれば次式が得られる。 F/A=E・α・ΔT …(3) 要するに単位断面積当たりの応力は温度差ΔTに比例す
ることになる。半田の状態を確認するための温度変化に
関する試験条件として、−40〜80℃の範囲を考える
と、ウレタン樹脂では図4に示すように周囲温度の変化
に対して熱線膨張係数αは一定であるとみなせるのに対
し、図5に示すように弾性率Eは低温であるほど増加
し、試験条件の温度範囲では下限値である−40℃のと
きに弾性率Eが最大になる。したがって、(3)式によ
れば、樹脂3の熱応力の最大値は−40℃の弾性率Eに
より決まることになる。つまり、樹脂3の弾性率Eを考
慮することによって半田にクラックが生じるのを防止す
ることが可能になる。樹脂の弾性率Eは変形しにくさを
表しているから、弾性率Eを樹脂3の硬さとみなすこと
ができる。実際に図6に示すように弾性率と硬さとは同
傾向の温度特性を示す。したがって、本実施形態では弾
性率ではなく、樹脂の一般的な物性として測定される硬
さを樹脂3の条件として用い、この硬さを制限すること
によって半田にクラックが生じるのを防止しているので
ある。
The reason why cracking of solder due to temperature change can be prevented by limiting the hardness will be described. Now, suppose that the resin length changes from l1 to l2 (<l1) when the temperature changes from T1 to T2 (<T1. If this deformation is expressed in relation to the stress of the resin, it is considered as follows. In other words, in general, the deformation of a resin is assumed to be in accordance with Hooke's law because the object generally satisfies Hooke's law in a range where the deformation is sufficiently small, and in this case, the elastic modulus, which is a constant determined for each substance, is
Since the proportional relationship between the amount of expansion and contraction relative to the original length and the stress per unit cross-sectional area generated in the substance is expressed, the elastic modulus = (stress per unit cross-sectional area) / (the amount of expansion and contraction relative to the original length) Become. That is, if the elastic modulus at the temperature T2 is represented by E and the thermal stress of the cross-sectional area A is represented by F / A, the following equation is established. F / A = E (Δl / 11) (1) On the other hand, if the deformation of the resin is considered as the deformation due to the temperature change and the coefficient of linear thermal expansion is α, the following equation is established. Δl / 11 = α (T1−T2) = α · ΔT (2) By substituting equation (2) into equation (1), the following equation is obtained. F / A = E · α · ΔT (3) In short, the stress per unit cross-sectional area is proportional to the temperature difference ΔT. Considering a range of −40 to 80 ° C. as a test condition relating to a temperature change for confirming a state of the solder, in the case of urethane resin, as shown in FIG. On the other hand, as shown in FIG. 5, the elastic modulus E increases as the temperature decreases, and the elastic modulus E becomes maximum at the lower limit of −40 ° C. in the temperature range of the test conditions. Therefore, according to the equation (3), the maximum value of the thermal stress of the resin 3 is determined by the elastic modulus E at −40 ° C. That is, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the solder by considering the elastic modulus E of the resin 3. Since the elastic modulus E of the resin indicates the difficulty of deformation, the elastic modulus E can be regarded as the hardness of the resin 3. Actually, as shown in FIG. 6, the elastic modulus and the hardness show the same temperature characteristic. Therefore, in the present embodiment, the hardness measured as a general physical property of the resin is used as the condition of the resin 3 instead of the elastic modulus, and the occurrence of cracks in the solder is prevented by limiting the hardness. It is.

【0033】一例として、樹脂3の構造粘性比を2.0
とし、−40℃における硬さを80としたところ、本実
施形態の樹脂3の条件が満たされ、温度変化による半田
のクラックを防止できた。
As an example, the resin 3 has a structural viscosity ratio of 2.0
When the hardness at −40 ° C. was set to 80, the condition of the resin 3 of the present embodiment was satisfied, and the crack of the solder due to the temperature change was prevented.

【0034】(第2の実施の形態)図7に本実施形態の
構成を示す。本実施形態では、回路基板1の下面側であ
って容器2の内周面との間に樹脂3を充填しない空洞部
7を設けてある。樹脂3であるウレタン樹脂は、ポリイ
ソシアネートとポリオールとの化学反応によってウレタ
ン結合を生成し硬化する。ここに、ポリイソシアネート
は反応性の高い材料であり、水と反応して炭酸ガス(C
2 )を発生させる。一方、回路基板1には微量の水分
が含まれているものであるから、回路基板1に含まれた
水分によって回路基板1と樹脂3との接触面に炭酸ガス
が発生し気泡ができ、結果的に回路基板1や電子部品4
と樹脂3とが密着しなくなって放熱性が低下することに
なる。そこで、電子部品4からの放熱経路への影響が少
ない箇所に空洞部7を設けているのであって、発生した
炭酸ガスを空洞部7に逃がすことによって電子部品4と
樹脂3との密着度の低下を防止しているのである。ここ
で、図8のように、回路基板1において空洞部7に対応
する箇所に貫通孔8を形成し、貫通孔8を通して回路基
板1の上面側と空洞部7とを連通させるようにすれば、
ポリイソシアネートと水との反応により生成された炭酸
ガスを貫通孔8を通して外気に逃がすとともに空洞部7
の内部の空気の膨張・収縮による回路基板1へのストレ
スを防止することができ、結果的に半田へのストレスを
軽減することができる(図8に炭酸ガスの泡Gが空洞部
7に向かう様子を矢印で示してある)。なお、図8では
貫通孔8を設けやすくするために、樹脂3において空洞
部7との境界部分の傾斜方向を図7とは変更してある。
第1の実施の形態で説明したように樹脂3の中央部を盛
り上げた形で樹脂3を容器2に導入するから、図8に示
す形状のほうが図7に示す形状よりも実現が容易であ
る。
(Second Embodiment) FIG. 7 shows the configuration of the present embodiment. In the present embodiment, a cavity 7 not filled with the resin 3 is provided between the lower surface of the circuit board 1 and the inner peripheral surface of the container 2. The urethane resin as the resin 3 generates a urethane bond by a chemical reaction between the polyisocyanate and the polyol, and is cured. Here, polyisocyanate is a highly reactive material, and reacts with water to produce carbon dioxide (C
O 2 ). On the other hand, since the circuit board 1 contains a small amount of water, the water contained in the circuit board 1 generates carbon dioxide gas on the contact surface between the circuit board 1 and the resin 3 to form bubbles. Circuit board 1 and electronic components 4
And the resin 3 do not adhere to each other, so that the heat radiation property is reduced. Therefore, the cavity 7 is provided at a location where the influence on the heat radiation path from the electronic component 4 is small, and the generated carbon dioxide gas is released to the cavity 7 to reduce the degree of adhesion between the electronic component 4 and the resin 3. It prevents the decline. Here, as shown in FIG. 8, a through hole 8 is formed at a position corresponding to the cavity 7 in the circuit board 1, and the upper surface side of the circuit board 1 and the cavity 7 communicate with each other through the through hole 8. ,
The carbon dioxide gas generated by the reaction between the polyisocyanate and water is released to the outside air through the through-holes 8 and the cavity 7 is formed.
Can prevent stress on the circuit board 1 due to expansion and contraction of the air inside the circuit board, and as a result, stress on the solder can be reduced. The situation is indicated by arrows). In FIG. 8, the inclination direction of the boundary between the resin 3 and the cavity 7 is changed from that of FIG.
As described in the first embodiment, since the resin 3 is introduced into the container 2 with the central portion of the resin 3 raised, the shape shown in FIG. 8 is easier to realize than the shape shown in FIG. .

【0035】(第3の実施の形態)第1の実施の形態で
は樹脂3としてウレタン樹脂を用いる例を示したが、本
実施形態では樹脂3としてシリコン樹脂を用いる。基本
的な構成については第1の実施の形態と同様であるか
ら、以下では主として第1の実施の形態との相違点につ
いて説明する。第1の実施の形態と同様に、樹脂3には
チキソトロピを呈し構造粘性比が1.5を下回らず、ま
た粘度が100Pa・sを下回らないものを用いる。た
だし、樹脂3の硬さについては、第1の実施の形態では
JIS K−6253に規定されたタイプAデュロメー
タ硬さ試験による硬さのみで樹脂3の特性を規定した
が、本実施形態では硬さと熱線膨張係数との積が使用温
度範囲の下限温度(−40℃)で0.0113を超えな
いように設定している。
(Third Embodiment) In the first embodiment, an example in which a urethane resin is used as the resin 3 has been described, but in this embodiment, a silicon resin is used as the resin 3. Since the basic configuration is the same as that of the first embodiment, the following mainly describes differences from the first embodiment. As in the case of the first embodiment, a resin 3 that exhibits thixotropy, has a structural viscosity ratio of less than 1.5 and a viscosity of not less than 100 Pa · s is used. However, with regard to the hardness of the resin 3, in the first embodiment, the characteristics of the resin 3 are defined only by the hardness according to the type A durometer hardness test specified in JIS K-6253. And the coefficient of linear thermal expansion are set so as not to exceed 0.0113 at the lower limit temperature (−40 ° C.) of the operating temperature range.

【0036】すなわち、評価試験として硬さと熱線膨張
係数との積を0.0080〜0.0130の範囲で変化
させ、試験温度を−40と80℃として放置時間が各3
0分、500サイクルである温度変化試験を行った。そ
の結果、表3と同じ結果が得られた。上記積が0.01
30では半田にクラックが生じたが、上記積が0.01
13を超えない範囲では半田にクラックが生じないとい
う結果が得られた。そこで、本実施形態では硬さと熱線
膨張率との積が0.0113を超えない樹脂を用い、こ
れによって樹脂3の膨張・収縮による半田の剪断を防止
することができた。
That is, as an evaluation test, the product of the hardness and the coefficient of linear thermal expansion was changed in the range of 0.0080 to 0.0130, the test temperature was -40 and 80 ° C., and the standing time was 3 times.
A temperature change test was performed for 500 cycles at 0 minutes. As a result, the same results as in Table 3 were obtained. The above product is 0.01
In the case of No. 30, cracks occurred in the solder.
In the range not exceeding 13, the result that no crack was generated in the solder was obtained. Therefore, in the present embodiment, a resin whose product of the hardness and the coefficient of linear thermal expansion does not exceed 0.0113 is used, whereby the shearing of the solder due to the expansion and contraction of the resin 3 can be prevented.

【0037】本実施形態についても第1の実施の形態に
おいて説明したように、(3)式が成立するのである
が、ウレタン樹脂では熱線膨張係数αが試験条件の温度
範囲(つまり使用温度範囲)では一定とみなすことがで
きたのに対して、シリコン樹脂では弾性率が周囲温度の
影響を受けるだけではなく、熱線膨張係数αがフィラの
増加に伴って小さくなるから、弾性率と熱線膨張係数と
の両方を考慮することが必要になる。つまり、(3)式
によれば樹脂3の熱応力の最大値は弾性率Eと熱線膨張
率αとの積により決まるから、弾性率Eと熱線膨張率α
との積を考慮することによって、半田にクラックが生じ
るという問題を解決することが可能になる。他の構成お
よび機能については第1の実施の形態と同様である。
In this embodiment, as described in the first embodiment, the equation (3) is satisfied. However, in the case of urethane resin, the coefficient of linear thermal expansion α is within the temperature range of the test condition (that is, the operating temperature range). In silicon resin, the elastic modulus is not only affected by the ambient temperature, but also the coefficient of linear thermal expansion α decreases with the increase of the filler. It is necessary to consider both. That is, according to equation (3), the maximum value of the thermal stress of the resin 3 is determined by the product of the elastic modulus E and the linear thermal expansion coefficient α.
By considering the product of the above, it is possible to solve the problem that cracks occur in the solder. Other configurations and functions are the same as those of the first embodiment.

【0038】本実施形態においては、樹脂3の硬さと熱
線膨張率の積を0.01としたところ、樹脂3の熱応力
を抑えることができ、回路基板1と電子部品4のリード
との間で生じる応力を抑制し半田に剪断力によるクラッ
クが生じるのを防止することができた。
In this embodiment, when the product of the hardness of the resin 3 and the coefficient of linear thermal expansion is set to 0.01, the thermal stress of the resin 3 can be suppressed, and the distance between the circuit board 1 and the leads of the electronic component 4 can be reduced. , And the occurrence of cracks in the solder due to shearing force can be prevented.

【0039】[0039]

【発明の効果】請求項1の発明は、電子部品を実装した
回路基板が収納された容器内に放熱用の樹脂が充填され
た電気機器であって、回路基板の一面において電子部品
が半田固定されるとともに発熱量の大きい電子部品が前
記一面に表面実装され、回路基板の前記一面と容器の内
側面との間にのみ樹脂が充填されているものであり、回
路基板において発熱量の大きい電子部品を実装している
面と回路基板を収納した容器の内周面との間に放熱用の
樹脂を充填しているので、電子部品からの熱を樹脂を通
して放熱させることができ、電子部品の温度上昇を抑制
することができるのはもちろんのこと、回路基板におい
て樹脂と接触していない面に可変抵抗器や端子のような
隙間を有した電子部品をを実装することによって、これ
らの電子部品に樹脂が浸入するのを防止することができ
る。その結果、これらの電子部品を回路基板から浮かせ
て配置するなどの面倒な作業が不要になり、製造が容易
になって製造コストが低減されるとともに、容器の低背
化につながる。
According to the first aspect of the present invention, there is provided an electric device in which a resin for heat dissipation is filled in a container in which a circuit board on which an electronic component is mounted is housed, wherein the electronic component is fixed by soldering on one surface of the circuit board. And an electronic component having a large calorific value is surface-mounted on the one surface, and a resin is filled only between the one surface of the circuit board and the inner surface of the container. Since the resin for heat dissipation is filled between the surface on which the components are mounted and the inner peripheral surface of the container housing the circuit board, heat from the electronic components can be radiated through the resin, and Not only can the temperature rise be suppressed, but also by mounting electronic components with gaps such as variable resistors and terminals on the surface of the circuit board that is not in contact with the resin, these electronic components Tree There can be prevented from entering. As a result, troublesome operations such as placing these electronic components off the circuit board become unnecessary, which facilitates production, reduces production cost, and reduces the height of the container.

【0040】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、前記樹脂がウレタン樹脂であって、比較的安価な樹
脂を放熱用に用いることができる。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the resin is a urethane resin, and a relatively inexpensive resin can be used for heat radiation.

【0041】請求項3の発明は、請求項2の発明におい
て、前記樹脂についてJIS K−6253に規定され
たタイプAデュロメータ硬さ試験による硬さが使用温度
範囲の下限温度において88を超えないようにしたもの
であり、周囲温度の変化による樹脂の膨張・収縮によっ
て回路基板に生じる応力を比較的小さくすることがで
き、結果的に電子部品を回路基板に固定している半田に
クラックが生じるのを防止することができる。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the invention, the hardness of the resin in a type A durometer hardness test specified in JIS K-6253 does not exceed 88 at the lower limit temperature of the operating temperature range. The stress generated on the circuit board due to expansion and contraction of the resin due to the change in ambient temperature can be made relatively small, and as a result, cracks occur in the solder fixing the electronic components to the circuit board. Can be prevented.

【0042】請求項4の発明は、請求項2または請求項
3の発明において、前記回路基板の前記一面と前記容器
の内側面との間であって前記電子部品の放熱経路に影響
しない部位に前記樹脂が充填されない空洞部を設けたも
のであり、ウレタン樹脂を生成する物質に水分が反応す
ることによって生じる炭酸ガスを空洞部に逃がすことが
でき、炭酸ガスの発生によって樹脂と電子部品や回路基
板との密着度が低下するのを防止することができる。そ
の結果、電子部品に樹脂を密着させて効率よく放熱させ
ることが可能になる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the second or third aspect, a portion between the one surface of the circuit board and the inner surface of the container and not affecting a heat radiation path of the electronic component is provided. It is provided with a hollow portion not filled with the resin, the carbon dioxide gas generated by the reaction of moisture with the substance that generates the urethane resin can be released to the hollow portion, and the resin and the electronic component or circuit are generated by the generation of the carbon dioxide gas. A decrease in the degree of adhesion to the substrate can be prevented. As a result, it becomes possible to efficiently dissipate heat by bringing the resin into close contact with the electronic component.

【0043】請求項5の発明は、請求項4の発明におい
て、前記回路基板に前記空洞部と連通する貫通孔が形成
されているものであり、空洞部に入った炭酸ガスを貫通
孔を通して外気に放出することができ、また空洞部の内
部の空気が周囲温度によって膨張・収縮しても回路基板
に圧力が作用せず、結果的に電子部品を実装する半田に
機械的ストレスが作用するのを防止することができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the fourth aspect of the present invention, a through hole communicating with the cavity is formed in the circuit board, and the carbon dioxide gas entering the cavity is exposed to the outside air through the through hole. When the air inside the cavity expands and contracts due to the ambient temperature, no pressure acts on the circuit board, and as a result, mechanical stress acts on the solder for mounting the electronic components. Can be prevented.

【0044】請求項6の発明は、請求項1の発明におい
て、前記樹脂がシリコン樹脂であって、比較的安価な樹
脂を放熱用に用いることができる。
According to a sixth aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the resin is a silicone resin, and a relatively inexpensive resin can be used for heat radiation.

【0045】請求項7の発明は、請求項6の発明におい
て、前記シリコン樹脂についてJIS K−6253に
規定されたタイプAデュロメータ硬さ試験による硬さと
熱線膨張率との積が0.0113を超えないものであ
り、周囲温度の変化による樹脂の膨張・収縮によって回
路基板に生じる応力を比較的小さくすることができ、結
果的に電子部品を回路基板に固定している半田にクラッ
クが生じるのを防止することができる。
According to a seventh aspect of the present invention, in the sixth aspect of the invention, the product of the hardness and the coefficient of linear thermal expansion of the silicone resin in the type A durometer hardness test specified in JIS K-6253 exceeds 0.0113. The stress that occurs on the circuit board due to the expansion and contraction of the resin due to changes in the ambient temperature can be made relatively small, and as a result, cracks occur in the solder that fixes the electronic components to the circuit board. Can be prevented.

【0046】請求項8の発明は、請求項1ないし請求項
7の発明において、前記樹脂がチキソトロピを呈し構造
粘性比が1.5を下回らないことを特徴とするものであ
り、容器に樹脂の中央部を周部よりも盛り上げた形で導
入することが可能になり、その後、回路基板で樹脂を押
し付けながら容器に充填することによって、樹脂と回路
基板および回路基板に面実装した電子部品とを密着させ
ることができ、樹脂による電子部品の放熱を効率よく行
うことができる。
The invention of claim 8 is characterized in that, in the invention of claims 1 to 7, the resin exhibits thixotropy and the structural viscosity ratio does not fall below 1.5. It is possible to introduce the resin with the center part raised from the peripheral part, and then fill the container with the resin while pressing the resin on the circuit board, so that the resin and the circuit board and the electronic components surface-mounted on the circuit board can be separated. The electronic components can be radiated efficiently by the resin.

【0047】請求項9の発明は、請求項1ないし請求項
8の発明において、前記樹脂のゾル状態での粘度が10
0Pa・sを下回らないものであり、可変抵抗器や端子
のような隙間を有する電子部品であっても樹脂が内部に
浸入しにくくなり、接触不良や動作不良を生じる可能性
が低減され、結果的に歩留まりが向上する。
According to a ninth aspect of the present invention, in the first to eighth aspects, the viscosity of the resin in a sol state is 10%.
It does not fall below 0 Pa · s, and even with electronic components having gaps such as variable resistors and terminals, resin hardly penetrates into the inside, and the possibility of causing poor contact or malfunction is reduced, and as a result, The yield is improved.

【0048】請求項10の発明は、請求項1ないし請求
項9の発明において、前記回路基板には放電灯を点灯さ
せる点灯回路が実装されているものであり、放電灯点灯
装置を構成する発熱部品からの放熱を樹脂を用いて効率
よく行うことができるから、放電灯点灯装置の小型化に
つながり、しかも上述した各請求項の発明の構成を採用
することによって、これら請求項に対応した効果を奏す
ることになる。
According to a tenth aspect of the present invention, in the first to ninth aspects of the present invention, a lighting circuit for lighting a discharge lamp is mounted on the circuit board. Since heat can be efficiently radiated from the parts by using the resin, it is possible to reduce the size of the discharge lamp lighting device, and furthermore, by adopting the configuration of the invention described in each of the above claims, the effects corresponding to these claims can be obtained. Will be played.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す断面図であ
る。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a first embodiment of the present invention.

【図2】同上の製造工程を示す工程図である。FIG. 2 is a process chart showing a manufacturing process of the same.

【図3】同上の原理説明図である。FIG. 3 is a diagram illustrating the principle of the above.

【図4】同上の原理説明図である。FIG. 4 is a diagram illustrating the principle of the above.

【図5】同上の原理説明図である。FIG. 5 is a diagram illustrating the principle of the above.

【図6】同上の原理説明図である。FIG. 6 is a diagram illustrating the principle of the above.

【図7】本発明の第2の実施の形態を示す断面図であ
る。
FIG. 7 is a sectional view showing a second embodiment of the present invention.

【図8】同上の要部拡大断面図である。FIG. 8 is an enlarged sectional view of a main part of the above.

【図9】従来例を示す拡大断面図である。FIG. 9 is an enlarged sectional view showing a conventional example.

【図10】同上の問題点を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing the above problem.

【図11】同上の問題点を示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view showing the above problem.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路基板 2 容器 3 樹脂 4 電子部品 5 リード 6 半田 7 空洞部 8 貫通孔 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 2 Container 3 Resin 4 Electronic component 5 Lead 6 Solder 7 Hollow part 8 Through-hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西本 和弘 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 水川 宏光 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 金井 教郎 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 本郷 敏一 兵庫県姫路市西延末404番1号 池田電機 株式会社内 (72)発明者 安田 正吉 兵庫県姫路市西延末404番1号 池田電機 株式会社内 (72)発明者 伊藤 一茂 兵庫県姫路市西延末404番1号 池田電機 株式会社内 Fターム(参考) 3K014 LB02 4E360 CA02 EA24 ED22 EE02 GA12 GA24 GA52 GA53 GB51 GB97 GC08 GC11 5E322 AA11 AB09 EA11 FA05  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kazuhiro Nishimoto 1048 Kazumasa Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Works, Ltd. 72) Inventor Norio Kanai 1048 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Works, Ltd. (72) Inventor Shunichi Hongo 404-1, Nishinobumatsu, Himeji City, Hyogo Prefecture Ikeda Electric Co., Ltd. 404-1, Nishinobumatsu, Himeji-shi, Ikeda Electric Co., Ltd. (72) Inventor Kazushige Ito 404-1, Nishinobumatsu, Himeji-shi, Hyogo Ikeda Electric Co., Ltd. F-term (reference) 3K014 LB02 4E360 CA02 EA24 ED22 EE02 GA12 GA24 GA52 GA53 GB51 GB97 GC08 GC11 5E322 AA11 AB09 EA11 FA05

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子部品を実装した回路基板が収納され
た容器内に放熱用の樹脂が充填された電気機器であっ
て、回路基板の一面において電子部品が半田固定される
とともに発熱量の大きい電子部品が前記一面に表面実装
され、回路基板の前記一面と容器の内側面との間にのみ
樹脂が充填されていることを特徴とする電気機器。
1. An electric device in which a resin for heat dissipation is filled in a container in which a circuit board on which an electronic component is mounted is housed, wherein the electronic component is fixed on one surface of the circuit board by soldering and generates a large amount of heat. An electronic device, wherein an electronic component is surface-mounted on the one surface, and a resin is filled only between the one surface of the circuit board and the inner surface of the container.
【請求項2】 前記樹脂がウレタン樹脂であることを特
徴とする請求項1記載の電気機器。
2. The electric device according to claim 1, wherein the resin is a urethane resin.
【請求項3】 前記樹脂について、JIS K−625
3に規定されたタイプAデュロメータ硬さ試験による硬
さが使用温度範囲の下限温度において88を超えないこ
とを特徴とする請求項2記載の電気機器。
3. The resin according to JIS K-625.
3. The electric apparatus according to claim 2, wherein the hardness according to the type A durometer hardness test specified in 3 does not exceed 88 at the lower limit temperature of the operating temperature range.
【請求項4】 前記回路基板の前記一面と前記容器の内
側面との間であって前記電子部品の放熱経路に影響しな
い部位に前記樹脂が充填されない空洞部を設けたことを
特徴とする請求項2または請求項3記載の電気機器。
4. A cavity that is not filled with the resin is provided between the one surface of the circuit board and the inner surface of the container and does not affect a heat radiation path of the electronic component. The electric device according to claim 2 or 3.
【請求項5】 前記回路基板に前記空洞部と連通する貫
通孔が形成されていることを特徴とする請求項4記載の
電気機器。
5. The electric device according to claim 4, wherein a through-hole communicating with the cavity is formed in the circuit board.
【請求項6】 前記樹脂がシリコン樹脂であることを特
徴とする請求項1記載の電気機器。
6. The electric device according to claim 1, wherein the resin is a silicone resin.
【請求項7】 前記樹脂について、JIS K−625
3に規定されたタイプAデュロメータ硬さ試験による硬
さと熱線膨張率との積が0.0113を超えないことを
特徴とする請求項6記載の電気機器。
7. The resin according to JIS K-625.
7. The electrical device according to claim 6, wherein the product of the hardness and the coefficient of linear thermal expansion in the type A durometer hardness test specified in 3 does not exceed 0.0113.
【請求項8】 前記樹脂がチキソトロピを呈し構造粘性
比が1.5を下回らないことを特徴とする請求項1ない
し請求項7のいずれか1項に記載の電気機器。
8. The electric device according to claim 1, wherein the resin exhibits thixotropy and a structural viscosity ratio does not fall below 1.5.
【請求項9】 前記樹脂のゾル状態での粘度が100P
a・sを下回らないことを特徴とする請求項1ないし請
求項8のいずれか1項に記載の電気機器。
9. The resin in a sol state having a viscosity of 100 P
The electrical device according to any one of claims 1 to 8, wherein the value does not fall below a · s.
【請求項10】 前記回路基板には放電灯を点灯させる
点灯回路が実装されていることを特徴とする請求項1な
いし請求項9のいずれか1項に記載の電気機器。
10. The electric device according to claim 1, wherein a lighting circuit for lighting a discharge lamp is mounted on the circuit board.
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