JP2002090394A - Voltage measurement circuit and its calibration method - Google Patents
Voltage measurement circuit and its calibration methodInfo
- Publication number
- JP2002090394A JP2002090394A JP2000276104A JP2000276104A JP2002090394A JP 2002090394 A JP2002090394 A JP 2002090394A JP 2000276104 A JP2000276104 A JP 2000276104A JP 2000276104 A JP2000276104 A JP 2000276104A JP 2002090394 A JP2002090394 A JP 2002090394A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- correction
- amplifier
- measurement
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 57
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 7
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000010485 coping Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電圧測定回路及び
その校正方法に関し、より詳細には、入力した交流電圧
に対する周波数特性を補正する電圧測定回路及びその校
正方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a voltage measuring circuit and a method for calibrating the same, and more particularly, to a voltage measuring circuit for correcting a frequency characteristic of an input AC voltage and a method for calibrating the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】電圧測定回路は、入力段にあるアッテネ
ータ回路及びバッファアンプを経由して、直流電圧又は
交流電圧を測定する。電圧測定回路の入力段は、寄生容
量が存在し、アッテネータ回路の減衰率に影響を与える
ため、低い周波数と高い周波数では交流電圧の測定値が
異なる。このため、電圧測定回路は、一般に周波数特性
を補正する機能を有する。2. Description of the Related Art A voltage measuring circuit measures a DC voltage or an AC voltage via an attenuator circuit and a buffer amplifier in an input stage. Since the input stage of the voltage measurement circuit has a parasitic capacitance and affects the attenuation rate of the attenuator circuit, the measured value of the AC voltage differs between a low frequency and a high frequency. Therefore, the voltage measurement circuit generally has a function of correcting the frequency characteristics.
【0003】図8は、実開平6−58617号公報に記
載の周波数特性補正回路のブロック図である。この電圧
測定回路の入力段は、電圧入力端子からの交流電圧を、
キャパシタC81と抵抗R81、キャパシタC82と抵抗
R82、〜、キャパシタC8nと抵抗R8nのn個の並列回路
が直列に接続されたアッテネータ回路に入力する。アッ
テネータ回路は、各直列回路に接続される切替スイッチ
S81〜S8n-1の何れか1つをオンすることにより、入力
された交流電圧を所定の減衰率で降圧し、寄生容量Cs
を有するバッファアンプ81の入力端子に入力する。FIG. 8 is a block diagram of a frequency characteristic correction circuit described in Japanese Utility Model Laid-Open No. 6-58617. The input stage of this voltage measurement circuit receives the AC voltage from the voltage input terminal,
Capacitor C 81 and resistor R 81, a capacitor C 82 and resistor R 82, ~, n pieces of parallel circuit of the capacitor C 8n and the resistor R 8n are input to the attenuator circuit connected in series. Attenuator circuit, by turning on any one of the changeover switches S 81 to S 8n-1, which is connected to the series circuits, to step down an input AC voltage at a predetermined attenuation rate, the parasitic capacitance C s
To the input terminal of the buffer amplifier 81 having
【0004】バッファアンプ81は、減衰された交流電
圧を増幅し、電圧測定部82の入力端子に入力する。バ
ッファアンプ81の入力端子及び出力端子は、可変アン
プ83及び補正抵抗Raを介して接続される。交流電圧
測定部82は、増幅された交流電圧を測定し、測定値を
制御部84に入力する。制御部84は、測定値を補正デ
ータに変換し、補正メモリ85及び可変アンプ83に入
力する。The buffer amplifier 81 amplifies the attenuated AC voltage and inputs the amplified AC voltage to an input terminal of a voltage measuring unit 82. The input terminal and the output terminal of the buffer amplifier 81 are connected via a variable amplifier 83 and a correction resistor Ra. The AC voltage measuring unit 82 measures the amplified AC voltage and inputs the measured value to the control unit 84. The control unit 84 converts the measured value into correction data and inputs the data to the correction memory 85 and the variable amplifier 83.
【0005】可変アンプ83は、補正データに応じて等
価抵抗が変化する可変抵抗機能を有する。制御部84
は、補正データを修正して、アッテネータ回路の抵抗R
81〜R 8n、可変アンプ83の等価抵抗、及び、補正抵抗
Raから成る抵抗減衰率と、アッテネータ回路のキャパ
シタC81〜C8n、及び、寄生容量Csから成る容量減衰
率とを一致させる。[0005] The variable amplifier 83 is operated in accordance with correction data.
It has a variable resistance function that changes the valence resistance. Control unit 84
Corrects the correction data and adjusts the resistance R of the attenuator circuit.
81~ R 8n, The equivalent resistance of the variable amplifier 83, and the correction resistance
RaAnd the capacity of the attenuator circuit
Sita C81~ C8nAnd the parasitic capacitance CsConsisting of volumetric attenuation
Match the rate.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】上記従来の電圧測定回
路では、抵抗減衰率を所定の値に調整して、抵抗減衰率
と容量減衰率とを一致させ、周波数特性を補正するもの
である。しかし、寄生容量Csは、経年変化等の理由に
より変動する要因が多く、抵抗減衰率を容量減衰率に合
わせる方法によると、電圧測定回路の入力段における減
衰率も変動する恐れがある。また、キャパシタC81〜C
8nは、抵抗R81〜R8nに比して、高精度に設定すること
が難しく、部品調達や低コスト化に影響を与えていた。In the above conventional voltage measuring circuit, the resistance decay rate is adjusted to a predetermined value so that the resistance decay rate and the capacity decay rate coincide with each other to correct the frequency characteristics. However, the parasitic capacitance C s has many factors that fluctuate due to aging or the like. According to the method of adjusting the resistance decay rate to the capacitance decay rate, the attenuation rate at the input stage of the voltage measurement circuit may also fluctuate. The capacitors C 81 to C 81
8n is more difficult to set with high precision than the resistors R 81 to R 8n , which has affected parts procurement and cost reduction.
【0007】本発明は、上記したような従来の技術が有
する問題点を解決するためになされたものであり、広い
周波数帯域で高精度の測定データを取得できる電圧測定
回路及びその校正方法を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and provides a voltage measurement circuit capable of acquiring high-precision measurement data in a wide frequency band and a calibration method thereof. The purpose is to do.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の電圧測定回路は、複数の測定レンジに対応
する減衰率を有し、選択された減衰率に基づいて入力電
圧を降圧するアッテネータと、該アッテネータの出力電
圧に基づいて入力電圧を測定する電圧測定部とを有する
電圧測定回路において、各測定レンジ毎に補正値を記憶
する記憶部と、前記アッテネータと前記電圧測定部との
間に接続され、前記補正値に基づいて制御されて増幅度
を決定する可変容量コンデンサを有する補正増幅器とを
備えることを特徴とする。In order to achieve the above object, a voltage measuring circuit according to the present invention has an attenuation rate corresponding to a plurality of measurement ranges, and reduces an input voltage based on a selected attenuation rate. An attenuator, and a voltage measurement circuit having a voltage measurement unit that measures an input voltage based on an output voltage of the attenuator, a storage unit that stores a correction value for each measurement range, the attenuator, the voltage measurement unit, And a correction amplifier having a variable capacitor that is controlled based on the correction value and determines the amplification degree.
【0009】本発明の電圧測定回路は、補正増幅器が補
正値に基づいて、構成要素である可変容量コンデンサの
値を調整し、キャパシタの影響が現れる高周波領域に対
応することにより、周波数特性を補正するので、広い周
波数帯域で高精度の測定データを取得できる。In the voltage measuring circuit according to the present invention, the correction amplifier adjusts the value of the variable capacitor as a constituent element based on the correction value to cope with a high frequency region where the influence of the capacitor appears, thereby correcting the frequency characteristic. Therefore, highly accurate measurement data can be obtained in a wide frequency band.
【0010】また、本発明の電圧測定回路の校正方法
は、上記に記載の電圧測定回路を校正する方法であっ
て、所定以下の低い周波数の基準電圧を入力して、前記
電圧測定部で第1の出力電圧を測定し、前記各測定レン
ジ毎に、所定以上の高い周波数の基準入力電圧に基づい
て前記電圧測定部で第2の出力電圧を測定し、前記第1
の出力電圧と第2の出力電圧の差が所定範囲以下となる
ように可変容量コンデンサを設定し、該設定に基づいて
補正値を決定し、該補正値を前記記憶部に保存すること
を特徴とする。A method of calibrating a voltage measuring circuit according to the present invention is a method of calibrating a voltage measuring circuit as described above, wherein a reference voltage having a low frequency equal to or lower than a predetermined value is inputted, and 1 is measured for each of the measurement ranges, and a second output voltage is measured by the voltage measurement unit based on a reference input voltage having a frequency higher than a predetermined value for each of the measurement ranges.
The variable capacitor is set so that the difference between the output voltage of the second output voltage and the second output voltage is equal to or less than a predetermined range, a correction value is determined based on the setting, and the correction value is stored in the storage unit. And
【0011】本発明の電圧測定回路の校正方法では、第
1の出力電圧と第2の出力電圧との差を所定の差以下に
することで、良好な校正が行われる。In the method for calibrating a voltage measuring circuit according to the present invention, good calibration is performed by making the difference between the first output voltage and the second output voltage equal to or less than a predetermined difference.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態例に基づ
いて、本発明の電圧測定回路について図面を参照して説
明する。図1は、本発明の一実施形態例の電圧測定回路
のブロック図である。電圧測定回路は、アッテネータ回
路1、バッファアンプ2、補正アンプ(補正増幅器)
3、電圧測定部4、補正メモリ(記憶部)5、及び、制
御部6で構成される。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a voltage measuring circuit according to the present invention will be described with reference to the drawings based on an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a block diagram of a voltage measuring circuit according to an embodiment of the present invention. The voltage measurement circuit includes an attenuator circuit 1, a buffer amplifier 2, a correction amplifier (correction amplifier)
3, a voltage measurement unit 4, a correction memory (storage unit) 5, and a control unit 6.
【0013】アッテネータ回路1は、抵抗R1〜Rn+1、
キャパシタC1〜Cn+1で、及び、切替スイッチS1〜Sn
によって構成される。アッテネータ回路1の入力端子
は、本電圧測定回路の電圧入力端子を構成し、抵抗R1
及びキャパシタC1を介して、アッテネータ回路1の出
力端子に接続される。アッテネータ回路1の出力端子
は、切替スイッチS1〜Snの各一端に接続され、バッフ
ァアンプ2の入力端子に接続される。切替スイッチS1
〜Snの各他端は、抵抗R2〜Rn+1及びキャパシタC2〜
Cn+1の一端に夫々接続される。抵抗R2〜Rn+1及びキ
ャパシタC2〜Cn+1の他端は、全てグランドに接続され
る。The attenuator circuit 1 includes resistors R 1 to R n + 1 ,
The capacitors C 1 to C n + 1 and the changeover switches S 1 to S n
Composed of The input terminal of the attenuator circuit 1 constitutes the voltage input terminal of the present voltage measurement circuit, and the resistor R 1
And via a capacitor C 1, it is connected to the output terminal of the attenuator 1. Output terminals of the attenuator circuit 1 is connected to each one end of the selector switch S 1 to S n, is connected to an input terminal of the buffer amplifier 2. Changeover switch S 1
The other end of each of the to S n, the resistance R 2 ~R n + 1 and the capacitor C 2 ~
Each is connected to one end of C n + 1 . The other end of the resistor R 2 ~R n + 1 and the capacitor C 2 ~C n + 1 are all connected to ground.
【0014】バッファアンプ2の出力端子は、補正アン
プ3の交流入力端子に接続される。補正アンプ3の交流
出力端子は、電圧測定部4の入力端子に接続される。電
圧測定部4の出力端子は、補正メモリ5の入力端子に接
続される。補正メモリ5の出力端子は、制御部6の入力
端子に接続される。制御部6の出力端子は、補正アンプ
3の直流入力端子に接続される。An output terminal of the buffer amplifier 2 is connected to an AC input terminal of the correction amplifier 3. An AC output terminal of the correction amplifier 3 is connected to an input terminal of the voltage measurement unit 4. An output terminal of the voltage measuring unit 4 is connected to an input terminal of the correction memory 5. An output terminal of the correction memory 5 is connected to an input terminal of the control unit 6. The output terminal of the control unit 6 is connected to the DC input terminal of the correction amplifier 3.
【0015】図2は、図1のアッテネータ回路1、バッ
ファアンプ2、及び、補正アンプ3の具体例である。ア
ッテネータ回路1は、切替スイッチS1がオンした状態
を示してあり、抵抗R1、R2キャパシタC1、及び、C2
のみを示す。バッファアンプ2は、オペアンプOP1で
構成されるボルテージホロワァである。オペアンプOP
1の非反転入力端子は、アッテネータ回路1の出力端子
に接続される。オペアンプOP1の出力端子は、反転入
力端子に接続される。FIG. 2 shows a specific example of the attenuator circuit 1, the buffer amplifier 2, and the correction amplifier 3 of FIG. Attenuator circuit 1 is shown a state in which the changeover switch S 1 is turned on, resistors R 1, R 2 capacitors C 1 and,, C 2
Only shown. Buffer amplifier 2 is a voltage follower Wow including the operational amplifier OP 1. Operational amplifier OP
One non-inverting input terminal is connected to the output terminal of the attenuator circuit 1. The output terminal of the operational amplifier OP 1 is connected to the inverting input terminal.
【0016】補正アンプ3は、オペアンプOP2、可変
容量コンデンサC11、キャパシタC1 2、抵抗R11、及
び、R12で構成される反転増幅器である。補正アンプ3
の入力端子は、抵抗R11及び可変容量コンデンサC11を
介して、オペアンプOP2の反転入力端子に接続され
る。オペアンプOP2の非反転入力端子は、グランドに
接続される。オペアンプOP2の出力端子は、抵抗R12
及びキャパシタC12を介して、オペアンプOP2の反転
入力端子に接続される。The correction amplifier 3 includes an operational amplifier OP 2, variable capacitor C 11, the capacitor C 1 2, resistors R 11, and, an inverting amplifier consisting of R 12. Correction amplifier 3
The input terminal, via a resistor R 11 and variable capacitor C 11, is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier OP 2. The non-inverting input terminal of the operational amplifier OP 2 is connected to ground. The output terminal of the operational amplifier OP 2 is connected to a resistor R 12
And via a capacitor C 12, it is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier OP 2.
【0017】なお、図2では可変容量コンデンサC11と
して入力される制御直流電圧102に基づいて2端子間
の容量が変化するバリキャップダイオードを用いている
が、これに限るものではなく、例えばFETをダイオー
ドとして用いてゲートとドレイン,ソース間の印加電圧
に応じて変化するFETの入力容量と帰還容量を利用し
てもよい。FETをダイオードとして用いることによ
り、バリキャップダイオードの場合における制御直流電
圧に対する静電容量の再現性の問題を大幅に改善でき
る。その他、同種の可変容量素子を用いてもよい。[0017] Although using the varicap diode capacitance between two terminals is changed based on the control DC voltage 102 which is input as a variable capacitor C 11 in FIG. 2, not limited to this, for example, FET May be used as a diode to utilize the input capacitance and feedback capacitance of the FET, which change according to the voltage applied between the gate, drain and source. By using an FET as a diode, the problem of the reproducibility of the capacitance with respect to the control DC voltage in the case of a varicap diode can be greatly improved. In addition, the same type of variable capacitance element may be used.
【0018】制御部6は、キー入力操作を認識して、各
回路に必要な指示を送る。アッテネータ回路1は、制御
部6からの指示により、切替スイッチS1〜Snの何れか
1つをオンして、測定レンジに対応する減衰率Dに設定
する。アッテネータ回路1の出力端子には、バッファア
ンプ2の入力容量、バッファアンプ2の接続線に対する
浮遊容量、及び、切替スイッチS1〜Snの入力容量から
成る寄生容量Csが存在する。キャパシタC2〜Cn+1の
値は、それ自身に寄生容量Csを含む値として設計され
る。The control unit 6 recognizes the key input operation and sends necessary instructions to each circuit. Attenuator circuit 1 in accordance with an instruction from the control unit 6, and on either one of the changeover switch S 1 to S n, is set to the attenuation factor D corresponding to the measurement range. The output terminal of the attenuator circuit 1, the input capacitance of the buffer amplifier 2, the stray capacitance to the connection line buffer amplifier 2, and the parasitic capacitance C s is present consisting of the input capacitance of the changeover switch S 1 to S n. The value of the capacitor C 2 ~C n + 1 is designed itself as a value including the parasitic capacitance C s.
【0019】アッテネータ回路1は、抵抗R1及びキャ
パシタC1から成る並列回路のインピーダンスをZ1と
し、抵抗R2及びキャパシタC2から成る並列回路のイン
ピーダンスをZ2とし、入力交流電圧101の角周波数
をωとすると、下記のように示される。 Z1=1/{(1/R1)+jωC1}・・・・(1) Z2=1/{(1/R2)+jωC2}・・・・(2) アッテネータ回路1は、電圧入力端子からの入力交流電
圧101を減衰交流電圧103に降圧し、バッファアン
プ2を経由して減衰交流電圧103を補正アンプ3に入
力する。入力交流電圧101に対する減衰交流電圧10
3の減衰率Dは、式(1)及び式(2)から下記のよう
に求められる。 D=Z2/(Z1+Z2)・・・・(3)In the attenuator circuit 1, the impedance of the parallel circuit composed of the resistor R 1 and the capacitor C 1 is Z 1 , the impedance of the parallel circuit composed of the resistor R 2 and the capacitor C 2 is Z 2, and the angle of the input AC voltage 101 is Assuming that the frequency is ω, it is shown as follows. Z 1 = 1 / {(1 / R 1 ) + jωC 1 } (1) Z 2 = 1 / {(1 / R 2 ) + jωC 2 } (2) The attenuator circuit 1 The input AC voltage 101 from the input terminal is reduced to an attenuated AC voltage 103, and the attenuated AC voltage 103 is input to the correction amplifier 3 via the buffer amplifier 2. Attenuated AC voltage 10 for input AC voltage 101
The decay rate D of 3 is obtained from Expressions (1) and (2) as follows. D = Z 2 / (Z 1 + Z 2) ···· (3)
【0020】この減衰率Dは、アッテネータ回路1の抵
抗分による抵抗減衰率DR、及び、アッテネータ回路1
のリアクタンス分による容量減衰率DCを含む。各減衰
率DR、DCは、 DR=R2/(R1+R2)・・・・(4) DC=C1/(C1+C2)・・・・(5) と表わされる。The attenuation rate D is determined by the resistance attenuation rate D R due to the resistance of the attenuator circuit 1 and the attenuator circuit 1
The capacitance decay rate D C due to the reactance component of The respective attenuation rates D R and D C are expressed as follows: D R = R 2 / (R 1 + R 2 ) (4) D C = C 1 / (C 1 + C 2 ) (5) It is.
【0021】入力交流電圧101が直流に近い低周波数
の場合、アッテネータ回路1のリアクタンス分が高イン
ピーダンスになるので、容量減衰率DCを無視できる。
減衰率Dの値は、式(4)に示す抵抗減衰率DRの値と
して求められる。[0021] When the input AC voltage 101 is low frequency close to direct current, since the reactance attenuator circuit 1 becomes a high impedance, negligible capacity fade rate D C.
The value of the attenuation factor D is determined as the value of the resistance attenuation rate D R as shown in equation (4).
【0022】入力交流電圧101が高周波数の場合、ア
ッテネータ回路1のリアクタンス分が低インピーダンス
になるので、容量減衰率DCを無視できない。ここで、
抵抗減衰率DRと容量減衰率DCとが等しい減衰条件が成
立すれば、減衰率Dの値は、式(4)に示す抵抗減衰率
DRの値として求められる。[0022] When the input AC voltage 101 is high frequency, because the reactance of the attenuator circuit 1 becomes low impedance, not negligible capacity fade rate D C. here,
If resistivity decay rate D R and fade rate D C are equal damping condition is satisfied, the value of the attenuation factor D is determined as the value of the resistance attenuation rate D R as shown in equation (4).
【0023】図3は、減衰交流電圧103の周波数特性
を示す図である。同図(a)は、減衰交流電圧103の
測定結果の表である。抵抗R1、R2、キャパシタC1、
及び、C2を夫々10MΩ、1.11MΩ、11.1P
F、及び、100PF(0±5%)に設計し、アッテネ
ータ回路1の減衰率Dを0.1に設定する。電圧入力端
子からの入力交流電圧101は、校正の基準になる所定
の振幅を有し、且つ、100Hz以上の数種類の周波数
を有する。キャパシタC2は、誤差が発生する実際の電
圧測定回路を想定し、設計した値に±0%、+5%、及
び、−5%の変動分が加えられる。測定結果は、100
Hzの周波数で求めた測定データに対する、他の周波数
で求めた測定データの相対比として求められる。FIG. 3 is a diagram showing a frequency characteristic of the attenuated AC voltage 103. FIG. 3A is a table of the measurement results of the attenuated AC voltage 103. Resistors R 1 , R 2 , capacitor C 1 ,
And C 2 is 10 MΩ, 1.11 MΩ, 11.1 P, respectively.
F and 100 PF (0 ± 5%), and the attenuation factor D of the attenuator circuit 1 is set to 0.1. The input AC voltage 101 from the voltage input terminal has a predetermined amplitude serving as a reference for calibration, and has several types of frequencies of 100 Hz or more. Capacitor C 2 is assumed actual voltage measurement circuit error occurs, ± 0% to a value designed, + 5%, and, -5% of variation is added. The measurement result is 100
It is obtained as a relative ratio of the measurement data obtained at another frequency to the measurement data obtained at the frequency of Hz.
【0024】同図(b)は、減衰交流電圧103の周波
数特性である。キャパシタC2の変動分のない場合、上
記の減衰条件が成立し、相対比の大きさが全ての周波数
で、0.00dBになる。キャパシタC2の変動分があ
る場合、上記の減衰条件が成立せず、相対比の大きさが
周波数の増加に伴い0.00dBより大きくなる。従っ
て、減衰交流電圧103は、周波数に依存する。FIG. 2B shows frequency characteristics of the attenuated AC voltage 103. If there is no capacitor C 2 of variation, said damping condition is satisfied, the magnitude of the relative ratio at all frequencies, becomes 0.00 dB. If there is a variation in the capacitor C 2, not satisfied the above attenuation conditions, the magnitude of the relative ratio is larger than 0.00dB with increasing frequency. Therefore, the attenuated AC voltage 103 depends on the frequency.
【0025】補正アンプ3は、抵抗R11及びキャパシタ
C11から成る並列回路のインピーダンスをZ3とし、抵
抗R12及びキャパシタC12から成る並列回路のインピー
ダンスをZ4とすると、下記のように示される。 Z3=1/{(1/R11)+jωC11}・・・・(6) Z4=1/{(1/R12)+jωC12}・・・・(7) 補正アンプ3は、下記に示す増幅度Gで減衰交流電圧1
03を補正交流電圧104に増幅し、補正交流電圧10
4を電圧測定部4に入力する。 G=Z4/Z3・・・・(8) ただし、式(8)は大きさのみを示す。When the impedance of the parallel circuit composed of the resistor R 11 and the capacitor C 11 is Z 3 and the impedance of the parallel circuit composed of the resistor R 12 and the capacitor C 12 is Z 4 , the correction amplifier 3 is expressed as follows. It is. Z 3 = 1 / {(1 / R 11) + jωC 11} ···· (6) Z 4 = 1 / {(1 / R 12) + jωC 12} ···· (7) correction amplifier 3, following Attenuated AC voltage 1 with amplification G shown in
03 to the corrected AC voltage 104, and the corrected AC voltage 10
4 is input to the voltage measuring unit 4. G = Z 4 / Z 3 (8) Equation (8) shows only the size.
【0026】電圧測定部4は、補正交流電圧104を測
定データにAD変換し、測定データを補正メモリ5及び
図示されない表示部に入力する。表示部は、測定データ
に基づいて、入力交流電圧101の振幅を測定者に表示
する。補正メモリ5は、測定データを一時的に記憶す
る。The voltage measuring section 4 converts the corrected AC voltage 104 into analog data and converts the measured data into the correction memory 5 and a display section (not shown). The display unit displays the amplitude of the input AC voltage 101 to the measurer based on the measurement data. The correction memory 5 temporarily stores the measurement data.
【0027】制御部6は、校正モードの場合、補正メモ
リ5の測定データを変更しながら、測定データを制御直
流電圧102にDA変換し、所定の条件になると、測定
データをレンジデータとして補正メモリ5に記憶する。
測定モードの場合、補正メモリ5のレンジデータを制御
直流電圧102にDA変換する。制御部6は、制御直流
電圧102を補正アンプ3に入力する。In the calibration mode, the control unit 6 converts the measured data into a control DC voltage 102 while changing the measured data in the correction memory 5 and, when a predetermined condition is satisfied, uses the measured data as range data as the correction memory. 5 is stored.
In the case of the measurement mode, the range data in the correction memory 5 is DA-converted into the control DC voltage 102. The control unit 6 inputs the control DC voltage 102 to the correction amplifier 3.
【0028】ここで、電圧測定回路に対する校正方法に
ついて説明する。制御部6は、校正モードであると認識
すると、電圧測定回路の校正方法を実施する。電圧測定
回路の測定レンジを任意のレンジに選択し、校正機器か
ら電圧測定回路の電圧入力端子に、校正の基準となる所
定の振幅値を有する入力交流電圧101を印加する。最
初、入力交流電圧101を直流に近く低い周波数に設定
する。低い周波数の入力交流電圧101の振幅を電圧測
定部4で測定データA1として測定し、所定の振幅値を
示すように表示部を校正する。Here, a calibration method for the voltage measurement circuit will be described. When recognizing that the control mode is the calibration mode, the control unit 6 executes a calibration method of the voltage measurement circuit. The measurement range of the voltage measurement circuit is selected to an arbitrary range, and an input AC voltage 101 having a predetermined amplitude value serving as a reference for calibration is applied from the calibration device to a voltage input terminal of the voltage measurement circuit. First, the input AC voltage 101 is set to a low frequency close to DC. The amplitude of the input AC voltage 101 of the low frequency measured by the voltage measuring unit 4 as the measurement data A 1, calibrating the display unit to indicate the predetermined amplitude value.
【0029】次に、入力交流電圧101を高い周波数に
設定する。高い周波数の入力交流電圧101の振幅を電
圧測定部4で測定データA2として測定する。Next, the input AC voltage 101 is set to a high frequency. Measured as measurement data A 2 the amplitude of the input AC voltage 101 of high frequency voltage measuring unit 4.
【0030】測定データA1と測定データA2との差の大
きさを測定レンジの確度として求め、測定レンジの確度
が所定の範囲内であるか判断する。“NO”であれば、
制御直流電圧102を調整し、測定データA1とA2の測
定、及び、測定レンジの確度に対する判断を再度行う。
“YES”であれば、測定確度が所定の範囲内に校正さ
れたので、測定データA2をレンジデータ(補正値)と
して補正メモリ5に記憶させる。The magnitude of the difference between the measurement data A 1 and the measurement data A 2 is determined as the accuracy of the measurement range, and it is determined whether the accuracy of the measurement range is within a predetermined range. If “NO”,
The control DC voltage 102 is adjusted, and the measurement of the measurement data A 1 and A 2 and the determination on the accuracy of the measurement range are performed again.
If "YES", since measurement accuracy is calibrated in a predetermined range, the measurement range data data A 2 (correction value) as is stored in the correction memory 5.
【0031】更に、全ての測定レンジに対して、上記と
同様にして電圧測定回路の校正方法を実施する。Further, the calibration method of the voltage measurement circuit is performed for all the measurement ranges in the same manner as described above.
【0032】また、制御部6は、測定モードであると認
識すると、通常の交流電圧の測定を実施する。入力交流
電圧101に対する補正交流電圧104の利得DGは、
式(3)及び式(8)から下記のように示される。 DG=Z2Z4/{(Z1+Z2)×Z3}・・・・(9) 可変容量コンデンサC11の値は、式(1)、式(2)、
式(6)、式(7)、及び、式(9)から下記に示すよ
うに求められる。 C11=DG/{(1/R1)2+(ωC1)2}[{(1/R1R12)+ω2C1C12 }(C1+C2)+{(C12/R1)−(C1/R12)}{(1/R1)+(1/R2 )}]・・・・(10) 制御部6は、補正メモリ5からレンジデータを読み出
し、レンジデータに基づいて、可変容量コンデンサC11
を式(10)に示す値に設定する。When the control unit 6 recognizes that the measurement mode is set, the control unit 6 measures the normal AC voltage. The gain DG of the corrected AC voltage 104 with respect to the input AC voltage 101 is
Equations (3) and (8) show the following. DG = Z 2 Z 4 / {(Z 1 + Z 2 ) × Z 3 } (9) The value of the variable capacitor C 11 is calculated by the following equations (1), (2),
It is obtained from Expressions (6), (7), and (9) as shown below. C 11 = DG / {(1 / R 1 ) 2 + (ωC 1 ) 2 } [{(1 / R 1 R 12 ) + ω 2 C 1 C 12 } (C 1 + C 2 ) + {(C 12 / R 1 ) − (C 1 / R 12 ) {(1 / R 1 ) + (1 / R 2 )}] (10) The control unit 6 reads out the range data from the correction memory 5, Based on the variable capacitor C 11
Is set to the value shown in equation (10).
【0033】図4は、補正交流電圧104の周波数特性
を示す図である。同図(a)に示すように、図3と同様
にして補正交流電圧104の測定結果が得られる。同図
(b)に示すように、キャパシタC2の変動分に関係な
く、相対比の大きさが全ての周波数で、ほぼ0.00d
Bになる。従って、補正交流電圧104は、周波数に依
存しない。FIG. 4 is a diagram showing a frequency characteristic of the corrected AC voltage 104. As shown in FIG. 3A, a measurement result of the corrected AC voltage 104 is obtained in the same manner as in FIG. As shown in FIG. (B), regardless of the variation of the capacitor C 2, is at all frequencies the magnitude of the relative ratio, approximately 0.00d
Become B. Therefore, the corrected AC voltage 104 does not depend on the frequency.
【0034】図5は、図2の他の具体例を示す第1例で
ある。アッテネータ回路1Aは、図1のアッテネータ回
路1の変形例である。アッテネータ回路1Aは、電圧入
力端子が抵抗R1及びキャパシタC1の一端に接続され
る。抵抗R1及びキャパシタC1の他端は、切替スイッチ
S1を介して出力端子に接続され、抵抗R2及びキャパシ
タC2の一端に接続される。抵抗R2及びキャパシタC2
の他端は、切替スイッチS2を介して出力端子に接続さ
れ、抵抗R3及びキャパシタC3の一端に接続される。以
下同様にして、抵抗Rn及びキャパシタCnの他端は、切
替スイッチSnを介して出力端子に接続され、抵抗Rn+1
及びキャパシタCn+1の一端に接続される。抵抗Rn+1及
びキャパシタCn+1の他端は、グランドに接続される。FIG. 5 is a first example showing another specific example of FIG. The attenuator circuit 1A is a modified example of the attenuator circuit 1 of FIG. Attenuator circuit 1A, the voltage input terminal is connected to one end of a resistor R 1 and capacitor C 1. The other end of the resistor R 1 and capacitor C 1 is connected to the output terminal through the switch S 1, it is connected to one end of the resistor R 2 and capacitor C 2. Resistance R 2 and capacitor C 2
The other end is connected to the output terminal through the switch S 2, it is connected to one end of a resistor R 3 and capacitor C 3. In the same manner, the resistance and the other end of R n and the capacitor C n is connected to the output terminal through the switch S n, the resistance R n + 1
And one end of the capacitor C n + 1 . The other ends of the resistor R n + 1 and the capacitor C n + 1 are connected to the ground.
【0035】アッテネータ回路1Aは、切替スイッチS
1〜Snの何れか1つをオンして、所定の減衰率Dに設定
する。The attenuator circuit 1A includes a changeover switch S
One of 1 to Sn is turned on to set a predetermined attenuation rate D.
【0036】図6は、図2の他の具体例を示す第2例で
ある。アッテネータ回路1Bは、図1のアッテネータ回
路1とは異なりオペアンプOP3を有し、反転増幅器と
して構成される。アッテネータ回路1Bは、電圧入力端
子が抵抗R1及びキャパシタC1の一端に接続される。抵
抗R1及びキャパシタC1の他端は、オペアンプOP3の
反転入力端子に接続され、切替スイッチS1〜Snの一端
の全てに接続される。切替スイッチS1〜Snの他端は、
抵抗R2〜Rn+1及びキャパシタC2〜Cn+1の一端に夫々
接続される。オペアンプOP3は、非反転入力端子がグ
ランドに接続され、出力端子が抵抗R2〜Rn+1及びキャ
パシタC2〜Cn+1の他端の全てに接続される。FIG. 6 is a second example showing another specific example of FIG. Attenuator 1B includes an operational amplifier OP 3 Unlike attenuator circuit 1 in FIG. 1, configured as an inverting amplifier. Attenuator 1B, a voltage input terminal is connected to one end of a resistor R 1 and capacitor C 1. The other end of the resistor R 1 and capacitor C 1 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier OP 3, is connected to all of the one end of the changeover switch S 1 to S n. The other end of the change-over switch S 1 ~S n is,
They are respectively connected to one end of the resistor R 2 ~R n + 1 and the capacitor C 2 ~C n + 1. The operational amplifier OP 3 has a non-inverting input terminal connected to the ground, the output terminal is connected to all of the other end of the resistor R 2 ~R n + 1 and the capacitor C 2 ~C n + 1.
【0037】アッテネータ回路1Bは、切替スイッチS
1〜Snの何れか1つをオンして、所定の減衰率Dに設定
する。The attenuator circuit 1B includes a switch S
One of 1 to Sn is turned on to set a predetermined attenuation rate D.
【0038】図7は、図2の他の具体例を示す第3例で
ある。バッファアンプ2Aは、図2のバッファアンプ2
とは異なり、可変容量コンデンサC11、キャパシタ
C12、抵抗R11、及び、R12を有する。バッファアンプ
2Aの入力端子は、オペアンプOP1の非反転入力端子
に接続される。オペアンプOP1の出力端子は、バッフ
ァアンプ2Aの出力端子となり、抵抗R11及び可変容量
コンデンサC11の一端に接続される。オペアンプOP1
の反転入力端子は、抵抗R11及び可変容量コンデンサC
11の他端に接続され、抵抗R12及びキャパシタC12の一
端に接続される。抵抗R12及びキャパシタC12の他端
は、グランドに接続される。FIG. 7 is a third example showing another specific example of FIG. The buffer amplifier 2A shown in FIG.
Unlike, variable capacitor C 11, a capacitor C 12, resistor R 11 and have the R 12. Input terminal of the buffer amplifier 2A is connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier OP 1. The output terminal of the operational amplifier OP 1 becomes the output terminal of the buffer amplifier 2A, is connected to one end of a resistor R 11 and variable capacitor C 11. Operational amplifier OP 1
The inverting input terminal, the resistor R 11 and a variable capacitor C
Is connected to the other end of 11 is connected to one end of a resistor R 12 and capacitor C 12. The other end of the resistor R 12 and capacitor C 12 is connected to the ground.
【0039】可変容量コンデンサC11は、制御部6から
の制御直流電圧102に基づいて、値が調整されるの
で、補正アンプ3を省略できる。The variable capacitor C 11, based on a control DC voltage 102 from the control unit 6, the value is adjusted, it can be omitted correction amplifier 3.
【0040】なお、発振器を内蔵する構成を採用するこ
ともできる。内蔵の発振器は、低い周波数及び高い周波
数の入力交流電圧101を発生し、切替スイッチを経由
してアッテネータ回路1に入力する。この場合、内蔵の
発振器により周波数特性の補正が行えるので、外部の校
正機器を必要としない自動校正が可能になる。It is to be noted that a configuration incorporating an oscillator may be employed. The built-in oscillator generates an input AC voltage 101 having a low frequency and a high frequency, and inputs the AC voltage 101 to the attenuator circuit 1 via a changeover switch. In this case, since the frequency characteristics can be corrected by the built-in oscillator, automatic calibration that does not require an external calibration device can be performed.
【0041】上記実施形態例によれば、補正増幅器が補
正値に基づいて、構成要素である可変容量コンデンサの
値を調整し、キャパシタの影響が現れる高周波領域に対
応することにより、周波数特性を補正するので、広い周
波数帯域で高精度の測定データを取得できる。また、第
1の出力電圧と第2の出力電圧との差を所定の差以下に
することで、良好な校正が行われる。According to the above embodiment, the correction amplifier adjusts the value of the variable capacitor as a constituent element based on the correction value, and adjusts the frequency characteristic by coping with the high frequency region where the influence of the capacitor appears. Therefore, highly accurate measurement data can be obtained in a wide frequency band. In addition, by making the difference between the first output voltage and the second output voltage equal to or smaller than a predetermined difference, good calibration is performed.
【0042】以上、本発明をその好適な実施形態例に基
づいて説明したが、本発明の電圧測定回路及びその校正
方法は、上記実施形態例の構成にのみ限定されるもので
なく、上記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を
施した電圧測定回路及びその校正方法も、本発明の範囲
に含まれる。Although the present invention has been described based on the preferred embodiment, the voltage measuring circuit and the calibration method of the present invention are not limited to the configuration of the above-described embodiment, and are not limited thereto. A voltage measurement circuit obtained by making various modifications and changes from the configuration of the embodiment and a calibration method thereof are also included in the scope of the present invention.
【0043】[0043]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電圧測定
回路では、補正増幅器が補正値に基づいて、構成要素で
ある可変容量コンデンサの値を調整し、キャパシタの影
響が現れる高周波領域に対応することにより、周波数特
性を補正するので、広い周波数帯域で高精度の測定デー
タを取得できる。As described above, in the voltage measuring circuit according to the present invention, the correction amplifier adjusts the value of the variable capacitor which is a component on the basis of the correction value to cope with the high frequency region where the influence of the capacitor appears. By doing so, the frequency characteristics are corrected, so that highly accurate measurement data can be obtained in a wide frequency band.
【0044】また、第1の出力電圧と第2の出力電圧と
の差を所定の差以下にすることで、良好な校正が行われ
る。Further, by making the difference between the first output voltage and the second output voltage equal to or less than a predetermined difference, good calibration is performed.
【図1】本発明の一実施形態例の電圧測定回路のブロッ
ク図である。FIG. 1 is a block diagram of a voltage measuring circuit according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1のアッテネータ回路1、バッファアンプ
2、及び、補正アンプ3の具体例である。FIG. 2 is a specific example of an attenuator circuit 1, a buffer amplifier 2, and a correction amplifier 3 of FIG.
【図3】減衰交流電圧103の周波数特性を示す図であ
る。FIG. 3 is a diagram illustrating frequency characteristics of an attenuated AC voltage 103;
【図4】補正交流電圧104の周波数特性を示す図であ
る。FIG. 4 is a diagram illustrating a frequency characteristic of a corrected AC voltage 104;
【図5】図2の他の具体例を示す第1例である。FIG. 5 is a first example showing another specific example of FIG. 2;
【図6】図2の他の具体例を示す第2例である。FIG. 6 is a second example showing another specific example of FIG. 2;
【図7】図2の他の具体例を示す第3例である。FIG. 7 is a third example showing another specific example of FIG. 2;
【図8】実開平6−58617号公報に記載の周波数特
性補正回路のブロック図である。FIG. 8 is a block diagram of a frequency characteristic correction circuit described in Japanese Utility Model Laid-Open No. 6-58617.
1 アッテネータ回路 2,81 バッファアンプ 3 補正アンプ(補償増幅器) 4 電圧測定部 5,85 補正メモリ 6,84 制御部 82 交流電圧測定部 83 可変アンプ 101 入力交流電圧 102 制御直流電圧 103 減衰交流電圧 104 補正交流電圧 R1〜Rn+1、R81〜R8n 抵抗 C1〜Cn+1、C81〜C8n キャパシタ Cs 寄生容量 C11 可変容量コンデンサ S1〜Sn、S81〜S8n 切替スイッチ OP1〜OP3 オペアンプReference Signs List 1 attenuator circuit 2, 81 buffer amplifier 3 correction amplifier (compensation amplifier) 4 voltage measurement unit 5, 85 correction memory 6, 84 control unit 82 AC voltage measurement unit 83 variable amplifier 101 input AC voltage 102 control DC voltage 103 attenuated AC voltage 104 correcting the alternating voltage R 1 ~R n + 1, R 81 ~R 8n resistance C 1 ~C n + 1, C 81 ~C 8n capacitor C s parasitic capacitance C 11 variable capacitors S 1 ~S n, S 81 ~S 8n changeover switch OP 1 ~OP 3 op-amp
Claims (2)
し、選択された減衰率に基づいて入力電圧を降圧するア
ッテネータと、該アッテネータの出力電圧に基づいて入
力電圧を測定する電圧測定部とを有する電圧測定回路に
おいて、 各測定レンジ毎に補正値を記憶する記憶部と、 前記アッテネータと前記電圧測定部との間に接続され、
前記補正値に基づいて制御されて増幅度を決定する可変
容量コンデンサを有する補正増幅器とを備えることを特
徴とする電圧測定回路。1. An attenuator having an attenuation rate corresponding to a plurality of measurement ranges and stepping down an input voltage based on a selected attenuation rate, and a voltage measuring unit measuring an input voltage based on an output voltage of the attenuator. And a storage unit for storing a correction value for each measurement range, connected between the attenuator and the voltage measurement unit,
A voltage measuring circuit, comprising: a correction amplifier having a variable capacitor that is controlled based on the correction value to determine an amplification degree.
方法であって、 所定以下の低い周波数の基準電圧を入力して、前記電圧
測定部で第1の出力電圧を測定し、 前記各測定レンジ毎に、所定以上の高い周波数の基準入
力電圧に基づいて前記電圧測定部で第2の出力電圧を測
定し、前記第1の出力電圧と第2の出力電圧の差が所定
範囲以下となるように可変容量コンデンサを設定し、該
設定に基づいて補正値を決定し、該補正値を前記記憶部
に保存することを特徴とする電圧測定回路の校正方法。2. The method for calibrating a voltage measurement circuit according to claim 1, wherein a reference voltage having a low frequency equal to or less than a predetermined frequency is input, and the first output voltage is measured by the voltage measurement unit. For each measurement range, a second output voltage is measured by the voltage measurement unit based on a reference input voltage having a frequency higher than a predetermined value, and a difference between the first output voltage and the second output voltage is equal to or less than a predetermined range. A method for calibrating a voltage measurement circuit, comprising: setting a variable capacitor so as to obtain a correction value based on the setting; and storing the correction value in the storage unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000276104A JP2002090394A (en) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | Voltage measurement circuit and its calibration method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000276104A JP2002090394A (en) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | Voltage measurement circuit and its calibration method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002090394A true JP2002090394A (en) | 2002-03-27 |
Family
ID=18761626
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000276104A Pending JP2002090394A (en) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | Voltage measurement circuit and its calibration method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002090394A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008037166A1 (en) * | 2006-09-26 | 2008-04-03 | Huawei Technologies Co., Ltd. | A method and system for acquiring an ac voltage |
US20180372779A1 (en) * | 2017-06-26 | 2018-12-27 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement input circuit and measurement device |
JPWO2021182082A1 (en) * | 2020-03-13 | 2021-09-16 |
-
2000
- 2000-09-12 JP JP2000276104A patent/JP2002090394A/en active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008037166A1 (en) * | 2006-09-26 | 2008-04-03 | Huawei Technologies Co., Ltd. | A method and system for acquiring an ac voltage |
US20180372779A1 (en) * | 2017-06-26 | 2018-12-27 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement input circuit and measurement device |
US11287447B2 (en) * | 2017-06-26 | 2022-03-29 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement input circuit and measurement device |
US11852658B2 (en) | 2017-06-26 | 2023-12-26 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement input circuit and measurement device |
JPWO2021182082A1 (en) * | 2020-03-13 | 2021-09-16 | ||
WO2021182082A1 (en) * | 2020-03-13 | 2021-09-16 | 日本電産リード株式会社 | Clamp-type ac voltage probe |
US12092662B2 (en) | 2020-03-13 | 2024-09-17 | Nidec Read Corporation | Clamp-type AC voltage probe |
JP7632452B2 (en) | 2020-03-13 | 2025-02-19 | ニデックアドバンステクノロジー株式会社 | Clamp-type AC voltage probe |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3851375B2 (en) | Impedance measuring device | |
KR900008759B1 (en) | Method and apparatus for calibrating and equalizing a multi-channel automatic gain control amplifier | |
KR0185511B1 (en) | Adaptive Digital Filter for Improved Measurement Accuracy in Electronic Instruments | |
US4857827A (en) | Electronic load for testing transformers | |
SK174097A3 (en) | A system for measuring and indicating changes in the resistance of a living body | |
US6094045A (en) | Input ranging circuit for an electronic instrument | |
JPH1054851A (en) | Instrument for measuring output current of power source | |
US20080100373A1 (en) | Bandwidth calibration of active filter | |
US5920187A (en) | Dual path attenuator for a high frequency calibration circuit | |
US5424677A (en) | Common mode error correction for differential amplifiers | |
US4541065A (en) | Direct volts calibrator | |
JP2002090394A (en) | Voltage measurement circuit and its calibration method | |
CN103795371B (en) | Signal processing apparatus with low frequency compensating for frequency response circuit | |
EP1485993B1 (en) | R.f. output power control | |
US5332963A (en) | High input impedance buffer with low feedback resistance | |
JPH0652283B2 (en) | LCR meter | |
JP2595679Y2 (en) | Attenuator frequency characteristic correction circuit | |
US4733173A (en) | Electronic component measurement apparatus | |
US20060192571A1 (en) | Source measure circuit | |
JP2001188074A (en) | Impedance measuring method and device | |
JPH04276561A (en) | Frequency-characteristic calibrating apparatus | |
EP1678822B1 (en) | Method for calibration of a signal receiver | |
SU1318920A1 (en) | Bridge for measuring capacitance and tangent of loss angle of capacitors | |
JP3457412B2 (en) | Ultra low noise programmable DC power supply | |
JPH0720607Y2 (en) | Signal source for level calibration |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040310 |