JP2002034961A - Radiographing apparatus and radiographing method - Google Patents
Radiographing apparatus and radiographing methodInfo
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明が属する技術分野】本発明は、特に医療用放射線
画像を撮影する放射線撮影装置および放射線撮影方法に
関し、特にエリアセンサの画素欠損を補間し、良好な放
射線画像を得ることができる放射線撮影装置および放射
線撮影方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a radiographic apparatus and a radiographic method for capturing a medical radiographic image, and more particularly to a radiographic apparatus capable of interpolating a pixel defect of an area sensor and obtaining a good radiographic image. And a radiographic method.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、医療分野などでは、被写体を通過
した放射線を用いて、放射線画像をフィルムに写し込む
ことが行われている。これに対し、近年、放射線画像を
直接デジタル画像として撮影できる装置が開発されてい
る。例えば、被写体に照射された放射線量を検出し、そ
の検出量に対応して形成される放射線画像を電気信号と
して得る装置では、輝尽性蛍光体を用いたディテクタを
用いる方法が特開昭５５−１２４２９号公報、特開昭６
３−１８９８５３号公報等に、多数開示されている。2. Description of the Related Art Conventionally, in the medical field, etc., a radiation image is printed on a film using radiation that has passed through a subject. On the other hand, in recent years, an apparatus capable of directly capturing a radiation image as a digital image has been developed. For example, in an apparatus for detecting the amount of radiation applied to a subject and obtaining a radiation image formed corresponding to the detected amount as an electric signal, a method using a detector using a stimulable phosphor is disclosed in -12429, JP-A-6
Many are disclosed in, for example, JP-A-3-189853.
【０００３】このような装置では、シート状の基板に輝
尽性蛍光体を塗布、あるいは蒸着等によって固着したデ
ィテクタに、いったん被写体を透過した放射線を照射し
て輝尽性蛍光体に放射線を吸収させる。その後、この輝
尽性蛍光体を、光または熱エネルギーで励起することに
より、この輝尽性蛍光体が前記吸収によって蓄積してい
る放射線エネルギーを蛍光として放射させ、この蛍光を
光電変換して画像信号を得るということを行っている。[0003] In such an apparatus, a stimulable phosphor is applied to a sheet-like substrate, or a detector fixed by vapor deposition or the like is once irradiated with radiation that has passed through a subject to absorb the radiation into the stimulable phosphor. Let it. Thereafter, the stimulable phosphor is excited by light or heat energy to cause the radiation energy accumulated by the stimulable phosphor to be emitted as fluorescence, and the fluorescence is photoelectrically converted to an image. I'm going to get a signal.
【０００４】一方、照射された放射線の強度に応じた電
荷を光導電層に生成し、生成された電荷を二次元的に配
列された複数のコンデンサ（画素）に蓄積し、それら蓄
積された電荷を取り出すことにより得られる放射線画像
検出装置が提案されている。このような放射線画像形成
装置は、フラットパネルディテクタ（ＦＰＤ）と呼ばれ
る。On the other hand, charges corresponding to the intensity of the irradiated radiation are generated in the photoconductive layer, and the generated charges are stored in a plurality of two-dimensionally arranged capacitors (pixels). There has been proposed a radiation image detection device obtained by extracting the radiation image. Such a radiation image forming apparatus is called a flat panel detector (FPD).
【０００５】このＦＰＤとしては、特開平７−６２２８
号公報、特開平９−９００４８号公報等に記載されてい
るように、照射された放射線強度に応じた蛍光を発する
シンチレータと、シンチレータから発する蛍光を直接ま
たはレンズユニットを介して受光し、光電変換を行うフ
ォトダイオードやＣＣＤのような光電変換素子の組み合
わせ（エリアセンサ）によって実現されるものが知られ
ている。また特開平６−３４２０９８号公報に記載され
ているように、照射された放射線を直接電荷に変換する
ものも知られている。The FPD is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-6228.
JP-A-9-90048, JP-A-9-90048, etc., a scintillator that emits fluorescence in accordance with the intensity of the irradiated radiation, and receives the fluorescence emitted from the scintillator directly or through a lens unit, and performs photoelectric conversion. Is realized by a combination (area sensor) of a photoelectric conversion element such as a photodiode or a CCD for performing the above. Further, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-342098, there is known a device that directly converts irradiated radiation into electric charges.
【０００６】これらの装置は、画像データをデジタルデ
ータとして得られるため、例えば周波数強調処理や、階
調変換処理のような画像処理を容易に行えるという利点
を有する。そのため幅広い撮影条件に対して診断に適し
た画像を容易に作成することができるので、医療用放射
線画像撮影装置として用いられている。またＦＰＤにつ
いては、鮮鋭性等の画質の良さ、装置全体を小型化でき
ること等から特に注目されている。[0006] Since these devices can obtain image data as digital data, they have an advantage that image processing such as frequency emphasis processing and gradation conversion processing can be easily performed. For this reason, an image suitable for diagnosis can be easily created under a wide range of imaging conditions, so that it is used as a medical radiation image capturing apparatus. Also, FPDs have received particular attention because of their excellent image quality such as sharpness and the ability to reduce the size of the entire device.
【０００７】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしＦＰＤでは、エ
リアセンサの製造工程上の問題や経時変化により、セン
サ自体に画素欠陥が存在することがある。また、エリア
センサとしてＣＣＤやＣ−Ｍｏｓセンサを用いた場合、
ある画素において直接放射線粒子が入射すると、この入
射粒子は非常に高いエネルギーを有するため、当該画素
について信号飽和してしまい、一時的な画素欠陥となる
恐れが高い。However, in the FPD, a pixel defect may be present in the sensor itself due to a problem in the manufacturing process of the area sensor or a change with time. When a CCD or C-Mos sensor is used as an area sensor,
When a radiation particle is directly incident on a certain pixel, the incident particle has a very high energy, so that a signal is saturated in the pixel and there is a high possibility that a temporary pixel defect occurs.
【０００８】これらの原因により、一部の画素について
被写体の情報が得られなくなったり、本来の被写体情報
とは異なる情報が混在してしまうと、誤診に結び付く可
能性があるため、これら異常な信号値を有する画素につ
いて、慎重に補正を行うことが必要とされている。For these reasons, if information on the subject cannot be obtained for some pixels, or if information different from the original subject information is mixed, it may lead to erroneous diagnosis. Careful correction is required for pixels having values.
【０００９】特に、放射線の直接入射による信号飽和
は、撮影の度、発生する画素の位置や数が変わってしま
うため、エリアセンサ自体が持つ元々の画素欠陥と異な
り、予め位置等記憶しておくことができず、撮影の度判
定し、補正することが必要となる。In particular, the signal saturation due to the direct incidence of radiation changes the position and number of generated pixels every time imaging is performed. Therefore, unlike the original pixel defect of the area sensor itself, the position and the like are stored in advance. Cannot be performed, and it is necessary to determine and correct each time of shooting.
【００１０】一方、シンチレータのムラや、複数のエリ
アセンサを用いる際におけるエリアセンサ毎の感度バラ
ツキにより、放射線を均一照射しても画像全体の信号値
が均一になるとは限らず、これらは画像の質を劣化させ
る要因となる。On the other hand, due to unevenness of the scintillator and variations in sensitivity of each area sensor when a plurality of area sensors are used, even if the radiation is uniformly irradiated, the signal value of the entire image is not necessarily uniform. It is a factor that deteriorates quality.
【００１１】そこでシンチレータのムラ等を補正するた
めに、各画素毎に信号レベルの補正量を求め、それら補
正量を加える等して補正することにより、最終的に画像
を得るということが行われる。Therefore, in order to correct unevenness of the scintillator, a correction amount of a signal level is obtained for each pixel, and correction is performed by adding the correction amounts, thereby finally obtaining an image. .
【００１２】信号レベルの補正量を求める際には、当該
放射線撮影装置に対し、一旦画像全面に均一になるよう
放射線を照射し、その際の画像（所謂ベタ画像）につい
て画像全体の信号値が均一になるよう、各画素毎に信号
値を加える等する信号レベルの補正量を算出する。When obtaining the correction amount of the signal level, the radiation imaging apparatus is once irradiated with radiation so as to be uniform over the entire image, and the signal value of the entire image (so-called solid image) at that time is changed. A signal level correction amount such as adding a signal value for each pixel is calculated so as to be uniform.
【００１３】この信号レべルの補正量算出の際に、前記
放射線の直接入射が発生した画素については、シンチレ
ータの発光光量とは関係の無い信号値となるため、通常
撮影時と同様、このような画素について予め正しく補正
しない限り、信号レベル補正量も正しい値を得ることは
できないという問題がある。At the time of calculating the correction amount of the signal level, the pixel at which the direct incidence of the radiation has a signal value irrelevant to the light emission amount of the scintillator. Unless such pixels are correctly corrected in advance, there is a problem that a correct value of the signal level cannot be obtained.
【００１４】かかる従来技術の問題点に鑑み、本発明
は、画素欠陥を効果的に補正することにより、高画質な
放射線画像を形成できる放射線撮影装置及び放射線撮影
方法を提供することを目的とする。[0014] In view of the problems of the prior art, an object of the present invention is to provide a radiographic apparatus and a radiographic method capable of forming a high-quality radiographic image by effectively correcting pixel defects. .
【００１５】[0015]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく、
第１の本発明の放射線撮影装置は、放射線発生手段によ
って発生された放射線が被写体を透過することによって
得られる被写体情報を、シンチレータによって可視光に
変換し、変換された可視光を、レンズユニットまたはそ
のアレイを介して前記レンズユニットに対応して配置さ
れたエリアセンサによって電気信号として取得し、また
は前記可視光を直接エリアセンサによって電気信号とし
て取得し、放射線画像を形成する放射線撮影装置におい
て、前記放射線が前記エリアセンサに直接入射すること
による信号飽和した画素を検出する飽和画素検出手段
と、該飽和画素検出手段によって検出された画素に対
し、その周辺に存在する画素の信号値から補間して当該
画素の信号値とする画素補間手段を有することを特徴と
する。In order to achieve the above object,
The radiation imaging apparatus according to the first aspect of the present invention converts subject information obtained by transmitting the radiation generated by the radiation generating means through the subject into visible light with a scintillator, and converts the converted visible light into a lens unit or In a radiation imaging apparatus that obtains an electric signal by an area sensor disposed corresponding to the lens unit through the array, or obtains the visible light as an electric signal by an area sensor directly, and forms a radiation image, Saturated pixel detection means for detecting a pixel whose signal is saturated due to the direct incidence of radiation on the area sensor, and for a pixel detected by the saturated pixel detection means, interpolating from signal values of pixels present around the pixel. It is characterized by having pixel interpolating means for setting a signal value of the pixel.
【００１６】第２の本発明の放射線撮影装置は、放射線
発生手段によって発生された放射線が被写体を透過する
ことによって得られる被写体情報を、シンチレータによ
って可視光に変換し、変換された可視光を、レンズユニ
ットまたはそのアレイを介して前記レンズユニットに対
応して配置されたエリアセンサによって電気信号として
取得し、または前記可視光を直接エリアセンサによって
電気信号として取得し、放射線画像を形成する放射線撮
影装置において、該放射線撮影装置に対し、被写体を介
することなく、画像領域全体に対し略均一な強度になる
よう直接放射線を照射し、その際の各画素毎の信号値を
調べ、該各画素毎の信号値が一定になるよう、信号レベ
ルを補正するための各画素毎の信号レベル補正値を算出
する信号レベル補正値算出手段と、前記放射線が前記エ
リアセンサに直接入射することによる信号飽和した画素
を検出する飽和画素検出手段と、該飽和画素検出手段に
よって検出された画素に対し、その周辺に存在する画素
の信号値から補間して当該画素の信号値とする画素補間
手段とを有し、該信号レベル補正値算出手段により、前
記信号レベル補正値を算出する際、前記飽和画素検出手
段によって検出された信号飽和した画素に対しては、前
記画素補間手段によって補間された信号値を、当該画素
の信号値として信号レベル補正値の算出を行うことを特
徴とする。A radiation imaging apparatus according to a second aspect of the present invention converts subject information obtained by transmission of radiation generated by radiation generating means through a subject into visible light by a scintillator, and converts the converted visible light into A radiation imaging apparatus that obtains an electric signal by an area sensor disposed corresponding to the lens unit via a lens unit or an array thereof, or obtains the visible light directly as an electric signal by an area sensor to form a radiation image In, the radiation imaging apparatus, without passing through the subject, directly irradiating the entire image area with direct radiation so as to have a substantially uniform intensity, the signal value of each pixel at that time is examined, for each pixel A signal level compensator for calculating a signal level correction value for each pixel to correct the signal level so that the signal value is constant. Value calculating means, a saturated pixel detecting means for detecting a pixel in which a signal is saturated due to the radiation being directly incident on the area sensor, and for a pixel detected by the saturated pixel detecting means, Pixel interpolation means for interpolating from the signal value to obtain the signal value of the pixel, wherein the signal level correction value is calculated by the signal level correction value calculation means, and the signal detected by the saturated pixel detection means is calculated. For a saturated pixel, a signal level interpolated by the pixel interpolating means is used as a signal value of the pixel to calculate a signal level correction value.
【００１７】第３の本発明の放射線撮影方法は、放射線
発生手段によって発生された放射線が被写体を透過する
ことによって得られる被写体情報を、シンチレータによ
って可視光に変換し、変換された可視光を、レンズユニ
ットまたはそのアレイを介して前記レンズユニットに対
応して配置されたエリアセンサによって電気信号として
取得し、または前記可視光を直接エリアセンサによって
電気信号として取得し、放射線画像を形成する放射線撮
影方法において、前記放射線が前記エリアセンサに直接
入射することによる信号飽和した画素を検出し、検出さ
れた画素に対し、その周辺に存在する画素の信号値から
補間して当該画素の信号値とすることを特徴とする。According to a third radiation imaging method of the present invention, subject information obtained by transmitting radiation generated by radiation generating means through a subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is converted into visible light by a scintillator. A radiation imaging method of forming a radiation image by acquiring an electric signal by an area sensor disposed corresponding to the lens unit via a lens unit or an array thereof, or directly acquiring the visible light as an electric signal by an area sensor In the method described above, a pixel whose signal is saturated due to the radiation being directly incident on the area sensor is detected, and the detected pixel is interpolated from a signal value of a pixel existing around the detected pixel to obtain a signal value of the pixel. It is characterized by.
【００１８】第４の本発明の放射線撮影方法は、放射線
発生手段によって発生された放射線が被写体を透過する
ことによって得られる被写体情報を、シンチレータによ
って可視光に変換し、変換された可視光を、レンズユニ
ットまたはそのアレイを介して前記レンズユニットに対
応して配置されたエリアセンサによって電気信号として
取得し、または前記可視光を直接エリアセンサによって
電気信号として取得し、放射線画像を形成する放射線撮
影方法において、被写体を介することなく、前記シンチ
レータの画像領域全体に対し略均一な強度になるよう直
接放射線を照射し、その際の各画素毎の信号値を調べ、
該各画素毎の信号値が一定になるよう、信号レベルを補
正するための各画素毎の信号レベル補正値を算出し、前
記放射線が前記エリアセンサに直接入射することによる
信号飽和した画素を検出し、該検出された信号飽和した
画素に対し、その周辺に存在する画素の信号値から補間
して当該画素の信号値を求め、前記信号レベル補正値を
算出する際、該検出された信号飽和した画素に対して
は、前記画素補間手段によって補間された信号値を、当
該画素の信号値として信号レベル補正値の算出を行うこ
とを特徴とする。According to a fourth radiation imaging method of the present invention, subject information obtained by transmitting radiation generated by radiation generating means through the subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is A radiation imaging method of forming a radiation image by acquiring an electric signal by an area sensor disposed corresponding to the lens unit via a lens unit or an array thereof, or directly acquiring the visible light as an electric signal by an area sensor In, without passing through the subject, directly irradiating the entire scintillator image area with direct radiation so as to have a substantially uniform intensity, the signal value of each pixel at that time is examined,
Calculate a signal level correction value for each pixel to correct the signal level so that the signal value for each pixel becomes constant, and detect a pixel that is signal-saturated due to the radiation being directly incident on the area sensor. Then, for the detected signal-saturated pixel, the signal value of the pixel is obtained by interpolating from the signal values of the pixels present around the detected pixel, and when calculating the signal level correction value, the detected signal saturation is calculated. For the pixel, the signal level correction value is calculated using the signal value interpolated by the pixel interpolation unit as the signal value of the pixel.
【００１９】[0019]
【作用】第１の本発明の放射線撮影装置は、放射線発生
手段によって発生された放射線が被写体を透過すること
によって得られる被写体情報を、シンチレータによって
可視光に変換し、変換された可視光を、レンズユニット
またはそのアレイを介して前記レンズユニットに対応し
て配置されたエリアセンサによって電気信号として取得
し、または前記可視光を直接エリアセンサによって電気
信号として取得し、放射線画像を形成する放射線撮影装
置であって、前記放射線が前記エリアセンサに直接入射
することによる信号飽和した画素を検出する飽和画素検
出手段と、該飽和画素検出手段によって検出された画素
に対し、その周辺に存在する画素の信号値から補間して
当該画素の信号値とする画素補間手段を有するので、撮
影の度に、信号飽和する画素が変化するような場合でも
適切に画素欠陥を補正することができる。ここで、放射
線には、α線、β線、陽電子線、ガンマ線、Ｘ線、陽子
線、重陽子線、重イオン線、中性子線、中間子線などが
含まれるが、可視光などは含まれない。According to a first aspect of the present invention, there is provided a radiation imaging apparatus which converts subject information obtained by transmitting radiation generated by radiation generating means through a subject into visible light by a scintillator, and converts the converted visible light into A radiation imaging apparatus that obtains an electric signal by an area sensor disposed corresponding to the lens unit via a lens unit or an array thereof, or obtains the visible light directly as an electric signal by an area sensor to form a radiation image And a saturated pixel detecting means for detecting a pixel in which a signal is saturated due to the radiation being directly incident on the area sensor, and a signal of a pixel present in the vicinity of a pixel detected by the saturated pixel detecting means. Since there is a pixel interpolating means for interpolating from the value and obtaining the signal value of the pixel, the signal saturation is obtained every time the image is taken. Properly pixel defect even when pixels as changes to can be corrected. Here, the radiation includes α rays, β rays, positron rays, gamma rays, X rays, proton rays, deuteron rays, heavy ion rays, neutron rays, meson rays, etc., but does not include visible light. .
【００２０】第２の本発明の放射線撮影装置によれば、
放射線発生手段によって発生された放射線が被写体を透
過することによって得られる被写体情報を、シンチレー
タによって可視光に変換し、変換された可視光を、レン
ズユニットまたはそのアレイを介して前記レンズユニッ
トに対応して配置されたエリアセンサによって電気信号
として取得し、または前記可視光を直接エリアセンサに
よって電気信号として取得し、放射線画像を形成する放
射線撮影装置において、該放射線撮影装置に対し、被写
体を介することなく、画像領域全体に対し略均一な強度
になるよう直接放射線を照射し、その際の各画素毎の信
号値を調べ、該各画素毎の信号値が一定になるよう、信
号レベルを補正するための各画素毎の信号レベル補正値
を算出する信号レベル補正値算出手段と、前記放射線が
前記エリアセンサに直接入射することによる信号飽和し
た画素を検出する飽和画素検出手段と、該飽和画素検出
手段によって検出された画素に対し、その周辺に存在す
る画素の信号値から補間して当該画素の信号値とする画
素補間手段とを有し、該信号レベル補正値算出手段によ
り、前記信号レベル補正値を算出する際、前記飽和画素
検出手段によって検出された信号飽和した画素に対して
は、前記画素補間手段によって補間された信号値を、当
該画素の信号値として信号レベル補正値の算出を行うの
で、適切に画素欠陥を補正した上で、信号レベルの補正
が可能となる。According to the radiation imaging apparatus of the second aspect of the present invention,
Subject information obtained by transmitting the radiation generated by the radiation generating means through the subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light corresponds to the lens unit via a lens unit or an array thereof. Obtained as an electric signal by an area sensor arranged in the direction, or the visible light is directly obtained as an electric signal by an area sensor, in a radiation imaging apparatus for forming a radiation image, the radiation imaging apparatus, without passing through the subject In order to correct the signal level so that the entire image area is directly irradiated with radiation so as to have a substantially uniform intensity, the signal value of each pixel at that time is checked, and the signal value of each pixel is constant. Signal level correction value calculating means for calculating a signal level correction value for each pixel, A saturated pixel detecting means for detecting a pixel having a signal saturated by direct incidence, and a pixel value detected by the saturated pixel detecting means, interpolating from a signal value of a pixel present around the pixel and a signal value of the pixel. And a pixel interpolating unit that calculates a signal level correction value by the signal level correction value calculating unit. The pixel interpolating unit detects a saturated pixel detected by the saturated pixel detecting unit. The signal level corrected value is calculated using the signal value interpolated by the above as the signal value of the pixel, so that the signal level can be corrected after appropriately correcting the pixel defect.
【００２１】さらに、前記飽和画素検出手段が、ある注
目画素に対し、注目画素周辺に存在する複数の周辺画素
について、該注目画素の信号値と、該周辺画素の信号値
との差分値を求め、それら差分値が所定の条件を満たす
前記周辺画素の数をカウントするとともに、該カウント
数が所定数以上となる場合、前記注目画素を、信号飽和
した画素として検出すれば、注目画素の信号値と周辺画
素の信号値との比較によって、精度良く画素欠陥を検出
することができる。Further, the saturated pixel detecting means calculates a difference value between a signal value of the target pixel and a signal value of the peripheral pixel for a certain target pixel, for a plurality of peripheral pixels present around the target pixel. Counting the number of the peripheral pixels whose difference values satisfy a predetermined condition, and when the count number is equal to or more than a predetermined number, if the target pixel is detected as a signal-saturated pixel, the signal value of the target pixel is detected. The pixel defect can be detected with high accuracy by comparing the pixel value with the signal values of the peripheral pixels.
【００２２】又、前記飽和画素検出手段が、予め設定し
た、または画像全体もしくは局所的な画素の信号値分布
から決定した閾値より、前記差分値の絶対値が大きな値
を有するとともに、前記注目画素の信号値が前記周辺画
素よりも多く放射線が曝射された状態を示すとき、前記
所定の条件を満たすと判定すれば、迅速に且つ精度良く
画素欠陥を検出することができる。Further, the saturated pixel detecting means has a larger absolute value of the difference value than a predetermined threshold value or a threshold value determined from the signal value distribution of the entire image or a local pixel, and the pixel of interest includes When the signal value indicates that the radiation is more radiated than that of the peripheral pixels, it is possible to quickly and accurately detect a pixel defect if it is determined that the predetermined condition is satisfied.
【００２３】さらに、前記飽和画素検出手段が、前記所
定の条件と異なる条件を満たすことにより、前記エリア
センサの画素欠陥、前記シンチレータに付着した異物等
により信号値異常となった画素も検出すれば、前記エリ
アセンサの画素欠陥や前記シンチレータに付着した異物
等により信号値異常となった画素を検出する手段を別個
に設ける必要がなく、放射線撮影装置をより簡素化し、
かつ処理の高速化を図ることができる。Furthermore, if the saturated pixel detecting means satisfies a condition different from the predetermined condition, the saturated pixel detecting means also detects a pixel having an abnormal signal value due to a pixel defect of the area sensor, a foreign substance attached to the scintillator, or the like. It is not necessary to separately provide a unit for detecting a pixel having an abnormal signal value due to a pixel defect of the area sensor or a foreign substance attached to the scintillator, and the radiation imaging apparatus is simplified,
In addition, the processing speed can be increased.
【００２４】又、前記飽和画素検出手段が、予め設定し
た、または画像全体もしくは局所的な画素の信号値分布
から決定した閾値より、前記差分値の絶対値が大きな値
を有するとともに、前記注目画素の信号値が前記周辺画
素よりも少ない放射線が曝射された状態を示すとき、前
記異なる条件を満たすと判定すれば、迅速に且つ精度良
く画素欠陥を検出することができる。Further, the saturated pixel detecting means has a larger absolute value of the difference value than a predetermined threshold value or a threshold value determined from the signal value distribution of the entire image or local pixels, and the pixel of interest. In the case where the signal value indicates that a smaller amount of radiation is emitted than that of the peripheral pixels, if it is determined that the different conditions are satisfied, it is possible to quickly and accurately detect a pixel defect.
【００２５】第３の本発明の放射線撮影方法は、放射線
発生手段によって発生された放射線が被写体を透過する
ことによって得られる被写体情報を、シンチレータによ
って可視光に変換し、変換された可視光を、レンズユニ
ットまたはそのアレイを介して前記レンズユニットに対
応して配置されたエリアセンサによって電気信号として
取得し、または前記可視光を直接エリアセンサによって
電気信号として取得し、放射線画像を形成する放射線撮
影方法において、前記放射線が前記エリアセンサに直接
入射することによる信号飽和した画素を検出し、検出さ
れた画素に対し、その周辺に存在する画素の信号値から
補間して当該画素の信号値とするので、撮影の度に、信
号飽和する画素が変化するような場合でも適切に画素欠
陥を補正することができる。According to a third radiographic method of the present invention, subject information obtained by transmitting radiation generated by radiation generating means through a subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is converted into visible light. A radiation imaging method of forming a radiation image by acquiring an electric signal by an area sensor disposed corresponding to the lens unit via a lens unit or an array thereof, or directly acquiring the visible light as an electric signal by an area sensor In the above, since the signal saturated pixel due to the radiation directly incident on the area sensor is detected, and the detected pixel is interpolated from a signal value of a pixel existing around the detected pixel to obtain a signal value of the pixel. Correct pixel defects even if the pixel that saturates the signal changes each time shooting is performed. It can be.
【００２６】第４の本発明の放射線撮影方法は、放射線
発生手段によって発生された放射線が被写体を透過する
ことによって得られる被写体情報を、シンチレータによ
って可視光に変換し、変換された可視光を、レンズユニ
ットまたはそのアレイを介して前記レンズユニットに対
応して配置されたエリアセンサによって電気信号として
取得し、または前記可視光を直接エリアセンサによって
電気信号として取得し、放射線画像を形成する放射線撮
影方法において、被写体を介することなく、前記シンチ
レータの画像領域全体に対し略均一な強度になるよう直
接放射線を照射し、その際の各画素毎の信号値を調べ、
該各画素毎の信号値が一定になるよう、信号レベルを補
正するための各画素毎の信号レベル補正値を算出し、前
記放射線が前記エリアセンサに直接入射することによる
信号飽和した画素を検出し、該検出された信号飽和した
画素に対し、その周辺に存在する画素の信号値から補間
して当該画素の信号値を求め、前記信号レベル補正値を
算出する際、該検出された信号飽和した画素に対して
は、前記画素補間手段によって補間された信号値を、当
該画素の信号値として信号レベル補正値の算出を行うの
で、適切に画素欠陥を補正した上で、信号レベルの補正
が可能となる。According to a fourth radiographic method of the present invention, subject information obtained by transmitting radiation generated by radiation generating means through a subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is converted into visible light by a scintillator. A radiation imaging method of forming a radiation image by acquiring an electric signal by an area sensor disposed corresponding to the lens unit via a lens unit or an array thereof, or directly acquiring the visible light as an electric signal by an area sensor In, without passing through the subject, directly irradiating the entire scintillator image area with direct radiation so as to have a substantially uniform intensity, the signal value of each pixel at that time is examined,
Calculate a signal level correction value for each pixel to correct the signal level so that the signal value for each pixel becomes constant, and detect a pixel that is signal-saturated due to the radiation being directly incident on the area sensor. Then, for the detected signal-saturated pixel, the signal value of the pixel is obtained by interpolating from the signal values of the pixels present around the detected pixel, and when calculating the signal level correction value, the detected signal saturation is calculated. For the pixel, the signal value interpolated by the pixel interpolating means is used as the signal value of the pixel to calculate the signal level correction value. Therefore, after correcting the pixel defect appropriately, the signal level correction is performed. It becomes possible.
【００２７】さらに、前記信号飽和した画素の検出は、
ある注目画素に対し、注目画素周辺に存在する複数の周
辺画素について、該注目画素の信号値と、該周辺画素の
信号値との差分値を求め、それら差分値が所定の条件を
満たす前記周辺画素の数をカウントするとともに、該カ
ウント数が所定数以上となる場合、前記注目画素を、信
号飽和した画素として検出することにより行うことで、
注目画素の信号値と周辺画素の信号値との比較によっ
て、精度良く画素欠陥を検出することができる。Further, the detection of the pixel having the signal saturation is performed by
For a certain pixel of interest, for a plurality of peripheral pixels present around the pixel of interest, a difference value between a signal value of the pixel of interest and a signal value of the peripheral pixel is obtained, and the difference value is determined by the peripheral pixels satisfying a predetermined condition. While counting the number of pixels, when the count number is equal to or more than a predetermined number, by performing by detecting the target pixel as a signal-saturated pixel,
By comparing the signal value of the target pixel with the signal values of the peripheral pixels, a pixel defect can be accurately detected.
【００２８】又、前記所定の条件については、予め設定
した、または画像全体もしくは局所的な画素の信号値分
布から決定した閾値より、前記差分値の絶対値が大きな
値を有するとともに、前記注目画素の信号値が前記周辺
画素よりも多く放射線が曝射された状態を示すとき、前
記所定の条件を満たすと判定することで、迅速に且つ精
度良く画素欠陥を検出することができる。As for the predetermined condition, the absolute value of the difference value is larger than a threshold value set in advance or determined from the signal value distribution of the entire image or local pixels, and the target pixel value When the signal value indicates that more radiation is emitted than that of the peripheral pixels, it is determined that the predetermined condition is satisfied, so that a pixel defect can be quickly and accurately detected.
【００２９】さらに、前記所定の条件と異なる条件を満
たすことにより、前記エリアセンサの画素欠陥、前記シ
ンチレータに付着した異物等により信号値異常となった
画素も検出することで、例えば前記エリアセンサの画素
欠陥や前記シンチレータに付着した異物等により信号値
異常となった画素を検出する手段を別個に設ける必要が
なく、かかる放射線撮影方法を実行する装置をより簡素
化し、かつ処理の高速化を図ることができる。Further, by satisfying a condition different from the predetermined condition, a pixel having an abnormal signal value due to a pixel defect of the area sensor, a foreign substance attached to the scintillator, or the like is also detected. There is no need to separately provide a unit for detecting a pixel having an abnormal signal value due to a pixel defect, a foreign substance attached to the scintillator, or the like, thereby simplifying an apparatus for performing the radiation imaging method and increasing the processing speed. be able to.
【００３０】又、予め設定した、または画像全体もしく
は局所的な画素の信号値分布から決定した閾値より、前
記差分値の絶対値が大きな値を有するとともに、前記注
目画素の信号値が前記周辺画素よりも少ない放射線が曝
射された状態を示すとき、前記異なる条件を満たすと判
定することで、迅速に且つ精度良く画素欠陥を検出する
ことができる。Further, the absolute value of the difference value is larger than a predetermined threshold value or a threshold value determined from the signal value distribution of the entire image or a local pixel, and the signal value of the pixel of interest is changed to the peripheral pixel. When it is determined that the different condition is satisfied when less radiation is applied, it is possible to quickly and accurately detect a pixel defect.
【００３１】[0031]
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施の形態を参照
して説明する。なお本実施の形態では、放射線画像検出
器に備えられたエリアセンサとして、ＣＣＤセンサを用
いているが、Ｃ−Ｍｏｓセンサも同様に用いることがで
きる。また、各画素の信号値は、放射線の照射量が多い
程高く、照射量が低い程低くなるものとして以下説明す
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to embodiments. In the present embodiment, a CCD sensor is used as an area sensor provided in the radiation image detector, but a C-Mos sensor can be used similarly. In addition, the following description is based on the assumption that the signal value of each pixel increases as the radiation dose increases and decreases as the radiation dose decreases.
【００３２】図１は、本実施の形態にかかる放射線撮影
装置の概略構成図である。図１において、放射線発生手
段であるＸ線発生手段１０１によって発生したＸ線は、
例えば人体である被写体１０２を透過することにより、
被写体内の骨、肉等構造物でのＸ線吸収の差に起因し
て、場所毎に強度の異なったものとなる。このＸ線を、
放射線画像検出器１０３で検出する。放射線画像検出器
１０３は、Ｘ線の受光強度に基づいた電気信号（画像デ
ータ）を出力する。かかる画像データに基づいて、被写
体構造に基づいたコントラスト（階調）を有する放射線
画像が生成されることになる。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a radiation imaging apparatus according to the present embodiment. In FIG. 1, X-rays generated by an X-ray generation unit 101 that is a radiation generation unit are:
For example, by transmitting a subject 102 which is a human body,
Due to the difference in X-ray absorption between structures such as bones and meat in the subject, the intensity varies from place to place. This X-ray
It is detected by the radiation image detector 103. The radiation image detector 103 outputs an electric signal (image data) based on the intensity of received X-rays. Based on such image data, a radiation image having a contrast (gradation) based on the subject structure is generated.
【００３３】出力された画像データは、画像処理部１０
４へ送られ、階調変換、周波数強調等の処理を施され
る。処理を施された処理済み画像にかかる画像データ
が、ネットワーク１０５へ送られ、画像診断用モニタ１
０６に表示されたり、イメージャ１０７等でプリントさ
れ、診断に供されることとなる。The output image data is sent to the image processing unit 10.
4 for processing such as gradation conversion and frequency emphasis. The image data of the processed image that has been processed is sent to the network 105 and the image diagnostic monitor 1
06 or printed by the imager 107 or the like, and provided for diagnosis.
【００３４】次に、放射線画像にかかる画像データの生
成の態様について説明する。図２は、放射線画像検出器
１０３の構成を示す図である。放射線画像検出器１０３
は、以下のようにして、放射線画像にかかる画像データ
を生成する。Next, the manner of generating image data relating to a radiation image will be described. FIG. 2 is a diagram showing a configuration of the radiation image detector 103. Radiation image detector 103
Generates image data relating to a radiation image as follows.
【００３５】ｉ）まず、シンチレータ１０３ａでＸ線を
受光する。シンチレータ１０３ａは、受光したＸ線の強
度が強いほど発光強度の大きい蛍光を発する。 ｉｉ）シンチレータ１０３ａによる発光は、レンズユニ
ット１０３ｂもしくはそのアレイ（すなわちアレイ状に
配置された複数のレンズユニット）を介して、個々のレ
ンズユニット１０３ｂに対応して配置されたＣＣＤセン
サ１０３ｃの受光面に結像される。 ｉｉｉ）ＣＣＤセンサ１０３ｃでは、その受光面に受光
した蛍光光を光電変換し、電気信号として出力する。 ｉｖ）ＣＣＤセンサ１０３ｃから得られた電気信号は、
位置補正手段１０３ｄａ、飽和画素検出手段１０３ｄ
ｂ、画素補間手段１０３ｄｃ、信号レベル補正手段１０
３ｄｄを有する画像構成回路１０３ｄにおいて、デジタ
ル画像データとして構築され、これに基づき放射線画像
を得ることができる。 ｖ）画像構成回路１０３ｄにおいて、位置補正手段１０
３ｄａにより、ＣＣＤセンサ１０３ｃの配置ずれや、レ
ンズユニット１０３ｂの歪曲収差等による画素位置の誤
差を修正するとともに、複数のＣＣＤセンサ１０３ｃを
用いて画像を得る場合には、個々のＣＣＤセンサ１０３
ｃから得られる部分画像を合成する。 ｖｉ）さらに、飽和画素検出手段１０３ｄｂが、ＣＣＤ
センサ１０３ｃに、直接Ｘ線が入射することによって信
号飽和した画素について補正し、画素補間手段１０３ｄ
ｃが、飽和画素検出手段１０３ｄｂによって検出された
画素に対し、その周辺に存在する画素の信号値から補間
して当該画素の信号値とする。 ｖｉｉ）最後に、信号レベル補正手段１０３ｄｄが、シ
ンチレータ１０３ａのムラ、ＣＣＤセンサ１０３ｃ間の
感度バラツキ等による信号レベルのムラ等を補正する。
これら各補正手段によって補正を行った後、最終的に放
射線画像検出器１０３から画像データが出力される。I) First, X-rays are received by the scintillator 103a. The scintillator 103a emits fluorescent light with higher emission intensity as the intensity of the received X-ray is higher. ii) Light emitted by the scintillator 103a is transmitted via the lens unit 103b or an array thereof (that is, a plurality of lens units arranged in an array) to a light receiving surface of a CCD sensor 103c arranged corresponding to each lens unit 103b. It is imaged. iii) The CCD sensor 103c photoelectrically converts the fluorescent light received on its light receiving surface and outputs it as an electric signal. iv) The electric signal obtained from the CCD sensor 103c is
Position correction means 103da, saturated pixel detection means 103d
b, pixel interpolation means 103dc, signal level correction means 10
The image forming circuit 103d having 3dd is constructed as digital image data, and a radiation image can be obtained based on the digital image data. v) In the image configuration circuit 103d, the position correction unit 10
3da is used to correct the displacement of the CCD sensor 103c and the pixel position error due to the distortion of the lens unit 103b, and to obtain an image using a plurality of CCD sensors 103c.
Combine the partial images obtained from c. vi) Further, the saturated pixel detecting means 103db is a CCD
The pixel interpolating means 103d corrects a pixel whose signal is saturated by direct X-ray incidence on the sensor 103c.
c interpolates a pixel detected by the saturated pixel detection unit 103db from a signal value of a pixel existing around the pixel to obtain a signal value of the pixel. vii) Finally, the signal level correcting means 103dd corrects the unevenness of the scintillator 103a, the unevenness of the signal level due to the sensitivity variation between the CCD sensors 103c, and the like.
After the correction by these correction units, the radiation image detector 103 finally outputs image data.
【００３６】以下、各補正手段の機能について詳細に説
明する。 （１）位置補正手段１０３ｄａ ＣＣＤセンサ１０３ｃの配置や、レンズユニット１０３
ｂの歪曲収差等は、撮影の度に変化するものではないた
め、予め個々のＣＣＤセンサ１０３ｃで撮影された画像
中の任意の画素について、位置補正後の画像上の位置と
対応付けられたルックアップテーブル（ＬＵＴ）を作成
し、不図示のメモリに記憶しておく。撮影の都度、メモ
リに記憶されたＬＵＴを参照して正しい位置へ変換す
る。Hereinafter, the function of each correction means will be described in detail. (1) Position correction means 103da Arrangement of CCD sensor 103c, lens unit 103
Since the distortion of b does not change each time the image is captured, the look-up associated with the position on the image after the position correction for any pixel in the image captured by the individual CCD sensor 103c in advance. An up table (LUT) is created and stored in a memory (not shown). Each time an image is taken, it is converted to a correct position with reference to the LUT stored in the memory.
【００３７】具体的にこのＬＵＴは、６個の要素を持つ
２次元のベクトルＡ（ｕ，ｖ）として作成される。
（ｕ，ｖ）は、位置補正後の画像における座標（ｕ，
ｖ）の画素に対応し、各要素値ｅｉ｛ｉ│ｉ＝０，
１，．．，５｝は以下の値を有する。 ｅ０：補正前画像における水平方向座標値 ｅ１：補正前画像における垂直方向座標値 ｅ２〜ｅ５：補正前画像における座標（ｘ，ｙ）の画素
の信号値Ｏ（ｘ，ｙ）としたとき、補正後の画像におけ
る座標（ｕ，ｖ）の画素信号値Ｒ（ｕ，ｖ）を求めるた
めの係数。尚、画素信号値Ｒ（ｕ，ｖ）を求める式は以
下の通りである。 Ｒ（ｕ，ｖ）＝Ｏ（ｅ０，ｅ１）*ｅ２＋Ｏ（ｅ０＋１，ｅ１）*ｅ３ ＋Ｏ（ｅ０，ｅ１＋１）*ｅ４ ＋Ｏ（ｅ０＋１，ｅ１＋１）*ｅ５ （１）Specifically, this LUT is created as a two-dimensional vector A (u, v) having six elements.
(U, v) represents coordinates (u, v) in the image after the position correction.
v), each element value ei ｛i | i = 0,
1,. . , 5} have the following values: e0: horizontal coordinate value in the image before correction e1: vertical coordinate value in the image before correction e2 to e5: correction when the signal value O (x, y) of the pixel at the coordinates (x, y) in the image before correction is corrected A coefficient for determining a pixel signal value R (u, v) at a coordinate (u, v) in a subsequent image. The equation for calculating the pixel signal value R (u, v) is as follows. R (u, v) = O (e0, e1) * e2 + O (e0 + 1, e1) * e3 + O (e0, e1 + 1) * e4 + O (e0 + 1, e1 + 1) * e5 (1)
【００３８】ＬＵＴの作成は、例えば以下に示すような
手法で行われる。 ａ）シンチレータ１０３ａのレンズユニット１０３ｂ側
表面に、格子線のようなチャートを貼り付けておく。 ｂ）被写体１０２を配置せずにＸ線撮影を行い、前記チ
ャートの像を取り込む。チャートによって蛍光が遮られ
るため、チャート像は、それ以外の部分より信号値が低
いものとして表される。 ｃ）前記特性を利用して、チャート像上の１乃至複数の
基準点を認識し、それら基準点が出力画像で位置すべき
理想座標になるよう、基準点の座標と理想座標との差を
求め、その差の値、およびレンズユニット１０３ｂの光
学特性から計算される歪曲収差の値を勘案し、ＬＵＴを
作成する。 ｄ）作成したＬＵＴを用いて、前記基準点と異なる複数
の所定点について実際に位置補正を行い、補正後の理想
座標との差異から前記ＬＵＴを修正する。何度か修正を
繰り返し、この差異が許容範囲となったところで修正を
終了し、ＬＵＴの作成を完了する。The creation of the LUT is performed, for example, by the following method. a) A chart such as a grid line is pasted on the surface of the scintillator 103a on the lens unit 103b side. b) X-ray imaging is performed without placing the subject 102, and the image of the chart is captured. Since fluorescence is blocked by the chart, the chart image is represented as having a lower signal value than other portions. c) Recognizing one or more reference points on the chart image using the above characteristics, and calculating the difference between the coordinates of the reference points and the ideal coordinates so that the reference points become the ideal coordinates to be located in the output image. Then, an LUT is created in consideration of the value of the difference and the value of the distortion calculated from the optical characteristics of the lens unit 103b. d) Using the created LUT, position correction is actually performed on a plurality of predetermined points different from the reference point, and the LUT is corrected based on the difference from the corrected ideal coordinates. The correction is repeated several times, and when the difference is within the allowable range, the correction is terminated, and the creation of the LUT is completed.
【００３９】複数のＣＣＤセンサ１０３ｃを用いて画像
を取得する場合、個々のＣＣＤセンサ１０３ｃで取り込
まれた部分画像毎に修正量は異なるため、前記ＬＵＴは
ＣＣＤセンサ１０３ｃ毎に準備すると好ましい。個々の
部分画像について補正が行われた後、部分画像同士を合
成して、出力画像を作成する。When an image is obtained using a plurality of CCD sensors 103c, the amount of correction differs for each partial image captured by each CCD sensor 103c, so it is preferable to prepare the LUT for each CCD sensor 103c. After the correction is performed for each partial image, the partial images are combined to create an output image.
【００４０】（２）信号レベル補正手段１０３ｄｄ 信号レベル補正は、シンチレータ１０３ａのムラ、複数
のＣＣＤセンサ１０３ｃを用いるときにはセンサ間の感
度バラツキ等に起因するムラを補正するために行う。補
正手法は、予め各画素毎に設定した補正量を記憶したテ
ーブルを作成しておき、撮影する度にテーブルを参照し
て補正を行うものである。ここで放射線検出器１０３か
らの出力画像が、照射Ｘ線量の対数に比例する信号値を
有するように設定しておくと、信号レベルの補正は、各
画素の信号値に対し、単純に前記補正量を加算するだけ
でよい。そのため、信号レベル補正を高速に行える。ま
た、画像処理を行う際にも扱いが簡単になるので望まし
い。(2) Signal Level Correcting Means 103dd The signal level correction is performed to correct unevenness of the scintillator 103a and unevenness due to sensitivity variation among the sensors when a plurality of CCD sensors 103c are used. In the correction method, a table is prepared in which a correction amount set for each pixel is stored in advance, and correction is performed with reference to the table each time an image is captured. Here, if the output image from the radiation detector 103 is set so as to have a signal value proportional to the logarithm of the irradiation X-ray dose, the signal level is corrected by simply correcting the signal value of each pixel. Just add the amounts. Therefore, signal level correction can be performed at high speed. It is also desirable to perform image processing because handling is simplified.
【００４１】前記テーブルの作成は、例えば以下のよう
にして実施できる。被写体１０２を配置せずに撮影を行
い、そのとき得られる画像中の最大信号値をもとめ、各
画素について最大信号値との信号値差を補正量として、
テーブルに記憶する。The table can be created, for example, as follows. Photographing is performed without arranging the subject 102, a maximum signal value in an image obtained at that time is obtained, and a signal value difference from the maximum signal value for each pixel is used as a correction amount.
Store in table.
【００４２】（３）飽和画素検出手段１０３ｄｂ 飽和画素は、撮影される被写体の如何に関わらず、大き
な信号値を有することとなる。そのため、飽和画素周辺
の画素よりも大きな信号値となる可能性が高い（元々の
被写体信号が飽和画素と同程度の信号値を有する場合
は、敢えて飽和画素を検出し、その信号値を修正する必
要はない）。また確率的に多数の飽和画素が隣接して存
在する可能性はほとんどない。そこで、飽和画素検出手
段１０３ｄｂでは、以下の手順により、飽和画素を検出
する。 ａ）差分値算出：図３に示す差分値計算を行う画素領域
において、ある注目画素について、その周辺２４近傍画
素と、画素信号値についての差分値を順次計算する。 ｂ）差分値評価：前記差分値と、正の値を有する所定の
閾値Ｔｈｄ１とを比較する。該Ｔｈｄ１は、予め飽和画
素検出手段１０３ｄｂが有する記憶領域内に保管してお
く。 ｃ）画素数の計数 該差分値がＴｈｄ１以上となる周辺画素の数をカウント
し、その総計ｔを記憶する。 ｄ）判別 ２４画素近傍の全ての画素との差分計算が終了すると、
前記総計ｔと所定の閾値Ｔｈｄ２を比較し、総計ｔが閾
値Ｔｈｄ２以上あれば、当該注目画素は飽和画素として
検出される。(3) Saturated Pixel Detecting Means 103db A saturated pixel has a large signal value irrespective of the subject to be photographed. Therefore, there is a high possibility that the signal value becomes larger than the pixels around the saturated pixel. (If the original subject signal has the same signal value as the saturated pixel, the saturated pixel is intentionally detected and the signal value is corrected. Not necessary). Further, there is almost no possibility that a large number of saturated pixels exist adjacent to each other with probability. Therefore, the saturated pixel detection means 103db detects a saturated pixel by the following procedure. a) Difference value calculation: In a pixel region for which a difference value calculation is performed as shown in FIG. 3, a difference value of a pixel of interest is sequentially calculated with respect to a pixel around its surrounding 24 neighboring pixels. b) Evaluation of difference value: The difference value is compared with a predetermined threshold value Thd1 having a positive value. The Thd1 is stored in advance in a storage area of the saturated pixel detection unit 103db. c) Counting the number of pixels The number of peripheral pixels whose difference value is equal to or greater than Thd1 is counted, and the total t is stored. d) Discrimination When the difference calculation with all the pixels near the 24 pixels is completed,
The total t is compared with a predetermined threshold Thd2. If the total t is equal to or larger than the threshold Thd2, the pixel of interest is detected as a saturated pixel.
【００４３】閾値Ｔｈｄ２は、全計算画素の６割〜９割
に相当する１４〜２２程度が望ましい。さらに望ましく
は７割〜８割に相当する１６〜１９程度が望ましい。ま
た、本実施例では２４近傍画素を用いて飽和画素の検出
を実施しているが、８近傍、４８近傍画素に対し同様の
処理を行ってもよい。ただし、４近傍程度まで減らす
と、飽和画素検出の精度が低下し、望ましくなく、また
４８近傍より多いと不要な計算時間を要するので望まし
くない。The threshold value Thd2 is desirably about 14 to 22, which corresponds to 60 to 90% of all the calculated pixels. More desirably, about 16 to 19 corresponding to 70 to 80% is desirable. Further, in this embodiment, the detection of the saturated pixel is performed using the 24 neighboring pixels, but the same processing may be performed on the 8 neighboring pixels and the 48 neighboring pixels. However, if the number of pixels is reduced to about four, the accuracy of saturated pixel detection is reduced, which is not desirable. If the number is more than 48, unnecessary calculation time is required, which is not desirable.
【００４４】閾値Ｔｈｄ１について説明する。閾値Ｔｈ
ｄｌは、予め設定した固定値として、保管しておいても
よいが、以下のような閾値算出手段によって算出しても
よい。閾値Ｔｈｄ１を固定値とした場合は、装置の構成
を簡単にすることができる。The threshold Thd1 will be described. Threshold value Th
dl may be stored as a fixed value set in advance, or may be calculated by the following threshold calculating means. When the threshold value Thd1 is a fixed value, the configuration of the device can be simplified.
【００４５】一方、閾値算出手段（不図示）を用いて算
出する場合は、より適当な閾値を選択できることとな
り、飽和画素検出の精度を向上できる。 ａ）差分値算出：画像中の広範囲な領域（画像全体の１
／４以上が望ましい）を設定し、その領域中のある画素
について、近傍画素との差分値の絶対値を求める。 ｂ）累積ヒストグラム作成：前記で求めた差分絶対値に
ついて、累積ヒストグラムを作成する。 ｃ）閾値決定：前記累積ヒストグラムの所定の比率に相
当する差分絶対値を閾値Ｔｈｄ１とする。On the other hand, when the calculation is performed using the threshold value calculation means (not shown), a more appropriate threshold value can be selected, and the accuracy of the saturated pixel detection can be improved. a) Difference value calculation: a wide area in the image (1 of the entire image)
/ 4 is desirable), and the absolute value of a difference value between a certain pixel in the area and a neighboring pixel is obtained. b) Creation of cumulative histogram: A cumulative histogram is created for the absolute difference value obtained above. c) Threshold value determination: A difference absolute value corresponding to a predetermined ratio of the cumulative histogram is set as a threshold value Thd1.
【００４６】ここで所定の比率については、差分絶対値
の最大値より０．１％〜１０％ととすることが望まし
い。これは、飽和画素の存在する確率がそれほど高くな
いことに対応する。Here, the predetermined ratio is desirably 0.1% to 10% of the maximum value of the absolute difference value. This corresponds to the fact that the probability that a saturated pixel exists is not so high.
【００４７】（４）画素補間手段１０３ｄｃ 飽和画素検出手段１０３ｄｂで、飽和画素として検出さ
れた画素については、その周辺画素の信号値から補間を
行って、当該画素の信号値として代替する。補間手法と
しては、双１次補間、双３次補間、双３次スプライン等
を使用することができる。ここでは、双１次補間に則っ
た方法について説明する。(4) Pixel Interpolating Means 103dc For a pixel detected as a saturated pixel by the saturated pixel detecting means 103db, interpolation is performed based on the signal values of surrounding pixels to substitute for the signal value of the pixel. As an interpolation method, bilinear interpolation, bicubic interpolation, bicubic spline, or the like can be used. Here, a method based on bilinear interpolation will be described.
【００４８】座標（ｘ，ｙ）に存在する飽和画素の信号
値ｓ（ｘ，ｙ）は、その周辺画素の信号値Ｎ（ｘ＋ｉ，
ｙ＋ｊ）｛ｉ，ｊ｜ｉ，ｊ＝−１，０，１｝を用い、以
下の式に基づいて求められる。 Ｓ（ｘ，ｙ）＝｛（Ｎ（ｘ−１，ｙ）＋Ｎ（ｘ＋１，ｙ）＋Ｎ（ｘ，ｙ−１） ＋Ｎ（ｘ，ｙ＋１））*１．４＋（Ｎ（ｘ−１，ｙ−１） ＋Ｎ（ｘ−１，ｙ＋１）＋Ｎ（ｘ＋１，ｙ−１） ＋Ｎ（ｘ＋１，ｙ＋１））｝／９．６ （２）The signal value s (x, y) of the saturated pixel existing at the coordinates (x, y) is determined by the signal value N (x + i,
y + j) {i, j | i, j = -1, 0, 1} and is obtained based on the following equation. S (x, y) = ｛(N (x−1, y) + N (x + 1, y) + N (x, y−1) + N (x, y + 1)) * 1.4+ (N (x−1, y) -1) + N (x-1, y + 1) + N (x + 1, y-1) + N (x + 1, y + 1)) // 9.6 (2)
【００４９】また、前記飽和画素検出手段１０３ｄｂ
で、飽和画素との信号値差が閾値Ｔｈｄ１以下となる画
素は、やはり飽和画素である可能性があるため、飽和画
素の信号値を補間に利用しないよう、前記（２）式の代
わりに、以下の式を用いても良い。 Ｓ（ｘ，ｙ）＝｛（Ｃ（ｘ−１，ｙ）*Ｎ（ｘ−１，ｙ） ＋Ｃ（ｘ＋１，ｙ）*Ｎ（ｘ＋１，ｙ） ＋Ｃ（ｘ，ｙ−１）*Ｎ（ｘ，ｙ−１） ＋Ｃ（ｘ，ｙ＋１）*Ｎ（ｘ，ｙ＋１））*１．４ ＋（Ｃ（ｘ−１，ｙ−１）*Ｎ（ｘ−１，ｙ−１） ＋Ｃ（ｘ−１，ｙ＋１）*Ｎ（ｘ−１，ｙ＋１） ＋Ｃ（ｘ＋１，ｙ−１）*Ｎ（ｘ＋１，ｙ−１） ＋Ｃ（ｘ＋１，ｙ＋１）*Ｎ（ｘ＋１，ｙ＋１））｝ ／Σi=-1,0,1Σj=-1,0,1Ｃ（ｘ＋ｉ，ｙ＋ｊ） （３） 但し、Ｃ（ｘ＋ｉ，ｙ＋ｊ）｛ｉ，ｊ｜ｉ，ｊ＝−１，０，１｝ ＝０：座標（ｘ＋ｉ，ｙ＋ｊ）が飽和画素のとき ＝１：座標（ｘ＋ｉ，ｙ＋ｊ）が飽和画素以外でかつｉ≠０，ｊ≠０のと き ＝１．４：座標（ｘ＋ｉ，ｙ＋ｊ）が飽和画素以外でかつｉ＝０又はｊ＝ ０のときThe saturated pixel detecting means 103db
Then, since the pixel whose signal value difference from the saturated pixel is equal to or smaller than the threshold value Thd1 may still be a saturated pixel, instead of using the signal value of the saturated pixel for interpolation, instead of the equation (2), The following equation may be used. S (x, y) = ｛(C (x−1, y) * N (x−1, y) + C (x + 1, y) * N (x + 1, y) + C (x, y−1) * N ( x, y-1) + C (x, y + 1) * N (x, y + 1)) * 1.4+ (C (x-1, y-1) * N (x-1, y-1) + C (x −1, y + 1) * N (x−1, y + 1) + C (x + 1, y−1) * N (x + 1, y−1) + C (x + 1, y + 1) * N (x + 1, y + 1))｝ / Σi = -1,0,1 Σ j = -1,0,1 C (x + i, y + j) (3) where C (x + i, y + j) ｛i, j | i, j = -1,0,1｝ = 0 : When the coordinate (x + i, y + j) is a saturated pixel = 1: When the coordinate (x + i, y + j) is not a saturated pixel and when i ≠ 0, j ≠ 0 = 1.4: The coordinate (x + i, y + j) is saturated When it is other than a pixel and i = 0 or j = 0
【００５０】次に、信号レベル補正値算出時の飽和画素
補間について説明する。上述した信号レベル補正用のテ
ーブルを作成する際にも、Ｘ線撮影を行うため、飽和画
素が発生する可能性がある。もし、前記テーブル作成の
際に飽和画素が存在し、かつその飽和画素に対して何の
補正も行わなければ、飽和画素について正しい補正量を
算出することができない。また、飽和画素は非飽和画素
と比較して信号値が大きいので、補正量算出の際に求め
る最大信号値は飽和画素の信号値となり、各画素の補正
量は飽和画素との信号値差となるため、不要に大きな補
正量を加えることとなる。そのため非飽和画素について
も、ダイナミックレンジが減少してしまうため、不都合
を生じる。Next, saturated pixel interpolation at the time of calculating the signal level correction value will be described. Even when the above-described table for signal level correction is created, saturated pixels may be generated because X-ray imaging is performed. If a saturated pixel exists when the table is created and no correction is performed on the saturated pixel, a correct correction amount cannot be calculated for the saturated pixel. Further, since the signal value of a saturated pixel is larger than that of a non-saturated pixel, the maximum signal value obtained in calculating the correction amount is the signal value of the saturated pixel, and the correction amount of each pixel is equal to the signal value difference from the saturated pixel. Therefore, an unnecessary large correction amount is added. As a result, the dynamic range of the non-saturated pixel is reduced, which causes a problem.
【００５１】そこで、信号レベル補正用のテーブルを作
成する際にも、飽和画素の検出−画素信号値の補間が必
要となる。この場合、被写体１０２を配置せずにＸ線撮
影を行う際、上述した飽和画素検出手段１０３ｄｂ、画
素補間手段１０３ｄｃを利用して飽和画素の補正を行っ
た画像を作成する。そしてこの画像を用いて、上述した
テーブル作成手法により、信号レベル補正量を算出する
ことにより、正しい信号レべル補正用のテーブルを作成
することができる。Therefore, when creating a table for signal level correction, it is necessary to detect saturated pixels and interpolate pixel signal values. In this case, when performing X-ray imaging without disposing the subject 102, an image is generated in which the saturated pixels are corrected using the above-described saturated pixel detection unit 103db and pixel interpolation unit 103dc. Then, by using this image and calculating the signal level correction amount by the above-described table generation method, a table for correct signal level correction can be generated.
【００５２】さらに、異物等による影響に関する補間に
ついて説明する。シンチレータ１０３ａにゴミが付着し
たり、経時変化によりＣＣＤセンサ１０３ｃの画素が機
能不良を生じたりすることによって、信号値が異常に低
くなる画素も発生する。このとき、前記飽和画素検出手
段１０３ｄｂを利用することにより、これら異常な低信
号値を有する画素を検出することができる。このときに
は、閾値Ｔｈｄ１を負の値とするとともに、差分信号値
が閾値Ｔｈｄ１以下となる周辺画素の数をカウントす
る。Next, the interpolation for the influence of foreign matter will be described. If dust adheres to the scintillator 103a or a pixel of the CCD sensor 103c malfunctions due to aging, some pixels may have an abnormally low signal value. At this time, by using the saturated pixel detecting means 103db, it is possible to detect pixels having these abnormally low signal values. At this time, the threshold value Thd1 is set to a negative value, and the number of peripheral pixels whose difference signal value is equal to or smaller than the threshold value Thd1 is counted.
【００５３】また、検出された画素に対する信号値の補
間は、上述した画素補間によりそのまま行う。このよう
に、飽和画素検出手段１０３ｄｂを流用することによ
り、新規に異常低信号画素の補正を行うより、装置の簡
素化及び処理の高速化が可能である。The interpolation of the signal value for the detected pixel is directly performed by the above-described pixel interpolation. As described above, by diverting the saturated pixel detection unit 103db, the apparatus can be simplified and the processing speed can be increased as compared with the case where the abnormally low signal pixel is newly corrected.
【００５４】以上述べたように、本発明によれば、画素
欠陥を効果的に補正することにより、高画質な放射線画
像を形成できる放射線撮影装置及び放射線撮影方法を提
供することができる。As described above, according to the present invention, it is possible to provide a radiographic apparatus and a radiographic method capable of forming a high-quality radiographic image by effectively correcting pixel defects.
【図１】本実施の形態にかかる放射線撮影装置の概略構
成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a radiation imaging apparatus according to an embodiment.
【図２】放射線画像検出器１０３の構成を示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a radiation image detector 103.
【図３】飽和画素検出手段１０３ｄｂにおける差分値計
算を行う画素領域を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a pixel region in which a difference value calculation is performed in a saturated pixel detection unit 103db.
１０１ Ｘ線発生手段 １０２ 被写体 １０３ 放射線画像検出器 １０３ａ シンチレータ １０３ｂ レンズユニット １０３ｃ ＣＣＤセンサ １０３ｄ 画像構成回路 １０４ 画像処理部 １０５ ネットワーク １０６ モニタ １０７ イメージャ Reference Signs List 101 X-ray generating means 102 Subject 103 Radiation image detector 103a Scintillator 103b Lens unit 103c CCD sensor 103d Image construction circuit 104 Image processing unit 105 Network 106 Monitor 107 Imager
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０４Ｎ 5/32 Ｈ０４Ｎ 7/18 Ｌ 7/18 Ａ６１Ｂ 6/00 ３５０Ｚ Ｆターム(参考） 2G088 EE03 FF02 FF04 FF05 FF06 FF07 FF09 GG19 GG20 GG21 JJ05 KK07 KK32 LL11 LL26 4C093 AA01 CA05 CA12 EA02 EB12 FC18 FC30 5C024 AX11 AX16 BX02 CX22 CX26 CY40 GY01 HX14 HX29 HX31 HX32 5C054 AA06 CA02 CB05 CC05 EA05 ED14 HA12 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H04N 5/32 H04N 7/18 L 7/18 A61B 6/00 350Z F-term (Reference) 2G088 EE03 FF02 FF04 FF05 FF06 FF07 FF09 GG19 GG20 GG21 JJ05 KK07 KK32 LL11 LL26 4C093 AA01 CA05 CA12 EA02 EB12 FC18 FC30 5C024 AX11 AX16 BX02 CX22 CX26 CY40 GY01 HX14 HX29 HX31 HX32 5C054 AA06 CA05
Claims (12)
線が被写体を透過することによって得られる被写体情報
を、シンチレータによって可視光に変換し、変換された
可視光を、レンズユニットまたはそのアレイを介して前
記レンズユニットに対応して配置されたエリアセンサに
よって電気信号として取得し、または前記可視光を直接
エリアセンサによって電気信号として取得し、放射線画
像を形成する放射線撮影装置において、 前記放射線が前記エリアセンサに直接入射することによ
る信号飽和した画素を検出する飽和画素検出手段と、 該飽和画素検出手段によって検出された画素に対し、そ
の周辺に存在する画素の信号値から補間して当該画素の
信号値とする画素補間手段を有することを特徴とする放
射線撮影装置。1. A subject information obtained by transmitting radiation generated by a radiation generating means through a subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is transmitted through a lens unit or an array thereof. In a radiation imaging apparatus that acquires an electric signal by an area sensor arranged corresponding to the lens unit, or acquires the visible light as an electric signal directly by an area sensor, and forms a radiation image, the radiation is transmitted to the area sensor. A saturated pixel detecting means for detecting a pixel having a signal saturated due to direct incidence, and a pixel detected by the saturated pixel detecting means interpolating from a signal value of a pixel present around the pixel to obtain a signal value of the pixel. A radiation imaging apparatus comprising:
線が被写体を透過することによって得られる被写体情報
を、シンチレータによって可視光に変換し、変換された
可視光を、レンズユニットまたはそのアレイを介して前
記レンズユニットに対応して配置されたエリアセンサに
よって電気信号として取得し、または前記可視光を直接
エリアセンサによって電気信号として取得し、放射線画
像を形成する放射線撮影装置において、 該放射線撮影装置に対し、被写体を介することなく、画
像領域全体に対し略均一な強度になるよう直接放射線を
照射し、その際の各画素毎の信号値を調べ、該各画素毎
の信号値が一定になるよう、信号レベルを補正するため
の各画素毎の信号レベル補正値を算出する信号レベル補
正値算出手段と、 前記放射線が前記エリアセンサに直接入射することによ
る信号飽和した画素を検出する飽和画素検出手段と、 該飽和画素検出手段によって検出された画素に対し、そ
の周辺に存在する画素の信号値から補間して当該画素の
信号値とする画素補間手段とを有し、 該信号レベル補正値算出手段により、前記信号レベル補
正値を算出する際、前記飽和画素検出手段によって検出
された信号飽和した画素に対しては、前記画素補間手段
によって補間された信号値を、当該画素の信号値として
信号レベル補正値の算出を行うことを特徴とする放射線
撮影装置。2. A method according to claim 1, wherein the object information obtained by transmitting the radiation generated by the radiation generating means through the object is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is transmitted through a lens unit or an array thereof. Acquired as an electric signal by an area sensor arranged corresponding to the lens unit, or directly acquires the visible light as an electric signal by an area sensor, in a radiation imaging apparatus for forming a radiation image, for the radiation imaging apparatus, Directly irradiating the entire image area with a substantially uniform intensity without passing through the subject, checking the signal value of each pixel at that time, and setting the signal value so that the signal value of each pixel becomes constant. Signal level correction value calculating means for calculating a signal level correction value for each pixel for correcting the level; A saturated pixel detecting means for detecting a pixel having a signal saturation caused by direct incidence on the area sensor; and interpolating a pixel detected by the saturated pixel detecting means from a signal value of a pixel present around the pixel, and And a pixel interpolating unit that sets a signal value. The signal level correction value calculating unit calculates the signal level correction value. A radiation imaging apparatus that calculates a signal level correction value using a signal value interpolated by a pixel interpolation unit as a signal value of the pixel.
に対し、注目画素周辺に存在する複数の周辺画素につい
て、該注目画素の信号値と、該周辺画素の信号値との差
分値を求め、それら差分値が所定の条件を満たす前記周
辺画素の数をカウントするとともに、該カウント数が所
定数以上となる場合、前記注目画素を、信号飽和した画
素として検出することを特徴とする請求項１又は２に記
載の放射線撮影装置。3. The saturated pixel detecting means calculates a difference value between a signal value of the pixel of interest and a signal value of the pixel of interest for a plurality of peripheral pixels existing around the pixel of interest for a pixel of interest. And counting the number of the peripheral pixels whose difference values satisfy a predetermined condition, and detecting the pixel of interest as a signal-saturated pixel when the count number is equal to or more than a predetermined number. 3. The radiation imaging apparatus according to 1 or 2.
た、または画像全体もしくは局所的な画素の信号値分布
から決定した閾値より、前記差分値の絶対値が大きな値
を有するとともに、前記注目画素の信号値が前記周辺画
素よりも多く放射線が曝射された状態を示すとき、前記
所定の条件を満たすと判定することを特徴とする請求項
３に記載の放射線撮影装置。4. The saturated pixel detecting means according to claim 1, wherein the absolute value of the difference value is larger than a predetermined threshold value or a threshold value determined from a signal value distribution of the entire image or a local pixel. 4. The radiation imaging apparatus according to claim 3, wherein when the signal value indicates that the radiation is more emitted than the peripheral pixels, it is determined that the predetermined condition is satisfied.
件と異なる条件を満たすことにより、前記エリアセンサ
の画素欠陥、前記シンチレータに付着した異物等により
信号値異常となった画素も検出することを特徴とする請
求項３又は４に記載の放射線撮影装置。5. The saturated pixel detecting means detects a pixel having an abnormal signal value due to a pixel defect of the area sensor, a foreign substance attached to the scintillator, or the like by satisfying a condition different from the predetermined condition. The radiation imaging apparatus according to claim 3 or 4, wherein:
た、または画像全体もしくは局所的な画素の信号値分布
から決定した閾値より、前記差分値の絶対値が大きな値
を有するとともに、前記注目画素の信号値が前記周辺画
素よりも少ない放射線が曝射された状態を示すとき、前
記異なる条件を満たすと判定することを特徴とする請求
項５に記載の放射線撮影装置。6. The saturated pixel detecting means according to claim 1, wherein the absolute value of the difference value is larger than a predetermined threshold value or a threshold value determined from a signal value distribution of pixels of the entire image or a local area. 6. The radiation imaging apparatus according to claim 5, wherein when the signal value indicates a state in which less radiation is emitted than the peripheral pixels, it is determined that the different condition is satisfied.
線が被写体を透過することによって得られる被写体情報
を、シンチレータによって可視光に変換し、変換された
可視光を、レンズユニットまたはそのアレイを介して前
記レンズユニットに対応して配置されたエリアセンサに
よって電気信号として取得し、または前記可視光を直接
エリアセンサによって電気信号として取得し、放射線画
像を形成する放射線撮影方法において、 前記放射線が前記エリアセンサに直接入射することによ
る信号飽和した画素を検出し、 検出された画素に対し、その周辺に存在する画素の信号
値から補間して当該画素の信号値とすることを特徴とす
る放射線撮影方法。7. A subject information obtained by transmitting radiation generated by a radiation generating means through a subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is transmitted through a lens unit or an array thereof. In a radiation imaging method of obtaining an electric signal by an area sensor arranged corresponding to a lens unit, or obtaining the visible light as an electric signal directly by an area sensor, and forming a radiation image, the radiation is transmitted to the area sensor. A radiation imaging method, comprising detecting a pixel saturated in signal due to direct incidence, and interpolating the detected pixel from a signal value of a pixel existing around the detected pixel to obtain a signal value of the pixel.
線が被写体を透過することによって得られる被写体情報
を、シンチレータによって可視光に変換し、変換された
可視光を、レンズユニットまたはそのアレイを介して前
記レンズユニットに対応して配置されたエリアセンサに
よって電気信号として取得し、または前記可視光を直接
エリアセンサによって電気信号として取得し、放射線画
像を形成する放射線撮影方法において、 被写体を介することなく、前記シンチレータの画像領域
全体に対し略均一な強度になるよう直接放射線を照射
し、その際の各画素毎の信号値を調べ、該各画素毎の信
号値が一定になるよう、信号レベルを補正するための各
画素毎の信号レベル補正値を算出し、 前記放射線が前記エリアセンサに直接入射することによ
る信号飽和した画素を検出し、 該検出された信号飽和した画素に対し、その周辺に存在
する画素の信号値から補間して当該画素の信号値を求
め、 前記信号レベル補正値を算出する際、該検出された信号
飽和した画素に対しては、前記画素補間手段によって補
間された信号値を、当該画素の信号値として信号レベル
補正値の算出を行うことを特徴とする放射線撮影方法。8. A subject information obtained by transmitting radiation generated by the radiation generating means through the subject is converted into visible light by a scintillator, and the converted visible light is transmitted through a lens unit or an array thereof. In a radiation imaging method of forming a radiation image by acquiring an electric signal by an area sensor arranged corresponding to the lens unit or directly acquiring the visible light as an electric signal by an area sensor, without passing through a subject, Direct radiation is applied to the entire image area of the scintillator so as to have a substantially uniform intensity. At that time, the signal value of each pixel is examined, and the signal level is corrected so that the signal value of each pixel becomes constant. To calculate the signal level correction value for each pixel, so that the radiation is directly incident on the area sensor. When the signal-saturated pixel is detected, the detected signal-saturated pixel is interpolated from the signal values of the pixels present around the pixel to obtain the signal value of the pixel, and the signal level correction value is calculated. A method for calculating a signal level correction value for a detected pixel having a saturated signal, using a signal value interpolated by the pixel interpolating means as a signal value of the pixel.
目画素に対し、注目画素周辺に存在する複数の周辺画素
について、該注目画素の信号値と、該周辺画素の信号値
との差分値を求め、それら差分値が所定の条件を満たす
前記周辺画素の数をカウントするとともに、該カウント
数が所定数以上となる場合、前記注目画素を、信号飽和
した画素として検出することにより行うことを特徴とす
る請求項７又は８に記載の放射線撮影装置。9. The method of detecting a signal-saturated pixel includes detecting a difference value between a signal value of a target pixel and a signal value of the peripheral pixel for a plurality of peripheral pixels present around the target pixel. And counting the number of the peripheral pixels whose difference values satisfy a predetermined condition, and when the count number is equal to or more than a predetermined number, detecting the pixel of interest as a signal-saturated pixel. The radiation imaging apparatus according to claim 7 or 8, wherein
した、または画像全体もしくは局所的な画素の信号値分
布から決定した閾値より、前記差分値の絶対値が大きな
値を有するとともに、前記注目画素の信号値が前記周辺
画素よりも多く放射線が曝射された状態を示すとき、前
記所定の条件を満たすと判定することを特徴とする請求
項９に記載の放射線撮影方法。10. The method according to claim 1, wherein the predetermined condition is such that the absolute value of the difference value is larger than a predetermined threshold value or a threshold value determined from the signal value distribution of the entire image or local pixels, and 10. The radiation imaging method according to claim 9, wherein when the signal value indicates that the radiation is more emitted than the peripheral pixels, it is determined that the predetermined condition is satisfied.
ことにより、前記エリアセンサの画素欠陥、前記シンチ
レータに付着した異物等により信号値異常となった画素
も検出することを特徴とする請求項９又は１０に記載の
放射線撮影方法。11. A pixel whose signal value is abnormal due to a pixel defect of the area sensor, a foreign substance attached to the scintillator, or the like, is detected by satisfying a condition different from the predetermined condition. Or the radiation imaging method according to 10.
は局所的な画素の信号値分布から決定した閾値より、前
記差分値の絶対値が大きな値を有するとともに、前記注
目画素の信号値が前記周辺画素よりも少ない放射線が曝
射された状態を示すとき、前記異なる条件を満たすと判
定することを特徴とする請求項１１に記載の放射線撮影
方法。12. The method according to claim 1, wherein the absolute value of the difference value is larger than a threshold value set in advance or determined from a signal value distribution of the entire image or a local pixel, and the signal value of the target pixel is set to a value of the peripheral pixel. The radiation imaging method according to claim 11, wherein it is determined that the different condition is satisfied when a state in which less radiation is emitted is indicated.
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