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JP2002014291A - 電子内視鏡装置 - Google Patents

電子内視鏡装置

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Publication number
JP2002014291A
JP2002014291A JP2000196394A JP2000196394A JP2002014291A JP 2002014291 A JP2002014291 A JP 2002014291A JP 2000196394 A JP2000196394 A JP 2000196394A JP 2000196394 A JP2000196394 A JP 2000196394A JP 2002014291 A JP2002014291 A JP 2002014291A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area
photometric
areas
imaging
electronic endoscope
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000196394A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunori Abe
一則 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujinon Corp
Original Assignee
Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Optical Co Ltd filed Critical Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority to JP2000196394A priority Critical patent/JP2002014291A/ja
Priority to US09/891,346 priority patent/US6475141B2/en
Priority to DE10130876A priority patent/DE10130876B4/de
Publication of JP2002014291A publication Critical patent/JP2002014291A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
  • Endoscopes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 撮像エリアの配光特性等が変化しても、分割
測光エリアの測光条件の不均一をなくして良好な明るさ
制御を行い、またアイリス制御等の動作範囲も狭めない
ようにする。 【解決手段】 電子内視鏡には、対物光学系、CCD、
大きさ及び配光特性を含む撮像エリア情報を格納したメ
モリを設け、この電子内視鏡を接続するプロセッサ装置
では、分割測光エリアを用いて受光状態を測定する測光
部、マイコン等を備え、このマイコンは、電子内視鏡側
の上記撮像エリア情報を読み取り、上記測光部に大きさ
の異なる複数の測光エリアE〜Eを設定すると共
に、これら測光エリアE〜Eの各分割エリアに対し
重み付けA〜Cを付与する。これにより、対物光学系で
決定される実際の撮像エリアF〜Fの大きさ、配光
特性が変化した場合でも、良好な測光及び明るさ制御が
実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子内視鏡装置、特
に映像の明るさを調節するために、撮像面上において設
定された分割測光エリアで撮像素子の受光状態を測定す
る回路構成に関する。
【0002】
【従来の技術】電子内視鏡装置は、電子内視鏡に設けら
れた固体撮像素子[CCD(Charge Coupled Devic
e)]で得られた撮像信号をプロセッサ装置等で信号処
理することにより、被観察体像をモニタに表示する。そ
して、この電子内視鏡装置では、上記CCDでの受光状
態を測定し、上記モニタに表示される被観察体映像の明
るさを良好にするための制御が行われる。
【0003】図6(A)には、CCDの撮像面に設定さ
れる従来の分割測光エリアが示されている。図示される
ように、この四角形の測光エリアEは、撮像面におい
て1乃至7の分割エリアを有しており、この測光エリア
に対し対物光学系の結像面光束範囲である実際の撮
像エリア(円形の斜線部)がFとなる。この測光エリ
アEでは、分割エリア1乃至7のそれぞれの受光量
(輝度値)が検出されるが、例えば中心エリア4は重み
係数2、その左右エリア3及び5は重み係数1.5、上
下エリア1,2,6及び7は重み係数1とされ、それぞ
れの受光量に対し上記重み係数が掛けられることによ
り、測光エリアEの全体の受光状態(明るさ)が判定
される。
【0004】そして、この測光エリアEの受光データ
によって、電子内視鏡装置では光源装置にてアイリス制
御をしたり、上記CCDにて電子シャッタ制御を行った
りすることになる。即ち、光源装置のアイリス制御回路
では上記受光データに基づき絞り開口量が制御され、被
観察体へ照射される光の出力調節により、一定の明るさ
の映像が得られる。また、電子シャッタ制御を行う電子
内視鏡では、上記受光データに基づきCCDの電荷蓄積
時間が制御され、被観察体の像光入射量(露光量)の調
節により、良好な明るさの映像が得られることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の分割測光エリアによる明るさ制御においては、撮像
エリアの大きさが異なる電子内視鏡をプロセッサ装置に
接続した場合等では、分割したエリア毎に測光を行うこ
との意味、効果が減殺されるという問題があった。即
ち、電子内視鏡の種類によってはその先端の対物光学系
により設定される実際の撮像エリア(結像面光束範囲)
が異なり、図6(B)に示されるように、例えばF
小さな撮像エリアが設定される場合(狭角スコープ)が
あるが、このような内視鏡を接続した場合であっても、
プロセッサ装置側で設定される測光エリアはEとな
る。この結果、図6(B)から理解されるように、全体
の測光では、周辺エリア1〜3,5〜7よりも中心エリ
ア4の受光量の寄与が大きくなり、中心部に突起物又は
陥没が存在する場合では、周辺部が暗くなったり又は周
辺部が明るくなり過ぎたりする。
【0006】また、図6(B)のように、実際の撮像エ
リアFが図6(A)のF場合よりも小さくなると、
光源装置のアイリス制御等ではその絞り部材の動作範囲
を狭めるという不都合がある。即ち、アイリス制御にお
いては中間の明るさの動作位置を絞り部材可動範囲の中
心位置に設定し、この位置から閉じる方向と開く方向に
絞り部材を動かせることが好ましいが、測光における全
体の受光量が少なくなると、この中間の明るさの動作位
置が明るくなる動作方向へシフトし、絞り部材を開く方
向の動作範囲が狭くなって良好な光量制御ができなくな
る。
【0007】更に、電子内視鏡装置ではライトガイドで
導かれた光を被観察体へ照射し、その反射光を対物光学
系を介して撮像素子撮像面へ入射することになるが、こ
の撮像面(又は撮像エリア)で捉えられる配光特性(配
光分布)が実際に設定される上記撮像エリアの大きさで
異なり、この配光特性の相違によって1乃至7の各分割
エリアで測定される受光量が不均一になるという問題が
ある。
【0008】図7には、図6(A),(B)の撮像エリ
アにおける水平方向の配光特性が示されており、図7
(A)は図6(A)の撮像エリアFの配光特性(標準
スコープ)、図7(B)は図6(B)の撮像エリアF
の配光特性(狭角スコープ)である。図7のSは水平同
期信号で、この配光特性は水平走査ラインに沿った光強
度分布を示している。標準スコープの場合は、図7
(A)のように比較的なだらかな光強度分布となるが、
狭角スコープの場合は図7(B)のように中心部の光強
度が高く、急に盛り上がる配光特性となる。このような
配光特性は、撮像エリアFの全方位方向で同様とな
り、この配光特性の相違により中心部4と周辺エリア1
〜3,5〜7の受光量に差が生じてしまう。
【0009】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、撮像エリアの配光特性等が変化し
た場合でも、分割測光エリアの測光条件を均一にして明
るさ制御を良好に行うことができ、またアイリス制御等
における動作範囲も狭められることのない電子内視鏡装
置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る発明は、対物光学系及び撮像素子を
設けた各種の電子内視鏡が本体側に接続自在となるよう
に構成され、上記撮像素子の受光状態から映像の明るさ
を制御する電子内視鏡装置において、上記本体側に、上
記撮像素子撮像面内で設定された複数の分割エリアを有
する測光エリアにより当該撮像素子の受光状態を測定す
る測光回路と、上記撮像素子の撮像エリアの配光特性に
応じて上記測光エリア内分割エリアの測定値に異なる重
み付けを付与し、映像の明るさを判定する判定回路とを
設けたことを特徴とする。
【0011】請求項2に係る発明は、上記測光回路で
は、大きさの異なる複数の測光エリアを設定可能に構成
し、この測光エリアを上記撮像素子の撮像エリアの大き
さに対応して選択するようにしたことを特徴とする。請
求項3に係る発明は、上記電子内視鏡側に上記配光特性
を含む撮像エリア情報を持たせ、上記本体側ではこの撮
像エリア情報を読み取り、これに対応する上記重み付け
を設定することを特徴とする。
【0012】上記の構成によれば、本体側の例えばプロ
セッサ装置は電子内視鏡側から撮像エリア情報(大き
さ、配光特性を含む)を読み取り、撮像素子撮像面にお
いて設定されている実際の撮像エリアの配光特性に対応
して測光エリアの各分割エリアに重み付けを付与する。
この重み付けは、配光特性を考慮するだけでなく、大き
さが変わった撮像エリアと測光エリアの面積比率の変化
(各分割エリア毎の変化)を考慮して設定することが好
ましい。これにより、配光特性又は撮像エリアの大きさ
が異なる電子内視鏡をプロセッサ装置に接続したとして
も、測光エリア内の中心エリアと周辺エリアとの測光条
件の不均一が解消され、良好な明るさの映像を形成する
ことができる。
【0013】また、請求項2の発明によれば、上記測光
回路において、撮像エリアの大きさに対応して略同じ大
きさの測光エリアが設定されるので、測光条件の不均一
が更に解消されると共に、光源アイリス制御等において
絞り部材の動作範囲が狭められることもない。
【0014】
【発明の実施の形態】図1には、実施形態の第1例に係
る電子内視鏡装置の回路構成が示されており、当該装置
では、各種の電子内視鏡(スコープ)10が本体側のプ
ロセッサ装置12に着脱自在に取り付けられる。図1に
おいて、電子内視鏡10では、先端部に対物光学系13
を介して撮像素子であるCCD14が配置され、コネク
タ部等に撮像エリアの大きさの情報を格納したメモリ
(EEPROM)15が設けられる。
【0015】一方、プロセッサ装置12では、CCD1
4の出力信号を入力し、相関二重サンプリング及び自動
利得制御を行うCDS(Correlated Double Sampling)
/AGC(Automatic Gain Control)回路18が設けら
れ、このCDS/AGC回路18の後段に、A/D変換
器19、ビデオ信号に対し各種の映像処理を施すDSP
(Digital Signal Processor)20が接続される。この
DSP20内に、分割測光エリアに基づいて受光状態
(映像の明るさ、輝度)を加算レジスタ等を用いて測定
する測光部(輝度情報検出部)21が設けられる。ま
た、この測光部21の制御を含む各種の制御を行うため
にマイコン23、測光エリアパターンデータ、重み付け
データを含む各種制御のための情報を格納するメモリ2
4等が配置される。
【0016】そして、当該例では、上記マイコン23の
制御により、図2に示される複数のパターンの測光エリ
アE〜E及び重み付けA〜Cが設定できると共に、
このマイコン23内には、上記CCD14の撮像エリア
の配光特性に応じて分割エリアの測定値に異なる重み付
けを付与し映像の明るさを判定する判定回路を有してい
る。即ち、図2(A)は従来から存在する標準のパター
ン1であり、このパターン1ではCCD14の撮像面に
対物光学系によって位置決めされた結像位置の円形の撮
像エリア(斜線部)Fに対し、その円周の左右が接す
る四角形の測光エリアE(1〜7の分割エリアを持
つ)が設定される。そして、この標準のパターン1は図
7(A)の配光特性(分布)を有しており、この配光特
性等を考慮し測光エリアE内の分割エリアの重み付け
Aとして、エリア1,2,6,7に重み係数1、エリア
3,5に重み係数1.5、中心エリア4に重み係数2が
付与される。
【0017】図2(B)は、縮小のパターン2であり、
このパターン2では同一のCCD14の撮像面に位置決
めされた図2(A)よりも小さい円形の撮像エリアF
に対し、その円周の左右が接するように横幅を短くした
四角形の測光エリアEが設定される。この測光エリア
では、中心エリア4を含む全ての分割エリア1〜7
の横幅が縮小される。また、この撮像エリアFの配光
特性に対応し測光エリアEの分割エリアの重み付けB
として、エリア1,2,6,7に重み係数0.8、エリ
ア3,5に重み係数1.5、中心エリア4に重み係数
1.6が付与される。
【0018】図2(C)は、縮小のパターン3であり、
このパターン3では同一のCCD14の撮像面に位置決
めされた図2(B)よりも更に小さい円形の撮像エリア
に対し、その円周の上下、左右が接するように全体
的に縮小した四角形の測光エリアEが設定されてお
り、この場合は分割エリア1〜7の全ての大きさが同一
比率で小さくなる。そして、この縮小のパターン3は図
7(B)の配光特性を有しており、この配光特性に対応
し測光エリアEの分割エリアの重み付けCとして、エ
リア1,2,6,7に重み係数0.7、エリア3,5に
重み係数1.5、中心エリア4に重み係数1.2が付与
される。
【0019】即ち、撮像面で捉えられる配光特性(図
7)では、撮像エリアF〜Fの直径が小さくなる
程、中心部の光強度が高くなるので、各測光エリアE
〜Eで設定される中心エリア4の重み付けを、周辺エ
リア1〜3,5〜7に比べて小さくする。そして、上記
各測光エリアE,Eの重み付けB,Cは、各分割エ
リア1〜7とその中の撮像エリア(F〜F)の面積
比率の変化をも考慮して決めることになる。なお、これ
ら測光エリアE〜Eの分割パターン(1〜7)は、
この例に限らず、種々のパターンが適用可能である。
【0020】上述した測光エリアE〜Eのエリア構
成データ及び重み付けデータは、メモリ24等に記憶さ
れており、このメモリ24からマイコン23が上記エリ
ア構成データを読み出し、CCD14の画素単位のアド
レスを指定することにより測光部21に選択された測光
エリアが設定される。これにより、測光部21は、指定
された領域の画素単位の受光量を分割エリア(1〜7)
毎に、例えば加法平均によって演算する。また、マイコ
ン23は上記重み付けデータを読み出して上記演算値に
重み係数を掛け、これににより全体の受光状態を判定す
る。
【0021】第1例は以上のように構成され、その作用
を図3及び図4を参照しながら説明する。図3におい
て、アイリス設定ルーチンでは、まずStep101にて測
光以外の初期設定を行い、次のStep102では、電子内
視鏡10側のメモリ15から撮像エリア情報(例えばパ
ターン情報)を読み込む。次のStep103では、この撮
像エリア情報が標準のパターン1であるか否かを判定し
ており、YESのときはStep104にて測光エリアE
が設定され、次のStep105にて重み付けAが付与され
る[図2(A)]。
【0022】一方、Step103にてNOのときは、Step
106で撮像エリア情報が縮小のパターン2であるか否
かを判定しており、YESのときはStep107にて測光
エリアEが設定され、次のStep108で重み付けBが
付与される[図2(B)]。また、上記Step106にて
NOのときは、Step109で撮像エリア情報が縮小のパ
ターン3であるか否かを判定しており、YESのときは
Step110にて測光エリアEが設定され、次のStep1
11で重み付けCが付与される。
【0023】そして、図1の測光部21では、図2
(A)〜(C)に示した撮像エリアF〜Fの大きさ
に対応した測光エリアE〜Eにより測光が行われ
る。図4には、上記測光エリアEの分割エリア2が示
されており、この測光エリアEの測光は、長さD
水平ラインの画素単位の受光量を上側から下側まで順に
加算レジスタ等により加算し、解答レジスタ等で加法平
均を演算することにより行われる。一方従来では、撮像
エリアFに対し測光エリアEが設定されるので、長
さDの水平ラインの受光量が上側から下側まで上記と
同様にして加法平均演算される。従って、当該例の測光
エリアEは、従来(E)と比較すると、撮像エリア
の大きさに近くなり、中心エリアと周辺エリアの測
光値のバランスが上記標準パターン1の場合と同様とな
り、分割エリア測光の結果が略均一となる。
【0024】その後、上記測光エリアE〜Eで測光
された各分割エリア1〜7の測定値にはマイコン23に
より上記重み付けA〜Cの各係数が掛けられ、全体の受
光状態、即ち映像の明るさが判定されることになり、こ
の明るさの判定出力によりアイリス制御或いは電子シャ
ッタ制御が行われる。
【0025】図5には、実施形態の第2例の構成が示さ
れており、この第2例は、測光エリアの大きさを変化さ
せないようにしたものである。この第2例では、上記の
ように撮像エリアの大きさがF〜Fのように変化し
たとしても、常に標準のパターン1と同じ測光エリアE
が設定され、また重み付けについては、配光特性と、
分割エリアとその中で大きさが変化する撮像エリア(F
〜F)との比率を考慮して設定される。
【0026】図5の場合は、撮像エリアFのときの重
み付けDが示されており、例えばエリア1,2,6,7
に重み係数1、エリア3,5に重み係数1.6、中心エ
リア4に重み係数1.2が付与される。これによって、
縮小された撮像エリアFであっても、中心エリア4と
周辺エリア1〜3,5〜7との測光条件が他の撮像エリ
アF,Fと同様となり、良好な測光結果が得られ
る。
【0027】なお、当該例において電子内視鏡10側に
付与される撮像エリア情報(大きさ、配光特性)の情報
伝達手段は、コネクタ接続の際に判定できる構造的なも
のでもよいし、プロセッサ装置12に入力した映像デー
タからその撮像エリアの大きさを直接的に判定するよう
にしてもよい。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、装置本体側に、複数の分割エリアを有する測光
エリアにより撮像素子の受光状態を測定する測光回路
と、撮像素子撮像エリアの配光特性に応じて測光エリア
内の分割エリア測定値に異なる重み付けを付与し、映像
の明るさを判定する判定回路とを設けたので、実際の撮
像エリアが変わり配光特性が変化した場合でも、分割測
光エリアの測光条件を均一にして明るさ制御を良好に行
うことができる。
【0029】また、請求項2の発明によれば、上記測光
回路において、大きさの異なる複数の測光エリアを撮像
エリアの大きさに対応して選択・設定できるようにした
ので、分割エリア測光の測光条件を更に均一にすること
ができ、またアイリス制御時の絞り部材の動作範囲が狭
められることもなく、良好な明るさの映像を形成するこ
とが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態の第1例に係る電子内視鏡装
置の構成を示す回路図である。
【図2】第1例の装置で設定される撮像エリアと測光エ
リアの各種パターンを示す説明図である。
【図3】第1例の装置におけるアイリス設定動作を示す
フローチャートである。
【図4】第1例で設定される縮小のパターン(2)と従
来とにおける測光エリア(分割エリア2)の比較を示す
説明図である。
【図5】実施形態の第2例で設定される撮像エリアと測
光エリアを示す説明図である。
【図6】従来装置で設定される撮像エリアと測光エリア
の関係を示す説明図である。
【図7】撮像素子撮像面に対する入射光の配光特性を示
す説明図である。
【符号の説明】
10 … 電子内視鏡、 12 … プロセッサ装置、 14 … CCD、 15,24 … メモリ、 20 … DSP(デジタル信号プロセッサ)、 21 … 測光部、 23 … マイコン。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対物光学系及び撮像素子を設けた各種の
    電子内視鏡が本体側に接続自在となるように構成され、
    上記撮像素子の受光状態から映像の明るさを制御する電
    子内視鏡装置において、 上記本体側に、上記撮像素子撮像面内で設定された複数
    の分割エリアを有する測光エリアにより当該撮像素子の
    受光状態を測定する測光回路と、上記撮像素子の撮像エ
    リアの配光特性に応じて上記測光エリア内分割エリアの
    測定値に異なる重み付けを付与し、映像の明るさを判定
    する判定回路とを設けたことを特徴とする電子内視鏡装
    置。
  2. 【請求項2】 上記測光回路では、大きさの異なる複数
    の測光エリアを設定可能に構成し、この測光エリアを上
    記撮像素子の撮像エリアの大きさに対応して選択するよ
    うにしたことを特徴とする上記請求項1記載の電子内視
    鏡装置。
  3. 【請求項3】 上記電子内視鏡側に上記配光特性を含む
    撮像エリア情報を持たせ、上記本体側ではこの撮像エリ
    ア情報を読み取り、これに対応する上記重み付けを設定
    することを特徴とする上記請求項1又は2記載の電子内
    視鏡装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012014678A1 (ja) * 2010-07-26 2012-02-02 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 内視鏡装置および内視鏡装置の制御方法

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