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JP2001344213A - 生体認証システム - Google Patents

生体認証システム

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JP2001344213A
JP2001344213A JP2000162517A JP2000162517A JP2001344213A JP 2001344213 A JP2001344213 A JP 2001344213A JP 2000162517 A JP2000162517 A JP 2000162517A JP 2000162517 A JP2000162517 A JP 2000162517A JP 2001344213 A JP2001344213 A JP 2001344213A
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JP2000162517A
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昌弘 三村
Yoichi Seto
洋一 瀬戸
Takuo Ishizuka
拓雄 石塚
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Priority to PCT/JP2001/004405 priority patent/WO2001093053A1/ja
Priority to DE60139784T priority patent/DE60139784D1/de
Priority to EP01934353A priority patent/EP1313026B1/en
Priority to KR1020017011933A priority patent/KR100785961B1/ko
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Publication of JP2001344213A5 publication Critical patent/JP2001344213A5/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 安全性が高く、かつ、コストを低減すること
ができる指紋照合システムを提供する。 【解決手段】 耐タンパ性を有したICカード100
と、ICカード100に対して情報の読み書きを行う耐
タンパ性を有したリーダライタ110とを備え、リーダ
ライタ110は、指紋入力部113により読みとった指
紋画像を、前処理部112で前処理し、抽出した中間情
報をICカード100に送信し、ICカード100は、
前記中間情報と指紋情報104との照合を行い、当該照
合が一致したときに、電子認証に使われる認証情報10
5を使用可能にし、アプリケーション131との間で電
子認証を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、重要施設における
入退室の管理や情報システムのアクセス管理に使われる
生体情報照合技術に関し、特に、指紋照合技術に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来から、指紋等の生体情報を使って、
あらかじめ登録した特定の利用者に対してのみ、施設へ
の入退室や情報システムの利用を許可するアクセスコン
トロール技術が知られている。このようなアクセスコン
トロール技術としては、例えば、以下のようなものがあ
る。
【0003】(1)クライアント認証型装置 特開平09-198501号公報(以下、文献1とい
う)には、あらかじめドア管理装置に記録した利用者の
生体情報と、入退出時に入力した生体情報とを照合する
ことで管理区域への不正な侵入を防止するものが記載さ
れている。
【0004】(2)サーバ認証型指紋照合装置 特開平10-124668号公報(以下、文献2とい
う)には、サーバが利用者の生体情報ファイルをもち、
クライアントにおいて入力された利用者の生体情報をサ
ーバで照合することで、コンピュータシステムへの不正
なアクセスを防止するものが記載されている。
【0005】(3)携帯型指紋照合装置 特開平10-149446号公報(以下、文献3とい
う)には、ICカードなどの携帯型記録装置に利用者の
生体情報を記録し、新たに入力した利用者の生体情報を
クライアントで照合することにより、コンピュータシス
テムなどへの不正なアクセスを防止するものが記載され
ている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前述した文献1に記載
された方法では、ドア管理装置が耐タンパ性を有しない
装置で実現されている場合、利用者の指紋情報や照合結
果の偽造、改ざん、盗用等により、正しい利用者になり
すます不正(なりすまし)が可能になるという問題があ
る。
【0007】これに対して、前述した文献2に記載され
た方法では、サーバで利用者固有の情報である生体情報
を集中管理し、指紋照合を行うため、文献1に記載され
た方法で問題となる指紋情報や照合結果の偽造、改ざ
ん、盗用等は困難となる。しかし、指紋等の個人情報が
集中管理されることに対して、利用者の心理的抵抗が大
きかったり、一度に多数の生体情報が盗難される恐れが
あったり、多数の利用者管理のために、生体情報を記録
するファイルの管理にかかるコストが増大する等といっ
た問題がある。
【0008】一方、文献3に記載された方法では、IC
カードなどの耐タンパ性を有する携帯型記憶装置に生体
情報を記録するため、文献2に記載された方法で問題と
なる利用者の心理的抵抗、大量の生体情報の盗難、およ
び生体情報の管理にかかるコストの問題を解決できる。
しかもICカードに実装された指紋入力装置およびCP
Uによって指紋の入力と照合を行うため、文献1に記載
された方法で問題となる指紋情報や照合結果の偽造、改
ざん、盗用等を防止でき、安全性が高いといえる。しか
し、ICカードに生体情報の入力機能および生体情報の
照合機能を実装する必要があり、装置のコストが高くな
るという問題がある。
【0009】本発明の目的は、安全性が高く、かつ、コ
ストを低減することができる指紋照合システムを提供す
ることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係る生体認証シ
ステムは、耐タンパ性を有した演算機能付き携帯型記憶
装置と、前記携帯型記憶装置に対して情報の読み書きを
行う耐タンパ性を有したリーダライタとを備える。
【0011】そして、前記リーダライタは、生体情報を
入力する生体情報入力装置を備え、当該生体情報入力装
置で入力した生体情報の前処理を行い、当該前処理を行
った中間情報を前記携帯型記憶装置に送信する。
【0012】また、前記携帯型記憶装置は、生体情報の
テンプレートと、電子認証に使われる秘密鍵とを備え、
前記中間情報と前記テンプレートとの照合を行い、当該
照合が一致したときに、前記秘密鍵を使用可能にする。
【0013】前記生体情報が指紋情報の場合は、前記リ
ーダライタは、指紋照合に必要な指紋画像情報を前記携
帯型記憶装置に順次送信し、前記携帯型記憶装置は、前
記指紋画像情報を順次処理することで、指紋照合を行う
ようにしてもよい。
【0014】また、前記テンプレートに記録された登録
指紋と、あらたに入力された入力指紋との位置ずれを補
正するための情報を、指紋のコア位置を使って算出し、
前記登録指紋の特徴点周辺の小画像を、前記入力指紋の
画像上の位置ずれ補正した座標周辺でマッチングするこ
とによって探索し、一致した小画像の個数をもって、前
記テンプレートと前記指紋画像の同一性を判定するよう
にしてもよい。また、指紋のコア位置を算出する際、隆
線の垂線ベクトルを探索し、当該垂線ベクトルが大きく
変化する位置を、指紋のコアと決定するようにしてもよ
い。
【0015】また、前記テンプレートに記録された登録
指紋と、あらたに入力された入力指紋との位置ずれを補
正するための情報を、入力指紋および登録指紋のそれぞ
れについて、各特徴点の周辺に特定の輝度分布を持つ画
像を作成し、当該画像の相互相関により算出するように
してもよい。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しつつ、詳細に説明する。
【0017】ここでは、高いセキュリティが必要とされ
る銀行の事務システムを例に、携帯型記録装置としてI
Cカードを用い、ホストコンピュータで稼働している銀
行業務用アプリケーションに対するアクセス管理を行う
場合について説明する。また、生体情報としては、指紋
を用いる場合について説明する。
【0018】図1は、本発明によるアクセス管理システ
ムの概略を説明するための図である。同図に示すよう
に、本システムは、ホストコンピュータ130と、端末
120と、リーダライタ110と、ICカード100と
を備える。
【0019】ホストコンピュータ130は、銀行業務を
行うためのもので、職員が銀行業務を行うためのアプリ
ケーション131が実行されている。アプリケーション
131は、職員があらかじめ登録された正しい利用者で
あることを確認(本人認証)した後に利用可能となるも
のである。
【0020】端末120は、アプリケーション131を
利用するための端末であり、ホストコンピュータ130
とネットワーク140によって接続されている。端末1
20は、ホストコンピュータ130とリーダライタ11
0およびICカード100とが本人認証に必要な情報を
交換する際の中継を行うものでもある。
【0021】リーダライタ110は、ICカード100
に対するデータの読み書きをするための装置で、端末1
20に接続されている。リーダライタ110は、インタ
ーフェース111と、指紋入力部113と、前処理部1
12とを備える。インターフェース111は、端末12
0やICカード100との間で情報を伝達する。指紋入
力部113は、職員の指から指紋を読み取る。前処理部
112は、読み取った指紋画像の前処理を行い、指紋照
合に必要となる情報をICカード100と交換する。
【0022】ICカード100は、おのおのの職員が持
つ演算機能付き携帯型記憶装置である。ICカード10
0は、インターフェース101と、指紋照合処理部10
2と、電子認証処理部103と、指紋情報104と、認
証情報105とを備える。インターフェース101は、
リーダライタ110との間で情報を伝達する。指紋照合
処理部102は、指紋情報104に記録された指紋情報
と、新たに入力した指紋とを照合する。電子認証処理部
103は、認証情報105を使って、ホストコンピュー
タ130と電子認証を行う。
【0023】次に、本システムにおけるアプリケーショ
ン131に対するアクセス管理の概要について説明す
る。
【0024】職員はあらかじめ自分の指紋情報104が
記録されたICカード100を持っており、アプリケー
ション131へアクセスする際、ICカード100をリ
ーダライタ110に接続し、リーダライタ110の指紋
入力部113を用いてあらたに指紋を入力する。
【0025】指紋が入力されると、前処理部112で指
紋照合のための前処理を行った後に、前処理部112と
指紋照合処理部102とで照合に必要となる情報を交換
しながら、新たに入力した指紋と指紋情報104とが一
致しているか否かを判定する。
【0026】その結果、一致していた場合には電子認証
処理部103の認証情報105へのアクセスを許可し、
アプリケーション131と電子認証処理部103との間
で電子認証を行う。電子認証が行われると、端末120
からアプリケーション130へのアクセスが可能とな
り、職員はアプリケーション131を利用可能となる。
【0027】次に、本システムの構成要素の詳細につい
て説明する。
【0028】まず、ICカード100の構造について説
明する。
【0029】図2は、ICカード100の構造を示す図
である。
【0030】同図に示すように、ICカード100は、
I/Oポート210と、CPU220と、RAM230
と、EEPROM240と、ROM250とを備える。
ICカード100の各構成要素は、バス260に接続さ
れ、バス260を介してデータ交換を行う。
【0031】I/Oポート210は、リーダライタ11
0との間でデータ交換を行うためのポートである。CP
U220は、四則演算やビット演算などを行う演算処理
部である。RAM230は、CPU220が演算を行う
際に一時的なデータの格納等に用いる書き換え可能なメ
モリである。
【0032】ROM250は、読み出し専用メモリであ
り、指紋照合プログラム251や電子認証プログラム2
52やその他のプログラムおよびデータが記録されてい
る。EEPROM240は、電気的に書き替え可能な不
揮発性メモリであり、ICカード100の正当性を証明
するための電子証明書241や、ICカード100の秘
密鍵242や、職員が正しいICカードの持ち主である
ことを証明するための指紋情報243などが記録されて
いる。
【0033】指紋情報243は、登録に使用した指紋の
コアの座標、所定数の特徴点の座標及び各特徴点の周辺
の小画像(チップ画像)からなる。以下、本実施形態で
は、指紋情報243に含まれる特徴点の数が30個の場
合について説明する。
【0034】図3は、指紋情報243の構成例を示す図
である。同図に示すように、指紋情報243は、チップ
(画像)の数と、コアのXY座標と、チップ画像のXY
座標と、チップ画像の画像データ(バイナリデータ)と
を有する。各情報の利用方法については、後述する。
【0035】ICカード100は、外部からの不正なア
クセスや装置の破壊によるデータ解析を防止する耐タン
パ性を有しており、内部に保持したデータやプログラム
を外部から不正な方法で参照できないよう設計されてい
る。また、内部に保持したデータへのアクセスコントロ
ール機能を有しており、ICカード100内部のデータ
にアクセスするためには、共通鍵などによる認証を行う
等、CPU220の許可が必要になる。ICカード10
0の秘密鍵242は、ICカード100の電源投入時に
はアクセス不許可に設定されており、外部あるいは内部
のプログラムからアクセスすることはできない。
【0036】ここでは、ICカード100は、職員を識
別するため各職員に対して1つだけ発行され、各職員が
1枚だけ持つことのできるものとする。
【0037】なお、本実施形態では、指紋照合プログラ
ム251および電子認証プログラム252をROM25
0に記録されるものとして説明するが、これらのプログ
ラムは、EEPROM240に実装することも可能であ
る。
【0038】次に、リーダライタ110の構造について
説明する。
【0039】図4は、リーダライタ110の構造を示す
図である。
【0040】同図に示すように、リーダライタ110
は、I/Oポート310と、CPU320と、RAM3
30と、指紋センサ340と、ROM350とを備え
る。リーダライタ100の各構成要素は、バス360に
接続され、バス360を介してデータ交換を行う。
【0041】I/Oポート310は、ICカード110
や端末120との間でデータ交換を行うためのポートで
ある。CPU320は、四則演算やビット演算などリー
ダライタ110に必要な演算を行う演算処理部である。
RAM330は、CPU320が演算する際に一時的に
用いるデータ等を格納するためのメモリである。指紋セ
ンサ340は、指紋を電子的に読み取るものである。
【0042】ROM350は、読み出し専用メモリであ
り、指紋画像の前処理などを行い、ICカード100と
通信しながら指紋の照合を行う前処理プログラム351
や指紋の読み取りを制御する指紋読み取りプログラム3
52やその他のプログラムおよびデータが記録されてい
る。
【0043】リーダライタ110は、耐タンパ性を有し
ており、内部に保持したデータやプログラムを外部から
不正な方法で参照できないよう設計されている。
【0044】次に、本実施形態における指紋照合の概要
について説明する。
【0045】図5は、本実施形態における指紋照合の概
略フローを示す図である。
【0046】まず、職員がホストコンピュータ130の
アプリケーション131を利用する際、アプリケーショ
ン131は、端末120に職員の指紋照合を要求し、端
末120はリーダライタ110に指紋照合要求を発行す
る(S400)。
【0047】端末120から指紋照合要求を受け取った
リーダライタ110は、指紋読み取りプログラム352
を実行し、指紋センサ340から職員の指紋を取得する
(S405)。読み取られた指紋は、例えば、1ピクセ
ルあたり8ビットの濃淡をもつ指紋画像としてRAM3
30に記録される。指紋センサ340による指紋の読み
取りは、通常用いられている方法、例えば、上述した文
献2の記載の方法を用いて行う。
【0048】次に、前処理プログラム351が指紋画像
の前処理を行い、照合に必要な情報として中間指紋情報
を抽出してRAM330に記録する(S410)。前処
理の詳細については、後述する。
【0049】次に、中間指紋情報と、あらかじめICカ
ード100に記録してあった職員の指紋情報243を指
紋照合プログラム251が照合する(S415)。照合
処理の詳細については、後述する。
【0050】照合の結果、両者が一致していなかった場
合は(S415:NG)、処理を終了する。一方、両者
が一致していた場合は(S415:OK)、ICカード
100の秘密鍵242を電子認証プログラム252から
アクセス可能になるよう活性化する(S420)。
【0051】そして、電子認証プログラム252が、活
性化された秘密鍵242を用いて、アプリケーション1
31と電子認証を行う(S425)。例えば、ANSI
/ITU X.509に記載された方法などにより、I
Cカード100とアプリケーション131間の相互認証
を行う。
【0052】次に、前述した前処理の詳細について説明
する。前処理では、指紋のコアと特徴点の座標算出、お
よび指紋の2値画像作成を行い、これらを前処理後の中
間指紋情報としてRAM330に記録する。
【0053】図6は、指紋のコアおよび特徴点の例を示
す図である。指紋のコアとは、同図に示すように、指紋
の特徴的な構造を指す。また、特徴点とは、指紋を形成
する隆線(凸部の連なり)の端点や分岐点を指す。通
常、各指に、指紋のコアは一個存在し、特徴点は複数個
存在する。
【0054】図7は、前処理の概略フローを示す図であ
る。
【0055】まず、入力された指紋画像に、隆線強調お
よびノイズ除去処理などを施し、処理後の8ビット濃淡
指紋画像をRAM330に記録する(S600)。本処
理は、通常用いられている方法、例えば、特開平11-
134498号公報に記載の方法を用いて行う。
【0056】次に、指紋の特徴的な構造であるコアを検
出し、その座標を中間指紋情報に記録する(S60
5)。本処理の詳細は後述する。
【0057】次に、隆線強調等の処理済の8ビット濃淡
指紋画像を2値化して、1ピクセルあたり1ビットのモ
ノクロ画像に変換し、中間指紋情報に記録する(S61
0)。本処理は、通常用いられる方法、例えば、前述し
た文献2に記載の方法を用いて行う。
【0058】次に、2値化された指紋画像を細線化し、
細線化画像を得る(S615)。細線化画像はRAM3
30に一時的に記録される。本細線化処理は、通常用い
られている方法、例えば、文献2に記載された方法を用
いて行う。
【0059】次に、細線化画像から隆線の端点や分岐点
である特徴点を最大30個抽出し、抽出した特徴点の座
標を中間指紋情報に記録する(S620)。特徴点の抽
出は、通常用いられている方法、例えば、文献2に記載
の方法を用いて行う。
【0060】次に、前述したコア位置検出処理S605
について説明する。
【0061】図8は、コア位置検出処理S605を説明
するための概念図である。
【0062】同図に示すように、コア位置検出処理S6
05では、まず、候補点を算出する際の有効領域810
を設定する。有効領域810は、指紋画像内であり、か
つコアを含むと推定される領域に設定される。
【0063】次に、有効領域810内において、適当な
初期位置800を設定し、その初期位置における隆線の
垂線方向ベクトル805を求め、求めた垂線方向ベクト
ル805を初期位置に足した位置を次の候補点とし、そ
の候補点における隆線の垂線方向ベクトルを求め、更に
次の候補点を求めるといった処理を、候補点の数があら
かじめ定めた数以上になるか、次の候補点が有効領域8
10外に出るまで繰り返す。そして、以上のようにして
求めた候補点のそれぞれについて、曲率を計算し、最大
の曲率をもつ候補点をコアの位置と判定する。そして、
初期位置を変えて、上述した処理を繰り返し、求まった
複数のコア位置を平均化処理することで、最終的なコア
位置を求める。
【0064】ここでは、一回のコア探索において最大2
0点の候補点を探索し、そのようなコアの探索を10回
行うものとする。
【0065】図9は、コア位置検出処理S605の詳細
フローを示す図である。
【0066】まず、探索回数を示すカウンタiを「1」
に初期化し(S700)、一回の探索における候補点の
インデックスを示すカウンタjを「1」に初期化する
(S705)。
【0067】次に、探索回数を示すカウンタiに応じ
て、候補点の初期位置を設定する(S710)。初期位
置は、各探索ごとに異なるように設定する。図8の例で
は、初期位置800が設定されている。初期位置のX座
標およびY座標は、RAM330に設けられた候補点算
出テーブルの該当する位置に記録される。
【0068】図10は、候補点算出テーブルの構成例を
示す図である。同図に示すように、候補点算出テーブル
は、「候補点インデックス」と、候補点の「座標」と、
各候補点での「曲率」とを有する。同図は、1回の探索
における7つの候補点の座標と曲率を示している。例え
ば、インデックス1(初期位置)の候補点の座標は、X
座標が25、Y座標が25となっている。
【0069】次に、初期位置800における隆線の垂線
方向ベクトル805を算出する(S715)。具体的な
算出方法は後述する。垂線方向ベクトルはあらかじめ設
定した長さになるよう正規化される。
【0070】次に、現在の候補点の位置および垂線方向
ベクトルから新たな候補点を算出する(S720)。具
体的には、現在の候補点の位置座標に、垂線方向ベクト
ルを加算することで新たな候補点を求め、候補点算出テ
ーブルの該当するインデックスに候補点のX座標および
Y座標を記録する。
【0071】次に、新たな候補点における隆線の垂線方
向ベクトルを算出する(S725)。
【0072】次に、新たな候補点があらかじめ設定した
有効領域(図8の領域810)内にあるか否かを調べる
(S730)。その結果、候補点が有効領域内にあれば
(S730:OK)、候補点の数があらかじめ設定した
個数(=20)に達したか否かを調べる(S740)。
その結果、達していなければ(S740:NO)、候補
点を示すインデックスjに1を加算し(S743)、新
たな候補点を算出する処理S720に戻り、前述した処
理を繰り返す。
【0073】一方、候補点の数があらかじめ設定した個
数に達した場合(S740:YES)、又は、新たな候
補点があらかじめ設定した有効領域内にない場合は(S
730:NG)、ここまでで算出した各候補点の曲率を
求め、最大の曲率を持つ候補点の座標および曲率を、R
AM330に設けられたコア探索結果テーブルの対応す
る位置に記録する(S745)。
【0074】図11は、コア探索結果テーブルの構成例
を示す図である。同図に示すように、コア探索結果テー
ブルは、「探索回数のインデックス」と、各探索におい
て、「最大曲率を持つ点の座標」と、「最大曲率」とを
有する。なお、図10は、10回の探索を終了した結果
を示している。
【0075】曲率はどのような方法で求めてもよいが、
ここでは隣り合う候補点のなす角度の余弦を曲率として
定義する。例えば、図8に示した4番目の候補点820
の曲率は角度830の余弦で計算される。このように全
ての候補点の曲率を計算し、このうち最大の曲率を持つ
候補点の座標をコア探索結果テーブルの対応する位置に
記録する。図10に示した例では、曲率−0.3が最大
であるため、4番目の候補点の座標および曲率を図11
のインデックス1に対応する位置に記録する。
【0076】今回探索された候補点の最大曲率が求まる
と、次に、探索の回数iがあらかじめ設定された回数
(=10)を超えたか否かを判定する(S750)。そ
の結果、越えていなければ、探索回数iに1を加算し
(S753)、次の探索の初期位置を設定する処理S7
10に戻り、前述した処理を繰り返す。
【0077】一方、探索の回数があらかじめ設定された
回数(=10)を超えていた場合は、全ての探索結果か
ら、コアの座標を算出する(S755)。
【0078】コアの座標を算出するには、全ての探索で
求まったコアの候補の座標を平均してコア位置とする方
法や、あらかじめ定めた最大曲率のしきい値以上を持つ
候補点だけを平均してコア位置とする方法などがある。
例えば、最大曲率のしきい値を−0.5とし、しきい値
以下の最大曲率をもつ候補は無効とすると、図11の例
では、10番目の探索による候補点は最大曲率が−0.
8のため無効となり、1番から9番までを平均してコア
の位置を算出することになる。
【0079】次に、前述した隆線の垂線方向ベクトルの
算出方法について説明する。ここでは、まず、候補点に
おける隆線方向(隆線と平行になる方向)を算出し、そ
れに直交する方向を算出することで、隆線の垂線方向ベ
クトルを算出する。
【0080】そこで、隆線方法の算出方法について説明
する。
【0081】図12は、本実施形態の隆線方向の算出方
法の概念を示す図である。同図は、指紋画像の一部を示
しており、隆線を実線で表している。指紋画像のあるピ
クセル上の点2505における隆線方向は以下のように
算出することができる。まず、点2505を通る直線上
の点2510を複数設定する。次に、点2505の輝度
と点2510の各々の輝度との差の絶対値を全て加算す
る。この作業を複数の方向について行い、最も値の小さ
い方向が隆線の方向と一致していると判断する。
【0082】図13は、隆線方向算出処理の処理フロー
を示す図である。
【0083】まず、角度を0度に初期化する(S260
0)。ここでは、0度から20度ごとに160度までの
それぞれの角度について処理を行うものとする。また、
角度ごとの評価値の値を0に初期化する。
【0084】次に、参照点の位置を初期化し、その座標
を算出する(S2605)。具体的には、図12の点2
505のように隆線方向を算出しようとしている点(以
下、基準点と呼ぶ)を通る直線上の点である。ここで
は、図12に示すように、4つの点を参照点として使
う。
【0085】次に、参照点の輝度と基準点の輝度の差の
絶対値を算出し、対応する角度に割り当てられた評価値
に加算する(S2610)。
【0086】次に、参照点を移動し、その座標を算出す
る(S2615)。
【0087】次に、全ての参照点について処理を終了し
たか否かを判別し(S2620)、その結果、全ての参
照点について処理が終わっていなければ(S2620:
NO)、ステップS2610に戻り、前述した処理を繰
り返す。
【0088】一方、全ての参照点について処理を終了し
ていれば(S2620:YES)、角度に20度を加算
し(S2625)、角度が180度に達しているか否か
を判別する(S2630)。その結果、角度が180度
に達していなければ(S2630:NO)、ステップS
2605に戻って、前述した処理を繰り返す。
【0089】一方、角度が180度に達していれば(S
2630:YES)、各々の角度に割り当てられた評価
値のうち、最小の値を持つ角度を算出する(S263
5)。最小の値を持つ角度が基準点における隆線の方向
となる。
【0090】以上説明したように、本実施形態における
コア位置検出処理では、コアを検出する際に隆線の垂線
方向ベクトルを探索し、垂線方向ベクトルが大きく変化
する位置を多数決によってコアと決定することで、少な
い計算量でコアの位置を検出ことができる。
【0091】次に、本実施形態における照合処理につい
て説明する。
【0092】図14は、本実施形態における照合処理の
概略フローを示す図である。本処理は、リーダライタ1
10とICカード100とが通信をしながら行うため、
同図の左側にリーダライタ110の処理を、右側にIC
カード100の処理を記載している。
【0093】同図に示すように、ICカード100で行
われる処理には、補正ベクトル算出処理S1190と、
チップ位置算出処理S1191と、チップマッチング処
理S1192とがあり、それぞれは、ISO7816−
4などで定義されるコマンドとしてICカード100に
実装されている。
【0094】まず、リーダライタ110がICカード1
00の補正ベクトル算出処理S1190を呼び出す(S
1100)。この際、中間指紋情報に記録した入力指紋
のコアの座標をパラメータとして渡す。具体的には、I
SO7816−4に記載のAPDU(Application Prot
ocol Data Unit)をICカード100に送信することで
処理を呼び出す。
【0095】図15は、補正ベクトル算出処理を呼び出
すためのAPDUの例を示す図である。同図に示すよう
に、APDU1500のINSフィールドに、補正ベク
トル算出処理のコマンドIDを代入し、データフィール
ドに、コアのX座標、Y座標を代入し、Lcフィールド
に、座標のデータ長を代入している。
【0096】ICカード100は、リーダライタ110
からAPDU1500を受信すると、補正ベクトル算出
処理を起動する(S1190)。補正ベクトル算出処理
は、リーダライタ110から受け取った入力指紋のコア
の座標と、あらかじめICカード100に記録された登
録指紋のコア位置の差分ベクトルを、両者の位置ずれを
表す補正ベクトルとして算出し、ICカード100のR
AM230に記録する。その後、リーダライタ110に
応答する。具体的には、ISO7816−4に記載の応
答APDU(Response Application Protocol Data Uni
t)をリーダライタ110に出力することで応答する。
【0097】図16は、補正ベクトル算出処理S119
0の応答APDUの例を示す図である。同図に示すよう
に、応答APDU1510は、SW1フィールドにコマ
ンドのステータスを含み、ここにコマンドの処理結果と
して、正常終了あるいは異常終了を示すコードを代入す
る。補正ベクトル算出処理S1190の詳細は後述す
る。
【0098】リーダライタ110は、ICカード100
からの応答APDU1510を受けとると(S110
5)、応答APDU1510のステータスをチェックす
る(S1107)。その結果、エラーであれば(S11
07:YES)、処理を終了する。
【0099】一方、エラーでなければ(S1107:N
O)、チップマッチングを行うための入力指紋の部分画
像を切り出す座標を取得するため、チップ位置算出処理
を呼び出す(S1110)。
【0100】図17は、チップ位置算出処理を呼び出す
ためにICカード100に送信されるAPDUの例を示
す図である。同図に示すように、APDU1520のI
NSフィールドには、チップ位置算出処理のコマンドI
Dが代入され、Leフィールドには、戻り値となる座標
のデータ長が代入される。
【0101】ICカード100は、APDU1520を
リーダライタ110から受信すると、チップ位置算出処
理を起動する(S1191)。チップ位置算出処理は、
あらかじめ記録された登録指紋の特徴点の座標と、ステ
ップS1190で算出した補正ベクトルから、入力指紋
における特徴点の座標を算出する。具体的には、登録指
紋の特徴点の座標に補正ベクトルを加えることで、入力
指紋での特徴点の座標を算出する。その後、応答APD
Uを使ってリーダライタ110に応答する。
【0102】図18は、チップ位置算出処理S1191
の応答APDUの例を示す図である。同図に示すよう
に、応答APDU1530のデータフィールドには、特
徴点の座標が代入され、SW1フィールドには、コマン
ドのステータスが代入される。チップ位置算出処理S1
191の詳細は後述する。
【0103】リーダライタ110は、応答APDU15
30を受信すると(S1115)、応答APDU153
0の内容を解析し、異常終了したか否かや、指定された
特徴点の位置が不正か否かを調べる(S1117)。そ
の結果、指定された特徴点の位置が不正な場合は(S1
117:YES)、ステップS1110に戻り、別のチ
ップ画像について、チップ位置算出処理を呼び出す。ま
た、異常終了していた場合は(S1117:異常終
了)、処理を終了する。
【0104】一方、適当な特徴点の位置が得られた場合
は(S1117:NO)、チップ位置算出処理によって
指定された座標周辺の部分画像を切り取る(S112
0)。部分画像は、チップ画像よりやや大きめの画像で
あり、その大きさや形状はあらかじめ決められている。
【0105】次に、ICカード100のチップマッチン
グ処理を呼び出す(S1125)。この際、データとし
てステップS1120で抽出した部分画像を送信する。
具体的な呼び出しの方法は、ステップS1100と同様
である。
【0106】図19は、チップマッチング処理を呼び出
すためのAPDUの例を示す図である。同図に示すよう
に、APDU1540のINSフィールドには、チップ
マッチング処理のコマンドIDが代入され、Lcフィー
ルドには、部分画像のデータ長が代入され、データフィ
ールドには、部分画像が代入される。
【0107】ICカード100は、リーダライタ110
からAPDU1540を受信すると、チップマッチング
処理を起動する(S1192)。チップマッチング処理
は、受信した入力指紋の部分画像と、あらかじめICカ
ード100に記録されたチップ画像とのチップマッチン
グ処理を行い、一致していればチップの一致数をインク
リメントする。そして、全ての特徴点についてマッチン
グが終了した場合は、指紋の一致又は不一致をあらわす
ステータスを応答し、それ以外は、次の特徴点をマッチ
ングするためのステータスを応答する。
【0108】図20は、チップマッチング処理の応答A
PDUの例を示す図である。同図に示すように、応答A
PDU1550のSW1フィールドに、コマンドのステ
ータスを代入する。具体的には、コマンドの処理結果と
して、指紋の一致、不一致、あるいは処理継続を示すコ
ードを代入する。チップマッチング処理S1192の詳
細は後述する。
【0109】リーダライタ110は、チップマッチング
処理の応答APDU1550を受信すると、応答APD
U1550のステータスを解析し、処理を終了するか否
かを判別する(S1135)。その結果、指紋の一致あ
るいは不一致の結果が得られていれば(S1135:Y
ES)、処理を終了する。一方、それ以外は、ステップ
S1110に戻り、残りの特徴点についてのマッチング
を行う。
【0110】次に、前述した補正ベクトル算出処理S1
190について説明する。
【0111】図21は、補正ベクトル算出処理S119
0の詳細フローを示す図である。
【0112】ICカード100は、リーダライタ110
からAPDU1500を受け取ると、APDU1500
に含まれた照合画像のコア位置を示すX座標およびY座
標をRAM230に記録する(S1900)。
【0113】次に、チップマッチングを行うチップ画像
のインデックス(チップ画像インデックス)kを0に初
期化し(S1905)、一致チップ数を示す変数Mを0
に初期化する(S1907)。
【0114】次に、リーダライタ110から送られてき
た照合画像のコア位置およびあらかじめICカード10
0に記録された指紋情報(図3)のコアの座標を用いて
補正ベクトルを算出する(S1910)。具体的には、
照合画像のコアの座標から指紋情報のコアの座標を引く
ことで、補正ベクトルを算出する。
【0115】次に、算出した補正ベクトルの大きさなど
の正当性を検証する(S1915)。その結果、適当な
補正ベクトルが得られた場合は(S1915:YE
S)、応答APDUのステータスに正常終了を示すコー
ドを代入し(S1920)、その応答APDUをリーダ
ライタ110に送信する(S1925)。一方、不正な
補正ベクトルが得られた場合は(S1915:NO)、
応答APDUのステータスに異常終了を示すコードを代
入し(S1917)、その応答APDUをリーダライタ
110に送信する(S1925)。
【0116】以上のようにして、補正ベクトル算出処理
S1190が行われる。
【0117】次に、前述したチップ位置算出処理S11
91について説明する。
【0118】図22は、チップ位置算出処理S1191
の詳細フローを示す図である。
【0119】ICカード100は、チップ位置算出処理
S1191を起動するAPDU1520をリーダライタ
110から受信すると(S2000)、チップ画像イン
デックスkをインクリメントし(S2002)、チップ
画像インデックスkが指紋情報に記録されたチップの数
(=30)以下か否かを判定する(S2005)。その
結果、kが指紋情報に記録されたチップの数より大きい
場合には(S2005:NO)、応答APDUのステー
タスに異常終了を示すコードを代入し(S2045)、
その応答APDUをリーダライタ110に送信し(S2
035)、処理を終了する。
【0120】一方、チップ画像インデックスkが指紋情
報に記録されたチップ画像の数以下の場合には(S20
05:YES)、指紋情報に記録されたk番目のチップ
画像の座標を補正する(S2010)。具体的には、k
番目のチップ画像の座標に補正ベクトルを足すことで補
正する。
【0121】次に、補正後のチップの座標が、照合画像
に含まれているか否かを検証する(S2015)。その
結果、含まれていない場合は(S2015:NO)、応
答APDUのステータスに特徴点の位置不正を示すコー
ドを代入し(S2040)、その応答APDUをリーダ
ライタ110に送信し(S2035)、処理を終了す
る。
【0122】一方、補正後のチップの座標が照合画像に
含まれている場合は(S2015:YES)、応答AP
DUのデータフィールドに補正後のチップの座標を代入
する(S2025)。更に、応答APDUのステータス
に正常終了を示すコードを代入し(S2030)、その
応答APDUをリーダライタ110に送信し(S203
5)、処理を終了する。
【0123】以上のようにして、チップ位置算出処理S
1191が行われる。
【0124】次に、前述したチップマッチング処理S1
192について説明する。
【0125】図23は、チップマッチング処理S119
2の詳細フローを示す図である。
【0126】ICカード100は、リーダライタ110
からチップマッチング処理S1192を起動するAPD
U1540を受信すると、データフィールドに記録され
た部分画像をRAM230に記録する(S2100)。
【0127】次に、チップ画像インデックスkが、あら
かじめ指紋情報に記録されたチップの数(=30)以下
か否かを検証する(S2105)。その結果、インデッ
クスkがチップの数より大きい場合(S2105:N
O)、応答APDUのステータスに指紋が不一致である
ことを示すコードを代入し(S2150)、その応答A
PDUをリーダライタ110に送信する(S214
0)。
【0128】一方、インデックスkがチップ画像数以下
の場合は(S2105:YES)、部分画像とk番目の
チップ画像のマッチング(チップマッチング)を行い、
部分画像においてチップ画像と一致したか否かを示すコ
ードを出力する(S2110)。このマッチングの具体
的な方法は後述する。
【0129】次に、チップ画像と部分画像が一致したか
否かを調べ(S2115)、一致しなかった場合は(S
2115:NO)、応答APDUのステータスに照合を
継続することを示すコードを代入し(S2145)、そ
の応答APDUをリーダライタ110に送信する(S2
140)。
【0130】一方、チップ画像と部分画像が一致した場
合は(S2115:YES)、一致チップ数Mをインク
リメントし(S2120)、一致チップ数Mがあらかじ
め定めたしきい値(=20)より大きいか否かを判定す
る(S2125)。その結果、Mがしきい値以下である
場合は(S2125:NO)、応答APDUのステータ
スに照合を継続することを示すコードを代入し(S21
45)、その応答APDUをリーダライタ110に送信
する(S2140)。
【0131】一方、Mがしきい値より大きい場合は(S
2125:YES)、照合画像とあらかじめICカード
100に記録された指紋情報が一致したと判断し、IC
カード100が相互認証を行うための秘密鍵242を使
用可能にする(S2130)。
【0132】次に、応答APDUのステータスに指紋が
一致したことを示すコードを代入し(S2135)、そ
の応答APDUをリーダライタ110に送信して(S2
140)、処理を終了する。
【0133】次に、前述したチップマッチング処理S1
192で行われるマッチング処理S2110の詳細につ
いて説明する。
【0134】本処理では、図24に示すように、部分画
像上をらせん状の軌道に従って移動しつつ、部分画像の
一部とチップ画像とが一致しているか否かを判定する。
なお、軌道はらせん状でなくともよい。
【0135】また、本実施形態では、不一致ビット数検
索テーブルをROM250またはEEPROM240に
あらかじめ用意しておき、チップ画像と部分画像を比較
したときの一致しないビットの数を数える際、その不一
致ビット数検索テーブルを利用する。
【0136】図25は、不一致ビット数検索テーブルの
構成例を示す図である。同図に示すように、本テーブル
は、インデックスを2進数で表現したときの1の数を記
録したものである。例えば、インデックス3(=11
b)に対しては、2が記録され、インデックス4(=1
00b)に対しては、1が記録される。ここでは、チッ
プ画像と部分画像とを8ビット単位で比較することに対
応して、0から255までの256要素のテーブルを用
意する。
【0137】図26は、マッチング処理S2110の詳
細フローを示す図である。
【0138】まず、部分画像上の照合位置を初期化する
(S2200)。例えば、チップ画像が部分画像の中央
部にくるような位置を最初の照合位置とする。
【0139】次に、照合位置に従って部分画像からチッ
プ画像と同じ大きさの画像を切り出し、RAM230上
に確保された照合用画像バッファにコピーする(S22
05)。例えば、チップ画像が16ピクセル四方である
とすると、1ピクセルあたりが1ビットに対応するので
必要となる照合用画像バッファは256ビット、すなわ
ち32バイトとなる。この場合、チップ画像も同様に3
2バイトの領域を持ち指紋情報の一部としてEEPRO
M240に格納されている。
【0140】次に、チップ画像と照合用画像バッファと
の間で一致しないビット数を示す不一致ビット数を0に
初期化し(S2210)、チップ画像と照合用画像バッ
ファの比較対象位置を示すオフセットを0に初期化する
(S2215)。
【0141】次に、チップ画像および照合用画像バッフ
ァのオフセット位置のデータの排他的論理和をとり、結
果をRAM230に保存する(S2220)。ここで
は、1バイト単位で、排他的論理和をとるものとする。
【0142】次に、排他的論理和の結果をインデックス
として、不一致ビット数検索テーブルを参照し、得られ
た数を、不一致ビット数に加算する(S2230)。
【0143】次に、不一致ビット数があらかじめ定めた
しきい値(=30)以上であるか否かを判別する(S2
235)。その結果、不一致ビット数があらかじめ定め
たしきい値未満である場合は(S2235:NO)、チ
ップ画像および照合用画像バッファの全てのデータにつ
いて計算を行い、オフセットが最後まで達したかどうか
を調べ(S2240)、最後まで達していなければ(S
2240:NO)、オフセットに1を加算し(S224
3)、オフセットの示すチップ画像および照合用画像バ
ッファの排他的論理和をとる処理S2220に戻り、前
述した処理を繰り返す。
【0144】一方、オフセットが最後まで達していた場
合は(S2240:YES)、チップ画像が部分画像と
一致したことを示すコードを出力し(S2245)、処
理を終了する。
【0145】また、ステップS2235における判別の
結果、不一致ビット数があらかじめ定めたしきい値以上
であった場合は(S2235:YES)、部分画像全体
にわたって照合したか否かを調べ(S2237)、まだ
照合していない照合位置がある場合は(S2237:N
O)、照合位置を移動させ(S2238)、ステップS
2205に戻って、前述した処理を繰り返す。
【0146】一方、最後まで照合していれば(S223
7:YES)、チップが部分画像と一致しなかったこと
を示すコードを出力し(S2239)、処理を終了す
る。
【0147】以上のようにして、チップマッチング処理
が行われる。
【0148】以上の説明では、照合処理において、指紋
のコアの位置を使って補正ベクトルの算出を行っていた
が、他の方法で補正ベクトルを算出するようにしてもよ
い。
【0149】次に、特徴点の分布の相互相関を使って、
補正ベクトルを算出する方法について説明する。この場
合、前述した前処理等において、コア位置の検出等を行
う必要がなくなる。
【0150】以下、ICカード100において補正ベク
トルを算出する場合とリーダライタ110において補正
ベクトルを算出する場合について説明する。まず、IC
カード100において、補正ベクトルを算出する場合に
ついて説明する。
【0151】この場合、前述した照合処理と異なる部分
は、図14のステップS1100において、リーダライ
タ110がICカード100に送信するAPDUと、そ
のAPDUによって呼び出される補正ベクトル算出処理
S1190の内容のみである。
【0152】図27は、図14に示したステップS11
00において、補正ベクトル算出処理S1190を呼び
出すためにリーダライタ110がICカード100に送
信するAPDUの例を示す図である。同図に示すよう
に、APDU2700のINSフィールドには、対応す
るコマンドIDが代入され、データフィールドには、前
処理で抽出した入力指紋のすべての特徴点の座標が代入
される。
【0153】図28は、APDU2700によって呼び
出される補正ベクトル算出処理S1190の詳細フロー
を示す図である。
【0154】ICカード100は、APDU2700を
受信すると(S2800)、送られてきた入力指紋の特
徴点の座標を使って、入力指紋の特徴点マップを生成す
る(S2805)。特徴点マップとは、各特徴点の座標
の周辺に特定の輝度分布を持った画像をいう。図29
は、特徴点マップの例を示す図である。特徴点座標の周
辺の輝度分布の形状や大きさ等については、実装条件に
応じて、適当なものが選択される。
【0155】入力指紋について特徴点マップを生成する
と、次に、指紋情報に記録された登録指紋の特徴点の座
標から、同様に特徴点マップを生成する(S281
0)。
【0156】そして、入力指紋と登録指紋の特徴点マッ
プを二次元信号とみなして正規化された相互相関を算出
する(S2815)。相互相関の算出は、通常用いられ
ている方法、例えば、「ディジタル画像処理」(ローゼ
ンフェルド他、近代科学社、1978年発行)306頁
に記載されている方法を用いて行う。
【0157】次に、正規化された相互相関値の最も大き
い位置を検出し、このときの位置ずれを、補正ベクトル
としてICカード100のRAM230に記録する(S
2820)。
【0158】そして、図16に示した応答APDU15
10に、適当なステータスを代入し、リーダライタ11
0に送信する(S2825)。
【0159】次に、リーダライタ110で補正ベクトル
を算出する場合について説明する。
【0160】この場合、図14に示したステップS11
00、S1190、S1105を図30に示すような処
理で置き換える。
【0161】以下、図30に示した処理について説明す
る。
【0162】照合処理が開始されると、まず、リーダラ
イタ110は、登録指紋の特徴点の座標の送信を要求す
るAPDUをICカード100に送信する(S300
0)。
【0163】図31は、登録指紋の特徴点の座標の送信
を要求するAPDUの例を示す図である。同図にしめす
ように、APDU2710のINSフィールドには、適
当なコマンドIDが代入され、Leフィールドには、I
Cカード100から返信される特徴点の座標データの長
さが格納される。
【0164】ICカード100は、APDU2710を
受信すると、ICカード100の指紋情報に記録された
特徴点の座標を、図32に示すような応答APDUのデ
ータフィールドに格納し、リーダライタ110に送信す
る(S3090)。
【0165】リーダライタ110は、ICカード100
から応答APDU2720を受信すると(S300
5)、図28に示した方法と同様に、特徴点マップを生
成することにより、補正ベクトルを算出し、リーダライ
タ110のRAM320に記録する(S3010)。
【0166】次に、リーダライタ110は、ICカード
100に補正ベクトルを記録させるためのコマンドを発
行する(S3015)。具体的には、図15に示すAP
DU1500と同形式のAPDUをICカード100に
送信する。
【0167】ICカードは、そのAPDUを受信する
と、APDUに格納されている補正ベクトルをICカー
ド100のRAM230に記録し、図16に示すような
応答APDUをリーダライタ110に送信する(S30
95)。
【0168】リーダライタ110は、応答APDUを受
け取ると(S3020)、応答APDUのステータスを
チェックする処理S1107に進む。
【0169】以上のように、コアの位置ではなく、特徴
点マップにより補正ベクトルを求める場合であっても、
指紋画像全体(又は、その一部)についてマッチングを
する場合に比べて、高速に補正ベクトルを求めることが
できる。更に、特徴点の周辺に持たせる輝度分布の大き
さを調整することで、指紋に歪みや回転が生じていても
正確な位置補正を行うことができる。
【0170】以上詳細に説明したように、本発明による
本人認証システムによれば、利用者固有の情報をICカ
ードにより個人管理するので、サーバ等で集中管理する
場合に比べて、利用者の受容性を改善することができ
る。また、一度に多数の生体情報が盗難される可能性を
軽減し、生体情報の記録管理にかかるコストを低減する
ことができる。
【0171】また、指紋情報および指紋照合機能を、I
Cカードの内部に実装し、外部からの指紋情報および指
紋照合機能へのアクセスを禁止することで、利用者の指
紋情報および照合結果の偽造、改ざん、盗用を困難に
し、なりすましを防ぐことができる。
【0172】また、指紋入力機能および指紋照合の前処
理機能をリーダライタに実装することで、一般的なIC
カードのCPUで指紋照合を行える。
【0173】更に、指紋照合機能を、ICカードとリー
ダライタとに分けて実装しているので、照合処理が解析
されずらくなる。
【0174】また、指紋の特徴的な構造であるコアの座
標をICカードの指紋情報に記録し、前処理によってあ
らたに入力した指紋画像からコアの座標を検出すること
で、指紋情報に記録された特徴点の座標を補正し、指紋
情報に記録したチップ画像を、指紋画像上の補正された
座標周辺でチップマッチングによって探索し、一致した
チップ画像の個数をもって指紋情報と指紋画像の同一性
を判定することで、RAM容量の小さいICカードでも
指紋照合を行える。
【0175】また、チップマッチングの際に、不一致の
ビットの数をあらかじめ記録した不一致ビット数検索テ
ーブルを用いて、チップマッチングで不一致となったビ
ット数を算出し、ビット数があらかじめ設定したしきい
値を越えた場合にはチップマッチングを終了して次の処
理に移行することで、演算速度の遅いICカードを用い
て指紋照合を行える。
【0176】なお、上記実施形態では、生体情報として
指紋を用いる場合について説明したが、他の生体情報を
用いることも可能である。
【0177】例えば、生体情報として虹彩を用いる場合
は、図1のリーダライタ110は、指紋入力部113の
かわりに、虹彩情報を入力するための虹彩情報入力部を
備え、前処理部112は、入力された虹彩画像の前処理
を行い、虹彩照合に必要なアイリスコードを算出する。
アイリスコードの算出は、例えば、文献:IEEE Transac
tions on pattern analysis and machine intelligenc
e, Vol.15, No.11, Nov.1993, pp.1148-1161(以下、文
献4という)に記載されている方法を使って行う。
【0178】このようにして算出されたアイリスコード
は、ICカード100に送信される。なお、アイリスコ
ードのICカード100への送信は、一度の送信で行う
ようにすればよい。
【0179】図1のICカード100には、指紋情報1
04のかわりに生体情報のテンプレートとしてアイリス
コードが記録される。リーダライタ110からアイリス
コードを受信すると、ICカード100内の虹彩照合プ
ログラムは、リーダライタ110から送信されたアイリ
スコードと、ICカード100内のEEPROM等に記
録されているアイリスコードとの照合を行う。当該照合
は、例えば、文献4に記載された方法で、アイリスコー
ドのハミング距離を算出し、算出したハミング距離が所
定のしきい値以下であるか否かによって行う。そして、
算出したハミング距離がしきい値以下であった場合は、
アイリスコードが一致したと判断し、指紋の場合と同様
に、電子認証処理部103の認証情報105へのアクセ
スを許可し、アプリケーション131と電子認証部10
3との間で電子認証を行う。
【0180】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、利用者固有の情報を携帯型記録装置により個人管
理するので、利用者の心理的抵抗を減らすことができ
る。また、一度に多数の生体情報が盗難される可能性を
軽減し、生体情報の記録管理にかかるコストを低減する
ことができる。
【0181】また、生体情報および生体情報照合機能を
耐タンパ性を有する携帯型記憶装置の内部に実装するこ
とで、利用者の生体情報および照合結果の偽造、改ざ
ん、盗用を困難にしなりすましを防ぐことができる。
【0182】また、生体情報入力機能および生体情報照
合の前処理機能をリーダライタに実装するので、一般的
な演算機能付き携帯型記憶装置であるICカード等のC
PUで生体情報照合を行え、システムのコストを低減す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明によるアクセス管理システムの概略を
説明するための図である。
【図2】 本発明によるICカードの構造を示す図であ
る。
【図3】 指紋情報243の構成例を示す図である。
【図4】 本発明によるリーダライタの構造を示す図で
ある。
【図5】 指紋照合の概略フローを示す図である。
【図6】 指紋のコアおよび特徴点の例を示す図であ
る。
【図7】 前処理の概略フローを示す図である。
【図8】 コア位置検出処理を説明するための概念図で
ある。
【図9】 コア探索処理の詳細フローを示す図である。
【図10】 コア探索処理における候補点算出テーブル
の構成例を示す図である。
【図11】 コア探索処理におけるコア探索結果テーブ
ルの構成例を示す図である。
【図12】 隆線方向算出方法の概念図である。
【図13】 隆線方向算出処理の詳細フローを示す図で
ある。
【図14】 照合処理の概略フローを示す図である。
【図15】 補正ベクトル算出処理を呼び出すAPDU
の例を示す図である。
【図16】 補正ベクトル算出処理からの応答APDU
の例を示す図である。
【図17】 チップ位置算出処理を呼び出すAPDUの
例を示す図である。
【図18】 チップ位置算出処理からの応答APDUの
例を示す図である。
【図19】 チップマッチング処理を呼び出すAPDU
の例を示す図である。
【図20】 チップマッチング処理からの応答APDU
の例を示す図である。
【図21】 補正ベクトル算出処理の詳細フローを示す
図である。
【図22】 チップ位置算出処理の詳細フローを示す図
である。
【図23】 チップマッチング処理の詳細フローを示す
図である。
【図24】 チップマッチング処理の概念を示す図であ
る。
【図25】 不一致ビット数検索テーブルの構成例を示
す図である。
【図26】 マッチング処理の詳細フローを示す図であ
る。
【図27】 第2の補正ベクトル算出処理を呼び出すA
PDUの例を示す図である。
【図28】 第2の補正ベクトル算出処理の詳細フロー
を示す図である。
【図29】 特徴点マップの例を示す図である。
【図30】 リーダライタ110で補正ベクトルを算出
する場合の処理フローを示す図である。
【図31】 登録指紋の特徴点の座標の送信を要求する
APDUの例を示す図である。
【図32】 特徴点位置送出処理からの応答APDUの
例を示す図である。
【符号の説明】
100 ICカード 110 リーダライタ 120 端末 130 ホストコンピュータ 140 ネットワーク
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04L 9/00 673D (72)発明者 石塚 拓雄 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所エンタープライズサーバ事業部内 Fターム(参考) 2E250 AA04 AA07 AA12 BB04 CC12 DD08 DD09 EE02 5B043 AA04 AA09 BA02 BA04 CA10 EA06 EA08 FA04 GA03 GA04 5B085 AA08 AE23 AE26 BG07 5J104 AA07 KA01 KA16 KA17 NA02 NA42

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 耐タンパ性を有した演算機能付き携帯型
    記憶装置と、 前記携帯型記憶装置に対して情報の読み書きを行う耐タ
    ンパ性を有したリーダライタとを備えた生体認証システ
    ムであって、 前記リーダライタは、 生体情報を入力する生体情報入力装置を備え、 当該生体情報入力装置で入力した生体情報の前処理を行
    い、 前記前処理を行った中間情報を前記携帯型記憶装置に送
    信し、 前記携帯型記憶装置は、 生体情報のテンプレートと、電子認証に使われる秘密鍵
    とを備え、 前記中間情報と前記テンプレートとの照合を行い、 当該照合が一致したときに、前記秘密鍵を使用可能にす
    ることを特徴とする生体認証システム。
  2. 【請求項2】 前記生体情報は、指紋情報であり、 前記リーダライタは、指紋照合に必要な指紋画像情報を
    前記携帯型記憶装置に順次送信し、 前記携帯型記憶装置は、前記指紋画像情報を順次処理す
    ることで、指紋照合を行うことを特徴とする請求項1に
    記載の生体認証システム。
  3. 【請求項3】 前記生体情報は、指紋情報であり、 前記テンプレートに記録された登録指紋と、あらたに入
    力された入力指紋との位置ずれを補正するための情報
    を、指紋のコア位置を使って算出し、 前記登録指紋の特徴点周辺の小画像を、前記入力指紋の
    画像上の位置ずれ補正した座標周辺でマッチングするこ
    とによって探索し、 一致した小画像の個数をもって、前記テンプレートと前
    記指紋画像の同一性を判定することを特徴とする請求項
    1に記載の生体認証システム。
  4. 【請求項4】 隆線の垂線ベクトルを探索し、 当該垂線ベクトルが大きく変化する位置を、指紋のコア
    と決定することを特徴とする請求項3に記載の生体認証
    システム。
  5. 【請求項5】 前記生体情報は、指紋情報であり、 前記テンプレートに記録された登録指紋と、あらたに入
    力された入力指紋との位置ずれを補正するための情報
    を、入力指紋および登録指紋のそれぞれについて、各特
    徴点の周辺に特定の輝度分布を持つ画像を作成し、当該
    画像の相互相関により算出し、 前記登録指紋の特徴点周辺の小画像を、前記入力指紋の
    画像上の位置ずれ補正した座標周辺でマッチングするこ
    とによって探索し、 一致した小画像の個数をもって、前記テンプレートと前
    記指紋画像の同一性を判定することを特徴とする請求項
    1に記載の生体認証システム。
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