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JP2001332949A - 弾性表面波素子の製造方法 - Google Patents

弾性表面波素子の製造方法

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JP2001332949A
JP2001332949A JP2000148394A JP2000148394A JP2001332949A JP 2001332949 A JP2001332949 A JP 2001332949A JP 2000148394 A JP2000148394 A JP 2000148394A JP 2000148394 A JP2000148394 A JP 2000148394A JP 2001332949 A JP2001332949 A JP 2001332949A
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wafer
acoustic wave
surface acoustic
polishing
mirror
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JP2000148394A
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Masaaki Sudo
正昭 須藤
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Publication date
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    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
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    • B24GRINDING; POLISHING
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    • B24B9/00Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
    • B24B9/02Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
    • B24B9/06Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ウエハの平坦度を向上させることで、弾性表面
波素子の特性を向上させることができる弾性表面波素子
の製造方法を提供すること。 【解決手段】単結晶材料を切断しウエハ11を形成する
切断工程と、ウエハ11の両面を所定の厚さまで研磨す
る研磨工程と、ウエハ表面12を研削する研削工程と、
ウエハ表面12を鏡面研磨する鏡面研磨工程と、ウエハ
表面12にメタルストリップ電極14を形成する素子形
成工程とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、通信用フィルタ、
遅延器、発信器等に用いられる弾性表面波素子の製造方
法に関し、特に周波数の高帯域化に対応し得るものに関
する。
【0002】
【従来の技術】図8の(a)は、弾性表面波素子1の構
成を示す模式図である。弾性表面波素子1は、500μ
m程度のウエハ2と、このウエハ2の表面2a上に設け
られた所定間隔で形成されたメタルストリップ電極3と
を備えている。このような弾性表面波素子1では、外部
からの電波や音波4を受けると、ウエハ2に伝播する弾
性波として、ウエハ2の表面2aに沿って伝播する弾性
表面波5と、ウエハWの内部を伝播するバルク波6とが
発生する。バルク波6はさらにウエハ2の裏面2bに反
射して、反射波7となるが、反射波7は弾性表面波5に
対する外乱となるため、ウエハ裏面を粗らすことで反射
波7の発生を抑止している。
【0003】一般的には、ウエハ2としては圧電性を示
すタンタル酸リチウム(LiTaO )やニオブ酸リ
チウム(LiNbO)、水晶等が用いられている。
これは、メタルストリップ電極3に電圧印加すること
で、弾性表面波5の中から励振した周波数信号を取り出
せるフィルタ機能が得られるからである。図8の(b)
は、弾性表面波素子1のフィルタ機能の周波数特性を示
す図である。
【0004】弾性表面波素子1は、テレビ用チューナ等
の信号フィルタとして古くから民生利用されている。近
年は、携帯電話に代表される移動体通信用フィルタとし
ての需要が著しく、利用周波数が高帯域化の方向にあ
る。
【0005】図9は、従来の弾性表面波素子の製造方法
の一例を示す図である。本製造方法においては、単結晶
のインゴットをスライスした後、べベル、両面研磨加
工、表面鏡面研磨等の工程を経てウエハ2を形成する。
そして、ウエハ2を洗浄した後、その表面2aにメタル
ストリップ電極3の形成を行う。
【0006】図10は、弾性表面波素子の製造方法の別
の例を示す図である。本製造方法においては、鏡面研磨
の削り量を少なくするために、両面研磨加工の後に細い
砥粒による片面研磨加工を行い、その後、鏡面研磨を行
う場合もある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した弾性表面波素
子の製造方法であると次のような問題があった。すなわ
ち、弾性表面波5の周波数が高くなるにつれ、メタルス
トリップ電極3の線幅が狭く微細化することになる。弾
性表面波素子1の設計上、約2GHz以上の周波数に対
しては半導体デバイスと同等レベルのサブミクロン線幅
となる。加えて、メタルストリップ電極3の線幅の分布
は弾性表面波5の設計周波数に対する誤差を生む。この
ため、弾性表面波素子1の製造工程の中でも露光工程の
メタルストリップ電極3の線幅の微細化と均一性を満足
し得るウエハ2の平坦平滑性が要求されている。
【0008】ウエハ2は厚さが500μm以下であり、
素子形成面である表面2aの平坦平滑性を向上させよう
とするとウエハ2の製造方法が問題となる。特に、ウエ
ハ製造の最終工程に近い鏡面研磨工程が問題になる。鏡
面研磨は、ウエハ2の表面2aをポリウレタン素材の不
織布と粒径約0.1μm以下のコロイダルシリカ砥粒を
用いて鏡面研磨するものであるが、ウエハ2の加工面に
弾性体を押し付け加圧して行う加工方法であるため、圧
力の不均一性に起因した形状崩れ、すなわちウエハ2の
平坦度が低下する虞があった。
【0009】平坦度が劣るウエハ2を用いると、サブミ
クロン線幅を満たす弾性表面波素子1の特性と製造の障
害となる。例えば、図8の(a)に示すようにウエハ平
坦度が劣っていると、メタルストリップ電極3を形成す
るための露光工程で線幅等に分布が生じ、図8の(b)
に示すように周波数特性の改善、特に選択周波数に対す
る誤差Δが大きくなる虞があった。
【0010】一方、ウエハ2の材料としては一般的にタ
ンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶を用いてい
ることから、硬く、脆いという性質がある。このため、
ウエハ加工工程及び素子形成過程において衝撃や熱応力
が発生すると、ウエハ割れを起こし易いという問題があ
る。さらに、単結晶であることから、特にへき開方向へ
の衝撃と熱応力に対する強度が弱い。
【0011】そこで本発明は、ウエハの平坦度を向上さ
せることで、弾性表面波素子の特性を向上させることが
できる弾性表面波素子の製造方法を提供することを目的
としている。また、ウエハ強度を向上させることでウエ
ハの割れを防止し、製造歩留り向上を図ることができる
弾性表面波素子の製造方法を提供することを目的として
いる。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するために、本発明の弾性表面波素子の製造方法は
次のように構成されている。
【0013】(1)単結晶材料を切断しウエハを形成す
る切断工程と、上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨
する研磨工程と、上記ウエハ表面を研削する研削工程
と、上記ウエハ表面を鏡面研磨する鏡面研磨工程と、上
記ウエハ表面に素子を形成する素子形成工程とを具備す
ることを特徴とする。
【0014】(2)上記(1)に記載された弾性表面波
素子の製造方法であって、上記研削工程と上記鏡面研磨
工程との間に上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁部鏡
面研磨工程を具備することを特徴とする。
【0015】(3)単結晶材料を切断しウエハを形成す
る切断工程と、上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨
する研磨工程と、上記ウエハ両面を鏡面研磨する鏡面研
磨工程と、上記ウエハ裏面を所定の面粗さに研削する研
削工程と、上記ウエハ表面に素子を形成する素子形成工
程とを具備することを特徴とする。
【0016】(4)上記(3)に記載された弾性表面波
素子の製造方法であって、上記研磨工程と上記鏡面研磨
工程との間に上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁部鏡
面研磨工程を具備することを特徴とする。
【0017】(5)単結晶材料を切断しウエハを形成す
る切断工程と、上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨
する研磨工程と、上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁
部鏡面研磨工程と、上記ウエハ表面を鏡面研磨する鏡面
研磨工程と、上記ウエハ表面に素子を形成する素子形成
工程とを具備することを特徴とする。
【0018】(6)単結晶材料を切断しウエハを形成す
る切断工程と、上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨
する研磨工程と、上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁
部鏡面研磨工程と、上記ウエハ表面を研削する研削工程
と、上記ウエハ表面を鏡面研磨する鏡面研磨工程と、上
記ウエハ表面に素子を形成する素子形成工程とを具備す
ることを特徴とする。
【0019】(7)上記(1)〜(6)いずれかに記載
された弾性表面波素子の製造方法であって、上記単結晶
材料はタンタル酸リチウムであることを特徴とする。
【0020】(8)上記(1)〜(6)いずれかに記載
された弾性表面波素子の製造方法であって、上記単結晶
材料はニオブ酸リチウムであることを特徴とする。
【0021】(9)上記(1)〜(6)いずれかに記載
された弾性表面波素子の製造方法であって、上記単結晶
材料は水晶であることを特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施の形態
に係る弾性表面波素子10の製造工程を示す説明図であ
る。また、図2の(a)〜(c)は同弾性表面波素子1
0の製造に用いる加工装置20,30,40を示す図、
図3は同弾性表面波素子10の製造工程を示す説明図で
ある。図3の(a)は弾性表面波素子10を示す模式
図、図3の(b)はその周波数特性を示すグラフであ
る。
【0023】弾性表面波素子10は、図3の(a)に示
すように例えば厚さ500μmのウエハ11を備えてい
る。ウエハ11の表面12は素子形成面であり、裏面1
3はバルク波の反射面である。ウエハ11の表面12に
は、メタルストリップ電極14が所定間隔で並設されて
いる。なお、図1中12a及び13aはウエハ11の周
縁部に設けられたテーパ面を示している。また、図3の
(a)中、αは外部からの電波・音波、βは弾性表面
波、γはバルク波、δは反射波を示している。
【0024】加工装置20は、図2の(a)に示すよう
に、エアスピンドル21と、このエアスピンドル21に
より回転駆動されるテーパ22°の加工面を有する砥石
22とを備えている。砥石22には、粒径1〜50μm
のダイヤモンダ砥粒を結合剤で固めたものを使用する。
【0025】加工装置30は、図2の(b)に示すよう
に、ウエハ11を載置するとともに、100〜300r
pmの回転速度で回転する回転テーブル31と、この回
転テーブル31に対向配置された送り機構32と、この
送り機構32により0.1μmの精度で位置決めされる
エアスピンドル33と、このエアスピンドル33により
1000〜3000rpmで回転駆動される砥石34と
を備えている。砥石34は、直径200mmのアルミベ
ース35と、このアルミベース35に設けられた#36
0〜1500のダイヤ(粒径1〜50μm)やレジン・
メタルビトリファイド等の砥石36とから形成されてい
る。
【0026】加工装置40は、図2の(c)に示すよう
に、エアスピンドル41と、このエアスピンドル41に
より回転駆動される定盤42と、この定盤42に取り付
けられた弾性体であるポリウレタン素材の不織布からな
るパッド43と、ウエハ11を支持する支持部44と、
支持部44を回転駆動するエアスピンドル45と、定盤
42上に粒径約0.1μm以下のコロイダルシリカ砥粒
を含む研磨液を供給する供給ノズル46とを備えてい
る。
【0027】本第1の実施の形態においては、次のよう
な工程により弾性表面波素子の製造を行う。最初に、タ
ンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶等の単結晶
インゴットをワイヤーソーや内周刃ブレードを用いて板
状に切断し、図3の(a)に示すようにウエハ11を形
成する。次に加工装置20により、図3の(b)に示す
ようにウエハ11の周縁部を角度22°のテーパでベベ
ル研磨加工(面取り加工)を行う。
【0028】次に研磨装置(不図示)により、上下に配
置した2個の剛体定盤でウエハ11を挟み込み、遊離砥
粒を供給しながらウエハ11を最終仕上げ厚さよりも1
0〜50μm厚くなるまで図1の(c)に示すように両
面研磨加工する。この段階で、ウエハ11に残っていた
うねりや反りが大方除去される。なお、裏面13は、両
面研磨加工で得られた粗さ(0.1〜2μmRa)が素
子形成まで残り、反射波δを弱めることで周波数特性へ
の影響を抑えることができる。
【0029】次に加工装置30により、ウエハ11の表
面12を図1の(d)に示すように研削加工する。砥石
34でウエハ11を削り込むことになるので、ウエハ1
1に過負荷が発生しないような切り込み速度、ウエハと
砥石の接線擦過速度を与えながら、研削液を供給しなが
ら加工していく。例えば、切り込み速度0.05〜10
μm/s、ウエハ11と砥石の接線擦過速度10〜20
0m/sの条件範囲とする。なお、ウエハ11の形状
は、回転テーブル31のウエハチャック面の平面度と砥
石の送り精度と位置精度で決まり、平坦度1μmTTV
以下で仕上げることができる。さらに、ウエハ11に対
する負荷を小さくする加工なので、ラップ加工等と比較
して加工面の深さ方向へのクラック層、歪層の発生が極
めて小さい。
【0030】次に加工装置40により、図1の(e)に
示すようにウエハ11の表面12を鏡面研磨加工を行い
鏡面を得る。鏡面研磨加工は、表面12をパッド43及
び研磨液を用いて鏡面研磨する。鏡面研磨加工は、加工
面に弾性体を押し付け加圧して行う加工方法であるた
め、圧力の不均一性に起因した形状崩れ、すなわち鏡面
研磨加工の除去量に相応したウエハ11の平坦度低下を
招く虞がある。しかしながら、上述した研削加工を用い
たことにより加工面の深さ方向のクラック層、歪層の発
生量が小さいので、鏡面研磨加工での削り量を最小化す
ることができる。すなわち、ウエハ平坦度を向上させる
ことができる。
【0031】具体的には、従来の研磨加工後の鏡面研磨
除去必要量は10〜25μmであったのに対して、本実
施の形態における研削加工後の鏡面研磨除去必要量は3
〜10μmと少なくすることができる。したがって、鏡
面研磨加工における形状崩れが10%の場合、削り量1
0〜25μmにおいては1.0〜2.5μmの平坦度低
下が生じるが、本実施の形態における削り量は3〜10
μmとなり、0.3〜1.0μmの平坦度低下に抑止で
きる。
【0032】次に、ウエハW上に残留する加工砥粒や異
物を洗浄除去した後、素子形成工程においてウエハ11
の表面12に図1の(f)に示すようにメタルストリッ
プ電極14を形成する。電波・音波を励起させるための
メタルストリップ電極14は、半導体素子と同様に、レ
ジスト塗布、露光、現像、エッチング、レジスト除去と
いった工程によって形成する。
【0033】上述したように本第1の実施の形態に係る
弾性表面波素子の製造方法によれば、研磨加工に比べて
加工ダメージの小さい研削加工を用い、より目的の厚さ
までウエハ11を削るようにしているので、鏡面研磨除
去量を最小限に抑えることができ、ウエハ11の平坦度
の低下を防止できる。このため、素子形成工程におい
て、平行平滑なウエハ11を用いることができ、線幅が
微細で、かつ、分布が小さいメタルストリップ電極14
が形成できる。したがって、図3の(b)に示すように
弾性表面波素子10の周波数特性の改善、特に選択周波
数に対する誤差Δを小さくすることが可能である。ま
た、ウエハ11の裏面13には研磨加工における面粗さ
が残っているため、反射波δの発生を最小限に抑えるこ
とができる。
【0034】図4は本発明の第2の実施の形態に係る弾
性表面波素子の製造工程を示す図、図5の(a),
(b)は同弾性表面波素子の製造に用いる加工装置5
0,60を示す図である。図4において、図1と同一機
能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略す
る。
【0035】加工装置50は図5の(a)に示すよう
に、砥石51を備え、テーパ面12a,13aを鏡面研
磨することができる。なお、図中θはテーパ面12a,
13aの角度と一致する角度である。また、加工装置6
0は図5の(b)に示すようにラッピングテープ61を
備え、テーパ面12a,13aを鏡面研磨することがで
きる。
【0036】本第2の実施の形態に係る弾性表面波素子
の製造方法においては、上述した第1の実施の形態と同
様に、図4の(a)〜(d)に示すように、切断加工、
ベベル研磨加工、両面研磨加工、研削加工を行う。その
後、図4の(e)に示すように、テーパ面12a,13
aのベベル鏡面研磨を行い、図4の(f)に示すよう
に、ウエハ11の表面12の鏡面研磨を行うようにして
いる。テーパ面12a,13aを鏡面研磨することで、
テーパ面12a,13aを鏡面研磨しない場合と比べ
て、テーパ面12a,13aにおけるクラックが低滅す
る。特に、弾性表面波素子用で硬脆性の単結晶材料であ
る、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶等に
対して効果がある。
【0037】本第2の実施の形態に係る弾性表面波素子
の製造方法においては、上述した第1の実施の形態と同
様の効果が得られるとともにこのため、衝撃や熱応力が
加わったときの硬脆性材料に特有の割れを抑止できるよ
うになり、歩留まりを向上させることができる。
【0038】図6は本発明の第3の実施の形態に係る弾
性表面波素子の製造方法を示す図である。図4におい
て、図1と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細
な説明は省略する。
【0039】上述した第1の実施の形態と同様にして図
6の(a)に示すように切断加工、図6の(b)に示す
ようにベベル研磨加工、図6の(c)に示すように両面
研磨加工を行う。次に、図6の(d)に示すようにウエ
ハ11の表面12及び裏面13の両面鏡面研磨を行う。
両面鏡面研磨は、上下に配置した2個の剛体定盤にポリ
ウレタン素材の不織布を貼ってウエハを挟み込み、粒径
約0.1μmのコロイダルシリカ砥粒を供給しながらウ
エハ11の両面を同時に鏡面加工する。ウエハ11を加
圧する基準面が運動しているので、平均効果により均一
な加圧が行える。したがって、片面のみを鏡面研磨する
場合に比べて形状崩れが小さく、より平坦平滑なウエハ
が得られる。
【0040】次に、図6の(e)に示すように所定の面
粗さとなるようにウエハ11の裏面13を加工装置30
により研削加工する。加工装置30の条件範囲は第1の
実施の形態と同様である。なお、面粗さは反射波δによ
る周波数特性への影響を防止できる程度のものとする。
【0041】次に、加工砥粒や異物を洗浄除去した後、
図6の(f)に示すように、ウエハ11の表面12に電
極14を形成し、弾性表面波素子10を完成する。
【0042】本第3の実施の形態に係る弾性表面波素子
の製造方法においても、上述した第1の実施の形態と同
様の効果を得ることができる。
【0043】図4は本発明の第4の実施の形態に係る弾
性表面波の製造方法を示す図である。図4において、図
3と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明
は省略する。
【0044】本第4の実施の形態に係る弾性表面波素子
の製造方法においては、上述した第3の実施の形態と同
様に、図7の(a)〜(c)に示すウエハ11の切断加
工、ベベル研磨加工、両面の研磨加工を行う。その後に
図7の(d)に示すようにテーパ面12a,13aのベ
ベル鏡面研磨を行い、その後に図7の(e)に示すよう
にウエハ11の表面12及び裏面13の両面鏡面研磨加
工を行うようにしている。
【0045】テーパ面12a,13aを鏡面研磨するこ
とで、テーパ面12a,13aを鏡面研磨しない場合と
比べて、テーパ面12a,13aにおけるクラックが低
滅する。このため、衝撃や熱応力が加わったときの硬脆
性材料に特有の割れを抑止できるようになり、歩留まり
を向上させることができる。
【0046】その後、図7の(f)に示すように裏面1
3の研削加工、図7の(g)に示すように素子形成を行
う。
【0047】本第4の実施の形態に係る弾性表面波素子
の製造方法においては、上述した第3の実施の形態と同
様の効果が得られるとともにこのため、衝撃や熱応力が
加わったときの硬脆性材料に特有の割れを抑止できるよ
うになり、歩留まりを向上させることができる。
【0048】なお、本発明は前記実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々
変形実施可能であるのは勿論である。
【0049】
【発明の効果】本発明によれば、ウエハの平坦度を向上
させることで、弾性表面波素子の特性を向上させること
ができる。また、ウエハ強度を向上させることでウエハ
の割れを防止し、製造歩留り向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る弾性表面波素
子の製造方法を示す工程図。
【図2】同製造方法に用いる加工装置を示す図。
【図3】(a)は同製造方法により製造された弾性表面
波素子の模式図、(b)は同弾性表面波素子の周波数特
性を示すグラフ。
【図4】本発明の第2の実施の形態に係る弾性表面波素
子の製造方法を示す工程図。
【図5】同製造方法に用いる加工装置を示す図。
【図6】本発明の第3の実施の形態に係る弾性表面波素
子の製造方法を示す工程図。
【図7】本発明の第4の実施の形態に係る弾性表面波素
子の製造方法を示す工程図。
【図8】(a)は従来の製造方法により製造された弾性
表面波素子の模式図、(b)は同弾性表面波素子の周波
数特性を示すグラフ。
【図9】従来の弾性表面波素子の製造方法の一例を示す
工程図。
【図10】従来の弾性表面波素子の製造方法の別の例を
示す工程図。
【符号の説明】
10…弾性表面波素子 11…ウエハ 12…表面 13…裏面 14…メタルストリップ電極(素子) 20,30,40…加工装置

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】単結晶材料を切断しウエハを形成する切断
    工程と、 上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨する研磨工程
    と、 上記ウエハ表面を研削する研削工程と、 上記ウエハ表面を鏡面研磨する鏡面研磨工程と、 上記ウエハ表面に素子を形成する素子形成工程とを具備
    することを特徴とする弾性表面波素子の製造方法。
  2. 【請求項2】上記研削工程と上記鏡面研磨工程との間に
    上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁部鏡面研磨工程を
    具備することを特徴とする請求項1に記載の弾性表面波
    素子の製造方法。
  3. 【請求項3】単結晶材料を切断しウエハを形成する切断
    工程と、 上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨する研磨工程
    と、 上記ウエハ両面を鏡面研磨する鏡面研磨工程と、 上記ウエハ裏面を所定の面粗さに研削する研削工程と、 上記ウエハ表面に素子を形成する素子形成工程とを具備
    することを特徴とする弾性表面波素子の製造方法。
  4. 【請求項4】上記研磨工程と上記鏡面研磨工程との間に
    上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁部鏡面研磨工程を
    具備することを特徴とする請求項3に記載の弾性表面波
    素子の製造方法。
  5. 【請求項5】単結晶材料を切断しウエハを形成する切断
    工程と、 上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨する研磨工程
    と、 上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁部鏡面研磨工程
    と、 上記ウエハ表面を鏡面研磨する鏡面研磨工程と、 上記ウエハ表面に素子を形成する素子形成工程とを具備
    することを特徴とする弾性表面波素子の製造方法。
  6. 【請求項6】単結晶材料を切断しウエハを形成する切断
    工程と、 上記ウエハの両面を所定の厚さまで研磨する研磨工程
    と、 上記ウエハ周縁部を鏡面研磨する周縁部鏡面研磨工程
    と、 上記ウエハ表面を研削する研削工程と、 上記ウエハ表面を鏡面研磨する鏡面研磨工程と、 上記ウエハ表面に素子を形成する素子形成工程とを具備
    することを特徴とする弾性表面波素子の製造方法。
  7. 【請求項7】上記単結晶材料はタンタル酸リチウムであ
    ることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか記載の弾
    性表面波素子の製造方法。
  8. 【請求項8】上記単結晶材料はニオブ酸リチウムである
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか記載の弾性
    表面波素子の製造方法。
  9. 【請求項9】上記単結晶材料は水晶であることを特徴と
    する請求項1乃至6のいずれか記載の弾性表面波素子の
    製造方法。
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