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JP2001291963A - Multilayered printed wiring board - Google Patents

Multilayered printed wiring board

Info

Publication number
JP2001291963A
JP2001291963A JP2000102769A JP2000102769A JP2001291963A JP 2001291963 A JP2001291963 A JP 2001291963A JP 2000102769 A JP2000102769 A JP 2000102769A JP 2000102769 A JP2000102769 A JP 2000102769A JP 2001291963 A JP2001291963 A JP 2001291963A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
layer
solder resist
wiring board
printed wiring
Prior art date
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Granted
Application number
JP2000102769A
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Japanese (ja)
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JP4535559B2 (en
Inventor
Teru Tsun
暉 鍾
Kenichi Shimada
憲一 島田
Yukihiko Toyoda
幸彦 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Priority to JP2000102769A priority Critical patent/JP4535559B2/en
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Priority to CN2010102609251A priority patent/CN101925260A/en
Priority to CNB2004100632489A priority patent/CN100387103C/en
Priority to EP08020481A priority patent/EP2028915A1/en
Priority to US10/049,270 priority patent/US7916492B1/en
Priority to DE60044974T priority patent/DE60044974D1/en
Priority to PCT/JP2000/005044 priority patent/WO2001013686A1/en
Priority to DE60045173T priority patent/DE60045173D1/en
Priority to EP00948266A priority patent/EP1211920B1/en
Priority to CN2006100924607A priority patent/CN1893765B/en
Priority to CN00814075.8A priority patent/CN1378769A/en
Priority to CN 200810086274 priority patent/CN101478861B/en
Priority to EP08021282A priority patent/EP2053908B1/en
Priority to TW093103132A priority patent/TWI235633B/en
Priority to TW089116155A priority patent/TWI233327B/en
Priority to TW093103130A priority patent/TWI235632B/en
Priority to TW093103131A priority patent/TWI236327B/en
Priority to TW093103129A priority patent/TWI236317B/en
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  • Epoxy Resins (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayered printed wiring board improved in flame resistance, improved in adhesibility with a conductor circuit, and having a solder resist layer formed with an opening into a desired form. SOLUTION: Concerning the multilayer printed wiring board with which conductor circuits and resin insulating layers are formed successively on a substrate, the solder resist layer is formed on the outermost layer, and the solder resist layer contains P atom containing epoxy resins.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平4−55555号公報等に開示され
た方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔が
貼り付けられた銅張積層板に貫通孔を形成し、続いて無
電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形成
する。続いて、基板の表面を導体パターン状にエッチン
グ処理して導体回路を形成し、この導体回路の表面に粗
化面を形成する。そして、この粗化面を有する導体回路
上に樹脂組成物の層を形成した後、バイアホール用開口
を形成し、その後、UV硬化、本硬化を経て層間樹脂絶
縁層を形成する。
2. Description of the Related Art Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-55555. That is, first, a through hole is formed in the copper-clad laminate to which the copper foil is attached, and then a through hole is formed by performing an electroless copper plating process. Subsequently, the surface of the substrate is etched into a conductor pattern to form a conductor circuit, and a roughened surface is formed on the surface of the conductor circuit. Then, after forming a layer of the resin composition on the conductor circuit having the roughened surface, an opening for a via hole is formed, and thereafter, an interlayer resin insulating layer is formed through UV curing and main curing.

【0003】さらに、層間樹脂絶縁層に粗化処理を施し
た後、薄膜導体層を形成し、この薄膜導体層上にめっき
レジストを形成し、電気めっきにより厚付けを行い、め
っきレジスト剥離後、めっきレジスト下に存在している
薄膜導体層をエッチング液により除去し、独立した導体
回路を形成する。この工程を繰り返して、導体回路と層
間樹脂絶縁層とを順次積層した後、ソルダーレジスト組
成物を塗布することにより導体回路を保護するためのソ
ルダーレジスト組成物の層を最外層に形成し、ICチッ
プ等との接続のために開口を形成し、露出した導体回路
にめっき等を施し、半田ペーストを印刷して半田バンプ
を形成することにより、ビルドアップ多層プリント配線
板の製造を完了する。
Further, after performing a roughening treatment on the interlayer resin insulating layer, a thin film conductor layer is formed, a plating resist is formed on the thin film conductor layer, and a thickening is performed by electroplating. The thin film conductor layer existing under the plating resist is removed by an etchant to form an independent conductor circuit. This step is repeated to sequentially laminate the conductor circuit and the interlayer resin insulation layer, and then apply a solder resist composition to form a solder resist composition layer for protecting the conductor circuit on the outermost layer, An opening is formed for connection to a chip or the like, plating or the like is performed on the exposed conductor circuit, and a solder paste is printed to form a solder bump, thereby completing the manufacture of the build-up multilayer printed wiring board.

【0004】このような多層プリント配線板の製造にお
いて、ソルダーレジスト組成物としては、例えば、ノボ
ラック型エポキシ樹脂の(メタ)アクリレート、イミダ
ゾール硬化剤、2官能性(メタ)アクリル酸エステルモ
ノマー、分子量500〜5000程度の(メタ)アクリ
ル酸エステルの重合体、ビスフェノール型エポキシ樹脂
等からなる熱硬化性樹脂、多価アクリル系モノマー等の
感光性モノマー、グリコールエーテル系溶剤などを含む
ペースト状の流動体が用い、これを塗布、硬化させるこ
とによりソルダーレジスト層を形成していた。
In the production of such a multilayer printed wiring board, as a solder resist composition, for example, a (meth) acrylate of a novolak type epoxy resin, an imidazole curing agent, a bifunctional (meth) acrylate monomer, and a molecular weight of 500 A paste-like fluid containing a polymer of (meth) acrylic acid ester of up to about 5,000, a thermosetting resin composed of a bisphenol-type epoxy resin, a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer, a glycol ether-based solvent, etc. A solder resist layer was formed by applying and hardening this.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このようなソルダーレ
ジスト層を有する多層プリント配線板は、ICチップ等
の電子部品を搭載して使用される。そのため、種々の原
因によりICチップ等が発火した場合に、それに耐えら
れるものが望まれている。具体的には、UL試験規格に
おけるUL94の判定基準に合格するものが望まれてお
り、特に、94V−0における燃焼時間の判定基準に合
格するものが望まれている。
The multilayer printed wiring board having such a solder resist layer is used by mounting an electronic component such as an IC chip. Therefore, when an IC chip or the like is ignited for various reasons, it is desired to be able to withstand it. Specifically, those that pass the UL94 criterion in the UL test standard are desired, and in particular, those that pass the combustion time criterion of 94V-0 are desired.

【0006】また、多層プリント配線板は、上記した難
燃性の基準を満足するとともに、バイアホール用開口や
半田パッド用開口を形成する際に、既存の多層プリント
配線板の樹脂絶縁層やソルダーレジスト層と比較してそ
の開口性が低下しないことが望まれており、また、樹脂
絶縁層等と導体回路との密着性が低下しないことも望ま
れている。更には、信頼性試験を行った際に、その性能
が低下しないものであることも望まれている。
In addition, the multilayer printed wiring board satisfies the above-mentioned flame retardancy standard, and when forming an opening for a via hole or an opening for a solder pad, a resin insulating layer or a solder of an existing multilayer printed wiring board is required. It is desired that the opening property does not decrease as compared with the resist layer, and it is also desired that the adhesion between the resin insulating layer and the like and the conductor circuit does not decrease. Furthermore, it is also desired that the performance does not decrease when a reliability test is performed.

【0007】しかしながら、従来のソルダーレジスト組
成物を用いて形成されたソルダーレジスト層を有する多
層プリント配線板は、難燃性の点で満足のいくものでは
なかった。
However, multilayer printed wiring boards having a solder resist layer formed using a conventional solder resist composition have not been satisfactory in terms of flame retardancy.

【0008】本発明は、上述の問題を解決するためにな
されたものであり、その目的は、難燃性に優れ、導体回
路との密着性が高く、所望の形状の開口が形成されたソ
ルダーレジスト層を有する多層プリント配線板を提供す
ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and an object of the present invention is to provide a solder having excellent flame retardancy, high adhesion to a conductor circuit, and having an opening of a desired shape. An object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board having a resist layer.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
の実現に向け鋭意研究した結果、P原子含有エポキシ樹
脂を含むソルダーレジスト層が形成された多層プリント
配線板は、表層部分の難燃性に優れ、ソルダーレジスト
層と導体回路との密着性が高く、また、上記ソルダーレ
ジスト層は、露光、現像処理等により所望の形状の開口
が形成されているため、前述の問題を解決することがで
きるものであることを見いだし、以下に示す内容を要旨
構成とする発明に到達した。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have conducted intensive studies for realizing the above object, and as a result, a multilayer printed wiring board having a solder resist layer containing a P-atom-containing epoxy resin has a difficulty in forming a surface layer portion. It excels in flammability, has high adhesion between the solder resist layer and the conductor circuit, and solves the above-mentioned problem because the solder resist layer has openings of a desired shape formed by exposure, development, and the like. The inventors have found that the invention can be achieved, and have arrived at the invention having the following content as a gist configuration.

【0010】即ち、本発明の多層プリント配線板は、基
板上に導体回路と樹脂絶縁層とが順次形成され、最外層
にソルダーレジスト層が形成された多層プリント配線板
であって、上記ソルダーレジスト層は、P原子含有エポ
キシ樹脂を含むことを特徴とする。
That is, the multilayer printed wiring board of the present invention is a multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and a resin insulating layer are sequentially formed on a substrate, and a solder resist layer is formed on an outermost layer. The layer is characterized by containing a P atom containing epoxy resin.

【0011】本発明の多層プリント配線板において、上
記P原子含有エポキシ樹脂は、2価のリン酸残基を有
し、かつ、両末端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂で
あることが望ましい。
In the multilayer printed wiring board of the present invention, the P-atom-containing epoxy resin is preferably an epoxy resin having a divalent phosphoric acid residue and having epoxy groups at both ends.

【0012】上記2価のリン酸残基を有し、かつ、両末
端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂は、下記一般式
(1)
The epoxy resin having a divalent phosphoric acid residue and having epoxy groups at both ends is represented by the following general formula (1)

【0013】[0013]

【化3】 Embedded image

【0014】(式中、X1 、X2 は、それぞれ、O、ま
たは、単結合を表す。)で表されるエポキシ樹脂である
ことが望ましい。
(Wherein X 1 and X 2 each represent O or a single bond).

【0015】また、本発明の多層プリント配線板におい
て、上記P原子含有エポキシ樹脂は、片末端に1価のリ
ン酸残基を有し、他の片末端にエポキシ基を有するエポ
キシ樹脂であることが望ましい。
In the multilayer printed wiring board of the present invention, the P-atom-containing epoxy resin is an epoxy resin having a monovalent phosphoric acid residue at one end and an epoxy group at the other end. Is desirable.

【0016】上記片末端に1価のリン酸残基を有し、他
の片末端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂は、下記一
般式(2)
The epoxy resin having a monovalent phosphate residue at one end and an epoxy group at the other end is represented by the following general formula (2)

【0017】[0017]

【化4】 Embedded image

【0018】(式中、X3 は、O、または、単結合を表
し、Rは、炭素数2〜8のアルキル基を表す。)で表さ
れるエポキシ樹脂であることが望ましい。
(Wherein, X 3 represents O or a single bond, and R represents an alkyl group having 2 to 8 carbon atoms).

【0019】また、上記ソルダーレジスト層は、ケイ素
化合物、アルミニウム化合物およびマグネシウム化合物
からなる群より選択される少なくとも一種を含むことが
望ましい。
The solder resist layer preferably contains at least one selected from the group consisting of a silicon compound, an aluminum compound and a magnesium compound.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板は、
基板上に導体回路と樹脂絶縁層とが順次形成され、最外
層にソルダーレジスト層が形成された多層プリント配線
板であって、上記ソルダーレジスト層は、P原子含有エ
ポキシ樹脂を含むことを特徴とする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The multilayer printed wiring board of the present invention
A multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and a resin insulating layer are sequentially formed on a substrate, and a solder resist layer is formed on an outermost layer, wherein the solder resist layer contains a P atom-containing epoxy resin. I do.

【0021】上記多層プリント配線板によれば、ソルダ
ーレジスト層がP原子含有エポキシ樹脂を含んでいるた
め、これらの存在に起因して難燃性に優れる。これは、
ソルダーレジスト層の原料となるエポキシ樹脂がP原子
を含んでいるため、発火時に樹脂が燃焼し始めても、P
原子の部分で燃焼が一旦止まるからである。
According to the multilayer printed wiring board, since the solder resist layer contains the P-atom-containing epoxy resin, it is excellent in flame retardancy due to the presence thereof. this is,
Since the epoxy resin as the raw material of the solder resist layer contains P atoms, even if the resin starts burning at the time of ignition,
This is because combustion stops once at the atomic portion.

【0022】また、本発明の多層プリント配線板に形成
されたソルダーレジスト層は、密着性に優れるエポキシ
樹脂を原料としては使用しているため、ソルダーレジス
ト層と導体回路との密着性が高い。また、上記ソルダー
レジスト層の原料として、上記P原子含有エポキシ樹脂
以外のものは、通常用いられるものと同様のものが用い
られているため、上記ソルダーレジスト層は、露光、現
像処理等により、所望の形状の開口が形成されている。
Further, since the solder resist layer formed on the multilayer printed wiring board of the present invention uses an epoxy resin having excellent adhesiveness as a raw material, the adhesiveness between the solder resist layer and the conductor circuit is high. In addition, as a material for the solder resist layer, a material other than the P-atom-containing epoxy resin is the same as that usually used. Is formed.

【0023】本発明の多層プリント配線板において、ソ
ルダーレジスト層はP原子含有エポキシ樹脂を含んでい
る。上記P原子含有エポキシ樹脂としては、リンを含有
するエポキシ樹脂であれば特に限定されないが、これら
のなかでは、リン酸残基を有するエポキシ樹脂が望まし
く、リン酸エステル結合を有するエポキシ樹脂がより望
ましい。具体的には、2価のリン酸残基を有し、かつ、
両末端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂や、片末端に
1価のリン酸残基を有し、他の片末端にエポキシ基を有
するエポキシ樹脂が望ましい。
In the multilayer printed wiring board of the present invention, the solder resist layer contains a P atom-containing epoxy resin. The P-atom-containing epoxy resin is not particularly limited as long as it is a phosphorus-containing epoxy resin. Among them, an epoxy resin having a phosphoric acid residue is desirable, and an epoxy resin having a phosphate ester bond is more desirable. . Specifically, it has a divalent phosphate residue, and
An epoxy resin having an epoxy group at both ends and an epoxy resin having a monovalent phosphoric acid residue at one end and an epoxy group at the other end are desirable.

【0024】上記2価のリン酸残基を有し、かつ、両末
端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂としては、例え
ば、下記一般式(1)で表されるP原子含有エポキシ樹
脂等が挙げられる。
Examples of the epoxy resin having a divalent phosphoric acid residue and having epoxy groups at both terminals include, for example, a P atom-containing epoxy resin represented by the following general formula (1). .

【0025】[0025]

【化5】 Embedded image

【0026】(式中、X1 、X2 は、それぞれ、O、ま
たは、単結合を表す。) ここで、X1 および/またはX2 がO(酸素)の場合、
上記一般式(1)で表されるP原子含有エポキシ樹脂
は、リン酸エステル結合を有することとなる。
[0026] (wherein, X 1, X 2, respectively, O, or represents. A single bond) wherein when X 1 and / or X 2 is O (oxygen),
The P-atom-containing epoxy resin represented by the general formula (1) has a phosphate ester bond.

【0027】上記一般式(1)で表されるエポキシ樹脂
では、リン酸残基に下記化学式(3)
In the epoxy resin represented by the general formula (1), a phosphoric acid residue is represented by the following chemical formula (3)

【0028】[0028]

【化6】 Embedded image

【0029】で表される化合物が結合しているが、上記
リン酸残基に結合する化合物は、例えば、下記化学式
(4)
The compound represented by the following chemical formula (4) is bonded to the above-mentioned phosphate residue.

【0030】[0030]

【化7】 Embedded image

【0031】で表される化合物であってもよく、また、
上記リン酸残基に結合する化合物は、それぞれ、異なっ
ていてもよい。
The compound may be represented by the following formula:
The compounds binding to the above phosphate residues may be different from each other.

【0032】また、上記片末端に1価のリン酸残基を有
し、他の片末端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂とし
ては、例えば、下記一般式(2)で表されるP原子含有
エポキシ樹脂等が挙げられる。
The epoxy resin having a monovalent phosphoric acid residue at one terminal and an epoxy group at the other terminal includes, for example, a P atom-containing epoxy resin represented by the following general formula (2). Resins.

【0033】[0033]

【化8】 Embedded image

【0034】(式中、X3 は、O、または、単結合を表
し、Rは、炭素数2〜8のアルキル基を表す。) ここで、X3 がO(酸素)の場合、上記一般式(2)で
表されるP原子含有エポキシ樹脂は、リン酸エステル結
合を有することとなる。
(In the formula, X 3 represents O or a single bond, and R represents an alkyl group having 2 to 8 carbon atoms.) Here, when X 3 is O (oxygen), The P atom-containing epoxy resin represented by the formula (2) has a phosphate ester bond.

【0035】上記一般式(2)で表されるエポキシ樹脂
において、上記リン酸残基に結合する化合物は、例え
ば、上記化学式(4)で表される末端にエポキシ基を有
する化合物であってもよい。また、上記アルキル基とし
ては、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル
基、sec−ブチル基、tert−ブチル基等が挙げら
れる。これらのなかでは、ブチル基が望ましい。
In the epoxy resin represented by the general formula (2), the compound binding to the phosphoric acid residue may be, for example, a compound having an epoxy group at a terminal represented by the chemical formula (4). Good. Examples of the alkyl group include an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a sec-butyl group, and a tert-butyl group. Of these, a butyl group is preferred.

【0036】上記P原子含有エポキシ樹脂のソルダーレ
ジスト層中の含有量は、0.1〜70重量%が望まし
い。0.1重量%未満では、多層プリント配線板が充分
な難燃性を有さない場合があり、一方、70重量%を超
えても、多層プリント配線板の難燃性はあまり向上しな
い。
The content of the P atom-containing epoxy resin in the solder resist layer is desirably 0.1 to 70% by weight. If it is less than 0.1% by weight, the multilayer printed wiring board may not have sufficient flame retardancy, whereas if it exceeds 70% by weight, the flame retardancy of the multilayer printed wiring board is not so much improved.

【0037】上記ソルダーレジスト層は、無機フィラー
として、ケイ素化合物、アルミニウム化合物、マグネシ
ウム化合物等を含んでいることが望ましい。これらの化
合物は、単独で含まれていてもよいし、2種以上含まれ
ていてもよい。
The solder resist layer desirably contains a silicon compound, an aluminum compound, a magnesium compound or the like as an inorganic filler. These compounds may be contained alone or in combination of two or more.

【0038】上記ケイ素化合物としては特に限定され
ず、例えば、シリカ、ゼオライト等が挙げられる。上記
アルミニウム化合物としては特に限定されず、例えば、
アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられる。
The silicon compound is not particularly restricted but includes, for example, silica and zeolite. The aluminum compound is not particularly limited, for example,
Alumina, aluminum hydroxide and the like can be mentioned.

【0039】上記マグネシウム化合物としては特に限定
されず、例えば、マグネシア、ドロマイト、塩基性炭酸
マグネシウム等が挙げられる。これらの化合物が、ソル
ダーレジスト層に含まれていると、ソルダーレジスト層
に発生した応力が緩和されやすく、その結果、ソルダー
レジスト層にクラックが発生したり、導体回路との間で
剥離が発生したりすることがより起こりにくくなる。
The magnesium compound is not particularly restricted but includes, for example, magnesia, dolomite, basic magnesium carbonate and the like. When these compounds are contained in the solder resist layer, the stress generated in the solder resist layer is easily relieved, and as a result, cracks occur in the solder resist layer and peeling occurs with the conductor circuit. Is less likely to occur.

【0040】上記無機フィラーの粒径は、0.1〜5.
0μmが望ましい。上記粒径が0.1μm未満では、ソ
ルダーレジスト層に発生した応力を緩和する効果があま
り得られず、一方、5.0μmを超えると、ソルダーレ
ジスト組成物の層の硬化性に悪影響を及ぼすことがあ
り、また、ソルダーレジスト組成物の層に半田パッド用
開口等を設ける際の開口性に悪影響を及ぼすことがあ
る。
The particle size of the above-mentioned inorganic filler is 0.1-5.
0 μm is desirable. When the particle size is less than 0.1 μm, the effect of relaxing the stress generated in the solder resist layer is not so much obtained. On the other hand, when the particle size exceeds 5.0 μm, the curability of the layer of the solder resist composition is adversely affected. In addition, it may adversely affect the opening property when providing an opening for a solder pad or the like in the layer of the solder resist composition.

【0041】また、上記無機フィラーの形状としては特
に限定されず、例えば、球状、楕円球状、破砕状、多面
体状等が挙げられる。これらのなかでは、ソルダーレジ
スト層に発生した応力を緩和しやすく、ソルダーレジス
ト層表面の突起物となりにくい点から、球状が望まし
い。
The shape of the inorganic filler is not particularly limited, and examples thereof include a spherical shape, an elliptical spherical shape, a crushed shape, and a polyhedral shape. Among them, a spherical shape is preferable because the stress generated in the solder resist layer is easily reduced and it is difficult to form a protrusion on the surface of the solder resist layer.

【0042】上記ソルダーレジスト層中の無機フィラー
の含有量は、0.1〜15重量%が望ましい。上記含有
量が0.1重量%未満では、ソルダーレジスト層に発生
した応力を緩和する効果が乏しく、15重量%を超える
と、ソルダーレジスト組成物の層の硬化性に悪影響を及
ぼすことがあり、また、ソルダーレジスト組成物の層に
半田パッド用開口等を設ける際の開口性に悪影響を及ぼ
すことがある。
The content of the inorganic filler in the solder resist layer is desirably 0.1 to 15% by weight. If the content is less than 0.1% by weight, the effect of relaxing the stress generated in the solder resist layer is poor, and if it exceeds 15% by weight, the curability of the layer of the solder resist composition may be adversely affected, In addition, the opening of the solder resist composition layer may be adversely affected when an opening for a solder pad or the like is provided.

【0043】本発明の多層プリント配線板を構成するソ
ルダーレジスト層は、上記P原子含有エポキシ樹脂や無
機フィラー以外に、例えば、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹
脂、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂との複合体等を含んで
いてもよい。具体的には、例えば、ノボラックエポキシ
樹脂の(メタ)アクリレート、2官能性(メタ)アクリ
ル酸エステルモノマー、分子量500〜5000程度の
(メタ)アクリル酸エステルの重合体、ビスフェノール
型エポキシ樹脂等からなる熱硬化性樹脂、多価アクリル
系モノマー等の感光性モノマー等からなるソルダーレジ
スト組成物を重合、硬化させたもの等が挙げられる。
The solder resist layer constituting the multilayer printed wiring board of the present invention may be made of, for example, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a thermosetting resin and a thermoplastic resin in addition to the P-atom-containing epoxy resin and the inorganic filler. May be included. Specifically, for example, it is composed of a (meth) acrylate of a novolak epoxy resin, a difunctional (meth) acrylate monomer, a polymer of a (meth) acrylate having a molecular weight of about 500 to 5,000, a bisphenol-type epoxy resin, or the like. Examples thereof include those obtained by polymerizing and curing a solder resist composition composed of a thermosetting resin, a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer, or the like.

【0044】上記2官能性(メタ)アクリル酸エステル
モノマーとしては特に限定されず、例えば、各種ジオー
ル類のアクリル酸またはメタクリル酸のエステル等が挙
げられ、市販品としては、日本化薬社製のR−604、
PM2、PM21等が挙げられる。
The difunctional (meth) acrylic acid ester monomer is not particularly restricted but includes, for example, esters of acrylic acid or methacrylic acid of various diols, and commercially available products manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. R-604,
PM2, PM21 and the like.

【0045】上記ノボラックエポキシ樹脂の(メタ)ア
クリレートとしては、例えば、フェノールノボラックや
クレゾールノボラックのグリシジルエーテルを、アクリ
ル酸やメタクリル酸等と反応させたエポキシ樹脂等が挙
げられる。
Examples of the (meth) acrylate of the novolak epoxy resin include an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolac with acrylic acid, methacrylic acid, or the like.

【0046】このようなソルダーレジスト組成物の層を
形成する方法としては、上記P原子含有エポキシ樹脂等
を含む未硬化のソルダーレジスト組成物を調製し、これ
をロールコータ法等により塗布したり、未硬化のソルダ
ーレジスト組成物からなる樹脂フィルムを作製した後、
この樹脂フィルムを熱圧着したりする方法が挙げられ
る。
As a method of forming such a layer of the solder resist composition, an uncured solder resist composition containing the above-described P atom-containing epoxy resin or the like is prepared and applied by a roll coater method or the like. After preparing a resin film composed of an uncured solder resist composition,
A method of thermocompression bonding this resin film or the like can be given.

【0047】また、上記無機フィラーをソルダーレジス
ト層に含有させる場合、上記ソルダーレジスト組成物を
調製する際に、上記無機フィラーをメチルエチルケトン
等の溶媒に分散させた後、添加することが望ましい。無
機フィラーを凝集させることなく、ソルダーレジスト層
中に均一に分散させることができるからである。
When the above-mentioned inorganic filler is contained in the solder resist layer, it is desirable to add the above-mentioned inorganic filler after dispersing it in a solvent such as methyl ethyl ketone when preparing the above-mentioned solder resist composition. This is because the inorganic filler can be uniformly dispersed in the solder resist layer without aggregating.

【0048】上記ソルダーレジスト組成物は、リンやリ
ン化合物、無機フィラー以外に、上記ノボラックエポキ
シ樹脂の(メタ)アクリレート、イミダゾール硬化剤、
2官能性(メタ)アクリル酸エステルモノマー、分子量
500〜5000程度の(メタ)アクリル酸エステルの
重合体、ビスフェノール型エポキシ樹脂等からなる熱硬
化性樹脂、多価アクリル系モノマー等の感光性モノマ
ー、グリコールエーテル系溶剤等を含むペースト状の流
動体であることが望ましい。また、その粘度は、25℃
で1〜10Pa・sに調整されていることが望ましい。
The above solder resist composition contains, in addition to phosphorus, a phosphorus compound and an inorganic filler, a (meth) acrylate of the novolak epoxy resin, an imidazole curing agent,
A bifunctional (meth) acrylate monomer, a polymer of a (meth) acrylate ester having a molecular weight of about 500 to 5,000, a thermosetting resin such as a bisphenol-type epoxy resin, a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer, A paste-like fluid containing a glycol ether solvent or the like is desirable. The viscosity is 25 ° C
Is preferably adjusted to 1 to 10 Pa · s.

【0049】上記イミダゾール硬化剤としては特に限定
されるものではないが、25℃で液状であるイミダゾー
ル硬化剤を用いることが望ましい。粉末では均一混練が
難しく、液状のほうが均一に混練できるからである。こ
のような液状イミダゾール硬化剤としては、例えば、1
−ベンジル−2−メチルイミダゾール(四国化成社製、
1B2MZ)、1−シアノエチル−2−エチル−4−メ
チルイミダゾール(四国化成社製、2E4MZ−C
N)、4−メチル−2−エチルイミダゾール(四国化成
社製、2E4MZ)等が挙げられる。
The imidazole curing agent is not particularly limited, but it is preferable to use an imidazole curing agent which is liquid at 25 ° C. This is because uniform kneading is difficult with powder, and liquid can be kneaded more uniformly. Examples of such a liquid imidazole curing agent include, for example, 1
-Benzyl-2-methylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals,
1B2MZ), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ-C, manufactured by Shikoku Chemicals)
N), 4-methyl-2-ethylimidazole (2E4MZ, manufactured by Shikoku Chemicals) and the like.

【0050】上記グリコールエーテル系溶剤としては、
例えば、下記一般式(3)に示す化学構造を有するもの
が望ましく、具体的には、ジエチレングリコールジメチ
ルエーテル(DMDG)およびトリエチレングリコール
ジメチルエーテル(DMTG)から選ばれる少なくとも
一種を用いることがより望ましい。これらの溶剤は、3
0〜50℃程度の加温により重合開始剤であるベンゾフ
ェノン、ミヒラーケトン、エチルアミノベンゾフェノン
を完全に溶解させることができるからである。
Examples of the glycol ether solvents include:
For example, those having the chemical structure represented by the following general formula (3) are desirable, and more specifically, it is more desirable to use at least one selected from diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) and triethylene glycol dimethyl ether (DMTG). These solvents are 3
This is because benzophenone, Michler's ketone, and ethylaminobenzophenone, which are polymerization initiators, can be completely dissolved by heating at about 0 to 50 ° C.

【0051】 CH3 O−(CH2 CH2 O)n −CH3 ・・・(3) (式中、nは、1〜5の整数を表す。)CH 3 O— (CH 2 CH 2 O) n —CH 3 (3) (wherein, n represents an integer of 1 to 5)

【0052】このような構成からなるソルダーレジスト
層は、上記P原子含有エポキシ樹脂を含んででいるため
難燃性に優れ、該ソルダーレジスト層の形成された多層
プリント配線板は、UL試験規格におけるUL94(高
分子材料の難燃性試験)の判定基準をクリアするもので
あり、そのなかでも、94V−0の判定基準をクリアす
るものである。
The solder resist layer having such a configuration has excellent flame retardancy because it contains the P-atom-containing epoxy resin, and the multilayer printed wiring board on which the solder resist layer is formed has a UL test standard. It satisfies the UL94 (flame retardancy test of polymer materials) criteria, among which it satisfies the criteria of 94V-0.

【0053】次に、上記多層プリント配線板の製造方法
について、工程順に説明する。 (1) 本発明のプリント配線板の製造方法においては、ま
ず、絶縁性基板の表面に導体回路が形成された基板を作
製する。
Next, a method of manufacturing the multilayer printed wiring board will be described in the order of steps. (1) In the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention, first, a substrate having a conductive circuit formed on a surface of an insulating substrate is prepared.

【0054】上記絶縁性基板としては、樹脂基板が望ま
しく、具体的には、例えば、ガラスエポキシ基板、ポリ
エステル基板、ポリイミド基板、ビスマレイミド−トリ
アジン樹脂基板、熱硬化性ポリフェニレンエーテル基
板、フッ素樹脂基板、セラミック基板、銅張積層板、R
CC基板などが挙げられる。このとき、この絶縁性基板
に貫通孔を設けてもよい。この場合、貫通孔は直径10
0〜300μmのドリル、レーザ光等を用いて形成する
ことが望ましい。
As the insulating substrate, a resin substrate is desirable. Specifically, for example, a glass epoxy substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, a fluororesin substrate, Ceramic substrate, copper clad laminate, R
CC substrate and the like. At this time, a through hole may be provided in the insulating substrate. In this case, the through hole has a diameter of 10
It is desirable to form it using a 0 to 300 μm drill, laser light, or the like.

【0055】(2) 次に、無電解めっきを施した後、基板
上に導体回路形状のエッチングレジストを形成し、エッ
チングを行うことにより導体回路を形成する。無電解め
っきとしては銅めっきが望ましい。また、絶縁性基板に
スルーホール用貫通孔を設けた場合には、該スルーホー
ル用貫通孔の壁面にも同時に無電解めっきを施してスル
ーホールを形成することにより、基板の両面の導体回路
間を電気的に接続してもよい。
(2) Next, after performing electroless plating, a conductive circuit-shaped etching resist is formed on the substrate, and the conductive circuit is formed by performing etching. Copper plating is desirable as the electroless plating. In addition, when a through hole for a through hole is provided in an insulating substrate, a through hole is formed by simultaneously performing electroless plating on the wall surface of the through hole for the through hole, thereby forming a through hole between conductor circuits on both surfaces of the substrate. May be electrically connected.

【0056】さらに、この無電解めっきの後、通常、無
電解めっき層表面とスルーホールを形成した場合にはス
ルーホール内壁との粗化形成処理を行う。粗化形成処理
方法としては、例えば、黒化(酸化)−還元処理、有機
酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレー処理、Cu
−Ni−P針状合金めっきによる処理等が挙げられる。
Further, after the electroless plating, a roughening process is usually performed on the surface of the electroless plating layer and the inner wall of the through hole when the through hole is formed. Examples of the roughening forming treatment method include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, Cu treatment
-Ni-P needle-like alloy plating.

【0057】上記黒化(酸化)−還元処理の具体的な方
法としては、NaOH(10g/l)、NaClO2
(40g/l)、Na3 PO4 (6g/l)を含む水溶
液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、および、NaO
H(10g/l)、NaBH4 (6g/l)を含む水溶
液を還元浴とする還元処理を行う方法等が挙げられる。
As a specific method of the above-mentioned blackening (oxidation) -reduction treatment, NaOH (10 g / l), NaClO 2
(40 g / l), a blackening treatment using an aqueous solution containing Na 3 PO 4 (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), and NaO
A method of performing a reduction treatment using an aqueous solution containing H (10 g / l) and NaBH 4 (6 g / l) as a reduction bath is exemplified.

【0058】上記スプレー処理に用いる有機酸と第二銅
錯体の混合水溶液において、上記有機酸としては、例え
ば、蟻酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロ
ン酸、アクリル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、
コハク酸、グルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコ
ール酸、乳酸、リンゴ酸、スルファミン酸等が挙げられ
る。これらは、単独で用いてもよく、2種以上併用して
もよい。上記混合溶液において、上記有機酸の含有量
は、0.1〜30重量%が望ましい。酸化された銅の溶
解性を維持し、かつ、触媒安定性を確保することができ
るからである。
In the mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex used in the spraying treatment, the organic acid may be, for example, formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, or oxalic acid. Acid, malonic acid,
Examples include succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, malic acid, and sulfamic acid. These may be used alone or in combination of two or more. In the mixed solution, the content of the organic acid is desirably 0.1 to 30% by weight. This is because the solubility of the oxidized copper can be maintained and the stability of the catalyst can be ensured.

【0059】上記第二銅錯体としては、アゾール類の第
二銅錯体が望ましい。このアゾール類の第二銅錯体は、
金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類
としては、例えば、ジアゾール、トリアゾール、テトラ
ゾール等が挙げられる。これらのなかでも、イミダゾー
ル、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニ
ルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾールが望まし
い。上記エッチング液において、上記第二銅錯体の含有
量は、1〜15重量%が望ましい。溶解性および安定性
に優れ、また、触媒核を構成するPd等の貴金属をも溶
解させることができるからである。
As the cupric complex, a cupric complex of an azole is preferred. This cupric complex of azoles is
It acts as an oxidizing agent that oxidizes metallic copper and the like. Examples of the azoles include diazole, triazole, tetrazole and the like. Among these, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, and 2-undecylimidazole are desirable. In the etching solution, the content of the cupric complex is desirably 1 to 15% by weight. This is because it is excellent in solubility and stability, and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst core.

【0060】上記めっき処理の具体的な方法としては、
硫酸銅(1〜40g/l)、硫酸ニッケル(0.1〜
6.0g/l)、クエン酸(10〜20g/l)、次亜
リン酸ナトリウム(10〜100g/l)、ホウ酸(1
0〜40g/l)および界面活性剤(日信化学工業社
製、サーフィノール465)(0.01〜10g/l)
を含むPH=9の無電解めっき浴にて無電解めっきを施
す方法等が挙げられる。
As a specific method of the plating treatment,
Copper sulfate (1-40 g / l), nickel sulfate (0.1-
6.0 g / l), citric acid (10-20 g / l), sodium hypophosphite (10-100 g / l), boric acid (1
0 to 40 g / l) and a surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.01 to 10 g / l)
And a method in which electroless plating is performed in an electroless plating bath having a pH of 9 and the like.

【0061】(3) 次に、この導体回路が形成された基板
上に樹脂組成物の層を形成し、この樹脂組成物の層に、
バイアホール用開口と必要に応じて貫通孔とを形成する
ことにより層間樹脂絶縁層を形成する。上記層間樹脂絶
縁層の材料としては、粗化面形成用樹脂組成物、ポリフ
ェニレンエーテル樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹
脂、熱可塑性エラストマー等が挙げられる。上記樹脂組
成物の層は、未硬化の樹脂を塗布して成形してもよく、
また、未硬化の樹脂フィルムを熱圧着して形成してもよ
い。さらに、未硬化の樹脂フィルムの片面に銅箔等の金
属層が形成された樹脂フィルムを貼付してもよい。
(3) Next, a layer of a resin composition is formed on the substrate on which the conductor circuit is formed, and the layer of the resin composition is
An interlayer resin insulating layer is formed by forming a via hole opening and, if necessary, a through hole. Examples of the material of the interlayer resin insulating layer include a resin composition for forming a roughened surface, a polyphenylene ether resin, a polyolefin resin, a fluororesin, and a thermoplastic elastomer. The resin composition layer may be molded by applying an uncured resin,
Alternatively, an uncured resin film may be formed by thermocompression bonding. Further, a resin film in which a metal layer such as a copper foil is formed on one surface of an uncured resin film may be attached.

【0062】上記粗化面形成用樹脂組成物としては、例
えば、酸または酸化剤に可溶性の粒子(以下、可溶性粒
子という)が酸または酸化剤に難溶性の樹脂(以下、難
溶性樹脂という)中に分散したものが挙げられる。な
お、上記「難溶性」および「可溶性」という語は、同一
の粗化液に同一時間浸漬した場合に、相対的に溶解速度
の早いものを便宜上「可溶性」といい、相対的に溶解速
度の遅いものを便宜上「難溶性」と呼ぶ。
As the resin composition for forming a roughened surface, for example, particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble particles”) are hardly soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as a “slightly soluble resin”). And those dispersed therein. Note that the terms "sparingly soluble" and "soluble" are referred to as "soluble" for convenience when a substance having a relatively high dissolution rate is immersed in the same roughening solution for the same time, and the relative dissolution rate is relatively low. The slower one is called "poorly soluble" for convenience.

【0063】上記可溶性粒子としては、例えば、酸また
は酸化剤に可溶性の樹脂粒子(以下、可溶性樹脂粒
子)、酸または酸化剤に可溶性の無機粒子(以下、可溶
性無機粒子)、酸または酸化剤に可溶性の金属粒子(以
下、可溶性金属粒子)等が挙げられる。これらの可溶性
粒子は、単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよ
い。
Examples of the soluble particles include resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble resin particles”), inorganic particles soluble in an acid or oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble inorganic particles”), and acid or oxidizing agents. Soluble metal particles (hereinafter referred to as “soluble metal particles”) and the like. These soluble particles may be used alone or in combination of two or more.

【0064】上記可溶性粒子の形状(粒径等)としては
特に限定されないが、(a)平均粒径が10μm以下の
可溶性粒子、(b)平均粒径が2μm以下の可溶性粒子
を凝集させた凝集粒子、(c)平均粒径が2〜10μm
の可溶性粒子と平均粒径が2μm以下の可溶性粒子との
混合物、(d)平均粒径が2〜10μmの可溶性粒子の
表面に平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無
機粉末のいずれか少なくとも1種を付着させてなる疑似
粒子、(e)平均粒径が0.1〜0.8μmの可溶性粒
子と平均粒径が0.8μmを超え、2μm未満の可溶性
粒子との混合物、(f)平均粒径が0.1〜1.0μm
の可溶性粒子を用いることが望ましい。これらは、より
複雑なアンカーを形成することができるからである。
The shape (particle size, etc.) of the soluble particles is not particularly limited, but (a) soluble particles having an average particle size of 10 μm or less, and (b) aggregation of soluble particles having an average particle size of 2 μm or less. Particles, (c) average particle size is 2 to 10 μm
(D) either a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle size of 2 μm or less on the surface of the soluble particles having an average particle size of 2 to 10 μm; (E) a mixture of soluble particles having an average particle size of 0.1 to 0.8 μm and soluble particles having an average particle size of more than 0.8 μm and less than 2 μm, ) Average particle size is 0.1 to 1.0 μm
It is desirable to use soluble particles of This is because these can form a more complicated anchor.

【0065】上記可溶性樹脂粒子としては、熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂等からなるものが挙げられ、酸あるい
は酸化剤からなる溶液に浸漬した場合に、上記難溶性樹
脂よりも溶解速度が速いものであれば特に限定されな
い。上記可溶性樹脂粒子の具体例としては、例えば、エ
ポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフ
ェニレン樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂、アミ
ノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂)等
からなるものが挙げられ、これらの樹脂の一種からなる
ものであってもよいし、2種以上の樹脂の混合物からな
るものであってもよい。
Examples of the soluble resin particles include those made of a thermosetting resin, a thermoplastic resin, and the like. When immersed in a solution containing an acid or an oxidizing agent, the soluble resin particles have a higher dissolution rate than the hardly soluble resin. If it is, there is no particular limitation. Specific examples of the soluble resin particles include, for example, those made of epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyphenylene resin, polyolefin resin, fluororesin, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin), and the like. These resins may be composed of one kind or a mixture of two or more kinds of resins.

【0066】また、上記可溶性樹脂粒子としては、ゴム
からなる樹脂粒子を用いることもできる。上記ゴムとし
ては、例えば、ポリブタジエンゴム、エポキシ変性、ウ
レタン変性、(メタ)アクリロニトリル変性等の各種変
性ポリブタジエンゴム、カルボキシル基を含有した(メ
タ)アクリロニトリル・ブタジエンゴム等が挙げられ
る。これらのゴムを使用することにより、可溶性樹脂粒
子が酸あるいは酸化剤に溶解しやすくなる。つまり、酸
を用いて可溶性樹脂粒子を溶解する際には、強酸以外の
酸でも溶解することができ、酸化剤を用いて可溶性樹脂
粒子を溶解する際には、比較的酸化力の弱い過マンガン
酸でも溶解することができる。また、クロム酸を用いた
場合でも、低濃度で溶解することができる。そのため、
酸や酸化剤が樹脂表面に残留することがなく、後述する
ように、粗化面形成後、塩化パラジウム等の触媒を付与
する際に、触媒が付与されなかったり、触媒が酸化され
たりすることがない。
As the soluble resin particles, resin particles made of rubber can also be used. Examples of the rubber include polybutadiene rubber, various modified polybutadiene rubbers such as epoxy-modified, urethane-modified, (meth) acrylonitrile-modified, and (meth) acrylonitrile-butadiene rubber containing a carboxyl group. By using these rubbers, the soluble resin particles are easily dissolved in an acid or an oxidizing agent. In other words, when dissolving the soluble resin particles using an acid, an acid other than a strong acid can be dissolved, and when dissolving the soluble resin particles using an oxidizing agent, permanganese having a relatively weak oxidizing power is used. It can also dissolve in acids. Even when chromic acid is used, it can be dissolved at a low concentration. for that reason,
Acid or oxidizing agent does not remain on the resin surface, and as described later, when a catalyst such as palladium chloride is applied after forming a roughened surface, the catalyst is not applied or the catalyst is oxidized. There is no.

【0067】上記可溶性無機粒子としては、例えば、ア
ルミニウム化合物、カルシウム化合物、カリウム化合
物、マグネシウム化合物およびケイ素化合物からなる群
より選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げら
れる。
Examples of the soluble inorganic particles include particles made of at least one selected from the group consisting of aluminum compounds, calcium compounds, potassium compounds, magnesium compounds and silicon compounds.

【0068】上記アルミニウム化合物としては、例え
ば、アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられ、上記
カルシウム化合物としては、例えば、炭酸カルシウム、
水酸化カルシウム等が挙げられ、上記カリウム化合物と
しては、例えば、炭酸カリウム等が挙げられ、上記マグ
ネシウム化合物としては、例えば、マグネシア、ドロマ
イト、塩基性炭酸マグネシウム等が挙げられ、上記ケイ
素化合物としては、例えば、シリカ、ゼオライト等が挙
げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上併
用してもよい。
Examples of the aluminum compound include alumina and aluminum hydroxide, and examples of the calcium compound include calcium carbonate and
Calcium hydroxide and the like, as the potassium compound, for example, potassium carbonate and the like, as the magnesium compound, for example, magnesia, dolomite, basic magnesium carbonate and the like, as the silicon compound, For example, silica, zeolite and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

【0069】上記可溶性金属粒子としては、例えば、
銅、ニッケル、鉄、亜鉛、鉛、金、銀、アルミニウム、
マグネシウム、カルシウムおよびケイ素からなる群より
選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げられ
る。また、これらの可溶性金属粒子は、絶縁性を確保す
るために、表層が樹脂等により被覆されていてもよい。
Examples of the soluble metal particles include, for example,
Copper, nickel, iron, zinc, lead, gold, silver, aluminum,
Examples include particles made of at least one selected from the group consisting of magnesium, calcium, and silicon. These soluble metal particles may have a surface layer coated with a resin or the like in order to ensure insulation.

【0070】上記可溶性粒子を、2種以上混合して用い
る場合、混合する2種の可溶性粒子の組み合わせとして
は、樹脂粒子と無機粒子との組み合わせが望ましい。両
者とも導電性が低くいため樹脂フィルムの絶縁性を確保
することができるとともに、難溶性樹脂との間で熱膨張
の調整が図りやすく、樹脂フィルムを用いて形成する層
間樹脂絶縁層にクラックが発生せず、層間樹脂絶縁層と
導体回路との間で剥離が発生しないからである。
When two or more of the above-mentioned soluble particles are used in combination, the combination of the two types of soluble particles to be mixed is preferably a combination of resin particles and inorganic particles. Both have low conductivity, so the insulation of the resin film can be ensured, and the thermal expansion can be easily adjusted with the poorly soluble resin, and cracks occur in the interlayer resin insulation layer formed using the resin film. This is because no peeling occurs between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit.

【0071】上記難溶性樹脂としては、層間樹脂絶縁層
に酸または酸化剤を用いて粗化面を形成する際に、粗化
面の形状を保持できるものであれば特に限定されず、例
えば、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、これらの複合体等
が挙げられる。また、これらの樹脂に感光性を付与した
感光性樹脂であってもよい。これらのなかでは、熱硬化
性樹脂を含有しているものが望ましい。それにより、め
っき液または種々の加熱処理によっても粗化面の形状を
保持することができるからである。
The hardly soluble resin is not particularly limited as long as it can maintain the shape of the roughened surface when the roughened surface is formed on the interlayer resin insulating layer using an acid or an oxidizing agent. Examples thereof include thermosetting resins, thermoplastic resins, and composites thereof. Further, a photosensitive resin obtained by imparting photosensitivity to these resins may be used. Among these, those containing a thermosetting resin are desirable. Thereby, the shape of the roughened surface can be maintained even by the plating solution or various heat treatments.

【0072】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等が挙げら
れる。また、感光化した樹脂としては、例えば、メタク
リル酸やアクリル酸等と熱硬化基とをアクリル化反応さ
せたものが挙げられる。特に、エポキシ樹脂をアクリレ
ート化したものが望ましい。これらのなかでは、1分子
中に、2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂がよ
り望ましい。上述の粗化面を形成することができるばか
りでなく、耐熱性等にも優れてるため、ヒートサイクル
条件下においても、金属層に応力の集中が発生せず、金
属層の剥離などが起きにくいからである。
Examples of the thermosetting resin include an epoxy resin, a phenol resin, and a polyimide resin. Examples of the photosensitive resin include those obtained by subjecting methacrylic acid, acrylic acid, or the like to an acrylate reaction with a thermosetting group. In particular, an acrylated epoxy resin is desirable. Among these, an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more desirable. Not only can the above-described roughened surface be formed, but also excellent in heat resistance, etc., even under heat cycle conditions, stress concentration does not occur in the metal layer, and peeling of the metal layer does not easily occur. Because.

【0073】上記エポキシ樹脂としては、例えば、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型
エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノール
ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールF型エポキシ
樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエ
ン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性水酸基
を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、
トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂
等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種
以上を併用してもよい。それにより、耐熱性等に優れる
ものとなる。
Examples of the epoxy resin include cresol novolak epoxy resin, bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, phenol novolak epoxy resin, alkylphenol novolak epoxy resin, biphenol F epoxy resin, and naphthalene epoxy resin. Resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenols and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group,
Triglycidyl isocyanurate, alicyclic epoxy resin and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Thereby, it becomes excellent in heat resistance and the like.

【0074】上記熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリ
エーテルスルフォン(PES)、ポリスルフォン(PS
F)、ポリフェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェ
ニレンサルファイド(PPES)、ポリフェニレンエー
テル(PPE)、ポリエーテルイミド(PI)、フェノ
キシ樹脂、フッ素樹脂等が挙げられる。
Examples of the thermoplastic resin include polyether sulfone (PES) and polysulfone (PS).
F), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenylene ether (PPE), polyetherimide (PI), phenoxy resin, fluororesin and the like.

【0075】上記熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂との混合
割合は、熱硬化性樹脂/熱可塑性樹脂=95/5〜50
/50が望ましい。耐熱性を損なうことなく、高い靱性
値を確保できるからである。
The mixing ratio of the above-mentioned thermosetting resin and thermoplastic resin is as follows: thermosetting resin / thermoplastic resin = 95/5 to 50
/ 50 is desirable. This is because a high toughness value can be secured without impairing the heat resistance.

【0076】上記可溶性粒子の混合重量比は、難溶性樹
脂の固形分に対して5〜50重量%が望ましく、10〜
40重量%がさらに望ましい。
The mixing weight ratio of the above-mentioned soluble particles is preferably 5 to 50% by weight based on the solid content of the hardly-soluble resin.
40% by weight is more desirable.

【0077】上記層間樹脂絶縁層を未硬化の樹脂フィル
ムを用いて形成する場合、該樹脂フィルムにおいて、上
記可溶性粒子は、上記難溶性樹脂中にほぼ均一に分散さ
れていることが望ましい。均一な粗さの凹凸を有する粗
化面を形成することができ、樹脂フィルムにバイアホー
ルやスルーホールを形成しても、その上に形成する導体
回路の金属層の密着性を確保することができるからであ
る。また、粗化面を形成する表層部だけに可溶性粒子を
含有する樹脂フィルムを用いてもよい。それによって、
樹脂フィルムの表層部以外は酸または酸化剤にさらされ
ることがないため、層間樹脂絶縁層を介した導体回路間
の絶縁性が確実に保たれる。
When the interlayer resin insulating layer is formed using an uncured resin film, it is desirable that the soluble particles in the resin film are substantially uniformly dispersed in the poorly soluble resin. It is possible to form a roughened surface with unevenness of uniform roughness, and even if via holes and through holes are formed in the resin film, it is possible to secure the adhesion of the metal layer of the conductor circuit formed thereon. Because you can. Alternatively, a resin film containing soluble particles only in the surface layer forming the roughened surface may be used. Thereby,
Since the portions other than the surface layer of the resin film are not exposed to the acid or the oxidizing agent, the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer is reliably maintained.

【0078】上記樹脂フィルムにおいて、難溶性樹脂中
に分散している可溶性粒子の配合量は、樹脂フィルムに
対して、3〜40重量%が望ましい。可溶性粒子の配合
量が3重量%未満では、所望の凹凸を有する粗化面を形
成することができない場合があり、40重量%を超える
と、酸または酸化剤を用いて可溶性粒子を溶解した際
に、樹脂フィルムの深部まで溶解してしまい、上記樹脂
フィルムを用いて形成された層間樹脂絶縁層を介した導
体回路間の絶縁性を維持できず、短絡の原因となる場合
がある。
In the above resin film, the amount of the soluble particles dispersed in the poorly soluble resin is preferably 3 to 40% by weight based on the resin film. If the amount of the soluble particles is less than 3% by weight, it may not be possible to form a roughened surface having desired irregularities. If the amount exceeds 40% by weight, the soluble particles may be dissolved using an acid or an oxidizing agent. In addition, the resin film may be melted to a deep portion, and the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer formed using the resin film may not be maintained, which may cause a short circuit.

【0079】上記樹脂フィルムは、上記可溶性粒子およ
び難溶性樹脂以外に、必要に応じて、硬化剤、溶剤、そ
の他の成分等を含有していてもよい。
The resin film may contain a curing agent, a solvent, other components, and the like, if necessary, in addition to the soluble particles and the hardly-soluble resin.

【0080】上記ポリフェニレンエーテル樹脂としては
特に限定されず、例えば、ポリフェニレンオキサイド
(PPO)、ポリフェニレンエーテル(PPE)等が挙
げられる。上記ポリオレフィン系樹脂としては、例え
ば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリイソブチレ
ン、ポリブタジエン、ポリイソプレン、シクロオレフィ
ン系樹脂、これらの樹脂の共重合体等が挙げられる。こ
れらのなかでは、誘電率および誘電正接が低く、GHz
帯域の高周波信号を用いた場合でも信号遅延や信号エラ
ーが発生しにくく、さらには、剛性等の機械的特性にも
優れている点からシクロオレフィン系樹脂が望ましい。
The polyphenylene ether resin is not particularly restricted but includes, for example, polyphenylene oxide (PPO), polyphenylene ether (PPE) and the like. Examples of the polyolefin-based resin include polyethylene, polypropylene, polyisobutylene, polybutadiene, polyisoprene, cycloolefin-based resins, and copolymers of these resins. Among them, the dielectric constant and the dielectric loss tangent are low, and GHz
Even when a high frequency signal in a band is used, a cycloolefin-based resin is preferable because signal delay and signal error hardly occur, and further, mechanical properties such as rigidity are excellent.

【0081】上記シクロオレフィン系樹脂としては、2
−ノルボルネン、5−エチリデン−2−ノルボルネンま
たはこれらの誘導体からなる単量体の単独重合体または
共重合体等が望ましい。上記誘導体としては、上記2−
ノルボルネン等のシクロオレフィンに、架橋を形成する
ためのアミノ基や無水マレイン酸残基あるいはマレイン
酸変性したもの等が結合したもの等が挙げられる。上記
共重合体を合成する場合の単量体としては、例えば、エ
チレン、プロピレン等が挙げられる。
As the above cycloolefin resin, 2
Homopolymers or copolymers of monomers comprising -norbornene, 5-ethylidene-2-norbornene or derivatives thereof are desirable. As the above derivative, the above 2-
Examples thereof include those in which an amino group for forming a crosslink, a maleic anhydride residue, or a maleic acid-modified one is bonded to a cycloolefin such as norbornene. Examples of monomers for synthesizing the copolymer include ethylene and propylene.

【0082】上記シクロオレフィン系樹脂は、上記した
樹脂の2種以上の混合物であってもよく、シクロオレフ
ィン系樹脂以外の樹脂を含むものであってもよい。ま
た、上記シクロオレフィン系樹脂が共重合体である場合
には、ブロック共重合体であってもよく、ランダム共重
合体であってもよい。
The cycloolefin resin may be a mixture of two or more of the above resins, or may contain a resin other than the cycloolefin resin. When the cycloolefin resin is a copolymer, it may be a block copolymer or a random copolymer.

【0083】また、上記シクロオレフィン系樹脂は、熱
硬化性シクロオレフィン系樹脂であることが望ましい。
加熱を行って架橋を形成させることにより、より剛性が
高くなり、機械的特性が向上するからである。上記シク
ロオレフィン系樹脂のガラス転移温度(Tg)は、13
0〜200℃であることが望ましい。
The cycloolefin resin is preferably a thermosetting cycloolefin resin.
This is because by performing the heating to form the crosslinks, the rigidity is further increased and the mechanical properties are improved. The glass transition temperature (Tg) of the cycloolefin resin is 13
Desirably, the temperature is 0 to 200 ° C.

【0084】上記シクロオレフィン系樹脂は、既に樹脂
シート(フィルム)として成形されたものを使用しても
よく、単量体もしくは一定の分子量を有する低分子量の
重合体が、キシレン、シクロヘキサン等の溶剤に分散し
た未硬化溶液の状態であってもよい。また、樹脂シート
の場合には、いわゆるRCC(RESIN COATE
D COPPER:樹脂付銅箔)を用いてもよい。
As the above cycloolefin-based resin, those already formed as a resin sheet (film) may be used, and a monomer or a low molecular weight polymer having a constant molecular weight may be used in a solvent such as xylene or cyclohexane. It may be in the state of an uncured solution dispersed in. In the case of a resin sheet, a so-called RCC (RESIN COATE
D COPER: resin-coated copper foil).

【0085】上記シクロオレフィン系樹脂は、フィラー
等を含まないものであってもよく、水酸化アルミニウ
ム、水酸化マグネシウム、リン酸エステル等の難燃剤を
含むものであってもよい。
The cycloolefin resin may not contain a filler or the like, or may contain a flame retardant such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, or a phosphate.

【0086】上記フッ素樹脂としては、例えば、エチル
/テトラフルオロエチレン共重合樹脂(ETFE)、ポ
リクロロトリフルオロエチレン(PCTFE)等が挙げ
られる。
The fluororesin includes, for example, ethyl / tetrafluoroethylene copolymer resin (ETFE), polychlorotrifluoroethylene (PCTFE) and the like.

【0087】上記熱可塑性エラストマー樹脂としては特
に限定されず、例えば、スチレン系熱可塑性エラストマ
ー、オレフィン系熱可塑性エラストマー、ウレタン系熱
可塑性エラストマー、ポリエステル系熱可塑性エラスト
マー、ポリアミド系熱可塑性エラストマー、1,2−ポ
リブタジエン系熱可塑性エラストマー、塩ビ系熱可塑性
エラストマー、フッ素系熱可塑性エラストマー等が挙げ
られる。これらのなかでは、電気特性に優れる点からオ
レフィン系熱可塑性エラストマーやフッ素系熱可塑性エ
ラストマーが望ましい。
The thermoplastic elastomer resin is not particularly restricted but includes, for example, styrene-based thermoplastic elastomers, olefin-based thermoplastic elastomers, urethane-based thermoplastic elastomers, polyester-based thermoplastic elastomers, polyamide-based thermoplastic elastomers, -Polybutadiene-based thermoplastic elastomers, PVC-based thermoplastic elastomers, fluorine-based thermoplastic elastomers, and the like. Among these, olefin-based thermoplastic elastomers and fluorine-based thermoplastic elastomers are desirable from the viewpoint of excellent electrical properties.

【0088】これらの層間樹脂絶縁層を形成する際に用
いる樹脂は、上記したP原子含有エポキシ樹脂を含んで
いることが望ましい。ソルダーレジスト層のみでなく、
層間樹脂絶縁層もP原子含有エポキシ樹脂を含んでいる
ことにより多層プリント配線板の難燃性がより向上す
る。
The resin used for forming these interlayer resin insulation layers preferably contains the above-mentioned P-atom-containing epoxy resin. Not only solder resist layer,
Since the interlayer resin insulating layer also contains the P-atom-containing epoxy resin, the flame retardancy of the multilayer printed wiring board is further improved.

【0089】上記樹脂フィルムを貼り付けることにより
層間樹脂絶縁層を形成する場合、該層間樹脂絶縁層の形
成は、真空ラミネーター等の装置を用い、減圧下または
真空下において、2.0〜10kgf/cm2 の圧力、
60〜120℃の温度で圧着し、その後、樹脂フィルム
を熱硬化することにより行うことが望ましい。なお、上
記熱硬化は、後述するバイアホール用開口および貫通孔
を形成した後に行ってもよい。
When the interlayer resin insulating layer is formed by attaching the above resin film, the interlayer resin insulating layer is formed using a device such as a vacuum laminator under reduced pressure or vacuum under a pressure of 2.0 to 10 kgf / kg. pressure of cm 2,
It is desirable to perform pressure bonding at a temperature of 60 to 120 ° C., and then heat-curing the resin film. The heat curing may be performed after forming a via hole opening and a through hole described later.

【0090】上記樹脂組成物の層を形成した後、該樹脂
組成物の層にバイアホール用開口と必要に応じて貫通孔
とを形成することにより、層間樹脂絶縁層を形成する。
上記バイアホール用開口は、レーザ処理等により形成す
る。また、感光性樹脂からなる樹脂組成物の層を形成し
た場合には、露光、現像処理を行うことにより、バイア
ホール用開口を設けてもよい。このとき、使用されるレ
ーザ光としては、例えば、炭酸ガス(CO2 )レーザ、
紫外線レーザ、エキシマレーザ等が挙げられるが、これ
らのなかでは、エキシマレーザや短パルスの炭酸ガスレ
ーザが望ましい。
After forming the resin composition layer, an interlayer resin insulating layer is formed by forming a via hole opening and, if necessary, a through hole in the resin composition layer.
The via hole opening is formed by laser processing or the like. In the case where a layer of a resin composition made of a photosensitive resin is formed, an opening for a via hole may be provided by performing exposure and development treatments. At this time, as a laser beam used, for example, a carbon dioxide (CO 2 ) laser,
An ultraviolet laser, an excimer laser and the like can be mentioned, and among these, an excimer laser and a short-pulse carbon dioxide laser are desirable.

【0091】エキシマレーザは、後述するように、バイ
ヤホール用開口を形成する部分に貫通孔が形成されたマ
スク等を用いることにより、一度に多数のバイヤホール
用開口を形成することができ、また、短パルスの炭酸ガ
スレーザは、開口内の樹脂残りが少なく、開口周縁の樹
脂に対するダメージが小さいからである。
The excimer laser can form a large number of via hole openings at a time by using a mask or the like in which a through hole is formed in a portion where a via hole opening is formed, as described later. This is because the short-pulse carbon dioxide laser has less resin residue in the opening and less damage to the resin around the opening.

【0092】また、エキシマレーザのなかでも、ホログ
ラム方式のエキシマレーザを用いることが望ましい。ホ
ログラム方式とは、レーザ光をホログラム、集光レン
ズ、レーザマスク、転写レンズ等を介して目的物に照射
する方式であり、この方式を用いることにより、一度の
照射で樹脂組成物の層に多数の開口を効率的に形成する
ことができる。
It is desirable to use a hologram type excimer laser among the excimer lasers. The hologram method is a method of irradiating a target object with a laser beam through a hologram, a condensing lens, a laser mask, a transfer lens, and the like. Can be efficiently formed.

【0093】また、炭酸ガスレーザを用いる場合、その
パルス間隔は、10-4〜10-8秒であることが望まし
い。また、開口を形成するためのレーザを照射する時間
は、10〜500μ秒であることが望ましい。また、バ
イアホール用開口を形成する部分に貫通孔が形成された
マスクの貫通孔は、レーザ光のスポット形状を真円にす
るために、真円である必要があり、上記貫通孔の径は、
0.1〜2mm程度が望ましい。
When a carbon dioxide laser is used, the pulse interval is desirably 10 −4 to 10 −8 seconds. The time for irradiating the laser for forming the opening is preferably 10 to 500 μsec. Further, the through-hole of the mask in which the through-hole is formed in the portion where the via-hole opening is formed needs to be a perfect circle in order to make the spot shape of the laser beam a perfect circle, and the diameter of the through-hole is ,
About 0.1 to 2 mm is desirable.

【0094】また、光学系レンズとマスクとを介してレ
ーザ光を照射することにより、一度に多数のバイアホー
ル用開口を形成することができる。光学系レンズとマス
クとを介することにより、同一強度で、かつ、照射強度
が同一のレーザ光を複数の部分に同時に照射することが
できるからである。
By irradiating a laser beam through an optical lens and a mask, a large number of via hole openings can be formed at once. This is because a plurality of portions can be simultaneously irradiated with laser light having the same intensity and the same irradiation intensity through the optical system lens and the mask.

【0095】レーザ光にて開口を形成した場合、特に炭
酸ガスレーザを用いた場合には、デスミア処理を行うこ
とが望ましい。上記デスミア処理は、クロム酸、過マン
ガン酸塩等の水溶液からなる酸化剤を使用して行うこと
ができる。また、酸素プラズマ、CF4 と酸素の混合プ
ラズマやコロナ放電等で処理してもよい。また、低圧水
銀ランプを用いて紫外線を照射することにより、表面改
質することもできる。また、樹脂組成物の層を形成した
基板に、貫通孔を形成する場合には、直径50〜300
μmのドリル、レーザ光等を用いて貫通孔を形成する。
When an opening is formed by a laser beam, particularly when a carbon dioxide gas laser is used, desmearing is preferably performed. The desmear treatment can be performed using an oxidizing agent composed of an aqueous solution such as chromic acid and permanganate. Alternatively, the treatment may be performed using oxygen plasma, a mixed plasma of CF 4 and oxygen, corona discharge, or the like. The surface can also be modified by irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp. When a through-hole is formed in the substrate on which the layer of the resin composition is formed, the diameter is 50 to 300.
A through hole is formed using a μm drill, laser light, or the like.

【0096】(4) 次に、バイアホール用開口の内壁を含
む層間樹脂絶縁層の表面と上記工程で貫通孔を形成した
場合には貫通孔の内壁とに、酸または酸化剤を用いて粗
化面を形成する。上記酸としては、硫酸、硝酸、塩酸、
リン酸、蟻酸等が挙げられ、上記酸化剤としては、クロ
ム酸、クロム硫酸、過マンガン酸ナトリウム等の過マン
ガン酸塩等が挙げられる。
(4) Next, the surface of the interlayer resin insulating layer including the inner wall of the opening for the via hole and the inner wall of the through hole when the through hole is formed in the above step are roughened with an acid or an oxidizing agent. To form a surface. Examples of the acid include sulfuric acid, nitric acid, hydrochloric acid,
Examples of the oxidizing agent include phosphoric acid, formic acid, and the like. Examples of the oxidizing agent include permanganates such as chromic acid, chromic sulfuric acid, and sodium permanganate.

【0097】その後、酸を用いて粗化面を形成した場合
はアルカリ等の水溶液を用い、酸化剤を用いて粗化面を
形成した場合は中和液を用いて、バイアホール用開口内
や貫通孔内を中和する。この操作により酸や酸化剤を除
去し、次工程に影響を与えないようにする。なお、この
工程で形成する粗化面の平均粗度Rzは、0.1〜5μ
mが望ましい。
Thereafter, when the roughened surface is formed by using an acid, an aqueous solution of an alkali or the like is used, and when the roughened surface is formed by using an oxidizing agent, a neutralizing solution is used. Neutralizes the inside of the through hole. By this operation, the acid and the oxidizing agent are removed so that the next step is not affected. The average roughness Rz of the roughened surface formed in this step is 0.1 to 5 μm.
m is desirable.

【0098】(5) 次に、形成された粗化面に、必要によ
り、触媒を付与する。上記触媒としては、例えば、塩化
パラジウム等が挙げられる。このとき、触媒を確実に付
与するために、酸素、窒素等のプラズマ処理やコロナ処
理等のドライ処理を施すことにより、酸または酸化剤の
残渣を除去するとともに層間樹脂絶縁層の表面を改質す
ることにより、触媒を確実に付与し、無電解めっき時の
金属の析出、および、無電解めっき層の層間樹脂絶縁層
への密着性を向上させることができ、特に、バイアホー
ル用開口の底面において、大きな効果が得られる。
(5) Next, a catalyst is applied to the formed roughened surface, if necessary. Examples of the catalyst include palladium chloride. At this time, in order to reliably apply the catalyst, a dry treatment such as a plasma treatment with oxygen, nitrogen or the like or a corona treatment is performed to remove a residue of an acid or an oxidizing agent and modify the surface of the interlayer resin insulating layer. By doing so, the catalyst can be reliably applied, the metal can be deposited during electroless plating, and the adhesion of the electroless plating layer to the interlayer resin insulating layer can be improved. In particular, the bottom surface of the via hole opening can be improved. In the above, a great effect can be obtained.

【0099】(6) ついで、形成された層間樹脂絶縁層上
に、必要により、スズ、亜鉛、銅、ニッケル、コバル
ト、タリウム、鉛等からなる薄膜導体層を無電解めっ
き、スパッタリング等により形成する。上記薄膜導体層
は、単層であってもよいし、2層以上からなるものであ
ってもよい。これらのなかでは、電気特性、経済性等を
考慮すると銅や銅およびニッケルからなる薄膜導体層が
望ましい。また、上記(3) の工程で貫通孔を形成した場
合は、この工程で貫通孔の内壁面にも金属からなる薄膜
導体層を形成することにより、スルーホールとしてもよ
い。
(6) Next, a thin-film conductor layer made of tin, zinc, copper, nickel, cobalt, thallium, lead or the like is formed on the formed interlayer resin insulation layer by electroless plating, sputtering, or the like, if necessary. . The above-mentioned thin film conductor layer may be a single layer, or may be composed of two or more layers. Among these, a thin film conductor layer made of copper, copper, and nickel is desirable in consideration of electrical characteristics, economy, and the like. When the through hole is formed in the step (3), a through-hole may be formed by forming a thin film conductor layer made of metal also on the inner wall surface of the through hole in this step.

【0100】上記(6) の工程で、スルーホールを形成し
た場合には、以下のような処理工程を行うことが望まし
い。すなわち、無電解めっき層表面とスルーホール内壁
とを黒化(酸化)−還元処理、有機酸と第二銅錯体の混
合水溶液によるスプレー処理、Cu−Ni−P針状合金
めっきによる処理等を用いて粗化形成処理を行う。この
後、さらに、樹脂充填剤等を用いてスルーホール内を充
填し、ついで、樹脂充填剤の表層部と無電解めっき層表
面とをバフ研磨等の研磨処理方法を用いて、平坦化す
る。さらに、無電解めっきを行い、既に形成した金属か
らなる薄膜導体層と樹脂充填剤の表層部とに無電解めっ
き層を形成することにより、スルーホールの上に蓋めっ
き層を形成する。
When a through hole is formed in the step (6), it is desirable to perform the following processing steps. That is, the surface of the electroless plating layer and the inner wall of the through hole are subjected to blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, treatment with Cu-Ni-P needle-like alloy plating, and the like. To perform a roughening process. Thereafter, the inside of the through-hole is further filled with a resin filler or the like, and then the surface layer of the resin filler and the surface of the electroless plating layer are flattened by a polishing treatment method such as buffing. Further, by performing electroless plating and forming an electroless plating layer on the thin film conductor layer made of a metal already formed and the surface layer of the resin filler, a cover plating layer is formed on the through hole.

【0101】(7) 次に、上記層間樹脂絶縁層上の一部に
ドライフィルムを用いてめっきレジストを形成し、その
後、上記薄膜導体層をめっきリードとして電気めっきを
行い、上記めっきレジスト非形成部に上記めっきレジス
トの厚さよりも厚い電気めっき層を形成する。上記電気
めっきとしては、銅めっきを用いることが望ましい。こ
の時、バイアホール用開口を電気めっきで充填してフィ
ールドビア構造としてもよく、バイアホール用開口に導
電性ペースト等を充填した後、その上に蓋めっき層を形
成してフィールドビア構造としてもよい。フィールドビ
ア構造を形成することにより、バイアホールの直上にバ
イアホールを設けることができる。
(7) Next, a plating resist is formed on a part of the interlayer resin insulating layer using a dry film, and then electroplating is performed using the thin film conductor layer as a plating lead to form the plating resist. An electroplating layer thicker than the thickness of the plating resist is formed in the portion. It is desirable to use copper plating as the electroplating. At this time, the via hole opening may be filled with electroplating to form a field via structure, and after filling the via hole opening with a conductive paste or the like, a lid plating layer may be formed thereon to form a field via structure. Good. By forming a field via structure, a via hole can be provided immediately above the via hole.

【0102】(8) 電気めっき層を形成した後、めっきレ
ジストを剥離し、めっきレジストの下に存在していた金
属からなる薄膜導体層をエッチングにより除去し、独立
した導体回路とする。上記電気めっきとしては、銅めっ
きを用いることが望ましい。エッチング液として、例え
ば、硫酸−過酸化水素水溶液、過硫酸アンモニウム、過
硫酸ナトリウム、過硫酸カリウム等の過硫酸塩水溶液、
塩化第二鉄、塩化第二銅等の水溶液、塩酸、硝酸、熱希
硫酸等が挙げられる。また、上述した第二銅錯体と有機
酸とを含有するエッチング液を用いて、導体回路間のエ
ッチングと同時に粗化面を形成してもよい。さらに、必
要により、酸または酸化剤を用いて層間樹脂絶縁層上の
触媒を除去してもよい。触媒を除去することにより、触
媒に用いたパラジウム等の金属がなくなるため、電気特
性の低減を防止することができる。
(8) After forming the electroplating layer, the plating resist is peeled off, and the thin film conductor layer made of the metal existing under the plating resist is removed by etching to form an independent conductor circuit. It is desirable to use copper plating as the electroplating. As an etchant, for example, a sulfuric acid-hydrogen peroxide aqueous solution, ammonium persulfate, sodium persulfate, a persulfate aqueous solution such as potassium persulfate,
An aqueous solution of ferric chloride, cupric chloride, or the like, hydrochloric acid, nitric acid, hot dilute sulfuric acid, or the like can be given. Further, a roughened surface may be formed at the same time as etching between conductor circuits using an etching solution containing the above-described cupric complex and an organic acid. Further, if necessary, the catalyst on the interlayer resin insulating layer may be removed using an acid or an oxidizing agent. By removing the catalyst, the metal such as palladium used for the catalyst disappears, so that a decrease in the electrical characteristics can be prevented.

【0103】(9) この後、必要により、(3) 〜(8) の工
程を繰り返し、その後、最外層の導体回路に粗化面を形
成する必要がある場合には、上述した粗化面形成処理方
法を用いて、粗化面を有する導体回路を形成する。
(9) Thereafter, if necessary, the steps (3) to (8) are repeated. If it is necessary to form a roughened surface on the outermost conductor circuit, the above-described roughened surface is formed. A conductor circuit having a roughened surface is formed by using a forming method.

【0104】(10)次に、最外層の導体回路を含む基板面
に上記したソルダーレジスト層を形成する。上記ソルダ
ーレジスト層は、上述したように、上記P原子含有エポ
キシ樹脂を含むソルダーレジスト組成物をロールコータ
法等により塗布したり、上記ソルダーレジスト組成物の
樹脂フィルムを形成した後、該樹脂フィルムを熱圧着し
たりした後、露光、現像処理、レーザ処理等による開口
処理を行い、さらに、硬化処理等を行うことにより形成
する。
(10) Next, the above-mentioned solder resist layer is formed on the substrate surface including the outermost conductive circuit. As described above, the solder resist layer is formed by applying a solder resist composition containing the P-atom-containing epoxy resin by a roll coater method or the like, or after forming a resin film of the solder resist composition, After thermocompression bonding, an opening process such as exposure, development, or laser processing is performed, and a hardening process is performed.

【0105】露光、現像処理により開口を形成する場
合、上記ソルダーレジスト層は、その材料として上記P
原子含有エポキシ樹脂以外は通常用いられているものと
同様のものを用いることにより、従来と変わらない容易
さでソルダーレジスト組成物の層に所望の形状の開口を
形成することができる。
When the opening is formed by exposure and development, the solder resist layer is formed of the P
By using the same resin as that usually used except for the atom-containing epoxy resin, an opening having a desired shape can be formed in the layer of the solder resist composition with the same ease as in the related art.

【0106】また、レーザ処理により開口を形成する場
合、P原子含有エポキシ樹脂を含んでいるため、所望の
形状の開口を形成することができる。通常、レーザ照射
により開口を形成する場合には、レーザ照射部位の周囲
の樹脂がレーザの照射熱により燃焼するため、開口の内
壁の形状が滑らかな形状とならず、不均一な凹凸を有す
るものになってしまう。しかしながら、本発明の多層プ
リント配線板のソルダーレジスト層は、P原子含有エポ
キシ樹脂を含んでいることにより難燃性を有するため、
レーザ照射部位の周囲の樹脂がレーザの照射熱により燃
焼することがなく、形成された開口の内壁の形状は滑ら
かであり、その形状も所望のものとなる。
In the case where the opening is formed by laser treatment, the opening having a desired shape can be formed because the resin contains a P atom-containing epoxy resin. Normally, when an opening is formed by laser irradiation, the resin around the laser irradiation site is burned by the heat of the laser irradiation, so that the shape of the inner wall of the opening does not have a smooth shape and has uneven unevenness. Become. However, since the solder resist layer of the multilayer printed wiring board of the present invention has flame retardancy due to containing a P atom-containing epoxy resin,
The resin around the laser irradiation site does not burn due to the irradiation heat of the laser, and the shape of the inner wall of the formed opening is smooth and the desired shape is obtained.

【0107】また、レーザ照射時にレーザ照射部位の周
囲の樹脂が、レーザの照射熱により燃焼することがない
ため、高エネルギーのレーザ光を照射しても、所望の形
状の開口を形成することができる。従って、高エネルギ
ーのレーザ光を照射することにより、短時間で開口を形
成することができ、特に、パルスレーザを用いる場合に
は、単ショットで開口を形成することができる。なお、
上記レーザ処理において、ソルダーレジスト組成物の層
に開口を形成するために使用するレーザ光やレーザ光の
照射方法は、層間樹脂絶縁層を形成するために、樹脂組
成物の層の乾燥体に開口を形成する場合と同様である。
Further, since the resin around the laser irradiation site is not burned by the laser irradiation heat at the time of laser irradiation, an opening having a desired shape can be formed even when high-energy laser light is irradiated. it can. Therefore, by irradiating high-energy laser light, an opening can be formed in a short time. In particular, when a pulsed laser is used, an opening can be formed in a single shot. In addition,
In the laser treatment, a laser beam or a method of irradiating a laser beam used for forming an opening in the layer of the solder resist composition includes an opening in a dried body of the resin composition layer in order to form an interlayer resin insulating layer. Is formed.

【0108】(11)次に、ソルダーレジスト層の開口部分
にNi、Au等からなる耐食金属層をめっき、スパッタ
リングまたは蒸着等により形成し、その後、ICチップ
接続面には、半田ペーストを印刷することにより半田バ
ンプを形成し、外部基板接続面には、半田ボールやピン
等を配設することによりプリント配線板の製造を終了す
る。なお、上記半田ボールやピン等を配設する方法とし
ては、従来公知の方法を用いることができる。
(11) Next, a corrosion-resistant metal layer made of Ni, Au, or the like is formed in the opening of the solder resist layer by plating, sputtering, evaporation, or the like, and then, a solder paste is printed on the IC chip connection surface. Thus, solder bumps are formed, and solder balls, pins, and the like are provided on the external substrate connection surface, thereby completing the manufacture of the printed wiring board. In addition, as a method of arranging the solder balls, pins, and the like, a conventionally known method can be used.

【0109】なお、製品認識文字などを形成するための
文字印刷工程やソルダーレジスト層の改質のために、酸
素や四塩化炭素などのプラズマ処理を適時行ってもよ
い。以上の方法は、セミアディティブ法によるものであ
るが、フルアディティブ法を採用してもよい。
In addition, a plasma treatment with oxygen, carbon tetrachloride, or the like may be performed as needed for a character printing step for forming a product recognition character or the like or for modifying a solder resist layer. Although the above method is based on the semi-additive method, a full additive method may be employed.

【0110】[0110]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。 (実施例1) A.上層の粗化面形成用樹脂組成物の調製 (1) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液400重量部、感光性
モノマー(東亜合成社製、アロニックスM325)60
重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)35重量部を容
器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製し
た。
The present invention will be described in more detail below. Example 1 A. Preparation of Resin Composition for Forming Roughened Surface of Upper Layer (1) A 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. 400 parts by weight of the resin solution, photosensitive monomer (Aronix M325, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.) 60
A mixed composition was prepared by placing parts by weight, 5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) and 35 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) in a container and mixing with stirring.

【0111】(2) ポリエーテルスルフォン(PES)8
0重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマー
ポール)の平均粒径1.0μmのもの72重量部および
平均粒径0.5μmのもの31重量部を別の容器にと
り、攪拌混合した後、さらにNMP257重量部を添加
し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製し
た。
(2) Polyether sulfone (PES) 8
0 parts by weight, 72 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Industries, polymer pole) having an average particle size of 1.0 μm and 31 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 0.5 μm were placed in another container and mixed with stirring. And 257 parts by weight of NMP were further added and stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0112】(3) イミダゾール硬化剤(四国化成社製、
2E4MZ−CN)20重量部、光重合開始剤(ベンゾ
フェノン)20重量部、光増感剤(チバ・スペシャルテ
ィ・ケミカルズ社製、EAB)4重量部およびNMP1
6重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混合することに
より混合組成物を調製した。そして、(1) 、(2) および
(3) で調製した混合組成物を混合することにより粗化面
形成用樹脂組成物を得た。
(3) Imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.)
2E4MZ-CN), 20 parts by weight of a photopolymerization initiator (benzophenone), 4 parts by weight of a photosensitizer (EAB, manufactured by Ciba Specialty Chemicals) and NMP1
6 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And (1), (2) and
The resin composition for forming a roughened surface was obtained by mixing the mixed composition prepared in (3).

【0113】B.下層の粗化面形成用樹脂組成物の調製 (1) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液400重量部、感光性
モノマー(東亜合成社製、アロニックスM325)60
重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)35重量部を容
器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製し
た。
B. Preparation of Resin Composition for Forming Lower Surface Roughened Surface (1) Dissolve 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight. 400 parts by weight of the resin solution, photosensitive monomer (Aronix M325, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.) 60
A mixed composition was prepared by placing parts by weight, 5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) and 35 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) in a container and mixing with stirring.

【0114】(2) ポリエーテルスルフォン(PES)8
0量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポ
リマーポール)の平均粒径0.5μmのもの145重量
部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにNMP2
85重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混
合組成物を調製した。
(2) Polyether sulfone (PES) 8
0 parts by weight and 145 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd., polymer pole) having an average particle size of 0.5 μm are placed in another container, mixed with stirring, and further mixed with NMP2.
85 parts by weight were added and mixed by stirring with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0115】(3) イミダゾール硬化剤(四国化成社製、
2E4MZ−CN)20重量部、光重合開始剤(ベンゾ
フェノン)20重量部、光増感剤(チバ・スペシャルテ
ィ・ケミカルズ社製、EAB)4重量部およびNMP1
6重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混合することに
より混合組成物を調製した。そして、(1) 、(2) および
(3) で調製した混合組成物を混合することにより粗化面
形成用樹脂組成物を得た。
(3) Imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.)
2E4MZ-CN), 20 parts by weight of a photopolymerization initiator (benzophenone), 4 parts by weight of a photosensitizer (EAB, manufactured by Ciba Specialty Chemicals) and NMP1
6 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And (1), (2) and
The resin composition for forming a roughened surface was obtained by mixing the mixed composition prepared in (3).

【0116】C.樹脂充填剤の調製 (1) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
社製、分子量:310、YL983U)100重量部、
表面にシランカップリング剤がコーティングされた平均
粒径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下の
SiO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101
−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプコ
社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、攪
拌混合することにより、その粘度が23±1℃で45〜
49Pa・sの樹脂充填剤を調製した。なお、硬化剤と
して、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ
−CN)6.5重量部を用いた。
C. Preparation of resin filler (1) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U),
SiO 2 spherical particles having an average particle diameter of 1.6 μm and a maximum particle diameter of 15 μm or less (CRS 1101 manufactured by Adtec Co., Ltd.) having a surface coated with a silane coupling agent.
-CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco) are placed in a container, and the mixture is stirred and mixed to have a viscosity of 23 to 1 ° C. and 45 to 45 ° C.
A resin filler of 49 Pa · s was prepared. As a curing agent, an imidazole curing agent (2E4MZ manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
-CN) 6.5 parts by weight.

【0117】D.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅
張積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パ
ターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に
下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
D. Manufacturing method of printed wiring board (1) Glass epoxy resin or BT with a thickness of 0.8 mm
The starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 1A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to an electroless plating treatment, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and a through hole 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0118】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (16g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とす
る黒化処理、および、NaOH(19g/l)、NaB
4 (5g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理
を行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全
表面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参
照)。
(2) Through-hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (16 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (19 g / l), NaB
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing H 4 (5 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4 a and 9 a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 1 (b)). ).

【0119】(3) 上記Dに記載した樹脂充填剤を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内に、スルー
ホール9内、および、基板1の片面の導体回路非形成部
と導体回路4の外縁部とに樹脂充填剤10の層を形成し
た。すなわち、まず、スキージを用いてスルーホール内
に樹脂充填剤を押し込んだ後、100℃、20分の条件
で乾燥させた。次に、導体回路非形成部に相当する部分
が開口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いて
凹部となっている導体回路非形成部に樹脂充填剤10の
層を形成し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図
1(c)参照)。
(3) After preparing the resin filler described in D above, within 24 hours after preparation by the following method, the conductive circuit non-formed portion in the through hole 9 and on one side of the substrate 1 and the conductive circuit A layer of the resin filler 10 was formed on the outer edge portion of No. 4. That is, first, the resin filler was pushed into the through holes using a squeegee, and then dried at 100 ° C. for 20 minutes. Next, a mask having an opening corresponding to the conductive circuit non-forming portion is placed on the substrate, and a layer of the resin filler 10 is formed in the conductive circuit non-forming portion having a concave portion using a squeegee. Drying was performed at 20 ° C. for 20 minutes (see FIG. 1C).

【0120】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いた
ベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面や
スルーホール9のランド表面に樹脂充填剤10が残らな
いように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨によ
る傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一
連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。次
いで、100℃で1時間、120℃で3時間、150℃
で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行って樹脂充
填剤10を硬化した。
(4) One surface of the substrate after the treatment of (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 4 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Then, at 100 ° C for 1 hour, at 120 ° C for 3 hours, at 150 ° C
For 1 hour and a heat treatment at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10.

【0121】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(d)参照)。この工程により、樹脂充填剤10
の表面と下層導体回路4の表面が同一平面となる。
In this way, the surface portion of the resin filler 10 formed in the through hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surface of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was obtained, thereby obtaining an insulating substrate firmly adhered through the roughened surface (see FIG. 1D). By this step, the resin filler 10
And the surface of the lower conductor circuit 4 are flush with each other.

【0122】(5) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけて、下層導体回路4の表面とスル
ーホール9のランド表面と内壁とをエッチングすること
により、下層導体回路4の全表面に粗化面4a、9aを
形成した(図2(a)参照)。エッチング液として、イ
ミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸7重
量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチング液(メ
ック社製、メックエッチボンド)を使用した。
(5) The substrate is washed with water and acid-degreased, and then soft-etched. Then, an etchant is sprayed on both surfaces of the substrate by spraying, so that the surface of the lower conductive circuit 4 and the land surface of the through hole 9 and the inner wall are formed. Thus, roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of lower conductor circuit 4 (see FIG. 2A). As an etching solution, an etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec Co.) consisting of 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0123】(6) 基板の両面に、上記Bの粗化面形成用
樹脂組成物(粘度:1.5Pa・s)をロールコータで
塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で3
0分の乾燥を行い、粗化面形成用樹脂層2aを形成し
た。さらに、この粗化面形成用樹脂層2aの上に上記A
の粗化面形成用樹脂組成物(粘度:7Pa・s)をロー
ルコータを用いて塗布し、水平状態で20分間放置して
から、60℃で30分の乾燥を行い、粗化面形成用樹脂
層2bを形成し、厚さ35μmの粗化面形成用樹脂層を
形成した(図2(b)参照)。
(6) The resin composition for forming a roughened surface of the above B (viscosity: 1.5 Pa · s) was applied to both surfaces of a substrate by a roll coater, and allowed to stand in a horizontal state for 20 minutes. 3
Drying was performed for 0 minutes to form a roughened surface forming resin layer 2a. Further, the above-mentioned A is formed on the roughened surface forming resin layer 2a.
Is applied using a roll coater and left in a horizontal state for 20 minutes, and then dried at 60 ° C. for 30 minutes to form a roughened surface. The resin layer 2b was formed, and a resin layer for forming a roughened surface having a thickness of 35 μm was formed (see FIG. 2B).

【0124】(7) 上記(6) で粗化面形成用樹脂層を形成
した基板1の両面に、直径85μmの黒円が印刷された
フォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯により
500mJ/cm2 強度で露光した後、DMDG溶液で
スプレー現像した。この後、さらに、この基板を超高圧
水銀灯により3000mJ/cm2 強度で露光し、10
0℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の
加熱処理を施し、フォトマスクフィルムに相当する寸法
精度に優れた直径85μmのバイアホール用開口6を有
する厚さ35μmの層間樹脂絶縁層2を形成した(図2
(c)参照)。
(7) A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate 1 on which the resin layer for forming a roughened surface has been formed in the above (6), and is 500 mJ / cm by an ultra-high pressure mercury lamp. After exposure at two intensities, it was spray-developed with a DMDG solution. Thereafter, the substrate was further exposed to 3000 mJ / cm 2 intensity using an ultrahigh pressure mercury lamp,
Heat treatment at 0 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours, and a 35 μm thick interlayer resin having a via hole opening 6 of 85 μm in diameter and excellent in dimensional accuracy equivalent to a photomask film. An insulating layer 2 was formed (FIG. 2
(C)).

【0125】(8) バイアホール用開口6を形成した基板
を、800g/lのクロム酸を含む70℃の溶液に19
分間浸漬し、層間樹脂絶縁層2の表面に存在するエポキ
シ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶縁層
2の表面を粗面(深さ3μm)とした(図2(d)参
照)。
(8) The substrate on which the via hole opening 6 was formed was placed in a 70 ° C. solution containing 800 g / l of chromic acid.
For 2 minutes, the surface of the interlayer resin insulation layer 2 was roughened (3 μm depth) by dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulation layer 2 (see FIG. 2D).

【0126】(9) 次に、上記処理を終えた基板を、中和
溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした。さら
に、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒
(アトテック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁
層2の表面およびバイアホール用開口6の内壁面に触媒
核を付着させた。
(9) Next, the substrate after the above treatment was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water. Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6.

【0127】(10)次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.8μmの
無電解銅めっき層12を形成した(図3(a)参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 NiSO4 0.003 mol/l 酒石酸 0.200 mol/l 硫酸銅 0.030 mol/l HCHO 0.050 mol/l NaOH 0.100 mol/l α、α′−ビピリジル 40 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕 35℃の液温度で40分
(10) Next, the substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition to form an electroless copper plating layer 12 having a thickness of 0.8 μm on the entire rough surface (FIG. 3A )reference). [Electroless plating aqueous solution] NiSO 4 0.003 mol / l tartaric acid 0.200 mol / l copper sulfate 0.030 mol / l HCHO 0.050 mol / l NaOH 0.100 mol / l α, α'-bipyridyl 40 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 40 minutes at a liquid temperature of 35 ° C

【0128】(11)次に、市販の感光性ドライフィルムを
無電解銅めっき層12に貼り付け、マスクを載置して、
100mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム
水溶液で現像処理することにより、厚さ25μmのめっ
きレジスト3を設けた(図3(b)参照)。
(11) Next, a commercially available photosensitive dry film is attached to the electroless copper plating layer 12, and a mask is placed thereon.
Exposure was performed at 100 mJ / cm 2 , and development treatment was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide a plating resist 3 having a thickness of 25 μm (see FIG. 3B).

【0129】(12)ついで、基板を50℃の水で洗浄して
脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄してか
ら、以下の条件で電解銅めっきを施し、電解銅めっき層
13を形成した(図4(c)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドGL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 度
(12) Next, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions. The layer 13 was formed (see FIG. 4C). [Aqueous electrolytic plating solution] Sulfuric acid 2.24 mol / l Copper sulfate 0.26 mol / l Additive 19.5 ml / l (Acapec Japan, Capparaside GL) [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes temperature 22 ± 2 degrees

【0130】(13)さらに、めっきレジスト3を5%KO
Hで剥離除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解
めっき層12を硫酸と過酸化水素との混合液でエッチン
グ処理して溶解除去し、独立の導体回路5(バイアホー
ル7を含む)とした(図3(d)参照)。
(13) Further, the plating resist 3 is coated with 5% KO
After removing with H, the electroless plating layer 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to form an independent conductor circuit 5 (including the via hole 7). (See FIG. 3D).

【0131】(14)上記 (5)〜(13)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の導体回路を形成し、多層配線板を
得た(図4(a)〜図5(b)参照)。
(14) By repeating the above steps (5) to (13), a conductor circuit of a further upper layer was formed, and a multilayer wiring board was obtained (see FIGS. 4A to 5B). .

【0132】(15)次に、P原子含有エポキシ樹脂を含む
ソルダーレジスト組成物を以下の方法により調製した。
ジエチレングリコールジメチルエーテル(DMDG)に
60重量%の濃度になるように溶解させた、上記一般式
(1)において、X1 およびX2 がO(酸素)であるP
原子含有エポキシ樹脂のエポキシ基50%をアクリル化
した感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)4
6.67重量部、メチルエチルケトンに溶解させた80
重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂6.67重量
部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ−
CN)1.6重量部、感光性モノマーである2官能アク
リルモノマー(日本化薬社製、R604)4.5重量
部、同じく多価アクリルモノマー(共栄化学社製、DP
E6A)1.5重量部、アクリル酸エステル重合物から
なるレベリング剤(共栄化学社製、ポリフローNo.7
5)0.36重量部を容器にとり、攪拌、混合して混合
組成物を調製し、この混合組成物に対して光重合開始剤
としてベンゾフェノン(関東化学社製)2.0重量部、
光増感剤としてミヒラーケトン(関東化学社製)0.2
重量部、DMDG0.6重量部を加えることにより、粘
度を25℃で1.4±0.3Pa・sに調整したソルダ
ーレジスト組成物を調製した。なお、粘度測定は、B型
粘度計(東京計器社製、DVL−B型)で60rpmの
場合はローターNo.4、6rpmの場合はローターN
o.3によった。
(15) Next, a solder resist composition containing a P atom-containing epoxy resin was prepared by the following method.
In the above general formula (1), P is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) to a concentration of 60% by weight, and X 1 and X 2 are O (oxygen).
Photosensitizing oligomer (molecular weight: 4000) 4 in which 50% of epoxy groups of an atom-containing epoxy resin are acrylated
6.67 parts by weight of 80 dissolved in methyl ethyl ketone
6.67 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin in weight%, an imidazole curing agent (2E4MZ- manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
CN) 1.6 parts by weight, 4.5 parts by weight of a photosensitive monomer, bifunctional acrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), and similarly polyvalent acrylic monomer (Kyoei Chemical Co., DP
E6A) 1.5 parts by weight of a leveling agent composed of an acrylate polymer (manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd., Polyflow No. 7)
5) 0.36 parts by weight was placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and 2.0 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photopolymerization initiator was added to the mixed composition
Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co.) 0.2 as a photosensitizer
By adding 0.6 parts by weight of DMDG and 0.6 parts by weight of DMDG, a solder resist composition having a viscosity adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · s at 25 ° C. was prepared. The viscosity was measured with a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.) when the rotor No. was 60 rpm. Rotor N at 4,6 rpm
o. According to 3.

【0133】(16)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で20分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト組成物
の層に密着させて900mJ/cm2 の紫外線で露光
し、純水現像処理し、直径125μmの開口を形成し
た。そして、さらに、3000mJ/cm2 の条件でU
Vキュアし、80℃で1時間、100℃で1時間、12
0℃で1時間、150℃で3時間の条件でそれぞれ加熱
処理を行ってソルダーレジスト組成物の層を硬化させ、
開口を有し、その厚さが25μmのソルダーレジスト層
14を形成した。
(16) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm,
After performing a drying process under the conditions of 20 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 20 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the solder resist opening is drawn is brought into close contact with the layer of the solder resist composition to 900 mJ / cm. The substrate was exposed to ultraviolet light of No. 2 and subjected to pure water development to form an opening having a diameter of 125 μm. Then, under the condition of 3000 mJ / cm 2 , U
V cure, 80 ° C for 1 hour, 100 ° C for 1 hour, 12
Heat treatment is performed at 0 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 3 hours to cure the layer of the solder resist composition,
The solder resist layer 14 having an opening and a thickness of 25 μm was formed.

【0134】(17)次に、ソルダーレジスト層14を形成
した基板を、塩化ニッケル(30g/l)、次亜リン酸
ナトリウム(10g/l)、クエン酸ナトリウム(10
g/l)を含むpH=5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(2g/l)、塩化アンモニウム(75g/l)、
クエン酸ナトリウム(50g/l)、次亜リン酸ナトリ
ウム(10g/l)を含む無電解めっき液に93℃の条
件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚
さ0.03μmの金めっき層16を形成した。
(17) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 was formed was coated with nickel chloride (30 g / l), sodium hypophosphite (10 g / l), and sodium citrate (10 g / l).
g / l) in the electroless nickel plating solution with pH = 5.
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Further, the substrate was subjected to potassium gold cyanide (2 g / l), ammonium chloride (75 g / l),
It was immersed in an electroless plating solution containing sodium citrate (50 g / l) and sodium hypophosphite (10 g / l) at a temperature of 93 ° C. for 23 seconds to form a 0.03 μm thick nickel plating layer 15 on the nickel plating layer 15. A gold plating layer 16 was formed.

【0135】(18)この後、ソルダーレジスト層14の開
口にはんだペーストを印刷して、200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成し、
はんだバンプ17を有する多層配線プリント基板を製造
した(図5(c)参照)。
(18) Thereafter, a solder paste is printed in the openings of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17.
A multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 was manufactured (see FIG. 5C).

【0136】(実施例2) A.層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの作製 ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量46
9、油化シェルエポキシ社製 エピコート1001)3
0重量部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポ
キシ当量215、大日本インキ化学工業社製 エピクロ
ンN−673)40重量部、トリアジン構造含有フェノ
ールノボラック樹脂(フェノール性水酸基当量120、
大日本インキ化学工業社製 フェノライトKA−705
2)30重量部をエチレングリコールアセテート20重
量部、ソルベントナフサ20重量部に攪拌しながら加熱
溶解させ、そこへ末端エポキシ化ポリブタジエンゴム
(ナガセ化成工業社製 デナレックスR−45EPT)
15重量部と2−フェニル−4、5−ビス(ヒドロキシ
メチル)イミダゾール粉砕品1.5重量部、微粉砕シリ
カ2重量部、シリコン系消泡剤0.5重量部を添加しエ
ポキシ樹脂組成物を調製した。得られたエポキシ樹脂組
成物を厚さ38μmのPETフィルム上に乾燥後の厚さ
が50μmとなるようにロールコーターを用いて塗布し
た後、80〜120℃で10分間乾燥させることによ
り、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを作製した。
Example 2 A. Preparation of Resin Film for Interlayer Resin Insulation Layer Bisphenol A type epoxy resin (Epoxy equivalent 46
9. Yuka Shell Epoxy Epicoat 1001) 3
0 parts by weight, 40 parts by weight of a cresol novolak type epoxy resin (epoxy equivalent: 215, Epichron N-673 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.), a triazine structure-containing phenol novolak resin (phenolic hydroxyl group equivalent: 120,
FENOLITE KA-705 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.
2) 30 parts by weight were dissolved in 20 parts by weight of ethylene glycol acetate and 20 parts by weight of solvent naphtha while being heated and stirred, and epoxidized polybutadiene rubber (Denalex R-45EPT manufactured by Nagase Kasei Kogyo Co., Ltd.) was added thereto.
15 parts by weight, 1.5 parts by weight of a crushed product of 2-phenyl-4,5-bis (hydroxymethyl) imidazole, 2 parts by weight of finely divided silica, and 0.5 part by weight of a silicon-based antifoaming agent are added, and an epoxy resin composition is added. Was prepared. The resulting epoxy resin composition is applied on a 38 μm-thick PET film using a roll coater so that the thickness after drying becomes 50 μm, and then dried at 80 to 120 ° C. for 10 minutes to form an interlayer resin. A resin film for an insulating layer was produced.

【0137】B.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ1.0mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図6(a)参照)。まず、この銅
貼積層板をパターン状にエッチングすることにより、基
板1の両面に下層導体回路4を形成した。
B. Manufacturing method of printed wiring board (1) 1.0 mm thick glass epoxy resin or BT
A starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 6A). First, the copper-clad laminate was etched in a pattern to form a lower conductive circuit 4 on both surfaces of the substrate 1.

【0138】(2) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけ、搬送ロールで基板表面にエッチ
ング液を搬送し、下層導体回路4の表面をエッチングす
ることにより、下層導体回路4の全表面に粗化面4aを
形成した(図6(b)参照)。エッチング液としては、
イミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸
7重量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチング液
(メック社製、メックエッチボンド)を使用した。
(2) The above substrate was washed with water and acid degreased, and then soft-etched. Then, an etching solution was sprayed on both surfaces of the substrate by spraying, and the etching solution was conveyed to the substrate surface by conveyance rolls. Is etched to form a roughened surface 4a on the entire surface of the lower conductive circuit 4 (see FIG. 6B). As an etchant,
An etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec) comprising 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0139】(3) 基板の両面に、Aで作製した基板より
少し大きめの層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを基板上に
載置し、圧力4kgf/cm2 、温度80℃、圧着時間
10秒で仮圧着して裁断した後、さらに、以下の条件で
真空ラミネーター装置を用いて貼り付けることにより層
間樹脂絶縁層2を形成した(図6(c)参照)。すなわ
ち、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを基板上に載置し、
真空度0.5Torr、圧力4kgf/cm2 、温度8
0℃、圧着時間60秒で本圧着し、その後、170℃で
30分間熱硬化させた。
(3) On both sides of the substrate, a resin film for an interlayer resin insulating layer slightly larger than the substrate prepared in A was placed on the substrate, and the pressure was 4 kgf / cm 2 , the temperature was 80 ° C., and the compression time was 10 seconds. After temporary compression and cutting, the interlayer resin insulating layer 2 was formed by further applying a vacuum laminator under the following conditions (see FIG. 6C). That is, the resin film for the interlayer resin insulation layer is placed on the substrate,
Vacuum degree 0.5 Torr, pressure 4 kgf / cm 2 , temperature 8
This was completely press-bonded at 0 ° C. for 60 seconds, and then thermally cured at 170 ° C. for 30 minutes.

【0140】(4) 次に、層間樹脂絶縁層2上に、厚さ
1.2mmの貫通孔が形成されたマスクを介して、波長
10.4μmのCO2 ガスレーザにて、ビーム径4.0
mm、トップハットモード、パルス幅8.0μ秒、マス
クの貫通孔の径1.0mm、1ショットの条件で層間樹
脂絶縁層2に、直径80μmのバイアホール用開口6を
形成した。さらに、この層間樹脂絶縁層2の形成された
基板をドリル削孔し、貫通孔18を形成した(図6
(d)参照)。
(4) Next, a CO 2 gas laser having a wavelength of 10.4 μm was used to form a beam having a beam diameter of 4.0 through a mask having a through hole having a thickness of 1.2 mm formed on the interlayer resin insulating layer 2.
The via hole opening 6 having a diameter of 80 μm was formed in the interlayer resin insulating layer 2 under the conditions of mm, top hat mode, pulse width 8.0 μsec, diameter of the through hole of the mask 1.0 mm, and one shot. Further, the substrate on which the interlayer resin insulating layer 2 was formed was drilled to form a through hole 18.
(D)).

【0141】(5) バイアホール用開口6、および、貫通
孔18を形成した基板を、60g/lの過マンガン酸を
含む80℃の溶液に10分間浸漬し、層間樹脂絶縁層2
の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去すること
により、層間樹脂絶縁層2の表面を粗面とした(図7
(a)参照)。さらに、粗面化処理(粗化深さ6μm)
した該基板の表面にパラジウム触媒(アトテック社製)
を付与することにより、層間樹脂絶縁層2および貫通孔
18の表面、並びに、バイアホール用開口の内壁面6に
触媒核を付着させた。
(5) The substrate in which the via hole openings 6 and the through holes 18 were formed was immersed in a solution containing 60 g / l of permanganic acid at 80 ° C. for 10 minutes to form an interlayer resin insulating layer 2.
The surface of the interlayer resin insulating layer 2 was roughened by dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of FIG.
(A)). Furthermore, surface roughening treatment (roughening depth 6 μm)
Palladium catalyst (made by Atotech) on the surface of the substrate
The catalyst nuclei were attached to the surfaces of the interlayer resin insulating layer 2 and the through holes 18 and the inner wall surfaces 6 of the via hole openings.

【0142】(6) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜3.
0μmの無電解銅めっき膜12aを形成した(図7
(b)参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 NiSO4 0.003 mol/l 酒石酸 0.200 mol/l 硫酸銅 0.030 mol/l HCHO 0.050 mol/l NaOH 0.100 mol/l α、α′−ビピリジル 40 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕 35℃の液温度で40分
(6) Next, the substrate is immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition, and has a thickness of 0.6 to 3.
A 0 μm electroless copper plating film 12a was formed (FIG. 7).
(B)). [Electroless plating aqueous solution] NiSO 4 0.003 mol / l tartaric acid 0.200 mol / l copper sulfate 0.030 mol / l HCHO 0.050 mol / l NaOH 0.100 mol / l α, α'-bipyridyl 40 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 40 minutes at a liquid temperature of 35 ° C

【0143】(7) 無電解めっき膜12aを形成した基板
を水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/l)、N
aClO2 (40g/l)、Na3 PO4 (6g/l)
を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、およ
び、NaOH(10g/l)、NaBH4 (6g/l)
を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い、無電解め
っき膜12aの全表面に粗化面を形成した。
(7) The substrate on which the electroless plating film 12a was formed was washed with water and dried, and then NaOH (10 g / l), N
aClO 2 (40 g / l), Na 3 PO 4 (6 g / l)
Blackening to blackening bath (oxidizing bath) an aqueous solution containing, and, NaOH (10g / l), NaBH 4 (6g / l)
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing Pb as a reduction bath to form a roughened surface on the entire surface of the electroless plating film 12a.

【0144】(8) 上記Bに記載した樹脂充填剤を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内に、スルー
ホール29内に樹脂充填剤10を充填した。すなわち、
スキージを用いてスルーホール29内に樹脂充填剤を押
し込んだ後、100℃、20分の条件で乾燥させた。乾
燥終了後、バフ研磨を施すことにより、無電解めっき膜
12aの表面および樹脂充填剤の表層部10aを平坦化
した。次いで、100℃で1時間、120℃で3時間、
150℃で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行っ
て樹脂充填剤10を硬化した(図7(c)参照)。
(8) After preparing the resin filler described in B above, the resin filler 10 was filled in the through hole 29 within 24 hours after the preparation by the following method. That is,
After the resin filler was pushed into the through hole 29 using a squeegee, it was dried at 100 ° C. for 20 minutes. After the drying, buffing was performed to flatten the surface of the electroless plating film 12a and the surface layer portion 10a of the resin filler. Next, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 3 hours,
Heat treatment was performed at 150 ° C. for 1 hour and at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10 (see FIG. 7C).

【0145】(9) 次に、樹脂充填剤の表層部10aにパ
ラジウム触媒(アトテック社製)を付与することによ
り、樹脂充填剤の表層部10aに触媒核を付着させた。
さらに、上記(6) と同様の条件で無電解めっきを行い、
上記(6) で形成した無電解めっき膜12aと樹脂充填剤
の表層部10aとの上に、さらに厚さ0.6〜3.0μ
mの無電解めっき膜12bを形成した(図7(d)参
照)。この工程により、スルーホール29の上に蓋めっ
き層を形成することができた。
(9) Next, a palladium catalyst (manufactured by Atotech Co.) was applied to the surface layer 10a of the resin filler, whereby catalyst nuclei were attached to the surface layer 10a of the resin filler.
Further, electroless plating is performed under the same conditions as in (6) above,
On the electroless plating film 12a formed in the above (6) and the surface portion 10a of the resin filler, a thickness of 0.6 to 3.0 μm is further added.
m of the electroless plating film 12b was formed (see FIG. 7D). By this step, a cover plating layer could be formed on the through hole 29.

【0146】(10)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12bに貼り付け、マスクを載置して、10
0mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶
液で現像処理することにより、厚さ30μmのめっきレ
ジスト3を設けた(図8(a)参照)。
(10) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film 12b, and a mask is placed thereon.
Exposure was performed at 0 mJ / cm 2 , and development was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide a plating resist 3 having a thickness of 30 μm (see FIG. 8A).

【0147】(11)ついで、基板を50℃の水で洗浄して
脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄してか
ら、以下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ20μmの
電解銅めっき膜13を形成した(図8(b)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(11) Next, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to a thickness of 20 μm. Was formed (see FIG. 8B). [Electroplating aqueous solution] sulfuric acid 2.24 mol / l copper sulfate 0.26 mol / l additive 19.5 ml / l (manufactured by Atotech Japan, Capparaside HL) [electroplating conditions] current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0148】(12)めっきレジスト3を5%NaOHで剥
離除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解めっき
膜12a、12bを硫酸と過酸化水素の混合液でエッチ
ング処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解
銅めっき膜13からなる厚さ18μmの導体回路(バイ
アホール7を含む)5を形成した(図8(c)参照)。
(12) After removing and removing the plating resist 3 with 5% NaOH, the electroless plating films 12a and 12b under the plating resist 3 are dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. A conductor circuit (including the via hole 7) 5 having a thickness of 18 μm including the electroless copper plating film 12 and the electrolytic copper plating film 13 was formed (see FIG. 8C).

【0149】(13)(5) と同様の処理を行い、第二銅錯体
と有機酸とを含有するエッチング液によって、粗化面を
形成した(図8(d)参照)。
(13) The same treatment as in (5) was performed, and a roughened surface was formed with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid (see FIG. 8D).

【0150】(14)上記 (6)〜(13)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の導体回路を形成し、多層配線板を
得た(図9(a)〜図10(a)参照)。
(14) By repeating the above steps (6) to (13), a conductor circuit of a further upper layer was formed, and a multilayer wiring board was obtained (see FIGS. 9 (a) to 10 (a)). .

【0151】(15)次に、P原子含有エポキシ樹脂を含む
ソルダーレジスト組成物を以下の方法により調製した。
ジエチレングリコールジメチルエーテル(DMDG)に
60重量%の濃度になるように溶解させた、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂のエポキシ基50%をアクリ
ル化した感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)
46.67重量部、メチルエチルケトンに溶解させた8
0重量%の上記一般式(2)において、X 3 が単結合で
あり、Rがブチル基であるP原子含有エポキシ樹脂6.
67重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E
4MZ−CN)1.6重量部、感光性モノマーである2
官能アクリルモノマー(日本化薬社製、R604)4.
5重量部、同じく多価アクリルモノマー(共栄化学社
製、DPE6A)1.5重量部、アクリル酸エステル重
合物からなるレベリング剤(共栄化学社製、ポリフロー
No.75)0.36重量部を容器にとり、攪拌、混合
して混合組成物を調製し、この混合組成物に対して光重
合開始剤としてベンゾフェノン(関東化学社製)2.0
重量部、光増感剤としてミヒラーケトン(関東化学社
製)0.2重量部、DMDG0.6重量部を加えること
により、粘度を25℃で1.4±0.3Pa・sに調整
したソルダーレジスト組成物を調製した。
(15) Next, a P atom-containing epoxy resin is contained
A solder resist composition was prepared by the following method.
Diethylene glycol dimethyl ether (DMDG)
Cresol dissolved to a concentration of 60% by weight
50% epoxy group of novolak epoxy resin
Oligomerized photosensitizer (molecular weight: 4000)
8 dissolved in 46.67 parts by weight of methyl ethyl ketone
In the above general formula (2) at 0% by weight, X Three Is a single bond
5. a P atom-containing epoxy resin in which R is a butyl group;
67 parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, 2E
4MZ-CN) 1.6 parts by weight, photosensitive monomer 2
3. Functional acrylic monomer (Nippon Kayaku Co., Ltd., R604)
5 parts by weight, also polyvalent acrylic monomer (Kyoei Chemical Co., Ltd.)
DPE6A) 1.5 parts by weight, acrylic acid ester
Leveling agent consisting of compound (Polyflow, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.)
No. 75) Place 0.36 parts by weight in a container, stir and mix
To prepare a mixed composition,
Benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co.) 2.0 as a coalescence initiator
Parts by weight, Michler's ketone (Kanto Chemical Co., Ltd.)
0.2 parts by weight and 0.6 parts by weight of DMDG
Adjusts the viscosity to 1.4 ± 0.3 Pa · s at 25 ° C
The prepared solder resist composition was prepared.

【0152】(16)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で20分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト組成物
の層に密着させて900mJ/cm2 の紫外線で露光
し、純水現像処理し、125μmの直径の開口を形成し
た。そして、さらに、3000mJ/cm2 の条件でU
Vキュアし、80℃で1時間、100℃で1時間、12
0℃で1時間、150℃で3時間の条件でそれぞれ加熱
処理を行ってソルダーレジスト組成物の層を硬化させ、
開口を有し、その厚さが25μmのソルダーレジスト層
14を形成した。
(16) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm.
After performing a drying process under the conditions of 20 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 20 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the solder resist opening is drawn is brought into close contact with the layer of the solder resist composition to 900 mJ / cm. The resultant was exposed to ultraviolet light of No. 2 and subjected to pure water development to form an opening having a diameter of 125 μm. Then, under the condition of 3000 mJ / cm 2 , U
V cure, 80 ° C for 1 hour, 100 ° C for 1 hour, 12
Heat treatment is performed at 0 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 3 hours to cure the layer of the solder resist composition,
The solder resist layer 14 having an opening and a thickness of 25 μm was formed.

【0153】(17)次に、ソルダーレジスト層14を形成
した基板を、塩化ニッケル(2.3×10-1mol/
l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8×10-1mol/
l)、クエン酸ナトリウム(1.6×10-1mol/
l)を含むpH=4.5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(7.6×10-3mol/l)、塩化アンモニウム
(1.9×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム
(1.2×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム
(1.7×10-1mol/l)を含む無電解金めっき液
に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッケルめっき
層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層16を形成
した。
(17) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 was formed was coated with nickel chloride (2.3 × 10 -1 mol / mol).
l), sodium hypophosphite (2.8 × 10 −1 mol /
l), sodium citrate (1.6 × 10 −1 mol /
2) in the electroless nickel plating solution having pH = 4.5 containing l)
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Furthermore, the substrate gold potassium cyanide (7.6 × 10 -3 mol / l ), ammonium chloride (1.9 × 10 -1 mol / l ), sodium citrate (1.2 × 10 -1 mol / l), immersed in an electroless gold plating solution containing sodium hypophosphite (1.7 × 10 -1 mol / l) for 7.5 minutes at 80 ° C. A gold plating layer 16 of 0.03 μm was formed.

【0154】(18)この後、基板のICチップを載置する
面のソルダーレジスト層14の開口に、スズ−鉛を含有
するはんだペーストを印刷し、さらに他方の面のソルダ
ーレジスト層14の開口にスズ−アンチモンを含有する
はんだペーストを印刷し、該はんだペーストにピンを載
置した後、200℃でリフローすることにより、ICチ
ップを載置する面にはんだバンプ(はんだ体)17を形
成し、他方の面にはPGAを形成し、多層配線プリント
基板を製造した(図10(b)参照)。
(18) Thereafter, a solder paste containing tin-lead is printed on the opening of the solder resist layer 14 on the surface of the substrate on which the IC chip is to be mounted, and the opening of the solder resist layer 14 on the other surface is further printed. A solder paste containing tin-antimony is printed on the solder paste, pins are placed on the solder paste, and reflow is performed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17 on the surface on which the IC chip is placed. PGA was formed on the other surface, and a multilayer wiring printed board was manufactured (see FIG. 10B).

【0155】実施例3 実施例1の(15)の工程において、さらに、無機フィラー
として、球状シリカで平均粒径1.0μmのものを10
重量部加えて、ソルダーレジスト組成物を調製した以外
は、実施例1と同様にして多層プリント配線板を製造し
た。
Example 3 In step (15) of Example 1, spherical silica having an average particle size of 1.0 μm was further used as an inorganic filler.
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a solder resist composition was prepared in addition to parts by weight.

【0156】実施例4 実施例1の(15)の工程において、さらに、無機フィラー
として、球状シリカで平均粒径1.0μmのものを10
重量部加えて、ソルダーレジスト組成物を調製した以外
は、実施例1と同様にして多層プリント配線板を製造し
た。
Example 4 In the step (15) of Example 1, a spherical silica having an average particle size of 1.0 μm was further added as an inorganic filler.
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a solder resist composition was prepared in addition to parts by weight.

【0157】比較例1 ソルダーレジスト組成物として、ジエチレングリコール
ジメチルエーテル(DMDG)に60重量%の濃度にな
るように溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ
樹脂(日本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化
した感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)4
6.67重量部、メチルエチルケトンに溶解させた80
重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル
社製、エピコート1001)6.67重量部、イミダゾ
ール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ−CN)1.6
重量部、感光性モノマーである2官能アクリルモノマー
(日本化薬社製、R604)4.5重量部、同じく多価
アクリルモノマー(共栄化学社製、DPE6A)1.5
重量部、アクリル酸エステル重合物からなるレベリング
剤(共栄化学社製、ポリフローNo.75)0.36重
量部を容器にとり、攪拌、混合して混合組成物を調製
し、この混合組成物に対して光重合開始剤としてベンゾ
フェノン(関東化学社製)2.0重量部、光増感剤とし
てミヒラーケトン(関東化学社製)0.2重量部、DM
DG0.6重量部を加えることにより、粘度を25℃で
1.4±0.3Pa・sに調整したソルダーレジスト組
成物を調製した以外は、実施例1と同様にして多層プリ
ント配線板を製造した。
Comparative Example 1 As a solder resist composition, 50% by weight of an epoxy group of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) to a concentration of 60% by weight was acrylic. Photosensitized oligomer (molecular weight: 4000) 4
6.67 parts by weight of 80 dissolved in methyl ethyl ketone
6.67 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., Epicoat 1001) of 1.6% by weight, and an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd., 2E4MZ-CN) 1.6% by weight.
Part by weight, 4.5 parts by weight of a bifunctional acrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), which is a photosensitive monomer, and 1.5 parts of a polyvalent acrylic monomer (DPE6A, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.)
0.36 parts by weight of a leveling agent (manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd., Polyflow No. 75) composed of an acrylic ester polymer is placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition. 2.0 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photopolymerization initiator, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer, DM
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a solder resist composition having a viscosity adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · s at 25 ° C. was prepared by adding 0.6 parts by weight of DG. did.

【0158】比較例2 ソルダーレジスト組成物として、比較例1と同様のソル
ダーレジスト組成物を調製した以外は、実施例2と同様
にして多層プリント配線板を製造した。
Comparative Example 2 A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 2, except that the same solder resist composition as in Comparative Example 1 was prepared.

【0159】つぎに、実施例1〜4および比較例1〜2
で製造した多層プリント配線板について、以下の方法に
より、難燃性、開口性、ソルダーレジスト層と導体回路
間での剥離の発生やソルダーレジスト層でのクラックの
発生の有無を評価し、結果を表1に示した。
Next, Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 2
The multilayer printed wiring board manufactured in the above was evaluated by the following methods for flame retardancy, opening properties, the occurrence of peeling between the solder resist layer and the conductor circuit and the occurrence of cracks in the solder resist layer, and the results were evaluated. The results are shown in Table 1.

【0160】評価方法 (1)難燃性の評価 UL94の規格に準拠して、多層プリント配線板をカッ
トして垂直法により難燃性試験を行い、以下の評価基準
で評価する。なお、試験片の寸法は、12.7mm×1
27mm×指定厚さとした。
[0160]Evaluation method  (1) Evaluation of flame retardancy The multilayer printed wiring board is cut in accordance with UL94 standard.
And perform a flame retardancy test by the vertical method.
To evaluate. The dimensions of the test piece were 12.7 mm × 1
27 mm × specified thickness.

【0161】評価基準 ○:94V−0の判定基準に合格。 ×:94V−0の判定基準に不合格。Evaluation Criteria :: Passed the criterion of 94V-0. X: Failure of the criteria of 94V-0.

【0162】(2)開口性の評価 実施例1〜4および比較例1〜2で、ソルダーレジスト
層に開口を形成し、硬化させた後、開口部にめっき層を
形成する前に開口の形状を顕微鏡観察し、さらに、多層
プリント配線板の製造終了後、該多層プリント配線板の
半田バンプが形成されている部分で切断し、切断した断
面を顕微鏡で観察することにより、ソルダーレジスト層
に形成した開口の断面の形状を顕微鏡観察し、以下の評
価基準で評価する。
(2) Evaluation of Opening Properties In Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2, after forming an opening in the solder resist layer and curing the same, the shape of the opening before forming a plating layer in the opening was determined. Is observed under a microscope, and further, after the production of the multilayer printed wiring board is completed, the multilayer printed wiring board is cut at a portion where solder bumps are formed, and the cut cross section is observed under a microscope to form a solder resist layer. The cross-sectional shape of the opening thus formed is observed with a microscope and evaluated according to the following evaluation criteria.

【0163】評価基準 ○:平面視した開口の形状が所望のものであり、開口か
ら露出した導体回路表面に樹脂残りがない。 ×:開口の形状が先細り形状となっており、開口から露
出した導体回路表面に樹脂残りがあるか、または、未開
口である。
Evaluation Criteria 開口: The shape of the opening in plan view is desired, and there is no resin residue on the conductor circuit surface exposed from the opening. ×: The shape of the opening is tapered, and there is a resin residue on the surface of the conductor circuit exposed from the opening, or the opening is unopened.

【0164】(3)剥離やクラックの発生の有無の観察 上記(2)と同様にして、多層プリント配線板を切断
し、その断面を顕微観察することにより、ソルダーレジ
スト層と導体回路との間で剥離が発生しているか否かを
観察し、さらに、ソルダーレジスト層でクラックが発生
しているか否かを観察する。また、上記多層プリント配
線板について、−65℃の雰囲気下に3分間維持した
後、130℃の雰囲気下で3分間維持するサイクルを1
000回繰り返すヒートサイクル試験を行い、その後、
上記と同様にして、ソルダーレジスト層と導体回路との
間で剥離が発生しているか否かを観察し、さらに、ソル
ダーレジスト層でクラックが発生しているか否かを観察
する。
(3) Observation of Existence of Peeling or Cracking In the same manner as in (2) above, the multilayer printed wiring board is cut, and the cross section thereof is microscopically observed, whereby the gap between the solder resist layer and the conductor circuit is obtained. To observe whether peeling has occurred, and to observe whether cracks have occurred in the solder resist layer. In addition, the above-mentioned multilayer printed wiring board is maintained at a temperature of −65 ° C. for 3 minutes and then maintained at a temperature of 130 ° C. for 3 minutes.
000 times repeated heat cycle test, then
In the same manner as above, it is observed whether or not peeling has occurred between the solder resist layer and the conductor circuit, and further, whether or not cracks have occurred in the solder resist layer.

【0165】[0165]

【表1】 [Table 1]

【0166】表1に示したように、実施例1〜4で製造
した多層プリント配線板は、UL94の試験規格におけ
る94V−0の判定基準に合格するものである。また、
該多層プリント配線板に形成されたソルダーレジスト層
は、開口性に優れ、クラックが発生したり、導体回路と
の間に剥離が発生したりすることがない。これに対し
て、比較例1〜2で製造した多層プリント配線板は、燃
焼時間が長いため、94V−0の判定基準に合格せず、
難燃性に劣るものである。
As shown in Table 1, the multilayer printed wiring boards manufactured in Examples 1 to 4 pass the 94V-0 criterion in the UL94 test standard. Also,
The solder resist layer formed on the multilayer printed wiring board has excellent opening properties, and does not cause cracks or peeling off from the conductor circuit. In contrast, the multilayer printed wiring boards manufactured in Comparative Examples 1 and 2 did not pass the 94V-0 criterion because of the long burning time,
It is inferior in flame retardancy.

【0167】[0167]

【発明の効果】以上説明したように本発明の多層プリン
ト配線板は、難燃性に優れ、ソルダーレジスト層と導体
回路との密着性が高く、また、所望の形状の開口が形成
されたソルダーレジスト層を有する。
As described above, the multilayer printed wiring board of the present invention is excellent in flame retardancy, has high adhesion between the solder resist layer and the conductor circuit, and has a solder hole having a desired shape. It has a resist layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図6】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 6A to 6D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図7】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 7A to 7D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図8】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 8A to 8D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図9】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 9A to 9C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図10】(a)〜(b)は、本発明の多層プリント配
線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 10A and 10B are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 層間樹脂絶縁層(粗化面形成用樹脂層) 3 めっきレジスト 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9、29 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填剤 12 無電解銅めっき層 12a Ni金属層 12b Cu金属層 13 電気めっき層 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき層 16 金めっき層 17 はんだバンプ 19 はんだ 20 ピン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Interlayer resin insulation layer (resin layer for forming a roughened surface) 3 Plating resist 4 Lower layer conductor circuit 4a Roughened surface 5 Conductor circuit 6 Opening for via hole 7 Via hole 8 Copper foil 9, 29 Through hole 9a Roughened surface DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Resin filler 12 Electroless copper plating layer 12a Ni metal layer 12b Cu metal layer 13 Electroplating layer 14 Solder resist layer 15 Nickel plating layer 16 Gold plating layer 17 Solder bump 19 Solder 20 pin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 豊田 幸彦 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社大垣北工場 Fターム(参考) 4J036 AD08 AD22 DC41 EA02 EA03 EA09 FA03 FA05 FB03 HA02 JA10 5E314 AA25 AA27 AA32 AA42 BB06 EE02 FF05 FF17 GG26 5E346 CC04 CC09 CC10 CC12 CC14 CC16 CC32 DD25 DD47 EE39 FF07 FF13 GG15 GG27 HH40 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Yukihiko Toyoda 1-1, Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture Ibiden Ogaki-kita Plant F-term (reference) 4J036 AD08 AD22 DC41 EA02 EA03 EA09 FA03 FA05 FB03 HA02 JA10 5E314 AA25 AA27 AA32 AA42 BB06 EE02 FF05 FF17 GG26 5E346 CC04 CC09 CC10 CC12 CC14 CC16 CC32 DD25 DD47 EE39 FF07 FF13 GG15 GG27 HH40

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に導体回路と樹脂絶縁層とが順次
形成され、最外層にソルダーレジスト層が形成された多
層プリント配線板であって、前記ソルダーレジスト層
は、P原子含有エポキシ樹脂を含むことを特徴とする多
層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board in which a conductor circuit and a resin insulating layer are sequentially formed on a substrate, and a solder resist layer is formed on an outermost layer, wherein the solder resist layer is made of a P atom-containing epoxy resin. A multilayer printed wiring board characterized by including:
【請求項2】 前記P原子含有エポキシ樹脂は、2価の
リン酸残基を有し、かつ、両末端にエポキシ基を有する
エポキシ樹脂である請求項1記載の多層プリント配線
板。
2. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein said P-atom-containing epoxy resin is an epoxy resin having a divalent phosphoric acid residue and having epoxy groups at both ends.
【請求項3】 前記2価のリン酸残基を有し、かつ、両
末端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂は、下記一般式
(1) 【化1】 (式中、X1 、X2 は、それぞれ、O、または、単結合
を表す。)で表されるエポキシ樹脂である請求項2記載
の多層プリント配線板。
3. The epoxy resin having a divalent phosphoric acid residue and having epoxy groups at both ends is represented by the following general formula (1). 3. The multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein X 1 and X 2 each represent O or a single bond. 3.
【請求項4】 前記P原子含有エポキシ樹脂は、片末端
に1価のリン酸残基を有し、他の片末端にエポキシ基を
有するエポキシ樹脂である請求項1記載の多層プリント
配線板。
4. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the P atom-containing epoxy resin is an epoxy resin having a monovalent phosphoric acid residue at one end and an epoxy group at the other end.
【請求項5】 前記片末端に1価のリン酸残基を有し、
他の片末端にエポキシ基を有するエポキシ樹脂は、下記
一般式(2) 【化2】 (式中、X3 は、O、または、単結合を表し、Rは、炭
素数2〜8のアルキル基を表す。)で表されるエポキシ
樹脂である請求項4記載の多層プリント配線板。
5. A monovalent phosphate residue at one end,
The other epoxy resin having an epoxy group at one terminal is represented by the following general formula (2): 5. The multilayer printed wiring board according to claim 4, wherein X 3 is O or a single bond, and R represents an alkyl group having 2 to 8 carbon atoms.
【請求項6】 前記ソルダーレジスト層は、ケイ素化合
物、アルミニウム化合物およびマグネシウム化合物から
なる群より選択される少なくとも一種を含む請求項1〜
5のいずれか1に記載の多層プリント配線板。
6. The solder resist layer contains at least one selected from the group consisting of a silicon compound, an aluminum compound and a magnesium compound.
5. The multilayer printed wiring board according to any one of 5.
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