JP2001291855A - 固体撮像素子 - Google Patents
固体撮像素子Info
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- JP2001291855A JP2001291855A JP2000144093A JP2000144093A JP2001291855A JP 2001291855 A JP2001291855 A JP 2001291855A JP 2000144093 A JP2000144093 A JP 2000144093A JP 2000144093 A JP2000144093 A JP 2000144093A JP 2001291855 A JP2001291855 A JP 2001291855A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solid
- image pickup
- sensitivity
- state image
- pickup element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 この発明は、デジタルカメラ等で使用する
固体撮像素子の感度を向上する技術に関するものであ
る。 【解決手段】CCD(電荷結合素子)またはCMOS
(相補性金属酸化膜半導体)センサの受光面に2酸化チ
タン等の光触媒の薄膜を形成するか、2酸化チタン等の
光触媒の微粉末を混入したポリマーを塗布して、撮像感
度を向上する。
固体撮像素子の感度を向上する技術に関するものであ
る。 【解決手段】CCD(電荷結合素子)またはCMOS
(相補性金属酸化膜半導体)センサの受光面に2酸化チ
タン等の光触媒の薄膜を形成するか、2酸化チタン等の
光触媒の微粉末を混入したポリマーを塗布して、撮像感
度を向上する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、デジタルカメラ
等で使用する固体撮像素子の感度を向上する技術に関す
るものである。
等で使用する固体撮像素子の感度を向上する技術に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、デジタルカメラに使用されるCC
Dでは光量が少ない環境での撮像感度が十分でないた
め、電気的に信号を増幅して感度を向上していたが、雑
音も同時に増幅されるために、フィルタにより信号対雑
音比を向上させるなどのコスト増加を招いていた。ま
た、CMOSセンサを撮像素子として用いる場合には、
CCDに比べて感度が低く雑音の除去が非常に困難であ
った。
Dでは光量が少ない環境での撮像感度が十分でないた
め、電気的に信号を増幅して感度を向上していたが、雑
音も同時に増幅されるために、フィルタにより信号対雑
音比を向上させるなどのコスト増加を招いていた。ま
た、CMOSセンサを撮像素子として用いる場合には、
CCDに比べて感度が低く雑音の除去が非常に困難であ
った。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このため撮影画素数が
増加する程、1画素あたりの受光面積が減少するため、
高感度で低雑音の固体撮像素子の製造が困難である。C
MOSセンサはCCDに比べて製造コストが低減できる
可能性があり、低価格で高感度な撮像素子の実現が求め
られている。本発明は、CCDやCMOSセンサの受光
面に光触媒の薄膜を配置することで、高感度で低雑音の
固体撮像素子を低価格で製造可能とするために発明され
たものである。
増加する程、1画素あたりの受光面積が減少するため、
高感度で低雑音の固体撮像素子の製造が困難である。C
MOSセンサはCCDに比べて製造コストが低減できる
可能性があり、低価格で高感度な撮像素子の実現が求め
られている。本発明は、CCDやCMOSセンサの受光
面に光触媒の薄膜を配置することで、高感度で低雑音の
固体撮像素子を低価格で製造可能とするために発明され
たものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】いまその解決手段を図面
に従いながら説明すれば、
に従いながら説明すれば、
【0005】光触媒1が固体撮像素子2の受光面に配置
しており、撮影される光はまず光触媒に入射する。入射
した光は光触媒により励起されて、固体撮像素子の出力
信号が増加する。この時、雑音は変化しないので信号対
雑音比が改善される。
しており、撮影される光はまず光触媒に入射する。入射
した光は光触媒により励起されて、固体撮像素子の出力
信号が増加する。この時、雑音は変化しないので信号対
雑音比が改善される。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明において光触媒1は2酸化
チタンなどの光触媒の薄膜を固体撮像素子2の受光面に
直接形成する方法または2酸化チタンなどの光触媒物質
の微粉末を混入したポリマーを受光面に塗布することに
より配置することができる。
チタンなどの光触媒の薄膜を固体撮像素子2の受光面に
直接形成する方法または2酸化チタンなどの光触媒物質
の微粉末を混入したポリマーを受光面に塗布することに
より配置することができる。
【発明の効果】固体撮像素子の面積を増加せずに、撮像
感度と信号対雑音比が向上し、高性能なデジタルカメラ
を低価格にて提供することが可能となる。
感度と信号対雑音比が向上し、高性能なデジタルカメラ
を低価格にて提供することが可能となる。
【図1】本発明の機能ブロック図
1は光触媒 2は固体撮像素子
Claims (1)
- CCD(電荷結合素子)またはCMOS(相補性金属酸
化膜半導体)センサを利用する撮像素子において、その
受光面に2酸化チタン等の光触媒の薄膜を配置した固体
撮像素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000144093A JP2001291855A (ja) | 2000-04-08 | 2000-04-08 | 固体撮像素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000144093A JP2001291855A (ja) | 2000-04-08 | 2000-04-08 | 固体撮像素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001291855A true JP2001291855A (ja) | 2001-10-19 |
Family
ID=18650810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000144093A Pending JP2001291855A (ja) | 2000-04-08 | 2000-04-08 | 固体撮像素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001291855A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8698998B2 (en) * | 2004-06-21 | 2014-04-15 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, method for cleaning member thereof, maintenance method for exposure apparatus, maintenance device, and method for producing device |
US9645505B2 (en) | 2004-06-09 | 2017-05-09 | Nikon Corporation | Immersion exposure apparatus and device manufacturing method with measuring device to measure specific resistance of liquid |
US9958786B2 (en) | 2003-04-11 | 2018-05-01 | Nikon Corporation | Cleanup method for optics in immersion lithography using object on wafer holder in place of wafer |
-
2000
- 2000-04-08 JP JP2000144093A patent/JP2001291855A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9958786B2 (en) | 2003-04-11 | 2018-05-01 | Nikon Corporation | Cleanup method for optics in immersion lithography using object on wafer holder in place of wafer |
US9645505B2 (en) | 2004-06-09 | 2017-05-09 | Nikon Corporation | Immersion exposure apparatus and device manufacturing method with measuring device to measure specific resistance of liquid |
US8698998B2 (en) * | 2004-06-21 | 2014-04-15 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, method for cleaning member thereof, maintenance method for exposure apparatus, maintenance device, and method for producing device |
US8810767B2 (en) | 2004-06-21 | 2014-08-19 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, method for cleaning member thereof, maintenance method for exposure apparatus, maintenance device, and method for producing device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040224 |