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JP2001264672A - Optical polarizing element and method for manufacturing optical polarizing element - Google Patents

Optical polarizing element and method for manufacturing optical polarizing element

Info

Publication number
JP2001264672A
JP2001264672A JP2000072855A JP2000072855A JP2001264672A JP 2001264672 A JP2001264672 A JP 2001264672A JP 2000072855 A JP2000072855 A JP 2000072855A JP 2000072855 A JP2000072855 A JP 2000072855A JP 2001264672 A JP2001264672 A JP 2001264672A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reflecting mirror
region
spring portion
polarizing element
shaped spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000072855A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinji Kaneko
新二 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2000072855A priority Critical patent/JP2001264672A/en
Publication of JP2001264672A publication Critical patent/JP2001264672A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light deflection element capable of high-speed driving having a reflecting mirror with the large effective area and the small moment of inertia, and its manufacturing method. SOLUTION: The optical polarizing element integrally formed of a single crystal semiconductor has a spring part of the shape of a beam serving as the center of the rotation of the optical polarizing element and a reflecting mirror supported by the spring part. The reflecting mirror consists of the first area extended in a vertical direction to the spring part and the second area. The first area and the second area are disposed alternately and the thickness of the first area is formed more thickly than the thickness of the second area.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光偏向素子および
その製造方法に係り、特に、有効面積が大きく、慣性モ
ーメントの小さい反射鏡を有する高速駆動が可能な光偏
向素子およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical deflecting element and a method of manufacturing the same, and more particularly, to an optical deflecting element having a large effective area and a reflecting mirror having a small moment of inertia and capable of high-speed driving and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】光偏向素子の小型化や高性能化を目的と
して、半導体製造技術を応用したいわゆるマイクロマシ
ン技術の適用が数多く試みられている。
2. Description of the Related Art Many attempts have been made to apply a so-called micromachine technique using a semiconductor manufacturing technique in order to reduce the size and enhance the performance of an optical deflection element.

【0003】このような光偏向装置の例として古くは、
特公昭60−5701号公報に開示されているような手
法による従来の技術が知られている。
As an example of such a light deflecting device,
A conventional technique based on a technique as disclosed in Japanese Patent Publication No. 60-5701 is known.

【0004】以下、この従来の技術による光偏向装置の
概要を図10乃至図12を用いて説明する。
Hereinafter, an outline of the conventional optical deflector will be described with reference to FIGS. 10 to 12. FIG.

【0005】すなわち、図10および図11に示すよう
に、この光偏向装置では、シリコン単結晶基板の異方性
エッチングによって、梁状のバネ部101と反射板10
2とが一体に形成された上部基板103を下部基板10
4に接合する。
That is, as shown in FIGS. 10 and 11, in this optical deflector, a beam-shaped spring portion 101 and a reflecting plate 10 are formed by anisotropic etching of a silicon single crystal substrate.
2 is formed integrally with the lower substrate 10
4

【0006】この下部基板104には、断面が三角状の
突起部105を有する窪み部106が形成され、この領
域に駆動電極107と108が形成されている。
The lower substrate 104 has a recess 106 having a projection 105 with a triangular cross section, and drive electrodes 107 and 108 are formed in this region.

【0007】この駆動電極107と108は、梁状のバ
ネ部101を中心軸とする反射板102の両側にそれぞ
れ対向するように配置されている。
The drive electrodes 107 and 108 are arranged so as to oppose both sides of the reflector 102 with the beam-shaped spring portion 101 as a central axis.

【0008】このような形態で、反射板102を接地し
て電極107と108に交互に電圧を印加することによ
り、図12に示すように、静電引力で反射板102を振
動させる。
In this manner, by alternately applying a voltage to the electrodes 107 and 108 while grounding the reflector 102, the reflector 102 is vibrated by electrostatic attraction as shown in FIG.

【0009】このとき、電極107と108に交互に印
加する駆動電圧の周波数を、梁状のバネ部101のバネ
定数と反射板102の慣性モーメントで決まる共振周波
数に合わせることにより、比較的小さい電圧で大きな振
幅を得ることができる。
At this time, by adjusting the frequency of the drive voltage alternately applied to the electrodes 107 and 108 to the resonance frequency determined by the spring constant of the beam-shaped spring portion 101 and the moment of inertia of the reflector 102, a relatively small voltage is applied. , A large amplitude can be obtained.

【0010】以上は駆動に静電引力を用いた例である
が、他の方法として、圧電振動子を用いた光スキャナの
例が、例えば、特開平10−197819号公報に開示
されているような手法による従来の技術として知られて
いる。
The above is an example in which electrostatic attraction is used for driving. As another method, an example of an optical scanner using a piezoelectric vibrator is disclosed in, for example, JP-A-10-197819. It is known as a conventional technique using a simple method.

【0011】以下、この従来の技術による光スキャナの
概要を図13を用いて簡単に説明する。
Hereinafter, an outline of the conventional optical scanner will be briefly described with reference to FIG.

【0012】すなわち、図13に示すように、この光ス
キャナでは、半導体製造技術を用いて、マイクロミラ−
201と、X軸回転支持体となる梁状のバネ部202
と、それらを囲う枠部203とを一体で形成し、その底
面に圧電素子204を取り付けるようにしてい。
That is, as shown in FIG. 13, in this optical scanner, a micro mirror is formed by using a semiconductor manufacturing technique.
201, a beam-shaped spring portion 202 serving as an X-axis rotating support
And a frame 203 surrounding them are integrally formed, and the piezoelectric element 204 is attached to the bottom surface thereof.

【0013】ここで、マイクロミラ−201の重心は、
バネ状の梁部202の軸上からずれた位置になるように
設定されている。
Here, the center of gravity of the micromirror 201 is
The spring-shaped beam portion 202 is set to be shifted from the axis.

【0014】そして、このような光スキャナの駆動は、
圧電素子204を図中のZ軸方向に振動させることによ
ってなされる。
The driving of such an optical scanner is as follows.
This is performed by vibrating the piezoelectric element 204 in the Z-axis direction in the figure.

【0015】このとき、適切な共振状態になるように、
光スキャナの各部の構造を最適化することにより、マイ
クロミラー201を振動させることができる。
At this time, a proper resonance state is obtained.
By optimizing the structure of each part of the optical scanner, the micro mirror 201 can be vibrated.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような特公昭60−5701号公報に開示されている
ような従来の技術による光偏向装置および特開平10−
197819号公報に開示されているような従来の技術
による光スキャナでは、例えば、映像信号の表示のよう
な、特に、大きな振動周波数を要求する用途の光偏向素
子に適用した場合には、次のような幾つかの問題が生じ
る。
However, a light deflecting device according to the prior art as disclosed in Japanese Patent Publication No. Sho 60-5701 and Japanese Patent Laid-Open No.
In an optical scanner according to the related art disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 197819, for example, when applied to an optical deflection element for use requiring a large vibration frequency, for example, for displaying a video signal, the following is required. Several problems arise.

【0017】まず、共振周波数を大きくするためには、
梁状のバネ部101または、梁状のバネ部202の剛性
を高める必要があり、結果として駆動に必要な力を増大
させることになる。
First, in order to increase the resonance frequency,
It is necessary to increase the rigidity of the beam-shaped spring portion 101 or the beam-shaped spring portion 202, and as a result, the force required for driving is increased.

【0018】これを回避するためには、反射板102ま
たは、マイクロミラー201の慣性モーメントを低減し
なければならない。
To avoid this, the moment of inertia of the reflector 102 or the micro mirror 201 must be reduced.

【0019】ここで、一様な厚さtmを有する矩形板状
の反射板(マイクロミラー)の中心軸に対する慣性モー
メントIpは、
Here, the moment of inertia Ip with respect to the central axis of a rectangular plate-like reflecting plate (micromirror) having a uniform thickness tm is:

【0020】[0020]

【数1】 (Equation 1)

【0021】で与えられる。Is given by

【0022】ここで、ρ,c,bは、それぞれ反射板
(マイクロミラー)の密度、軸方向の長さおよび、幅で
ある。
Here, ρ, c, and b are the density, the axial length, and the width of the reflector (micromirror), respectively.

【0023】従って、反射板の大きさ、特に、ミラーの
幅bを小さくすることが慣性モーメントIpを低減する
上で有効である。
Therefore, it is effective to reduce the size of the reflection plate, especially the width b of the mirror, in order to reduce the moment of inertia Ip.

【0024】しかしながら、映像信号の表示などの用途
を考えると、高精細の画像表示に用いるのであれば、光
学系の問題から反射板はある程度大きい方が望ましい。
However, considering applications such as display of video signals, it is desirable that the reflector be somewhat large in view of the optical system if it is used for displaying high-definition images.

【0025】一方で、反射板の厚さtmを薄くすること
でも、慣性モーメントIpを低減するには有効である
が、高速で駆動する反射板ではトルク変動に起因した歪
みが生じる問題があり、厚さtmを薄くすることは、こ
の問題を顕在化させる。
On the other hand, it is effective to reduce the moment of inertia Ip by reducing the thickness tm of the reflector, but there is a problem that a reflector driven at high speed causes distortion due to torque fluctuation. Reducing the thickness tm makes this problem apparent.

【0026】本発明は上記の点に鑑みて成されたもの
で、有効面積が大きく、慣性モーメントの小さい反射鏡
を有する高速駆動が可能な光偏向素子およびその製造方
法を提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide an optical deflecting element having a reflecting mirror having a large effective area and a small moment of inertia, which can be driven at high speed, and a method of manufacturing the same. I have.

【0027】また、慣性モーメントの小さい反射鏡を実
現するには、非常に薄く、内部応力が小さく歪みのない
半導体薄板を形成する必要がある。
Further, in order to realize a reflector having a small moment of inertia, it is necessary to form a semiconductor thin plate which is very thin, has a small internal stress, and has no distortion.

【0028】本発明の他の目的は、上述の要求を満足す
る半導体薄板を安定して製造する手法を採用した光偏向
素子およびその製造方法を提供することである。
Another object of the present invention is to provide an optical deflecting element employing a method for stably producing a semiconductor thin plate satisfying the above-mentioned requirements, and a method for producing the same.

【0029】[0029]

【課題を解決するための手段】本発明によると、上記課
題を解決するために、(1) 単結晶半導体から一体に
形成された光偏光素子であって、上記光偏光素子の回転
中心となる梁状のバネ部と、上記バネ部により支持され
た反射鏡とを有し、上記反射鏡は、上記バネ部に対して
垂直方向に伸びる第1の領域と第2の領域からなり、第
1の領域と第2の領域は交互に配置され、第1の領域の
厚さは第2の領域の厚さよりも厚く形成されていること
を特徴とする光偏光素子が提供される。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, (1) an optical polarization element integrally formed from a single crystal semiconductor, which is a center of rotation of the optical polarization element. A beam-shaped spring portion, and a reflecting mirror supported by the spring portion, wherein the reflecting mirror includes a first region and a second region extending in a direction perpendicular to the spring portion. And the second region are alternately arranged, and the thickness of the first region is formed to be thicker than the thickness of the second region.

【0030】(対応する実施の形態)後述する第1の実
施の形態が該当する。
(Corresponding Embodiment) The first embodiment described below corresponds to this.

【0031】(作用)図1において、反射鏡4が、交互
に配置された厚い領域2と薄い領域3とで構成される。
(Operation) In FIG. 1, the reflecting mirror 4 is composed of thick regions 2 and thin regions 3 which are alternately arranged.

【0032】その反射鏡4の厚さと、厚い領域と薄い領
域との割合を適切に設定することによって、トルク変動
に伴う反射鏡の歪みを増大させることなく、慣性モーメ
ントIpを低下させることが可能である。
By appropriately setting the thickness of the reflecting mirror 4 and the ratio between the thick region and the thin region, the moment of inertia Ip can be reduced without increasing the distortion of the reflecting mirror due to torque fluctuation. It is.

【0033】このことは、同じ共振周波数を得ようとし
た場合は、慣性モーメントIpが小さければその分だけ
粱状のバネ部の剛性を小さくすることができる。
This means that when trying to obtain the same resonance frequency, the rigidity of the beam-shaped spring portion can be reduced by the smaller the moment of inertia Ip.

【0034】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(2) 前記反射鏡の外周形状は前記梁状の
バネ部を軸として対称となっており、前記梁状のバネ部
により分けられた反射鏡の一方の側は他方の側と、前記
第1の領域と第2の領域の面積比が異なっていることを
特徴とする(1)に記載の光偏光素子が提供される。
According to the present invention, in order to solve the above problems, (2) the outer peripheral shape of the reflecting mirror is symmetrical with respect to the beam-shaped spring portion as an axis. The light polarizing element according to (1) is provided, wherein one side of the divided reflecting mirror is different from the other side in an area ratio of the first region and the second region. .

【0035】(対応する実施の形態)後述する第2の実
施の形態が該当する。
(Corresponding Embodiment) A second embodiment described later corresponds to this.

【0036】(作用)図2において、反射鏡4が、交互
に配置された厚い領域2と薄い領域3とで構成され、厚
い領域と薄い領域との割合が、梁状のバネ部の両側で異
なる(1)と同様な効果を、回転中心軸上から重心をず
らす必要のある圧電振動を駆動力とする光偏向素子に対
しても適用することができるまた、本発明によると、上
記課題を解決するために、(3) P型半導体基板にお
ける第1の主面にN型拡散層を形成する第1の工程と、
上記P型半導体基板における第2の主面からアルカリ性
溶液を用いて電気化学エッチングを行い、梁状のバネ部
と、このバネ部によって支持された反射鏡とを一体で形
成する第2の工程と、からなることを特徴とする光偏光
素子の製造方法が提供される。
(Operation) In FIG. 2, the reflecting mirror 4 is composed of thick regions 2 and thin regions 3 alternately arranged, and the ratio of the thick region to the thin region is determined on both sides of the beam-shaped spring portion. The same effect as the difference (1) can also be applied to an optical deflecting element that uses piezoelectric vibration as a driving force that needs to shift the center of gravity from the center axis of rotation. (3) a first step of forming an N-type diffusion layer on a first main surface of a P-type semiconductor substrate;
A second step of performing electrochemical etching from the second main surface of the P-type semiconductor substrate using an alkaline solution to integrally form a beam-shaped spring portion and a reflecting mirror supported by the spring portion; And a method for manufacturing a light polarizing element.

【0037】(対応する実施の形態)後述する第4の実
施の形態が該当する。
(Corresponding Embodiment) The fourth embodiment described below corresponds to this.

【0038】(作用)図4乃至図6において、電気化学
エッチングによって残存されたN型拡散領域52,5
2′,53でもって、反射鏡と粱状のバネ部とが一体に
形成される。
(Operation) In FIGS. 4 to 6, N-type diffusion regions 52 and 5 left by electrochemical etching are shown.
With the 2 ', 53, the reflecting mirror and the beam-shaped spring portion are integrally formed.

【0039】反射鏡の厚さが拡散層の接合深さと、そこ
からバイアス時に発生する空乏層とによって規定される
ので、非常に薄く内部応力の小さい反射鏡を制御性良く
得ることができる。
Since the thickness of the reflector is determined by the junction depth of the diffusion layer and the depletion layer generated at the time of bias from the junction, it is possible to obtain a reflector that is very thin and has a small internal stress with good controllability.

【0040】[0040]

【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態について説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0041】(第1の実施の形態)本発明の第1の実施
の形態による光偏光素子を図1を用いて説明する。
(First Embodiment) A light polarizing element according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0042】すなわち、本発明の第1の実施の形態によ
る光偏光素子は、後述するように、単結晶半導体を電気
化学エッチングすることによって一体に形成されてい
る、梁状のバネ部1と、厚さtm1の厚い領域2および
厚さtm2の薄い領域3とよりなる反射鏡4とを有して
いる。
That is, the light polarizing element according to the first embodiment of the present invention comprises a beam-shaped spring portion 1 integrally formed by electrochemically etching a single crystal semiconductor, as described later, It has a reflecting mirror 4 including a thick region 2 having a thickness tm1 and a thin region 3 having a thickness tm2.

【0043】なお、この図1は、光偏光素子を裏面から
見たもので、少なくとも反射鏡4の表面側は平滑な鏡面
となっている。
FIG. 1 shows the optical polarizing element viewed from the back, and at least the front side of the reflecting mirror 4 has a smooth mirror surface.

【0044】また、特に、図示は省略しているが、前述
した従来の技術による図10や図13の場合と同様に、
反射鏡4の周囲は、半導体基板よりなる枠に支持されて
いるものとする。
Although not shown in particular, similar to the case of FIGS. 10 and 13 according to the prior art described above,
The periphery of the reflecting mirror 4 is assumed to be supported by a frame made of a semiconductor substrate.

【0045】本実施の形態によれば、梁状のバネ部1の
方向のミラーの長さに対する反射鏡4の厚い領域2の割
合をRとすると、
According to the present embodiment, if the ratio of the thick region 2 of the reflecting mirror 4 to the length of the mirror in the direction of the beam-shaped spring portion 1 is R,

【0046】[0046]

【数2】 (Equation 2)

【0047】となる。Is as follows.

【0048】ー方、トルク変動に起因した反射鏡の歪み
εは、反射鏡の剛性がその厚さの自乗に比例するので、
On the other hand, the distortion ε of the reflecting mirror due to the torque fluctuation is because the rigidity of the reflecting mirror is proportional to the square of its thickness.

【0049】[0049]

【数3】 (Equation 3)

【0050】となる。Is as follows.

【0051】ここで、Aは反射鏡の材質のヤング率や駆
動周波数、反射鏡の幅、長さなどによって決まる係数で
ある。
Here, A is a coefficient determined by the Young's modulus and driving frequency of the material of the reflector, the width and length of the reflector, and the like.

【0052】そして、厚さtm1の厚い領域2および厚
さtm2の薄い領域3よりなる本実施の形態の反射鏡4
と、一様な厚さtmの反射鏡との比較において、R=
0.2,tm1=2tm,tm2=tm/2とした場
合、トルク変動に起因した反射鏡の歪みεは変わらない
が、本実施の形態の反射鏡4では、一様な厚さtmの反
射鏡よりも慣性モーメントIpを20%低減することが
できる。
Then, the reflecting mirror 4 of the present embodiment comprising the thick region 2 having a thickness tm1 and the thin region 3 having a thickness tm2.
And a reflector having a uniform thickness tm, R =
When 0.2, tm1 = 2tm, tm2 = tm / 2, the distortion ε of the reflecting mirror caused by the torque fluctuation does not change. However, in the reflecting mirror 4 of the present embodiment, the reflecting mirror 4 having a uniform thickness tm. The moment of inertia Ip can be reduced by 20% compared to a mirror.

【0053】このように、本実施の形態によれば、梁状
のバネ部1に直角な方向において、反射鏡4に厚さの分
布を持たせることによって、その厚さと、厚い領域と薄
い領域の割合を適切に設定することによって、トルク変
動に伴う反射鏡の歪みεを増大させることなく、慣性モ
ーメントIpを低下させることが可能である。
As described above, according to the present embodiment, the thickness of the reflecting mirror 4 is provided in the direction perpendicular to the beam-shaped spring portion 1 so that the thickness, the thick region and the thin region can be obtained. By appropriately setting the ratio, it is possible to reduce the moment of inertia Ip without increasing the distortion ε of the reflector due to the torque fluctuation.

【0054】このことは、同じ共振周波数を得ようとし
た場合は、慣性モーメントIpが小さければ、その分だ
け梁状のバネ部1の剛性を小さくすることができるの
で、駆動に要する力が小さくなり、結果として駆動電圧
の低電圧化や消費電流の低減化を実現することができ
る。
This means that when trying to obtain the same resonance frequency, if the moment of inertia Ip is small, the rigidity of the beam-shaped spring portion 1 can be reduced by that much, so that the force required for driving is small. As a result, the driving voltage can be reduced and the current consumption can be reduced.

【0055】(第2の実施の形態)ところで、図13に
示したような、駆動に圧電振動子を用いるようにした場
合にあっては、反射鏡の重心は回転中心となる梁状のバ
ネ部の軸からずれている必要があるが、このような場合
に適用される第2の実施の形態について、図2を用いて
説明する。
(Second Embodiment) In the case where a piezoelectric vibrator is used for driving, as shown in FIG. 13, the center of gravity of the reflecting mirror is a beam-shaped spring serving as the center of rotation. Although it is necessary to be displaced from the axis of the section, a second embodiment applied in such a case will be described with reference to FIG.

【0056】すなわち、本発明の第2の実施の形態によ
る光偏光素子は、基本的な構成は第1の実施の形態と同
じで、単結晶半導体よりなる梁状のバネ部1と、厚さt
m1の厚い領域2および厚さtm2の薄い領域3よりな
る反射鏡4とが一体に形成されている。
That is, the basic configuration of the light polarizing element according to the second embodiment of the present invention is the same as that of the first embodiment. t
A reflecting mirror 4 including a thick region 2 having a thickness m1 and a thin region 3 having a thickness tm2 is integrally formed.

【0057】なお、この図2は、光偏光素子を裏面から
見たもので、少なくとも反射鏡4の表面側は平滑な鏡面
となっている。
FIG. 2 shows the light polarizing element as viewed from the back, and at least the front side of the reflecting mirror 4 has a smooth mirror surface.

【0058】そして、本発明の第2の実施の形態による
光偏光素子が、第1の実施の形態と異なるのは、厚い領
域2と薄い領域3の割合を、梁状のバネ部1の両側で異
なっている(図2の上側での厚い領域2の割合が、下側
での厚い領域2の割合よりも小さい)ようにしたことで
ある。
The light polarizing element according to the second embodiment of the present invention is different from that of the first embodiment in that the ratio of the thick region 2 to the thin region 3 is different from that of the first embodiment. (The ratio of the thick region 2 on the upper side in FIG. 2 is smaller than the ratio of the thick region 2 on the lower side).

【0059】これによって反射鏡4の重心が梁状のバネ
部1の軸状からずれるので、圧電振動によって反射鏡4
を振動させることが可能となる。
As a result, the center of gravity of the reflecting mirror 4 is displaced from the axis of the beam-shaped spring portion 1, and the reflecting mirror 4 is moved by piezoelectric vibration.
Can be vibrated.

【0060】(第3の実施の形態)次に、本発明の第3
の実施の形態について、図3を用いて説明する。
(Third Embodiment) Next, a third embodiment of the present invention will be described.
The embodiment will be described with reference to FIG.

【0061】すなわち、本発明の第3の実施の形態によ
る光偏光素子は、後述する電気化学エッチングによって
形成された単結晶半導体よりなる梁状のバネ部1と、厚
い領域2および薄い領域3よりなる一体に形成された反
射鏡4とが、それぞれ、並列に複数配置されている。
That is, the light polarizing element according to the third embodiment of the present invention has a beam-shaped spring portion 1 made of a single crystal semiconductor formed by electrochemical etching, which will be described later, and a thick region 2 and a thin region 3. And a plurality of reflecting mirrors 4 formed integrally with each other.

【0062】なお、この図3は、光偏光素子を裏面から
見たもので、少なくとも各反射鏡4の表面側は平滑な鏡
面となっている。
FIG. 3 shows the light polarizing element as viewed from the back, and at least the front side of each reflecting mirror 4 has a smooth mirror surface.

【0063】特に、図示しないが、これらの複数の反射
鏡4は、静電引力もしくは圧電振動による共振などによ
って同位相で駆動され、実質的に面積の大きい一つの反
射鏡4と同様に機能する。
In particular, although not shown, the plurality of reflecting mirrors 4 are driven in the same phase by resonance due to electrostatic attraction or piezoelectric vibration, and function similarly to one reflecting mirror 4 having a substantially large area. .

【0064】この場合、梁状のバネ部1の軸に直角な方
向の個々の反射鏡4の幅を、一つの反射鏡で構成する場
合と比較して非常に小さくすることができる。
In this case, the width of each reflecting mirror 4 in a direction perpendicular to the axis of the beam-shaped spring portion 1 can be made very small as compared with the case where one reflecting mirror is used.

【0065】上述したように、反射鏡の慣性モーメント
Ipは、反射鏡の幅の3乗に比例するので、本実施の形
態のような構成を取ることによって、反射鏡4の慣性モ
ーメントIpを大幅に低減することができる。
As described above, the moment of inertia Ip of the reflecting mirror is proportional to the cube of the width of the reflecting mirror. Therefore, by adopting the configuration as in the present embodiment, the moment of inertia Ip of the reflecting mirror 4 is greatly reduced. Can be reduced.

【0066】また、これによって、本実施の形態では、
梁状のバネ部1の剛性を小さくすることができるので、
結果として駆動に必要な力を減らすことができる。
Also, in this embodiment,
Since the rigidity of the beam-shaped spring portion 1 can be reduced,
As a result, the force required for driving can be reduced.

【0067】また、本実施の形態による光偏光素子を図
10に示したように駆動に静電引力を用いる場合にあっ
ては、同じ電極間距離であっても振れ角を大きく取れる
副次的なメリットも生じる。
In the case where the optical polarizing element according to the present embodiment uses an electrostatic attraction for driving as shown in FIG. 10, a secondary deflection that can provide a large deflection angle even at the same distance between the electrodes. Significant benefits also arise.

【0068】(第4の実施の形態)次に、上述した第1
乃至第3の実施の形態による各光偏向素子の製造方法に
ついて、第4の実施の形態として図4乃至図6を用いて
説明する。
(Fourth Embodiment) Next, the first embodiment will be described.
A method of manufacturing each light deflecting element according to the third to third embodiments will be described as a fourth embodiment with reference to FIGS.

【0069】ここで、図4の(a)は、本発明による光
偏向素子の要部の正面図であり、図4の(b)は、図4
の(a)のA−A′断面図である。
FIG. 4A is a front view of a main part of the optical deflecting element according to the present invention, and FIG.
(A) is an AA ′ sectional view of FIG.

【0070】すなわち、図4の(a)および図4の
(b)に示すように、P型半導体基板51の表面側の所
定領域に深いN型拡散層52と浅いN型拡散層53とを
形成し、表面側にポリイミド等の保護膜54を形成す
る。
That is, as shown in FIGS. 4A and 4B, a deep N-type diffusion layer 52 and a shallow N-type diffusion layer 53 are formed in a predetermined region on the surface side of a P-type semiconductor substrate 51. Then, a protective film 54 of polyimide or the like is formed on the surface side.

【0071】一方、P型半導体基板51の裏面側には、
後の工程で枠として残す領域にシリコン窒化膜55を形
成する。
On the other hand, on the back side of the P-type semiconductor substrate 51,
A silicon nitride film 55 is formed in a region left as a frame in a later step.

【0072】次に、図5に示すように、シリコン窒化膜
55をマスクパターンとして、N型拡散層52および5
3に正電圧を印加した状態で、アルカリ性水溶液によっ
て電気化学エッチングを行うことにより、N型拡散層5
2および53の領域を選択的に残存させる。
Next, as shown in FIG. 5, using the silicon nitride film 55 as a mask pattern, the N-type diffusion layers 52 and 5 are formed.
By performing electrochemical etching with an alkaline aqueous solution while a positive voltage is applied to the N-type diffusion layer 3,
Areas 2 and 53 are selectively left.

【0073】この残存させる領域が上述した各実施の形
態における反射鏡4部に相当するのであるが、裏面側に
はN型拡散層52および53の接合深さに応じた厚さの
差が生じる。
The region to be left corresponds to the reflecting mirror 4 in each of the above-described embodiments, but a difference in thickness occurs on the back surface in accordance with the junction depth of the N-type diffusion layers 52 and 53. .

【0074】この工程の後で、図6に示すようにポリイ
ミド等より成る表面保護膜54を酸素プラズマエッチン
グ等の方法で除去して、厚いN型拡散層52の、梁状の
バネ部1に対応する領域52′(図4の(a)参照)
に、先のシリコン窒化膜55によってアルカリ性水溶液
による電気化学エッチング工程で残存した枠部51′に
支持された反射鏡4を得る。
After this step, as shown in FIG. 6, the surface protection film 54 made of polyimide or the like is removed by a method such as oxygen plasma etching or the like, so that the beam-like spring portion 1 of the thick N-type diffusion layer 52 is formed. Corresponding area 52 '(see FIG. 4A)
Then, the reflecting mirror 4 supported by the frame portion 51 'remaining in the electrochemical etching step using the alkaline aqueous solution by the silicon nitride film 55 is obtained.

【0075】この方法では、反射鏡4の厚さが拡散層の
接合深さとそこからバイアス時に発生する空乏層によっ
て規定されるので、非常に薄くしかも単結晶基板がその
まま薄膜化していることから、内部応力の小さい反射鏡
4を制御性良く得ることができるようになる。
In this method, the thickness of the reflecting mirror 4 is determined by the junction depth of the diffusion layer and the depletion layer generated at the time of biasing from the diffusion layer. The reflecting mirror 4 having a small internal stress can be obtained with good controllability.

【0076】加えて、深いN型拡散層52と浅いN型拡
散層53との厚さの差を拡散層の接合深さによって規定
することができるので、非常に薄い反射鏡4であっても
高い精度で形成することができる。
In addition, since the difference in thickness between the deep N-type diffusion layer 52 and the shallow N-type diffusion layer 53 can be defined by the junction depth of the diffusion layer, even a very thin reflecting mirror 4 can be used. It can be formed with high accuracy.

【0077】(第5の実施の形態)次に、第4の実施の
形態の変形例として、第5の実施の形態について、図7
乃至図9を用いて説明する。
(Fifth Embodiment) Next, as a modification of the fourth embodiment, a fifth embodiment will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIGS.

【0078】ここで、図7の(a)は、本発明による光
偏向素子の要部の正面図であり、図7の(b)は、図7
の(a)のA−A′断面図である。
FIG. 7A is a front view of a main part of the optical deflecting element according to the present invention, and FIG.
(A) is an AA ′ sectional view of FIG.

【0079】すなわち、図7の(a)および図7の
(b)に示すように、低濃度のP型半導体基板61の表
面側の所定領域にN型拡散層62と高濃度のP型埋め込
み拡散層63を形成し、表面側にポリイミド等の保護膜
54を形成する。
That is, as shown in FIGS. 7A and 7B, an N-type diffusion layer 62 and a high-concentration P-type A diffusion layer 63 is formed, and a protective film 54 of polyimide or the like is formed on the surface side.

【0080】一方、P型半導体基板61の裏面側には後
の工程で枠として残す領域にシリコン窒化膜55を形成
する。
On the other hand, a silicon nitride film 55 is formed on the back surface of the P-type semiconductor substrate 61 in a region to be left as a frame in a later step.

【0081】次に、図8に示すように、シリコン窒化膜
55をマスクパターンとして、N型拡散層62に正電圧
を印加した状態でアルカリ性水溶液で電気化学エッチン
グを行い、N型拡散層62とそこから低濃度のP型半導
体基板61に発生した空乏層(図示せず)に対応した領
域が選択的に残存する。
Next, as shown in FIG. 8, using the silicon nitride film 55 as a mask pattern, electrochemical etching is performed with an alkaline aqueous solution in a state where a positive voltage is applied to the N-type diffusion layer 62, and the N-type diffusion layer 62 is formed. A region corresponding to a depletion layer (not shown) generated in the low-concentration P-type semiconductor substrate 61 therefrom selectively remains.

【0082】このき、高濃度の埋め込み拡散層63が形
成された領域では、空乏層の伸びが抑制されるので、こ
の領域の残存部の厚さが小さくなる結果として、図9に
示すように、第4の実施の形態の場合と同様な形状の反
射鏡4が得られる。
At this time, in the region where the high-concentration buried diffusion layer 63 is formed, the extension of the depletion layer is suppressed, so that the thickness of the remaining portion in this region is reduced, as shown in FIG. Thus, a reflecting mirror 4 having a shape similar to that of the fourth embodiment can be obtained.

【0083】なお、図7の(a)において、参照符号6
2′は、厚いN型拡散層62の、梁状のバネ部1に対応
する領域である。
In FIG. 7A, reference numeral 6
2 'is a region of the thick N-type diffusion layer 62 corresponding to the beam-shaped spring portion 1.

【0084】また、図8および図9において、参照符号
61′は、電気化学エッチング工程で残存した枠部であ
る。
In FIGS. 8 and 9, reference numeral 61 'denotes a frame portion left in the electrochemical etching step.

【0085】そして、上述したような実施の形態で示し
た本明細書には、特許請求の範囲に示した請求項1乃至
3以外にも、以下に付記1乃至付記5として示すような
発明が含まれている。
In the present specification described in the above-described embodiment, in addition to claims 1 to 3 described in the claims, the inventions described as appendices 1 to 5 below will be described. include.

【0086】(付記1) 単結晶半導体から一体に形成
された光偏光素子であって、前記光偏光素子の回転中心
となる梁状のバネ部とこのバネ部により支持された反射
鏡とを有し、前記反射鏡の前記梁状のバネ部と平行方向
の長さが垂直な方向よりも長く、前記反射鏡が同一平面
を形成するように複数配置されていることを特徴とする
光偏光素子。
(Supplementary Note 1) An optical polarization element integrally formed from a single crystal semiconductor, comprising a beam-shaped spring portion serving as a rotation center of the optical polarization element, and a reflecting mirror supported by the spring portion. A length of a direction parallel to the beam-shaped spring portion of the reflecting mirror is longer than a direction perpendicular to the beam-shaped spring portion, and a plurality of the reflecting mirrors are arranged so as to form the same plane; .

【0087】(対応する実施の形態)第3の実施の形態
が該当する。
(Corresponding Embodiment) The third embodiment corresponds to the third embodiment.

【0088】(付記2) P型半導体基板の第1の主面
に深いN型拡散層と浅いN型拡散層を形成する第1の工
程と、前記P型半導体基板の第2の主面からアルカリ性
溶掖を用いて電気化学エッチングを行い、梁状のバネ部
と、このバネ部によって支持された反射鏡を一体で形成
する第2の工程と、からなることを特徴とする光偏光素
子の製造方法。
(Supplementary Note 2) A first step of forming a deep N-type diffusion layer and a shallow N-type diffusion layer on a first main surface of a P-type semiconductor substrate, and from a second main surface of the P-type semiconductor substrate. Electrochemical etching using an alkaline solution, and a second step of integrally forming a beam-shaped spring portion and a reflecting mirror supported by the spring portion. Production method.

【0089】(対応する実施の形態)第4の実施の形態
が該当する。
(Corresponding Embodiment) The fourth embodiment corresponds to this.

【0090】(付記3) P型半導体基板の第1の主面
にN型拡散層とP型埋め込み拡散層を形成する第1の工
程と、前記P型半導体基板の第2の主面からアルカリ性
溶液を用いて電気化学エッチングを行い、梁状のバネ部
と、このバネ部によって支持された反射鏡を一体で形成
する第2の工程と、からなることを特徴とする光偏光素
子の製造方法。
(Supplementary Note 3) A first step of forming an N-type diffusion layer and a P-type buried diffusion layer on a first main surface of a P-type semiconductor substrate; A method of manufacturing an optical polarization element, comprising: performing electrochemical etching using a solution to form a beam-shaped spring portion and a reflecting mirror integrally supported by the spring portion. .

【0091】(対応する実施の形態)第5の実施の形態
が該当する。
(Corresponding Embodiment) The fifth embodiment corresponds to the fifth embodiment.

【0092】(付記4) P型半導体基板の第1の主面
に深いN型拡散層と浅いN型拡散層を形成する第1の工
程と、前記P型半導体基板の第2の主面に保護膜を形成
する第2の工程と、前記P型半導体基板の第2の主面に
シリコン窒化膜を形成する第3の工程と、前記深いN型
拡散層と浅いN型拡散層に正電圧を印加した状態でアル
カリ性水溶掖で電気化学エッチングを行い、梁状のバネ
部と、このバネ部によって支持された反射鏡を一体で形
成する第4の工程と、前記保護膜を除去する第5の工程
と、からなることを特徴とする光偏光素子の製造方法。
(Supplementary Note 4) A first step of forming a deep N-type diffusion layer and a shallow N-type diffusion layer on a first main surface of a P-type semiconductor substrate; A second step of forming a protective film, a third step of forming a silicon nitride film on the second main surface of the P-type semiconductor substrate, and applying a positive voltage to the deep N-type diffusion layer and the shallow N-type diffusion layer. A fourth step of integrally forming a beam-shaped spring portion and a reflector supported by the spring portion, and a fifth step of removing the protective film. And a process for producing a light polarizing element.

【0093】(対応する実施の形態)第4の実施の形態
が該当する。
(Corresponding Embodiment) The fourth embodiment corresponds to the fourth embodiment.

【0094】(付記5) P型半導体基板の第1の主面
にN型拡散層とP型埋め込み拡散層を形成する第1の工
程と、前記P型半導体基板の第1の主面に保護膜を形成
する第2の工程と、前記P型半導体基板の第2の主面に
シリコン窒化膜を形成する第3の工程と、前記N型拡散
層に正電圧を印加した状態でアルカリ性水溶液で電気化
学エッチングを行い、梁状のバネ部と、このバネ部によ
って支持された反射鏡を一体で形成する第4の工程と、
前記保護膜を除去する第5の工程とからなることを特徴
とする光偏光素子の製造方法。
(Supplementary Note 5) A first step of forming an N-type diffusion layer and a P-type buried diffusion layer on the first main surface of the P-type semiconductor substrate, and protecting the first main surface of the P-type semiconductor substrate. A second step of forming a film, a third step of forming a silicon nitride film on the second main surface of the P-type semiconductor substrate, and an alkaline aqueous solution with a positive voltage applied to the N-type diffusion layer. A fourth step of performing electrochemical etching to integrally form a beam-shaped spring portion and a reflecting mirror supported by the spring portion;
And a fifth step of removing the protective film.

【0095】(対応する実施の形態)第5の実施の形態
が該当する。
(Corresponding Embodiment) The fifth embodiment corresponds to the fifth embodiment.

【0096】[0096]

【発明の効果】請求項1記載の本発明によると、トルク
変動に伴う反射鏡の歪みを増大させることなく、慣性モ
ーメントIpを低下させることが可能であることによ
り、同じ共振周波数を得ようとした場合には、慣性モー
メントIpが小さければ、その分だけ粱状のバネ部の剛
性を小さくすることができるので、駆動に要する力が小
さくなる結果として、駆動電圧の低電圧化や消費電流の
低減化を実現することができる。
According to the first aspect of the present invention, it is possible to reduce the moment of inertia Ip without increasing the distortion of the reflecting mirror due to the torque fluctuation, thereby obtaining the same resonance frequency. In this case, if the moment of inertia Ip is small, the rigidity of the beam-shaped spring portion can be reduced accordingly, so that the force required for driving is reduced. As a result, the driving voltage is reduced and the current consumption is reduced. Reduction can be realized.

【0097】請求項2記載の本発明によれば、反射鏡
が、交互に配置された厚い領域と薄い領域とで構成さ
れ、厚い領域と薄い領域との割合が、梁状のバネ部の両
側で異なる請求項1記載の発明と同様な効果を、回転中
心軸上から重心をずらす必要のある圧電振動を駆動力と
する光偏向素子に対しても適用することができる。
According to the second aspect of the present invention, the reflecting mirror is constituted by alternately arranged thick regions and thin regions, and the ratio of the thick region to the thin region is equal to the both sides of the beam-shaped spring portion. The same effect as that of the first aspect of the present invention can be applied to an optical deflecting element using piezoelectric vibration as a driving force, which needs to shift the center of gravity from the rotation center axis.

【0098】請求項3記載の本発明によれば、電気化学
エッチングによって残存されたN型拡散領域でもって、
反射鏡と粱状のバネ部とが一体に形成される結果とし
て、反射鏡の厚さが、拡散層の接合深さと、そこからバ
イアス時に発生する空乏層とによって規定されるので、
非常に薄く内部応力の小さい反射鏡を制御性良く得るこ
とができる。
According to the third aspect of the present invention, with the N-type diffusion region left by the electrochemical etching,
Since the thickness of the reflector is determined by the junction depth of the diffusion layer and the depletion layer generated at the time of bias from the junction depth of the reflector, as a result of the reflector and the beam-shaped spring portion being integrally formed,
A very thin reflecting mirror with small internal stress can be obtained with good controllability.

【0099】従って、以上説明したように、本発明によ
れば、有効面積が大きく、慣性モーメントの小さい反射
鏡を有する高速駆動が可能な光偏向素子およびその製造
方法を提供することができる。
Therefore, as described above, according to the present invention, it is possible to provide an optical deflecting element having a large effective area and a reflecting mirror having a small moment of inertia, which can be driven at high speed, and a method of manufacturing the same.

【0100】また、本発明によれば、慣性モーメントの
小さい反射鏡を実現するために、非常に薄く、内部応力
が小さく歪みのない半導体薄板を安定して製造する手法
を採用した光偏向素子およびその製造方法を提供するこ
とができる。
Further, according to the present invention, in order to realize a reflecting mirror having a small moment of inertia, an optical deflecting element and a light deflecting element adopting a method of stably manufacturing a semiconductor thin plate having a very small thickness and a small internal stress without distortion. The manufacturing method can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明の第1の実施の形態による光偏
光素子の要部の構成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a main part of a light polarizing element according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図2は、本発明の第2の実施の形態による光偏
光素子の要部の構成を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of a main part of a light polarizing element according to a second embodiment of the present invention.

【図3】図3は、本発明の第2の実施の形態による光偏
光素子の要部の構成を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a configuration of a main part of a light polarizing element according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図4は、本発明の第4の実施の形態として光偏
光素子の製造方法の工程図を示すもので、図4の(a)
は、本発明による光偏向素子の要部の正面図であり、図
4の(b)は、図4の(a)のA−A′断面図である。
FIG. 4 shows a process chart of a method for manufacturing an optical polarizing element according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 4 is a front view of a main part of the light deflecting element according to the present invention, and FIG. 4B is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG.

【図5】図5は、本発明の第4の実施の形態として光偏
光素子の製造方法の工程図を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a process chart of a method for manufacturing an optical polarizing element according to a fourth embodiment of the present invention.

【図6】図6は、本発明の第4の実施の形態として光偏
光素子の製造方法の工程図を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a process chart of a method for manufacturing an optical polarizing element according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】図7は、本発明の第5の実施の形態として光偏
光素子の製造方法の工程図を示すもので、図7の(a)
は、本発明による光偏向素子の要部の正面図であり、図
7の(b)は、図7の(a)のA−A′断面図である。
FIG. 7 shows a process chart of a method for manufacturing an optical polarizing element according to a fifth embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 7 is a front view of a main part of the optical deflecting element according to the present invention, and FIG. 7B is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG.

【図8】図8は、本発明の第5の実施の形態として光偏
光素子の製造方法の工程図を示す図である。
FIG. 8 is a view showing a process chart of a method for manufacturing an optical polarizing element according to a fifth embodiment of the present invention.

【図9】図9は、本発明の第5の実施の形態として光偏
光素子の製造方法の工程図を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a process chart of a method for manufacturing an optical polarizing element according to a fifth embodiment of the present invention.

【図10】図10は、従来の技術による光偏向装置の概
略構成を説明するための斜視図である。
FIG. 10 is a perspective view for explaining a schematic configuration of a light deflecting device according to a conventional technique.

【図11】図11は、従来の技術による光偏向装置の概
略構成を説明するための分解斜視図である。
FIG. 11 is an exploded perspective view for explaining a schematic configuration of a conventional optical deflection device.

【図12】図12は、従来の技術による光偏向装置の概
略構成を説明するための要部の断面図である。
FIG. 12 is a cross-sectional view of a main part for describing a schematic configuration of an optical deflection device according to a conventional technique.

【図13】図13は、従来の技術による光スキャナの概
略構成を説明するための斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view for explaining a schematic configuration of an optical scanner according to a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…バネ部、 2…厚い領域、 3…薄い領域、 4…反射鏡、 51…P型半導体基板、 52…深いN型拡散層、 53…浅いN型拡散層、 54…ポリイミド等の保護膜、 55…シリコン窒化膜、 52′…梁状のバネ部1に対応する領域、 51′…電気化学エッチング工程で残存した枠部、 61…低濃度のP型半導体基板、 62…N型拡散層、 63…P型埋め込み拡散層、 62′…梁状のバネ部1に対応する領域、 61′…電気化学エッチング工程で残存した枠部。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Spring part, 2 ... Thick area, 3 ... Thin area, 4 ... Reflector, 51 ... P-type semiconductor substrate, 52 ... Deep N-type diffusion layer, 53 ... Shallow N-type diffusion layer, 54 ... Protective film of polyimide etc. 55, a silicon nitride film; 52 ', a region corresponding to the beam-shaped spring portion 1; 51', a frame portion remaining in the electrochemical etching step; 61, a low-concentration P-type semiconductor substrate; 62, an N-type diffusion layer 63, a P-type buried diffusion layer; 62 ', a region corresponding to the beam-shaped spring portion 1; 61', a frame portion remaining in the electrochemical etching step;

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 単結晶半導体から一体に形成された光偏
光素子であって、 上記光偏光素子の回転中心となる梁状のバネ部と、 上記バネ部により支持された反射鏡とを有し、 上記反射鏡は、上記バネ部に対して垂直方向に伸びる第
1の領域と第2の領域からなり、第1の領域と第2の領
域は交互に配置され、第1の領域の厚さは第2の領域の
厚さよりも厚く形成されていることを特徴とする光偏光
素子。
1. An optical polarizing element integrally formed from a single crystal semiconductor, comprising: a beam-shaped spring portion serving as a rotation center of the optical polarizing element; and a reflecting mirror supported by the spring portion. The reflecting mirror comprises a first region and a second region extending in a direction perpendicular to the spring portion, and the first region and the second region are alternately arranged, and the thickness of the first region is changed. Is a light polarizing element formed to be thicker than the thickness of the second region.
【請求項2】 前記反射鏡の外周形状は前記梁状のバネ
部を軸として対称となっており、前記梁状のバネ部によ
り分けられた反射鏡の一方の側は他方の側と、前記第1
の領域と第2の領域の面積比が異なっていることを特徴
とする請求項1に記載の光偏光素子。
2. An outer peripheral shape of the reflecting mirror is symmetrical about the beam-shaped spring portion, and one side of the reflecting mirror divided by the beam-shaped spring portion is the other side, First
2. The light polarizing element according to claim 1, wherein the area ratio of the second region is different from that of the second region.
【請求項3】 P型半導体基板における第1の主面にN
型拡散層を形成する第1の工程と、 上記P型半導体基板における第2の主面からアルカリ性
溶液を用いて電気化学エッチングを行い、梁状のバネ部
と、このバネ部によって支持された反射鏡とを一体で形
成する第2の工程と、 からなることを特徴とする光偏光素子の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the first main surface of the P-type semiconductor substrate has N
A first step of forming a mold diffusion layer; and performing electrochemical etching from the second main surface of the P-type semiconductor substrate using an alkaline solution to form a beam-shaped spring portion and a reflection supported by the spring portion. A second step of integrally forming the mirror and the mirror; and a method for manufacturing a light polarizing element.
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