JP2001241896A - チタン半導体ブリッジの点火装置 - Google Patents
チタン半導体ブリッジの点火装置Info
- Publication number
- JP2001241896A JP2001241896A JP2000382092A JP2000382092A JP2001241896A JP 2001241896 A JP2001241896 A JP 2001241896A JP 2000382092 A JP2000382092 A JP 2000382092A JP 2000382092 A JP2000382092 A JP 2000382092A JP 2001241896 A JP2001241896 A JP 2001241896A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bridge
- titanium
- igniter
- layer
- semiconductor bridge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B7/00—Insulated conductors or cables characterised by their form
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F42—AMMUNITION; BLASTING
- F42B—EXPLOSIVE CHARGES, e.g. FOR BLASTING, FIREWORKS, AMMUNITION
- F42B3/00—Blasting cartridges, i.e. case and explosive
- F42B3/10—Initiators therefor
- F42B3/12—Bridge initiators
- F42B3/13—Bridge initiators with semiconductive bridge
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Air Bags (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
リッジにより接続された1対の、間隔を空けて配置され
たパッドがその上に担持されている基材を有する。パッ
ド及びブリッジはチタンの層に被覆されたポリシリコン
又は結晶性ケイ素の層からできている。金属のランドは
パッドの上に重なるが、それをエネルギー材料充填物と
接して配置することができるように、ブリッジを露出し
て残す。ブリッジの電気抵抗の温度誘導の変動に対して
チタン半導体ブリッジの点火装置を安定化させる方法
は、チタン半導体ブリッジの点火装置を高温、例えば約
37℃ないし約250℃に加熱することを含む。
Description
電流を通して、エネルギー材料を点火するプラズマをそ
れから発生することにより、エネルギー材料を発火させ
るために使用される種類の、チタン半導体ブリッジの点
火装置(igniter)に関する。
して1987年、11月24日に認可され、“Semi
conductor Bridge(SCB) Ign
iter(半導体ブリッジ点火装置)”と題する米国特
許第4,708,060号は、高温において電気抵抗の
負の温度係数をもつ電気材料を含んでなる半導体ブリッ
ジ点火装置につき開示している。その電気材料はドープ
されたケイ素を含んでなり、非電気伝導性基材上に設置
され、そしてブリッジにより接続された1対の、間隔を
空けて配置されたパッドを区画している。各パッドの面
積はブリッジの面積よりもずっと大きく、その抵抗は約
3オームより小さくなければならない。アルミナムのラ
ンドのような蒸着層がパッドの上に重なっている。エネ
ルギー材料は半導体ブリッジと接して配置され、半導体
ブリッジ中の低レベルの電流の通過は電気回路中のラン
ドを接続することにより達成される。電流はブリッジ材
料からのプラズマの形成をもたらし、それが、生成する
対流衝撃効果によりエネルギー材料を発火させると言わ
れる。
月11日に認可され、“Tungsten Bridg
e for the Low Energy Igni
tion of Explosive and Ene
rgetic Materials(爆発物及びエネル
ギー材料の低エネルギー点火のためのタングステンブリ
ッジ)”と題する米国特許第4,976,200号は、
前記の第4,708,060号と類似であるが、第4,
708,060号のドープされたケイ素の半導体ブリッ
ジが、絶縁基材に接しているケイ素の第1の層及び、第
1の層に重なっている、タングステンである第2層から
なる複合ブリッジで置き換えられている装置につき開示
している。米国特許第明細書第4,976,200号の
タングステンの薄膜のブリッジに伴う一つの課題は、当
該特許中で暗示された、化学蒸着法によるケイ素ブリッ
ジへのタングステンの薄膜の適用の困難性及び経費であ
る。
半導体ブリッジの点火装置及び米国特許第4,976,
200号のタングステン被覆半導体ブリッジのような装
置は、信頼できる発火を提供するためには、ブリッジと
それらが点火しようと意図されるエネルギー材料との間
の密接な接触及び著しい圧力を要する。ブリッジとエネ
ルギー材料との間に密接な接触及び著しい圧力が維持さ
れない場合には、装置の発火の信頼性の減少を回避する
ためには、その装置は信頼できないものにされるかそし
て/又は活性化エネルギーを増加しなければならない。
び、基材上に配置され、それから電気絶縁された電気ブ
リッジ構造物を含んでなる、チタン半導体ブリッジの装
置が提供される。当該ブリッジ構造物は外界温度より上
の温度において電気伝導度の負の係数をもち、その上に
チタンの層を配置されている、材料の1層を含んでな
り、当該ブリッジ構造物が、間隔を空けたパッド部分の
間に延在し、それらを接続しているブリッジ部分を含ん
でなり、各パッド部分がブリッジ部分より広い面積をも
つ。1対の各電気伝導性のランドはそれぞれ1個のパッ
ド部分に重なり、他方のランドから間隔を空けて置かれ
て、ブリッジ部分を露出して残す。
導体ブリッジの装置は更に、それぞれ1個の電気伝導性
ランドに接続された1対の電気リード線を含んでなる。
々に又は組み合わせて提供する。すなわち、チタン半導
体ブリッジの装置は更に、各電気リード線に接続された
電気エネルギー源を含んで、一方のリード線から一方の
アルミナムのランドへ、ブリッジ部分を通り、次いで他
方のアルミニナムのランドへ、そして他方の電気リード
線へ延在している電気回路を区画することができ、基材
は、その上に電気ブリッジ構造物が配置されている二酸
化ケイ素の層がその上に配置されているケイ素を含んで
なる可能性があり、そして代替的には、その基材はサフ
ァイヤを含んでなる可能性がある。
の次の特徴を別々に又は組み合わせて提供する。すなわ
ち、電気伝導度の負の係数をもつ材料は結晶性ケイ素又
はポリシリコンを含んでなる可能性があり、その場合
は、ポリシリコンは非ドープフィルムの可能性があり、
そしてチタン半導体ブリッジの装置は、点火装置アセン
ブリーのヘッダー内に含まれるエネルギー材料充填物と
接して配置されることができる。ケイ素は純粋でも、又
は発明の効力を損なわずに、少量の不純物が存在しても
よい。
て、チタン半導体ブリッジの点火装置の製法が提供さ
れ、その方法は、ブリッジの電気抵抗の温度誘導の変動
に対してそれを安定化させるために、それを高温に加熱
することにより、チタン半導体ブリッジの点火装置を前
以て調整すること、例えば点火装置が約37℃ないし約
250℃、例えば、約100℃ないし250℃の高温に
加熱される方法を含む。
点火装置は前記のような先行技術の半導体ブリッジの点
火装置に比して著明な改善をもたらす。概括的に、半導
体ブリッジの点火装置は、より少ないエネルギー入力を
要するが、意図されない、迷走電流には感受性でない一
方で、エネルギー材料の、高度に信頼性のある発火をも
たらすことが所望される。更に、このような装置は、製
造及び量産法への適応が比較的簡単で、安価であること
が所望される。
6,200号のタングステン被覆ケイ素のブリッジは、
タングステンの融点、3695°ケルビン(“°K”)
がケイ素の気化温(2628°K)より高いことによる
もう一つの問題を呈する。これは、ブリッジのタングス
テン層がケイ素上に重なり、従って気化しているケイ素
と、半導体ブリッジ点火装置がそれに対して配置されて
いるエネルギー材料充填物、との間に固体層として介入
するので、エネルギー材料を点火する際にケイ素から形
成されるプラズマの効果を妨げる。もたらされる、固体
のタングステンによるエネルギーの吸収はタングステン
ブリッジの装置の効率を削減する。
はケイ素ブリッジ上に蒸着されたチタンの薄膜を使用し
ており、それにより、米国特許第4,976,200号
のタングステン被覆ケイ素ブリッジより著明に優れた製
品を提供する。チタンの融点(1660℃)はケイ素の
融点(1420℃)よりごく僅かに高く、2628°K
のケイ素の気化点よりずっと低いので、ブリッジが電流
又は、コンデンサーからの放電により活性化されると、
ケイ素のブリッジとエネルギー材料充填物との間に介入
するチタン層が、ケイ素が2628°Kで気化するかな
り前に融解する。融解したチタンは、ケイ素のブリッジ
から生成されたプラズマが、チタンの半導体ブリッジの
点火装置がそれに対して設置されているエネルギー材料
充填物と衝突して点火することを妨げない。
て、それは、気化しているケイ素のブリッジのエネルギ
ー出力を高める発熱反応においてエネルギー材料充填物
の環境中に存在する酸素及び/又は窒素と反応する。従
って、点火装置アセンブリー内に封入された大気の酸素
及び/又は窒素とのチタンの反応は、ケイ素のブリッジ
からのプラズマを気化させ、生成させるためにチタン半
導体ブリッジの点火装置への電気エネルギー入力から引
き出されるエネルギーを補填する。従って、ブリッジの
チタン層は、前記の2種の先行技術の特許のケイ素又は
タングステン/ケイ素半導体のブリッジよりも、装置へ
の低いエネルギー入力でエネルギー材料充填物の発火を
もたらす。特に、チタン半導体ブリッジの点火装置のブ
リッジの一部としての薄膜チタン上塗り層の使用は、米
国特許第4,708,060号のケイ素ブリッジ、又は
同第4,976,200号のタングステン/ケイ素ブリ
ッジのような、同一サイズの半導体ブリッジの点火装置
よりも、発火のためのより低い入力エネルギー要求をも
たらす。
ために、先行技術の匹敵するサイズのブリッジよりも低
いエネルギー入力を要するのみならずまた、チタンが大
気の酸素及び/又は窒素との発熱反応に参加するので、
エネルギー出力が補填され、チタン半導体ブリッジの点
火装置のエネルギー材料充填物との高圧下の緊密な接触
の要請が削減される。従って、その発火作用のために、
ケイ素のブリッジが加熱し気化するに従って、ブリッジ
中のチタン層が熱い粒子を生成し、その熱い粒子が更に
エネルギー材料の発火の信頼性を助ける。
パッターのような、標準の真空蒸着法によりチタン半導
体ブリッジの点火装置上に容易に蒸着させることができ
る。チタン層は、点火装置の量産に容易に適応させる標
準の半導体二次加工法により、所望のパターンに製造す
ることができる。
火装置のブリッジの電気抵抗が、上昇する温度とともに
増加し、そしてこの増加の一部が不可逆的である、すな
わち、より低い温度への復帰がその材料をより低い抵抗
に復帰させないように見える点である。どんな特定の説
にも制約されることを望まないが、チタン表面の酸化及
び/又はチタンフィルム内の酸素の不純物が電気抵抗の
不可逆的増加を引き起こすと考えられる。従って、本発
明に従うケイ素ブリッジ上にチタンの薄膜層を含み、そ
して、工場を出発後、輸送又は、高温、例えば約37℃
ないし250℃の温度にさらされた、チタン半導体ブリ
ッジの点火装置は、工場で測定されたものよりも高い電
気抵抗をもたらす可能性がある。しかし、この問題は、
それらを前調整するために、製造工程後に又はその一部
として装置を単に加熱することにより容易に克服するこ
とができる。従って、チタン半導体ブリッジの点火装置
が例えば約250℃の温度に加熱される場合は、それら
が貯蔵、輸送又は使用中に250℃までの温度に遭遇し
ても点火装置の抵抗率の増加はないであろう。概して、
前調整の段階中には、ブリッジの抵抗の温度誘導の変化
に対してそれらを安定化させるためには、点火装置は損
傷の危険性を伴わずに、それらが耐えることができる最
高温度まで、又はそれの近くまで加熱することができ
る。
含んでなるチタン半導体ブリッジの点火装置が示されて
いる。図示された態様においては、基材12は絶縁体で
あり、その上に二酸化ケイ素の層14が配置されている
ケイ素16を含んでなる(すべての図はスキームであり
実測図ではない)。パッド18a及び18b(図1)は
ブリッジ20により相互に接続されている。パッド18
a、18b及びブリッジ20は図2に示されるように、
薄膜チタン層24を上に乗せたポリシリコン層22から
なる。好ましくは、チタン層24は、ポリシリコン層2
2全体の上に配置しなければならない。パッド18a、
18b及びそれらに隣接しているブリッジ20の一部
は、1対の金属、例えばアルミナムのランド26a、2
6bを乗せている。あらゆる適切に伝導性をもつ金属又
は金属の組み合わせ物をアルミナムのランド26a、2
6bのアルミナムに代えることができる、例えば金、
銀、クロム又はその他の金属を使用することができる。
図1に示されるように、アルミナム(又はその他の金
属)のランド26a、26bは電気リード線28a、2
8b(図1)により、電池又は、DC電流のその他の電
源、コンデンサー等を含んでなることができるDCエネ
ルギー源30に接続されている。スイッチ31が電気回
路中に示されている。
装置10は、例えばセラミック又はガラスから製造する
ことができる電気絶縁ヘッダーベース36からなる点火
装置アセンブリー32の一構成部材として図3に示され
ている。しかし、ヘッダーベース36は好ましくは、良
好な熱伝導性のための金属で製造され、具体的にはガラ
スの絶縁により、電気リード線がそれを通過することを
電気絶縁されている。どちらにしても、ヘッダーベース
36はレセプタクル38内に含まれている。図3Aでも
っとも良く見えるチタン半導体ブリッジの点火装置10
はヘッダーベース36の上面36a上に設置されてい
る。ヘッダーベース36は電気リード線28a、28b
のそれを通る通過のために、1対の通路(番号は付けら
れていない)をその中に形成されている(図3及び3
A)。ヘッダーベース36の番号の付けられていない通
路は、それを通る湿気、液体又はその他の汚染物の侵入
を防止するために、先行技術で周知のような適切な封入
材でシールされている。電気リード線28a、28b
は、結線体34a、34bによりチタン半導体ブリッジ
の点火装置10のアルミナムのランド26a、26bに
電気接触で接続されている。ヘッダーベース36から出
る電気リード線28a、28bの先端は、図1のDCエ
ネルギー源30のような電気エネルギーの適当な源に接
続されるであろう。
体ブリッジの点火装置10が含まれている囲い及び、エ
ネルギー材料、例えば、過塩素酸カリウムジルコニウム
のような花火技術の材料の圧縮粉末からなるエネルギー
材料充填物42、を区画している。もちろん、過塩素酸
カリウム部分水素化チタン、アジ化鉛又は過塩素酸カリ
ウムジルコニウムのような、あらゆる適したエネルギー
材料を使用することができる。
ード線28a、28b(図2及び3)、アルミナムのラ
ンド26a、26b及び、最初に、ブリッジ20のチタ
ン層24により確立された回路を通って電流が流れる。
DC電流又はコンデンサーの放電のどちらかが必要な電
気エネルギーを提供する。室温で、非ドープポリシリコ
ン層22が高い電気抵抗を示し、電流がチタン層24を
通過する。非ドープポリシリコン層22がチタンのジュ
ール加熱により加熱されるに従って、その電気抵抗は、
その抵抗率がチタン層24の抵抗率と等しいか又はそれ
より低くなるまで、その材料の特徴である電気抵抗率の
その負の係数により減少する。その時点で、大部分の電
流及び従って大部分のエネルギーがポリシリコン層22
を通過している。ブリッジ20のチタン層24は加熱さ
れ、ブリッジのポリシリコン層22が気化してプラズマ
を発生する前に融解する。チタン層24が融解したの
で、それは、エネルギー材料充填物42と、ブリッジ2
0のポリシリコン層22の気化時に生成されたプラズマ
との間に固体のバリヤーを介入させない。従って、ケイ
素のプラズマがエネルギー材料充填物42上に直接衝突
する。更に、融解されたチタンは、エネルギー材料充填
物42の発火に対するエネルギーを更に与える発熱反応
中に存在する酸素又は窒素と反応するであろう。従っ
て、エネルギー材料充填物42の有効で信頼できる発火
が達成される。
は、例えば、自動車のエアバッグを膨張させるための充
填物を発火させるか又はその他のより大きい爆発性充填
物を起爆させるために、既知の半導体ブリッジの点火装
置と同様な適用に使用することができる。従って、点火
装置アセンブリー32は、使用される時に、図1にスキ
ームにより示されている回路を通る適切な電流の通過時
に、その意図された目的を達成するために、エネルギー
材料充填物42の発火を引き起こすための手段(図示さ
れていない)により、しっかり固定されるであろう。
もう一つの態様に従う半導体ブリッジの点火装置10’
を示している図である。チタン半導体ブリッジの点火装
置10’は図2の態様の基材12の代わりにサファイヤ
の基材12’を使用している。結晶性ケイ素層22’は
ポリシリコン層22と置き換わっている。図4のチタン
半導体ブリッジの点火装置10’のすべてのその他の部
品は図2の装置のものと同様で、同一番号が付けられて
いる。従って、それらの説明はここでは繰り返さない。
られた利点を示す。
ン半導体ブリッジの点火装置を、標準の半導体加工装置
及び方法を使用して製造した。本実施例においては、図
1及び2に使用された数字を、試験されたチタン半導体
ブリッジの点火装置の部品を識別する補助にするために
使用している。チタン層24を真空蒸発により、非ドー
プポリシリコン層22上に蒸着した。チタン層の蒸着の
停止直後に、生成するアルミナムのランド26a、26
bとチタン層24との間の清浄な界面を確保するため
に、蒸着室内の真空条件を破壊せずにアルミナム蒸着を
実施した。通常のマスキング及びエッチング法を使用し
て、図1に示された「蝶結び」型に、ポリシリコン層2
2及びチタン層24を形成した。アルミナムのランド2
6a、26bはブリッジ20を露出するがパッド18
a、18bに重なるようになっている。露出されたブリ
ッジ20は39マイクロメーターの長さ×78マイクロ
メーターの幅を有した。チタン層24は0.35マイク
ロメーターの厚さをもち、アルミナムランド26a、2
6bは1.5マイクロメーターの厚さを有した。ブリッ
ジ20の最終試験抵抗は3オームであった。これらの部
品は通常のようにウェファー上に製造され、次いで部品
はさいころ状に切断され、実質的に図3に示されたよう
な標準のTO−46ヘッダー上に設置された。5ミル直
径のアルミナム電線が電気リード線28a、28b(図
1及び3)として使用され、結線体34a、34b(図
3)により示されるように、アルミナムのランド26
a、26b(図1及び2)と電気的接触で、熱音波によ
り結線された。部品は破壊可能な部品について標準のS
ensitテストを使用して試験した。すなわち、燃焼
電圧は、比較的少数の燃焼事象を伴って燃焼統計を決定
するアルゴリズム(平均燃焼電圧、標準偏差)を使用し
て、以前の試験燃焼の分析を基にして各試験燃焼につき
変動された。 − 過塩素酸カリウムジルコニウム(ZPP)を充填さ
れた20個のこのような部品のサンプル2種類を、それ
ぞれ12,000psi及び6,000psiで圧縮
し、Sensitテストの統計法を使用して試験した。
試験下の装置の抵抗に加えて、120マイクロファラド
のコンデンサー及び1.5オームの直列抵抗をもつコン
デンサー放電燃焼装置を使用した。試験結果は、6,0
00psiに圧縮された部品に対しては5.59ボルト
の平均燃焼電圧及び0.055ボルトのシグマを、そし
て12,000psiに圧縮された部品に対しては、
5.50ボルトの平均燃焼電圧及び0.116ボルトの
シグマを示す。
4,708,060号のケイ素ブリッジを伴って製造さ
れた部品の2種類の20単位の試料を同一の圧縮機に対
して圧縮された同一のZPPで集成した。ブリッジの面
積及び容量はケイ素ブリッジ及びチタンブリッジの両方
に対して同一であった。ケイ素ブリッジの部品に対する
データは12,000psiの圧縮された部品に対して
は6.07ボルトの平均燃焼電圧及び0.124ボルト
のシグマを示し、6,000psiに圧縮された部品に
対しては、6.5ボルトの平均燃焼電圧及び0.246
ボルトのシグマを示した。その結果は次の表に示され
る。 ブリッジの種類/ チタンブリッジの 対照のケイ素圧縮圧 態様(実施例1) ブリッジ(実施例2) 6,000psi 平均=5.59V 平均=6.50V シグマ=0.055V シグマ=0.246V 12,000psi 平均=5.50V 平均=6.07V シグマ=0.116V シグマ=0.124V 実施例1及び2のデータの比較により、本発明の点火装
置は、発火を達成するのに、米国特許第4,708,0
60号の同一サイズの対照点火装置よりも少ない入力エ
ネルギー及びより低い電圧を要することが示される。こ
れらの結果は、エネルギー材料充填物の発火を、より有
効に達成するために、チタン層の発熱反応が、チタン層
の発熱反応のエネルギーにより、システム中への電気エ
ネルギーの入力を補填するという考えを支持している。
先行技術の対照例より優れた、本発明の態様により示さ
れた利点は特に、より低い圧縮圧で製造された試料にお
いて顕著であり、より高い圧縮圧で製造された例に対し
ては点火の信頼性がより低い。
説明されてきたが、以上を読み、理解すると、これらの
態様の数々の変更が当業者に思い付かれるであろうこと
が認識されるであろうし、これらのすべての変更物を付
記の請求項の範囲内に含むことが意図されている。
ジ構造物を具備し、該ブリッジ構造物が、外界温度より
高い温度において、負の電気伝導度係数をもち、その上
にチタンの層を配置されている材料の層を含んでなり、
該ブリッジ構造物が、間隔を空けて配置されたパッド部
分の間に延在し、それらを接続しているブリッジ部分を
含んでなり、各パッド部分がブリッジ部分より大きい面
積をもち、さらに、それぞれ、各1個のパッド部分に重
なっており、相互に間隔を空けて配置されてブリッジ部
分を露出して残している、1対の電気伝導性ランドを具
備することを特徴とする半導体ブリッジの点火装置。
して1個が接続された、1対の電気リード線を更に含ん
でなる、第1項の半導体ブリッジ点火装置。
導性ランドに、ブリッジ部分を介し、次いで他方の電気
伝導性ランド及び他方の電気リード線に延在している電
気回路を区画するために、各電気リード線に接続された
電気エネルギー源を更に含む、第2項の半導体ブリッジ
点火装置。
含んでなる、第3項の半導体ブリッジ点火装置。
イ素を含んでなり、電気ブリッジ構造物が二酸化ケイ素
の層上に設置されている、第1項、第2項又は第3項の
半導体ブリッジ点火装置。
1項、第2項又は第3項の半導体ブリッジ点火装置。
ポリシリコンを含んでなる、第1項、第2項又は第3項
の半導体ブリッジ点火装置。
い、第7項の半導体ブリッジ点火装置。
結晶性ケイ素を含んでなる、第1項、第2項又は第3項
の半導体ブリッジ点火装置。
い、第9項の半導体ブリッジ点火装置。
内に含まれるエネルギー材料充填物と接して配置され
た、第1項、第2項又は第3項の半導体ブリッジ点火装
置。
変動に対してそれを安定化させるために、それを高温に
加熱することにより、チタン半導体ブリッジの点火装置
を前調整することを含む方法により製造された、第1
項、第2項又は第3項の半導体ブリッジ点火装置。
0℃の高温に加熱することを含む、第12項の半導体ブ
リッジ点火装置。
0℃の高温に加熱することを含む、第12項の半導体ブ
リッジ点火装置。
金属を含んでなる、第1項の半導体ブリッジ点火装置。
銀、クロム及びそれらの組み合わせ物を含んでなる群か
ら選択される、第15項の半導体ブリッジ点火装置。
点火装置のスキーム平面図である。
ーム図である。
態様を使用している点火装置アセンブリーのスキームに
よる横断面図、及び長方形部分Aに囲まれた図3の大体
の部分の、図3に対する拡大図(図3A)である。
ある。
Claims (1)
- 【請求項1】 基材、 基材上に配置され、それから電気絶縁された電気ブリッ
ジ構造物を具備し、該ブリッジ構造物が、外界温度より
高い温度において負の電気伝導度係数をもち、その上に
チタンの層を配置されている材料の層を含んでなり、該
ブリッジ構造物が、間隔を空けて配置されたパッド部分
の間に延在し、それらを接続しているブリッジ部分を含
んでなり、各パッド部分がブリッジ部分より大きい面積
をもち、さらに、それぞれ、各1個のバッド部分に重な
っており、相互から間隔を空けて配置されてブリッジ部
分を露出して残している、1対の電気伝導性ランドを具
備することを特徴とする半導体ブリッジの点火装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US47034399A | 1999-12-22 | 1999-12-22 | |
US09/470343 | 1999-12-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001241896A true JP2001241896A (ja) | 2001-09-07 |
Family
ID=23867228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000382092A Pending JP2001241896A (ja) | 1999-12-22 | 2000-12-15 | チタン半導体ブリッジの点火装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20070056459A1 (ja) |
EP (1) | EP1113241A1 (ja) |
JP (1) | JP2001241896A (ja) |
KR (1) | KR20010070344A (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10241363A1 (de) * | 2002-09-06 | 2004-03-18 | Flexiva Automation & Anlagenbau Gmbh | Pyrotechnisches Zündsystem |
JP2006138510A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Nippon Kayaku Co Ltd | 無起爆薬電気雷管 |
EP1933108B1 (en) * | 2005-09-07 | 2014-03-26 | Nippon Kayaku Kabushiki Kaisha | Semiconductor bridge, igniter, and gas generator |
KR101211509B1 (ko) | 2010-04-20 | 2012-12-12 | 국방과학연구소 | 박형 카드폭탄장치 |
CN103344151B (zh) * | 2013-07-12 | 2015-02-25 | 南京理工大学 | 用于爆炸箔起爆器的肖特基结平面爆炸开关及其制备方法 |
CN103344150B (zh) * | 2013-07-12 | 2015-02-18 | 南京理工大学 | 一种肖特基结电爆换能元及其制备方法 |
US9568288B2 (en) * | 2014-02-05 | 2017-02-14 | Battelle Memorial Institute | Surface mount exploding foil initiator |
US10042397B2 (en) | 2016-02-18 | 2018-08-07 | Battelle Energy Alliance, Llc. | Energetic potting materials, electronic devices potted with the energetic potting materials, and related methods |
US20170245368A1 (en) * | 2016-02-18 | 2017-08-24 | Battelle Energy Alliance, Llc. | Electronic circuits comprising energetic substrates and related methods |
CN113314470B (zh) * | 2021-05-12 | 2024-04-05 | 湘潭大学 | 一种集成含能半导体桥的可自毁芯片器件封装结构和方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997042462A1 (en) * | 1996-05-09 | 1997-11-13 | Scb Technologies, Inc. | Semiconductor bridge device and method of making the same |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3669022A (en) * | 1970-08-05 | 1972-06-13 | Iit Res Inst | Thin film device |
US4708060A (en) | 1985-02-19 | 1987-11-24 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Semiconductor bridge (SCB) igniter |
GB2190730B (en) * | 1986-05-22 | 1990-10-24 | Detonix Close Corp | Detonator firing element |
US4729315A (en) * | 1986-12-17 | 1988-03-08 | Quantic Industries, Inc. | Thin film bridge initiator and method therefor |
SE456939B (sv) * | 1987-02-16 | 1988-11-14 | Nitro Nobel Ab | Spraengkapsel |
US4976200A (en) | 1988-12-30 | 1990-12-11 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Tungsten bridge for the low energy ignition of explosive and energetic materials |
US4924774A (en) * | 1989-05-16 | 1990-05-15 | Trw Vehicle Safety Systems Inc. | Apparatus for igniting a pyrotechnic transmission line |
US5080016A (en) * | 1991-03-20 | 1992-01-14 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Hydrogen loaded metal for bridge-foils for enhanced electric gun/slapper detonator operation |
US5309841A (en) * | 1991-10-08 | 1994-05-10 | Scb Technologies, Inc. | Zener diode for protection of integrated circuit explosive bridge |
US5370054A (en) * | 1992-10-01 | 1994-12-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Semiconductor slapper |
US5912427A (en) * | 1993-02-26 | 1999-06-15 | Quantic Industries, Inc. | Semiconductor bridge explosive device |
FR2732455B1 (fr) * | 1995-03-31 | 1997-06-13 | Davey Bickford | Initiateur electropyrotechnique, procede de realisation d'un tel initiateur et systeme de securite pour vehicule |
US5602359A (en) * | 1995-08-14 | 1997-02-11 | Ici Americas, Inc. | Airbag ingniter with integral sensitivity identification |
US5847309A (en) * | 1995-08-24 | 1998-12-08 | Auburn University | Radio frequency and electrostatic discharge insensitive electro-explosive devices having non-linear resistances |
US6327978B1 (en) * | 1995-12-08 | 2001-12-11 | Kaman Aerospace Corporation | Exploding thin film bridge fracturing fragment detonator |
US5732634A (en) * | 1996-09-03 | 1998-03-31 | Teledyne Industries, Inc. | Thin film bridge initiators and method of manufacture |
DE19732380B4 (de) * | 1997-07-25 | 2005-04-14 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Anzündelement für pyrotechnische Wirkmassen mit einer Dämmschicht |
US6105503A (en) * | 1998-03-16 | 2000-08-22 | Auburn University | Electro-explosive device with shaped primary charge |
US6642140B1 (en) * | 1998-09-03 | 2003-11-04 | Micron Technology, Inc. | System for filling openings in semiconductor products |
US6772692B2 (en) * | 2000-05-24 | 2004-08-10 | Lifesparc, Inc. | Electro-explosive device with laminate bridge |
-
2000
- 2000-12-15 JP JP2000382092A patent/JP2001241896A/ja active Pending
- 2000-12-20 EP EP00128005A patent/EP1113241A1/en not_active Withdrawn
- 2000-12-22 KR KR1020000080976A patent/KR20010070344A/ko not_active Application Discontinuation
-
2006
- 2006-11-02 US US11/555,990 patent/US20070056459A1/en not_active Abandoned
-
2007
- 2007-07-27 US US11/829,526 patent/US20080017063A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997042462A1 (en) * | 1996-05-09 | 1997-11-13 | Scb Technologies, Inc. | Semiconductor bridge device and method of making the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1113241A1 (en) | 2001-07-04 |
US20080017063A1 (en) | 2008-01-24 |
US20070056459A1 (en) | 2007-03-15 |
KR20010070344A (ko) | 2001-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20080017063A1 (en) | Titanium semiconductor bridge igniter | |
US4976200A (en) | Tungsten bridge for the low energy ignition of explosive and energetic materials | |
JP4332313B2 (ja) | 電圧防護型半導体ブリッジ点火要素 | |
US6272965B1 (en) | Method of forming radio frequency and electrostatic discharge insensitive electro-explosive devices | |
US5912427A (en) | Semiconductor bridge explosive device | |
RU2112915C1 (ru) | Воспламенительное устройство для инициирования детонаторов, которые содержат по крайней мере один основной заряд в корпусе детонатора | |
US20050115435A1 (en) | Electro-explosive device with laminate bridge | |
KR20000064313A (ko) | 박막 브리지 개시기 및 이의 제조방법 | |
US6133146A (en) | Semiconductor bridge device and method of making the same | |
JP3484517B2 (ja) | 改良された半導体ブリッジ起爆装置 | |
EP0951633B1 (en) | Voltage-protected semiconductor bridge igniter elements | |
WO2006038703A1 (ja) | 半導体電橋装置および半導体電橋装置を備える点火具 | |
US20140208972A1 (en) | Energetic unit based on semiconductor bridge | |
WO1998025100A1 (en) | Ceramic substrate electric igniter with nitrided tantalum bridge | |
JP4848118B2 (ja) | ラミネート電橋を備えた電子的爆破装置 | |
JP3118048U (ja) | スクイブ | |
Willis et al. | Semiconductor bridge technologies | |
US20040261645A1 (en) | Tubular igniter bridge | |
JP2006010132A (ja) | ガス発生器の点火装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071031 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20080515 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080515 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100119 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100629 |