JP2001116781A - 絶縁抵抗計の制御方法 - Google Patents
絶縁抵抗計の制御方法Info
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 96
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 108010077641 Nogo Proteins Proteins 0.000 description 1
- 102100029831 Reticulon-4 Human genes 0.000 description 1
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- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 容量成分を含む被測定物の絶縁抵抗測定にお
いて、判定遅延時間を考慮することなく測定時間を設定
でき、しかもその測定時間イコール合否判定時間とす
る。 【解決手段】 制御手段（マイコン）３０に対して入力
部４０より少なくとも判定基準値、判定遅延時間Ｔｂお
よび測定時間Ｔａを設定した後、測定を開始すると、制
御手段３０は、測定電圧発生部１０より測定電圧を発生
させると同時に、判定遅延時間Ｔｂの計時を開始し、そ
の判定遅延時間Ｔｂの経過後に、今度は測定時間Ｔａの
計時を開始するとともに、その測定時間の間、絶縁抵抗
値と判定基準値との比較判定を行なう。
いて、判定遅延時間を考慮することなく測定時間を設定
でき、しかもその測定時間イコール合否判定時間とす
る。 【解決手段】 制御手段（マイコン）３０に対して入力
部４０より少なくとも判定基準値、判定遅延時間Ｔｂお
よび測定時間Ｔａを設定した後、測定を開始すると、制
御手段３０は、測定電圧発生部１０より測定電圧を発生
させると同時に、判定遅延時間Ｔｂの計時を開始し、そ
の判定遅延時間Ｔｂの経過後に、今度は測定時間Ｔａの
計時を開始するとともに、その測定時間の間、絶縁抵抗
値と判定基準値との比較判定を行なう。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は絶縁抵抗計の制御方
法に関し、さらに詳しく言えば、判定遅延時間や測定時
間などのタイマ機能を備えた絶縁抵抗計の制御方法に関
するものである。
法に関し、さらに詳しく言えば、判定遅延時間や測定時
間などのタイマ機能を備えた絶縁抵抗計の制御方法に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】絶縁抵抗計は、被測定物に直流電圧を印
加した状態での漏れ電流から、同被測定物の絶縁抵抗を
測定するが、多くの場合、その測定値と判定基準値とを
比較して合否判定する判定機能を備えている。また、電
圧印加時間を設定できるタイマ機能を備えたものもあ
る。
加した状態での漏れ電流から、同被測定物の絶縁抵抗を
測定するが、多くの場合、その測定値と判定基準値とを
比較して合否判定する判定機能を備えている。また、電
圧印加時間を設定できるタイマ機能を備えたものもあ
る。
【０００３】ところで、被測定物に容量成分（コンデン
サ成分）が含まれている場合、直流電圧を印加した直後
は、その容量成分の充電に電流が費やされるため、漏れ
電流が多く電圧印加直後では絶縁抵抗値は小さな値とな
る。容量成分の充電が完了すると、被測定物には本来の
漏れ電流だけが流れることになるため、絶縁抵抗値は安
定する。
サ成分）が含まれている場合、直流電圧を印加した直後
は、その容量成分の充電に電流が費やされるため、漏れ
電流が多く電圧印加直後では絶縁抵抗値は小さな値とな
る。容量成分の充電が完了すると、被測定物には本来の
漏れ電流だけが流れることになるため、絶縁抵抗値は安
定する。
【０００４】したがって、被測定物に容量成分がある場
合、電圧印加直後の充電期間に合否判定が行なわれる
と、誤判定になるおそれがある。これを防止するため、
電圧印加直後の一定期間は、判定機能を動作させないよ
うにしており、これが判定遅延機能である。
合、電圧印加直後の充電期間に合否判定が行なわれる
と、誤判定になるおそれがある。これを防止するため、
電圧印加直後の一定期間は、判定機能を動作させないよ
うにしており、これが判定遅延機能である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】タイマ機能と判定遅延
機能を備えた絶縁抵抗計では、測定に先だって、入力部
から判定基準値、電圧印加時間および判定遅延時間など
が制御部としてのマイクロコンピュータ（略称；マイコ
ン）に設定される。そして、入力部からのスタート信号
（測定開始信号）により、絶縁抵抗の測定および判定が
自動的に行なわれるのであるが、従来技術には次のよう
な課題があった。これを図３により説明する。
機能を備えた絶縁抵抗計では、測定に先だって、入力部
から判定基準値、電圧印加時間および判定遅延時間など
が制御部としてのマイクロコンピュータ（略称；マイコ
ン）に設定される。そして、入力部からのスタート信号
（測定開始信号）により、絶縁抵抗の測定および判定が
自動的に行なわれるのであるが、従来技術には次のよう
な課題があった。これを図３により説明する。
【０００６】この図は、被測定物に容量成分が含まれて
いる場合の印加電圧波形（縦軸；電圧、横軸；時間）を
示したもので、図中、ｔａは入力部にて設定された電圧
印加時間、ｔｂは判定遅延時間である。
いる場合の印加電圧波形（縦軸；電圧、横軸；時間）を
示したもので、図中、ｔａは入力部にて設定された電圧
印加時間、ｔｂは判定遅延時間である。
【０００７】この図から分かるように、従来技術では、
スタート信号が入力されると、被測定物に測定電圧が印
加されるとともに、電圧印加時間ｔａと判定遅延時間ｔ
ｂの計時が同時に開始される。判定遅延時間ｔｂの経過
後に、判定機能が立ち上がり測定値と判定基準値との比
較が行なわれる。
スタート信号が入力されると、被測定物に測定電圧が印
加されるとともに、電圧印加時間ｔａと判定遅延時間ｔ
ｂの計時が同時に開始される。判定遅延時間ｔｂの経過
後に、判定機能が立ち上がり測定値と判定基準値との比
較が行なわれる。
【０００８】そして、電圧印加時間ｔａが経過すると、
測定電圧がオフとされ測定が終了する。判定機能による
合否判定は所定のサンプリング間隔で複数回にわたって
行なわれ、その中に一つでもＮＧ判定（ＮＯＧＯ判定と
も言う）があれば、結果的にＮＧ判定となる。
測定電圧がオフとされ測定が終了する。判定機能による
合否判定は所定のサンプリング間隔で複数回にわたって
行なわれ、その中に一つでもＮＧ判定（ＮＯＧＯ判定と
も言う）があれば、結果的にＮＧ判定となる。
【０００９】したがって、合否判定する時間が長いほど
高い精度が得られるが、この合否判定時間は、ｔａ−ｔ
ｂ時間であって、実際に測定時間として設定した時間ｔ
ａよりも短いことになり、測定精度の面からして好まし
いことではない。もっとも、この点を解決するには、電
圧印加時間ｔａを設定する際、判定遅延時間ｔｂを見込
んで、その分だけ時間ｔａを長くすればよい。
高い精度が得られるが、この合否判定時間は、ｔａ−ｔ
ｂ時間であって、実際に測定時間として設定した時間ｔ
ａよりも短いことになり、測定精度の面からして好まし
いことではない。もっとも、この点を解決するには、電
圧印加時間ｔａを設定する際、判定遅延時間ｔｂを見込
んで、その分だけ時間ｔａを長くすればよい。
【００１０】しかしながら、電圧印加時間ｔａは測定時
間（合否判定時間）そのものと理解されがちで、よほど
機器に精通していないかぎり、ユーザーサイドで電圧印
加時間ｔａ内に判定遅延時間ｔｂが含まれていることを
理解している者は少なく、ほとんどの場合、判定遅延時
間ｔｂを加算することはしないであろう。
間（合否判定時間）そのものと理解されがちで、よほど
機器に精通していないかぎり、ユーザーサイドで電圧印
加時間ｔａ内に判定遅延時間ｔｂが含まれていることを
理解している者は少なく、ほとんどの場合、判定遅延時
間ｔｂを加算することはしないであろう。
【００１１】なお、電圧印加時間ｔａに判定遅延時間ｔ
ｂを加算するにしても、判定遅延時間ｔｂはメーカー側
であらかじめセットされている場合もあり、その場合に
は、仕様書などにより判定遅延時間ｔｂを調べる必要が
あり面倒である。また、ユーザー側に判定遅延時間ｔｂ
の設定を任せているような場合でも、電圧印加時間ｔａ
を設定するつど、その判定遅延時間ｔｂを加算しなくて
はならないし、その加算を忘れてしまう場合もあり得
る。
ｂを加算するにしても、判定遅延時間ｔｂはメーカー側
であらかじめセットされている場合もあり、その場合に
は、仕様書などにより判定遅延時間ｔｂを調べる必要が
あり面倒である。また、ユーザー側に判定遅延時間ｔｂ
の設定を任せているような場合でも、電圧印加時間ｔａ
を設定するつど、その判定遅延時間ｔｂを加算しなくて
はならないし、その加算を忘れてしまう場合もあり得
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような課
題を解決するためになされたもので、その目的は、判定
遅延時間を考慮することなく測定時間を設定でき、その
測定時間イコール合否判定時間とすることができるよう
にした絶縁抵抗計の制御方法を提供することにある。
題を解決するためになされたもので、その目的は、判定
遅延時間を考慮することなく測定時間を設定でき、その
測定時間イコール合否判定時間とすることができるよう
にした絶縁抵抗計の制御方法を提供することにある。
【００１３】上記目的を達成するため、本発明は、被測
定物に所定の測定電圧を印加する測定電圧発生部と、上
記被測定物に流れる電流を検出する電流検出部と、上記
被測定物に印加される測定電圧と上記電流検出部にて検
出された測定電流とから絶縁抵抗値を算出する制御部
と、同制御部に対して判定基準値や判定遅延時間および
測定時間などの測定条件を設定する入力部とを備え、上
記入力部にて設定された測定条件に基づいて上記制御部
により測定が実行される絶縁抵抗計の制御方法におい
て、上記制御手段に対して上記入力部より少なくとも判
定基準値、判定遅延時間および測定時間が設定された
後、上記入力部より測定開始信号が発せられると、上記
制御手段は、上記測定電圧発生部より所定の測定電圧を
発生させると同時に、上記判定遅延時間の計時を開始
し、上記判定遅延時間の経過後に、今度は上記測定時間
の計時を開始し、その測定時間の間、上記算出された絶
縁抵抗値と上記判定基準値との比較判定を行なうととも
に、比較判定の最終結果を出力し、上記測定時間の経過
後に上記測定電圧発生部を停止することを特徴としてい
る。
定物に所定の測定電圧を印加する測定電圧発生部と、上
記被測定物に流れる電流を検出する電流検出部と、上記
被測定物に印加される測定電圧と上記電流検出部にて検
出された測定電流とから絶縁抵抗値を算出する制御部
と、同制御部に対して判定基準値や判定遅延時間および
測定時間などの測定条件を設定する入力部とを備え、上
記入力部にて設定された測定条件に基づいて上記制御部
により測定が実行される絶縁抵抗計の制御方法におい
て、上記制御手段に対して上記入力部より少なくとも判
定基準値、判定遅延時間および測定時間が設定された
後、上記入力部より測定開始信号が発せられると、上記
制御手段は、上記測定電圧発生部より所定の測定電圧を
発生させると同時に、上記判定遅延時間の計時を開始
し、上記判定遅延時間の経過後に、今度は上記測定時間
の計時を開始し、その測定時間の間、上記算出された絶
縁抵抗値と上記判定基準値との比較判定を行なうととも
に、比較判定の最終結果を出力し、上記測定時間の経過
後に上記測定電圧発生部を停止することを特徴としてい
る。
【００１４】本発明によれば、測定時間には判定遅延時
間は含まれず、判定遅延時間の経過後に測定時間が計時
される。したがって、設定された測定時間そのものが判
定機能による合否判定時間となる。
間は含まれず、判定遅延時間の経過後に測定時間が計時
される。したがって、設定された測定時間そのものが判
定機能による合否判定時間となる。
【００１５】本発明の別の態様として、上記制御手段に
上記測定電流もしくは上記被測定物の印加電圧が安定状
態に達したかどうかの識別機能を持たせて、それが安定
状態に達した時点で、上記測定時間の計時を開始すると
ともに、その測定時間の間、上記算出された絶縁抵抗値
と上記判定基準値との比較判定を行なうようにしてもよ
く、これによれば、判定遅延時間の設定が不要となる。
上記測定電流もしくは上記被測定物の印加電圧が安定状
態に達したかどうかの識別機能を持たせて、それが安定
状態に達した時点で、上記測定時間の計時を開始すると
ともに、その測定時間の間、上記算出された絶縁抵抗値
と上記判定基準値との比較判定を行なうようにしてもよ
く、これによれば、判定遅延時間の設定が不要となる。
【００１６】
【発明の実施の形態】次に、本発明を図面に示されてい
る実施例により説明する。図１は、この実施例に係る絶
縁抵抗計の概略的なブロック図である。
る実施例により説明する。図１は、この実施例に係る絶
縁抵抗計の概略的なブロック図である。
【００１７】この絶縁抵抗計は、基本的な構成として、
被測定物Ｘに所定の直流電圧を印加する測定電圧発生部
１０と、被測定物Ｘの漏れ電流を検出する電流検出部２
０と、制御部としてのマイコン３０とを備えている。
被測定物Ｘに所定の直流電圧を印加する測定電圧発生部
１０と、被測定物Ｘの漏れ電流を検出する電流検出部２
０と、制御部としてのマイコン３０とを備えている。
【００１８】測定電圧発生部１０および電流検出部２０
は公知のものであってよく、測定電圧発生部１０には、
被測定物Ｘに対する印加電圧を検出する電圧検出部１１
が接続されている。電流検出部２０にて検出された測定
電流は、Ａ／Ｄ変換器２１を介してマイコン３０に入力
される。また、電圧検出部１１にて検出された印加電圧
もＡ／Ｄ変換器２１を介してマイコン３０に入力され
る。マイコン３０は、その測定電流と印加電圧とによ
り、被測定物Ｘの絶縁抵抗値を算出する。
は公知のものであってよく、測定電圧発生部１０には、
被測定物Ｘに対する印加電圧を検出する電圧検出部１１
が接続されている。電流検出部２０にて検出された測定
電流は、Ａ／Ｄ変換器２１を介してマイコン３０に入力
される。また、電圧検出部１１にて検出された印加電圧
もＡ／Ｄ変換器２１を介してマイコン３０に入力され
る。マイコン３０は、その測定電流と印加電圧とによ
り、被測定物Ｘの絶縁抵抗値を算出する。
【００１９】マイコン３０には、例えばテンキーや各種
の設定ダイヤルなどを有する入力部４０、表示パネルや
ＬＥＤもしくはブザーなどを有する表示部５０、外部の
例えばパソコンと接続するためのＩ／Ｏポート６０およ
びＲＡＭなどからなるメモリ７０が接続されている。
の設定ダイヤルなどを有する入力部４０、表示パネルや
ＬＥＤもしくはブザーなどを有する表示部５０、外部の
例えばパソコンと接続するためのＩ／Ｏポート６０およ
びＲＡＭなどからなるメモリ７０が接続されている。
【００２０】マイコン３０は、タイマ機能と判定機能を
備えている。また、マイコン３０から測定電圧発生部１
０には電圧レンジ切換信号が与えられ、電圧検出部１１
および電流検出部２０には、レンジやゲインの切換信号
が与えられる。
備えている。また、マイコン３０から測定電圧発生部１
０には電圧レンジ切換信号が与えられ、電圧検出部１１
および電流検出部２０には、レンジやゲインの切換信号
が与えられる。
【００２１】この絶縁抵抗計の動作について説明する。
まず、容量成分を含む被測定物Ｘの絶縁抵抗を測定する
準備作業として、この実施例では、入力部４０からマイ
コン３０に、測定時間Ｔａ、判定遅延時間Ｔｂ、判定基
準値（例えば、コンパレータの下限値）、それに印加電
圧（試験電圧）などが設定される。
まず、容量成分を含む被測定物Ｘの絶縁抵抗を測定する
準備作業として、この実施例では、入力部４０からマイ
コン３０に、測定時間Ｔａ、判定遅延時間Ｔｂ、判定基
準値（例えば、コンパレータの下限値）、それに印加電
圧（試験電圧）などが設定される。
【００２２】被測定物Ｘに対する印加電圧波形（縦軸；
電圧、横軸；時間）が示されている図２を参照して、入
力部４０からスタート信号が発せられると、マイコン３
０は測定電圧発生部１０にオン信号を送出して被測定物
Ｘに所定の測定電圧を印加するとともに、判定遅延時間
Ｔｂの計時（カウント）を開始する。このとき、測定時
間Ｔａは計時しない。また、判定機能もオフ（休止）状
態にある。
電圧、横軸；時間）が示されている図２を参照して、入
力部４０からスタート信号が発せられると、マイコン３
０は測定電圧発生部１０にオン信号を送出して被測定物
Ｘに所定の測定電圧を印加するとともに、判定遅延時間
Ｔｂの計時（カウント）を開始する。このとき、測定時
間Ｔａは計時しない。また、判定機能もオフ（休止）状
態にある。
【００２３】判定遅延時間Ｔｂが経過すると、マイコン
３０は測定時間Ｔａの計時を開始するとともに、判定機
能をオン（稼働）状態とする。この測定時間Ｔａの間、
マイコン３０はＡ／Ｄ変換器２１より所定のサンプリン
グ間隔で取り込まれる測定電流と印加電圧とにより絶縁
抵抗値を算出し、そのつど、その絶縁抵抗値と判定基準
値とを比較し合否判定を行なう。
３０は測定時間Ｔａの計時を開始するとともに、判定機
能をオン（稼働）状態とする。この測定時間Ｔａの間、
マイコン３０はＡ／Ｄ変換器２１より所定のサンプリン
グ間隔で取り込まれる測定電流と印加電圧とにより絶縁
抵抗値を算出し、そのつど、その絶縁抵抗値と判定基準
値とを比較し合否判定を行なう。
【００２４】そして、測定時間Ｔａが経過すると、マイ
コン３０は測定電圧発生部１０にオフ信号を送出して被
測定物Ｘに対する印加電圧を零にする。また、判定機能
もオフとし、合否判定結果を表示部５０に出力する。
コン３０は測定電圧発生部１０にオフ信号を送出して被
測定物Ｘに対する印加電圧を零にする。また、判定機能
もオフとし、合否判定結果を表示部５０に出力する。
【００２５】なお、測定時間Ｔａ内で行なわれた複数回
の合否判定の中に一つでもＮＧ判定がある場合には、最
終的にＮＧ判定とされる。ＧＯ判定が出されるのは、複
数回にわたる合否判定ですべてがＧＯ判定とされたとき
だけである。
の合否判定の中に一つでもＮＧ判定がある場合には、最
終的にＮＧ判定とされる。ＧＯ判定が出されるのは、複
数回にわたる合否判定ですべてがＧＯ判定とされたとき
だけである。
【００２６】上記実施例では、入力部４０より判定遅延
時間を設定するようにしているが、本発明には次の変形
例も含まれる。すなわち、マイコン３０に電流検出部２
０により検出された測定電流もしくは電圧検出部１１に
て検出された被測定物の印加電圧が安定状態に達したか
の識別機能を備えさせ、その測定電流もしくは印加電圧
が安定した後、測定時間Ｔａの計時を開始するようにし
てもよい。
時間を設定するようにしているが、本発明には次の変形
例も含まれる。すなわち、マイコン３０に電流検出部２
０により検出された測定電流もしくは電圧検出部１１に
て検出された被測定物の印加電圧が安定状態に達したか
の識別機能を備えさせ、その測定電流もしくは印加電圧
が安定した後、測定時間Ｔａの計時を開始するようにし
てもよい。
【００２７】これによれば、入力部４０より判定遅延時
間を設定する必要がない。なお、測定電流もしくは印加
電圧が安定したかどうかは、例えばその電流波形なり電
圧波形の最大値および最小値が所定の幅内に入っている
かどうかで識別することができる。
間を設定する必要がない。なお、測定電流もしくは印加
電圧が安定したかどうかは、例えばその電流波形なり電
圧波形の最大値および最小値が所定の幅内に入っている
かどうかで識別することができる。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、まず、判定遅延時間を計時し、その時間経過後
に、測定時間の計時が行なわれるようにしたことによ
り、判定遅延時間を考慮することなく測定時間を設定で
き、その測定時間イコール合否判定時間とすることがで
きる。
よれば、まず、判定遅延時間を計時し、その時間経過後
に、測定時間の計時が行なわれるようにしたことによ
り、判定遅延時間を考慮することなく測定時間を設定で
き、その測定時間イコール合否判定時間とすることがで
きる。
【００２９】また、請求項２の発明によれば、マイコン
（制御部）に電流検出部により検出された測定電流もし
くは電圧検出部にて検出された被測定物の印加電圧が安
定状態に達したかの識別機能を備えさせるようにしたこ
とにより、上記請求項１の効果に加えて、判定遅延時間
を設定する手間を省くことができるという効果が奏され
る。
（制御部）に電流検出部により検出された測定電流もし
くは電圧検出部にて検出された被測定物の印加電圧が安
定状態に達したかの識別機能を備えさせるようにしたこ
とにより、上記請求項１の効果に加えて、判定遅延時間
を設定する手間を省くことができるという効果が奏され
る。
【図１】本発明による絶縁抵抗計の一実施例の構成を概
略的に示したブロック図。
略的に示したブロック図。
【図２】上記実施例で被測定物に印加される印加電圧波
形を示した波形図。
形を示した波形図。
【図３】従来例において被測定物に印加される印加電圧
波形を示した波形図。
波形を示した波形図。
１０ 測定電圧発生部 １１ 電圧検出部 ２０ 電流検出部 ２１ Ａ／Ｄ変換器 ３０ マイコン ４０ 入力部 ５０ 表示部 ６０ Ｉ／Ｏポート ７０ メモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中山 直樹 長野県上田市大字小泉字桜町81 日置電機 株式会社内 Ｆターム(参考） 2G015 AA01 BA04 BA06 CA04 DA04 2G028 AA02 CG03 DH03 DH12 FK02 FK08 GL07 LR02 LR03 LR04
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定物に所定の測定電圧を印加する測
定電圧発生部と、上記被測定物に流れる電流を検出する
電流検出部と、上記被測定物に印加される測定電圧と上
記電流検出部にて検出された測定電流とから絶縁抵抗値
を算出する制御部と、同制御部に対して判定基準値や判
定遅延時間および測定時間などの測定条件を設定する入
力部とを備え、上記入力部にて設定された測定条件に基
づいて上記制御部により測定が実行される絶縁抵抗計の
制御方法において、 上記制御手段に対して上記入力部より少なくとも判定基
準値、判定遅延時間および測定時間が設定された後、上
記入力部より測定開始信号が発せられると、上記制御手
段は、上記測定電圧発生部より所定の測定電圧を発生さ
せると同時に、上記判定遅延時間の計時を開始し、上記
判定遅延時間の経過後に、今度は上記測定時間の計時を
開始し、その測定時間の間、上記算出された絶縁抵抗値
と上記判定基準値との比較判定を行なうとともに、比較
判定の最終結果を出力し、上記測定時間の経過後に上記
測定電圧発生部を停止することを特徴とする絶縁抵抗計
の制御方法。 - 【請求項２】 被測定物に所定の測定電圧を印加する測
定電圧発生部と、上記被測定物に流れる電流を検出する
電流検出部と、上記被測定物に印加される測定電圧と上
記電流検出部にて検出された測定電流とから絶縁抵抗値
を算出する制御部と、同制御部に対して判定基準値や測
定時間などの測定条件を設定する入力部とを備え、上記
入力部にて設定された測定条件に基づいて上記制御部に
より測定が実行される絶縁抵抗計の制御方法において、 上記制御手段は、上記測定電流もしくは上記被測定物の
印加電圧が安定状態に達したかどうかの識別機能を備え
ており、上記制御手段に対して上記入力部より少なくと
も判定基準値および測定時間が設定された後、上記入力
部より測定開始信号が発せられると、上記制御手段は、
上記測定電圧発生部より所定の測定電圧を発生させると
同時に、上記測定電流もしくは上記印加電圧を監視して
それが安定状態に達した時点で、上記測定時間の計時を
開始し、その測定時間の間、上記算出された絶縁抵抗値
と上記判定基準値との比較判定を行なうとともに、比較
判定の最終結果を出力し、上記測定時間の経過後に上記
測定電圧発生部を停止することを特徴とする絶縁抵抗計
の制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29521699A JP2001116781A (ja) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | 絶縁抵抗計の制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29521699A JP2001116781A (ja) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | 絶縁抵抗計の制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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|---|---|---|---|---|
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| KR20140016828A (ko) * | 2012-07-31 | 2014-02-10 | 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 | 프린트 기판의 절연 검사 장치 및 절연 검사 방법 |
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-
1999
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