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JP2001092426A - 表示装置 - Google Patents

表示装置

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Publication number
JP2001092426A
JP2001092426A JP2000213575A JP2000213575A JP2001092426A JP 2001092426 A JP2001092426 A JP 2001092426A JP 2000213575 A JP2000213575 A JP 2000213575A JP 2000213575 A JP2000213575 A JP 2000213575A JP 2001092426 A JP2001092426 A JP 2001092426A
Authority
JP
Japan
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signal lines
gate
display device
pixel
source
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2000213575A
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English (en)
Other versions
JP2001092426A5 (ja
Inventor
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Jun Koyama
潤 小山
Hirokazu Yamagata
裕和 山形
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP2000213575A priority Critical patent/JP2001092426A/ja
Publication of JP2001092426A publication Critical patent/JP2001092426A/ja
Publication of JP2001092426A5 publication Critical patent/JP2001092426A5/ja
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  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 直視型の画素ピッチが20μm以下と小さい
表示装置において、ディスクリネーションもチラツキも
みられない良好なコントラストの明るい表示を得る。 【解決手段】 フレーム反転駆動法によって駆動し、か
つ垂直フレーム周波数を120Hz以上とし、各画素が
TFT基板側に設けたカラーフィルターのR、G、Bの
うちの1つに対応するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶等の表示媒体
を用い、マトリクス状に画素が配置された表示装置に好
適な駆動方法に関する。また、前記駆動方法を用いて表
示を行う表示装置に関する。特に直視型のアクティブマ
トリクス型液晶パネル(液晶パネル)に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、絶縁性基板上に半導体薄膜を形成
した半導体装置、例えば薄膜トランジスタ(TFT)を
作製する技術が急速に発達している。その理由は、液晶
パネル(代表的には、アクティブマトリクス型液晶パネ
ル)の需要が高まってきたことによる。
【0003】アクティブマトリクス型液晶パネルは、マ
トリクス状に配置された数十〜数百万個もの画素に出入
りする電荷を画素のスイッチング素子により制御して画
像を表示するものである。
【0004】なお、本明細書中における画素とは、スイ
ッチング素子と、前記スイッチング素子に接続された画
素電極と、液晶と、前記液晶を介して画素電極に対向し
て設けられた対向電極とで主に構成されている素子を指
している。
【0005】以下に図19を用いて、アクティブマトリ
クス型液晶パネルの表示動作の代表的な例を簡略に説明
する。
【0006】ソース信号線駆動回路103とソース信号
線S1〜S6とが接続されている。またゲート信号線駆
動回路104とゲート信号線G1〜G5とが接続されて
いる。そしてソース信号線S1〜S6とゲート信号線G
1〜G5とで囲まれている部分に画素106が複数設け
られている。画素106にはスイッチング素子101と
画素電極102とが設けられている。なおソース信号線
とゲート信号線の数はこの値に限定されない(図19
(A))。なお図19(B)は画素部105が有する複
数の画素106の位置を示す図(表示パターン)であ
る。
【0007】ソース信号線駆動回路103内のシフトレ
ジスタ回路等(図示しない)からの信号に従って、ソー
ス信号線S1に映像信号が印加される。またゲート信号
線駆動回路104からゲート信号線G1に選択信号が印
加され、ゲート信号線G1とソース信号線S1とが交差
している部分の画素(1、1)のスイッチング素子をオ
ン状態にする。そしてソース信号線S1の映像信号が画
素(1、1)の画素電極に印加される。この印加された
映像信号の電位により液晶を駆動し、透過光量を制御し
て、画素(1、1)に画像の一部(画素(1、1)に相
当する画像)が表示される。
【0008】次に、画素(1、1)に画像が表示された
状態を保持容量(図示せず)等で保持したまま、次の瞬
間には、ソース信号線駆動回路内103のシフトレジス
タ回路等(図示しない)からの信号に従って、ソース信
号線S2に映像信号が入力される。ゲート信号線駆動回
路104からゲート信号線G1に選択信号が印加された
ままであり、ゲート信号線G1とソース信号線S2とが
交差している部分の画素(1、2)のスイッチング素子
をオン状態にする。そしてソース信号線S2の映像信号
の電位が画素(1、2)の画素電極に印加される。この
印加された映像信号の電位により液晶を駆動し、透過光
量を制御して、画素(1、1)と同様に、画素(1、
2)に画像の一部(画素(1、2)に相当する画像)が
表示される。
【0009】このような表示動作を順次行い、ゲート信
号線G1に接続されている画素(1、1)(1、2)
(1、3)(1、4)(1、5)(1、6)に画像の一
部を次々と表示する。この間、ゲート信号線G1には選
択信号が印加され続けている。
【0010】ゲート信号線G1に接続されている画素の
全てに映像信号が印加されると、ゲート信号線G1には
選択信号が印加されなくなり、引き続いて、ゲート信号
線G2にのみ選択信号が印加される。そしてゲート信号
線G2に接続されている画素(2、1)(2、2)
(2、3)(2、4)(2、5)(2、6)に画像の一
部を次々と表示する。この間、ゲート信号線G2には選
択信号が印加され続けている。このような表示動作を全
てのゲート信号線において行うことにより、表示領域に
一画面(フレーム)を表示する。この期間を1フレーム
期間と呼ぶ。(図19(B))
【0011】最後に映像信号が印加される画素(4、
6)に画像の一部が表示されるまで、他の全ての画素は
画像が表示された状態を保持容量(図示せず)等で保持
している。
【0012】これらの表示動作を順次繰り返すことによ
り、画素部105に画像を表示する。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】通常スイッチング素子
としてTFT等を用いた液晶パネルでは、液晶材料の劣
化を防ぐために、各画素へ印加する信号の電位の極性
を、共通電位を基準として反転(交流化駆動)させる。
【0014】交流化駆動方法の1つにソースライン反転
駆動が挙げられる。図20(A)にソースライン反転駆
動における画素の極性パターンを示す。なお図20に示
した極性パターンは、図19(B)に示した表示パター
ンと対応している。
【0015】なお、本明細書中の極性パターンを示した
図〔図20、図22、図23〕では、共通電位を基準と
して、画素に印加される映像信号の電位が正である場合
は「+」で図示し、負である場合は「−」で示してい
る。
【0016】加えて、走査方式には、1画面(1フレー
ム)のゲート信号線を1つづつ飛び越すことで2回(2
フィールド)に分けて走査するインターレス走査と、ゲ
ート信号線を飛び越さずに順番に走査するノンインター
レス走査とがあるが、ここでは主にノンインターレス走
査を用いた例で説明する。
【0017】図20(A)で示したように、ソースライ
ン反転駆動の特徴は、任意の1フレーム期間において、
同じソース信号線に接続されている全ての画素に同じ極
性の映像信号が印加されており、隣り合うソース信号線
に接続されている画素どうしで逆の極性の映像信号が印
加されていることである。そして次の1フレーム期間に
おいて、直前の1フレーム期間で表示された極性パター
ンと逆の極性の映像信号が各画素に印加されて極性パ
ターンが表示される。
【0018】また、他の交流化駆動方法としてゲートラ
イン反転駆動が挙げられる。ゲートライン反転駆動の極
性パターンを図20(B)に示す。
【0019】図20(B)で示したように、任意の1フ
レーム期間において、同じゲート信号線に接続されてい
る全ての画素に同じ極性の映像信号が印加されており、
隣り合うゲート信号線に接続されている画素どうしで逆
の極性の映像信号が印加されていることである。そして
次の1フレーム期間において、直前の1フレーム期間で
表示された極性パターンと逆の極性の映像信号が各画
素に印加されて極性パターンが表示される。
【0020】即ち、上記従来のソースライン反転駆動方
法と同様に、2種類の極性パターン(極性パターンと
極性パターン)が繰り返し表示される駆動方法であっ
た。
【0021】近年、液晶パネルは、その薄型、軽量化が
求められると同時に、高精細化、高画質化、及び高輝度
化も要求されている。
【0022】液晶パネルの薄型、軽量化を図るために
は、液晶パネルの基板サイズの小型化が必要となる。基
板サイズを小さくして、なおかつ画質を落とさないため
には、必然的に画素ピッチを短くして画素部の面積を小
さくしなくてはならない。
【0023】図21に液晶パネルの画素の拡大図を示
す。ソース信号線12aと、ゲート信号線12bと、半
導体層13及びゲート信号線12bの一部であるゲート
電極14を有する画素TFT(スイッチング素子)15
と、画素電極16とが、図21に示すように設けられて
いる。そしてソース信号線12aと、ゲート信号線12
bと、画素TFT15との上に、可視光を透過する必要
のない領域を覆ってブラックマトリクス17が設けられ
ている。ブラックマトリクス(BM)とは、可視光を透
過させる必要のない配線(ソース信号線12a、ゲート
信号線12b)または画素TFT15等の上方に設けら
れる遮光性を有する膜のことを指す。
【0024】画素ピッチLとは、画素11を挟んで向か
い合っているソース信号線12aどうしの距離と、向か
い合っているゲート信号線12bどうしの距離とで短い
方を指す。両方の信号線同志の距離が同じ場合はその距
離を画素ピッチLとする。
【0025】画素ピッチが短くなると、隣り合う画素の
有する画素電極16どうしの距離が短くなってくる。そ
のためソースライン反転駆動及びゲートライン反転駆動
をした場合、逆の極性が印加された隣接画素間にディス
クリネーションラインと呼ばれる縞が発生し、表示画面
全体の明るさが低減される傾向があった。
【0026】本明細書中では、正の極性の映像信号が印
加された画素と、負の極性の映像信号が印加された画素
との間で生じる電位差に起因する液晶の配向状態の乱れ
(ディスクリネーション)による表示不良(ノーマリホ
ワイトの場合は光のロス、ノーマリブラックの場合は光
漏れ)をディスクリネーションラインと呼んでいる。
【0027】隣り合う画素間で生じる電位差は、図22
(A)に示す電気力線により生じる。図22(A)に
は、2つの隣り合う画素が有する画素電極A、Bに印加
された紙面に垂直方向の有効電界(正または負)に対し
て、2つの画素電極A、Bの間で生じる電気力線の状態
図の上面図を示し、図22(B)には、その断面図を示
した。ただし、便宜上、図22(A)は、横方向に生じ
る画素電極A、Bの間で生じる電気力線のみを示し、図
22(B)は、垂直方向に配向制御されている液晶分子
が電界の印加に反応する直前の電気力線の状態図を示し
た。
【0028】なお、図20(A)に対応するディスクリ
ネーションパターンを図22(C)に示した。図22
(C)には、ディスクリネーションラインが定位置に形
成され、画素に印加された映像信号の極性は異なってい
るものの、実質的にはディスクリネ─ションパターン
とディスクリネ─ションパターンは同一である。図2
2(C)に示したようなディスクリネーションライン
は、ゲートライン反転駆動においても見られる。ゲート
ライン反転駆動の場合ディスクリネーションラインは、
画素と画素の間をゲート信号線の方向と平行して現れ
る。
【0029】加えて図示しないが他の交流化駆動方法と
して、画素に印加する映像信号の極性を、隣接する全て
の画素どうしで反転させる方法(ドット反転駆動)が提
案されている。ドット反転駆動は隣接画素と極性が異な
るため、隣接する画素との間で生じる電位差の影響が大
きく、特に画素ピッチが短くなるとディスクリネ─ショ
ンが表示に大きく影響する。
【0030】画素ピッチが短くなればなるほど、隣り合
う画素電極どうしの距離が短くなる。ディスクリネーシ
ョンは20μm以下になると特に著しかった。
【0031】そこでソースライン反転駆動、ゲートライ
ン反転駆動及びドット反転駆動の代わりに、1フレーム
期間毎に全ての画素に印加する映像信号の極性を反転さ
せるフレ─ム反転駆動を用いることでディスクリネーシ
ョンを抑えることが考えられる。
【0032】図23にフレーム反転駆動における各画素
の極性パターンを示す。フレーム反転駆動の特徴は、任
意の1フレーム期間内で、全ての画素に同一の極性の映
像信号が印加され(極性パターン)、そして次の1フ
レーム期間では、全ての画素に印加される映像信号の極
性を反転させて表示する(極性パターン)点である。
即ち、極性パターンのみに注目すると2種類の極性パタ
ーン(極性パターンと極性パターン)が繰り返し表
示される駆動方法であった。このため同一フレーム期間
内では、隣り合う画素に印加される映像信号の極性は同
じであり、ディスクリネーションの発生は抑えられる。
【0033】しかしフレーム反転駆動の問題点は、映像
信号の極性が正の時の表示と負の時の表示とで画面の明
るさが微妙に異なってしまうために、観察者にチラツキ
として視認されてしまうことである。このちらつきの発
生の原因について以下詳しく説明する。
【0034】図24にソース信号線S1〜Snに印加さ
れる映像信号と、ゲート信号線G1に印加される選択信
号と、画素(1、1)が有する画素電極(1、1)の電
位のタイミングチャートを示した。ゲート信号線G1に
選択信号が印加されている期間を1ライン期間、全ての
ゲート信号線に選択信号が印加され1つの画像が表示さ
れるまでの期間を1フレーム期間とする。
【0035】ソース信号線S1とゲート信号線G1にそ
れぞれ映像信号と選択信号とが印加されると、ソース信
号線S1とゲート信号線G1との交差している部分に設
けられた画素(1、1)に、選択信号によって選択され
た正の極性の映像信号の電位が印加される。そして理想
的にこの電位は、保持容量等によって1フレーム期間保
持される。
【0036】しかし実際には、1ライン期間が終了する
とゲート信号線G1に選択信号が印加されなくなってゲ
ート信号線G1の電位が変化すると同時に、画素電極の
電位も変化する。ゲート信号線は画素のスイッチング素
子である画素TFTのゲート電極に接続されている。そ
してソース信号線は画素TFTのソース又はドレイン領
域に接続されており、画素電極はソース又はドレイン領
域のソース信号線と接続していない方と接続している。
そしてゲート電極と画素電極との間には容量がわずかな
がらに形成されており、ゲート信号線G1の電位が変化
すると画素電極の電位もそれにつられてΔVだけ変化す
る。この場合、負の方向に画素電極の電位が変化する。
図24に示すタイミングチャートにおいて、実際の画素
電極の電位を実線で、ゲート電極と画素電極との間に形
成されている容量がないものと考えたときの画素電極の
電位を点線で示す。
【0037】次に第2フレーム期間において、第1フレ
ーム期間とは逆の負の極性の映像信号が画素(1、1)
の有する画素電極に印加される。第2フレーム期間の1
ライン期間が終わると、ゲート信号線G1に選択信号が
印加されなくなり、ゲート信号線G1の電位が変化す
る。そして画素電極の電位もそれにつられて負の方向に
ΔVだけ変化する。
【0038】つまり、第1フレーム期間の1ライン期間
終了後の画素電極の電位と共通電位との電位差V1と
し、第2フレーム期間の1ライン期間終了後の画素電極
と共通電位との電位差V2とすると、電位差V1と電位
差V2とは2×ΔVも差がでてしまう。このため第1フ
レーム期間と第2フレーム期間とでは画面の明るさが異
なってしまう。
【0039】ソースライン反転駆動、ゲートライン反転
駆動、ドット反転駆動の場合も同様に、正の極性の映像
信号が印加された画素と、負の極性の映像信号が印加さ
れた画素とでは明るさは異なってしまうが、明るさの異
なる画素どうしが隣接しているため、観察者には視認さ
れにくい。しかしフレーム反転駆動の場合隣り合う画素
どうしの極性が全て同じであり、また人間の目に視認で
きる周波数域(約30Hz程度)である1フレーム期間
で極性が反転するため、映像信号の極性が正の時の表示
と映像信号の極性が負の時の表示とが微妙に異なってい
ることが、チラツキとして観察者に視認される。特に、
中間階調表示において顕著にチラツキが確認された。
【0040】このように、ソースライン反転駆動及びゲ
ートライン反転駆動では、図20(A)及び図20
(B)に一例を示したように、極性パターンと極性パ
ターンが繰り返し表示され、極性の異なる隣接画素間
にディスクリネーションラインが連続して定位置に形成
されるため、画面の明るさが低減してしまっていた。加
えてドット反転駆動でも同様であった。
【0041】またフレーム反転駆動ではディスクリネー
ションは発生しないが、チラツキが生じていた。
【0042】そこで、本発明ではこのような諸問題を解
決しようとするものである。
【0043】すなわち本発明は、チラツキがなく、且つ
明るい表示を得ることのできる、画素ピッチの短い液晶
パネルおよびその駆動方法を提供することを目的とする
ものである。
【0044】
【課題を解決するための手段】本発明によって、複数の
ゲート信号線と、複数のソース信号線と、前記ゲート信
号線と前記ソース信号線との各交差部に設けられた複数
の画素電極とを有する第1の基板と、3つの色を含むカ
ラーフィルターを有する第2の基板と、を有する表示装
置において、第1のフレーム期間において、前記複数の
ソース信号線を通して前記複数の画素電極には同じ極性
の第1の映像信号が印加されており、前記第1のフレー
ム期間の次の第2のフレーム期間において、前記複数の
ソース信号線を通して前記複数の画素電極には、前記第
1の映像信号とは逆の極性の第2の映像信号が印加され
ていることを特徴とする表示装置が提供される。
【0045】本発明によって、複数のゲート信号線と、
複数のソース信号線と、前記ゲート信号線と前記ソース
信号線との各交差部に設けられた複数の画素電極とを有
する第1の基板と、3つの色を含むカラーフィルターを
有する第2の基板と、を有する表示装置において、前記
複数のソース信号線を通して前記複数の画素電極には同
じ極性の映像信号が印加されており、前記映像信号の極
性は1フレーム期間毎に変化していることを特徴とする
表示装置が提供される。
【0046】本発明によって、複数のゲート信号線と、
複数のソース信号線と、前記ゲート信号線と前記ソース
信号線との各交差部に設けられた複数のスイッチング素
子及び複数の画素電極とを有する第1の基板と、3つの
色を含むカラーフィルターを有する第2の基板と、を有
する表示装置において、前記複数のソース信号線を通し
て前記複数のスイッチング素子には同じ極性の映像信号
が印加されており、前記複数のゲート信号線を通して、
前記複数のスイッチング素子には前記映像信号を選択す
る選択信号が印加されており、前記複数のスイッチング
素子を通して前記複数の画素電極には前記選択信号によ
って選択された映像信号が印加されており、前記映像信
号の極性は1フレーム期間毎に変化していることを特徴
とする表示装置が提供される。
【0047】前記複数のゲート信号線または前記複数の
ソース信号線どうしの間隔は20μm以下であっても良
い。
【0048】前記第1フレーム期間及び第2のフレーム
期間の長さは8.3msec以下であっても良い。
【0049】前記1フレーム期間の長さは8.3mse
c以下であっても良い。
【0050】前記複数のスイッチング素子は、ゲート電
極と、ソース領域、ドレイン領域及びチャネル形成領域
を有する半導体層と、前記ゲート電極と前記半導体層と
の間に設けられた絶縁膜とをそれぞれ有しており、前記
ゲート信号線は前記ゲート電極と接続されており、前記
ソース信号線は前記ソース領域または前記ドレイン領域
と接続されていても良い。
【0051】前記第1の基板と前記第2の基板との間に
は液晶が設けられていても良い。
【0052】前記複数の画素電極はそれぞれ前記カラー
フィルターが含む3つの色のうちの1つに対応していて
も良い。
【0053】前記表示装置を1個有するゴーグル型ディ
スプレイが提供される。
【0054】前記表示装置を2個有するゴーグル型ディ
スプレイが提供される。
【0055】前記表示装置を1個有するモバイルコンピ
ュータが提供される。
【0056】前記表示装置を1個有するノートブック型
パーソナルコンピュータが提供される。
【0057】前記表示装置を1個有するビデオカメラが
提供される。
【0058】前記表示装置を1個有するDVDプレーヤ
ーが提供される。
【0059】前記表示装置を1個有するゲーム機が提供
される。
【0060】
【発明の実施の形態】以下に本発明の構成について従来
の構成と比較しながら説明する。なお、ここではノンイ
ンターレス走査を用いた例で説明するが、本発明は、ノ
ンインターレス走査に限定されることなく、インターレ
ス走査等の他の走査方式でも適用可能であることは言う
までもない。
【0061】図2に本発明のアクティブマトリクス型液
晶パネルの構成を示す。ソース信号線駆動回路1801
とゲート信号線駆動回路1802は、一般に駆動回路と
総称されている。近年この駆動回路は、マトリクス状に
画素が設けられた画素部1808と同一基板上に一体形
成されていることもある。
【0062】また、画素部1808では、ソース信号線
駆動回路1801に接続されたソース信号線1803
(S1〜Sn)と、ゲート信号線駆動回路1802に接
続されたゲート信号線1804(G1〜Gn)とが交差
している。そのソース信号線1803とゲート信号線1
804とに囲まれた領域に、画素の薄膜トランジスタ
(画素TFT)1805と、対向電極と画素電極の間に
液晶を挟んだ液晶セル1806と、保持容量1807と
が設けられている。
【0063】ソース信号線駆動回路1801から出力さ
れたタイミング信号によりサンプリングされた、映像信
号がソース信号線1803に印加される。
【0064】画素TFT1805は、ゲート信号線駆動
回路1802からゲート信号線1804を介して入力さ
れる選択信号によって画素TFT1805をオン状態に
する。画素TFT1805をオン状態になるとソース信
号線1803に印加された映像信号が液晶セル1806
の画素電極に印加される。
【0065】図2に示した液晶パネルにおいて、ソース
信号線S1、S2、…、Snに印加される映像信号と、
ゲート信号線G1に印加される選択信号と、ソース信号
線S1とゲート信号線G1との交差している部分の画素
(1、1)が有する画素電極の電位のタイミングチャー
トを図1に示した。また従来例として、60Hzのフレ
ーム周波数で駆動した液晶パネルの画素(1、1)が有
する画素電極の電位も示した。ゲート信号線G1に選択
信号が印加されている期間を1ライン期間、全てのゲー
ト信号線に選択信号が印加され終わるまでの期間を1フ
レーム期間とする。
【0066】本発明において、1フレーム期間は8.3
msec以下にする。つまりフレーム周波数が120H
z以上であることが望ましい。本実施の形態ではフレー
ム周波数を120Hzとした。
【0067】ソース信号線S1とゲート信号線G1にそ
れぞれ映像信号と選択信号とが印加されると、ソース信
号線S1とゲート信号線G1との交差している部分に設
けられた画素(1、1)に、選択信号によって選択され
た正の極性の映像信号の電位が印加される。そして理想
的にこの電位は保持容量等によって1フレーム期間保持
される。
【0068】しかし実際には1ライン期間が終了すると
ゲート信号線G1に選択信号が印加されなくなり、ゲー
ト信号線G1の電位が変化すると同時に画素電極の電位
も変化する。ゲート信号線は画素のスイッチング素子で
ある画素TFTのゲート電極に接続されている。そして
ソース信号線は画素TFTのソース又はドレイン領域に
接続されており、画素電極はソース又はドレイン領域の
ソース信号線と接続していない方と接続している。そし
てゲート電極と画素電極との間には容量がわずかながら
に形成されており、ゲート信号線G1の電位が変化する
と画素電極の電位もそれにつられてΔVだけ変化する。
この場合負の方向に画素電極の電位が変化する。図1に
示すタイミングチャートにおいて、実際の画素電極の電
位を実線で、ゲート電極と画素電極との間に形成されて
いる容量がないと考えたときの画素電極の電位を点線で
示す。
【0069】次に第2フレーム期間において、第1フレ
ーム期間とは逆の負の極性の映像信号が画素(1、1)
の有する画素電極に印加される。第2フレーム期間の1
ライン期間が終わると、ゲート信号線G1に選択信号が
印加されなくなり、ゲート信号線G1の電位が変化す
る。そして画素電極の電位もそれにつられて負の方向に
ΔVだけ変化する。
【0070】つまり、第1フレーム期間の1ライン期間
終了後の画素電極の電位と共通電位との電位差V1と
し、第2フレーム期間の1ライン期間終了後の画素電極
と共通電位との電位差V2とすると、電位差V1と電位
差V2とは、2×ΔVも差がでてしまう。このため第1
フレーム期間と第2フレーム期間とでは画面の明るさが
異なってしまう。
【0071】しかしフレーム周波数を120Hz以上と
することで、第1フレーム期間と第2フレーム期間の画
面の明るさの違いが人間の目に視認できなくなる。よっ
て1フレーム期間毎に極性が反転するため、映像信号の
極性が正の時の表示と映像信号の極性が負の時の表示と
が微妙に異なっていても、チラツキとして観察者に視認
されることがなくなる。
【0072】このように本発明では直視型の液晶パネル
において、フレーム反転駆動法を用いて駆動し、かつフ
レーム周波数を従来よりも高速に120Hz以上とする
ことで、直視型の画素ピッチが20μm以下と短い表示
装置において、ディスクリネーションもチラツキもみら
れず、且つ良好なコントラストの明るい表示を得ること
ができた。
【0073】
【実施例】図3〜図18を用いて、本発明の実施例を説
明する。
【0074】(実施例1)本発明の画素の配置とカラー
フィルターの配置について、図3を用いて説明する。本
発明においてカラーフィルターはTFT基板側に設けら
れている。図3(A)に液晶パネルの画素配列がデルタ
配列である場合について説明する。各画素はR(赤)、
G(緑)、B(青)の三色のそれぞれに対応している。
隣接しているR(赤)、G(緑)、B(青)のそれぞれ
に対応した3つの画素で、1つのドットを構成してい
る。
【0075】図3(B)に液晶パネルの画素配列がスト
ライプ配列である場合について説明する。各画素はR
(赤)、G(緑)、B(青)の三色のうちの1つに対応
している。隣接しているR(赤)、G(緑)、B(青)
のそれぞれに対応した3つの画素で、1つのドットを構
成している。
【0076】(実施例2)本実施例では、本発明に用い
られる駆動回路の一例について説明する。
【0077】図4に本発明の液晶パネルの駆動回路の1
つであるソース信号線駆動回路の一例を示す。ソース信
号線駆動回路の外部から入力された入力信号、この場合
はソース用クロック信号(S−CL)とソース用クロッ
ク信号(S−CL)の共通電位に対して反転した信号
(S−CLb)がソース信号線駆動回路に入力される。
【0078】ソース信号線駆動回路に入力されたソース
用クロック信号(S−CL)は、ソース用シフトレジス
タ回路401に入力される。入力されたソース用クロッ
ク信号(S−CL)および同じ時にソース用シフトレジ
スタ回路に入力したソース用スタートパルス信号(S−
SP)によってソース用シフトレジスタ回路401が動
作し、映像信号のサンプリングのためのタイミング信号
を順に生成する。
【0079】タイミング信号はソース用レベルシフト回
路402に入力され、その電圧振幅レベルを上げられ
る。ここで本明細書において電圧振幅レベルとは信号の
最も高い電位と最も低い電位の差(電位差)の絶対値を
意味しており、電圧振幅レベルが高くなる(上げられ
る)とは電位差が大きくなることを意味し、電圧振幅レ
ベルが低くなるとは電位差が小さくなることを意味す
る。
【0080】電圧振幅レベルが上げられたタイミング信
号は映像信号線404からサンプリング回路403に入
力され、入力されたタイミング信号に基づいてサンプリ
ング回路403が映像信号をサンプリングする動作をす
る。サンプリングされた映像信号は対応するソース信号
線S1、S2に順に印加される。
【0081】次に本実施例のゲート信号線駆動回路の回
路図を図5に示す。ゲート信号線駆動回路の外部からゲ
ート用クロック信号(G−CL)とゲート用クロック信
号(G−CL)の共通電位に対して反転した信号(G−
CLb)がゲート信号線駆動回路に入力される。
【0082】ゲート信号線駆動回路に入力されたゲート
用クロック信号(G−CL)はゲート用シフトレジスタ
回路501に入力される。
【0083】ゲート用シフトレジスタ回路501に入力
されたゲート用クロック信号(G−CL)をもとに、同
時にゲート用シフトレジスタ回路501に入力したゲー
ト用スタートパルス信号(G−SP)によって、ゲート
用シフトレジスタ回路501がゲート信号線に接続され
た全ての画素TFTを動作させるための選択信号を順に
生成する動作をする。生成した選択信号はゲート用レベ
ルシフト回路502に入力される。
【0084】ゲート用レベルシフト回路502により、
ゲート用レベルシフト回路502に入力された選択信号
の電圧振幅レベルが上げられる。この選択信号は、全て
の画素TFTを確実に動作させるのに必要な電圧振幅レ
ベルまで高くすることが必要である。電圧振幅レベルが
上げられた選択信号はゲート信号線G0、G1、G2に
入力され、画素TFTが映像信号を液晶に印加する動作
をする。各駆動回路に用いたシフトレジスタ回路(ソー
ス用シフトレジスタ回路401、ゲート用シフトレジス
タ回路501)の回路図の一例を図6(A)に示した。
【0085】また各駆動回路に用いたレベルシフト回路
(ソース用レベルシフト回路402、ゲート用レベルシ
フト回路502)の等価回路図を、図6(B)に示す。
inは信号が入力されることを意味し、inbはinの
反転信号が入力されることを意味する。また、VDDは
プラスの電圧を示している。レベルシフト回路は、in
に入力された信号を高電圧化し反転させた信号が、ou
tbから出力されるように設計されている。つまり、i
nにHiが入力されるとoutbからLoの信号が、L
oが入力されるとoutからHiの信号が出力される。
【0086】(実施例3)本実施例では、TFT基板が
デジタル駆動回路を有している場合について、図7を用
いて説明する。
【0087】本実施例のディスプレイは、TFT基板上
に、ソース信号線駆動回路A301、ソース信号線駆動
回路B302、ゲート信号線駆動回路303、デジタル
ビデオデータ分割回路305および複数の画素TFTが
マトリクス状に設けられた画素部304を有している。
ソース信号線駆動回路B302は、ソース信号線駆動回
路A301と同じ構成を有している。
【0088】ソース信号線駆動回路301及びゲート信
号線駆動回路303は画素部304に設けられた複数の
画素TFTを駆動する。FPC端子を介して外部からソ
ース信号線駆動回路301及びゲート信号線駆動回路3
03は画素部304に種々の信号が入力される。
【0089】ソース信号線駆動回路A301は、ソース
信号線側シフトレジスタ回路(240ステージ×2のシ
フトレジスタ回路)301−1、ラッチ回路1(960
×8デジタルラッチ回路)301−2、ラッチ回路2
(960×8デジタルラッチ回路)301−3、セレク
タ回路1(240のセレクタ回路)301−4、D/A
変換回路(240のDAC)301−5、セレクタ回路
2(240のセレクタ回路)301−6を有している。
その他、バッファ回路やレベルシフト回路(いずれも図
示せず)を有していても良い。また、説明の便宜上、D
/A変換回路301−5にはレベルシフト回路が含まれ
ている。
【0090】ゲート信号線駆動回路303は、シフトレ
ジスタ回路、バッファ回路、レベルシフト回路等(いず
れも図示せず)を有している。
【0091】画素部304は、(640×RGB)×1
080(横×縦)の画素を有している。各画素には画素
TFTが配置されており、各画素TFTのソース領域に
はソース信号線が、ゲート電極にはゲート信号線が電気
的に接続されている。また、各画素TFTのドレイン領
域には画素電極が電気的に接続されている。各画素TF
Tは、各画素TFTに電気的に接続された画素電極への
映像信号(階調電圧)の印加を制御している。各画素電
極に映像信号(階調電圧)が印加され、各画素電極と対
向電極との間に挟まれた液晶に電圧が印加され液晶が駆
動される。
【0092】ここで、本実施例のTFT基板の動作およ
び信号の流れを説明する。
【0093】まず、ソース信号線駆動回路A301の動
作を説明する。なお、ソース信号線駆動回路B302の
動作については、ソース信号線駆動回路A301の動作
を参照すればよい。
【0094】ソース信号線側シフトレジスタ回路301
−1にクロック信号(CK)およびスタートパルス(S
P)が入力される。シフトレジスタ回路は、これらのク
ロック信号(CK)およびスタートパルス(SP)に基
づきタイミング信号を順に発生させ、バッファ回路等を
通して後段の回路へタイミング信号を順次印加する。
【0095】ソース信号線側シフトレジスタ回路301
−1からのタイミング信号は、バッファ回路等によって
バッファされる。タイミング信号が印加されるソース信
号線には、多くの回路あるいは素子が接続されているた
めに負荷容量(寄生容量)が大きい。この負荷容量が大
きいために生ずるタイミング信号の立ち上がりの”鈍
り”を防ぐために、このバッファ回路が形成される。
【0096】バッファ回路によってバッファされたタイ
ミング信号は、ラッチ回路1(301−2)に印加され
る。ラッチ回路1(301−2)は、8ビットデジタル
ビデオデータを処理するラッチ回路を960ステージ有
している。ラッチ回路1(301−2)は、前記タイミ
ング信号が入力されると、デジタルビデオデータ分割回
路305から印加される8ビットデジタルビデオデータ
を順次取り込み、保持する。
【0097】ラッチ回路1(301−2)の全てのステ
ージにラッチ回路にデジタルビデオデータの書き込みが
一通り終了するまでの時間は、ライン期間と呼ばれる。
すなわち、ラッチ回路1(301−2)の中で一番左側
のステージのラッチ回路にデジタルビデオデータの書き
込みが開始される時点から、一番右側のステージのラッ
チ回路にデジタルビデオデータの書き込みが終了する時
点までの時間間隔がライン期間である。実際には、上記
ライン期間に水平帰線期間が加えられた期間をライン期
間と呼ぶこともある。
【0098】1ライン期間の終了後、ソース信号線側シ
フトレジスタ回路301−1の動作タイミングに合わせ
て、ラッチ回路2(301−3)にラッチシグナル(La
tchSignal)が印加される。この瞬間、ラッチ回路1
(301−2)に書き込まれ保持されているデジタルビ
デオデータは、ラッチ回路2(301−3)に一斉に送
出され、ラッチ回路2(301−3)の全ステージのラ
ッチ回路に書き込まれ、保持される。
【0099】デジタルビデオデータをラッチ回路2(3
01−3)に送出し終えたラッチ回路1(301−2)
には、ソース信号線側シフトレジスタ回路301−1の
タイミング信号に基づき、再びデジタルビデオデータ分
割回路から印加されるデジタルビデオデータの書き込み
が順次行われる。
【0100】この2順目の1ライン期間中には、ラッチ
回路2(301−3)に書き込まれ、保持されているデ
ジタルビデオデータが、セレクタ回路1(301−4)
によって順次選択され、D/A変換回路に印加される。
なお本実施例では、セレクタ回路1(301−4)にお
いては、1つのセレクタ回路がソース信号線4本に対応
している。
【0101】なお、セレクタ回路については、本出願人
による特許出願である特願平11−167373号に記
載されているものを用いることもできる。
【0102】セレクタ回路で選択されたラッチ回路2
(301−3)からの8ビット・デジタルビデオデータ
がD/A変換回路に印加される。
【0103】D/A変換回路は、8ビットのデジタルビ
デオデータを映像信号(階調電圧)に変換し、セレクタ
回路2(301−6)によって選択されるソース信号線
に順次印加される。
【0104】ソース信号線に印加される映像信号は、ソ
ース信号線に接続されている画素部の画素TFTのソー
ス領域に印加される。
【0105】ゲート信号線駆動回路303においては、
シフトレジスタからのタイミング信号(走査信号)がバ
ッファ回路に印加され、対応するゲート信号線(ゲート
信号線)に印加される。ゲート信号線には、1ライン分
の画素TFTのゲート電極が接続されており、1ライン
分全ての画素TFTを同時にONにしなくてはならない
ので、バッファ回路には電流容量の大きなものが用いら
れる。
【0106】このように、ゲート信号線駆動回路303
からの走査信号によって対応する画素TFTのスイッチ
ングが行われ、ソース信号線駆動回路A301、ソース
信号線駆動回路B302からの映像信号(階調電圧)が
画素TFTに印加され、液晶分子が駆動される。
【0107】デジタルビデオデータ分割回路(SPC;
Serial-to-Parallel Conversion Circuit)305は、
外部から入力されるデジタルビデオデータの周波数を1
/xに落とすための回路である(1<x)。外部から入
力されるデジタルビデオデータを分割することにより、
駆動回路の動作に必要な信号の周波数も1/xに落とす
ことができる。
【0108】(実施例4)ここでは画素部の画素TFT
と、画素部の周辺に設けられる駆動回路(ソース信号線
駆動回路、ゲート信号線駆動回路、D/A変換回路、デ
ジタルビデオデータ時間階調処理回路等)のTFTを同
一基板上に作製する方法について工程に従って詳細に説
明する。但し、説明を簡単にするために、制御回路では
シフトレジスタ回路、バッファ回路、D/A変換回路な
どの基本回路であるCMOS回路と、nチャネル型TF
Tとを図示することにする。
【0109】図8(A)において、基板(TFT基板)
6001には低アルカリガラス基板や石英基板を用いる
ことができる。本発明ではスマートカット、SIMO
X、ELTRAN等のSOI基板を用いても良い。本実
施例では低アルカリガラス基板を用いた。この場合、ガ
ラス歪み点よりも10〜20℃程度低い温度であらかじ
め熱処理しておいても良い。この基板6001のTFT
を形成する表面には、基板6001からの不純物拡散を
防ぐために、酸化シリコン膜、窒化シリコン膜または酸
化窒化シリコン膜などの下地膜6002を形成する。例
えば、プラズマCVD法でSiH4、NH3、N2Oから
作製される酸化窒化シリコン膜を100nm、同様にS
iH4、N2Oから作製される酸化窒化シリコン膜を20
0nmの厚さに積層形成する。
【0110】次に、20〜150nm(好ましくは30
〜80nm)の厚さで非晶質構造を有する半導体膜60
03aを、プラズマCVD法やスパッタ法などの公知の
方法で形成する。本実施例では、プラズマCVD法で非
晶質シリコン膜を55nmの厚さに形成した。非晶質構
造を有する半導体膜としては、非晶質半導体膜や微結晶
半導体膜があり、非晶質シリコンゲルマニウム膜などの
非晶質構造を有する化合物半導体膜を適用しても良い。
また、下地膜6002と非晶質シリコン膜6003aと
は同じ成膜法で形成することが可能であるので、両者を
連続形成しても良い。下地膜を形成した後、一旦大気雰
囲気に晒さないことでその表面の汚染を防ぐことが可能
となり、作製するTFTの特性バラツキやしきい値電圧
の変動を低減させることができる。(図8(A))
【0111】そして、公知の結晶化技術を使用して非晶
質シリコン膜6003aから結晶質シリコン膜6003
bを形成する。例えば、レーザー結晶化法や熱結晶化法
(固相成長法)を適用すれば良い。レーザー結晶化の際
に、連続発光エキシマレーザーを用いても良い。ここで
は、特開平7−130652号公報で開示された技術に
従って、触媒元素を用いる結晶化法で結晶質シリコン膜
6003bを形成した。結晶化の工程に先立って、非晶
質シリコン膜の含有水素量にもよるが、400〜500
℃で1時間程度の熱処理を行い、含有水素量を5atom%
以下にしてから結晶化させることが望ましい。非晶質シ
リコン膜を結晶化させると原子の再配列が起こり緻密化
するので、作製される結晶質シリコン膜の厚さは当初の
非晶質シリコン膜の厚さ(本実施例では55nm)より
も1〜15%程度減少した。(図8(B))
【0112】そして、結晶質シリコン膜6003bを島
状に分割して、島状半導体層6004〜6007を形成
する。その後、プラズマCVD法またはスパッタ法によ
り50〜100nmの厚さの酸化シリコン膜によるマス
ク層6008を形成する。(図8(C))
【0113】そしてレジストマスク6009を設け、n
チャネル型TFTを形成する島状半導体層6005〜6
007の全面にしきい値電圧を制御する目的で1×10
16〜5×1017atoms/cm3程度の濃度でp型を付与する
不純物元素としてボロン(B)を添加した。ボロン
(B)の添加はイオンドープ法で実施しても良いし、非
晶質シリコン膜を成膜するときに同時に添加しておくこ
ともできる。ここでのボロン(B)添加は必ずしも必要
でないが、ボロン(B)を添加した半導体層6010〜
6012はnチャネル型TFTのしきい値電圧を所定の
範囲内に収めるために形成することが好ましかった。
(図8(D))
【0114】駆動回路のnチャネル型TFTのLDD領
域を形成するために、n型を付与する不純物元素を島状
半導体層6010、6011に選択的に添加する。その
ため、あらかじめレジストマスク6013〜6016を
形成した。n型を付与する不純物元素としては、リン
(P)や砒素(As)を用いれば良く、ここではリン
(P)を添加すべく、フォスフィン(PH3)を用いた
イオンドープ法を適用した。形成された不純物領域60
17、6018のリン(P)濃度は2×1016〜5×1
19atoms/cm3 の範囲とすれば良い。本明細書中では、
ここで形成された不純物領域6017〜6019に含ま
れるn型を付与する不純物元素の濃度を(n -)と表
す。また、不純物領域6019は、画素マトリクス回路
の保持容量を形成するための半導体層であり、この領域
にも同じ濃度でリン(P)を添加した。(図9(A))
【0115】次に、マスク層6008をフッ酸などによ
り除去して、図8(D)と図9(A)で添加した不純物
元素を活性化させる工程を行う。活性化は、窒素雰囲気
中で500〜600℃で1〜4時間の熱処理や、レーザ
ー活性化の方法により行うことができる。また、両者を
併用して行っても良い。本実施例では、レーザー活性化
の方法を用い、KrFエキシマレーザー光(波長248
nm)を用い、線状ビームを形成して、発振周波数5〜
50Hz、エネルギー密度100〜500mJ/cm2
として線状ビームのオーバーラップ割合を80〜98%
として走査して、島状半導体層が形成された基板全面を
処理した。尚、レーザー光の照射条件には何ら限定され
る事項はなく、実施者が適宣決定すれば良い。また連続
発光エキシマレーザーを用いて活性化を行っても良い。
【0116】そして、ゲート絶縁膜6020をプラズマ
CVD法またはスパッタ法を用いて10〜150nmの
厚さでシリコンを含む絶縁膜で形成する。例えば、12
0nmの厚さで酸化窒化シリコン膜を形成する。ゲート
絶縁膜には、他のシリコンを含む絶縁膜を単層または積
層構造として用いても良い。(図9(B))
【0117】次に、ゲート電極を形成するために第1の
導電層を成膜する。この第1の導電層は単層で形成して
も良いが、必要に応じて二層あるいは三層といった積層
構造としても良い。本実施例では、導電性の窒化物金属
膜から成る導電層(A)6021と金属膜から成る導電
層(B)6022とを積層させた。導電層(B)602
2はタンタル(Ta)、チタン(Ti)、モリブデン
(Mo)、タングステン(W)から選ばれた元素、また
は前記元素を主成分とする合金か、前記元素を組み合わ
せた合金膜(代表的にはMo−W合金膜、Mo−Ta合
金膜)で形成すれば良く、導電層(A)6021は窒化
タンタル(TaN)、窒化タングステン(WN)、窒化
チタン(TiN)膜、窒化モリブデン(MoN)で形成
する。また、導電層(A)6021は代替材料として、
タングステンシリサイド、チタンシリサイド、モリブデ
ンシリサイドを適用しても良い。導電層(B)6022
は低抵抗化を図るために含有する不純物濃度を低減させ
ると良く、特に酸素濃度に関しては30ppm以下とす
ると良かった。例えば、タングステン(W)は酸素濃度
を30ppm以下とすることで20μΩcm以下の比抵
抗値を実現することができた。
【0118】導電層(A)6021は10〜50nm
(好ましくは20〜30nm)とし、導電層(B)60
22は200〜400nm(好ましくは250〜350
nm)とすれば良い。本実施例では、導電層(A)60
21に30nmの厚さの窒化タンタル膜を、導電層
(B)6022には350nmのTa膜を用い、いずれ
もスパッタ法で形成した。このスパッタ法による成膜で
は、スパッタ用のガスのArに適量のXeやKrを加え
ておくと、形成する膜の内部応力を緩和して膜の剥離を
防止することができる。尚、図示しないが、導電層
(A)6021の下に2〜20nm程度の厚さでリン
(P)をドープしたシリコン膜を形成しておくことは有
効である。これにより、その上に形成される導電膜の密
着性向上と酸化防止を図ると同時に、導電層(A)60
21または導電層(B)6022が微量に含有するアル
カリ金属元素がゲート絶縁膜6020に拡散するのを防
ぐことができる。(図9(C))
【0119】次に、レジストマスク6023〜6027
を形成し、導電層(A)6021と導電層(B)602
2とを一括でエッチングしてゲート電極6028〜60
31と容量配線6032を形成する。ゲート電極602
8〜6031と容量配線6032は、導電層(A)から
成る6028a〜6032aと、導電層(B)から成る
6028b〜6032bとが一体に形成されている。こ
の時、駆動回路に形成するゲート電極6029、603
0は不純物領域6017、6018の一部と、ゲート絶
縁膜6020を介して重なるように形成する。(図9
(D))
【0120】次いで、駆動回路のpチャネル型TFTの
ソース領域およびドレイン領域を形成するために、p型
を付与する不純物元素を添加する工程を行う。ここで
は、ゲート電極6028をマスクとして、自己整合的に
不純物領域を形成する。このとき、nチャネル型TFT
が形成される領域はレジストマスク6033で被覆して
おく。そして、ジボラン(B26)を用いたイオンドー
プ法で不純物領域6034を形成した。この領域のボロ
ン(B)濃度は3×1020〜3×1021atoms/cm3とな
るようにする。本明細書中では、ここで形成された不純
物領域6034に含まれるp型を付与する不純物元素の
濃度を(p+)と表す。(図10(A))
【0121】次に、nチャネル型TFTにおいて、ソー
ス領域またはドレイン領域として機能する不純物領域の
形成を行った。レジストのマスク6035〜6037を
形成し、n型を付与する不純物元素が添加して不純物領
域6038〜6042を形成した。これは、フォスフィ
ン(PH3)を用いたイオンドープ法で行い、この領域
のリン(P)濃度を1×1020〜1×1021atoms/cm3
とした。本明細書中では、ここで形成された不純物領域
6038〜6042に含まれるn型を付与する不純物元
素の濃度を(n+)と表す。(図10(B))
【0122】不純物領域6038〜6042には、既に
前工程で添加されたリン(P)またはボロン(B)が含
まれているが、それに比して十分に高い濃度でリン
(P)が添加されるので、前工程で添加されたリン
(P)またはボロン(B)の影響は考えなくても良い。
また、不純物領域6038に添加されたリン(P)濃度
は図10(A)で添加されたボロン(B)濃度の1/2
〜1/3なのでp型の導電性が確保され、TFTの特性
に何ら影響を与えることはなかった。
【0123】そして、画素マトリクス回路のnチャネル
型TFTのLDD領域を形成するためのn型を付与する
不純物添加の工程を行った。ここではゲート電極603
1をマスクとして自己整合的にn型を付与する不純物元
素をイオンドープ法で添加した。添加するリン(P)の
濃度は1×1016〜5×1018atoms/cm3 であり、図9
(A)、図10(A)及び図10(B)で添加する不純
物元素の濃度よりも低濃度で添加することで、実質的に
は不純物領域6043、6044のみが形成される。本
明細書中では、この不純物領域6043、6044に含
まれるn型を付与する不純物元素の濃度を(n--)と表
す。(図10(C))
【0124】その後、それぞれの濃度で添加されたn型
またはp型を付与する不純物元素を活性化するために熱
処理工程を行う。この工程はファーネスアニール法、レ
ーザーアニール法、またはラピッドサーマルアニール法
(RTA法)で行うことができる。ここではファーネス
アニール法で活性化工程を行った。熱処理は酸素濃度が
1ppm以下、好ましくは0.1ppm以下の窒素雰囲
気中で400〜800℃、代表的には500〜600℃
で行うものであり、本実施例では550℃で4時間の熱
処理を行った。また、基板6001に石英基板のような
耐熱性を有するものを使用した場合には、800℃で1
時間の熱処理としても良く、不純物元素の活性化と、該
不純物元素が添加された不純物領域とチャネル形成領域
との接合を良好に形成することができた。
【0125】この熱処理において、ゲート電極6028
〜6031と容量配線6032形成する金属膜6028
b〜6032bは、表面から5〜80nmの厚さで導電
層(C)6028c〜6032cが形成される。例え
ば、導電層(B)6028b〜6032bがタングステ
ン(W)の場合には窒化タングステン(WN)が形成さ
れ、タンタル(Ta)の場合には窒化タンタル(Ta
N)を形成することができる。本発明では、シリコン
(Si)膜とWN膜とW膜とを積層したもの、W膜とS
iを有するW膜とを積層したもの、W膜とSiを有する
W膜とSiとを積層したもの、Moを有するW膜、また
はMoを有するTa膜を用いてゲート電極としても良
い。また、導電層(C)6028c〜6032cは、窒
素またはアンモニアなどを用いた窒素を含むプラズマ雰
囲気にゲート電極6028〜6031を晒しても同様に
形成することができる。さらに、3〜100%の水素を
含む雰囲気中で、300〜450℃で1〜12時間の熱
処理を行い、島状半導体層を水素化する工程を行った。
この工程は熱的に励起された水素により半導体層のダン
グリングボンドを終端する工程である。水素化の他の手
段として、プラズマ水素化(プラズマにより励起された
水素、プラズマ化した水素を用いる)を行っても良い。
【0126】島状半導体層が、非晶質シリコン膜から触
媒元素を用いる結晶化の方法で作製された場合、島状半
導体層中には微量の触媒元素が残留した。勿論、そのよ
うな状態でもTFTを完成させることが可能であるが、
残留する触媒元素を少なくともチャネル形成領域から除
去する方がより好ましかった。この触媒元素を除去する
手段の一つにリン(P)によるゲッタリング作用を利用
する手段があった。ゲッタリングに必要なリン(P)の
濃度は図10(B)で形成した不純物領域(n +)と同
程度であり、ここで実施される活性化工程の熱処理によ
り、nチャネル型TFTおよびpチャネル型TFTのチ
ャネル形成領域から触媒元素をゲッタリングすることが
できた。(図10(D))
【0127】活性化および水素化の工程が終了したら、
ゲート配線となる第2の導電膜を形成する。この第2の
導電膜は低抵抗材料であるアルミニウム(Al)や銅
(Cu)を主成分とする導電層(D)6045と、にチ
タン(Ti)やタンタル(Ta)、タングステン
(W)、モリブデン(Mo)から成る導電層(E)60
46とで形成すると良い。本実施例では、チタン(T
i)を0.1〜2重量%含むアルミニウム(Al)膜を
導電層(D)6045とし、チタン(Ti)膜を導電層
(E)6046として形成した。導電層(D)6045
は200〜400nm(好ましくは250〜350n
m)とすれば良く、導電層(E)6046は50〜20
0nm(好ましくは100〜150nm)で形成すれば
良い。(図11(A))
【0128】そして、ゲート電極に接続するゲート配線
を形成するために導電層(E)6046と導電層(D)
6045とをエッチング処理して、ゲート配線604
7、6048と容量配線6049を形成した。エッチン
グ処理は最初にSiCl4とCl2とBCl3との混合ガ
スを用いたドライエッチング法で導電層(E)6046
の表面から導電層(D)6045の途中まで除去し、そ
の後リン酸系のエッチング溶液によるウエットエッチン
グで導電層(D)6045を除去することにより、下地
との選択加工性を保ってゲート配線を形成することがで
きた。(図11(B))
【0129】第1の層間絶縁膜6050は500〜15
00nmの厚さで酸化シリコン膜または酸化窒化シリコ
ン膜で形成され、その後、それぞれの島状半導体層に形
成されたソース領域またはドレイン領域に達するコンタ
クトホールを形成し、ソース配線6051〜6054
と、ドレイン配線6055〜6058を形成する。図示
していないが、本実施例ではこの電極を、Ti膜を10
0nm、Tiを含むアルミニウム膜300nm、Ti膜
150nmをスパッタ法で連続して形成した3層構造の
積層膜とした。
【0130】次に、パッシベーション膜6059とし
て、窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、または窒化酸化
シリコン膜を50〜500nm(代表的には100〜3
00nm)の厚さで形成する。この状態で水素化処理を
行うとTFTの特性向上に対して好ましい結果が得られ
た。例えば、3〜100%の水素を含む雰囲気中で、3
00〜450℃で1〜12時間の熱処理を行うと良く、
あるいはプラズマ水素化法を用いても同様の効果が得ら
れた。なお、ここで後に画素電極とドレイン配線を接続
するためのコンタクトホールを形成する位置において、
パッシベーション膜6059に開口部を形成しておいて
も良い。(図11(C))
【0131】その後、有機樹脂からなる第2の層間絶縁
膜6060を1.0〜1.5μmの厚さに形成する。有
機樹脂としては、ポリイミド、アクリル、ポリアミド、
ポリイミドアミド、BCB(ベンゾシクロブテン)等を
使用することができる。ここでは、基板に塗布後、熱重
合するタイプのポリイミドを用い、300℃で焼成して
形成した。そして、第2の層間絶縁膜6060にドレイ
ン配線6058に達するコンタクトホールを形成し、画
素電極6061、6062を形成する。画素電極は、透
過型液晶パネルとする場合には透明導電膜を用いれば良
く、反射型の液晶パネルとする場合には金属膜を用いれ
ば良い。本実施例では透過型の液晶パネルとするため
に、酸化インジウム・スズ(ITO)膜を100nmの
厚さにスパッタ法で形成した。(図12)
【0132】こうして同一基板上に、駆動回路のTFT
と画素部の画素TFTとを有した基板を完成させること
ができた。駆動回路にはpチャネル型TFT6101、
第1のnチャネル型TFT6102、第2のnチャネル
型TFT6103、画素部には画素TFT6104、保
持容量6105が形成された。本明細書では便宜上この
ような基板をTFT基板と呼ぶ。
【0133】駆動回路のpチャネル型TFT6101
は、島状半導体層6004にチャネル形成領域610
6、ソース領域6107a、6107b、ドレイン領域
6108a,6108bを有している。第1のnチャネ
ル型TFT6102は、島状半導体層6005にチャネ
ル形成領域6109、ゲート電極6029と重なるLD
D領域6110(以降、このようなLDD領域をLovと
記す)、ソース領域6111、ドレイン領域6112を
有している。このLov領域のチャネル長方向の長さは
0.5〜3.0μm、好ましくは1.0〜1.5μmと
した。第2のnチャネル型TFT6103には、島状半
導体層6006にチャネル形成領域6113、LDD領
域6114,6115、ソース領域6116、ドレイン
領域6117を有している。このLDD領域はLov領域
とゲート電極6030と重ならないLDD領域(以降、
このようなLDD領域をLoffと記す)とが形成され、
このLoff領域のチャネル長方向の長さは0.3〜2.
0μm、好ましくは0.5〜1.5μmである。画素T
FT6104には、島状半導体層6007にチャネル形
成領域6118、6119、Loff領域6120〜61
23、ソースまたはドレイン領域6124〜6126を
有している。Loff領域のチャネル長方向の長さは0.
5〜3.0μm、好ましくは1.5〜2.5μmであ
る。さらに、容量配線6032、6049と、ゲート絶
縁膜6020と同じ材料から成る絶縁膜と、画素TFT
6104のドレイン領域6126に接続し、n型を付与
する不純物元素が添加された半導体層6127とから保
持容量6105が形成されている。図12では画素TF
T6104をダブルゲート構造としたが、シングルゲー
ト構造でも良いし、複数のゲート電極を設けたマルチゲ
ート構造としても差し支えない。
【0134】こうして同一基板上に、駆動回路TFTと
画素部の画素TFTとを有した基板を完成させることが
できる。駆動回路にはpチャネル型TFT6101、第
1のnチャネル型TFT6102、第2のnチャネル型
TFT6103、画素部には画素TFT6104、保持
容量6105が形成されている(図12)。本明細書で
は便宜上このような基板をTFT基板と呼んでいる。
【0135】次に、上記の工程によって作製されたTF
T基板をもとに、液晶パネルを作製する工程を説明す
る。
【0136】図12の状態のTFT基板に配向膜607
0を形成する。本実施例では、配向膜6070にはポリ
イミドを用いた(図13(A))。次に、対向基板を用
意する。対向基板は、ガラス基板6075、カラーフィ
ルター6074、透明導電膜からなる対向電極607
3、配向膜6072とで構成される。なおカラーフィル
ター6074の有する色は、それぞれ画素部の画素1つ
1つに対応していることを特徴としている。
【0137】なお、本実施例では、配向膜6070に
は、液晶分子が基板に対して平行に配向するようなポリ
イミド膜を用いた。なお、配向膜形成後、ラビング処理
を施すことにより、液晶分子がある一定のプレチルト角
を持って平行配向するようにした。
【0138】次に、上記の工程を経たTFT基板と対向
基板とを公知のセル組み工程によって、シール材やスペ
ーサ(共に図示せず)などを介して貼り合わせる。その
後、両基板の間に液晶6071を注入し、封止剤(図示
せず)によって完全に封止する。よって、図14に示す
ような反射型液晶パネルが完成する。(図13(B))
【0139】以上の様に本実施例では、画素TFTおよ
び駆動回路が要求する仕様に応じて各回路を構成するT
FTの構造を最適化し、半導体装置の動作性能と信頼性
を向上させることを可能とすることができる。さらにゲ
ート電極を、耐熱性を有する導電性材料で形成すること
によりLDD領域やソース領域およびドレイン領域の活
性化を容易とし、ゲート配線低抵抗材料で形成すること
により、配線抵抗を十分低減できる。従って、画素部
(画面サイズ)が4インチクラス以上の表示装置にも適
用することができる。
【0140】(実施例5)本実施例では、本発明の液晶
パネルを逆スタガ型のTFTを用いた構成した例を示
す。
【0141】図14を参照する。図14には、本実施例
の液晶パネルを構成する逆スタガ型のNチャネル型TF
Tの断面図が示されている。なお、図14には、1つの
Nチャネル型TFTしか図示しないが、Pチャネル型T
FTとNチャネル型TFTとによってCMOS回路を構
成することもできるのは言うまでもない。また、同様の
構成により画素TFTを構成できることも言うまでもな
い。
【0142】3001は基板であり、実施例4で説明し
たようなものが用いられる。3002は酸化シリコン膜
である。3003はゲート電極である。3004はゲー
ト絶縁膜である。3005、3006、3007および
3008は、多結晶シリコン膜から成る活性層である。
この活性層の作製にあたっては、実施例4で説明した非
晶質シリコン膜の多結晶化と同様の方法が用いられた。
またレーザー光(好ましくは線状レーザー光または面状
レーザー光)によって、非晶質シリコン膜を結晶化させ
る方法をとっても良い。なお、3005はソース領域、
3006はドレイン領域、3007は低濃度不純物領域
(LDD領域)、3008はチャネル形成領域である。
3009はチャネル保護膜であり、3010は層間絶縁
膜である。3011および3012はそれぞれ、ソース
配線、ドレイン配線である。
【0143】次に、図15を参照する。図15には、図
14で示したものとは構成が異なる逆スタガ型のTFT
によって液晶パネルが構成された場合について説明す
る。
【0144】図15においても、1つのNチャネル型T
FTしか図示しないが、上述のようにPチャネル型TF
TとNチャネル型TFTとによってCMOS回路を構成
することもできるのは言うまでもない。また、同様の構
成により画素TFTを構成できることも言うまでもな
い。
【0145】3101は基板である。3102は酸化シ
リコン膜である。3103はゲート電極である。310
4はベンゾジクロブテン(BCB)膜であり、その上面
が平坦化される。3105は窒化シリコン膜である。B
CB膜と窒化シリコン膜とでゲート絶縁膜を構成する。
3106、3107、3108および3109は、多結
晶シリコン膜から成る活性層である。この活性層の作製
にあたっては、実施例4で説明した非晶質シリコン膜の
多結晶化と同様の方法が用いられた。またレーザー光
(好ましくは線状レーザー光または面状レーザー光)に
よって、非晶質シリコン膜を結晶化させる方法をとって
も良い。なお、3106はソース領域、3107はレイ
ン領域、3108は低濃度不純物領域(LDD領域)、
3109はチャネル形成領域である。3110はチャネ
ル保護膜であり、3111は層間絶縁膜である。311
2および3113はそれぞれ、ソース配線、ドレイン配
線である。
【0146】本実施例によると、BCB膜と窒化シリコ
ン膜とで構成されるゲート絶縁膜が平坦化されているの
で、その上に成膜される非晶質シリコン膜も平坦なもの
になる。よって、非晶質シリコン膜を多結晶化する際
に、従来の逆スタガ型のTFTよりも均一な多結晶シリ
コン膜を得ることができる。
【0147】(実施例6)本発明の液晶パネルには、T
N液晶以外にも様々な液晶を用いることが可能である。
例えば、1998, SID, "Characteristics and Driving Sc
heme of Polymer-Stabilized Monostable FLCD Exhibit
ing Fast Response Time and High Contrast Ratio wit
h Gray-Scale Capability" by H. Furue et al.や、199
7, SID DIGEST, 841, "A Full-Color Thresholdless An
tiferroelectric LCD Exhibiting Wide Viewing Angle
with Fast Response Time" by T. Yoshida et al.や、1
996,J. Mater. Chem. 6(4), 671-673, "Thresholdless
antiferroelectricity in liquid crystals and its ap
plication to displays" by S. Inui et al.や、米国特
許第5594569 号に開示された液晶を用いることが可能で
ある。
【0148】ある温度域において反強誘電相を示す液晶
を反強誘電性液晶という。反強誘電性液晶を有する混合
液晶には、電場に対して透過率が連続的に変化する電気
光学応答特性を示す、無しきい値反強誘電性混合液晶と
呼ばれるものがある。この無しきい値反強誘電性混合液
晶は、V字型の電気光学応答特性を示すものがあり、そ
の駆動電圧が約±2.5V程度(セル厚約1μm〜2μ
m)のものも見出されている。
【0149】ここで、V字型の電気光学応答を示す無し
きい値反強誘電性混合液晶の印加電圧に対する光透過率
の特性を示す例を図16に示す。図16に示すグラフの
縦軸は透過率(任意単位)、横軸は印加電圧である。な
お、液晶パネルの入射側の偏光板の透過軸は、液晶パネ
ルのラビング方向にほぼ一致する無しきい値反強誘電性
混合液晶のスメクティック層の法線方向とほぼ平行に設
定されている。また、出射側の偏光板の透過軸は、入射
側の偏光板の透過軸に対してほぼ直角(クロスニコル)
に設定されている。
【0150】図16に示されるように、このような無し
きい値反強誘電性混合液晶を用いると、低電圧駆動かつ
階調表示が可能となることがわかる。
【0151】このような低電圧駆動の無しきい値反強誘
電性混合液晶を、アナログ駆動回路を有する液晶パネル
に用いた場合には、画像信号のサンプリング回路の電源
電圧を、例えば、5V〜8V程度に抑えることが可能と
なる。よって、駆動回路の動作電源電圧を下げることが
でき、液晶パネルの低消費電力化および高信頼性が実現
できる。
【0152】また、このような低電圧駆動の無しきい値
反強誘電性混合液晶を、デジタル駆動回路を有する液晶
パネルに用いた場合にも、D/A変換回路の出力電圧を
下げることができるので、D/A変換回路の動作電源電
圧を下げることができ、駆動回路の動作電源電圧を低く
することができる。よって、液晶パネルの低消費電力化
および高信頼性が実現できる。
【0153】よって、このような低電圧駆動の無しきい
値反強誘電性混合液晶を用いることは、比較的LDD領
域(低濃度不純物領域)の幅が小さなTFT(例えば、
0nm〜500nmまたは0nm〜200nm)を用い
る場合においても有効である。
【0154】また、一般に、無しきい値反強誘電性混合
液晶は自発分極が大きく、液晶自体の誘電率が高い。こ
のため、無しきい値反強誘電性混合液晶を液晶パネルに
用いる場合には、画素に比較的大きな保持容量が必要と
なってくる。よって、自発分極が小さな無しきい値反強
誘電性混合液晶を用いるのが好ましい。また、液晶パネ
ルの駆動方法を線順次駆動とすることにより、画素への
階調電圧の書き込み期間(ピクセルフィードピリオド)
を長くし、保持容量が小さくてもそれを補うようにして
もよい。
【0155】なお、このような無しきい値反強誘電性混
合液晶を用いることによって低電圧駆動が実現されるの
で、液晶パネルの低消費電力が実現される。
【0156】なお、図16に示すような電気光学特性を
有する液晶であれば、いかなるものも本発明の液晶パネ
ルの表示媒体として用いることができる。
【0157】(実施例7)実施例1〜5に示した構造を
有するTFT基板を用い、液晶パネルを構成した例を図
17に示す。図17は液晶パネルの本体に相当する部位
であり、液晶パネルとも呼ばれる。
【0158】図17において、8001はTFT基板で
あり、TFT基板8001上に複数のTFTが形成され
ている。これらのTFTは基板上に画素部8002、ゲ
ート信号線駆動回路8003、ソース信号線駆動回路8
004、ロジック回路8005を構成する。その様なT
FT基板に対して対向基板8006が貼り合わされる。
TFT基板と対向基板8006との間には液晶層(図示
せず)が挟持される。
【0159】また、図17に示す構成では、TFT基板
8001の側面と対向基板8006の側面とをある1辺
を除いて全てそろえることが望ましい。こうすることで
大版基板からの多面取り数を効率良く増やすことができ
る。また、前述の一辺では、対向基板8006の一部を
除去してTFT基板8001の一部を露出させ、そこに
FPC(フレキシブル・プリント・サーキット)800
7を取り付ける。ここには必要に応じてICチップ(単
結晶シリコン上に形成されたMOSFETで構成される
半導体回路)を搭載しても構わない。
【0160】実施例4または実施例5で示した作製工程
によって形成されたTFTは極めて高い動作速度を有し
ているため、数百MHz〜数GHzの高周波数で駆動す
る信号処理回路を画素部と同一の基板上に一体形成する
ことが可能である。即ち、図17に示す液晶パネルはシ
ステム・オン・パネルを具現化したものである。
【0161】(実施例8)本発明を実施して形成された
CMOS回路や画素マトリクス回路は様々な電気光学装
置(アクティブマトリクス型液晶パネル)に用いること
ができる。即ち、それら電気光学装置を表示媒体として
組み込んだ電子機器全てに本発明を実施できる。
【0162】その様な電子機器としては、ビデオカメ
ラ、デジタルカメラ、プロジェクター(リア型またはフ
ロント型)、ヘッドマウントディスプレイ(ゴーグル型
ディスプレイ)、ゲーム機、カーナビゲーション、パー
ソナルコンピュータ、携帯情報端末(モバイルコンピュ
ータ、携帯電話または電子書籍等)などが挙げられる。
それらの一例を図18に示す。
【0163】図18(A)はパーソナルコンピュータで
あり、本体7001、映像入力部7002、表示装置7
003、キーボード7004で構成される。本発明を映
像入力部7002、表示装置7003に適用することが
できる。
【0164】図18(B)はビデオカメラであり、本体
7101、表示装置7102、音声入力部7103、操
作スイッチ7104、バッテリー7105、受像部71
06で構成される。本発明を表示装置7102、音声入
力部7103に適用することができる。
【0165】図18(C)はモバイルコンピュータ(モ
ービルコンピュータ)であり、本体7201、カメラ部
7202、受像部7203、操作スイッチ7204、表
示装置7205で構成される。本発明は表示装置720
5に適用できる。
【0166】図18(D)はゴーグル型ディスプレイで
あり、本体7301、表示装置7302、アーム部73
03で構成される。本発明は表示装置7302に適用す
ることができる。
【0167】図18(E)はプログラムを記録した記録
媒体(以下、記録媒体と呼ぶ)を用いるプレーヤーであ
り、本体7401、表示装置7402、スピーカ部74
03、記録媒体7404、操作スイッチ7405で構成
される。なお、この装置は記録媒体としてDVD(Di
gital Versatile Disc)、CD等
を用い、音楽鑑賞や映画鑑賞やゲームやインターネット
を行うことができる。本発明は表示装置7402に適用
することができる。
【0168】図18(F)はゲーム機であり、本体75
01、本体用表示装置7502、表示装置7503、記
録媒体7504、コントローラ7505、本体用センサ
部7506、センサ部7507、CPU部7508で構
成される。本体用センサ部7506、センサ部7507
はそれぞれコントローラ7505、本体7501から出
される赤外線を感知することが可能である。本発明を本
体用表示装置7502、表示装置7503に適用するこ
とができる。
【0169】以上の様に、本発明の適用範囲は極めて広
く、あらゆる分野の電子機器に適用することが可能であ
る。また、本実施例の電子機器は実施例1〜7のどのよ
うな組み合わせからなる構成を用いても実現することが
できる。
【0170】
【発明の効果】本発明は、フレーム周波数を120Hz
以上とし、かつフレーム反転駆動法によって駆動した。
また各画素がTFT基板側に設けたカラーフィルターの
R、G、Bのうちの1つに対応するようにした。上記構
成によって直視型の画素ピッチが20μm以下と短い表
示装置において、ディスクリネーションもチラツキもみ
られず、且つ良好なコントラストの明るい表示を得るこ
とができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の液晶パネルのタイミングチャートを
示す図。
【図2】 本発明のTFT基板の概略図。
【図3】 本発明の画素とカラーフィルターの配置を示
す図。
【図4】 本発明のソース信号線駆動回路の一例を示す
図。
【図5】 本発明のゲート信号線駆動回路の一例を示す
図。
【図6】 シフトレジスタ回路とレベルシフト回路の等
価回路図。
【図7】 デジタル駆動回路を有するTFT基板の図。
【図8】 本発明のTFTの作製工程を示す断面図。
【図9】 本発明のTFTの作製工程を示す断面図。
【図10】 本発明のTFTの作製工程を示す断面図。
【図11】 本発明のTFTの作製工程を示す断面図。
【図12】 本発明のTFTの作製工程を示す断面図。
【図13】 本発明のTFTの作製工程を示す断面図。
【図14】 本発明のTFTの構成を示す断面図。
【図15】 本発明のTFTの構成を示す断面図。
【図16】 無しきい値反強誘電性混合液晶の印加電圧
に対する光透過率の特性を示す図。
【図17】 本発明の液晶パネルの外観図。
【図18】 本発明の表示装置を用いた電子機器の図。
【図19】 TFT基板の上面図及び表示パターンを示
す図。
【図20】 ソースライン反転駆動及びゲートライン反
転駆動の極性パターンを示す図。
【図21】 画素部の拡大図。
【図22】 ディスクリネーションの発生のメカニズム
を示す図。
【図23】 フレーム反転駆動の極性パターンを示す
図。
【図24】 従来の液晶パネルのタイミングチャートを
示す図。
【符号の説明】
1801 ソース信号線駆動回路 1802 ゲート信号線駆動回路 1803 ソース信号線 1804 ゲート信号線 1805 画素TFT(スイッチング素子) 1806 液晶セル 1807 保持容量 1808 画素部 1809 画像信号線
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09G 3/20 680 G09G 3/20 680V H01L 29/786 H01L 29/78 612C 21/336 616A 617T 627E

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数のゲート信号線と、複数のソース信号
    線と、前記複数のゲート信号線と前記複数のソース信号
    線との各交差部に設けられた複数の画素電極とが設けら
    れた基板を有する表示装置において、 第1のフレーム期間において、前記複数のソース信号線
    を通して前記複数の画素電極には同じ極性の第1の映像
    信号が印加されており、 前記第1のフレーム期間の次の第2のフレーム期間にお
    いて、前記複数のソース信号線を通して前記複数の画素
    電極には、前記第1の映像信号とは逆の極性の第2の映
    像信号が印加されていることを特徴とする表示装置。
  2. 【請求項2】複数のゲート信号線と、複数のソース信号
    線と、前記複数のゲート信号線と前記複数のソース信号
    線との各交差部に設けられた複数の画素電極とが設けら
    れた基板を有する表示装置において、 前記複数のソース信号線を通して前記複数の画素電極に
    は同じ極性の映像信号が印加されており、 前記映像信号の極性は1フレーム期間毎に変化している
    ことを特徴とする表示装置。
  3. 【請求項3】複数のゲート信号線と、複数のソース信号
    線と、前記複数のゲート信号線と前記複数のソース信号
    線との各交差部に設けられた複数のスイッチング素子及
    び複数の画素電極とが設けられた基板を有する表示装置
    において、 前記複数のソース信号線を通して前記複数のスイッチン
    グ素子には同じ極性の映像信号が印加されており、 前記複数のゲート信号線を通して、前記複数のスイッチ
    ング素子には前記映像信号を選択する選択信号が印加さ
    れており、 前記複数のスイッチング素子を通して前記複数の画素電
    極には前記選択信号によって選択された映像信号が印加
    されており、 前記映像信号の極性は1フレーム期間毎に変化している
    ことを特徴とする表示装置。
  4. 【請求項4】請求項1において、前記第1フレーム期間
    及び第2のフレーム期間の長さは8.3msec以下で
    あることを特徴とする表示装置。
  5. 【請求項5】請求項2または請求項3において、前記1
    フレーム期間の長さは8.3msec以下であることを
    特徴とする表示装置。
  6. 【請求項6】請求項1乃至請求項5のいずれか1項にお
    いて、前記複数のゲート信号線または前記複数のソース
    信号線どうしの間隔は20μm以下であることを特徴と
    する表示装置。
  7. 【請求項7】請求項3において、前記複数のスイッチン
    グ素子は、ゲート電極と、ソース領域、ドレイン領域及
    びチャネル形成領域を有する半導体層と、前記ゲート電
    極と前記半導体層との間に設けられた絶縁膜とをそれぞ
    れ有しており、 前記複数のゲート信号線のいずれか1つは前記ゲート電
    極と接続されており、 前記複数のソース信号線のいずれか1つは前記ソース領
    域または前記ドレイン領域と接続されていることを特徴
    とする表示装置。
  8. 【請求項8】請求項1乃至請求項7のいずれか1項にお
    いて、前記表示装置は3つの色を含むカラーフィルター
    が設けられた第2の基板を有することを特徴とする表示
    装置。
  9. 【請求項9】請求項8において、前記複数の画素電極は
    それぞれ、前記カラーフィルターが含む3つの色のうち
    の1つに対応していることを特徴とする表示装置。
  10. 【請求項10】請求項8または請求項9において、前記
    基板と前記第2の基板との間には液晶が設けられている
    ことを特徴とする表示装置。
  11. 【請求項11】請求項1乃至請求項10のいずれか1項
    に記載の前記表示装置を1個有するゴーグル型ディスプ
    レイ。
  12. 【請求項12】請求項1乃至請求項10のいずれか1項
    に記載の前記表示装置を2個有するゴーグル型ディスプ
    レイ。
  13. 【請求項13】請求項1乃至請求項10のいずれか1項
    に記載の前記表示装置を1個有するモバイルコンピュー
    タ。
  14. 【請求項14】請求項1乃至請求項10のいずれか1項
    に記載の前記表示装置を1個有するノートブック型パー
    ソナルコンピュータ。
  15. 【請求項15】請求項1乃至請求項10のいずれか1項
    に記載の前記表示装置を1個有するビデオカメラ。
  16. 【請求項16】請求項1乃至請求項10のいずれか1項
    に記載の前記表示装置を1個有するDVDプレーヤー。
  17. 【請求項17】請求項1乃至請求項10のいずれか1項
    に記載の前記表示装置を1個有するゲーム機。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003121812A (ja) * 2001-10-11 2003-04-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体表示装置の設計方法、半導体表示装置の作製方法及び半導体表示装置
JP2005055813A (ja) * 2003-08-07 2005-03-03 Nec Corp 液晶表示装置及び液晶表示装置駆動方法
JP2007193351A (ja) * 1999-07-21 2007-08-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶表示装置及び電子機器
US7995015B2 (en) 1999-07-21 2011-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2014500970A (ja) * 2010-10-01 2014-01-16 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド バリアを用いる3dディスプレイ装置およびその駆動方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01188181A (ja) * 1988-01-22 1989-07-27 Toshiba Corp 液晶表示装置
JPH02184816A (ja) * 1989-01-11 1990-07-19 Toshiba Corp アクティブマトリックス形液晶表示装置
JPH07175443A (ja) * 1993-12-17 1995-07-14 Citizen Watch Co Ltd アクティブマトリクス型液晶表示装置の駆動方法
JPH07234421A (ja) * 1993-12-28 1995-09-05 Canon Inc アクティブマトリクス型液晶表示装置
JPH0850277A (ja) * 1995-06-16 1996-02-20 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JPH09204159A (ja) * 1996-01-29 1997-08-05 Canon Inc 表示装置の駆動回路と駆動方法
JPH10268258A (ja) * 1997-03-27 1998-10-09 Victor Co Of Japan Ltd 液晶画像表示装置
JPH1144885A (ja) * 1997-05-26 1999-02-16 Sharp Corp 液晶パネルおよび液晶表示装置
JPH1195261A (ja) * 1997-09-19 1999-04-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶表示装置およびその作製方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01188181A (ja) * 1988-01-22 1989-07-27 Toshiba Corp 液晶表示装置
JPH02184816A (ja) * 1989-01-11 1990-07-19 Toshiba Corp アクティブマトリックス形液晶表示装置
JPH07175443A (ja) * 1993-12-17 1995-07-14 Citizen Watch Co Ltd アクティブマトリクス型液晶表示装置の駆動方法
JPH07234421A (ja) * 1993-12-28 1995-09-05 Canon Inc アクティブマトリクス型液晶表示装置
JPH0850277A (ja) * 1995-06-16 1996-02-20 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JPH09204159A (ja) * 1996-01-29 1997-08-05 Canon Inc 表示装置の駆動回路と駆動方法
JPH10268258A (ja) * 1997-03-27 1998-10-09 Victor Co Of Japan Ltd 液晶画像表示装置
JPH1144885A (ja) * 1997-05-26 1999-02-16 Sharp Corp 液晶パネルおよび液晶表示装置
JPH1195261A (ja) * 1997-09-19 1999-04-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶表示装置およびその作製方法

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8018412B2 (en) 1999-07-21 2011-09-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2007193351A (ja) * 1999-07-21 2007-08-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶表示装置及び電子機器
US7995015B2 (en) 1999-07-21 2011-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US8004483B2 (en) 1999-07-21 2011-08-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US8362994B2 (en) 1999-07-21 2013-01-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US6946330B2 (en) 2001-10-11 2005-09-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Designing method and manufacturing method for semiconductor display device
US7498206B2 (en) 2001-10-11 2009-03-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Order receiving process for manufacturing a semiconductor display device
JP2003121812A (ja) * 2001-10-11 2003-04-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体表示装置の設計方法、半導体表示装置の作製方法及び半導体表示装置
JP2005055813A (ja) * 2003-08-07 2005-03-03 Nec Corp 液晶表示装置及び液晶表示装置駆動方法
CN100410997C (zh) * 2003-08-07 2008-08-13 日本电气株式会社 液晶显示装置
US7525527B2 (en) 2003-08-07 2009-04-28 Nec Corporation Method for driving a liquid crystal display device
JP2014500970A (ja) * 2010-10-01 2014-01-16 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド バリアを用いる3dディスプレイ装置およびその駆動方法
US9716877B2 (en) 2010-10-01 2017-07-25 Samsung Electronics Co., Ltd. 3D display device using barrier and driving method thereof

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