JP2001053395A - 電子回路基板 - Google Patents
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Landscapes
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 繰り返し使用等による回路パターンから半導
体ICチップへ通じる接続回路の断線等の発生を確実に
抑えることができる電子回路基板の提供。 【解決手段】 半導体ICチップ20と、回路パターン
21と、回路パターン21の端点21a,21bから半
導体ICチップ20の接続端子に通じる接続回路22と
を基材1上に備えており、半導体ICチップ20がフェ
イスダウンの状態でアンダフィル材24を介して基材1
上に実装されてなる電子回路基板である。接続回路22
がアンダフィル材26の周縁部の外側において分岐した
分岐回路22b,22cを有し、かつ分岐回路22b、
cが接続端子に異なる方向から通じるように布線されて
いる。
体ICチップへ通じる接続回路の断線等の発生を確実に
抑えることができる電子回路基板の提供。 【解決手段】 半導体ICチップ20と、回路パターン
21と、回路パターン21の端点21a,21bから半
導体ICチップ20の接続端子に通じる接続回路22と
を基材1上に備えており、半導体ICチップ20がフェ
イスダウンの状態でアンダフィル材24を介して基材1
上に実装されてなる電子回路基板である。接続回路22
がアンダフィル材26の周縁部の外側において分岐した
分岐回路22b,22cを有し、かつ分岐回路22b、
cが接続端子に異なる方向から通じるように布線されて
いる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ICチップ
と、回路パターンと、この回路パターンの端点から半導
体ICチップの接続端子に通じる接続回路とを基材上に
備えた電子回路基板に係り、特に、非接触型のICカー
ドに用いて好適な、可撓性のある薄型の電子回路基板に
関する。
と、回路パターンと、この回路パターンの端点から半導
体ICチップの接続端子に通じる接続回路とを基材上に
備えた電子回路基板に係り、特に、非接触型のICカー
ドに用いて好適な、可撓性のある薄型の電子回路基板に
関する。
【0002】
【従来の技術】非接触型ICカードは、メモリやマイク
ロコンピュータ・無線通信用の機能を有する半導体IC
チップと無線通信用のコイル状のアンテナとを内蔵した
樹脂製のカードである。このようなICカードは、その
メモリ容量が磁気カードより格段に増し、また、電気的
接点を介さずにアンテナコイルを通じた無線によりカー
ド情報の授受が可能であるため、従来の磁気カード及び
接触型ICカードに比べて、取扱いの利便性の高い記録
媒体として広く普及しつつある。
ロコンピュータ・無線通信用の機能を有する半導体IC
チップと無線通信用のコイル状のアンテナとを内蔵した
樹脂製のカードである。このようなICカードは、その
メモリ容量が磁気カードより格段に増し、また、電気的
接点を介さずにアンテナコイルを通じた無線によりカー
ド情報の授受が可能であるため、従来の磁気カード及び
接触型ICカードに比べて、取扱いの利便性の高い記録
媒体として広く普及しつつある。
【0003】図8及び図9に示したように、従来の非接
触型ICカード1は、ポリエチレンテレフタレート等の
有機高分子材料からなる薄板状の回路基材10の表面
に、アンテナコイル11並びにこのアンテナコイル11
の始点11a及び終点11bから半導体ICチップ12
の接続端子12aに通じる接続回路13を形成し、アン
ダフィル材14を介して当該半導体ICチップ12の接
続端子12aと接続回路13の回路端子13aとの導通
を確保しつつ回路基材1に半導体ICチップ12を固定
して電子回路基板を形成し、これらを覆うようにホット
メルト材で中間層15を形成し、この中間層15にさら
に表面フィルム16を貼り付けた構成のものが知られて
おり、さらに必要に応じ、半導体ICチップ12上に薄
い金属板等の補強部材17を配設することにより、当該
半導体ICチップ12にかかる機械的外力によるチップ
クラックの発生の防止を図っている。なお、図中符号1
2bは半導体ICチップ12の検査用及び位置決め用の
ダミー端子、13bはアンテナコイル11と接続回路1
3との電気的絶縁を図る絶縁膜である。
触型ICカード1は、ポリエチレンテレフタレート等の
有機高分子材料からなる薄板状の回路基材10の表面
に、アンテナコイル11並びにこのアンテナコイル11
の始点11a及び終点11bから半導体ICチップ12
の接続端子12aに通じる接続回路13を形成し、アン
ダフィル材14を介して当該半導体ICチップ12の接
続端子12aと接続回路13の回路端子13aとの導通
を確保しつつ回路基材1に半導体ICチップ12を固定
して電子回路基板を形成し、これらを覆うようにホット
メルト材で中間層15を形成し、この中間層15にさら
に表面フィルム16を貼り付けた構成のものが知られて
おり、さらに必要に応じ、半導体ICチップ12上に薄
い金属板等の補強部材17を配設することにより、当該
半導体ICチップ12にかかる機械的外力によるチップ
クラックの発生の防止を図っている。なお、図中符号1
2bは半導体ICチップ12の検査用及び位置決め用の
ダミー端子、13bはアンテナコイル11と接続回路1
3との電気的絶縁を図る絶縁膜である。
【0004】アンテナコイル及び接続回路13は、Ag
粉末ペースト等の導電ペーストを用いたスクリーン印
刷、Cu等の金属箔のエッチング、又は薄膜形成技術等
の種々の手法により形成する。
粉末ペースト等の導電ペーストを用いたスクリーン印
刷、Cu等の金属箔のエッチング、又は薄膜形成技術等
の種々の手法により形成する。
【0005】また、例えば、図10及び図11に示した
ように、接続回路13の回路端子13aと半導体ICチ
ップ12の接続端子12aとをワイヤボンデイング18
により接続するとともに、接着剤(図示せず)により半
導体ICチップ12を回路基材10に固着して電子回路
基板を形成し、さらにこれを覆うようにホットメルト接
着剤で中間層15を形成し、この中間層15にさらに表
面フィルム16を貼り付けた構成のものも知られてい
る。なお、符号18aはボンディングワイヤ18の保護
部材である。
ように、接続回路13の回路端子13aと半導体ICチ
ップ12の接続端子12aとをワイヤボンデイング18
により接続するとともに、接着剤(図示せず)により半
導体ICチップ12を回路基材10に固着して電子回路
基板を形成し、さらにこれを覆うようにホットメルト接
着剤で中間層15を形成し、この中間層15にさらに表
面フィルム16を貼り付けた構成のものも知られてい
る。なお、符号18aはボンディングワイヤ18の保護
部材である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の従来
のICカード、特に、厚さが0.5mm以下であるよう
な可撓性を有する電子回路基板を備えたICカードの場
合には、半導体ICチップ12の実装部分を押すような
力を繰り返し加えたり、カードを繰り返して曲げると、
アンテナコイル11の始点11a及び終点11bから半
導体ICチップ12の接続端子12aに通じる接続回路
13、ボンデイングワイヤ18あるいは当該ワイヤ18
と接続回路13の回路端子13aとの接続部分が断線
し、カードの機能が損なわれることが判明した。
のICカード、特に、厚さが0.5mm以下であるよう
な可撓性を有する電子回路基板を備えたICカードの場
合には、半導体ICチップ12の実装部分を押すような
力を繰り返し加えたり、カードを繰り返して曲げると、
アンテナコイル11の始点11a及び終点11bから半
導体ICチップ12の接続端子12aに通じる接続回路
13、ボンデイングワイヤ18あるいは当該ワイヤ18
と接続回路13の回路端子13aとの接続部分が断線
し、カードの機能が損なわれることが判明した。
【0007】特に、接続回路13の断線について詳述す
ると、補強材17がない場合には、カードにおける半導
体ICチップ12の実装部分への加圧によって生じる当
該半導体ICチップ12の実装部分の沈み込みによるカ
ードの部分的な曲がりや、カード全体が曲がった際にお
ける半導体ICチップ12の実装部分の局部的な曲がり
が生じたときは、アンダフィル材14の周縁部近傍にお
いて、カードの曲がりが局部的に屈折状態となるため、
接続回路13におけるアンダフィル材14の周縁部又は
その近傍で応力が集中し、これが繰り返されることによ
り、接続回路13が断線することが明らかとなった。
ると、補強材17がない場合には、カードにおける半導
体ICチップ12の実装部分への加圧によって生じる当
該半導体ICチップ12の実装部分の沈み込みによるカ
ードの部分的な曲がりや、カード全体が曲がった際にお
ける半導体ICチップ12の実装部分の局部的な曲がり
が生じたときは、アンダフィル材14の周縁部近傍にお
いて、カードの曲がりが局部的に屈折状態となるため、
接続回路13におけるアンダフィル材14の周縁部又は
その近傍で応力が集中し、これが繰り返されることによ
り、接続回路13が断線することが明らかとなった。
【0008】また、半導体ICチップの機械的強度確保
等のために半導体ICチップの上に補強板17を配設す
る構造においては、通常は補強板17の面積がチップの
面積の1.5倍程度以上あり、かつその剛性が高くて補
強板17の部分的曲がりがほとんどない場合には、カー
ドにおける半導体ICチップ12の実装部分への加圧に
よって生じる当該半導体ICチップ12の実装部分の沈
み込みによる部分的なカードの曲がりや、カードが全体
的に曲がった際における半導体ICチップ12の実装部
分の局部的な曲がりが生じたときは、補強板17の周縁
部近傍において、カードの曲がりが局部的に屈折状態に
なるため、接続回路13における補強板17の周縁部又
はその近傍に応力が集中し、これが繰り返されることに
より、接続回路13が断線することが明らかになった。
等のために半導体ICチップの上に補強板17を配設す
る構造においては、通常は補強板17の面積がチップの
面積の1.5倍程度以上あり、かつその剛性が高くて補
強板17の部分的曲がりがほとんどない場合には、カー
ドにおける半導体ICチップ12の実装部分への加圧に
よって生じる当該半導体ICチップ12の実装部分の沈
み込みによる部分的なカードの曲がりや、カードが全体
的に曲がった際における半導体ICチップ12の実装部
分の局部的な曲がりが生じたときは、補強板17の周縁
部近傍において、カードの曲がりが局部的に屈折状態に
なるため、接続回路13における補強板17の周縁部又
はその近傍に応力が集中し、これが繰り返されることに
より、接続回路13が断線することが明らかになった。
【0009】従って、本発明の目的は、繰り返し使用等
によるアンテナコイルから半導体ICチップへ通じる接
続回路の断線等の発生を確実に抑えることができる電子
回路基板を提供することにある。
によるアンテナコイルから半導体ICチップへ通じる接
続回路の断線等の発生を確実に抑えることができる電子
回路基板を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、半導体ICチップと、回路パターンと、該
回路パターンの端点から前記半導体ICチップの接続端
子に通じる接続回路とを基材上に備えており、前記半導
体ICチップがフェイスダウンの状態でアンダフィル材
を介して前記基材上に実装されてなる電子回路基板にお
いて、前記接続回路が前記アンダフィル材の周縁部の外
側において分岐した分岐回路を有し、かつ該分岐回路が
前記接続端子に異なる方向から通じるように布線されて
いることを第1の特徴としている。
の本発明は、半導体ICチップと、回路パターンと、該
回路パターンの端点から前記半導体ICチップの接続端
子に通じる接続回路とを基材上に備えており、前記半導
体ICチップがフェイスダウンの状態でアンダフィル材
を介して前記基材上に実装されてなる電子回路基板にお
いて、前記接続回路が前記アンダフィル材の周縁部の外
側において分岐した分岐回路を有し、かつ該分岐回路が
前記接続端子に異なる方向から通じるように布線されて
いることを第1の特徴としている。
【0011】また、本発明は、半導体ICチップと、回
路パターンと、該回路パターンの端点から前記半導体I
Cチップの接続端子に通じる接続回路とを基材上に備え
ており、前記半導体ICチップがフェイスダウンの状態
でアンダフィル材を介して前記基材上に実装されてなる
電子回路基板において、前記接続回路と前記接続端子を
接続する回路端子が、前記半導体ICチップの少なくと
も二つの縁辺にかかり、かつ前記アンダフィル材の周縁
部より外側に露出する形態とされていることを第2の特
徴としている。
路パターンと、該回路パターンの端点から前記半導体I
Cチップの接続端子に通じる接続回路とを基材上に備え
ており、前記半導体ICチップがフェイスダウンの状態
でアンダフィル材を介して前記基材上に実装されてなる
電子回路基板において、前記接続回路と前記接続端子を
接続する回路端子が、前記半導体ICチップの少なくと
も二つの縁辺にかかり、かつ前記アンダフィル材の周縁
部より外側に露出する形態とされていることを第2の特
徴としている。
【0012】また、本発明は、半導体ICチップと、回
路パターンと、該回路パターンの端点から前記半導体I
Cチップの接続端子に通じる接続回路とを基材上に備え
ており、前記半導体ICチップが、フェイスアップの状
態でボンディングワイヤを介して前記基材上に実装され
てなる電子回路基板において、前記接続回路が前記半導
体ICチップの周縁部の外側において分岐され、かつ該
接続回路と前記ボンディングワイヤとを接続する回路端
子が、前記半導体ICチップの周縁部の外側に設けら
れ、前記回路端子と前記接続端子とを接続させる前記ボ
ンディングワイヤが前記半導体ICチップの縁辺を跨い
で配設されていることを第3の特徴としている。
路パターンと、該回路パターンの端点から前記半導体I
Cチップの接続端子に通じる接続回路とを基材上に備え
ており、前記半導体ICチップが、フェイスアップの状
態でボンディングワイヤを介して前記基材上に実装され
てなる電子回路基板において、前記接続回路が前記半導
体ICチップの周縁部の外側において分岐され、かつ該
接続回路と前記ボンディングワイヤとを接続する回路端
子が、前記半導体ICチップの周縁部の外側に設けら
れ、前記回路端子と前記接続端子とを接続させる前記ボ
ンディングワイヤが前記半導体ICチップの縁辺を跨い
で配設されていることを第3の特徴としている。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を添付
図面に基づいて説明する。なお、本発明は、本実施形態
に限定されるものではなく、寸法形状等は適宜変更する
ことができるものである。
図面に基づいて説明する。なお、本発明は、本実施形態
に限定されるものではなく、寸法形状等は適宜変更する
ことができるものである。
【0014】まず、本発明に係る電子回路基板の第1実
施形態について、図1及び図2に基づいて説明する。な
お、これらの図において、符号2は電子回路基板を示し
ている。
施形態について、図1及び図2に基づいて説明する。な
お、これらの図において、符号2は電子回路基板を示し
ている。
【0015】図1に示したように、電子回路基板2は、
半導体ICチップ20と、アンテナコイル(回路パター
ン)21と、このアンテナコイル21の始点(端点)2
1a及び終点(端点)21bから半導体ICチップ20
の接続端子20aに通じる接続回路22とを下部外装板
23上に備えている。
半導体ICチップ20と、アンテナコイル(回路パター
ン)21と、このアンテナコイル21の始点(端点)2
1a及び終点(端点)21bから半導体ICチップ20
の接続端子20aに通じる接続回路22とを下部外装板
23上に備えている。
【0016】半導体ICチップ20は、寸法形状が3m
m×2mm角で、フェイスダウンの状態でアンダフィル
材24を介して下部外装板23上に実装されている。半
導体ICチップ20の表面には、接続端子20aの他
に、例えば半導体ICチップ20の機能をチェックする
ため、あるいは半導体ICチップ20の実装において当
該半導体ICチップ20を下部外装板23に平行に搭載
するためのダミー端子20bが形成されている。
m×2mm角で、フェイスダウンの状態でアンダフィル
材24を介して下部外装板23上に実装されている。半
導体ICチップ20の表面には、接続端子20aの他
に、例えば半導体ICチップ20の機能をチェックする
ため、あるいは半導体ICチップ20の実装において当
該半導体ICチップ20を下部外装板23に平行に搭載
するためのダミー端子20bが形成されている。
【0017】また、本実施形態では、半導体ICチップ
20上に、チップのひび割れの発生を防止する、厚さ
0.1mm、6mm×5mm角の金属(ステンレス)製
の補強板25が接着剤(図示せず)で接着固定されてい
る。
20上に、チップのひび割れの発生を防止する、厚さ
0.1mm、6mm×5mm角の金属(ステンレス)製
の補強板25が接着剤(図示せず)で接着固定されてい
る。
【0018】図2に示したように、アンテナコイル21
及び接続回路22は、Agペーストを使用したスクリー
ン印刷方法によって形成したものである。本実施形態に
おいては、アンテナコイル21は、幅0.2mm、間隔
0.2で6ターンで形成されている。また、接続回路2
2の先端部には、回路端子22aが形成されており、本
実施形態においては、この回路端子22aは0.3mm
×0.3mm角とされている。なお、接続回路22にお
けるアンテナコイル21の終点21bから回路端子22
aに至る部分には、当該アンテナコイル21を跨ぐよう
に周知の方法により電気絶縁膜26が設けられている。
及び接続回路22は、Agペーストを使用したスクリー
ン印刷方法によって形成したものである。本実施形態に
おいては、アンテナコイル21は、幅0.2mm、間隔
0.2で6ターンで形成されている。また、接続回路2
2の先端部には、回路端子22aが形成されており、本
実施形態においては、この回路端子22aは0.3mm
×0.3mm角とされている。なお、接続回路22にお
けるアンテナコイル21の終点21bから回路端子22
aに至る部分には、当該アンテナコイル21を跨ぐよう
に周知の方法により電気絶縁膜26が設けられている。
【0019】接続回路22は、補強板25の周縁部の外
側において分岐された分岐回路22b,22cを有して
おり、これら分岐回路22b、22cは半導体ICチッ
プ20の少なくとも二つの縁辺を通じて二方向から当該
半導体ICチップ20の接続端子20aに通じるように
布線されている。
側において分岐された分岐回路22b,22cを有して
おり、これら分岐回路22b、22cは半導体ICチッ
プ20の少なくとも二つの縁辺を通じて二方向から当該
半導体ICチップ20の接続端子20aに通じるように
布線されている。
【0020】アンダフィル材24は、Au粒子を含んだ
異方導電性を有する接着剤であり、半導体ICチップ2
0の接続端子20aと接続回路22の回路端子22aと
の導通を確保しつつ半導体ICチップ20を下部外装板
23上に固着している。アンダフィル材24は、その周
縁部が半導体ICチップ20の周縁部の外側になるよう
に配設されている。
異方導電性を有する接着剤であり、半導体ICチップ2
0の接続端子20aと接続回路22の回路端子22aと
の導通を確保しつつ半導体ICチップ20を下部外装板
23上に固着している。アンダフィル材24は、その周
縁部が半導体ICチップ20の周縁部の外側になるよう
に配設されている。
【0021】上記のように構成した電子回路基板2にお
いては、接続回路22が補強板25の周縁部の外側にお
いて分岐し、かつ当該補強板25の二つの縁辺を通じて
半導体ICチップ20の接続端子20aに接続されてい
るので、仮に、補強板25の周縁部又はその近傍に応力
が集中し、局部的な屈折の繰り返しにより、一方の分岐
回路が断線しても他方の分岐回路によって導通が確保さ
れるため、繰り返し使用により支障を来すおそれがほと
んどない。
いては、接続回路22が補強板25の周縁部の外側にお
いて分岐し、かつ当該補強板25の二つの縁辺を通じて
半導体ICチップ20の接続端子20aに接続されてい
るので、仮に、補強板25の周縁部又はその近傍に応力
が集中し、局部的な屈折の繰り返しにより、一方の分岐
回路が断線しても他方の分岐回路によって導通が確保さ
れるため、繰り返し使用により支障を来すおそれがほと
んどない。
【0022】上記電子回路基板2を使用してICカード
を作製する場合には、上記従来技術(図8参照)におけ
ると同様に、上記電子回路基板2に、ウレタン系ホット
メルト等のこの種の技術に使用される通常の熱可塑性の
有機高分子材料を中間層として、また、上部外装板とし
て、ポリエチレンテレフタレート等の有機高分子材料か
らなる所定の寸法形状の薄板を形成し、加熱プレスして
作製する。
を作製する場合には、上記従来技術(図8参照)におけ
ると同様に、上記電子回路基板2に、ウレタン系ホット
メルト等のこの種の技術に使用される通常の熱可塑性の
有機高分子材料を中間層として、また、上部外装板とし
て、ポリエチレンテレフタレート等の有機高分子材料か
らなる所定の寸法形状の薄板を形成し、加熱プレスして
作製する。
【0023】なお、補強板25を配設しない場合には、
例えば、図3に示した第2実施形態の電子回路基板にお
けるように、接続回路22をアンダフィル材24の周縁
部の外側において分岐させる。これにより、当該アンダ
フィル材24の周縁部又はその近傍に応力が集中し、局
部的な屈折の繰り返しにより、一方の分岐回路が断線し
ても他方の分岐回路によってアンテナコイル21との間
の導通が確保されるため、第1実施形態の電子回路基板
2と同様に、例えば、可繞性を有する非接触型ICカー
ドに適用した場合においても、繰り返し使用により支障
を来すおそれがほとんどない。
例えば、図3に示した第2実施形態の電子回路基板にお
けるように、接続回路22をアンダフィル材24の周縁
部の外側において分岐させる。これにより、当該アンダ
フィル材24の周縁部又はその近傍に応力が集中し、局
部的な屈折の繰り返しにより、一方の分岐回路が断線し
ても他方の分岐回路によってアンテナコイル21との間
の導通が確保されるため、第1実施形態の電子回路基板
2と同様に、例えば、可繞性を有する非接触型ICカー
ドに適用した場合においても、繰り返し使用により支障
を来すおそれがほとんどない。
【0024】次に、本発明に係る電子回路基板の第3実
施形態を図4及び図5に基づいて説明する。なお、これ
らの図において、上記第1実施形態と共通する部分につ
いては、同一符号を付し、その説明は省略する。
施形態を図4及び図5に基づいて説明する。なお、これ
らの図において、上記第1実施形態と共通する部分につ
いては、同一符号を付し、その説明は省略する。
【0025】本実施形態においては、第1実施形態にお
ける分岐回路22b,22cに換えて、接続回路22の
回路端子22aが、半導体ICチップ20の接続端子2
0aを含むとともに当該半導体ICチップ20の二つの
縁辺にかかり、かつその一部が補強材25の周縁部より
外側に露出する形態とされている。
ける分岐回路22b,22cに換えて、接続回路22の
回路端子22aが、半導体ICチップ20の接続端子2
0aを含むとともに当該半導体ICチップ20の二つの
縁辺にかかり、かつその一部が補強材25の周縁部より
外側に露出する形態とされている。
【0026】このようにして作製した可撓性のある電子
回路基板2においては、半導体ICチップ20の実装部
分を押すような力や繰返のカードが曲げを受けた場合
に、アンダフィル材の周縁部又はその近傍の細い配線に
大きな変形がかかるということが無くなり、変形に伴う
断線が回避され、さらに方向性のあるより強い変形を受
けても、半導体ICチップ20の接続端子20aに通じ
る回路端子22cが大面積で形成されていることから、
半導体ICチップ20とアンテナコイルへ21との接続
回路の断線を極力抑えることができる。従って、第1実
施形態におけると同様に、例えば、可繞性を有する非接
触型ICカードに適用した場合においても、繰り返し使
用により支障を来すおそれがほとんどない。
回路基板2においては、半導体ICチップ20の実装部
分を押すような力や繰返のカードが曲げを受けた場合
に、アンダフィル材の周縁部又はその近傍の細い配線に
大きな変形がかかるということが無くなり、変形に伴う
断線が回避され、さらに方向性のあるより強い変形を受
けても、半導体ICチップ20の接続端子20aに通じ
る回路端子22cが大面積で形成されていることから、
半導体ICチップ20とアンテナコイルへ21との接続
回路の断線を極力抑えることができる。従って、第1実
施形態におけると同様に、例えば、可繞性を有する非接
触型ICカードに適用した場合においても、繰り返し使
用により支障を来すおそれがほとんどない。
【0027】なお、補強板25を配設しない場合には、
例えば、図6に示した第4実施形態の電子回路基板にお
けるように、接続回路22の回路端子22aを半導体I
Cチップ20の接続端子20aを含むとともに当該半導
体ICチップ20の二つの縁辺にかかり、かつその一部
がアンダフィル材24の周縁部より外側に露出する形態
とする。これにより、当該アンダフィル材24の周縁部
又はその近傍に応力が集中し、局部的な屈折の繰り返し
が生じてもアンテナコイル21との間の導通が確保され
るため、第1実施形態の電子回路基板2と同様に、例え
ば、可繞性を有する非接触型ICカードに適用した場合
においても、繰り返し使用により支障を来すおそれがほ
とんどない。
例えば、図6に示した第4実施形態の電子回路基板にお
けるように、接続回路22の回路端子22aを半導体I
Cチップ20の接続端子20aを含むとともに当該半導
体ICチップ20の二つの縁辺にかかり、かつその一部
がアンダフィル材24の周縁部より外側に露出する形態
とする。これにより、当該アンダフィル材24の周縁部
又はその近傍に応力が集中し、局部的な屈折の繰り返し
が生じてもアンテナコイル21との間の導通が確保され
るため、第1実施形態の電子回路基板2と同様に、例え
ば、可繞性を有する非接触型ICカードに適用した場合
においても、繰り返し使用により支障を来すおそれがほ
とんどない。
【0028】次に、本発明の第5実施形態に係る電子回
路基板について、図7に基づいて説明する。なお、これ
らの図において、上記第1実施形態と共通する部分につ
いては、同一符号を付し、その説明は省略する。
路基板について、図7に基づいて説明する。なお、これ
らの図において、上記第1実施形態と共通する部分につ
いては、同一符号を付し、その説明は省略する。
【0029】本実施の形態では、半導体ICチップ20
の接続端子20aと接続回路22の回路端子22aとが
ボンデイングワイヤ27により接続されている。接続回
路22が半導体ICチップ20の周縁部の外側において
分岐され、分岐回路22b,22cの先端部に設けられ
た回路端子22aは、ボンディングワイヤ27が半導体
ICチップ20の二つの辺を跨ぐように配置されてい
る。
の接続端子20aと接続回路22の回路端子22aとが
ボンデイングワイヤ27により接続されている。接続回
路22が半導体ICチップ20の周縁部の外側において
分岐され、分岐回路22b,22cの先端部に設けられ
た回路端子22aは、ボンディングワイヤ27が半導体
ICチップ20の二つの辺を跨ぐように配置されてい
る。
【0030】第5実施形態の電子回路基板2において
は、半導体ICチップ20の実装部分を押すような力や
曲げ応力を繰り返し受けても、半導体ICチップ20の
接続端子20aと、接続回路22の回路端子22aとが
異なる方向の2本のボンデイングワイヤ27により接続
されていることから、一方のボンディングワイヤが断線
しても、他方のボンディングワイヤによりアンテナコイ
ルへ21の導通が確保されるので、第1実施形態の電子
回路基板2と同様に、例えば、可繞性を有する非接触型
ICカードに適用した場合においても、繰り返し使用に
より支障を来すおそれがほとんどない。
は、半導体ICチップ20の実装部分を押すような力や
曲げ応力を繰り返し受けても、半導体ICチップ20の
接続端子20aと、接続回路22の回路端子22aとが
異なる方向の2本のボンデイングワイヤ27により接続
されていることから、一方のボンディングワイヤが断線
しても、他方のボンディングワイヤによりアンテナコイ
ルへ21の導通が確保されるので、第1実施形態の電子
回路基板2と同様に、例えば、可繞性を有する非接触型
ICカードに適用した場合においても、繰り返し使用に
より支障を来すおそれがほとんどない。
【0031】なお、上記各実施形態では、下部外装板2
3の表面のアンテナコイル21及び接続回路22を、A
gペーストを使用したスクリーン印刷技術により形成し
たが、CuやAl等の金属箔のエッチングによるアンテ
ナ用導体膜のパタニング、CuやNi等の金属の選択的
めっきによるパタニング、あるいは薄膜形成工程による
Al等の金属薄膜パタニングのいずれにおいても、本発
明と同様の構成の電子回路基板を作製することができ
る。
3の表面のアンテナコイル21及び接続回路22を、A
gペーストを使用したスクリーン印刷技術により形成し
たが、CuやAl等の金属箔のエッチングによるアンテ
ナ用導体膜のパタニング、CuやNi等の金属の選択的
めっきによるパタニング、あるいは薄膜形成工程による
Al等の金属薄膜パタニングのいずれにおいても、本発
明と同様の構成の電子回路基板を作製することができ
る。
【0032】また、上記第1,第2、第5実施形態で
は、接続回路を分岐して二つの分岐回路設けたが、二つ
以上に分岐させてもよいことは言うまでもない。
は、接続回路を分岐して二つの分岐回路設けたが、二つ
以上に分岐させてもよいことは言うまでもない。
【0033】本発明に係る電子回路基板は、回路パター
ンとしてアンテナコイル備えた非接触型ICカード用の
電子回路基板として特に好適であるが、回路パターンを
アンテナコイル以外の回路パターンとすることにより、
他の電子回路基板としても適用できることはいうまでも
ない。
ンとしてアンテナコイル備えた非接触型ICカード用の
電子回路基板として特に好適であるが、回路パターンを
アンテナコイル以外の回路パターンとすることにより、
他の電子回路基板としても適用できることはいうまでも
ない。
【0034】
【発明の効果】本発明に係る電子回路基板によれば、繰
り返し使用等による回路パターンから半導体ICチップ
へ通じる接続回路の断線等を確実に抑えることができ
る。従って、例えば、非接触型ICカードに適用した場
合においても、信頼性の高いカードを提供することがで
きる。
り返し使用等による回路パターンから半導体ICチップ
へ通じる接続回路の断線等を確実に抑えることができ
る。従って、例えば、非接触型ICカードに適用した場
合においても、信頼性の高いカードを提供することがで
きる。
【図1】本発明の第1実施形態を示す概略平面図であ
る。
る。
【図2】同実施形態における配線パターンを示す概略平
面図である。
面図である。
【図3】本発明の第2実施形態を示す概略平面図であ
る。
る。
【図4】本発明の第3実施形態を示す概略平面図であ
る。
る。
【図5】同実施形態における配線パターンを示す概略平
面図である。
面図である。
【図6】本発明の第4実施形態を示す概略平面図であ
る。
る。
【図7】本発明の第5実施形態を示す概略平面図であ
る。
る。
【図8】従来の非接触型ICカードの構成を示す概略断
面図である。
面図である。
【図9】同非接触型ICカードにおける電子回路基板の
配線パターン及び半導体ICチップの配置を示す概略平
面図である。
配線パターン及び半導体ICチップの配置を示す概略平
面図である。
【図10】従来の非接触型ICカードの構成を示す概略
断面図である。
断面図である。
【図11】同非接触型ICカードにおける電子回路基板
の配線パターン及び半導体ICチップの配置を示す概略
平面図である。
の配線パターン及び半導体ICチップの配置を示す概略
平面図である。
2:電子回路基板、20:半導体ICチップ、20a:
接続端子、21:回路パターン、22:接続回路、22
b,22c:分岐回路、21a:始点(端点)、21
b:終点(端点)、23:回路基材(基材)、24:ア
ンダフィル材、27:ボンディングワイヤ。
接続端子、21:回路パターン、22:接続回路、22
b,22c:分岐回路、21a:始点(端点)、21
b:終点(端点)、23:回路基材(基材)、24:ア
ンダフィル材、27:ボンディングワイヤ。
フロントページの続き (72)発明者 石坂 裕宣 茨城県下館市大字五所宮1150 日立化成工 業株式会社五所宮事業所内 (72)発明者 竹中 隆次 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所エンタープライズサーバ事業部内 (72)発明者 関端 正雄 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所エンタープライズサーバ事業部内 Fターム(参考) 5B035 AA08 AA11 BA03 BA05 BB09 CA01 CA03 CA06 CA08 CA23 CA31 5E338 AA12 BB63 BB75 CC01 CD32 EE27
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体ICチップと、回路パターンと、
該回路パターンの端点から前記半導体ICチップの接続
端子に通じる接続回路とを基材上に備えており、前記半
導体ICチップがフェイスダウンの状態でアンダフィル
材を介して前記基材上に実装されてなる電子回路基板に
おいて、前記接続回路が前記アンダフィル材の周縁部の
外側において分岐した分岐回路を有し、かつ該分岐回路
が前記接続端子にそれぞれ異なる方向から通じるように
布線されていることを特徴とする電子回路基板。 - 【請求項2】 半導体ICチップと、回路パターンと、
該回路パターンの端点から前記半導体ICチップの接続
端子に通じる接続回路とを基材上に備えており、前記半
導体ICチップがフェイスダウンの状態でアンダフィル
材を介して前記基材上に実装されてなる電子回路基板に
おいて、前記接続回路と前記接続端子を接続する回路端
子が、前記半導体ICチップの少なくとも二つの縁辺に
かかり、かつ前記アンダフィル材の周縁部より外側に露
出する形態とされていることを特徴とする電子回路基
板。 - 【請求項3】 半導体ICチップと、回路パターンと、
該回路パターンの端点から前記半導体ICチップの接続
端子に通じる接続回路とを基材上に備えており、前記半
導体ICチップが、フェイスアップの状態でボンディン
グワイヤを介して前記基材上に実装されてなる電子回路
基板において、前記接続回路が前記半導体ICチップの
周縁部の外側において分岐され、かつ該接続回路と前記
ボンディングワイヤとを接続する回路端子が、前記半導
体ICチップの周縁部の外側に設けられ、該回路端子と
前記接続端子とを接続させる前記ボンディングワイヤが
前記半導体ICチップの縁辺を跨いで配設されているこ
とを特徴とする電子回路基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11227821A JP2001053395A (ja) | 1999-08-11 | 1999-08-11 | 電子回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11227821A JP2001053395A (ja) | 1999-08-11 | 1999-08-11 | 電子回路基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001053395A true JP2001053395A (ja) | 2001-02-23 |
Family
ID=16866913
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11227821A Pending JP2001053395A (ja) | 1999-08-11 | 1999-08-11 | 電子回路基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001053395A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007287062A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Dainippon Printing Co Ltd | 非接触icタグと非接触icタグのicチップ装着検査方法 |
-
1999
- 1999-08-11 JP JP11227821A patent/JP2001053395A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007287062A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Dainippon Printing Co Ltd | 非接触icタグと非接触icタグのicチップ装着検査方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060622 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060725 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060925 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061121 |