JP2001027759A - 液晶表示装置 - Google Patents
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Abstract
もTFT駆動を行うことができる液晶表示装置を提供す
る。 【解決手段】 第1の電極26が形成された第1の基板
10と、第2の電極48が形成された第2の基板40
と、第1の基板及び/又は第2の基板に形成された配向
制御手段28、50と、第1の基板及び/又は第2の基
板に形成された配向膜30、52と、第1の基板と第2
の基板との間に封入された負の誘電率異方性を有する液
晶60とを有する液晶表示装置において、配向膜は、脂
環族を含む酸無水物と、液晶分子を垂直配向する成分を
側鎖に有する第1のジアミンと、第1のジアミンより高
い誘電率を有する第2のジアミンとを含むポリアミック
酸である。
Description
り、特に垂直配向型の液晶材料を用いた液晶表示装置に
関する。
た液晶表示装置(LCD:Liquid Crystal Display)と
しては、正の誘電率異方性をもつ液晶分子を基板面に水
平に、且つ、対向する基板間で90°ツイストするよう
に配向させた、TN(TwistedNematic)モードの液晶表
示装置が広く用いられている。しかしながら、TNモー
ドの液晶表示装置は視覚特性が悪いという問題を有して
おり、視覚特性を改善すべく種々の検討が行われてい
る。
て、負の誘電率異方性を有する液晶材料を垂直配向さ
せ、且つ、基板表面に設けた突起やスリットにより電圧
印加時の液晶分子の傾斜方向を規制するMVA(Multi-
domain Vertical Alignment)方式の液晶表示装置が提
案されている。
を図21及び図22を用いて説明する。図21は、提案
されているMVA方式の液晶表示装置を示す概念図であ
る。図22は、提案されているMVA方式の液晶表示装
置の液晶分子の配向方向を示す概念図である。
ラス基板の間に垂直配向型の液晶材料が封入されてい
る。一方のガラス基板側には、TFT(図示せず)に接
続された画素電極126が形成されており、他方のガラ
ス基板側には、対向電極148が形成されている。そし
て、画素電極126上、対向電極148上には、それぞ
れ突起128、150が形成されている。
(a)に示すように、液晶分子162はガラス基板と垂
直な方向に配向されている。
は、液晶に電界が加わり、突起の形成状態によって液晶
分子の傾斜方向が規制される。これにより、液晶分子
が、図21(b)に示すように、一画素内において複数
の方向に配向する。例えば、図22のように突起12
8、150が形成されている場合には、液晶分子はA、
B、C、及びDの方向にそれぞれ配向する。このよう
に、MVA方式の液晶表示装置では、TFTをON状態
にした際に液晶分子が複数の方向に配向されるので、良
好な視覚特性を得ることができる。
方式の液晶表示装置には、従来のTNモードの液晶表示
装置に用いられていた液晶材料とは全く異なる垂直配向
型の液晶材料が用いられており、このような液晶材料を
用いてTFT駆動を可能とし得るような良質な垂直配向
膜は未だ実現されていなかった。このため、信頼性の高
いMVA方式の液晶表示装置を提供することは、困難で
あった。
用いた場合であってもTFT駆動を行うことができる液
晶表示装置を提供することにある。
が形成された第1の基板と、前記第1の電極に対向する
第2の電極が形成された第2の基板と、前記第1の基板
及び/又は前記第2の基板に形成された配向制御手段
と、前記第1の基板及び/又は前記第2の基板に形成さ
れた配向膜と、前記第1の基板と前記第2の基板との間
に封入された負の誘電率異方性を有する液晶とを有する
液晶表示装置において、前記配向膜は、脂環族を含む酸
無水物と、液晶分子を垂直配向する成分を側鎖に有する
第1のジアミンと、前記第1のジアミンより高い誘電率
を有する第2のジアミンとを含むポリアミック酸である
ことを特徴とする液晶表示装置により達成される。これ
により、良質な配向膜を形成することができるので、信
頼性が高く、輝度の高いMVA方式の液晶表示装置を提
供することができる。
酸無水物は、脂環族のみから成ることが望ましい。
配向膜は、カルボン酸基と熱架橋反応する有機化合物を
含むことが望ましい。
配向膜は、前記第1のジアミンを約10%〜30%含む
ことが望ましい。
配向制御手段は、突起及び/又はスリットの組み合わせ
であることが望ましい。
配向制御手段は、前記第1の基板に形成された突起であ
る第1の配向制御手段と、前記第2の基板に形成された
突起である第2の配向制御手段とから成り、前記第1の
配向制御手段及び前記第2の配向制御手段の高さは、約
1〜1.5μmであり、前記第1の配向制御手段及び前
記配向制御手段の幅は、約5〜10μmであり、前記第
1の配向制御手段と前記第2の配向制御手段との間隙
は、約10〜30μmであることが望ましい。
配向制御手段は、前記第1の電極に形成されたスリット
である第1の配向制御手段と、前記第2の電極に形成さ
れたスリットである第2の配向制御手段とから成り、前
記第1の配向制御手段及び前記第2の配向制御手段の幅
は、約10〜20μmであり、前記第1の配向制御手段
と前記第2の配向制御手段との間隙は、約10〜30μ
mであることが望ましい。
配向制御手段は、前記第1の電極上に形成された突起で
ある第1の配向制御手段と、前記第2の電極に形成され
たスリットである第2の配向制御手段とから成り、前記
第1の配向制御手段の高さは、約1〜1.5μmであ
り、前記第1の配向制御手段の幅は、約5〜10μmで
あり、前記第2の配向制御手段の幅は、約10〜20μ
mであり、前記第1の配向制御手段と前記第2の配向制
御手段との間隙は、約10〜30μmであることが望ま
しい。
配向制御手段は、前記第1の基板に形成された第1の配
向制御手段と、前記第2の基板に形成された第2の配向
制御手段とから成り、前記第1の配向制御手段と前記第
2の配向制御手段との間隙は、約20〜30μmであ
り、前記配向膜に前記第1のジアミンが約30%含まれ
ていることが望ましい。
配向制御手段は、前記第1の基板に形成された第1の配
向制御手段と、前記第2の基板に形成された第2の配向
制御手段とから成り、前記第1の配向制御手段と前記第
2の配向制御手段との間隙は、約10〜20μmであ
り、前記配向膜に前記第1のジアミンが約10%含まれ
ていることが望ましい。
配向制御手段は、前記第1の基板及び/又は前記第2の
基板に形成された突起を有し、前記突起の高さは、約
0.5〜1μmであり、前記配向膜に前記第1のジアミ
ンが約30%含まれていることが望ましい。
配向制御手段は、前記第1の基板及び/又は前記第2の
基板に形成された突起を有し、前記突起の高さは、約
1.5μm以上であり、前記配向膜に前記第1のジアミ
ンが約30%含まれていることが望ましい。
装置について図1及び図2を用いて説明する。図1は、
MVA方式の液晶表示装置を示す平面図である。図2
は、図1のA−A′線断面図である。なお、本発明は、
図1に示すようなMVA方式の液晶表示装置のみなら
ず、垂直配向型の液晶材料を用いた液晶表示装置に広く
適用することができる。
0上には、補助容量を形成するためのCS電極(補助容
量電極)12と、TFTのゲート電極を含むゲートバス
ライン14とが形成されている。CS電極12及びゲー
トバスライン14が形成されたガラス基板10上には、
ゲート絶縁膜16が形成されている。ゲート絶縁膜16
上には、TFTのチャネル領域を構成する活性層18が
形成されている。活性層18が形成されたゲート絶縁膜
16上には、活性層18の一方の側に接続されたソース
電極20と、活性層18の他方の側に接続されたドレイ
ン電極を含むドレインバスライン22とが形成されてい
る。
2が形成されたゲート絶縁膜16上には、絶縁膜24が
形成されている。絶縁膜24上には、ソース電極20に
接続された画素電極26が形成されている。絶縁膜24
及び画素電極26上には、ジグザグ状に屈曲して設けら
れた光透過性の材料より成る突起28が形成されてい
る。画素電極26、突起28が形成された絶縁膜24上
には、液晶分子を垂直方向に配向する配向膜30が形成
されている。なお、突起28の代わりに画素電極26に
スリットを形成することにより、液晶分子の配向方向を
制御してもよい。
トリクス層42が形成されている。ブラックマトリクス
層42が形成されたガラス基板40上には、カラーフィ
ルタを形成する着色(CF)樹脂層46が形成されてい
る。着色樹脂層46上には、対向電極48が形成されて
いる。対向電極48上には、ガラス基板10上に形成さ
れた突起28に対して半ピッチずらしてジグザグ状に屈
曲して設けられた光透過性の材料よりなる突起50が形
成されている。突起50が形成された対向電極48上に
は、液晶分子を垂直方向に配向する配向膜30が形成さ
れている。なお、突起50の代わりに、対向電極48に
スリットを形成することにより、液晶分子の配向方向を
制御してもよい。
基板)10及びガラス基板(CF基板)40は、配向膜
30、52が互いに向かい合うように対向して配置さ
れ、これら基板の間には負の誘電率異方性を有するネガ
型の液晶材料60が封止される。なお、ガラス基板1
0、40間には、基板10、40を所定の距離で離間す
るためのスペーサ(図示せず)が挟み込まれ、これによ
りセルの厚さが設定される。こうして、MVA方式の液
晶表示装置が構成されている。
装置について説明する。
垂直配向膜を用いることによりTFT駆動を可能とする
点に主な特徴の一つがある。
なかったため、垂直配向型の液晶材料を用いてTFT駆
動を行うことは困難であり、このため、信頼性の高いM
VA方式の液晶表示装置を提供することが困難であっ
た。本願発明者らは、信頼性の高いMVA方式の液晶表
示装置を提供すべく鋭意検討した結果、以下のような配
向膜材料を用いれば良質な配向膜を形成しうることに想
到した。
するためには、酸無水物として脂環族を有するポリアミ
ック酸を配向膜材料に用いることが重要であることに想
到した。
いられているが、芳香族は、電子の偏りがあり、酸化還
元反応が起こりやすく、合成時の精製純度の影響を受け
やすい。従って、酸無水物として芳香族のみを用いた場
合には、良質な配向膜を形成することができず、電気的
特性を向上することは困難である。
電気的特性を向上すべく、配向膜材料に、酸無水物とし
て脂環族を導入する。なお、酸無水物として、脂環族の
みを用いてもよいし、脂環族と芳香族とを用いてもよ
い。
れるジアミンとして、側鎖にアルキル鎖を有するジアミ
ンと、アルキル鎖を有しない高誘電率のジアミンとを用
いることが重要であることに想到した。
する成分である。しかし、アルキル鎖を主鎖に有するジ
アミンは、表面張力の低下に寄与しえず、液晶を垂直配
向することができない。従って、液晶分子を垂直配向す
るためには、アルキル鎖を側鎖に有するジアミン、即ち
側鎖型ジアミンを用いることが必要と考えられる。
て低いジアミンである。このため、側鎖型ジアミンを配
向膜材料に導入した場合には、液晶材料の誘電率と配向
膜の誘電率との差が大きくなり、これに伴い、液晶表示
装置の残留DC値が大きくなってしまう。液晶表示装置
の残留DC値が大きくなると、液晶表示装置に焼き付き
が生じやすくなってしまう。
の他に、アルキル鎖を有しない高誘電率のジアミンを用
いる。これにより、液晶材料の誘電率と配向膜の誘電率
との差を小さくすることができるので、液晶表示装置の
電気的特性を向上することができる。
起やスリットの配置条件によって、液晶分子に対する配
向規制力が異なる。即ち、突起やスリットの配置条件に
よって、液晶に電圧を印加した際の液晶分子の傾斜方向
や液晶分子の傾斜の伝播力が異なる。液晶表示装置の輝
度を向上するためには、突起やスリットの配向規制力に
応じて、配向膜の垂直配向性を適宜設定することが望ま
しい。従って、アルキル鎖を有しない高誘電率のジアミ
ンを配向膜材料に導入することは、配向膜の垂直配向性
を適切な値に設定する上でも重要である。
は、配向膜材料をポリイミドの状態で作製するのは困難
である。即ち、基板上に配向膜を塗布するためには、溶
媒中に配向膜材料を溶かす必要があるが、配向膜材料を
ポリイミドの状態で作製した場合には、配向膜材料の成
分や組み合わせ比率等に制約が生じる。また、ポリイミ
ドは、画面の焼き付きが生じやすく、濡れ性も良好でな
いという欠点がある。また、突起やスリットが形成され
たMVA方式の液晶表示装置では、ポリイミドを均一に
塗布するのは困難である。
の材料系を配向膜材料として用いる。これにより、配向
膜材料の成分や組み合わせ比率等の制約を緩和すること
ができ、画面の焼き付きを抑制することができ、濡れ性
も改善することができる。また、ポリアミック酸の材料
系を配向膜材料として用いることにより、はじきを改善
することができ、均一に配向膜を塗布することができ
る。
ルボン酸基が含まれているため、電気的特性の劣化が生
じやすい。
応する熱硬化性有機化合物を配向膜材料に添加する。カ
ルボン酸と反応する熱硬化性有機化合物を配向膜材料に
添加すれば、熱硬化性有機化合物がカルボン酸と反応す
るので電気的特性の劣化を抑制することができ、また、
配向膜の強度も向上することができる。
量は、必ずしも同じ大きさというわけではなく、配向膜
材料中には分子量の小さいポリマも含まれている。分子
量の小さいポリマは、液晶材料中に溶け出しやすく、液
晶表示装置の電気的特性を劣化する要因となる。
ポリマより成る配向膜材料を用いる。分子量の大きいポ
リマより成る配向膜材料を用いれば、液晶材料中に溶け
だしてしまうような分子量の小さいポリマを相対的に少
なく抑えることができる。
起やスリットの形状と電界分布とを適宜設定することに
より、所望の方向に液晶分子が配向し、これによりスイ
ッチングを行う。このため、突起の高さ、突起やスリッ
トの幅、突起やスリットの間隙などのパラメータによ
り、電圧印加時の液晶分子に与える配向規制力が異なる
こととなる。
く、配向膜の垂直配向規制力も弱い場合には、電圧印加
時に液晶分子の配向方向が乱れやすく、このため、輝度
の低下が生じやすい。従って、突起やスリットの配向規
制力が弱い場合には、配向膜の垂直配向規制力を強くす
ることが望ましい。
く、配向膜の垂直配向規制力も強い場合には、電圧を印
加しても液晶分子が傾斜しにくく、このため、輝度の低
下が生じやすい。従って、突起やスリットの配向規制力
が強い場合には、配向膜の垂直配向規制力を弱くする必
要がある。
起やスリットの幅、突起やスリットの間隙などのパラメ
ータに応じて配向膜の垂直配向規制力を最適化し、良好
な表示特性を有する液晶表示装置を提供する。
垂直配向膜を用い、しかも、突起の高さ、突起やスリッ
トの幅、突起やスリットの間隙などのパラメータに応じ
て垂直配向規制力を最適化するので、信頼性が高く、輝
度の高いMVA方式の液晶表示装置を提供することがで
きる。
限らず種々の変形が可能である。
突起が形成された液晶表示装置を例に説明したが、一方
の基板に突起を形成し、他方の基板の電極にスリットを
形成してもよい。これにより、簡便な製造工程で液晶表
示装置を製造することが可能となる。
晶表示装置を例に説明したが、MVA方式の液晶表示装
置のみならず、垂直配向性の液晶材料を用いたあらゆる
液晶表示装置に適用することができる。
た、2分割のMVAセルを作製した。
のレジストLC−200を用い、液晶材料としては、メ
ルク社製の液晶材料MJ−95785を用いた。MVA
評価セルの厚さは、3.5μmとした。
成る酸無水物と、側鎖型ジアミンのモノマとを含むポリ
アミック酸材料を用いた。
させ、MVAセルの電気的特性を測定した。
は、
れる側鎖型ジアミンを用いた。
例えば、
及び図4に示す。図3は、酸無水物における脂環族の導
入割合と電圧保持率との関係を示すグラフである。横軸
は、酸無水物における脂環族の導入割合を示しており、
縦軸は、MVAセルの電圧保持率を示している。なお、
電圧保持率の測定条件は周囲温度70℃とした。図4
は、酸無水物における脂環族の導入割合と液晶中のイオ
ン密度との関係を示すグラフである。横軸は、酸無水物
における脂環族の導入割合を示しており、縦軸は、液晶
中のイオン密度を示している。なお、イオン密度の測定
条件は周囲温度50℃とした。
物における脂環族の導入割合が多くなるに伴って向上し
た。特に、酸無水物における脂環族の導入割合が0〜5
0%の範囲では、脂環族の導入割合の増加に対する電圧
保持率の向上は顕著であった。
酸無水物における脂環族の導入割合が増加するに伴って
低下した。特に、酸無水物における脂環族の導入割合が
0〜50%の範囲では、脂環族の増加に対するイオン密
度の低下は顕著であった。なお、上記と異なる分子構造
の脂環族を導入した場合にも、同様の傾向がみられた。
ミド材料RN−783より成る配向膜を用いて、MVA
セルを作製した。
定した。表1は、MVAセルの電気的特性の測定結果を
示す表である。電圧保持率とイオン密度の測定条件は、
実施例1と同様とした。残留DC値の測定条件は周囲温
度60℃とした。なお、残留DC値は、フリッカ消去法
を用いて測定し、3VのDC電圧を印加してから10分
後の電圧を測定した。
%と低く、液晶中のイオン密度は300pC/cm2と
高く、残留DC値も2.85Vと高かった。
るMVAセルを作製した。
物と側鎖型ジアミンのモノマとを含むポリアミック酸材
料を用いた。比較例2乃至4は、実施例1で示した側鎖
型ジアミンの置換基を適宜置換したものである。
性を測定した。MVAセルの電気的特性の測定結果を表
1に示す。
低く、液晶中のイオン密度は高かった。
膜を用いて、MVAセルを作製した。
成る酸無水物と側鎖型ジアミンのモノマとを含むポリア
ミック酸材料を用いた。
させ、MVAセルの電気的特性を測定した。
は、ベンゼン環を2つ有している点で、実施例1で用い
た芳香族と異なっている。
及び図4に示す。電圧保持率の測定条件は実施例1と同
様に周囲温度70℃とし、イオン密度の測定条件も実施
例1と同様に周囲温度50℃とした。
も実施例1より電気的特性が劣り、特に酸無水物におけ
る脂環族の導入割合が少ない場合には、実施例1と比べ
て電気的特性が顕著に劣っていた。なお、実施例1で示
した脂環族と異なる分子構造の脂環族を導入した場合に
も、同様の傾向がみられた。
ルを作製した。
成る酸無水物と側鎖型ジアミンのモノマとを含むポリア
ミック酸材料に、熱硬化性有機化合物を添加したものを
用いた。
%とした。
なってもよい有機基であって、これらの少なくとも1つ
は、ヘテロ原子、アリール基、アルキレン基又はアルキ
ニル基を含む有機酸を示し、あるいはR2、R3及びR4
は、これらが結合しているN原子とともに単環または多
環のN含有複素環を示す)で表される第三級アミンを用
いた。
加量を変化させ、MVAセルの配向膜の硬度を測定し
た。配向膜材料中に添加された熱硬化性有機化合物の添
加量と配向膜の硬度との関係を表2に示す。表2は、配
向膜の硬度を、鉛筆の硬度として表したものである。表
2において、Bとは、配向膜の硬度がBの鉛筆の硬度と
ほぼ同様であることを示しており、HBとは、配向膜の
硬度がHBの鉛筆の硬度とほぼ同様であることを示して
おり、2Hとは、配向膜の硬度が2Hの鉛筆の硬度とほ
ぼ同様であることを示している。
添加量の増加に伴い、配向膜の硬度も硬くなった。
化合物の添加量を変化させ、MVAセルの電気的特性を
測定した。MVAセルの電気的特性の測定結果を図5乃
至図7に示す。図5は、熱硬化性有機化合物の添加量と
電圧保持率との関係を示すグラフである。図6は、熱硬
化性有機化合物の添加量とイオン密度との関係を示すグ
ラフである。図7は、熱硬化性有機化合物の添加量と残
留DC値との関係を示すグラフである。
物の添加量を変化させても、電圧保持率は変化しなかっ
た。
機化合物の添加量の増加に伴って、イオン密度は低下し
た。但し、熱硬化性有機化合物の添加量が約20〜25
%以上の範囲では、熱硬化性有機化合物の添加量を増や
してもイオン密度は低下しにくかった。
機化合物の添加量の増加に伴って、残留DC値は低下し
た。但し、熱硬化性有機化合物の添加量が約20〜25
%以上の範囲では、熱硬化性有機化合物の添加量を増や
しても、残留DC値は低下しにくかった。
び脂環族から成る酸無水物と側鎖型ジアミンのモノマと
を含むポリアミック酸材料に、熱硬化性有機化合物を添
加し、更にアルキル鎖を有しない高誘電率ジアミンを導
入した。
は1:1とし、配向膜材料中への熱硬化性有機化合物の
添加量は25%とした。
導入する前は、配向膜の比誘電率は約3であったが、か
かる高誘電率ジアミンを導入した後は、配向膜の比誘電
率は約4.6にまで向上した。
J−961213を用いた。
量を変化させ、MVAセルの電気的特性を測定した。
の関係を図8に示す。図8の横軸は、配向膜材料に含ま
れるジアミン全体に対する高誘電率ジアミンの添加量を
示している。なお、残留DC値を測定する際に用いたM
VAセルは、配向膜材料と液晶材料を除き実施例1と同
様である。
持率との関係を図9に示す。また、高誘電率ジアミンの
添加量とイオン密度との関係を図10に示す。図9と図
10の横軸は、配向膜材料に含まれるジアミン全体に対
する高誘電率ジアミンの添加量を示している。なお、電
圧保持率及びイオン密度を測定する際に用いたMVAセ
ルは、突起が形成されていない点、ラビングを行ってい
ない点、配向膜材料が異なる点、液晶材料が異なる点を
除き、実施例1と同様である。
率ジアミンの添加量の増加に伴って、急激に低下した。
特に、高誘電率ジアミンの添加量が35%以上の範囲で
は、残留DC値は極めて低くなった。
高誘電率ジアミンの添加量の増加に伴って低下した。ま
た、図10に示すように、イオン密度は、高誘電率ジア
ミンの添加量の増加に伴って高くなっている。特に、高
誘電率ジアミンの添加量が75%以上の範囲では、イオ
ン密度は急激に高くなった。
電率ジアミンの添加量は35%〜75%程度が望ましい
と考えられる。なお、図8乃至図10に示した添加量
は、上述したように、配向膜材料に含まれるジアミン全
体に対する高誘電率ジアミンの割合を示している。従っ
て、配向膜材料全体に対しての添加量として換算する
と、高誘電率ジアミンの添加量の適正値は、配向膜材料
全体に対して約10〜30%となる。
えて粘度を変化させ、MVAセルの電気的特性の変化を
測定した。
会社製のJALS−684を用いた場合、実施例5は、
配向膜材料としてJSR株式会社製のJALS−688
を用いた場合である。
族と脂環族とを有するポリアミック酸であり、芳香族と
脂環族との割合は1:1である。JALS−688は、
酸無水物として1種類の脂環族を有するポリアミック酸
である。
セルを用い、液晶材料としては、メルク社製のMJ−9
61213を用いた。
保持率の変化を図11に示す。図11は、配向膜材料の
粘度の変化に対する電圧保持率の変化を示すグラフであ
る。
400cp以上の範囲では、電圧保持率に特段の変化は
みられなかったが、配向膜材料の粘度が400cp以下
の範囲では、電圧保持率が急激に低下した。
が低い場合であっても電圧保持率の低下が少なかった。
物として脂環族のみを用いた場合の方が、電圧保持率の
低下は少ないと考えられる。
れたMVAセルを作製した。図12は、MVAセルの断
面図である。
JALS−684を用いた。JALS−684は、垂直
配向成分として機能する側鎖型ジアミンが約10%含ま
れている配向膜材料である。
し、突起の幅は10μmとし、隣接する突起と突起との
間隙の幅は20μmとした。
VAセルの透過率を測定した。図13は、突起の高さの
変化に対する透過率の変化を示すグラフである。なお、
透過率を測定する際の印加電圧は5Vとした。
1.0μm以上に設定した場合に、透過率が最大となっ
た。
状態を図14及び図15に示す。図14及び図15は、
MVAセルを上面から観察した写真である。図14及び
図15において、ストライプ状に黒く観察されるのは、
突起が形成されている部分である。図14(a)は突起
の高さが1.1μmの場合、図14(b)は突起の高さ
が0.67μmの場合、図14(c)は突起の高さが
0.52μmの場合、図15(a)は突起の高さが0.
25μmの場合、図15(b)は突起の高さが0.12
μmの場合である。
の高さが約1.0μmより低くなると、液晶分子の配向
方向に乱れが生じるが、突起の高さが約0.5μm以上
の場合は、液晶分子の配向方向は突起の延在方向に対し
て垂直だった。
で低くすると、液晶分子の配向方向が突起の延在方向に
向き始め、突起の高さを0.25μmまで低くすると、
液晶の配向方向が突起の延在方向に対して45°となっ
た。突起の高さが0.12μmのときに、突起の高さが
0.25μmのときより明るくなっているのは、液晶分
子の配向方向が突起の延在方向に向いているためと考え
られる。
少なくとも0.5μm以上に設定することが望ましいと
考えられる。
製のJALS−2029−R2を用いてMVAセルを作
製し、配向状態を観測した。JALS−2029−R2
は、側鎖型ジアミンが約30%含まれている配向膜材料
である。
くしても、液晶分子の配向方向に乱れが生じなかった。
しかし、突起の高さを0.25μmまで低くした場合
は、液晶材料としてJALS−684を用いた上記の場
合とほぼ同様の配向状態であった。
会社製のJALS−684を用い、各々の基板に突起が
設けられたMVAセルを作製した。セルの厚さは3.5
μm、突起の幅は10μm、突起の高さは1.5μmと
した。
し、5VのDC電圧を印加してから10ms後の配向状
態を観察した。隣接する突起と突起との間隙を変化させ
たときの配向状態を図16及び図17に示す。図16及
び図17は、MVAセルを上面から観察した写真であ
る。図16及び図17において、ストライプ状に黒く観
察されるのは、突起が形成されている部分である。図1
6(a)は隣接する突起と突起との間隙が6μmの場
合、図16(b)は隣接する突起と突起との間隙が15
μmの場合、図17(a)は隣接する突起と突起との間
隙が30μmの場合、図17(b)は隣接する突起と突
起との間隙が45μmの場合である。
と突起との間隙が狭い場合には、突起をつなぐようにド
メインが形成されてしまった。このようなドメインは、
隣接する突起と突起との間隙を10μm以下まで狭くし
た場合に生じやすい。また、このようなドメインは、液
晶に電圧を印加するのをやめても、解消しなかった。
すると、突起による配向規制力が小さくなるため、液晶
分子が所定の方向に配向しにくくなる。
する突起と突起との間隙を約30μm程度まで広くする
と、液晶分子の配向に時間を要するようになる。
る突起と突起との間隙を45μm程度まで広くすると、
液晶の配向状態はランダム配向に近い状態となり、シュ
リーレン組織が観測されるようになる。
突起との間隙は、10μm〜30μm程度とすることが
適切と考えられる。
との間隙と、配向膜材料中への側鎖型ジアミンの導入割
合とを適宜変化させて、MVAセルの透過率を測定し
た。突起の高さは、いずれも1.5μm、突起の幅は、
いずれも10μmとした。
び図19に示す。図18は、隣接する突起と突起との間
隙を15μmに設定した場合の透過率特性を示すグラフ
である。実施例8は側鎖型ジアミンを5%導入したもの
であり、実施例9は側鎖型ジアミンを10%導入したも
のであり、実施例10は側鎖型ジアミンを40%導入し
たものである。
30μmに設定した場合の透過率特性を示すグラフであ
る。実施例11は側鎖型ジアミンを5%導入したもので
あり、実施例12は側鎖型ジアミンを10%導入したも
のであり、実施例13は側鎖型ジアミンを40%導入し
たものである。
突起と突起との間隙が15μmと狭い場合、即ち、突起
の配向規制力が強い場合には、配向膜材料に含まれる側
鎖型ジアミンの割合が10%の場合に、透過率が最も高
くなった。
隣接する突起と突起との間隙が30μmと広い場合、即
ち、突起の配向規制力が弱い場合には、配向膜材料に含
まれる側鎖型ジアミンの割合が40%の場合に、透過率
が最も高くなった。
させた場合の透過光強度の変化を示す。図20は、側鎖
型ジアミンの導入量に対する透過光強度を示すグラフで
ある。なお、図20は、側鎖型ジアミンの導入量を10
%とし、印加電圧を6Vとした場合の透過光強度を1と
して、透過光強度を相対的に表したものである。
0、即ち突起の配向規制力が大きい場合には、側鎖型ジ
アミンの導入量が10%のときに透過光強度が最も強く
なった。一方、実施例11乃至13、即ち突起の配向規
制力が小さい場合には、側鎖型ジアミンの導入量が多い
ほど透過光強度も強くなった。
て、電極にスリットが形成されたMVAセルを作製し
た。
MVAセルの透過率の測定と液晶の配向状態の観測とを
行った。
高さ約1.2μmの突起の幅の約2倍にスリットの幅を
設定した場合に、同様の特性が得られることがわかっ
た。
し、配向膜材料としてJALS−684、JALS−2
008−R2、又はJALS−2029−R2を用いて
MVAセルを作製し、配向状態を観察した。
即ち垂直配向成分が、約10.4%含まれている。ま
た、JALS−2008−R2には、側鎖型ジアミンが
約21%含まれている。また、JALS−2029−R
2には、側鎖型ジアミンが約30%含まれている。
8−R2を用いた場合には、電圧を印加しない暗状態に
おいても、突起のエッジ部分に光漏れが観察された。
用いた場合には、光漏れは観察されなかった。
高い場合には、側鎖型ジアミンを多く含む配向膜材料を
用いることが必要と考えられる。
直配向膜を用い、しかも、突起の高さ、突起やスリット
の幅、突起やスリットの間隙などのパラメータに応じて
垂直配向規制力を最適化するので、信頼性が高く、輝度
の高いMVA方式の液晶表示装置を提供することができ
る。
る。
率との関係を示すグラフである。
イオン密度との関係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
係を示すグラフである。
係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
の変化を示すグラフである。
すグラフである。
1)である。
2)である。
3)である。
4)である。
示す概念図である。
液晶分子の配向方向を示す概念図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 第1の電極が形成された第1の基板と、
前記第1の電極に対向する第2の電極が形成された第2
の基板と、前記第1の基板及び/又は前記第2の基板に
形成された配向制御手段と、前記第1の基板及び/又は
前記第2の基板に形成された配向膜と、前記第1の基板
と前記第2の基板との間に封入された負の誘電率異方性
を有する液晶とを有する液晶表示装置において、 前記配向膜は、脂環族を含む酸無水物と、液晶分子を垂
直配向する成分を側鎖に有する第1のジアミンと、前記
第1のジアミンより高い誘電率を有する第2のジアミン
とを含むポリアミック酸であることを特徴とする液晶表
示装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の液晶表示装置において、 前記酸無水物は、脂環族のみから成ることを特徴とする
液晶表示装置。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の液晶表示装置にお
いて、 前記配向膜は、カルボン酸基と熱架橋反応する有機化合
物を含むことを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
液晶表示装置において、 前記配向膜は、前記第1のジアミンを約10%〜30%
含むことを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の
液晶表示装置において、 前記配向制御手段は、突起及び/又はスリットの組み合
わせであることを特徴とする液晶表示装置。
Priority Applications (1)
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ID=16405819
Family Applications (1)
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-
1999
- 1999-07-13 JP JP19931899A patent/JP2001027759A/ja active Pending
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